KR20220168462A - Probe pin and socket having the probe pin - Google Patents

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KR20220168462A KR1020210078223A KR20210078223A KR20220168462A KR 20220168462 A KR20220168462 A KR 20220168462A KR 1020210078223 A KR1020210078223 A KR 1020210078223A KR 20210078223 A KR20210078223 A KR 20210078223A KR 20220168462 A KR20220168462 A KR 20220168462A
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Abstract

A probe pin comprises: a first contact portion which can be in contact with a pin of a test object by a plurality of contacts; a second contact portion which can be in contact with an external device; and a connection portion connecting between the first contact portion and the second contact portion. The first contact unit may include: a first concave-convex surface having a plurality of contact points which can be in contact with pins of the test object; and a second concave-convex surface connected at right angles to the first concave-convex surface and having a plurality of contact points which can be in contact with pins of the test object. Accordingly, a fast signal path and a stable current path may be provided between an electronic device and a board of test equipment.

Description

프로브 핀 및 그 프로브 핀을 구비한 소켓{PROBE PIN AND SOCKET HAVING THE PROBE PIN}A probe pin and a socket having the probe pin {PROBE PIN AND SOCKET HAVING THE PROBE PIN}

본 발명은 프로브 핀 및 그 프로브 핀을 구비한 소켓에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 전자 장치와 테스트 장비의 보드 사이를 연결하는 소켓에 삽입되는 프로브 핀 및 그 소켓에 관한 것이다.The present invention relates to a probe pin and a socket having the probe pin, and more particularly, to a probe pin inserted into a socket connecting an electronic device and a board of a test equipment, and the socket.

카메라 모듈과 같은 전자 장치를 테스트하기 위해서는, 전자 장치와 테스트 장비의 보드 사이를 연결하는 소켓의 사용이 필수적이다.In order to test an electronic device such as a camera module, it is essential to use a socket connecting the electronic device and a board of the test equipment.

이 소켓에는 다수의 프로브 핀이 삽입되어, 전자 장치와 테스트 장비의 보드 사이를 연결하게 된다. A plurality of probe pins are inserted into this socket to connect between the electronic device and the board of the test equipment.

아울러, 프로브 핀은 전자 장치와 안정된 접촉이 가능하여야 하며, 전자 장치와 테스트 장비의 보드 사이에서 빠른 신호 경로 및 안정된 전류 경로가 요구된다.In addition, the probe pin must be able to make stable contact with the electronic device, and a fast signal path and a stable current path are required between the electronic device and the board of the test equipment.

국내공개특허 제10-2019-0009279호(2019년 01월 28일 공개) : 프로브 핀.Korean Patent Publication No. 10-2019-0009279 (published on January 28, 2019): Probe pin.

본 발명은 전술한 바와 같은 기술적 과제를 해결하는 데 목적이 있는 발명으로서, 테스트 대상물인 전자 장치와 안정된 접촉이 가능하며, 전자 장치와 외부 장치인 테스트 장비의 보드 사이에서 빠른 신호 경로 및 안정된 전류 경로를 제공하는 프로브 핀 및 그 프로브 핀을 구비한 소켓을 제공하는 것에 그 목적이 있다.The present invention is an invention aimed at solving the technical problems as described above, and a stable contact with an electronic device as a test object is possible, and a fast signal path and a stable current path between the electronic device and the board of the test equipment, which is an external device. Its purpose is to provide a probe pin that provides and a socket having the probe pin.

프로브 핀은, 테스트 대상물의 핀과 접촉할 수 있는 제 1 접촉부; 상기 제 1 접촉부측으로 상기 테스트 대상물의 핀을 미는 푸셔부; 외부 장치와 접촉할 수 있는 제 2 접촉부; 및 상기 제 1 접촉부와 제 2 접촉부 사이를 연결하는 연결부;를 포함한다.The probe pin may include a first contact portion that may contact a pin of a test object; a pusher unit pushing a pin of the test object toward the first contact unit; a second contact portion capable of contacting an external device; and a connecting portion connecting the first contact portion and the second contact portion.

구체적으로, 상기 제 1 접촉부는, 적어도 일부 영역에 요철이 형성된 제 1 요철면; 및 상기 제 1 요철면과 직각으로 연결되고, 적어도 일부 영역에 요철이 형성된 제 2 요철면;을 구비한다.Specifically, the first contact unit may include a first uneven surface formed on at least a portion of the region; and a second concave-convex surface connected at right angles to the first concave-convex surface and having concavo-convex surfaces formed in at least a partial region.

아울러, 상기 푸셔부는, 만곡된 제 1 푸셔 부분; 및 상기 제 1 푸셔 부분과 연결되어 직선상으로 연장된 제 2 푸셔 부분;을 구비하는 것이 바람직하다.In addition, the pusher unit may include a curved first pusher unit; and a second pusher portion that is connected to the first pusher portion and extends in a straight line.

또한, 상기 연결부는, 상기 제 1 접촉부 및 상기 푸셔부와 각각 연결되어 연장된 제 1 연결 부분; 상기 제 1 연결 부분과 연결되어 아치 형상으로 연장되어, 상기 제 2 접촉부와 연결되는 제 2 연결 부분; 상기 제 1 연결 부분과 연결되어, 직선상으로 연장된 적어도 하나의 기둥을 구비하는 제 3 연결 부분; 및 상기 제 2 접촉부와 연결되어, 직선상으로 연장된 적어도 하나의 기둥을 구비하는 제 4 연결 부분;을 구비한다.In addition, the connection part may include a first connection part connected to and extended from the first contact part and the pusher part; a second connection portion connected to the first connection portion and extended in an arcuate shape and connected to the second contact portion; a third connection portion connected to the first connection portion and having at least one pillar extending in a straight line; and a fourth connecting portion connected to the second contact portion and having at least one pillar extending in a straight line.

구체적으로, 상기 제 1 연결 부분은, 상기 제 2 연결 부분과 분리된 지점으로 연장되어 돌출된 부분을 구비하고, 상기 프로브 핀의 소켓과의 결합시 상기 소켓의 몸체 내부에 삽입된 상기 프로브 핀의 부분이 빠져나오지 않도록 하는 걸림턱으로서 작용한다.Specifically, the first connection part has a protruding part extending to a point separated from the second connection part, and when the probe pin is coupled with the socket, the probe pin inserted into the body of the socket It acts as a stopper to keep the part from coming out.

아울러, 상기 제 3 연결 부분 및 상기 제 4 연결 부분은, 상기 프로브 핀에 압력이 가해지지 않을 경우에는 서로 접촉하지 않고, 상기 프로브 핀에 압력이 가해질 경우에는 서로 접촉하는 것이 바람직하다.In addition, the third connection portion and the fourth connection portion preferably do not contact each other when pressure is not applied to the probe pin, but contact each other when pressure is applied to the probe pin.

또한, 상기 제 4 연결 부분은, 상기 제 2 접촉부와 연결되어 직선상으로 연장된 제 4-1 기둥; 및 상기 제 2 접촉부와 연결되어 직선상으로 연장된 제 4-2 기둥;을 구비하되, 상기 제 4-1 기둥 및 상기 제 4-2 기둥은, 일정 간격의 갭을 가지고 이격되어 서로 평행한 것을 특징으로 한다.In addition, the fourth connection part, the 4-1 column connected to the second contact portion and extending in a straight line; And a 4-2 pillar connected to the second contact portion and extending in a straight line, but the 4-1 pillar and the 4-2 pillar are spaced apart with a gap of a predetermined interval and are parallel to each other to be characterized

아울러, 상기 제 3 연결 부분은, 상기 제 4-1 기둥 및 상기 제 4-2 기둥 사이의 갭에 삽입되는 제 3-1 기둥을 구비하는 것이 바람직하다. In addition, the third connecting portion preferably includes a 3-1 pillar inserted into the gap between the 4-1 pillar and the 4-2 pillar.

본 발명의 프로브 핀 및 그 프로브 핀을 구비한 소켓에 따르면, 전자 장치와 안정된 접촉이 가능하며, 테스트 대상물인 전자 장치와 안정된 접촉이 가능하며, 전자 장치와 외부 장치인 테스트 장비의 보드 사이에서 빠른 신호 경로 및 안정된 전류 경로를 제공할 수 있다.According to the probe pin and the socket having the probe pin of the present invention, stable contact with the electronic device is possible, stable contact with the electronic device as a test object is possible, and a fast connection between the electronic device and the board of the test equipment, which is an external device, is possible. A signal path and a stable current path can be provided.

도 1은 일실시예에 따른 프로브 핀의 사시도.
도 2는 일실시예에 따른 프로브 핀의 정면도.
도 3은 일실시예에 따른 프로브 핀의 부분 확대도.
도 4는 일실시예에 따른 프로브 핀과 테스트 대상물의 핀의 결합 예시도.
도 5는 일실시예에 따른 프로브 핀의 압력이 가해지기 전후의 형상의 변형 설명도.
도 6은 일실시예에 따른 프로브 핀이 소켓에 삽입되어 테스트에 사용 시의 단면도.
도 7은 프로브 핀에 구비된 2개의 전기 신호의 경로에 대한 설명도.1 is a perspective view of a probe pin according to an embodiment;
2 is a front view of a probe pin according to an embodiment;
3 is a partially enlarged view of a probe pin according to an embodiment;
Figure 4 is an exemplary view of coupling a probe pin and a pin of a test object according to an embodiment.
5 is an explanatory view of deformation of a shape before and after pressure is applied to a probe pin according to an embodiment;
6 is a cross-sectional view when a probe pin is inserted into a socket and used for a test according to an embodiment.
Fig. 7 is an explanatory diagram of a path of two electrical signals provided to a probe pin;

이하, 첨부된 도면을 참조하면서 본 발명의 실시예에 따른 프로브 핀 및 그 프로브 핀을 구비한 소켓에 대해 상세히 설명하기로 한다.Hereinafter, a probe pin according to an embodiment of the present invention and a socket having the probe pin will be described in detail with reference to the accompanying drawings.

본 발명의 하기의 실시예는 본 발명을 구체화하기 위한 것일 뿐 본 발명의 권리 범위를 제한하거나 한정하는 것이 아님은 물론이다. 본 발명의 상세한 설명 및 실시예로부터 본 발명이 속하는 기술 분야의 전문가가 용이하게 유추할 수 있는 것은 본 발명의 권리 범위에 속하는 것으로 해석된다. Of course, the following examples of the present invention are only intended to embody the present invention and are not intended to limit or limit the scope of the present invention. What can be easily inferred by an expert in the technical field to which the present invention pertains from the detailed description and examples of the present invention is interpreted as belonging to the scope of the present invention.

도 1 내지 도 3은 각각, 일실시예에 따른 프로브 핀(1000)의 사시도, 정면도 및 부분 확대도를 나타낸다. 또한, 도 4는 일실시예에 따른 프로브 핀(1000)과 테스트 대상물(O)의 핀(P)의 결합 예시도를 나타낸다.1 to 3 show a perspective view, a front view, and a partially enlarged view of a probe pin 1000 according to an embodiment, respectively. In addition, FIG. 4 shows an exemplary view of coupling of the probe pin 1000 and the pin P of the test object O according to one embodiment.

아울러, 도 5 및 도 6은 각각 일실시예에 따른 프로브 핀(1000)의 압력이 가해지기 전후의 형상의 변형 설명도 및 프로브 핀(1000)이 소켓(S)에 삽입되어 테스트에 사용 시의 단면도를 나타낸다. 아울러, 도 7은 프로브 핀(1000)에 구비된 2개의 전기 신호의 경로에 대한 설명도를 나타낸다.In addition, FIGS. 5 and 6 are diagrams illustrating deformation of the shape before and after pressure is applied to the probe pin 1000 according to an embodiment, and when the probe pin 1000 is inserted into the socket S and used for testing. shows a cross section. In addition, FIG. 7 shows an explanatory diagram of a path of two electrical signals provided on the probe pin 1000 .

도 1 내지 도 7에 의해 프로브 핀(1000) 및 그 프로브 핀(1000)을 구비한 소켓(S)에 대해 하기에 구체적으로 설명하기로 한다.Referring to FIGS. 1 to 7 , the probe pin 1000 and the socket S having the probe pin 1000 will be described in detail below.

프로브 핀(1000)은, 제 1 접촉부(100), 푸셔부(200), 제 2 접촉부(300) 및 연결부(400)를 구비한다.The probe pin 1000 includes a first contact portion 100 , a pusher portion 200 , a second contact portion 300 and a connection portion 400 .

제 1 접촉부(100)는, 소켓(S) 외부로 돌출되며, 다수의 접점에 의해 테스트 대상물(O)의 핀(P)과 접촉할 수 있다. 제 1 접촉부(100)는, 제 1 연결 부분(410)과 연결된 제 1 기둥(110); 및 제 1 기둥(110)의 일부 구간에서 둘출된 제 1 돌출 부분(120);을 구비한다. The first contact part 100 protrudes out of the socket S and may contact the pin P of the test object O by means of a plurality of contact points. The first contact portion 100 includes a first pillar 110 connected to the first connecting portion 410; and a first protruding portion 120 protruding from a partial section of the first pillar 110.

제 1 접촉부(100)는, 제 1 돌출 부분(120)의 일면에 형성되며, 적어도 일부 영역에 요철이 형성된 제 1 요철면(130); 및 제 1 돌출 부분(120) 상부의 제 1 기둥(110)에 형성되며, 제 1 요철면(130)과 직각으로 연결되고,적어도 일부 영역에 요철이 형성된 제 2 요철면(140);을 더 구비한다. 제 1 요철면(130) 및 제 2 요철면(140)의 적어도 일부 영역에 형성된 요철은 각각, 다수의 이랑과 고랑이 반복되는 형상에 의해, 테스트 대상물(O)의 핀(P)과 접촉할 수 있는 다수의 접점을 구비하게 된다. 아울러, 요철은 제 1 요철면(130)의 하부의 일부 영역에는 형성되지 않을 수 있고, 제 1 요철면(130)의 하부의 일부 영역은, 테스트 대상물(O)의 핀(P)의 형상을 고려시 테스트 대상물(O)의 핀(P)과의 접촉이 일어나지 않는다.The first contact portion 100 includes a first concave-convex surface 130 formed on one surface of the first protruding portion 120 and having irregularities formed in at least a portion of the area; and a second concave-convex surface 140 formed on the first pillar 110 above the first protruding portion 120, connected at right angles to the first concave-convex surface 130, and having concavo-convex surfaces formed in at least a portion of the area. provide The irregularities formed on at least some areas of the first uneven surface 130 and the second uneven surface 140 each have a shape in which a plurality of ridges and grooves are repeated, and come into contact with the pin P of the test object O. It has a number of possible contact points. In addition, the irregularities may not be formed in a partial region of the lower part of the first uneven surface 130, and the partial region of the lower part of the first uneven surface 130 has the shape of the pin P of the test object O. In consideration, contact with the pin P of the test object O does not occur.

테스트 대상물(O)은, 카메라 모듈, 반도체 칩 등의 전자 장치를 예로 들 수 있다.The test object O may be, for example, an electronic device such as a camera module or a semiconductor chip.

상측을 향하고 있는 제 1 요철면(130)에 테스트 대상물(O)의 핀(P)이 안착되면, 측면에 해당하는 제 2 요철면(140)과도 테스트 대상물(O)의 핀(P)이 접촉하게 된다. When the pin (P) of the test object (O) is seated on the first concave-convex surface 130 facing upward, the pin (P) of the test object (O) is in contact with the second concave-convex surface 140 corresponding to the side. will do

아울러, 푸셔부(200)가, 제 1 접촉부(100)측으로 테스트 대상물(O)의 핀(P)을 밀어, 테스트 대상물(O)의 핀(P)과 프로브 핀(1000)의 접촉을 더욱 안정되게 한다.In addition, the pusher unit 200 pushes the pin P of the test object O toward the first contact portion 100, further stabilizing the contact between the pin P of the test object O and the probe pin 1000. let it be

푸셔부(200)는, 만곡된 제 1 푸셔 부분(210); 및 제 1 푸셔 부분(210)과 연결되어 직선상으로 연장된 제 2 푸셔 부분(220);을 구비하며, 탄성을 갖는다. 만곡된 제 1 푸셔 부분(210)과 제 2 푸셔 부분(220) 사이의 연결 부분에 변곡점이 형성되어, 푸셔부(200)는 보다 안정적으로 견고하게 테스트 대상물(O)의 핀(P)과 결합하여 제 1 접촉부(100)측으로 테스트 대상물(O)의 핀(P)을 강하게 밀수 있다. 아울러, 푸셔부(200)는, 제 2 푸셔 부분(220)과 연장되어, 제 1 푸셔 부분(210) 및 제 2 푸셔 부분(220)을 안정되게 지지하고, 제 1 연결 부분(410)과 연결되는 제 3 푸셔 부분(230)을 더 구비할 수 있다. 제 3 푸셔 부분(230)은, 제 2 푸셔 부분(220)과 연결되어 폭이 점진적으로 넓어지고, 일정 구간 동안은 동일한 폭으로 연장되어, 제 1 연결 부분(410)과 연결된다.The pusher part 200 includes a curved first pusher part 210; and a second pusher part 220 connected to the first pusher part 210 and extending in a straight line, and has elasticity. An inflection point is formed at the connection portion between the curved first pusher part 210 and the second pusher part 220, so that the pusher part 200 is more stably and firmly coupled to the pin P of the test object O. By doing so, the pin P of the test object O can be strongly pushed toward the first contact portion 100 . In addition, the pusher part 200 extends with the second pusher part 220, stably supports the first pusher part 210 and the second pusher part 220, and is connected to the first connection part 410. A third pusher portion 230 may be further provided. The third pusher part 230 is connected to the second pusher part 220 and gradually widens in width, extends with the same width for a certain period, and is connected to the first connection part 410 .

즉, 테스트 대상물(O)의 핀(P)의 탄성에 의해 제 1 요철면(130)의 다수의 접점과 테스트 대상물(O)이 핀(P)이 접촉하고, 푸셔부(200)가 테스트 대상물(O)의 핀(P)을 밀면 제 1 요철면(130)의 다수의 접점과 테스트 대상물(O)이 핀(P)의 측면이 다수의 접점에 의해 안정되게 접촉할 수 있다.That is, the plurality of contact points of the first concave-convex surface 130 and the test object O are in contact with the pin P by the elasticity of the pin P of the test object O, and the pusher unit 200 is in contact with the test object. When the pin (P) of (O) is pushed, the plurality of contact points of the first concave-convex surface 130 and the side surface of the pin (P) of the test object (O) can be stably contacted by the plurality of contact points.

아울러, 제 2 접촉부(300)는, 소켓(S) 외부로 돌출되어 외부 장치(B)와 접촉할 수 있다. 외부 장치(B)는, 테스트 장비의 보드를 예로 들 수 있다.In addition, the second contact portion 300 may protrude outside the socket S to contact the external device B. The external device B may be, for example, a board of test equipment.

일면도 상에서 제 2 접촉부(300)는, 외부 장치(B)와 전기적으로 접촉하는 접점 부분인 제 2-1 부분(310); 제 2-1 부분(310)으로부터 양측으로 벌어져서 폭이 점진적으로 넓어지는 제 2-2 부분(320); 및 제 2-2 부분(320)과 연결되어 일정 폭을 갖는 제 2-3 부분(330);을 구비한다.In a one-side view, the second contact portion 300 includes a second-first portion 310 that is a contact portion electrically contacting the external device B; a 2-2 portion 320 that is gradually widened from the 2-1 portion 310 to both sides; and a 2-3 portion 330 connected to the 2-2 portion 320 and having a predetermined width.

연결부(400)는, 제 1 접촉부(100) 및 푸셔부(200)와 각각 연결되어 연장된 제 1 연결 부분(410); 제 1 연결 부분(410)과 연결되어 아치 형상으로 연장되어, 제 2 접촉부(300)와 연결되는 제 2 연결 부분(420); 제 1 연결 부분(410)과 연결되어, 직선상으로 연장된 적어도 하나의 기둥을 구비하는 제 3 연결 부분(430); 및 제 2 접촉부(300)와 연결되어, 직선상으로 연장된 적어도 하나의 기둥을 구비하는 제 4 연결 부분(440);을 구비한다.The connection part 400 includes a first connection part 410 connected to and extended from the first contact part 100 and the pusher part 200, respectively; a second connection part 420 connected to the first connection part 410 and extended in an arcuate shape and connected to the second contact part 300; a third connection portion 430 connected to the first connection portion 410 and having at least one pillar extending in a straight line; and a fourth connection part 440 connected to the second contact part 300 and having at least one pillar extending in a straight line.

제 1 연결 부분(410)은, 제 2 연결 부분(420)과 분리된 지점으로 연장되어 돌출된 부분을 구비하고, 프로브 핀(1000)의 소켓(S)과의 결합시 소켓(S)의 몸체 내부에 삽입된 프로브 핀(1000)의 부분이 빠져나오지 않도록 하는 걸림턱으로서 작용하게 된다.The first connection part 410 has a protruding part extending to a point separated from the second connection part 420, and when coupled with the socket S of the probe pin 1000, the body of the socket S. The part of the probe pin 1000 inserted into the inside serves as a locking jaw preventing it from coming out.

아울러, 제 2 연결 부분(420)은 아치 형상에 의해 높은 탄력성을 가질 수 있다. 따라서, 소켓(S)의 상부에 테스트 대상물(O)이 배치되고 소켓(S)의 하부에 외부 장치(B)가 위치하여 테스트 시에 프로브 핀(1000)에 압력이 가해질 경우, 제 2 연결 부분(420)은 유연하게 압축되어 변형될 수 있다.In addition, the second connection portion 420 may have high elasticity due to its arch shape. Therefore, when the test object O is disposed on the upper part of the socket S and the external device B is located on the lower part of the socket S, and pressure is applied to the probe pin 1000 during the test, the second connection part 420 can be flexibly compressed and deformed.

제 4 연결 부분(440)은, 제 2 접촉부(300)와 연결되어 직선상으로 연장된 제 4-1 기둥(441); 및 제 2 접촉부(300)와 연결되어 직선상으로 연장된 제 4-2 기둥(442);을 구비한다. 제 4-1 기둥(441) 및 제 4-2 기둥(442)은, 일정 간격의 갭을 가지고 이격되어 서로 평행하다. The fourth connection portion 440 includes a 4-1 pillar 441 connected to the second contact portion 300 and extending in a straight line; and a 4-2 pillar 442 connected to the second contact portion 300 and extended in a straight line. The 4-1 pillar 441 and the 4-2 pillar 442 are spaced apart with a gap of a certain interval and are parallel to each other.

아울러, 제 3 연결 부분(430)은, 제 4-1 기둥(441) 및 제 4-2 기둥(442) 사이의 갭에 삽입되는 제 3-1 기둥(431)을 구비한다.In addition, the third connecting portion 430 includes a 3-1 pillar 431 inserted into the gap between the 4-1 pillar 441 and the 4-2 pillar 442 .

제 3 연결 부분(430) 및 제 4 연결 부분(440)은, 프로브 핀(1000)에 압력이 가해지지 않을 경우에는 서로 접촉하지 않고, 프로브 핀(1000)에 압력이 가해질 경우에는 서로 접촉하게 된다. 즉, 도 5와 같이, 제 3 연결 부분(430) 및 제 4 연결 부분(440)은, 프로브 핀(1000)에 압력이 가해지지 않을 경우에는 서로 접점을 갖지 않지만, 프로브 핀(1000)에 압력이 가해지게 되면 적어도 하나의 접점을 갖게 된다. 구체적으로, 프로브 핀(1000)에 압력이 가해지면, 제 2 연결 부분(420)의 압축 변형되어, 제 1 접촉부(100), 푸셔부(200), 제 1 연결 부분(410) 및 제 3-1 기둥(431)이 하방으로 이동하고, 제 4-1 기둥(441) 및 제 4-2 기둥(442)이 기울어져 제 3-1 기둥(431)과 접점이 형성되게 된다.The third connection portion 430 and the fourth connection portion 440 do not contact each other when pressure is not applied to the probe pin 1000, but come into contact with each other when pressure is applied to the probe pin 1000. . That is, as shown in FIG. 5 , the third connection part 430 and the fourth connection part 440 do not have contact with each other when pressure is not applied to the probe pin 1000, but the pressure on the probe pin 1000 When this is applied, it has at least one contact point. Specifically, when pressure is applied to the probe pin 1000, the second connection part 420 is compressed and deformed, so that the first contact part 100, the pusher part 200, the first connection part 410 and the third- The first pillar 431 moves downward, and the 4-1 pillar 441 and the 4-2 pillar 442 tilt to form a contact with the 3-1 pillar 431 .

정리하자면, 아치 형상의 탄성을 갖는 제 2 연결 부분(420)에 의한 제 1 경로에 의해 전류의 흐름이 분산될 수 있다.In summary, the flow of current may be dispersed by the first path by the second connecting portion 420 having arcuate elasticity.

또한, 제 3 연결 부분(430) 및 제 4 연결 부분(440)에 의해 형성된, 직선 경로인 제 2 경로에 의해 신호의 경로가 단축되어 신호가 빠르게 전달될 수 있어, 고주파 손실을 최소화할 수 있다. 제 1 접촉부(100), 제 3 연결 부분(430), 제 4 연결 부분(440) 및 제 2 접촉부(300)까지의 직선 형태의 프로브 핀(1000)의 지지 구조에 의해 프로브 핀(1000)의 구조가 안정될 수 있다. In addition, the signal path is shortened by the second path, which is a straight path formed by the third connection portion 430 and the fourth connection portion 440, so that the signal can be quickly transmitted, thereby minimizing high-frequency loss. . of the probe pin 1000 by the support structure of the probe pin 1000 in the form of a straight line extending to the first contact part 100, the third connection part 430, the fourth connection part 440, and the second contact part 300. structure can be stable.

즉, 프로브 핀(1000)은, 제 1 접촉부(100)와 제 2 접촉부(300)의 사이에서 제 2 연결 부분(420)에 의해 형성되고, 아치 형상의 전기 신호의 경로를 제공하는 제 1 경로부; 및 제 1 접촉부(100)와 제 2 접촉부(300)의 사이에서 제 3 연결 부분(430) 및 제 4 연결 부분(440)에 의해 형성되고, 전기 신호의 경로를 제공하는 제 2 경로부;를 포함한다.That is, the probe pin 1000 is formed by the second connection portion 420 between the first contact portion 100 and the second contact portion 300 and provides an arcuate electrical signal path. wealth; and a second path portion formed by the third connection portion 430 and the fourth connection portion 440 between the first contact portion 100 and the second contact portion 300 and providing a path for electrical signals. include

아울러, 제 2 경로부는, 프로브 핀(1000)에 압력이 가해지지 않을 경우에는 제 1 접촉부(100)와 제 2 접촉부(300)의 사이에서 전기 신호의 경로를 연결하지 않고, 프로브 핀(1000)에 압력이 가해질 경우에는 제 1 접촉부(100)와제 2 접촉부(300)의 사이에서 전기 신호의 경로를 연결한다. In addition, when pressure is not applied to the probe pin 1000, the second path unit does not connect the electrical signal path between the first contact unit 100 and the second contact unit 300, and the probe pin 1000 When pressure is applied to the electrical signal path between the first contact portion 100 and the second contact portion 300 is connected.

상술한 바와 같이, 프로브 핀(1000) 및 그 프로브 핀(1000)을 구비한 소켓(S)에 따르면, 테스트 대상물인 전자 장치와 안정된 접촉이 가능하며, 전자 장치와 외부 장치인 테스트 장비의 보드 사이에서 빠른 신호 경로 및 안정된 전류 경로를 제공할 수 있음을 알 수 있다.As described above, according to the probe pin 1000 and the socket S having the probe pin 1000, stable contact with the electronic device as a test object is possible, and between the electronic device and the board of the test equipment, which is an external device. It can be seen that it can provide a fast signal path and a stable current path.

1000 : 프로브 핀
100 : 제 1 접촉부 200 : 푸셔부
300 : 제 2 접촉부 400 : 연결부
110 : 제 1 기둥 120 : 제 1 돌출 부분
130 : 제 1 요철면 140 : 제 2 요철면
210 : 제 1 푸셔 부분 220 : 제 2 푸셔 부분
230 : 제 3 푸셔 부분 310 : 제 2-1 부분
320 : 제 2-2 부분 330 : 제 2-3 부분
410 : 제 1 연결 부분 420 : 제 2 연결 부분
430 : 제 3 연결 부분 440 : 제 4 연결 부분
431 : 제 3-1 기둥 441 : 제 4-1 기둥
442 : 제 4-2 기둥
S : 소켓 O : 테스트 대상물
B : 외부 장치1000: probe pin
100: first contact part 200: pusher part
300: second contact part 400: connection part
110: first pillar 120: first protruding part
130: first uneven surface 140: second uneven surface
210: first pusher part 220: second pusher part
230: third pusher part 310: 2-1 part
320: 2nd-2nd part 330: 2nd-3rd part
410: first connection part 420: second connection part
430: third connection part 440: fourth connection part
431: 3-1 pillar 441: 4-1 pillar
442: 4-2 pillar
S: socket O: test object
B: external device

Claims (19)

프로브 핀에 있어서,
테스트 대상물의 핀과 접촉할 수 있는 제 1 접촉부;
외부 장치와 접촉할 수 있는 제 2 접촉부; 및
상기 제 1 접촉부와 제 2 접촉부 사이를 연결하는 연결부;를 포함하는, 프로브 핀.In the probe pin,
a first contact portion capable of contacting a pin of a test object;
a second contact portion capable of contacting an external device; and
A probe pin comprising a; connection part connecting between the first contact part and the second contact part. 제1항에 있어서,
상기 제 1 접촉부는,
적어도 일부 영역에 요철이 형성된 제 1 요철면; 및
상기 제 1 요철면과 직각으로 연결되고, 적어도 일부 영역에 요철이 형성된 제 2 요철면;을 구비하는, 프로브 핀.According to claim 1,
The first contact part,
a first concavo-convex surface having concavo-convex surfaces formed on at least a portion of the area; and
A probe pin comprising: a second concave-convex surface connected at right angles to the first concave-convex surface and having concavo-convex surfaces formed in at least a portion of the area. 제2항에 있어서,
상기 프로브 핀은,
상기 제 1 접촉부측으로 상기 테스트 대상물의 핀을 미는 푸셔부;를 더 포함하는, 프로브 핀. According to claim 2,
The probe pin,
Further comprising a; pusher portion for pushing the pin of the test object toward the first contact portion. 제3항에 있어서,
상기 푸셔부는,
만곡된 제 1 푸셔 부분; 및
상기 제 1 푸셔 부분과 연결되어 직선상으로 연장된 제 2 푸셔 부분;을 구비하는, 프로브 핀. According to claim 3,
The pusher part,
a curved first pusher portion; and
A probe pin having a; second pusher portion connected to the first pusher portion and extending in a straight line. 제3항에 있어서,
상기 연결부는,
상기 제 1 접촉부 및 상기 푸셔부와 각각 연결되어 연장된 제 1 연결 부분; 및
상기 제 1 연결 부분과 연결되어 아치 형상으로 연장되어, 상기 제 2 접촉부와 연결되는 제 2 연결 부분;을 구비하는, 프로브 핀.According to claim 3,
The connection part,
first connection parts connected to and extended from the first contact part and the pusher part; and
A probe pin comprising: a second connection portion connected to the first connection portion, extending in an arcuate shape, and connected to the second contact portion. 제5항에 있어서,
상기 제 1 연결 부분은,
상기 제 2 연결 부분과 분리된 지점으로 연장되어 돌출된 부분을 구비하고, 상기 프로브 핀의 소켓과의 결합시 상기 소켓의 몸체 내부에 삽입된 상기 프로브 핀의 부분이 빠져나오지 않도록 하는 걸림턱으로서 작용하는, 프로브 핀.According to claim 5,
The first connection part,
A protruding part extending to a point separated from the second connection part and acting as a locking jaw to prevent the part of the probe pin inserted into the body of the socket from escaping when the probe pin is coupled to the socket which, the probe pin. 제5항에 있어서,
상기 연결부는,
상기 제 1 연결 부분과 연결되어, 직선상으로 연장된 적어도 하나의 기둥을 구비하는 제 3 연결 부분; 및
상기 제 2 접촉부와 연결되어, 직선상으로 연장된 적어도 하나의 기둥을 구비하는 제 4 연결 부분;을 더 구비하는, 프로브 핀.According to claim 5,
The connection part,
a third connection portion connected to the first connection portion and having at least one pillar extending in a straight line; and
A fourth connection part connected to the second contact part and having at least one pillar extending in a straight line; further comprising a probe pin. 제7항에 있어서,
상기 제 3 연결 부분 및 상기 제 4 연결 부분은,
상기 프로브 핀에 압력이 가해지지 않을 경우에는 서로 접촉하지 않고, 상기 프로브 핀에 압력이 가해질 경우에는 서로 접촉하는, 프로브 핀.According to claim 7,
The third connection part and the fourth connection part,
Probe pins that do not contact each other when no pressure is applied to the probe pins and contact each other when pressure is applied to the probe pins. 제7항에 있어서,
상기 제 4 연결 부분은,
상기 제 2 접촉부와 연결되어 직선상으로 연장된 제 4-1 기둥; 및
상기 제 2 접촉부와 연결되어 직선상으로 연장된 제 4-2 기둥;을 구비하되,
상기 제 4-1 기둥 및 상기 제 4-2 기둥은,
일정 간격의 갭을 가지고 이격되어 서로 평행한, 프로브 핀.According to claim 7,
The fourth connection part,
a 4-1 pillar connected to the second contact portion and extended in a straight line; and
A 4-2 pillar connected to the second contact portion and extending in a straight line;
The 4-1 pillar and the 4-2 pillar,
Probe pins spaced apart and parallel to each other with a regular gap. 제7항에 있어서,
상기 제 3 연결 부분은,
상기 제 4-1 기둥 및 상기 제 4-2 기둥 사이의 갭에 삽입되는 제 3-1 기둥을 구비하는, 프로브 핀. According to claim 7,
The third connection part,
A probe pin having a 3-1 post inserted into the gap between the 4-1 post and the 4-2 post. 제1항에 있어서,
일면도 상에서 상기 제 2 접촉부는,
상기 외부 장치와 전기적으로 접촉하는 접점 부분인 제 2-1 부분;
상기 제 2-1 부분으로부터 양측으로 벌어져서 폭이 점진적으로 넓어지는 제 2-2 부분; 및
상기 제 2-2 부분과 연결되어 일정 폭을 갖는 제 2-3 부분;을 구비하는, 프로브 핀.According to claim 1,
The second contact portion on a side view,
a 2-1 part that is a contact part electrically contacting the external device;
a 2-2 portion that is gradually widened from the 2-1 portion to both sides; and
A probe pin having a; 2-3 portion connected to the 2-2 portion and having a predetermined width. 프로브 핀에 있어서,
테스트 대상물의 핀과 접촉할 수 있는 제 1 접촉부;
외부 장치와 접촉할 수 있는 제 2 접촉부; 및
상기 제 1 접촉부와 상기 제 2 접촉부의 사이에서, 아치 형상의 전기 신호의 경로를 제공하는 제 1 경로부;를 포함하는, 프로브 핀.In the probe pin,
a first contact portion capable of contacting a pin of a test object;
a second contact portion capable of contacting an external device; and
A first path portion providing an arcuate electrical signal path between the first contact portion and the second contact portion; and a probe pin. 제12항에 있어서,
상기 프로브 핀은,
상기 제 1 접촉부와 상기 제 2 접촉부의 사이에서, 전기 신호의 경로를 제공하는 제 2 경로부;를 더 포함하는, 프로브 핀.According to claim 12,
The probe pin,
A probe pin further comprising: a second path portion providing a path for an electrical signal between the first contact portion and the second contact portion. 제13항에 있어서,
상기 제 2 경로부는,
상기 프로브 핀에 압력이 가해지지 않을 경우에는 상기 제 1 접촉부와 상기 제 2 접촉부의 사이에서 전기 신호의 경로를 연결하지 않고, 상기 프로브 핀에 압력이 가해질 경우에는 상기 제 1 접촉부와 상기 제 2 접촉부의 사이에서 전기 신호의 경로를 연결하는, 프로브 핀.According to claim 13,
The second path unit,
When pressure is not applied to the probe pin, an electrical signal path is not connected between the first contact portion and the second contact portion, and when pressure is applied to the probe pin, the first contact portion and the second contact portion A probe pin, which connects the path of an electrical signal between. 제12항에 있어서,
상기 제 1 접촉부는,
직각을 이루는 2개의 요철면을 구비하는, 프로브 핀.According to claim 12,
The first contact part,
A probe pin having two concave-convex surfaces forming a right angle. 제12항에 있어서,
상기 프로브 핀은,
상기 제 1 접촉부측으로 상기 테스트 대상물의 핀을 미는 푸셔부;를 더 포함하는, 프로브 핀. According to claim 12,
The probe pin,
Further comprising a; pusher portion for pushing the pin of the test object toward the first contact portion. 제16항에 있어서,
상기 푸셔부는,
만곡된 제 1 푸셔 부분; 및
상기 제 1 푸셔 부분과 연결되어 직선상으로 연장된 제 2 푸셔 부분;을 구비하는, 프로브 핀. According to claim 16,
The pusher part,
a curved first pusher portion; and
A probe pin having a; second pusher portion connected to the first pusher portion and extending in a straight line. 제12항에 있어서,
일 측면도 상에서 상기 제 2 접촉부는,
상기 외부 장치와 전기적으로 접촉하는 접점 부분인 제 2-1 부분;
상기 제 2-1 부분으로부터 양측으로 벌어져서 폭이 점진적으로 넓어지는 제 2-2 부분; 및
상기 제 2-2 부분과 연결되어 일정 폭을 갖는 제 2-3 부분;을 구비하는, 프로브 핀.According to claim 12,
On one side view, the second contact part,
a 2-1 part that is a contact part electrically contacting the external device;
a 2-2 portion that gradually widens from the 2-1 portion to both sides; and
A probe pin having a; 2-3 portion connected to the 2-2 portion and having a predetermined width. 제1항 내지 제18항 중 어느 한 항의 프로브 핀을 포함하는 소켓.A socket comprising the probe pin of any one of claims 1 to 18.
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