KR20220100304A - 지그모듈 및 이를 포함하는 검사장치 - Google Patents

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손세호
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Abstract

실시예는, 제1 지그; 상기 제1 지그 상에 배치되고 검사 대상체가 수납되는 제2 지그; 및 상기 제1 지그와 상기 제2 지그 사이에 배치되는 검사기판을 포함하고, 상기 제1 지그는 상기 검사기판의 제1 커넥터가 노출되는 제1 홀, 상기 검사 대상체의 식별코드가 노출되는 제2 홀, 및 상기 검사기판에 실장된 부품이 수용되는 수용홈을 포함하고, 상기 검사기판은 검사 대상체의 종류에 따라 실장되는 부품의 종류 및 배치가 상이한 복수 개의 검사기판 중 선택된 어느 하나이고, 상기 수용홈은 상기 복수 개의 검사기판에 내장된 부품들이 모두 수용되는 크기 및 형상을 갖는 지그모듈 및 이를 포함하는 검사장치를 개시한다.

Description

지그모듈 및 이를 포함하는 검사장치{JIG MODULE AND TESTING DEVICE INCLUDING THE SAME}
실시예는 지그모듈 및 이를 포함하는 검사 장치에 관한 것이다.
스마트폰과 같은 전자기기는 출하되기 전에 다양한 테스트를 거치게 된다. 일반적으로 검사기판이 내장된 지그모듈에 전자기기를 배치하고 검사기판과 전기적으로 연결하여 전자기기의 정상 동작 여부를 테스트한다.
테스트에 사용되는 검사기판은 실장되는 부품이 상이하므로 검사 종류에 따라 다양한 종류의 검사기판이 구비된다. 작업자는 전자기기의 검사 종류에 따라 검사기판을 선택하여 지그모듈에 삽입한다.
그러나 종래에는 다양한 검사기판이 모두 수납될 수 있는 공용화 지그 구조가 없었다. 따라서, 복수 개의 검사기판마다 개별적으로 지그모듈을 제작해야 하는 문제가 있다.
실시예는 다양한 검사기판이 모두 수납될 수 있는 공용화 지그를 제공할 수 있다.
실시 예에서 해결하고자 하는 과제는 이에 한정되는 것은 아니며, 아래에서 설명하는 과제의 해결수단이나 실시 형태로부터 파악될 수 있는 목적이나 효과도 포함된다고 할 것이다.
본 발명의 일 특징에 따른 지그모듈은, 제1 지그; 상기 제1 지그 상에 배치되고 검사 대상체가 수납되는 제2 지그; 및 상기 제1 지그와 상기 제2 지그 사이에 배치되는 검사기판을 포함하고, 상기 제1 지그는 상기 검사기판의 제1 커넥터가 노출되는 제1 홀, 상기 검사 대상체의 식별코드가 노출되는 제2 홀, 및 상기 검사기판에 실장된 부품이 수용되는 수용홈을 포함하고, 상기 검사기판은 검사 대상체의 종류에 따라 실장되는 부품의 종류 및 배치가 상이한 복수 개의 검사기판 중 선택된 어느 하나이고, 상기 수용홈은 상기 복수 개의 검사기판에 내장된 부품들이 모두 수용되는 크기 및 형상을 갖는다.
상기 제2 홀은 상기 수용홈 내에 배치될 수 있다.
상기 검사기판은 상기 제2 홀과 중첩되는 위치에 형성된 제3 홀을 포함하고,
상기 제2 지그는 상기 제2 홀 및 상기 제3 홀과 중첩되는 위치에 형성된 제4 홀을 포함할 수 있다.
상기 제1 지그는 제1 방향으로 서로 마주보는 제1 측면과 제2 측면, 및 상기 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 서로 마주보는 제3 측면과 제4 측면을 포함하고, 상기 수용홈은 상기 제2 홀과 상기 제1 측면 사이에 배치되는 제1 수용영역, 상기 제2 홀과 상기 제2 측면 사이에 배치되는 제2 수용영역, 상기 제2 홀과 상기 제1 홀 사이에 배치되는 제3 수용영역, 및 상기 제2 홀과 상기 제4 측면 사이에 배치되는 제4 수용영역을 포함할 수 있다.
상기 검사기판은 상기 제2 지그 상에 배치되는 소켓부 및 상기 검사기판과 상기 소켓부를 연결하는 연장부를 포함하고, 상기 소켓부는 상기 제2 지그의 상기 제4 홀 상에 배치될 수 있다.
상기 소켓부를 상기 제2 지그에 고정하는 고정부를 포함할 수 있다.
상기 검사기판은 상기 제2 지그 상에 배치되는 소켓부 및 상기 검사기판과 상기 소켓부를 연결하는 연장부를 포함하고, 상기 제2 지그는 상기 소켓부를 덮는 덮개부 및 상기 덮개부를 회전 이동시키는 힌지부를 포함할 수 있다.
본 발명의 일 특징에 따른 검사장치는, 지지판; 및 상기 지지판 상에 배치되는 지그모듈을 포함하고, 상기 지그모듈은, 제1 지그; 상기 제1 지그 상에 배치되고 검사 대상체가 수납되는 제2 지그; 및 상기 제1 지그와 상기 제2 지그 사이에 배치되는 검사기판을 포함하고, 상기 제1 지그는 상기 검사기판의 제1 커넥터가 노출되는 제1 홀, 상기 검사 대상체의 식별코드가 노출되는 제2 홀, 및 상기 검사기판에 실장된 부품이 수용되는 수용홈을 포함하고, 상기 검사기판은 검사 대상체의 종류에 따라 실장되는 부품의 종류 및 배치가 상이한 복수 개의 검사기판 중 선택된 어느 하나이고, 상기 수용홈은 상기 복수 개의 검사기판에 내장된 부품들이 모두 수용되는 크기 및 형상을 갖는다.
실시예에 따르면 다양한 검사기판이 모두 수납될 수 있으므로 지그 제작 비용이 절감될 수 있다.
본 발명의 다양하면서도 유익한 장점과 효과는 상술한 내용에 한정되지 않으며, 본 발명의 구체적인 실시형태를 설명하는 과정에서 보다 쉽게 이해될 수 있을 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치의 개념도이고,
도 2는 제1 지그의 평면도이고,
도 3은 제1 지그의 일부 사시도이고,
도 4는 제1 지그의 변형예이고,
도 5는 제1 지그 상에 배치된 검사기판의 평면도이고,
도 6은 도 5의 A-A방향 단면도이고,
도 7은 다양한 부품이 실장된 검사장치의 평면도이고,
도 8은 제1 지그 상에 배치된 제2 지그의 평면도이고,
도 9는 검사장치의 소켓부가 제2 지그 상에 배치된 상태를 보여주는 도면이고,
도 10은 지그모듈의 전면을 보여주는 도면이고,
도 11은 지그모듈의 후면을 보여주는 도면이고,
도 12는 지그모듈에 검사 대상체가 배치된 상태를 보여주는 도면이고,
도 13 및 도 14는 검사 대상체를 지그모듈에 연결하는 과정을 보여주는 도면이고,
도 15는 지그모듈의 다른 실시예를 보여주는 도면이고,
도 16은 도 15의 B-B 방향 단면도이고,
도 17은 도 15의 C-C 방향 단면도이고,
도 18은 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사 장치의 개념도이고,
도 19는 덮개부를 오픈시켜 검사기판의 소켓부를 노출시킨 상태를 보여주는 도면이고,
도 20은 검사 대상체와 검사기판을 연결시킨 상태를 보여주는 도면이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시 예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다.
제2, 제1 등과 같이 서수를 포함하는 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되지는 않는다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제2 구성요소는 제1 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제1 구성요소도 제2 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 첨부된 도면을 참조하여 실시예를 상세히 설명하되, 도면 부호에 관계없이 동일하거나 대응하는 구성 요소는 동일한 참조 번호를 부여하고 이에 대한 중복되는 설명은 생략하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 검사 장치의 개념도이고, 도 2는 제1 지그의 평면도이고, 도 3은 제1 지그의 일부 사시도이고, 도 4는 제1 지그의 변형예이다.
도 1을 참조하면, 실시예에 따른 검사 장치는 지지판(100) 및 지지판(100)에 체결 가능한 지그모듈(200)을 포함한다. 지지판(100)과 지그모듈(200)은 수납된 검사 대상체(10)의 다양한 성능을 테스트할 수 있다.
지지판(100)은 지그모듈(200)이 수납될 수 있는 제1 홈(113) 및 지그모듈(200)의 측면을 지지할 수 있는 복수 개의 고정부재(112a, 112b, 112c, 112d)를 포함할 수 있다. 고정부재(112a, 112b, 112c, 112d)는 돌출부가 제1 홈(113)을 향해 돌출됨으로써 지그모듈(200)의 측면을 지지할 수 있다. 고정부재(112a, 112b, 112c, 112d)는 작업자가 수동으로 동작시킬 수 있으나 반드시 이에 한정되는 것은 아니고 실린더를 이용한 자동화 구조도 가능하다.
지지판(100)의 일측에는 검사 버튼(116) 및 검사 상태에 따라 다른 색상의 광을 출력하는 알람부(115)가 배치될 수 있다.
검사 대상체(10)가 수납된 지그모듈(200)을 지지판(100) 상에 배치시키면 지지판(100)의 제2 커넥터(111)가 지그모듈(200)의 검사기판(미도시)과 연결되어 작업을 수행할 수 있다. 검사기판은 검사 대상체(10)의 종류에 따라 실장되는 부품의 종류 및 배치가 상이한 복수 개의 검사기판 중 선택된 어느 하나일 수 있다.
지그모듈(200)은 하부에 배치된 제1 지그(210)와 상부에 배치된 제2 지그(220)를 포함할 수 있다. 제1 지그(210)와 제2 지그(220) 사이에는 검사기판이 배치될 수 있다.
지그모듈(200)은 검사 대상체(10)가 수납되는 안착홈(221) 및 안착홈(221)에 형성된 제1 관통홀(H1)을 포함할 수 있다. 제1 관통홀(H1)은 제1 지그(210)에 형성된 제2 홀(미도시), 검사기판에 형성된 제3 홀(미도시), 및 제2 지그(220)에 형성된 제4 홀(미도시)에 의해 형성될 수 있다. 제1 관통홀(H1)을 통해 검사 대상체(10)의 식별코드(예: 바코드)가 지그모듈(200)의 하부로 노출될 수 있다.
검사 대상체(10)는 소켓부의 결합에 의해 지그모듈(200)의 검사기판과 연결될 수 있다. 따라서, 미리 정해진 테스트 매뉴얼에 따라 검사 대상체(10)를 테스트할 수 있다.
검사 대상체(10)는 스마트폰과 같은 휴대용 단말일 수 있으나 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 테스트가 필요한 다양한 전자 디바이스일 수 있다. 휴대용 단말은 커버 글라스에 디스플레이 패널이 접합된 상태에서 정상 동작 유무를 검사할 수 있다. 휴대용 단말의 소켓부를 지그모듈의 소켓부와 연결시켜 정상적으로 동작하는지 검사할 수 있다.
지그모듈(200)의 모서리에 형성된 제2 관통홀(H2)은 지지판(100)의 돌기(114)에 삽입될 수 있다. 따라서, 지그모듈(200)이 제1 홈(113)에 안착시 정위치에 정렬될 수 있다.
도 2 및 도 3을 참조하면, 제1 지그(210)는 사각 형상을 가질 수 있으며, 검사기판의 제1 커넥터가 노출되는 제1 홀(211), 검사 대상체(10)의 바코드가 노출되는 제2 홀(212), 및 제1 지그(210)의 제1 면(210a)에 형성되어 검사기판(230)의 부품(234)이 수용되는 수용홈(213)을 포함할 수 있다.
제1 홀(211)은 검사기판(230)의 제1 커넥터가 노출되는 크기의 사각 형상을 가질 수 있으며, 제2 홀(212)은 바코드가 노출되며 작업자의 손이 일부 삽입될 수 있는 크기를 가질 수 있다. 이러한 구성에 의하면 작업자가 제2 홀(212)을 통해 수작업으로 검사기판(230)과 검사 대상체(10)의 소켓부를 연결할 수 있다.
수용홈(213)은 모든 검사기판에 배치된 부품이 모두 수용될 수 있을 정도의 크기를 가질 수 있다. 수용홈(213)의 크기가 커짐에 따라 제2 홀(212)은 수용홈(213)의 내측에 배치될 수 있다.
제1 지그(210)는 제1 방향(X축 방향)으로 서로 마주보는 제1 측면(S1)과 제2 측면(S2), 및 제1 방향과 수직한 제2 방향(Y축 방향)으로 서로 마주보는 제3 측면(S3)과 제4 측면(S4)을 포함할 수 있다.
수용홈(213)은 제2 홀(212)과 제1 측면(S1) 사이에 배치되는 제1 수용영역(213a), 제2 홀(212)과 제2 측면(S2) 사이에 배치되는 제2 수용영역(213b), 제2 홀(212)과 제1 홀(211) 사이에 배치되는 제3 수용영역(213c), 및 제2 홀(212)과 제4 측면(S4) 사이에 배치되는 제4 수용영역(213d)을 포함할 수 있다.
실시예에 따르면, 제1 내지 제4 수용영역(213a, 213b, 213c, 213d)에 의해 수용홈(213)의 면적이 넓어져 다양한 위치에 배치되는 부품이 모두 수용될 수 있으므로 어떤 검사기판이라도 제1 지그(210)를 공용으로 사용할 수 있다. 이때, 제1 홀(211)과 제3 측면(S3) 사이에 배치되는 제5 수용영역(213e)을 더 포함할 수도 있다.
도 4를 참조하면, 제2 홀(212)의 형상은 다양하게 변형될 수 있다. 제2 홀(212)은 검사 대상체(10)의 바코드를 노출시키고, 소켓부를 연결할 수 있을 정도의 공간을 가질 수 있는 범위 내에서 다양하게 변형될 수 있다.
제1 지그(210)는 복수 개의 제3 삽입홀(215)을 포함할 수 있다. 제3 삽입홀(215)에는 자성부재가 배치되어 지지판(100)에 부착될 수 있다.
도 5는 제1 지그 상에 배치된 검사기판의 평면도이고, 도 6은 도 5의 A-A방향 단면도이고, 도 7은 다양한 부품이 실장된 검사장치의 평면도이다.
도 5 및 도 6을 참조하면, 제1 지그(210) 상에는 검사기판(230)이 배치될 수 있다. 검사기판(230)은 제1 지그(210)에 볼트 결합될 수 있으나 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 다양한 방법으로 제1 지그(210)에 고정 또는 수납될 수 있다. 검사기판(230)의 제1 커넥터(233)는 제1 홀(211)을 통해 노출되어 지지판(100)의 제2 커넥터(111)와 연결될 수 있다.
검사기판(230)에 실장된 부품(234)들은 수용홈(213)에 수용될 수 있다. 수용홈(213)의 깊이는 검사기판(230)에 실장될 수 있는 부품(234)들 중에서 가장 두께가 두꺼운 부품(234)을 기준으로 제작될 수 있다.
검사기판(230)은 제1 지그(210)의 제2 홀(212)과 중첩되는 위치에 형성된 제3 홀(231)이 형성될 수 있다. 제2 홀(212)과 제3 홀(231)은 동일한 크기 및 동일한 형상일 수 있으나 반드시 이에 한정하는 것은 아니고 제3 홀(231)은 제2 홀(212)보다 작을 수도 있고 클 수도 있다.
도 7을 참조하면, 검사기판은 테스트 종류에 따라 다양한 부품(234)이 다양한 위치에 실장될 수 있다. 예시적으로 도 7의 (a)와 같이 제1 검사기판(230A)은 상부에 더 많은 부품(234)이 배치될 수도 있고, 도 7의 (b)와 같이 제2 검사기판(230B)은 상부에 상대적으로 긴 부품(234)이 배치될 수도 있고, 도 7의 (c)와 같이 제3 검사기판(230C)은 부품(234)의 개수가 상대적으로 적을 수 있다.
도 7의 (a) 내지 (c)에 도시된 제1 내지 제3 검사기판(230A, 230B, 230C)들은 모두 부품의 종류 및 개수가 상이할 수 있다. 따라서 각 검사기판(230)에 맞는 제1 지그(210)를 별도로 제작하는 경우 제작 비용이 상대적으로 높아질 수 있다. 또한, 검사기판(230)을 다른 제1 지그에 잘못 장착하는 경우 검사기판(230)이 파손되는 문제가 발생할 수 있다. 그러나, 실시예에 따르면 제1 지그(210)의 수용홈(213)에 제1 내지 제3 검사기판(230A, 230B, 230C)의 부품들이 모두 수용될 수 있도록 제작하였으므로 제1 지그(210)를 공용화할 수 있는 장점이 있다.
도 8은 제1 지그 상에 배치된 제2 지그의 평면도이고, 도 9는 검사장치의 소켓부가 제2 지그 상에 배치된 상태를 보여주는 도면이고, 도 10은 지그모듈의 전면을 보여주는 도면이고, 도 11은 지그모듈의 후면을 보여주는 도면이고, 도 12는 지그모듈에 검사 대상체가 배치된 상태를 보여주는 도면이고, 도 13 및 도 14는 검사 대상체를 지그모듈에 연결하는 과정을 보여주는 도면이다.
도 8을 참조하면, 제1 지그(210) 상에 제2 지그(220)가 조립될 수 있다. 따라서, 검사기판(230)은 제1 지그(210)와 제2 지그(220) 사이에 배치될 수 있다.
제2 지그(220)는 검사 대상체(10)가 수납될 수 있는 안착홈(221) 및 제2 지그(220)의 제2 홀(212)과 대응되는 위치에 형성된 제4 홀(222)을 포함할 수 있다. 제4 홀(222)은 안착홈(221)의 내측에 형성된 제1 서브홀(222a) 및 안착홈(221)의 외측에 형성된 제2 서브홀(222b)을 포함할 수 있다.
안착홈(221)의 양 사이드에는 검사 대상체(10)를 고정하는 클램프(223)가 배치될 수 있다.
도 9를 참조하면, 검사기판(230)의 제1 소켓부(232)는 제4 홀(222)의 제2 서브홀(222b) 상에 배치될 수 있다. 제1 소켓부(232)는 FPCB와 같은 연장부(235)가 휘어져 제2 지그(220) 상에 배치될 수 있다.
도 10을 참조하면, 제2 지그(220) 상에 고정부(224)가 결합되어 검사기판(230)의 제1 소켓부(232)를 고정할 수 있다. 그러나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니고 검사 기판의 제1 소켓부(232)가 제2 서브홀(222b) 상에 배치되는 방법은 다양하게 변형될 수 있다. 예시적으로 검사기판(230)의 제1 소켓부(232)가 제1 지그(210)와 제2 지그(220)의 사이에 배치된 상태에서 제4 홀(222)로 돌출되도록 배치될 수도 있다.
도 11을 참조하면, 검사기판(230)의 제1 소켓부(232)는 제2 지그(220)의 제4 홀(222) 상에 배치되므로 제4 홀(222)과 동일한 형상을 갖는 제2 홀(212)에 노출될 수 있다. 즉, 제1 지그(210)의 제2 면(210b)에서 보면, 제2 홀(212)에 검사기판(230)의 제1 소켓부(232)가 노출될 수 있다.
따라서, 도 12와 같이 검사 대상체(10)를 제2 지그(220)의 안착홈(221)에 배치하면 도 13과 같이 제1 지그(210)의 후면으로 검사 대상체(10)의 제2 소켓부(11)와 검사기판(230)의 제1 소켓부(232)를 마주보게 배치할 수 있다. 이후, 도 14와 같이 작업자가 손으로 검사 대상체(10)의 제2 소켓부(11)를 검사기판(230)의 제1 소켓부(232)를 향해 눌러 연결할 수 있다. 따라서, 양 소켓부(11, 232)의 전극핀(11a, 232a)이 전기적으로 연결될 수 있다.
제1 관통홀(H1)을 형성하는 제2 홀(212), 제3 홀(231), 제4 홀(222)은 모두 작업자의 손이 일부 삽입될 정도의 크기를 가지므로 작업자가 쉽게 손을 집어넣어 소켓을 연결할 수 있다.
도 15는 지그모듈의 다른 실시예를 보여주는 도면이고, 도 16은 도 15의 B-B 방향 단면도이고, 도 17은 도 15의 C-C 방향 단면도이다.
도 15를 참조하면, 제1 지그(210)의 제2 홀(212)은 전술한 형상과 다르게 형성될 수 있다. 즉, 검사 대상체(10)의 바코드가 노출되고 작업자가 손으로 소켓을 연결할 수 있는 공간을 확보할 수 있다면 홀의 형상은 특별히 한정하지 않는다. 실시예에 따르면 제2 홀(212)은 바코드가 노출되는 제2-1 홀(212a) 및 소켓부가 노출되는 제2-2 홀(212b)을 포함할 수 있다.
도 16을 참조하면, 제1 지그(210)의 모서리에는 제1 삽입홀(214)이 형성되고, 제2 지그(220)의 모서리에는 제1 삽입홀(214)과 대응되는 위치에 제2 삽입홀(224)이 형성될 수 있다. 제1 지그(210)의 제1 삽입홀(214)에는 링부재(214a)가 삽입될 수 있다. 링부재(214a)에는 지지판(도 1의 100)의 돌기(114)가 삽입되어 지그모듈(200)이 지지판(100)에 정렬될 수 있다.
도 17을 참조하면, 제1 지그(210)에는 자성부재(215a)가 삽입될 수 있다. 이러한 구성에 의하면 지그모듈(200)이 지지판(100)의 자성부재(215a)에 부착되어 정위치에 정렬 고정되므로 지지판(100)의 고정부재(112a, 112b, 112c, 112d)를 생략할 수 있다. 제1 지그(210)의 제3 삽입홀(215)은 단턱이 형성되어 자성부재(215a)가 고정될 수 있고, 자성부재(215a)와 제2 지그(220) 사이에는 가압부재(215b)가 배치되어 자성부재(215a)를 가압하여 고정할 수 있다.
도 18은 본 발명의 다른 실시예에 따른 검사 장치의 개념도이고, 도 19는 덮개부를 오픈시켜 검사기판의 제1 소켓부를 노출시킨 상태를 보여주는 도면이고, 도 20은 검사 대상체와 검사기판을 연결시킨 상태를 보여주는 도면이다.
실시예에 따른 검사 장치는 지지판 및 지지판에 체결 가능한 지그모듈을 포함한다. 지지판의 구성은 도 1에서 설명한 구성과 동일하므로 이하에서는 지그모듈에 대해 설명한다.
도 18 내지 도 20을 참조하면, 지그모듈(200)은 하부에 배치된 제1 지그(210)와 상부에 배치된 제2 지그(220)를 포함할 수 있다. 제1 지그(210)와 제2 지그(220) 사이에는 검사기판(230)이 배치될 수 있다. 지그모듈(200)의 구조는 도 1 내지 도 17에서 설명한 구조가 모두 적용될 수 있다.
지그모듈(200)은 검사기판(230)의 제1 소켓부(232)를 덮는 덮개부(228a) 및 덮개부(228a)를 회전 이동시키는 힌지부(228b)를 포함할 수 있다. 실시예에 따르면, 누름 스위치(228c)를 누르면 힌지부(228b)에 의해 덮개부(228a)가 열릴 수 있다.
따라서, 덮개부(228a)에 커버되어 있던 검사기판(230)의 제1 소켓부(232)가 노출될 수 있다. 따라서, 작업자는 검사 대상체(10)의 제2 소켓부(11)를 검사기판(230)의 제1 소켓부(232)와 간편하게 연결할 수 있다.
이상에서 실시예를 중심으로 설명하였으나 이는 단지 예시일 뿐 본 발명을 한정하는 것이 아니며, 본 발명이 속하는 분야의 통상의 지식을 가진 자라면 본 실시예의 본질적인 특성을 벗어나지 않는 범위에서 이상에 예시되지 않은 여러 가지의 변형과 응용이 가능함을 알 수 있을 것이다. 예를 들어, 실시예에 구체적으로 나타난 각 구성 요소는 변형하여 실시할 수 있는 것이다. 그리고 이러한 변형과 응용에 관계된 차이점들은 첨부된 청구 범위에서 규정하는 본 발명의 범위에 포함되는 것으로 해석되어야 할 것이다.

Claims (11)

  1. 제1 지그;
    상기 제1 지그 상에 배치되고 검사 대상체가 수납되는 제2 지그; 및
    상기 제1 지그와 상기 제2 지그 사이에 배치되는 검사기판을 포함하고,
    상기 제1 지그는 상기 검사기판의 제1 커넥터가 노출되는 제1 홀, 상기 검사 대상체의 식별코드가 노출되는 제2 홀, 및 상기 검사기판에 실장된 부품이 수용되는 수용홈을 포함하고,
    상기 검사기판은 검사 대상체의 종류에 따라 실장되는 부품의 종류 및 배치가 상이한 복수 개의 검사기판 중 선택된 어느 하나이고,
    상기 수용홈은 상기 복수 개의 검사기판에 내장된 부품들이 모두 수용되는 크기 및 형상을 갖는 지그모듈.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제2 홀은 상기 수용홈 내에 배치되는 지그모듈.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 검사기판은 상기 제2 홀과 중첩되는 위치에 형성된 제3 홀을 포함하고,
    상기 제2 지그는 상기 제2 홀 및 상기 제3 홀과 중첩되는 위치에 형성된 제4 홀을 포함하는 지그모듈.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 지그는 제1 방향으로 서로 마주보는 제1 측면과 제2 측면, 및 상기 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 서로 마주보는 제3 측면과 제4 측면을 포함하고,
    상기 수용홈은 상기 제2 홀과 상기 제1 측면 사이에 배치되는 제1 수용영역, 상기 제2 홀과 상기 제2 측면 사이에 배치되는 제2 수용영역, 상기 제2 홀과 상기 제1 홀 사이에 배치되는 제3 수용영역, 및 상기 제2 홀과 상기 제4 측면 사이에 배치되는 제4 수용영역을 포함하는 지그모듈.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 검사기판은 상기 제2 지그 상에 배치되는 소켓부 및 상기 검사기판과 상기 소켓부를 연결하는 연장부를 포함하고,
    상기 소켓부는 상기 제2 지그의 상기 제4 홀 상에 배치되는 지그모듈.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 소켓부를 상기 제2 지그에 고정하는 고정부를 포함하는 지그모듈.
  7. 제4항에 있어서,
    상기 검사기판은 상기 제2 지그 상에 배치되는 소켓부 및 상기 검사기판과 상기 소켓부를 연결하는 연장부를 포함하고,
    상기 제2 지그는 상기 소켓부를 덮는 덮개부 및 상기 덮개부를 회전 이동시키는 힌지부를 포함하는 지그모듈.
  8. 지지판; 및
    상기 지지판 상에 배치되는 지그모듈을 포함하고,
    상기 지그모듈은,
    제1 지그;
    상기 제1 지그 상에 배치되고 검사 대상체가 수납되는 제2 지그; 및
    상기 제1 지그와 상기 제2 지그 사이에 배치되는 검사기판을 포함하고,
    상기 제1 지그는 상기 검사기판의 제1 커넥터가 노출되는 제1 홀, 상기 검사 대상체의 식별코드가 노출되는 제2 홀, 및 상기 검사기판에 실장된 부품이 수용되는 수용홈을 포함하고,
    상기 검사기판은 검사 대상체의 종류에 따라 실장되는 부품의 종류 및 배치가 상이한 복수 개의 검사기판 중 선택된 어느 하나이고,
    상기 수용홈은 상기 복수 개의 검사기판에 내장된 부품들이 모두 수용되는 크기 및 형상을 갖는 검사장치.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 제1 홀을 통해 노출된 상기 검사기판의 제1 커넥터는 상기 지지판에 배치된 제2 커넥터와 전기적으로 연결되는 검사장치.
  10. 제8항에 있어서,
    상기 검사기판은 상기 제2 홀과 중첩되는 위치에 형성된 제3 홀을 포함하고,
    상기 제2 지그는 상기 제2 홀 및 상기 제3 홀과 중첩되는 위치에 형성된 제4 홀을 포함하는 검사장치.
  11. 제8항에 있어서,
    상기 제1 지그는 제1 방향으로 서로 마주보는 제1 측면과 제2 측면, 및 상기 제1 방향과 수직한 제2 방향으로 서로 마주보는 제3 측면과 제4 측면을 포함하고,
    상기 수용홈은 상기 제2 홀과 상기 제1 측면 사이에 배치되는 제1 수용영역, 상기 제2 홀과 상기 제2 측면 사이에 배치되는 제2 수용영역, 상기 제2 홀과 상기 제1 홀 사이에 배치되는 제3 수용영역, 및 상기 제2 홀과 상기 제4 측면 사이에 배치되는 제4 수용영역을 포함하는 검사장치.
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