KR20220072262A - 브레이크 아웃 박스 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 브레이크 아웃 박스에 관한 것으로, 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 복수의 제1 핀을 포함하는 제1 커넥터, 상기 복수의 제1 핀과 각각 대응하는 복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터, 전도성 배선으로 이루어진 인터커넥션, 그리고 상기 제1 핀, 상기 제2 핀 및 상기 인터커넥션을 선택적으로 연결시키는 복수의 스위치를 포함하는 스위칭부를 포함한다. 본 발명에 의하면, 종래 브레이크 아웃 박스와 동일하게 시험을 할 수 있으면서, 점퍼없이 절연 시험이 가능하고, 스위치 조작만으로 간단하게 절연 시험을 할 수 있는 장점이 있다.

Description

브레이크 아웃 박스{Break out box}
본 발명은 브레이크 아웃 박스에 관한 것으로, 보다 자세하게는 점퍼(jumper)없이 절연(isolation) 측정이 가능한 브레이크 아웃 박스에 관한 것이다.
일반적으로 브레이크 아웃 박스(Break Out Box)(B0B)는 위성체의 조립이나 시험 등에 있어서 위성체를 이루고 있는 각 유닛들 사이의 전기적인 인터페이스(interface), 전기적인 신호의 확인 또는 고장 등을 탐구하기 위해서 사용된다. 예컨대, 브레이크 아웃 박스는 점검하고자 하는 유닛들의 사이에 연결되고, 브레이크 아웃 박스에 구비된 복수의 테스트 포인트를 이용하여 특정 테스트 포인트에 연결된 신호 라인의 연결 상태를 확인하거나, 해당 테스트 포인트에서의 신호 레벨이나 전압의 크기 등을 측정하는데 사용될 수 있다.
브레이크 아웃 박스를 검증하고자 하는 유닛(unit)들의 연결 하니스(harness) 사이에 삽입한 후 브레이크 아웃 박스에서 적절한 필요 작업을 수행할 수 있다. 예를 들어 BOB의 특정 포인트(point)들을 이용하여 특정 라인들의 연결도를 확인하거나 그 포인트에서의 전기적 신호 파형이나, 전압/전류/저항 값 등을 측정할 수 있다. 또한 디버깅 목적으로 특정 핀(pin)들의 스왑(swap) 및 인위적인 개방(연결선의 open)도 가능하다.
제작된 하니스, 브레이크 아웃 박스 등의 사용에 앞서 신호 선간 단락 여부 확인을 위해 절연 시험은 필수적으로 수반되어야 한다. 절연 시험의 효율성 향상을 위해 다양한 신호선을 묶는 일련의 작업이 필요한데, 이는 보통 바나나 케이블 형태의 점퍼를 사용하므로 매우 번거롭고 혼잡하다.
본 발명에서 해결하고자 하는 기술적 과제는 점퍼없이 절연 시험이 가능하고, 스위치 조작만으로 간단하게 절연 시험을 할 수 있는 브레이크 아웃 박스를 제공하는 것이다.
상기한 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 복수의 제1 핀을 포함하는 제1 커넥터, 상기 복수의 제1 핀과 각각 대응하는 복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터, 전도성 배선으로 이루어진 인터커넥션, 그리고 상기 제1 핀, 상기 제2 핀 및 상기 인터커넥션을 선택적으로 연결시키는 복수의 스위치를 포함하는 스위칭부를 포함한다.
상기 브레이크 아웃 박스는 상기 복수의 제1 핀에 각각 대응하는 복수의 제1 테스트 포인트, 그리고 상기 복수의 제2 핀에 각각 대응하는 복수의 제2 테스트 포인트를 더 포함할 수 있다.
상기 스위칭부는, 상기 복수의 제1 핀 중 절연(isolation) 시험 대상 핀은 개방(open)시키고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지 핀은 상기 인터커넥션에 모두 연결시킬 수 있다.
상기 복수의 스위치는 SPTT(Single Pole Triple Through) 스위치일 수 있다.
상기 인터커넥션은 제1 전도성 배선과 제2 전도성 배선을 포함할 수 있다.
상기 스위칭부는, 상기 제1 핀을 상기 제2 핀 및 상기 제1 전도성 배선에 선택적으로 연결시키거나 개방시키고, 상기 제2 핀을 상기 제1 핀 및 상기 제2 전도성 배선에 선택적으로 연결시키거나 개방시킬 수 있다.
상기 스위칭부는, 상기 복수의 제1 핀 중 절연 시험 대상 핀은 개방시키고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지 핀은 상기 제1 전도성 배선에 모두 연결시킬 수 있으며, 상기 복수의 제2 핀 중 절연 시험 대상 핀은 개방시키고, 상기 복수의 제2 핀 중 나머지 핀은 상기 제2 전도성 배선에 모두 연결시킬 수 있다.
본 발명에 의하면, 종래 브레이크 아웃 박스와 동일하게 시험을 할 수 있으면서, 점퍼없이 절연 시험이 가능하고, 스위치 조작만으로 간단하게 절연 시험을 할 수 있는 장점이 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 단락된 상태를 나타낸 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터의 특정 핀에 대한 절연 시험 상태를 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 단락된 상태를 나타낸 것이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터의 특정 핀과 제2 커넥터의 특정 핀에 대한 절연 시험 상태를 나타낸 것이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 그러나 이들 실시 예는 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명의 범위가 이에 의하여 제한되지 않는다는 것은 당업계의 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제의 해결 방안을 명확하게 하기 위한 발명의 구성을 본 발명의 바람직한 실시 예에 근거하여 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명하되, 도면의 구성요소들에 참조번호를 부여함에 있어서 동일 구성요소에 대해서는 비록 다른 도면상에 있더라도 동일 참조번호를 부여하였으며 당해 도면에 대한 설명시 필요한 경우 다른 도면의 구성요소를 인용할 수 있음을 미리 밝혀둔다. 아울러 본 발명의 바람직한 실시 예에 대한 동작 원리를 상세하게 설명함에 있어 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명 그리고 그 이외의 제반 사항이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 '연결'되어 있다고 할때, 이는 '직접적으로 연결'되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 '간접적으로 연결'되어 있는 경우도 포함한다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작, 또는 소자 외에 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작, 또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 단락된 상태를 나타낸 것이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터의 특정 핀에 대한 절연 시험 상태를 나타낸 것이다.
도 1 내지 도 3에 예시한 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 제1 커넥터(110), 제2 커넥터(120), 인터커넥션(130), 스위칭부(140), 복수의 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5')를 포함할 수 있다.
도 1 내지 도 3에서는 설명의 편의를 위해 제1 커넥터(110)와 제2 커넥터(120)에 각각 핀이 5개 있는 경우를 예시하였으나, 실시예에 따라 각 커넥터(110, 120)의 핀의 개수는 달라질 수 있으며, 그에 따라 스위치(141, 142, 143, 144, 145) 및 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5')의 개수는 달라질 수 있다.
제1 커넥터(110)는 하니스 커넥터(도시하지 않음)와 연결될 수 있으며, 하니스 커넥터의 각 핀과 연결될 수 있는 복수의 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115)을 포함할 수 있다.
제2 커넥터(120)는 다른 하니스 커넥터(도시하지 않음)와 연결될 수 있으며, 하니스 커넥터의 각 핀과 연결될 수 있는 복수의 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)을 포함할 수 있다.
인터커넥션(130)은 전도성 배선으로 이루어질 수 있다.
스위칭부(140)는 복수의 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 포함하며, 각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)는 자신에 대응하는 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)과 인터커넥션(130)을 선택적으로 연결시킬 수 있다.
각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)는 실시예에 따라 다양한 형태로 구현 가능하다. 예컨대 가장 단순하게는 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 그에 대응하는 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)의 연결을 온오프하는 제1 스위치 모듈, 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 인터커넥션(130)의 연결을 온오프하는 제2 스위치 모듈, 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125) 및 인터커넥션(130)의 연결을 온오프하는 제3 스위치 모듈을 포함할 수 있다.
가령 스위치(141)는 제1 핀(111)과 제2 핀(121)을 서로 연결시키거나, 제1 핀(111) 또는 제2 핀(121) 중 하나를 선택적으로 인터커넥션(130)에 연결시킬 수 있다. 그리고 제1 핀(111), 제2 핀(121) 및 인터커넥션(130)이 모두 연결되지 않게 할 수도 있다.
각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 조작하여 도 1에 예시한 것과 같이 제1 커넥터(110)와 제2 커넥터(120)의 모든 핀이 개방(open)되게 할 수 있다. 그리고 필요한 경우 도 2에 예시한 것과 같이 각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 조작하여 제1 커넥터(110)의 각 핀이 제2 커넥터(120)의 대응하는 핀과 모두 단락(short)되게 할 수도 있다.
한편 제1 커넥터(110)의 각 핀에 대한 절연(isolation) 시험을 위해서 각 스위치(111, 112, 113, 114, 115)를 다음과 같이 조작할 수도 있다.
예컨대 제1 커넥터(110)의 두 번째 핀(112)에 대한 절연 시험을 하려면, 도 3에 예시한 것과 같이 스위치(142)를 조작하여 두 번째 핀(112)을 개방시키고, 스위치(141, 143, 144, 145)를 조작하여 핀(111, 113, 114, 115)은 인터커넥션(130)에 연결시킬 수 있다. 그리고 두 번째 핀(112)에 대한 테스트 포인트(2)와 나머지 다른 핀(111, 113, 114, 115)에 대한 테스트 포인트(1, 3, 4, 5) 중 하나를 이용하여 절연 시험을 할 수 있다.
제2 커넥터(120)의 각 핀(121, 122, 123, 124, 125)에 대해서도 마찬가지로 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 조작하여 절연 시험 대상 핀은 개방시키고, 나머지 다른 핀은 인터커넥션(130)에 연결시킨 후 테스트 포인트(1', 2', 3', 4', 5')를 통해 절연 측정을 할 수 있다.
한편 실시예에 따라 각 스위치(111, 112, 113, 114, 115)를 SPTT(Single Pole Triple Through) 스위치로 구현할 수도 있다. 이 경우 제1 커넥터(110)의 각 핀에 대해 절연 시험을 하도록 브레이크 아웃 박스를 제작하는 경우, SPTT 스위치의 폴(Pole)이 제1 커넥터(110)의 각 핀 쪽으로 위치하게 할 수 있다. 반대로 제2 커넥터(120)의 각 핀에 대해 절연 시험을 하도록 브레이크 아웃 박스를 제작하는 경우, SPTT 스위치의 폴(Pole)이 제1 커넥터(110)의 각 핀 쪽으로 위치하게 할 수 있다.
여기서 예시한 것 외에도 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)과 인터커넥션(130)을 선택적으로 연결시킬 수 있으면, 각 스위치(111, 112, 113, 114, 115)는 어떠한 구조를 가져도 무방하며, 그리고 FET(Field Effect Transistor), MOSFET(Metal Oxide Semiconductor Field Effect transistor), BJT(Bipolar Junction Transistor) 등과 같이 스위칭 제어 신호에 따라 온오프 될 수 있는 스위칭 수단을 복수 개 조합하여 구현하는 것도 가능하다.
도 4는 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이고, 도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 단락된 상태를 나타낸 것이며, 도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터의 특정 핀과 제2 커넥터의 특정 핀에 대한 절연 시험 상태를 나타낸 것이다.
도 4 내지 도 6에 예시한 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 제1 커넥터(110), 제2 커넥터(120), 인터커넥션(130), 스위칭부(140), 복수의 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5')를 포함할 수 있다.
도 4 내지 도 6에서도 마찬가지로 설명의 편의를 위해 제1 커넥터(110)와 제2 커넥터(120)에 각각 핀이 5개 있는 경우를 예시하였으나, 실시예에 따라 각 커넥터(110, 120)의 핀의 개수는 달라질 수 있으며, 그에 따라 스위치(141, 142, 143, 144, 145) 및 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5')의 개수는 달라질 수 있다.
도 4 내지 도 6에 예시한 브레이크 아웃 박스는 인터커넥션(130)이 2개의 전도성 배선(131, 132)을 포함하는 점에서 도 1 내지 도 3에 예시한 브레이크 아웃 박스와 차이가 있다.
스위칭부(140)는 복수의 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 포함한다.
각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)는 자신에 대응하는 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115)을 그에 대응하는 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)에 연결시키거나, 제1 전도성 배선(131)에 선택적으로 연결시킬 수 있다.
또한 각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)는 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)을 그에 대응하는 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115)에 연결시키거나, 제2 전도성 배선(132)에 선택적으로 연결시킬 수 있다.
이를 위해 각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)는 간단하게는 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 그에 대응하는 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125)의 연결을 온오프하는 제1 스위치 모듈, 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115) 및 제1 전도성 배선(131)의 연결을 온오프하는 제2 스위치 모듈, 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125) 및 제2 전도성 배선(132)의 연결을 온오프하는 제3 스위치 모듈을 포함할 수 있다.
물론 도 1 내지 도 3에서와 마찬가지로 제1 핀(111, 112, 113, 114, 115), 제2 핀(121, 122, 123, 124, 125), 제1 전도성 배선(131), 제2 전도성 배선(132)을 선택적으로 연결시킬 수 있으면, 각 스위치(111, 112, 113, 114, 115)는 어떠한 구조를 가져도 무방하며, 그리고 FET, MOSFET, BJT 등과 같이 스위칭 제어 신호에 따라 온오프 될 수 있는 스위칭 수단을 복수 개 조합하여 구현하는 것도 가능하다.
각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 조작하여 도 4에 예시한 것과 같이 제1 커넥터(110)와 제2 커넥터(120)의 모든 핀이 개방(open)되게 할 수 있다. 그리고 필요한 경우 도 5에 예시한 것과 같이 각 스위치(141, 142, 143, 144, 145)를 조작하여 제1 커넥터(110)의 각 핀이 제2 커넥터(120)의 대응하는 핀과 모두 단락(short)되게 할 수도 있다.
한편 도 4 내지 도 6에 예시한 브레이크 아웃 박스는 2개의 전도성 배선(131, 132)을 포함하고 있으므로, 제1 커넥터(110)의 각 핀에 대한 절연 시험과 제2 커넥터(120)의 각 핀에 대한 절연 시험을 동시에 할 수 있다.
예컨대 제1 커넥터(110)의 두 번째 핀(112)과 제2 커넥터(120)의 세번 째 핀(123)에 대한 절연 시험을 동시에 하려면, 도 6에 예시한 것과 같이 스위치(142)를 조작하여 제1 커넥터(110)의 두 번째 핀(112)을 개방시키고, 스위치(141, 143, 144, 145)를 조작하여 제1 커넥터(110)의 나머지 핀(111, 113, 114, 115)은 제1 전도성 배선(131)에 연결시킬 수 있다. 동시에 스위치(143)를 조작하여 제2 커넥터(120)의 세 번째 핀(123)을 개방시키고, 스위치(141, 142, 144, 145)를 조작하여 제2 커넥터(120)의 나머지 핀(121, 122, 124, 125)은 제2 전도성 배선(132)에 연결시킬 수 있다.
그리고 제1 커넥터(110)의 두 번째 핀(112)에 대한 테스트 포인트(2)와 나머지 다른 핀(111, 113, 114, 115)에 대한 테스트 포인트(1, 3, 4, 5) 중 하나를 이용하여 절연 시험을 하고, 제2 커넥터(120)의 세 번째 핀(123)에 대한 테스트 포인트(3')와 나머지 다른 핀(121, 122, 124, 125)에 대한 테스트 포인트(1', 2', 4', 5') 중 하나를 이용하여 절연 시험을 할 수 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

Claims (6)

  1. 복수의 제1 핀을 포함하는 제1 커넥터,
    상기 복수의 제1 핀과 각각 대응하는 복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터,
    전도성 배선으로 이루어진 인터커넥션, 그리고
    상기 제1 핀, 상기 제2 핀 및 상기 인터커넥션을 선택적으로 연결시키는 복수의 스위치를 포함하는 스위칭부
    를 포함하는 브레이크 아웃 박스.
  2. 제 1 항에서,
    상기 복수의 제1 핀에 각각 대응하는 복수의 제1 테스트 포인트, 그리고
    상기 복수의 제2 핀에 각각 대응하는 복수의 제2 테스트 포인트
    를 더 포함하는 브레이크 아웃 박스.
  3. 제 2 항에서,
    상기 스위칭부는,
    상기 복수의 제1 핀 중 절연(isolation) 시험 대상 핀은 개방(open)시키고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지 핀은 상기 인터커넥션에 모두 연결시키는 브레이크 아웃 박스.
  4. 제 3 항에서,
    상기 복수의 스위치는,
    SPTT(Single Pole Triple Through) 스위치인 브레이크 아웃 박스.
  5. 제 2 항에서,
    상기 인터커넥션은,
    제1 전도성 배선과 제2 전도성 배선을 포함하고,
    상기 스위칭부는,
    상기 제1 핀을 상기 제2 핀 및 상기 제1 전도성 배선에 선택적으로 연결시키거나 개방시키고, 상기 제2 핀을 상기 제1 핀 및 상기 제2 전도성 배선에 선택적으로 연결시키거나 개방시키는 복수의 스위치를 포함하는 브레이크 아웃 박스.
  6. 제 5 항에서,
    상기 스위칭부는,
    상기 복수의 제1 핀 중 절연 시험 대상 핀은 개방시키고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지 핀은 상기 제1 전도성 배선에 모두 연결시키고,
    상기 복수의 제2 핀 중 절연 시험 대상 핀은 개방시키고, 상기 복수의 제2 핀 중 나머지 핀은 상기 제2 전도성 배선에 모두 연결시키는 브레이크 아웃 박스.
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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100164522A1 (en) * 2008-12-27 2010-07-01 Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd Signal testing apparatus
KR20170011519A (ko) * 2015-07-23 2017-02-02 한국항공우주연구원 브레이크 아웃 박스

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100164522A1 (en) * 2008-12-27 2010-07-01 Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd Signal testing apparatus
KR20170011519A (ko) * 2015-07-23 2017-02-02 한국항공우주연구원 브레이크 아웃 박스

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230064900A (ko) * 2021-11-04 2023-05-11 한국항공우주연구원 브레이크 아웃 박스

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