KR102601061B1 - 브레이크 아웃 박스 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 브레이크 아웃 박스에 관한 것으로, 복수의 제1 핀을 포함하는 제1 커넥터, 복수의 제1 핀 각각에 대응하는 복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터, 복수의 제1 핀 각각에 연결되는 복수의 제1 스위치, 복수의 제2 핀 각각에 연결되는 복수의 제2 스위치, 복수의 제1 스위치의 제1 단자와 복수의 제1 핀 사이에 형성되는 복수의 제1 테스트 포인트, 복수의 제2 스위치의 제1 단자와 복수의 제2 핀 사이에 형성되는 복수의 제2 테스트 포인트, 복수의 제1 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제1 인터커넥션, 복수의 제1 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제2 인터커넥션, 복수의 제2 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제3 인터커넥션, 및 복수의 제2 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제4 인터커넥션을 포함한다. 본 발명에 의하면 종래 브레이크 아웃 박스와 동일하게 시험을 할 수 있으면서, 점퍼없이 절연 시험이 가능하고, 점퍼 사용을 최소화하면서 스위치 조작만으로 간단하게 차동 모드 전류 측정을 할 수 있는 장점이 있다.

Description

브레이크 아웃 박스{Break out box}
본 발명은 브레이크 아웃 박스에 관한 것으로, 보다 자세하게는 절연(isolation) 측정, 차동 모드(Differential Mode) 전류 측정 등을 쉽게 할 수 있는 브레이크 아웃 박스에 관한 것이다.
일반적으로 브레이크 아웃 박스(Break Out Box)(B0B)는 위성체의 조립이나 시험 등에 있어서 위성체를 이루고 있는 각 유닛들 사이의 전기적인 인터페이스(interface), 전기적인 신호의 확인 또는 고장 등을 탐구하기 위해서 사용된다. 예컨대, 브레이크 아웃 박스는 점검하고자 하는 유닛들의 사이에 연결되고, 브레이크 아웃 박스에 구비된 복수의 테스트 포인트를 이용하여 특정 테스트 포인트에 연결된 신호 라인의 연결 상태를 확인하거나, 해당 테스트 포인트에서의 신호 레벨이나 전압의 크기 등을 측정하는데 사용될 수 있다.
브레이크 아웃 박스를 검증하고자 하는 유닛(unit)들의 연결 하니스(harness) 사이에 삽입한 후 브레이크 아웃 박스에서 적절한 필요 작업을 수행할 수 있다. 예를 들어 브레이크 아웃 박스의 특정 포인트(point)들을 이용하여 특정 라인들의 연결도를 확인하거나 그 포인트에서의 전기적 신호 파형이나, 전압/전류/저항 값 등을 측정할 수 있다. 또한 디버깅 목적으로 특정 핀(pin)들의 스왑(swap) 및 인위적인 개방(연결선의 open)도 가능하다.
그런데 제작된 하니스, 브레이크 아웃 박스 등의 사용에 앞서 신호 선간 단락 여부 확인을 위해 절연 시험이 필수적으로 수반되어야 하는데 종래 브레이크 아웃 박스를 사용하는 경우 절연 시험을 위해서, 도 1에 예시한 것과 같이 테스트 포인트(test point) 간의 연결을 위한 점퍼(jumper)의 설치가 필요했다.
도 1은 종래 브레이크 아웃 박스에서 절연 시험을 위해 점퍼를 사용한 예를 나타낸 것이다.
도 1을 참고하면, 붉은 색으로 표시한 테스트 핀(1)과 나머지 모든 핀(2, 3, 4, 5)의 절연 측정을 원하는 경우, 나머지 모든 핀(2, 3, 4, 5)을 점퍼를 설치하여 연결해야 한다. 그런데 도 1에서는 5개의 핀만을 예시하였으나 핀의 개수가 증가할 수록 점퍼를 설치하는 것도 매우 번거롭고 어려운 것일 수 있다.
도 2는 종래 브레이크 아웃 박스에서 차동 모드 전류 측정을 위해 점퍼를 사용한 예를 나타낸 것이다.
한편 EMC 시험이나 전기 기능시험에서는 전원의 양극(Positive)과 음극(Negative) 각각에 흐르는 차동 모드(Differential Mode) 전류 측정이 자주 수행된다. 커넥터의 여러 핀이 전원의 Positive와 Negative에 연결되어 있다면, 여러 핀에 흐르는 전류를 모두 측정해야 하므로, 도 2에 예시한 것과 같이 점퍼를 설치하고 모두 전류 프로브(Current Probe)로 연결해서 측정한다. 따라서 측정대상 커넥터의 핀배치에 따라 측정이 불가능하거나 매우 혼잡할 수 있다. 복잡성은 커넥터의 핀 증가에 따라서 기하급수적으로 증가한다. 최소한의 점퍼를 사용하거나 점퍼 없이 시험을 원하는 경우 측정 대상 커넥터의 핀 배치에 맞는 브레이크 아웃 박스를 제작해야 했다.
본 발명에서 해결하고자 하는 기술적 과제는 절연(isolation) 측정, 차동 모드(Differential Mode) 전류 측정 등을 쉽게 할 수 있는 브레이크 아웃 박스를 제공하는 것이다.
상기한 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 복수의 제1 핀을 포함하는 제1 커넥터, 상기 복수의 제1 핀 각각에 대응하는 복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터, 상기 복수의 제1 핀 각각에 연결되는 복수의 제1 스위치, 상기 복수의 제2 핀 각각에 연결되는 복수의 제2 스위치, 상기 복수의 제1 스위치의 제1 단자와 상기 복수의 제1 핀 사이에 형성되는 복수의 제1 테스트 포인트, 상기 복수의 제2 스위치의 제1 단자와 상기 복수의 제2 핀 사이에 형성되는 복수의 제2 테스트 포인트, 상기 복수의 제1 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제1 인터커넥션, 상기 복수의 제1 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제2 인터커넥션, 상기 복수의 제2 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제3 인터커넥션, 및 상기 복수의 제2 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제4 인터커넥션을 포함한다.
상기 복수의 제1 스위치의 제4 단자와 상기 복수의 제2 스위치의 제4 단자는 서로 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 복수의 제1 스위치 및 상기 복수의 제2 스위치는, SPQT(Single Pole Quadruple Through) 스위치일 수 있다.
상기 제1 인터커넥션, 상기 제2 인터커넥션, 상기 제3 인터커넥션 및 상기 제4 인터커넥션은 전도성 배선으로 형성될 수 있다.
상기 제1 인터커넥션, 상기 제2 인터커넥션, 상기 제3 인터커넥션 및 상기 제4 인터커넥션은 점퍼 연결을 위한 점퍼 단자를 포함할 수 있다.
상기 복수의 제1 핀 중 절연(isolation) 시험 대상 핀은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 개방(open)되고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지는 나머지 상기 제1 스위치에 의해 상기 제1 인터커넥션 또는 상기 제2 인터커넥션을 통해 서로 연결될 수 있다.
차동 모드 전류 측정 시, 상기 복수의 제1 핀 중 2개 이상은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 상기 제1 인터커넥션에 서로 연결되고, 상기 복수의 제1 핀 중 다른 2개 이상은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 상기 제2 인터커넥션에 서로 연결되며, 상기 복수의 제2 핀 중 2개 이상은 대응하는 상기 제2 스위치에 의해 상기 제4 인터커넥션에 서로 연결되고, 상기 복수의 제2 핀 중 다른 2개 이상은 대응하는 상기 제2 스위치에 의해 상기 제3 인터커넥션에 서로 연결되고, 상기 제1 인터커넥션과 상기 제4 인터커넥션은 점퍼 연결되고, 상기 제2 인터커넥션과 상기 제3 인터커넥션은 점퍼 연결될 수 있다.
본 발명에 의하면 종래 브레이크 아웃 박스와 동일하게 시험을 할 수 있으면서, 점퍼없이 절연 시험이 가능하고, 점퍼 사용을 최소화하면서 스위치 조작만으로 간단하게 차동 모드 전류 측정을 할 수 있는 장점이 있다.
도 1은 종래 브레이크 아웃 박스에서 절연 시험을 위해 점퍼를 사용한 예를 나타낸 것이다.
도 2는 종래 브레이크 아웃 박스에서 차동 모드 전류 측정을 위해 점퍼를 사용한 예를 나타낸 것이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 단락된 상태를 나타낸 것이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터 핀간의 절연 측정 상태를 나타낸 것이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제2 커넥터 핀간의 절연 측정 상태를 나타낸 것이다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 차동 모드 전류 측정 상태를 나타낸 것이다.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 그러나 이들 실시 예는 본 발명을 보다 구체적으로 설명하기 위한 것으로, 본 발명의 범위가 이에 의하여 제한되지 않는다는 것은 당업계의 통상의 지식을 가진 자에게 자명할 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제의 해결 방안을 명확하게 하기 위한 발명의 구성을 본 발명의 바람직한 실시 예에 근거하여 첨부 도면을 참조하여 상세히 설명하되, 도면의 구성요소들에 참조번호를 부여함에 있어서 동일 구성요소에 대해서는 비록 다른 도면상에 있더라도 동일 참조번호를 부여하였으며 당해 도면에 대한 설명시 필요한 경우 다른 도면의 구성요소를 인용할 수 있음을 미리 밝혀둔다. 아울러 본 발명의 바람직한 실시 예에 대한 동작 원리를 상세하게 설명함에 있어 본 발명과 관련된 공지 기능 혹은 구성에 대한 구체적인 설명 그리고 그 이외의 제반 사항이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우, 그 상세한 설명을 생략한다.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 '연결'되어 있다고 할때, 이는 '직접적으로 연결'되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 '간접적으로 연결'되어 있는 경우도 포함한다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 "포함한다(comprises)" 또는 "포함하는(comprising)"은 언급된 구성요소, 단계, 동작, 또는 소자 외에 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작, 또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 모든 핀이 개방된 상태를 나타낸 것이다.
도 3을 참고하면, 본 발명에 따른 브레이크 아웃 박스는 제1 커넥터(10), 복수의 제1 스위치(20), 복수의 제2 스위치(30), 제2 커넥터(40), 제1 내지 제5 인터커넥션(50, 60, 70, 80, 90), 복수의 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5')를 포함할 수 있다.
설명의 편의를 위해 제1 커넥터(10)와 제2 커넥터(40)에 각각 핀이 5개 있는 경우를 예시하였으나, 실시예에 따라 각 커넥터(10, 40)의 핀의 개수는 달라질 수 있으며, 그에 따라 스위치(20, 30), 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5, 1', 2', 3', 4', 5') 및 제5 인터커넥션(90)의 개수는 달라질 수 있다.
제1 커넥터(10)는 하니스 커넥터(도시하지 않음)와 연결될 수 있으며, 하니스 커넥터의 각 핀과 연결될 수 있는 복수의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15)을 포함할 수 있다.
제2 커넥터(40)는 다른 하니스 커넥터(도시하지 않음)와 연결될 수 있으며, 하니스 커넥터의 각 핀과 연결될 수 있는 복수의 제2 핀(41, 42, 43, 44, 45)을 포함할 수 있다.
복수의 제1 스위치(20)는 제1 커넥터(10)에 포함된 복수의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15)에 각각 연결되며, 그 사이에는 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5)가 형성될 수 있다.
복수의 제2 스위치(30)는 제2 커넥터(40)에 포함된 복수의 제2 핀(41, 42, 43, 44, 45)에 각각 연결되며, 그 사이에는 테스트 포인트(1', 2', 3', 4', 5')가 형성될 수 있다.
복수의 제1 스위치(20)는 4개의 단자(21, 22, 23, 24)를 구비할 수 있다. 복수의 제2 스위치(30)도 4개의 단자(31, 32, 33, 34)를 구비할 수 있다.
복수의 제1 스위치(20)는 제1 단자(21)를 통해 테스트 포인트(1, 2, 3, 4, 5)와 제1 커넥터(10)의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15)에 연결될 수 있다.
복수의 제2 스위치(30)는 제2 단자(31)를 통해 테스트 포인트(1', 2', 3', 4', 5')와 제2 커넥터(40)의 제2 핀(41, 42, 43, 44, 45)에 연결될 수 있다.
제1 인터커넥션(50)은 복수의 제1 스위치(20)의 제2 단자(22)들을 서로 전기적으로 연결할 수 있다.
제2 인터커넥션(60)은 복수의 제1 스위치(20)의 제3 단자(23)들을 서로 전기적으로 연결할 수 있다.
제3 인터커넥션(70)은 복수의 제2 스위치(30)의 제3 단자(33)들을 서로 전기적으로 연결할 수 있다.
제4 인터커넥션(80)은 복수의 제2 스위치(30)의 제2 단자(32)들을 서로 전기적으로 연결할 수 있다.
제1 내지 제4 인터커넥션(50, 60, 70, 80)은 다른 인터커넥션과 전기적 연결을 위한, 즉 점퍼 연결을 위한 점퍼 단자(51, 61, 71, 81)를 포함할 수 있다.
한편 실시예에 따라 제1 스위치(20)와 제2 스위치(30)가 제4 단자(24, 34)를 하나로 형성하여 공유하는 경우, 제5 인터커넥션(90)은 생략될 수 있다.
복수의 제1 스위치(20)는 자신에 대응하는 제1 커넥터(10)의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15)을 개방시키거나 제2 내지 제4 단자(22, 23, 24)에 선택적으로 연결시킬 수 있다. 이를 위해 복수의 제1 스위치(20)는 SPQT(Single Pole Quadruple Through) 스위치로 구현할 수 있다.
복수의 제2 스위치(30)는 자신에 대응하는 제2 커넥터(40)의 제2 핀(21, 22, 23, 24, 25)을 개방시키거나 제2 내지 제4 단자(32, 33, 34)에 선택적으로 연결시킬 수 있다. 이를 위해 복수의 제2 스위치(30)는 SPQT 스위치로 구현할 수 있다.
사용자는 복수의 제1 스위치(20) 및 복수의 제2 스위치(30)를 조작하여 도 3에 예시한 것과 같이 제1 커넥터(10)와 제2 커넥터(40)의 모든 핀이 개방(open)되게 할 수 있다.
한편 사용자는 복수의 제1 스위치(20) 및 복수의 제2 스위치(30)를 조작하여 도 4에 예시한 것과 같이 제1 단자(21, 31)와 제4 단자(24, 34)를 연결시켜서 제1 커넥터(10)와 제2 커넥터(40)의 모든 핀이 단락(short)되게 할 수도 있다.
한편 사용자는 복수의 제1 스위치(20)를 조작하여 제1 커넥터(10)의 각 핀에 대한 절연(isolation) 시험을 할 수도 있다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제1 커넥터 핀간의 절연 측정 상태를 나타낸 것이다.
도 5는 제1 테스트 포인트(1)에 연결된 제1 핀(11)이 절연 시험 대상 핀인 경우를 나타낸 것이다. 이 경우 테스트 포인트(1)에 연결된 제1 핀(11)은 제1 스위치(20)에 의해 개방되고, 테스트 포인트(2, 3, 4, 5)에 연결된 나머지 제1 핀(12, 13, 14, 15)들은 각각 대응하는 제1 스위치(20)에 의해서 제1 인터커넥션(50)에 연결되어 전기적으로 서로 연결될 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 제2 커넥터 핀간의 절연 측정 상태를 나타낸 것이다.
도 6은 테스트 포인트(2')에 연결된 제2 핀(42)이 절연 시험 대상 핀인 경우를 나타낸 것이다. 이 경우 테스트 포인트(2')에 연결된 제2 핀(42)은 제2 스위치(30)에 의해 개방되고, 테스트 포인트(1', 3', 4', 5')에 연결된 나머지 제2 핀(41, 43, 44, 45)들은 각각 대응하는 제2 스위치(30)에 의해서 제3 인터커넥션(70)에 연결되어 전기적으로 서로 연결될 수 있다.
도 7은 본 발명의 일 실시예에 따른 브레이크 아웃 박스의 차동 모드 전류 측정 상태를 나타낸 것이다.
도 7을 참고하면, 복수의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15) 중 테스트 포인트(1, 3)에 연결된 2개의 제1 핀(11, 13)은 제1 스위치(20)에 의해서 제1 인터커넥션(50)에 연결될 수 있다. 그리고 복수의 제2 핀(41, 42, 43, 44, 45) 중 테스트 포인트(1', 3')에 연결된 2개의 제2 핀(41, 43)은 제2 스위치(30)에 의해서 제4 인터커넥션(80)에 연결될 수 있다. 그리고 제1 인터커넥션(50)과 제4 인터커넥션(80)은 각각 점퍼 단자(51, 81)를 통해 서로 전기적으로 점퍼 연결될 수 있다.
한편 복수의 제1 핀(11, 12, 13, 14, 15) 중 테스트 포인트(2, 5)에 연결된 2개의 제1 핀(12, 15)은 제1 스위치(20)에 의해서 제2 인터커넥션(60)에 연결될 수 있다. 그리고 복수의 제2 핀(41, 42, 43, 44, 45) 중 테스트 포인트(2', 5')에 연결된 2개의 제2 핀(42, 45)은 제2 스위치(30)에 의해서 제3 인터커넥션(70)에 연결될 수 있다. 그리고 제2 인터커넥션(60)과 제3 인터커넥션(70)은 각각 점퍼 단자(61, 71)를 통해 서로 전기적으로 점퍼 연결될 수 있다.
그리고 차동 모드 전류 측정 대상이 아닌 테스트 포인트(4, 4')에 연결된 제1 핀(14)과 제2 핀(44)은 제1 스위치(20)와 제2 스위치(30)에 의해 개방되거나 단락될 수 있다.
따라서 제1 인터커넥션(50)과 제4 인터커넥션(80)을 연결하기 위한 점퍼와 제2 인터커넥션(60)과 제3 인터커넥션(70)을 연결하기 위한 점퍼, 총 2개의 점퍼만 사용하여 차동 모드 전류 측정을 할 수 있다. 그리고 핀간 연결은 제1 스위치(20)와 제2 스위치(30)의 간단한 조작만으로 가능하다.
한편 도 7에서는 2개의 핀을 묶어서 차동 모드 전류 측정을 한 예를 나타내었으나, 2개 이상의 핀을 묶어서 차동 모드 전류 측정을 하는 것도 가능하다. 예를 들어 앞서 도 7의 실시예에서 차동 모드 전류 측정 대상이 아니었던 제1 핀(14)을 제1 핀(12, 15)과 묶고, 제2 핀(44)을 제2 핀(42, 45)과 묶어서 차동 모드 전류 측정을 하는 것도 가능하다. 이 경우 제1 핀(14)과 제2 핀(44)은 제1 스위치(20) 및 제2 스위치(30)에 의해서 각각 제2 인터커넥션(60)과 제3 인터커넥션(70)에 연결될 수 있다.
지금까지 제1 커넥터(10)와 제2 커넥터(40)에 각각 5개의 핀이 있는 경우를 예를 들어 설명하였으나, 제1 커넥터(10)와 제2 커넥터(40)의 핀의 개수는 수십 개 이상, 수백 개 이상일 수도 있다. 그리고 각 커넥터(10, 40)의 핀들을 복수의 그룹으로 나누어, 특정 그룹의 핀들은 개방되게 하고, 다른 그룹의 핀들은 단락되게 하고, 또 다른 그룹의 핀은 제1 내지 제4 인터커넥션(50, 60, 70, 80)을 통해 서로 연결되게 할 수도 있다. 그리고 필요한 경우 제1 내지 제4 인터커넥션(50, 60, 70, 80) 사이도 점퍼를 통해 서로 연결시킬 수도 있다.
이상에서 본 발명의 바람직한 실시예에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리범위는 이에 한정되는 것은 아니고 다음의 청구범위에서 정의하고 있는 본 발명의 기본 개념을 이용한 당업자의 여러 변형 및 개량 형태 또한 본 발명의 권리범위에 속하는 것이다.

Claims (6)

  1. 복수의 제1 핀을 포함하는 제1 커넥터,
    복수의 제2 핀을 포함하는 제2 커넥터,
    상기 복수의 제1 핀 각각에 연결되는 복수의 제1 스위치,
    상기 복수의 제2 핀 각각에 연결되는 복수의 제2 스위치,
    상기 복수의 제1 스위치의 제1 단자와 상기 복수의 제1 핀 사이에 형성되는 복수의 제1 테스트 포인트,
    상기 복수의 제2 스위치의 제1 단자와 상기 복수의 제2 핀 사이에 형성되는 복수의 제2 테스트 포인트,
    상기 복수의 제1 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제1 인터커넥션,
    상기 복수의 제1 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제2 인터커넥션,
    상기 복수의 제2 스위치의 제3 단자를 서로 연결하는 제3 인터커넥션, 및
    상기 복수의 제2 스위치의 제2 단자를 서로 연결하는 제4 인터커넥션
    을 포함하고,
    상기 복수의 제1 스위치의 제4 단자와 상기 복수의 제2 스위치의 제4 단자는 서로 전기적으로 연결되어 있는 브레이크 아웃 박스.
  2. 제 1 항에서,
    상기 복수의 제1 스위치 및 상기 복수의 제2 스위치는,
    SPQT(Single Pole Quadruple Through) 스위치인 브레이크 아웃 박스.
  3. 제 2 항에서,
    상기 제1 인터커넥션, 상기 제2 인터커넥션, 상기 제3 인터커넥션 및 상기 제4 인터커넥션은 전도성 배선으로 형성되는 브레이크 아웃 박스.
  4. 제 3 항에서,
    상기 제1 인터커넥션, 상기 제2 인터커넥션, 상기 제3 인터커넥션 및 상기 제4 인터커넥션은 점퍼 연결을 위한 점퍼 단자를 포함하는 브레이크 아웃 박스.
  5. 제 4 항에서,
    상기 복수의 제1 핀 중 절연(isolation) 시험 대상 핀은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 개방(open)되고, 상기 복수의 제1 핀 중 나머지는 나머지 상기 제1 스위치에 의해 상기 제1 인터커넥션 또는 상기 제2 인터커넥션을 통해 서로 연결되는 브레이크 아웃 박스.
  6. 제 4 항에서,
    차동 모드 전류 측정 시,
    상기 복수의 제1 핀 중 2개 이상은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 상기 제1 인터커넥션에 서로 연결되고,
    상기 복수의 제1 핀 중 다른 2개 이상은 대응하는 상기 제1 스위치에 의해 상기 제2 인터커넥션에 서로 연결되며,
    상기 복수의 제2 핀 중 2개 이상은 대응하는 상기 제2 스위치에 의해 상기 제4 인터커넥션에 서로 연결되고,
    상기 복수의 제2 핀 중 다른 2개 이상은 대응하는 상기 제2 스위치에 의해 상기 제3 인터커넥션에 서로 연결되며,
    상기 제1 인터커넥션과 상기 제4 인터커넥션은 점퍼 연결되고,
    상기 제2 인터커넥션과 상기 제3 인터커넥션은 점퍼 연결되는 브레이크 아웃 박스.
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Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100164522A1 (en) 2008-12-27 2010-07-01 Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd Signal testing apparatus
KR101040472B1 (ko) 2009-12-10 2011-06-09 한전케이피에스 주식회사 다중전원공급장치의 시험을 위한 단자박스
US20170110873A1 (en) 2015-10-14 2017-04-20 Solaredge Technologies Ltd. Fault Detection System and Circuits
US20170117877A1 (en) 2015-10-27 2017-04-27 Analog Devices, Inc. Mismatch calibration of capacitive differential isolator
KR101743027B1 (ko) 2015-07-23 2017-06-02 한국항공우주연구원 브레이크 아웃 박스
US20200090563A1 (en) 2018-09-14 2020-03-19 Novatek Microelectronics Corp. Source driver
KR102252063B1 (ko) 2019-12-10 2021-05-14 한국항공우주연구원 전원 공급유닛의 전자파 시험장치

Family Cites Families (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH01220539A (ja) * 1988-02-26 1989-09-04 Fujitsu Ltd 回線接続切替装置
KR19980073744A (ko) * 1997-03-19 1998-11-05 임경춘 자동차의 신호분석용 인터페이스장치
KR101211886B1 (ko) * 2010-11-29 2012-12-13 주식회사 현대케피코 멀티 브레이크 아웃 박스
KR102530370B1 (ko) * 2020-11-25 2023-05-08 한국항공우주연구원 브레이크 아웃 박스

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100164522A1 (en) 2008-12-27 2010-07-01 Hong Fu Jin Precision Industry (Shenzhen) Co., Ltd Signal testing apparatus
KR101040472B1 (ko) 2009-12-10 2011-06-09 한전케이피에스 주식회사 다중전원공급장치의 시험을 위한 단자박스
KR101743027B1 (ko) 2015-07-23 2017-06-02 한국항공우주연구원 브레이크 아웃 박스
US20170110873A1 (en) 2015-10-14 2017-04-20 Solaredge Technologies Ltd. Fault Detection System and Circuits
US20170117877A1 (en) 2015-10-27 2017-04-27 Analog Devices, Inc. Mismatch calibration of capacitive differential isolator
US20200090563A1 (en) 2018-09-14 2020-03-19 Novatek Microelectronics Corp. Source driver
KR102252063B1 (ko) 2019-12-10 2021-05-14 한국항공우주연구원 전원 공급유닛의 전자파 시험장치

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