KR102252063B1 - 전원 공급유닛의 전자파 시험장치 - Google Patents

전원 공급유닛의 전자파 시험장치 Download PDF

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장경덕
김태윤
장재웅
민병희
이창은
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한국항공우주연구원
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Abstract

본 발명은 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는, 하우징; 상기 하우징에 구비되며, 양극 단자와 음극 단자를 포함하는 핀; 상기 핀과 전기적으로 연결되면서 상기 하우징에 구비되며, 전원 공급유닛과 연결되는 커넥터;를 포함하며, 상기 핀은 전기적으로 외부와 연결되는 본체부와, 상기 본체부와 연결되며 상기 양극 단자 또는 상기 음극 단자에 연결되는 접촉부를 포함하며, 상기 핀에는 상기 양극 단자 또는 상기 음극 단자와 상기 접촉부가 연결되도록 상기 접촉부의 경로를 조절하는 스위치가 구비되는 것을 특징으로 하는 것이다.

Description

전원 공급유닛의 전자파 시험장치 {Electromagnetic wave test device for power supply unit}
본 발명은 전원 공급유닛의 전자파 시험장치에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 하우징에 구비된 복수 개의 핀 각각에 (+) 라인, (-)라인, 연결부 라인을 선택할 수 있는 스위치를 설치함에 따라 다양한 핀 구성을 가지는 케이블에 대한 시험을 가능하게 하는 전원 공급유닛의 전자파 시험장치에 관한 것이다.
일반적으로 위성은 다양한 유닛들을 포함하고 있으며, 위성에는 여러 종류의 전원 공급유닛이 사용된다. 위성에서 사용되는 전원 공급유닛의 올바른 작동을 위해서는 전원 공급유닛에 대한 다양한 시험이 필요하며, 이와 같은 시험을 통해 전원 공급유닛을 위성에서 사용할 수 있게 된다.
전원 공급유닛에 대한 시험은 다양하게 진행될 수 있으며, 전원 공급유닛의 출력단에서 전원선의 전도성 전압 또는 전류의 노이즈 측정에 대한 시험을 진행할 수 있다. 상기와 같은 시험을 진행하기 위해서는, 전원 공급유닛의 전원선을 (+) 라인과 (-) 라인으로 분리한 이후, 각각의 전압 또는 전류 노이즈를 측정하게 된다.
조금 더 구체적으로, 전원 공급유닛의 전원선의 노이즈를 측정하기 위해서는 (+) 라인과 (-) 라인을 각각 분리하여 하나로 묶는 작업이 필요하다. 일 예시로 특정 위성의 특정 유닛의 전원 출력선은 50 핀 케이블로, 24개의 (+) 라인과 24개의 (-) 라인, 그리고 2개의 공핀으로 이루어질 수 있다.
상기와 같은 유닛에 대한 시험을 진행하기 위해서는 위성에 사용되는 케이블 이외에 (+) 라인과 (-) 라인을 각각 분리하여 하나로 묶을 수 있는 별도의 시험장치 또는 어댑터 케이블이 필요하게 된다.
그러나 이와 같은 시험을 진행하는데 다음과 같은 문제점이 있다. 상기의 시험장치 또는 어댑터 케이블은 특정 전원 공급유닛의 전원선 케이블에 대한 시험을 진행할 수는 있으나, 전원 공급유닛의 전원선 케이블의 핀 구성이 바뀌게 되면 재사용이 불가능한 문제점이 있다. 즉, 전원 공급유닛의 전원선 케이블의 핀 구성에 따라 시험을 진행할 수 있는 시험기구를 각각 만들어야 하는 문제점이 있다.
본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위한 것으로, 더욱 상세하게는 하우징에 구비된 복수 개의 핀 각각에 (+) 라인, (-)라인, 연결부 라인을 선택할 수 있는 스위치를 설치함에 따라 다양한 핀 구성을 가지는 케이블에 대한 시험을 가능하게 하는 전원 공급유닛의 전자파 시험장치에 관한 것이다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는, 하우징; 상기 하우징에 구비되며, 양극 단자와 음극 단자를 포함하는 핀; 상기 핀과 전기적으로 연결되면서 상기 하우징에 구비되며, 전원 공급유닛과 연결되는 커넥터;를 포함하며, 상기 핀은 전기적으로 외부와 연결되는 본체부와, 상기 본체부와 연결되며 상기 양극 단자 또는 상기 음극 단자에 연결되는 접촉부를 포함하며, 상기 핀에는 상기 양극 단자 또는 상기 음극 단자와 상기 접촉부가 연결되도록 상기 접촉부의 경로를 조절하는 스위치가 구비되는 것을 특징으로 하는 것이다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 상기 핀은 복수 개가 구비될 수 있다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는, 복수 개의 상기 핀의 상기 양극 단자를 서로 연결하는 양극 연결부와, 복수 개의 상기 핀의 상기 음극 단자를 서로 연결하는 음극 연결부를 포함할 수 있다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 상기 양극 연결부는, 상기 하우징 외부로 돌출되는 양극 표면부와, 상기 하우징 내부에 구비되는 양극 이음부를 포함하며, 상기 음극 연결부는, 상기 하우징 외부로 돌출되는 음극 표면부와, 상기 하우징 내부에 구비되는 음극 이음부를 포함할 수 있다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 상기 양극 표면부에는, 상기 양극 연결부를 절단할 수 있는 양극 절단부가 구비되며, 상기 음극 표면부에는, 상기 음극 연결부를 전달할 수 있는 음극 절단부가 구비될 수 있다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 상기 양극 절단부 또는 상기 음극 절단부는 한 쌍의 탈부착 가능한 소켓으로 이루어지며, 상기 소켓이 탈착되면, 상기 양극 절단부 또는 상기 음극 절단부는 절단될 수 있다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 상기 핀에는 단자가 구비되며, 복수 개의 상기 핀의 상기 단자를 연결하는 연결부를 포함할 수 있다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 상기 스위치는, 상기 양극 단자, 상기 음극 단자, 상기 단자 중 어느 하나에 상기 접촉부가 연결되도록 상기 접촉부의 경로를 조절할 수 있다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 복수 개의 상기 핀은, 상기 양극 표면부 또는 상기 음극 표면부를 중심으로 좌우 대칭으로 구비될 수 있다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 상기 전원 공급유닛은, 위성의 전원 공급유닛일 수 있다.
상술한 문제점을 해결하기 위한 본 발명의 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 상기 하우징의 외부에는 상기 스위치의 배치위치를 표시할 수 있는 표시부가 구비될 수 있다.
본 발명은 전원 공급유닛의 전자파 시험장치에 관한 것으로, 하우징에 구비된 복수 개의 핀 각각에 (+) 라인, (-)라인, 연결부 라인을 선택할 수 있는 스위치를 설치하고, 케이블의 핀 구성에 맞게 스위치를 조절함에 따라 다양한 핀 구성을 가지는 케이블에 대한 시험을 가능하게 하는 장점이 있다.
도 1은 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 외부 모습을 나타내는 도면이다.
도 2는 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 내부 모습을 나타내는 도면이다.
도 3은 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치에 구비된 스위치의 내부 모습을 나타내는 도면이다.
도 4는 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치에 구비된 스위치의 외부 모습을 나타내는 도면이다.
도 5는 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치에 구비된 양극 연결부 및 양극 절단부와, 음극 연결부 및 음극 절단부를 나타내는 도면이다.
본 명세서는 본 발명의 권리범위를 명확히 하고, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 실시할 수 있도록, 본 발명의 원리를 설명하고, 실시 예들을 개시한다. 개시된 실시 예들은 다양한 형태로 구현될 수 있다.
본 발명의 다양한 실시 예에서 사용될 수 있는 "포함한다" 또는 "포함할 수 있다" 등의 표현은 발명(disclosure)된 해당 기능, 동작 또는 구성요소 등의 존재를 가리키며, 추가적인 하나 이상의 기능, 동작 또는 구성요소 등을 제한하지 않는다. 또한, 본 발명의 다양한 실시예에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어, 결합되어" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소가 상기 다른 구성요소에 직접적으로 연결 또는 결합되어 있을 수도 있지만, 상기 어떤 구성요소와 상기 다른 구성요소 사이에 새로운 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 결합되어" 있다고 언급된 때에는, 상기 어떤 구성요소와 상기 다른 구성요소 사이에 새로운 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해될 수 있어야 할 것이다.
본 명세서에서 사용되는 제1, 제2 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 구성요소들은 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다.
본 발명은 전원 공급유닛의 전자파 시험장치에 관한 것으로, 하우징에 구비된 복수 개의 핀 각각에 (+) 라인, (-)라인, 연결부 라인을 선택할 수 있는 스위치를 설치함에 따라 다양한 핀 구성을 가지는 케이블에 대한 시험을 가능하게 하는 전원 공급유닛의 전자파 시험장치에 관한 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는 위성의 전원 공급유닛의 출력단에서 전원선의 전도성 전압 또는 전류 노이즈 측정을 위해 사용될 수 있는 것이지만, 이에 한정되는 것은 아니다. 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는 위성의 전원 공급유닛 외에도 전원 공급유닛을 사용하는 다양한 분야에서 사용될 수 있음은 물론이다. 이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 예를 상세하게 설명하기로 한다.
도 1을 참조하면, 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는, 하우징(110), 핀(120), 커넥터(140)를 포함한다.
상기 하우징(110)은 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 본체부가 될 수 있는 것으로, 테스트 박스가 될 수 있는 것이다. 상기 하우징(110)은 전원 공급유닛의 시험을 진행할 수 있다면 다양한 형상으로 이루어질 수 있다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 핀(120)은 상기 하우징(110)에 구비되는 것으로, 상기 핀(120)은 양극 단자(121)와 음극 단자(122)를 포함하는 것이다. 상기 핀(120)은 복수 개가 구비될 수 있으며, 복수 개의 상기 핀(120)의 상기 양극 단자(121)는 (+) 라인을 구성하며, 복수 개의 상기 핀(120)의 상기 음극 단자(122)는 (-) 라인을 구성할 수 있다.
도 2를 참조하면, 상기 핀(120)의 상기 양극 단자(121)와 상기 음극 단자(122)는 상기 하우징(110) 내부에 구비될 수 있는 것으로, 복수 개의 상기 핀(120)의 상기 양극 단자(121)는 상기 하우징(110) 내부에서 전기선을 통해 서로 전기적으로 연결될 수 있으며, 복수 개의 상기 핀(120)의 상기 음극 단자(122)는 상기 하우징(110) 내부에서 전기선을 통해 서로 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 커넥터(140)는 상기 하우징(110)에 구비되는 것으로, 상기 핀(120)과 전기적으로 연결되는 것이다. 상기 커넥터(140)는 상기 하우징(110)의 양측에 각각 구비될 수 있는 것으로, 상기 커넥터(140)에는 전원 공급유닛이 연결될 수 있다. 상기 커넥터(140)에 전원 공급유닛이 연결되면, 전원 공급유닛과 상기 핀(120)이 전기적으로 통할 수 있게 되면서 시험을 진행할 수 있게 된다.
도 3을 참조하면, 상기 핀(120)은 전기적으로 외부와 연결되는 본체부(124)와 상기 본체부(124)에서 연결되며 상기 양극 단자(121) 또는 상기 음극 단자(122)에 연결되는 접촉부(125)를 포함한다. 상기 본체부(124)는 전기적으로 외부와 연결되는 것으로, 상기 커넥터(140)와 전기적으로 연결될 수 있는 것이다.
상기 접촉부(125)는 후술할 스위치(130)에 의해 상기 양극 단자(121) 또는 상기 음극 단자(122)에 연결될 수 있는 것으로, 상기 접촉부(125)는 상기 스위치(130)에 작동에 의해 움직일 수 있는 것이다. 상기 본체부(124)와 상기 접촉부(125)는 상기 하우징(110) 내부에 구비될 수 있는 것으로, 상기 본체부(124)와 상기 접촉부(125)는 전기를 통하게 하는 재질로 이루어질 수 있다.
도 4를 참조하면, 상기 스위치(130)는 상기 핀(120)에 구비되는 것으로, 상기 스위치(130)는 상기 하우징(110)의 외부에 구비될 수 있다. 상기 스위치(130)는 상기 접촉부(125)의 경로를 조절할 수 있는 것으로, 상기 스위치(130)를 조절함에 따라 상기 접촉부(125)가 이동하면서, 상기 양극 단자(121) 또는 상기 음극 단자(122)에 상기 접촉부(125)가 전기적으로 연결될 수 있게 된다.
상기 스위치(130)는 상기 하우징(110)에 외부에 구비됨에 따라 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 사용자는 상기 스위치(130)를 용이하게 조절할 수 있게 된다.
본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 상기 핀(120)은 복수 개가 구비될 수 있으며, 복수 개의 상기 핀(120)의 상기 양극 단자(121)는 양극 연결부(150)를 통해 연결될 수 있고, 복수 개의 상기 핀(120)의 상기 음극 단자(122)는 양극 연결부(150)를 통해 연결될 수 있다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 양극 연결부(150)는 복수 개의 상기 핀(120)의 상기 양극 단자(121)를 전기적으로 연결하는 것이다. 상기 양극 연결부(150)는 상기 하우징(110) 내부에서 상기 양극 단자(121)를 연결하는 양극 이음부(152)와, 상기 하우징(110) 외부로 돌출되는 양극 표면부(151)를 포함할 수 있다.
도 5를 참조하면, 상기 양극 표면부(151)는 상기 하우징(110)의 외부로 돌출되는 부분으로, 상기 양극 표면부(151)에는 상기 양극 연결부(150)를 절단할 수 있는 양극 절단부(153)가 구비될 수 있다.
상기 양극 절단부(153)는 상기 양극 연결부(150)를 절단할 수 있는 것으로, 필요에 따라서 상기 양극 절단부(153)를 절단하여 상기 양극 연결부(150)의 전기적 연결을 차단시킬 수 있다. 상기 양극 절단부(153)는 상기 양극 연결부(150)를 용이하게 절단할 수 있다면 다양한 구성이 사용될 수 있다.
또한, 상기 양극 절단부(153)는 상기 양극 연결부(150)를 분리하고 다시 이을 수 있는 구성이 사용될 수도 있다. 구체적으로, 상기 양극 절단부(153)는 전기적으로 연결되면서 탈부착 가능한 한 쌍의 소켓으로 이루어질 수 있다. 상기 소켓을 탈착(분리)시키면 상기 양극 연결부(150)가 절단되고, 상기 소켓을 부착(이음)시키면 상기 양극 연결부(150)가 전기적으로 통할 수 있게 된다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 상기 음극 연결부(160)는 복수 개의 상기 핀(120)의 상기 음극 단자(122)를 전기적으로 연결하는 것이다. 상기 음극 연결부(160)는 상기 하우징(110) 내부에서 상기 음극 단자(122)를 연결하는 음극 이음부(162)와, 상기 하우징(110) 외부로 돌출되는 음극 표면부(161)를 포함할 수 있다.
도 5를 참조하면, 상기 음극 표면부(161)는 상기 하우징(110)의 외부로 돌출되는 부분으로, 상기 음극 표면부(161)에는 상기 음극 연결부(160)를 절단할 수 있는 음극 절단부(163)가 구비될 수 있다.
상기 음극 절단부(163)는 상기 음극 연결부(160)를 절단할 수 있는 것으로, 필요에 따라서 상기 음극 절단부(163)를 절단하여 상기 음극 연결부(160)의 전기적 연결을 차단시킬 수 있다. 상기 음극 절단부(163)는 상기 음극 연결부(160)를 용이하게 절단할 수 있다면 다양한 구성이 사용될 수 있다.
또한, 상기 음극 절단부(163)는 상기 음극 연결부(160)를 분리하고 다시 이을 수 있는 구성이 사용될 수도 있다. 구체적으로, 상기 음극 절단부(163)는 전기적으로 연결되면서 탈부착 가능한 한 쌍의 소켓으로 이루어질 수 있다. 상기 소켓을 탈착(분리)시키면 상기 음극 연결부(160)가 절단되고, 상기 소켓을 부착(이음)시키면 상기 음극 연결부(160)가 전기적으로 통할 수 있게 된다.
본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 상기 핀(120)에는 단자(123)가 구비될 수 있고, 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는 복수 개의 상기 핀(120)의 상기 단자(123)를 연결하는 연결부(170)를 포함할 수 있다.
도 3 및 도 4를 참조하면, 상기 핀(120)에는 상기 양극 단자(121), 상기 음극 단자(122) 이외에 상기 단자(123)가 구비될 수 있으며, 상기 핀(120)의 상기 접촉부(125)는 상기 양극 단자(121), 상기 음극 단자(122), 상기 단자(123) 중 어느 하나와 전기적으로 연결될 수 있다.
상기 스위치(130)는 상기 접촉부(125)의 경로를 조절할 수 있는 것으로, 상기 스위치(130)는 상기 양극 단자(121), 상기 음극 단자(122), 상기 단자(123) 중 어느 하나에 상기 접촉부(125)가 연결되도록 상기 접촉부(125)의 경로를 조절할 수 있다.
상기 연결부(170)는 복수 개의 상기 핀(120)의 상기 단자(123)를 연결하는 것으로, 상기 연결부(170)를 통해 복수 개의 상기 핀(120)은 전기적으로 연결될 수 있다. 상기 단자(123) 및 상기 연결부(170)는 (+) 라인 및 (-) 라인을 형성하기 위한 것이 아닌, 복수 개의 상기 핀(120)을 전기적으로 단순 연결하기 위한 것이다.
본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는 복수 개의 상기 핀(120)을 포함하는데, 복수 개의 상기 핀(120)은 상기 양극 표면부(151) 또는 상기 음극 표면부(161)를 중심으로 좌우 대칭으로 구비되는 것이 바람직하다.
즉, 복수 개의 상기 핀(120)은 좌, 우 대칭을 형성하면서 상기 하우징(110)에 구비되는 것으로, 상기 핀(120)에 구비되는 상기 스위치(130)는 좌, 우의 상기 핀(120)별로 한 쌍이 구비되는 것이 바람직하다.
또한, 상기 하우징(110)에는 상기 스위치(130)의 배 치위치를 표시할 수 있는 표시부가 구비될 수 있다. 상기 표시부는 상기 스위치(130)의 배치 위치에 따라 상기 접촉부(125)가 어떤 단자와 연결되어 있는지 표시할 수 있는 것으로, 상기 하우징(110)의 외부에 구비될 수 있다. 상기 표시부는 +(양극 단자), S(단자), -(음극 단자)로 표시될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며 필요에 따라서 다양한 방식으로 표시될 수 있다.
상술한 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 전원 공급 유닛은 위성의 전원 공급유닛일 수 있는 것으로, 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는 위성의 전원 공급유닛의 출력단에서 전원선의 전도성 전압 또는 전류 노이즈 측정을 위해 사용될 수 있는 것이다.
다만, 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치의 전원 공급유닛은 이에 한정되는 것은 아니며, 위성의 전원 공급유닛 외에도 다른 분야에서 사용되는 다양한 전원 공급유닛일 수 있으며, 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는 다양한 분야에서 사용되는 전원 공급유닛을 시험할 수 있는 것이다.
상술한 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는 다음과 같은 효과가 있다.
본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는 하우징(110)에 구비된 복수 개의 핀(120) 각각에 양극 단자(121), 음극 단자(122), 단자(123)를 선택할 수 있는 스위치(130)가 구비되어 있다.
종래의 시험장치 또는 어댑터 케이블은 특정 전원 공급유닛의 전원선 케이블에 대한 시험을 진행할 수는 있으나, 전원 공급유닛의 전원선 케이블의 핀 구성이 바뀌게 되면 재사용이 불가능한 문제점이 있었다. 그러나 본 발명의 실시 예에 따른 전원 공급유닛의 전자파 시험장치는 전원 공급장치 케이블의 핀 구성에 맞게 상기 스위치를 조절함에 따라 다양한 핀 구성을 가지는 케이블에 대한 시험을 가능하게 하는 장점이 있다.
이와 같이 본 발명은 도면에 도시된 일 실시예를 참고로 하여 설명하였으나, 이는 예시적인 것에 불과하며 당해 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 실시예의 변형이 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서 본 발명의 진정한 기술적 보호 범위는 첨부된 특허청구범위의 기술적 사상에 의하여 정해져야 할 것이다.
110...하우징
120...핀
121...양극 단자
122...음극 단자
123...단자
124...본체부
125...접촉부
130...스위치
140...커넥터
150...양극 연결부
151...양극 표면부
152...양극 이음부
160...음극 연결부
161...음극 표면부
162...음극 이음부
170...연결부

Claims (11)

  1. 전원 공급유닛의 출력단에서 전원선의 전도성 전압 또는 전류의 노이즈 측정을 위한 시험장치에 있어서,
    하우징;
    상기 하우징에 구비되며, 양극 단자와 음극 단자를 포함하는 핀;
    상기 핀과 전기적으로 연결되면서 상기 하우징에 구비되며, 전원 공급유닛과 연결되는 커넥터;를 포함하며,
    상기 핀은 전기적으로 외부와 연결되는 본체부와, 상기 본체부와 연결되며 상기 양극 단자 또는 상기 음극 단자에 연결되는 접촉부를 포함하며,
    상기 핀에는 상기 양극 단자 또는 상기 음극 단자와 상기 접촉부가 연결되도록 상기 접촉부의 경로를 조절하는 스위치가 구비되며,
    상기 핀은 복수 개가 구비되며,
    복수 개의 상기 핀의 상기 양극 단자를 서로 연결하는 양극 연결부와,
    복수 개의 상기 핀의 상기 음극 단자를 서로 연결하는 음극 연결부를 포함하며,
    상기 양극 연결부는, 상기 하우징 외부로 돌출되는 양극 표면부와, 상기 하우징 내부에 구비되는 양극 이음부를 포함하며,
    상기 음극 연결부는, 상기 하우징 외부로 돌출되는 음극 표면부와, 상기 하우징 내부에 구비되는 음극 이음부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전원 공급유닛의 전자파 시험장치.
  2. 삭제
  3. 삭제
  4. 삭제
  5. 제1항에 있어서,
    상기 양극 표면부에는, 상기 양극 연결부를 절단할 수 있는 양극 절단부가 구비되며,
    상기 음극 표면부에는, 상기 음극 연결부를 전달할 수 있는 음극 절단부가 구비되는 것을 특징으로 하는 전원 공급유닛의 전자파 시험장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 양극 절단부 또는 상기 음극 절단부는 한 쌍의 탈부착 가능한 소켓으로 이루어지며,
    상기 소켓이 탈착되면, 상기 양극 절단부 또는 상기 음극 절단부는 절단되는 것을 특징으로 하는 전원 공급유닛의 전자파 시험장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 핀에는 단자가 구비되며,
    복수 개의 상기 핀의 상기 단자를 연결하는 연결부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전원 공급유닛의 전자파 시험장치.
  8. 제7항에 있어서,
    상기 스위치는,
    상기 양극 단자, 상기 음극 단자, 상기 단자 중 어느 하나에 상기 접촉부가 연결되도록 상기 접촉부의 경로를 조절하는 것을 특징으로 하는 전원 공급유닛의 전자파 시험장치.
  9. 제1항에 있어서,
    복수 개의 상기 핀은,
    상기 양극 표면부 또는 상기 음극 표면부를 중심으로 좌우 대칭으로 구비되는 것을 특징으로 하는 전원 공급유닛의 전자파 시험장치.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 전원 공급유닛은, 위성의 전원 공급유닛인 것을 특징으로 하는 전원 공급유닛의 전자파 시험장치.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 하우징의 외부에는 상기 스위치의 배치위치를 표시할 수 있는 표시부가 구비되는 것을 특징으로 하는 전원 공급유닛의 전자파 시험장치.
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