KR20210039784A - 사출물의 검사방법 및 이를 이용한 사출물 금형의 보수 방법 - Google Patents
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Abstract
본 발명은 사출용 금형으로부터 사출물을 제조하는 단계(S01), 상기 사출물을 촬영하여 검사이미지를 형성하는 단계(S02), 상기 검사이미지의 각 좌표의 색상값을 추출하는 단계(SO3), 상기 검사이미지의 각 좌표의 색차값을 연산하는 단계(S04), 상기 각 좌표의 색차값이 임계값을 초과하는 지 여부를 확인하여, 상기 임계값을 초과하는 좌표를 결함으로 판정하는 단계(S05); 및 상기 검사이미지의 색차값을 이용하여 상기 사출물의 결함 정도를 수치화하는 단계(S06)를 포함하는 사출물의 검사방법. 및 이를 이용한 사출물 금형의 보수 방법에 관한 것이다.
Description
본 발명은 사출물의 검사방법 및 이를 이용한 사출물 금형의 보수 방법에 관한 것이다.
수지 성형체 등의 사출하기 위한 사출용 금형은 제조 과정 또는 사용 과정에서 요철 등의 결함이 발생할 수 있다. 이 경우, 요철이 수지 성형체에 전사되므로 수지 성형체의 표면에 요철이 발생하는 문제가 있다.
상기 요철은 제조된 수지 성형체를 사출물 검수자의 시각적 판단에 의존하여, 검수자 개인별 성향에 따른 오차가 발생하고, 결함 유무에 의한 판단이 부정확하여 결함 개선 및 결함 보수 방향 도출에 어려움이 있다.
본 발명은 사출물의 검사방법 및 이를 이용한 사출물 금형의 보수 방법에 관한 것이다.
본 발명은 사출용 금형으로부터 사출물을 제조하는 단계(S01);
상기 사출물을 촬영하여 검사이미지를 형성하는 단계(S02);
상기 검사이미지의 각 좌표의 색상값을 추출하는 단계(SO3);
상기 검사이미지의 각 좌표의 색차값을 연산하는 단계(S04);
상기 각 좌표의 색차값이 임계값을 초과하는 지 여부를 확인하여, 상기 임계값을 초과하는 좌표를 결함으로 판정하는 단계(S05); 및
상기 검사이미지의 색차값을 이용하여 상기 사출물의 결함 정도를 수치화하는 단계(S06)를
포함하는 사출물의 검사방법을 제공한다.
또한, 본 발명은 전술한 사출물의 검사방법에 의해 사출물을 검사하는 단계(S0);
상기 사출물을 불량으로 판정하는 단계(S1); 및
상기 사출물 금형을 보수하는 단계(S2)를 포함하는
사출물 금형의 보수 방법을 제공한다.
본 발명의 사출물의 검사방법을 이용하면, 작업자가 일일이 사출물 금형을 검사하지 않고도 사출물을 검사하여, 사출물 금형 표면에 존재하는 결함을 용이하게 파악할 수 있다. 이를 통해, 품질 관리 능력이 향상되고, 생산 시간이 절약되며, 생산 효율이 증가한다.
또한, 본 발명의 사출물의 검사방법은 객관적인 기준을 통해 사출물 금형의 결함 정도를 수치화할 수 있으므로, 생산된 사출물의 품질이 일정하게 유지될 수 있는 장점이 있다.
도 1은 본 발명의 사출물의 검사방법의 프로세스를 나타내는 플로우 차트이다.
도 2는 상기 사출물의 검사방법을 이용한 사출물 금형의 보수 방법에 대한 플로우 차트이다.
도 3은 각 좌표에 따른 색차값을 시야각의 변화에 따라 기록한 것이다.
도 4는 결함이미지 변환 단계를 설명한 것이다.
도 5는 정상 기준의 판별방법을 설명한 것이다.
도 2는 상기 사출물의 검사방법을 이용한 사출물 금형의 보수 방법에 대한 플로우 차트이다.
도 3은 각 좌표에 따른 색차값을 시야각의 변화에 따라 기록한 것이다.
도 4는 결함이미지 변환 단계를 설명한 것이다.
도 5는 정상 기준의 판별방법을 설명한 것이다.
이하, 본 발명에 대해 상세히 설명한다.
본 명세서에 있어서, “또는” 이란 다른 정의가 없는 한, 나열된 것들을 선택적으로 또는 모두 포함하는 경우, 즉 “및/또는”의 의미를 나타낸다.
본 발명은 사출용 금형으로부터 사출물을 제조하는 단계(S01);
상기 사출물을 촬영하여 검사이미지를 형성하는 단계(S02);
상기 검사이미지의 각 좌표의 색상값을 추출하는 단계(SO3);
상기 검사이미지의 각 좌표의 색차값을 연산하는 단계(S04);
상기 각 좌표의 색차값이 임계값을 초과하는 지 여부를 확인하여, 상기 임계값을 초과하는 좌표를 결함으로 판정하는 단계(S05); 및
상기 검사이미지의 색차값을 이용하여 상기 사출물의 결함 정도를 수치화하는 단계(S06)를
포함하는 사출물의 검사방법을 제공한다. 상기 사출물의 검사방법에 따르면, 사출물을 촬영하여 별도의 검사이미지를 형성하고, 상기 검사이미지 상에 결함을 표시함으로써, 사출물에 존재하는 결함의 존재 여부와 결함 정도를 시각화할 수 있는 장점을 갖는다. 이때, 상기 검사이미지는 각 좌표의 색상값과 색차값을 고려하여 형성되는 것이므로, 사출물의 결함 정도를 더욱 명확하게 시각화하여 사출물의 검수자에게 결함 정보를 전달할 수 있는 기준을 제시할 수 있다. 또한, 사출물 금형을 직접 확인하지 않고도, 상기 검사이미지를 통하여 사출물 금형에 존재하는 결함을 쉽게 파악할 수 있다.
사출용 금형으로부터 사출물을 제조하는 단계(S01)]
상기 사출용 금형으로부터 사출물을 제조하는 단계(S01)는 사출물 금형으로부터 사출물을 제조하는 것으로서, 사출물 금형에 존재하는 결함이 사출물에 전사되게 된다.
상기 사출물 금형은 일반적으로 사용되는 금형 재질이라면 제한없이 사용할 수 있으며, 철, 크롬, 니켈, 망간, 탄소, 규소, 인, 몰리브덴, 알루미늄, 구리, 바나듐, 코발트, 텅스텐 등의 금속 또는 합금을 포함하는 재료를 사용할 수 있다.
상기 사출물은 플라스틱 사출물 또는 글래스 기재를 포함할 수 있다. 보다 구체적으로, 상기 플라스틱 사출물은 폴리프로필렌(PP), 폴리스티렌(PS), 폴리비닐아세테이트(PVAc), 폴리아크릴레이트(polyacrylate), 폴리에틸렌테레프탈레이트(PET), 폴리비닐클로라이드(PVC), 폴리메틸메타크릴레이트(PMMA), 에틸렌-비닐 아세테이트 코폴리머(EVA), 폴리카보네이트(PC), 폴리아마이드(polyamide) 및 스티렌-아크릴로니트릴 공중합체(Styrene-Acrylonitrile copolymer, SAN) 중 1종 이상을 포함할 수 있으나, 이에만 한정되는 것은 아니다.
[사출물을 촬영하여 검사이미지를 형성하는 단계(S02)]
상기 사출물에 광원을 조사하여 사출물로 반사된 반사광의 이미지로부터 검사이미지를 형성할 수 있다. 구체적으로, 상기 사출물에 광원을 조사하고, 사출물로부터 반사된 반사광을 촬영하여 검사이미지를 형성할 수 있다.
상기 검사이미지는 사출물 또는 사출 금형에 존재하는 결함의 위치 및 정도를 나타내기 위한 것으로서, 사출물 검수자는 상기 검사이미지를 통해 사출물의 결함의 위치 및 정도를 쉽게 파악할 수 있다.
이때, 상기 사출물을 촬영할 때의 광원은 가시광선 또는 적외선일 수 있다.
상기 광원은 D65의 표준 광원일 수 있다. 또는 램버시안 산란광일 수 있다.
상기 광원은 0도 내지 90도의 시야각 또는 두 개 이상의 시야각의 조합일 수 있으며, 2도의 시야각으로 사출물에 조사될 수 있다.
이때, 빛의 광원으로서는 점광원, 이들의 조합 또는 면광원이 적절하며, 사용할 수 있는 장비는 Konica-minolta사의 CM-2600D, Shimadzu사의 Solidspec-3700, X-rite사의 7000A 시리즈 또는 분광계 등을 사용할 수 있다. 또한, 렌즈, 거울 또는 광학 필름 등의 광학계와 광섬유를 추가로 사용할 수 있다.
상기 반사광을 카메라로 촬영하여 반사상을 얻을 수 있다. 이때, 촬영 장비로는 일반 디지털카메라, CCD 카메라 또는 고속 카메라를 사용할 수 있다. 그 종류로는 예를 들어, Topcon사의 BM-7, Radiant Imaging사의 Imaging Sphere 등이 있다.
상기 검사이미지는 입체적인 형태의 사출물 금형 또는 사출물의 형상을 평면의 사각형 형태로 나타내기 위한 것이다. 상기 검사이미지를 통해, 사출물에 존재하는 결함의 위치 및 결함의 정도를 시각적으로 쉽게 파악할 수 있다. 상기 검사이미지는 상하 배율이 일정한 직사각형 형태의 이미지로 변환될 수 있다.
[검사이미지의 각 좌표의 색상값을 추출하는 단계(SO3)]
상기 형성된 검사이미지의 각 좌표의 색상값을 추출할 수 있다. 이때, 상기 사출물을 촬영할 때 사용되는 광원이 가시광선이라면, 상기 색상값은 RGB(Red Green Blue) 데이터, Lab* 좌표계 데이터, HSB(Hue saturation brightness) 또는 CMYK(Cyan Magenta Yellow Black) 데이터가 있으나, Lab* 좌표계 데이터가 가장 바람직하다.
상기 사출물에 결함이 존재한다면 사출물의 표면의 형태가 일정하지 않을 수 있다. 상기 검사이미지의 각 좌표의 색상값은 사출물의 표면의 형태에 따라 변할 수 있으므로, 상기 검사이미지의 색상값을 통해 사출물의 결함의 존재와 그 정도를 파악할 수 있다.
또한, 상기 사출물을 촬영할 때 사용되는 광원이 적외선이라면, 적외선의 세기에 의해 검사이미지가 형성된다. 이때, 색상값은 명도(brightness)로 추출된다.
상기 추출된 각 좌표의 색상값은 색좌표값(L*,a*,b*) 및 위치데이터를 포함할 수 있다.
상기 위치데이터는 상기 사출물의 각 좌표에 대응되는 상기 검사이미지의 좌표를 인식하는 수단이 될 수 있다. 상기 사출물의 각 좌표에 대응되는 색좌표값을 상기 검사이미지 상에 나타내게 된다.
[검사이미지의 각 좌표의 색차값을 연산하는 단계(S04)]
상기 검사이미지의 각 좌표의 색상값을 추출하는 단계(SO3)에서 추출된 각 좌표의 색상값으로부터 각 좌표의 색좌표를 파악하고, 색차값을 연산할 수 있다.
상기 각 좌표의 색차값은, 사출물의 각 좌표가 사출 금형의 결함으로부터 유래된 것인 지 판별할 수 있는 지표이다. 사출 금형의 결함으로부터 유래된 것이라면, 상기 사출물의 각 좌표의 색차값이 크고, 그것이 아니라면 색차값이 작게 나타난다.
상기 연산은 각 좌표의 색상값과 기준값의 색차값(△Eab*)을 계산하는 것이다. 구체적으로, 상기 검사이미지의 각 좌표의 색차값(△Eab*)은 하기 식 1에 의해 연산될 수 있다.
[식 1]
상기 식 1에 있어서,
(L2*,a2*,b2*)은 상기 검사이미지의 각 좌표의 색상값이고, (L1*,a1*,b1*)은 기준값의 색상값이다.
상기 기준값은, 1) 검사이미지의 전체 영역에서의 모든 좌표의 색좌표를 확인하여 그 최빈값을 기준값으로 설정할 수 있다.
또한, 2) 표준이미지와 상기 검사이미지의 각 대응되는 좌표의 색차값을 이용하여 상기 색차값을 도출할 수 있다. 상기 표준이미지란, 검사 대상이 되는 사출물의 이상적인 색상을 갖는 이미지로서, 사출금형에 결함이 존재하지 않는 것을 가정한 가상의 이미지일 수 있다. 이는 별도의 프로그램을 통해 설정된 이미지일 수 있으며, 예컨대 캐드(CAD) 등의 프로그램을 이용하여 제작된 이미지일 수 있다. 이때, 상기 표준이미지의 각 좌표의 색상값이 상기 기준값으로 설정된다.
상기 각 좌표의 색차값의 구분이 용이하도록 임의의 계수를 곱함으로써 색차값을 조절할 수 있다.
[각 좌표의 색차값이 임계값을 초과하는 지 여부를 확인하여, 상기 임계값을 초과하는 좌표를 결함으로 판정하는 단계(S05)]
상기 임계값은 결함 좌표와 정상 좌표를 구분하는 기준이 된다.
상기 임계값을 초과하는 좌표를 '결함 좌표'라고 구분하고, 상기 임계값을 초과하지 않는 좌표를 '정상 좌표'라고 구분한다.
상기 결함으로 판정하는 단계(S05)는 상기 검사이미지를 정상 영역과 결함 영역으로 구분하는 것을 포함할 수 있다. 상기 3개 이상의 결함 좌표로 이루어진 집합 영역을 '결함 영역'이라고 구분하고, 상기 3개 이상의 정상 좌표로 이루어진 집합 영역을 나머지 영역을 '정상 영역'이라고 구분한다.
상기 임계값은 각 좌표의 색차값을 기준으로 설정될 수 있으며, 예를 들어, 상기 식 1로 계산된 
이 3인 경우를 임계값이라고 설정할 수 있다. 이때, 상기 
이 2인 좌표는 정상 좌표이며, 
이 3을 초과하는 5인 경우 결함 좌표로 구별된다.
상기 임계값은 사출물의 용도나 광학 특성에 따라 상이하게 조절될 수 있으며, 구체적으로는 
이 2, 바람직하게는 1일 수 있다. 상기 
의 값이 작으면 결함으로 판정되는 기준이 높아지는 것이므로 더욱 엄격한 기준이라고 할 수 있다.
상기 결함 영역은 하나의 결함 영역, 또는 하나의 주결함 영역과 하나 이상의 부결함 영역을 포함하는 것일 수 있다.
상기 주결함 영역과 부결함 영역을 나누는 것은 상기 임계값을 조절함으로써 그 기준으로 산정할 수 있다. 예컨대, 
이 3을 초과하는 영역을 결함 영역이라고 구분하고, 
이 3을 초과하지 않는 영역을 정상영역이라고 구분한다. 이후, 
이 5를 초과하는 영역을 주결함 영역이라고 하고, 
이 4 초과 5 이하인 영역을 제1 부결함 영역이라고 명명하며, 
이 3 초과 4 이하인 영역을 제2 결함 영역이라고 명명할 수 있다.
[검사이미지의 색차값을 이용하여 상기 사출물의 결함 정도를 수치화하는 단계(S06)]
상기 사출물의 각 좌표에 따른 색차값을 통해, 사출물의 각 좌표의 결함 정도를 수치화할 수 있다.
각 좌표의 색차값(△Eab*)이 높으면 결함 정도가 큰 좌표이고, 각 좌표의 색차값(△Eab*)이 낮으면 결함 정도가 낮은 좌표로 분류할 수 있다.
도 3은 시야각을 변화시키면서 각 좌표에 따른 색차값이 변화하는 것을 기록한 것이다. 즉, 시야각을 0도 내지 70도로 변화시키면서 획득한 색차값의 평균값을 색차값으로 지정할 수 있으며, 특정 시야각(ex. 0도)에서 측정한 색차값을 상기 단계(S06)의 색차값으로 활용할 수 있다.
[수치화된 사출물의 결함 정도를 결함이미지로 변환하는 단계(S07)]
상기 사출물의 결함 정도를 분석하고, 분석자가 이를 용이하게 파악하게 하기 위하여 결함이미지로 변환할 수 있다.
상기 결함이미지는 정상 영역 및/또는 결함 영역을 포함할 수 있다.
상기 결함이미지로 변환하는 단계(S07)는 상기 결함 정도에 따라 상기 결함 영역의 음영 또는 색상을 다르게 구분하는 것을 포함한다. 구체적으로, 결함 정도가 증가함에 따라 결함 영역의 채도를 증가시키거나 명도를 감소시키는 것으로 구분할 수 있다. 예를 들어, 
가 1을 초과하는 영역은 회색, 
가 1을 초과하지 않는 영역은 검은색으로 표기하여 각 영역을 구분할 수 있다.
상기 결함 영역은 하나의 결함 영역, 또는 하나의 주결함 영역과 하나 이상의 부결함 영역을 포함하고, 결함 영역과 정상 영역을 서로 다른 색으로 구분할 수 있다. 또는, 주결함 영역과 부결함 영역을 서로 다른 색으로 구분할 수 있으며, 상기 부결함 영역이 2개 이상인 경우 각각의 부결함 영역을 서로 다른 색으로 구분할 수 있다.
상기 주결함 영역은 사출물 금형의 결함에 대응되는 영역을 포함하는 영역으로서, 결함이 존재할 가능성이 가장 높은 영역이다. 상기 주결함 영역은 사출물 좌표 전체의 
중 가장 높은 값(△Eab* max)을 갖는 좌표를 포함할 수 있다.
상기 부결함 영역의 개수(n)는 많을수록 결함 영역을 세밀하고 관찰할 수 있는 장점이 있으나, 너무 많으면 부결함 영역 간의 차이가 미미하여 이들 영역을 쉽게 구분할 수 없는 문제가 있다. 따라서, 상기 부결함 영역의 개수(n)를 적절히 조절할 필요가 있다.
상기 부결함 영역의 개수는 주결함 영역의 결함 정도가 높을수록 많게 하고, 주결함 영역의 결함 정도가 낮을수록 개수를 적게 조절할 수 있다. 상기 주결함 영역의 결함 정도는 △Eab* max의 정도에 비례하는 것이므로 상기 부결함 영역의 개수는 α*△Eab* max/△Eab* 평균을 넘지 않는 최대 정수일 수 있다.
이때, 상기 △Eab* 평균은 전체 사출물의 △Eab* 값의 평균을 의미한다. 상기 △Eab* 평균은 다양한 방법으로 계산될 수 있으며, 예를 들어 1개 이상의 결함 영역의 △Eab*값과 1개 이상의 정상영역의 △Eab*값의 평균값을 의미할 수 있다. 또한, 상기 정상영역의 △Eab*값은 전체 사출물의 △Eab*값 중 최빈값(△Eab*최빈)을 의미하고, 상기 △Eab* 평균={△Eab* max+△Eab*최빈}/2로부터 계산될 수 있다.
상기 α는 임의의 양의 상수이다.
상술한 과정으로부터 정상영역, 결함 영역, 주결함 영역 및 부결함 영역을 각각 구분하면, 상기 영역 사이의 경계를 구분할 수 있다. 이 과정을 도 4에 나타내었다.
도 4를 참조하면, 각 단계는 아래와 같다.
1) 결함이미지를 도출
2) 결함이미지로부터 결함 영역과 정상 영역을 구분
3) 결함 영역 중 부결함 영역의 개수를 도출하고, 주결함 영역과 부결함 영역을 구분
이때, 상기 주결함 영역의 Lab* 좌표값을 (L주결함, a주결함, b주결함)이라고 표현한다. 상기 부결함 영역은 n개 존재할 수 있으므로, m번째 부결함 영역의 Lab* 좌표값을 (Lm, am, bm)이라고 표현한다.
[사출물을 불량으로 판정하는 단계(S1)]
본 발명은 상술한 사출물의 검사방법에 의해 사출물을 검사하는 단계(S0);
상기 사출물을 불량으로 판정하는 단계(S1); 및
상기 사출물 금형을 보수하는 단계(S2)를 포함하는
사출물 금형의 보수 방법을 제공한다.
상기 사출물에 결함이 존재하는 경우에도 사출물의 적용 분야에 따라서 결함이 존재하는 사출물을 폐기하지 않고 사용하는 경우가 있다. 따라서, 상기 사출물의 결함의 정도 및 사출물의 적용 분야를 고려하여 사출물을 불량으로 판정하게 된다.
상기 불량으로 판정된 사출물은 폐기되게 되고, 사출물을 사출한 사출물 금형을 보수한다.
상기 사출물을 불량으로 판정하는 기준(판정 기준)은 아래 상기 사출물을 정상으로 판정하는 정상 기준을 어느 하나 이상을 만족하지 않을 때일 수 있다. 예를 들어, 하기 정상 기준 2는 만족하나, 하기 정상 기준 1을 만족하지 않는 사출물을 불량으로 판정할 수 있다.
[정상 기준 1]
상기 결함이미지에 있어서, 전체 면적 대비 상기 결함 영역의 면적이 5% 이하인 경우, 상기 사출물을 정상(불량이 아닌 것)으로 판정할 수 있다.
[정상 기준 2]
상기 결함 영역이 주결함 영역 및 부결함 영역을 포함하는 경우, 주결함 영역, 부결함 영역 및 정상 영역으로 갈수록 Eab* 값이 순차적으로 증가하거나 감소하면 상기 사출물을 정상(불량이 아닌 것)으로 판정할 수 있다.
예를 들어,
L주결함≤L1≤L2≤…≤Lm-1≤Lm≤Lm+1…≤Ln≤L정상;
a주결함≤a1≤a2≤…≤am-1≤am≤am+1…≤an≤a정상; 및
b주결함≤b1≤b2≤…≤bm-1≤bm≤bm+1…≤bn≤b정상을 만족하거나,
또는
L주결함≥L1≥L2≥…≥Lm-1≥Lm≥Lm+1…≥Ln≥L정상;
a주결함≥a1≥a2≥…≥am-1≥am≥am+1…≥an≥a정상; 및
b주결함≥b1≥b2≥…≥bm-1≥bm≥bm+1…≥bn≥b정상을 만족할 수 있다.
상기 L주결함, L1 내지 Ln, L정상, a주결함, a1 내지 an, a정상, b주결함, b1 내지 bn 및 b정상은 각각 주결함 영역, 부결함 영역 및 정상 영역의 Lab*값이며, 각 영역은 선형으로 배열되어 있을 수도 있으며, 선형으로 배열되지 않을 수도 있다. 즉, 도 5와 같이 부결함 내부에 1개 이상의 주결함 영역이 산발적으로 배열되어 있을 수 있다.
상기 주결함 영역은 사출물 금형의 결함에 대응되는 영역을 포함하는 영역으로서, 결함이 존재할 가능성이 가장 높은 영역이다. 상기 주결함 영역은 사출물 좌표 전체의 
중 가장 높은 값(△Eab* max)을 갖는 좌표를 포함할 수 있다.
상기 n은 상기 부결함 영역의 개수를 의미하고, 상기 m은 m번째 부결함 영역을 의미한다.
이때, 상기 부결함 영역 간의 색차값이 크지 않으면 정상으로 판정할 수 있다. 예를 들어, 인접하는 부결함 영역 간의 색차값을 의미하는 인접 임계값을 설정한 후, 인접하는 부결함 영역 간의 색차값이 인접 임계값 이상인 경우를 부결함 영역이라고 판정할 수 있고, 인접하는 부결함 영역 간의 색차값이 인접 임계값에 미달하는 경우 부결함 영역이라고 판정하지 않을 수 있다.
상기 인접 임계값은 {△Eab* max - △Eab*최빈}/n으로 계산될 수 있다. 상기 △Eab* max은 사출물 좌표 전체의 
중 가장 높은 값을 의미하고, 상기 △Eab*최빈은 사출물 좌표 전체의 
중 가장 빈도수가 높은 값을 의미한다.
한편, 각 좌표의 Lab*값을 측정하고 이를 선형화(Linear regression)시켰을 때, 일정한 기울기를 갖는 그래프가 나타날 수 있다. 이는 y=m*x+n로 표현될 수 있다. 상기 y-축은 상기 Lab*각 값에 해당하며, x-축은 주결함, 부결함 또는 정상영역의 각 지점을 의미한다.
[정상 기준 3]
상기 결함 영역이 주결함 영역 및 부결함 영역을 포함하는 경우, 주결함 영역, 부결함 영역 및 정상 영역으로 갈수록 표면 형상 특성값이 순차적으로 증가하거나 감소하면 상기 사출물을 정상(불량이 아닌 것)으로 판정할 수 있다.
이때, 상기 표면 형상 특성값은 산술 평균 거칠기(Ra) 또는 요철 평균 간격(Rsm)이 있으며, 이들을 측정하는 장비로는 Keyence VK-200 시리즈, IR 광원, 센서 또는 광학 카메라 등이 있다. 이때, 측정 기준으로는 ISO 4287:1997 규격을 따를 수 있다.
이때, 상기 주결함 영역, 부결함 영역 및 정상 영역의 표면 형상 특성값들은 아래 식 중 어느 하나 이상을 만족할 수 있다.
Ra주결함≤Ra1≤Ra2≤…≤Ram-1≤Ram≤Ram+1…≤Ran≤Ra정상;
Ra주결함≥Ra1≥Ra2≥…≥Ram-1≥Ram≥Ram+1…≥Ran≥Ra정상;
Rsm주결함≤Rsm1≤Rsm2≤…≤Rsmm-1≤Rsmm≤Rsmm+1…≤Rsmn≤Rsm정상;
Rsm주결함≥Rsm1≥Rsm2≥…≥Rsmm-1≥Rsmm≥Rsmm+1…≥Rsmn≥Rsm정상;
(Ra/Rsm)주결함≤(Ra/Rsm)1≤(Ra/Rsm)2≤…≤(Ra/Rsm)m-1≤(Ra/Rsm)m≤(Ra/Rsm)m+1…≤(Ra/Rsm)n≤(Ra/Rsm)정상; 또는
(Ra/Rsm)주결함≥(Ra/Rsm)1≥(Ra/Rsm)2≥…≥(Ra/Rsm)m-1≥(Ra/Rsm)m≥(Ra/Rsm)m+1…≥(Ra/Rsm)n≥(Ra/Rsm)정상;
상기 (Ra, Rsm, Ra/Rsm)주결함은 주결함 영역의 각 표면 특성값을 의미하고, (Ra, Rsm, Ra/Rsm)m은 m번째 부결함 영역의 각 표면 특성값을 의미하며, (Ra, Rsm, Ra/Rsm)정상은 정상 영역의 각 표면 특성값을 의미한다.
[사출물 금형을 보수하는 단계(S2)]
상기 사출물이 불량으로 판정되면(S1), 사출물 금형을 보수하는 단계(S2)를 수행한다.
이때, 상기 사출물의 결함 좌표에 대응되는 사출물 금형 부분에 보수 처리를 수행하게 된다.
상기 보수 처리는, 사출물 금형에 존재하는 결함의 종류 또는 크기에 따라 다양하게 변경될 수 있다. 예를 들어, 상기 결함이 일정 크기를 갖는 먼지 등의 제거가 용이한 것이라면 에어프레셔 등의 바람을 이용해 상기 결함을 제거한다. 제거가 용이하지 않은 것이라면 용액 처리 등의 화학적 처리나, 컷팅(cutting) 등의 물리적인 처리를 통해 사출물 금형의 결함을 제거한다.
또한, 상기 사출물의 검사방법에 의해 사출물을 검사하는 단계(S0); 상기 사출물을 불량으로 판정하는 단계(S1); 및 상기 사출물 금형을 보수하는 단계(S2)를 반복 수행하여, 검수자가 설정한 기준에 부합하는 사출물을 생산할 수 있도록 사출물 금형을 보수할 수 있다.
이상과 같이, 본 발명은 비록 한정된 실시예와 도면에 의해 설명되었으나, 본 발명은 이것에 의해 한정되지 않으며 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 본 발명의 기술사상과 아래에 기재될 특허 청구범위의 균등범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능함은 물론이다.
Claims (9)
- 사출용 금형으로부터 사출물을 제조하는 단계(S01);
상기 사출물을 촬영하여 검사이미지를 형성하는 단계(S02);
상기 검사이미지의 각 좌표의 색상값을 추출하는 단계(SO3);
상기 검사이미지의 각 좌표의 색차값을 연산하는 단계(S04);
상기 각 좌표의 색차값이 임계값을 초과하는 지 여부를 확인하여, 상기 임계값을 초과하는 좌표를 결함으로 판정하는 단계(S05); 및
상기 검사이미지의 색차값을 이용하여 상기 사출물의 결함 정도를 수치화하는 단계(S06)를 포함하는 사출물의 검사방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 사출물을 촬영할 때의 광원은 가시광선인 것인 사출물의 검사방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 추출된 각 좌표의 색상값은 색좌표값(L*,a*,b*) 및 위치데이터를 포함하는 사출물의 검사방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 검사이미지의 각 좌표의 색차값(△Eab*)은 하기 식 1에 의해 연산되는 것인 사출물의 검사방법:
[식 1]
상기 식 1에 있어서,
(L2*,a2*,b2*)은 상기 검사이미지의 각 좌표의 색상값이고,
(L1*,a1*,b1*)은 기준값의 색상값이다. - 청구항 1에 있어서,
상기 결함으로 판정하는 단계(S05)는 상기 검사이미지를 정상 영역과 결함 영역으로 구분하는 것을 포함하는 사출물의 검사방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 임계값은 하기 식 1로 계산된 값이 3인 것인 사출물의 검사방법:
[식 1]
상기 식 1에 있어서,
(L2*,a2*,b2*)은 상기 검사이미지의 각 좌표의 색상값이고,
(L1*,a1*,b1*)은 기준값의 색상값이다. - 청구항 1에 있어서,
상기 결함이미지로 변환하는 단계(S07)는 상기 결함 정도에 따라 상기 결함 영역의 음영 또는 색상을 다르게 구분하는 것을 포함하는 것인 사출물의 검사방법. - 청구항 5에 있어서,
상기 결함 영역은 하나의 결함 영역; 또는 하나의 주결함 영역과 하나 이상의 부결함 영역을 포함하는 것인 사출물의 검사방법. - 청구항 1 내지 8 중 어느 한 항에 따른
사출물의 검사방법에 의해 사출물을 검사하는 단계(S0);
상기 사출물을 불량으로 판정하는 단계(S1); 및
상기 사출물 금형을 보수하는 단계(S2)를 포함하는 사출물 금형의 보수 방법.
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|---|---|---|---|---|
| CN117547648A (zh) * | 2024-01-12 | 2024-02-13 | 北京大学第三医院（北京大学第三临床医学院） | 半月板水凝胶材料制备方法、半月板制造方法和半月板 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR101051103B1 (ko) | 2009-06-22 | 2011-07-21 | 김진호 | 색상 검사 장치 및 색상 검사 방법 |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN117547648A (zh) * | 2024-01-12 | 2024-02-13 | 北京大学第三医院（北京大学第三临床医学院） | 半月板水凝胶材料制备方法、半月板制造方法和半月板 |
| CN117547648B (zh) * | 2024-01-12 | 2024-04-09 | 北京大学第三医院（北京大学第三临床医学院） | 半月板水凝胶材料制备方法、半月板制造方法和半月板 |
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