KR20200122222A - Mother panel transferring apparatus, display panel inspection apparatus and display panel inspection equipment - Google Patents

Mother panel transferring apparatus, display panel inspection apparatus and display panel inspection equipment Download PDF

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KR20200122222A KR1020200013804A KR20200013804A KR20200122222A KR 20200122222 A KR20200122222 A KR 20200122222A KR 1020200013804 A KR1020200013804 A KR 1020200013804A KR 20200013804 A KR20200013804 A KR 20200013804A KR 20200122222 A KR20200122222 A KR 20200122222A
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Abstract

According to an embodiment of the present invention, a display panel inspection facility comprises: an inspection process preparation facility in which, when the one side of a mother panel is adsorbed to a stage module in a normal state, in which the other side of the mother panel is facing upwards, wherein the other side of the mother panel includes at least one kind of display panel with an organic matter layer deposited for the formation of an organic light emitting layer, the stage module is rotated to change the mother panel from the normal state to a reverse state where the other side is facing downwards and then, a transfer module receives the mother panel in the reverse state to move the mother panel to a facility for the next process while maintaining the reverse state; and an inspection process conducting facility in which a picker module adsorbs the one side of the mother panel moved in by the transfer module and then, when a vacuum adsorption module adsorbs the mother panel in the reverse state through the position movement of the picker module, an electronic pad of the display panel comes in contact with a probe block of a probe unit through the position movement of the vacuum adsorption module, thereby inspecting whether the display panel is defective. Therefore, the display panel inspection facility is capable of maximizing the accuracy and quickness of a defect inspection.

Description

원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비{Mother panel transferring apparatus, display panel inspection apparatus and display panel inspection equipment}Ledger panel transferring apparatus, display panel inspection apparatus, and display panel inspection equipment TECHNICAL FIELD

본 발명은 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비에 대한 것으로, 더욱 상세하게는 페이스 다운(Face down) 방식으로 대형 원장 패널 내에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사할 수 있는 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비에 관한 것이다.The present invention relates to a ledger panel transport apparatus, a display panel inspection apparatus, and a display panel inspection facility, and more particularly, a face down method to inspect the defects of display panels of various sizes included in a large ledger panel. It relates to a ledger panel transfer device, a display panel inspection device, and a display panel inspection facility.

평판 디스플레이 장치로서 사용되는 유기 발광 다이오드(OLED)는 시야각이 넓고 콘트라스트가 우수한 동시에 응답 속도가 빠르다는 장점을 지니고 있어, 최근 스마트폰, 텔레비젼 등에 널리 사용되고 있다.Organic light-emitting diodes (OLEDs) used as flat panel display devices have the advantage of having a wide viewing angle, excellent contrast, and fast response speed, and are thus widely used in smartphones and televisions.

유기 발광 다이오드(OLED)는 기판이 되는 패널 상에 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착되게 되며, 이로 인하여 전기적 신호에 의해 빛과 색을 내게 되는 픽셀이 구현되게 된다.In the organic light-emitting diode (OLED), an organic material layer for forming an organic light-emitting layer is deposited on a panel serving as a substrate, and thus, a pixel that emits light and color by an electrical signal is implemented.

여기서, 증착에 의해 기판이 되는 패널 상에 유기물층이 형성되어 픽셀이 구현되게 되면, 봉지 공정 이전에 픽셀의 불량 여부에 대한 검사가 진행되어야 한다.Here, when an organic material layer is formed on a panel serving as a substrate by evaporation to implement a pixel, an inspection for a defective pixel must be performed before the encapsulation process.

종래에는 검사 도중 비산하는 파티클로부터의 오염 등을 방지하기 위해, 페이스 다운(Face down) 방식, 즉, 검사가 필요한 디스플레이 패널의 증착부가 존재하는 일면이 하부를 향한 상태에서 검사가 진행되었다.Conventionally, in order to prevent contamination from particles scattering during inspection, the inspection was conducted in a face-down method, that is, with the one side of the deposition portion of the display panel requiring inspection facing downward.

디스플레이 패널은 사용 목적에 따라 다양한 크기로 제조될 수 있으며, 제조 공정 상에서 원장 패널 상에 제공되게 되며, 원장 패널은 면취효율을 증대시키기 위해 동일 크기의 디스플레이 패널이 복수개 존재하는 단일 타입 또는 다양한 크기의 디스플레이 패널이 혼합되어 형성되는 혼합 타입일 수 있다.The display panel can be manufactured in various sizes depending on the purpose of use, and is provided on the ledger panel during the manufacturing process. The ledger panel is a single type or various sized display panels in which a plurality of display panels of the same size exist to increase chamfering efficiency. It may be a mixed type formed by mixing display panels.

종래에는 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위해 원장 패널 상의 디스플레이 패널의 증착부가 존재하는 일면이 하부를 향한 상태로 피쉬본(Fishbone) 타입의 스테이지 모듈에 배치되고, 피쉬본(Fishbone) 타입의 스테이지 모듈은 상기 증착부가 하부를 향한 상태에서 증착부가 존재하는 일면 중 증착부가 형성되지 않은 외곽부분을 그립한 후, 검사를 위한 챔버 내로 이동하게 된다.Conventionally, in order to inspect the display panel for defects, a fishbone-type stage module is disposed with one side of the display panel on the ledger panel facing the bottom, and a fishbone-type stage module Is moved into the chamber for inspection after gripping the outer portion where the deposition portion is not formed among the one surface where the deposition portion exists while the deposition portion faces downward.

이후에는 진공플레이트에 의해 증착부가 존재하지 않는 원장 패널의 타면이 흡착되게 되고, 프로브 유닛의 프로브 블록이 위치하는 곳으로 이동된 후, 디스플레이 패널의 접촉 패드가 프로브 블록에 접촉되게 함으로써 검사가 진행되었다.After that, the other surface of the ledger panel without the evaporation part was adsorbed by the vacuum plate, moved to the place where the probe block of the probe unit was located, and then the contact pad of the display panel was brought into contact with the probe block. .

그러나, 종래의 검사 방법은 비교적 크기가 작은 원장 패널 상의 디스플레이 패널을 검사하는데 유용하긴 하나, 대형 원장 패널 상의 디스플레이 패널을 페이스 다운(Face down) 방식으로 불량 여부를 검사하기에는 심각한 문제가 발생되어 적용하기 어려운 실정이다.However, although the conventional inspection method is useful for inspecting a display panel on a relatively small ledger panel, a serious problem has occurred to inspect the display panel on a large ledger panel using a face down method. It is a difficult situation.

다시 말하면, 대형 원장 패널의 경우, 증착부가 존재하는 일면이 하부를 향한 상태로 피쉬본(Fishbone) 타입의 스테이지 모듈에 배치하게 되면, 피쉬본(Fishbone) 타입의 스테이지 모듈은 증착부가 존재하는 일면 중 증착부가 형성되지 않은 외곽부분을 지지하게 되는데, 이때 대형 원장 패널은 자중에 의해 중앙부가 처지게 되어 사실상 정확한 검사가 불가능한 것이다.In other words, in the case of a large ledger panel, if a fishbone type stage module is placed with one side of the evaporation unit facing downward, the fishbone type stage module is The outer portion where the evaporation portion is not formed is supported. In this case, the central portion of the large ledger panel is drooped by its own weight, making it impossible to perform an accurate inspection.

또한, 종래의 검사 방법은 전술한 문제 이외에 하기와 같은 문제가 더 발생되게 된다.In addition, the conventional inspection method further causes the following problems in addition to the above-described problems.

프로브 유닛에는 한 종류의 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 프로브 블록이 장착될 수 밖에 없으며, 이로 인해 원장 패널 상에 검사가 필요한 다양한 크기의 디스플레이 패널이 존재하여 검사의 대상이 되는 디스플레이 패널이 달라지는 경우, 필연적으로 그에 맞는 새로운 프로브 유닛으로 교체할 필요가 있다.The probe unit has no choice but to be equipped with a probe block to check whether one type of display panel is defective, and as a result, display panels of various sizes that need to be inspected exist on the ledger panel, which makes the display panel subject to inspection different. If so, it is inevitably necessary to replace it with a new probe unit.

프로브 유닛의 교체 작업은 작업자에 의해 수동으로 이루어지는 것이 일반적이며, 이에 따라 교체 작업에 소요되는 시간이 길어져 수율이 떨어지는 문제가 있다.In general, the replacement work of the probe unit is performed manually by an operator, and accordingly, there is a problem that the time required for the replacement work is lengthened and the yield is lowered.

뿐만 아니라, 프로브 유닛의 교체 시 작업자가 부상 또는 감전되는 경우가 종종 발생하는 문제가 있었다.In addition, there is a problem that the operator is often injured or electric shocked when replacing the probe unit.

따라서, 검사 도중 비산하는 파티클로부터의 오염 등을 방지하기 위한 페이스 다운(Face down) 방식으로, 대형 원장 패널 상의 다양한 종류의 디스플레이 패널의 불량 여부를 신속하고 정확하게 검사하기 위한 설비 개발에 대한 연구가 시급한 실정이다.Therefore, research on the development of facilities to quickly and accurately inspect various types of display panels on large ledger panels is urgently needed as a face down method to prevent contamination from particles scattered during inspection. Actually.

본 발명의 목적은 페이스 다운(Face down) 방식으로 대형 원장 패널 내에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널의 불량 여부를 프로브 유닛 또는 프로브 블록의 교체 없이 진행될 수 있도록 하는 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비에 관한 것이다.An object of the present invention is a ledger panel transfer apparatus, a display panel inspection apparatus, and a display panel inspection apparatus, which enable it to proceed without replacement of a probe unit or a probe block whether or not there is a defect in a display panel of various sizes included in a large ledger panel in a face down method. It relates to a display panel inspection facility.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 설비는, 원장 패널 - 상기 원장 패널의 일면은 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착된 적어도 한 종류 이상의 디스플레이 패널이 구비됨 - 의 일면이 상부를 향한 정상상태로 상기 원장 패널의 타면이 스테이지 모듈에 흡착되면, 상기 스테이지 모듈은 회전되어 상기 원장 패널이 상기 정상상태에서 상기 일면이 하부를 향한 상태인 역전상태가 되도록 한 후, 이송 모듈이 상기 역전상태의 상기 원장 패널을 전달 받아 상기 역전 상태를 유지하면서 차회 공정을 위한 설비로 상기 원장 패널을 이동시키기 위한 검사 공정 준비 설비; 및 상기 이송 모듈에 의해 진입한 상기 원장 패널의 타면을 픽커 모듈이 흡착한 후, 상기 픽커 모듈의 위치 이동을 통해 진공흡착 모듈이 상기 역전상태의 상기 원장 패널을 흡착하면, 상기 진공흡착 모듈의 위치 이동을 통해 상기 디스플레이 패널의 전극 패드가 프로브 유닛의 프로브 블록에 접촉되도록 하여, 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사가 진행되기 위한 검사 공정 진행 설비;를 포함할 수 있다.A display panel inspection facility according to an embodiment of the present invention includes a ledger panel-at least one type of display panel on which an organic material layer for forming an organic light-emitting layer is deposited is provided on one surface of the ledger panel-one side of the ledger panel is in a normal state When the other surface of the ledger panel is adsorbed to the stage module, the stage module is rotated so that the ledger panel is in a reversing state in which the one surface faces downward in the normal state, and then the transfer module is in the reversing state. An inspection process preparation facility for receiving the ledger panel and moving the ledger panel to a facility for the next process while maintaining the inversion state; And after the picker module adsorbs the other surface of the ledger panel entered by the transfer module, and the vacuum adsorption module adsorbs the ledger panel in the reverse state by moving the position of the picker module, the position of the vacuum adsorption module And a facility for performing an inspection process for inspecting whether the display panel is defective by allowing the electrode pad of the display panel to contact the probe block of the probe unit through movement.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 설비의 상기 검사 공정 진행 설비는, 상기 디스플레이 패널의 상기 전극 패드와 상기 프로브 블록이 접촉되어 상기 디스플레이 패널의 상기 불량 여부에 대한 검사가 진행되기 위한 제1 공간부, 및 상기 디스플레이 패널 상의 얼룩 또는 스크래치의 존재 여부를 확인하기 위해 상기 디스플레이 패널을 촬영하기 위한 비전 모듈이 위치 이동 가능하게 설치되는 제2 공간부를 포함하며, 상기 제2 공간부는, 상기 제1 공간부의 하부에 위치하는 것을 특징으로 할 수 있다.In the apparatus for performing the inspection process of the display panel inspection facility according to an embodiment of the present invention, the electrode pad of the display panel and the probe block are in contact with each other to perform a first inspection for the defect of the display panel. A space part and a second space part in which a vision module for photographing the display panel is installed so as to be movable in order to check whether there is a spot or a scratch on the display panel, and the second space part includes the first It may be characterized in that it is located under the space part.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 설비의 상기 검사 공정 진행 설비는, 질소 분위기 하에서 상기 불량 여부에 대한 검사가 진행되며, 상기 제1 공간부에는 상기 질소 분위기에서의 질소의 순환을 위해 상부과 하부를 연결하는 제1 순환덕트 모듈을 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.In the inspection process operation facility of the display panel inspection facility according to an embodiment of the present invention, the inspection for the defect is performed under a nitrogen atmosphere, and the first space portion includes an upper portion and an upper portion for circulation of nitrogen in the nitrogen atmosphere. It may be characterized in that it includes a first circulation duct module connecting the lower portion.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 설비의 상기 검사 공정 진행 설비는, 질소 분위기 하에서 상기 불량 여부에 대한 검사가 진행되며, 상기 제1 공간부로부터 상기 제2 공간부로 유입된 상기 질소 분위기에서의 상기 질소가 상기 제1 공간부로 다시 유입되어 순환될 수 있도록, 상기 제1 공간부와 상기 제2 공간부를 연결하는 제2 순환덕트 모듈 상에 위치하여 상기 제2 공간부에 유입된 상기 질소를 흡입한 후 상기 제1 공간부로 배출되도록 하는 강제흡입 모듈을 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.In the inspection process operation facility of the display panel inspection facility according to an embodiment of the present invention, the inspection for the defect is performed under a nitrogen atmosphere, and in the nitrogen atmosphere introduced from the first space part to the second space part The nitrogen of the second space is located on a second circulation duct module connecting the first space and the second space so that the nitrogen of the first space is circulated again. It may be characterized in that it comprises a forced suction module to be discharged to the first space after suction.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 설비의 상기 이송 모듈은, 상기 스테이지 모듈 상에서 상기 정상상태에서 상기 역전상태로 상태가 변화된 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착한 후, 상기 원장 패널을 상기 역전상태를 유지하면서 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사를 위한 상기 검사 공정 진행 설비 내의 제1 위치로 이동시키며, 상기 진공흡착 모듈은, 상기 프로브 블록이 장착된 상기 프로브 유닛과의 상호작용에 의해 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사가 진행되도록 하며, 상기 픽커 모듈은, 상기 이송 모듈에 의해 상기 제1 위치로 이동된 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착한 후, 상기 역전상태를 유지하면서 제2 위치로 이동시켜, 상기 진공흡착모듈에 의해 상기 원장 패널이 상기 역전상태를 유지하면서 상기 타면이 흡착되도록 하여, 상기 상호작용에 의한 상기 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되도록 하는 것을 특징으로 할 수 있다.The transfer module of the display panel inspection facility according to an embodiment of the present invention, after adsorbing the other surface of the ledger panel whose state has changed from the normal state to the inverted state on the stage module, reverses the ledger panel. While maintaining the state, the display panel is moved to a first position in the inspection process progress facility for inspection of whether or not the display panel is defective, and the vacuum adsorption module is configured to interact with the probe unit on which the probe block is mounted. The display panel is inspected for defectiveness, and the picker module adsorbs the other surface of the ledger panel moved to the first position by the transfer module, and then maintains the reversed state while maintaining the second position. By moving to, the ledger panel maintains the inverted state and the other surface is adsorbed by the vacuum adsorption module, so that the display panel is inspected for defects due to the interaction.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 설비의 상기 제2 위치는, 상기 제1 위치를 기준으로 상기 픽커 모듈에 의해 상기 진공흡착모듈까지 상승한 위치인 것을 특징으로 할 수 있다.The second position of the display panel inspection facility according to an embodiment of the present invention may be a position raised to the vacuum adsorption module by the picker module based on the first position.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 설비의 상기 픽커 모듈은, 제3 위치에 위치한 상태에서, 하강에 의해 상기 진공흡착 모듈을 통과한 후 상기 제1 위치로 이동되어, 상기 이송 모듈에 의해 상기 제1 위치로 이동된 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착한 후, 상승에 의해 상기 제2 위치로 이동되어 상기 진공흡착 모듈에 의해 상기 원장 패널의 상기 타면이 흡착되도록 하는 것을 특징으로 하는 할 수 있다.The picker module of the display panel inspection facility according to an embodiment of the present invention is moved to the first position after passing through the vacuum adsorption module by descending, in a state located in the third position, by the transfer module. After adsorbing the other surface of the ledger panel moved to the first position, it is moved to the second position by ascending, so that the other surface of the ledger panel is adsorbed by the vacuum adsorption module. have.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 설비의 상기 디스플레이 패널은, 제1 측면을 따라 형성된 복수의 제1 전극 패드, 제2측면을 따라 형성된 복수의 제2 전극 패드, 제3 측면을 따라 형성된 복수의 제3 전극 패드 및 제4 측면을 따라 형성된 복수의 제4 전극 패드를 구비하며, 상기 프로브 유닛은, 횡방향으로 배치된 복수의 제1 프로브 블록을 지지하는 제1 프로브 유닛, 종방향으로 배치된 복수의 제2 프로브 블록을 지지하는 제2 프로브 유닛, 상기 횡방향으로 배치된 복수의 제3 프로브 블록을 지지하는 제3 프로브 유닛 및 상기 종방향으로 배치된 복수의 제4 프로브 블록을 지지하는 제4 프로브 유닛을 포함하고, 상기 복수의 제1 전극 패드, 상기 복수의 제2 전극 패드, 상기 복수의 제3 전극 패드 및 상기 복수의 제4 전극 패드 각각이 상기 복수의 제1 프로브 블록 중 적어도 일부, 상기 복수의 제2 프로브 블록 중 적어도 일부, 상기 복수의 제3 프로브 블록 중 적어도 일부 및 상기 복수의 제4 프로브 블록 중 적어도 일부에 접촉되어 상기 디스플레이 패널의 상기 불량 여부에 대한 검사가 진행되기 위해, 상기 제1 프로브 유닛, 상기 제2 프로브 유닛, 상기 제3 프로브 유닛 및 상기 제1 프로브 유닛 중 적어도 하나는, 상기 횡방향, 상기 종방향 및 대각선 방향 중 적어도 하나의 방향을 향해 이동될 수 있는 것을 특징으로 할 수 있다.The display panel of the display panel inspection facility according to an embodiment of the present invention includes a plurality of first electrode pads formed along a first side, a plurality of second electrode pads formed along a second side, and formed along a third side. A plurality of third electrode pads and a plurality of fourth electrode pads formed along a fourth side surface thereof are provided, wherein the probe unit includes: a first probe unit supporting a plurality of first probe blocks disposed in a horizontal direction, in a vertical direction. A second probe unit supporting a plurality of disposed second probe blocks, a third probe unit supporting the plurality of third probe blocks disposed in the transverse direction, and a plurality of fourth probe blocks disposed in the longitudinal direction are supported. And a fourth probe unit, wherein each of the plurality of first electrode pads, the plurality of second electrode pads, the plurality of third electrode pads, and the plurality of fourth electrode pads are among the plurality of first probe blocks. At least a portion, at least a portion of the plurality of second probe blocks, at least a portion of the plurality of third probe blocks, and at least a portion of the plurality of fourth probe blocks are contacted to perform an inspection for the defect of the display panel In order to be, at least one of the first probe unit, the second probe unit, the third probe unit, and the first probe unit may be moved toward at least one of the transverse direction, the longitudinal direction, and the diagonal direction. It can be characterized by what can be.

상기 복수의 제1 프로브 블록 중, 상기 복수의 제1 전극 패드에 접촉되어야 하는 프로브 블록이 일부인 경우, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 설비의 상기 복수의 제1 프로브 블록 중 나머지 프로브 블록은, 상기 복수의 제1 프로브 블록 중 상기 일부의 프로브 블록이 접촉되는 경우, 상기 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 디스플레이 패널 이외의 상기 원장 패널 상의 다른 디스플레이 패널과의 접촉이 방지되도록, 위치 이동되는 것을 특징으로 할 수 있다.If some of the plurality of first probe blocks are to be in contact with the plurality of first electrode pads, the remaining probe blocks among the plurality of first probe blocks of the display panel inspection facility according to an embodiment of the present invention Is, when the part of the probe blocks of the plurality of first probe blocks are in contact, the position is moved to prevent contact with other display panels on the ledger panel other than the display panel on which the inspection for the defect is performed. It can be characterized.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 설비의 상기 제1 프로브 블록은, 상기 제1 프로브 유닛에 장착되는 프로브 바디부, 및 상부 또는 하부를 향하여 위치 이동 가능하게 상기 프로브 바디에 장착되고 프로브를 구비하는 프로브 가변부를 구비하며, 상기 프로브 가변부는, 상기 나머지 프로브 블록에 해당되는 경우, 상기 프로브 바디부로부터 하부를 향하여 이동되어, 상기 원장 패널 상의 다른 디스플레이 패널과의 접촉이 방지되는 것을 특징으로 할 수 있다.The first probe block of the display panel inspection facility according to an embodiment of the present invention is mounted on the probe body so as to be movable in position toward an upper or lower portion and a probe body mounted on the first probe unit, and The probe variable portion is provided with a probe variable portion, wherein the probe variable portion is moved downward from the probe body portion to prevent contact with other display panels on the ledger panel when corresponding to the remaining probe blocks. I can.

본 발명에 다른 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비에 의하면, 페이스 다운(Face down) 방식으로 대형 원장 패널 내에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널의 불량 여부를 프로브 유닛 또는 프로브 블록의 교체 없이 진행될 수 있도록 하여, 불량 여부 검사의 정확성 및 신속성 등을 극대화할 수 있다.According to the ledger panel transfer apparatus, display panel inspection apparatus, and display panel inspection facility according to the present invention, the display panel of various sizes included in the large ledger panel in a face down method is determined by the probe unit or probe block. By allowing it to proceed without replacement, it is possible to maximize the accuracy and speed of inspection for defects.

도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 의해 불량 여부가 검사되는 디스플레이 패널을 설명하기 위한 도면.
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 스테이지 모듈 상에 안착될 수 있는 원장 패널에 포함된 디스플레이 패널의 조합에 대한 다양한 실시예를 설명하기 위한 도면.
도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비를 설명하기 위한 블록 구성도.
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비를 설명하기 위한 도면.
도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 검사 공정 진행 설비 내의 공기의 흐름을 설명하기 위한 도면으로, 도 5은 도 4의 AA선에 따른 개략단면도이고, 도 6은 도 4의 BB선에 따른 개략단면도.
도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 원장 패널 이송 장치에 의해 원장 패널이 진공흡착 모듈에 흡착되는 과정을 설명하기 위한 순서도.
도 8은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 스테이지 모듈 상에 원장 패널이 정상 상태로 안착되는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 9 및 도 10은 도 8에 도시된 상황에서 스테이지 모듈의 회전에 의해 정상상태의 원장 패널이 역전상태로 변화되는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 11은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 스테이지 모듈로 진입하는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 12 및 도 13은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 역전상태의 원장 패널을 흡착한 상황을 설명하기 위한 도면.
도 14는 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 제1 위치로 이동된 상황을 설명하기 위한 도면.
도 15 및 도 16은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 하강되어 역전상태의 원장 패널을 흡착하는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 17은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 원위치로 복귀되는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 18은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 제2 위치로 상승되는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 19는 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 제3 위치로 상승되는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 20은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 디스플레이 패널 검사 장치를 설명하기 위한 도면.
도 21 내지 도 27은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 진공흡착 모듈에 65인치의 디스플레이 패널과 55인치의 디스플레이 패널의 조합체인 피검사대상 원장 패널이 흡착되어 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 경우, 각각의 디스플레이 패널에 대한 검사 방법을 설명하기 위한 도면.
도 28은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치에 의해 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되는 경우, 사용되지 않는 프로브 블록의 위치 이동을 설명하기 위한 도면.
1 is a diagram illustrating a display panel inspected for defects by a display panel inspection facility according to the present invention.
2 is a view for explaining various embodiments of combinations of display panels included in a ledger panel that can be mounted on a stage module provided in a display panel inspection facility according to the present invention.
3 is a block diagram illustrating a display panel inspection facility according to the present invention.
4 is a view for explaining a display panel inspection facility according to the present invention.
5 and 6 are views for explaining the flow of air in the inspection process processing facility provided to the display panel inspection facility according to the present invention, and FIG. 5 is a schematic cross-sectional view taken along line AA of FIG. 4, and FIG. 6 is A schematic cross-sectional view taken along line BB in 4.
7 is a flowchart illustrating a process in which the ledger panel is adsorbed to the vacuum adsorption module by the ledger panel transfer device provided to the display panel inspection facility according to the present invention.
8 is a view for explaining a situation in which the ledger panel is seated in a normal state on the stage module provided in the ledger panel transfer apparatus according to the present invention.
9 and 10 are diagrams for explaining a situation in which a ledger panel in a normal state is changed to an inverted state due to rotation of a stage module in the situation shown in FIG. 8;
11 is a view for explaining a situation in which the transfer module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention enters the stage module.
12 and 13 are views for explaining a situation in which a transfer module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention adsorbs the ledger panel in a reversed state.
14 is a view for explaining a situation in which the transfer module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention is moved to a first position.
15 and 16 are views for explaining a situation in which the picker module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention is lowered to adsorb the ledger panel in a reversed state.
17 is a view for explaining a situation in which the transfer module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention is returned to its original position.
18 is a view for explaining a situation in which the picker module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention is raised to a second position.
19 is a view for explaining a situation in which the picker module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention is raised to a third position.
20 is a view for explaining a display panel inspection apparatus provided in the display panel inspection facility according to the present invention.
21 to 27 show that the ledger panel to be inspected, which is a combination of a 65-inch display panel and a 55-inch display panel, is adsorbed to the vacuum adsorption module provided in the ledger panel transfer device according to the present invention, so that the inspection for defects proceeds If so, a diagram for explaining an inspection method for each display panel.
28 is a view for explaining a positional movement of an unused probe block when a display panel is inspected for defects by the display panel inspection apparatus according to the present invention.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시예를 상세하게 설명한다. 다만, 본 발명의 사상은 제시되는 실시예에 제한되지 아니하고, 본 발명의 사상을 이해하는 당업자는 동일한 사상의 범위 내에서 다른 구성요소를 추가, 변경, 삭제 등을 통하여, 퇴보적인 다른 발명이나 본 발명 사상의 범위 내에 포함되는 다른 실시예를 용이하게 제안할 수 있을 것이나, 이 또한 본원 발명 사상 범위 내에 포함된다고 할 것이다. Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. However, the spirit of the present invention is not limited to the presented embodiments, and those skilled in the art who understand the spirit of the present invention can add, change, or delete other elements within the scope of the same idea. Other embodiments included within the scope of the inventive concept may be easily proposed, but this will also be said to be included within the scope of the inventive concept.

또한, 각 실시예의 도면에 나타나는 동일한 사상의 범위 내의 기능이 동일한 구성요소는 동일한 참조부호를 사용하여 설명한다.In addition, components having the same function within the scope of the same idea shown in the drawings of each embodiment will be described with the same reference numerals.

1. 디스플레이 패널 및 원장 패널1. Display panel and ledger panel

도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 의해 불량 여부가 검사되는 디스플레이 패널을 설명하기 위한 도면이며, 도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 스테이지 모듈 상에 안착될 수 있는 원장 패널에 포함된 디스플레이 패널의 조합에 대한 다양한 실시예를 설명하기 위한 도면이다.1 is a diagram illustrating a display panel inspected for defects by a display panel inspection facility according to the present invention, and FIG. 2 is a ledger that can be mounted on a stage module provided in a display panel inspection facility according to the present invention. A diagram for describing various embodiments of a combination of display panels included in the panel.

도 1을 참조하면, 디스플레이 패널(DP)은 기판이 되는 패널 상에 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착되어 픽셀이 구현된 것으로, 봉지 공정 이전에 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비(1000, 도 3 및 도 4 참조)에 의해 불량 여부에 대한 검사가 진행될 수 있다.Referring to FIG. 1, in the display panel DP, a pixel is implemented by depositing an organic material layer for forming an organic light emitting layer on a panel serving as a substrate, and before the encapsulation process, the display panel inspection facility 1000 according to the present invention (FIG. 3). And (see FIG. 4), an inspection may be performed for defects.

상기 디스플레이 패널(DP)은 픽셀의 불량 여부에 대한 검사를 위해 상면의 모서리 영역 중 하나인 제1 모서리 영역을 따라 형성되는 제1 전극 패드(EP1), 상기 상면의 모서리 영역 중 다른 하나인 제2 모서리 영역을 따라 형성되는 제2 전극 패드(EP2), 상기 상면의 모서리 영역 중 또 다른 하나인 제3 모서리 영역을 따라 형성되는 제3 전극 패드(EP3) 및 상기 상면의 모서리 영역 중 또 다른 하나인 제4 모서리 영역을 따라 형성되는 제4 전극 패드(EP4)를 구비할 수 있다. The display panel DP includes a first electrode pad EP1 formed along a first corner region, which is one of the corner regions of the upper surface, and a second electrode pad EP1 formed along the first corner region of the upper surface, to inspect whether a pixel is defective. The second electrode pad EP2 formed along the edge area, the third electrode pad EP3 formed along the third edge area, which is another one of the edge areas of the upper surface, and another one of the edge area of the upper surface, A fourth electrode pad EP4 formed along the fourth edge area may be provided.

다만, 상기 디스플레이 패널(DP)은 패널의 특성에 따라 전극 패드의 형성 위치 및 개수 등은 달라질 수 있으나, 이하에서는 도 1에 도시된 디스플레이 패널(DP)을 예로 들어 불량 여부가 검사되는 과정 등을 설명하기로 한다.However, in the display panel DP, the position and number of electrode pads formed may vary according to the characteristics of the panel, but hereinafter, the display panel DP shown in FIG. I will explain.

상기 디스플레이 패널(DP)은 제조 공정 상에서 스테이지 모듈(110, 도 3 및 도 4 참조)의 크기에 종속적으로 크기가 결정되는 원장 패널(MP)에 복수개가 형성된 후, 절단 등의 공정을 통해 제조될 수 있으며, 상기 원장 패널(MP)은 디스플레이 패널(DP)의 생산의 기반이 되는 유리 기판일 수 있다.After a plurality of display panels DP are formed on the ledger panel MP whose size is determined depending on the size of the stage module 110 (see FIGS. 3 and 4) during the manufacturing process, it will be manufactured through a process such as cutting. In addition, the ledger panel MP may be a glass substrate that is a basis for production of the display panel DP.

상기 원장 패널(MP)은 빈공간을 최소화하여 불량 검사에 대한 효율성을 증대시키기 위해, 즉, 면취효율을 증대시키기 위해 동일 크기의 디스플레이 패널(DP)이 복수개 존재하는 단일 타입 또는 다양한 크기의 디스플레이 패널(DP)이 혼합되어 형성된 혼합 타입일 수 있다.The ledger panel MP is a single type or various sized display panel in which a plurality of display panels DP of the same size are present in order to increase the efficiency of defect inspection by minimizing empty space, that is, to increase chamfering efficiency. It may be a mixed type formed by mixing (DP).

예를 들어, 상기 원장 패널(MP)은 도 2(a)에 도시된 바와 같이 98인치 디스플레이 패널 2개의 혼합 타입, 도 2(b)에 도시된 바와 같이 65인치 디스플레이 패널 3개와 32인치 디스플레이 패널 6개의 혼합 타입, 도 2(c)에 도시된 바와 같이 31.5인치 디스플레이 패널 18개의 단일 타입, 도 2(d)에 도시된 바와 같이 49인치 디스플레이 패널 2개와 75인치 디스플레이 패널 2개의 혼합 타입 및 도 2(e)에 도시된 바와 같이 65인치 디스플레이 패널 3개와 55인치 디스플레이 패널 2개의 혼합 타입일 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 다양한 크기의 디스플레이 패널의 혼합 타입이 적용된 패널일 수 있다.For example, the ledger panel MP is a mixed type of two 98-inch display panels as shown in Fig. 2(a), and three 65-inch display panels and a 32-inch display panel as shown in Fig. 2(b). 6 mixed types, 18 single types of 31.5 inch display panels as shown in FIG. 2(c), 2 mixed types of 49 inch display panels and 2 75 inch display panels as shown in FIG. 2(d) and As shown in 2(e), a mixed type of three 65-inch display panels and two 55-inch display panels may be used, but the present invention is not limited thereto, and a mixed type of display panels of various sizes may be applied.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비(1000)는 전술한 다양한 조합의 혼합 타입의 원장 패널(MP)에 포함된 모든 디스플레이 패널의 각각에 대한 불량 여부를 검사할 수 있으며, 이하에서는 상기 원장 패널이 65인치 디스플레이 패널 3개와 55인치 디스플레이 패널 2개가 형성된 혼합 타입인 경우를 대표적인 예로 들어 설명한다.The display panel inspection facility 1000 according to the present invention may inspect whether all display panels included in the mixed-type ledger panel MP of various combinations described above are defective. Hereinafter, the ledger panel is 65 The case of a mixed type in which three inch display panels and two 55 inch display panels are formed will be described as a representative example.

2. 디스플레이 패널 검사 설비2. Display panel inspection equipment

도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비를 설명하기 위한 블록 구성도이며, 도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비를 설명하기 위한 도면이다.3 is a block diagram illustrating a display panel inspection facility according to the present invention, and FIG. 4 is a view illustrating a display panel inspection facility according to the present invention.

도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비(1000)는 배면 흡착 방식, 즉, 페이스 다운(Face down) 방식으로 원장 패널(MP) 내에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부를 프로브 유닛(PU, 도 20 참조) 또는 프로브 블록(BP)의 교체 없이 진행될 수 있도록 하여, 불량 여부 검사의 정확성 및 신속성 등을 극대화할 수 있는 검사 설비로, 검사 공정 준비 설비(1100) 및 검사 공정 진행 설비(1200)를 포함할 수 있다.3 and 4, the display panel inspection facility 1000 according to the present invention includes a display panel DP of various sizes included in the ledger panel MP in a rear adsorption method, that is, a face down method. ) Is an inspection facility capable of maximizing the accuracy and speed of inspection for defects by allowing the failure of the probe unit (see PU, see Fig. 20) or the probe block (BP) to be performed without replacement. 1100) and inspection process progress equipment 1200 may be included.

검사 공정 준비 설비(1100)는 일면에 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착된 적어도 한 종류 이상의 디스플레이 패널(DP)이 구비되는 원장 패널(MP)의 상기 일면이 상부를 향한 정상상태로 상기 원장 패널(MP)의 타면이 스테이지 모듈(110)에 흡착되면, 상기 스테이지 모듈(110)은 회전되어 상기 원장 패널(MP)이 상기 정상상태에서 상기 일면이 하부를 향한 상태인 역전상태가 되도록 한 후, 이송 모듈(120)이 상기 역전상태의 상기 원장 패널(MP)을 전달 받아 상기 역전 상태를 유지하면서 차회 공정을 위한 설비로 상기 원장 패널(MP)을 이동시키기 위한 설비일 수 있다.In the inspection process preparation facility 1100, the ledger panel (the ledger panel()) is in a normal state with the one surface facing the top of the ledger panel (MP) provided with at least one kind of display panel (DP) on which an organic material layer for forming an organic light emitting layer is deposited on one surface. When the other side of MP) is adsorbed to the stage module 110, the stage module 110 is rotated so that the ledger panel MP is in a reversed state in which the one side faces downward in the normal state, and then transferred. The module 120 may be a facility for moving the ledger panel MP to a facility for a next process while maintaining the inversion state by receiving the ledger panel MP in the inverted state.

검사 공정 진행 설비(1200)는 상기 이송 모듈(120)에 의해 진입한 상기 원장 패널(MP)의 타면을 픽커 모듈(130)이 흡착한 후, 상기 픽커 모듈(130)의 위치 이동을 통해 진공흡착 모듈(140)이 상기 역전상태의 상기 원장 패널(MP)을 흡착하면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 상기 디스플레이 패널(DP)의 전극 패드가 디스플레이 패널 검사 장치(200)의 프로브 유닛(PU)의 프로브 블록(PB)에 접촉되도록 하여, 상기 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되기 위한 설비일 수 있다.After the picker module 130 adsorbs the other surface of the ledger panel MP entered by the transfer module 120, the inspection process progress facility 1200 is vacuum-adsorbed by moving the position of the picker module 130. When the module 140 adsorbs the ledger panel MP in the reversed state, the electrode pad of the display panel DP becomes a probe of the display panel inspection apparatus 200 by moving the position of the vacuum adsorption module 140. It may be a facility for inspecting whether or not the display panel DP is defective by contacting the probe block PB of the unit PU.

한편, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비(1000)는 원장 패널(MP)이 스테이지 모듈(110)에 안착되고, 이송 모듈(120)에 의해 상기 원장 패널(MP)이 픽커 모듈(130)을 매개로 하여 진공흡착 모듈(140)에 흡착되기까지의 구성요소를 원장 패널 이송 장치(100)로 정의할 수 있으며, 상기 원장 패널 이송 장치(100)에 의해 상기 진공흡착 모듈(140)에 흡착된 디스플레이 패널(DP)이 디스플레이 패널 검사 장치(200)에 의해 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 과정은 도 7 내지 도 28을 참조로 하여 구체적으로 설명한다.Meanwhile, in the display panel inspection facility 1000 according to the present invention, the ledger panel MP is seated on the stage module 110, and the ledger panel MP is mediated by the picker module 130 by the transfer module 120. As a result, the component until adsorbed to the vacuum adsorption module 140 can be defined as the ledger panel transfer device 100, and the display adsorbed to the vacuum adsorption module 140 by the ledger panel transfer device 100 A process in which the panel DP is inspected for defects by the display panel inspection apparatus 200 will be described in detail with reference to FIGS. 7 to 28.

도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 검사 공정 진행 설비 내의 공기의 흐름을 설명하기 위한 도면으로, 도 5은 도 4의 AA선에 따른 개략단면도이고, 도 6은 도 4의 BB선에 따른 개략단면도이다.5 and 6 are views for explaining the flow of air in the inspection process processing facility provided to the display panel inspection facility according to the present invention, and FIG. 5 is a schematic cross-sectional view taken along line AA of FIG. 4, and FIG. 6 is It is a schematic cross-sectional view taken along line BB in 4.

도 3 및 도 4와 함께 도 5 및 도 6을 참조하면, 검사 공정 진행 설비(1200)는 디스플레이 패널(DP)의 전극 패드와 프로브 블록(PB)이 접촉되어 상기 디스플레이 패널(DP)의 상기 불량 여부에 대한 검사가 진행되기 위한 제1 공간부(300), 및 상기 불량 여부에 대한 검사의 대상이 되는 디스플레이 패널(DP)을 촬영하여 상기 디스플레이 패널(DP) 상의 얼룩 또는 스크래치 등의 존재 여부를 확인하기 위한 비전 모듈(410)이 위치 이동 가능하게 설치되는 제2 공간부(400)를 포함할 수 있으며, 상기 제2 공간부(400)는 상기 제1 공간부(300)의 하부에 위치할 수 있다.Referring to FIGS. 5 and 6 along with FIGS. 3 and 4, the inspection process processing facility 1200 contacts the electrode pad of the display panel DP with the probe block PB, and thus the defect of the display panel DP. The first space unit 300 to be inspected for the presence of the defect and the display panel DP to be inspected for the defect are photographed to determine whether there are spots or scratches on the display panel DP. The vision module 410 for checking may include a second space part 400 installed so as to be movable, and the second space part 400 may be located below the first space part 300. I can.

여기서, 상기 비전 모듈(410)은 예를 들어 4개의 카메라 유닛을 포함할 수 있으며, 상기 카메라 유닛은 촬영의 대상이 되는 디스플레이 패널(DP)의 사이즈에 따라 Working Distance (WD)가 달라지게 되므로, 상부 또는 하부를 향하여 위치 이동 가능할 수 있다.Here, the vision module 410 may include, for example, four camera units, and the camera unit has a working distance (WD) that varies depending on the size of the display panel DP to be photographed, The position may be movable toward the top or bottom.

또한, 4개의 카메라 유닛은 촬영 대상이 되는 디스플레이 패널(DP)의 크기에 대응하여 상기 디스플레이 패널(DP)의 전체 영역을 촬영해야 하기 때문에 각각 촬영의 대상이 되는 디스플레이 패널(DP)의 1/4 영역의 중앙부에 위치해야 하며, 이를 위해 전방 또는 후방, 좌방 또는 우방으로 위치 이동될 수 있다. 또한, 필요한 경우, 촬영의 대상이 되는 디스플레이 패널(DP)의 회전에 대응되기 위해 정회전 또는 역회전이 될 수도 있다.In addition, since the four camera units must photograph the entire area of the display panel DP corresponding to the size of the display panel DP to be photographed, each of the four camera units is 1/4 of the display panel DP to be photographed. It should be located in the center of the area, and for this it can be moved forward or backward, left or right. In addition, if necessary, it may be rotated forward or reverse to correspond to the rotation of the display panel DP to be photographed.

한편, 검사 공정 준비 설비(1100) 및 검사 공정 진행 설비(1200) 내에서의 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부에 대한 검사는 질소 분위기 하에서 진행될 수 있다.Meanwhile, the inspection of whether the display panel DP is defective in the inspection process preparation facility 1100 and the inspection process progress facility 1200 may be performed under a nitrogen atmosphere.

특히, 검사 공정 진행 설비(1200)의 경우 제1 공간부(300) 및 제2 공간부(400) 내에서 상기 질소 분위기에서의 질소는 정체 없이 순환이 안정적으로 이루어져야 한다.In particular, in the case of the inspection process facility 1200, the nitrogen in the nitrogen atmosphere in the first space part 300 and the second space part 400 must be circulated stably without stagnation.

이를 위해, 상기 검사 공정 진행 설비(1200)는 상기 제1 공간부(300) 내의 상부에 위치하는 강제순환 모듈(310), 상기 제1 공간부(300)내에서의 상기 질소의 순환을 위해 상부과 하부를 연결하는 제1 순환덕트 모듈(320) 및 상기 제1 공간부(300)와 상기 제2 공간부(400)를 연결하는 제2 순환덕트 모듈(420)을 포함할 수 있다.To this end, the inspection process processing facility 1200 includes a forced circulation module 310 located at an upper portion of the first space part 300, and an upper part for circulation of the nitrogen in the first space part 300. A first circulation duct module 320 connecting the lower portion and a second circulation duct module 420 connecting the first space part 300 and the second space part 400 may be included.

상기 제2 순환덕트 모듈(420)은 상기 제1 공간부(300)로부터 상기 제2 공간부(400)로 유입된 상기 질소가 상기 제1 공간부(300)로 다시 유입되어 순환될 수 있도록 할 수 있으며, 상기 제2 순환덕트 모듈(420) 상에는 강제흡입 모듈(430)이 위치할 수 있다.The second circulation duct module 420 allows the nitrogen flowing from the first space part 300 to the second space part 400 to flow back into the first space part 300 to be circulated. In addition, a forced suction module 430 may be positioned on the second circulation duct module 420.

여기서, 상기 강제순환 모듈(310) 및 상기 강제흡입 모듈(420)은 일종의 흡입 팬으로, 상기 강제흡입 모듈(420)은 상기 제2 순환덕트 모듈(410) 상에 위치하여 상기 제1 공간부(300)로부터 상기 제2 공간부(400)로 유입된 상기 질소를 흡입한 후 상기 제1 공간부(300)로 배출되도록 할 수 있다.Here, the forced circulation module 310 and the forced suction module 420 are a kind of suction fan, and the forced suction module 420 is located on the second circulation duct module 410 so that the first space ( The nitrogen introduced into the second space part 400 from 300 may be sucked and then discharged to the first space part 300.

따라서, 상기 검사 공정 진행 설비(1200)는 균일한 질소 분위기 하에서 디스플레이 패널의 검사 공정이 진행되게 된다. Accordingly, the inspection process processing facility 1200 performs the inspection process of the display panel under a uniform nitrogen atmosphere.

한편, 검사 공정 준비 설비(1100) 및 검사 공정 진행 설비(1200)는 유지 보수 시 작업자가 내부로 들어가야 하므로 청정 건조 공기(CDA) 분위기로의 전환이 이루어질 수 있다.Meanwhile, the inspection process preparation facility 1100 and the inspection process progress facility 1200 require a worker to enter the interior during maintenance, so that the conversion to a clean dry air (CDA) atmosphere can be achieved.

3. 원장 패널 이송 장치3. Ledger panel transfer device

도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 원장 패널 이송 장치에 의해 원장 패널이 진공흡착 모듈에 흡착되는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.7 is a flowchart illustrating a process in which the ledger panel is adsorbed to the vacuum adsorption module by the ledger panel transfer device provided in the display panel inspection facility according to the present invention.

우선, 도 3 및 도 4를 참조하면, 원장 패널 이송 장치(100)는 스테이지 모듈(110), 이송 모듈(120), 픽커 모듈(130) 및 진공흡착 모듈(140) 등을 포함할 수 있다.First, referring to FIGS. 3 and 4, the ledger panel transfer device 100 may include a stage module 110, a transfer module 120, a picker module 130, a vacuum adsorption module 140, and the like.

상기 스테이지 모듈(110)은 원장 패널(MP)의 일면이 상부를 향한 정상상태로 상기 원장 패널(MP)의 타면을 흡착하여 고정시키기 위한 구성요소로, 상기 원장 패널(MP)의 일면은 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착된 적어도 한 종류 이상의 디스플레이 패널(DP)이 구비될 수 있다.The stage module 110 is a component for adsorbing and fixing the other surface of the ledger panel MP in a normal state with one surface of the ledger panel MP facing upward, and one surface of the ledger panel MP is an organic emission layer. At least one type of display panel DP on which an organic material layer for formation is deposited may be provided.

여기서, 상기 원장 패널(MP)의 상기 타면은 전체적으로 비증착부일 수 있다.Here, the other surface of the ledger panel MP may be a non-deposited part as a whole.

상기 스테이지 모듈(110)은 상기 디스플레이 패널이 페이스 다운(Face down) 방식으로 검사되도록 하기 위해 회전될 수 있으며, 이로 인하여 상기 스테이지 모듈(110)에 상기 정상상태로 배치되어 흡착된 상기 원장 패널(MP)은 상기 일면이 하부를 향한 상태인 역전상태가 될 수 있다.The stage module 110 may be rotated so that the display panel is inspected in a face-down manner, and thus, the ledger panel (MP) disposed in the normal state and adsorbed by the stage module 110 ) May be a reversed state in which the one side faces downward.

상기 이송 모듈(120)은 상기 스테이지 모듈(110) 상에서 상기 정상상태에서 상기 역전상태로 상태가 변화된 상기 원장 패널(MP)의 상기 타면을 흡착한 후, 상기 원장 패널(MP)을 상기 역전상태를 유지하면서 불량 여부에 대한 검사를 위한 제1 위치로 이동시키기 위한 구성요소일 수 있다.The transfer module 120 adsorbs the other surface of the ledger panel MP whose state has changed from the normal state to the inverted state on the stage module 110, and then moves the ledger panel MP to the inverted state. While maintaining, it may be a component for moving to the first position for inspection for defects.

상기 픽커 모듈(130)은 상기 이송 모듈(120)에 의해 상기 제1 위치로 이동된 상기 원장 패널(MP)의 상기 타면을 흡착한 후, 상기 역전상태를 유지하면서 상기 제1 위치를 기준으로 상승된 위치인 제2 위치로 이동시키기 위한 구성요소로, 후술할 판 형상의 진공흡착 모듈(140)이 상기 역전상태의 상기 원장 패널(MP)을 흡착되도록 할 수 있다.The picker module 130 adsorbs the other surface of the ledger panel MP moved to the first position by the transfer module 120, and then rises based on the first position while maintaining the reversing state. As a constituent element for moving to the second position, which is the position that has been changed, a plate-shaped vacuum adsorption module 140, which will be described later, may adsorb the ledger panel MP in the reversed state.

상기 진공흡착 모듈(140)은 상기 이송 모듈(120)에 의해 상기 제2 위치로 상기 역전상태의 원장 패널(MP)이 이동되면, 상기 역전상태로 평활도를 유지하면서 상기 원장 패널(MP)을 흡착할 수 있으며, 이후에는 디스플레이 패널 검사 장치(200)의 프로브 유닛(PU)의 프로브 블록(PB)과의 상호작용에 의해 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사가 진행되도록 하는 구성요소일 수 있다.When the ledger panel MP in the reverse state is moved to the second position by the transfer module 120, the vacuum adsorption module 140 adsorbs the ledger panel MP while maintaining the smoothness in the reversed state. After that, the display panel inspection apparatus 200 may be a component for inspecting whether the display panel is defective by interacting with the probe block PB of the probe unit PU.

상기 진공흡착 모듈(140)에 의해 상기 역전상태로 원장 패널이 흡착되면, 상기 진공흡착 모듈(140)은 상기 원장 패널(MP)을 상기 역전상태로 유지한 상태에서 위치 이동을 통해, 상기 디스플레이 패널(DP)의 전극 패드과 상기 프로브 블록(PB)이 접촉되도록 하여, 상기 역전상태로 상기 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.When the ledger panel is adsorbed in the reversed state by the vacuum adsorption module 140, the vacuum adsorption module 140 moves the ledger panel MP in the reversed state and moves the display panel. The electrode pad of the DP and the probe block PB are brought into contact with each other, so that the inspection for the defect of the display panel DP is performed in the reversed state.

여기서, 상기 원장 패널이 최종적으로 상기 역전상태를 유지하면서 진공흡착 모듈(140)에 흡착되어야 하는 이유는 디스플레이 패널의 불량 여부 검사를 위한 디스플레이 패널(DP)의 정확한 위치 제어 및 디스플레이 패널(DP)의 평활도를 유지하기 위함으로, 만약 진공흡착 모듈(140)이 아니라 다른 구성요소에 의해 원장 패널(MP)이 흡착된 상태로 디스플레이 패널 검사 장치(200)로 이동하게 되면, 평활도 등에서 문제가 발생되어 정확한 불량 여부에 대한 검사가 보장되지 못하기 때문이다.Here, the reason why the ledger panel must be finally adsorbed to the vacuum adsorption module 140 while maintaining the inverted state is the precise position control of the display panel DP and the display panel DP to inspect whether the display panel is defective. In order to maintain the smoothness, if the ledger panel (MP) is moved to the display panel inspection device 200 while the ledger panel (MP) is adsorbed by other components rather than the vacuum adsorption module 140, a problem occurs in smoothness, etc. This is because the inspection for defects is not guaranteed.

이하에서는 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치(100)에 의해 원장 패널(MP)이 진공흡착 모듈(140)에 흡착되는 과정을 설명한다.Hereinafter, a process in which the ledger panel MP is adsorbed to the vacuum adsorption module 140 by the ledger panel transfer device 100 according to the present invention will be described.

도 7을 참조하면, 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치(100)에 의해 원장 패널이 진공흡착 모듈에 흡착되는 단계는, 정상상태로 원장 패널(MP)이 스테이지 모듈(110) 상에 배치되는 제1 단계(S10), 상기 스테이지 모듈(110)이 회전되는 제2 단계(S20), 이송 모듈(120)이 진입하고 상기 원장 패널(MP)을 흡착하는 제3 단계(S30), 상기 이송 모듈(120)이 제1 위치로 이동하는 제4 단계(S40), 픽커 모듈(130)이 하강되어 상기 원장 패널(MP)을 흡착하는 제5 단계(S50), 상기 이송 모듈(120)이 복귀하는 제6 단계(S60), 상기 픽커 모듈(130)이 제2 위치로 상승하는 제7 단계(S70), 진공흡착 모듈(140)에 의해 상기 디스플레이 패널(DP)이 흡착되는 제8 단계(S80), 상기 픽커 모듈(130)이 상승되어 제3 위치로 이동하는 제9 단계(S90)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 7, in the step of adsorbing the ledger panel to the vacuum adsorption module by the ledger panel transfer device 100 according to the present invention, the ledger panel MP is disposed on the stage module 110 in a normal state. Step 1 (S10), a second step (S20) in which the stage module 110 is rotated, a third step (S30) in which the transfer module 120 enters and adsorbs the ledger panel (MP), the transfer module ( 120) the fourth step of moving to the first position (S40), the fifth step of adsorbing the ledger panel MP by lowering the picker module 130 (S50), the first step of the transfer module 120 returning Step 6 (S60), a seventh step in which the picker module 130 is raised to a second position (S70), an eighth step in which the display panel DP is adsorbed by the vacuum adsorption module 140 (S80), A ninth step (S90) in which the picker module 130 is raised and moved to a third position may be included.

이하에서는 전술한 각 단계에 대하여 도 8 내지 도 19를 참조하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, each step described above will be described in detail with reference to FIGS. 8 to 19.

도 8은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 스테이지 모듈 상에 원장 패널이 정상 상태로 안착되는 상황을 설명하기 위한 도면이다.8 is a view for explaining a situation in which a ledger panel is seated in a normal state on a stage module provided in the ledger panel transfer apparatus according to the present invention.

도 8을 참조하면, 원장 패널(MP)은 정상상태로 스테이지 모듈(110) 상에 배치(S10)된 후, 흡착될 수 있다.Referring to FIG. 8, after the ledger panel MP is disposed on the stage module 110 in a normal state (S10), it may be adsorbed.

여기서, 상기 원장 패널(MP)은 설명의 편의를 위해 적어도 하나 이상의 디스플레이 패널(DP)이 구비된 일면을 음영으로 표현하였음을 밝혀둔다.Here, it is revealed that the ledger panel MP represents one surface on which at least one display panel DP is provided in a shade for convenience of description.

한편, 상기 원장 패널(MP)을 상기 스테이지 모듈(110) 상에 배치시키는 방법은 특별히 정해지는 것은 아니며, 질소 분위기 하에서 로봇 장치 등에 의한 자동 방법 또는 작업자에 의한 수동 방법 등 다양할 수 있다.On the other hand, the method of disposing the ledger panel MP on the stage module 110 is not specifically determined, and may be various, such as an automatic method by a robot device or a manual method by an operator in a nitrogen atmosphere.

상기 스테이지 모듈(110)은 상기 정상상태로 상기 원장 패널(MP)의 상기 타면(SF2)을 흡착하기 위한 복수의 스테이지 유닛(112)을 포함할 수 있으며, 상기 스테이지 유닛(112)은 각각 서로 이격되게 배치되어 사이 사이에 제1 공간(S1)이 형성되도록 할 수 있다.The stage module 110 may include a plurality of stage units 112 for adsorbing the other surface SF2 of the ledger panel MP in the normal state, and the stage units 112 are separated from each other. So that the first space S1 is formed therebetween.

예를 들어, 상기 스테이지 유닛(112)은 도 8에 도시된 바와 같이 9개로 형성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 지지하여야 할 상기 원장 패널(MP)이 자중에 의해 중앙부가 처지지 않고 안정적으로 지지할 수 있을 정도라면 개수가 변경되어도 무방하다.For example, the stage unit 112 may be formed into nine as shown in FIG. 8, but is not limited thereto, and the ledger panel MP to be supported is not sagged by its own weight. The number can be changed as long as it can be supported stably.

상기 스테이지 유닛(112)에는 각각 상기 원장 패널(MP)을 흡착하기 위한 흡착패드 등의 흡착수단(114)을 구비할 수 있으며, 상기 흡착수단(114)의 개수는 제한이 없다.Each of the stage units 112 may include adsorption means 114 such as adsorption pads for adsorbing the ledger panel MP, and the number of adsorption means 114 is not limited.

도 9 및 도 10은 도 8에 도시된 상황에서 스테이지 모듈의 회전에 의해 정상상태의 원장 패널이 역전상태로 변화되는 상황을 설명하기 위한 도면이다.9 and 10 are views for explaining a situation in which a ledger panel in a normal state is changed to a reverse state by rotation of a stage module in the situation shown in FIG. 8.

도 9 및 도 10을 참조하면, 상기 스테이지 모듈(110)은 정상상태로 상기 원장 패널(MP)을 흡착한 채로 회전(R, S20)될 수 있으며, 회전 방향은 제한이 없다.9 and 10, the stage module 110 may be rotated (R, S20) while adsorbing the ledger panel MP in a normal state, and the rotation direction is not limited.

상기 스테이지 모듈(110)의 회전을 위한 구동방법은 특별히 정해지는 것은 아니며, 예를 들어, 공지의 모터 등을 이용하여 회전될 수 있다.A driving method for rotation of the stage module 110 is not specifically determined, and may be rotated using, for example, a known motor.

상기 스테이지 모듈(110)이 회전되면, 정상상태로 흡착되었던 원장 패널(MP)은 증착부가 존재하는 일면(SF1)이 하부를 향한 상태인 역전상태로 상태가 변화되게 된다.When the stage module 110 is rotated, the state of the ledger panel MP, which has been adsorbed in a normal state, is changed to an inverted state in which the one surface SF1 on which the deposition part is located is facing downward.

상기 원장 패널(MP)은 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 동안 지속적으로 역전상태를 유지하게 되며, 이로 인하여 디스플레이 패널(DP)은 페이스 다운(Face down) 방식으로 불량 여부에 대한 검사를 진행할 수 있게 된다.The ledger panel MP is continuously maintained in an inverted state while the inspection for defects is in progress, so that the display panel DP can perform an inspection for defects in a face down method. do.

도 11은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 스테이지 모듈로 진입하는 상황을 설명하기 위한 도면이며, 도 12 및 도 13은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 역전상태의 원장 패널을 흡착한 상황을 설명하기 위한 도면이다.11 is a view for explaining a situation in which the transfer module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention enters the stage module, and FIGS. 12 and 13 are a transfer module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention. It is a diagram for explaining a situation in which the ledger panel in a reversed state is adsorbed.

도 11 내지 도 13을 참조하면, 상기 스테이지 모듈(110)의 회전에 의해 원장 패널(MP)이 역전상태가 되면, 이송 모듈(120)이 상기 스테이지 모듈(110)로 진입한 후, 상기 원장 패널(MP)을 흡착(S30)하게 된다.11 to 13, when the ledger panel MP is in an inverted state by rotation of the stage module 110, after the transfer module 120 enters the stage module 110, the ledger panel (MP) is adsorbed (S30).

상기 이송 모듈(120)은 상기 스테이지 유닛(112)에 의해 제공되는 제1 공간(S1)에 삽입되어 역전상태로 배치되는 상기 원장 패널(MP)의 타면(SF2)을 흡착하기 위한 복수의 이송 유닛(122)을 포함할 수 있다.The transfer module 120 is a plurality of transfer units for adsorbing the other surface SF2 of the ledger panel MP that is inserted into the first space S1 provided by the stage unit 112 and disposed in a reversed state. (122) may be included.

상기 이송 유닛(122)은 상기 스테이지 유닛(112)과 마찬가지로 각각 이격되게 배치될 수 있다.Like the stage unit 112, the transfer units 122 may be disposed to be spaced apart from each other.

예를 들어, 상기 이송 유닛(122)은 도면에 도시된 바와 같이 8개로 형성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.For example, the transfer unit 122 may be formed in eight as shown in the drawing, but is not limited thereto.

상기 이송 유닛(122)은 상기 원장 패널(MP)과 상기 스테이지 유닛(112)에 의해 제공되는 제1 공간(S1)으로 진입한 후 상기 원장 패널(MP)의 타면(SF2)을 흡착할 수 있으며, 상기 원장 패널(MP)의 흡착을 위해 필요하다면 상하 방향으로 위치 이동되어도 무방하다.The transfer unit 122 may adsorb the other surface SF2 of the ledger panel MP after entering the first space S1 provided by the ledger panel MP and the stage unit 112, and , If necessary for adsorption of the ledger panel MP, the position may be moved in the vertical direction.

상기 이송 유닛(122)에는 각각 상기 원장 패널(MP)을 흡착하기 위한 흡착패드 등의 흡착수단(124)을 구비할 수 있으며, 상기 흡착수단(124)의 개수는 제한이 없다.Each of the transfer units 122 may be provided with adsorption means 124 such as adsorption pads for adsorbing the ledger panel MP, and the number of adsorption means 124 is not limited.

상기와 같이 상기 이송 유닛(122)에 의해 상기 원장 패널(MP)이 흡착되면, 상기 스테이지 유닛(112)에 의한 상기 원장 패널(MP)의 흡착은 해제되게 되며, 이로 인해 상기 원장 패널(MP)은 상기 이송 유닛(122)의 이동과 연동되게 된다.When the ledger panel MP is adsorbed by the transfer unit 122 as described above, the adsorption of the ledger panel MP by the stage unit 112 is released, whereby the ledger panel MP Is interlocked with the movement of the transfer unit 122.

도 14는 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 제1 위치로 이동된 상황을 설명하기 위한 도면이다.14 is a view for explaining a situation in which the transfer module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention has been moved to a first position.

도 14를 참조하면, 이송 모듈(120)은 역전상태의 원장 패널(MP)을 흡착한 상태로, 상기 역전상태를 유지하면서 불량 여부에 대한 검사를 위한 제1 위치로 이동(S40)될 수 있다.Referring to FIG. 14, the transfer module 120 may be moved to a first position for inspection for defects while maintaining the reversed state while adsorbing the ledger panel MP in a reversed state (S40). .

여기서, 상기 제1 위치는 상기 역전상태의 원장 패널(MP)이 진공흡착 모듈(140) 및 픽커 모듈(130)이 배치되는 위치를 기준으로 하부 상의 위치를 의미할 수 있으며, 이후 단계에서 상기 픽커 모듈(130)이 상기 역전상태의 상기 원장 패널(MP)을 상기 역전상태를 유지하면서 안정적으로 흡착할 수 있도록 할 수 있다.Here, the first position may mean a position on the lower side of the ledger panel MP in the reverse state based on a position at which the vacuum adsorption module 140 and the picker module 130 are disposed, and the picker The module 130 may stably adsorb the ledger panel MP in the inverted state while maintaining the inverted state.

도 15 및 도 16은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 하강되어 역전상태의 원장 패널을 흡착하는 상황을 설명하기 위한 도면이며, 도 17은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 원위치로 복귀되는 상황을 설명하기 위한 도면이다.15 and 16 are views for explaining a situation in which the picker module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention is lowered to adsorb the ledger panel in a reversed state, and FIG. 17 is a view showing a ledger panel transfer device according to the present invention. It is a diagram for explaining a situation in which the provided transfer module is returned to its original position.

도 15 및 도 16을 참조하면, 픽커 모듈(130)은 제3 위치에 위치한 상태에서 하강에 의해 진공흡착 모듈(140)을 통과한 후 제1 위치로 이동할 수 있으며, 이송 모듈(120)에 의해 상기 제1 위치로 이동된 역전상태의 원장 패널(MP)을 흡착(S50)할 수 있다.15 and 16, the picker module 130 may move to the first position after passing through the vacuum adsorption module 140 by descending from the position in the third position, and by the transfer module 120 The ledger panel MP in the reversed state moved to the first position may be adsorbed (S50).

상기 픽커 모듈(130)은 상기 원장 패널(MP)의 타면(SF2)을 균일하게 흡착하여 처짐을 방지하도록 서로 이격되어 배치되는 복수의 픽커 유닛(132)을 포함할 수 있다.The picker module 130 may include a plurality of picker units 132 spaced apart from each other to prevent sagging by uniformly adsorbing the other surface SF2 of the ledger panel MP.

상기 픽커 모듈(130)에 의해 상기 원장 패널(MP)이 흡착되면, 상기 이송 모듈(120)은 도 17에 도시된 바와 같이 흡착을 해제하여 상기 원장 패널(MP)로부터 분리되어 원위치로 위치 이동(S60)될 수 있다.When the ledger panel MP is adsorbed by the picker module 130, the transfer module 120 releases the adsorption as shown in FIG. 17 to be separated from the ledger panel MP and moved to its original position ( S60) can be.

원위치로 위치 이동된 상기 이송 모듈(120)은 다른 원장 패널에 구비되는 다른 디스플레이 패널을 검사하기 위해 동작할 수 있게 된다.The transfer module 120, which has been moved to its original position, can operate to inspect other display panels provided in other ledger panels.

도 18은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 제2 위치로 상승되는 상황을 설명하기 위한 도면이다.18 is a view for explaining a situation in which the picker module provided to the ledger panel transport apparatus according to the present invention is raised to a second position.

도 18을 참조하면, 픽커 모듈(130)은 역전상태의 원장 패널(MP)을 흡착한 후, 상승에 의해 제2 위치로 이동(S70)될 수 있으며, 이로 인해 진공흡착 모듈(140)은 상기 원장 패널(MP)을 흡착(S80)할 수 있게 된다.Referring to FIG. 18, after the picker module 130 adsorbs the ledger panel MP in a reversed state, it may be moved to a second position (S70) by ascending, whereby the vacuum adsorption module 140 is The ledger panel MP can be adsorbed (S80).

여기서, 상기 제2 위치는 상기 제1 위치를 기준으로 상기 픽커 모듈(130)에 의해 상기 진공흡착 모듈(140)까지 상승한 위치일 수 있으며, 상기 진공흡착 모듈(140)은 상기 픽커 모듈(130)에 의해 안정적으로 상기 원장 패널(MP)을 역전상태로 흡착할 수 있게 된다. Here, the second position may be a position raised to the vacuum adsorption module 140 by the picker module 130 based on the first position, and the vacuum adsorption module 140 is the picker module 130 As a result, it is possible to stably adsorb the ledger panel MP in a reversed state.

상기 진공흡착 모듈(140)은 상기 원장 패널(MP)을 흡착하기 위한 흡착패드 등의 복수의 흡착수단을 구비할 수 있다. The vacuum adsorption module 140 may include a plurality of adsorption means such as adsorption pads for adsorbing the ledger panel MP.

도 19는 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 제3 위치로 상승되는 상황을 설명하기 위한 도면이다.19 is a view for explaining a situation in which the picker module provided to the ledger panel transfer device according to the present invention is raised to a third position.

도 19를 참조하면, 제2 위치로 이동된 상기 원장 패널(MP)의 상기 타면(SF2)이 상기 진공흡착 모듈(140)에 의해 흡착되면, 픽커 모듈(130)은 흡착을 해제하여 상기 원장 패널(MP)로부터 분리된 후, 상승되어 상기 제3 위치로 복귀(S990)될 수 있다.Referring to FIG. 19, when the other surface SF2 of the ledger panel MP moved to the second position is adsorbed by the vacuum adsorption module 140, the picker module 130 releases the adsorption to release the ledger panel. After being separated from (MP), it may be raised and returned to the third position (S990).

이후에는 상기 진공흡착 모듈(140) 및 프로브 블록(PB)이 장착된 프로브 유닛(PU)을 포함하는 디스플레이 패널 검사 장치(200)와의 상호 작용에 의해 불량 여부에 대한 검사가 진행될 수 있다.Thereafter, a defect may be inspected by interaction with the display panel inspection apparatus 200 including the vacuum adsorption module 140 and the probe unit PU on which the probe block PB is mounted.

여기서, 상기 상호 작용은 진공흡착 모듈(140)이 위치 이동되어 원장 패널(MP)에 구비되는 디스플레이 패널(DP)의 전극 패드와 프로브 유닛(PU)의 프로브 블록(PB)의 접촉을 구현하여, 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 것을 의미할 수 있다.Here, in the interaction, the vacuum adsorption module 140 is moved to implement contact between the electrode pads of the display panel DP provided on the ledger panel MP and the probe block PB of the probe unit PU, This may mean that an inspection is performed on whether the display panel DP is defective.

이하에서는 디스플레이 패널 검사 장치(200)에 의해 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 과정 등을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, a process of inspecting whether the display panel DP is defective by the display panel inspection apparatus 200 will be described in detail.

4. 디스플레이 패널 검사 장치4. Display panel inspection device

도 20은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 디스플레이 패널 검사 장치를 설명하기 위한 도면이다.20 is a view for explaining a display panel inspection apparatus provided in a display panel inspection facility according to the present invention.

도 20을 참조하면, 디스플레이 패널 검사 장치(200)는 프로브 블록(PB)을 지지하는 프로브 유닛(PU) 및 상기 프로브 유닛(PU)이 위치 이동 가능하게 장착되는 지지 유닛(210) 등을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 20, the display panel inspection apparatus 200 includes a probe unit PU for supporting a probe block PB and a support unit 210 on which the probe unit PU is mounted so that the position is movable. I can.

상기 지지 유닛(210)은 일종의 판의 형상으로 형성되는 프레임일 수 있으며, 상기 프로브 유닛(PU)은 횡방향으로 배치된 복수의 제1 프로브 블록(PB1)을 지지하는 제1 프로브 유닛(PU1), 종방향으로 배치된 복수의 제2 프로브 블록(PB2)을 지지하는 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 횡방향으로 배치된 복수의 제3 프로브 블록(PB3)을 지지하는 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 종방향으로 배치된 복수의 제4 프로브 블록(PB4)을 지지하는 제4 프로브 유닛(PU4)을 포함할 수 있다.The support unit 210 may be a frame formed in the shape of a plate, and the probe unit PU is a first probe unit PU1 supporting a plurality of first probe blocks PB1 disposed in a horizontal direction. , A second probe unit PU2 supporting a plurality of second probe blocks PB2 disposed in a longitudinal direction, and a third probe unit PU3 supporting a plurality of third probe blocks PB3 disposed in the transverse direction. ) And a fourth probe unit PU4 supporting the plurality of fourth probe blocks PB4 disposed in the longitudinal direction.

여기서, 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4)은 상기 지지 유닛(210) 상에서 횡방향(D1, D2) 또는 종방향(D3, D4)으로 이동될 수 있으며, 상기 횡방향(D1, D2) 및 상기 종방향(D3, D4)으로의 이동을 통해 대각선 방향(D5)으로 이동된 결과를 얻을 수 있다.Here, the first probe unit (PU1), the second probe unit (PU2), the third probe unit (PU3) and the fourth probe unit (PU4) are on the support unit 210 in the transverse direction (D1, D2) or the longitudinal direction (D3, D4), the transverse direction (D1, D2) and the longitudinal direction (D3, D4) by moving in the diagonal direction (D5) can be obtained. have.

여기서, 상기 횡방향(D1, D2) 및 상기 종방향(D3, D4)은 디스플레이 패널(DP)의 형상과 대응되는 사각형을 형성하기 위한 방향일 수 있다.Here, the horizontal directions D1 and D2 and the vertical directions D3 and D4 may be directions for forming a square corresponding to the shape of the display panel DP.

또한, 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4)은 상기 지지 유닛(210) 상에서 대각선 방향(D5)으로 바로 이동될 수도 있다.In addition, the first probe unit (PU1), the second probe unit (PU2), the third probe unit (PU3) and the fourth probe unit (PU4) are in a diagonal direction (D5) on the support unit 210 You can also go directly to.

한편, 상기 복수의 제1 프로브 블록(PB1), 상기 복수의 제2 프로브 블록(PB2), 상기 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 복수의 제4 프로브 블록(PB4)은 각각 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 상에서 위치 이동 가능하게 장착될 수 있다.Meanwhile, the plurality of first probe blocks PB1, the plurality of second probe blocks PB2, the plurality of third probe blocks PB3, and the plurality of fourth probe blocks PB4 are respectively The probe unit PU1, the second probe unit PU2, the third probe unit PU3, and the fourth probe unit PU4 may be mounted so as to be movable in position.

상기와 같이 상기 지지 유닛(210) 상에서의 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및/또는 상기 제4 프로브 유닛(PU4)의 위치 이동과 상기 제1 프로브 유닛(PU1) 상에서의 상기 복수의 제1 프로브 블록(PB1)의 위치 이동, 상기 제2 프로브 유닛(PU2) 상에서의 상기 복수의 제2 프로브 블록(PB2)의 위치 이동, 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 상에서의 상기 복수의 제3 프로브 블록(PB3)의 위치 이동 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 상에서의 상기 복수의 제4 프로브 블록(PB4)의 위치 이동을 통해, 프로브 유닛의 교체 없이도 원장 패널(MP)에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널(DP) 각각에 대한 불량 여부에 대한 검사를 진행할 수 있게 되며, 또한, 원장 패널(MP)에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널(DP)의 배치 상태, 즉, 장변이 횡방향(D1, D2)으로 배치되던지 종방향(D3, D4)으로 배치되던지 상관없이 그에 맞게 적절하게 대응하여 검사를 진행할 수 있게 된다.Positions of the first probe unit PU1, the second probe unit PU2, the third probe unit PU3 and/or the fourth probe unit PU4 on the support unit 210 as described above Movement and position movement of the plurality of first probe blocks PB1 on the first probe unit PU1, position movement of the plurality of second probe blocks PB2 on the second probe unit PU2, Through position movement of the plurality of third probe blocks PB3 on the third probe unit PU3 and position movement of the plurality of fourth probe blocks PB4 on the fourth probe unit PU4, It is possible to inspect each display panel DP of various sizes included in the ledger panel MP for defects without replacing the probe unit, and also display panels of various sizes included in the ledger panel MP. Whether the (DP) is arranged, that is, the long sides are arranged in the transverse directions (D1, D2) or the longitudinal directions (D3, D4), it is possible to appropriately respond and conduct the inspection.

도 21 내지 도 27은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 진공흡착 모듈에 65인치의 디스플레이 패널과 55인치의 디스플레이 패널의 조합체인 피검사대상 원장 패널이 흡착되어 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 경우, 각각의 디스플레이 패널에 대한 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.21 to 27 show that the ledger panel to be inspected, which is a combination of a 65-inch display panel and a 55-inch display panel, is adsorbed to the vacuum adsorption module provided in the ledger panel transfer device according to the present invention, so that the inspection for defects proceeds If yes, this is a diagram for explaining an inspection method for each display panel.

우선, 진공흡착 모듈(140)에 역전 상태로 흡착된 원장 패널(MP)은, 디스플레이 패널(DP)이 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3) 3개와 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5) 2개가 형성된 혼합 타입인 것을 예로 들어 설명한다.First, the ledger panel (MP) adsorbed in the reversed state by the vacuum adsorption module 140 has three 65-inch display panels (DP1, DP2, DP3) and 2 55-inch display panels (DP4, DP5). An example of a mixed type with dogs will be described.

그리고, 각각의 디스플레이 패널은 상면의 모서리 영역 중 하나인 제1 모서리 영역을 따라 형성된 복수의 제1 전극 패드, 상기 상면의 모서리 영역 중 다른 하나인 제2 모서리 영역을 따라 형성된 복수의 제2 전극 패드, 상기 상면의 모서리 영역 중 또 다른 하나인 제3 모서리 영역을 따라 형성된 복수의 제3 전극 패드 및 상기 상면의 모서리 영역 중 또 다른 하나인 제4 모서리 영역을 따라 형성된 복수의 제4 전극 패드를 구비한다.In addition, each display panel includes a plurality of first electrode pads formed along a first corner region, which is one of the corner regions of the upper surface, and a plurality of second electrode pads formed along a second corner region, which is the other of the upper surface. And a plurality of third electrode pads formed along a third corner region, which is another one of the corner regions of the upper surface, and a plurality of fourth electrode pads formed along a fourth corner region, which is another one of the corner regions of the upper surface. do.

또한, 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3) 각각이 우선적으로 검사가 진행된 후, 검사가 완료되면 나머지 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5)에 대한 검사가 진행되는 경우를 예로 들어 설명한다.In addition, a case in which the 65-inch display panels DP1, DP2, and DP3 are inspected first, and then the remaining 55-inch display panels DP4 and DP5 are inspected when the inspection is completed.

도 21을 참조하면, 제1 프로브 유닛(PU1), 제2 프로브 유닛(PU2), 제3 프로브 유닛(PU3) 및 제1 프로브 유닛(PU1)은 상기 진공흡착 모듈(140) 상에 흡착된 원장 패널(MP)에 포함된 65인치의 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3)의 불량 여부를 검사하기 위해 지지 유닛(210) 상에서 위치 이동이 가능할 수 있다.Referring to FIG. 21, a first probe unit PU1, a second probe unit PU2, a third probe unit PU3, and a first probe unit PU1 are ledgers adsorbed on the vacuum adsorption module 140. In order to check whether the 65-inch display panels DP1, DP2, and DP3 included in the panel MP are defective, the position may be moved on the support unit 210.

다시 말하면, 65인치의 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각이 제1 프로브 유닛(PU1)의 복수의 제1 프로브 블록(PB1) 중 적어도 일부, 제2 프로브 유닛(PU2)의 복수의 제2 프로브 블록(PB2) 중 적어도 일부, 제3 프로브 유닛(PU3)의 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 중 적어도 일부 및 제4 프로브 유닛(PU4)의 복수의 제4 프로브 블록(PB4) 중 적어도 일부에 접촉되도록 하기 위해, 제1 프로브 유닛(PU1), 제2 프로브 유닛(PU2), 제3 프로브 유닛(PU3) 및 제1 프로브 유닛(PU1) 중 적어도 하나가 지지 유닛(210) 상에서 위치 이동될 수 있는 것이다.In other words, each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the 65-inch display panels DP1, DP2, and DP3 is a plurality of first probes of the first probe unit PU1. At least a part of the block PB1, at least a part of the plurality of second probe blocks PB2 of the second probe unit PU2, at least a part of the plurality of third probe blocks PB3 of the third probe unit PU3, and In order to contact at least a part of the plurality of fourth probe blocks PB4 of the fourth probe unit PU4, the first probe unit PU1, the second probe unit PU2, the third probe unit PU3, and At least one of the first probe units PU1 may be positioned on the support unit 210.

상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 중 적어도 하나는 대각선 방향(D5)으로 직접 이동되거나, 도면에 도시된 바와 같이 상기 횡방향(D1, D2) 및 상기 종방향(D3, D4)으로의 이동을 통해 상기 대각선 방향(D5)으로 이동될 수 있다.At least one of the first probe unit PU1, the second probe unit PU2, the third probe unit PU3, and the fourth probe unit PU4 is directly moved in the diagonal direction D5, or As shown in FIG. 2, it may be moved in the diagonal direction D5 through movement in the transverse directions D1 and D2 and the longitudinal directions D3 and D4.

여기서, 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 각각의 상기 지지 유닛(210) 상에서의 위치 이동은 리니어 모션 가이드, 모터, 볼스크류 및 볼 너트 등 다양한 구성요소를 이용하여 구현될 수 있으나, 이는 일 예에 불과할 뿐 다양한 공지의 이동 방식이 적용되어 구현될 수도 있다. Here, the positional movement of the first probe unit PU1, the second probe unit PU2, the third probe unit PU3, and the fourth probe unit PU4 on the support unit 210 respectively Although it may be implemented using various components such as a linear motion guide, a motor, a ball screw, and a ball nut, this is only an example and may be implemented by applying various known movement methods.

상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제1 프로브 유닛(PU1)은, 상기 복수의 제1 전극 패드, 상기 복수의 제2 전극 패드, 상기 복수의 제3 전극 패드 및 상기 복수의 제4 전극 패드 각각에 접촉되어야 하는 프로브 블록이 상기 복수의 제1 프로브 블록(PB1) 중 일부, 상기 복수의 제2 프로브 블록(PB2) 중 일부, 상기 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 중 일부 및 상기 복수의 제4 프로브 블록(PB4) 중 일부인 경우, 대각선 방향(D5)으로 직접 이동되거나 상기 횡방향(D1, D2) 및 상기 종방향(D3, D4)으로의 이동을 통해 상기 대각선 방향(D5)으로 이동될 수 있다.The first probe unit PU1, the second probe unit PU2, the third probe unit PU3, and the first probe unit PU1 may include the plurality of first electrode pads and the plurality of second probes. An electrode pad, a probe block to be in contact with each of the plurality of third electrode pads and the plurality of fourth electrode pads is partially among the plurality of first probe blocks PB1 and of the plurality of second probe blocks PB2 In some cases, some of the plurality of third probe blocks PB3 and some of the plurality of fourth probe blocks PB4 are directly moved in the diagonal direction D5 or the transverse directions D1 and D2 and the longitudinal direction It can be moved in the diagonal direction D5 through movement in (D3, D4).

이 경우, 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제1 프로브 유닛(PU1)은 바람개비 형상이 될 수 있다.In this case, the first probe unit PU1, the second probe unit PU2, the third probe unit PU3, and the first probe unit PU1 may have a pinwheel shape.

한편, 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제1 프로브 유닛(PU1)은, 상기 복수의 제1 전극 패드, 상기 복수의 제2 전극 패드, 상기 복수의 제3 전극 패드 및 상기 복수의 제4 전극 패드 각각에 접촉되어야 하는 프로브 블록이 상기 복수의 제1 프로브 블록(PB1) 중 전부, 상기 복수의 제2 프로브 블록(PB2) 중 전부, 상기 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 중 전부 및 상기 복수의 제4 프로브 블록(PB4) 중 전부인 경우라도, 상황에 따라서 대각선 방향(D5)으로 직접 이동되거나 상기 횡방향(D1, D2) 및 상기 종방향(D3, D4)으로의 이동을 통해 상기 대각선 방향(D5)으로 이동될 수 있다.On the other hand, the first probe unit (PU1), the second probe unit (PU2), the third probe unit (PU3) and the first probe unit (PU1), the plurality of first electrode pads, the plurality of All of the second electrode pads, the plurality of third electrode pads, and the probe blocks to be in contact with each of the plurality of fourth electrode pads are all of the plurality of first probe blocks PB1, and the plurality of second probe blocks PB2 ), all of the plurality of third probe blocks PB3, and all of the plurality of fourth probe blocks PB4 are directly moved in the diagonal direction D5 or the transverse direction D1, depending on the situation. D2) and may be moved in the diagonal direction D5 through movement in the longitudinal directions D3 and D4.

상기 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)은 각각 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 상에서 위치 이동될 수 있으며, 이동 방식에 대한 특별한 제한이 없다.The first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4 are respectively the first probe unit PU1 and the second probe. The position may be moved on the unit PU2, the third probe unit PU3, and the fourth probe unit PU4, and there is no particular limitation on a movement method.

상기와 같이, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(200)는 상기 프로브 유닛(PU) 및/또는 상기 프로브 블록(PB)의 위치 이동에 의해 상기 원장 패널(MP)에 형성된 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3) 및 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5) 모두를 프로브 유닛 및/또는 프로브 블록의 교체 없이 불량 여부에 대한 검사를 진행할 수 있으며, 이하에서 상세히 설명한다.As described above, the display panel inspection apparatus 200 according to the present invention includes a 65-inch display panel DP1 formed on the ledger panel MP by moving the position of the probe unit PU and/or the probe block PB. , DP2, DP3) and 55-inch display panels DP4, DP5 can be inspected for defects without replacing the probe unit and/or the probe block, which will be described in detail below.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(200)는 미도시된 감지유닛에 의해 진공흡착 모듈(140) 상에 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3) 3개와 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5) 2개가 형성된 원장 패널(MP)이 흡착되었음을 감지하게 된다.The display panel inspection apparatus 200 according to the present invention includes three 65-inch display panels DP1, DP2, and DP3 and two 55-inch display panels DP4 and DP5 on the vacuum adsorption module 140 by a sensing unit not shown. It is sensed that the ledger panel MP with dogs is adsorbed.

상기 감지유닛은 카메라 등을 이용한 촬상 유닛 및/또는 각종 센서 유닛 등을 포함할 수 있으며, 상기 원장 패널이 상기 진공흡착 모듈(140)에 흡착된 상태에서 상기 프로브 유닛(PU)이 배치된 위치로 이동되기 전 또는 이동되는 도중에 상기 원장 패널(MP)을 구성하는 디스플레이 패널(DP)의 크기 등을 감지하게 된다.The sensing unit may include an imaging unit and/or various sensor units using a camera, etc., and the ledger panel is adsorbed to the vacuum adsorption module 140 to a position where the probe unit (PU) is disposed. Before or during movement, the size of the display panel DP constituting the ledger panel MP is sensed.

상기 감지유닛에 의해 상기 원장 패널(MP)을 구성하는 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3, DP4, DP5)의 크기 및/또는 종류가 감지되면, 제어유닛에 의해 어떤 종류의 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3, DP4, DP5)을 먼저 검사할지를 결정하게 되며, 이하에서는 전술한 바와 같이 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3)이 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5)보다 우선적으로 검사 대상으로 결정된 상황을 예로 들어 설명한다.When the size and/or type of the display panels DP1, DP2, DP3, DP4, and DP5 constituting the ledger panel MP are detected by the detection unit, a certain type of display panel DP1, DP2 is detected by the control unit. , DP3, DP4, DP5) will be determined first, and as described above, 65-inch display panels (DP1, DP2, DP3) are determined to be inspected with priority over 55-inch display panels (DP4, DP5). It will be described with an example.

상기 제어유닛에 의해 원장 패널(MP)에 형성된 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3, DP4, DP5)의 크기 및/또는 종류가 감지되고, 감지된 디스플레이 패널 중 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3)을 우선적으로 검사하는 경우, 상기 제어유닛은 프로브 블록(PB)이 상기 65인치 디스플레이 패널(DP)에 구비된 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드와 접촉되어 전기적 접속이 가능하도록 프로브 유닛(PU) 및 프로브 블록(PB)을 위치 이동시킬 수 있다.The size and/or type of the display panels (DP1, DP2, DP3, DP4, DP5) formed on the ledger panel (MP) are detected by the control unit, and among the detected display panels, 65-inch display panels (DP1, DP2, DP3) are detected. ), the control unit contacts the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad provided on the 65-inch display panel DP with the probe block PB As a result, the probe unit PU and the probe block PB may be moved in position to enable electrical connection.

즉, 제1 프로브 유닛(PU1)은 순서에 상관 없는 제3 프로브 유닛(PU3)을 향한 방향인 종방향(D3, D4) 중 하측방향(D4)으로의 위치 이동 및 횡방향(D1, D2) 중 우측방향(D1)으로의 위치 이동을 통해, 결국, 대각선 방향(D5)으로 위치 이동될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 대각선 방향(D5)으로 직접 이동될 수도 있다.That is, the first probe unit PU1 is moved in the downward direction (D4) among the vertical directions (D3, D4) toward the third probe unit PU3 in any order and the horizontal direction (D1, D2). In the end, the position may be moved in the diagonal direction D5 through the movement in the right direction D1, but is not limited thereto, and may be directly moved in the diagonal direction D5.

이때, 복수의 제1 프로브 블록(PB1) 중 검사에 필요한 프로브 블록은 제1 프로브 유닛(PU1) 상에서 횡방향(D1, D2) 중 좌측방향(D2)을 향하여 위치 이동될 수 있으나, 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 도면에 도시된 바와 같이 위치 변화가 없을 수도 있다.At this time, the probe blocks required for inspection among the plurality of first probe blocks PB1 may be moved from the first probe unit PU1 toward the left direction D2 among the transverse directions D1 and D2. Depending on the arrangement of the electrode pads, there may be no position change as shown in the drawing.

또한, 제2 프로브 유닛(PU2)은 순서에 상관 없는 제4 프로브 유닛(PU4)을 향한 방향인 횡방향(D1, D2) 중 좌측방향(D2)으로의 위치 이동 및 종방향(D3, D4) 중 하측방향(D4)으로의 위치 이동을 통해, 결국, 대각선 방향(D5)으로 위치 이동되게 되나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 대각선 방향(D5)으로 직접 이동될 수도 있다.In addition, the second probe unit PU2 moves its position in the left direction D2 among the transverse directions D1 and D2, which are directions toward the fourth probe unit PU4 in any order, and the longitudinal directions D3 and D4. Through the movement of the position in the lower direction D4, the position is eventually moved in the diagonal direction D5, but is not limited thereto, and may be directly moved in the diagonal direction D5.

이때, 복수의 제2 프로브 블록(PB2) 중 검사에 필요한 프로브 블록은 제2 프로브 유닛(PU2) 상에서 종방향(D3, D4) 중 상측 방향(D3)으로 위치 이동될 수 있으나, 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 도면에 도시된 바와 같이 위치 변화가 없을 수도 있다.At this time, the probe block required for inspection among the plurality of second probe blocks PB2 may be moved in the upper direction D3 of the longitudinal directions D3 and D4 on the second probe unit PU2, but the electrode of the display panel Depending on the arrangement of the pads, there may be no change in position as shown in the drawings.

또한, 제3 프로브 유닛(PU3)은 순서에 상관 없는 제1 프로브 유닛(PU1)을 향한 방향인 종방향(D3, D4) 중 상측방향(D3)으로의 위치 이동 및 횡방향(D1, D2) 중 좌측방향(D2)으로의 위치 이동을 통해, 결국, 대각선 방향(D5)으로 위치 이동될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 대각선 방향(D5)으로 직접 이동될 수도 있다.In addition, the third probe unit PU3 moves its position in the upward direction D3 among the vertical directions D3 and D4, which are directions toward the first probe unit PU1 regardless of the order, and the transverse directions D1 and D2. Through the position movement in the left direction D2, the position may eventually be moved in the diagonal direction D5, but is not limited thereto, and may be moved directly in the diagonal direction D5.

이때, 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 중 검사에 필요한 프로브 블록은 제3 프로브 유닛(PU3) 상에서 횡방향(D1, D2) 중 우측방향(D1)으로 위치 이동될 수 있으나, 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 도면에 도시된 바와 같이 위치 변화가 없을 수도 있다.At this time, the probe block required for inspection among the plurality of third probe blocks PB3 may be moved in the right direction D1 among the transverse directions D1 and D2 on the third probe unit PU3, but the electrode of the display panel Depending on the arrangement of the pads, there may be no change in position as shown in the drawings.

또한, 제4 프로브 유닛(PU4)은 순서에 상관 없는 제2 프로브 유닛(PU2)을 향한 방향인 횡방향(D1, D2) 중 우측방향(D1)으로의 위치 이동 및 종방향(D3, D4) 중 상측방향(D3)으로의 위치 이동을 통해, 결국, 대각선 방향(D5)으로 위치 이동될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 대각선 방향(D5)으로 직접 이동될 수도 있다.In addition, the fourth probe unit PU4 moves its position in the right direction D1 among the transverse directions D1 and D2, which are directions toward the second probe unit PU2 regardless of the order, and the longitudinal directions D3 and D4. The position may be moved in the diagonal direction D5 through the movement in the upward direction D3, but is not limited thereto, and may be directly moved in the diagonal direction D5.

이때, 복수의 제4 프로브 블록(PB4) 중 검사에 필요한 프로브 블록은 제4 프로브 유닛(PU4) 상에서 종방향(D3, D4) 중 하측방향(D4)으로 위치 이동될 수 있으나, 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 도면에 도시된 바와 같이 위치 변화가 없을 수도 있다.At this time, the probe block required for inspection among the plurality of fourth probe blocks PB4 may be moved in a downward direction D4 among the longitudinal directions D3 and D4 on the fourth probe unit PU4, but the electrode of the display panel Depending on the arrangement of the pads, there may be no change in position as shown in the drawings.

결국, 상기 제1 프로브 유닛(110), 상기 제2 프로브 유닛(120), 상기 제3 프로브 유닛(130) 및 상기 제4 프로브 유닛(140)은 바람개비 형상이 되도록 위치 이동이 될 수 있는 것이다.As a result, the first probe unit 110, the second probe unit 120, the third probe unit 130, and the fourth probe unit 140 may be moved to have a pinwheel shape.

그리고, 검사에 필요한 상기 제1 프로브 블록(PB1) 및 상기 제3 프로브 블록(PB3)은 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 각각 상기 제1 프로브 유닛(PU1) 및 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 상에서 서로 반대 방향으로 위치 이동될 수 있으며, 검사에 필요한 상기 제2 프로브 블록(PB2) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)은 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 각각 상기 제2 프로브 유닛(PU2) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 상에서 서로 반대 방향으로 위치 이동될 수 있다.In addition, the first probe block PB1 and the third probe block PB3 required for inspection are respectively the first probe unit PU1 and the third probe unit PU3 according to the arrangement state of the electrode pads of the display panel. ) May be moved in opposite directions, and the second probe block PB2 and the fourth probe block PB4 required for inspection are each of the second probe units according to the arrangement state of the electrode pads of the display panel. Positions may be moved in opposite directions on PU2) and the fourth probe unit PU4.

물론, 전술한 바와 같이 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 상기 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)은 위치 변화가 없을 수도 있다.Of course, as described above, the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4 according to the arrangement state of the electrode pads of the display panel. ) May have no position change.

상기와 같은 프로브 유닛(PU)의 위치 이동 및 프로브 블록(PB)의 위치 이동에 의해 복수의 제1 프로브 블록(PB1) 중 일부, 복수의 제2 프로브 블록(PB2) 중 일부, 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 중 일부 및 복수의 제4 프로브 블록(PB4) 중 일부 각각은 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드와 대응되는 위치에 정확하게 배치되게 된다.Some of the plurality of first probe blocks PB1, some of the plurality of second probe blocks PB2, and the plurality of third probe blocks PB1 by the position movement of the probe unit PU and the position movement of the probe block PB as described above. A portion of the probe block PB3 and a portion of the plurality of fourth probe blocks PB4 are each of a first electrode pad, a second electrode pad, a third electrode pad, and a fourth electrode pad of the 65-inch display panels DP1, DP2, and DP3. It is accurately disposed at a position corresponding to the electrode pad.

상기 프로브 유닛(PU) 및 상기 프로브 블록(PB)의 위치 이동이 완료되면, 진공흡착 모듈(140)은 원장 패널(MP)을 구성하는 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각이 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 상부에 위치하도록 이동하게 된다.When the position movement of the probe unit PU and the probe block PB is completed, the vacuum adsorption module 140 is a first electrode pad of the first 65-inch display panel DP1 constituting the ledger panel MP. , A second electrode pad, a third electrode pad, and a fourth electrode pad, respectively, a first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4. ) Is moved to be located on the top.

여기서, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동은 직선 이동 및/또는 회전 이동 등을 포함할 수 있으며, 이외에 다양한 방식의 이동 방식이 적용될 수도 있다.Here, the positional movement of the vacuum adsorption module 140 may include linear movement and/or rotational movement, and various types of movement methods may be applied.

이로 인해, 검사가 필요한 디스플레이 패널(DP1)의 다양한 배치 상태를 구현할 수 있다.Accordingly, various arrangement states of the display panel DP1 requiring inspection can be implemented.

상기 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각이 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 상부에 위치하게 되면, 도 22에 도시된 바와 같이 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해, 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각은 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)에 접촉되어 전기적 접속이 구현되어, 상기 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.Each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the first 65-inch display panel DP1 is a first probe block PB1, the second probe block PB2, When positioned above the third probe block PB3 and the fourth probe block PB4, the first 65-inch display by moving the position of the vacuum adsorption module 140 as shown in FIG. 22 Each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the panel DP1 is a first probe block PB1, the second probe block PB2, and the third probe block PB3. ) And the fourth probe block PB4 to implement electrical connection, so that the first 65-inch display panel DP1 is inspected for defects.

한편, 상기 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB3)의 접촉이 해제되게 된다.On the other hand, when the first 65-inch display panel DP1 is inspected for defects, the first electrode pad of the first 65-inch display panel DP1 is moved through the position of the vacuum adsorption module 140. , Each of the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad, the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB3. ) Will be released.

이후에는 도 23에 도시된 바와 같이 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 두 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP2)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 구현되게 되어, 상기 두 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP2)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.Thereafter, as shown in FIG. 23, the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode of the second 65-inch display panel DP2 are moved by moving the position of the vacuum adsorption module 140. Each of the pads and the first probe block (PB1), the second probe block (PB2), the third probe block (PB3) and the fourth probe block (PB4) contact each other, the second 65 inches An inspection is performed on whether the display panel DP2 is defective.

상기 두 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP2)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 두 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP2)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 해제되게 된다.When the second 65-inch display panel DP2 is inspected for defects, the first electrode pad of the second 65-inch display panel DP2 and the first electrode pad of the second 65-inch display panel DP2 are moved through the movement of the vacuum adsorption module 140. Each of the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad, and the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4. Contact is released.

이후에는 도 24에 도시된 바와 같이 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 세 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP3)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 구현되게 되어, 상기 세 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP3)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.Thereafter, as shown in FIG. 24, the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode of the third 65-inch display panel DP3 are moved by moving the position of the vacuum adsorption module 140. Each pad and the first probe block (PB1), the second probe block (PB2), the third probe block (PB3) and the fourth probe block (PB4) contact with each other is implemented, the third 65 inches An inspection is performed on whether the display panel DP3 is defective.

상기 세 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP3)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 세 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP3)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 해제되게 된다.When the inspection for the defect of the third 65-inch display panel DP3 is completed, the first electrode pad of the third 65-inch display panel DP3 and the first electrode pad of the third 65-inch display panel DP3 are moved by moving the position of the vacuum absorption module 140. Each of the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad, and the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4. Contact is released.

이후에는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(200)에 의해 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5)의 불량 여부가 검사되도록, 상기 제어유닛은 도 25에 도시된 바와 같이 프로브 블록(PB1, PB2, PB3, PB4)이 상기 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5)에 구비된 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드와 접촉되어 전기적 접속이 가능하도록 프로브 유닛(PU1, PU2, PU3, PU4) 및 프로브 블록(PB1, PB2, PB3, PB4)을 위치 이동시킬 수 있다.Thereafter, the control unit includes probe blocks PB1, PB2 and PB3 as shown in FIG. 25 so that the 55-inch display panels DP4 and DP5 are inspected for defects by the display panel inspection apparatus 200 according to the present invention. , PB4) is in contact with the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad and the fourth electrode pad provided on the 55-inch display panels (DP4, DP5) to enable electrical connection to the probe units (PU1, PU2) , PU3, PU4) and probe blocks PB1, PB2, PB3, PB4 can be moved.

프로브 유닛(PU1, PU2, PU3, PU4)의 위치 이동 및 프로브 블록(PB1, PB2, PB3, PB4)의 위치 이동에 의해 상기 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4) 각각은 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드와 정확하게 대응되는 위치로 이동되게 된다.The first probe block PB1, the second probe block PB2, the first probe block PB1, the second probe block PB2, the position of the probe unit PU1, PU2, PU3, PU4 and the probe block PB1, PB2, PB3, PB4. Each of the third probe block PB3 and the fourth probe block PB4 accurately corresponds to the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the 55-inch display panels DP4 and DP5. Will be moved to the location that is.

상기 프로브 유닛(PU1, PU2, PU3, PU4) 및 상기 프로브 블록(PB1, PB2, PB3, PB4)의 위치 이동이 완료되면, 진공흡착 모듈(140)은 원장 패널(MP)을 구성하는 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각이 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 상부에 위치하도록 위치 이동하게 된다.When the position of the probe units (PU1, PU2, PU3, PU4) and the probe blocks (PB1, PB2, PB3, PB4) is completed, the vacuum adsorption module 140 is the first unit constituting the ledger panel (MP). Each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the 55-inch display panel DP4 is a first probe block PB1, the second probe block PB2, and the third probe. The position is moved to be positioned above the block PB3 and the fourth probe block PB4.

여기서, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동은 직선 이동 및/또는 회전 이동 등을 포함할 수 있으며, 이외에 다양한 방식의 이동 방식이 적용될 수도 있다.Here, the positional movement of the vacuum adsorption module 140 may include linear movement and/or rotational movement, and various types of movement methods may be applied.

상기 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각이 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 상부에 위치하게 되면, 도 26에 도시된 바와 같이 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각은 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)에 접촉되어 전기적 접속이 구현되어, 상기 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.Each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the first 55-inch display panel DP4 is a first probe block PB1, the second probe block PB2, When positioned above the third probe block PB3 and the fourth probe block PB4, the first 55-inch display panel is moved by moving the position of the vacuum adsorption module 140 as shown in FIG. 26. Each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad and the fourth electrode pad of the DP4 is a first probe block PB1, the second probe block PB2, and the third probe block PB3. And electrical connection is implemented by contacting the fourth probe block PB4, so that the first 55-inch display panel DP4 is inspected for defects.

한편, 상기 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 해제되게 된다.Meanwhile, when the first 55-inch display panel DP4 is inspected for defects, the first electrode pad of the first 55-inch display panel DP4 is moved through the movement of the vacuum adsorption module 140. , The second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad, respectively, and the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4. ) Will be released.

이후에는 도 27에 도시된 바와 같이 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 두 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP5)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 구현되게 되어, 상기 두 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP5)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.Thereafter, as shown in FIG. 27, the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode of the second 55-inch display panel DP5 are moved through the movement of the vacuum adsorption module 140. Each pad and the first probe block (PB1), the second probe block (PB2), the third probe block (PB3) and the fourth probe block (PB4) contact with each other is implemented, the second 55 inches An inspection is performed on whether the display panel DP5 is defective.

상기 두 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP5)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 두 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP5)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 해제되게 되며, 원장 패널에 포함된 모든 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3, DP4, DP5) 각각에 대한 불량 여부에 대한 검사가 완료되게 된다.When the second 55-inch display panel DP5 is inspected for defects, the first electrode pad of the second 55-inch display panel DP5 and the first electrode pad of the second 55-inch display panel DP5 are moved through the vacuum adsorption module 140. Each of the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad, and the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4. The contact is released, and the inspection for each of the display panels DP1, DP2, DP3, DP4, and DP5 included in the ledger panel is completed.

상기와 같이 하나의 원장 패널에 형성된 모든 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3, DP4, DP5)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 원장 패널(MP)은 다음 공정(예를 들어, 봉지 공정 등)을 위해 이동하게 되며, 다른 원장 패널에 대한 검사 공정은 반복적으로 진행되게 된다.When the inspection for defects of all display panels (DP1, DP2, DP3, DP4, DP5) formed on one ledger panel as above is completed, the ledger panel MP is subjected to the following process (e.g., sealing process, etc.) ), and the inspection process for other ledger panels is repeated.

도 28은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치에 의해 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되는 경우, 사용되지 않는 프로브 블록의 위치 이동을 설명하기 위한 도면이다.28 is a view for explaining a positional movement of an unused probe block when a display panel is inspected for defects by the display panel inspection apparatus according to the present invention.

도 28을 참조하면, 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 경우, 임의의 프로브 유닛 상의 복수의 프로브 블록 중 일부는 검사에 사용되지 않을 수 있다.Referring to FIG. 28, when an inspection is performed on whether a display panel is defective, some of the plurality of probe blocks on an arbitrary probe unit may not be used for inspection.

이하에서는 임의의 프로브 유닛 상의 복수의 프로브 블록 중 최외측에 위치한 프로브 블록(PBX) 만이 검사에 사용되지 않는 경우를 예로 들어 설명할 것이나, 검사에 사용되지 않는 프로브 블록이 복수인 경우에도 동일하게 적용 가능함을 밝혀둔다.Hereinafter, a case where only the outermost probe block (PBX) of the plurality of probe blocks on an arbitrary probe unit is not used for inspection will be described as an example, but the same applies even when there are a plurality of probe blocks not used for inspection. Make it possible.

특정 크기의 디스플레이 패널을 검사하는 경우, 임의의 프로브 유닛 상의 복수의 프로브 블록 중 복수의 전극 패드에 접촉되어야 하는 프로브 블록이 일부인 경우, 상기 복수의 프로브 블록 중 나머지 프로브 블록(PBX)은, 상기 복수의 프로브 블록 중 상기 일부의 프로브 블록이 상기 복수의 전극 패드에 접촉되어 상기 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 디스플레이 패널 이외의 상기 원장 패널 상의 다른 디스플레이 패널과의 접촉이 방지되도록, 위치 이동될 수 있다.In the case of inspecting a display panel of a specific size, if some of the probe blocks on an arbitrary probe unit are in contact with a plurality of electrode pads, the remaining probe blocks PBX among the plurality of probe blocks are Some of the probe blocks of the probe blocks may be moved to prevent contact with other display panels on the ledger panel other than the display panel on which the inspection for the defect is performed by contacting the plurality of electrode pads. .

구체적으로, 프로브 블록(PBX)은 상기 프로브 유닛(PU)에 장착되는 프로브 바디부(PBX1), 및 상부 또는 하부를 향하여 위치 이동 가능하게 상기 프로브 바디(PBX1)에 장착되고 프로브를 구비하는 프로브 가변부(PBX2)를 구비할 수 있으며, 상기 프로브 가변부(PBX2)는 상기 나머지 프로브 블록에 해당되는 경우, 상기 프로브 바디부(PBX1)로부터 하부를 향하여 이동되어, 상기 원장 패널 상의 다른 디스플레이 패널과의 접촉이 방지될 수 있다.Specifically, the probe block PBX is a probe body portion PBX1 mounted on the probe unit PU, and a variable probe mounted on the probe body PBX1 so as to be movable toward an upper or lower portion and having a probe. A part PBX2 may be provided, and when the probe variable part PBX2 corresponds to the remaining probe block, the probe variable part PBX2 is moved downward from the probe body part PBX1 to meet the other display panel on the ledger panel. Contact can be prevented.

여기서, 상기 프로브 바디부(PBX1) 상에서의 상기 프로브 가변부(PBX2)의 위치 이동 방법은 액추에이터 등의 구동 방법이 적용될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 공지의 구동 방법이 모두 적용될 수 있다.Here, the method of moving the position of the probe variable part PBX2 on the probe body part PBX1 may be a driving method such as an actuator, but is not necessarily limited thereto, and all known driving methods may be applied.

상기에서는 본 발명에 따른 실시예를 기준으로 본 발명의 구성과 특징을 설명하였으나 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 사상과 범위 내에서 다양하게 변경 또는 변형할 수 있음은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게 명백한 것이며, 따라서 이와 같은 변경 또는 변형은 첨부된 특허청구범위에 속함을 밝혀둔다.In the above, the configuration and features of the present invention have been described based on the embodiments according to the present invention, but the present invention is not limited thereto, and various changes or modifications can be made within the spirit and scope of the present invention. It will be apparent to those skilled in the art, and therefore, such changes or modifications are found to belong to the appended claims.

100: 원장 패널 이송 장치
110: 스테이지 모듈
120: 이송 모듈
130: 픽커 모듈
140: 진공흡착 모듈
200: 디스플레이 패널 검사 장치
300: 제1 공간부
400: 제2 공간부
1000: 디스플레이 패널 검사 설비
1100: 검사 공정 준비 설비
1200: 검사 공정 진행 설비
100: ledger panel transfer device
110: stage module
120: transfer module
130: picker module
140: vacuum adsorption module
200: display panel inspection device
300: first space portion
400: second space portion
1000: display panel inspection facility
1100: Inspection process preparation facility
1200: inspection process progress equipment

Claims (1)

원장 패널 - 상기 원장 패널의 일면은 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착된 적어도 한 종류 이상의 디스플레이 패널이 구비됨 - 의 일면이 상부를 향한 정상상태로 상기 원장 패널의 타면이 스테이지 모듈에 흡착되면, 상기 스테이지 모듈은 회전되어 상기 원장 패널이 상기 정상상태에서 상기 일면이 하부를 향한 상태인 역전상태가 되도록 한 후, 이송 모듈이 상기 역전상태의 상기 원장 패널을 전달 받아 상기 역전 상태를 유지하면서 차회 공정을 위한 설비로 상기 원장 패널을 이동시키기 위한 검사 공정 준비 설비; 및
상기 이송 모듈에 의해 진입한 상기 원장 패널의 타면을 픽커 모듈이 흡착한 후, 상기 픽커 모듈의 위치 이동을 통해 진공흡착 모듈이 상기 역전상태의 상기 원장 패널을 흡착하면, 상기 진공흡착 모듈의 위치 이동을 통해 상기 디스플레이 패널의 전극 패드가 프로브 유닛의 프로브 블록에 접촉되도록 하여, 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사가 진행되기 위한 검사 공정 진행 설비;를 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 설비.
Ledger panel-One side of the ledger panel is provided with at least one kind of display panel on which an organic material layer for forming an organic light emitting layer is deposited-When the other side of the ledger panel is adsorbed to the stage module with one side of the ledger panel facing upward, the The stage module is rotated so that the ledger panel is in a reversing state in which the one side faces downward in the normal state, and then the transfer module receives the ledger panel in the reversing state and performs the next process while maintaining the reversing state An inspection process preparation facility for moving the ledger panel to a facility for; And
After the picker module adsorbs the other surface of the ledger panel entered by the transfer module, when the vacuum adsorption module adsorbs the ledger panel in the inverted state through position movement of the picker module, the position of the vacuum adsorption module moves And a facility for performing an inspection process for inspecting whether the display panel is defective by allowing the electrode pads of the display panel to contact the probe block of the probe unit.
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