KR102154767B1 - Display panel inspecting apparatus - Google Patents

Display panel inspecting apparatus Download PDF

Info

Publication number
KR102154767B1
KR102154767B1 KR1020190058693A KR20190058693A KR102154767B1 KR 102154767 B1 KR102154767 B1 KR 102154767B1 KR 1020190058693 A KR1020190058693 A KR 1020190058693A KR 20190058693 A KR20190058693 A KR 20190058693A KR 102154767 B1 KR102154767 B1 KR 102154767B1
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
test
module
display panel
test substrate
mounting
Prior art date
Application number
KR1020190058693A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
이동인
천영민
Original Assignee
우리마이크론(주)
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 우리마이크론(주) filed Critical 우리마이크론(주)
Priority to KR1020190058693A priority Critical patent/KR102154767B1/en
Application granted granted Critical
Publication of KR102154767B1 publication Critical patent/KR102154767B1/en

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
    • G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
    • G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
    • G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/282—Testing of electronic circuits specially adapted for particular applications not provided for elsewhere
    • H01L51/0031—
    • H—ELECTRICITY
    • H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
    • H10K71/70—Testing, e.g. accelerated lifetime tests

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Devices For Indicating Variable Information By Combining Individual Elements (AREA)

Abstract

According to an embodiment of the present invention, a display panel inspection device includes: a stage module on which a mother panel including a display panel requiring inspection for defects is mounted; a test module in which a test substrate for inspecting the defects of the display panel moved from a seating position to an inspection position by moving the stage module; a mounting module for mounting the test substrate before the test board is mounted on the test module; and the mounting module for receiving the test substrate mounted on the mounting module and mounting the test substrate on the test module. In the stage module, the size of the mother panel to be formed in a predetermined size and seated is defined. The display panel included in the mother panel includes a first display panel of a first size and a second display panel of a second size which are required for inspection in order to increase chamfering efficiency of the mother panel. The test module includes: a first test module on which a first test substrate is mounted for inspecting whether the first display panel is defective; and a second test module on which a second test substrate is mounted for inspecting whether the second display panel is defective. The present invention provides the display panel inspection device which enables inspection of defects on all of various types of display panels to proceed without replacing the test substrate.

Description

디스플레이 패널 검사 장치{Display panel inspecting apparatus}Display panel inspecting apparatus

본 발명은 디스플레이 패널 검사 장치에 대한 것으로, 더욱 상세하게는 다양한 크기의 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사할 수 있도록 하여, 검사의 효율성이 향상된 디스플레이 패널 검사 장치에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus for inspecting a display panel, and more particularly, to an apparatus for inspecting a display panel with improved inspection efficiency by enabling inspection of defects in display panels of various sizes.

평판 디스플레이 장치로서 사용되는 유기 발광 다이오드(OLED)는 시야각이 넓고 콘트라스트가 우수한 동시에 응답 속도가 빠르다는 장점을 지니고 있어, 최근 스마트폰, 텔레비젼 등에 널리 사용되고 있다.Organic light-emitting diodes (OLEDs) used as flat panel display devices have the advantage of having a wide viewing angle, excellent contrast, and fast response speed, and are thus widely used in smartphones and televisions.

유기 발광 다이오드(OLED)는 기판이 되는 패널 상에 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착되게 되며, 이로 인하여 전기적 신호에 의해 빛과 색을 내게 되는 픽셀이 구현되게 된다.In the organic light-emitting diode (OLED), an organic material layer for forming an organic light-emitting layer is deposited on a panel serving as a substrate, and thus, a pixel that emits light and color by an electrical signal is implemented.

여기서, 증착에 의해 패널 상에 유기물층이 형성되어 픽셀이 구현되게 되면, 봉지 공정 이전에 픽셀의 불량 여부에 대한 검사가 진행되어야 한다.Here, when an organic material layer is formed on the panel by evaporation to implement a pixel, an inspection for a defective pixel must be performed before the encapsulation process.

픽셀의 불량 여부를 검사하기 위한 종래의 디스플레이 패널 검사 장치는, 먼저, 검사가 필요한 디스플레이 글래스를 스테이지 모듈 상에 거치하고, 테스트를 수행하는 테스트 모듈 측으로 스테이지 모듈을 이송시킨 후, 스테이지 모듈 또는 테스트 모듈을 이동시켜 디스플레이 패널의 전극 패드와 테스트 모듈에 구비되는 프로브가 접촉되도록 한다.In a conventional display panel inspection apparatus for inspecting whether a pixel is defective, first, a display glass that needs to be inspected is mounted on a stage module, and the stage module is transferred to a test module that performs a test, and then the stage module or test module By moving the electrode pads of the display panel and the probes provided in the test module to contact each other.

전극 패드와 프로브가 접촉되면, 서로 전기적으로 연결되고 테스트를 위한 신호를 송출시켜 픽셀의 불량 여부에 대한 검사를 수행하게 된다.When the electrode pads and the probes come into contact, they are electrically connected to each other, and a test signal is transmitted to perform an inspection for a defective pixel.

여기서, 종래의 디스플레이 패널 검사 장치는 하기와 같은 문제가 발생된다. Here, in the conventional display panel inspection apparatus, the following problems occur.

즉, 테스트 모듈에는 한 종류의 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 테스트 기판이 장착될 수 밖에 없으며, 이로 인해 검사가 필요한 디스플레이 패널의 종류가 달라지는 경우, 필연적으로 테스트 모듈에 장착되는 테스트 기판을 교체할 필요가 있다.In other words, the test module has to be equipped with a test board to check whether one type of display panel is defective, and if the type of display panel required for inspection is changed due to this, inevitably, the test board mounted on the test module is replaced. Needs to be.

테스트 기판의 교체 작업은 작업자에 의해 수동으로 이루어지는 것이 일반적이며, 이에 따라 교체 작업에 소요되는 시간이 길어져 수율이 떨어지는 문제가 있다.In general, the replacement work of the test board is performed manually by an operator, and accordingly, there is a problem that the time required for the replacement work is lengthened and the yield is lowered.

뿐만 아니라, 테스트 기판의 교체 시 작업자가 부상 또는 감전되는 경우가 종종 발생하는 문제가 있었다.In addition, there is a problem that the operator is often injured or electric shocked when replacing the test board.

상기와 같은 문제를 해결하고자 자동으로 테스트 기판을 교체하는 기술에 대한 연구가 진행되고 있으나, 아직까지는 검사의 효율성 측면에서 만족할 만한 결과를 얻고 있지 못하는 실정이다.In order to solve the above problems, research on a technology for automatically replacing a test board is being conducted, but a satisfactory result has not yet been obtained in terms of inspection efficiency.

본 발명의 목적은 디스플레이 패널의 검사의 효율성을 극대화하기 위해 소정의 크기로 형성되는 스테이지 모듈 상에 크기로 정의되는 다양한 종류의 디스플레이 패널의 집합체인 원장 패널이 안착되되, 안착된 원장 패널에 포함된 다양한 종류의 디스플레이 패널 모두에 대한 불량 여부 검사가 테스트 기판의 교체 없이 진행되도록 하는 디스플레이 패널 검사 장치를 제공하는 것이다.An object of the present invention is to mount a ledger panel, which is an assembly of various types of display panels defined by size, on a stage module formed in a predetermined size to maximize the efficiency of inspection of the display panel, but included in the mounted ledger panel. It is to provide a display panel inspection apparatus that allows inspection of defects on all of various types of display panels to proceed without replacement of a test substrate.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치는, 불량 여부에 대한 검사가 필요한 디스플레이 패널을 포함하는 원장 패널이 안착되는 스테이지 모듈; 상기 스테이지 모듈의 위치 이동에 의해 안착위치에서 검사위치로 이동된 상기 디스플레이 패널의 상기 불량 여부를 검사하기 위한 테스트 기판이 장착되는 테스트 모듈; 상기 테스트 모듈에 상기 테스트 기판이 장착되기 전에 상기 테스트 기판을 거치하기 위한 거치 모듈; 및 상기 거치 모듈에 거치된 상기 테스트 기판을 전달 받아 상기 상기 테스트 모듈에 장착하기 위한 장착 모듈;을 포함하며, 상기 스테이지 모듈은, 소정의 크기로 형성되어 안착되는 상기 원장 패널의 크기가 규정되며, 상기 원장 패널에 포함된 상기 디스플레이 패널은, 상기 원장 패널의 면취효율을 증대시키기 위해 검사가 필요한 제1 크기의 제1 디스플레이 패널과 제2 크기의 제2 디스플레이 패널을 포함하며, 상기 테스트 모듈은, 상기 제1 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 제1 테스트 기판이 장착된 제1 테스트 모듈과 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 제2 테스트 기판이 장착된 제2 테스트 모듈을 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.A display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention includes: a stage module in which a ledger panel including a display panel requiring inspection for defects is mounted; A test module in which a test substrate for inspecting the defects of the display panel moved from a seating position to an inspection position due to a positional movement of the stage module is mounted; A mounting module for mounting the test board before the test board is mounted on the test module; And a mounting module for receiving the test substrate mounted on the mounting module and mounting it on the test module, wherein the stage module has a predetermined size and a size of the ledger panel mounted thereon is defined, The display panel included in the ledger panel includes a first display panel having a first size and a second display panel having a second size that need to be inspected to increase chamfering efficiency of the ledger panel, and the test module, Including a first test module equipped with a first test substrate for inspecting whether the first display panel is defective, and a second test module equipped with a second test substrate for inspecting whether the second display panel is defective. It can be characterized.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치의 상기 제1 테스트 기판 및 상기 제2 테스트 기판은, 상기 거치모듈에 거치된 상태에서 상기 장착 모듈에 의해 각각 상기 제1 테스트 모듈 및 상기 제2 테스트 모듈에 장착되며, 상기 스테이지 모듈은, 상기 제1 테스트 모듈과 대응되는 위치 및 상기 제2 테스트 모듈과 대응되는 위치를 향해 선택적으로 이동되어, 상기 제1 테스트 기판에 의한 상기 제1 디스플레이 패널의 불량 여부 및 상기 제2 테스트 기판에 의한 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되도록 하는 것을 특징으로 할 수 있다.The first test substrate and the second test substrate of the display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, respectively, by the mounting module in a state mounted on the mounting module, the first test module and the second test It is mounted on the module, and the stage module is selectively moved toward a position corresponding to the first test module and a position corresponding to the second test module, and the first display panel is defective due to the first test substrate. It may be characterized in that the inspection is performed to determine whether the second display panel is defective by the second test substrate.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치의 상기 스테이지 모듈은, 상기 제1 테스트 모듈과 대응되는 위치 및 상기 제2 테스트 모듈과 대응되는 위치로 순차적으로 이동되어, 상기 제1 테스트 기판에 의한 상기 제1 디스플레이 패널의 불량 여부 및 상기 제2 테스트 기판에 의한 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부가 순차적으로 검사되도록 하는 것을 특징으로 할 수 있다.The stage module of the display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention is sequentially moved to a position corresponding to the first test module and a position corresponding to the second test module, and The first display panel may be sequentially inspected for defects of the first display panel and the second display panel by the second test substrate.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치의 상기 스테이지 모듈은, 상기 테스트 모듈에 장착된 테스트 기판의 교체 없이, 위치 이동 또는 회전 이동에 의해 상기 제1 디스플레이 패널 및 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되도록 하는 것을 특징으로 할 수 있다.In the stage module of the display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, defects of the first display panel and the second display panel by positional movement or rotational movement without replacement of the test substrate mounted on the test module It may be characterized in that it is checked whether or not.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치의 상기 거치 모듈은, 제3 크기의 제3 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 제3 테스트 기판을 거치하며, 상기 장착 모듈은, 상기 원장 패널이 제3 크기의 제3 디스플레이 패널을 포함하는 경우, The mounting module of the display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention mounts a third test substrate for testing whether a third display panel of a third size is defective, and the mounting module includes the ledger panel In the case of including a third display panel of a third size,

상기 제1 테스트 모듈에 장착된 상기 제1 테스트 기판에 의한 상기 제1 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사 및 상기 제2 테스트 모듈에 장착된 상기 제2 테스트 기판에 의한 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사 중 적어도 하나가 완료되면, Inspecting whether the first display panel is defective by the first test substrate mounted on the first test module and whether the second display panel is defective by the second test substrate mounted on the second test module When at least one of the tests for is completed,

완료에 사용된 테스트 모듈에 장착된 테스트 기판을 전달받아 상기 거치 모듈로 거치하고, 상기 거치 모듈에 거치된 상기 제3 테스트 기판을 전달 받아 상기 완료에 사용된 테스트 모듈에 장착하여, 상기 스테이지 모듈의 위치 이동 또는 회전 이동에 의해 상기 제3 테스트 기판에 의한 상기 제3 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되도록 하는 것을 특징으로 할 수 있다.The test board mounted on the test module used for completion is received and mounted on the mounting module, and the third test board mounted on the mounting module is received and mounted on the test module used for completion. The third display panel may be inspected for defects by the third test substrate by positional movement or rotational movement.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치의 상기 제1 테스트 모듈 및 상기 제2 테스트 모듈 중 적어도 하나는, 상하방향으로의 이동 또는 틸팅이 가능하여, 임의의 디스플레이 패널의 상기 불량 여부를 검사하는데 필요한 상기 스테이지 모듈의 이동 시, 다른 디스플레이 패널과의 간섭이 방지되도록 하는 것을 특징으로 할 수 있다.At least one of the first test module and the second test module of the display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention can be moved or tilted in an up-down direction, and thus inspects whether or not a display panel is defective. When the stage module is moved, it may be characterized in that interference with other display panels is prevented.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치의 상기 스테이지 모듈은, 상기 제1 디스플레이 패널의 전극 패드 배열 라인이 상기 제1 테스트 모듈에 장착된 상기 제1 테스트 기판의 제1 프로브 라인과 대응되지 않거나, 상기 제2 디스플레이 패널의 전극 패드 배열 라인이 상기 제2 테스트 모듈에 장착된 상기 제2 테스트 기판의 제2 프로브 라인과 대응되지 않는 경우, 불량 검사를 위한 프로브와 전극 패드의 접촉을 위해, 회전 이동이 가능한 것을 특징으로 할 수 있다.In the stage module of the display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, the electrode pad array line of the first display panel does not correspond to the first probe line of the first test substrate mounted on the first test module. Or, when the electrode pad array line of the second display panel does not correspond to the second probe line of the second test substrate mounted on the second test module, for contact between the probe and the electrode pad for defect inspection, It may be characterized in that rotational movement is possible.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치는, 상기 테스트 모듈에 장착된 상기 테스트 기판에 전류를 인가하기 위한 전원인가부;를 더 포함하며, 상기 전원인가부는, 상기 제1 테스트 모듈에 장착된 상기 제1 테스트 기판에 의한 상기 제1 디스플레이 패널의 불량 여부 검사의 진행 및 상기 제2 테스트 모듈에 장착된 상기 제2 테스트 기판에 의한 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부 검사의 진행에 대응되어 필요한 테스트 기판에 전류의 인가가 구현되도록, 위치 이동 가능한 것을 특징으로 할 수 있다.The display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention further includes a power applying unit for applying a current to the test substrate mounted on the test module, wherein the power applying unit is mounted on the first test module It is necessary in response to the progress of the inspection for defects of the first display panel by the first test substrate and the progress of the inspection for defects of the second display panel by the second test substrate mounted on the second test module. It may be characterized in that the position is movable so that the application of current to the test substrate is implemented.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치에 의하면, 소정의 크기로 형성되는 스테이지 모듈 상에 크기로 정의되는 다양한 종류의 디스플레이 패널의 집합체인 원장 패널이 안착되되, 안착된 원장 패널에 포함된 다양한 종류의 디스플레이 패널에 대한 검사가 테스트 기판의 교체 없이 진행되도록 하여 검사의 효율성을 향상시킬 수 있다.According to the display panel inspection apparatus according to the present invention, a ledger panel, which is an assembly of various types of display panels defined by size, is mounted on a stage module formed in a predetermined size, but various types of displays included in the mounted ledger panel It is possible to improve the efficiency of the inspection by allowing the inspection of the panel to proceed without replacing the test board.

또한, 스테이지 모듈 상에 안착되는 원장 패널의 배치 상태, 즉, 디스플레이 패널의 배치 상태와 무관하게 불량 여부에 대한 검사가 진행될 수 있도록 하여 검사의 효율성을 더욱 증대시킬 수 있다.In addition, it is possible to further increase the efficiency of the inspection by allowing the inspection for defects to proceed regardless of the arrangement state of the ledger panel mounted on the stage module, that is, the arrangement state of the display panel.

또한, 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사 진행 시, 검사에 사용되지 않는 프로브와의 간섭을 방지하여, 검사의 정확성을 향상시킬 수 있다.In addition, when a display panel is inspected for defects, interference with probes not used for inspection can be prevented, thereby improving inspection accuracy.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치를 도시한 도면.
도 2는 도 1에 도시된 스테이지 모듈 상에 안착될 수 있는 원장 패널에 포함된 디스플레이 패널의 조합에 대한 다양한 실시예를 설명하기 위한 도면.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치에 제공되는 장착 모듈을 설명하기 위한 도면.
도 4 내지 도 9는 도 1에 도시된 스테이지 모듈 상에 65인치의 디스플레이 패널과 55인치의 디스플레이 패널의 조합체인 피검사대상 원장 패널이 안착되어 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 경우, 검사에 필요한 테스트 기판이 테스트 모듈에 장착되는 과정을 설명하기 위한 도면.
도 10 내지 도 14는 도 1에 도시된 스테이지 모듈 상에 65인치의 디스플레이 패널과 55인치의 디스플레이 패널의 조합체인 피검사대상 원장 패널이 안착되어 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 과정을 설명하기 위한 도면.1 is a view showing a display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
FIG. 2 is a diagram for describing various embodiments of a combination of a display panel included in a ledger panel that can be mounted on a stage module illustrated in FIG. 1.
3 is a view for explaining a mounting module provided in the display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
4 to 9 are necessary for inspection when a ledger panel to be inspected, which is a combination of a 65-inch display panel and a 55-inch display panel, is mounted on the stage module shown in FIG. A diagram for explaining a process in which a test board is mounted on a test module.
10 to 14 are for explaining a process in which a ledger panel to be inspected, which is a combination of a 65-inch display panel and a 55-inch display panel, is mounted on the stage module shown in FIG. drawing.

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시예를 상세하게 설명한다. 다만, 본 발명의 사상은 제시되는 실시예에 제한되지 아니하고, 본 발명의 사상을 이해하는 당업자는 동일한 사상의 범위 내에서 다른 구성요소를 추가, 변경, 삭제 등을 통하여, 퇴보적인 다른 발명이나 본 발명 사상의 범위 내에 포함되는 다른 실시예를 용이하게 제안할 수 있을 것이나, 이 또한 본원 발명 사상 범위 내에 포함된다고 할 것이다. Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. However, the spirit of the present invention is not limited to the presented embodiments, and those skilled in the art who understand the spirit of the present invention can add, change, or delete other elements within the scope of the same idea. Other embodiments included within the scope of the inventive concept may be easily proposed, but it will be said that this is also included within the scope of the inventive concept.

또한, 각 실시예의 도면에 나타나는 동일한 사상의 범위 내의 기능이 동일한 구성요소는 동일한 참조부호를 사용하여 설명한다.In addition, components having the same function within the scope of the same idea shown in the drawings of each embodiment will be described with the same reference numerals.

도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치를 도시한 도면이며, 도 2는 도 1에 도시된 스테이지 모듈 상에 안착될 수 있는 원장 패널에 포함된 디스플레이 패널의 조합에 대한 다양한 실시예를 설명하기 위한 도면이다.1 is a diagram showing a display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a variety of implementations of combinations of display panels included in a ledger panel that can be mounted on the stage module shown in FIG. It is a figure for explaining an example.

도 1을 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(10)는 기판이 되는 글라스 등의 패널 상에 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착되어 픽셀이 구현된 디스플레이 패널의 픽셀 불량 여부에 대한 검사를 진행하기 위한 장치로, 봉지 공정 이전의 검사 공정을 위한 장치일 수 있다.Referring to FIG. 1, in the display panel inspection apparatus 10 according to an embodiment of the present invention, whether an organic material layer for forming an organic light-emitting layer is deposited on a panel such as glass as a substrate to determine whether a pixel is defective in a display panel. As an apparatus for performing an inspection on, it may be an apparatus for an inspection process before the sealing process.

상기 디스플레이 패널 검사 장치(10)는 스테이지 모듈(100), 테스트 모듈(200), 거치 모듈(300) 및 장착 모듈(400) 등을 포함할 수 있다.The display panel inspection apparatus 10 may include a stage module 100, a test module 200, a mounting module 300, a mounting module 400, and the like.

상기 스테이지 모듈(100)은 불량 여부에 대한 검사가 필요한 디스플레이 패널을 포함하는 원장 패널이 안착되는 모듈로, 소정의 크기로 형성되어 안착되는 상기 원장 패널의 크기가 규정될 수 있다.The stage module 100 is a module on which a ledger panel including a display panel that needs to be inspected for defects is mounted, and the size of the ledger panel to be formed and mounted in a predetermined size may be defined.

상기 원장 패널은 상기 스테이지 모듈(100)의 크기에 종속적으로 크기가 결정될 수 있으며, 상기 원장 패널은 빈공간을 최소화하여 불량 검사에 대한 효율성을 증대시키기 위해, 즉, 면취효율을 증대시키기 위해 동일 크기의 디스플레이 패널이 복수개 존재하는 단일 타입 또는 다양한 크기의 디스플레이 패널이 혼합되어 형성되는 혼합 타입일 수 있다.The ledger panel may be determined in size depending on the size of the stage module 100, and the ledger panel may be the same size to increase efficiency for defect inspection by minimizing empty space, that is, to increase chamfering efficiency. It may be a single type in which a plurality of display panels are present, or a mixed type formed by mixing display panels of various sizes.

예를 들어, 상기 원장 패널은 도 2(a)에 도시된 바와 같이 98인치 디스플레이 패널 2개의 혼합 타입, 도 2(b)에 도시된 바와 같이65인치 디스플레이 패널 3개와 32인치 디스플레이 패널 6개의 혼합 타입, 도 2(c)에 도시된 바와 같이 32인치 디스플레이 패널 18개의 단일 타입, 도 2(d)에 도시된 바와 같이 75인치 디스플레이 패널 2개와 31.5인치 디스플레이 패널 5개의 혼합 타입 및 도 2(e)에 도시된 바와 같이 65인치 디스플레이 패널 3개와 55인치 디스플레이 패널 2개의 혼합 타입일 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 다양한 크기의 디스플레이 패널의 혼합 타입이 적용된 패널일 수 있다.For example, the ledger panel is a mixed type of two 98-inch display panels as shown in Fig. 2(a), and three 65-inch display panels and six 32-inch display panels as shown in Fig. 2(b) Type, a single type of 18 32-inch display panels as shown in Fig. 2(c), a mixed type of two 75-inch display panels and 5 31.5-inch display panels as shown in Fig. 2(d), and Fig. 2(e) ), a mixed type of three 65-inch display panels and two 55-inch display panels may be used, but the present invention is not limited thereto, and a mixed type of display panels of various sizes may be applied.

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(10)는 전술한 다양한 조합의 혼합 타입의 원장 패널에 포함된 모든 디스플레이 패널의 각각에 대한 불량 여부를 검사할 수 있으며, 이하에서는 원장 패널이 65인치 디스플레이 패널 3개와 55인치 디스플레이 패널 2개가 형성된 혼합 타입인 경우를 대표적인 예로 들어 설명한다.The display panel inspection apparatus 10 according to an embodiment of the present invention may inspect whether all display panels included in the mixed-type ledger panel of various combinations described above are defective. Hereinafter, the ledger panel is 65 The case of a mixed type in which three inch display panels and two 55 inch display panels are formed will be described as a representative example.

여기서, 55인치 디스플레이 패널을 제1 크기의 제1 디스플레이 패널(P1)이라고 정의하며, 65인치 디스플레이 패널을 제2 크기의 제2 디스플레이 패널(P2)이라고 정의한다.Here, a 55-inch display panel is defined as a first display panel P1 of a first size, and a 65-inch display panel is defined as a second display panel P2 of a second size.

상기 제1 디스플레이 패널(P1) 및 상기 제2 디스플레이 패널(P2)은 픽셀의 불량 여부에 대한 검사를 위해 각각 일측면을 따라 형성되는 제1 전극 패드(E1) 및 제2 전극 패드(E2)를 구비할 수 있다.Each of the first and second display panels P1 and P2 includes a first electrode pad E1 and a second electrode pad E2 formed along one side to inspect whether a pixel is defective. Can be equipped.

다만, 전극 패드의 형성 위치 및 개수 등은 디스플레이 패널의 특성에 따라 달라질 수 있다.However, the location and number of electrode pads may vary depending on the characteristics of the display panel.

상기 스테이지 모듈(100)은 위치 이동에 의해 안착된 원장 패널을 테스트 모듈(200)의 하부로 이동시킬 수 있으며, 이로 인해 원장 패널 상의 디스플레이 패널은 상기 원장 패널이 초기에 스테이지 모듈(100) 상에 안착되는 안착위치에서 테스트 모듈(200)에 장착되는 테스트 기판(500)에 의해 불량 여부가 검사되는 검사위치로 이동되게 된다.The stage module 100 may move the seated ledger panel to the lower part of the test module 200 by moving the position, so that the display panel on the ledger panel is initially placed on the stage module 100. The test board 500 mounted on the test module 200 moves from the seating position to the test position where defects are inspected.

상기 테스트 모듈(200)은 상기 스테이지 모듈(100)의 위치 이동에 의해 안착위치에서 검사위치로 이동된 상기 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 테스트 기판(500)이 장착되는 모듈로, 제1 테스트 기판(510)이 장착되는 제1 테스트 모듈(210)과 제2 테스트 기판(520)이 장착되는 제2 테스트 모듈(220)을 포함할 수 있다.The test module 200 is a module in which a test board 500 is mounted for inspecting whether the display panel has been moved from a seating position to an inspection position due to the movement of the stage module 100, and a first test A first test module 210 on which the substrate 510 is mounted and a second test module 220 on which the second test substrate 520 is mounted may be included.

예를 들어, 상기 제1 테스트 기판(510)은 제1 디스플레이 패널(P1)의 불량 여부를 검사할 수 있는 제1 프로브(512)를 구비하는 기판일 수 있으며, 상기 제2 테스트 기판(520)은 제2 디스플레이 패널(P2)의 불량 여부를 검사할 수 있는 제2 프로브(522)를 구비하는 기판일 수 있다.For example, the first test substrate 510 may be a substrate including a first probe 512 capable of inspecting whether the first display panel P1 is defective, and the second test substrate 520 May be a substrate including a second probe 522 capable of inspecting whether the second display panel P2 is defective.

거치 모듈(300)은 상기 테스트 모듈(200)에 상기 테스트 기판(500)이 장착되기 전에 상기 테스트 기판(500)을 거치하기 위한 모듈로, 상기 제1 테스트 기판(510) 및 상기 제2 테스트 기판(520)을 상하방향으로 서로 이격되게 거치할 수 있다.The mounting module 300 is a module for mounting the test board 500 before the test board 500 is mounted on the test module 200, and the first test board 510 and the second test board The 520 can be mounted to be spaced apart from each other in the vertical direction.

상기 거치 모듈(300)은 상기 제1 테스트 기판(510) 및 상기 제2 테스트 기판(520) 이외에 제3 크기의 제3 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 제3 테스트 기판 등을 거치할 수 있으며, 이외에 다양한 크기의 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 다양한 종류의 테스트 기판을 거치할 수 있다.In addition to the first test board 510 and the second test board 520, the mounting module 300 may mount a third test board for inspecting whether a third display panel of a third size is defective. In addition to the, various types of test boards may be mounted to inspect whether or not a display panel of various sizes is defective.

한편, 장착 모듈(400)은 상기 거치 모듈(300)에 거치된 상기 테스트 기판(500)을 전달 받아 상기 테스트 모듈(200)에 장착하기 위한 모듈로, 테스트 기판(500)의 이송을 위한 구성요소일 수 있다.Meanwhile, the mounting module 400 is a module for receiving the test substrate 500 mounted on the mounting module 300 and mounting it on the test module 200, and is a component for transferring the test board 500 Can be

본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(10)는 소정의 크기로 형성되는 스테이지 모듈(100) 상에 제1 디스플레이 패널(P1) 및 제2 디스플레이 패널(P2)을 포함하는 원장 패널이 안착되고, 장착 모듈(400)에 의해 거치 모듈(300)에 거치된 제1 테스트 기판(510) 및 제2 테스트 기판(520)이 각각 제1 테스트 모듈(210) 및 제2 테스트 모듈(220)에 장착되면, 스테이지 모듈(100)의 위치 이동에 의해 상기 제1 디스플레이 패널(P1) 및 상기 제2 디스플레이 패널(P2) 각각의 불량 여부에 대한 검사가 진행될 수 있는 장치로, 원장 패널에 포함된 디스플레이 패널 모두에 대한 검사가 테스트 기판의 교체 없이 진행되도록 하여 불량 검사의 효율성을 향상시키는 장치이다.The display panel inspection apparatus 10 according to an embodiment of the present invention includes a ledger panel including a first display panel P1 and a second display panel P2 on a stage module 100 formed in a predetermined size. The first test board 510 and the second test board 520 that are seated and mounted on the mounting module 300 by the mounting module 400 are respectively a first test module 210 and a second test module 220 When mounted on the device, the first display panel P1 and the second display panel P2 can be inspected for defects by moving the position of the stage module 100, which is included in the ledger panel. It is a device that improves the efficiency of defect inspection by allowing inspection of all display panels to proceed without replacing the test board.

이하에서는 상기 디스플레이 패널 검사 장치(10)를 구성하는 구성요소에 대하여 보다 구체적으로 설명한다.Hereinafter, components constituting the display panel inspection apparatus 10 will be described in more detail.

도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 디스플레이 패널 검사 장치에 제공되는 장착 모듈을 설명하기 위한 도면이다.3 is a view for explaining a mounting module provided in the display panel inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.

도 3을 참조하면, 장착 모듈(400)은 전후방향 이동유닛(410), 좌우방향 이동유닛(420) 및 상하방향 이동유닛(430) 및 전달유닛(440)을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 3, the mounting module 400 may include a front-rear moving unit 410, a left-right moving unit 420, a vertical moving unit 430, and a transfer unit 440.

상기 전후방향 이동유닛(410)은 전후방향(D1)으로 길게 형성될 수 있으며, 한 쌍이 서로 이격된 상태로 배치될 수 있다.The front-rear moving unit 410 may be elongated in the front-rear direction D1, and a pair may be disposed in a state spaced apart from each other.

상기 좌우방향 이동유닛(420)은 좌우방향(D2)으로 길게 형성될 수 있으며, 양단이 상기 전후방향 이동유닛(410)에 연결될 수 있다.The left and right moving unit 420 may be formed to be elongated in the left and right direction D2, and both ends may be connected to the front and rear moving unit 410.

상기 좌우방향 이동유닛(420)은 상기 전후방향 이동유닛(410)을 따라 전후방향(D1)으로 이동되어 상기 전달유닛(440)을 전후방향(D1)으로 위치 이동시킬 수 있다.The left and right moving unit 420 may be moved in a forward/rearward direction D1 along the forward/rearward moving unit 410 to move the transfer unit 440 in a forward/rearward direction D1.

상기 상하방향 이동유닛(430)은 상하방향(D3)으로 길게 형성될 수 있으며, 좌우방향 이동유닛(420)에 연결되어 상기 좌우방향 이동유닛(420)을 따라 좌우방향(D2)으로 이동될 수 있다.The vertical movement unit 430 may be formed to be elongated in the vertical direction (D3), it is connected to the left and right movement unit 420 to be moved in the left and right direction (D2) along the left and right movement unit 420. have.

상기 전달유닛(440)은 상하방향 이동유닛(430)에 연결되어 상하방향(D3)으로 이동 가능할 수 있으며, 이에 따라 전달유닛(440)은 전후방향(D1), 좌우방향(D2), 상하방향(D3)으로의 이동성을 가질 수 있어 거치 모듈(300)에 거치된 테스트 기판(500)을 테스트 모듈(200)에 안정적으로 장착시킬 수 있다.The transfer unit 440 may be connected to the vertical movement unit 430 to move in the vertical direction (D3), and accordingly, the delivery unit 440 may be used in the forward and backward directions (D1), the left and right directions (D2), and Since it can have mobility to (D3), the test board 500 mounted on the mounting module 300 can be stably mounted on the test module 200.

한편, 전달유닛(440)에는 테스트 기판(500) 이송 시, 진동에 의해 상기 테스트 기판(500)의 위치가 변하는 것을 방지하기 위한 수단을 구비할 수 있으며, 상기 수단은, 예를 들어, 전달유닛(440) 상에 형성된 흡입홀(H)을 통해 흡입력을 제공하는 흡입유닛일 수 있다.On the other hand, the transfer unit 440 may be provided with a means for preventing the position of the test substrate 500 from changing due to vibration when the test substrate 500 is transferred, and the means is, for example, a transfer unit It may be a suction unit that provides suction power through the suction hole (H) formed on the 440.

다만, 상기 테스트 기판(500)을 상기 전달유닛(440) 상에 고정하는 방법은 흡입유닛을 통한 방식에 한정되는 것은 아니며, 돌기와 홈 등의 맞물림 방식 등 다양한 방식이 적용될 수도 있을 것이다.However, a method of fixing the test substrate 500 on the transfer unit 440 is not limited to a method through a suction unit, and various methods such as a method of engaging a protrusion and a groove may be applied.

도 4 내지 도 9는 도 1에 도시된 스테이지 모듈 상에 65인치의 디스플레이 패널과 55인치의 디스플레이 패널의 조합체인 피검사대상 원장 패널이 안착되어 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 경우, 검사에 필요한 테스트 기판이 테스트 모듈에 장착되는 과정을 설명하기 위한 도면이다.4 to 9 are necessary for inspection when the ledger panel to be inspected, which is a combination of a 65-inch display panel and a 55-inch display panel, is mounted on the stage module shown in FIG. A diagram for explaining a process in which a test board is mounted on a test module.

우선, 도 4를 참조하면, 스테이지 모듈(100) 상에 55인치 디스플레이 패널인 제1 디스플레이 패널(P1) 2개와 65인치 디스플레이 패널인 제2 디스플레이 패널(P2) 3개가 형성된 혼합 타입의 원장 패널이 안착될 수 있다.First, referring to FIG. 4, a mixed-type ledger panel in which two first display panels P1, which are 55-inch display panels, and three second display panels P2, which are 65-inch display panels, are formed on the stage module 100. Can be settled.

그리고, 장착 모듈(400)은 상기 제1 디스플레이 패널(P1)의 불량 검사를 위한 제1 프로브(512)를 구비하는 제1 테스트 기판(510)을 거치모듈(300)로부터 전달 받기 위해 상기 제1 테스트 기판(510)을 전달 받을 수 있는 상기 제1 테스트 기판(510)의 하측으로 위치 이동할 수 있다.In addition, the mounting module 400 includes the first test substrate 510 including the first probe 512 for inspecting the defect of the first display panel P1, and the first test substrate 510 is transmitted from the mounting module 300. The position may be moved to the lower side of the first test substrate 510 through which the test substrate 510 can be received.

상기 장착 모듈(400)의 위치 이동은 좌우방향 이동유닛(420)의 전후방향 이동유닛(410)을 따른 전후방향(D1)으로의 위치 이동, 상하방향 이동유닛(430)의 상하방향(D3)으로의 위치 이동 및 필요에 따라 상하방향 이동유닛(430)의 좌우방향 이동유닛(420)을 따른 좌우방향(D2)으로의 위치 이동 등을 통해 구현될 수 있다.Position movement of the mounting module 400 is a position movement in the front-rear direction (D1) along the front-rear movement unit 410 of the left-right movement unit 420, and the vertical direction (D3) of the vertical movement unit 430 It may be implemented by moving the position to and, if necessary, by moving the position of the vertical moving unit 430 in the left and right direction D2 along the left and right moving unit 420.

도 5를 참조하면, 거치 모듈(300)에 거치된 제1 테스트 기판(510)이 장착 모듈(400)의 전달유닛(440) 상에 안착될 수 있다.Referring to FIG. 5, the first test substrate 510 mounted on the mounting module 300 may be mounted on the transfer unit 440 of the mounting module 400.

여기서, 상기 제1 테스트 기판(510)이 상기 거치 모듈(300)로부터 낙하 또는 이탈되는 방식은 다양할 수 있으며, 예를 들어, 상기 제1 테스트 기판(510)을 지지하고 있는 지지부(302)가 상태 변화, 즉, 회전 이동을 통해 상기 제1 테스트 기판(510)을 상기 장착 모듈(400)로 낙하시키는 방식일 수 있다.Here, the method in which the first test board 510 is dropped or separated from the mounting module 300 may be various, for example, the support part 302 supporting the first test board 510 The first test substrate 510 may be dropped onto the mounting module 400 through state change, that is, rotational movement.

상기 전달유닛(440)에 낙하되어 안착된 상기 제1 테스트 기판(510)은 흡입유닛에 의해 안정적으로 고정된 상태를 유지할 수 있다.The first test substrate 510 dropped and seated on the delivery unit 440 may be stably fixed by the suction unit.

도 6을 참조하면, 제1 테스트 기판(510)이 안착된 장착 모듈(400)은 좌우방향 이동유닛(420)의 전후방향 이동유닛(410)을 따른 전후방향(D1)으로의 위치 이동, 상하방향 이동유닛(430)의 상하방향(D3)으로의 위치 이동 및 필요에 따라 상하방향 이동유닛(430)의 좌우방향 이동유닛(420)을 따른 좌우방향(D2)으로의 위치 이동 등을 통해 제1 테스트 모듈(210)로 접근할 수 있다.Referring to FIG. 6, the mounting module 400 on which the first test board 510 is mounted is moved in the front-rear direction D1 along the front-rear moving unit 410 of the left-right moving unit 420, up and down. By moving the position of the direction moving unit 430 in the vertical direction (D3) and moving the position of the vertical moving unit 430 in the horizontal direction (D2) along the left and right direction moving unit 420 as necessary. 1 Can access the test module 210.

도 7을 참조하면, 제1 테스트 기판(510)은 장착 모듈(400)의 위치 이동에 의해 제1 테스트 모듈(210)에 장착될 수 있다.Referring to FIG. 7, the first test substrate 510 may be mounted on the first test module 210 by moving the mounting module 400.

여기서, 상기 제1 테스트 모듈(210)은 상기 제1 테스트 기판(510)이 안착되는 경우 안착된 상기 제1 테스트 기판(510)을 고정시키기 위한 고정유닛을 포함할 수 있다.Here, the first test module 210 may include a fixing unit for fixing the seated first test substrate 510 when the first test substrate 510 is seated.

상기 고정유닛은 제1 테스트 기판(510)이 장착될 때 상기 제1 테스트 기판(510)의 상방에서 하향으로 위치 이동되어 상기 제1 테스트 기판(510)을 가압할 수 있으며, 상기 제1 테스트 기판(510)의 후방을 향하여 위치 이동되어 상기 제1 테스트 기판(510)을 가압할 수 있다.When the first test substrate 510 is mounted, the fixing unit may be moved from above to downward to press the first test substrate 510 and press the first test substrate 510. The position may be moved toward the rear of the 510 to press the first test substrate 510.

결국, 상기 제1 테스트 기판(510)은 상기 고정유닛에 의해 상기 제1 테스트 모듈(210) 상에 안정적으로 고정되게 된다.As a result, the first test substrate 510 is stably fixed on the first test module 210 by the fixing unit.

한편, 상기 제1 테스트 기판(510)을 상기 제1 테스트 모듈(210)에 고정시키기 위한 구성은 전술한 고정유닛에 한정되는 것은 아니며, 당업자의 의도에 맞게 다양한 공지의 구성이 적용될 수도 있다.Meanwhile, the configuration for fixing the first test substrate 510 to the first test module 210 is not limited to the above-described fixing unit, and various known configurations may be applied according to the intention of those skilled in the art.

상기와 같이 제1 테스트 기판(510)이 제1 테스트 모듈(210)에 장착이 되면, 장착 모듈(400)은 도 8에 도시된 바와 같이 제2 테스트 기판(520)을 전달 받을 수 있는 거치 모듈(300) 상의 제2 테스트 기판(520)의 하측으로 위치 이동 될 수 있다.When the first test board 510 is mounted on the first test module 210 as described above, the mounting module 400 is a mounting module capable of receiving the second test board 520 as shown in FIG. 8. The position may be moved to the lower side of the second test substrate 520 on 300.

이후에는 도 9에 도시된 바와 같이 제1 테스트 기판(510)이 제1 테스트 모듈(210)에 장착되는 방식과 동일한 방식으로 제2 테스트 기판(520)은 제2 테스트 모듈(220)에 안정적으로 장착되게 된다.Thereafter, as shown in FIG. 9, the second test substrate 520 is stably attached to the second test module 220 in the same manner as the method in which the first test substrate 510 is mounted on the first test module 210. Will be installed.

상기와 같이 제1 테스트 모듈(210)에 제1 테스트 기판(510)이 장착되고, 제2 테스트 모듈(220)에 제2 테스트 기판(520)이 장착된 후, 스테이지 모듈(100) 상에 안착된 원장 패널, 즉, 제1 디스플레이 패널(P1)과 제2 디스플레이 패널(P2)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 되며, 이에 대해서는 후술하기로 한다.As described above, after the first test board 510 is mounted on the first test module 210 and the second test board 520 is mounted on the second test module 220, it is mounted on the stage module 100. The original ledger panel, that is, the first display panel P1 and the second display panel P2 are inspected for defects, which will be described later.

도 10 내지 도 14는 도 1에 도시된 스테이지 모듈 상에 65인치의 디스플레이 패널과 55인치의 디스플레이 패널의 조합체인 피검사대상 원장 패널이 안착되어 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 과정을 설명하기 위한 도면이다.10 to 14 are for explaining a process in which the inspection target ledger panel, which is a combination of a 65-inch display panel and a 55-inch display panel, is mounted on the stage module shown in FIG. It is a drawing.

우선, 도 10을 참조하면, 스테이지 모듈(100) 상에는 55인치 디스플레이 패널인 제1 디스플레이 패널(P1) 2개와 65인치 디스플레이 패널인 제2 디스플레이 패널(P2) 3개가 형성된 혼합 타입의 원장 패널이 안착될 수 있다.First, referring to FIG. 10, a mixed-type ledger panel in which two first display panels P1, which are 55-inch display panels, and three second display panels P2, which are 65-inch display panels, are mounted on the stage module 100. Can be.

상기 스테이지 모듈(100)은 제1 디스플레이 패널(P1) 중 하나가 제1 테스트 모듈(210)에 장착된 제1 테스트 기판(510)에 의해 불량 여부가 검사되도록 상기 제1 테스트 모듈(210)을 향하여 위치 이동될 수 있다.The stage module 100 includes the first test module 210 so that one of the first display panels P1 is inspected for defects by the first test board 510 mounted on the first test module 210. Position can be moved towards.

여기서, 상기 스테이지 모듈(100)은 상기 제1 디스플레이 패널(P1) 중 하나(P11)의 전극패드와 제1 테스트 기판(510)의 제1 프로브(512)의 접촉에 의한 전기적 접속을 위해, 전후방향(D1)으로의 이동, 좌우방향(D2)으로의 이동 및 상하방향(D3)으로의 이동이 진행될 수 있다.Here, the stage module 100 is for electrical connection by contact between the electrode pad of one (P11) of the first display panel (P1) and the first probe (512) of the first test substrate (510). Movement in the direction D1, in the left and right direction D2, and in the vertical direction D3 may proceed.

상기 스테이지 모듈(100)의 위치 이동에 의해 상기 제1 디스플레이 패널(P1) 중 하나(PP1)의 전극패드와 제1 테스트 기판(510)의 제1 프로브(512)가 접촉되면, 상기 제1 테스트 기판(510)은 전원인가부(미도시)에 의해 전류를 인가 받게 된다.When the electrode pad of one of the first display panels P1 (PP1) and the first probe 512 of the first test substrate 510 come into contact with each other by the movement of the position of the stage module 100, the first test The substrate 510 receives a current by a power supply unit (not shown).

여기서, 상기 전원인가부는 위치 이동을 통해 상기 제1 테스트 모듈(210)에 장착된 제1 테스트 기판(510)에 전류를 인가할 수 있는 동시에 제2 테스트 모듈(220)에 장착된 제2 테스트 기판(520)에 전류를 인가할 수도 있다.Here, the power supply unit may apply a current to the first test board 510 mounted on the first test module 210 by moving the position, and at the same time, the second test board mounted on the second test module 220 Current may be applied to 520.

상기 전원인가부에 의해 상기 제1 테스트 기판(510)에 전류가 인가되면 상기 전극패드와 접촉된 제1 프로브(512)에 의해 상기 제1 디스플레이 패널(P1)의 하나(PP1)의 픽셀의 불량 여부가 검사되게 된다.When a current is applied to the first test substrate 510 by the power supply unit, a pixel of one (PP1) of the first display panel P1 is defective due to the first probe 512 in contact with the electrode pad Whether it is checked.

상기 제1 디스플레이 패널(P1) 중 하나(PP1)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 스테이지 모듈(100)은 도 11에 도시된 바와 같이 상하방향(D3)으로의 이동, 좌우방향(D2)으로의 이동이 진행되어 상기 제1 디스플레이 패널(P1) 중 다른 하나(P12)의 전극패드와 제1 테스트 기판(510)의 제1 프로브(512)의 접촉에 의한 전기적 접속이 구현되게 되며, 상기 제1 테스트 기판(510)으로의 전원인가부에 의한 전류 인가로 인해 상기 제1 디스플레이 패널(P1) 중 다른 하나(P12)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.When the inspection of whether one of the first display panels P1 (PP1) is defective is completed, the stage module 100 moves in the vertical direction (D3) and in the left and right direction (D2) as shown in FIG. ), the electrode pad of the other one of the first display panels P1 (P12) and the first probe 512 of the first test substrate 510 contact each other to implement electrical connection, Due to the application of current by the power supply unit to the first test substrate 510, an inspection is performed to determine whether the other one P12 of the first display panel P1 is defective.

상기 제1 디스플레이 패널(P1) 중 다른 하나(P12)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 스테이지 모듈(100)은 도 12에 도시된 바와 같이 상하방향(D3)으로의 이동, 좌우방향(D2)으로의 이동, 전후방향(D1)으로의 이동 및 회전 이동을 통해, 제2 디스플레이 패널(P2) 중 하나(P21)의 전극패드와 제2 테스트 기판(520)의 제2 프로브(522)의 접촉에 의한 전기적 접속이 구현되게 된다.When the inspection for the failure of the other one P12 among the first display panels P1 is completed, the stage module 100 moves in the vertical direction D3 and in the left and right directions as shown in FIG. The electrode pad of one of the second display panels P2 (P21) and the second probe 522 of the second test substrate 520 through movement in D2), movement in the front-rear direction D1, and rotational movement. Electrical connection by contact of

여기서, 상기 스테이지 모듈(100)의 회전 이동은 상기 제2 디스플레이 패널(P2) 중 하나(P21)의 전극 패드 배열 라인과 상기 제2 테스트 모듈(220)에 장착된 상기 제2 테스트 기판(520)의 제2 프로브(522) 라인과 대응되지 않는 경우 전극 패드와 상기 제2 프로브(522)의 접촉을 위한 것으로, 만약, 상기 제1 디스플레이 패널(P1)의 전극 패드 배열 라인이 상기 제1 테스트 모듈(210)에 장착된 상기 제1 테스트 기판(510)의 제1 프로브(512) 라인과 대응되지 않는 경우에도 진행될 수 있다.Here, the rotational movement of the stage module 100 includes an electrode pad arrangement line of one of the second display panels P2 (P21) and the second test substrate 520 mounted on the second test module 220 When it does not correspond to the line of the second probe 522 of, it is for contacting the electrode pad and the second probe 522. If the electrode pad arrangement line of the first display panel P1 is the first test module Even if the line does not correspond to the line of the first probe 512 of the first test substrate 510 mounted on 210, the process may be performed.

한편, 제1 테스트 기판(510)에 전류를 인가하였던 전원인가부는 위치 이동을 통해 제2 테스트 기판(520)에 전류를 인가할 수 있으며, 상기 제2 테스트 기판(520)으로의 전류 인가로 인해 상기 제2 디스플레이 패널(P2) 중 하나의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.Meanwhile, the power applying unit that applied current to the first test board 510 may apply current to the second test board 520 through positional movement, and due to the application of current to the second test board 520 An inspection is performed on whether one of the second display panels P2 is defective.

다시 말하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(10)는 하나의 전원인가부로 제1 테스트 기판(510) 및 제2 테스트 기판(520) 모두에 시간차를 두고 전류 인가가 가능하도록 할 수 있는 것이다.In other words, the display panel inspection apparatus 10 according to the present invention is capable of applying current to both the first test board 510 and the second test board 520 with a time difference with one power supply unit.

상기 제2 디스플레이 패널(P2) 중 하나(P21)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 스테이지 모듈(100)은 도 13에 도시된 바와 같이 상하방향(D3)으로의 이동 및 전후방향(D1)으로의 이동을 통해, 제2 디스플레이 패널(P2) 중 다른 하나(P22)의 전극패드와 제2 테스트 기판(520)의 제2 프로브(522)의 접촉에 의한 전기적 접속이 구현되게 되며, 상기 제2 테스트 기판(520)으로의 전원인가부에 의한 전류 인가로 인해 상기 제2 디스플레이 패널(P2) 중 다른 하나(P22)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.When the inspection of whether one of the second display panels P2 is defective or not is completed, the stage module 100 moves in the vertical direction D3 and the forward and backward direction D1 as shown in FIG. 13. ), the electrode pad of the other one of the second display panels P2 (P22) and the second probe 522 of the second test substrate 520 are electrically connected to each other. Due to the application of current by the power supply unit to the second test substrate 520, an inspection is performed to determine whether the other one P22 of the second display panel P2 is defective.

상기 제2 디스플레이 패널(P2) 중 다른 하나(P22)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 스테이지 모듈(100)은 도 14에 도시된 바와 같이 상하방향(D3)으로의 이동 및 전후방향(D1)으로의 이동을 통해, 제2 디스플레이 패널(P2) 중 또 다른 하나(P23)의 전극패드와 제2 테스트 기판(520)의 제2 프로브(522)의 접촉에 의한 전기적 접속이 구현되게 되며, 상기 제2 테스트 기판(520)으로의 전원인가부에 의한 전류 인가로 인해 상기 제2 디스플레이 패널(P2) 중 또 다른 하나(P23)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.When the inspection for the failure of the other one P22 among the second display panels P2 is completed, the stage module 100 moves in the vertical direction D3 and in the front-rear direction ( Through the movement to D1), electrical connection by contacting the electrode pad of another one P23 of the second display panel P2 and the second probe 522 of the second test substrate 520 is implemented. In addition, due to the application of a current to the second test substrate 520 by the power applying unit, an inspection is performed to determine whether another one P23 of the second display panel P2 is defective.

상기와 같이 원장 패널에 포함된 모든 디스플레이 패널(P1, P2) 각각에 대한 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 원장 패널은 다음 공정을 위해 이동하게 되며, 다른 원장 패널에 대한 검사 공정은 반복적으로 진행되게 된다.As described above, when the inspection for each of the display panels P1 and P2 included in the ledger panel is completed, the ledger panel is moved for the next process, and the inspection process for other ledger panels is repeated. It will proceed.

상기에서는 스테이지 모듈(100)이 제1 테스트 모듈(210)과 대응되는 위치 및 상기 제2 테스트 모듈(220)과 대응되는 위치로 순차적으로 이동되어 55인치의 제1 디스플레이 패널(P1)에 대한 불량 여부에 대한 검사 및 65인치의 제2 디스플레이 패널(P2)에 대한 불량 여부에 대한 검사가 순차적으로 진행되는 것으로 설명하였다.In the above, the stage module 100 is sequentially moved to a position corresponding to the first test module 210 and a position corresponding to the second test module 220 to cause a defect in the 55-inch first display panel P1. It has been described that the inspection for whether or not the 65-inch second display panel P2 is defective or not is sequentially performed.

다만, 디스플레이 패널(P1, P2)에 대한 검사의 순서는 선택적으로 정해질 수 있으며, 예를 들어, 제2 디스플레이 패널(P2)에 대한 불량 여부에 대한 검사가 먼저 진행되고 이후에 제1 디스플레이 패널(P1)에 대한 불량 여부에 대한 검사가 진행될 수도 있다.However, the order of inspection for the display panels P1 and P2 may be selectively determined. For example, an inspection for whether the second display panel P2 is defective is performed first, and then the first display panel Inspection for defects in (P1) may be conducted.

다시 말하면, 스테이지 모듈(100)은 상기 제1 테스트 모듈(510)과 대응되는 위치 및 상기 제2 테스트 모듈(520)과 대응되는 위치를 향해 선택적으로 이동될 수 있는 것이며, 이는 불량 검사의 효율성 및/또는 원장 패널에 포함된 디스플레이 패널의 종류 등에 따라 결정될 수 있는 것이다.In other words, the stage module 100 may be selectively moved toward a position corresponding to the first test module 510 and a position corresponding to the second test module 520, which is the efficiency of defect inspection and / Or it can be determined according to the type of display panel included in the ledger panel.

한편, 상기 제1 테스트 모듈(210) 및 상기 제2 테스트 모듈(220) 중 적어도 하나는 상하방향으로의 이동 또는 틸팅이 가능할 수 있으며, 이로 인해 임의의 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하는데 필요한 스테이지 모듈(100)의 이동 시, 검사에 사용되지 않는 프로브와 다른 디스플레이 패널과의 간섭이 방지되도록 하여, 검사의 정확성을 향상시킬 수 있다.On the other hand, at least one of the first test module 210 and the second test module 220 may be moved or tilted in the vertical direction, and thus, a stage module required to inspect whether any display panel is defective. When the 100 is moved, it is possible to improve the accuracy of the inspection by preventing interference between a probe that is not used for inspection and another display panel.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(10)는 제1 테스트 모듈(210) 및 제2 테스트 모듈(220)을 포함하므로, 원장 패널에 두 종류의 디스플레이 패널이 존재하는 경우, 상기 테스트 모듈(200)에 장착된 테스트 기판(500)의 교체 없이, 스테이지 모듈(100)의 위치 이동 또는 회전 이동에 의해 상기 두 종류의 디스플레이 패널 모두에 대한 불량 여부가 검사되도록 할 수 있다.Since the display panel inspection apparatus 10 according to the present invention includes a first test module 210 and a second test module 220, when two types of display panels are present in the ledger panel, the test module 200 Without replacing the test substrate 500 mounted on the display panel, whether or not there is a defect in both types of display panels may be inspected by moving the position or rotation of the stage module 100.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(10)가 제1 테스트 모듈(210) 및 제2 테스트 모듈(220)을 포함하고, 원장 패널에 세 종류의 디스플레이 패널, 즉, 제1 디스플레이 패널(P1), 제2 디스플레이 패널(P2) 및 제3 크기의 제3 디스플레이 패널이 존재하는 경우, 거치 모듈(300)에는 상기 제3 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 제3 테스트 기판이 거치될 수 있다.The display panel inspection apparatus 10 according to the present invention includes a first test module 210 and a second test module 220, and includes three types of display panels, that is, a first display panel P1, on a ledger panel. When the second display panel P2 and the third display panel of the third size are present, a third test substrate for inspecting whether the third display panel is defective may be mounted on the mounting module 300.

여기서, 장착 모듈(400)은 상기 제1 테스트 모듈(210)에 장착된 상기 제1 테스트 기판(510)에 의한 상기 제1 디스플레이 패널(P1)의 불량 여부에 대한 검사 및 상기 제2 테스트 모듈(220)에 장착된 상기 제2 테스트 기판(520)에 의한 상기 제2 디스플레이 패널(P2)의 불량 여부에 대한 검사 중 적어도 하나가 완료되면, 완료에 사용된 테스트 모듈(200)에 장착된 테스트 기판(500)을 전달받아 거치 모듈(300)로 거치하고, 상기 거치 모듈(300)에 거치된 상기 제3 테스트 기판(500)을 전달 받아 상기 완료에 사용된 테스트 모듈(200)에 장착하여, 상기 스테이지 모듈(100)의 위치 이동 또는 회전 이동에 의해 상기 제3 테스트 기판에 의한 상기 제3 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되도록 할 수 있다.Here, the mounting module 400 includes an inspection for a defect of the first display panel P1 by the first test substrate 510 mounted on the first test module 210 and the second test module ( When at least one of the tests for defects of the second display panel P2 by the second test substrate 520 mounted on 220) is completed, the test substrate mounted on the test module 200 used for completion It receives 500 and mounts it to the mounting module 300, receives the third test substrate 500 mounted on the mounting module 300 and mounts it on the test module 200 used for the completion, Whether the third display panel is defective by the third test substrate may be inspected by a positional movement or rotational movement of the stage module 100.

또한, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(10)가 제1 테스트 모듈(210) 및 제2 테스트 모듈(220) 이외에 또 다른 테스트 모듈을 포함하는 경우, 테스트 모듈의 개수와 대응되는 종류 개수의 디스플레이 패널을 포함하는 원장 패널은 상기 테스트 모듈에 장착된 테스트 기판의 교체 없이, 스테이지 모듈(100)의 위치 이동 또는 회전 이동에 의해 원장 패널에 포함된 모든 종류의 디스플레이 패널에 대한 불량 여부가 검사되도록 할 수 있다.In addition, when the display panel inspection apparatus 10 according to the present invention includes another test module in addition to the first test module 210 and the second test module 220, the display of the number of types corresponding to the number of test modules The ledger panel including the panel may be used to inspect for defects in all kinds of display panels included in the ledger panel by moving the position or rotation of the stage module 100 without replacing the test board mounted on the test module. I can.

상기에서는 본 발명에 따른 실시예를 기준으로 본 발명의 구성과 특징을 설명하였으나 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 사상과 범위 내에서 다양하게 변경 또는 변형할 수 있음은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게 명백한 것이며, 따라서 이와 같은 변경 또는 변형은 첨부된 특허청구범위에 속함을 밝혀둔다.In the above, the configuration and features of the present invention have been described based on the embodiments according to the present invention, but the present invention is not limited thereto, and it is understood that various changes or modifications can be made within the spirit and scope of the present invention. It will be apparent to those skilled in the art, and therefore, such changes or modifications are found to belong to the appended claims.

10: 디스플레이 패널 검사 장치
100: 스테이지 모듈
200: 테스트 모듈
210: 제1 테스트 모듈
220: 제2 테스트 모듈
300: 거치 모듈
400: 장착 모듈
P1: 제1 디스플레이 패널
P2: 제2 디스플레이 패널
500: 테스트 기판
510: 제1 테스트 기판
520: 제2 테스트 기판10: display panel inspection device
100: stage module
200: test module
210: first test module
220: second test module
300: mounting module
400: mounting module
P1: first display panel
P2: second display panel
500: test board
510: first test board
520: second test board

Claims (8)

불량 여부에 대한 검사가 필요한 디스플레이 패널을 포함하는 원장 패널이 안착되는 스테이지 모듈;
상기 스테이지 모듈의 위치 이동에 의해 안착위치에서 검사위치로 이동된 상기 디스플레이 패널의 상기 불량 여부를 검사하기 위한 테스트 기판이 장착되는 테스트 모듈;
상기 테스트 모듈에 상기 테스트 기판이 장착되기 전에 상기 테스트 기판을 거치하기 위한 거치 모듈; 및
상기 거치 모듈에 거치된 상기 테스트 기판을 전달 받아 상기 상기 테스트 모듈에 장착하기 위한 장착 모듈;을 포함하며,
상기 스테이지 모듈은,
소정의 크기로 형성되어 안착되는 상기 원장 패널의 크기가 규정되며,
상기 원장 패널에 포함된 상기 디스플레이 패널은,
상기 원장 패널의 면취효율을 증대시키기 위해 검사가 필요한 제1 크기의 제1 디스플레이 패널과 제2 크기의 제2 디스플레이 패널을 포함하며,
상기 테스트 모듈은,
상기 제1 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 제1 테스트 기판이 장착된 제1 테스트 모듈과 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 제2 테스트 기판이 장착된 제2 테스트 모듈을 포함하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장치.
A stage module on which a ledger panel including a display panel requiring inspection for defects is mounted;
A test module in which a test substrate for inspecting the defects of the display panel moved from a seating position to an inspection position due to a positional movement of the stage module is mounted;
A mounting module for mounting the test board before the test board is mounted on the test module; And
Including; a mounting module for receiving the test substrate mounted on the mounting module and mounting on the test module,
The stage module,
The size of the ledger panel formed and seated in a predetermined size is defined,
The display panel included in the ledger panel,
In order to increase the chamfering efficiency of the ledger panel, it includes a first display panel of a first size and a second display panel of a second size that need inspection,
The test module,
Including a first test module mounted with a first test substrate for inspecting whether the first display panel is defective, and a second test module equipped with a second test substrate for inspecting whether the second display panel is defective A display panel inspection device, characterized in that.
제1항에 있어서,
상기 제1 테스트 기판 및 상기 제2 테스트 기판은,
상기 거치모듈에 거치된 상태에서 상기 장착 모듈에 의해 각각 상기 제1 테스트 모듈 및 상기 제2 테스트 모듈에 장착되며,
상기 스테이지 모듈은,
상기 제1 테스트 모듈과 대응되는 위치 및 상기 제2 테스트 모듈과 대응되는 위치를 향해 선택적으로 이동되어, 상기 제1 테스트 기판에 의한 상기 제1 디스플레이 패널의 불량 여부 및 상기 제2 테스트 기판에 의한 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되도록 하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장치.
The method of claim 1,
The first test substrate and the second test substrate,
In a state mounted on the mounting module, each mounted on the first test module and the second test module by the mounting module,
The stage module,
It is selectively moved toward a position corresponding to the first test module and a position corresponding to the second test module, and whether the first display panel is defective due to the first test substrate and the second test substrate A display panel inspection apparatus, characterized in that to inspect whether a second display panel is defective.
제2항에 있어서,
상기 스테이지 모듈은,
상기 제1 테스트 모듈과 대응되는 위치 및 상기 제2 테스트 모듈과 대응되는 위치로 순차적으로 이동되어, 상기 제1 테스트 기판에 의한 상기 제1 디스플레이 패널의 불량 여부 및 상기 제2 테스트 기판에 의한 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부가 순차적으로 검사되도록 하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장치.
The method of claim 2,
The stage module,
A position corresponding to the first test module and a position corresponding to the second test module are sequentially moved to determine whether the first display panel is defective due to the first test substrate and the second test substrate. 2 Display panel inspection apparatus, characterized in that to sequentially inspect whether the display panel is defective.
제1항에 있어서,
상기 스테이지 모듈은,
상기 테스트 모듈에 장착된 테스트 기판의 교체 없이, 위치 이동 또는 회전 이동에 의해 상기 제1 디스플레이 패널 및 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되도록 하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장치.
The method of claim 1,
The stage module,
A display panel inspection apparatus, wherein the first display panel and the second display panel are inspected for defects by moving a position or rotation without replacing a test substrate mounted on the test module.
제1항에 있어서,
상기 거치 모듈은,
제3 크기의 제3 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 제3 테스트 기판을 거치하며,
상기 장착 모듈은,
상기 원장 패널이 제3 크기의 제3 디스플레이 패널을 포함하는 경우,
상기 제1 테스트 모듈에 장착된 상기 제1 테스트 기판에 의한 상기 제1 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사 및 상기 제2 테스트 모듈에 장착된 상기 제2 테스트 기판에 의한 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사 중 적어도 하나가 완료되면,
완료에 사용된 테스트 모듈에 장착된 테스트 기판을 전달받아 상기 거치 모듈로 거치하고, 상기 거치 모듈에 거치된 상기 제3 테스트 기판을 전달 받아 상기 완료에 사용된 테스트 모듈에 장착하여, 상기 스테이지 모듈의 위치 이동 또는 회전 이동에 의해 상기 제3 테스트 기판에 의한 상기 제3 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되도록 하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장치.
The method of claim 1,
The mounting module,
Mounting a third test substrate for inspecting the defect of the third display panel of the third size,
The mounting module,
When the ledger panel includes a third display panel of a third size,
Inspecting whether the first display panel is defective by the first test substrate mounted on the first test module and whether the second display panel is defective by the second test substrate mounted on the second test module When at least one of the tests for is completed,
The test board mounted on the test module used for completion is received and mounted on the mounting module, and the third test board mounted on the mounting module is received and mounted on the test module used for completion. A display panel inspection apparatus, wherein the third display panel is inspected for defects by the third test substrate by positional movement or rotational movement.
제1항에 있어서,
상기 제1 테스트 모듈 및 상기 제2 테스트 모듈 중 적어도 하나는,
상하방향으로의 이동 또는 틸팅이 가능하여, 임의의 디스플레이 패널의 상기 불량 여부를 검사하는데 필요한 상기 스테이지 모듈의 이동 시, 다른 디스플레이 패널과의 간섭이 방지되도록 하는 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장치.
The method of claim 1,
At least one of the first test module and the second test module,
A display panel inspection apparatus, characterized in that it is possible to move or tilt in an up-down direction to prevent interference with other display panels when the stage module is moved, which is necessary for inspecting the defects of any display panel.
제1항에 있어서,
상기 스테이지 모듈은,
상기 제1 디스플레이 패널의 전극 패드 배열 라인이 상기 제1 테스트 모듈에 장착된 상기 제1 테스트 기판의 제1 프로브 라인과 대응되지 않거나, 상기 제2 디스플레이 패널의 전극 패드 배열 라인이 상기 제2 테스트 모듈에 장착된 상기 제2 테스트 기판의 제2 프로브 라인과 대응되지 않는 경우, 불량 검사를 위한 프로브와 전극 패드의 접촉을 위해, 회전 이동이 가능한 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장치.
The method of claim 1,
The stage module,
The electrode pad array line of the first display panel does not correspond to the first probe line of the first test substrate mounted on the first test module, or the electrode pad array line of the second display panel is the second test module When it does not correspond to the second probe line of the second test substrate mounted on the display panel inspection apparatus, characterized in that the rotation movement is possible to contact the electrode pad and the probe for defect inspection.
제1항에 있어서,
상기 테스트 모듈에 장착된 상기 테스트 기판에 전류를 인가하기 위한 전원인가부;를 더 포함하며,
상기 전원인가부는,
상기 제1 테스트 모듈에 장착된 상기 제1 테스트 기판에 의한 상기 제1 디스플레이 패널의 불량 여부 검사의 진행 및 상기 제2 테스트 모듈에 장착된 상기 제2 테스트 기판에 의한 상기 제2 디스플레이 패널의 불량 여부 검사의 진행에 대응되어 필요한 테스트 기판에 전류의 인가가 구현되도록, 위치 이동 가능한 것을 특징으로 하는 디스플레이 패널 검사 장치.The method of claim 1,
Further comprising a; a power applying unit for applying a current to the test substrate mounted on the test module,
The power supply unit,
Inspecting whether the first display panel is defective by the first test substrate mounted on the first test module and whether the second display panel is defective by the second test substrate mounted on the second test module A display panel inspection apparatus, characterized in that the position is movable so that application of a current to a required test substrate is implemented in response to the progress of the inspection.
KR1020190058693A 2019-05-20 2019-05-20 Display panel inspecting apparatus KR102154767B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190058693A KR102154767B1 (en) 2019-05-20 2019-05-20 Display panel inspecting apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020190058693A KR102154767B1 (en) 2019-05-20 2019-05-20 Display panel inspecting apparatus

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR102154767B1 true KR102154767B1 (en) 2020-09-10

Family

ID=72450401

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020190058693A KR102154767B1 (en) 2019-05-20 2019-05-20 Display panel inspecting apparatus

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102154767B1 (en)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102457978B1 (en) * 2022-03-17 2022-10-26 지텍 주식회사 Oled optical compensation apparatus
KR102504856B1 (en) * 2022-07-22 2023-02-28 에이치비솔루션㈜ An apparatus for inspecting a display panel using a large probe card
KR102514067B1 (en) * 2022-07-11 2023-03-27 지텍 주식회사 Oled optical compensation system

Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20080032550A (en) * 2006-10-10 2008-04-15 삼성전자주식회사 Apparatus for inspecting array substrate
KR100902246B1 (en) * 2008-01-03 2009-06-11 삼성모바일디스플레이주식회사 Testing apparatus for performing sheet unit test of organic light emitting display
WO2011090057A1 (en) * 2010-01-21 2011-07-28 シャープ株式会社 Substrate, method for exposure of substrate to light, and photo-alignment treatment method
KR101158874B1 (en) * 2005-08-17 2012-06-25 엘지디스플레이 주식회사 Method for manufacturing of the liquid crystal display
KR101174861B1 (en) * 2012-02-15 2012-08-20 (주)버금시스템 Replacement apparatus of display glass test substrate
KR20180036930A (en) * 2018-03-26 2018-04-10 우리마이크론(주) Test Apparatus of OLED Display Panel and Test Method of OLED Display Panel Using the Same
KR101919808B1 (en) * 2017-01-26 2018-11-20 (주)티에스이 Multi testing apparatus for flatpanel display having themovision unit

Patent Citations (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR101158874B1 (en) * 2005-08-17 2012-06-25 엘지디스플레이 주식회사 Method for manufacturing of the liquid crystal display
KR20080032550A (en) * 2006-10-10 2008-04-15 삼성전자주식회사 Apparatus for inspecting array substrate
KR100902246B1 (en) * 2008-01-03 2009-06-11 삼성모바일디스플레이주식회사 Testing apparatus for performing sheet unit test of organic light emitting display
WO2011090057A1 (en) * 2010-01-21 2011-07-28 シャープ株式会社 Substrate, method for exposure of substrate to light, and photo-alignment treatment method
KR101174861B1 (en) * 2012-02-15 2012-08-20 (주)버금시스템 Replacement apparatus of display glass test substrate
KR101919808B1 (en) * 2017-01-26 2018-11-20 (주)티에스이 Multi testing apparatus for flatpanel display having themovision unit
KR20180036930A (en) * 2018-03-26 2018-04-10 우리마이크론(주) Test Apparatus of OLED Display Panel and Test Method of OLED Display Panel Using the Same

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102457978B1 (en) * 2022-03-17 2022-10-26 지텍 주식회사 Oled optical compensation apparatus
KR102514067B1 (en) * 2022-07-11 2023-03-27 지텍 주식회사 Oled optical compensation system
KR102504856B1 (en) * 2022-07-22 2023-02-28 에이치비솔루션㈜ An apparatus for inspecting a display panel using a large probe card

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102154767B1 (en) Display panel inspecting apparatus
JP7085042B2 (en) Probe system
KR101234088B1 (en) Array test apparatus
KR102102353B1 (en) Method for testing of organic light-emitting dsplay panel, apparatus and method for testing mother substrate
KR20130093262A (en) Apparatus for inspecting display cells
CN102565564A (en) Array detection device
KR101286250B1 (en) Array test apparatus having multiple head unit
TW200417737A (en) Apparatus and method for contacting of test objects
KR101340692B1 (en) Method of inspecting OLED cells and apparatus for performing the same
KR102188565B1 (en) Display Panel Test Device
KR101663755B1 (en) Index type liquid crystal cell inspecting apparatus
KR101663756B1 (en) In-line type liquid crystal cell inspecting apparatus
KR102097456B1 (en) Probe block assembly for inspecting display panel, control method thereof and display panel inspection device
KR101322164B1 (en) Apparatus for inspecting display cells
KR20180036930A (en) Test Apparatus of OLED Display Panel and Test Method of OLED Display Panel Using the Same
KR102290680B1 (en) Mother panel transferring apparatus, display panel inspection apparatus and display panel inspection equipment
KR102097455B1 (en) Probe block assembly for inspecting display panel, control method thereof and display panel inspection device
KR20180091510A (en) Display cell test equipment
KR100563965B1 (en) Apparatus for testing lcd
KR102154760B1 (en) Probe block assembly for inspecting display panel, control method thereof and display panel inspection device
JP7250182B2 (en) Probe block assembly for display panel inspection, its control method and display panel inspection apparatus
KR102154758B1 (en) Probe block assembly for inspecting display panel, control method thereof and display panel inspection device
KR102081611B1 (en) display panel inspection apparatus
KR102070056B1 (en) System and method of testing organic light emitting display device
KR102430727B1 (en) Mother panel absorption apparatus

Legal Events

Date Code Title Description
GRNT Written decision to grant