KR102290680B1 - Mother panel transferring apparatus, display panel inspection apparatus and display panel inspection equipment - Google Patents

Mother panel transferring apparatus, display panel inspection apparatus and display panel inspection equipment Download PDF

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Abstract

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 패널 이송 장치는, 원장 패널의 일면이 상부를 향한 정상상태로 상기 원장 패널의 타면을 흡착하여 고정시키기 위한 스테이지 모듈 - 상기 원장 패널의 일면은 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착된 적어도 한 종류 이상의 디스플레이 패널이 구비되며, 상기 스테이지 모듈은, 상기 원장 패널이 상기 정상상태에서 상기 일면이 하부를 향한 상태인 역전상태가 되도록 회전됨 - ; 상기 스테이지 모듈 상에서 상기 정상상태에서 상기 역전상태로 상태가 변화된 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착한 후, 상기 원장 패널을 상기 역전상태를 유지하면서 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사를 위한 제1 위치로 이동시키기 위한 이송 모듈; 프로브 블록이 장착된 프로브 유닛과의 상호작용에 의해 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사가 진행되도록 하기 위한 진공흡착 모듈; 및 상기 이송 모듈에 의해 상기 제1 위치로 이동된 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착한 후, 상기 역전상태를 유지하면서 제2 위치로 이동시켜, 상기 진공흡착모듈에 의해 상기 원장 패널이 상기 역전상태를 유지하면서 상기 타면이 흡착되도록 하여, 상기 상호작용에 의한 상기 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되도록 하는 픽커 모듈;을 포함할 수 있다.The mother panel transfer device according to an embodiment of the present invention is a stage module for adsorbing and fixing the other surface of the mother panel in a normal state in which one surface of the mother panel faces upwards - One surface of the mother panel is for forming an organic light emitting layer at least one type of display panel on which an organic material layer is deposited is provided, and the stage module is rotated such that the mother panel is in an inverted state in which the one side faces downward from the normal state; After adsorbing the other surface of the mother panel whose state is changed from the normal state to the inverted state on the stage module, a first position for inspecting whether the display panel is defective while maintaining the inverted state of the mother panel a transfer module for moving to; a vacuum adsorption module for inspecting whether the display panel is defective by interaction with the probe unit on which the probe block is mounted; and the other surface of the mother panel moved to the first position by the transfer module is adsorbed, and then moved to the second position while maintaining the inverted state, so that the mother panel is moved to the inverted state by the vacuum adsorption module may include; a picker module for checking whether the display panel is defective due to the interaction by allowing the other surface to be adsorbed while maintaining the .

Description

원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비{Mother panel transferring apparatus, display panel inspection apparatus and display panel inspection equipment}Mother panel transferring apparatus, display panel inspection apparatus and display panel inspection equipment

본 발명은 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비에 대한 것으로, 더욱 상세하게는 페이스 다운(Face down) 방식으로 대형 원장 패널 내에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사할 수 있는 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비에 관한 것이다.The present invention relates to a ledger panel transfer device, a display panel inspection device, and a display panel inspection facility, and more specifically, to inspect whether display panels of various sizes included in a large ledger panel are defective in a face down method. It relates to a ledger panel transport device, a display panel inspection device, and a display panel inspection facility.

평판 디스플레이 장치로서 사용되는 유기 발광 다이오드(OLED)는 시야각이 넓고 콘트라스트가 우수한 동시에 응답 속도가 빠르다는 장점을 지니고 있어, 최근 스마트폰, 텔레비젼 등에 널리 사용되고 있다.Organic light emitting diodes (OLEDs) used as flat panel display devices have a wide viewing angle, excellent contrast, and fast response speed.

유기 발광 다이오드(OLED)는 기판이 되는 패널 상에 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착되게 되며, 이로 인하여 전기적 신호에 의해 빛과 색을 내게 되는 픽셀이 구현되게 된다.In an organic light emitting diode (OLED), an organic material layer for forming an organic light emitting layer is deposited on a panel serving as a substrate, thereby realizing a pixel that emits light and color by an electrical signal.

여기서, 증착에 의해 기판이 되는 패널 상에 유기물층이 형성되어 픽셀이 구현되게 되면, 봉지 공정 이전에 픽셀의 불량 여부에 대한 검사가 진행되어야 한다.Here, when an organic material layer is formed on a panel serving as a substrate by deposition to realize a pixel, an inspection should be performed on whether the pixel is defective before the encapsulation process.

종래에는 검사 도중 비산하는 파티클로부터의 오염 등을 방지하기 위해, 페이스 다운(Face down) 방식, 즉, 검사가 필요한 디스플레이 패널의 증착부가 존재하는 일면이 하부를 향한 상태에서 검사가 진행되었다.In the related art, in order to prevent contamination from scattered particles during the inspection, the inspection was carried out in a face-down method, that is, in a state where the deposition part of the display panel requiring inspection is located on one side facing downward.

디스플레이 패널은 사용 목적에 따라 다양한 크기로 제조될 수 있으며, 제조 공정 상에서 원장 패널 상에 제공되게 되며, 원장 패널은 면취효율을 증대시키기 위해 동일 크기의 디스플레이 패널이 복수개 존재하는 단일 타입 또는 다양한 크기의 디스플레이 패널이 혼합되어 형성되는 혼합 타입일 수 있다.The display panel can be manufactured in various sizes according to the purpose of use, and is provided on the ledger panel during the manufacturing process, and the ledger panel is a single type or various sizes in which a plurality of display panels of the same size exist in order to increase the chamfering efficiency. The display panel may be of a mixed type formed by mixing.

종래에는 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위해 원장 패널 상의 디스플레이 패널의 증착부가 존재하는 일면이 하부를 향한 상태로 피쉬본(Fishbone) 타입의 스테이지 모듈에 배치되고, 피쉬본(Fishbone) 타입의 스테이지 모듈은 상기 증착부가 하부를 향한 상태에서 증착부가 존재하는 일면 중 증착부가 형성되지 않은 외곽부분을 그립한 후, 검사를 위한 챔버 내로 이동하게 된다.Conventionally, in order to inspect whether the display panel is defective, it is disposed on a fishbone-type stage module with one side of the display panel having a deposition part on the ledger panel facing downward, and a fishbone-type stage module. is moved into the chamber for inspection after gripping the outer portion on which the deposition part is not formed among one surface where the deposition part is present in a state in which the deposition part faces downward.

이후에는 진공플레이트에 의해 증착부가 존재하지 않는 원장 패널의 타면이 흡착되게 되고, 프로브 유닛의 프로브 블록이 위치하는 곳으로 이동된 후, 디스플레이 패널의 접촉 패드가 프로브 블록에 접촉되게 함으로써 검사가 진행되었다.After that, the other surface of the ledger panel without the deposition part was adsorbed by the vacuum plate, moved to the location where the probe block of the probe unit was located, and the contact pad of the display panel was brought into contact with the probe block. .

그러나, 종래의 검사 방법은 비교적 크기가 작은 원장 패널 상의 디스플레이 패널을 검사하는데 유용하긴 하나, 대형 원장 패널 상의 디스플레이 패널을 페이스 다운(Face down) 방식으로 불량 여부를 검사하기에는 심각한 문제가 발생되어 적용하기 어려운 실정이다.However, although the conventional inspection method is useful for inspecting a display panel on a relatively small ledger panel, there is a serious problem in inspecting whether a display panel on a large ledger panel is defective in a face down method. difficult situation.

다시 말하면, 대형 원장 패널의 경우, 증착부가 존재하는 일면이 하부를 향한 상태로 피쉬본(Fishbone) 타입의 스테이지 모듈에 배치하게 되면, 피쉬본(Fishbone) 타입의 스테이지 모듈은 증착부가 존재하는 일면 중 증착부가 형성되지 않은 외곽부분을 지지하게 되는데, 이때 대형 원장 패널은 자중에 의해 중앙부가 처지게 되어 사실상 정확한 검사가 불가능한 것이다.In other words, in the case of a large ledger panel, if the deposition part is placed on the fishbone-type stage module with one side facing downward, the fishbone-type stage module is one of the surfaces on which the deposition part is present. The outer part where the deposition part is not formed is supported. In this case, the central part of the large led panel sags by its own weight, which makes accurate inspection impossible.

또한, 종래의 검사 방법은 전술한 문제 이외에 하기와 같은 문제가 더 발생되게 된다.In addition, the conventional inspection method causes the following problems in addition to the problems described above.

프로브 유닛에는 한 종류의 디스플레이 패널의 불량 여부를 검사하기 위한 프로브 블록이 장착될 수 밖에 없으며, 이로 인해 원장 패널 상에 검사가 필요한 다양한 크기의 디스플레이 패널이 존재하여 검사의 대상이 되는 디스플레이 패널이 달라지는 경우, 필연적으로 그에 맞는 새로운 프로브 유닛으로 교체할 필요가 있다.The probe unit has no choice but to be equipped with a probe block for inspecting whether one type of display panel is defective. As a result, display panels of various sizes that require inspection exist on the ledger panel, so that the display panel to be inspected is different. In this case, it is inevitably necessary to replace it with a new probe unit suitable for it.

프로브 유닛의 교체 작업은 작업자에 의해 수동으로 이루어지는 것이 일반적이며, 이에 따라 교체 작업에 소요되는 시간이 길어져 수율이 떨어지는 문제가 있다.In general, the replacement operation of the probe unit is performed manually by an operator, and accordingly, the time required for the replacement operation is increased, and thus there is a problem in that the yield is reduced.

뿐만 아니라, 프로브 유닛의 교체 시 작업자가 부상 또는 감전되는 경우가 종종 발생하는 문제가 있었다.In addition, when replacing the probe unit, there is a problem in that the operator is often injured or electric shock.

따라서, 검사 도중 비산하는 파티클로부터의 오염 등을 방지하기 위한 페이스 다운(Face down) 방식으로, 대형 원장 패널 상의 다양한 종류의 디스플레이 패널의 불량 여부를 신속하고 정확하게 검사하기 위한 설비 개발에 대한 연구가 시급한 실정이다.Therefore, as a face down method to prevent contamination from scattering particles during inspection, research on the development of facilities to quickly and accurately inspect the defects of various types of display panels on a large ledger panel is urgent. the current situation.

본 발명의 목적은 페이스 다운(Face down) 방식으로 대형 원장 패널 내에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널의 불량 여부를 프로브 유닛 또는 프로브 블록의 교체 없이 진행될 수 있도록 하는 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비에 관한 것이다.An object of the present invention is a ledger panel transfer device, a display panel inspection device and It relates to a display panel inspection facility.

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 패널 이송 장치는, 원장 패널의 일면이 상부를 향한 정상상태로 상기 원장 패널의 타면을 흡착하여 고정시키기 위한 스테이지 모듈 - 상기 원장 패널의 일면은 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착된 적어도 한 종류 이상의 디스플레이 패널이 구비되며, 상기 스테이지 모듈은, 상기 원장 패널이 상기 정상상태에서 상기 일면이 하부를 향한 상태인 역전상태가 되도록 회전됨 - ; 상기 스테이지 모듈 상에서 상기 정상상태에서 상기 역전상태로 상태가 변화된 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착한 후, 상기 원장 패널을 상기 역전상태를 유지하면서 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사를 위한 제1 위치로 이동시키기 위한 이송 모듈; 프로브 블록이 장착된 프로브 유닛과의 상호작용에 의해 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사가 진행되도록 하기 위한 진공흡착 모듈; 및 상기 이송 모듈에 의해 상기 제1 위치로 이동된 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착한 후, 상기 역전상태를 유지하면서 제2 위치로 이동시켜, 상기 진공흡착모듈에 의해 상기 원장 패널이 상기 역전상태를 유지하면서 상기 타면이 흡착되도록 하여, 상기 상호작용에 의한 상기 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되도록 하는 픽커 모듈;을 포함할 수 있다.The mother panel transfer device according to an embodiment of the present invention is a stage module for adsorbing and fixing the other surface of the mother panel in a normal state in which one surface of the mother panel faces upwards - One surface of the mother panel is for forming an organic light emitting layer at least one type of display panel on which an organic material layer is deposited is provided, and the stage module is rotated such that the mother panel is in an inverted state in which the one side faces downward from the normal state; After adsorbing the other surface of the mother panel whose state is changed from the normal state to the inverted state on the stage module, a first position for inspecting whether the display panel is defective while maintaining the inverted state of the mother panel a transfer module for moving to; a vacuum adsorption module for inspecting whether the display panel is defective by interaction with the probe unit on which the probe block is mounted; and the other surface of the mother panel moved to the first position by the transfer module is adsorbed, and then moved to the second position while maintaining the inverted state, so that the mother panel is moved to the inverted state by the vacuum adsorption module may include; a picker module for checking whether the display panel is defective due to the interaction by allowing the other surface to be adsorbed while maintaining the .

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 패널 이송 장치의 상기 진공흡착 모듈은, 상기 원장 패널을 상기 역전상태로 유지한 상태에서 위치 이동을 통해, 상기 디스플레이 패널의 전극 패드과 상기 프로브 블록이 접촉되도록 하여, 상기 역전상태로 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사가 진행되도록 하는 것을 특징으로 할 수 있다.The vacuum adsorption module of the mother panel transfer apparatus according to an embodiment of the present invention moves the position of the mother panel while maintaining the inverted state so that the electrode pad of the display panel and the probe block come into contact with each other, It may be characterized in that the inspection of whether the display panel is defective in the inverted state is carried out.

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 패널 이송 장치의 상기 이송 모듈은, 상기 픽커 모듈에 의해 상기 타면이 흡착되면, 흡착을 해제하여 상기 원장 패널로부터 분리된 후 원위치로 위치 이동되는 것을 특징으로 할 수 있다.The transfer module of the mother panel transfer apparatus according to an embodiment of the present invention may be characterized in that, when the other surface is adsorbed by the picker module, the adsorption is released to be separated from the mother panel and then moved to the original position. have.

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 패널 이송 장치의 상기 제2 위치는, 상기 제1 위치를 기준으로 상기 픽커 모듈에 의해 상기 진공흡착모듈까지 상승한 위치인 것을 특징으로 할 수 있다.The second position of the mother panel transfer device according to an embodiment of the present invention may be a position raised to the vacuum adsorption module by the picker module based on the first position.

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 패널 이송 장치의 상기 스테이지 모듈은, 상기 정상상태로 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착하기 위한 복수의 스테이지 유닛을 포함하며, 상기 스테이지 유닛은, 각각 서로 이격되게 배치되어 사이사이에 제1 공간이 형성되도록 하는 것을 특징으로 할 수 있다.The stage module of the mother panel transfer apparatus according to an embodiment of the present invention includes a plurality of stage units for adsorbing the other surface of the mother panel in the normal state, and the stage units are arranged to be spaced apart from each other. It may be characterized in that a first space is formed therebetween.

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 패널 이송 장치의 상기 이송 모듈은, 상기 스테이지 모듈이 회전되어 상기 원장 패널이 상기 정상상태에서 상기 역전상태로 상태 변화된 경우, 상기 제1 공간에 삽입되어 상기 역전상태로 배치되는 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착하기 위한 복수의 이송 유닛을 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.The transfer module of the mother panel transfer apparatus according to an embodiment of the present invention is inserted into the first space when the stage module is rotated to change the state of the mother panel from the normal state to the inverted state. It may be characterized in that it comprises a plurality of transfer units for adsorbing the other surface of the mother panel is arranged as.

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 패널 이송 장치의 상기 픽커 모듈은, 제3 위치에 위치한 상태에서, 하강에 의해 상기 진공흡착 모듈을 통과한 후 상기 제1 위치로 이동되어, 상기 이송 모듈에 의해 상기 제1 위치로 이동된 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착한 후, 상승에 의해 상기 제2 위치로 이동되어 상기 진공흡착 모듈에 의해 상기 원장 패널의 상기 타면이 흡착되도록 하는 것을 특징으로 할 수 있다.The picker module of the ledger panel transfer device according to an embodiment of the present invention is moved to the first position after passing through the vacuum adsorption module by descending in a state of being positioned at the third position, and is moved to the first position by the transfer module After adsorbing the other surface of the mother panel that has moved to the first position, it is moved to the second position by rising so that the other surface of the mother panel is adsorbed by the vacuum adsorption module. .

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 패널 이송 장치의 상기 픽커 모듈은, 상기 원장의 상기 타면을 균일하게 흡착할 수 있도록 서로 이격되어 배치되는 복수의 픽커 유닛을 포함하는 것을 특징으로 할 수 있다.The picker module of the ledger panel transport apparatus according to an embodiment of the present invention may include a plurality of picker units spaced apart from each other so as to uniformly adsorb the other surface of the ledger.

본 발명의 일 실시예에 따른 원장 패널 이송 장치의 상기 픽커 모듈은, 상기 제2 위치로 이동된 상기 원장 패널의 상기 타면이 상기 진공흡착 모듈에 의해 흡착되면, 흡착을 해제하여 상기 원장 패널로부터 분리된 후, 상기 제3 위치로 복귀되는 것을 특징으로 할 수 있다.When the other surface of the mother panel moved to the second position is adsorbed by the vacuum adsorption module, the picker module of the mother panel transfer device according to an embodiment of the present invention releases the adsorption and is separated from the mother panel After being done, it may be characterized in that it is returned to the third position.

본 발명에 다른 원장 패널 이송 장치, 디스플레이 패널 검사 장치 및 디스플레이 패널 검사 설비에 의하면, 페이스 다운(Face down) 방식으로 대형 원장 패널 내에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널의 불량 여부를 프로브 유닛 또는 프로브 블록의 교체 없이 진행될 수 있도록 하여, 불량 여부 검사의 정확성 및 신속성 등을 극대화할 수 있다.According to the ledger panel transfer device, the display panel inspection device, and the display panel inspection facility according to the present invention, it is possible to determine whether the display panel of various sizes included in the large ledger panel is defective in a face down method of the probe unit or the probe block. By making it possible to proceed without replacement, the accuracy and speed of inspection for defects can be maximized.

도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 의해 불량 여부가 검사되는 디스플레이 패널을 설명하기 위한 도면.
도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 스테이지 모듈 상에 안착될 수 있는 원장 패널에 포함된 디스플레이 패널의 조합에 대한 다양한 실시예를 설명하기 위한 도면.
도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비를 설명하기 위한 블록 구성도.
도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비를 설명하기 위한 도면.
도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 검사 공정 진행 설비 내의 공기의 흐름을 설명하기 위한 도면으로, 도 5은 도 4의 AA선에 따른 개략단면도이고, 도 6은 도 4의 BB선에 따른 개략단면도.
도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 원장 패널 이송 장치에 의해 원장 패널이 진공흡착 모듈에 흡착되는 과정을 설명하기 위한 순서도.
도 8은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 스테이지 모듈 상에 원장 패널이 정상 상태로 안착되는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 9 및 도 10은 도 8에 도시된 상황에서 스테이지 모듈의 회전에 의해 정상상태의 원장 패널이 역전상태로 변화되는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 11은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 스테이지 모듈로 진입하는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 12 및 도 13은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 역전상태의 원장 패널을 흡착한 상황을 설명하기 위한 도면.
도 14는 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 제1 위치로 이동된 상황을 설명하기 위한 도면.
도 15 및 도 16은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 하강되어 역전상태의 원장 패널을 흡착하는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 17은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 원위치로 복귀되는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 18은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 제2 위치로 상승되는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 19는 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 제3 위치로 상승되는 상황을 설명하기 위한 도면.
도 20은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 디스플레이 패널 검사 장치를 설명하기 위한 도면.
도 21 내지 도 27은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 진공흡착 모듈에 65인치의 디스플레이 패널과 55인치의 디스플레이 패널의 조합체인 피검사대상 원장 패널이 흡착되어 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 경우, 각각의 디스플레이 패널에 대한 검사 방법을 설명하기 위한 도면.
도 28은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치에 의해 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되는 경우, 사용되지 않는 프로브 블록의 위치 이동을 설명하기 위한 도면.
1 is a view for explaining a display panel inspected for defects by the display panel inspection facility according to the present invention.
FIG. 2 is a view for explaining various embodiments of a combination of display panels included in a ledger panel that can be seated on a stage module provided in a display panel inspection facility according to the present invention; FIG.
3 is a block diagram illustrating a display panel inspection facility according to the present invention.
4 is a view for explaining a display panel inspection facility according to the present invention.
5 and 6 are views for explaining the flow of air in the inspection process proceeding equipment provided to the display panel inspection equipment according to the present invention, Figure 5 is a schematic cross-sectional view taken along line AA of Figure 4, Figure 6 is A schematic cross-sectional view taken along line BB in Fig.
7 is a flowchart for explaining a process in which a ledger panel is adsorbed to a vacuum adsorption module by a director panel transfer device provided in a display panel inspection facility according to the present invention;
8 is a view for explaining a situation in which the mother panel is seated in a normal state on the stage module provided in the mother panel transfer device according to the present invention;
9 and 10 are views for explaining a situation in which the ledger panel in a normal state is changed to an inverted state by the rotation of the stage module in the situation shown in FIG. 8;
11 is a view for explaining a situation in which the transfer module provided in the ledger panel transfer apparatus according to the present invention enters the stage module;
12 and 13 are views for explaining a situation in which the transfer module provided in the mother panel transfer apparatus according to the present invention adsorbs the led panel in an inverted state.
14 is a view for explaining a situation in which the transfer module provided in the mother panel transfer apparatus according to the present invention is moved to the first position;
15 and 16 are views for explaining a situation in which the picker module provided in the mother panel transfer apparatus according to the present invention is lowered to adsorb the mother panel in an inverted state.
17 is a view for explaining a situation in which the transfer module provided in the mother panel transfer apparatus according to the present invention is returned to its original position;
18 is a view for explaining a situation in which the picker module provided in the mother panel transfer device according to the present invention is raised to a second position.
19 is a view for explaining a situation in which the picker module provided in the mother panel transfer device according to the present invention is raised to a third position;
20 is a view for explaining a display panel inspection apparatus provided in the display panel inspection facility according to the present invention.
21 to 27 show that the inspection target ledger panel, which is a combination of a 65-inch display panel and a 55-inch display panel, is adsorbed to the vacuum adsorption module provided in the ledger panel transfer device according to the present invention, and the inspection is performed If applicable, a drawing for explaining an inspection method for each display panel.
28 is a view for explaining the movement of a position of an unused probe block when the display panel is inspected for defects by the display panel inspection apparatus according to the present invention;

이하에서는 도면을 참조하여 본 발명의 구체적인 실시예를 상세하게 설명한다. 다만, 본 발명의 사상은 제시되는 실시예에 제한되지 아니하고, 본 발명의 사상을 이해하는 당업자는 동일한 사상의 범위 내에서 다른 구성요소를 추가, 변경, 삭제 등을 통하여, 퇴보적인 다른 발명이나 본 발명 사상의 범위 내에 포함되는 다른 실시예를 용이하게 제안할 수 있을 것이나, 이 또한 본원 발명 사상 범위 내에 포함된다고 할 것이다. Hereinafter, specific embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings. However, the spirit of the present invention is not limited to the embodiments presented, and those skilled in the art who understand the spirit of the present invention may add, change, delete, etc. other components within the scope of the same spirit, through addition, change, deletion, etc. Other embodiments included within the scope of the invention may be easily proposed, but this will also be included within the scope of the invention.

또한, 각 실시예의 도면에 나타나는 동일한 사상의 범위 내의 기능이 동일한 구성요소는 동일한 참조부호를 사용하여 설명한다.In addition, components having the same function within the scope of the same idea shown in the drawings of each embodiment will be described using the same reference numerals.

1. 디스플레이 패널 및 원장 패널1. Display panel and ledger panel

도 1은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 의해 불량 여부가 검사되는 디스플레이 패널을 설명하기 위한 도면이며, 도 2는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 스테이지 모듈 상에 안착될 수 있는 원장 패널에 포함된 디스플레이 패널의 조합에 대한 다양한 실시예를 설명하기 위한 도면이다.1 is a view for explaining a display panel that is inspected for defects by the display panel inspection facility according to the present invention, Figure 2 is a ledger that can be seated on a stage module provided in the display panel inspection facility according to the present invention It is a diagram for explaining various embodiments of a combination of display panels included in the panel.

도 1을 참조하면, 디스플레이 패널(DP)은 기판이 되는 패널 상에 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착되어 픽셀이 구현된 것으로, 봉지 공정 이전에 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비(1000, 도 3 및 도 4 참조)에 의해 불량 여부에 대한 검사가 진행될 수 있다.Referring to FIG. 1 , the display panel DP is a display panel inspection facility 1000 according to the present invention, in which an organic material layer for forming an organic light emitting layer is deposited on a panel serving as a substrate to implement a pixel, and prior to the encapsulation process, the display panel inspection facility 1000 ( FIG. 3 ). and see FIG. 4 ) may be used to check whether there is a defect.

상기 디스플레이 패널(DP)은 픽셀의 불량 여부에 대한 검사를 위해 상면의 모서리 영역 중 하나인 제1 모서리 영역을 따라 형성되는 제1 전극 패드(EP1), 상기 상면의 모서리 영역 중 다른 하나인 제2 모서리 영역을 따라 형성되는 제2 전극 패드(EP2), 상기 상면의 모서리 영역 중 또 다른 하나인 제3 모서리 영역을 따라 형성되는 제3 전극 패드(EP3) 및 상기 상면의 모서리 영역 중 또 다른 하나인 제4 모서리 영역을 따라 형성되는 제4 전극 패드(EP4)를 구비할 수 있다. The display panel DP includes a first electrode pad EP1 formed along a first corner area which is one of the corner areas of the upper surface, and a second electrode pad EP1 which is the other one of the corner areas of the upper surface to inspect whether a pixel is defective. Another one of the second electrode pad EP2 formed along the corner region, the third electrode pad EP3 formed along the third corner region that is another one of the corner regions of the upper surface, and the corner region of the upper surface. A fourth electrode pad EP4 formed along the fourth corner region may be provided.

다만, 상기 디스플레이 패널(DP)은 패널의 특성에 따라 전극 패드의 형성 위치 및 개수 등은 달라질 수 있으나, 이하에서는 도 1에 도시된 디스플레이 패널(DP)을 예로 들어 불량 여부가 검사되는 과정 등을 설명하기로 한다.However, in the display panel DP, the formation position and number of electrode pads may vary depending on the characteristics of the panel. Hereinafter, the process of inspecting for defects will be described using the display panel DP shown in FIG. 1 as an example. to explain

상기 디스플레이 패널(DP)은 제조 공정 상에서 스테이지 모듈(110, 도 3 및 도 4 참조)의 크기에 종속적으로 크기가 결정되는 원장 패널(MP)에 복수개가 형성된 후, 절단 등의 공정을 통해 제조될 수 있으며, 상기 원장 패널(MP)은 디스플레이 패널(DP)의 생산의 기반이 되는 유리 기판일 수 있다.The display panel DP is to be manufactured through a process such as cutting after a plurality of the display panel DP is formed on the ledger panel MP whose size is determined depending on the size of the stage module 110 (refer to FIGS. 3 and 4) in the manufacturing process. In addition, the ledger panel MP may be a glass substrate that is the basis for the production of the display panel DP.

상기 원장 패널(MP)은 빈공간을 최소화하여 불량 검사에 대한 효율성을 증대시키기 위해, 즉, 면취효율을 증대시키기 위해 동일 크기의 디스플레이 패널(DP)이 복수개 존재하는 단일 타입 또는 다양한 크기의 디스플레이 패널(DP)이 혼합되어 형성된 혼합 타입일 수 있다.The ledger panel MP is a display panel of a single type or of various sizes in which a plurality of display panels DP of the same size exist in order to increase the efficiency of the defect inspection by minimizing the empty space, that is, to increase the chamfering efficiency. (DP) may be a mixed type formed by mixing.

예를 들어, 상기 원장 패널(MP)은 도 2(a)에 도시된 바와 같이 98인치 디스플레이 패널 2개의 혼합 타입, 도 2(b)에 도시된 바와 같이 65인치 디스플레이 패널 3개와 32인치 디스플레이 패널 6개의 혼합 타입, 도 2(c)에 도시된 바와 같이 31.5인치 디스플레이 패널 18개의 단일 타입, 도 2(d)에 도시된 바와 같이 49인치 디스플레이 패널 2개와 75인치 디스플레이 패널 2개의 혼합 타입 및 도 2(e)에 도시된 바와 같이 65인치 디스플레이 패널 3개와 55인치 디스플레이 패널 2개의 혼합 타입일 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 다양한 크기의 디스플레이 패널의 혼합 타입이 적용된 패널일 수 있다.For example, the ledger panel MP is a mixed type of two 98-inch display panels as shown in FIG. 2(a), and three 65-inch display panels and a 32-inch display panel as shown in FIG. 6 mixed types, 18 single types of 31.5 inch display panels as shown in Fig. 2(c), 2 49 inch display panels and 2 mixed types of 75 inch display panels as shown in Fig. 2(d), and Fig. As shown in 2(e), it may be a mixed type of three 65-inch display panels and two 55-inch display panels, but is not limited thereto, and may be a panel to which a mixed type of display panels of various sizes is applied.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비(1000)는 전술한 다양한 조합의 혼합 타입의 원장 패널(MP)에 포함된 모든 디스플레이 패널의 각각에 대한 불량 여부를 검사할 수 있으며, 이하에서는 상기 원장 패널이 65인치 디스플레이 패널 3개와 55인치 디스플레이 패널 2개가 형성된 혼합 타입인 경우를 대표적인 예로 들어 설명한다.The display panel inspection facility 1000 according to the present invention may inspect whether each of all the display panels included in the mixed-type ledger panel MP of the various combinations described above is defective. Hereinafter, the ledger panel is 65 A case of a mixed type in which three inch display panels and two 55 inch display panels are formed will be described as a representative example.

2. 디스플레이 패널 검사 설비2. Display panel inspection equipment

도 3은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비를 설명하기 위한 블록 구성도이며, 도 4는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비를 설명하기 위한 도면이다.3 is a block diagram for explaining a display panel inspection facility according to the present invention, and FIG. 4 is a diagram for explaining a display panel inspection facility according to the present invention.

도 3 및 도 4를 참조하면, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비(1000)는 배면 흡착 방식, 즉, 페이스 다운(Face down) 방식으로 원장 패널(MP) 내에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부를 프로브 유닛(PU, 도 20 참조) 또는 프로브 블록(BP)의 교체 없이 진행될 수 있도록 하여, 불량 여부 검사의 정확성 및 신속성 등을 극대화할 수 있는 검사 설비로, 검사 공정 준비 설비(1100) 및 검사 공정 진행 설비(1200)를 포함할 수 있다.3 and 4, the display panel inspection facility 1000 according to the present invention is a display panel (DP) of various sizes included in the mother panel (MP) in a back adsorption method, that is, a face down method. ) is an inspection equipment that can maximize the accuracy and speed of inspection for defects by allowing the probe unit (PU, see FIG. 20) or probe block (BP) to be processed without replacement. 1100 ) and an inspection process progress facility 1200 .

검사 공정 준비 설비(1100)는 일면에 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착된 적어도 한 종류 이상의 디스플레이 패널(DP)이 구비되는 원장 패널(MP)의 상기 일면이 상부를 향한 정상상태로 상기 원장 패널(MP)의 타면이 스테이지 모듈(110)에 흡착되면, 상기 스테이지 모듈(110)은 회전되어 상기 원장 패널(MP)이 상기 정상상태에서 상기 일면이 하부를 향한 상태인 역전상태가 되도록 한 후, 이송 모듈(120)이 상기 역전상태의 상기 원장 패널(MP)을 전달 받아 상기 역전 상태를 유지하면서 차회 공정을 위한 설비로 상기 원장 패널(MP)을 이동시키기 위한 설비일 수 있다.Inspection process preparation facility 1100 is provided with at least one type of display panel DP having an organic material layer deposited on one surface for forming an organic light emitting layer on one surface of the mother panel MP in a normal state with the one surface facing upward. When the other surface of the MP) is adsorbed to the stage module 110 , the stage module 110 is rotated so that the ledger panel MP is in an inverted state in which the one surface faces downward from the normal state, and then transferred The module 120 may be a facility for receiving the ledger panel MP in the inverted state and moving the ledger panel MP to a facility for the next process while maintaining the inverted state.

검사 공정 진행 설비(1200)는 상기 이송 모듈(120)에 의해 진입한 상기 원장 패널(MP)의 타면을 픽커 모듈(130)이 흡착한 후, 상기 픽커 모듈(130)의 위치 이동을 통해 진공흡착 모듈(140)이 상기 역전상태의 상기 원장 패널(MP)을 흡착하면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 상기 디스플레이 패널(DP)의 전극 패드가 디스플레이 패널 검사 장치(200)의 프로브 유닛(PU)의 프로브 블록(PB)에 접촉되도록 하여, 상기 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되기 위한 설비일 수 있다.In the inspection process progress facility 1200 , the picker module 130 adsorbs the other surface of the ledger panel MP entered by the transfer module 120 , and then vacuums the picker module 130 through position movement. When the module 140 adsorbs the led panel MP in the inverted state, the electrode pad of the display panel DP is moved to the probe of the display panel inspection apparatus 200 through the position movement of the vacuum adsorption module 140 . It may be a facility for inspecting whether the display panel DP is defective by making it come into contact with the probe block PB of the unit PU.

한편, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비(1000)는 원장 패널(MP)이 스테이지 모듈(110)에 안착되고, 이송 모듈(120)에 의해 상기 원장 패널(MP)이 픽커 모듈(130)을 매개로 하여 진공흡착 모듈(140)에 흡착되기까지의 구성요소를 원장 패널 이송 장치(100)로 정의할 수 있으며, 상기 원장 패널 이송 장치(100)에 의해 상기 진공흡착 모듈(140)에 흡착된 디스플레이 패널(DP)이 디스플레이 패널 검사 장치(200)에 의해 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 과정은 도 7 내지 도 28을 참조로 하여 구체적으로 설명한다.On the other hand, in the display panel inspection facility 1000 according to the present invention, the ledger panel MP is seated on the stage module 110 , and the ledger panel MP is mediated by the picker module 130 by the transfer module 120 . As a result, the components until adsorbed to the vacuum adsorption module 140 can be defined as the ledger panel transfer device 100, and the display adsorbed to the vacuum adsorption module 140 by the ledger panel transfer device 100 A process of inspecting whether the panel DP is defective by the display panel inspection apparatus 200 will be described in detail with reference to FIGS. 7 to 28 .

도 5 및 도 6은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 검사 공정 진행 설비 내의 공기의 흐름을 설명하기 위한 도면으로, 도 5은 도 4의 AA선에 따른 개략단면도이고, 도 6은 도 4의 BB선에 따른 개략단면도이다.5 and 6 are views for explaining the flow of air in the inspection process proceeding equipment provided to the display panel inspection equipment according to the present invention, Figure 5 is a schematic cross-sectional view taken along line AA of Figure 4, Figure 6 is It is a schematic cross-sectional view taken along line BB in Fig.

도 3 및 도 4와 함께 도 5 및 도 6을 참조하면, 검사 공정 진행 설비(1200)는 디스플레이 패널(DP)의 전극 패드와 프로브 블록(PB)이 접촉되어 상기 디스플레이 패널(DP)의 상기 불량 여부에 대한 검사가 진행되기 위한 제1 공간부(300), 및 상기 불량 여부에 대한 검사의 대상이 되는 디스플레이 패널(DP)을 촬영하여 상기 디스플레이 패널(DP) 상의 얼룩 또는 스크래치 등의 존재 여부를 확인하기 위한 비전 모듈(410)이 위치 이동 가능하게 설치되는 제2 공간부(400)를 포함할 수 있으며, 상기 제2 공간부(400)는 상기 제1 공간부(300)의 하부에 위치할 수 있다.Referring to FIGS. 5 and 6 together with FIGS. 3 and 4 , in the inspection process progress facility 1200 , the electrode pad of the display panel DP and the probe block PB are in contact with the display panel DP to cause the defect. By photographing the first space part 300 for the inspection of whether or not, and the display panel DP, which is the object of the inspection for the defect, it is determined whether there is a stain or scratch on the display panel DP. The vision module 410 for confirming may include a second space portion 400 installed to be movably positioned, and the second space portion 400 may be located below the first space portion 300 . can

여기서, 상기 비전 모듈(410)은 예를 들어 4개의 카메라 유닛을 포함할 수 있으며, 상기 카메라 유닛은 촬영의 대상이 되는 디스플레이 패널(DP)의 사이즈에 따라 Working Distance (WD)가 달라지게 되므로, 상부 또는 하부를 향하여 위치 이동 가능할 수 있다.Here, the vision module 410 may include, for example, four camera units, and the working distance (WD) of the camera unit varies according to the size of the display panel DP to be photographed, The position may be movable toward the top or bottom.

또한, 4개의 카메라 유닛은 촬영 대상이 되는 디스플레이 패널(DP)의 크기에 대응하여 상기 디스플레이 패널(DP)의 전체 영역을 촬영해야 하기 때문에 각각 촬영의 대상이 되는 디스플레이 패널(DP)의 1/4 영역의 중앙부에 위치해야 하며, 이를 위해 전방 또는 후방, 좌방 또는 우방으로 위치 이동될 수 있다. 또한, 필요한 경우, 촬영의 대상이 되는 디스플레이 패널(DP)의 회전에 대응되기 위해 정회전 또는 역회전이 될 수도 있다.In addition, since the four camera units must photograph the entire area of the display panel DP corresponding to the size of the display panel DP to be photographed, it is 1/4 of the display panel DP to be photographed, respectively. It must be located in the center of the area, and for this purpose it can be moved forward or backward, left or right. Also, if necessary, the display panel DP may be rotated forward or reversed to correspond to the rotation of the display panel DP to be photographed.

한편, 검사 공정 준비 설비(1100) 및 검사 공정 진행 설비(1200) 내에서의 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부에 대한 검사는 질소 분위기 하에서 진행될 수 있다.Meanwhile, the inspection on whether the display panel DP is defective in the inspection process preparation facility 1100 and the inspection process progress facility 1200 may be performed under a nitrogen atmosphere.

특히, 검사 공정 진행 설비(1200)의 경우 제1 공간부(300) 및 제2 공간부(400) 내에서 상기 질소 공기는 정체 없이 순환이 안정적으로 이루어져야 한다.In particular, in the case of the inspection process proceeding facility 1200 , the nitrogen air must be circulated stably without stagnation in the first space 300 and the second space 400 .

이를 위해, 상기 검사 공정 진행 설비(1200)는 상기 제1 공간부(300) 내의 상부에 위치하는 강제순환 모듈(310), 상기 제1 공간부(300)내에서의 상기 질소 공기의 순환을 위해 상부과 하부를 연결하는 제1 순환덕트 모듈(320) 및 상기 제1 공간부(300)와 상기 제2 공간부(400)를 연결하는 제2 순환덕트 모듈(420)을 포함할 수 있다.To this end, the inspection process proceeding facility 1200 is a forced circulation module 310 located above the first space 300 , for circulation of the nitrogen air in the first space 300 . It may include a first circulation duct module 320 connecting the upper portion and the lower portion, and a second circulation duct module 420 connecting the first space portion 300 and the second space portion 400 .

상기 제2 순환덕트 모듈(420)은 상기 제1 공간부(300)로부터 상기 제2 공간부(400)로 유입된 상기 질소 공기가 상기 제1 공간부(300)로 다시 유입되어 순환될 수 있도록 할 수 있으며, 상기 제2 순환덕트 모듈(420) 상에는 강제흡입 모듈(430)이 위치할 수 있다.The second circulation duct module 420 is configured so that the nitrogen air introduced into the second space 400 from the first space 300 is introduced back into the first space 300 and circulated. It can be, and the forced suction module 430 may be located on the second circulation duct module 420 .

여기서, 상기 강제순환 모듈(310) 및 상기 강제흡입 모듈(420)은 일종의 흡입 팬으로, 상기 강제흡입 모듈(420)은 상기 제2 순환덕트 모듈(410) 상에 위치하여 상기 제1 공간부(300)로부터 상기 제2 공간부(400)로 유입된 상기 질소 공기를 흡입한 후 상기 제1 공간부(300)로 배출되도록 할 수 있다.Here, the forced circulation module 310 and the forced suction module 420 are a kind of suction fan, and the forced suction module 420 is located on the second circulation duct module 410 and the first space part ( The nitrogen air introduced into the second space 400 from 300 ) may be sucked and then discharged into the first space 300 .

따라서, 상기 검사 공정 진행 설비(1200)는 균일한 질소 분위기 하에서 디스플레이 패널의 검사 공정이 진행되게 된다. Accordingly, the inspection process progress facility 1200 performs the inspection process of the display panel under a uniform nitrogen atmosphere.

한편, 검사 공정 준비 설비(1100) 및 검사 공정 진행 설비(1200)는 유지 보수 시 작업자가 내부로 들어가야 하므로 청정 건조 공기(CDA) 분위기로의 전환이 이루어질 수 있다.Meanwhile, the inspection process preparation facility 1100 and the inspection process progress facility 1200 require a worker to enter the inside during maintenance, so that the conversion to a clean dry air (CDA) atmosphere can be made.

3. 원장 패널 이송 장치3. Ledger panel transfer device

도 7은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 원장 패널 이송 장치에 의해 원장 패널이 진공흡착 모듈에 흡착되는 과정을 설명하기 위한 순서도이다.7 is a flowchart illustrating a process in which a mother panel is adsorbed to a vacuum adsorption module by a mother panel transfer device provided to a display panel inspection facility according to the present invention.

우선, 도 3 및 도 4를 참조하면, 원장 패널 이송 장치(100)는 스테이지 모듈(110), 이송 모듈(120), 픽커 모듈(130) 및 진공흡착 모듈(140) 등을 포함할 수 있다.First, referring to FIGS. 3 and 4 , the ledger panel transfer apparatus 100 may include a stage module 110 , a transfer module 120 , a picker module 130 , and a vacuum adsorption module 140 .

상기 스테이지 모듈(110)은 원장 패널(MP)의 일면이 상부를 향한 정상상태로 상기 원장 패널(MP)의 타면을 흡착하여 고정시키기 위한 구성요소로, 상기 원장 패널(MP)의 일면은 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착된 적어도 한 종류 이상의 디스플레이 패널(DP)이 구비될 수 있다.The stage module 110 is a component for adsorbing and fixing the other surface of the mother panel MP in a normal state in which one surface of the mother panel MP faces upward, and one surface of the mother panel MP has an organic light emitting layer. At least one type of display panel DP on which an organic material layer for formation is deposited may be provided.

여기서, 상기 원장 패널(MP)의 상기 타면은 전체적으로 비증착부일 수 있다.Here, the other surface of the mother panel MP may be a non-deposition part as a whole.

상기 스테이지 모듈(110)은 상기 디스플레이 패널이 페이스 다운(Face down) 방식으로 검사되도록 하기 위해 회전될 수 있으며, 이로 인하여 상기 스테이지 모듈(110)에 상기 정상상태로 배치되어 흡착된 상기 원장 패널(MP)은 상기 일면이 하부를 향한 상태인 역전상태가 될 수 있다.The stage module 110 may be rotated so that the display panel is inspected in a face-down manner, whereby the mother panel MP is disposed and adsorbed to the stage module 110 in the normal state. ) may be an inverted state in which the one surface faces downward.

상기 이송 모듈(120)은 상기 스테이지 모듈(110) 상에서 상기 정상상태에서 상기 역전상태로 상태가 변화된 상기 원장 패널(MP)의 상기 타면을 흡착한 후, 상기 원장 패널(MP)을 상기 역전상태를 유지하면서 불량 여부에 대한 검사를 위한 제1 위치로 이동시키기 위한 구성요소일 수 있다.The transfer module 120 adsorbs the other surface of the mother panel MP whose state is changed from the normal state to the inverted state on the stage module 110, and then transfers the mother panel MP to the inverted state. It may be a component for moving it to the first position for inspection for defects while maintaining it.

상기 픽커 모듈(130)은 상기 이송 모듈(120)에 의해 상기 제1 위치로 이동된 상기 원장 패널(MP)의 상기 타면을 흡착한 후, 상기 역전상태를 유지하면서 상기 제1 위치를 기준으로 상승된 위치인 제2 위치로 이동시키기 위한 구성요소로, 후술할 판 형상의 진공흡착 모듈(140)이 상기 역전상태의 상기 원장 패널(MP)을 흡착되도록 할 수 있다.The picker module 130 adsorbs the other surface of the ledger panel MP moved to the first position by the transfer module 120 and then rises based on the first position while maintaining the inverted state. As a component for moving to the second position, which is the current position, a plate-shaped vacuum adsorption module 140 to be described later may adsorb the mother panel MP in the inverted state.

상기 진공흡착 모듈(140)은 상기 이송 모듈(120)에 의해 상기 제2 위치로 상기 역전상태의 원장 패널(MP)이 이동되면, 상기 역전상태로 평활도를 유지하면서 상기 원장 패널(MP)을 흡착할 수 있으며, 이후에는 디스플레이 패널 검사 장치(200)의 프로브 유닛(PU)의 프로브 블록(PB)과의 상호작용에 의해 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사가 진행되도록 하는 구성요소일 수 있다.When the led panel MP in the inverted state is moved to the second position by the transfer module 120 by the transfer module 120, the vacuum adsorption module 140 adsorbs the ledger panel MP while maintaining smoothness in the inverted state. Afterwards, the display panel inspection apparatus 200 may be a component for inspecting whether the display panel is defective by interaction with the probe block PB of the probe unit PU.

상기 진공흡착 모듈(140)에 의해 상기 역전상태로 원장 패널이 흡착되면, 상기 진공흡착 모듈(140)은 상기 원장 패널(MP)을 상기 역전상태로 유지한 상태에서 위치 이동을 통해, 상기 디스플레이 패널(DP)의 전극 패드과 상기 프로브 블록(PB)이 접촉되도록 하여, 상기 역전상태로 상기 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.When the ledger panel is adsorbed in the inverted state by the vacuum adsorption module 140, the vacuum adsorption module 140 moves the position while maintaining the mother panel MP in the inverted state, and the display panel By making the electrode pad of DP and the probe block PB come into contact, the inspection is performed on whether the display panel DP is defective in the reversed state.

여기서, 상기 원장 패널이 최종적으로 상기 역전상태를 유지하면서 진공흡착 모듈(140)에 흡착되어야 하는 이유는 디스플레이 패널의 불량 여부 검사를 위한 디스플레이 패널(DP)의 정확한 위치 제어 및 디스플레이 패널(DP)의 평활도를 유지하기 위함으로, 만약 진공흡착 모듈(140)이 아니라 다른 구성요소에 의해 원장 패널(MP)이 흡착된 상태로 디스플레이 패널 검사 장치(200)로 이동하게 되면, 평활도 등에서 문제가 발생되어 정확한 불량 여부에 대한 검사가 보장되지 못하기 때문이다.Here, the reason that the ledger panel must be finally adsorbed to the vacuum adsorption module 140 while maintaining the inverted state is the precise position control of the display panel DP for inspection of the display panel defect and the control of the display panel DP. In order to maintain smoothness, if the mother panel MP is moved to the display panel inspection apparatus 200 in a state in which the mother panel MP is adsorbed by other components instead of the vacuum adsorption module 140, a problem occurs in smoothness, etc. This is because inspection for defects is not guaranteed.

이하에서는 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치(100)에 의해 원장 패널(MP)이 진공흡착 모듈(140)에 흡착되는 과정을 설명한다.Hereinafter, a process in which the mother panel MP is adsorbed to the vacuum adsorption module 140 by the mother panel transfer device 100 according to the present invention will be described.

도 7을 참조하면, 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치(100)에 의해 원장 패널이 진공흡착 모듈에 흡착되는 단계는, 정상상태로 원장 패널(MP)이 스테이지 모듈(110) 상에 배치되는 제1 단계(S10), 상기 스테이지 모듈(110)이 회전되는 제2 단계(S20), 이송 모듈(120)이 진입하고 상기 원장 패널(MP)을 흡착하는 제3 단계(S30), 상기 이송 모듈(120)이 제1 위치로 이동하는 제4 단계(S40), 픽커 모듈(130)이 하강되어 상기 원장 패널(MP)을 흡착하는 제5 단계(S50), 상기 이송 모듈(120)이 복귀하는 제6 단계(S60), 상기 픽커 모듈(130)이 제2 위치로 상승하는 제7 단계(S70), 진공흡착 모듈(140)에 의해 상기 디스플레이 패널(DP)이 흡착되는 제8 단계(S80), 상기 픽커 모듈(130)이 상승되어 제3 위치로 이동하는 제9 단계(S90)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 7 , the step of adsorbing the ledger panel to the vacuum adsorption module by the ledger panel transfer device 100 according to the present invention is the first step in which the ledger panel MP is disposed on the stage module 110 in a normal state. Step 1 (S10), the second step (S20) in which the stage module 110 is rotated, the third step (S30) in which the transfer module 120 enters and adsorbs the ledger panel MP (S30), the transfer module ( A fourth step (S40) in which the 120) moves to the first position, a fifth step (S50) in which the picker module 130 is lowered to absorb the ledger panel MP (S50), a fourth step in which the transfer module 120 returns Step 6 (S60), a seventh step (S70) in which the picker module 130 is raised to a second position, an eighth step (S80) in which the display panel DP is adsorbed by the vacuum adsorption module 140, A ninth step (S90) in which the picker module 130 is raised and moved to a third position may be included.

이하에서는 전술한 각 단계에 대하여 도 8 내지 도 19를 참조하여 구체적으로 설명한다.Hereinafter, each of the above-described steps will be described in detail with reference to FIGS. 8 to 19 .

도 8은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 스테이지 모듈 상에 원장 패널이 정상 상태로 안착되는 상황을 설명하기 위한 도면이다.8 is a view for explaining a situation in which the mother panel is normally seated on the stage module provided in the mother panel transfer device according to the present invention.

도 8을 참조하면, 원장 패널(MP)은 정상상태로 스테이지 모듈(110) 상에 배치(S10)된 후, 흡착될 수 있다.Referring to FIG. 8 , the mother panel MP may be adsorbed after being disposed ( S10 ) on the stage module 110 in a normal state.

여기서, 상기 원장 패널(MP)은 설명의 편의를 위해 적어도 하나 이상의 디스플레이 패널(DP)이 구비된 일면을 음영으로 표현하였음을 밝혀둔다.Here, it should be noted that, for convenience of explanation, one surface on which at least one display panel DP is provided is expressed in shades of the mother panel MP.

한편, 상기 원장 패널(MP)을 상기 스테이지 모듈(110) 상에 배치시키는 방법은 특별히 정해지는 것은 아니며, 질소 분위기 하에서 로봇 장치 등에 의한 자동 방법 또는 작업자에 의한 수동 방법 등 다양할 수 있다.On the other hand, the method of disposing the mother panel MP on the stage module 110 is not particularly determined, and may be various such as an automatic method by a robot device or a manual method by an operator under a nitrogen atmosphere.

상기 스테이지 모듈(110)은 상기 정상상태로 상기 원장 패널(MP)의 상기 타면(SF2)을 흡착하기 위한 복수의 스테이지 유닛(112)을 포함할 수 있으며, 상기 스테이지 유닛(112)은 각각 서로 이격되게 배치되어 사이 사이에 제1 공간(S1)이 형성되도록 할 수 있다.The stage module 110 may include a plurality of stage units 112 for adsorbing the other surface SF2 of the mother panel MP in the normal state, and the stage units 112 are spaced apart from each other. It can be arranged so that a first space (S1) is formed therebetween.

예를 들어, 상기 스테이지 유닛(112)은 도 8에 도시된 바와 같이 9개로 형성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 지지하여야 할 상기 원장 패널(MP)이 자중에 의해 중앙부가 처지지 않고 안정적으로 지지할 수 있을 정도라면 개수가 변경되어도 무방하다.For example, the stage unit 112 may be formed of nine as shown in FIG. 8 , but is not necessarily limited thereto, and the mother panel MP to be supported does not have a central portion sagging due to its own weight. The number may be changed as long as it can be stably supported.

상기 스테이지 유닛(112)에는 각각 상기 원장 패널(MP)을 흡착하기 위한 흡착패드 등의 흡착수단(114)을 구비할 수 있으며, 상기 흡착수단(114)의 개수는 제한이 없다.Each of the stage units 112 may include adsorption means 114 such as a suction pad for adsorbing the mother panel MP, and the number of the adsorption means 114 is not limited.

도 9 및 도 10은 도 8에 도시된 상황에서 스테이지 모듈의 회전에 의해 정상상태의 원장 패널이 역전상태로 변화되는 상황을 설명하기 위한 도면이다.9 and 10 are diagrams for explaining a situation in which the ledger panel in a normal state is changed to an inverted state by the rotation of the stage module in the situation shown in FIG. 8 .

도 9 및 도 10을 참조하면, 상기 스테이지 모듈(110)은 정상상태로 상기 원장 패널(MP)을 흡착한 채로 회전(R, S20)될 수 있으며, 회전 방향은 제한이 없다.9 and 10 , the stage module 110 may be rotated (R, S20) while adsorbing the mother panel MP in a normal state, and the rotation direction is not limited.

상기 스테이지 모듈(110)의 회전을 위한 구동방법은 특별히 정해지는 것은 아니며, 예를 들어, 공지의 모터 등을 이용하여 회전될 수 있다.A driving method for rotation of the stage module 110 is not particularly determined, and may be rotated using, for example, a known motor.

상기 스테이지 모듈(110)이 회전되면, 정상상태로 흡착되었던 원장 패널(MP)은 증착부가 존재하는 일면(SF1)이 하부를 향한 상태인 역전상태로 상태가 변화되게 된다.When the stage module 110 is rotated, the state of the mother panel MP, which has been adsorbed in a normal state, is changed to an inverted state in which the one surface SF1 on which the deposition part is located faces downward.

상기 원장 패널(MP)은 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 동안 지속적으로 역전상태를 유지하게 되며, 이로 인하여 디스플레이 패널(DP)은 페이스 다운(Face down) 방식으로 불량 여부에 대한 검사를 진행할 수 있게 된다.The ledger panel MP continuously maintains an inverted state while the inspection for defects is in progress, so that the display panel DP can proceed with the inspection for defects in a face down method. do.

도 11은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 스테이지 모듈로 진입하는 상황을 설명하기 위한 도면이며, 도 12 및 도 13은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 역전상태의 원장 패널을 흡착한 상황을 설명하기 위한 도면이다.11 is a view for explaining a situation in which the transfer module provided in the ledger panel transfer apparatus according to the present invention enters the stage module, and FIGS. 12 and 13 are the transfer modules provided in the ledger panel transfer apparatus according to the present invention. It is a diagram to explain the situation in which the ledger panel in the inverted state is adsorbed.

도 11 내지 도 13을 참조하면, 상기 스테이지 모듈(110)의 회전에 의해 원장 패널(MP)이 역전상태가 되면, 이송 모듈(120)이 상기 스테이지 모듈(110)로 진입한 후, 상기 원장 패널(MP)을 흡착(S30)하게 된다.11 to 13 , when the ledger panel MP is in an inverted state due to the rotation of the stage module 110 , the transfer module 120 enters the stage module 110 , and then the ledger panel (MP) is adsorbed (S30).

상기 이송 모듈(120)은 상기 스테이지 유닛(112)에 의해 제공되는 제1 공간(S1)에 삽입되어 역전상태로 배치되는 상기 원장 패널(MP)의 타면(SF2)을 흡착하기 위한 복수의 이송 유닛(122)을 포함할 수 있다.The transfer module 120 is inserted into the first space S1 provided by the stage unit 112 and a plurality of transfer units for adsorbing the other surface SF2 of the ledger panel MP arranged in an inverted state. (122).

상기 이송 유닛(122)은 상기 스테이지 유닛(112)과 마찬가지로 각각 이격되게 배치될 수 있다.The transfer unit 122 may be disposed to be spaced apart from each other similarly to the stage unit 112 .

예를 들어, 상기 이송 유닛(122)은 도면에 도시된 바와 같이 8개로 형성될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니다.For example, the transfer unit 122 may be formed of eight as shown in the drawing, but is not necessarily limited thereto.

상기 이송 유닛(122)은 상기 원장 패널(MP)과 상기 스테이지 유닛(112)에 의해 제공되는 제1 공간(S1)으로 진입한 후 상기 원장 패널(MP)의 타면(SF2)을 흡착할 수 있으며, 상기 원장 패널(MP)의 흡착을 위해 필요하다면 상하 방향으로 위치 이동되어도 무방하다.The transfer unit 122 may adsorb the other surface SF2 of the mother panel MP after entering the first space S1 provided by the mother panel MP and the stage unit 112 , , if necessary for adsorption of the mother panel MP, the position may be moved in the vertical direction.

상기 이송 유닛(122)에는 각각 상기 원장 패널(MP)을 흡착하기 위한 흡착패드 등의 흡착수단(124)을 구비할 수 있으며, 상기 흡착수단(124)의 개수는 제한이 없다.Each of the transfer units 122 may include adsorption means 124 such as an adsorption pad for adsorbing the mother panel MP, and the number of the adsorption means 124 is not limited.

상기와 같이 상기 이송 유닛(122)에 의해 상기 원장 패널(MP)이 흡착되면, 상기 스테이지 유닛(112)에 의한 상기 원장 패널(MP)의 흡착은 해제되게 되며, 이로 인해 상기 원장 패널(MP)은 상기 이송 유닛(122)의 이동과 연동되게 된다.When the mother panel MP is adsorbed by the transfer unit 122 as described above, the adsorption of the mother panel MP by the stage unit 112 is released, thereby causing the mother panel MP to be absorbed. is interlocked with the movement of the transfer unit 122 .

도 14는 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 제1 위치로 이동된 상황을 설명하기 위한 도면이다.14 is a view for explaining a situation in which the transfer module provided in the mother panel transfer apparatus according to the present invention is moved to the first position.

도 14를 참조하면, 이송 모듈(120)은 역전상태의 원장 패널(MP)을 흡착한 상태로, 상기 역전상태를 유지하면서 불량 여부에 대한 검사를 위한 제1 위치로 이동(S40)될 수 있다.Referring to FIG. 14 , the transfer module 120 may be moved (S40) to a first position for inspection for defects while maintaining the inverted state while adsorbing the ledger panel MP in an inverted state. .

여기서, 상기 제1 위치는 상기 역전상태의 원장 패널(MP)이 진공흡착 모듈(140) 및 픽커 모듈(130)이 배치되는 위치를 기준으로 하부 상의 위치를 의미할 수 있으며, 이후 단계에서 상기 픽커 모듈(130)이 상기 역전상태의 상기 원장 패널(MP)을 상기 역전상태를 유지하면서 안정적으로 흡착할 수 있도록 할 수 있다.Here, the first position may mean a position on the lower part of the ledger panel MP in the inverted state with respect to the position where the vacuum adsorption module 140 and the picker module 130 are disposed, and in a later step, the picker The module 130 may stably adsorb the ledger panel MP in the inverted state while maintaining the inverted state.

도 15 및 도 16은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 하강되어 역전상태의 원장 패널을 흡착하는 상황을 설명하기 위한 도면이며, 도 17은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 이송 모듈이 원위치로 복귀되는 상황을 설명하기 위한 도면이다.15 and 16 are diagrams for explaining a situation in which the picker module provided in the ledger panel transfer device according to the present invention is lowered and adsorbs the led panel in an inverted state. It is a view for explaining a situation in which the provided transfer module is returned to its original position.

도 15 및 도 16을 참조하면, 픽커 모듈(130)은 제3 위치에 위치한 상태에서 하강에 의해 진공흡착 모듈(140)을 통과한 후 제1 위치로 이동할 수 있으며, 이송 모듈(120)에 의해 상기 제1 위치로 이동된 역전상태의 원장 패널(MP)을 흡착(S50)할 수 있다.15 and 16 , the picker module 130 can move to the first position after passing through the vacuum adsorption module 140 by descending from the third position, and by the transfer module 120 . The led panel MP in an inverted state moved to the first position may be adsorbed (S50).

상기 픽커 모듈(130)은 상기 원장 패널(MP)의 타면(SF2)을 균일하게 흡착하여 처짐을 방지하도록 서로 이격되어 배치되는 복수의 픽커 유닛(132)을 포함할 수 있다.The picker module 130 may include a plurality of picker units 132 spaced apart from each other to prevent sagging by uniformly adsorbing the other surface SF2 of the mother panel MP.

상기 픽커 모듈(130)에 의해 상기 원장 패널(MP)이 흡착되면, 상기 이송 모듈(120)은 도 17에 도시된 바와 같이 흡착을 해제하여 상기 원장 패널(MP)로부터 분리되어 원위치로 위치 이동(S60)될 수 있다.When the ledger panel MP is adsorbed by the picker module 130, the transfer module 120 releases adsorption as shown in FIG. S60).

원위치로 위치 이동된 상기 이송 모듈(120)은 다른 원장 패널에 구비되는 다른 디스플레이 패널을 검사하기 위해 동작할 수 있게 된다.The transfer module 120 moved to its original position can operate to inspect another display panel provided in another ledger panel.

도 18은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 제2 위치로 상승되는 상황을 설명하기 위한 도면이다.18 is a view for explaining a situation in which the picker module provided in the mother panel transfer device according to the present invention is raised to a second position.

도 18을 참조하면, 픽커 모듈(130)은 역전상태의 원장 패널(MP)을 흡착한 후, 상승에 의해 제2 위치로 이동(S70)될 수 있으며, 이로 인해 진공흡착 모듈(140)은 상기 원장 패널(MP)을 흡착(S80)할 수 있게 된다.Referring to FIG. 18 , the picker module 130 may adsorb the ledger panel MP in an inverted state and then move to the second position by rising ( S70 ). The ledger panel MP can be adsorbed (S80).

여기서, 상기 제2 위치는 상기 제1 위치를 기준으로 상기 픽커 모듈(130)에 의해 상기 진공흡착 모듈(140)까지 상승한 위치일 수 있으며, 상기 진공흡착 모듈(140)은 상기 픽커 모듈(130)에 의해 안정적으로 상기 원장 패널(MP)을 역전상태로 흡착할 수 있게 된다. Here, the second position may be a position raised to the vacuum adsorption module 140 by the picker module 130 based on the first position, and the vacuum adsorption module 140 is the picker module 130 . Thus, it is possible to stably adsorb the ledger panel MP in an inverted state.

상기 진공흡착 모듈(140)은 상기 원장 패널(MP)을 흡착하기 위한 흡착패드 등의 복수의 흡착수단을 구비할 수 있다. The vacuum adsorption module 140 may include a plurality of adsorption means such as a suction pad for adsorbing the mother panel MP.

도 19는 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 픽커 모듈이 제3 위치로 상승되는 상황을 설명하기 위한 도면이다.19 is a view for explaining a situation in which the picker module provided in the mother panel transfer device according to the present invention is raised to a third position.

도 19를 참조하면, 제2 위치로 이동된 상기 원장 패널(MP)의 상기 타면(SF2)이 상기 진공흡착 모듈(140)에 의해 흡착되면, 픽커 모듈(130)은 흡착을 해제하여 상기 원장 패널(MP)로부터 분리된 후, 상승되어 상기 제3 위치로 복귀(S990)될 수 있다.Referring to FIG. 19 , when the other surface SF2 of the ledger panel MP moved to the second position is adsorbed by the vacuum adsorption module 140 , the picker module 130 releases the adsorption to the ledger panel After being separated from (MP), it may be raised and returned to the third position (S990).

이후에는 상기 진공흡착 모듈(140) 및 프로브 블록(PB)이 장착된 프로브 유닛(PU)을 포함하는 디스플레이 패널 검사 장치(200)와의 상호 작용에 의해 불량 여부에 대한 검사가 진행될 수 있다.Thereafter, the vacuum adsorption module 140 and the probe block PB may be inspected for defects by interaction with the display panel inspection apparatus 200 including the mounted probe unit PU.

여기서, 상기 상호 작용은 진공흡착 모듈(140)이 위치 이동되어 원장 패널(MP)에 구비되는 디스플레이 패널(DP)의 전극 패드와 프로브 유닛(PU)의 프로브 블록(PB)의 접촉을 구현하여, 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 것을 의미할 수 있다.Here, in the interaction, the vacuum adsorption module 140 is moved to realize contact between the electrode pad of the display panel DP provided in the mother panel MP and the probe block PB of the probe unit PU, It may mean that an inspection is performed on whether the display panel DP is defective.

이하에서는 디스플레이 패널 검사 장치(200)에 의해 디스플레이 패널(DP)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 과정 등을 구체적으로 설명한다.Hereinafter, a process of inspecting whether the display panel DP is defective by the display panel inspection apparatus 200 will be described in detail.

4. 디스플레이 패널 검사 장치4. Display panel inspection device

도 20은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 설비에 제공되는 디스플레이 패널 검사 장치를 설명하기 위한 도면이다.20 is a view for explaining a display panel inspection apparatus provided in a display panel inspection facility according to the present invention.

도 20을 참조하면, 디스플레이 패널 검사 장치(200)는 프로브 블록(PB)을 지지하는 프로브 유닛(PU) 및 상기 프로브 유닛(PU)이 위치 이동 가능하게 장착되는 지지 유닛(210) 등을 포함할 수 있다.Referring to FIG. 20 , the display panel inspection apparatus 200 may include a probe unit PU supporting the probe block PB and a support unit 210 on which the probe unit PU is movably mounted. can

상기 지지 유닛(210)은 일종의 판의 형상으로 형성되는 프레임일 수 있으며, 상기 프로브 유닛(PU)은 횡방향으로 배치된 복수의 제1 프로브 블록(PB1)을 지지하는 제1 프로브 유닛(PU1), 종방향으로 배치된 복수의 제2 프로브 블록(PB2)을 지지하는 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 횡방향으로 배치된 복수의 제3 프로브 블록(PB3)을 지지하는 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 종방향으로 배치된 복수의 제4 프로브 블록(PB4)을 지지하는 제4 프로브 유닛(PU4)을 포함할 수 있다.The support unit 210 may be a frame formed in a kind of plate shape, and the probe unit PU is a first probe unit PU1 supporting a plurality of first probe blocks PB1 disposed in a transverse direction. , a second probe unit PU2 supporting the plurality of second probe blocks PB2 disposed in the longitudinal direction, and a third probe unit PU3 supporting the plurality of third probe blocks PB3 disposed in the transverse direction. ) and a fourth probe unit PU4 supporting the plurality of fourth probe blocks PB4 disposed in the longitudinal direction.

여기서, 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4)은 상기 지지 유닛(210) 상에서 횡방향(D1, D2) 또는 종방향(D3, D4)으로 이동될 수 있으며, 상기 횡방향(D1, D2) 및 상기 종방향(D3, D4)으로의 이동을 통해 대각선 방향(D5)으로 이동된 결과를 얻을 수 있다.Here, the first probe unit PU1 , the second probe unit PU2 , the third probe unit PU3 , and the fourth probe unit PU4 move in the transverse direction D1 on the support unit 210 , D2) or it can be moved in the longitudinal direction (D3, D4) have.

여기서, 상기 횡방향(D1, D2) 및 상기 종방향(D3, D4)은 디스플레이 패널(DP)의 형상과 대응되는 사각형을 형성하기 위한 방향일 수 있다.Here, the lateral directions D1 and D2 and the longitudinal directions D3 and D4 may be directions for forming a quadrangle corresponding to the shape of the display panel DP.

또한, 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4)은 상기 지지 유닛(210) 상에서 대각선 방향(D5)으로 바로 이동될 수도 있다.In addition, the first probe unit PU1 , the second probe unit PU2 , the third probe unit PU3 , and the fourth probe unit PU4 are disposed on the support unit 210 in a diagonal direction D5 . may be moved directly to

한편, 상기 복수의 제1 프로브 블록(PB1), 상기 복수의 제2 프로브 블록(PB2), 상기 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 복수의 제4 프로브 블록(PB4)은 각각 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 상에서 위치 이동 가능하게 장착될 수 있다.Meanwhile, the plurality of first probe blocks PB1 , the plurality of second probe blocks PB2 , the plurality of third probe blocks PB3 , and the plurality of fourth probe blocks PB4 are the first probe blocks PB4 , respectively. The probe unit PU1 , the second probe unit PU2 , the third probe unit PU3 , and the fourth probe unit PU4 may be movably mounted on each other.

상기와 같이 상기 지지 유닛(210) 상에서의 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및/또는 상기 제4 프로브 유닛(PU4)의 위치 이동과 상기 제1 프로브 유닛(PU1) 상에서의 상기 복수의 제1 프로브 블록(PB1)의 위치 이동, 상기 제2 프로브 유닛(PU2) 상에서의 상기 복수의 제2 프로브 블록(PB2)의 위치 이동, 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 상에서의 상기 복수의 제3 프로브 블록(PB3)의 위치 이동 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 상에서의 상기 복수의 제4 프로브 블록(PB4)의 위치 이동을 통해, 프로브 유닛의 교체 없이도 원장 패널(MP)에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널(DP) 각각에 대한 불량 여부에 대한 검사를 진행할 수 있게 되며, 또한, 원장 패널(MP)에 포함된 다양한 크기의 디스플레이 패널(DP)의 배치 상태, 즉, 장변이 횡방향(D1, D2)으로 배치되던지 종방향(D3, D4)으로 배치되던지 상관없이 그에 맞게 적절하게 대응하여 검사를 진행할 수 있게 된다.Positions of the first probe unit PU1 , the second probe unit PU2 , the third probe unit PU3 , and/or the fourth probe unit PU4 on the support unit 210 as described above movement and position movement of the plurality of first probe blocks PB1 on the first probe unit PU1, movement of the plurality of second probe blocks PB2 on the second probe unit PU2; Through positional movement of the plurality of third probe blocks PB3 on the third probe unit PU3 and movement of the plurality of fourth probe blocks PB4 on the fourth probe unit PU4, Without replacement of the probe unit, it is possible to check whether each of the display panels DP of various sizes included in the ledger panel MP is defective, and also display panels of various sizes included in the ledger panel MP. Regardless of the arrangement state of (DP), that is, whether the long side is arranged in the transverse direction (D1, D2) or the longitudinal direction (D3, D4), it is possible to proceed with the inspection by appropriately responding accordingly.

도 21 내지 도 27은 본 발명에 따른 원장 패널 이송 장치에 제공되는 진공흡착 모듈에 65인치의 디스플레이 패널과 55인치의 디스플레이 패널의 조합체인 피검사대상 원장 패널이 흡착되어 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 경우, 각각의 디스플레이 패널에 대한 검사 방법을 설명하기 위한 도면이다.21 to 27 show that the inspection target ledger panel, which is a combination of a 65-inch display panel and a 55-inch display panel, is adsorbed to the vacuum adsorption module provided for the ledger panel transfer device according to the present invention, and the inspection is performed In this case, it is a diagram for explaining an inspection method for each display panel.

우선, 진공흡착 모듈(140)에 역전 상태로 흡착된 원장 패널(MP)은, 디스플레이 패널(DP)이 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3) 3개와 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5) 2개가 형성된 혼합 타입인 것을 예로 들어 설명한다.First, the ledger panel MP adsorbed in an inverted state by the vacuum adsorption module 140 has a display panel DP with three 65-inch display panels DP1, DP2, DP3 and 55-inch display panels DP4, DP5 2 It will be described as an example of a dog-formed mixed type.

그리고, 각각의 디스플레이 패널은 상면의 모서리 영역 중 하나인 제1 모서리 영역을 따라 형성된 복수의 제1 전극 패드, 상기 상면의 모서리 영역 중 다른 하나인 제2 모서리 영역을 따라 형성된 복수의 제2 전극 패드, 상기 상면의 모서리 영역 중 또 다른 하나인 제3 모서리 영역을 따라 형성된 복수의 제3 전극 패드 및 상기 상면의 모서리 영역 중 또 다른 하나인 제4 모서리 영역을 따라 형성된 복수의 제4 전극 패드를 구비한다.In addition, each display panel includes a plurality of first electrode pads formed along a first corner region that is one of the corner regions of the upper surface, and a plurality of second electrode pads formed along a second corner region that is the other one of the corner regions of the upper surface. , a plurality of third electrode pads formed along a third corner region that is another one of the corner regions of the upper surface and a plurality of fourth electrode pads formed along a fourth corner region that is another one of the corner regions of the upper surface; do.

또한, 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3) 각각이 우선적으로 검사가 진행된 후, 검사가 완료되면 나머지 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5)에 대한 검사가 진행되는 경우를 예로 들어 설명한다.In addition, a case in which each of the 65-inch display panels DP1, DP2, and DP3 is inspected first, and then, when the inspection is completed, the remaining 55-inch display panels DP4 and DP5 are inspected will be described as an example.

도 21을 참조하면, 제1 프로브 유닛(PU1), 제2 프로브 유닛(PU2), 제3 프로브 유닛(PU3) 및 제1 프로브 유닛(PU1)은 상기 진공흡착 모듈(140) 상에 흡착된 원장 패널(MP)에 포함된 65인치의 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3)의 불량 여부를 검사하기 위해 지지 유닛(210) 상에서 위치 이동이 가능할 수 있다.Referring to FIG. 21 , the first probe unit PU1 , the second probe unit PU2 , the third probe unit PU3 , and the first probe unit PU1 are the ledgers adsorbed on the vacuum adsorption module 140 . In order to check whether the 65-inch display panels DP1, DP2, and DP3 included in the panel MP are defective, the position may be moved on the support unit 210 .

다시 말하면, 65인치의 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각이 제1 프로브 유닛(PU1)의 복수의 제1 프로브 블록(PB1) 중 적어도 일부, 제2 프로브 유닛(PU2)의 복수의 제2 프로브 블록(PB2) 중 적어도 일부, 제3 프로브 유닛(PU3)의 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 중 적어도 일부 및 제4 프로브 유닛(PU4)의 복수의 제4 프로브 블록(PB4) 중 적어도 일부에 접촉되도록 하기 위해, 제1 프로브 유닛(PU1), 제2 프로브 유닛(PU2), 제3 프로브 유닛(PU3) 및 제1 프로브 유닛(PU1) 중 적어도 하나가 지지 유닛(210) 상에서 위치 이동될 수 있는 것이다.In other words, each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the 65-inch display panels DP1, DP2, and DP3 is a plurality of first probes of the first probe unit PU1. At least a portion of the block PB1, at least a portion of the plurality of second probe blocks PB2 of the second probe unit PU2, at least a portion of the plurality of third probe blocks PB3 of the third probe unit PU3, and In order to contact at least some of the plurality of fourth probe blocks PB4 of the fourth probe unit PU4 , the first probe unit PU1 , the second probe unit PU2 , the third probe unit PU3 and At least one of the first probe units PU1 may be moved on the support unit 210 .

상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 중 적어도 하나는 대각선 방향(D5)으로 직접 이동되거나, 도면에 도시된 바와 같이 상기 횡방향(D1, D2) 및 상기 종방향(D3, D4)으로의 이동을 통해 상기 대각선 방향(D5)으로 이동될 수 있다.At least one of the first probe unit PU1, the second probe unit PU2, the third probe unit PU3, and the fourth probe unit PU4 is directly moved in the diagonal direction D5, or As shown in , it may be moved in the diagonal direction D5 through movement in the lateral directions D1 and D2 and the longitudinal directions D3 and D4.

여기서, 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 각각의 상기 지지 유닛(210) 상에서의 위치 이동은 리니어 모션 가이드, 모터, 볼스크류 및 볼 너트 등 다양한 구성요소를 이용하여 구현될 수 있으나, 이는 일 예에 불과할 뿐 다양한 공지의 이동 방식이 적용되어 구현될 수도 있다. Here, the first probe unit PU1 , the second probe unit PU2 , the third probe unit PU3 , and the fourth probe unit PU4 each move on the support unit 210 , It may be implemented using various components such as a linear motion guide, a motor, a ball screw, and a ball nut, but this is only an example and may be implemented by applying various known movement methods.

상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제1 프로브 유닛(PU1)은, 상기 복수의 제1 전극 패드, 상기 복수의 제2 전극 패드, 상기 복수의 제3 전극 패드 및 상기 복수의 제4 전극 패드 각각에 접촉되어야 하는 프로브 블록이 상기 복수의 제1 프로브 블록(PB1) 중 일부, 상기 복수의 제2 프로브 블록(PB2) 중 일부, 상기 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 중 일부 및 상기 복수의 제4 프로브 블록(PB4) 중 일부인 경우, 대각선 방향(D5)으로 직접 이동되거나 상기 횡방향(D1, D2) 및 상기 종방향(D3, D4)으로의 이동을 통해 상기 대각선 방향(D5)으로 이동될 수 있다.The first probe unit PU1 , the second probe unit PU2 , the third probe unit PU3 , and the first probe unit PU1 include the plurality of first electrode pads and the plurality of second probe units. A probe block to be in contact with each of the electrode pad, the plurality of third electrode pads, and the plurality of fourth electrode pads is a part of the plurality of first probe blocks PB1 and among the plurality of second probe blocks PB2 . When a part, a part of the plurality of third probe blocks PB3, and a part of the plurality of fourth probe blocks PB4 are directly moved in the diagonal direction D5, or in the lateral directions D1 and D2 and the longitudinal direction It may be moved in the diagonal direction D5 through the movement in (D3, D4).

이 경우, 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제1 프로브 유닛(PU1)은 바람개비 형상이 될 수 있다.In this case, the first probe unit PU1 , the second probe unit PU2 , the third probe unit PU3 , and the first probe unit PU1 may have a pinwheel shape.

한편, 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제1 프로브 유닛(PU1)은, 상기 복수의 제1 전극 패드, 상기 복수의 제2 전극 패드, 상기 복수의 제3 전극 패드 및 상기 복수의 제4 전극 패드 각각에 접촉되어야 하는 프로브 블록이 상기 복수의 제1 프로브 블록(PB1) 중 전부, 상기 복수의 제2 프로브 블록(PB2) 중 전부, 상기 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 중 전부 및 상기 복수의 제4 프로브 블록(PB4) 중 전부인 경우라도, 상황에 따라서 대각선 방향(D5)으로 직접 이동되거나 상기 횡방향(D1, D2) 및 상기 종방향(D3, D4)으로의 이동을 통해 상기 대각선 방향(D5)으로 이동될 수 있다.Meanwhile, the first probe unit PU1 , the second probe unit PU2 , the third probe unit PU3 , and the first probe unit PU1 include the plurality of first electrode pads and the plurality of probe units. All of the plurality of first probe blocks PB1 and the plurality of second probe blocks PB2 include a second electrode pad, a plurality of third electrode pads, and a probe block to be in contact with each of the plurality of fourth electrode pads. ), all of the plurality of third probe blocks PB3 and all of the plurality of fourth probe blocks PB4, depending on circumstances, may be directly moved in the diagonal direction D5 or the lateral direction D1, D2) and through movement in the longitudinal directions D3 and D4, it may be moved in the diagonal direction D5.

상기 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)은 각각 상기 제1 프로브 유닛(PU1), 상기 제2 프로브 유닛(PU2), 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 상에서 위치 이동될 수 있으며, 이동 방식에 대한 특별한 제한이 없다.The first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4 are the first probe unit PU1 and the second probe, respectively. The unit PU2, the third probe unit PU3, and the fourth probe unit PU4 may be moved, and there is no particular limitation on the movement method.

상기와 같이, 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(200)는 상기 프로브 유닛(PU) 및/또는 상기 프로브 블록(PB)의 위치 이동에 의해 상기 원장 패널(MP)에 형성된 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3) 및 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5) 모두를 프로브 유닛 및/또는 프로브 블록의 교체 없이 불량 여부에 대한 검사를 진행할 수 있으며, 이하에서 상세히 설명한다.As described above, the display panel inspection apparatus 200 according to the present invention has a 65-inch display panel DP1 formed on the mother panel MP by the position movement of the probe unit PU and/or the probe block PB. , DP2, DP3) and 55-inch display panels DP4 and DP5 can all be inspected for defects without replacing the probe unit and/or the probe block, which will be described in detail below.

본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(200)는 미도시된 감지유닛에 의해 진공흡착 모듈(140) 상에 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3) 3개와 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5) 2개가 형성된 원장 패널(MP)이 흡착되었음을 감지하게 된다.The display panel inspection apparatus 200 according to the present invention includes three 65-inch display panels (DP1, DP2, DP3) and 55-inch display panels (DP4, DP5) 2 on the vacuum adsorption module 140 by a sensing unit (not shown). It is detected that the ledger panel MP in which the dog is formed has been adsorbed.

상기 감지유닛은 카메라 등을 이용한 촬상 유닛 및/또는 각종 센서 유닛 등을 포함할 수 있으며, 상기 원장 패널이 상기 진공흡착 모듈(140)에 흡착된 상태에서 상기 프로브 유닛(PU)이 배치된 위치로 이동되기 전 또는 이동되는 도중에 상기 원장 패널(MP)을 구성하는 디스플레이 패널(DP)의 크기 등을 감지하게 된다.The sensing unit may include an imaging unit and/or various sensor units using a camera, etc., in a state where the led panel is adsorbed to the vacuum adsorption module 140 to the position where the probe unit PU is disposed. The size of the display panel DP constituting the ledger panel MP is sensed before or during the movement.

상기 감지유닛에 의해 상기 원장 패널(MP)을 구성하는 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3, DP4, DP5)의 크기 및/또는 종류가 감지되면, 제어유닛에 의해 어떤 종류의 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3, DP4, DP5)을 먼저 검사할지를 결정하게 되며, 이하에서는 전술한 바와 같이 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3)이 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5)보다 우선적으로 검사 대상으로 결정된 상황을 예로 들어 설명한다.When the size and/or type of the display panels DP1, DP2, DP3, DP4, DP5 constituting the ledger panel MP is detected by the sensing unit, what kind of display panel DP1, DP2 is detected by the control unit , DP3, DP4, DP5) is determined first, and in the following, as described above, the 65-inch display panel (DP1, DP2, DP3) is preferentially determined as the inspection target than the 55-inch display panel (DP4, DP5) will be described as an example.

상기 제어유닛에 의해 원장 패널(MP)에 형성된 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3, DP4, DP5)의 크기 및/또는 종류가 감지되고, 감지된 디스플레이 패널 중 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3)을 우선적으로 검사하는 경우, 상기 제어유닛은 프로브 블록(PB)이 상기 65인치 디스플레이 패널(DP)에 구비된 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드와 접촉되어 전기적 접속이 가능하도록 프로브 유닛(PU) 및 프로브 블록(PB)을 위치 이동시킬 수 있다.The size and/or type of the display panels DP1, DP2, DP3, DP4, DP5 formed on the ledger panel MP are detected by the control unit, and the 65-inch display panels DP1, DP2, DP3 among the detected display panels ), the control unit determines that the probe block PB is in contact with the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad provided in the 65-inch display panel DP. Thus, the probe unit PU and the probe block PB may be moved so that electrical connection is possible.

즉, 제1 프로브 유닛(PU1)은 순서에 상관 없는 제3 프로브 유닛(PU3)을 향한 방향인 종방향(D3, D4) 중 하측방향(D4)으로의 위치 이동 및 횡방향(D1, D2) 중 우측방향(D1)으로의 위치 이동을 통해, 결국, 대각선 방향(D5)으로 위치 이동될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 대각선 방향(D5)으로 직접 이동될 수도 있다.That is, the first probe unit PU1 moves in the downward direction D4 among the longitudinal directions D3 and D4, which is the direction toward the third probe unit PU3 regardless of the order, and the horizontal directions D1 and D2) Through the position movement in the right direction D1, the position may eventually be moved in the diagonal direction D5, but is not limited thereto, and may be directly moved in the diagonal direction D5.

이때, 복수의 제1 프로브 블록(PB1) 중 검사에 필요한 프로브 블록은 제1 프로브 유닛(PU1) 상에서 횡방향(D1, D2) 중 좌측방향(D2)을 향하여 위치 이동될 수 있으나, 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 도면에 도시된 바와 같이 위치 변화가 없을 수도 있다.At this time, the probe block required for inspection among the plurality of first probe blocks PB1 may be moved on the first probe unit PU1 in the left direction D2 among the lateral directions D1 and D2, but Depending on the arrangement state of the electrode pads, there may be no change in position as shown in the drawings.

또한, 제2 프로브 유닛(PU2)은 순서에 상관 없는 제4 프로브 유닛(PU4)을 향한 방향인 횡방향(D1, D2) 중 좌측방향(D2)으로의 위치 이동 및 종방향(D3, D4) 중 하측방향(D4)으로의 위치 이동을 통해, 결국, 대각선 방향(D5)으로 위치 이동되게 되나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 대각선 방향(D5)으로 직접 이동될 수도 있다.In addition, the second probe unit PU2 moves in the left direction D2 among the lateral directions D1 and D2, which is a direction toward the fourth probe unit PU4 irrespective of the order, and the longitudinal directions D3 and D4. Through the position movement in the lower direction D4, the position is eventually moved in the diagonal direction D5, but is not necessarily limited thereto, and may be directly moved in the diagonal direction D5.

이때, 복수의 제2 프로브 블록(PB2) 중 검사에 필요한 프로브 블록은 제2 프로브 유닛(PU2) 상에서 종방향(D3, D4) 중 상측 방향(D3)으로 위치 이동될 수 있으나, 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 도면에 도시된 바와 같이 위치 변화가 없을 수도 있다.In this case, the probe block required for inspection among the plurality of second probe blocks PB2 may be moved in the upper direction D3 among the longitudinal directions D3 and D4 on the second probe unit PU2, but the electrode of the display panel Depending on the arrangement of the pads, there may be no change in position as shown in the drawings.

또한, 제3 프로브 유닛(PU3)은 순서에 상관 없는 제1 프로브 유닛(PU1)을 향한 방향인 종방향(D3, D4) 중 상측방향(D3)으로의 위치 이동 및 횡방향(D1, D2) 중 좌측방향(D2)으로의 위치 이동을 통해, 결국, 대각선 방향(D5)으로 위치 이동될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 대각선 방향(D5)으로 직접 이동될 수도 있다.In addition, the third probe unit PU3 moves in the upper direction D3 among the longitudinal directions D3 and D4 that are directions toward the first probe unit PU1 regardless of the order and moves in the lateral directions D1 and D2. Through the position movement in the left direction D2, the position may eventually be moved in the diagonal direction D5, but is not limited thereto, and may be directly moved in the diagonal direction D5.

이때, 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 중 검사에 필요한 프로브 블록은 제3 프로브 유닛(PU3) 상에서 횡방향(D1, D2) 중 우측방향(D1)으로 위치 이동될 수 있으나, 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 도면에 도시된 바와 같이 위치 변화가 없을 수도 있다.In this case, the probe block required for inspection among the plurality of third probe blocks PB3 may be moved in the right direction D1 among the lateral directions D1 and D2 on the third probe unit PU3 , but the electrode of the display panel Depending on the arrangement of the pads, there may be no change in position as shown in the drawings.

또한, 제4 프로브 유닛(PU4)은 순서에 상관 없는 제2 프로브 유닛(PU2)을 향한 방향인 횡방향(D1, D2) 중 우측방향(D1)으로의 위치 이동 및 종방향(D3, D4) 중 상측방향(D3)으로의 위치 이동을 통해, 결국, 대각선 방향(D5)으로 위치 이동될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 대각선 방향(D5)으로 직접 이동될 수도 있다.In addition, the fourth probe unit PU4 moves in the right direction D1 among the lateral directions D1 and D2, which are directions toward the second probe unit PU2 regardless of the order, and the longitudinal directions D3 and D4. Through the position movement in the upper direction D3, the position may eventually be moved in the diagonal direction D5, but is not limited thereto, and may be directly moved in the diagonal direction D5.

이때, 복수의 제4 프로브 블록(PB4) 중 검사에 필요한 프로브 블록은 제4 프로브 유닛(PU4) 상에서 종방향(D3, D4) 중 하측방향(D4)으로 위치 이동될 수 있으나, 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 도면에 도시된 바와 같이 위치 변화가 없을 수도 있다.In this case, the probe block required for inspection among the plurality of fourth probe blocks PB4 may be moved in the lower direction D4 among the longitudinal directions D3 and D4 on the fourth probe unit PU4, but the electrode of the display panel Depending on the arrangement of the pads, there may be no change in position as shown in the drawings.

결국, 상기 제1 프로브 유닛(110), 상기 제2 프로브 유닛(120), 상기 제3 프로브 유닛(130) 및 상기 제4 프로브 유닛(140)은 바람개비 형상이 되도록 위치 이동이 될 수 있는 것이다.As a result, the first probe unit 110 , the second probe unit 120 , the third probe unit 130 , and the fourth probe unit 140 may be moved to have a pinwheel shape.

그리고, 검사에 필요한 상기 제1 프로브 블록(PB1) 및 상기 제3 프로브 블록(PB3)은 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 각각 상기 제1 프로브 유닛(PU1) 및 상기 제3 프로브 유닛(PU3) 상에서 서로 반대 방향으로 위치 이동될 수 있으며, 검사에 필요한 상기 제2 프로브 블록(PB2) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)은 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 각각 상기 제2 프로브 유닛(PU2) 및 상기 제4 프로브 유닛(PU4) 상에서 서로 반대 방향으로 위치 이동될 수 있다.In addition, the first probe block PB1 and the third probe block PB3 required for inspection are respectively the first probe unit PU1 and the third probe unit PU3 according to the arrangement of electrode pads of the display panel. ), the second probe block (PB2) and the fourth probe block (PB4) required for inspection are each of the second probe unit ( PU2) and the fourth probe unit PU4 may be moved in opposite directions.

물론, 전술한 바와 같이 디스플레이 패널의 전극 패드의 배열 상태에 따라 상기 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)은 위치 변화가 없을 수도 있다.Of course, as described above, the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4 according to the arrangement state of the electrode pads of the display panel. ) may have no change in position.

상기와 같은 프로브 유닛(PU)의 위치 이동 및 프로브 블록(PB)의 위치 이동에 의해 복수의 제1 프로브 블록(PB1) 중 일부, 복수의 제2 프로브 블록(PB2) 중 일부, 복수의 제3 프로브 블록(PB3) 중 일부 및 복수의 제4 프로브 블록(PB4) 중 일부 각각은 65인치 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드와 대응되는 위치에 정확하게 배치되게 된다.Some of the plurality of first probe blocks PB1, some of the plurality of second probe blocks PB2, and a plurality of third A portion of the probe block PB3 and a portion of the plurality of fourth probe blocks PB4 are respectively a first electrode pad, a second electrode pad, a third electrode pad, and a fourth of the 65-inch display panels DP1, DP2, and DP3. It is precisely disposed at a position corresponding to the electrode pad.

상기 프로브 유닛(PU) 및 상기 프로브 블록(PB)의 위치 이동이 완료되면, 진공흡착 모듈(140)은 원장 패널(MP)을 구성하는 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각이 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 상부에 위치하도록 이동하게 된다.When the position movement of the probe unit PU and the probe block PB is completed, the vacuum adsorption module 140 is a first electrode pad of the first 65-inch display panel DP1 constituting the mother panel MP. , the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad are respectively the first probe block PB1 , the second probe block PB2 , the third probe block PB3 , and the fourth probe block PB4 . ) to be located above the

여기서, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동은 직선 이동 및/또는 회전 이동 등을 포함할 수 있으며, 이외에 다양한 방식의 이동 방식이 적용될 수도 있다.Here, the positional movement of the vacuum adsorption module 140 may include linear movement and/or rotational movement, and in addition, various types of movement methods may be applied.

이로 인해, 검사가 필요한 디스플레이 패널(DP1)의 다양한 배치 상태를 구현할 수 있다.Due to this, various arrangement states of the display panel DP1 that need to be inspected may be implemented.

상기 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각이 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 상부에 위치하게 되면, 도 22에 도시된 바와 같이 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해, 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각은 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)에 접촉되어 전기적 접속이 구현되어, 상기 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.Each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the first 65-inch display panel DP1 includes a first probe block PB1, the second probe block PB2, When positioned above the third probe block PB3 and the fourth probe block PB4, as shown in FIG. 22, the vacuum adsorption module 140 moves through the position of the first 65-inch display Each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the panel DP1 is a first probe block PB1 , the second probe block PB2 , and the third probe block PB3 . ) and the fourth probe block PB4 to realize electrical connection, so that the first 65-inch display panel DP1 is inspected for defects.

한편, 상기 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 첫 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP1)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB3)의 접촉이 해제되게 된다.On the other hand, when the inspection of whether the first 65-inch display panel DP1 is defective is completed, the first electrode pad of the first 65-inch display panel DP1 is moved through the position movement of the vacuum adsorption module 140 . , the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad, respectively, and the first probe block PB1 , the second probe block PB2 , the third probe block PB3 , and the fourth probe block PB3 . ) will be disconnected.

이후에는 도 23에 도시된 바와 같이 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 두 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP2)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 구현되게 되어, 상기 두 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP2)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.Thereafter, as shown in FIG. 23 , the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode of the second 65-inch display panel DP2 are moved through the position movement of the vacuum adsorption module 140 . Each of the pads is brought into contact with the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4, so that the second 65 inches An inspection of whether the display panel DP2 is defective is performed.

상기 두 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP2)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 두 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP2)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 해제되게 된다.When the inspection on whether the second 65-inch display panel DP2 is defective is completed, the first electrode pad of the second 65-inch display panel DP2 is Each of the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad, and the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4 contact is broken.

이후에는 도 24에 도시된 바와 같이 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 세 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP3)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 구현되게 되어, 상기 세 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP3)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.Thereafter, as shown in FIG. 24 , the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode of the third 65-inch display panel DP3 are moved through the position movement of the vacuum adsorption module 140 . Each of the pads is brought into contact with the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4, so that the third 65 inches An inspection of whether the display panel DP3 is defective is performed.

상기 세 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP3)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 세 번째의 65인치 디스플레이 패널(DP3)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 해제되게 된다.When the inspection on whether the third 65-inch display panel DP3 is defective is completed, the first electrode pad of the third 65-inch display panel DP3 is moved through the position movement of the vacuum adsorption module 140; Each of the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad, and the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4 contact is broken.

이후에는 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치(200)에 의해 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5)의 불량 여부가 검사되도록, 상기 제어유닛은 도 25에 도시된 바와 같이 프로브 블록(PB1, PB2, PB3, PB4)이 상기 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5)에 구비된 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드와 접촉되어 전기적 접속이 가능하도록 프로브 유닛(PU1, PU2, PU3, PU4) 및 프로브 블록(PB1, PB2, PB3, PB4)을 위치 이동시킬 수 있다.Thereafter, the control unit controls the probe blocks PB1, PB2, PB3 as shown in FIG. , PB4 are in contact with the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad provided in the 55-inch display panels DP4 and DP5 to enable electrical connection. , PU3, PU4) and the probe blocks PB1, PB2, PB3, and PB4 may be moved.

프로브 유닛(PU1, PU2, PU3, PU4)의 위치 이동 및 프로브 블록(PB1, PB2, PB3, PB4)의 위치 이동에 의해 상기 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4) 각각은 55인치 디스플레이 패널(DP4, DP5)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드와 정확하게 대응되는 위치로 이동되게 된다.The first probe block PB1, the second probe block PB2, and the Each of the third probe block PB3 and the fourth probe block PB4 accurately corresponds to the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the 55-inch display panels DP4 and DP5. will be moved to the

상기 프로브 유닛(PU1, PU2, PU3, PU4) 및 상기 프로브 블록(PB1, PB2, PB3, PB4)의 위치 이동이 완료되면, 진공흡착 모듈(140)은 원장 패널(MP)을 구성하는 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각이 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 상부에 위치하도록 위치 이동하게 된다.When the position movement of the probe units (PU1, PU2, PU3, PU4) and the probe blocks (PB1, PB2, PB3, PB4) is completed, the vacuum adsorption module 140 is the first Each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the 55-inch display panel DP4 is a first probe block PB1, the second probe block PB2, and the third probe. The position is moved so as to be positioned above the block PB3 and the fourth probe block PB4.

여기서, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동은 직선 이동 및/또는 회전 이동 등을 포함할 수 있으며, 이외에 다양한 방식의 이동 방식이 적용될 수도 있다.Here, the positional movement of the vacuum adsorption module 140 may include linear movement and/or rotational movement, and in addition, various types of movement methods may be applied.

상기 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각이 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 상부에 위치하게 되면, 도 26에 도시된 바와 같이 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각은 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)에 접촉되어 전기적 접속이 구현되어, 상기 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.Each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of the first 55-inch display panel DP4 includes a first probe block PB1, the second probe block PB2, When positioned above the third probe block PB3 and the fourth probe block PB4, the first 55-inch display panel is moved through the position of the vacuum adsorption module 140 as shown in FIG. 26 . Each of the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad of DP4 is a first probe block PB1 , the second probe block PB2 , and the third probe block PB3 , respectively. and the fourth probe block PB4 to be electrically connected, so that the first 55-inch display panel DP4 is inspected for defects.

한편, 상기 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 첫 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP4)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 해제되게 된다.On the other hand, when the inspection on whether the first 55-inch display panel DP4 is defective is completed, the first electrode pad of the first 55-inch display panel DP4 is moved through the position movement of the vacuum adsorption module 140 . , the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad, respectively, and the first probe block PB1 , the second probe block PB2 , the third probe block PB3 , and the fourth probe block PB4 . ) will be disconnected.

이후에는 도 27에 도시된 바와 같이 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 두 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP5)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 구현되게 되어, 상기 두 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP5)의 불량 여부에 대한 검사가 진행되게 된다.Thereafter, as shown in FIG. 27 , the first electrode pad, the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode of the second 55-inch display panel DP5 are moved through the position movement of the vacuum adsorption module 140 . Each of the pads is brought into contact with the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4, so that the second 55 inches An inspection of whether the display panel DP5 is defective is performed.

상기 두 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP5)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 진공흡착 모듈(140)의 위치 이동을 통해 두 번째의 55인치 디스플레이 패널(DP5)의 제1 전극 패드, 제2 전극 패드, 제3 전극 패드 및 제4 전극 패드 각각과 제1 프로브 블록(PB1), 상기 제2 프로브 블록(PB2), 상기 제3 프로브 블록(PB3) 및 상기 제4 프로브 블록(PB4)의 접촉이 해제되게 되며, 원장 패널에 포함된 모든 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3, DP4, DP5) 각각에 대한 불량 여부에 대한 검사가 완료되게 된다.When the inspection for whether the second 55-inch display panel DP5 is defective is completed, the first electrode pad of the second 55-inch display panel DP5 through the position movement of the vacuum adsorption module 140, the second Each of the second electrode pad, the third electrode pad, and the fourth electrode pad, and the first probe block PB1, the second probe block PB2, the third probe block PB3, and the fourth probe block PB4 The contact is released, and the inspection for defects on each of the display panels DP1, DP2, DP3, DP4, and DP5 included in the ledger panel is completed.

상기와 같이 하나의 원장 패널에 형성된 모든 디스플레이 패널(DP1, DP2, DP3, DP4, DP5)의 불량 여부에 대한 검사가 완료되면, 상기 원장 패널(MP)은 다음 공정(예를 들어, 봉지 공정 등)을 위해 이동하게 되며, 다른 원장 패널에 대한 검사 공정은 반복적으로 진행되게 된다.As described above, when the inspection for defects of all the display panels DP1, DP2, DP3, DP4, DP5 formed on one ledger panel is completed, the ledger panel MP proceeds to the next process (eg, encapsulation process, etc.). ), and the inspection process for other ledger panels is repeated.

도 28은 본 발명에 따른 디스플레이 패널 검사 장치에 의해 디스플레이 패널의 불량 여부가 검사되는 경우, 사용되지 않는 프로브 블록의 위치 이동을 설명하기 위한 도면이다.28 is a view for explaining the movement of a position of an unused probe block when the display panel is inspected for defects by the display panel inspection apparatus according to the present invention.

도 28을 참조하면, 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 경우, 임의의 프로브 유닛 상의 복수의 프로브 블록 중 일부는 검사에 사용되지 않을 수 있다.Referring to FIG. 28 , when an inspection is performed on whether the display panel is defective, some of a plurality of probe blocks on an arbitrary probe unit may not be used for the inspection.

이하에서는 임의의 프로브 유닛 상의 복수의 프로브 블록 중 최외측에 위치한 프로브 블록(PBX) 만이 검사에 사용되지 않는 경우를 예로 들어 설명할 것이나, 검사에 사용되지 않는 프로브 블록이 복수인 경우에도 동일하게 적용 가능함을 밝혀둔다.Hereinafter, a case in which only the outermost probe block (PBX) among a plurality of probe blocks on an arbitrary probe unit is not used for testing will be described. make it clear that it is possible

특정 크기의 디스플레이 패널을 검사하는 경우, 임의의 프로브 유닛 상의 복수의 프로브 블록 중 복수의 전극 패드에 접촉되어야 하는 프로브 블록이 일부인 경우, 상기 복수의 프로브 블록 중 나머지 프로브 블록(PBX)은, 상기 복수의 프로브 블록 중 상기 일부의 프로브 블록이 상기 복수의 전극 패드에 접촉되어 상기 불량 여부에 대한 검사가 진행되는 디스플레이 패널 이외의 상기 원장 패널 상의 다른 디스플레이 패널과의 접촉이 방지되도록, 위치 이동될 수 있다.When inspecting a display panel of a specific size, when a part of a probe block to be in contact with a plurality of electrode pads among a plurality of probe blocks on an arbitrary probe unit is a part, the remaining probe blocks PBX among the plurality of probe blocks The position may be moved so that some of the probe blocks among the probe blocks of the . .

구체적으로, 프로브 블록(PBX)은 상기 프로브 유닛(PU)에 장착되는 프로브 바디부(PBX1), 및 상부 또는 하부를 향하여 위치 이동 가능하게 상기 프로브 바디(PBX1)에 장착되고 프로브를 구비하는 프로브 가변부(PBX2)를 구비할 수 있으며, 상기 프로브 가변부(PBX2)는 상기 나머지 프로브 블록에 해당되는 경우, 상기 프로브 바디부(PBX1)로부터 하부를 향하여 이동되어, 상기 원장 패널 상의 다른 디스플레이 패널과의 접촉이 방지될 수 있다.Specifically, the probe block PBX includes a probe body portion PBX1 mounted on the probe unit PU, and a variable probe mounted on the probe body PBX1 to be movable upward or downward and including a probe. A portion PBX2 may be provided, and when the probe variable portion PBX2 corresponds to the remaining probe block, it is moved downward from the probe body portion PBX1 to communicate with other display panels on the mother panel. Contact can be prevented.

여기서, 상기 프로브 바디부(PBX1) 상에서의 상기 프로브 가변부(PBX2)의 위치 이동 방법은 액추에이터 등의 구동 방법이 적용될 수 있으나, 반드시 이에 한정되는 것은 아니며, 공지의 구동 방법이 모두 적용될 수 있다.Here, as a method of moving the position of the probe variable part PBX2 on the probe body part PBX1, a driving method such as an actuator may be applied, but it is not necessarily limited thereto, and all known driving methods may be applied.

상기에서는 본 발명에 따른 실시예를 기준으로 본 발명의 구성과 특징을 설명하였으나 본 발명은 이에 한정되지 않으며, 본 발명의 사상과 범위 내에서 다양하게 변경 또는 변형할 수 있음은 본 발명이 속하는 기술분야의 당업자에게 명백한 것이며, 따라서 이와 같은 변경 또는 변형은 첨부된 특허청구범위에 속함을 밝혀둔다.In the above, the configuration and features of the present invention have been described based on the embodiments according to the present invention, but the present invention is not limited thereto, and it is understood that various changes or modifications can be made within the spirit and scope of the present invention. It is intended that such changes or modifications will be apparent to those skilled in the art, and therefore fall within the scope of the appended claims.

100: 원장 패널 이송 장치
110: 스테이지 모듈
120: 이송 모듈
130: 픽커 모듈
140: 진공흡착 모듈
200: 디스플레이 패널 검사 장치
300: 제1 공간부
400: 제2 공간부
1000: 디스플레이 패널 검사 설비
1100: 검사 공정 준비 설비
1200: 검사 공정 진행 설비
100: ledger panel transfer device
110: stage module
120: transfer module
130: picker module
140: vacuum adsorption module
200: display panel inspection device
300: first space part
400: second space part
1000: display panel inspection equipment
1100: Inspection process preparation equipment
1200: inspection process progress equipment

Claims (2)

원장 패널의 일면이 상부를 향한 정상상태로 상기 원장 패널의 타면을 흡착하여 고정시키기 위한 스테이지 모듈 - 상기 원장 패널의 일면은 유기 발광층 형성을 위한 유기물층이 증착된 적어도 한 종류 이상의 디스플레이 패널이 구비됨 - ; 및
상기 스테이지 모듈에 흡착된 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착한 후, 상기 흡착된 상기 원장 패널을 상기 디스플레이 패널의 불량 여부에 대한 검사를 위한 제1 위치로 이동시키기 위한 이송 모듈;을 포함하며,
상기 스테이지 모듈은,
상기 정상상태로 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착하되, 상기 원장 패널이 자중에 의해 중앙부가 처지지 않도록 하기 위한 복수의 스테이지 유닛을 포함하며,
상기 복수의 스테이지 유닛은,
각각 서로 이격되게 배치되어 사이사이에 제1 공간이 형성되도록 하며,
상기 이송 모듈은,
상기 스테이지 모듈이 회전되어 상기 원장 패널이 상기 정상상태에서 상기 일면이 하부를 향한 상태인 역전상태로 상태 변화된 경우, 상기 제1 공간에 삽입되어 상기 역전상태로 배치되는 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착하되, 상기 원장 패널이 자중에 의해 중앙부가 처지지 않도록 하기 위한 복수의 이송 유닛을 포함하는 것을 특징으로 하는 원장 패널 이송 장치.
A stage module for adsorbing and fixing the other surface of the mother panel in a normal state with one surface of the mother panel facing upwards - At least one type of display panel on which an organic material layer for forming an organic light emitting layer is deposited on one surface of the mother panel is provided - ; and
a transfer module for adsorbing the other surface of the mother panel adsorbed to the stage module, and then moving the adsorbed mother panel to a first position for checking whether the display panel is defective;
The stage module is
and a plurality of stage units for adsorbing the other surface of the mother panel in the normal state, and preventing the central portion of the mother panel from sagging due to its own weight,
The plurality of stage units,
They are respectively spaced apart from each other to form a first space therebetween,
The transfer module is
When the stage module is rotated to change the state of the mother panel from the normal state to an inverted state in which the one surface faces downward, it is inserted into the first space and adsorbed the other surface of the mother panel disposed in the reversed state However, the mother panel transfer device comprising a plurality of transfer units for preventing the central portion of the mother panel from sagging due to its own weight.
제1항에 있어서,
상기 이송 모듈은,
상기 원장 패널이 상기 스테이지 모듈의 회전에 의해 상기 정상상태에서 상기 역전상태가 된 후, 상기 역전상태로 상태가 변화된 상기 원장 패널의 상기 타면을 흡착하여 상기 원장 패널을 상기 역전상태를 유지하면서 상기 제1 위치로 이동시키는 것을 특징으로 하는 원장 패널 이송 장치.
According to claim 1,
The transfer module is
After the mother panel is changed from the normal state to the inverted state by the rotation of the stage module, the second surface of the mother panel whose state is changed to the inverted state is adsorbed to maintain the mother panel in the inverted state. Ledger panel transport device, characterized in that it moves to position 1.
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