KR20200115125A - 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템 - Google Patents

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Abstract

차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템이 제공된다. 상기 진단 시스템은 마이크로컨트롤러 핵심 요소를 갖는 마이크로컨트롤러를 포함한다. 제1 진단 핸들러 어플리케이션은 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션에게 제1 인덱스값을 송신한다. 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은, 상기 제1 인덱스값이 제1 테이블의 유효 인덱스값과 동일하면, 램에 저장된 제1 테이블의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그에 접근한다. 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은 제1 진단 핸들러 어플리케이션에게 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그를 송신한다.

Description

차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템{DIAGNOSTIC SYSTEM FOR A VHICLE ELECTRICAL SYSTEM}
본 출원은 2019년 03월 25일자로 출원된 미국 특허 출원번호 제16/363,146에 대한 우선권주장출원으로서, 해당 출원의 명세서 및 도면에 개시된 모든 내용은 인용에 의해 본 출원에 원용된다.
본 발명은 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템에 관한 것으로서, 보다 상세하게는, 램의 메모리 영역에 저장된 진단 플래그가 잘못된 값으로 덮어써지는 것을 방지하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템에 관한 것이다.
차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템에 있어서, 두 개의 진단 핸들러 어플리케이션이 램(Random access memory, RAM)의 진단 플래그에 직접 접근(access)할 때, 진단 핸들러 어플리케이션들 중 어느 하나가 메모리 진단 플래그를 유효하지 않은 값으로 잘못 덮어쓸 가능성이 있다.
본 출원인은 상술한 문제를 해결하기 위하여 차량 전기 시스템을 위한 향상된 진단 시스템의 필요성을 인식하였다.
본 발명은, 상기와 같은 문제점을 해결하기 위해 안출된 것으로서, 복수의 진단 핸들러 어플리케이션이 램의 진단 플래그에 직접 접근하는 것을 방지하여, 램에 저장된 메모리 진단 플래그가 유효하지 않은 값으로 잘못 덮어써지는 것을 방지하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 다른 목적 및 장점들은 하기의 설명에 의해서 이해될 수 있으며, 본 발명의 실시예에 의해 보다 분명하게 알게 될 것이다. 또한, 본 발명의 목적 및 장점들은 특허청구범위에 나타난 수단 및 그 조합에 의해 실현될 수 있음을 쉽게 알 수 있을 것이다.
차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템이 제공된다. 상기 진단 시스템은 마이크로컨트롤러 핵심 요소(Microcontroller core components), 제1 진단 핸들러 어플리케이션 및 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션을 갖는 마이크로컨트롤러를 포함한다. 상기 제1 진단 핸들러 어플리케이션은 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션에게 제1 인덱스값을 송신한다. 상기 제1 인덱스값은 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소의 제1 마이크로 컨트롤러 핵심 요소와 연관된다. 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은 상기 제1 인덱스값이 램의 제1 테이블의 유효 인덱스값과 동일하면, 상기 제1 테이블의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그에 접근(access)한다. 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그는 상기 제1 마이크로컨트롤러 핵심 요소의 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 제1 결함값을 갖는다. 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그는 상기 제1 마이크로컨트롤러 핵심 요소의 상기 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 제1 비결함값을 갖는다. 상기 제1 인덱스값, 상기 제1 결함값, 및 상기 제1 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 갖는다. 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은 상기 제1 진단 핸들러 어플리케이션에게 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그를 송신한다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 램의 진단 플래그가 유효하지 않은 값으로 잘못 덮어써질 가능성이 현저하게 낮아질 수 있다. 따라서, 잘못 덮어써진 진단 플래그에 의해 차량 전기 시스템이 오동작하는 것이 방지될 수 있는 장점이 있다.
또한, 본 발명의 일 측면에 따르면, 진단 플래그가 결함 조건을 나타내면 복수의 진단 핸들러 어플리케이션을 통해서 안전 조치가 중복적으로 수행되기 때문에, 복수의 진단 핸들러 어플리케이션 중 어느 하나가 동작하지 않거나 오동작 하더라도, 나머지 진단 핸들러 어플리케이션을 통해서 안전 조치가 수행될 수 있는 장점이 있다.
본 발명의 효과들은 이상에서 언급한 효과들로 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 효과들은 청구범위의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 명세서에 첨부되는 다음의 도면들은 후술되는 발명의 상세한 설명과 함께 본 발명의 기술사상을 더욱 이해시키는 역할을 하는 것이므로, 본 발명은 그러한 도면에 기재된 사항에만 한정되어 해석되어서는 아니 된다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템을 갖는 차량을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 2는 도 1의 진단 시스템에 의해 이용되는 어플리케이션의 블록도이고, 상기 어플리케이션은 플래시 메모리 진단 안전 메커니즘, 램 진단 안전 메커니즘, 마이크로프로세서 진단 안전 메커니즘, 파워 서플라이 진단 안전 메커니즘, 클럭 진단 안전 메커니즘, 제1 진단 핸들러 어플리케이션, 제2 진단 핸들러 어플리케이션, 및 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션을 포함하며, 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은 플래시 메모리 진단 안전 어플리케이션, 램 진단 안전 어플리케이션, 마이크로프로세서 진단 안전 어플리케이션, 파워 서플라이 진단 안전 어플리케이션 및 클럭 진단 안전 어플리케이션을 포함한다.
도 3은 복수의 레코드를 갖는 마스터 마이크로컨트롤러 인덱스 테이블이고, 각각의 레코드는 마이크로컨트롤러 핵심 요소 명칭, 인덱스 명칭 및 유효 인덱스값을 갖는다.
도 4는 복수의 레코드를 갖는 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그를 위한 마스터 테이블이고, 각각의 레코드는 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그 명칭, 유효 인덱스값, 비결함값 및 결함값을 갖는다.
도 5는 제1 유효 인덱스값 및 플래시 메모리 진단 플래그를 갖는 레코드를 가진 플래시 메모리와 연관된 제1 테이블이다.
도 6은 제2 유효 인덱스값 및 램 메모리 진단 플래그를 갖는 레코드를 가진 램과 연관된 제2 테이블이다.
도 7은 제3 유효 인덱스값 및 마이크로프로세서 진단 플래그를 갖는 레코드를 가진 마이크로프로세서와 연관된 제3 테이블이다.
도 8은 제4 유효 인덱스값 및 파워 서플라이 진단 플래그를 갖는 레코드를 가진 파워 서플라이와 연관된 제4 테이블이다.
도 9는 제5 유효 인덱스값 및 클럭 진단 플래그를 갖는 레코드를 가진 클럭과 연관된 제5 테이블이다.
도 10 내지 도 23은 도 1의 진단 시스템에 의해 수행되는 진단 방법을 개략적으로 도시한 순서도이다.
본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야 한다.
따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
또한, 본 발명을 설명함에 있어 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명은 생략한다.
제1, 제2 등과 같이 서수를 포함하는 용어들은, 다양한 구성요소들 중 어느 하나를 나머지와 구별하는 목적으로 사용되는 것이고, 그러한 용어들에 의해 구성요소들을 한정하기 위해 사용되는 것은 아니다.
명세서 전체에서, 어떤 부분이 어떤 구성요소를 "포함"한다고 할 때, 이는 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라, 다른 구성요소를 더 포함할 수 있다는 것을 의미한다.
또한, 명세서에 기재된 제어부와 같은 용어는 적어도 하나의 기능이나 동작을 처리하는 단위를 의미하며, 이는 하드웨어나 소프트웨어, 또는 하드웨어 및 소프트웨어의 결합으로 구현될 수 있다.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 "연결"되어 있다고 할 때, 이는 "직접적으로 연결"되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 "간접적으로 연결"되어 있는 경우도 포함한다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세히 설명하기로 한다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템을 갖는 차량을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 1을 참조하면, 차량(20)이 제공된다. 상기 차량(20)은 본 발명의 일 실시예에 따른 차량 전기 시스템(22) 및 진단 시스템(24)을 포함한다.
상기 차량 전기 시스템(22)은 배터리(60), 컨택터(70), 하이 사이드 전압 드라이버(80), 로우 사이드 전압 드라이버(82), DC-DC 전압 컨버터(100), 배터리(110), 모터 스타터-제너레이터(114), 및 전기 라인(130, 132, 134, 136, 138, 140, 146)을 포함한다.
상기 진단 시스템(24)의 장점은 상기 시스템(24)이 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션에게 인덱스값을 송신하는 진단 핸들러 어플리케이션을 이용하고, 이에 응답하여 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션이 램의 진단 플래그에 접근하고, 상기 진단 핸들러 어플리케이션에게 상기 진단 플래그를 송신하는 것이다. 추가로, 상기 진단 플래그가 결함 조건을 나타내면, 상기 진단 핸들러 어플리케이션은 안전 조치를 취할 수 있다. 상기 인덱스값을 이용함으로써, 상기 진단 핸들러 어플리케이션은 상기 램의 상기 진단 플래그에 직접 접근할 수 없으므로, 상기 진단 핸들러 어플리케이션이 상기 램의 상기 진단 플래그에 잘못 덮어쓰는 것이 방지된다.
“노드” 또는 "전기 노드"는 전기 회로의 영역 또는 위치를 지칭한다.
“IC"는 집적 회로를 지칭한다.
“마이크로컨트롤러 핵심 요소"는 마이크로컨트롤러(380)에서 사용되는 마이크로프로세서(392), 플래시 메모리(396), 램(400), 내부 파워 서플라이(402), 및 클럭(404) 중 적어도 하나를 지칭한다.
“진단 안전 메커니즘"은 상기 마이크로컨트롤러(380)의 초기 구동 동작(Startup operation) 동안 실행되는 어플리케이션을 지칭한다. 상기 진단 안전 메커니즘은 상기 마이크로컨트롤러(380)의 초기 구동 동작 동안 마이크로컨트롤러 핵심 요소의 결함 조건을 나타낼 수 있는 복수의 진단 플래그에 접근할 수 있다. 이후 상기 진단 안전 메커니즘은, 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그를 결함값으로 설정하고, 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그를 비결함값으로 설정할 수 있다.
“진단 핸들러 어플리케이션"은 상기 마이크로컨트롤러(380)의 마이크로컨트롤러 핵심 요소에서 결함 조건이 발견되면, 차량 전기 시스템(22)에서 안전 조치(예컨대, 컨택터 코일(232)을 열고, 고전압 스위치(250)를 열고, 저전압 스위치(254)를 여는 조치)를 취할 수 있는 어플리케이션을 지칭한다.
상기 배터리(60)는 양극 단자(180) 및 음극 단자(182)를 포함한다. 일 실시예에서, 상기 배터리(60)는 상기 양극 단자(180)와 상기 음극 단자(182) 사이에서 실질적으로 48Vdc를 발생시킨다. 상기 양극 단자(180)는 상기 컨택터(70)의 노드(234)에 전기적으로 연결된다. 상기 음극 단자(182)는 전기 접지에 전기적으로 연결된다.
상기 컨택터(70)는 접점(23), 컨택터 코일(232), 제1 노드(234), 및 제2 노드(236)를 포함한다. 상기 제1 노드(234)는 전기 라인(130)을 이용하여 상기 배터리(60)의 양극 단자(180)에 전기적으로 연결된다. 상기 제2 노드(236)는 전기 라인(132)을 이용하여 DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 단자(262)에 전기적으로 연결된다. 마이크로컨트롤러(380)의 디지털 입출력 디바이스(394)가 하이 사이드 전압 드라이버(80) 및 로우 사이드 전압 드라이버(82) 각각에서 수신되는 제1 제어 신호 및 제2 제어 신호를 생성할 때, 컨택터 코일(232)은 통전되어 접점(230)을 폐쇄 동작 상태로 전환시킨다. 대안적으로, 마이크로컨트롤러(380)의 디지털 입출력 디바이스(394)가 하이 사이드 전압 드라이버(80) 및 로우 사이드 전압 드라이버(82) 각각에서 수신되는 제3 제어 신호 및 제4 제어 신호를 생성할 때, 컨택터 코일(232)은 비통전되어 접점(230)을 개방 동작 상태로 전환시킨다. 본 발명의 일 실시예에서, 제3 제어 신호 및 제4 제어 신호는 각각 접지 전압 레벨일 수 있다.
하이 사이드 전압 드라이버(80) 및 로우 사이드 전압 드라이버(82)는 컨택터 코일(232)이 통전되거나 비통전시킬 수 있다.
하이 사이드 전압 드라이버(80)는 전기 라인(134)을 이용하여 마이크로컨트롤러(380)의 디지털 입출력 디바이스(394)에 전기적으로 연결된다. 하이 사이드 전압 드라이버(80)는 전기 라인(136)을 이용하여 컨택터 코일(232)의 제1 단에 전기적으로 더 연결된다. 하이 사이드 전압 드라이버(80)는 디지털 입출력 디바이스(394)로부터 제어 신호를 수신하면, 컨택터 코일(232)을 통전시킨다.
로우 사이드 전압 드라이버(82)는 전기 라인(138)을 이용하여 마이크로컨트롤러(380)의 디지털 입출력 디바이스(394)에 전기적으로 연결된다. 로우 사이드 전압 드라이버(82)는 전기 라인(140)을 이용하여 컨택터 코일(232)의 제2 단에 전기적으로 더 연결된다. 로우 사이드 전압 드라이버(82)는 디지털 입출력 디바이스(394)로부터 제어 신호를 수신하면, 컨택터 코일(232)을 통전시키기 위하여 전기 접지로 전류를 전도하도록 구성된다.
모터 스타터-제너레이터(114)는 전기 라인(132)을 이용하여 DC-DC 전압 컨버터(100)에 전기적으로 연결된다.
DC-DC 전압 컨버터(100)는 고전압 스위치(250), DC-DC 컨버터 제어 회로(252), 저전압 스위치(254), 전기 라인(255, 256, 258, 259), 하우징(260), 고전압 단자(262), 및 저전압 단자(264)를 포함한다. 상기 하우징(260)은 고전압 스위치(250), DC-DC 컨버터 제어 회로(252) 및 저전압 스위치(254)를 내부에 수용한다.
상기 고전압 스위치(250)는 제1 노드(270) 및 제2 노드(272)를 포함한다. 상기 제1 노드(270)는 전기 라인(255)을 이용하여 고전압 단자(262)에 전기적으로 연결되고, 고전압 단자(262)는 전기 라인(132)을 이용하여 컨택터(70)의 제2 노드(236)에 전기적으로 더 연결된다. 제2 노드(272)는 전기 라인(256)을 이용하여 DC-DC 컨버터 제어 회로(252)의 제1 노드(290)에 전기적으로 연결된다. 본 발명에 따른 일 실시예에서, 상기 고전압 스위치(250)는 요구되는 전압 및 전류 성능을 가진 양방향 MOSFET 스위치이다. 상기 마이크로컨트롤러(380)가 상기 고전압 스위치(250)(또는, 상기 고전압 스위치(250)와 동작 가능하게 연결된 DC-DC 전압 컨버터(100) 내부의 컨트롤러 또는 마이크로프로세서)에 의해 수신되는 제1 제어 신호를 생성할 때, 상기 마이크로컨트롤러(380)는 상기 고전압 스위치(250)가 폐쇄 동작 상태로 전환되도록 유도한다. 상기 마이크로컨트롤러(380)가 제2 제어 신호를 생성할 때, 상기 마이크로컨트롤러(380)는 상기 고전압 스위치(250)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도한다. 본 발명의 따른 일 실시예에서, 상기 제2 제어 신호는 접지 레벨 제어 신호이다.
상기 DC-DC 컨버터 제어 회로(252)는 제1 노드(290) 및 제2 노드(292)를 갖는다. 상기 DC-DC 컨버터 제어 회로(252)는, 상기 마이크로컨트롤러(380)로부터의 제어 신호에 기반하여, 제1 노드(290)에서 수신한 DC 전압을 제2 노드(292)에서 출력되는 다른 DC 전압으로 변환하기 위하여 선택적으로 스위칭되는 복수의 내부 FET를 갖는다. 대안적으로, 상기 DC-DC 컨버터 제어 회로(252)는, 상기 마이크로컨트롤러(380)로부터의 제어 신호에 기반하여, 상기 제2 노드(292)에서 수신한 DC 전압을 상기 제1 노드(290)에서 출력되는 다른 DC 전압으로 변환하기 위하여 상기 복수의 내부 FET를 선택적으로 스위칭한다.
저전압 스위치(254)는 제1 노드(300) 및 제2 노드(302)를 포함한다. 제1 노드(300)는 전기 라인(258)을 이용하여 DC-DC 컨버터 제어 회로(252)의 제2 노드(292)와 전기적으로 연결된다. 제2 노드(302)는 전기 라인(259)을 이용하여 저전압 단자(264)에 전기적으로 연결되고, 저전압 단자(264)는 전기 라인(146)을 이용하여 배터리(110)에 전기적으로 더 연결된다. 일 실시예에서, 저전압 스위치(254)는 고전압 스위치(250)와 동일한 구조를 갖는다. 일 실시예에서, 저전압 스위치(254)는 요구되는 전압 및 전류 성능을 갖는 양방향 MOSFET(Metal-oxide semiconductor field effect transistor)이다. 마이크로컨트롤러(380)가 저전압 스위치(254)(또는, 저전압 스위치(254)와 동작 가능하게 연결된 DC-DC 전압 컨버터(100) 내부의 컨트롤러 또는 마이크로프로세서)에 의해 수신되는 제1 제어 신호를 생성할 때, 마이크로컨트롤러(380)는 상기 저전압 스위치(254)가 폐쇄 동작 상태로 전환되도록 유도한다. 마이크로컨트롤러(380)가 제2 제어 신호를 생성할 때, 마이크로컨트롤러(380)는 상기 저전압 스위치(254)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도한다. 일 실시예에서, 상기 제2 제어 신호는 접지 레벨 제어 신호이다.
배터리(110)는 양극 단자(350) 및 음극 단자(352)를 포함한다. 일 실시예에서, 상기 배터리(110)는 양극 단자(350)와 음극 단자(352) 사이에서 실질적인 12Vdc를 생성한다. 양극 단자(350)는 DC-DC 전압 컨버터(100)의 저전압 단자(264)와 전기적으로 연결된다. 음극 단자(352)는 전기 접지와 전기적으로 연결되고, 상기 전기 접지는 배터리(60)와 관련된 전기 접지와 전기적으로 절연될 수 있다.
진단 시스템(24)은 상기 전기 시스템(20)의 마이크로컨트롤러(380) 내부의 마이크로컨트롤러 핵심 요소가 요구된대로 동작하는지 여부를 결정하도록 제공된다. 만약, 마이크로컨트롤러 핵심 요소가 요구된대로 동작되지 않으면, 진단 시스템(24)은 컨택터(70)를 개방 동작 상태로 전환시킴으로써 안전 조치를 취하고, DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 스위치(250) 및 저전압 스위치(254)를 개방 동작 상태로 전환시키도록 제공된다. 상기 진단 시스템(24)은 마이크로컨트롤러(380) 및 디지털 입출력 디바이스(394)를 포함한다.
마이크로컨트롤러(380)는 마이크로컨트롤러(380)가 요구된대로 동작하는지를 결정하는 자가 진단 방법을 수행하도록 제공된다. 만약 마이크로컨트롤러(380)가 요구된대로 동작되지 않으면, 마이크로컨트롤러(380)는 안전 조치를 취하도록 제공된다. 상기 마이크로컨트롤러(380)는 마이크로프로세서(392), 플래시 메모리(396), 램(400), 파워 서플라이(402) 및 클럭(404)을 포함하는 마이크로컨트롤러 핵심 요소를 갖는다. 상기 마이크로컨트롤러(380)는 디지털 입출력 디바이스(394)를 더 포함한다. 마이크로프로세서(392)의 동작은 후술되는 플로우차트를 통해 보다 자세하게 논의될 것이다.
마이크로프로세서(392)는 디지털 입출력 디바이스(394), 플래시 메모리(396), 램(400), 파워 서플라이(402) 및 클럭(404)과 동작 가능하게 연결된다.
디지털 입출력 디바이스(394)는 전기 라인(134, 138) 각각을 이용하여 하이 사이드 전압 드라이버(80) 및 로우 사이드 전압 드라이버(82)와 이들의 동작 제어를 위해 전기적으로 연결된다. 또한, 디지털 입출력 디바이스(394)는 고전압 스위치(250), DC-DC 컨버터 제어 회로(252) 및 저전압 스위치(254)와 이들의 동작 제어를 위해 전기적으로 연결된다.
도 2는 도 1의 진단 시스템에 의해 이용되는 어플리케이션의 블록도이다.
도 1 및 도 2를 참조하면, 램(400)은 플래시 메모리 진단 안전 메커니즘(500), 램 진단 안전 메커니즘(502), 마이크로프로세서 진단 안전 메커니즘(504), 파워 서플라이 진단 안전 메커니즘(506), 클럭 진단 안전 메커니즘(507), 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520) 및 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)을 포함한다. 또한, 램(400)은 플래시 메모리 진단 안전 어플리케이션(530), 램 진단 안전 어플리케이션(532), 마이크로프로세서 진단 안전 어플리케이션(534), 파워 서플라이 진단 안전 어플리케이션(536) 및 클럭 진단 안전 어플리케이션(538)을 포함하는 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션(524)을 더 포함한다.
도 3은 복수의 레코드를 갖는 마스터 마이크로컨트롤러 인덱스 테이블이고, 각각의 레코드는 마이크로컨트롤러 핵심 요소 명칭, 인덱스 명칭 및 유효 인덱스값을 갖는다.
도 3을 참조하면, 유효 인덱스값이 마이크로컨트롤러 핵심 요소와 어떻게 연관되는지를 이해하기 위하여, 레코드(602, 604, 606, 608, 610)를 갖는 마스터 마이크로컨트롤러 인덱스 테이블(600)이 도시된다. 레코드(602, 604, 606, 608, 610) 각각은 마이크로컨트롤러 핵심 요소 명칭, 인덱스 명칭, 및 유효 인덱스값의 필드를 갖는다. 특히, 레코드(602)는 "플래시 메모리"의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 명칭, "제1 인덱스"의 인덱스 명칭, 및 16진수 "8421"의 유효 인덱스값을 갖는다. 레코드(604)는 "램"의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 명칭, "제2 인덱스"의 인덱스 명칭, 및 16진수 "1842"의 유효 인덱스값을 갖는다. 또한, 레코드(606)는 "마이크로프로세서"의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 명칭, "제3 인덱스"의 인덱스 명칭, 및 16진수 "4812"의 유효 인덱스값을 갖는다. 또한, 레코드(608)는 "파워 서플라이"의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 명칭, "제4 인덱스"의 인덱스 명칭, 및 16진수 "7EDB"의 유효 인덱스값을 갖는다. 또한, 레코드(610)는 "클럭"의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 명칭, "제5 인덱스"의 인덱스 명칭, 및 16진수 "B7ED"의 유효 인덱스값을 갖는다.
상술한 어플리케이션에 의해 이용되는 상기 테이블이 설명될 것이다.
도 4는 복수의 레코드를 갖는 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그를 위한 마스터 테이블이고, 각각의 레코드는 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그 명칭, 유효 인덱스값, 비결함값 및 결함값을 갖는다.
도 4를 참조하면, 램(400)에 저장되고, 마이크로프로세서(392)에 의해 이용되는 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그를 위한 마스터 테이블(620)이 도시된다. 상기 마스터 테이블(620)은 레코드(622, 624, 626, 628, 630)를 갖는다. 레코드(622, 624, 626, 628, 630) 각각은 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그 명칭, 유효 인덱스값, 비결함값 및 결함값의 필드를 갖는다. 각 레코드(622, 624, 626, 628, 630)의 유효 인덱스값, 비결함값 및 결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 가지므로, 이러한 데이터의 우발적인 덮어쓰기가 감지될 수 있다.
일 실시예에서, 레코드(622)는 "플래시 메모리 진단 플래그"의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그 명칭, 16진수 "8421"의 유효 인덱스값, 16진수 "EBBE"의 비결함값, 및 16진수 "BEEB"의 결함값을 갖는다. 레코드(624)는 "램 진단 플래그"의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그 명칭, 16진수 "1842"의 유효 인덱스값, 16진수 "DEED"의 비결함값, 및 16진수 "EDDE"의 결함값을 갖는다. 또한, 레코드(626)는 "마이크로프로세서 진단 플래그"의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그 명칭, 16진수 "4812"의 유효 인덱스값, 16진수 "7BB7"의 비결함값, 및 16진수 "B77B"의 결함값을 갖는다. 또한, 레코드(628)는 "파워 서플라이 진단 플래그"의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그 명칭, 16진수 "7EDB"의 유효 인덱스값, 16진수 "4114"의 비결함값, 및 16진수 "1441"의 결함값을 갖는다. 레코드(630)는 "클럭 진단 플래그"의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그 명칭, 16진수 "B7ED"의 유효 인덱스값, 16진수 "1441"의 비결함값, 및 16진수 "4114"의 결함값을 갖는다.
도 5는 제1 유효 인덱스값 및 플래시 메모리 진단 플래그를 갖는 레코드를 가진 플래시 메모리와 연관된 제1 테이블이다.
도 5를 참조하면, 램(400)에 저장되고, 마이크로프로세서(392)에 의해 이용되며, 플래시 메모리(396)와 관련된 제1 테이블(640)이 도시된다. 상기 제1 테이블(640)은 16진수 "8421"의 제1 유효 인덱스값과 플래시 메모리 진단 플래그를 갖는 레코드(642)를 갖는다. 상기 플래시 메모리 진단 플래그는 플래시 메모리 진단 메커니즘(500)에 의해 플래시 메모리(396)에 결함이 검출되지 않으면 16진수 "EBBE"의 값을 갖고, 플래시 메모리(396)에 결함이 검출되면 16진수 "BEEB"의 값을 갖는다.
도 6은 제2 유효 인덱스값 및 램 메모리 진단 플래그를 갖는 레코드를 가진 램과 연관된 제2 테이블이다.
도 6을 참조하면, 램(400)에 저장되고, 마이크로프로세서(392)에 의해 이용되며, 램(400)과 관련된 제2 테이블(650)이 도시된다. 상기 제2 테이블(650)은 16진수 "1842"의 제2 유효 인덱스값과 램 진단 플래그를 갖는 레코드(652)를 갖는다. 상기 램 진단 플래그는 램 진단 메커니즘(502)에 의해 램(400)에 결함이 검출되지 않으면 16진수 "DEED"의 값을 갖고, 램(400)에 결함이 검출되면 16진수 "EDDE"의 값을 갖는다.
도 7은 제3 유효 인덱스값 및 마이크로프로세서 진단 플래그를 갖는 레코드를 가진 마이크로프로세서와 연관된 제3 테이블이다.
도 7을 참조하면, 램(400)에 저장되고, 마이크로프로세서(392)에 의해 이용되며, 마이크로프로세서(392)와 관련된 제3 테이블(660)이 도시된다. 상기 제3 테이블(660)은 16진수 "4812"의 제3 유효 인덱스값과 마이크로프로세서 진단 플래그를 갖는 레코드(662)를 갖는다. 상기 마이크로프로세서 진단 플래그는 마이크로프로세서 진단 메커니즘(504)에 의해 마이크로프로세서(392)에 결함이 검출되지 않으면 16진수 "7BB7"의 값을 갖고, 마이크로프로세서(392)에 결함이 검출되면 16진수 "B77B"의 값을 갖는다.
도 8은 제4 유효 인덱스값 및 파워 서플라이 진단 플래그를 갖는 레코드를 가진 파워 서플라이와 연관된 제4 테이블이다.
도 8을 참조하면, 램(400)에 저장되고, 마이크로프로세서(392)에 의해 이용되며, 파워 서플라이(402)와 관련된 제4 테이블(670)이 도시된다. 상기 제4 테이블(670)은 16진수 "7EDB"의 제4 유효 인덱스값과 파워 서플라이 진단 플래그를 갖는 레코드(672)를 갖는다. 상기 파워 서플라이 진단 플래그는 파워 서플라이 진단 메커니즘(506)에 의해 파워 서플라이(402)에 결함이 검출되지 않으면 16진수 "4114"의 값을 갖고, 파워 서플라이(402)에 결함이 검출되면 16진수 "1441"의 값을 갖는다.
도 9는 제5 유효 인덱스값 및 클럭 진단 플래그를 갖는 레코드를 가진 클럭과 연관된 제5 테이블이다.
도 9를 참조하면, 램(400)에 저장되고, 마이크로프로세서(392)에 의해 이용되며, 클럭(404)과 관련된 제5 테이블(680)이 도시된다. 상기 제5 테이블(680)은 16진수 "B7ED"의 제5 유효 인덱스값과 클럭 진단 플래그를 갖는 레코드(682)를 갖는다. 상기 클럭 진단 플래그는 클럭 진단 메커니즘(508)에 의해 클럭(404)에 결함이 검출되지 않으면 16진수 "1441"의 값을 갖고, 클럭(404)에 결함이 검출되면 16진수 "4114"의 값을 갖는다.
도 10 내지 도 23은 도 1의 진단 시스템에 의해 수행되는 진단 방법을 개략적으로 도시한 순서도이다.
도 1, 도 4 내지 도 9, 및 도 10 내지 도 23을 참조하여, 진단 시스템(24)에 의해 수행되는 진단 방법의 순서도가 설명될 것이다.
단계 750에서, 상기 플래시 메모리 진단 안전 메커니즘(500)은 마이크로컨트롤러(380)의 초기 구동 동작 동안, 플래시 메모리(396)의 제1 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 램(400)에 저장된 제1 테이블(640, 도 5에 도시됨)의 플래시 메모리 진단 플래그를 제1 결함값(예컨대, 16진수 "BEEB")으로 설정하고, 플래시 메모리(396)의 상기 제1 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 상기 플래시 메모리 진단 플래그를 제1 비결함값(예컨대, 16진수 "EBBE")으로 설정한다. 단계 750 이후, 상기 방법은 단계 752로 진행한다.
단계 752에서, 램 진단 안전 메커니즘(502)은 마이크로컨트롤러(380)의 초기 구동 동작 동안, 램(400)의 제2 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 램(400)에 저장된 제2 테이블(650, 도 6에 도시됨)의 램 진단 플래그를 제2 결함값(예컨대, 16진수 "EDDE")으로 설정하고, 램(400)의 상기 제2 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 상기 램 진단 플래그를 제2 비결함값(예컨대, 16진수 "DEED")으로 설정한다. 단계 752 이후, 상기 방법은 단계 754로 진행한다.
단계 754에서, 마이크로프로세서 진단 안전 메커니즘(504)은 마이크로컨트롤러(380)의 초기 구동 동작 동안, 마이크로프로세서(392)의 제3 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 램(400)에 저장된 제3 테이블(660, 도 7에 도시됨)의 마이크로프로세서 진단 플래그를 제3 결함값(예컨대, 16진수 "B77B")으로 설정하고, 마이크로프로세서(392)의 상기 제3 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 상기 마이크로프로세서 진단 플래그를 제3 비결함값(예컨대, 16진수 "7BB7")으로 설정한다. 단계 754 이후, 상기 방법은 단계 756으로 진행한다.
단계 756에서, 파워 서플라이 진단 안전 메커니즘(506)은 마이크로컨트롤러(380)의 초기 구동 동작 동안, 파워 서플라이(402)의 제4 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 램(400)에 저장된 제4 테이블(670, 도 8에 도시됨)의 파워 서플라이 진단 플래그를 제4 결함값(예컨대, 16진수 "1441")으로 설정하고, 파워 서플라이(402)의 상기 제4 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 상기 파워 서플라이 진단 플래그를 제4 비결함값(예컨대, 16진수 "4114")으로 설정한다. 단계 756 이후, 상기 방법은 단계 760으로 진행한다.
단계 760에서, 클럭 진단 안전 메커니즘(508)은 마이크로컨트롤러(380)의 초기 구동 동작 동안, 클럭(404)의 제5 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 램(400)에 저장된 제5 테이블(680, 도 9에 도시됨)의 클럭 진단 플래그를 제5 결함값(예컨대, 16진수 "4114")으로 설정하고, 클럭(404)의 상기 제5 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 상기 클럭 진단 플래그를 제5 비결함값(예컨대, 16진수 "1441")으로 설정한다. 단계 760 이후, 상기 방법은 단계 762로 진행한다.
단계 762에서, 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)은 플래시 메모리 진단 안전 어플리케이션(530)에게 제1 인덱스값(예컨대, 16진수 "8421")을 송신한다. 상기 제1 인덱스값은 플래시 메모리(396)와 연관된다. 단계 762이후, 상기 방법은 단계 764로 진행된다.
단계 764에서, 마이크로프로세서(392)는 상기 제1 인덱스값이 제1 테이블(640)의 제1 유효 인덱스값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약, 단계 764의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 766으로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 768로 진행한다.
단계 766에서, 플래시 메모리 진단 안전 어플리케이션(530)은 인덱스로써 제1 인덱스값(예컨대, 16진수 "8421")을 이용하여, 램(400)에 저장된 제1 테이블(640)의 플래시 메모리 진단 플래그에 접근한다. 플래시 메모리(396)의 제1 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 상기 플래시 메모리 진단 플래그는 제1 결함값(예컨대, 16진수 "BEEB")을 갖는다. 플래시 메모리(396)의 제1 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 상기 플래시 메모리 진단 플래그는 제1 비결함값(예컨대, 16 진수 "EBBE")을 갖는다. 상기 제1 인덱스값, 상기 제1 결함값, 및 상기 제1 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 갖는다. 단계 766 이후, 상기 방법은 단계 780으로 진행한다.
다시 단계 764를 참조하면, 단계 764의 결과가 "NO"이면, 상기 방법은 단계 768을 진행한다. 단계768에서, 플래시 메모리 진단 안전 어플리케이션(530)은 비유효 인덱스값을 수신하였기 때문에, 플래시 메모리 진단 플래그를 제1 결함값(예컨대, 16진수 "BEEB")과 동일하게 설정한다. 단계 768 이후, 상기 방법은 단계 780으로 진행한다.
단계 780에서, 플래시 메모리 진단 안전 어플리케이션(530)은 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)에게 플래시 메모리 진단 플래그를 송신한다. 단계 780 이후, 상기 방법은 단계 782로 진행한다.
단계 782에서, 마이크로프로세서(392)는 플래시 메모리 진단 플래그가 제1 결함값 및 제1 비결함값과 동일하지 않은지 여부, 또는 플래시 메모리 진단 플래그가 제1 결함값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 782의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 784로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 786으로 진행한다.
단계 784에서, 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)은 컨택터(70)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령하고, DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 스위치(250) 및 저전압 스위치(254)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령한다. 단계 784 이후, 상기 방법은 단계 786으로 진행한다.
단계 786에서, 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)은 램 진단 안전 어플리케이션(532)에게 제2 인덱스값(예컨대, 16진수 "1842")을 송신한다. 상기 제2 인덱스값은 램(400)과 연관된다. 단계 786 이후, 상기 방법은 단계 788로 진행한다.
단계 788에서, 마이크로프로세서(392)는 제2 인덱스값이 제2 테이블(650)의 제2 유효 인덱스값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 788의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 790으로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 800으로 진행한다.
단계 790에서, 램 진단 안전 어플리케이션(532)은 인덱스로써 제2 인덱스값(예컨대, 16진수 "1842")을 이용하여 램(400)에 저장된 제2 테이블(650)의 램 진단 플래그에 접근한다. 만약 램(400)의 제2 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 상기 램 진단 플래그는 제2 결함값(예컨대, 16진수 "EDDE")을 갖는다. 만약 램(400)의 제2 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 상기 램 진단 플래그는 제2 비결함값(예컨대, 16진수 "DEED")을 갖는다. 상기 제2 인덱스값, 상기 제2 결함값, 및 상기 제2 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 갖는다. 단계 790 이후, 상기 방법은 단계 802로 진행한다.
다시 단계 788을 참조하면, 단계 788의 결과가 "NO"이면, 상기 방법은 단계 800으로 진행한다. 단계 800에서, 상기 램 진단 안전 어플리케이션(532)은 램 진단 플래그를 제2 결함값(예컨대, 16진수 "EDDE")과 동일하게 설정한다. 단계 800 이후, 상기 방법은 단계 802로 진행한다.
단계 802에서, 상기 램 진단 안전 어플리케이션(532)은 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)에게 상기 램 진단 플래그를 송신한다. 단계 802 이후, 상기 방법은 단계 804로 진행한다.
단계 804에서, 마이크로프로세서(392)는 상기 램 진단 플래그가 제2 결함값 및 제2 비결함값과 동일하지 않은지 여부, 또는 램 진단 플래그가 제2 결함값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 804의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 806으로 진행한다. 그렇지 않으면 상기 방법은 단계 808로 진행한다.
단계 806에서, 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)은 컨택터(70)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령하고, DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 스위치(250) 및 저전압 스위치(254)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령한다. 단계 806 이후, 상기 방법은 단계 808로 진행한다.
단계 808에서, 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)은 마이크로프로세서 진단 안전 어플리케이션(534)에게 제3 인덱스값(예컨대, 16진수 "4812")을 송신한다. 상기 제3 인덱스값은 마이크로프로세서(392)와 연관된다. 단계 808 이후, 상기 방법은 단계 810으로 진행한다.
단계 810에서, 마이크로프로세서(392)는 상기 제3 인덱스값이 제3 테이블(660)의 제3 유효 인덱스값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 810의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 820으로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 822로 진행한다.
단계 820에서, 마이크로프로세서 진단 안전 어플리케이션(534)은 인덱스로써 제3 인덱스값(예컨대, 16진수 "4812")을 이용하여 램(400)에 저장된 제3 테이블(660)의 마이크로프로세서 진단 플래그에 접근한다. 만약 마이크로프로세서(392)의 제3 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 상기 마이크로프로세서 진단 플래그는 제3 결함값(예컨대, 16진수 "B77B")을 갖는다. 만약 마이크로프로세서(392)의 복수의 제3 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 상기 마이크로프로세서 진단 플래그는 제3 비결함값(예컨대, 16진수 "7BB7")을 갖는다. 상기 제3 인덱스값, 상기 제3 결함값, 및 상기 제3 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 갖는다. 단계 820 이후, 상기 방법은 단계 824로 진행한다.
다시 단계 810을 참조하면, 단계 810의 결과가 "NO"이면, 상기 방법은 단계 822로 진행한다. 단계 822에서, 마이크로프로세서 진단 안전 어플리케이션(534)은 마이크로프로세서 진단 플래그를 제3 결함값(예컨대, 16진수 "B77B")과 동일하게 설정한다. 단계 822 이후, 상기 방법은 단계 824로 진행한다.
단계 824에서, 마이크로프로세서 진단 안전 어플리케이션(534)은 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)에게 상기 마이크로프로세서 진단 플래그를 송신한다. 단계 824 이후, 상기 방법은 단계 826으로 진행한다.
단계 826에서, 마이크로프로세서(392)는 상기 마이크로프로세서 진단 플래그가 제3 결함값 및 제3 비결함값과 동일하지 않은지 여부, 또는 상기 마이크로프로세서 진단 플래그가 제3 결함값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 826의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 828로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 840으로 진행한다.
단계 828에서, 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)은 컨택터(70)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령하고, DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 스위치(250) 및 저전압 스위치(254)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령한다. 단계 828 이후, 상기 방법은 단계 840으로 진행한다.
단계 840에서, 상기 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)은 파워 서플라이 진단 안전 어플리케이션(536)에게 제4 인덱스값(예컨대, 16진수 "7EDB")을 송신한다. 상기 제4 인덱스값은 파워 서플라이(402)와 연관된다. 단계 840 이후, 상기 방법은 단계 842로 진행한다.
단계 842에서, 마이크로프로세서(392)는 제4 인덱스값이 제4 테이블(670)의 제4 유효 인덱스값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 842의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 844로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 846으로 진행한다.
단계 844에서, 파워 서플라이 진단 안전 어플리케이션(536)은 인덱스로써 제4 인덱스값(예컨대, 16진수 "7EDB")을 이용하여, 램(400)에 저장된 제4 테이블(670)의 파워 서플라이 진단 플래그에 접근한다. 만약 파워 서플라이(402)의 제4 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 파워 서플라이 진단 플래그는 제4 결함값(예컨대, 16진수 "1441")을 갖는다. 만약 파워 서플라이(402)의 제4 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 파워 서플라이 진단 플래그는 제4 비결함값(예컨대, 16진수 "4114")을 갖는다. 상기 제4 인덱스값, 제4 결함값, 및 제4 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 갖는다. 단계 844 이후, 상기 방법은 단계 850으로 진행한다.
다시 단계 842를 참조하면, 만약 단계 842의 결과가 "NO"이면, 상기 방법은 단계 846으로 진행한다. 단계 846에서, 파워 서플라이 진단 안전 어플리케이션(536)은 상기 파워 서플라이 진단 플래그를 제4 결함값(예컨대, 16진수 "1441")과 동일하게 설정한다. 단계 846 이후, 상기 방법은 단계 850으로 진행한다.
단계 850에서, 파워 서플라이 진단 안전 어플리케이션(536)은 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)에게 파워 서플라이 진단 플래그를 송신한다. 단계 850 이후, 상기 방법은 단계 860으로 진행한다.
단계 860에서, 마이크로프로세서(392)는 상기 파워 서플라이 진단 플래그가 제4 결함값 및 제4 비결함값과 동일하지 않은지 여부, 또는 상기 파워 서플라이 진단 플래그가 제4 결함값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 860의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 862로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 864로 진행한다.
단계 862에서, 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)은 컨택터(70)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령하고, DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 스위치(250) 및 저전압 스위치(254)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령한다. 단계 862 이후, 상기 방법은 단계 864로 진행한다.
단계 864에서, 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)은 클럭 진단 안전 어플리케이션(538)에게 제5 인덱스값(예컨대, 16진수 "B7ED")을 송신한다. 상기 제5 인덱스값은 클럭(404)과 연관된다. 단계 864 이후, 상기 방법은 단계 866으로 진행한다.
단계 866에서, 마이크로프로세서(392)는 제5 인덱스값이 제5 테이블(680)의 제5 유효 인덱스값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 866의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 868로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 880으로 진행한다.
단계 868에서, 클럭 진단 안전 어플리케이션(538)은 인덱스로써 제5 인덱스값(예컨대, 16진수 "B7ED")을 이용하여, 램(400)에 저장된 제5 테이블(680)의 클럭 진단 플래그에 접근한다. 만약 클럭(404)의 제5 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 클럭 진단 플래그는 제5 결함값(예컨대, 16진수 "4114")을 갖는다. 만약 클럭(404)의 제5 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 클럭 진단 플래그는 제5 비결함값(예컨대, 16진수 "1441")을 갖는다. 상기 제5 인덱스값, 상기 제5 결함값, 및 상기 제5 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 갖는다. 단계 868 이후, 상기 방법은 단계 882로 진행한다.
다시 단계 866을 참조하면, 단계 866의 결과가 "NO"이면, 상기 방법은 단계 880으로 진행한다. 단계 880에서, 클럭 진단 안전 어플리케이션(538)은 상기 클럭 진단 플래그를 제5 결함값(예컨대, 16진수 "4114")과 동일하게 설정한다. 단계 880 이후, 상기 방법은 단계 882로 진행한다.
단계 882에서, 클럭 진단 안전 어플리케이션(538)은 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)에게 클럭 진단 플래그를 송신한다. 단계 882 이후, 상기 방법은 단계 884로 진행한다.
단계 884에서, 마이크로프로세서(392)는 클럭 진단 플래그가 제5 결함값 및 제5 비결함값과 동일하지 않은지 여부, 또는 상기 클럭 진단 플래그가 제5 결함값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 884의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 886으로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 888로 진행한다.
단계 886에서, 제1 진단 핸들러 어플리케이션(520)은 컨택터(70)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령하고, DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 스위치(250) 및 저전압 스위치(254)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령한다. 단계 886 이후, 상기 방법은 단계 888로 진행한다.
단계 888에서, 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)은 플래시 메모리 진단 안전 어플리케이션(530)에게 제6 인덱스값(예컨대, 16진수 "8421")을 송신한다. 상기 제6 인덱스값은 플래시 메모리(396)과 연관된다. 단계 888 이후, 상기 방법은 단계 890으로 진행한다.
단계 890에서, 마이크로프로세서(392)는 상기 제6 인덱스값이 제1 테이블(640)의 제1 유효 인덱스값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약, 단계 890의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 900으로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 902로 진행한다.
단계 900에서, 플래시 메모리 진단 안전 어플리케이션(530)은 인덱스로써 제6 인덱스값(예컨대, 16진수 "8421")을 이용하여, 램(400)에 저장된 제6 테이블(640)의 플래시 메모리 진단 플래그에 접근한다. 플래시 메모리(396)의 제6 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 상기 플래시 메모리 진단 플래그는 제6 결함값(예컨대, 16진수 "BEEB")을 갖는다. 플래시 메모리(396)의 제6 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 상기 플래시 메모리 진단 플래그는 제6 비결함값(예컨대, 16 진수 "EBBE")을 갖는다. 상기 제6 인덱스값, 상기 제6 결함값, 및 상기 제6 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 갖는다. 단계 900 이후, 상기 방법은 단계 904로 진행한다.
다시 단계 890을 참조하면, 단계 890의 결과가 "NO"이면, 상기 방법은 단계 902로 진행한다. 단계 902에서, 플래시 메모리 진단 안전 어플리케이션(530)은 플래시 메모리 진단 플래그를 제1 결함값(예컨대, 16진수 "BEEB")과 동일하게 설정한다. 단계 902 이후, 상기 방법은 단계 904로 진행한다.
단계 904에서, 플래시 메모리 진단 안전 어플리케이션(530)은 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)에게 플래시 메모리 진단 플래그를 송신한다. 단계 904 이후, 상기 방법은 단계 906으로 진행한다.
단계 906에서, 마이크로프로세서(392)는 플래시 메모리 진단 플래그가 제1 결함값 및 제1 비결함값과 동일하지 않은지 여부, 또는 플래시 메모리 진단 플래그가 제1 결함값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 906의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 908로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 912로 진행한다.
단계 908에서, 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)은 컨택터(70)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령하고, DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 스위치(250) 및 저전압 스위치(254)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령한다. 단계 908 이후, 상기 방법은 단계 912로 진행한다.
단계 912에서, 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)은 램 진단 안전 어플리케이션(532)에게 제7 인덱스값(예컨대, 16진수 "1842")을 송신한다. 상기 제7 인덱스값은 램(400)과 연관된다. 단계 912 이후, 상기 방법은 단계 914로 진행한다.
단계 914에서, 마이크로프로세서(392)는 제7 인덱스값이 제2 테이블(650)의 제2 유효 인덱스값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 914의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 916으로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 918로 진행한다.
단계 916에서, 램 진단 안전 어플리케이션(532)은 인덱스로써 제7 인덱스값(예컨대, 16진수 "1842")을 이용하여 램(400)에 저장된 제2 테이블(650)의 램 진단 플래그에 접근한다. 만약 램(400)의 제2 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 상기 램 진단 플래그는 제2 비결함값(예컨대, 16진수 "EDDE")을 갖는다. 만약 램(400)의 제2 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 상기 램 진단 플래그는 제2 비결함값(예컨대, 16진수 "DEED")을 갖는다. 상기 제7 인덱스값, 상기 제2 결함값, 및 상기 제2 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 갖는다. 단계 916 이후, 상기 방법은 단계 920으로 진행한다.
다시 단계 914를 참조하면, 단계 914의 결과가 "NO"이면, 상기 방법은 단계 918로 진행한다. 단계 918에서, 상기 램 진단 안전 어플리케이션(532)은 램 진단 플래그를 제2 결함값(예컨대, 16진수 "EDDE")과 동일하게 설정한다. 단계 918 이후, 상기 방법은 단계 920으로 진행한다.
단계 920에서, 상기 램 진단 안전 어플리케이션(532)은 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)에게 상기 램 진단 플래그를 송신한다. 단계 920 이후, 상기 방법은 단계 922로 진행한다.
단계 922에서, 마이크로프로세서(392)는 상기 램 진단 플래그가 제2 결함값 및 제2 비결함값과 동일하지 않은지 여부, 또는 램 진단 플래그가 제2 결함값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 922의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 928로 진행한다. 그렇지 않으면 상기 방법은 단계 930으로 진행한다.
단계 928에서, 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)은 컨택터(70)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령하고, DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 스위치(250) 및 저전압 스위치(254)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령한다. 단계 928 이후, 상기 방법은 단계 930으로 진행한다.
단계 930에서, 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)은 마이크로프로세서 진단 안전 어플리케이션(534)에게 제8 인덱스값(예컨대, 16진수 "4812")을 송신한다. 상기 제8 인덱스값은 마이크로프로세서(392)와 연관된다. 단계 930 이후, 상기 방법은 단계 932로 진행한다.
단계 932에서, 마이크로프로세서(392)는 상기 제8 인덱스값이 제3 테이블(660)의 제3 유효 인덱스값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 932의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 934로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 936으로 진행한다.
단계 934에서, 마이크로프로세서 진단 안전 어플리케이션(534)은 인덱스로써 제8 인덱스값(예컨대, 16진수 "4812")을 이용하여 램(400)에 저장된 제3 테이블(660)의 마이크로프로세서 진단 플래그에 접근한다. 만약 마이크로프로세서(392)의 제3 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 상기 마이크로프로세서 진단 플래그는 제3 결함값(예컨대, 16진수 "B77B")을 갖는다. 만약 마이크로프로세서(392)의 복수의 제3 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 상기 마이크로프로세서 진단 플래그는 제3 비결함값(예컨대, 16진수 "7BB7")을 갖는다. 상기 제8 인덱스값, 상기 제3 결함값, 및 상기 제3 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 갖는다. 단계 934 이후, 상기 방법은 단계 936으로 진행한다.
다시 단계 932를 참조하면, 단계 932의 결과가 "NO"이면, 상기 방법은 단계 936으로 진행한다. 단계 936에서, 마이크로프로세서 진단 안전 어플리케이션(534)은 마이크로프로세서 진단 플래그를 제3 결함값(예컨대, 16진수 "B77B")과 동일하게 설정한다. 단계 936 이후, 상기 방법은 단계 940으로 진행한다.
단계 940에서, 마이크로프로세서 진단 안전 어플리케이션(534)은 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)에게 상기 마이크로프로세서 진단 플래그를 송신한다. 단계 940 이후, 상기 방법은 단계 942로 진행한다.
단계 942에서, 마이크로프로세서(392)는 상기 마이크로프로세서 진단 플래그가 제3 결함값 및 제3 비결함값과 동일하지 않은지 여부, 또는 상기 마이크로프로세서 진단 플래그가 제3 결함값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 942의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 944로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 946으로 진행한다.
단계 944에서, 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)은 컨택터(70)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령하고, DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 스위치(250) 및 저전압 스위치(254)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령한다. 단계 944 이후, 상기 방법은 단계 946으로 진행한다.
단계 946에서, 상기 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)은 파워 서플라이 진단 안전 어플리케이션(536)에게 제9 인덱스값(예컨대, 16진수 "7EDB")을 송신한다. 상기 제9 인덱스값은 파워 서플라이(402)와 연관된다. 단계 946 이후, 상기 방법은 단계 950으로 진행한다.
단계 950에서, 마이크로프로세서(392)는 제9 인덱스값이 제4 테이블(670)의 제4 유효 인덱스값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 950의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 952로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 956으로 진행한다.
단계 952에서, 파워 서플라이 진단 안전 어플리케이션(536)은 인덱스로써 제9 인덱스값(예컨대, 16진수 "7EDB")을 이용하여, 램(400)에 저장된 제4 테이블(670)의 파워 서플라이 진단 플래그에 접근한다. 만약 파워 서플라이(402)의 제4 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 파워 서플라이 진단 플래그는 제4 결함값(예컨대, 16진수 "1441")을 갖는다. 만약 파워 서플라이(402)의 제4 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 파워 서플라이 진단 플래그는 제4 비결함값(예컨대, 16진수 "4114")을 갖는다. 상기 제9 인덱스값, 제4 결함값, 및 제4 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 갖는다. 단계 952 이후, 상기 방법은 단계 958로 진행한다.
다시 단계 950을 참조하면, 만약 단계 950의 결과가 "NO"이면, 상기 방법은 단계 956으로 진행한다. 단계 956에서, 파워 서플라이 진단 안전 어플리케이션(536)은 상기 파워 서플라이 진단 플래그를 제4 결함값(예컨대, 16진수 "1441")과 동일하게 설정한다. 단계 956 이후, 상기 방법은 단계 958로 진행한다.
단계 958에서, 파워 서플라이 진단 안전 어플리케이션(536)은 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)에게 파워 서플라이 진단 플래그를 송신한다. 단계 958 이후, 상기 방법은 단계 960으로 진행한다.
단계 960에서, 마이크로프로세서(392)는 상기 파워 서플라이 진단 플래그가 제4 결함값 및 제4 비결함값과 동일하지 않은지 여부, 또는 상기 파워 서플라이 진단 플래그가 제4 결함값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 960의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 962로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 964로 진행한다.
단계 962에서, 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)은 컨택터(70)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령하고, DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 스위치(250) 및 저전압 스위치(254)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령한다. 단계 962 이후, 상기 방법은 단계 964로 진행한다.
단계 964에서, 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)은 클럭 진단 안전 어플리케이션(538)에게 제10 인덱스값(예컨대, 16진수 "B7ED")을 송신한다. 상기 제10 인덱스값은 클럭(404)과 연관된다. 단계 964 이후, 상기 방법은 단계 966으로 진행한다.
단계 966에서, 마이크로프로세서(392)는 제10 인덱스값이 제5 테이블(680)의 제5 유효 인덱스값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 966의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 970으로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 단계 972로 진행한다.
단계 970에서, 클럭 진단 안전 어플리케이션(538)은 인덱스로써 제10 인덱스값(예컨대, 16진수 "B7ED")을 이용하여, 램(400)에 저장된 제5 테이블(680)의 클럭 진단 플래그에 접근한다. 만약 클럭(404)의 제5 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면, 클럭 진단 플래그는 제5 결함값(예컨대, 16진수 "4114")을 갖는다. 만약 클럭(404)의 제5 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면, 클럭 진단 플래그는 제5 비결함값(예컨대, 16진수 "1441")을 갖는다. 상기 제10 인덱스값, 상기 제5 결함값, 및 상기 제5 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍 거리를 갖는다. 단계 970 이후, 상기 방법은 단계 974로 진행한다.
다시 단계 966을 참조하면, 단계 966의 결과가 "NO"이면, 상기 방법은 단계 972로 진행한다. 단계 972에서, 클럭 진단 안전 어플리케이션(538)은 상기 클럭 진단 플래그를 제5 결함값(예컨대, 16진수 "4114")과 동일하게 설정한다. 단계 972 이후, 상기 방법은 단계 974로 진행한다.
단계 974에서, 클럭 진단 안전 어플리케이션(538)은 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)에게 클럭 진단 플래그를 송신한다. 단계 974 이후, 상기 방법은 단계 976으로 진행한다.
단계 976에서, 마이크로프로세서(392)는 클럭 진단 플래그가 제5 결함값 및 제5 비결함값과 동일하지 않은지 여부, 또는 상기 클럭 진단 플래그가 제5 결함값과 동일한지 여부를 결정한다. 만약 단계 976의 결과가 "YES"이면, 상기 방법은 단계 978로 진행한다. 그렇지 않으면, 상기 방법은 종료된다.
단계 978에서, 제2 진단 핸들러 어플리케이션(522)은 컨택터(70)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령하고, DC-DC 전압 컨버터(100)의 고전압 스위치(250) 및 저전압 스위치(254)가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 디지털 입출력 디바이스(394)에게 명령한다. 단계 978 이후, 상기 방법은 종료된다.
상술된 진단 시스템(24)은 다른 시스템들에 비해 실질적인 이점을 제공한다. 특히, 상기 진단 시스템(24)은 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션에게 인덱스값을 송신하는 진단 핸들러 어플리케이션을 이용하고, 이에 응답하여 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션이 램의 진단 플래그에 접근하고, 상기 진단 핸들러 어플리케이션에게 상기 진단 플래그를 송신한다. 결과적으로, 상기 진단 핸들러 어플리케이션은 상기 램의 상기 진단 플래그에 직접 접근할 수 없으므로, 이는 상기 진단 핸들러 어플리케이션이 상기 램의 상기 진단 플래그에 잘못 덮어쓰는 것을 방지한다.
청구된 발명은 제한된 수의 실시예와 관련하여 상세하게 설명되었지만, 상기 발명이 이러한 개시된 실시예들에 의해 제한되지 않음을 쉽게 이해해야 한다. 오히려, 청구된 발명은 지금까지 설명되지 않았지만, 기술의 사상과 범위에 상응하는 임의의 수의 변형, 변경, 대체 또는 동등한 배열을 포함하도록 변형될 수 있다. 추가로, 청구된 발명의 다양한 실시예가 설명되었지만, 본 발명의 양태는 설명된 실시예의 일부를 포함할 수 있음을 이해하여야 한다. 따라서, 청구된 발명은 전술한 설명에 의해서 제한되는 것으로 보지 않아야 한다.
20: 차량
22: 차량 전기 시스템
24: 진단 시스템
60: 배터리
70: 컨택터
80: 하이 사이드 전압 드라이버
82: 로우 사이드 전압 드라이버
100: DC-DC 전압 컨버터
110: 배터리
114: 모터 스타터-제너레이터
130, 132, 134, 136, 138, 140, 146: 전기 라인
250: 고전압 스위치
252: DC-DC 컨버터 제어 회로
254: 저전압 스위치
380: 마이크로컨트롤러
392: 마이크로프로세서
394: 디지털 입출력 디바이스
396: 플래시 메모리
400: 램
402: 파워 서플라이
404: 클럭

Claims (12)

  1. 마이크로컨트롤러 핵심 요소, 제1 진단 핸들러 어플리케이션, 및 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션을 갖는 마이크로컨트롤러를 포함하고,
    상기 제1 진단 핸들러 어플리케이션은, 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션에게 제1 인덱스값을 송신하고, 상기 제1 인덱스값은 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소의 제1 마이크로컨트롤러 핵심 요소와 연관되고,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은, 상기 제1 인덱스값이 램의 제1 테이블의 유효 인덱스값과 동일하면, 상기 램에 저장된 상기 제1 테이블의 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그에 접근하고, 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그는 상기 제1 마이크로컨트롤러 핵심 요소의 복수의 진단 플래그 중 어느 하나라도 결함 조건을 나타내면 제1 결함값을 가지며, 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그는 상기 제1 마이크로컨트롤러 핵심 요소의 상기 복수의 진단 플래그 모두가 비결함 조건을 나타내면 제1 비결함값을 갖고, 상기 제1 인덱스값, 상기 제1 결함값, 및 상기 제1 비결함값 각각은 서로로부터 적어도 8의 해밍거리를 갖고,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은, 상기 제1 진단 핸들러 어플리케이션에게 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그를 송신하는 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 인덱스값은, 상기 제1 진단 핸들러 어플리케이션이 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그를 갖는 상기 램의 메모리 영역에 직접 접근하는 것을 방지하여 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그가 잘못 덮어써지는 것을 방지하는 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 마이크로컨트롤러는, 제2 진단 핸들러 어플리케이션을 더 포함하고,
    상기 제2 진단 핸들러 어플리케이션은, 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션에게 제2 인덱스값을 송신하고, 상기 제2 인덱스값은 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소의 상기 제1 마이크로컨트롤러 핵심 요소와 연관되고,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은, 상기 제2 인덱스값이 상기 제1 테이블의 상기 유효 인덱스값과 동일하면, 상기 램에 저장된 상기 제1 테이블의 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그에 접근하고,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은, 상기 제2 진단 핸들러 어플리케이션에게 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그를 송신하는 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 제2 인덱스값은, 상기 제2 진단 핸들러 어플리케이션이 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그를 갖는 상기 램의 메모리 영역에 직접 접근하는 것을 방지하여 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그가 잘못 덮어써지는 것을 방지하는 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.
  5. 제3항에 있어서,
    상기 마이크로컨트롤러는, 제1 배터리, 컨택터, DC-DC 전압 컨버터, 및 제2 배터리를 포함하는 차량 전기 시스템과 디지털 입출력 디바이스를 더 포함하고, 상기 컨택터는 상기 제1 배터리와 상기 DC-DC 전압 컨버터 사이에 전기적으로 연결되며, 상기 DC-DC 전압 컨버터는 상기 컨택터와 상기 제2 배터리 사이에 전기적으로 연결되고,
    상기 제1 진단 핸들러 어플리케이션은, 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그가 상기 제1 결함값과 동일하면, 상기 컨택터가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 상기 디지털 입출력 디바이스에게 명령하고,
    상기 제2 진단 핸들러 어플리케이션은, 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그가 상기 제1 결함값과 동일하면, 상기 컨택터가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 상기 디지털 입출력 디바이스에게 명령하는 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제1 진단 핸들러 어플리케이션은, 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그가 상기 제1 결함값과 동일하면, 상기 DC-DC 전압 컨버터의 고전압 스위치 및 저전압 스위치가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 상기 디지털 입출력 디바이스에게 명령하고,
    상기 제2 진단 핸들러 어플리케이션은, 상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그가 상기 제1 결함값과 동일하면, 상기 DC-DC 전압 컨버터의 상기 고전압 스위치 및 상기 저전압 스위치가 개방 동작 상태로 전환되도록 유도하기 위해 상기 디지털 입출력 디바이스에게 명령하는 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소는, 마이크로프로세서, 플래시 메모리, 램, 파워 서플라이, 및 클럭을 포함하는 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 제1 마이크로컨트롤러 핵심 요소는, 플래시 메모리이고,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은, 상기 플래시 메모리와 연관된 플래시 메모리 진단 안전 어플리케이션이며,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그는, 상기 플래시 메모리와 연관된 플래시 메모리 진단 플래그인 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 제1 마이크로컨트롤러 핵심 요소는, 상기 램이고,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은, 상기 램과 연관된 램 진단 안전 어플리케이션이며,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그는, 상기 램과 연관된 램 진단 플래그인 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.
  10. 제1항에 있어서,
    상기 제1 마이크로컨트롤러 핵심 요소는, 마이크로프로세서이고,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은, 상기 마이크로프로세서와 연관된 마이크로프로세서 진단 안전 어플리케이션이며,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그는, 상기 마이크로프로세서와 연관된 마이크로프로세서 진단 플래그인 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.
  11. 제1항에 있어서,
    상기 제1 마이크로컨트롤러 핵심 요소는, 파워 서플라이이고,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은, 상기 파워 서플라이와 연관된 파워 서플라이 진단 안전 어플리케이션이며,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그는, 상기 파워 서플라이와 연관된 파워 서플라이 진단 플래그인 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.
  12. 제1항에 있어서,
    상기 제1 마이크로컨트롤러 핵심 요소는, 클럭이고,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 안전 어플리케이션은, 상기 클럭과 연관된 클럭 진단 안전 어플리케이션이며,
    상기 마이크로컨트롤러 핵심 요소 진단 플래그는, 상기 클럭과 연관된 클럭 진단 플래그인 것을 특징으로 하는 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템.

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Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3206275B2 (ja) * 1994-02-25 2001-09-10 株式会社日立製作所 誤り検出機能付き論理回路及びそれを用いたフォールトトレラントシステム
JP2006323776A (ja) * 2005-05-20 2006-11-30 Denso Corp 情報処理装置
JP5690024B2 (ja) * 2011-09-25 2015-03-25 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッドＡｄｖａｎｃｅｄ Ｍｉｃｒｏ Ｄｅｖｉｃｅｓ Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄ Ｉ／ｏデバイスによるメモリへのアクセスを防止する保護モードを有する入出力メモリ管理ユニット
KR20170142868A (ko) * 2016-06-20 2017-12-28 주식회사 엘지화학 파워 서플라이를 위한 진단 시스템
KR20190013649A (ko) * 2017-07-31 2019-02-11 주식회사 엘지화학 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템

Family Cites Families (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6009370A (en) * 1993-07-26 1999-12-28 Hitachi, Ltd. Control unit for vehicle and total control system therefor
US6141610A (en) * 1998-09-08 2000-10-31 Trimble Navigation Limited Automated vehicle monitoring system
US6842676B2 (en) * 2003-03-10 2005-01-11 International Engine Intellectual Property Company, Llc Method for updating an electronic service tool
US7536370B2 (en) 2004-06-24 2009-05-19 Sun Microsystems, Inc. Inferential diagnosing engines for grid-based computing systems
US7523349B2 (en) 2006-08-25 2009-04-21 Accenture Global Services Gmbh Data visualization for diagnosing computing systems
AU2014238202B2 (en) 2013-03-15 2016-02-25 Allison Transmission, Inc. Service disconnect interlock system and method for hybrid vehicles
US9702938B2 (en) * 2015-03-18 2017-07-11 Caterpillar Inc. Method and apparatus for detecting phase imbalance of an electrical component in a machine
US9972375B2 (en) 2016-04-15 2018-05-15 Via Alliance Semiconductor Co., Ltd. Sanitize-aware DRAM controller
US10380011B2 (en) * 2016-04-15 2019-08-13 Sparta Systems, Inc. Method, apparatus, and computer-readable medium for performing functional testing of software
US10128648B2 (en) * 2016-06-20 2018-11-13 Lg Chem, Ltd. Diagnostic system for a DC-DC voltage converter
US10269192B2 (en) * 2017-04-07 2019-04-23 Airbiquity Inc. Technologies for verifying control system operation
US10703381B2 (en) * 2018-11-28 2020-07-07 International Business Machines Corporation Intelligent vehicle action decisions

Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP3206275B2 (ja) * 1994-02-25 2001-09-10 株式会社日立製作所 誤り検出機能付き論理回路及びそれを用いたフォールトトレラントシステム
JP2006323776A (ja) * 2005-05-20 2006-11-30 Denso Corp 情報処理装置
JP5690024B2 (ja) * 2011-09-25 2015-03-25 アドバンスト・マイクロ・ディバイシズ・インコーポレイテッドＡｄｖａｎｃｅｄ Ｍｉｃｒｏ Ｄｅｖｉｃｅｓ Ｉｎｃｏｒｐｏｒａｔｅｄ Ｉ／ｏデバイスによるメモリへのアクセスを防止する保護モードを有する入出力メモリ管理ユニット
KR20170142868A (ko) * 2016-06-20 2017-12-28 주식회사 엘지화학 파워 서플라이를 위한 진단 시스템
KR20190013649A (ko) * 2017-07-31 2019-02-11 주식회사 엘지화학 차량 전기 시스템을 위한 진단 시스템

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