KR20190113494A - 변환 기반 스트레스 프로파일 압축 - Google Patents

변환 기반 스트레스 프로파일 압축 Download PDF

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Abstract

일부 실시 예에서, 상기 방법은 디스플레이의 슬라이스에 대한 스트레스 프로파일을 제1 변환으로 변환하여 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계; 상기 변환된 스트레스 프로파일을 압축하여 압축 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계; 상기 압축 변환된 스트레스 프로파일을 압축 해제하여 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계; 및 상기 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 상기 제1 변환의 역함수인 제2 변환으로 변환하여 압축 해제된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계를 포함한다.

Description

변환 기반 스트레스 프로파일 압축{TRANSFORMATION BASED STRESS PROFILE COMPRESSION}
본 발명에 따른 실시 예의 하나 이상의 양태는 디스플레이에서의 스트레스 보상에 관한 것으로, 보다 상세하게는 스트레스 프로파일의 압축된 저장을 사용할 때 절단 오류의 영향을 완화하기 위한 시스템 및 방법에 관한 것이다.
유기 발광 다이오드(OLED) 디스플레이와 같은 비디오 디스플레이에서의 출력 감소에 대한 보상은 디스플레이 수명에 따른 이미지 품질을 보존하기 위해 사용될 수 있다. 이러한 보상을 수행하는데 사용되는 데이터는 메모리 요구를 줄이기 위해 압축된 형식으로 저장될 수 있다. 그러나, 그러한 압축된 데이터의 에러는 불균일하게 누적되어 이미지 품질의 손실을 초래할 수 있다.
따라서, 스트레스 보상을 위한 개선된 시스템 및 방법이 필요하다.
본 발명이 이루고자 하는 기술적 과제는 스트레스 프로파일의 압축된 저장을 사용할 때 절단 오류의 영향을 완화하기 위한 시스템 및 방법을 제공함에 있다.
본 발명의 일 실시 예에 따르면, 디스플레이의 구동 방법이 제공된다. 상기 방법은 디스플레이의 슬라이스에 대한 스트레스 프로파일을 제1 변환으로 변환하여 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 상기 변환된 스트레스 프로파일을 압축하여 압축 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 상기 압축 변환된 스트레스 프로파일을 압축 해제하여 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 및 상기 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 상기 제1 변환의 역함수인 제2 변환으로 변환하여 압축 해제된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계를 포함한다.
일 실시 예에서, 상기 스트레스 프로파일을 상기 제1 변환으로 변환하는 단계는 상기 스트레스 프로파일에 제1 변환 행렬을 곱하는 단계를 포함한다.
일 실시 예에서, 상기 제1 변환 행렬은 이산 푸리에 변환 행렬이다.
일 실시 예에서, 상기 제1 변환 행렬은 하다마드 행렬(Hadamard matrix)이다.
일 실시 예에서, 상기 제1 변환 행렬은 유니 모듈러(unimodular matrix) 행렬이다.
일 실시 예에서, 상기 방법은 숫자를 생성하는 단계를 더 포함하고, 상기 제1 변환 행렬은, 상기 숫자가 제1 값과 동일할 때의 제1 행렬, 및 상기 숫자가 제2 값과 동일할 때 상기 제1 행렬과 다른 제2 행렬을 포함한다.
일 실시 예에서, 상기 제2 행렬은 단위 행렬이다.
일 실시 예에서, 상기 숫자는 의사 난수(pseudorandom number)이다.
일 실시 예에서, 상기 방법은 상기 압축 변환된 스트레스 프로파일을 메모리에 저장하는 단계, 및 상기 숫자를 상기 메모리에 저장하는 단계를 더 포함한다.
본 발명의 실시 예에 따르면, 디스플레이에서 스트레스 보상을 수행하는 시스템은, 메모리, 및 처리 회로를 포함하고, 상기 처리 회로는, 디스플레이의 슬라이스에 대한 스트레스 프로파일을 제1 변환으로 변환하여 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 상기 변환된 스트레스 프로파일을 압축하여 압축 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 상기 압축 변환된 스트레스 프로파일을 압축 해제하여 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 및 상기 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 상기 제1 변환의 역함수인 제2 변환으로 변환하여 압축 해제된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계를 수행하도록 구성된다.
일 실시 예에서, 상기 스트레스 프로파일을 상기 제1 변환으로 변환하는 단계는 상기 스트레스 프로파일에 제1 변환 행렬을 곱하는 단계를 포함한다.
일 실시 예에서, 상기 제1 변환 행렬은 이산 푸리에 변환 행렬이다.
일 실시 예에서, 상기 제1 변환 행렬은 하다마드 행렬이다.
일 실시 예에서, 상기 제1 변환 행렬은 유니 모듈러 행렬이다.
일 실시 예에서, 상기 처리 회로는 숫자를 생성하는 단계를 더 수행하도록 구성되고, 상기 제1 변환 행렬은, 상기 숫자가 제1 값과 동일할 때의 제1 행렬, 및 상기 숫자가 제2 값과 동일할 때 상기 제1 행렬과 다른 제2 행렬을 포함한다.
일 실시 예에서, 상기 제2 행렬은 단위 행렬이다.
일 실시 예에서, 상기 숫자는 의사 난수이다.
일 실시 예에서, 상기 처리 회로는, 상기 압축 변환된 스트레스 프로파일을 상기 메모리에 저장하는 단계, 및 상기 숫자를 상기 메모리에 저장하는 단계를 더 수행하도록 구성된다.
본 발명의 일 실시 예에 따르면, 디스플레이는 디스플레이 패널, 메모리, 및 처리 회로를 포함하고, 상기 처리 회로는, 디스플레이의 슬라이스에 대한 스트레스 프로파일을 제1 변환으로 변환하여 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 상기 변환된 스트레스 프로파일을 압축하여 압축 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 상기 압축 변환된 스트레스 프로파일을 압축 해제하여 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계, 및 상기 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 상기 제1 변환의 역함수인 제2 변환으로 변환하여 압축 해제된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계를 수행하도록 구성된다.
일 실시 예에서, 상기 제1 변환은 이산 푸리에 변환이다.
스트레스 프로파일의 압축된 저장을 사용할 때 절단 오류의 영향을 완화할 수 있다.
본 개시의 특징 및 이점은 명세서, 청구 범위 및 첨부 도면을 참조하여 이해되고 평가될 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 디스플레이의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 압축 없는 스트레스 보상 시스템의 블록도이다.
도 3은 본 발명의 일 실시 예에 따른 압축 스트레스 보상 시스템의 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 이미지의 일부의 개략도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시 예에 따른 스트레스 테이블의 일부분의 개략도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시 예에 따른 압축 스트레스 보상 시스템의 블록도이다.
도 7은 본 발명의 일 실시 예에 따른 변환을 위한 수식들의 세트이다.
도 8은 본 발명의 일 실시 예에 따른 변환을 위한 수식들의 세트이다.
도 9는 본 발명의 일 실시 예에 따른 데이터 흐름도이다.
도 10은 본 발명의 일 실시 예에 따른 변환을 위한 수식들의 세트이다.
도 11은 본 발명의 일 실시 예에 따른 변환을 위한 수식들의 세트이다.
첨부된 도면과 관련하여 이하에 설명되는 상세한 설명은 본 개시에 따라 제공되는 변환 기반 스트레스 프로파일 압축을 위한 시스템 및 방법의 예시적인 실시 예의 설명으로서 의도되며, 본 개시가 구성되거나 이용되는 형태만을 나타내는 것으로 의도되지는 않는다. 상세한 설명은 예시된 실시 예와 관련하여 본 개시의 특징을 설명한다. 그러나, 동일한 또는 동등한 기능 및 구조가 본 개시의 범위 내에 포함되도록 의도된 다른 실시 예에 의해 달성될 수 있다는 것을 이해해야 한다. 본 명세서의 다른 곳에서 언급된 바와 같이, 동일한 도면 부호는 동일한 요소 또는 특징을 나타내기 위한 것이다.
특정 종류의 비디오 디스플레이는 사용에 따라 변경되는 특성을 가질 수 있다. 예를 들어, 유기 발광 다이오드(OLED) 디스플레이는 다수의 서브 픽셀(예를 들어, 적색 서브 픽셀, 녹색 서브 픽셀 및 청색 서브 픽셀)로 구성된 복수의 픽셀을 갖는 디스플레이 패널을 포함할 수 있다. 서브 픽셀은 서로 다른 색을 방출하도록 구성된 유기 발광 다이오드를 포함할 수 있다. 각각의 유기 발광 다이오드는 사용에 따라 감소하는 광학 효율을 가질 수 있으므로, 유기 발광 다이오드가 얼마간 작동된 후에 특정 전류에서의 광 출력은 유기 발광 다이오드가 새로운 것일 때보다 낮을 수 있다.
이러한 광학 효율의 감소는 디스플레이의 수명 동안 평균적으로 디스플레이의 다른 부분들보다 이미지가 밝게 표시된 부분의 디밍(dimming)을 초래할 수 있다. 예를 들어, 보안 카메라의 크게 변하지 않는 이미지를 보는데 사용되는 디스플레이의 시야는 하루 중 대부분 동안 상대적으로 밝은 햇빛이 비치는 제1 부분 및 하루 중 대부분 동안 상대적으로 어두운 그늘진 제2 부분이 있는 장면을 포함할 수 있다. 결국, 제2 부분보다 제1 부분의 광학 효율이 더욱 현저하게 감소할 수 있다. 다른 예로서, 이미지의 나머지 부분에서 검은 색 여백으로 분리된 이미지의 하단에 흰색 텍스트로 시간을 표시하는 부분으로 사용되는 디스플레이에서 디스플레이 패널의 다른 부분보다 검은 색 여백에서 광학 효율이 더 적게 감소할 수 있고, 나중에 디스플레이가 전체 디스플레이 패널을 장면으로 채우는 모드로 사용될 때 이전에 검은 색 여백이 표시된 부분에 밝은 밴드가 나타날 수 있다(이미지 스티킹).
디스플레이의 광학 효율에서 이러한 불균일성의 영향을 감소시키기 위해, 디스플레이는 디스플레이의 사용으로 인한 광학 효율의 감소를 보상하기 위한 특징을 포함 할 수 있다. 도 1을 참조하면, 디스플레이는 디스플레이 패널(110), 프로세싱 회로(115)(더욱 상세하게 후술함) 및 메모리(120)를 포함할 수 있다. 메모리(120)의 컨텐츠는 디스플레이를 위한 "스트레스 프로파일" 또는 "스트레스 테이블"로 지칭될 수 있다. 메모리(120)의 컨텐츠는 디스플레이의 수명 동안 각 서브 픽셀에 가해지는 (또는 추정되는) 스트레스의 양을 지시하는 숫자 테이블 (또는 스트레스 값)일 수 있다. "스트레스"는 디스플레이의 수명 동안 서브 픽셀을 통해 흘렀던 총 (시간 적분된) 구동 전류일 수 있다. 즉, "스트레스"는 디스플레이의 수명 동안 서브 픽셀을 통해 흘렀던 총 전하일 수 있습니다. 예를 들어, 메모리(120)는 새로운 이미지가 표시될 때마다 표시된 비디오를 함께 형성하는 연속적인 이미지 스트림의 일부로서 (또는 스트레스 보상 시스템에 대한 부담을 줄이기 위해 후술하는 바와 같이 덜 빈번하게) 각 서브 픽셀에 대한 구동 전류가 서브 픽셀의 전류 또는 밝기를 나타내는 숫자가 메모리(120) 내의 서브 픽셀에 대한 각각의 숫자에 부가될 수 있다. 타이밍 컨트롤러 및 복수의 구동 집적 회로를 포함하는 디스플레이에서, 프로세싱 회로(115)는 하나 이상의 구동 집적 회로이거나 또는 그 일부일 수 있다. 일부 실시 예에서, 각각의 구동 집적 회로는 디스플레이 패널(110)의 일부분을 구동시키는 역할을 하며, 따라서 다른 구동 집적 회로와 독립적으로 그 부분에 대한 스트레스 추적 및 스트레스 보상을 수행할 수 있다.
동작 동안, 각 서브 픽셀에 대한 구동 전류는 광학 효율의 추정된 손실을 보상하도록 조정될 수 있으며, 광학 효율의 추정된 손실은 서브 픽셀의 수명 스트레스에 기초한다. 예를 들어, 각 서브 픽셀에 대한 구동 전류는 메모리(120)에 누적된 서브 픽셀의 광학 효율의 추정된 손실에 따라 (예를 들어, 손실에 비례하여) 증가될 수 있고, 이에 따라 광학 출력은 서브 픽셀의 광학 효율이 줄지 않고 구동 전류가 증가하지 않았던 경우와 대체로 동일하게 된다. 경험적 데이터 또는 서브 픽셀의 물리적 모델에 기초한 비선형 함수는 서브 픽셀의 수명 스트레스에 기초하여 존재할 것으로 예상되는 광학 효율의 손실을 추측하거나 예측하기 위해 사용될 수 있다. 예측된 광학 효율의 손실 및 그에 따라 조정된 구동 전류의 계산은 프로세싱 회로(115)에 의해 수행될 수 있다.
도 2는 스트레스 보상 시스템의 블록도를 도시한다. 스트레스 테이블은 메모리(205)에 저장된다. 스트레스 값은 스트레스 테이블로부터 판독되고, 조정된 구동 전류 값을 계산하기 위해 구동 전류 조정 회로(210)("보상" 블록)에 의해 사용되며, 각각의 조정된 구동 전류값은 서브 픽셀의 누적 스트레스에 따라 조정된 원시 구동 전류값(서브 픽셀의 원하는 광 출력에 기초함)이다. 조정된 구동 전류값(표시되는 서브 픽셀의 스트레스 누적의 전류 비율을 나타냄)은 서브 픽셀 스트레스 샘플링 회로(215)("스트레스 캡쳐(Stress Capture)" 블록)에 의해 판독되고, 이전에 저장된 각각의 스트레스 값이 가산 회로(220)에서 (조정된 구동 전류값에 비례하는 수만큼) 증가되고, 메모리(205)에 다시 저장된다. 메모리 제어기(225)는 메모리(205)에서의 판독 및 기록 동작을 제어하고, 필요에 따라 메모리(205)로부터 구동 전류 조정 회로(210) 및 가산 회로(220)에 스트레스 값을 공급하고, 증가된 스트레스 값(스트레스 누적의 전류 비율의 가산에 의해 증가됨)을 메모리(205)로 다시 보낸다.
각 서브 픽셀의 전체 스트레스를 추적하는 것은 상당량의 메모리를 필요로 할 수 있다. 예를 들어, 1920×1080 픽셀의 디스플레이에 대해, 픽셀 당 세 개의 서브 픽셀이 있고, 각 서브 픽셀의 스트레스가 4 바이트(32 비트)로 저장되는 경우 필요한 메모리의 크기는 대략 25 메가바이트일 수 있다. 또한, 비디오의 각 프레임(즉, 각각의 디스플레이된 이미지)에 대한 각각의 스트레스 수를 업데이트하는 계산 부담은 중요할 수 있다.
스트레스 추적의 부담을 줄이고, 서브 픽셀 스트레스에 기인하는 광학 효율의 감소를 보정하기 위해 다양한 접근법이 사용될 수 있다. 예를 들어, 서브 픽셀 스트레스 샘플링 회로(215)는 각각의 이미지에서(즉, 비디오의 각 프레임에서) 조정된 구동 전류값의 서브 세트만을 샘플링 할 수 있다. 예를 들어, 1080 라인 (또는 행)의 픽셀을 갖는 디스플레이에서, 일부 실시 예에서는 스트레스 테이블의 하나의 행만이 비디오 프레임마다 업데이트된다. 예를 들어 표시되는 비디오에서 장면이 상대적으로 천천히 변하는 경우, 구동 전류값의 쌍 사이에 있는 조정된 구동 전류값을 폐기하면, (서브 픽셀의 수명 스트레스의 측정으로서) 결과 스트레스 값에서 정확성의 허용 가능한 손실이 임의의 서브 픽셀에 대해 작게 고려된다.
다른 실시 예에서, 서브 픽셀 스트레스 샘플링 회로(215)는 프레임의 서브 세트에서만 샘플링을 추가로 수행할 수 있다. 예를 들어, 60Hz의 재생율(분당 60 프레임 표시)의 1080 라인 (또는 행)을 갖는 디스플레이에서, 스트레스 샘플링 회로(215)는 10 프레임마다 한번씩 이미지의 전체 또는 부분 구동 전류값을 샘플링하고, 그에 따라 스트레스 테이블이 업데이트된다.
스트레스 테이블에 서브 픽셀 스트레스를 저장하는데 필요한 메모리 크기를 줄이기 위해 다양한 접근법이 또한 사용될 수 있다. 예를 들어, 스트레스 프로파일 칩셋(chipset) 상의 메모리는 메모리에 저장된 데이터를 압축함으로써 감소될 수 있다. 도 3을 참조하면, 일부 실시 예들에서, 스트레스 테이블의 압축된 표현은 메모리(205)에 저장되고, 압축된 스트레스 데이터는 구동 전류 조정 회로(210)에 공급되기 전에 제1 디코더(305)에 의해 압축 해제된다. 압축된 스트레스 데이터는 제2 디코더(310)에 의해 압축 해제되어 가산 회로(220)에 보내지고, 증가된 스트레스 값은 인코더(315)에 의해 부호화되거나 압축되어 메모리(205)에 저장된다. 인코더(315)는 수신하는 데이터를 압축하는 방식으로 인코딩하고, 제1 디코더(305) 및 제2 디코더(310) 각각은 인코더(315)에 수행된 동작을 반대, 또는 거의 반대 동작을 수행한다. 즉, 제1 디코더(305) 및 제2 디코더(310) 각각은 수신하는 데이터를 압축 해제한다. 따라서, 본 명세서에서, "코딩(coding)" 및 "압축(compressing)" (및 관련 단어 "인코딩(encoding)" 및 "인코딩된" 및 "압축된")은 "디코딩(edcoding)" 및 "압축 해제(decompressing)" (및 관련 단어, "디코딩된"과 "인코딩되지 않은", 및 "압축 해제된”과 압축되지 않은")와 교환 가능하게 사용될 수 있다. 허프만 코딩(Huffman coding) 또는 산술 코딩과 같은 엔트로피 코딩을 포함하는 다양한 압축 방법이 사용될 수 있다.
스트레스 테이블 데이터는 본 명세서에서 "슬라이스(slices)"로 지칭되는 블록으로 인코딩 및 디코딩될 수 있으며, 각각의 블록은 일반적으로 스트레스 테이블의 임의의 서브 세트에 있을 수 있다. 일부 실시 예에서, 각각의 슬라이스는 스트레스 테이블의 정사각형 또는 직사각형 영역 및 디스플레이 패널의 정사각형 또는 직사각형 영역에 대응한다. 디스플레이 패널의 정사각형 또는 직사각형 영역은 디스플레이의 슬라이스로 지칭될 수 있고, 스트레스 테이블 데이터의 대응하는 슬라이스는 디스플레이의 슬라이스의 스트레스 프로파일로서 지칭될 수 있다. 달리 명시되지 않는 한, 본 명세서에서 사용된 "슬라이스"는 스트레스 프로파일의 슬라이스를 나타낸다. 슬라이스가 대응하는 디스플레이 패널의 영역의 수평 치수는 "슬라이스 폭"으로 지칭될 수 있고, 수직 치수는 "라인 치수"로 지칭될 수 있다. 예를 들어, 도 4에 도시한 바와 같이, 슬라이스는 디스플레이의 4 라인과 24 컬럼에 대응할 수 있다. 즉, 슬라이스 폭은 24이고 라인 크기는 4이다.
각 슬라이스의 압축된 표현을 저장하는데 할당된 메모리 영역의 크기는 사용된 압축 알고리즘에 기초하여 고정되거나 가변적일 수 있다. 일 실시 예에서, 이는 사용된 코딩 방법에 대한 추정된 압축 비율에 기초하여 고정되고 선택될 수 있다. 그러나, 작동시 달성되는 압축 비율은 다양할 수 있다. 예를 들어, 압축 비율은 심볼(symbol)이 압축되지 않은 데이터에서 반복되는 정도에 따라 달라질 수 있다. 압축된 슬라이스가 슬라이스의 압축된 표현을 저장하는데 할당된 메모리 영역 내에 들어갈 수 있도록 작동시 달성된 압축 비율이 충분히 높지 않으면 압축이 수행되기 전에 원시 데이터의 일부가 잘릴 수 있다 (truncated) (즉, 각 데이터 단어의 하나 이상의 최소 중요 비트가 제거될 수 있다). 슬라이스의 압축된 표현의 크기를 줄여서 메모리에서 슬라이스의 압축된 표현을 저장하기 위해 할당된 메모리 영역에 적합하게 할 수 있다. 다른 실시 예에서, 요구된 메모리 길이는 최악의 시나리오를 충족하도록 산정될 수 있다. 다른 실시 예에서, 압축된 표현의 길이는 가변적일 수 있고, 이는 테이블에 저장되거나 압축된 데이터에 첨부된다.
서브 픽셀 스트레스를 추적하고 보정하는 부담 또한 메모리에 저장된 데이터를 평균함으로써 감소될 수 있다. 예를 들어, 도 5에 도시된 바와 같이, 일부 실시 예들에서, 스트레스 테이블의 각 엔트리(entry)는 단일 서브 픽셀의 누적된 스트레스를 나타내는 대신에 픽셀 또는 서브 픽셀의 블록(예를 들어, 4×4 블록)이 겪는 각각의 스트레스 함수를 나타낸다. 예를 들어, 4×4 블록에 대한 데이터를 저장하는 스트레스 테이블 엔트리는 픽셀의 휘도값의 평균을 4×4 블록에 저장할 수 있다. 또는, 스트레스 테이블 엔트리는 요소들의 평균을 저장할 수 있다 (즉, 4×4 블록 내의 48개의 서브 픽셀 모두의 스트레스, 또는 스트레스 테이블의 3개의 요소는 4×4 블록의 적색, 녹색 및 청색 픽셀의 4×4 블록에 대한 각각의 평균을 저장할 수 있다)
스트레스 테이블의 슬라이스의 압축 해제된 (압축 및 압축 해제 후의) 표현은 압축 및 압축 해제 에러로 인해, 예를 들어 상술한 바와 같이 손실 압축이 사용되는 경우 또는 일부 절단이 사용되는 경우, 또는 (허프만 코딩 또는 산술 코딩 같은) 무손실 압축 방법이 사용되는 경우에도, (압축 이전의) 슬라이스의 압축되지 않은 표현과 다를 수 있다. 슬라이스의 스트레스 데이터가 증대되기 전에 압축 해제된 후 스트레스 데이터가 새롭게 샘플링된 조정된 구동 전류값으로 증대될 때마다 동일한 방식으로 다시 압축되면 이러한 불일치가 일부 데이터 단어에서 불균형적으로 누적될 수 있다. 따라서, 누적된 에러로 인해 이미지 품질의 수용할 수 없는 또는 과잉 보상을 야기할 가능성을 줄이기 위해 절단(truncation)으로 인한 에러의 불균일한 누적에 대응하는 수단을 이용하는 것이 유리할 수 있다.
일부 실시 예에서, 변환은 슬라이스 내의 압축 에러를 분산하고 각 슬라이스에서 값 또는 작은 수의 값으로 에러의 누적을 피하기 위해 사용된다. 도 6은 일부 실시 예에서 이러한 방법을 구현하기 위한 블록도를 나타낸다. 슬라이스 변환 회로(405)는 슬라이스가 인코더(315)에 의해 인코딩되기 전에 슬라이스의 스트레스 데이터에 제1 (또는 "순방향") 변환을 적용한다. 임의의 압축 슬라이스가 제1 디코더(305)에 의해 디코딩된 후, 제1 슬라이스 역변환 회로(410)는 제1 디코더(305)의 출력에 제2 변환을 적용한다. 제2 변환은 제1 변환의 역함수이고, 제1 슬라이스 역변환 회로(410)의 출력은 슬라이스 변환 회로(405) 및 인코더(315)에 의해 처리된 비압축 슬라이스 데이터와 동일하거나 거의 동일하다. (예를 들어, 상술한 바와 같이 절단에 기인한 불일치에 의해). 마찬가지로, 압축된 슬라이스가 제2 디코더(310)에 의해 디코딩된 후, 제2 슬라이스 역변환 회로(415)는 제2 변환을 제2 디코더 (310)의 출력에 적용하여, 제2 슬라이스 역변환 회로(415)의 출력은 슬라이스 변환 회로(405) 및 인코더(315)에 의해 처리되어 압축된 슬라이스를 형성하는 압축된 슬라이스 데이터와 동일하거나 거의 동일하다.
일부 실시 예에서, 순열은 또한 슬라이스 내의 압축 에러를 분산하기 위해 사용된다. 순방향 변환이 적용되기 전에 제1 순열이 슬라이스의 스트레스 데이터에 적용될 수 있고, 제2 변환이 적용된 후에 제1 순열의 역함수인 제2 순열이 적용될 수 있다. 예를 들어, 제1 순열은 원형 시프트, 슬라이스 내의 요소들의 순서의 업-다운 스위치, 또는 슬라이스 내의 요소들의 좌우-우측 스위치일 수 있다. 일부 실시 예에서, 순방향 변환이 적용된 후에 슬라이스의 스트레스 데이터에 제1 순열이 대신 적용되고, 제2 변환이 적용되기 전에 제2 순열이 적용된다.
다양한 변환이 이용될 수 있다. 일부 실시 예에서, 하나 이상의 변환은 입력 데이터를 행렬에 곱하여 수행될 수 있다 (예를 들어, 제1 또는 순방향 변환이 적용되는 경우 비변환된 슬라이스, 또는 제2 또는 역변환이 적용되는 경우 변환된 슬라이스). 이러한 행렬 곱셈을 수행하기 전에, 개념적으로 직사각형 어레이의 형태일 수 있는 슬라이스 데이터는, 예를 들어 직사각형 어레이의 행 또는 열을 연결함으로써 벡터로 재 포맷될 수 있다. 실제로, (직사각형) 슬라이스 어레이의 요소는 프로세싱 회로의 메모리 내의 연속적인 메모리 위치의 시퀀스로 "벡터" 포맷으로 저장될 수 있기 때문에 이러한 동작은 개념적일 수 있다.
적절한 변환 및 역변환 쌍은 (i) 고속 푸리에 변환(FFT) 행렬 및 고속 푸리에 변환 행렬의 켤레 복소수 행렬인 역변환(IFFT), (ii) 이산 푸리에(DFT) 및 이산 푸리에 변환 행렬의 켤레 복소수 행렬인 역변환(IDFT), (iii) 하다 마드 행렬에 기초한 변환 및 하다 마드 행렬의 전치 행렬인 역변환, (iv) 유니 모듈러 행렬(unimodular matrix) 기반의 변환 및 유니 모듈러 행렬의 역함수에 기초한 역변환, 및 (v) 단일 캐리어 행렬에 기초한 변환 및 단일 캐리어 행렬의 역함수에 기초한 역변환 행렬 (단일 캐리어 행렬은 이산 푸리에 변환 행렬 및 역 고속 푸리에 변환 행렬의 곱으로 형성될 수 있음)을 포함할 수 있다.
동작시, 상이한 변환이 슬라이스가 인코딩되는 상이한 경우에 이용될 수 있고, 그 후 슬라이스가 디코딩될 때 역변환이 사용될 수 있다. 예를 들어, 슬라이스가 인코딩될 때마다 (예를 들어, 카운터 또는 의사 난수 생성기에 의해) 숫자가 생성될 수 있고, 숫자에 기초하여 변환 리스트로 변환이 선택될 수 있다. 변환 리스트에는 ID 변환 (슬라이스를 변경하지 않은 상태로 유지하고 단위 행렬(identity matrix)로 나타낼 수 있음)이 포함될 수 있다. 일부 실시 예에서, 사용된 변환을 식별하는 숫자는 인코딩된 슬라이스와 함께 메모리(205)에 저장되고, 인코딩된 슬라이스가 디코딩을 위해 검색될 때 검색된다 (그리고 적절한 역변환을 식별하는데 사용된다). 다른 실시 예에서, 제1 숫자 생성기의 복사본인 제2 숫자 생성기 (제2 숫자 생성기는 시간적으로 적절하게 오프셋된 수를 생성하도록 초기화된다)는 인코딩된 슬라이스를 디코딩할 때, 제1 숫자 생성기가 슬라이스의 인코딩시에 생성한 숫자를 다시 생성하는데 사용된다. 일부 실시 예에서, 스트레스 테이블을 통과할 때마다, 각 슬라이스에 대해 동일한 변환이 사용된다. 다른 실시 예에서, 스트레스 테이블을 통과할 때마다, 하나의 슬라이스에서 다음 슬라이스로 다른 변환이 사용된다.
고속 푸리에 변환/역변환 또는 이산 푸리에 변환/역변환이 사용될 때, 변환은 근사 행렬 곱들의 시퀀스로서 수행될 수 있으며, 각각의 근사 행렬 곱은 (1) 복잡한 고정 소수점 또는 부동 소수점 수의 벡터일 수 있는 변환 행렬의 행 및 (2) 정수의 벡터일 수 있는 슬라이스의 (i) 부동 소수점 또는 고정 소수점 행렬곱, 및 (ii) 소수 부분의 절단(truncation)(즉, 폐기)으로 구성되고, 이에 따라 정수 부분만이 근사 도트 곱으로 보존된다. 이산 푸리에 변환을 위한 적절한 변환 행렬은 도 7의 두 개의 수학식에 의해 정의된다.
도 8은 일반적인 하다 마드 행렬을 정의하는 수학식을 나타내며, 상술한 바와 같이, 채용된 변환들 중 하나일 수 있다. 도 8의 마지막 수학식에서, 사이클-x 연산자는 크로네커 (Kronecker) 곱을 나타낸다. 고속 푸리에 변환 또는 이산 푸리에 변환의 경우에 대해 상술한 바와 같이, 소수 부분은 슬라이스의 하다 마드 변환 또는 변환 해제 행렬의 매트릭스 곱에서 절단될 수 있다.
도 9를 참조하면, 일부 실시 예에서, 슬라이스는 2개의 슬라이스로 변환되고, 각각은 슬라이스의 절반의 열 또는 행을 갖는다. 일 실시 예에서, 이는 (i) 각 열 (또는 행)이 슬라이스의 2 개의 인접한 열 (또는 행)의 합인 슬라이스의 저주파수 콘텐츠를 갖는 슬라이스 및 (ii) 각 열 (또는 행)이 슬라이스의 2개의 인접한 열 (또는 행) 사이의 차이인 슬라이스의 고주파수 콘텐츠를 갖는 슬라이스일 수 있다. 저주파수 슬라이스와 고주파수 슬라이스는 분리되어 인코딩되고 그 결과가 연결되어 슬라이스의 압축 변환된 스트레스 프로파일을 형성할 수 있다. 디코딩을 위해 이러한 동작 세트를 반전시키기 위하여, 압축 변환된 스트레스 프로파일은 2개의 압축된 슬라이스로 쪼개질 수 있고(즉, 연결이 해제되어), 쪼개진 슬라이스 각각은 디코딩되어 압축 해제된 저주파 슬라이스와 압축 해제된 고주파 슬라이스를 형성할 수 있고, 이들은 적절히 결합되어 압축되지 않은 슬라이스로 만들어질 수 있다. (예를 들어, 슬라이스의 제1 열 (또는 행)은 저주파 행렬의 제1 열 (또는 행)과 고주파 행렬의 제1 열 (또는 행)의 합의 절반이 되고, 슬라이스의 제2 열 (또는 행)은 저주파 행렬의 제1 열 (또는 행)과 고주파 행렬의 제1 열 (또는 행) 사이의 차이의 절반이 된다.
일부 실시 예에서, 상술한 바와 같이, 변환 행렬은 유니 모듈러 행렬, 즉 결정자 +1 또는 -1을 갖는 제곱 정수 행렬, 또는 등가적으로 정수에 대해 가역성인 정수 행렬일 수 있다. 도 10의 수학식은 일 실시 예에서, 증가하는 차원의 유니 모듈러 행렬의 시퀀스를 (재귀적으로) 정의한다.
일부 실시 예에서, 변환 및 역변환을 구현하는데 사용되는 행렬 곱셈을 수행할 때 소수 부분을 폐기하는 것은 에러(예를 들어, 작은 라운딩 에러)가 스트레스 프로파일에 포함되도록 할 수 있다. 이러한 에러는 일부 연산에서 더 높은 정밀도를 사용하여 줄일 수 있다. 예를 들어, 역변환 행렬에 1보다 큰 배율 인자를 곱함으로써 (그리고 변환 행렬을 같은 배율 인자로 나누어 임의의 변환 행렬과 그 역함수의 변환 행렬의 곱을 단위 행렬로 남김), 행렬 곱의 각 요소의 소수 부분을 폐기하면 더 작은 소수 오차가 발생한다. 예를 들어, 도 11의 수학식을 이용하면, n 비트만큼 더 큰 가산 회로(220)(도 6)의 입력 및 출력 모두에서 소수를 버림으로써 발생된 에러가 인자 N만큼 작은 숫자로 생성될 수 있다. 특히, 도 11에서, 변환 행렬은 N에 의한 나눗셈을 가지며 (이전의
Figure pat00001
과 비교됨), 역변환 행렬은 스칼라 나눗셈을 갖지 않는다. 이 접근법은 슬라이스 변환 회로(405)(도 6), 가산 회로(220) 및 제2 슬라이스 역변환 회로(415)에서 더 큰 수를 처리할 수 있는 회로의 사용을 포함할 수 있지만, 메모리(205)에 저장된 수의 크기는 동일하게 유지될 수 있다 (따라서, 메모리(205)의 크기를 증가시킬 필요는 없다).
"처리 회로"라는 용어는 데이터 또는 디지털 신호를 처리하기 위해 사용되는 하드웨어, 펌웨어 및 소프트웨어의 임의의 조합을 포함하도록 사용된다. 프로세싱 회로 하드웨어는 예를 들어 주문형 집적 회로(ASIC), 범용 또는 특수 목적 중앙 처리 장치 (CPU), 디지털 신호 프로세서(DSP), 그래픽 처리 장치(GPU) 및 필드 프로그래밍 가능한 게이트 어레이(FPGA)를 포함할 수 있다. 본 명세서에서 사용되는 처리 회로에서, 각 기능은 그 기능을 수행하기 위해 구성된 하드웨어, 또는 CPU와 같은 범용 하드웨어에 의해 수행되거나, 일시적 저장 매체에 저장된 명령을 실행하도록 구성될 수 있다. 처리 회로는 단일 인쇄 회로 기판(PCB) 상에 제조되거나 몇몇 상호 접속된 PCB 상에 분산될 수 있다. 처리 회로는 다른 처리 회로를 포함할 수 있다. 예를 들어 처리 회로는 PCB 상에 상호 접속된 2개의 처리 회로, FPGA 및 CPU를 포함할 수 있다.
제 1", "제 2", "제 3"등의 용어는 본 명세서에서 다양한 요소, 구성 요소, 영역, 층 및/또는 섹션을 설명하기 위해 사용될 수 있지만, 이들 요소, 구성 요소, 영역, 층 및/또는 섹션은 이러한 용어로 제한되지 않아야 한다. 이들 용어는 하나의 요소, 구성 요소, 영역, 층 또는 섹션을 다른 요소, 구성 요소, 영역, 층 또는 섹션과 구별하기 위해서만 사용된다. 따라서, 이하에서 논의되는 제1 요소, 구성 요소, 영역, 층 또는 섹션은 본 발명의 개념의 사상 및 범위를 벗어나지 않고 제2 요소, 구성 요소, 영역, 층 또는 섹션으로 지칭될 수 있다.
"밑에", "아래에", "낮게", "하에", "위에" "상에" 등과 같은 공간적으로 상대적인 용어는 설명의 용이함을 위해 하나의 요소 또는 특징 도면에 도시된 바와 같이 다른 요소(들) 또는 특징(들)과의 관계를 나타낼 수 있다. 이러한 공간적으로 관련된 용어는 도면에 도시된 방위에 추가하여, 사용 또는 작동시 장치의 상이한 방위를 포함하도록 의도된 것으로 이해될 것이다. 예를 들어, 도면의 장치가 뒤집힌다면, 다른 요소 또는 특징의 "밑에" 또는 "아래에" 또는 "하에"로 기술된 요소는 다른 요소 또는 특징의 "위에"로 지향될 것이다. 따라서, "밑에" 및 "아래에"의 예시적인 용어는 위와 아래의 방향 모두를 포함할 수 있다. 장치는 다른 방향으로 지향될 수 있고 (예를 들어, 90도 또는 다른 방향으로 회전될 수 있음), 본 명세서에서 사용된 공간적으로 상대적인 기술 용어는 그에 따라 해석되어야 한다. 또한, 하나의 층이 2개의 층 사이에 있는 것으로 언급될 때, 2개의 층 사이의 유일한 층일 수 있거나 하나 또는 그 이상의 개재된 층이 존재할 수 있음을 또한 이해하여야 한다.
본 명세서에서 사용된 용어는 특정 실시 예만을 설명하기 위한 것이며, 본 발명의 개념을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서 사용되는 용어 "실질적으로", "약" 및 유사한 용어는 근사 용어로 사용되며 학위 용어로 사용되지 않으며, 측정된 또는 계산된 값의 고유 한 편차를 설명하기 위한 것으로 당업자에게 자명하게 인지될 수 있을 것이다. 본원에 사용 된 바와 같이, "주성분"이란 용어는 조성물 또는 중합체 또는 임의의 다른 단일 성분의 양보다 많은 양으로 조성물, 중합체 또는 제품에 존재하는 성분을 지칭한다. 대조적으로, "주성분"이란 용어는 조성물, 중합체 또는 생성물의 50 중량 % 이상을 구성하는 성분을 의미한다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "주요 부분"이라는 용어는 복수의 항목에 적용될 때, 항목의 적어도 절반을 의미한다.
본원에 사용된 바와 같이, 단수 형태 "하나"및 "한"은 문맥 상 달리 명시하지 않는 한 복수 형태를 포함하는 것으로 의도된다. 본 명세서에서 사용되는 "포함하는" 및/또는 "포함하는"이라는 용어는 명시된 특징, 정수, 단계, 동작, 구성 요소 및/또는 요소의 존재를 나타내지만, 존재를 배제하지 않는다는 것이 더 이해될 것이다. 또는 하나 이상의 다른 특징, 정수, 단계, 동작, 구성 요소, 요소 및/또는 그룹의 추가를 포함할 수 있다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "및/또는"이라는 용어는 하나 이상의 열거된 항목의 임의 및 모든 조합을 포함한다. "적어도 하나"와 같은 표현은 요소 목록 앞에서 요소의 전체 목록을 적용하고 목록의 개별 요소를 적용하지 않습니다. 또한, 본 발명의 개념의 실시 예를 설명할 때 "할 수 있다"를 사용하는 것은 "본 발명의 하나 이상의 실시 예"를 의미한다. 또한, "예시적인"이라는 용어는 예 또는 설명을 의미한다. 본 명세서에 사용된 바와 같이, "사용", "사용하는" 및 "사용된"은 각각 "이용", "이용하는"및 "이용된"과 동의어로 간주될 수 있다.
요소 또는 층이 다른 요소 또는 층의 "위에", "연결된", "결합된" 또는 "인접한"으로 언급될 때, 하나 이상의 개재 요소 또는 층이 존재할 수 있다. 대조적으로, 요소 또는 층이 다른 요소 또는 층에 "직접적으로", "직접 연결된다", 또는 "바로 인접한"으로 언급 될 때, 개재하는 요소 또는 층은 존재하지 않는다.
본 명세서에 열거된 임의의 수치 범위는 열거된 범위 내에 포함되는 동일한 수치 정밀도의 모든 하위 범위를 포함하도록 의도된다. 예를 들어, 「1.0 내지 10.0」의 범위에는, 1.0의 지정된 최소값과 10.0의 지정된 최대값의 사이의 모든 부분 범위, 예를 들어, 2.4 내지 7.6과 같은 10.0 이하의 값이 포함된다. 본 명세서에 열거된 최대 수치 제한은 여기에 포함되는 더 낮은 모든 수치 제한을 포함하도록 의도되며, 본 명세서에 인용된 임의의 최소 수치 제한은 여기에 포함되는 모든 더 높은 수치 제한을 포함하도록 의도된다.
변환 기반 스트레스 프로파일 압축의 예시적인 실시 예가 본 명세서에 구체적으로 설명되고 예시되었지만, 많은 변형 및 변경이 당업자에게 자명할 것이다. 따라서, 본 명세서의 원리에 따라 구성된 변환 기반 스트레스 프로파일 압축은 여기에 구체적으로 기술된 것 이외에 구현될 수 있음을 이해해야 한다. 본 발명은 또한 다음의 특허 청구 범위 및 그 등가물에서 정의된다.
110: 디스플레이 패널
120, 205: 메모리
115: 처리 회로
210: 보상
215: 스트레스 캡쳐
220: 덧셈기
225: 메모리 제어기
305: 제1 디코더
310: 제2 디코더
315: 인코더

Claims (10)

  1. 디스플레이의 슬라이스에 대한 스트레스 프로파일을 제1 변환으로 변환하여 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계;
    상기 변환된 스트레스 프로파일을 압축하여 압축 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계;
    상기 압축 변환된 스트레스 프로파일을 압축 해제하여 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계; 및
    상기 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 상기 제1 변환의 역함수인 제2 변환으로 변환하여 압축 해제된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계를 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  2. 제1 항에 있어서,
    상기 스트레스 프로파일을 상기 제1 변환으로 변환하는 단계는 상기 스트레스 프로파일에 제1 변환 행렬을 곱하는 단계를 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  3. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 변환 행렬은 이산 푸리에 변환 행렬인 표시 장치의 구동 방법.
  4. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 변환 행렬은 하다마드 행렬(Hadamard matrix)인 표시 장치의 구동 방법.
  5. 제2 항에 있어서,
    상기 제1 변환 행렬은 유니 모듈러(unimodular matrix) 행렬인 표시 장치의 구동 방법.
  6. 제2 항에 있어서,
    숫자를 생성하는 단계를 더 포함하고,
    상기 제1 변환 행렬은,
    상기 숫자가 제1 값과 동일할 때의 제1 행렬, 및
    상기 숫자가 제2 값과 동일할 때 상기 제1 행렬과 다른 제2 행렬을 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  7. 제6 항에 있어서,
    상기 제2 행렬은 단위 행렬인 표시 장치의 구동 방법.
  8. 제6 항에 있어서,
    상기 숫자는 의사 난수(pseudorandom number)인 표시 장치의 구동 방법.
  9. 제6 항에 있어서,
    상기 압축 변환된 스트레스 프로파일을 메모리에 저장하는 단계, 및
    상기 숫자를 상기 메모리에 저장하는 단계를 더 포함하는 표시 장치의 구동 방법.
  10. 디스플레이에서 스트레스 보상을 수행하는 시스템에 있어서,
    메모리; 및
    처리 회로를 포함하고,
    상기 처리 회로는,
    디스플레이의 슬라이스에 대한 스트레스 프로파일을 제1 변환으로 변환하여 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계;
    상기 변환된 스트레스 프로파일을 압축하여 압축 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계;
    상기 압축 변환된 스트레스 프로파일을 압축 해제하여 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계; 및
    상기 압축 해제 변환된 스트레스 프로파일을 상기 제1 변환의 역함수인 제2 변환으로 변환하여 압축 해제된 스트레스 프로파일을 형성하는 단계를 수행하도록 구성된 시스템.
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