KR20190036076A - Ｓｓｄ 테스터 보드의 보드 번호 부여용 ｕｓｂ 장치 및 그 방법 - Google Patents

Ｓｓｄ 테스터 보드의 보드 번호 부여용 ｕｓｂ 장치 및 그 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20190036076A
KR20190036076A KR1020170124864A KR20170124864A KR20190036076A KR 20190036076 A KR20190036076 A KR 20190036076A KR 1020170124864 A KR1020170124864 A KR 1020170124864A KR 20170124864 A KR20170124864 A KR 20170124864A KR 20190036076 A KR20190036076 A KR 20190036076A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
board
module
ssd
board number
ssd tester
Prior art date
Application number
KR1020170124864A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101974853B1 (ko
Inventor
강상민
Original Assignee
(주) 제노맥스
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by (주) 제노맥스 filed Critical (주) 제노맥스
Priority to KR1020170124864A priority Critical patent/KR101974853B1/ko
Publication of KR20190036076A publication Critical patent/KR20190036076A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101974853B1 publication Critical patent/KR101974853B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11C—STATIC STORES
    • G11C29/00—Checking stores for correct operation ; Subsequent repair; Testing stores during standby or offline operation
    • G11C29/56—External testing equipment for static stores, e.g. automatic test equipment [ATE]; Interfaces therefor
    • G11C29/56016—Apparatus features
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2213/00—Indexing scheme relating to interconnection of, or transfer of information or other signals between, memories, input/output devices or central processing units
    • G06F2213/0042—Universal serial bus [USB]

Landscapes

  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)

Abstract

SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치 및 그 방법이 개시된다. 사용자로부터 SSD 테스트 챔버(solid state drive test chamber)에 장착되는 SSD 테스터 보드(SSD tester board)의 보드 번호(board number)를 입력받는 DIP 스위치(dual in-line package switch) 모듈; 상기 DIP 스위치 모듈에서 입력받은 보드 번호를 표시하는 7-세그먼트(7-segment) 모듈; 상기 SSD 테스터 보드에 USB 연결을 하는 USB 포트(USB port) 모듈; 상기 DIP 스위치 모듈에서 입력받은 보드 번호를 상기 7-세그먼트 모듈에 표시하도록 제어하고, 상기 USB 포트 모듈을 통해 상기 SSD 테스터 보드로 송신하도록 제어하는 CPU(central processing unit) 칩 모듈을 구성한다.

Description

ＳＳＤ 테스터 보드의 보드 번호 부여용 ＵＳＢ 장치 및 그 방법{USB APPARATUS FOR ASSIGN BORAD NUMBER OF SOLID TESTER BOARD OF SOLID STATE DRIVE AND METHOD THEREOF}
본 발명은 USB 메모리(universal serial bus memory) 장치 및 그 방법에 관한 것으로서, 구체적으로는 SSD(solid state drive) 테스터 보드(tester board)의 보드 번호 부여용 USB 장치 및 그 방법에 관한 것이다.
SSD(solid state drive)는 제품 출시 전에 읽기(read), 쓰기(write) 등의 테스트는 물론 펌웨어(f/w) 버전 확인, S/N(serinal number) 확인 등의 작업을 거친다.
수많은 SSD를 될 수 있는 한 한꺼번에 테스트하여야 하므로, 하나의 챔버(chamber)에 수많은 SSD 테스터 보드(tester board)를 구비하고 각 SSD 테스트 보드에 SSD를 연결하여 미리 정해진 일련의 테스트를 수행한다.
SSD 테스터 보드 1대 당 2개의 SSD가 연결되고, SSD 테스터 보드는 하나의 챔버에 대략 120개까지 수용된다.
한 번에 240개의 SSD를 테스트할 수 있다.
그런데, 각 SSD 테스터 보드의 구별을 위해 SSD 테스터 보드 상에 구비된 DIP 스위치(dual in-line package swtich)에 각각 고유의 번호를 설정하도록 구성된다. SSD 테스터 보드는 각각 설정된 고유의 번호를 7-세그먼트(7-segment)에 표시한다.
사용자는 챔버에 장착된 수십개의 SSD 테스터 보드에 표시된 7-세그먼트를 통해 SSD 테스터 보드를 구별한다. SSD의 테스트 결과 역시 SSD 테스터 보드의 DIP 스위치 설정 번호에 의해 분류되고 불량 SSD는 SSD 테스터 보드의 번호에 의해 확인되고 있다.
그런데, 챔버 내에서 필요에 따라 SSD 테스터 보드의 위치가 수시로 바뀔 수 있는데, 위치가 바뀌면 보드 번호도 바뀌게 된다. 위치가 섞일 때마다 보드 번호의 순서가 엉켜 불량이 발생한 SSD 테스터 보드를 쉽게 찾을 수 없는 문제점이 생긴다.
챔버 내에 촘촘히 장착된 수십개의 SSD 테스터 보드에서는 7-세그먼트를 통해 보드 번호를 육안으로 확인하는 것이 쉽지 않고, 보드 번호가 중복 입력되어 문제가 발생하기도 한다.
또한, SSD 테스터 보드의 위치가 바뀌면 보드 번호를 일일이 변경하기도 쉽지 않다는 문제점이 있다.
이에, SSD 테스트에서 발생되는 다양한 문제점과 오류를 해결할 필요가 있다.
10-0902668 10-1715227
본 발명의 목적은 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치를 제공하는 데 있다.
본 발명의 다른 목적은 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치의 보드 번호 부여 방법을 제공하는 데 있다.
상술한 본 발명의 목적에 따른 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치는, 사용자로부터 SSD 테스트 챔버(solid state drive test chamber)에 장착되는 SSD 테스터 보드(SSD tester board)의 보드 번호(board number)를 입력받는 DIP 스위치(dual in-line package switch) 모듈; 상기 DIP 스위치 모듈에서 입력받은 보드 번호를 표시하는 7-세그먼트(7-segment) 모듈; 상기 SSD 테스터 보드에 USB 연결을 하는 USB 포트(USB port) 모듈; 상기 DIP 스위치 모듈에서 입력받은 보드 번호를 상기 7-세그먼트 모듈에 표시하도록 제어하고, 상기 USB 포트 모듈을 통해 상기 SSD 테스터 보드로 송신하도록 제어하는 CPU(central processing unit) 칩 모듈을 포함하도록 구성될 수 있다.
여기서, 상기 DIP 스위치 모듈 및 상기 7-세그먼트 모듈과 상기 CPU 칩 모듈 간의 데이터 입출력 및 명령 입출력을 수행하는 GPIO(general purpose input/output) 모듈을 더 포함하도록 구성될 수 있다.
그리고 상기 보드 번호를 이더넷(Ethernet) 망을 통해 서버로 송신하는 네트워크 칩 모듈을 더 포함하도록 구성될 수 있다.
상술한 본 발명의 다른 목적에 따른 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치의 보드 번호 부여 방법은, CPU(central processing unit) 칩 모듈의 제어에 의해 DIP 스위치(dual in-line package switch) 모듈이 사용자로부터 SSD 테스트 챔버(solid state drive test chamber)에 장착되는 SSD 테스터 보드(SSD tester board)의 보드 번호(board number)를 입력받는 단계; 상기 CPU 칩 모듈의 제어에 의해 상기 보드 번호를 7-세그먼트(7-segment) 모듈에 표시하는 단계; 상기 CPU 칩 모듈의 제어에 의해 상기 보드 번호를 상기 SSD 테스터 보드가 셋팅(setting)할 수 있도록 상기 보드 번호를 USB 포트 모듈을 통해 상기 SSD 테스터 보드로 출력하는 단계를 포함하도록 구성될 수 있다.
여기서, 상기 CPU 칩 모듈의 제어에 의해 네트워크 칩 모듈이 상기 보드 번호를 이더넷(Ethernet) 망을 통해 서버로 송신하는 단계를 더 포함하도록 구성될 수 있다.
상술한 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치 및 그 방법에 의하면, 챔버에 촘촘하게 장착된 SSD 테스터 보드의 보드 번호를 DIP 스위치와 7-세그먼트가 구비된 USB 장치에 입력하고 표시하여 해당 SSD 테스터 보드마다 장착하도록 구성됨으로써, 각 SSD 테스터 보드의 보드 번호의 입력과 그 확인을 용이하게 하는 효과가 있다. 특히, 챔버 내에서 필요에 따라 수시로 바뀌게 되는 SSD 테스터 보드의 위치에 따라 해당 USB 장치를 바꿔 장착만 하면 되므로, 챔버 내의 위치가 바뀌어도 쉽게 그리고 오류없이 보드 번호를 변경하고 확인할 수 있는 효과가 있다.
도 1a 및 도 1b는 SSD 테스터 챔버(chamber)의 실물 사진이다.
도 2는 SSD 테스터 보드 및 SATA/SAS 콘트롤러의 구성도이다.
도 3a은 SSD 테스터 시스템의 모식도이고, 도 3b는 SSD 테스터 시스템의 블록 구성도이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치의 실물 사진이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치의 블록 구성도이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치의 보드 번호 부여 방법의 흐름도이다.
본 발명은 다양한 변경을 가할 수 있고 여러 가지 실시예를 가질 수 있는 바, 특정 실시 예들을 도면에 예시하고 발명을 실시하기 위한 구체적인 내용에 상세하게 설명하고자 한다. 그러나, 이는 본 발명을 특정한 실시 형태에 대해 한정하려는 것이 아니며, 본 발명의 사상 및 기술 범위에 포함되는 모든 변경, 균등물 내지 대체물을 포함하는 것으로 이해되어야 한다. 각 도면을 설명하면서 유사한 참조부호를 유사한 구성요소에 대해 사용하였다.
제1, 제2, A, B 등의 용어는 다양한 구성요소들을 설명하는데 사용될 수 있지만, 상기 구성요소들은 상기 용어들에 의해 한정되어서는 안 된다. 상기 용어들은 하나의 구성요소를 다른 구성요소로부터 구별하는 목적으로만 사용된다. 예를 들어, 본 발명의 권리 범위를 벗어나지 않으면서 제1 구성요소는 제2 구성요소로 명명될 수 있고, 유사하게 제2 구성요소도 제1 구성요소로 명명될 수 있다. 및/또는 이라는 용어는 복수의 관련된 기재된 항목들의 조합 또는 복수의 관련된 기재된 항목들 중의 어느 항목을 포함한다.
어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "연결되어" 있다거나 "접속되어" 있다고 언급된 때에는, 그 다른 구성요소에 직접적으로 연결되어 있거나 또는 접속되어 있을 수도 있지만, 중간에 다른 구성요소가 존재할 수도 있다고 이해되어야 할 것이다. 반면에, 어떤 구성요소가 다른 구성요소에 "직접 연결되어" 있다거나 "직접 접속되어" 있다고 언급된 때에는, 중간에 다른 구성요소가 존재하지 않는 것으로 이해되어야 할 것이다.
본 출원에서 사용한 용어는 단지 특정한 실시예를 설명하기 위해 사용된 것으로, 본 발명을 한정하려는 의도가 아니다. 단수의 표현은 문맥상 명백하게 다르게 뜻하지 않는 한, 복수의 표현을 포함한다. 본 출원에서, "포함하다" 또는 "가지다" 등의 용어는 명세서상에 기재된 특징, 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것이 존재함을 지정하려는 것이지, 하나 또는 그 이상의 다른 특징들이나 숫자, 단계, 동작, 구성요소, 부품 또는 이들을 조합한 것들의 존재 또는 부가 가능성을 미리 배제하지 않는 것으로 이해되어야 한다.
다르게 정의되지 않는 한, 기술적이거나 과학적인 용어를 포함해서 여기서 사용되는 모든 용어들은 본 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자에 의해 일반적으로 이해되는 것과 동일한 의미를 가지고 있다. 일반적으로 사용되는 사전에 정의되어 있는 것과 같은 용어들은 관련 기술의 문맥 상 가지는 의미와 일치하는 의미를 가지는 것으로 해석되어야 하며, 본 출원에서 명백하게 정의하지 않는 한, 이상적이거나 과도하게 형식적인 의미로 해석되지 않는다.
이하, 본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 상세하게 설명한다.
도 1a 및 도 1b는 SSD 테스터 챔버(chamber)의 실물 사진이다.
도 1a 및 도 1b에서 보듯이, SSD 테스터 보드(10)는 챔버(chamber) 내에 차곡차곡 장착되며, 기존의 하나의 챔버에는 수십개의 SSD 테스터 보드(10)가 장착된다.
기존의 SSD 테스터 보드(10) 하나에는 2개의 SSD(1)가 연결되어 동시에 테스트될 수 있다.
하나의 챔버에 장착된 SSD 테스터 보드(10)는 대략 2배수의 SSD(1)를 동시에 테스트할 수 있다.
이처럼 수많은 SSD 테스터 보드(10)가 챔버에 장착되므로 불량 SSD를 실시간으로 확인하고 찾아내기 위해서는 각 SSD 테스터 보드(10)마다 고유의 보드 번호가 부여될 필요가 있다.
이에, SSD 테스터 보드(10)에는 보드 번호를 입력받기 위한 DIP 스위치(dual in-line package switch)와 입력된 보드 번호를 표시하기 위한 7-세그먼트(segment)가 구비된다.
사용자는 SSD 테스터 보드(10)를 일일이 챔버에 장착하면서 DIP 스위치를 통해 보드 번호를 입력하고 7-세그먼트를 통해 표시된 보드 번호를 확인하는 작업을 거친다.
챔버의 각 위치마다 순서대로 보드 번호가 부여되며, 이에 의해 불량 SSD를 쉽게 찾아낼 수 있는데, 테스트 중에 필요에 따라서는 이미 장착된 SSD 테스터 보드(10)의 위치를 바꾸게 되거나 때로는 순서를 잘못하여 장착하기도 한다. SSD 테스터 보드(10)의 위치가 섞일 때마다 보드 번호의 순서가 엉켜 불량이 발생한 SSD 테스터 보드를 쉽게 찾을 수 없는 문제점이 생긴다.
이러한 경우 위치를 바꿀 때마다 각 SSD 테스터 보드(10)의 보드 번호를 해당 위치에 따라 변경해야 하는데, 매우 불편하고 손작업에 오류가 많이 발생한다.
또한, 촘촘히 박힌 SSD 테스터 보드(10)의 7-세그먼트를 통해 보드 번호를 확인하기도 쉽지 않다.
도 2는 SSD 테스터 보드 및 SATA/SAS 콘트롤러의 구성도이다.
도 2의 왼편 구성은 SSD 테스터 보드(10)이며 오른편 구성은 SATA/SAS 콘트롤러이다. SSD 테스토 보드(10)에는 SATA/SAS 콘트롤러를 통해 2개의 SSD(1)가 연결된다. SSD 테스터 보드(10)의 테스트 알고리즘에 따라 연결된 2개의 SSD(1)를 동시에 테스트하게 된다.
도 3a은 SSD 테스터 시스템의 모식도이고, 도 3b는 SSD 테스터 시스템의 블록 구성도이다.
도 3a에서는 각 챔버에 장착된 SSD 테스터 보드(10)가 이더넷(Ethernet) 망읕 통해 서버(20)와 연결됨을 알 수 있다. SSD 테스터 보드(10)의 테스트 결과값이 서버(20)에 해당 보드 번호와 함께 저장되며, 사용자가 저장된 결과를 사용자 단말(미도시)을 통해 확인할 수 있도록 구성된다. 그런데, 보드 번호와 해당 SSD 테스터 보드(10)의 위치가 일치하지 않으면 불량 SSD를 찾기가 쉽지 않아진다.
이에, 본 발명에서는 SSD 테스터 보드(10)의 보드 번호와 챔버 내의 위치를 쉽게 일치시키고 보드 번호도 쉽게 확인할 수 있도록 SSD 테스터 보드(10)에 USB 포트를 통해 탈부착되는 USB 장치(100)를 제시한다. 도 4a 및 도 4b는 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치의 실물 사진이다.
도 4a 및 도 4b는 본 발명에 따른 USB 장치(100)가 앞면과 뒷면이 각각 도시되어 있다. 앞면에서는 DIP 스위치(dual in-line package switch) 모듈(110)이 나타나 있으며, 뒷면에서는 7-세그먼트(7-segment) 모듈(120), CPU(central processing unit) 칩 모듈(150), 네트워크(network) 칩 모듈(160) 등이 나타나 있다.
USB 장치(100)는 보드 번호의 설정과 표시가 가능하며, 각 SSD 테스터 보드(10)에 장착하면 SSD 테스터 보드(10)의 챔버 내 위치가 바뀌어도 USB 장치(100)만 바꿔 장착하면 되므로, 위치별로 보드 번호도 일치하게 된다.
또한, 보드 번호의 설정과 확인도 용이하게 된다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치의 블록 구성도이다.
도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치(100)는 DIP 스위치(dual in-line package switch) 모듈(110), 7-세그먼트(7-segment) 모듈(120), USB 포트(universal serial bus port) 모듈(130), GPIO(general purpose input/output) 모듈(140), CPU(central processing unit) 칩 모듈(150), 네트워크(network) 칩 모듈(160)을 포함하도록 구성될 수 있다. 이하, 세부적인 구성에 대하여 설명한다.
DIP 스위치 모듈(110)은 사용자로부터 SSD 테스트 챔버에 장착되는 SSD 테스터 보드(10)의 보드 번호를 입력받도록 구성될 수 있다. DIP 스위치 모듈(110)에서 입력받은 보드 번호는 GPIO 모듈(150)을 통해 CPU 칩 모듈(140)이 인식하도록 구성될 수 있다.
7-세그먼트 모듈(120)은 보드 번호를 표시하도록 구성될 수 있다. CPU 칩 모듈(140)의 제어에 의해 GPIO 모듈(150)을 통해 표시될 수 있다.
USB 포트 모듈(130)은 SSD 테스터 보드(10)에 USB 연결을 하도록 구성될 수 있다.
CPU 칩 모듈(140)은 DIP 스위치 모듈(110)에서 입력받은 보드 번호를 7-세그먼트 모듈(120)에 표시하도록 제어하고, USB 포트 모듈(130)을 통해 SSD 테스터 보드(10)로 송신하도록 제어하는 것으로 구성될 수 있다.
CPU 칩 모듈(140)의 제어에 의해 위와 같은 기능이 수행될 수 있다.
GPIO 모듈(150)은 DIP 스위치 모듈(110) 및 7-세그먼트 모듈(120)과 CPU 칩 모듈(140) 간의 데이터 입출력 및 명령 입출력을 수행하도록 구성될 수 있다. CPU 칩 모듈(140)의 명령과 여러 데이터의 입출력은 GPIO 모듈(150)을 통해 이루어질 수 있다.
네트워크 칩 모듈(160)은 보드 번호를 이더넷(Ethernet) 망을 통해 서버(20)로 송신하도록 구성될 수 있다. 서버(20)는 보드 번호를 통해 이와 통신하는 SSD 테스터 보드(10)를 인식할 수 있으며, SSD 테스터 보드(10)의 테스트 결과를 해당 보드 번호와 함께 실시간 저장하고 사용자 단말(미도시)로 송신하도록 구성될 수 있다.
서버(20)의 테스트 결과에 따라 불량 SSD를 사용자 단말에서 실시간으로 확인할 수 있다.
서버(20)는 불량 SSD가 발생한 경우 해당 SSD 테스터 보드(10)에 장착된 USB 장치(100)로 불량임을 나타내는 신호를 실시간 송신하고, USB 장치(100)는 7-세그먼트 모듈(120)을 점멸하여 불량 SSD가 발생했음을 육안으로 쉽게 확인하도록 구성될 수 있다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치의 보드 번호 부여 방법의 흐름도이다.
도 6을 참조하면, DIP 스위치(dual in-line package switch) 모듈(110)이 사용자로부터 SSD 테스트 챔버(solid state drive test chamber)에 장착되는 SSD 테스터 보드(SSD tester board)(10)의 보드 번호(board number)를 입력받는다(S101).
다음으로, CPU 칩 모듈(150)의 제어에 의해 DIP 스위치 모듈(110)에서 입력받은 보드 번호를 7-세그먼트(7-segment) 모듈(120)에 표시한다(S102).
다음으로, CPU 칩 모듈(150)의 제어에 의해 보드 번호를 SSD 테스터 보드(10)가 셋팅(setting)할 수 있도록 보드 번호를 USB 포트 모듈(130)을 통해 SSD 테스터 보드(10)로 출력한다(S103).
다음으로, CPU 칩 모듈(150)의 제어에 의해 네트워크 칩 모듈(160)이 보드 번호를 이더넷(Ethernet) 망을 통해 서버(20)로 송신한다(S104).
이상 실시예를 참조하여 설명하였지만, 해당 기술 분야의 숙련된 당업자는 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.
110: DIP 스위치 모듈
120: 7-세그먼트 모듈
130: USB 포트 모듈
140: GPIO 모듈
150: CPU 칩 모듈
160: 네트워크 칩 모듈

Claims (5)

  1. 사용자로부터 SSD 테스트 챔버(solid state drive test chamber)에 장착되는 SSD 테스터 보드(SSD tester board)의 보드 번호(board number)를 입력받는 DIP 스위치(dual in-line package switch) 모듈;
    상기 DIP 스위치 모듈에서 입력받은 보드 번호를 표시하는 7-세그먼트(7-segment) 모듈;
    상기 SSD 테스터 보드에 USB 연결을 하는 USB 포트(USB port) 모듈;
    상기 DIP 스위치 모듈에서 입력받은 보드 번호를 상기 7-세그먼트 모듈에 표시하도록 제어하고, 상기 USB 포트 모듈을 통해 상기 SSD 테스터 보드로 송신하도록 제어하는 CPU(central processing unit) 칩 모듈을 포함하는 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 DIP 스위치 모듈 및 상기 7-세그먼트 모듈과 상기 CPU 칩 모듈 간의 데이터 입출력 및 명령 입출력을 수행하는 GPIO(general purpose input/output) 모듈을 더 포함하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 포함하는 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 보드 번호를 이더넷(Ethernet) 망을 통해 서버로 송신하는 네트워크 칩 모듈을 더 포함하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치.
  4. CPU(central processing unit) 칩 모듈의 제어에 의해 DIP 스위치(dual in-line package switch) 모듈이 사용자로부터 SSD 테스트 챔버(solid state drive test chamber)에 장착되는 SSD 테스터 보드(SSD tester board)의 보드 번호(board number)를 입력받는 단계;
    상기 CPU 칩 모듈의 제어에 의해 상기 보드 번호를 7-세그먼트(7-segment) 모듈에 표시하는 단계;
    상기 CPU 칩 모듈의 제어에 의해 상기 보드 번호를 상기 SSD 테스터 보드가 셋팅(setting)할 수 있도록 상기 보드 번호를 USB 포트 모듈을 통해 상기 SSD 테스터 보드로 출력하는 단계를 포함하는 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치의 번호 부여 방법.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 CPU 칩 모듈의 제어에 의해 네트워크 칩 모듈이 상기 보드 번호를 이더넷(Ethernet) 망을 통해 서버로 송신하는 단계를 더 포함하도록 구성되는 것을 특징으로 하는 SSD 테스터 보드의 보드 번호 부여용 USB 장치의 번호 부여 방법.
KR1020170124864A 2017-09-27 2017-09-27 Ｓｓｄ 테스터 보드의 보드 번호 부여용 ｕｓｂ 장치 및 그 방법 KR101974853B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170124864A KR101974853B1 (ko) 2017-09-27 2017-09-27 Ｓｓｄ 테스터 보드의 보드 번호 부여용 ｕｓｂ 장치 및 그 방법

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020170124864A KR101974853B1 (ko) 2017-09-27 2017-09-27 Ｓｓｄ 테스터 보드의 보드 번호 부여용 ｕｓｂ 장치 및 그 방법

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20190036076A true KR20190036076A (ko) 2019-04-04
KR101974853B1 KR101974853B1 (ko) 2019-08-23

Family

ID=66105396

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020170124864A KR101974853B1 (ko) 2017-09-27 2017-09-27 Ｓｓｄ 테스터 보드의 보드 번호 부여용 ｕｓｂ 장치 및 그 방법

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101974853B1 (ko)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100902668B1 (ko) 2009-02-20 2009-06-15 (주) 제노맥스 Ｓｓｄ 테스트용 탑재장치
KR20090065415A (ko) * 2007-12-17 2009-06-22 한국전자통신연구원 플랫폼 장착용 모듈 및 플랫폼 장착용 모듈을 위한 기능변경 방법
US7873885B1 (en) * 2004-01-20 2011-01-18 Super Talent Electronics, Inc. SSD test systems and methods
KR101715227B1 (ko) 2015-11-03 2017-03-10 이정표 Ssd 테스트용 소켓

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7873885B1 (en) * 2004-01-20 2011-01-18 Super Talent Electronics, Inc. SSD test systems and methods
KR20090065415A (ko) * 2007-12-17 2009-06-22 한국전자통신연구원 플랫폼 장착용 모듈 및 플랫폼 장착용 모듈을 위한 기능변경 방법
KR100902668B1 (ko) 2009-02-20 2009-06-15 (주) 제노맥스 Ｓｓｄ 테스트용 탑재장치
KR101715227B1 (ko) 2015-11-03 2017-03-10 이정표 Ssd 테스트용 소켓

Also Published As

Publication number Publication date
KR101974853B1 (ko) 2019-08-23

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US9146823B2 (en) Techniques for testing enclosure management controller using backplane initiator
TWI424176B (zh) 測試積體電路裝置之方法及系統
US8078424B2 (en) Test apparatus
US20130219194A1 (en) Test apparatus and method for testing pcie slot
JP2021071460A (ja) 自動回路基板試験システム及びその試験方法
CN111124775A (zh) 一种上电时序异常检测方法、装置、mcu及存储介质
US10402288B2 (en) USB-testing method and testing fixture board for USB device
CN108228244A (zh) 轻轨板卡的识别方法及系统
US20140053032A1 (en) Memory test method, memory test device, and adapter thereof
TWI545430B (zh) 用於設定電源供應器的保護晶片之過電流保護態樣之控制治具裝置及方法
US9158609B2 (en) Universal serial bus testing device
KR20190036076A (ko) Ｓｓｄ 테스터 보드의 보드 번호 부여용 ｕｓｂ 장치 및 그 방법
US10156606B2 (en) Multi-chassis test device and test signal transmission apparatus of the same
CN113468028B (zh) 用于计算设备的设备管理方法、计算设备、装置和介质
US20180059179A1 (en) Automatic control system and automatic instrument searching method for the same
CN110687363A (zh) Sfp埠测试治具
US9037909B2 (en) Test apparatus
TW201502767A (zh) 伺服器主機板檢測系統及方法
US20180136270A1 (en) Product self-testing method
CN209803254U (zh) 一种触摸屏老化测试系统
US9509633B2 (en) Multi-switching device and multi-switching method thereof
CN112596983A (zh) 一种服务器内连接器的监测方法
TWI492047B (zh) 測試裝置
CN211123145U (zh) 一种模块化集成测量系统
CN110596576A (zh) 一种模块化集成测量系统

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right