KR20190031416A

KR20190031416A - 지문 이미지 획득 방법, 장치 및 단말 장치

Info

Publication number: KR20190031416A
Application number: KR1020177030422A
Authority: KR
Inventors: 용 주오; 빙 왕
Original assignee: 선전 구딕스 테크놀로지 컴퍼니, 리미티드
Priority date: 2017-08-18
Filing date: 2017-08-18
Publication date: 2019-03-26
Also published as: CN107690653A; US10579853B2; EP3462374A4; EP3462374A1; CN107690653B; WO2019033386A1; US20190057237A1

Abstract

본 출원의 실시예는 지문 이미지 획득 방법, 장치 및 단말 장치에 관한 것이다. 상기 방법은 인식 대상 지문이 위치하는 광 환경의 목표 광 정보를 결정하는 단계; 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계에 근거하여, 상기 목표 광 정보에 대응하는 목표 작동 파라미터를 결정하는 단계; 상기 목표 작동 파라미터에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제1 지문 이미지를 획득하는 단계를 포함한다. 본 출원의 실시예의 지문 이미지 획득 방법, 장치 및 단말 장치는 서로 다른 광 환경에 근거하여, 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득할 때의 작동 파라미터를 동적으로 조절하여, 하드웨어 비용을 증가시키지 않으면서 서로 다른 환경의 광학 지문 사용 요구에 맞는 예상 결과에 도달할 수 있다.

Description

지문 이미지 획득 방법, 장치 및 단말 장치

본 출원은 생체 인식 기술 분야에 관한 것으로, 특히 지문 이미지 획득 방법, 장치 및 단말 장치에 관한 것이다.

현재 단말 장치의 언더 디스플레이(Under display) 광학 지문 장치는, 손가락으로 발광 화면을 누름으로써, 손가락의 골 및 융선의 반사광의 강약 신호에 의해 지문 이미지를 생성한다. 그러나, 광학 지문 장치는 지문 수집 시 환경의 영향을 받기 쉽다. 예를 들면, 단말 장치가 빛이 강한 환경에 있을 경우, 신호가 지문 장치의 범위를 초과하게 되어, 유효한 지문 이미지 데이터를 얻지 못할 가능성이 있다. 단말 장치가 어두운 환경에 있을 경우, 골과 융선이 반사하는 광의 강도가 같아지면서, 마찬가지로 유효한 지문 이미지 데이터를 얻지 못할 가능성이 있다.

본 출원은 지문 이미지 데이터를 효과적으로 획득할 수 있는 지문 이미지 획득 방법, 장치 및 단말 장치를 제공한다.

제1 방면에 따르면, 지문 이미지 획득 방법을 제공하며, 상기 방법은, 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경의 목표 광 정보를 결정하는 단계; 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계에 근거하여, 상기 목표 광 정보에 대응하는 목표 작동 파라미터를 결정하는 단계, 상기 작동 파라미터는 지문 이미지를 획득하여 지문 인식을 진행할 때 사용되는 파라미터임; 상기 목표 작동 파라미터에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제1 지문 이미지를 획득하는 단계를 포함한다.

따라서 본 출원의 실시예의 지문 이미지 획득 방법은 인식 대상 지문이 위치하는 광 환경의 광 정보에 근거하여, 대응하는 작동 파라미터를 결정하고, 상기 작동 파라미터에 근거하여 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득함으로써, 계속하여 지문 이미지 인식을 실행하도록 할 수 있다. 이와 같이, 서로 다른 광 환경에 근거하여, 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득할 때의 관련 작동 파라미터를 동적으로 조절하여, 하드웨어 비용을 증가시키지 않으면서 서로 다른 환경의 광학 지문 사용 요구에 맞는 예상 결과에 도달할 수 있다.

이해해야 할 점은, 상기 방법은 지문 이미지 획득 장치에 의해 실행될 수 있으며, 상기 장치는 단말 장치일 수 있으며, 상기 장치는 광원 디바이스와 광학 지문 모듈을 포함할 수 있다. 구체적으로, 상기 방법은 광학 지문 모듈에 의해 실행될 수 있으며, 상기 광학 지문 모듈은 또한 인식 대상 지문에 대해 지문 인식을 진행할 수 있으며, 예를 들면 상기 제1 지문 이미지에 근거하여 지문 인식을 진행하고, 상기 광원 디바이스는 상기 광학 지문 모듈에 지문 인식을 위한 광원을 제공할 수 있다.

이해해야 할 점은, 상기 광 환경에서의 광은 인식 대상 지문이 위치하는 환경의 자연광을 포함할 수도 있으며, 상기 광학 지문 인식 장치 중 광원 디바이스가 제공하는 광원을 포함할 수 있다.

이해해야 할 점은, 상기 목표 광 정보는 상기 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경에서의 광의 강도를 나타낼 수 있다. 상기 목표 광 정보는 상기 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경에서의 광의 강도를 나타내는 임의의 파라미터를 포함할 수 있다.

예를 들면, 인식 대상 지문에 대해 지문 인식을 진행하기 전에, 먼저 현재 위치하는 광 환경의 임의의 이미지를 수집하고, 상기 이미지는 지문 이미지가 아니며, 상기 이미지를 획득하는 픽셀 값을 계산하고, 상기 이미지의 픽셀 값에 의해 현재의 광 환경에서의 광을 나타내며, 즉 상기 목표 광 정보는 상기 이미지의 픽셀 값을 포함한다.

제1 방면과 결합하면, 제1 방면의 한 실현 방식에서, 상기 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경의 목표 광 정보를 결정하는 단계는, 상기 현재 위치하는 광 환경에서, 소정의 노광 시간에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지를 획득하는 단계; 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계; 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 포함하는 상기 목표 광 정보를 결정하는 단계를 포함한다.

이해해야 할 점은, 상기 소정의 노광 시간은 임의의 길이, 예를 들면 10ms로 설정할 수 있고, 설정 기준은 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 제2 소정의 픽셀 값 이하가 되게 하는 것일 수 있다.

제1 방면 및 이의 상기 실현 방식을 결합하면, 제1 방면의 다른 실현 방식에서, 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계는, 상기 제2 지문 이미지 중 전체 픽셀의 픽셀 값을 결정하는 단계; 상기 전체 픽셀의 평균 픽셀 값을 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값으로 결정하는 단계를 포함한다.

이해해야 할 점은, 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계는, 상기 제2 지문 이미지의 전체 픽셀 중 각 픽셀의 픽셀 값을 결정하고, 상기 전체 픽셀의 픽셀 값의 평균값을 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값으로 결정하거나, 또는 기타 계산법에 의해 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 계산하는 단계를 포함할 수 있다.

바람직하게는, 제2 지문 이미지의 효과를 고려하면, 상기 제2 지문 이미지의 일부 영역의 픽셀 값을 결정하는 것을 통하여, 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 결정할 수도 있다.

제1 방면 및 이의 상기 실현 방식을 결합하면, 제1 방면의 다른 실현 방식에서, 상기 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지를 획득하는 단계는, 상기 인식 대상 지문의 일부 지문의 이미지를 상기 제2 지문 이미지로 획득하는 단계를 포함한다.

이해해야 할 점은, 상기 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지는 상기 인식 대상 지문의 전체 지문 이미지일 수도 있으며, 상기 인식 대상 지문의 일부 지문 이미지일 수도 있다.

제1 방면 및 이의 상기 실현 방식을 결합하면, 제1 방면의 다른 실현 방식에서, 상기 방법은, 다양한 광 환경의 광 환경별 광 정보 및 대응하는 작동 파라미터를 결정하는 단계; 상기 광 환경별 광 정보와 상기 작동 파라미터의 대응 관계를 구축하는 단계를 더 포함한다.

이해해야 할 점은, 광학 지문 인식 장치에 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계가 저장될 수 있다. 예를 들면, 상기 광학 지문 인식 장치는 단말 장치일 수 있으며, 이때 상기 단말 장치의 메모리에 상기 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계가 저장될 수 있으며, 또는 상기 광학 지문 인식 장치의 지문 모듈에 상기 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계가 설정될 수 있다.

이해해야 할 점은, 상기 다양한 광 환경은 사용자가 지문 인식을 진행할 때 위치할 수 있는 광 환경에서의 광의 서로 다른 강도를 시뮬레이션한 것이다. 또한, 제1 광 환경을 결정할 때, 광학 지문 인식 장치 중의 광원 디바이스는 발광할 수도 있고, 발광하지 않을 수도 있다. 광원 디바이스가 발광할 경우, 제1 광 환경에서의 광은 외부의 자연 광과 광원 디바이스의 광을 포함시켜 시뮬레이션한 것이다. 광원 디바이스가 발광하지 않을 경우, 상기 제1 광 환경에서의 광은 외부의 자연광이 지문 검출에 대한 영향만을 시뮬레이션한 것이다.

바람직하게는, 제1 광 환경의 광 정보를 결정하고, 상기 광 정보는 상기 제1 광 환경에서의 광의 강도, 휘도 및 조도 중의 적어도 하나를 포함하거나, 상기 광 정보는 또한 기타 제1 광 환경에서의 광의 강도를 나타내는 파라미터를 포함할 수 있다. 예를 들면, 테스트 지문의 초기 지문 이미지를 수집하여, 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 계산할 수 있으며, 상기 광 정보는 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 포함한다

제1 방면 및 이의 상기 실현 방식을 결합하면, 제1 방면의 다른 실현 방식에서, 상기 작동 파라미터는 노광 시간을 포함하고, 상기 목표 작동 파라미터는 목표 노광 시간을 포함한다.

제1 방면 및 이의 상기 실현 방식을 결합하면, 제1 방면의 다른 실현 방식에서, 상기 다양한 광 환경의 광 환경별 광 정보 및 대응하는 작동 파라미터를 결정하는 단계는, 다양한 광 환경 중의 제1 광 환경에서, 소정의 노광 시간에 근거하여, 테스트 지문의 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계; 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 포함하는 상기 제1 광 환경의 광 정보를 결정하는 단계; 상기 제1 광 환경에서, 서로 다른 노광 시간에 근거하여, 대응하는 상기 테스트 지문의 복수의 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계; 상기 복수의 지문 이미지 중 픽셀 값이 제1 소정의 픽셀 값과 같은 지문 이미지에 대응하는 노광 시간을 상기 제1 광 환경에서의 노광 시간으로 결정하는 단계;를 포함하고, 상기 광 환경별 광 정보와 상기 작동 파라미터의 대응 관계를 구축하는 단계는, 상기 제1 광 환경의 광 정보와 상기 노광 시간의 대응 관계를 구축하는 단계를 포함한다.

상기 소정의 노광 시간은 임의의 길이, 예를 들면 10ms로 설정할 수 있으며, 설정 기준은 다양한 광 환경 중의 임의의 광 환경에 대해 상기 소정의 노광 시간을 이용하여 획득한 테스트 지문의 초기 지문 이미지의 픽셀 값이 모두 제2 소정의 픽셀 값 이하인 것이다.

이해해야 할 점은, 상기 테스트 지문의 초기 지문 이미지는 상기 테스트 지문의 전체 지문 이미지일 수도 있으며, 상기 테스트 지문의 일부 지문 이미지일 수도 있다.

이해해야 할 점은, 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계는, 상기 초기 지문 이미지의 전체 픽셀 중 각 픽셀의 픽셀 값을 결정하고, 상기 전체 픽셀의 픽셀 값의 평균값을 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값으로 결정하는 단계를 포함할 수 있다.

바람직하게는, 지문 이미지의 효과를 고려하면, 상기 초기 지문 이미지의 일부 영역의 픽셀 값을 결정하는 것을 통하여, 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 결정할 수도 있다. 예를 들면, 초기 지문 이미지를 수집하고, 상기 초기 지문 이미지 중의 일부 영역을 취하며, 예를 들면 관련 계산법에 의해 상기 일부 영역을 선택하여, 상기 일부 영역의 픽셀 값을 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값으로 계산한다.

제1 방면 및 이의 상기 실현 방식을 결합하면, 제1 방면의 다른 실현 방식에서, 상기 제1 소정의 픽셀 값은 700 이상이며, 또한 상기 제1 픽셀 값은 800 이하다.

제1 방면 및 이의 상기 실현 방식을 결합하면, 제1 방면의 다른 실현 방식에서, 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값은 제2 소정의 픽셀 값 이하다.

제1 방면 및 이의 상기 실현 방식을 결합하면, 제1 방면의 다른 실현 방식에서, 상기 제2 소정의 픽셀 값은 1024이다.

제1 방면 및 이의 상기 실현 방식을 결합하면, 제1 방면의 다른 실현 방식에서, 상기 목표 광 정보는 상기 현재 위치하는 광 환경에서의 광의 강도 및/또는 휘도를 포함한다.

따라서, 본 출원의 실시예의 지문 이미지 획득 방법은, 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경의 목표 광 정보를 결정할 수 있으며, 예를 들면 상기 목표 광 정보는 지문 이미지의 픽셀 값을 포함할 수 있으며, 상기 지문 이미지의 픽셀 값은 소정의 노광 시간에 근거하여 획득한 인식 대상 지문의 지문 이미지의 픽셀 값일 수 있으며, 나아가 목표 광 정보에 대응하는 목표 작동 파라미터를 결정하고, 상기 목표 작동 파라미터에 근거하여 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득함으로써, 계속하여 지문 이미지 인식을 실행하도록 할 수 있다. 이와 같이, 서로 다른 광 환경에 근거하여, 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득할 때의 작동 파라미터를 동적으로 조절할 수 있으며, 상기 작동 파라미터는 지문 이미지를 획득하고 지문 인식을 진행하는 과정에서의 임의의 파라미터일 수 있으며, 예를 들면 상기 작동 파라미터는 노광 시간일 수 있으며, 이를 통해 하드웨어 비용을 증가시키지 않으면서 서로 다른 환경의 광학 지문 사용 요구에 맞는 예상 결과에 도달할 수 있다.

제2 방면에 따르면, 지문 이미지 획득 장치를 제공하며, 상기 장치는 광원 디바이스 및 광학 지문 모듈을 포함하며, 상기 광학 지문 모듈은 인식 대상 지문에 대해 지문 인식을 진행하고, 상기 광원 디바이스는 상기 광학 지문 모듈이 지문 인식을 진행하는 과정을 위해 광원을 제공하며, 상기 광학 지문 모듈은 또한 상기 제1 방면 또는 제1 방면의 임의의 실현 가능한 방식에서의 방법을 실행한다.

제3 방면에 따르면, 단말 장치를 제공하며, 상기 단말 장치는 자체 발광 디스플레이 패널 및 광학 지문 모듈을 포함하고, 상기 광학 지문 모듈은 상기 자체 발광 디스플레이 패널의 하측에 위치하고, 상기 광학 지문 모듈은 상기 제1 방면 또는 제1 방면의 임의의 실현 가능한 방식에서의 방법을 실행하고, 상기 자 발광 디스플레이 패널은 상기 광학 지문 모듈에 광원을 제공한다.

제3 방면을 결합하면, 제3 방면의 한 실현 방식에서, 상기 단말 장치는 상기 제2 방면의 지문 이미지 획득 장치이며, 상기 단말 장치 중의 자체 발광 디스플레이 패널은 상기 제2 방면의 장치 중의 광원 디바이스이며, 상기 단말 장치 중의 광학 지문 모듈은 상기 제2 방면의 장치 중의 광학 지문 모듈이다.

도 1은 본 발명의 실시예에 따른 단말 장치의 개략도이다.
도 2는 본 발명의 실시예에 따른 지문 이미지 획득 방법의 개략적 흐름도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에 따른 지문 이미지 획득 장치의 개략적 블록도이다.

이하, 도면을 결합하여, 본 발명의 실시예의 기술방안에 대해 설명한다.

이해해야 할 점은, 도 1은 본 발명의 실시예에 따른 단말 장치의 개략도이며, 상기 단말 장치는 이동 단말(Mobile Terminal), 이동 전화(Mobile Telephone), 사용자 장치(UE), 핸드폰(handset) 및 휴대용 장치(portable equipment) 등을 포함하나 이에 한정되지 않으며, 예를 들면 단말 장치는 이동 전화일 수 있다.

도 1에 도시한 바와 같이, 상기 단말 장치는 광학 지문 인식을 진행하는 광학 지문 모듈 및 패널을 포함하며, 그 중 상기 광학 지문 모듈은 패널 하측에 설치될 수 있으며, 상기 패널은 상기 단말 장치의 발광 터치 스크린일 수 있으며, 상기 패널은 사용자에게 이미지를 표시할 수 있으며, 또한 상기 단말 장치의 광학 지문 모듈에 지문 인식을 위한 광원을 제공할 수도 있으며, 상기 광학 지문 모듈은 지문 인식을 진행하는 지문 칩을 포함할 수 있으며, 상기 광학 지문 모듈은 광학 지문 센서를 더 포함할 수 있다.

이해해야 할 점은, 상기 단말 장치의 패널은 발광 디스플레이 픽셀을 갖는 백라이트가 필요 없는 디스플레이 스크린일 수 있으며, 그 중 각 픽셀은 스크린 상에 디스플레이 이미지를 형성하기 위한 광을 발생하며, 예를 들면 유기발광다이오드(organic light-emitting diode，OLED) 디스플레이 스크린 또는 전계발광 디스플레이 스크린일 수 있다. 구체적으로, 상기 단말 장치의 패널은 광원 디바이스로 볼 수 있으며, 상기 광원 디바이스는 복수의 자체 발광 디스플레이 유닛을 포함할 수 있으며, 예를 들면 상기 자체 발광 디스플레이 유닛은 발광 디스플레이 픽셀일 수 있다. 도 1에 도시한 바와 같이, 광원 디바이스(O)는 사용자가 표시 이미지에 따라 상기 단말 장치를 조작하도록 사용자에게 이미지를 표시할 수 있다. 그밖에, 상기 광원 디바이스(O)는 또한 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득하기 위하여 광원을 제공할 수 있다. 즉, 지문 인식 과정에서, 상기 광원 디바이스(O)는 인식 대상 지문을 비춰, 상기 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득하여 지문 인식을 진행한다. 예를 들면, 도 1의 광원 직사광(L2)은 광원 디바이스(O)에 의해 발생된 것으로, 인식 대상 지문을 비치며, 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득하기 위해 제공되는 광원이다.

그밖에, 상기 패널 상에 노광 영역(D)를 더 포함할 수 있으며, 상기 노광 영역(D)은 인식 대상 지문의 지문 이미지를 수집하여 지문 인식을 진행하기 위한 것이다. 바람직하게는, 상기 단말 장치의 광학 지문 모듈은 상기 노광 영역(D)에 위치할 수 있다. 즉, 사용자가 지문 인식을 진행할 때, 손가락으로 상기 영역을 눌러서, 인식해야 할 인식 대상 지문으로 상기 노광 영역(D)를 가리면, 노광 영역(D)의 광학 지문 모듈을 통해 상기 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득하여 인식을 진행한다.

이해해야 할 점은, 상기 단말 장치에 포함되는 광학 지문 모듈은 광학 지문 센서를 포함할 수 있으며, 상기 광학 지문 센서는 PD(Photo-Diode) 어레이를 포함할 수 있으며, 상기 PD어레이는 복수의 신호 변환기를 포함한다고 볼 수 있으며, 예를 들면 도 1에 도시한 신호 변환기(C1)와 신호 변환기(C2)는 PD 어레이 중의 임의의 2개의 신호 변환기다. 구체적으로, 광학 지문 센서는 인식 대상 지문의 지문 데이터를 수집하며, 도 1 중의 신호 변환기(1)와 신호 변환기(2)를 예로 들면, 상기 신호 변환기(C1)와 신호 변환기(C2)는 입력된 광학 신호를 디지털 신호로 변환한다. 예를 들면, 광원 직사광(L2)을 사용자 손가락의 인식 대상 지문에 조사하여, 반사에 의해 반사광(L3)을 얻고, 신호 변환기(C1)와 신호 변환기(C2)는 수집된 인식 대상 지문의 반사를 거친 반사광(L3)의 광학 신호를 디지털 신호로 변환함으로써, 지문 이미지를 획득하여 지문 이미지 인식을 진행한다.

본 출원의 실시예에서, 도 1에 도시한 바와 같이, 단말 장치의 광원 디바이스(O)는 광원 직사광(L2)을 제공하고, 인식 대상 지문의 지문 융선과 골의 반사를 거쳐, 반사광(L3)을 얻는다. 지문 융선은 지문 골에 비해 광원 디바이스에 더 가깝기 때문에, 지문 융선은 더 강한 반사광을 가지며, 신호 변환기를 통해 수집된 광 신호를 디지털 신호로 변환하는데, 이러한 반사광의 차이는 지문 이미지에서의 차이로 표현될 수 있으며, 즉 인식 대상 지문에 대응하는 지문 이미지를 획득할 수 있다. 그러나, 인식 대상 지문이 위치하는 광 환경에는 강도를 제어할 수 없는 환경광(L1)이 있으며, 예를 들면 태양광의 강약 등은 지문을 거쳐 반사되는 반사광에 영향을 줄 수 있다. 따라서, 본 출원 실시예는 인식 대상 지문의 지문 이미지를 수집할 때, 노광 시간 등 작동 파라미터를 동적으로 조절하여, 지문 검출 과정의 지문 수집에 대한 환경광의 영향을 줄일 수 있는 지문 이미지 획득 방법을 제공한다.

구체적으로, 도 2는 본 출원의 실시예에 따른 지문 이미지 획득 방법(100)을 도시한 개략적 흐름도이며, 상기 방법(100)은 지문 이미지 획득 장치에 의해 실행될 수 있으며, 상기 지문 이미지 획득 장치는 광학 지문 모듈일 수 있다. 예를 들면, 상기 방법(100)은 도 1에 도시한 단말 장치에 응용될 수 있으며, 구체적으로, 단말 장치 중의 광학 지문 모듈에 의해 실행될 수 있으며, 상기 광학 지문 모듈은 도 1에 도시한 단말 장치의 노광 영역(D)에 위치할 수 있다.

구체적으로, 상기 방법(100)은, 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경의 목표 광 정보를 결정하는 단계(S110); 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계에 근거하여, 상기 목표 광 정보에 대응하는 목표 작동 파라미터를 결정하는 단계, 상기 작동 파라미터는 지문 이미지를 획득하여 지문 인식을 진행할 때 사용되는 파라미터임(S120); 상기 목표 작동 파라미터에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제1 지문 이미지를 획득하는 단계(S130)를 포함한다.

따라서, 본 출원의 실시예의 지문 이미지 획득 방법은, 인식 대상 지문이 위치하는 광 환경의 광 정보에 근거하여, 대응하는 작동 파라미터를 결정하고, 상기 작동 파라미터에 근거하여 상기 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득함으로써, 계속하여 지문 이미지 인식을 실행하도록 할 수 있다. 이와 같이, 서로 다른 광 환경에 근거하여, 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득하는 작동 파라미터를 동적으로 조절하여, 하드웨어 비용을 증가시키지 않으면서 서로 다른 환경의 광학 지문 사용 요구에 맞는 예상 결과에 도달할 수 있다.

S110 단계에서, 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경의 목표 광 정보를 결정하고, 상기 목표 광 정보는 상기 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경에서의 광의 강도를 나타낼 수 있다. 이해해야 할 점은, 임의의 광 환경에 있어서, 상기 광 환경은 1종 이상의 유형의 광을 포함할 수 있다. 인식 대상 지문에 대해 지문 인식을 진행하는 경우를 예로 들면, 상기 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경은 주변의 자연광을 포함할 수 있으며, 예를 들면 실외에서 지문 인식을 진행할 때의 태양광이며, 또한 위치하는 광 환경은 지문 인식 동작을 실행하는 단말 장치의 스크린 상의 광을 더 포함할 수 있으며, 예를 들면 도 1에 도시한 광원 디바이스(O)가 방출하는 광원 직사광(L2)이며, 상기 광원 디바이스(O)가 방출하는 광은 상기 인식 대상 지문을 비춰, 더욱 선명한 지문 이미지를 획득하여 지문 인식을 진행할 수 있다.

이해해야 할 점은, 임의의 광 환경에 있어서, 광 정보에 의해 상기 광 환경에서의 광을 나타낼 수 있다. 구체적으로, 상기 광 정보는 광 환경에서의 광의 강도, 휘도 및 조도 중 적어도 하나를 포함하거나, 상기 광 정보는 또한 기타 광을 나타내는 파라미터를 포함할 수도 있다. 구체적으로, 인식 대상 지문에 대해 지문 인식을 진행하는 경우를 예로 들면, 상기 현재 광 환경의 광을 나타내는 목표 광 정보를 획득할 수 있으며, 상기 목표 광 정보는 현재 광 환경을 검측하여 획득한 광의 강도, 휘도 및 조도 중 적어도 하나를 포함하거나 또는 기타 파라미터를 포함할 수 있다.

예를 들면, 인식 대상 지문에 대해 지문 인식을 진행하기 전에, 먼저 현재 위치하는 광 환경의 임의의 이미지를 수집하고, 상기 이미지는 지문 이미지가 아니며, 상기 이미지를 획득하는 픽셀 값을 계산하고, 상기 이미지의 픽셀 값에 의해 현재의 광 환경에서의 광을 나타내며, 즉 상기 목표 광 정보는 상기 이미지의 픽셀 값을 포함하며, 상기 목표 광 정보에 근거하여, 인식 대상 지문의 지문 이미지를 수집하고 인식하는 등의 과정을 진행한다.

또 예를 들면, 인식 대상 지문에 대해 지문 인식을 진행할 때, 인식 대상 지문이 수집 영역에 눌리면, 예를 들면 인식 대상 지문이 도 1에 도시한 바와 같은 노광 영역(D)에 눌리면, 상기 인식 대상 지문의 임의의 지문 이미지(여기서는 제2 지문 이미지이라 함)를 수집하여, 제2 지문 이미지를 획득하는 픽셀 값을 계산할 수 있으며, 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값에 의해 인식 대상 지문이 위치하는 광 환경에서의 광을 나타내며, 즉 상기 목표 광 정보는 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 포함하며, 상기 제2 지문 이미지 픽셀 값을 포함하는 목표 광 정보에 근거하여, 인식 대상 지문의 지문 인식 과정을 진행하고, 선택적으로 지문 인식 과정에서 인식 대상 지문의 지문 이미지를 다시 수집할 수 있으며, 본 출원의 실시예는 이에 한정되지 않는다.

본 출원의 실시예에서, 목표 광 정보에 현재 광 환경에서의 광의 강도, 휘도 및 조도 중 적어도 하나가 포함될 경우, 각종 기술 또는 연산에 의해 수집 및 계산할 수 있으므로, 이에 대해 반복하여 설명하지 않는다.

본 출원의 실시예는 상기 목표 광 정보에 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지의 픽셀 값이 포함되는 것을 예로 하여 선택적으로 설명을 한다. 즉 상기 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경에 대응하는 목표 광 정보는 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 포함한다. 구체적으로, 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경에서, 지문이 수집 영역(예를 들면 도 1에 도시한 노광 영역(D))에 눌리면, 소정의 노광 시간에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지를 수집하여, 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 계산하고, 상기 목표 광 정보는 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 포함한다.

이해해야 할 점은, 상기 소정의 노광 시간은 실제 응용에 따라 임의의 길이, 예를 들면 10ms로 설정할 수 있으며, 설정 기준은 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 제2 소정의 픽셀 값 이하가 되게 하는 것이고, 그 중 상기 제2 소정의 픽셀 값은 실제 응용에 따라 설정할 수 있으며, 예를 들면 상기 제2 소정의 픽셀 값은 1024로 설정할 수 있으며, 대응하게 소정의 노광 시간을 설정하여, 제2 지문 이미지의 픽셀 값이 1024 이하가 되게 할 수 있다. 즉, 제2 지문 이미지 중의 픽셀이 포화되지 않게 할 수 있다.

이해해야 할 점은, 상기 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지는 상기 인식 대상 지문의 전체 지문 이미지일 수도 있으며, 상기 인식 대상 지문의 일부 지문 이미지일 수도 있다. 구체적으로, 인식 대상 지문이 수집 영역, 예를 들어 도 1에 도시한 노광 영역(D)에 접촉되면, 지문 모듈은 접촉된 전체 영역 내의 지문 이미지를 제2 지문 이미지로 수집하거나, 또는 상기 지문 모듈은 접촉된 일부 영역의 지문 이미지를 제2 지문 이미지로 수집할 수도 있다. 예를 들면, 중심 영역의 설정된 크기의 영역에 대응하는 지문 이미지만 제2 지문 이미지로 수집할 수 있으나, 본 발명의 실시예는 이에 한정되지 않는다.

이해해야 할 점은, 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계는, 상기 제2 지문 이미지의 전체 픽셀 중 각 픽셀의 픽셀 값을 결정하고, 상기 전체 픽셀의 픽셀 값의 평균값을 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값으로 결정하거나 또는 기타 계산법에 의해 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 계산하는 단계를 포함할 수 있으나, 본 발명의 실시예는 이에 한정되지 않는다.

바람직하게는, 제2 지문 이미지의 효과를 고려하면, 상기 제2 지문 이미지의 일부 영역의 픽셀 값을 결정하는 것을 통하여, 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 결정할 수도 있다. 예를 들면, 제2 지문 이미지를 수집하여, 상기 제2 지문 이미지 중의 일부 영역을 취하며, 예를 들면 관련 계산법에 의해 효과가 비교적 좋은 일부 영역을 선택하여, 상기 일부 영역의 픽셀 값을 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값으로 계산하나, 본 발명의 실시예는 이에 한정되지 않는다.

유사하게, 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경에 대응하는 상기 목표 광 정보에는 기타 파라미터가 더 포함될 수 있으며, 예를 들면 현재 위치하는 광 환경의 이미지의 픽셀 값이 포함되며, 상기 이미지의 픽셀 값은 지문 이미지가 아니지만, 상기 이미지의 픽셀 값의 획득 및 계산 과정은 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지와 유사하므로, 여기서 반복하여 설명하지 않겠다.

S120 단계에서, 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계에 근거하여, 상기 목표 광 정보에 대응하는 목표 작동 파라미터를 결정하고, 그 중 상기 작동 파라미터는 지문 이미지를 획득하여 지문 인식을 진행할 때 사용되는 파라미터이다. 구체적으로, 상기 작동 파라미터는 지문 인식 과정과 관련된 각종 파라미터를 말하며, 예를 들면 광학 지문 모듈에 의해 인식 대상 지문의 지문 이미지를 수집할 때 사용되는 노광 시간; 또는 단말 장치의 광학 지문 인식 장치의 광원 디바이스가 인식 대상 지문에 제공하는 광의 강도; 또는 지문 모듈이 인식 대상 지문의 지문 이미지를 수집하는 면적 크기 등일 수 있다.

본 출원의 실시예에서, 상술한 바와 같이 단말 장치의 광학 지문 인식 장치에 각종 광 환경에 대응하는 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계가 저장될 수 있다. 예를 들면, 상기 단말 장치의 메모리에 상기 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계가 저장될 수 있으며, 또는 상기 단말 장치 중의 광학 지문 모듈에 상기 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계가 저장될 수 있으며, 상기 목표 광 정보에 근거하여, 대응하는 목표 작동 파라미터를 결정할 수 있다.

이해해야 할 점은, 상기 방법(100)은 다양한 광 환경의 광 환경별 광 정보 및 대응하는 작동 파라미터를 결정하는 단계, 광 환경별 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계를 구축하는 단계를 더 포함한다. 이해해야 할 점은, 상기 다양한 광 환경은 사용자가 지문 인식을 진행할 때 위치할 수 있는 광 환경에서의 광의 서로 다른 강도를 시뮬레이션 한 것이다. 그밖에, 설명의 편의를 위해, 이하 제1 광 환경을 예로 설명하며, 상기 제1 광 환경은 다양한 광 환경 중의 임의의 한가지 광 환경이다.

본 출원의 실시예에서, 제1 광 환경에 대응하는 광 정보를 결정하고, 상기 광 정보는 상기 제1 광 환경에서의 광의 강도, 휘도 및 조도 중 적어도 하나를 포함할 수 있으며, 또는 기타 상기 제1 광 환경에서의 광을 나타내는 파라미터를 포함할 수도 있다. 예를 들면, 제1 광 환경의 임의의 이미지를 수집하고, 상기 이미지는 지문 이미지가 아닐 수 있으며, 상기 이미지를 획득하는 픽셀 값을 계산하고, 상기 이미지의 픽셀 값에 의해 제1 광 환경에서의 광을 나타내며, 즉 상기 제1 광 환경에 대응하는 광 정보는 상기 이미지의 픽셀 값을 포함한다. 또 예를 들자면, 임의의 지문을 테스트 지문으로 설정하고, 테스트 지문의 초기 지문 이미지를 수집하여, 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 계산하고, 상기 제1 광 환경의 광 정보는 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 포함한다.

이해해야 할 점은, 제1 광 환경을 결정할 때, 예를 들면 단말 장치의 광학 지문 인식 장치 중의 광원 디바이스는 발광할 수도 있고, 발광하지 않을 수 있다. 광원 디바이스가 발광할 경우, 제1 광 환경에서의 광은 외부의 자연광과 광원 디바이스의 광을 포함시켜 시뮬레이션한 것이다. 광원 디바이스가 발광하지 않을 경우, 상기 제1 광 환경에서의 광은 외부의 자연광이 지문 검출에 대한 영향만을 시뮬레이션한 것이다.

바람직하게는, 다양한 광 환경의 광 정보를 결정할 때, 광원 디바이스가 발광하지 않으면, 인식 대상 지문의 목표 광 정보를 결정할 때, 광원 디바이스는 마찬가지로 발광하지 않는다. 마찬가지로, 다양한 광 환경의 광 정보를 결정할 때, 광원 디바이스가 발광하면, 인식 대상 지문의 목표 광 정보를 결정할 때, 광원 디바이스도 마찬가지로 발광하나, 본 발명의 실시예는 이에 한정되지 않는다.

이해해야 할 점은, 결정된 다양한 광 환경의 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계에 있어서, 상기 광 정보에 포함된 파라미터 종류는 인식 대상 지문에 대응하는 목표 광 정보 중의 파라미터와 대응되며, 예를 들면 인식 대상 지문에 대응하는 목표 광 정보 중의 파라미터를 포함할 수 있다. 예를 들면, 단말 장치에 저장된 광 환경의 광 정보가 휘도 및 조도를 포함할 경우, 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경을 결정하는 목표 광 정보에 휘도 및/또는 조도가 포함될 수 있다. 또 예를 들면, 단말 장치에 저장된 광 환경의 광 정보가 이미지의 픽셀 값만을 포함할 경우, 예를 들면 테스트 지문의 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 포함할 경우, 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 정보를 결정하는 목표 광 정보에 상기 인식 대상 지문의 지문 이미지의 픽셀 값이 포함된다.

이하, 각종 광 환경에 대응하는 상기 광 정보는 테스트 지문의 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 포함하는 것을 예로 설명하며, 구체적으로, 제1 광 환경의 광 정보를 예로 들면, 대응되게 S110 단계에서 획득한 목표 광 정보는 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 포함한다.

구체적으로, 제1 광 환경에서, 소정의 노광 시간에 근거하여, 테스트 지문의 초기 지문 이미지를 수집하여, 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 계산하고, 상기 제1 광 환경의 광 정보는 상기 초기지문 이미지의 픽셀 값을 포함한다.

이해해야 할 점은, 상기 소정의 노광 시간은 실제 응용에 따라 임임의 길이, 예를 들면 10ms로 설정할 수 있으며, 설정 기준은 다양한 광 환경 중의 임의의 광 환경에 대해 상기 소정의 노광 시간을 이용하여 획득한 지문 이미지의 픽셀 값이 모두 제2 소정의 픽셀 값 이하인 것이다. 예를 들면, 상기 제2 소정의 픽셀 값은 1024로 설정할 수 있으며, 즉 각 지문 이미지 중의 픽셀이 모두 포화되지 않게 할 수 있다. 즉, 모든 광 환경에서 획득한 각종 이미지의 픽셀 값이 모두 1024미만일 때의 노광 시간이 상기 소정의 노광 시간이다. 상기 소정의 노광 시간을 결정한 후, S110단계에서 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지를 획득할 때, 동일한 소정의 노광 시간을 이용하여 상기 제2 지문 이미지를 획득한다.

이해해야 할 점은, 상기 테스트 지문의 초기 지문 이미지는 상기 테스트 지문의 전체 지문의 이미지일 수도 있으며, 상기 테스트 지문의 일부 지문 이미지일 수도 있다. 대응되게, S110 단계에서 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지를 획득할 때, 상기 제2 지문 이미지의 수집 영역과 상기 초기 지문 이미지의 수집 영역은 일치한다.

이해해야 할 점은, 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계는, 상기 초기 지문 이미지의 전체 픽셀 중 각 픽셀의 픽셀 값을 결정하고, 상기 전체 픽셀의 픽셀 값의 평균값을 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값으로 결정하거나, 또는 기타 계산법에 의해 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계를 포함할 수 있으나, 본 발명의 실시예는 이에 한정되지 않는다.

바람직하게는, 지문 이미지의 효과를 고려하면, 상기 초기 지문 이미지의 일부 영역의 픽셀 값을 결정하는 것을 통하여 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 결정할 수도 있다. 예를 들면, 초기 지문 이미지를 수집하고, 상기 초기 지문 이미지 중의 일부 영역을 취하며, 예를 들면 관련 계산법에 의해 상기 일부 영역을 선택하여, 상기 일부 영역의 픽셀 값을 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값으로 계산할 수 있으나, 본 발명의 실시예는 이에 한정되지 않는다.

대응되게, S110 단계에서 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지를 획득한 후, 동일한 계산법을 이용하여 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 결정한다.

이해해야 할 점은, 제1 광 환경의 광 정보를 결정하고, 상기 광 정보는 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 포함하며, 유사하게 다양한 광 환경의 각 광 환경에 대해 유사한 계산법을 이용하여, 광 환경별 광 정보를 결정한다.

본 출원의 실시예에서, 광 환경별 광 정보를 결정한 후, 또한 각 광 정보에 대응하는 작동 파라미터를 결정하고, 상기 작동 파라미터는 대응하는 광 환경에서의 최적 작동 파라미터일 수 있으며, 즉 인식 대상 지문의 지문 인식 과정이 좋은 효과에 도달할 수 있게 한다. 여기서 상기 작동 파라미터에 지문 이미지를 수집하는 노광 시간이 포함되는 것을 예로 설명하며, 즉 광 환경별 광 정보에 대응하는 노광 시간을 결정하고, 상기 노광 시간은 최적 노광 시간일 수 있으며, 광 환경별 광 정보와 최적 노광 시간의 대응 관계를 구축한다.

바람직하게는, 제1 광 환경의 최적 노광 시간을 결정하는 것을 예로 한다. 구체적으로, 제1 광 환경에서, 서로 다른 노광 시간을 이용하여, 테스트 지문의 복수의 지문 이미지를 각각 획득하고, 각 지문 이미지의 픽셀 값을 결정한다. 복수의 지문 이미지 중의 어떤 지문 이미지의 픽셀 값이 설정 조건을 만족한다면, 상기 지문 이미지에 대응하는 노광 시간을 상기 제1 광 환경의 최적 노광 시간으로 결정하여, 상기 제1 광 환경의 광 정보와 노광 시간의 대응 관계를 구축한다.

이해해야 할 점은, 제1 광 환경에서 서로 다른 노광 시간에 대응하는 복수의 지문 이미지를 획득하고, 동일한 계산법을 이용하여 각 지문 이미지를 획득하는 픽셀 값을 계산한다.

이해해야 할 점은, 상기 설정 조건은 상기 지문 이미지의 픽셀 값이 제1 소정의 픽셀 값 이하인 것일 수 있으며, 상기 소정의 픽셀 값은 이미지의 선명도에 따라 설정되며, 예를 들면, 획득한 지문 이미지가 가장 선명한 상태일 수 있도록, 상기 제1 소정의 픽셀 값은 [700, 800] 범위 내로 설정할 수 있다.

이해해야 할 점은, 제1 광 환경의 노광 시간을 결정하는 방식에 근거하여, 각 광 환경에서의 노광 시간을 결정하여, 다양한 광 환경의 광 정보와 노광 시간의 대응 관계를 구축할 수 있다. 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경에 대응하는 목표 광 정보를 결정한 후, 상기 광 정보와 노광 시간의 대응 관계에 근거하여, 목표 광 정보에 대응하는 노광 시간을 결정할 수 있다. 일반적으로, 인식 대상 지문이 위치하는 광 환경의 광이 강하면, 대응하는 노광 시간은 짧고, 지문 인식 대상이 위치하는 광 환경의 광이 약하면, 대응하는 노광 시간은 길다.

본 발명의 실시예에서, 유사하게 다양한 광 환경의 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계, 예를 들면 다양한 광 환경의 광 정보와 최적 노광 시간의 대응 관계를 구축하여, 상기 대응 관계에 근거하여 인식 대상 지문의 목표 광 정보를 획득한 후, 상기 인식 대상 지문의 목표 광 정보에 대응하는 목표 작동 파라미터, 예를 들면 상기 인식 대상 지문의 목표 광 정보에 대응하는 목표 노광 시간을 획득할 수 도 있다.

S130 단계에서, 상기 목표 작동 파라미터에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제1 지문 이미지를 획득하고, 상기 제1 지문 이미지는 지문 인식에 이용될 수 있다. 구체적으로, 종래의 광학 지문 인식의 방식으로 지문 인식을 진행할 수 있으며, 예를 들면, 수집된 제1 지문 이미지는, 인식 대상 지문이 노광 영역(D)에 접촉한 전체 이미지를 수집하여 획득한 것일 수도 있고, 일부 이미지를 수집하여 획득한 것일 수도 있다. 또 예를 들면, 상기 제1 지문 이미지를 획득하여 지문 이미지 데이터로 직접 환원하여 지문 인식을 진행하거나, 또는 기타 계산 과정에 의해 지문 데이터를 획득하여 지문을 인식을 진행할 수도 있으며, 본 발명의 실시예는 이에 한정되지 않는다.

이해해야 할 점은 목표 작동 파라미터에 근거하여 인식 대상 지문의 제1 지문 이미지를 획득하고, 이때 광학 지문 인식 장치의 광원 디바이스는 상기 지문 모듈의 수집 및 인식 과정에 광원을 제공하며, 예를 들면 도 1에 도시한 단말 장치의 광원 디바이스(O)는 인식 대상 지문에 광원을 제공한다.

이해해야 할 점은, 상기 작동 파라미터는 인식 대상 지문의 제1 지문 이미지를 수집 및 인식하는 과정과 관련된 임의의 파라미터를 포함할 수 있다. 예를 들면, 상기 목표 작동 파라미터는 목표 노광 시간을 포함할 수 있으며, 상기 목표 노광 시간은 인식 대상 지문의 제1 지문 이미지를 수집하는 과정에 이용될 수 있으며, 인식 대상 지문이 수집 영역, 예를 들면 도 1에 도시한 노광 영역(D)에 접촉하면, 목표 노광 시간의 길이로 노광을 진행하여, 제1 지문 이미지를 획득한다.

따라서, 본 발명의 실시예의 지문 이미지 획득 방법은, 인식 대상 지문이 위치하는 광 환경의 목표 광 정보를 결정할 수 있으며, 예를 들면 상기 목표 광 정보는 지문 이미지의 픽셀 값을 포함할 수 있으며, 상기 지문 이미지의 픽셀 값은 소정의 노광 시간에 근거하여 획득한 인식 대상 지문의 지문 이미지의 픽셀 값일 수 있으며, 나아가 목표 광 정보에 대응하는 목표 작동 파라미터를 결정하고, 상기 목표 작동 파라미터에 근거하여 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득함으로써, 계속하여 지문 이미지 인증 및 인식을 실행하도록 할 수 있다. 이와 같이, 서로 다른 광 환경에 근거하여, 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득할 때의 작동 파라미터, 예를 들면 노광 시간을 동적으로 조절하여, 하드웨어 비용을 증가시키지 않으면서 서로 다른 환경의 광학 지문 사용 요구에 맞는 예상 결과에 도달할 수 있다.

본 발명의 각종 실시예에서, 상기 각 과정의 순번의 크기는 실행순서의 선후를 의미하지 않으며, 각 과정의 실행 순서는 그 기능과 내부적 논리에 따라 결정되며, 본 발명의 실시예의 실시과정에 대해 어떠한 한정을 해서는 안 된다는 점을 이해해야 한다.

이상, 도 1 내지 도 2를 결합하여 본 발명의 실시예에 따른 지문 이미지 획득 방법에 대해 자세히 설명하였으며, 이하, 도 3을 결합하여 본 발명의 실시예의 지문 이미지 획득 장치를 설명한다.

도 3에 도시한 바와 같이, 본 발명의 실시예에 따른 지문 이미지 획득 장치(200)는 광원 디바이스(210) 및 광학 지문 모듈(220)을 포함하고, 상기 광학 지문 모듈(220)은 인식 대상 지문에 대해 지문 인식을 진행하고, 상기 광원 디바이스(210)는 상기 광학 지문 모듈(220)이 지문 인식을 진행하는 과정을 위해 광원을 제공한다.

구체적으로, 상기 광학 지문 모듈(220)은 또한, 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경의 목표 광 정보를 결정하고, 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계에 근거하여, 상기 목표 광 정보에 대응하는 목표 작동 파라미터를 결정하고, 상기 작동 파라미터는 지문 이미지를 획득하여 지문 인식을 진행할 때 사용되는 파라미터이며, 상기 목표 작동 파라미터에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제1 지문 이미지를 획득한다.

따라서, 본 출원의 실시예의 지문 이미지 획득 장치는 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경의 광 정보에 근거하여, 대응하는 작동 파라미터를 결정하고, 상기 작동 파라미터에 근거하여 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득함으로써, 계속하여 지문 이미지 인식을 실행하도록 할 수 있다. 이와 같이, 서로 다른 광 환경에 근거하여, 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득할 때의 작동 파라미터를 동적으로 조절하여, 하드웨어 비용을 증가시키지 않으면서 서로 다른 환경의 광학 지문 사용 요구에 맞는 예상 결과에 도달할 수 있다.

바람직하게는, 상기 광학 지문 모듈(220)은 구체적으로, 상기 현재 위치하는 광 환경에서, 소정의 노광 시간에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지를 획득하고, 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하며, 상기 광 정보를 결정하고, 상기 광 정보는 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 포함한다.

바람직하게는, 상기 광학 지문 모듈(200)은 구체적으로, 상기 제2 지문 이미지 중 전체 픽셀의 픽셀 값을 결정하고, 상기 전체 픽셀의 평균 픽셀 값을 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값으로 결정한다.

바람직하게는, 상기 광학 지문 모듈(220)은 구체적으로, 상기 인식 대상 지문의 일부 지문 이미지를 상기 제2 지문 이미지로 획득한다.

바람직하게는, 상기 광학 지문 모듈(220)은 또한, 다양한 광 환경의 광환경별 광 정보 및 대응하는 작동 파라미터를 결정하고, 상기 광 환경별 광 정보와 상기 작동 파라미터의 대응 관계를 구축한다.

바람직하게는, 상기 작동 파라미터는 노광 시간을 포함하며, 상기 목표 작동 파라미터는 목표 노광 시간을 포함한다.

바람직하게는, 상기 광학 지문 모듈(220)은 구체적으로, 다양한 광 환경 중의 제1 광 환경에서, 소정의 노광 시간에 근거하여, 테스트 지문의 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하고, 상기 제1 광 환경의 광 정보를 결정하고, 상기 제1 광 환경의 광 정보는 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 포함하며, 상기 제1 광 환경에서, 서로 다른 노광 시간에 근거하여, 대응하는 상기 테스트 지문의 복수의 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하고, 상기 복수의 지문 이미지 중 픽셀 값이 제1 소정의 픽셀 값과 같은 지문 이미지에 대응하는 노광 시간을 상기 제1 광 환경에서의 노광 시간으로 결정하고, 상기 제1 광 환경의 광 정보와 상기 노광 시간의 대응 관계를 구축한다.

바람직하게는, 상기 제1 소정의 픽셀 값은 700 이상이며, 또한 상기 제1 소정의 픽셀 값은 800 이하다.

바람직하게는, 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값은 제2 소정의 픽셀 값 이하다.

바람직하게는, 상기 제2 소정의 픽셀 값은 1024이다.

바람직하게는, 상기 목표 광 정보는 상기 현재 위치의 광 환경에서의 광의 강도 및/또는 휘도를 포함한다.

이해해야 할 점은, 본 발명의 실시예에 따른 지문 이미지 획득 장치(200)는 본 출원의 실시예의 방법(100)을 수행하는 것에 대응될 수 있으며, 지문 이미지 획득 장치(200) 중의 각 유닛의 상기 및 기타 동작 및/또는 기능은 각각 도 2의 각 방법의 상응한 흐름을 실현하기 위한 것이며, 간결함을 위해, 여기서 반복하여 설명하지 않는다.

이해해야 할 점은, 본 출원의 실시예의 지문 이미지 획득 장치(200)는 도 1에 도시한 단말 장치에 대응될 수 있다. 구체적으로, 도 1에 도시한 상기 단말 장치는 상기 장치(200)를 포함하거나, 또는 상기 단말 장치가 상기 장치(200)일 수 있다. 상기 단말 장치에 포함되는 광원 디바이스(O)는 장치(200) 중의 광원 디바이스(210)에 대응되며, 상기 단말 장치 중의 광학 지문 모듈은 장치(200) 중의 광학 지문 모듈(220)에 대응된다.

바람직하게, 도 1에 도시한 바와 같이, 상기 단말 장치 중의 광원 디바이스(O)는 자체 발광 디스플레이 패널일 수 있으며, 상기 단말 장치의 광학 지문 모듈은 자체 발광 디스플레이 패널 아래에 위치할 수 있으며, 예를 들면 상기 광학 지문 모듈은 노광 영역(D)에 위치할 수 있으며, 본 출원의 실시예는 이에 한정되지 않는다.

따라서, 본 출원 실시예의 지문 이미지 획득 장치는 인식 대상 지문이 위치하는 광 환경의 목표 광 정보를 결정할 수 있으며, 예를 들면 상기 목표 광 정보는 지문 이미지의 픽셀 값을 포함할 수 있으며, 상기 지문 이미지의 픽셀 값은 소정의 노광 시간에 근거하여 획득한 인식 대상 지문의 지문 이미지의 픽셀 값일 수 있으며, 나아가 목표 광 정보에 대응하는 목표 작동 파라미터를 결정하고, 상기 목표 작동 파라미터에 근거하여 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득함으로써, 계속하여 지문 이미지 인식을 실행하도록 할 수 있다. 이와 같이, 서로 다른 광 환경에 근거하여 인식 대상 지문의 지문 이미지를 획득할 때의 작동 파라미터를 동적으로 조절할 수 있으며, 상기 작동 파라미터는 지문 이미지를 획득하고 지문 인식을 진행하는 과정에서의 임의의 파라미터일 수 있으며, 예를 들면 상기 작동 파라미터는 노광 시간일 수 있으며, 이를 통해 하드웨어 비용을 증가시키지 않으면서 서로 다른 환경의 광학 지문 사용 요구에 맞는 예상 결과에 도달할 수 있다.

당업자는 본문에서 공개한 실시예에서 설명한 각 예시된 유닛 및 계산방법의 단계를 결합하여, 전자식 하드웨어 또는 컴퓨터 소프트웨어와 전자식 하드웨어의 결합으로 실현할 수 있다는 것을 이해할 수 있다. 이러한 기능을 정확히 하드웨어 방식으로 수행할 것인지 아니면 소프트웨어 방식으로 실현할 것인지는 기술방안의 특정 응용 및 설계 규제 조건에 의해 결정된다. 당업자는 각각의 특정 응용에 따라 다양한 방법으로 상술한 기능을 실현할 수 있으나, 이러한 실현은 본 발명의 범위를 초과한 것으로 결정되어서는 안 된다.

설명의 편의 및 간결함을 위해, 상술한 시스템, 장치 및 유닛의 구체적인 작동 과정은, 상기 방법 실시예 중의 대응하는 과정을 참조할 수 있고, 이는 당업자가 분명하게 이해할 수 있으므로, 설명을 생략한다.

본 발명에서 제공한 여러 실시예에서, 개시된 시스템, 장치 및 방법은 다른 방식으로 실행될 수 있음을 이해할 수 있다. 예컨대 상술한 장치 실시예는 개략적인 것에 불과하고, 예컨대 상기 유닛의 구분은 논리적 기능을 구분한 것에 불과하고, 실제 구현 시에는 별도의 구분방식일 수 있고, 예컨대, 복수의 유닛 또는 부재는 다른 시스템에 결합시키거나 또는 통합시킬 수 있거나, 또는 일부 특징을 생략하거나 실행하지 않을 수도 있다. 또한, 도시되었거나 또는 논의된 상호 간의 결합 또는 직접 결합 또는 통신 접속은 일부 인터페이스, 장치 또는 유닛을 통한 간접 결합 또는 통신 접속일 수 있으며, 전기적, 기계적 또는 다른 형태의 접속일 수도 있다.

상기 분리 부재로서 설명되는 유닛은, 물리적인 분리되는 것일 수도 있고 아닐 수도 있으며, 유닛으로 도시된 부재들은 물리적 유닛일 수도 있고 아닐 수도 있으며, 한 곳에 위치하거나 또는 복수의 네트워크 유닛 상에 분포될 수도 있다. 실제의 필요에 따라 이러한 유닛 중 일부 또는 전체를 선택하여 본 실시예 방안의 목적을 실현할 수 있다.

또한, 본 발명의 각각의 실시예 중의 각각의 기능 유닛은 하나의 처리유닛에 통합되거나, 각각의 유닛이 단독으로 물리적으로 존재할 수도 있고, 2개 이상의 유닛이 하나의 유닛에 통합시킬 수도 있다.

상기 통합된 유닛을 소프트웨어 기능 유닛의 형태로 실현하여 독립된 제품으로 판매 또는 사용할 경우, 하나의 컴퓨터 판독 가능 저장 매체에 저장할 수 있다. 이러한 이해를 바탕으로, 본 발명의 기술방안은 본질적으로 또는 종래 기술에 대해 기여하는 부분 또는 상기 기술방안의 일부 또는 전부는 소프트웨어 제품의 형태로 구현될 수 있고, 상기 컴퓨터 소프트웨어 제품은 하나의 저장 매체에 저장되며, 컴퓨터 장치(개인 컴퓨터, 서버, 또는 네트워크 장치 등일 수 있음)가 본 발명의 각 실시예의 상기 방법의 일부 또는 모든 단계를 수행하도록, 복수의 명령을 포함한다. 상술한 저장 매체는 USB메모리, 이동식 하드디스크, ROM(Read-Only-Memory), RAM(Random Acess Memory), 자기 디스크 또는 광 디스크 등 프로그램 코드를 저장할 수 있는 다양한 매체를 포함한다.

상술한 내용은 본 발명의 구체적 실시 방식에 불과하며, 본 발명의 보호범위는 이에 한정되지 않고, 당업자가 본 발명에 의해 공개된 기술 범위 내에서 변경 또는 대체를 쉽게 생각해 낼 수 있고, 이러한 변경 또는 대체는 모두 본 발명의 보호범위에 포함되어야 한다. 따라서, 본 발명의 보호범위는 청구범위를 기준으로 해야 한다.

O: 광원 디바이스
L1: 환경광
L2: 광원 직사광
C1: 신호 변환기
C2: 신호 변환기
D: 노광 영역
200: 지문 이미지 획득 장치
210: 광원 디바이스
220: 광학 지문 모듈

Claims

인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경의 목표 광 정보를 결정하는 단계;
광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계에 근거하여, 상기 목표 광 정보에 대응하는 목표 작동 파라미터를 결정하는 단계 - 상기 작동 파라미터는 지문 이미지를 획득하여 지문 인식을 진행할 때 사용되는 파라미터임; 및
상기 목표 작동 파라미터에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제1 지문 이미지를 획득하는 단계
를 포함하는 지문 이미지 획득 방법.
제1항에 있어서,
상기 인식 대상 지문이 현재 위치하는 광 환경의 목표 광 정보를 결정하는 단계는,
상기 현재 위치하는 광 환경에서, 소정의 노광 시간에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지를 획득하는 단계;
상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계; 및
상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 포함하는 상기 광 정보를 결정하는 단계를 포함하는, 지문 이미지 획득 방법.
제2항에 있어서,
상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계는,
상기 제2 지문 이미지 중 전체 픽셀의 픽셀 값을 결정하는 단계; 및
상기 전체 픽셀의 평균 픽셀 값을 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값으로 결정하는 단계를 포함하는, 지문 이미지 획득 방법.
제2항 또는 제3항에 있어서,
상기 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지를 획득하는 단계는,
상기 인식 대상 지문의 일부 지문 이미지를 상기 제2 지문 이미지로 획득하는 단계를 포함하는, 지문 이미지 획득 방법.
제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
다양한 광 환경의 광 환경별 광 정보 및 대응하는 작동 파라미터를 결정하는 단계; 및
상기 광 환경별 광 정보와 상기 작동 파라미터의 대응관계를 구축하는 단계를 더 포함하는 지문 이미지 획득 방법.
제5항에 있어서,
상기 작동 파라미터는 노광 시간을 포함하며, 상기 목표 작동 파라미터는 목표 노광 시간을 포함하는, 지문 이미지 획득 방법.
제6항에 있어서,
상기 다양한 광 환경의 광 환경별 광 정보 및 대응하는 작동 파라미터를 결정하는 단계는,
다양한 광 환경 중의 제1 광 환경에서, 소정의 노광 시간에 근거하여, 테스트 지문의 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계;
상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 포함하는 상기 제1 광 환경의 광 정보를 결정하는 단계;
상기 제1 광 환경에서, 서로 다른 노광 시간에 근거하여, 대응하는 상기 테스트 지문의 복수의 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하는 단계; 및
상기 복수의 지문 이미지 중 픽셀 값이 제1 소정의 픽셀 값과 같은 지문 이미지에 대응하는 노광 시간을, 상기 제1 광 환경에서의 노광 시간으로 결정하는 단계;를 포함하고,
상기 광 환경별 광 정보와 상기 작동 파라미터의 대응 관계를 구축하는 단계는,
상기 제1 광 환경의 광 정보와 상기 노광 시간의 대응 관계를 구축하는 단계를 포함하는, 지문 이미지 획득 방법.
제7항에 있어서,
상기 제1 소정의 픽셀 값은 700 이상이며, 또한 상기 제1 소정의 픽셀 값은 800 이하인, 지문 이미지 획득 방법.
제7항 또는 제8항에 있어서,
상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값은 제2 소정의 픽셀 값 이하인, 지문 이미지 획득 방법.
제9항에 있어서,
상기 제2 소정의 픽셀 값은 1024인, 지문 이미지 획득 방법.
제1항에 있어서,
상기 목표 광 정보는 상기 현재 위치하는 광 환경에서 광의 강도 및/또는 휘도를 포함하는, 지문 이미지 획득 방법.
광원 디바이스와 광학 지문 모듈을 포함하고,
상기 광학 지문 모듈은 인식 대상 지문에 대해 지문 인식을 진행하고;
상기 광원 디바이스는 상기 광학 지문 모듈의 지문 인식을 진행하는 과정을 위해 광원을 제공하고;
상기 광학 지문 모듈은 또한,
상기 인식 대상 지문이 현재 위치하는 환경의 목표 광 정보를 결정하고;
상기 광 정보와 작동 파라미터의 대응 관계에 근거하여, 상기 목표 광 정보에 대응하는 목표 작동 파라미터를 결정하고, 상기 작동 파라미터는 지문 이미지를 획득하여 지문 인식을 진행할 때 사용되는 파라미터이며;
상기 목표 작동 파라미터에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제1 지문 이미지를 획득하는,
지문 이미지 획득 장치.
제12항에 있어서,
상기 광학 지문 모듈은 구체적으로,
상기 현재 위치하는 광 환경에서, 소정의 노광 시간에 근거하여, 상기 인식 대상 지문의 제2 지문 이미지를 획득하고;
상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하고;
상기 광 정보를 결정하고, 상기 광 정보는 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값을 포함하는, 지문 이미지 획득 장치.
제13항에 있어서,
상기 광학 지문 모듈은 구체적으로, 상기 제2 지문 이미지 중 전체 픽셀의 픽셀 값을 결정하고;
상기 전체 픽셀의 평균 픽셀 값을 상기 제2 지문 이미지의 픽셀 값으로 결정하는, 지문 이미지 획득 장치.
제13항 또는 제14항에 있어서,
상기 광학 지문 모듈은 구체적으로, 상기 인식 대상 지문의 일부 지문 이미지를 상기 제2 지문 이미지로 획득하는, 지문 이미지 획득 장치.
제12항 내지 제15항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 광학 지문 모듈은 또한,
다양한 광 환경의 광 환경별 광 정보 및 대응하는 작동 파라미터를 결정하고;
상기 광 환경별 광 정보와 상기 작동 파라미터의 대응 관계를 구축하는, 지문 이미지 획득 장치.
제16항에 있어서,
상기 작동 파라미터는 노광 시간을 포함하며, 상기 목표 작동 파라미터는 목표 노광 시간을 포함하는, 지문 이미지 획득 장치.
제17항에 있어서,
상기 광학 지문 모듈은 구체적으로,
다양한 광 환경 중의 제1 광 환경에서, 소정의 노광 시간에 근거하여, 테스트 지문의 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하고;
상기 제1 광 환경의 광 정보를 결정하고, 상기 제1 광 환경의 광 정보는 상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값을 포함하고;
상기 제1 광 환경에서, 서로 다른 노광 시간에 근거하여, 대응하는 상기 테스트 지문의 복수의 지문 이미지의 픽셀 값을 결정하고;
상기 복수의 지문 이미지 중 픽셀 값이 제1 소정의 픽셀 값과 같은 지문 이미지에 대응하는 노광 시간을 상기 제1 광 환경에서의 노광 시간으로 결정하고;
상기 제1 광 환경의 광 정보와 상기 노광 시간의 대응 관계를 구축하는, 지문 이미지 획득 장치.
제18항에 있어서,
상기 제1 소정의 픽셀 값은 700 이상이며, 또한 상기 제1 소정이 픽셀 값은 800 이하인 것을 특징으로 하는, 지문 이미지 획득 장치.
제18항 또는 제19항에 있어서,
상기 초기 지문 이미지의 픽셀 값은 제2 소정의 픽셀 값 이하인, 지문 이미지 획득 장치.
제20항에 있어서,
상기 제2 설정 픽셀 값은 1024인, 지문 이미지 획득 장치.
제12항에 있어서,
상기 목표 광 정보는 상기 현재 위치의 광 환경에서의 광의 강도 및/또는 휘도를 포함하는, 지문 이미지 획득 장치.
자체 발광 디스플레이 패널 및 광학 지문 모듈을 포함하고, 상기 광학 지문 모듈은 상기 자체 발광 디스플레이 패널의 하측에 위치하고;
상기 광학 지문 모듈은 제1항 내지 제11항 중 어느 한 항의 지문 이미지 획득 방법을 실행하고;
상기 자체 발광 디스플레이 패널은 상기 광학 지문 모듈에 광원을 제공하는,
단말 장치.
제23항에 있어서,
상기 단말 장치는 제12항 내지 제22항 중 어느 한 항의 지문 이미지 획득 장치이며, 상기 자체 발광 디스플레이 패널은 상기 장치 중의 광원 디바이스이며, 상기 광학 지문 모듈은 상기 장치 중의 광학 지문 모듈인, 단말 장치.