KR20190022480A - Resin composition, resin sheet, multilayer printed wiring board and semiconductor device - Google Patents
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Abstract
다층 프린트 배선판에 사용했을 때에, 도막성 및 내열성이 우수하고, 도금 밀착성, 현상성이 우수한 수지 조성물, 지지체가 형성된 수지 시트, 그것들을 사용한 다층 프린트 배선판, 반도체 장치를 제공한다. 하기 식 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A), 광 경화 개시제 (B), 하기 식 (2) 로 나타내는 화합물 (C) 및 그 (C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 를 함유하는, 수지 조성물.
A resin composition excellent in coating film property and heat resistance when used in a multilayer printed circuit board, excellent in plating adhesion and developability, a resin sheet on which a support is formed, a multilayer printed wiring board using the same, and a semiconductor device. (A), a photocuring initiator (B), a compound (C) represented by the following formula (2) and an ethylenically unsaturated group other than the component (C) (D).
Description
본 발명은, 수지 조성물, 그것을 사용한 수지 시트, 다층 프린트 배선판 및 반도체 장치에 관한 것이다.The present invention relates to a resin composition, a resin sheet using the resin composition, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device.
다층 프린트 배선판의 소형화, 고밀도화에 의해, 다층 프린트 배선판에 사용되는 적층판을 박형화하는 검토가 활발히 실시되고 있다. 박형화에 수반하여, 절연층에 대해서도 박형화가 요구되어, 유리 클로스를 포함하지 않는 수지 시트가 요구되고 있다. 절연층의 재료가 되는 수지 조성물은 열 경화성 수지가 주류이고, 절연층 사이에 도통을 얻기 위한 구멍 뚫기는 일반적으로 레이저 가공으로 실시되고 있다. 또한, 열 경화성 수지를 사용한 수지 시트에서는, 절연층 상에 도체 회로를 형성하는 방법으로서, 동 도금으로 도체 회로를 형성하는 방법이 일반적이다.As a result of miniaturization and high density of the multilayered printed circuit board, studies for thinning the laminated board used for the multilayered printed circuit board have been actively conducted. With thinning, a thin resin layer is required for the insulating layer, and a resin sheet containing no glass cloth is required. The resin composition to be the material of the insulating layer is mainly composed of a thermosetting resin, and punching to obtain conduction between the insulating layers is generally performed by laser processing. In a resin sheet using a thermosetting resin, a method of forming a conductor circuit by copper plating is generally used as a method of forming a conductor circuit on an insulating layer.
한편, 레이저 가공에 의한 구멍 뚫기는, 구멍수가 많은 고밀도 기판이 될수록 가공 시간이 길어진다는 문제가 있다. 그 때문에, 최근에는 광선 등에 의해 경화시키고, 현상으로 용해시키는 수지 조성물을 사용함으로써, 현상 공정으로 일괄 구멍 뚫기 가공하는 것이 가능해지는 수지 시트가 요구되고 있다. 또한, 절연층 상에 동 도금으로 도체 회로를 형성하기 때문에, 도체 회로가 박리되지 않도록 절연층에 대하여 동 도금 밀착성이 높은 것이 요구되고 있다.On the other hand, hole drilling by laser machining has a problem that the processing time becomes longer as the number of holes increases in a high-density substrate. Therefore, in recent years, there has been a demand for a resin sheet which can be subjected to a hole punching process in a developing step by using a resin composition which is cured by a light beam or the like and is dissolved as a development. Further, since the conductor circuit is formed by copper plating on the insulating layer, a high copper plating adhesion property to the insulating layer is required so that the conductor circuit is not peeled off.
이와 같은 적층판이나 수지 시트에 사용되는 수지 조성물에 있어서는, 알칼리 현상 타입이 주류이고, 현상을 가능하게 하기 위해서 산 무수물기나 카르복실기 함유의 아크릴레이트가 사용되고 있다. 더하여, 동 도금 밀착성이기 때문에 에폭시 수지가 사용되고 있다. 예를 들어, 특허문헌 1 에는, 비스페놀형 에폭시 수지와 (메트)아크릴산을 반응시킨 후, 산 무수물을 반응시켜 얻어지는 카르복실 변성 에폭시(메트)아크릴레이트 수지와, 비페닐형 에폭시 수지와, 광 중합 개시제와, 희석제를 함유하는 감광성 열 경화형 수지 조성물이 기재되어 있다. 또한, 특허문헌 2 에는, 에폭시 수지와, 경화제와, 실리카 입자가 실란 커플링제에 의해 표면 처리되어 있는 실리카 성분을 함유하고, 경화 촉진제를 함유하지 않거나, 또는 상기 에폭시 수지 및 상기 경화제의 합계 100 중량부에 대하여 경화 촉진제를 3.5 중량부 이하의 함유량으로 함유하고, 상기 실리카 입자의 평균 입자경이 1 ㎛ 이하이고, 상기 실리카 성분에 있어서의 상기 실리카 입자 1 g 당의 상기 실란 커플링제의 표면 처리량 B (g) 가, 식 (X) (C (g)/실리카 입자 1 g = [실리카 입자의 비표면적 (㎡/g)/실란 커플링제의 최소 피복 면적 (㎡/g)]···식 (X)) 에 의해 산출되는 실리카 입자 1 g 당의 값 C (g) 에 대하여 10 ∼ 80 % 의 범위 내에 있는, 에폭시 수지 조성물이 개시되어 있다.In the resin composition used for such a laminate or resin sheet, an alkali developing type is the mainstream, and an acrylate containing an acid anhydride group or a carboxyl group is used for enabling development. In addition, an epoxy resin is used because of copper plating adhesion. For example, Patent Document 1 discloses a resin composition comprising a carboxyl-modified epoxy (meth) acrylate resin obtained by reacting a bisphenol-type epoxy resin with (meth) acrylic acid and then reacting with an acid anhydride, a biphenyl-type epoxy resin, Discloses a photosensitive thermosetting resin composition containing an initiator and a diluent. Patent Document 2 discloses an epoxy resin composition which contains an epoxy resin, a curing agent, and a silica component whose surface is treated with a silane coupling agent and does not contain a curing accelerator, or a total of 100 wt% Wherein the average particle diameter of the silica particles is 1 占 퐉 or less and the surface treatment amount B (g (g)) of the silane coupling agent per 1 g of the silica particles in the silica component is not more than 3.5 parts by weight, (X) (C (g) / silica particle 1 g = [specific surface area of silica particle (m 2 / g) / minimum coated area of silane coupling agent (m 2 / g) ) Is in the range of 10 to 80% based on the value C (g) per 1 g of the silica particles calculated by the following formula (1).
그러나, 종래의 에폭시 수지를 사용한 경화물로는 충분한 물성이 얻어지지 않아, 높은 현상성을 가지면서, 동 도금 밀착성이 높은 보호막, 및 층간 절연층의 형성에는 한계가 있었다.However, conventional cured products using an epoxy resin can not provide sufficient physical properties, and there is a limit to the formation of a protective film having high copper plating adhesion and an interlayer insulating layer while having high developing property.
또한, 특허문헌 1 에 기재된 수지 조성물로부터 얻어지는 경화물은, 그 용도는 프린트 배선판용의 에칭 레지스트나 솔더 레지스트에 한정되어 있어, 가요성, 내열성은 우수하지만 층간 절연층으로서 사용하는 데에는 동 도금 밀착성이 충분하지 않았다.The cured product obtained from the resin composition described in Patent Document 1 is limited to an etching resist or a solder resist for a printed wiring board and has excellent flexibility and heat resistance. However, when used as an interlayer insulating layer, It was not enough.
특허문헌 2 에 기재된 수지 조성물로부터 얻어지는 경화물에서는, 동 도금 밀착성이 우수하지만, 구멍 뚫기는 레이저 가공에 한정되기 때문에, 현상 공정에 의한 일괄 구멍 뚫기가 불가능한 것으로 되어 있다.The cured product obtained from the resin composition described in Patent Document 2 is excellent in copper plating adhesion, but since the punching is limited to the laser processing, it is impossible to perform the punching by the developing step.
그래서, 본 발명은, 상기 문제점을 감안하여 이루어진 것으로, 다층 프린트 배선판에 사용했을 때에, 도막성 및 내열성이 우수하고, 현상성, 동 도금 밀착성이 우수한 수지 조성물, 지지체가 형성된 수지 시트, 그것들을 사용한 다층 프린트 배선판, 반도체 장치를 제공하는 것에 있다.SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-described problems, and it is an object of the present invention to provide a resin composition which is excellent in film formability and heat resistance when used for a multilayer printed wiring board and has excellent developability and copper plating adhesion, A multilayer printed wiring board, and a semiconductor device.
본 발명자들은, 하기 식 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A), 광 경화 개시제 (B), 하기 식 (2) 로 나타내는 화합물 (C) 및 그 (C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 를 함유하는 수지 조성물을 사용하는 것에 의해, 상기 과제를 해결할 수 있는 것을 알아내고, 본 발명을 완성하기에 이르렀다.The inventors of the present invention have found that a resin composition comprising a biphenylaralkyl type epoxy resin (A) represented by the following formula (1), a photocuring initiator (B), a compound (C) represented by the following formula (2) The present inventors have found out that the above problems can be solved by using a resin composition containing a compound (D) having an unsaturated group, and have completed the present invention.
[화학식 1][Chemical Formula 1]
(식 (1) 중, n 은 0 ∼ 15 의 정수를 나타낸다.).(In the formula (1), n represents an integer of 0 to 15).
[화학식 2](2)
(식 (2) 중, 복수의 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, 복수의 R2 는, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 치환기를 가지고 있어도 되는 탄소수 1 ∼ 22 의 탄화수소기를 나타내고, 복수의 R3 은, 각각 독립적으로, 하기 식 (3) 으로 나타내는 치환기, 하기 식 (4) 로 나타내는 치환기 또는 하이드록시기를 나타낸다.).(In the formula (2), a plurality of R 1 s each independently represents a hydrogen atom or a methyl group, the plurality of R 2 s each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group of 1 to 22 carbon atoms which may have a substituent , And the plurality of R 3 independently represent a substituent represented by the following formula (3), a substituent represented by the following formula (4) or a hydroxy group.
[화학식 3](3)
[화학식 4][Chemical Formula 4]
(식 (4) 중, R4 는, 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다.).(In the formula (4), R 4 represents a hydrogen atom or a methyl group.).
즉, 본 발명은 이하의 내용을 포함한다.That is, the present invention includes the following contents.
〔1〕상기 식 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A), 광 경화 개시제 (B), 상기 식 (2) 로 나타내는 화합물 (C) 및 상기 식 (2) 로 나타내는 화합물 (C) 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 를 함유하는, 수지 조성물.(1) A photosensitive resin composition comprising a biphenylaralkyl type epoxy resin (A), a photo-curing initiator (B) represented by the formula (1), a compound (C) represented by the formula (2) (D) having an ethylenic unsaturated group other than the ethylenic unsaturated group.
〔2〕말레이미드 화합물 (E) 를 추가로 함유하는,〔1〕에 기재된 수지 조성물.[2] The resin composition according to [1], further comprising a maleimide compound (E).
〔3〕충전재 (F) 를 추가로 포함하는,〔1〕또는〔2〕에 기재된 수지 조성물.[3] The resin composition according to [1] or [2], further comprising a filler (F).
〔4〕시안산에스테르 화합물, 페놀 수지, 옥세탄 수지, 벤조옥사진 화합물 및 상기 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A) 와 상이한 에폭시 수지로 이루어지는 군에서 선택되는 어느 1 종 이상의 화합물 (G) 를 추가로 함유하는,〔1〕 ∼ 〔3〕의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.(4) a cyanate ester compound, a phenol resin, an oxetane resin, a benzoxazine compound, and an epoxy resin different from the biphenylaralkyl type epoxy resin (A) represented by the above (1) The resin composition according to any one of [1] to [3], further containing a compound (G).
〔5〕상기 식 (2) 로 나타내는 화합물 (C) 의 산가가, 30 mgKOH/g 이상 120 mgKOH/g 이하인,〔1〕 ∼ 〔4〕의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[5] The resin composition according to any one of [1] to [4], wherein the acid value of the compound (C) represented by the formula (2) is 30 mgKOH / g or more and 120 mgKOH / g or less.
〔6〕성분 (A) 의 함유량이, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 3 질량부 이상 50 질량부 이하인,〔1〕 ∼ 〔5〕의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[6] The resin composition according to any one of [1] to [5], wherein the content of the component (A) is 3 parts by mass or more and 50 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition.
〔7〕상기 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 가, (메트)아크릴로일기를 갖는 화합물 및/또는 비닐기를 갖는 화합물인,〔1〕 ∼ 〔6〕의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[7] The resin composition according to any one of [1] to [6], wherein the ethylenically unsaturated group-containing compound (D) is a compound having a (meth) acryloyl group and / or a compound having a vinyl group.
〔8〕상기 충전재 (F) 가, 실리카, 베마이트, 황산바륨, 실리콘 파우더, 불소 수지계 충전재, 우레탄 수지계 충전재, 아크릴 수지계 충전재, 폴리에틸렌계 충전재, 스티렌·부타디엔 고무 및 실리콘 고무로 이루어지는 군에서 선택되는 어느 1 종류 이상인,〔3〕에 기재된 수지 조성물.[8] The resin composition according to [8], wherein the filler (F) is selected from the group consisting of silica, boehmite, barium sulfate, silicone powder, fluororesin filler, urethane resin filler, acrylic resin filler, polyethylene filler, styrene- The resin composition according to [3], wherein the resin composition is at least one kind.
〔9〕열 경화 촉진제 (H) 를 추가로 함유하는,〔1〕 ∼ 〔8〕의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[9] The resin composition according to any one of [1] to [8], further comprising a thermosetting accelerator (H).
〔10〕하기 식 (5) 로 나타내는 나프탈렌형 에폭시 수지를 추가로 함유하는,〔1〕 ∼ 〔9〕의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[10] The resin composition according to any one of [1] to [9], further comprising a naphthalene type epoxy resin represented by the following formula (5).
[화학식 5][Chemical Formula 5]
〔11〕상기 광 경화 개시제 (B) 가, 하기 식 (6) 으로 나타내는 포스핀옥사이드 화합물을 함유하는,〔1〕 ∼ 〔10〕의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물.[11] The resin composition according to any one of [1] to [10], wherein the photocuring initiator (B) contains a phosphine oxide compound represented by the following formula (6).
[화학식 6][Chemical Formula 6]
(식 (6) 중, R5 ∼ R10 은, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 탄소수 1 ∼ 4 의 알킬기를 나타내고, R11 은, 탄소수 1 ∼ 20 의 알킬기 또는 탄소수 6 ∼ 20 의 아릴기를 나타낸다.).(In the formula (6), R 5 to R 10 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and R 11 represents an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms or an aryl group having 6 to 20 carbon atoms. ).
〔12〕지지체 및 그 지지체의 표면에 배치된,〔1〕 ∼ 〔11〕의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 갖는, 수지 시트.[12] A resin sheet having a support and a resin composition according to any one of [1] to [11], which is disposed on the surface of the support.
〔13〕〔1〕 ∼ 〔11〕의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 갖는, 다층 프린트 배선판.[13] A multilayer printed wiring board comprising the resin composition according to any one of [1] to [11].
〔14〕〔1〕 ∼ 〔11〕의 어느 한 항에 기재된 수지 조성물을 갖는, 반도체 장치.[14] A semiconductor device comprising the resin composition according to any one of [1] to [11].
본 발명에 의하면, 도금 밀착성, 도막성, 내열성 및 현상성이 우수하고, 다층 프린트 배선판에 바람직한 물성을 갖는 활성 에너지선으로 경화하는 수지 조성물, 지지체가 형성된 수지 시트, 그것들을 사용한 다층 프린트 배선판, 반도체 장치를 제공할 수 있다.INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, it is possible to provide a resin composition which is excellent in plating adhesion, film formability, heat resistance and developability and which is cured by an active energy ray having preferable physical properties for a multilayered printed circuit board, a resin sheet on which a support is formed, Device can be provided.
이하, 본 발명을 실시하기 위한 형태 (이하, 「본 실시형태」 라고 한다) 에 대하여 상세하게 설명한다. 이하의 본 실시형태는, 본 발명을 설명하기 위한 예시이고, 본 발명을 이하의 내용으로 한정하는 취지는 아니다. 본 발명은 그 요지의 범위 내에서, 적절히 변형하여 실시할 수 있다.Hereinafter, a mode for carrying out the present invention (hereinafter referred to as " present embodiment ") will be described in detail. The following embodiments are illustrative of the present invention and are not intended to limit the present invention to the following contents. The present invention can be appropriately modified and carried out within the scope of the gist of the present invention.
또한, 본 명세서에 있어서의 「(메트)아크릴로일기」 란 「아크릴로일기」 및 거기에 대응하는 「메타크릴로일기」 의 양방을 의미하고, 「(메트)아크릴레이트」 란 「아크릴레이트」 및 거기에 대응하는 「메타크릴레이트」 의 양방을 의미하고, 「(메트)아크릴산」 이란 「아크릴산」 및 거기에 대응하는 「메타크릴산」 의 양방을 의미한다. 또한, 본 실시형태에 있어서, 「수지 고형분」 또는 「수지 조성물 중의 수지 고형분」 이란, 특별히 언급이 없는 한, 수지 조성물에 있어서의, 용제 및 충전재를 제외한 성분을 말하고, 「수지 고형분 100 질량부」 란, 수지 조성물에 있어서의, 용제 및 충전재를 제외한 성분의 합계가 100 질량부인 것을 말하는 것으로 한다.In the present specification, the term "(meth) acryloyl group" means both "acryloyl group" and "methacryloyl group" corresponding thereto, and "(meth) acrylate" Methacrylate " means both of " methacrylic acid " and " methacrylate ", and " (meth) acrylic acid " In the present embodiment, the term "resin solid component" or "resin solid component in the resin composition" refers to components other than the solvent and the filler in the resin composition, unless otherwise specified. The term "resin solid content 100 parts by mass" Means that the total amount of components in the resin composition excluding the solvent and the filler is 100 parts by mass.
본 실시형태의 수지 조성물은, 상기 식 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A), 광 경화 개시제 (B), 상기 식 (2) 로 나타내는 화합물 (C) 및 (C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 를 함유한다. 이하, 각 성분에 대하여 설명한다.The resin composition of the present embodiment is obtained by mixing the biphenylaralkyl type epoxy resin (A), the photo-curing initiator (B), the compounds (C) and (C) represented by the above formula (1) Of a compound (D) having an ethylenic unsaturated group. Hereinafter, each component will be described.
<식 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A)>≪ Biphenylaralkyl type epoxy resin (A) represented by the formula (1) >
본 실시형태에 사용하는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A) (성분 (A) 라고도 칭한다) 는, 상기 식 (1) 의 구조를 갖는, 비페닐아르알킬 골격을 갖는 화합물이다. 그 수지 (A) 를 포함하여 얻어지는 경화물은, 높은 동 도금 밀착성을 가지면서, 우수한 현상성을 갖는 보호막, 및 층간 절연층을 바람직하게 형성할 수 있다.The biphenyl aralkyl type epoxy resin (A) (also referred to as component (A)) used in the present embodiment is a compound having a biphenyl aralkyl skeleton having the structure of the above formula (1). The cured product including the resin (A) can preferably form a protective film having excellent developing property and an interlayer insulating layer while having high copper plating adhesion.
식 (1) 중, n 은 0 ∼ 15 의 정수를 나타낸다. 바람직하게는, 현상성의 점에서, 0 ∼ 5 의 정수이다.In the formula (1), n represents an integer of 0 to 15. Preferably, it is an integer of 0 to 5 in terms of developability.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 성분 (A) 의 함유량은 특별히 한정되지 않지만, 동 도금 밀착성을 향상시킨다는 관점에서, 성분 (A), 성분 (C) 및 성분 (D) 의 합계 함유량 100 질량부에 대하여, 3 질량부 이상으로 하는 것이 바람직하고, 4 질량부 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 5 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하다. 또한, 충분히 경화시켜, 내열성을 향상시킨다는 관점에서 90 질량부 이하로 하는 것이 바람직하고, 89 질량부 이하로 하는 것이 보다 바람직하고, 88 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하다.In the resin composition of the present embodiment, the content of the component (A) is not particularly limited, but from the viewpoint of improving the copper plating adhesion, the total content of the component (A), the component (C) More preferably 3 parts by mass or more, more preferably 4 parts by mass or more, and further preferably 5 parts by mass or more. Further, it is preferably 90 parts by mass or less, more preferably 89 parts by mass or less, and further preferably 88 parts by mass or less from the viewpoint of sufficiently curing and improving heat resistance.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서의 성분 (A) 의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 동 도금 밀착성 및 현상성을 향상시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 3 질량부 이상으로 하는 것이 바람직하고, 5 질량부 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 10 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하고, 15 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 보다 바람직하다. 또한, 충분히 경화시켜, 내열성을 향상시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 50 질량부 이하로 하는 것이 바람직하고, 40 질량부 이하로 하는 것이 보다 바람직하고, 30 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하고, 28 질량부 이하로 하는 것이 더욱 보다 바람직하다.The content of the component (A) in the resin composition of the present embodiment is not particularly limited, but is preferably 3 parts by mass or more based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition from the viewpoint of improving copper plating adhesion and developability More preferably 5 parts by mass or more, further preferably 10 parts by mass or more, and still more preferably 15 parts by mass or more. It is preferably 50 parts by mass or less, more preferably 40 parts by mass or less, and most preferably 30 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition, from the viewpoint of sufficiently curing and improving heat resistance More preferably 28 parts by mass or less, and still more preferably 28 parts by mass or less.
수지 (A) 는, 시판품을 이용할 수도 있고, 예를 들어, NC3000FH (식 (1) 중의 n = 8 ∼ 10), NC3000H (식 (1) 중의 n = 2 ∼ 5), NC3000L (식 (1) 중의 n = 1 ∼ 3), NC3000 (식 (1) 중의 n = 1 ∼ 3), CER3000L (식 (1) 중의 n = 0 ∼ 2) (이상, 상품명, 닛폰 화약 (주) 제조) 등을 들 수 있다.For example, NC3000FH (n = 8 to 10 in the formula (1)), NC3000H (n = 2 to 5 in the formula (1)), NC3000L (formula (1) (N = 1 to 3 in the formula (1)), NC3000 (n = 1 to 3 in the formula (1)) and CER3000L .
이들은, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.These may be used singly or in a mixture of two or more.
<광 경화 개시제 (B)>≪ Photo-curing initiator (B)
본 실시형태에 사용하는 광 경화 개시제 (B) (성분 (B) 라고도 칭한다) 는, 특별히 한정되지 않지만, 일반적으로 광 경화성 수지 조성물로 사용되는 분야에서 공지된 것을 사용할 수 있다.The photo-curing initiator (B) (also referred to as component (B)) used in the present embodiment is not particularly limited, but those known in the field used as a photo-curable resin composition can be used.
예를 들어, 벤조인, 벤조인메틸에테르, 벤조인에틸에테르, 벤조인프로필에테르, 벤조인이소부틸에테르 등의 벤조인류, 과산화벤조일, 라우로일퍼옥사이드, 아세틸퍼옥사이드, 파라클로로벤조일퍼옥사이드, 디-tert-부틸-디-퍼프탈레이트 등으로 예시되는 유기 과산화물, 아실포스핀옥사이드류, 아세토페논, 2,2-디에톡시-2-페닐아세토페논, 2,2-디에톡시-2-페닐아세토페논, 1,1-디클로로아세토페논, 2-하이드록시-2-메틸-페닐프로판-1-온, 디에톡시아세토페논, 1-하이드록시시클로헥실페닐케톤, 2-메틸-1-[4-(메틸티오)페닐]-2-모르폴리노-프로판-1-온, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부타논-1 등의 아세토페논류, 2-에틸안트라퀴논, 2-t-부틸안트라퀴논, 2-클로로안트라퀴논, 2-아밀안트라퀴논 등의 안트라퀴논류, 2,4-디에틸티오크산톤, 2-이소프로필티오크산톤, 2-클로로티오크산톤 등의 티오크산톤류, 아세토페논디메틸케탈, 벤질디메틸케탈 등의 케탈류, 벤조페논, 4-벤조일-4'-메틸디페닐설파이드, 4,4'-비스메틸아미노벤조페논 등의 벤조페논류, 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드, 비스(2,4,6-트리메틸벤조일)-페닐포스핀옥사이드 등의 포스핀옥사이드류, 1,2-옥탄디온, 1-[4-(페닐티오)-, 2-(O-벤조일옥심)] 등의 옥심에스테르류 등의 라디칼형 광 경화 개시제나, p-메톡시페닐디아조늄플로로포스포네이트, N,N-디에틸아미노페닐디아조늄헥사플로로포스포네이트 등의 루이스산의 디아조늄염, 디페닐요오드늄헥사플로로포스포네이트, 디페닐요오드늄헥사플로로안티모네이트 등의 루이스산의 요오드늄염, 트리페닐술포늄헥사플로로포스포네이트, 트리페닐술포늄헥사플로로안티모네이트 등의 루이스산의 술포늄염, 트리페닐포스포늄헥사플로로안티모네이트 등의 루이스산의 포스포늄염, 그 밖의 할로겐화물, 트리아진계 개시제, 보레이트계 개시제, 및 그 밖의 광 산발생제 등의 카티온계 광 중합 개시제를 들 수 있다.Examples thereof include benzoins such as benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin propyl ether and benzoin isobutyl ether, benzoyl peroxide, lauroyl peroxide, acetyl peroxide, perchlorobenzoyl peroxide, Di-tert-butylphthalate, di-tert-butyl-di-perphthalate, and the like, acylphosphine oxides, acetophenone, 2,2-diethoxy-2-phenylacetophenone, 2,2-diethoxy- 1-hydroxy-2-methyl-phenylpropan-1-one, diethoxyacetophenone, 1-hydroxycyclohexyl phenyl ketone, 2- 2-methylpyrrolidin-1-yl, methylthio) phenyl] -2-morpholino-propan- Anthraquinones such as ethyl anthraquinone, 2-t-butyl anthraquinone, 2-chloro anthraquinone and 2-amylanthraquinone, 2,4-diethyl thioxanthone, Xanthone and 2-chlorothioxanthone, ketal such as acetophenone dimethyl ketal and benzyl dimethyl ketal, benzophenone, 4-benzoyl-4'-methyldiphenyl sulfide, 4,4'-bis Benzophenones such as methylaminobenzophenone, and the like; phosphine oxides such as 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide and bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) -phenylphosphine oxide; Oxime esters such as octanedione, 1- [4- (phenylthio) -, 2- (O-benzoyloxime)], and the like, and photoinitiators such as p-methoxyphenyldiazonium fluorophosphonate , Diazonium salts of Lewis acids such as N, N-diethylaminophenyldiazonium hexafluorophosphonate, diphenyliodonium hexafluorophosphonate, diphenyliodonium hexafluoroantimonate and the like, Triphenylsulfonium hexafluorophosphate, triphenylsulfonium hexafluoroantimonate, and the like, such as iodonium salt of triphenylsulfonium hexafluorophosphate, Cationic photopolymerization such as phosphonium salts of Lewis acids such as sulfonium salts of acid, triphenylphosphonium hexafluoroantimonate, other halides, triazine initiators, borate initiators, and other photoacid generators Initiators.
아실포스핀옥사이드류로는, 비스(2,4,6-트리메틸벤조일)-페닐포스핀옥사이드 등 하기 식 (6) 으로 나타내는 포스핀옥사이드 화합물, 2,4,6-트리메틸벤조일-디페닐-포스핀옥사이드 등을 들 수 있다. 특히, 하기 식 (6) 으로 나타내는 포스핀옥사이드 화합물은, 장파장의 UV 흡수율이 높아, 수지 내부까지 UV 광을 도달시키는 것이 우수하다. 그 때문에, 본 실시형태에 관한, 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A), 화합물 (C) 및 화합물 (D) 등을 바람직하게 반응시킬 수 있어, 내열성이 보다 우수한 수지 시트 및 다층 프린트 배선판의 제조가 가능해진다.Examples of the acylphosphine oxides include phosphine oxide compounds represented by the following formula (6) such as bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) -phenylphosphine oxide, 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl- Pin oxide, and the like. In particular, the phosphine oxide compound represented by the following formula (6) has a high UV absorption rate at a long wavelength and is excellent in reaching the inside of the resin with UV light. Therefore, the biphenyl aralkyl type epoxy resin (A), the compound (C), the compound (D) and the like according to the present embodiment can be suitably reacted to produce a resin sheet having superior heat resistance and a multilayer printed wiring board .
[화학식 7](7)
식 (6) 중, R5 ∼ R10 은, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 탄소수 1 ∼ 4 의 알킬기를 나타내고, R11 은, 탄소수 1 ∼ 20 의 알킬기 또는 탄소수 6 ∼ 20 의 아릴기를 나타낸다.In formula (6), R 5 to R 10 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and R 11 represents an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms or an aryl group having 6 to 20 carbon atoms.
탄소수 1 ∼ 4 의 알킬기로는, 예를 들어, 메틸기, 에틸기, n-프로필기, n-부틸기, 이소프로필기, 이소부틸기, sec-부틸기, t-부틸기 등의 직사슬형 또는 분기형의 알킬기를 들 수 있다.Examples of the alkyl group having 1 to 4 carbon atoms include linear or branched alkyl groups such as methyl, ethyl, n-propyl, n-butyl, isopropyl, isobutyl, sec- Branched alkyl group.
탄소수 1 ∼ 20 의 알킬기로는, 예를 들어, 메틸기, 에틸기, n-프로필기, n-부틸기, n-펜틸기, n-헥실기, 이소프로필기, 이소부틸기, sec-부틸기, t-부틸기, 네오펜틸기, 1,1-디메틸프로필기, 1,1-디에틸프로필기, 1-에틸-1-메틸프로필기, 1,1,2,2-테트라메틸프로필기, 1,1-디메틸부틸기, 1,1,3-트리메틸부틸기 등의 직사슬형 또는 분기형의 알킬기를 들 수 있다.Examples of the alkyl group having 1 to 20 carbon atoms include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an n-butyl group, an n-pentyl group, a n-hexyl group, an isopropyl group, an isobutyl group, butyl group, neopentyl group, 1,1-dimethylpropyl group, 1,1-diethylpropyl group, 1-ethyl-1-methylpropyl group, 1,1,2,2-tetramethylpropyl group, 1 , 1-dimethylbutyl group, 1,1,3-trimethylbutyl group, and other linear or branched alkyl groups.
탄소수 6 ∼ 20 의 아릴기로는, 페닐기, 나프틸기, 비페닐기, 터페닐기, 페난트릴기, 안트라세닐기 등의 비치환 아릴기 ; 톨릴기, 디메틸페닐기, 이소프로필페닐기, t-부틸페닐기, 디-t-부틸페닐기 등의 알킬기 치환 아릴기를 들 수 있다.Examples of the aryl group having 6 to 20 carbon atoms include an unsubstituted aryl group such as a phenyl group, a naphthyl group, a biphenyl group, a terphenyl group, a phenanthryl group, and an anthracenyl group; Substituted aryl groups such as a tolyl group, a dimethylphenyl group, an isopropylphenyl group, a t-butylphenyl group, and a di-t-butylphenyl group.
그 중에서도, 다층 프린트 배선판 용도에 적합한 반응성이 있고, 금속 도체에 대한 신뢰성이 높다는 관점에서, 아실포스핀옥사이드류, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부타논-1 등의 아세토페논류의 라디칼형 광 경화 개시제가 바람직하고, 전술한 바와 같이, 보다 내열성이 얻어지는 점에서, 상기 식 (6) 으로 나타내는 포스핀옥사이드 화합물이 보다 바람직하고, 비스(2,4,6-트리메틸벤조일)-페닐포스핀옥사이드가 더욱 바람직하다.Among them, from the viewpoints of reactivity suitable for the use of multilayer printed wiring boards and high reliability for metal conductors, it is preferable to use acylphosphine oxides such as 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) (6) is more preferable, and bis (2, 3) -bis (2, 3) is more preferable because acetophenone type radical photo- 4,6-trimethylbenzoyl) -phenylphosphine oxide is more preferable.
이들 광 경화 개시제 (B) 는, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하고, 라디칼계와 카티온계의 쌍방의 개시제를 함께 사용해도 된다.These photo-curing initiators (B) may be used alone or in combination of two or more, and both radical initiators and cation initiators may be used together.
또한, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부타논-1, 비스(2,4,6-트리메틸벤조일)-페닐포스핀옥사이드 및 2,4,6-트리메틸벤조일-디페닐-포스핀옥사이드는 시판품을 사용할 수도 있고, 각각 Irgacure (등록상표) 369 (BASF 재팬 (주) 제조), Irgacure (등록상표) 819 (BASF 재팬 (주) 제조) 및 Irgacure (등록상표) TPO (BASF 재팬 (주) 제조) 가 바람직하게 사용된다.In addition, 2-benzyl-2-dimethylamino-1- (4-morpholinophenyl) -butanone-1, bis (2,4,6-trimethylbenzoyl) -phenylphosphine oxide and 2,4,6- Irgacure (registered trademark) 369 (manufactured by BASF Japan), Irgacure (registered trademark) 819 (manufactured by BASF Japan) and Irgacure (registered by BASF Japan) can be used as a commercially available product, and trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide TPO (manufactured by BASF Japan Ltd.) is preferably used.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서의 광 경화 개시제 (B) 의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물을 활성 에너지선으로 충분히 경화시켜, 내열성을 향상시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 성분 (A), 성분 (C) 및 성분 (D) 의 합계 함유량 100 질량부에 대하여, 0.1 질량부 이상으로 하는 것이 바람직하고, 0.2 질량부 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 0.3 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하다. 또한, 광 경화 후의 열 경화를 저해하여 내열성을 저하시킨다는 관점에서, 30 질량부 이하로 하는 것이 바람직하고, 25 질량부 이하로 하는 것이 보다 바람직하고, 20 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하다.The content of the photo-curing initiator (B) in the resin composition of the present embodiment is not particularly limited, but from the viewpoint of sufficiently curing the resin composition with an active energy ray to improve the heat resistance, Is preferably 0.1 part by mass or more, more preferably 0.2 parts by mass or more, and further preferably 0.3 part by mass or more based on 100 parts by mass of the total content of the components (C) and (D). Further, it is preferably 30 parts by mass or less, more preferably 25 parts by mass or less, still more preferably 20 parts by mass or less, from the viewpoint of inhibiting thermal curing after photo-curing and lowering heat resistance.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서의 광 경화 개시제 (B) 의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 0.1 질량부 이상으로 하는 것이 바람직하고, 0.2 질량부 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 0.3 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하고, 1 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 보다 바람직하고, 1.8 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 보다 바람직하다. 또한, 광 경화 후의 열 경화를 저해하여 내열성을 저하시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 30 질량부 이하로 하는 것이 바람직하고, 25 질량부 이하로 하는 것이 보다 바람직하고, 20 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하고, 10 질량부 이하로 하는 것이 더욱 보다 바람직하다.The content of the photo-curing initiator (B) in the resin composition of the present embodiment is not particularly limited, but is preferably 0.1 part by mass or more, more preferably 0.2 parts by mass or more per 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition More preferably 0.3 part by mass or more, further preferably 1 part by mass or more, and still more preferably 1.8 part by mass or more. It is preferably 30 parts by mass or less, more preferably 25 parts by mass or less, and most preferably 20 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition, from the viewpoint of inhibiting thermal curing after photo- More preferably not more than 10 parts by mass, still more preferably not more than 10 parts by mass.
<화합물 (C)>≪ Compound (C) >
본 실시형태에 사용하는 화합물 (C) (성분 (C) 라고도 칭한다) 는, 상기 식 (2) 로 나타내는 화합물이다. 화합물 (C) 는, 1 종 단독으로 사용해도 되고, 구조 이성체 및 입체 이성체 등의 이성체를 포함하고 있어도 되고, 서로 구조가 상이한 화합물을 2 종 이상 적절히 조합하여 사용해도 된다.The compound (C) (also referred to as component (C)) used in the present embodiment is a compound represented by the above formula (2). The compound (C) may be used alone, or may include isomers such as structural isomers and stereoisomers, or two or more kinds of compounds having mutually different structures may be appropriately used in combination.
상기 식 (2) 중, 복수의 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다. 그 중에서도, 광 경화 반응의 반응성을 향상시키는 관점에서 수소 원자를 포함하는 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 R1 의 모두가 수소 원자이다.In the formula (2), a plurality of R 1 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group. Among them, it is preferable to include a hydrogen atom from the viewpoint of improving the reactivity of the photo-curing reaction, and more preferably all of R 1 is a hydrogen atom.
복수의 R2 는, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 치환기를 가지고 있어도 되는 탄소수 1 ∼ 22 의 탄화수소기를 나타낸다.The plurality of R 2 independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group of 1 to 22 carbon atoms which may have a substituent.
탄화수소기로는, 탄소 원자수 1 ∼ 22, 바람직하게는 1 ∼ 14, 더욱 바람직하게는 1 ∼ 10 의 직사슬형 또는 분기형의 지방족 탄화수소기 ; 탄소 원자수 3 ∼ 22, 바람직하게는 3 ∼ 14, 더욱 바람직하게는 3 ∼ 10 의 지환족 탄화수소기 ; 탄소 원자수 6 ∼ 22, 바람직하게는 6 ∼ 14, 더욱 바람직하게는 6 ∼ 10 의 방향족 탄화수소기를 들 수 있다.Examples of the hydrocarbon group include a linear or branched aliphatic hydrocarbon group of 1 to 22 carbon atoms, preferably 1 to 14 carbon atoms, and more preferably 1 to 10 carbon atoms; An alicyclic hydrocarbon group of 3 to 22 carbon atoms, preferably 3 to 14 carbon atoms, and more preferably 3 to 10 carbon atoms; Aromatic hydrocarbon groups of 6 to 22 carbon atoms, preferably 6 to 14 carbon atoms, and more preferably 6 to 10 carbon atoms.
지방족 탄화수소기로는, 예를 들어, 메틸기, 에틸기, n-프로필기, n-부틸기, n-펜틸기, n-헥실기, 이소프로필기, 이소부틸기, sec-부틸기, t-부틸기, 네오펜틸기, 1,1-디메틸프로필기, 1,1-디에틸프로필기, 1-에틸-1-메틸프로필기, 1,1,2,2-테트라메틸프로필기, 1,1-디메틸부틸기, 1,1,3-트리메틸부틸기 등의 직사슬형 또는 분기형의 알킬기 ; 비닐기, 알릴기, 이소프로페닐기 등의 직사슬형 또는 분기형의 알케닐기 ; 에티닐기, 프로파르길기 등의 직사슬형 또는 분기형의 알키닐기를 들 수 있다.Examples of the aliphatic hydrocarbon group include a methyl group, an ethyl group, an n-propyl group, an n-butyl group, an n-pentyl group, a n-hexyl group, an isopropyl group, an isobutyl group, , Neopentyl group, 1,1-dimethylpropyl group, 1,1-diethylpropyl group, 1-ethyl-1-methylpropyl group, 1,1,2,2-tetramethylpropyl group, A linear or branched alkyl group such as a methyl group, a butyl group or a 1,1,3-trimethyl butyl group; A linear or branched alkenyl group such as a vinyl group, an allyl group or an isopropenyl group; A straight chain or branched alkynyl group such as an ethynyl group and a propargyl group.
지환족 탄화수소기로는, 예를 들어, 시클로프로필기, 시클로부틸기, 시클로펜틸기, 시클로헥실기, 1-메틸-1-시클로헥실기, 아다만틸기 등의 고리형 포화 탄화수소기 ; 시클로펜타디에닐기, 인데닐기, 플루오레닐기 등의 고리형 불포화 탄화수소기를 들 수 있다.The alicyclic hydrocarbon group includes, for example, cyclic saturated hydrocarbon groups such as cyclopropyl group, cyclobutyl group, cyclopentyl group, cyclohexyl group, 1-methyl-1-cyclohexyl group and adamantyl group; And cyclic unsaturated hydrocarbon groups such as a cyclopentadienyl group, an indenyl group and a fluorenyl group.
방향족 탄화수소기로는, 예를 들어, 페닐기, 나프틸기, 비페닐기, 터페닐기, 페난트릴기, 안트라세닐기 등의 비치환 아릴기 ; 톨릴기, 디메틸페닐기, 이소프로필페닐기, t-부틸페닐기, 디-t-부틸페닐기 등의 알킬기 치환 아릴기 ; 등의 아릴기를 들 수 있다.Examples of the aromatic hydrocarbon group include an unsubstituted aryl group such as a phenyl group, a naphthyl group, a biphenyl group, a terphenyl group, a phenanthryl group, and an anthracenyl group; Substituted aryl groups such as a tolyl group, a dimethylphenyl group, an isopropylphenyl group, a t-butylphenyl group, and a di-t-butylphenyl group; And the like.
이들 탄화수소기는, 적어도 1 개의 수소 원자가 다른 탄화수소기로 치환되어 있어도 된다. 적어도 1 개의 수소 원자가 다른 탄화수소기로 치환된 탄화수소기로는, 예를 들어, 벤질기, 쿠밀기 등의 아릴기 치환 알킬기, 시클로헥실메틸기 등의 고리형 포화 탄화수소기 치환 알킬기를 들 수 있다.These hydrocarbon groups may be substituted with at least one hydrogen atom by another hydrocarbon group. Examples of the hydrocarbon group in which at least one hydrogen atom is substituted with another hydrocarbon group include an aryl group substituted alkyl group such as a benzyl group and a cumyl group, and a cyclic saturated hydrocarbon substituted alkyl group such as a cyclohexylmethyl group.
치환기를 가지고 있어도 되는 탄소수 1 ∼ 22 의 탄화수소기로는, 직사슬형 또는 분기형의 알킬기가 바람직하다.The hydrocarbon group having 1 to 22 carbon atoms which may have a substituent is preferably a linear or branched alkyl group.
복수의 R2 는, 경화물의 내열성을 향상시키는 관점에서 메틸기를 포함하는 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 R2 의 모두가 메틸기이다.The plurality of R 2 preferably includes a methyl group from the viewpoint of improving the heat resistance of the cured product, more preferably all of R 2 is a methyl group.
복수의 R3 은, 각각 독립적으로, 상기 식 (3) 으로 나타내는 치환기, 상기 식 (4) 로 나타내는 치환기 또는 하이드록시기를 나타낸다. 그 중에서도, 내열성을 향상시키는 관점에서, 하이드록실기를 포함하는 것이 바람직하다. 또한, 본 실시형태에서는, 복수의 R3 중, 상기 식 (3) 으로 나타내는 치환기를 포함하는 화합물 (C) 를 사용하는 것도, 현상성을 향상시키는 관점에서, 바람직하다. 본 실시형태에서는, 복수의 R3 중, 상기 식 (4) 로 나타내는 치환기를 포함하는 화합물 (C) 를 사용하는 것도, 내열성을 향상시키는 관점에서, 바람직하다. 상기 식 (4) 중, R4 는 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다. 그 중에서도, 광 경화 반응의 반응성을 향상시키는 관점에서, 수소 원자인 것이 바람직하다.The plural R 3 s each independently represent a substituent represented by the formula (3), a substituent represented by the formula (4) or a hydroxy group. Among them, it is preferable to include a hydroxyl group from the viewpoint of improving the heat resistance. In the present embodiment, it is also preferable to use a compound (C) containing a substituent represented by the above formula (3) among a plurality of R 3 from the viewpoint of improving developability. In the present embodiment, it is also preferable to use a compound (C) containing a substituent represented by the above formula (4) among a plurality of R 3 from the viewpoint of improving the heat resistance. In the formula (4), R 4 represents a hydrogen atom or a methyl group. Among them, a hydrogen atom is preferable from the viewpoint of improving the reactivity of the photo-curing reaction.
복수의 R3 은, 현상성을 향상시키는 관점에서, 모든 R3 의 치환기 중, 상기 식 (3) 으로 나타내는 치환기의 비율이 20 % 이상 98 % 이하의 범위, 상기 식 (4) 로 나타내는 치환기의 비율이 5 % 이상 98 % 이하의 범위, 하이드록시기의 비율이 10 % 이상 98 % 이하의 범위 (이들 치환기의 비율의 합이 100 % 이다) 가 되는 것이 바람직하다. 그 중에서도, 현상성을 향상시키는 관점에서 복수의 R3 중 적어도 1 개가 상기 식 (3) 으로 나타내는 치환기가 되는 것이 특히 바람직하다.A plurality of R 3 is, in view of improving the developing property, of the substituents, of all R 3 above formula (3) ratio in the range of less than 98%, 20% or more of the substituent groups represented by the substituent represented by the formula (4) The ratio is in the range of 5% or more and 98% or less, and the ratio of the hydroxyl group is in the range of 10% or more and 98% or less (the sum of the proportion of these substituents is 100%). Among them, from the viewpoint of improving developability, it is particularly preferable that at least one of the plurality of R 3 is a substituent represented by the formula (3).
화합물 (C) 로는, 이하의 화합물 (C1) ∼ (C5) 의 어느 1 종 이상을 포함하는 것이, 광 경화 반응의 반응성, 경화물의 내열성 및 현상성을 향상시킬 수 있기 때문에 바람직하고, 적어도 화합물 (C1) 을 포함하는 것이 보다 바람직하고, (C1) ∼ (C5) 의 어느 2 종 이상을 포함하는 것도 보다 바람직하고, 화합물 (C1) 및 화합물 (C2) ∼ (C5) 의 어느 1 종 이상을 포함하는 것이 더욱 바람직하다. 화합물 (C) 로는, 적어도 화합물 (C2) 및 (C3) 을 포함하는 것도 바람직하다.The compound (C) preferably contains at least one of the following compounds (C1) to (C5) because it can improve the reactivity of the photo-curing reaction, the heat resistance and developability of the cured product, More preferably at least two kinds of (C1) to (C5), more preferably at least one of the compounds (C1) and (C2) to (C5) . As the compound (C), it is also preferable to include at least the compounds (C2) and (C3).
[화학식 8][Chemical Formula 8]
[화학식 9][Chemical Formula 9]
[화학식 10][Chemical formula 10]
[화학식 11](11)
[화학식 12][Chemical Formula 12]
이와 같은 화합물은 시판품을 이용할 수도 있고, 예를 들어, KAYARAD (등록상표) ZCR-6001H, KAYARAD (등록상표) ZCR-6002H, KAYARAD (등록상표) ZCR-6006H, KAYARAD (등록상표) ZCR-6007H, KAYARAD (등록상표) ZCR-601H (이상, 상품명, 닛폰 화약 (주) 제조) 등을 들 수 있다.Such compounds may be commercially available products such as KAYARAD (registered trademark) ZCR-6001H, KAYARAD (registered trademark) ZCR-6002H, KAYARAD (registered trademark) ZCR-6006H, KAYARAD (registered trademark) ZCR- KAYARAD (registered trademark) ZCR-601H (trade name, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) and the like.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 화합물 (C) 의 산가는, 현상성을 향상시키는 관점에서 30 mgKOH/g 이상으로 하는 것이 바람직하고, 보다 현상성이 향상되는 점에서, 50 mgKOH/g 이상인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 활성 에너지선으로 경화시킨 후에 현상액에 의한 용해를 방지하는 관점에서, 화합물 (A) 의 산가는, 120 mgKOH/g 이하로 하는 것이 바람직하고, 보다 용해를 방지할 수 있는 점에서, 110 mgKOH/g 이하인 것이 더욱 바람직하다. 또한, 본 실시형태에 있어서의 「산가」 는, JISK 0070 : 1992 에 준한 방법으로 측정되는 값을 나타낸다.In the resin composition of the present embodiment, the acid value of the compound (C) is preferably 30 mgKOH / g or more from the viewpoint of improving developability, and more preferably 50 mgKOH / g or more More preferable. The acid value of the compound (A) is preferably 120 mgKOH / g or less from the viewpoint of preventing dissolution by the developing solution after curing with an active energy ray, and from the viewpoint of preventing further dissolution, 110 mgKOH / g or less. The " acid value " in this embodiment represents a value measured by a method according to JIS K 0070: 1992.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 화합물 (C) 의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물을 활성 에너지선으로 경화시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 성분 (A), 성분 (C) 및 성분 (D) 의 합계 함유량 100 질량부에 대하여, 1 질량부 이상으로 하는 것이 바람직하고, 2 질량부 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 3 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하다. 또한, 활성 에너지선으로 충분히 경화시켜, 내열성을 향상시킨다는 관점에서, 99 질량부 이하로 하는 것이 바람직하고, 98 질량부 이하로 하는 것이 보다 바람직하고, 97 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하다.In the resin composition of the present embodiment, the content of the compound (C) is not particularly limited, but from the viewpoint of curing the resin composition with an active energy ray, the content of the component (A), the component (C) ) Is preferably 1 part by mass or more, more preferably 2 parts by mass or more, further preferably 3 parts by mass or more based on 100 parts by mass. Further, it is preferably 99 mass parts or less, more preferably 98 mass parts or less, and further preferably 97 mass parts or less from the viewpoint of sufficiently curing with an active energy ray to improve heat resistance.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 화합물 (C) 의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물을 활성 에너지선으로 경화시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 1 질량부 이상으로 하는 것이 바람직하고, 2 질량부 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 3 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하고, 10 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 보다 바람직하고, 25 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 보다 바람직하고, 30 질량부 이상으로 하는 것이 가장 바람직하다. 또한, 활성 에너지선으로 충분히 경화시켜, 내열성을 향상시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 99 질량부 이하로 하는 것이 바람직하고, 98 질량부 이하로 하는 것이 보다 바람직하고, 97 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하고, 90 질량부 이하로 하는 것이 더욱 보다 바람직하고, 75 질량부 이하로 하는 것이 더욱 보다 바람직하고, 72 질량부 이하로 하는 것이 가장 바람직하다.The content of the compound (C) in the resin composition of the present embodiment is not particularly limited, but is preferably 1 part by mass or more based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition from the viewpoint of curing the resin composition with an active energy ray More preferably 2 parts by mass or more, further preferably 3 parts by mass or more, further preferably 10 parts by mass or more, still more preferably 25 parts by mass or more , And most preferably 30 parts by mass or more. From the viewpoint of sufficiently curing with an active energy ray to improve the heat resistance, the content is preferably 99 parts by mass or less, more preferably 98 parts by mass or less, and most preferably 97 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition. More preferably 90 parts by mass or less, still more preferably 75 parts by mass or less, and most preferably 72 parts by mass or less.
<(C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D)><Compound (D) having an ethylenically unsaturated group other than the component (C)> [
본 실시형태의 수지 조성물은, 활성 에너지선 (예를 들어, 자외선) 에 대한 반응성을 높여, 내열성을 향상시키기 위해서, (C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) (성분 (D) 라고도 칭한다) 를 함유한다. 본 실시형태에 사용하는 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 는, 상기 식 (2) 로 나타내는 화합물 (C) 이외이고, 1 분자 중에 1 개 이상의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물이면, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, (메트)아크릴로일기, 비닐기 등을 갖는 화합물을 들 수 있다. 이들은, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.(D) (component (D)) having an ethylenically unsaturated group other than the component (C) is added to the resin composition of the present embodiment in order to increase the reactivity to an active energy ray (for example, ultraviolet rays) Quot;). The compound (D) having an ethylenically unsaturated group used in the present embodiment is not particularly limited so long as it is a compound other than the compound (C) represented by the formula (2) and having at least one ethylenic unsaturated group in one molecule, For example, a compound having a (meth) acryloyl group, a vinyl group or the like. These may be used singly or in a mixture of two or more.
(메트)아크릴로일기를 갖는 화합물로는, 메틸(메트)아크릴레이트, 에틸(메트)아크릴레이트, 부틸(메트)아크릴레이트, 라우릴(메트)아크릴레이트, 폴리에틸렌글리콜(메트)아크릴레이트, 폴리에틸렌글리콜(메트)아크릴레이트모노메틸에테르, 페닐에틸(메트)아크릴레이트, 이소보르닐(메트)아크릴레이트, 시클로헥실(메트)아크릴레이트, 벤질(메트)아크릴레이트, 테트라하이드로푸르푸릴(메트)아크릴레이트, 부탄디올디(메트)아크릴레이트, 헥산디올디(메트)아크릴레이트, 네오펜틸글리콜디(메트)아크릴레이트, 노난디올디(메트)아크릴레이트, 글리콜디(메트)아크릴레이트, 디에틸렌디(메트)아크릴레이트, 폴리에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 트리스(메트)아크릴로일옥시에틸이소시아누레이트, 폴리프로필렌글리콜디(메트)아크릴레이트, 아디프산에폭시디(메트)아크릴레이트, 비스페놀에틸렌옥사이드디(메트)아크릴레이트, 수소화비스페놀에틸렌옥사이드(메트)아크릴레이트, 비스페놀디(메트)아크릴레이트, ε-카프로락톤 변성 하이드록시피발산네오펜글리콜디(메트)아크릴레이트, ε-카프로락톤 변성 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, ε-카프로락톤 변성 디펜타에리트리톨폴리(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨폴리(메트)아크릴레이트, 트리메틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 트리에틸올프로판트리(메트)아크릴레이트, 및 그 에틸렌옥사이드 부가물, 펜타에리트리톨트리(메트)아크릴레이트, 및 그 에틸렌옥사이드 부가물, 펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 및 그 에틸렌옥사이드 부가물 등을 들 수 있다.Examples of the compound having a (meth) acryloyl group include methyl (meth) acrylate, ethyl (meth) acrylate, butyl (meth) acrylate, lauryl (meth) acrylate, polyethylene glycol Acrylates such as glycol (meth) acrylate monomethyl ether, phenylethyl (meth) acrylate, isobornyl (meth) acrylate, cyclohexyl (meth) acrylate, benzyl (meth) acrylate, tetrahydrofurfuryl (Meth) acrylate, butanediol di (meth) acrylate, hexanediol di (meth) acrylate, neopentyl glycol di (meth) acrylate, (Meth) acrylate, polyethylene glycol di (meth) acrylate, tris (meth) acryloyloxyethyl isocyanurate, polypropylene glycol di (meth) (Meth) acrylate, bisphenol ethylene oxide (meth) acrylate, bisphenol di (meth) acrylate, epsilon -caprolactone-modified hydroxypivalic acid neophenol glycol di Caprolactone-modified dipentaerythritol poly (meth) acrylate, dipentaerythritol poly (meth) acrylate, ε-caprolactone modified dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, ε-caprolactone modified dipentaerythritol poly (Meth) acrylate, ethylene oxide adduct thereof, pentaerythritol tri (meth) acrylate, and ethylene oxide adduct thereof, pentaerythritol tetra (meth) acrylate, Acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, and ethylene oxide adduct thereof.
이 밖에도, (메트)아크릴로일기와 우레탄 결합을 동일 분자 내에 겸비하는 우레탄(메트)아크릴레이트류, 동일하게 (메트)아크릴로일기와 에스테르 결합을 동일 분자 내에 겸비하는 폴리에스테르(메트)아크릴레이트, 에폭시 수지로부터 유도되고, (메트)아크릴로일기를 겸비하는 에폭시(메트)아크릴레이트류, 이들 결합이 복합적으로 이용되고 있는 반응성 올리고머 등도 들 수 있다.In addition, urethane (meth) acrylates which have a (meth) acryloyl group and a urethane bond in the same molecule, and polyester (meth) acrylates which also have an acryloyl group and an ester bond in the same molecule , Epoxy (meth) acrylates derived from an epoxy resin and having a (meth) acryloyl group, reactive oligomers in which these bonds are used in combination, and the like.
상기 우레탄(메트)아크릴레이트류란, 수산기 함유 (메트)아크릴레이트와 폴리이소시아네이트, 필요에 따라 사용되는 그 외 알코올류의 반응물이다. 예를 들어, 하이드록시에틸(메트)아크릴레이트, 하이드록시프로필(메트)아크릴레이트, 하이드록시부틸(메트)아크릴레이트 등의 하이드록시알킬(메트)아크릴레이트류, 글리세린모노(메트)아크릴레이트, 글리세린디(메트)아크릴레이트 등의 글리세린(메트)아크릴레이트류, 펜타에리트리톨디(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨트리(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨펜타(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트 등의 당알코올(메트)아크릴레이트류와, 톨루엔디이소시아네이트, 헥사메틸렌디이소시아네이트, 트리메틸헥사메틸렌디이소시아네이트, 이소포론디이소시아네이트, 노르보르넨디이소시아네이트, 자일렌디이소시아네이트, 수소 첨가 자일렌디이소시아네이트, 디시클로헥산메틸렌디이소시아네이트, 및 그들의 이소시아누레이트, 뷰렛 반응물 등의 폴리이소시아네이트 등을 반응시켜, 우레탄(메트)아크릴레이트류가 된다.The above-mentioned urethane (meth) acrylates are reaction products of hydroxyl group-containing (meth) acrylate and polyisocyanate and other alcohols which are optionally used. Examples thereof include hydroxyalkyl (meth) acrylates such as hydroxyethyl (meth) acrylate, hydroxypropyl (meth) acrylate and hydroxybutyl (meth) acrylate, glycerin mono (meth) (Meth) acrylate such as glycerin di (meth) acrylate, pentaerythritol di (meth) acrylate, pentaerythritol tri (meth) acrylate, dipentaerythritol penta (Meth) acrylates such as trimethylolpropane trimethacrylate, trimethylolpropane trimethacrylate, trimethylolpropane trimethacrylate and erythritol hexa (meth) acrylate, and aliphatic diols such as toluene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, trimethylhexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, norbornene diisocyanate, Added xylylene diisocyanate, dicyclohexane methylene diisocyanate, and their di Such as by reacting a polyisocyanate such as a cyanurate, biuret reagent, and a urethane (meth) acrylates.
상기 폴리에스테르(메트)아크릴레이트류란, 예를 들어, 카프로락톤 변성 2-하이드록시에틸(메트)아크릴레이트, 에틸렌옥사이드 및/또는 프로필렌옥사이드 변성 프탈산(메트)아크릴레이트, 에틸렌옥사이드 변성 숙신산(메트)아크릴레이트, 카프로락톤 변성 테트라하이드로푸르푸릴(메트)아크릴레이트 등의 단관능 (폴리)에스테르(메트)아크릴레이트류 ; 하이드록시피발산에스테르네오펜틸글리콜디(메트)아크릴레이트, 카프로락톤 변성 하이드록시피발산에스테르네오펜틸글리콜디(메트)아크릴레이트, 에피클로르히드린 변성 프탈산디(메트)아크릴레이트 등의 디(폴리) 에스테르(메트)아크릴레이트류 ; 트리메틸올프로판 또는 글리세린 1 몰에 1 몰 이상의 ε-카프로락톤, γ-부티로락톤, δ-발레로락톤 등의 고리형 락톤 화합물을 부가하여 얻은 트리올의 모노, 디 또는 트리(메트)아크릴레이트를 들 수 있다.Examples of the polyester (meth) acrylates include caprolactone modified 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, ethylene oxide and / or propylene oxide modified phthalic acid (meth) acrylate, ethylene oxide modified succinic acid (Poly) ester (meth) acrylates such as caprolactone-modified tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate and caprolactone-modified tetrahydrofurfuryl (meth) acrylate; (Poly (meth) acrylates) such as hydroxypivalic acid esters neopentyl glycol di (meth) acrylate, caprolactone-modified hydroxy diacid ester neopentyl glycol di (meth) acrylate and epichlorohydrin modified phthalic acid di ) Ester (meth) acrylates; Mono-, di- or tri (meth) acrylate of a triol obtained by adding 1 mol or more of a cyclic lactone compound such as? -Caprolactone,? -Butyrolactone, or? -Valerolactone to 1 mol of trimethylolpropane or glycerin .
나아가, 펜타에리트리톨 또는 디트리메틸올프로판 1 몰에 1 몰 이상의 ε-카프로락톤, γ-부티로락톤, δ-발레로락톤 등의 고리형 락톤 화합물을 부가하여 얻은 트리올의 모노, 디, 트리 또는 테트라(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨 1 몰에 1 몰 이상의 ε-카프로락톤, γ-부티로락톤, δ-발레로락톤 등의 고리형 락톤 화합물을 부가하여 얻은 트리올의 모노, 또는 폴리(메트)아크릴레이트의 트리올, 테트라올, 펜타올 또는 헥사올 등의 다가 알코올의 모노(메트)아크릴레이트 또는 폴리(메트)아크릴레이트를 들 수 있다.Further, a mono, di-triol of triol obtained by adding at least 1 mol of a cyclic lactone compound such as? -Caprolactone,? -Butyrolactone, or? -Valerolactone to 1 mole of pentaerythritol or ditrimethylolpropane Or a triol obtained by adding tetra (meth) acrylate, a cyclic lactone compound such as? -Caprolactone,? -Butyrolactone, or? -Valerolactone in an amount of 1 mole or more per mole of dipentaerythritol, or Mono (meth) acrylate or poly (meth) acrylate of polyhydric alcohols such as triols of poly (meth) acrylate, tetraol, pentanol or hexanol.
그리고 또한 나아가서는, (폴리)에틸렌글리콜, (폴리)프로필렌글리콜, (폴리)테트라메틸렌글리콜, (폴리)부틸렌글리콜, 3-메틸-1,5-펜탄디올, 헥산디올 등의 디올 성분과 말레산, 푸마르산, 숙신산, 아디프산, 프탈산, 이소프탈산, 헥사하이드로프탈산, 테트라하이드로프탈산, 다이머산, 세바스산, 아젤라산, 5-나트륨술포이소프탈산 등의 다염기산, 및 이들 무수물과의 반응물인 폴리에스테르폴리올의 (메트)아크릴레이트 ; 상기 디올 성분과 다염기산 및 이들의 무수물과 ε-카프로락톤, γ-부티로락톤, δ-발레로락톤 등으로 이루어지는 고리형 락톤 변성 폴리에스테르디올의 (메트)아크릴레이트 등의 다관능 (폴리)에스테르(메트)아크릴레이트류 등을 들 수 있지만, 이들에 한정되는 것은 아니다.Further, it is also possible to use a diol component such as (poly) ethylene glycol, (poly) propylene glycol, (poly) tetramethylene glycol, (poly) butylene glycol, 3-methyl-1,5-pentanediol, Examples of the reaction product with a polybasic acid such as acid, fumaric acid, succinic acid, adipic acid, phthalic acid, isophthalic acid, hexahydrophthalic acid, tetrahydrophthalic acid, dimeric acid, sebacic acid, azelaic acid, 5-sodium sulfoisophthalic acid, (Meth) acrylates of polyester polyols; (Poly) esters such as (meth) acrylates of a cyclic lactone-modified polyester diol composed of the diol component, a polybasic acid, and an anhydride thereof, and? -Caprolactone,? -Butyrolactone, (Meth) acrylates, and the like, but are not limited thereto.
상기 에폭시(메트)아크릴레이트류란, 에폭시기를 갖는 화합물과 (메트)아크릴산의 카르복실레이트 화합물이다. 예를 들어, 페놀노볼락형 에폭시(메트)아크릴레이트, 크레졸 노볼락형 에폭시(메트)아크릴레이트, 트리스하이드록시페닐메탄형 에폭시(메트)아크릴레이트, 디시클로펜타디엔페놀형 에폭시(메트)아크릴레이트, 비스페놀 A 형 에폭시(메트)아크릴레이트, 비스페놀 F 형 에폭시(메트)아크릴레이트, 비페놀형 에폭시(메트)아크릴레이트, 비스페놀 A 노볼락형 에폭시(메트)아크릴레이트, 나프탈렌 골격 함유 에폭시(메트)아크릴레이트, 글리옥살형 에폭시(메트)아크릴레이트, 복소 고리형 에폭시(메트)아크릴레이트 등, 및 이들의 산무수물 변성 에폭시아크릴레이트 등을 들 수 있다.The epoxy (meth) acrylates are carboxylate compounds of a compound having an epoxy group and a (meth) acrylic acid. Examples of the epoxy (meth) acrylate include phenol novolak type epoxy (meth) acrylate, cresol novolak type epoxy (meth) acrylate, trishydroxyphenyl methane type epoxy (meth) acrylate, dicyclopentadiene phenol type epoxy (Meth) acrylate, bisphenol A type epoxy (meth) acrylate, bisphenol F type epoxy (meth) acrylate, biphenol type epoxy (meth) acrylate, bisphenol A novolak type epoxy ) Acrylate, glyoxylic epoxy (meth) acrylate, heterocyclic epoxy (meth) acrylate, and acid anhydride-modified epoxy acrylates thereof.
비닐기를 갖는 화합물로는, 에틸비닐에테르, 프로필비닐에테르, 하이드록시에틸비닐에테르, 에틸렌글리콜디비닐에테르 등의 비닐에테르류를 들 수 있다. 스티렌류로는, 스티렌, 메틸스티렌, 에틸스티렌, 디비닐벤젠 등을 들 수 있다. 그 외 비닐 화합물로는 트리알릴이소시아누레이트, 트리메타알릴이소시아누레이트, 비스알릴나디이미드 등을 들 수 있다.Examples of the compound having a vinyl group include vinyl ethers such as ethyl vinyl ether, propyl vinyl ether, hydroxyethyl vinyl ether, and ethylene glycol divinyl ether. Examples of the styrene include styrene, methylstyrene, ethylstyrene, and divinylbenzene. Other examples of the vinyl compound include triallyl isocyanurate, trimethallyl isocyanurate, bisallylnadimide, and the like.
이들 중에서도, 내열성의 점에서, 펜타에리트리톨테트라(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트, 크레졸 노볼락형 에폭시(메트)아크릴레이트, 비스페놀 A 형 에폭시(메트)아크릴레이트, 나프탈렌 골격 함유 에폭시(메트)아크릴레이트, 비스알릴나디이미드로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종 이상인 것이 바람직하고, 보다 내열성이 향상되는 점에서, 디펜타에리트리톨헥사(메트)아크릴레이트인 것이 보다 바람직하다. 이와 같은 종류의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물을 포함하는 것에 의해, 얻어지는 경화물의 내열성이 보다 향상되는 경향이 있다.Among them, from the viewpoint of heat resistance, epoxy resins such as pentaerythritol tetra (meth) acrylate, dipentaerythritol hexa (meth) acrylate, cresol novolak epoxy (meth) acrylate, bisphenol A epoxy (meth) (Meth) acrylate, naphthalene skeleton-containing epoxy (meth) acrylate, and bisallylnadiimide, and more preferably is dipentaerythritol hexa (meth) acrylate in that the heat resistance is improved . By including a compound having such an ethylenic unsaturated group, the heat resistance of the obtained cured product tends to be further improved.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, (C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 현상성을 양호하게 한다는 관점에서, 수지 조성물 중의 성분 (A), 성분 (C) 및 성분 (D) 의 합계 함유량 100 질량부에 대하여, 0.5 질량부 이상으로 하는 것이 바람직하고, 1.0 질량부 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 1.5 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하다. 또한, 경화물의 내열성을 양호하게 한다는 관점에서, 90 질량부 이하로 하는 것이 바람직하고, 70 질량부 이하로 하는 것이 보다 바람직하고, 50 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하다.The content of the ethylenically unsaturated group-containing compound (D) other than the component (C) in the resin composition of the present embodiment is not particularly limited, but from the viewpoint of improving the developability, Is preferably 0.5 part by mass or more, more preferably 1.0 part by mass or more, and further preferably 1.5 parts by mass or more based on 100 parts by mass of the total content of the components (C) and (D). Further, from the viewpoint of improving the heat resistance of the cured product, the amount is preferably 90 parts by mass or less, more preferably 70 parts by mass or less, and further preferably 50 parts by mass or less.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 화합물 (D) 의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 현상성을 양호하게 한다는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 0.5 질량부 이상으로 하는 것이 바람직하고, 1.0 질량부 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 1.5 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하고, 5.0 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 보다 바람직하고, 10 질량부 이상으로 하는 것이 가장 바람직하다. 또한, 경화물의 내열성을 양호하게 한다는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 90 질량부 이하로 하는 것이 바람직하고, 70 질량부 이하로 하는 것이 보다 바람직하고, 50 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하고, 25 질량부 이하로 하는 것이 더욱 보다 바람직하고, 20 질량부 이하로 하는 것이 가장 바람직하다.In the resin composition of the present embodiment, the content of the compound (D) is not particularly limited, but it is preferably 0.5 part by mass or more based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition More preferably 1.0 part by mass or more, further preferably 1.5 parts by mass or more, further preferably 5.0 parts by mass or more, and most preferably 10 parts by mass or more. From the viewpoint of improving the heat resistance of the cured product, the amount is preferably 90 parts by mass or less, more preferably 70 parts by mass or less, and most preferably 50 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition More preferably 25 parts by mass or less, and most preferably 20 parts by mass or less.
<말레이미드 화합물 (E)>≪ Maleimide compound (E) >
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서는, 말레이미드 화합물 (E) (성분 (E) 라고도 칭한다) 를 사용할 수 있다. 이하에 말레이미드 화합물 (E) 에 대하여 상세하게 서술한다.In the resin composition of the present embodiment, the maleimide compound (E) (also referred to as component (E)) can be used. Hereinafter, the maleimide compound (E) will be described in detail.
본 실시형태에 사용하는 말레이미드 화합물 (E) 는, 분자 중에 1 개 이상의 말레이미드기를 갖는 화합물이면, 특별히 한정되는 것은 아니다. 그 구체예로는, 예를 들어, N-페닐말레이미드, N-하이드록시페닐말레이미드, 비스(4-말레이미드페닐)메탄, 2,2-비스{4-(4-말레이미드페녹시)-페닐}프로판, 4,4-디페닐메탄비스말레이미드, 비스(3,5-디메틸-4-말레이미드페닐)메탄, 비스(3-에틸-5-메틸-4-말레이미드페닐)메탄, 비스(3,5-디에틸-4-말레이미드페닐)메탄, 페닐메탄말레이미드, o-페닐렌비스말레이미드, m-페닐렌비스말레이미드, p-페닐렌비스말레이미드, o-페닐렌비스시트라콘이미드, m-페닐렌비스시트라콘이미드, p-페닐렌비스시트라콘이미드, 2,2-비스(4-(4-말레이미드페녹시)-페닐)프로판, 3,3-디메틸-5,5-디에틸-4,4-디페닐메탄비스말레이미드, 4-메틸-1,3-페닐렌비스말레이미드, 1,6-비스말레이미드-(2,2,4-트리메틸)헥산, 4,4-디페닐에테르비스말레이미드, 4,4-디페닐술폰비스말레이미드, 1,3-비스(3-말레이미드페녹시)벤젠, 1,3-비스(4-말레이미드페녹시)벤젠, 4,4-디페닐메탄비스시트라콘이미드, 2,2-비스[4-(4-시트라콘이미드페녹시)페닐]프로판, 비스(3,5-디메틸-4-시트라콘이미드페닐)메탄, 비스(3-에틸-5-메틸-4-시트라콘이미드페닐)메탄, 비스(3,5-디에틸-4-시트라콘이미드페닐)메탄, 폴리페닐메탄말레이미드, 노볼락형 말레이미드 화합물, 비페닐아르알킬형 말레이미드 화합물, 하기 식 (7) 로 나타내는 말레이미드 화합물, 하기 식 (8) 로 나타내는 말레이미드 화합물, 및 이들 말레이미드 화합물의 프리 폴리머, 또는 말레이미드 화합물과 아민 화합물의 프리 폴리머 등을 들 수 있다.The maleimide compound (E) used in the present embodiment is not particularly limited so long as it is a compound having at least one maleimide group in the molecule. Specific examples thereof include, for example, N-phenylmaleimide, N-hydroxyphenylmaleimide, bis (4-maleimidophenyl) methane, 2,2-bis {4- (4-maleimidophenoxy) 4-maleimidophenyl) methane, bis (3-ethyl-5-methyl-4-maleimidophenyl) methane, Bis (3, 5-diethyl-4-maleimidephenyl) methane, phenylmethane maleimide, o-phenylene bismaleimide, m- phenylene bismaleimide, Bis (4- (4-maleimidophenoxy) -phenyl) propane, 3,3-bis (p-phenylenebisetracycline) Dimethyl-5,5-diethyl-4,4-diphenylmethane bismaleimide, 4-methyl-1,3-phenylene bismaleimide, 1,6-bismaleimide- (2,2,4- Trimethyl) hexane, 4,4-diphenyl ether bismaleimide, 4,4-diphenylsulfone bismaleimide, 1,3-bis (3-maleimide Phenoxy) benzene, 1,3-bis (4-maleimidophenoxy) benzene, 4,4-diphenylmethane bis-citraconimide, 2,2-bis [4- ) Phenyl] propane, bis (3,5-dimethyl-4-citraconimidophenyl) methane, bis (3-ethyl- Maleimide compound represented by the following formula (7), a compound represented by the following formula (8), and a maleimide compound represented by the following formula (7) , And prepolymers of these maleimide compounds, or prepolymers of maleimide compounds and amine compounds, and the like.
이 중에서도, 노볼락형 말레이미드 화합물, 비페닐아르알킬형 말레이미드 화합물이 특히 바람직하다. 또한, 양호한 도막성이 얻어지고, 내열성이 우수하다는 관점에서, 하기 식 (7) 로 나타내는 말레이미드 화합물, 하기 식 (8) 로 나타내는 말레이미드 화합물이 바람직하고, 하기 식 (7) 로 나타내는 말레이미드 화합물이 보다 바람직하다. 하기 식 (7) 로 나타내는 말레이미드 화합물로는, 시판품을 이용할 수도 있고, 예를 들어, BMI-2300 (타이와 화성 공업 (주) 사 제조) 을 들 수 있다. 하기 식 (8) 로 나타내는 말레이미드 화합물로는, 시판품을 이용할 수도 있고, 예를 들어, MIR-3000 (닛폰 화약 (주) 사 제조) 을 들 수 있다.Of these, novolak-type maleimide compounds and biphenylaralkyl-type maleimide compounds are particularly preferred. The maleimide compound represented by the following formula (7) and the maleimide compound represented by the following formula (8) are preferable from the viewpoint of obtaining a good film-like property and excellent heat resistance, and the maleimide represented by the following formula (7) Compounds are more preferable. As the maleimide compound represented by the following formula (7), a commercially available product may be used. For example, BMI-2300 (manufactured by Taiwasan Kogyo Co., Ltd.) can be used. As the maleimide compound represented by the following formula (8), a commercially available product may be used, and for example, MIR-3000 (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) can be used.
이들 말레이미드 화합물 (C) 는 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.These maleimide compounds (C) may be used singly or in a mixture of two or more.
[화학식 13][Chemical Formula 13]
(식 (7) 중, 복수의 R5 는, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다. n1 은, 1 이상의 정수를 나타내고, 바람직하게는 1 ∼ 10 의 정수를 나타내고, 보다 바람직하게는 1 ∼ 5 의 정수를 나타낸다.).(In the formula (7), a plurality of R 5 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group.) N 1 represents an integer of 1 or more, preferably an integer of 1 to 10, more preferably 1 Represents an integer of 1 to 5).
[화학식 14][Chemical Formula 14]
(식 (8) 중, 복수의 R6 은, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다. n2 는, 1 이상의 정수를 나타내고, 바람직하게는 1 ∼ 5 의 정수를 나타낸다.).(In the formula (8), a plurality of R 6 each independently represents a hydrogen atom or a methyl group, and n 2 represents an integer of 1 or more, preferably an integer of 1 to 5).
이들 말레이미드 화합물 (E) 는, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.These maleimide compounds (E) may be used alone or in combination of two or more.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서의 말레이미드 화합물 (E) 의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 수지 조성물을 충분히 경화시켜, 내열성을 향상시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 성분 (A), 성분 (C) 및 성분 (D) 의 합계 함유량 100 질량부에 대하여, 0.01 질량부 이상으로 하는 것이 바람직하고, 0.02 질량부 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 0.03 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하다. 또한, 현상성을 양호하게 한다는 관점에서, 50 질량부 이하로 하는 것이 바람직하고, 45 질량부 이하로 하는 것이 보다 바람직하고, 40 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하다.The content of the maleimide compound (E) in the resin composition of the present embodiment is not particularly limited. From the viewpoint of sufficiently curing the resin composition and improving the heat resistance, the content of the maleimide compound (E) More preferably 0.02 part by mass or more, and still more preferably 0.03 part by mass or more based on 100 parts by mass of the total content of the component (A) and the component (D). From the viewpoint of improving developability, the amount is preferably 50 parts by mass or less, more preferably 45 parts by mass or less, and further preferably 40 parts by mass or less.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 말레이미드 화합물의 함유량 (E) 는, 특별히 제한되지 않고, 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 바람직하게는 0.01 질량부 ∼ 50 질량부이고, 보다 바람직하게는 0.02 질량부 ∼ 45 질량부이고, 더욱 바람직하게는 0.03 질량부 ∼ 20 질량부이고, 더욱 보다 바람직하게는 0.1 질량부 ∼ 10 질량부이고, 가장 바람직하게는 1 질량부 ∼ 7 질량부이다. 말레이미드 화합물의 함유량이 상기 범위 내임으로써, 경화물의 내열성이 보다 향상되는 경향이 있다.In the resin composition of the present embodiment, the content (E) of the maleimide compound is not particularly limited and is preferably 0.01 part by mass to 50 parts by mass, more preferably 0.02 mass parts per 100 parts by mass of the resin solid content More preferably from 0.03 mass parts to 20 mass parts, still more preferably from 0.1 mass parts to 10 mass parts, and most preferably from 1 mass part to 7 mass parts. When the content of the maleimide compound is within the above range, the heat resistance of the cured product tends to be further improved.
<충전재 (F)>≪ Filler (F) >
본 실시형태의 수지 조성물에는, 도막성이나 내열성 등의 여러 특성을 향상시키기 위해서, 충전재 (F) (성분 (F) 라고도 칭한다) 를 병용하는 것도 가능하다. 본 실시형태에 사용하는 충전재 (F) 는, 절연성을 갖는 것이면, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 실리카 (예를 들어 천연 실리카, 용융 실리카, 아모르퍼스 실리카, 중공 실리카 등), 알루미늄 화합물 (예를 들어 베마이트, 수산화알루미늄, 알루미나 등), 마그네슘 화합물 (예를 들어 산화마그네슘, 수산화마그네슘 등), 칼슘 화합물 (예를 들어 탄산칼슘 등), 몰리브덴 화합물 (예를 들어 산화몰리브덴, 몰리브덴산아연 등), 바륨 화합물 (예를 들어 황산바륨, 규산바륨 등), 탤크 (예를 들어 천연 탤크, 소성 탤크 등), 마이카 (운모), 유리 (예를 들어 단섬유상 유리, 구상 유리, 미세 분말 유리 (예를 들어 E 유리, T 유리, D 유리 등) 등), 실리콘 파우더, 불소 수지계 충전재, 우레탄 수지계 충전재, 아크릴 수지계 충전재, 폴리에틸렌계 충전재, 스티렌·부타디엔 고무 및 실리콘 고무 등을 들 수 있다.The resin composition of the present embodiment can also be used in combination with filler (F) (also referred to as component (F)) in order to improve various properties such as coatability and heat resistance. The filler (F) used in the present embodiment is not particularly limited as long as it has an insulating property. Examples of the filler include fillers such as silica (for example, natural silica, fused silica, amorphous silica, hollow silica, (E.g., magnesium hydroxide, magnesium hydroxide, etc.), calcium compounds (e.g., calcium carbonate), molybdenum compounds (e.g., molybdenum oxide, zinc molybdate, etc.) ), Barium compounds (such as barium sulfate and barium silicate), talc (e.g. natural talc, plastic talc, etc.), mica (mica), glass (for example monofilament glass, spherical glass, (For example, E glass, T glass, D glass, etc.), silicone powder, fluorocarbon resin filler, urethane resin filler, acrylic resin filler, polyethylene filler, styrene / butadiene Rubber and silicone rubber.
그 중에서도, 실리카, 베마이트, 황산바륨, 실리콘 파우더, 불소 수지계 충전재, 우레탄 수지계 충전재, 아크릴 수지계 충전재, 폴리에틸렌계 충전재, 스티렌·부타디엔 고무 및 실리콘 고무로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종 이상인 것이 바람직하다.Among them, at least one selected from the group consisting of silica, boehmite, barium sulfate, silicone powder, fluororesin-based filler, urethane resin filler, acrylic resin filler, polyethylene filler, styrene-butadiene rubber and silicone rubber is preferable.
이들 충전재 (F) 는, 후술하는 실란 커플링제 등으로 표면 처리되어 있어도 된다.These fillers (F) may be surface-treated with a silane coupling agent or the like to be described later.
특히, 경화물의 내열성을 향상시키고, 또한 양호한 도막성이 얻어진다는 관점에서, 실리카가 바람직하고, 용융 실리카가 특히 바람직하다. 실리카의 구체예로는, 덴카 (주) 제조의 SFP-130MC 등, (주) 아드마텍스 제조의 SC2050-MB, SC1050-MLE, YA010C-MFN, YA050C-MJA 등을 들 수 있다.Particularly, from the viewpoint of improving the heat resistance of the cured product and obtaining good coatability, silica is preferable, and fused silica is particularly preferable. Specific examples of silica include SC2050-MB, SC1050-MLE, YA010C-MFN, and YA050C-MJA manufactured by Admatech Co., Ltd., such as SFP-130MC manufactured by DENKA CO., LTD.
이들 충전재 (F) 는, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.These fillers (F) may be used singly or in a mixture of two or more.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 충전재 (F) 의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 경화물의 내열성을 향상시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 5 질량부 이상으로 하는 것이 바람직하고, 10 질량부 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 20 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하다. 또한, 수지 조성물의 현상성을 양호하게 한다는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 400 질량부 이하로 하는 것이 바람직하고, 350 질량부 이하로 하는 것이 보다 바람직하고, 300 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하고, 200 질량부 이하로 하는 것이 더욱 보다 바람직하고, 100 질량부 이하로 하는 것이 가장 바람직하다.In the resin composition of the present embodiment, the content of the filler (F) is not particularly limited, but it is preferably 5 parts by mass or more based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition from the viewpoint of improving the heat resistance of the cured product More preferably 10 parts by mass or more, and still more preferably 20 parts by mass or more. From the viewpoint of improving the developability of the resin composition, the amount is preferably 400 parts by mass or less, more preferably 350 parts by mass or less, and most preferably 300 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition More preferably 200 parts by mass or less, and most preferably 100 parts by mass or less.
<실란 커플링제 및 습윤 분산제><Silane coupling agent and wet dispersant>
본 실시형태의 수지 조성물에는, 충전재의 분산성, 폴리머 및/또는 수지와, 충전재의 접착 강도를 향상시키기 위해서, 실란 커플링제 및/또는 습윤 분산제를 병용하는 것도 가능하다.A silane coupling agent and / or a wetting and dispersing agent may be used in combination in the resin composition of the present embodiment in order to improve the dispersibility of the filler, the polymer and / or the resin, and the bonding strength of the filler.
이들 실란 커플링제로는, 일반적으로 무기물의 표면 처리에 사용되고 있는 실란 커플링제이면, 특별히 한정되는 것은 아니다. 구체예로는, 예를 들어, γ-아미노프로필트리에톡시실란, N-β-(아미노에틸)-γ-아미노프로필트리메톡시실란 등의 아미노실란계 ; γ-글리시독시프로필트리메톡시실란 등의 에폭시실란계 ; γ-아크릴록시프로필트리메톡시실란 등의 아크릴실란계 ; N-β-(N-비닐벤질아미노에틸)-γ-아미노프로필트리메톡시실란염산염 등의 카티오닉실란계 ; 페닐실란계의 실란 커플링제를 들 수 있다. 이들 실란 커플링제는, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 조합하여 사용하는 것도 가능하다.These silane coupling agents are not particularly limited as long as they are silane coupling agents generally used for surface treatment of an inorganic material. Specific examples include aminosilanes such as? -Aminopropyltriethoxysilane and N -? - (aminoethyl) -? - aminopropyltrimethoxysilane; epoxy silane type such as? -glycidoxypropyltrimethoxysilane; acrylsilane type such as? -acryloxypropyltrimethoxysilane; N-β- (N-vinylbenzylaminoethyl) - γ-aminopropyltrimethoxysilane hydrochloride; Phenyl silane-based silane coupling agents. These silane coupling agents may be used singly or in combination of two or more.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 실란 커플링제의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 통상적으로, 수지 조성물 100 질량부에 대하여, 0.1 ∼ 10 질량부이다.In the resin composition of the present embodiment, the content of the silane coupling agent is not particularly limited, but is usually 0.1 to 10 parts by mass based on 100 parts by mass of the resin composition.
습윤 분산제로는, 도료용으로 사용되고 있는 분산 안정제이면, 특별히 한정되는 것은 아니다. 구체예로는, 예를 들어, 빅케미·재팬 (주) 제조의 DISPERBYK (등록상표)-110, 111, 118, 180, 161, BYK (등록상표)-W996, W9010, W903 등의 습윤 분산제를 들 수 있다. 이들 습윤 분산제는, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.The wetting and dispersing agent is not particularly limited so long as it is a dispersion stabilizer used for coating. Specific examples include wet dispersants such as DISPERBYK (registered trademark) -110, 111, 118, 180, 161, BYK (registered trademark) -W996, W9010, W903 manufactured by Big Chem Japan Co., . These wetting and dispersing agents may be used singly or in a mixture of two or more kinds.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 습윤 분산제의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 통상적으로, 수지 조성물 100 질량부에 대하여, 0.1 ∼ 10 질량부이다.In the resin composition of the present embodiment, the content of the wetting and dispersing agent is not particularly limited, but is usually 0.1 to 10 parts by mass based on 100 parts by mass of the resin composition.
<시안산에스테르 화합물, 페놀 수지, 옥세탄 수지, 벤조옥사진 화합물 및 상기 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A) 와 상이한 에폭시 수지로 이루어지는 군에서 선택되는 어느 1 종 이상의 화합물 (G)>At least one compound selected from the group consisting of a cyanate ester compound, a phenol resin, an oxetane resin, a benzoxazine compound, and an epoxy resin different from the biphenylaralkyl type epoxy resin (A) represented by the above (1) G)>
본 실시형태에 사용하는 화합물 (G) (성분 (G) 라고도 칭한다) 는, 성분 (A) 를 사용함으로써 얻어지는 동 도금 밀착성 등에 더하여 수지 조성물이 사용되는 분야에서 요구되는, 경화한 경화물의 난연성, 내열성, 열 팽창 특성 등의 특성에 따라, 다양한 종류의 것을 사용할 수 있다. 예를 들어, 내열성이 요구되는 경우에는, 시안산에스테르 화합물, 벤조옥사진 화합물 등을 들 수 있고, 그 밖에 페놀 수지, 옥세탄 수지 등도 사용할 수 있다. 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A), 광 경화 개시제 (B), 화합물 (C) 및 화합물 (D) 와 함께, 시안산에스테르 화합물을 사용하면, 내열성 (유리 전이 온도), 저열 팽창성, 도금 밀착성 등이 우수한 수지 조성물을 얻을 수 있다. 또한, 시안산에스테르 화합물을 말레이미드 화합물과 병용하면, 도금 밀착성이 보다 우수한 수지 조성물을 얻을 수 있기 때문에, 바람직하다. 상기 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A) 와 함께, 그 에폭시 수지 (A) 와 상이한 에폭시 수지를 사용하면, 특히, 현상성 및 도금 밀착성이 우수한 수지 조성물을 얻을 수 있다.The compound (G) (also referred to as component (G)) to be used in the present embodiment is excellent in flame retardancy, heat resistance and heat resistance of the cured cured product required in the fields where the resin composition is used in addition to the copper plating adhesion property obtained by using the component , Thermal expansion characteristics, and the like. For example, when heat resistance is required, a cyanic acid ester compound, a benzoxazine compound, and the like can be used, and a phenol resin, an oxetane resin, and the like can also be used. (Glass transition temperature), low thermal expansion property, and plating adhesion property can be obtained by using the cyanate ester compound together with the biphenylaralkyl type epoxy resin (A), the photo-curing initiator (B), the compound (C) And the like can be obtained. When a cyanate ester compound is used in combination with a maleimide compound, a resin composition having better plating adhesion can be obtained. When an epoxy resin different from the epoxy resin (A) is used together with the biphenylaralkyl type epoxy resin (A) represented by the above-mentioned (1), a resin composition excellent in developability and plating adhesion can be obtained.
또한, 이들은, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.These may be used singly or in a mixture of two or more kinds.
이하, 이들 화합물 및/또는 수지 (G) 의 상세한 것에 대하여 설명한다.Hereinafter, details of these compounds and / or resin (G) will be described.
<시안산에스테르 화합물><Cyanate ester compound>
시안산에스테르 화합물로는, 시아나토기 (시안산에스테르기) 가 적어도 1 개 치환된 방향족 부분을 분자 내에 갖는 수지이면 특별히 한정되는 것은 아니다.The cyanate ester compound is not particularly limited as long as it is a resin having an aromatic moiety in which at least one cyano group (cyanate ester group) is substituted.
예를 들어 일반식 (9) 로 나타내는 것을 들 수 있다.For example, those represented by the general formula (9).
[화학식 15][Chemical Formula 15]
식 (9) 중, Ar1 은, 벤젠 고리, 나프탈렌 고리 또는 2 개의 벤젠 고리가 단결합한 것을 나타낸다. 복수 있는 경우에는 서로 동일해도 되고 상이해도 된다. Ra 는 각각 독립적으로 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 6 의 알킬기, 탄소수 6 ∼ 12 의 아릴기, 탄소수 1 ∼ 4 의 알콕실기, 탄소수 1 ∼ 6 의 알킬기와 탄소수 6 ∼ 12 의 아릴기가 결합된 기를 나타낸다. Ra 에 있어서의 방향 고리는 치환기를 가지고 있어도 되고, Ar1 및 Ra 에 있어서의 치환기는 임의의 위치를 선택할 수 있다. p 는 Ar1 에 결합하는 시아나토기의 수를 나타내고, 각각 독립적으로 1 ∼ 3 의 정수이다. q 는 Ar1 에 결합하는 Ra 의 수를 나타내고, Ar1 이 벤젠 고리일 때에는 4 - p, 나프탈렌 고리일 때에는 6 - p, 2 개의 벤젠 고리가 단결합한 것일 때에는 8 - p 이다. t 는 평균 반복수를 나타내고, 0 ∼ 50 의 정수이고, 시안산에스테르 화합물은, t 가 상이한 화합물의 혼합물이어도 된다. X 는, 복수 있는 경우에는 각각 독립적으로, 단결합, 탄소수 1 ∼ 50 의 2 가의 유기기 (수소 원자가 헤테로 원자로 치환되어 있어도 된다), 질소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기 (예를 들어 -N-R-N- (여기서 R 은 유기기를 나타낸다)), 카르보닐기 (-CO-), 카르복시기 (-C(=O)O-), 카르보닐디옥사이드기 (-OC(=O)O-), 술포닐기 (-SO2-), 2 가의 황 원자 또는 2 가의 산소 원자의 어느 것을 나타낸다.In the formula (9), Ar 1 represents a benzene ring, a naphthalene ring or two benzene rings bonded together. When there are a plurality of them, they may be the same or different. Ra represents independently a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, an alkoxyl group having 1 to 4 carbon atoms, or an aryl group having 6 to 12 carbon atoms and an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms. The aromatic ring in Ra may have a substituent, and arbitrary positions of substituents in Ar 1 and Ra may be selected. p is the number of cyano or earthenware binding to Ar 1, each independently represent an integer of 1-3. q represents the number of Ra bonded to Ar 1 , and when Ar 1 is a benzene ring, it is 4 - p, when it is a naphthalene ring, it is 6 - p, and when two benzene rings are only bonded, it is 8 - p. t represents an average number of repeats and is an integer of 0 to 50, and the cyanate ester compound may be a mixture of compounds differing in t. X represents a single bond, a divalent organic group having 1 to 50 carbon atoms (hydrogen atom may be substituted with a hetero atom), a divalent organic group having 1 to 10 nitrogen atoms (for example, -NRN - (wherein R represents an organic group), a carbonyl group (-CO-), a carboxy group (-C (= O) O-), a carbonyldioxide group (-OC 2 -), a divalent sulfur atom or a divalent oxygen atom.
일반식 (9) 의 Ra 에 있어서의 알킬기는, 직사슬 혹은 분기의 사슬형 구조, 및, 고리형 구조 (예를 들어 시클로알킬기 등) 의 어느 것을 가지고 있어도 된다.The alkyl group in Ra in the general formula (9) may have a linear or branched chain structure and a cyclic structure (for example, a cycloalkyl group or the like).
또한, 일반식 (9) 에 있어서의 알킬기 및 Ra 에 있어서의 아릴기 중의 수소 원자는, 불소 원자, 염소 원자 등의 할로겐 원자, 메톡시기, 페녹시기 등의 알콕실기, 또는 시아노기 등으로 치환되어 있어도 된다.The alkyl group in the general formula (9) and the hydrogen atom in the aryl group in Ra are substituted with a halogen atom such as a fluorine atom or a chlorine atom, an alkoxyl group such as a methoxy group or a phenoxy group, a cyano group or the like .
알킬기의 구체예로는, 메틸기, 에틸기, 프로필기, 이소프로필기, n-부틸기, 이소부틸기, tert-부틸기, n-펜틸기, 1-에틸프로필기, 2,2-디메틸프로필기, 시클로펜틸기, 헥실기, 시클로헥실기, 및 트리플루오로메틸기 등을 들 수 있다.Specific examples of the alkyl group include a methyl group, an ethyl group, a propyl group, an isopropyl group, an n-butyl group, an isobutyl group, a tert-butyl group, , A cyclopentyl group, a hexyl group, a cyclohexyl group, and a trifluoromethyl group.
아릴기의 구체예로는, 페닐기, 자일릴기, 메시틸기, 나프틸기, 페녹시페닐기, 에틸페닐기, o-, m- 또는 p-플루오로페닐기, 디클로로페닐기, 디시아노페닐기, 트리플루오로페닐기, 메톡시페닐기, 및 o-, m- 또는 p-톨릴기 등을 들 수 있다. 또한 알콕실기로는, 예를 들어, 메톡시기, 에톡시기, 프로폭시기, 이소프로폭시기, n-부톡시기, 이소부톡시기, 및 tert-부톡시기 등을 들 수 있다.Specific examples of the aryl group include a phenyl group, a xylyl group, a mesityl group, a naphthyl group, a phenoxyphenyl group, an ethylphenyl group, an o-, m- or p-fluorophenyl group, a dichlorophenyl group, a dicyanophenyl group, A methoxyphenyl group, and an o-, m- or p-tolyl group. Examples of the alkoxyl group include a methoxy group, an ethoxy group, a propoxy group, an isopropoxy group, an n-butoxy group, an isobutoxy group and a tert-butoxy group.
일반식 (9) 의 X 에 있어서의 탄소수 1 ∼ 50 의 2 가의 유기기의 구체예로는, 메틸렌기, 에틸렌기, 트리메틸렌기, 시클로펜틸렌기, 시클로헥실렌기, 트리메틸시클로헥실렌기, 비페닐일메틸렌기, 디메틸메틸렌-페닐렌-디메틸메틸렌기, 플루오렌디일기, 및 프탈리드디일기 등을 들 수 있다. 그 2 가의 유기기 중의 수소 원자는, 불소 원자, 염소 원자 등의 할로겐 원자, 메톡시기, 페녹시기 등의 알콕실기, 시아노기 등으로 치환되어 있어도 된다.Specific examples of the divalent organic group having 1 to 50 carbon atoms represented by X in the general formula (9) include a methylene group, an ethylene group, a trimethylene group, a cyclopentylene group, a cyclohexylene group, a trimethylcyclohexylene group, A biphenylmethylene group, a dimethylmethylene-phenylene-dimethylmethylene group, a fluorenediyl group, and a phthalidyl group. The hydrogen atom in the divalent organic group may be substituted with a halogen atom such as a fluorine atom or a chlorine atom, an alkoxyl group such as a methoxy group or a phenoxy group, or a cyano group.
일반식 (9) 의 X 에 있어서의 질소수 1 ∼ 10 의 2 가의 유기기로는, 이미노기, 폴리이미드기 등을 들 수 있다.Examples of the divalent organic group having 1 to 10 nitrogen atoms in X in the general formula (9) include an imino group and a polyimide group.
또한, 일반식 (9) 중의 X 의 유기기로서, 예를 들어, 하기 일반식 (10) 또는 하기 일반식 (11) 로 나타내는 구조인 것을 들 수 있다.Examples of the organic group represented by X in the general formula (9) include those represented by the general formula (10) or the general formula (11) shown below.
[화학식 16][Chemical Formula 16]
식 (10) 중, Ar2 는 벤젠테트라일기, 나프탈렌테트라일기 또는 비페닐테트라일기를 나타내고, u 가 2 이상인 경우, 서로 동일해도 되고 상이해도 된다. Rb, Rc, Rf, 및 Rg 는 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 6 의 알킬기, 탄소수 6 ∼ 12 의 아릴기, 트리플루오로메틸기, 또는 페놀성 하이드록시기를 적어도 1 개 갖는 아릴기를 나타낸다. Rd 및, Re 는 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 6 의 알킬기, 탄소수 6 ∼ 12 의 아릴기, 탄소수 1 ∼ 4 의 알콕실기, 또는 하이드록시기의 어느 1 종에서 선택된다. u 는 0 ∼ 5 의 정수를 나타낸다.In the formula (10), Ar 2 represents a benzenetetrayl group, a naphthalenetetrayl group or a biphenyltetrayl group, and when u is 2 or more, they may be the same or different. Rb, Rc, Rf and Rg each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, a trifluoromethyl group, or an aryl group having at least one phenolic hydroxy group. Rd and Re are each independently selected from a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, an alkoxyl group having 1 to 4 carbon atoms, or a hydroxyl group. u represents an integer of 0 to 5;
[화학식 17][Chemical Formula 17]
식 (11) 중, Ar3 은 벤젠테트라일기, 나프탈렌테트라일기 또는 비페닐테트라일기를 나타내고, v 가 2 이상인 경우, 서로 동일해도 되고 상이해도 된다. Ri, 및 Rj 는 각각 독립적으로, 수소 원자, 탄소수 1 ∼ 6 의 알킬기, 탄소수 6 ∼ 12 의 아릴기, 벤질기, 탄소수 1 ∼ 4 의 알콕실기, 하이드록시기, 트리플루오로메틸기, 또는 시아나토기가 적어도 1 개 치환된 아릴기를 나타낸다. v 는 0 ∼ 5 의 정수를 나타내지만, v 가 상이한 화합물의 혼합물이어도 된다.In the formula (11), Ar 3 represents a benzenetetrayl group, a naphthalenetetrayl group or a biphenyltetrayl group, and when v is 2 or more, they may be the same or different. Ri and Rj each independently represent a hydrogen atom, an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms, an aryl group having 6 to 12 carbon atoms, a benzyl group, an alkoxyl group having 1 to 4 carbon atoms, a hydroxyl group, a trifluoromethyl group, Represents an aryl group substituted with at least one substituent. v represents an integer of 0 to 5, but may be a mixture of compounds in which v is different.
또한, 일반식 (9) 중의 X 로는, 하기 식으로 나타내는 2 가의 기를 들 수 있다.As X in the general formula (9), a divalent group represented by the following formula may be mentioned.
[화학식 18][Chemical Formula 18]
여기서 식 중, z 는 4 ∼ 7 의 정수를 나타낸다. Rk 는 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 탄소수 1 ∼ 6 의 알킬기를 나타낸다.Here, z represents an integer of 4 to 7. Rk each independently represents a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 6 carbon atoms.
일반식 (10) 의 Ar2 및 일반식 (11) 의 Ar3 의 구체예로는, 일반식 (10) 에 나타내는 2 개의 탄소 원자, 또는 일반식 (11) 에 나타내는 2 개의 산소 원자가, 1,4 위치 또는 1,3 위치에 결합하는 벤젠테트라일기, 상기 2 개의 탄소 원자 또는 2 개의 산소 원자가 4,4' 위치, 2,4' 위치, 2,2' 위치, 2,3' 위치, 3,3' 위치, 또는 3,4' 위치에 결합하는 비페닐테트라일기, 및, 상기 2 개의 탄소 원자 또는 2 개의 산소 원자가, 2,6 위치, 1,5 위치, 1,6 위치, 1,8 위치, 1,3 위치, 1,4 위치, 또는 2,7 위치에 결합하는 나프탈렌테트라일기를 들 수 있다.Specific examples of Ar 2 in the general formula (10) and Ar 3 in the general formula (11) are those wherein two carbon atoms represented by the general formula (10) or two oxygen atoms represented by the general formula (11) A benzene tetrayl group bonded to the 4-position or the 1,3-position, the above-mentioned two carbon atoms or two oxygen atoms are bonded at the 4,4 'position, the 2,4' position, the 2,2 ' A biphenyltetrayl group which is bonded at the 3 'position or the 3,4' position, and the two carbon atoms or two oxygen atoms are bonded at the 2,6 position, 1,5 position, 1,6 position, 1,8 position , A 1,3-position, a 1,4-position, or a 2,7-position naphthalenetetrayl group.
일반식 (10) 의 Rb, Rc, Rd, Re, Rf 및 Rg, 그리고 일반식 (11) 의 Ri, Rj 에 있어서의 알킬기 및 아릴기는, 상기 일반식 (9) 에 있어서의 것과 동일한 의미이다.The alkyl group and the aryl group in Rb, Rc, Rd, Re, Rf and Rg in the general formula (10) and Ri and Rj in the general formula (11) have the same meanings as in the general formula (9).
상기 일반식 (9) 로 나타내는 시아나토 치환 방향족 화합물의 구체예로는, 시아나토벤젠, 1-시아나토-2-, 1-시아나토-3-, 또는 1-시아나토-4-메틸벤젠, 1-시아나토-2-, 1-시아나토-3-, 또는 1-시아나토-4-메톡시벤젠, 1-시아나토-2,3-, 1-시아나토-2,4-, 1-시아나토-2,5-, 1-시아나토-2,6-, 1-시아나토-3,4- 또는 1-시아나토-3,5-디메틸벤젠, 시아나토에틸벤젠, 시아나토부틸벤젠, 시아나토옥틸벤젠, 시아나토노닐벤젠, 2-(4-시아나토페닐)-2-페닐프로판(4-α-쿠밀페닐의 시아네이트), 1-시아나토-4-시클로헥실벤젠, 1-시아나토-4-비닐벤젠, 1-시아나토-2- 또는 1-시아나토-3-클로로벤젠, 1-시아나토-2,6-디클로로벤젠, 1-시아나토-2-메틸-3-클로로벤젠, 시아나토니트로벤젠, 1-시아나토-4-니트로-2-에틸벤젠, 1-시아나토-2-메톡시-4-알릴벤젠 (오이게놀의 시아네이트), 메틸(4-시아나토페닐)술파이드, 1-시아나토-3-트리플루오로메틸벤젠, 4-시아나토비페닐, 1-시아나토-2- 또는 1-시아나토-4-아세틸벤젠, 4-시아나토벤즈알데히드, 4-시아나토벤조산메틸에스테르, 4-시아나토벤조산페닐에스테르, 1-시아나토-4-아세트아미노벤젠, 4-시아나토벤조페논, 1-시아나토-2,6-디-tert-부틸벤젠, 1,2-디시아나토벤젠, 1,3-디시아나토벤젠, 1,4-디시아나토벤젠, 1,4-디시아나토-2-tert-부틸벤젠, 1,4-디시아나토-2,4-디메틸벤젠, 1,4-디시아나토-2,3,4-디메틸벤젠, 1,3-디시아나토-2,4,6-트리메틸벤젠, 1,3-디시아나토-5-메틸벤젠, 1-시아나토 또는 2-시아나토나프탈렌, 1-시아나토-4-메톡시나프탈렌, 2-시아나토-6-메틸나프탈렌, 2-시아나토-7-메톡시나프탈렌, 2,2'-디시아나토-1,1'-비나프틸, 1,3-, 1,4-, 1,5-, 1,6-, 1,7-, 2,3-, 2,6- 또는 2,7-디시아나토비나프탈렌, 2,2'- 또는 4,4'-디시아나토비페닐, 4,4'-디시아나토옥타플루오로비페닐, 2,4'- 또는 4,4'-디시아나토디페닐메탄, 비스(4-시아나토-3,5-디메틸페닐)메탄, 1,1-비스(4-시아나토페닐)에탄, 1,1-비스(4-시아나토페닐)프로판, 2,2-비스(4-시아나토페닐)프로판, 2,2-비스(4-시아나토-3-메틸페닐)프로판, 2,2-비스(2-시아나토-5-비페닐일)프로판, 2,2-비스(4-시아나토페닐)헥사플루오로프로판, 2,2-비스(4-시아나토-3,5-디메틸페닐)프로판, 1,1-비스(4-시아나토페닐)부탄, 1,1-비스(4-시아나토페닐)이소부탄, 1,1-비스(4-시아나토페닐)펜탄, 1,1-비스(4-시아나토페닐)-3-메틸부탄, 1,1-비스(4-시아나토페닐)-2-메틸부탄, 1,1-비스(4-시아나토페닐)-2,2-디메틸프로판, 2,2-비스(4-시아나토페닐)부탄, 2,2-비스(4-시아나토페닐)펜탄, 2,2-비스(4-시아나토페닐)헥산, 2,2-비스(4-시아나토페닐)-3-메틸부탄, 2,2-비스(4-시아나토페닐)-4-메틸펜탄, 2,2-비스(4-시아나토페닐)-3,3-디메틸부탄, 3,3-비스(4-시아나토페닐)헥산, 3,3-비스(4-시아나토페닐)헵탄, 3,3-비스(4-시아나토페닐)옥탄, 3,3-비스(4-시아나토페닐)-2-메틸펜탄, 3,3-비스(4-시아나토페닐)-2-메틸헥산, 3,3-비스(4-시아나토페닐)-2,2-디메틸펜탄, 4,4-비스(4-시아나토페닐)-3-메틸헵탄, 3,3-비스(4-시아나토페닐)-2-메틸헵탄, 3,3-비스(4-시아나토페닐)-2,2-디메틸헥산, 3,3-비스(4-시아나토페닐)-2,4-디메틸헥산, 3,3-비스(4-시아나토페닐)-2,2,4-트리메틸펜탄, 2,2-비스(4-시아나토페닐)-1,1,1,3,3,3-헥사플루오로프로판, 비스(4-시아나토페닐)페닐메탄, 1,1-비스(4-시아나토페닐)-1-페닐에탄, 비스(4-시아나토페닐)비페닐메탄, 1,1-비스(4-시아나토페닐)시클로펜탄, 1,1-비스(4-시아나토페닐)시클로헥산, 2,2-비스(4-시아나토-3-이소프로필페닐)프로판, 1,1-비스(3-시클로헥실-4-시아나토페닐)시클로헥산, 비스(4-시아나토페닐)디페닐메탄, 비스(4-시아나토페닐)-2,2-디클로로에틸렌, 1,3-비스[2-(4-시아나토페닐)-2-프로필]벤젠, 1,4-비스[2-(4-시아나토페닐)-2-프로필]벤젠, 1,1-비스(4-시아나토페닐)-3,3,5-트리메틸시클로헥산, 4-[비스(4-시아나토페닐)메틸]비페닐, 4,4-디시아나토벤조페논, 1,3-비스(4-시아나토페닐)-2-프로펜-1-온, 비스(4-시아나토페닐)에테르, 비스(4-시아나토페닐)술파이드, 비스(4-시아나토페닐)술폰, 4-시아나토벤조산-4-시아나토페닐에스테르(4-시아나토페닐-4-시아나토벤조에이트), 비스-(4-시아나토페닐)카보네이트, 1,3-비스(4-시아나토페닐)아다만탄, 1,3-비스(4-시아나토페닐)-5,7-디메틸아다만탄, 3,3-비스(4-시아나토페닐)이소벤조푸란-1(3H)-온 (페놀프탈레인의 시아네이트), 3,3-비스(4-시아나토-3-메틸페닐)이소벤조푸란-1(3H)-온 (o-크레졸프탈레인의 시아네이트), 9,9'-비스(4-시아나토페닐)플루오렌, 9,9-비스(4-시아나토-3-메틸페닐)플루오렌, 9,9-비스(2-시아나토-5-비페닐일)플루오렌, 트리스(4-시아나토페닐)메탄, 1,1,1-트리스(4-시아나토페닐)에탄, 1,1,3-트리스(4-시아나토페닐)프로판, α,α,α'-트리스(4-시아나토페닐)-1-에틸-4-이소프로필벤젠, 1,1,2,2-테트라키스(4-시아나토페닐)에탄, 테트라키스(4-시아나토페닐)메탄, 2,4,6-트리스(N-메틸-4-시아나토아닐리노)-1,3,5-트리아진, 2,4-비스(N-메틸-4-시아나토아닐리노)-6-(N-메틸아닐리노)-1,3,5-트리아진, 비스(N-4-시아나토-2-메틸페닐)-4,4'-옥시디프탈이미드, 비스(N-3-시아나토-4-메틸페닐)-4,4'-옥시디프탈이미드, 비스(N-4-시아나토페닐)-4,4'-옥시디프탈이미드, 비스(N-4-시아나토-2-메틸페닐)-4,4'-(헥사플루오로이소프로필리덴)디프탈이미드, 트리스(3,5-디메틸-4-시아나토벤질)이소시아누레이트, 2-페닐-3,3-비스(4-시아나토페닐)프탈이미딘, 2-(4-메틸페닐)-3,3-비스(4-시아나토페닐)프탈이미딘, 2-페닐-3,3-비스(4-시아나토-3-메틸페닐)프탈이미딘, 1-메틸-3,3-비스(4-시아나토페닐)인돌린-2-온, 및, 2-페닐-3,3-비스(4-시아나토페닐)인돌린-2-온을 들 수 있다.Specific examples of the cyanato-substituted aromatic compound represented by the general formula (9) include cyanato benzene, 1-cyanato-2-, 1-cyanato- 1-cyanato-2-, 1- cyanato-3-, or 1- cyanato-4-methoxybenzene, 1- cyanato- Cyanato-2,6-, 1-cyanato-3,4- or 1-cyanato-3,5-dimethylbenzene, cyanatoethylbenzene, cyanatobutylbenzene, (4-cyanophenyl) -2-phenylpropane (cyanate of 4-a-cumylphenyl), 1-cyanato-4-cyclohexylbenzene, 1- 4-vinylbenzene, 1-cyanato-2- or 1-cyanato-3-chlorobenzene, 1-cyanato-2,6-dichlorobenzene, 1-cyanato- Benzene, cyanato nitrobenzene, 1-cyanato-4-nitro-2-ethylbenzene, 1-cyanato-2-methoxy-4-allylbenzene (cyanate of augenol) Phenyl) sulphate Cyanatobenzaldehyde, 4-cyanatobenzaldehyde, 4-cyanatobenzaldehyde, 4-cyanatobenzaldehyde, Cyanatobenzoic acid phenyl ester, 1-cyanato-4-acetaminobenzene, 4-cyanatobenzophenone, 1-cyanato-2,6-di-tert- Dianatobenzene, 1,3-dicyanatobenzene, 1,4-dicyanatobenzene, 1,4-dicyanato-2-tert-butylbenzene, 1,4- Dimethylbenzene, 1,4-dicyanato-2,3,4-dimethylbenzene, 1,3-dicyanato-2,4,6-trimethylbenzene, 1,3-dicyano- 4-methoxynaphthalene, 2-cyanato-6-methylnaphthalene, 2-cyanato-7-methoxynaphthalene, 2,2'-dicyano 1,1'-binaphthyl, 1,3-, 1,4-, 1,5-, 1,6-, 1,7-, 2,3-, 2,6- or 2,7- Dicyanatobinaphthalene, 2,2'- or 4,4'-dicyanatobiphenyl, 4, (4-cyanato-3,5-dimethylphenyl) methane, 1,1-bis (4-cyanato-3,5-dimethylphenyl) Bis (4-cyanatophenyl) propane, 2,2-bis (4-cyanato-3-methylphenyl) Bis (4-cyanatophenyl) hexafluoropropane, 2,2-bis (4-cyanato- Bis (4-cyanatophenyl) butane, 1,1-bis (4-cyanatophenyl) isobutane, 1,1- Bis (4-cyanatophenyl) -3-methylbutane, 1,1-bis (4-cyanatophenyl) Bis (4-cyanatophenyl) pentane, 2,2-bis (4-cyanatophenyl) pentane, 2,2- Bis (4-cyanatophenyl) -3-methylbutane, 2,2-bis (4-cyanatophenyl) Bis (4-cyanatophenyl) hexane, 3,3-bis (4-cyanatophenyl) heptane, 3,3-bis Bis (4-cyanatophenyl) -2-methylhexane, 3,3-bis (4-cyanatophenyl) 4-cyanatophenyl) -3-methylheptane, 3,3-bis (4-cyanatophenyl) -2-methylheptane, Bis (4-cyanatophenyl) -2,2-dimethylhexane, 3,3-bis (4-cyanatophenyl) Phenyl) -2,2,4-trimethylpentane, 2,2-bis (4-cyanatophenyl) -1,1,1,3,3,3-hexafluoropropane, bis (4-cyanatophenyl) Bis (4-cyanatophenyl) cyclopentane, 1,1-bis (4-cyanatophenyl) 1-bis (4-cyanatophenyl) cyclohexane, 2,2-bis (4-cyanato-3-isopropylphenyl) propane, (4-cyanatophenyl) diphenylmethane, bis (4-cyanatophenyl) -2,2-dichloroethylene, 1,3-bis [2- Propyl] benzene, 1,1-bis (4-cyanatophenyl) -3,3,5-trimethylcyclohexane, Bis (4-cyanatophenyl) methyl] biphenyl, 4,4-dicyanatobenzophenone, 1,3-bis (4-cyanatophenyl) Cyanatophenyl) sulfone, 4-cyanatobenzoic acid-4-cyanatophenyl ester (4-cyanatophenyl) sulfide, bis Bis (4-cyanatophenyl) carbonate, 1,3-bis (4-cyanatophenyl) adamantane, 1,3- (4-cyanatophenyl) isobenzofuran-1 (3H) -one (cyanate of phenolphthalein), 3,3-bis (4-cyanato- Benzofuran-1 (3H) -one (o-cresol (4-cyanatophenyl) fluorene, 9,9-bis (4-cyanato-3-methylphenyl) fluorene, 9,9-bis (4-cyanatophenyl) methane, 1,1,1-tris (4-cyanatophenyl) ethane, 1,1,3-tris (4-cyanatophenyl) ) Propane, α, α, α'-tris (4-cyanatophenyl) -1-ethyl-4-isopropylbenzene, 1,1,2,2-tetrakis (4-cyanatophenyl) methane, 2,4,6-tris (N-methyl-4-cyanatoanilino) Cyanato anilino) -6- (N-methylanilino) -1,3,5-triazine, bis (N-4-cyanato-2-methylphenyl) -4,4'- Bis (N-3-cyanato-4-methylphenyl) -4,4'-oxydipallimide, bis -4-cyanato-2-methylphenyl) -4,4 '- (hexafluoroisopropylidene) diphthalimide, tris (3,5- (4-cyanatophenyl) phthalimidine, 2- (4-methylphenyl) -3,3-bis (4-cyanatophenyl) phthalate Phenyl-3,3-bis (4-cyanato-3-methylphenyl) phthalimidine, 1-methyl-3,3-bis (4-cyanatophenyl) indolin- , 2-phenyl-3,3-bis (4-cyanatophenyl) indolin-2-one.
이들 시안산에스테르 화합물은, 1 종 단독 또는 2 종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.These cyanate ester compounds may be used singly or in combination of two or more.
또한, 상기 일반식 (9) 로 나타내는 시안산에스테르 화합물의 다른 구체예로는, 페놀 노볼락 수지 및 크레졸 노볼락 수지 (공지된 방법에 의해, 페놀, 알킬 치환 페놀 또는 할로겐 치환 페놀과, 포르말린이나 파라포름알데히드 등의 포름알데히드 화합물을, 산성 용액 중에서 반응시킨 것), 트리스페놀노볼락 수지 (하이드록시벤즈알데히드와 페놀을 산성 촉매의 존재하에 반응시킨 것), 플루오렌노볼락 수지 (플루오레논 화합물과 9,9-비스(하이드록시아릴)플루오렌류를 산성 촉매의 존재하에 반응시킨 것), 페놀아르알킬 수지, 크레졸아르알킬 수지, 나프톨아르알킬 수지 및 비페닐아르알킬 수지 (공지된 방법에 의해, Ar4-(CH2Y)2 (Ar4 는 페닐기를 나타내고, Y 는 할로겐 원자를 나타낸다. 이하, 이 단락에 있어서 동일) 로 나타내는 것과 같은 비스할로게노메틸 화합물과 페놀 화합물을 산성 촉매 혹은 무촉매로 반응시킨 것, Ar4-(CH2OR)2 로 나타내는 것과 같은 비스(알콕시메틸) 화합물과 페놀 화합물을 산성 촉매의 존재하에 반응시킨 것, 또는, Ar4-(CH2OH)2 로 나타내는 것과 같은 비스(하이드록시메틸) 화합물과 페놀 화합물을 산성 촉매의 존재하에 반응시킨 것, 혹은, 방향족 알데히드 화합물과 아르알킬 화합물과 페놀 화합물을 중축합시킨 것), 페놀 변성 자일렌포름알데히드 수지 (공지된 방법에 의해, 자일렌포름알데히드 수지와 페놀 화합물을 산성 촉매의 존재하에 반응시킨 것), 변성 나프탈렌포름알데히드 수지 (공지된 방법에 의해, 나프탈렌포름알데히드 수지와 하이드록시 치환 방향족 화합물을 산성 촉매의 존재하에 반응시킨 것), 페놀 변성 디시클로펜타디엔 수지, 폴리나프틸렌에테르 구조를 갖는 페놀 수지 (공지된 방법에 의해, 페놀성 하이드록시기를 1 분자 중에 2 개 이상 갖는 다가 하이드록시나프탈렌 화합물을, 염기성 촉매의 존재하에 탈수 축합시킨 것) 등의 페놀 수지를, 상기 서술과 동일한 방법에 의해 시아네이트화한 것 등, 그리고 이들의 프리 폴리머 등을 들 수 있다. 이들은, 특별히 제한되는 것은 아니다. 이들 시안산에스테르 화합물은, 1 종 단독 또는 2 종 이상 혼합하여 사용할 수 있다.Other examples of the cyanic acid ester compound represented by the general formula (9) include phenol novolac resins and cresol novolak resins (phenol, alkyl-substituted phenol or halogen-substituted phenol, (Obtained by reacting a formaldehyde compound such as paraformaldehyde in an acidic solution), a trisphenol novolac resin (obtained by reacting hydroxybenzaldehyde with phenol in the presence of an acid catalyst), a fluoren novolac resin A phenol aralkyl resin, a cresol aralkyl resin, a naphthol aralkyl resin and a biphenyl aralkyl resin (obtained by reacting 9,9-bis (hydroxyaryl) fluorenes in the presence of an acidic catalyst) , Ar 4 - (CH 2 Y) 2 (Ar 4 represents a phenyl group and Y represents a halogen atom, hereinafter the same in this paragraph) Reacting a methyl compound with a phenol compound with an acidic catalyst or without a catalyst, reacting a bis (alkoxymethyl) compound represented by Ar 4 - (CH 2 OR) 2 with a phenol compound in the presence of an acidic catalyst, (Hydroxymethyl) compound represented by Ar 4 - (CH 2 OH) 2 and a phenol compound in the presence of an acidic catalyst, or an aromatic aldehyde compound, an aralkyl compound and a phenol compound ), A phenol-modified xylene formaldehyde resin (obtained by reacting a xylene formaldehyde resin with a phenol compound in the presence of an acid catalyst by a known method), a modified naphthalene formaldehyde resin (obtained by reacting naphthalene formaldehyde A resin obtained by reacting a resin and a hydroxy-substituted aromatic compound in the presence of an acidic catalyst), a phenol-modified dicyclopentadiene resin, a polynaphthylene ether (A polyhydric hydroxy naphthalene compound having two or more phenolic hydroxy groups in one molecule by a known method, which has been dehydrated and condensed in the presence of a basic catalyst) can be used in the same manner as the above description And the like, and prepolymers thereof, and the like. These are not particularly limited. These cyanate ester compounds may be used singly or in combination of two or more.
이 중에서도, 페놀 노볼락형 시안산에스테르 화합물, 나프톨아르알킬형 시안산에스테르 화합물, 비페닐아르알킬형 시안산에스테르 화합물, 나프틸렌에테르형 시안산에스테르 화합물, 자일렌 수지형 시안산에스테르 화합물, 아다만탄 골격형 시안산에스테르 화합물이 바람직하고, 나프톨아르알킬형 시안산에스테르 화합물이, 우수한 내열성을 유지하면서, 우수한 도금 밀착성이 얻어지는 점에서, 특히 바람직하다.Among them, a phenol novolak type cyanic acid ester compound, a naphthol aralkyl type cyanic acid ester compound, a biphenyl aralkyl type cyanic acid ester compound, a naphthylene ether type cyanic acid ester compound, a xylene type cyanic acid ester compound, But a skeleton-type cyanate ester compound is preferable, and a naphthol aralkyl-type cyanate ester compound is particularly preferable in that excellent plating adhesion can be obtained while maintaining excellent heat resistance.
이들 시안산에스테르 화합물의 제조 방법으로는, 특별히 한정되지 않고, 공지된 방법을 사용할 수 있다. 이러한 제법의 예로는, 원하는 골격을 갖는 하이드록시기 함유 화합물을 입수 또는 합성하고, 당해 하이드록시기를 공지된 수법에 의해 수식하여 시아네이트화하는 방법을 들 수 있다. 하이드록시기를 시아네이트화하는 수법으로는, 예를 들어, Ian Hamerton, "Chemistry and Technology of Cyanate Ester Resins," Blackie Academic & Professional 에 기재된 수법을 들 수 있다.The method for producing these cyanate ester compounds is not particularly limited, and known methods can be used. An example of such a production method is a method of obtaining or synthesizing a hydroxy group-containing compound having a desired skeleton and modifying the hydroxy group by a known method to cyanate. As a method for cyanating a hydroxy group, for example, the method described in Ian Hamerton, " Chemistry and Technology of Cyanate Ester Resins, " Blackie Academic & Professional.
이들 시안산에스테르 화합물을 사용한 수지 경화물은, 유리 전이 온도, 저열 팽창성, 도금 밀착성 등이 우수한 특성을 갖는다.The resin cured products using these cyanate ester compounds have excellent properties such as glass transition temperature, low thermal expansion property, and plating adhesion.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 시안산에스테르 화합물의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 보다 우수한 도금 밀착성 및 내열성이 얻어진다는 관점에서, 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 바람직하게는 0.01 질량부 ∼ 50 질량부이고, 보다 바람직하게는 0.05 질량부 ∼ 40 질량부이고, 더욱 바람직하게는 0.1 질량부 ∼ 20 질량부이고, 더욱 보다 바람직하게는 0.2 질량부 ∼ 5 질량부이다.In the resin composition of the present embodiment, the content of the cyanate ester compound is not particularly limited, but is preferably 0.01 part by mass to 50 parts by mass, based on 100 parts by mass of the resin solid content, from the viewpoint of obtaining better plating adhesion and heat resistance. More preferably 0.05 parts by mass to 40 parts by mass, still more preferably 0.1 parts by mass to 20 parts by mass, still more preferably 0.2 parts by mass to 5 parts by mass.
<페놀 수지><Phenolic resin>
페놀 수지로는, 1 분자 중에 2 개 이상의 하이드록실기를 갖는 페놀 수지이면, 일반적으로 공지된 것을 사용할 수 있다. 예를 들어, 비스페놀 A 형 페놀 수지, 비스페놀 E 형 페놀 수지, 비스페놀 F 형 페놀 수지, 비스페놀 S 형 페놀 수지, 페놀노볼락 수지, 비스페놀 A 노볼락형 페놀 수지, 글리시딜에스테르형 페놀 수지, 아르알킬노볼락형 페놀 수지, 비페닐아르알킬형 페놀 수지, 크레졸 노볼락형 페놀 수지, 다관능 페놀 수지, 나프톨 수지, 나프톨 노볼락 수지, 다관능 나프톨 수지, 안트라센형 페놀 수지, 나프탈렌 골격 변성 노볼락형 페놀 수지, 페놀아르알킬형 페놀 수지, 나프톨아르알킬형 페놀 수지, 디시클로펜타디엔형 페놀 수지, 비페닐형 페놀 수지, 지환식 페놀 수지, 폴리올형 페놀 수지, 인 함유 페놀 수지, 중합성 불포화 탄화수소기 함유 페놀 수지 및 수산기 함유 실리콘 수지류 등을 들 수 있지만, 특별히 제한되는 것은 아니다. 이들 페놀 수지 중에서는, 비페닐아르알킬형 페놀 수지, 나프톨아르알킬형 페놀 수지, 인 함유 페놀 수지, 수산기 함유 실리콘 수지가 난연성의 점에서 바람직하다. 이들 페놀 수지는, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.As the phenol resin, a generally known one can be used as long as it is a phenol resin having at least two hydroxyl groups in one molecule. For example, there may be mentioned bisphenol A type phenol resin, bisphenol E type phenol resin, bisphenol F type phenol resin, bisphenol S type phenol resin, phenol novolak resin, bisphenol A novolak type phenol resin, glycidyl ester type phenol resin, Naphthalene novolak resins, polyfunctional naphthol resins, anthracene-type phenol resins, naphthalene skeleton-modified novolacs, naphthalene skeleton-modified phenolic resins, Type phenol resin, phenol aralkyl type phenol resin, naphthol aralkyl type phenol resin, dicyclopentadiene type phenol resin, biphenyl type phenol resin, alicyclic phenol resin, polyol type phenol resin, phosphorus containing phenol resin, A hydrocarbon group-containing phenol resin, and a hydroxyl group-containing silicone resin. However, the present invention is not limited thereto. Among these phenol resins, a biphenylaralkyl type phenol resin, a naphthol aralkyl type phenol resin, a phosphorus containing phenol resin and a hydroxyl group containing silicone resin are preferable in view of flame retardancy. These phenol resins may be used singly or in a mixture of two or more.
페놀 수지의 함유량은, 특별히 제한되지 않고, 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 바람직하게는 0.1 질량부 ∼ 50 질량부이고, 보다 바람직하게는 0.2 질량부 ∼ 45 질량부이다. 페놀 수지의 함유량이 상기 범위 내임으로써, 내열성이 보다 향상되는 경향이 있다.The content of the phenol resin is not particularly limited and is preferably 0.1 part by mass to 50 parts by mass, more preferably 0.2 part by mass to 45 parts by mass, based on 100 parts by mass of the resin solid content. When the content of the phenol resin is within the above range, the heat resistance tends to be further improved.
<옥세탄 수지><Oxetane Resin>
옥세탄 수지로는, 일반적으로 공지된 것을 사용할 수 있다. 예를 들어, 옥세탄, 2-메틸옥세탄, 2,2-디메틸옥세탄, 3-메틸옥세탄, 3,3-디메틸옥세탄 등의 알킬옥세탄, 3-메틸-3-메톡시메틸옥세탄, 3,3-디(트리플루오로메틸)퍼플루옥세탄, 2-클로로메틸옥세탄, 3,3-비스(클로로메틸)옥세탄, 비페닐형 옥세탄, OXT-101 (토아 합성 제조, 상품명), OXT-121 (토아 합성 제조, 상품명) 등을 들 수 있지만, 특별히 제한되는 것은 아니다. 이들은, 1 종 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.As the oxetane resin, generally known ones can be used. For example, alkyloxetanes such as oxetane, 2-methyloxetane, 2,2-dimethyloxetane, 3-methyloxetane and 3,3-dimethyloxetane, 3-methyl- Cetane, 3,3-di (trifluoromethyl) perfluoroctane, 2-chloromethyloxetane, 3,3-bis (chloromethyl) oxetane, biphenyl type oxetane, OXT- (Trade name), OXT-121 (trade name, manufactured by TOA Corporation), and the like. These may be used alone or in combination of two or more.
옥세탄 수지의 함유량은, 특별히 제한되지 않고, 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 바람직하게는 0.1 질량부 ∼ 50 질량부이고, 보다 바람직하게는 0.2 질량부 ∼ 45 질량부이다. 옥세탄 수지의 함유량이 상기 범위 내임으로써, 내열성이 보다 향상되는 경향이 있다.The content of the oxetane resin is not particularly limited and is preferably 0.1 part by mass to 50 parts by mass, more preferably 0.2 parts by mass to 45 parts by mass, based on 100 parts by mass of the resin solid content. When the content of the oxetane resin is within the above range, the heat resistance tends to be further improved.
<벤조옥사진 화합물><Benzoxazine Photographic Compound>
벤조옥사진 화합물로는, 1 분자 중에 2 개 이상의 디하이드로벤조옥사진 고리를 갖는 화합물이면, 일반적으로 공지된 것을 사용할 수 있다. 예를 들어, 비스페놀 A 형 벤조옥사진 BA-BXZ (코니시 화학 제조, 상품명) 비스페놀 F 형 벤조옥사진 BF-BXZ (코니시 화학 제조, 상품명), 비스페놀 S 형 벤조옥사진 BS-BXZ (코니시 화학 제조, 상품명), 페놀프탈레인형 벤조옥사진 등을 들 수 있지만, 특별히 제한되는 것은 아니다. 이들은, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.As the benzoxazine compound, any compound having two or more dihydrobenzoxazine rings in a molecule may be used. For example, bisphenol A type benzoxazine BA-BXZ (manufactured by Konishi Chemical Co., Ltd.) bisphenol F type benzoxazine BF-BXZ (manufactured by Konishi Chemical Co., Ltd.), bisphenol S type benzoxazine BS-BXZ , Trade name), phenolphthalein type benzoxazine, and the like, but there is no particular limitation. These may be used singly or in a mixture of two or more.
벤조옥사진 화합물의 함유량은, 특별히 제한되지 않고, 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 바람직하게는 0.1 질량부 ∼ 50 질량부이고, 보다 바람직하게는 0.2 질량부 ∼ 45 질량부이다. 벤조옥사진 화합물의 함유량이 상기 범위 내임으로써, 내열성이 보다 향상되는 경향이 있다.The content of the benzoxazine compound is not particularly limited and is preferably 0.1 part by mass to 50 parts by mass, more preferably 0.2 part by mass to 45 parts by mass, based on 100 parts by mass of the resin solid content. When the content of the benzoxazine compound is within the above range, the heat resistance tends to be further improved.
<에폭시 수지>≪ Epoxy resin &
본 실시형태의 수지 조성물에는, 경화물의 내열성을 향상시키기 위해서, 상기 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A) 와 상이한 에폭시 수지를 병용하는 것도 가능하다.In order to improve the heat resistance of the cured product, the resin composition of the present embodiment may be used in combination with an epoxy resin different from the biphenylaralkyl type epoxy resin (A) represented by the above (1).
이와 같은 에폭시 수지는, 상기 에폭시 수지 (A) 와 달리, 1 분자 중에 2 개 이상의 에폭시기를 갖는 화합물이면, 특별히 한정되지 않는다. 그 구체예로는, 예를 들어, 비스페놀 A 형 에폭시 수지, 비스페놀 E 형 에폭시 수지, 비스페놀 F 형 에폭시 수지, 비스페놀 S 형 에폭시 수지, 비스페놀 A 노볼락형 에폭시 수지, 비페닐형 에폭시 수지, 페놀노볼락형 에폭시 수지, 크레졸 노볼락형 에폭시 수지, 자일렌노볼락형 에폭시 수지, 다관능 페놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지, 나프탈렌 골격 변성 노볼락형 에폭시 수지, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 페놀아르알킬형 에폭시 수지, 안트라센형 에폭시 수지, 3 관능 페놀형 에폭시 수지, 4 관능 페놀형 에폭시 수지, 트리글리시딜이소시아누레이트, 글리시딜에스테르형 에폭시 수지, 지환식 에폭시 수지, 디시클로펜타디엔 노볼락형 에폭시 수지, 비페닐노볼락형 에폭시 수지, 페놀아르알킬노볼락형 에폭시 수지, 나프톨아르알킬노볼락형 에폭시 수지, 아르알킬노볼락형 에폭시 수지, 나프톨아르알킬형 에폭시 수지, 디시클로펜타디엔형 에폭시 수지, 폴리올형 에폭시 수지, 인 함유 에폭시 수지, 글리시딜아민, 부타디엔 등의 이중 결합을 에폭시화한 화합물, 수산기 함유 실리콘 수지류와 에피클로르히드린의 반응에 의해 얻어지는 화합물, 및 이들의 할로겐화물을 들 수 있다.Such an epoxy resin is not particularly limited as long as it is a compound having two or more epoxy groups in one molecule, unlike the epoxy resin (A). Specific examples thereof include, for example, bisphenol A type epoxy resin, bisphenol E type epoxy resin, bisphenol F type epoxy resin, bisphenol S type epoxy resin, bisphenol A novolac type epoxy resin, biphenyl type epoxy resin, Naphthalene skeleton-modified novolac epoxy resin, naphthylene ether-type epoxy resin, phenol aralkyl-type epoxy resin, phenolic aralkyl-type epoxy resin, Type epoxy resin, trifunctional phenol-type epoxy resin, tetrafunctional phenol-type epoxy resin, triglycidylisocyanurate, glycidyl ester-type epoxy resin, alicyclic epoxy resin, dicyclopentadiene novolak Type epoxy resin, biphenyl novolak type epoxy resin, phenol aralkyl novolak type epoxy resin, naphthol aralkyl novolak type Epoxidized double bonds such as epoxy resins, aralkyl novolak type epoxy resins, naphthol aralkyl type epoxy resins, dicyclopentadiene type epoxy resins, polyol type epoxy resins, phosphorus containing epoxy resins, glycidyl amines and butadiene Compounds obtained by reacting epichlorohydrin with a hydroxyl group-containing silicone resin, and halides thereof.
그 중에서도, 나프틸렌에테르형 에폭시 수지, 다관능 페놀형 에폭시 수지, 나프탈렌형 에폭시 수지로 이루어지는 군에서 선택되는 1 종 이상인 것이 바람직하고, 나프탈렌형 에폭시 수지가 보다 바람직하다. 이와 같은 종류의 에폭시 수지를 포함하는 것에 의해, 현상성 및 도금 밀착성이 보다 향상되는 경향이 있다.Among them, at least one selected from the group consisting of naphthylene ether type epoxy resin, polyfunctional phenol type epoxy resin and naphthalene type epoxy resin is preferable, and naphthalene type epoxy resin is more preferable. The inclusion of such an epoxy resin tends to further improve developability and plating adhesion.
나프탈렌형 에폭시 수지로는, 하기 식 (5) 로 나타내는 수지를 사용하는 것이, 현상성 및 도금 밀착성이 보다 향상되기 때문에 바람직하다. 이 에폭시 수지로는, 시판품을 이용할 수 있고, DIC (주) 사 제조 HP-4710 (상품명) 을 들 수 있다. 하기 식 (5) 로 나타내는 나프탈렌형 에폭시 수지는, 저분자이고 또한 다관능이기 때문에, 현상액에 대한 용해성이 우수하다. 그 때문에, 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A) 와의 병용에 의해, 현상성도 우수한 수지 조성물을 얻을 수 있는 것으로 생각된다.As the naphthalene type epoxy resin, it is preferable to use a resin represented by the following formula (5) because the developability and the plating adhesion are further improved. As this epoxy resin, a commercially available product can be used, and HP-4710 (trade name) manufactured by DIC Corporation can be mentioned. The naphthalene type epoxy resin represented by the following formula (5) is low in molecular weight and polyfunctional, and therefore has excellent solubility in a developing solution. Therefore, it is considered that a resin composition having excellent developability can be obtained by using in combination with the biphenylaralkyl type epoxy resin (A).
[화학식 19][Chemical Formula 19]
이들 에폭시 수지는, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.These epoxy resins may be used singly or in a mixture of two or more.
에폭시 수지의 함유량은, 특별히 제한되지 않지만, 현상성을 보다 향상시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 상기 에폭시 수지 (A) 와 에폭시 수지 (A) 와 상이한 에폭시 수지의 합계로, 3 질량부 이상으로 하는 것이 바람직하고, 5 질량부 이상으로 하는 것이 보다 바람직하고, 10 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 바람직하고, 15 질량부 이상으로 하는 것이 더욱 보다 바람직하다. 또한, 동 도금 밀착성을 보다 향상시킨다는 관점에서, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 상기 에폭시 수지 (A) 와 에폭시 수지 (A) 와 상이한 에폭시 수지의 합계로, 50 질량부 이하로 하는 것이 바람직하고, 40 질량부 이하로 하는 것이 보다 바람직하고, 30 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하고, 28 질량부 이하로 하는 것이 더욱 바람직하다.The content of the epoxy resin is not particularly limited, but from the viewpoint of further improving the developability, the total amount of the epoxy resin (A) and the epoxy resin different from the epoxy resin (A) relative to 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition , Preferably 3 parts by mass or more, more preferably 5 parts by mass or more, further preferably 10 parts by mass or more, and still more preferably 15 parts by mass or more. From the viewpoint of further improving copper plating adhesion, it is preferable that the total amount of the epoxy resin (A) and the epoxy resin different from the epoxy resin (A) is 50 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition More preferably 40 parts by mass or less, further preferably 30 parts by mass or less, further preferably 28 parts by mass or less.
또한, 상기 에폭시 수지 (A) 와 에폭시 수지 (A) 와 상이한 에폭시 수지의 비율은, 특별히 제한되지 않지만, 도금 밀착성의 점에서, 1 ∼ 10 : 1 ∼ 3 이 바람직하고, 2 ∼ 4 : 1 ∼ 2 가 보다 바람직하다.The ratio of the epoxy resin (A) to the epoxy resin (A) and the epoxy resin different from the epoxy resin is not particularly limited, but is preferably 1 to 10: 1 to 3, more preferably 2: 4: 2 is more preferable.
<열 경화 촉진제 (H)>≪ Thermal curing accelerator (H) >
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서는, 본 실시형태의 특성이 손상되지 않는 범위에 있어서, 열 경화 촉진제 (H) (성분 (H) 라고도 칭한다) 를 사용하는 것도 가능하다. 본 실시형태에 사용하는 열 경화 촉진제 (H) 로는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 과산화벤조일, 라우로일퍼옥사이드, 아세틸퍼옥사이드, 파라클로로벤조일퍼옥사이드, 디-tert-부틸-디-퍼프탈레이트 등으로 예시되는 유기 과산화물 ; 아조비스니트릴 등의 아조 화합물 ; N,N-디메틸벤질아민, N,N-디메틸아닐린, N,N-디메틸톨루이딘, 2-N-에틸아닐리노에탄올, 트리-n-부틸아민, 피리딘, 퀴놀린, N-메틸모르폴린, 트리에탄올아민, 트리에틸렌디아민, 테트라메틸부탄디아민, N-메틸피페리딘 등의 제 3 급 아민류 ; 페놀, 자일레놀, 크레졸, 레조르신, 카테콜 등의 페놀류 ; 나프텐산납, 스테아르산납, 나프텐산아연, 옥틸산아연, 올레산주석, 디부틸주석말레이트, 나프텐산망간, 나프텐산코발트, 아세틸아세톤철 등의 유기 금속염 ; 이들 유기 금속염을 페놀, 비스페놀 등의 수산기 함유 화합물에 용해시켜 이루어지는 것 ; 염화주석, 염화아연, 염화알루미늄 등의 무기 금속염 ; 디옥틸주석옥사이드, 그 밖의 알킬주석, 알킬주석옥사이드 등의 유기 주석 화합물 ; 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 트리페닐이미다졸 (TPIZ) 등의 이미다졸 화합물 등을 들 수 있다. 그 중에서도, 2-에틸-4-메틸이미다졸, 1,2-디메틸이미다졸, 1-벤질-2-페닐이미다졸, 트리페닐이미다졸 (TPIZ) 등의 이미다졸 화합물이, 내열성의 점에서, 바람직하고, 2-에틸-4-메틸이미다졸이, 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A), 화합물 (C) 및 화합물 (D) 와의 반응성이 높고, 보다 우수한 내열성이 얻어지는 점에서, 보다 바람직하다.In the resin composition of the present embodiment, it is also possible to use a thermosetting accelerator (H) (also referred to as component (H)) within a range in which the characteristics of the present embodiment are not impaired. The heat curing accelerator (H) used in the present embodiment is not particularly limited, and examples thereof include benzoyl peroxide, lauroyl peroxide, acetyl peroxide, para-chlorobenzoyl peroxide, di-tert- Organic peroxides exemplified by phthalates and the like; Azo compounds such as azobisnitrile; N, N-dimethylaniline, N, N-dimethyltoluidine, 2-N-ethylanilino ethanol, tri-n-butylamine, pyridine, quinoline, N-methylmorpholine, triethanolamine , Tertiary amines such as triethylenediamine, tetramethylbutanediamine and N-methylpiperidine; Phenols such as phenol, xylenol, cresol, resorcin and catechol; Organic metal salts such as lead naphthenate, lead stearate, zinc naphthenate, zinc octylate, tin oleate, dibutyltin maleate, manganese naphthenate, cobalt naphthenate and iron acetyl acetone; Those obtained by dissolving these organic metal salts in a hydroxyl group-containing compound such as phenol and bisphenol; Inorganic metal salts such as tin chloride, zinc chloride and aluminum chloride; Organic tin compounds such as dioctyltin oxide, other alkyltin, and alkyltin oxide; Imidazole compounds such as 2-ethyl-4-methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole and triphenylimidazole (TPIZ). Among them, imidazole compounds such as 2-ethyl-4-methylimidazole, 1,2-dimethylimidazole, 1-benzyl-2-phenylimidazole and triphenylimidazole (TPIZ) Ethyl-4-methylimidazole is preferred because of its high reactivity with the biphenylaralkyl type epoxy resin (A), the compound (C) and the compound (D) .
이들 열 경화 촉진제는, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.These thermal curing accelerators may be used alone or in combination of two or more.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 열 경화 촉진제 (H) 의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 통상적으로, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 0.01 ∼ 10 질량부이고, 바람직하게는 0.05 ∼ 5 질량부이다.In the resin composition of the present embodiment, the content of the thermosetting accelerator (H) is not particularly limited, but is usually 0.01 to 10 parts by mass, preferably 0.05 to 10 parts by mass, per 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition. 5 parts by mass.
<유기 용제><Organic solvents>
본 실시형태의 수지 조성물에는, 필요에 따라 용제를 함유하고 있어도 된다. 예를 들어, 유기 용제를 사용하면, 수지 조성물의 조제시에 있어서의 점도를 조정할 수 있다. 용제의 종류는, 수지 조성물 중의 수지의 일부 또는 전부를 용해 가능한 것이면, 특별히 한정되지 않는다. 그 구체예로는, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 아세톤, 메틸에틸케톤, 메틸셀로솔브 등의 케톤류 ; 톨루엔, 자일렌 등의 방향족 탄화수소류 ; 디메틸포름아미드 등의 아미드류 ; 프로필렌글리콜모노메틸에테르 및 그 아세테이트를 들 수 있다.The resin composition of the present embodiment may contain a solvent as required. For example, when an organic solvent is used, the viscosity at the time of preparing the resin composition can be adjusted. The type of the solvent is not particularly limited as long as it can dissolve a part or all of the resin in the resin composition. Specific examples thereof include, but are not limited to, ketones such as acetone, methyl ethyl ketone and methyl cellosolve; Aromatic hydrocarbons such as toluene and xylene; Amides such as dimethylformamide; Propylene glycol monomethyl ether and its acetate.
이들 유기 용제는, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.These organic solvents may be used singly or in a mixture of two or more.
<그 밖의 성분>≪ Other components >
본 실시형태의 수지 조성물에는, 본 실시형태의 특성이 손상되지 않는 범위에 있어서, 지금까지 예시되어 있지 않은 열 경화성 수지, 열 가소성 수지 및 그 올리고머, 엘라스토머류 등의 다양한 고분자 화합물 ; 지금까지 예시되어 있지 않은 난연성의 화합물 ; 첨가제 등의 병용도 가능하다. 이들은 일반적으로 사용되고 있는 것이면, 특별히 한정되는 것은 아니다. 예를 들어, 난연성의 화합물에서는, 멜라민이나 벤조구아나민 등의 질소 함유 화합물, 옥사진 고리 함유 화합물, 및 인계 화합물의 포스페이트 화합물, 방향족 축합 인산에스테르, 함할로겐 축합 인산에스테르 등을 들 수 있다. 첨가제로는, 자외선 흡수제, 산화 방지제, 형광 증백제, 광 증감제, 염료, 안료, 증점제, 활제, 소포제, 표면 조정제, 광택제, 중합 금지제 등을 들 수 있다. 이들 성분은, 1 종 단독 또는 2 종 이상을 적절히 혼합하여 사용하는 것도 가능하다.The resin composition of the present embodiment may contain various polymeric compounds such as thermosetting resins, thermoplastic resins and oligomers and elastomers, etc., which have not been heretofore described, within the range in which the characteristics of the present embodiment are not impaired; Flame retardant compounds which have not been illustrated so far; Additives and the like can be used in combination. These are not particularly limited as long as they are generally used. Examples of the flame retardant compound include nitrogen-containing compounds such as melamine and benzoguanamine, compounds containing an oxazine ring, phosphate compounds of phosphorus compounds, aromatic condensed phosphoric acid esters, and halogenated condensed phosphoric acid esters. Examples of the additives include ultraviolet absorbers, antioxidants, fluorescent whitening agents, photosensitizers, dyes, pigments, thickeners, lubricants, defoamers, surface conditioners, polishes, polymerization inhibitors and the like. These components may be used singly or in combination of two or more.
본 실시형태의 수지 조성물에 있어서, 그 밖의 성분의 함유량은, 특별히 한정되지 않지만, 통상적으로, 수지 조성물 100 질량부에 대하여, 각각 0.1 ∼ 10 질량부이다.In the resin composition of the present embodiment, the content of the other components is not particularly limited, but is usually 0.1 to 10 parts by mass with respect to 100 parts by mass of the resin composition.
<수지 조성물의 제조 방법>≪ Production method of resin composition >
본 실시형태의 수지 조성물은, 상기 식 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A), 광 경화 개시제 (B), 상기 식 (2) 로 나타내는 화합물 (C) 및 (C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 와, 필요에 따라, 말레이미드 화합물 (E), 충전재 (F) 나 화합물 (G) 및 그 밖의 성분을 적절히 혼합함으로써 조제된다. 본 실시형태의 수지 조성물은, 후술하는 본 발명의 수지 시트를 제작할 때의 바니시로서, 바람직하게 사용할 수 있다.The resin composition of the present embodiment is obtained by mixing the biphenylaralkyl type epoxy resin (A), the photo-curing initiator (B), the compounds (C) and (C) represented by the above formula (1) (E), the filler (F), the compound (G), and other components, if necessary, with the compound (D) having an ethylenically unsaturated group. The resin composition of the present embodiment can be preferably used as a varnish for preparing a resin sheet of the present invention to be described later.
본 실시형태의 수지 조성물의 제조 방법은, 특별히 한정되지 않고, 예를 들어, 상기 서술한 각 성분을 순차적으로 용제에 배합하고, 충분히 교반하는 방법을 들 수 있다.The method for producing the resin composition of the present embodiment is not particularly limited and, for example, a method of mixing the components described above sequentially in a solvent and sufficiently stirring may be mentioned.
수지 조성물의 제조시에는, 필요에 따라 각 성분을 균일하게 용해 또는 분산시키기 위한 공지된 처리 (교반, 혼합, 혼련 처리 등) 를 실시할 수 있다. 구체적으로는, 적절한 교반 능력을 갖는 교반기를 부설한 교반조를 사용하여 교반 분산 처리를 실시함으로써, 수지 조성물에 대한 무기 충전재 (G) 의 분산성을 향상시킬 수 있다. 상기의 교반, 혼합, 혼련 처리는, 예를 들어, 초음파 호모게나이저 등의 분산을 목적으로 한 교반 장치, 3 본 롤, 볼 밀, 비즈 밀, 샌드 밀 등의 혼합을 목적으로 한 장치, 또는, 공전 또는 자전형의 혼합 장치 등의 공지된 장치를 사용하여 적절히 실시할 수 있다. 또한, 본 실시형태의 수지 조성물의 조제시에 있어서는, 필요에 따라 유기 용제를 사용할 수 있다. 유기 용제의 종류는, 수지 조성물 중의 수지를 용해 가능한 것이면, 특별히 한정되지 않고, 그 구체예는, 상기 서술한 바와 같다.In the production of the resin composition, known treatments (stirring, mixing, kneading treatment, etc.) for uniformly dissolving or dispersing the respective components can be carried out, if necessary. Concretely, the dispersibility of the inorganic filler (G) in the resin composition can be improved by performing the stirring dispersion treatment using a stirring tank provided with a stirrer having an appropriate stirring ability. The stirring, mixing and kneading treatments described above may be carried out, for example, by a device for mixing an agitator, a three-roll mill, a ball mill, a bead mill or a sand mill for the purpose of dispersion such as an ultrasonic homogenizer, , Or a known device such as an agitator or a self-ball type mixing device. In preparing the resin composition of the present embodiment, an organic solvent may be used if necessary. The kind of the organic solvent is not particularly limited as long as it can dissolve the resin in the resin composition, and specific examples thereof are as described above.
<용도><Applications>
본 실시형태의 수지 조성물은, 절연성의 수지 조성물을 필요로 하는 용도에 사용할 수 있고, 특별히 한정되지 않지만, 감광성 필름, 지지체가 형성된 감광성 필름, 프리프레그 등의 절연 수지 시트, 회로 기판 (적층판 용도, 다층 프린트 배선판 용도 등), 솔더 레지스트, 언더 필재, 다이 본딩재, 반도체 봉지재, 구멍 매립 수지, 부품 매립 수지 등의 용도에 사용할 수 있다. 그 중에서도, 다층 프린트 배선판의 절연층용 수지 조성물이나 솔더 레지스트로서 바람직하게 사용할 수 있다.The resin composition of the present embodiment can be used for applications requiring an insulating resin composition, and is not particularly limited. Examples of the resin composition include a photosensitive film, a photosensitive film on which a support is formed, an insulating resin sheet such as a prepreg, A multilayer printed wiring board, etc.), a solder resist, an underfill material, a die bonding material, a semiconductor encapsulant, a hole-filling resin, and a component-embedded resin. Among them, it can be suitably used as a resin composition for an insulating layer of a multilayered printed circuit board and a solder resist.
<수지 시트><Resin Sheet>
본 실시형태의 수지 시트는, 지지체와, 그 지지체의 표면에 형성되고, 본 실시형태의 수지 조성물을 포함하는 수지 조성물층을 구비하는, 상기 서술한 수지 조성물을 지지체의 편면 또는 양면에 도포한 지지체가 형성된 수지 시트이다. 수지 시트는, 수지 조성물을 지지체 상에 도포, 및 건조시켜 제조할 수 있다.The resin sheet of the present embodiment is a resin sheet comprising a support, a support formed on the surface of the support and comprising a resin composition layer containing the resin composition of the present embodiment, Is formed. The resin sheet can be produced by applying the resin composition onto a support and drying the resin composition.
본 실시형태의 수지 시트에 있어서 사용되는 지지체는, 특별히 한정되지 않지만, 공지된 것을 사용할 수 있고, 수지 필름인 것이 바람직하다. 수지 필름으로는, 예를 들어, 폴리이미드 필름, 폴리아미드 필름, 폴리에스테르 필름, 폴리에틸렌테레프탈레이트 (PET) 필름, 폴리부틸렌테레프탈레이트 (PBT) 필름, 폴리프로필렌 (PP) 필름, 폴리에틸렌 (PE) 필름, 폴리에틸렌나프탈레이트 필름, 폴리비닐알코올 필름, 트리아세틸아세테이트 필름 등의 수지 필름을 들 수 있다. 그 중에서도 PET 필름이 바람직하다.The support used in the resin sheet of the present embodiment is not particularly limited, but known ones can be used, and resin films are preferable. Examples of the resin film include a polyimide film, a polyamide film, a polyester film, a polyethylene terephthalate (PET) film, a polybutylene terephthalate (PBT) film, a polypropylene (PP) film, a polyethylene (PE) Film, a polyethylene naphthalate film, a polyvinyl alcohol film, and a triacetyl acetate film. Among them, a PET film is preferable.
상기 수지 필름은, 수지 조성물층으로부터의 박리를 용이하게 하기 위해서, 박리제를 표면에 도포하고 있는 것을 바람직하게 사용할 수 있다. 수지 필름의 두께는, 5 ㎛ ∼ 100 ㎛ 의 범위인 것이 바람직하고, 10 ㎛ ∼ 50 ㎛ 의 범위인 것이 보다 바람직하다. 이 두께가 5 ㎛ 미만에서는, 현상 전에 실시하는 지지체 박리시에 지지체가 부서지기 쉬워지는 경향이 있고, 두께가 100 ㎛ 를 초과하면, 지지체 상으로부터 노광할 때의 해상도가 저하하는 경향이 있다.In order to facilitate peeling from the resin composition layer, the resin film may preferably be coated with a releasing agent on its surface. The thickness of the resin film is preferably in the range of 5 탆 to 100 탆, more preferably in the range of 10 탆 to 50 탆. When the thickness is less than 5 mu m, the support tends to be broken at the time of peeling the support before development. When the thickness exceeds 100 mu m, the resolution at the time of exposure from the support tends to decrease.
또한, 자외선 등의 활성 에너지선에 의한 노광시의 광의 산란을 저감시키기 위해서, 수지 필름은 투명성이 우수한 것이 바람직하다.Further, in order to reduce scattering of light at the time of exposure by an active energy ray such as ultraviolet rays, the resin film is preferably excellent in transparency.
또한, 본 실시형태에 있어서의 수지 시트에 있어서, 그 수지 조성물층은, 보호 필름으로 보호되어 있어도 된다.In the resin sheet in the present embodiment, the resin composition layer may be protected by a protective film.
수지 조성물층측을 보호 필름으로 보호함으로써, 수지 조성물층 표면에 대한 먼지 등의 부착이나 흠집을 방지할 수 있다. 보호 필름으로는 상기의 수지 필름과 동일한 재료에 의해 구성된 필름을 사용할 수 있다. 보호 필름의 두께는 특별히 한정되지 않지만, 1 ㎛ ∼ 50 ㎛ 의 범위인 것이 바람직하고, 5 ㎛ ∼ 40 ㎛ 의 범위인 것이 보다 바람직하다. 두께가 1 ㎛ 미만에서는, 보호 필름의 취급성이 저하하는 경향이 있고, 50 ㎛ 를 초과하면 염가성이 열등한 경향이 있다. 또한, 보호 필름은, 수지 조성물층과 지지체의 접착력에 대하여, 수지 조성물층과 보호 필름의 접착력이 작은 것이 바람직하다.By protecting the side of the resin composition layer with a protective film, it is possible to prevent adhesion and scratching of dust or the like on the surface of the resin composition layer. As the protective film, a film constituted by the same material as the above resin film can be used. The thickness of the protective film is not particularly limited, but is preferably in the range of 1 탆 to 50 탆, more preferably in the range of 5 탆 to 40 탆. If the thickness is less than 1 mu m, the handling property of the protective film tends to decrease, and if it exceeds 50 mu m, the cheapness tends to be inferior. It is preferable that the protective film has a small adhesive force between the resin composition layer and the protective film against the adhesive force between the resin composition layer and the support.
본 실시형태의 수지 시트의 제조 방법은, 특별히 한정되지 않지만, 예를 들어, 본 실시형태의 수지 조성물을 PET 필름 등의 지지체에 도포하여 유기 용제를 건조에 의해 제거함으로써, 수지 시트를 제조하는 방법 등을 들 수 있다.The method of producing the resin sheet of the present embodiment is not particularly limited. For example, a method of manufacturing a resin sheet by applying the resin composition of the present embodiment to a support such as PET film and removing the organic solvent by drying And the like.
상기 도포는, 예를 들어, 롤 코터, 콤마 코터, 그라비아 코터, 다이 코터, 바 코터, 립 코터, 나이프 코터, 스퀴즈 코터 등을 사용한 공지된 방법으로 실시할 수 있다. 상기 건조는, 예를 들어, 60 ∼ 200 ℃ 의 건조기 중에서, 1 ∼ 60 분 가열시키는 방법 등에 의해 실시할 수 있다.The application can be carried out by a known method using, for example, a roll coater, a comma coater, a gravure coater, a die coater, a bar coater, a lip coater, a knife coater, a squeeze coater and the like. The drying can be carried out, for example, by heating in a drier at 60 to 200 DEG C for 1 to 60 minutes.
수지 조성물층 중의 잔존 유기 용제량은, 후의 공정에서의 유기 용제의 확산을 방지하는 관점에서, 수지 조성물층의 총질량에 대하여 5 질량% 이하로 하는 것이 바람직하다. 지지체에 대한 수지 조성물층의 두께는, 취급성을 향상시킨다는 관점에서, 수지 시트의 수지 조성물층 두께로 1.0 ㎛ 이상으로 하는 것이 바람직하다. 또한, 투과율을 향상시켜 현상성을 양호하게 한다는 관점에서, 300 ㎛ 이하로 하는 것이 바람직하다.The amount of the residual organic solvent in the resin composition layer is preferably 5% by mass or less based on the total mass of the resin composition layer from the viewpoint of preventing the diffusion of the organic solvent in the subsequent step. The thickness of the resin composition layer relative to the support is preferably 1.0 占 퐉 or more in terms of the resin composition layer thickness of the resin sheet from the viewpoint of improving handling properties. Further, from the viewpoint of improving the transmittance and improving the developing property, it is preferable that the thickness is 300 mu m or less.
본 실시형태의 수지 시트는, 다층 프린트 배선판의 층간 절연층으로서 사용할 수 있다.The resin sheet of the present embodiment can be used as an interlayer insulating layer of a multilayer printed wiring board.
<다층 프린트 배선판><Multilayer Printed Circuit Board>
본 실시형태의 다층 프린트 배선판은, 본 실시형태의 수지 조성물을 포함하는 층간 절연층을 구비하고, 예를 들어, 상기 서술한 수지 시트를 1 장 이상 겹쳐서 경화시켜 얻을 수도 있다. 구체적으로는 이하의 방법에 의해 제조할 수 있다.The multilayered printed circuit board of the present embodiment is provided with an interlayer insulating layer containing the resin composition of the present embodiment and may be obtained by, for example, curing one or more of the above-described resin sheets. Specifically, it can be produced by the following method.
(라미네이트 공정)(Lamination process)
본 실시형태의 수지 시트의 수지 조성물층측을, 진공 라미네이터를 사용하여 회로 기판의 편면 또는 양면에 라미네이트한다. 회로 기판으로는, 예를 들어, 유리 에폭시 기판, 금속 기판, 세라믹 기판, 실리콘 기판, 반도체 봉지 수지 기판, 폴리에스테르 기판, 폴리이미드 기판, BT 레진 기판, 열 경화형 폴리페닐렌에테르 기판 등을 들 수 있다. 또한, 여기서 회로 기판이란, 상기와 같은 기판의 편면 또는 양면에 패턴 가공된 도체층 (회로) 이 형성된 기판을 말한다. 또한, 도체층과 절연층을 교대로 적층하여 이루어지는 다층 프린트 배선판에 있어서, 그 프린트 배선판의 최외층의 편면 또는 양면이 패턴 가공된 도체층 (회로) 으로 되어 있는 기판도, 여기서 말하는 회로 기판에 포함된다. 또한 도체층 표면에는, 흑화 처리, 동 에칭 등에 의해 미리 조화 (粗化) 처리가 실시되어 있어도 된다. 라미네이트 공정에 있어서, 수지 시트가 보호 필름을 가지고 있는 경우에는 그 보호 필름을 박리 제거한 후, 필요에 따라 수지 시트 및 회로 기판을 프리 히트하고, 수지 조성물층을 가압 및 가열하면서 회로 기판에 압착한다. 본 실시형태의 수지 시트에 있어서는, 진공 라미네이트법에 의해 감압하에서 회로 기판에 라미네이트하는 방법이 바람직하게 사용된다.The side of the resin composition layer of the resin sheet of this embodiment is laminated on one side or both sides of the circuit board using a vacuum laminator. Examples of the circuit board include a glass epoxy substrate, a metal substrate, a ceramic substrate, a silicon substrate, a semiconductor encapsulating resin substrate, a polyester substrate, a polyimide substrate, a BT resin substrate, a thermosetting polyphenylene ether substrate, have. Here, the circuit board refers to a substrate on which a conductor layer (circuit) patterned on one side or both sides of the above-described substrate is formed. In the multilayer printed wiring board in which the conductor layer and the insulating layer are alternately laminated, a substrate in which the outermost layer of the printed wiring board has a conductor layer (circuit) patterned on one side or on both sides is also included in the circuit board do. Further, the surface of the conductor layer may be roughened in advance by blackening treatment, copper etching, or the like. In the case where the resin sheet has a protective film in the lamination process, the protective film is peeled off and then the resin sheet and the circuit board are preheated, if necessary, and the resin composition layer is pressed and heated on the circuit board while being pressed and heated. In the resin sheet of the present embodiment, a method of laminating a circuit board under reduced pressure by a vacuum laminating method is preferably used.
라미네이트 공정의 조건은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 압착 온도 (라미네이트 온도) 를 바람직하게는 50 ℃ ∼ 140 ℃ 로 하고, 압착 압력을 바람직하게는 1 kgf/㎠ ∼ 15 kgf/㎠, 압착 시간을 바람직하게는 5 초간 ∼ 300 초간으로 하고, 공기압을 20 ㎜Hg 이하로 하는 감압하에서 라미네이트하는 것이 바람직하다. 또한, 라미네이트 공정은, 배치식이어도 되고 롤을 사용하는 연속식이어도 된다. 진공 라미네이트법은, 시판되는 진공 라미네이터를 사용하여 실시할 수 있다. 시판되는 진공 라미네이터로는, 예를 들어, 닛코·머테리얼즈 (주) 제조 2 스테이지 빌드업 라미네이터 등을 들 수 있다.For example, the pressing temperature (lamination temperature) is preferably 50 占 폚 to 140 占 폚, the pressing pressure is preferably 1 kgf / cm2 to 15 kgf / cm2, The pressing time is preferably 5 seconds to 300 seconds, and it is preferable that the lamination is performed under a reduced pressure such that the air pressure is 20 mmHg or less. The lamination process may be a batch process or a continuous process using a roll. The vacuum laminating method can be carried out using a commercially available vacuum laminator. As a commercially available vacuum laminator, for example, a two-stage build-up laminator manufactured by Nikko Materials Co., Ltd. can be mentioned.
(노광 공정)(Exposure step)
라미네이트 공정에 의해, 회로 기판 상에 수지 시트가 형성된 후, 수지 조성물층의 소정 부분에 활성 에너지선을 조사하고, 조사부의 수지 조성물층을 경화시키는 노광 공정을 실시한다. 활성 에너지선의 조사는, 마스크 패턴을 통과시켜도 되고, 직접 활성 에너지선을 조사하는 직접 묘화법을 사용해도 된다.After the resin sheet is formed on the circuit board by the lamination process, an exposure process is performed in which a predetermined portion of the resin composition layer is irradiated with active energy rays and the resin composition layer of the irradiated portion is cured. The irradiation of the active energy ray may be conducted through the mask pattern, or a direct imaging method in which the active energy ray is directly irradiated may be used.
활성 에너지선으로는, 예를 들어, 자외선, 가시 광선, 전자선, X 선 등을 들 수 있고, 특히 자외선이 바람직하다. 자외선의 조사량은 대략 10 mJ/㎠ ∼ 1000 mJ/㎠ 이다. 마스크 패턴을 통과시키는 노광 방법에는 마스크 패턴을 다층 프린트 배선판에 밀착시켜 실시하는 접촉 노광법과, 밀착시키지 않고 평행 광선을 사용하여 노광하는 비접촉 노광법이 있지만, 어느 것을 사용해도 상관없다. 또한, 수지 조성물층 상에 지지체가 존재하고 있는 경우에는, 지지체 상으로부터 노광해도 되고, 지지체를 박리 후에 노광해도 된다.Examples of the active energy ray include ultraviolet rays, visible rays, electron rays and X-rays, and ultraviolet rays are particularly preferred. The dose of ultraviolet rays is approximately 10 mJ / cm 2 to 1000 mJ / cm 2. The exposure method for passing the mask pattern includes a contact exposure method in which the mask pattern is brought into close contact with the multilayer printed wiring board and a non-contact exposure method in which the exposure is performed using parallel rays without being closely contacted. When a support is present on the resin composition layer, the support may be exposed from the support, or the support may be exposed after being peeled off.
(현상 공정)(Developing step)
노광 공정 후, 수지 조성물층 상에 지지체가 존재하고 있는 경우에는 그 지지체를 제거한 후, 웨트 현상으로, 광 경화되어 있지 않은 부분 (미노광부) 을 제거하여 현상함으로써, 절연층의 패턴을 형성할 수 있다.After the exposure process, if a support is present on the resin composition layer, a pattern of the insulation layer can be formed by removing the support and then removing the portion that is not photo-cured (unexposed portion) have.
상기 웨트 현상의 경우, 현상액으로는, 미노광 부분을 선택적으로 용출하는 것이면, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 알칼리성 수용액, 수계 현상액, 유기 용제 등의 현상액이 사용된다. 본 실시형태에 있어서는, 특히 알칼리성 수용액에 의한 현상 공정이 바람직하다. 이들 현상액은 단독으로 또는 2 종류 이상을 조합하여 사용할 수 있다. 또한, 현상 방법으로는, 예를 들어, 스프레이, 요동 침지, 브러싱, 스크래핑 등의 공지된 방법으로 실시할 수 있다.In the case of the wet phenomenon, a developer such as an alkaline aqueous solution, an aqueous developer, or an organic solvent is used as the developer, as long as it selectively elutes the unexposed portion. In the present embodiment, a developing step with an alkaline aqueous solution is particularly preferable. These developers may be used alone or in combination of two or more. The developing method can be carried out by a known method such as spraying, swinging dipping, brushing, scraping or the like.
현상액으로서 사용되는 알칼리 수용액은, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 예를 들어, 수산화칼륨, 수산화나트륨, 탄산나트륨, 탄산칼륨, 인산나트륨, 규산나트륨, 4-붕산나트륨, 암모니아, 아민류 등을 들 수 있다.The alkali aqueous solution used as the developer is not particularly limited, and examples thereof include potassium hydroxide, sodium hydroxide, sodium carbonate, potassium carbonate, sodium phosphate, sodium silicate, sodium 4-borate, ammonia and amines.
상기 알칼리 수용액의 농도는, 현상액 전체량에 대하여 0.1 질량% ∼ 60 질량% 인 것이 바람직하다. 또한, 알칼리 수용액의 온도는, 현상성에 맞추어 조절할 수 있다. 또한, 이들 알칼리 수용액은, 단독으로 또는 2 종류 이상을 조합하여 사용할 수 있다.The concentration of the alkali aqueous solution is preferably 0.1% by mass to 60% by mass relative to the total amount of the developer. Further, the temperature of the aqueous alkali solution can be adjusted according to developability. These alkali aqueous solutions may be used alone or in combination of two or more.
본 실시형태의 패턴 형성에 있어서는, 필요에 따라, 상기한 2 종류 이상의 현상 방법을 병용하여 사용해도 된다. 현상의 방식에는, 딥 방식, 패들 방식, 스프레이 방식, 고압 스프레이 방식, 브러싱, 스래핑 등이 있고, 고압 스프레이 방식이 해상도 향상을 위해서는 바람직하다. 스프레이 방식을 채용하는 경우의 스프레이압으로는, 0.02 ㎫ ∼ 0.5 ㎫ 가 바람직하다.In the pattern formation of the present embodiment, two or more kinds of developing methods described above may be used in combination as occasion demands. The developing method includes a dipping method, a paddle method, a spraying method, a high-pressure spraying method, brushing, and slapping, and a high-pressure spraying method is preferable for improving the resolution. The spray pressure in the case of employing the spray method is preferably 0.02 MPa to 0.5 MPa.
(포스트베이크 공정)(Post-bake process)
상기 현상 공정 종료 후, 포스트베이크 공정을 실시하여, 절연층 (경화물) 을 형성한다. 포스트베이크 공정으로는, 고압 수은 램프에 의한 자외선 조사 공정이나 클린 오븐을 사용한 가열 공정 등을 들 수 있고, 이들을 병용하는 것도 가능하다. 자외선을 조사시키는 경우에는 필요에 따라 그 조사량을 조정할 수 있고, 예를 들어 0.05 J/㎠ ∼ 10 J/㎠ 정도의 조사량으로 조사를 실시할 수 있다. 또한 가열의 조건은, 수지 조성물 중의 수지 성분의 종류, 함유량 등에 따라 적절히 선택하면 되지만, 바람직하게는 150 ℃ ∼ 220 ℃ 에서 20 분간 ∼ 180 분간의 범위, 보다 바람직하게는 160 ℃ ∼ 200 ℃ 에서 30 분간 ∼ 150 분간의 범위에서 선택된다.After the above-mentioned development process, a post-baking process is performed to form an insulating layer (cured product). Examples of the post-baking process include a UV irradiation process using a high-pressure mercury lamp and a heating process using a clean oven, and they can be used in combination. In the case of irradiating ultraviolet rays, the irradiation amount can be adjusted as necessary, and irradiation can be carried out at an irradiation dose of, for example, about 0.05 J / cm 2 to 10 J / cm 2. The heating conditions may be appropriately selected depending on the type and content of the resin component in the resin composition, and preferably from 150 ° C to 220 ° C for 20 minutes to 180 minutes, more preferably from 160 ° C to 200 ° C at 30 ° C Minute to 150 minutes.
(도금 공정)(Plating process)
다음으로, 건식 도금 또는 습식 도금에 의해 절연층 표면에 도체층을 형성한다. 건식 도금으로는, 증착법, 스퍼터링법, 이온 플레이팅법 등의 공지된 방법을 사용할 수 있다. 증착법 (진공 증착법) 은, 예를 들어, 지지체를 진공 용기 내에 넣고, 금속을 가열 증발시킴으로써 절연층 상에 금속막 형성을 실시할 수 있다. 스퍼터링법도, 예를 들어, 지지체를 진공 용기 내에 넣고, 아르곤 등의 불활성 가스를 도입하고, 직류 전압을 인가하여, 이온화한 불활성 가스를 타겟 금속에 충돌시켜, 튕겨나온 금속에 의해 절연층 상에 금속막 형성을 실시할 수 있다.Next, a conductive layer is formed on the surface of the insulating layer by dry plating or wet plating. As the dry plating, known methods such as a vapor deposition method, a sputtering method, and an ion plating method can be used. In the vapor deposition method (vacuum vapor deposition method), for example, a metal film can be formed on an insulating layer by placing a support in a vacuum container and evaporating the metal by heating. A sputtering method is also applicable. For example, a support is placed in a vacuum container, an inert gas such as argon is introduced, a DC voltage is applied to collide the ionized inert gas against the target metal, Film formation can be performed.
습식 도금의 경우에는, 형성된 절연층의 표면에 대하여, 팽윤액에 의한 팽윤 처리, 산화제에 의한 조화 처리 및 중화액에 의한 중화 처리를 이 순서로 실시하는 것에 의해 절연층 표면을 조화한다. 팽윤액에 의한 팽윤 처리는, 절연층을 50 ℃ ∼ 80 ℃ 에서 1 분간 ∼ 20 분간 팽윤액에 침지시킴으로써 실시된다. 팽윤액으로는 알칼리 용액을 들 수 있고, 그 알칼리 용액으로는, 수산화나트륨 용액, 수산화칼륨 용액 등을 들 수 있다. 시판되고 있는 팽윤액으로는, 예를 들어, 우에무라 공업 (주) 제조의 업데스 (등록상표) MDS-37 등을 들 수 있다.In the case of wet plating, the surface of the insulating layer formed is roughened by swelling treatment with a swelling liquid, roughening treatment with an oxidizing agent, and neutralization treatment with a neutralizing liquid in this order. The swelling treatment by the swelling liquid is carried out by immersing the insulating layer in the swelling liquid at 50 DEG C to 80 DEG C for 1 minute to 20 minutes. Examples of the swelling solution include an alkaline solution, and examples of the alkaline solution include a sodium hydroxide solution and a potassium hydroxide solution. Commercially available swelling solutions include, for example, Upes (registered trademark) MDS-37 manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd. and the like.
산화제에 의한 조화 처리는, 절연층을 60 ℃ ∼ 80 ℃ 에서 5 분간 ∼ 30 분간 산화제 용액에 침지시킴으로써 실시된다. 산화제로는, 예를 들어, 수산화나트륨의 수용액에 과망간산칼륨이나 과망간산나트륨을 용해시킨 알칼리성 과망간산 용액, 중크롬산염, 오존, 과산화수소/황산, 질산 등을 들 수 있다. 또한, 알칼리성 과망간산 용액에 있어서의 과망간산염의 농도는 5 질량% ∼ 10 질량% 로 하는 것이 바람직하다. 시판되고 있는 산화제로는, 예를 들어, 우에무라 공업 (주) 제조 업데스 (등록상표) MDE-40, 업데스 (등록상표) ELC-SH 등의 알칼리성 과망간산 용액을 들 수 있다. 중화액에 의한 중화 처리는, 30 ℃ ∼ 50 ℃ 에서 1 분간 ∼ 10 분간 중화액에 침지시킴으로써 실시된다. 중화액으로는, 산성의 수용액이 바람직하고, 시판품으로는, 우에무라 공업 (주) 제조의 업데스 (등록상표) MDN-62 를 들 수 있다.The coarsening treatment with an oxidizing agent is carried out by immersing the insulating layer in an oxidizing agent solution at 60 ° C to 80 ° C for 5 minutes to 30 minutes. As the oxidizing agent, for example, an alkaline permanganic acid solution in which potassium permanganate or sodium permanganate is dissolved in an aqueous solution of sodium hydroxide, dichromate, ozone, hydrogen peroxide / sulfuric acid, nitric acid and the like can be given. The concentration of the permanganate in the alkaline permanganic acid solution is preferably 5% by mass to 10% by mass. Commercially available oxidizing agents include, for example, alkaline permanganic acid solutions such as Upes (registered trademark) MDE-40 and Upes (registered trademark) ELC-SH manufactured by Uemura Kogyo Co., The neutralization treatment by the neutralization liquid is carried out by immersing in a neutralizing liquid at 30 ° C to 50 ° C for 1 minute to 10 minutes. As the neutralizing solution, an acidic aqueous solution is preferable, and a commercially available product is Upes (registered trademark) MDN-62 manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.
이어서, 무전해 도금과 전해 도금을 조합하여 도체층을 형성한다. 또한 도체층과는 반대 패턴의 도금 레지스트를 형성하고, 무전해 도금만으로 도체층을 형성할 수도 있다. 그 후의 패턴 형성의 방법으로서, 예를 들어, 서브트랙티브법, 세미 애디티브법 등을 사용할 수 있다.Subsequently, a conductor layer is formed by combining electroless plating and electrolytic plating. Alternatively, a plating resist having a pattern opposite to that of the conductor layer may be formed, and the conductor layer may be formed only by electroless plating. As the pattern formation method thereafter, for example, a subtractive method or a semi-additive method can be used.
<반도체 장치><Semiconductor Device>
본 실시형태의 반도체 장치는, 본 실시형태의 수지 조성물을 포함하는 층간 절연층을 구비하고, 구체적으로는 이하의 방법에 의해 제조할 수 있다. 본 실시형태의 다층 프린트 배선판의 도통 지점에, 반도체 칩을 실장함으로써 반도체 장치를 제조할 수 있다. 여기서, 도통 지점이란, 다층 프린트 배선판에 있어서의 전기 신호를 전달하는 지점으로, 그 지점은 표면이어도 되고, 매립된 지점이어도 되고 어느 것이어도 상관없다. 또한, 반도체 칩은 반도체를 재료로 하는 전기 회로 소자이면 특별히 한정되지 않는다.The semiconductor device of the present embodiment includes an interlayer insulating layer containing the resin composition of the present embodiment, specifically, it can be manufactured by the following method. The semiconductor device can be manufactured by mounting the semiconductor chip at the conduction point of the multilayered printed circuit board of the present embodiment. Here, the conduction point is a point for transmitting electrical signals in the multilayered printed circuit board, and the point may be a surface, a buried point, or the like. The semiconductor chip is not particularly limited as long as it is an electric circuit element made of a semiconductor material.
본 실시형태의 반도체 장치를 제조할 때의 반도체 칩의 실장 방법은, 반도체 칩이 유효하게 기능하기만 하면, 특별히 한정되지 않지만, 구체적으로는, 와이어 본딩 실장 방법, 플립 칩 실장 방법, 범프 없는 빌드업층 (BBUL) 에 의한 실장 방법, 이방성 도전 필름 (ACF) 에 의한 실장 방법, 비도전성 필름 (NCF) 에 의한 실장 방법, 등을 들 수 있다.The method for mounting the semiconductor chip in manufacturing the semiconductor device of the present embodiment is not particularly limited as long as the semiconductor chip effectively functions. Specifically, the semiconductor chip mounting method, the flip chip mounting method, A mounting method using an up layer (BBUL), a mounting method using an anisotropic conductive film (ACF), a mounting method using a non-conductive film (NCF), and the like.
또한, 본 실시형태의 수지 시트를 반도체 칩에 라미네이트하는 것에 의해서도, 반도체 장치를 제조할 수 있다. 라미네이트 후에는 전술한 다층 프린트 배선판과 동일한 방법을 사용하여 제조할 수 있다.The semiconductor device can also be manufactured by laminating the resin sheet of the present embodiment to a semiconductor chip. After the lamination, the multilayer printed wiring board can be produced by the same method as the above-described multilayer printed wiring board.
실시예Example
이하, 실시예에 의해 본 발명을 더욱 구체적으로 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 전혀 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to examples, but the present invention is not limited to these examples at all.
〔합성예 1〕[Synthesis Example 1]
(시안산에스테르 화합물의 합성)(Synthesis of cyanic acid ester compound)
1-나프톨아르알킬 수지 (신닛테츠 주금 화학 주식회사 제조) 300 g (OH 기 환산 1.28 ㏖) 및 트리에틸아민 194.6 g (1.92 ㏖) (하이드록시기 1 ㏖ 에 대하여 1.5 ㏖) 을 디클로로메탄 1800 g 에 용해시켜, 이것을 용액 1 로 하였다.300 g (1.28 mol in terms of OH group) and 194.6 g (1.92 mol) of triethylamine (1.5 mol with respect to 1 mol of hydroxyl group) of 1-naphthol aralkyl resin (manufactured by Shinnitetsu Kagaku Kagaku) were added to 1800 g of dichloromethane And this solution was designated as solution 1.
염화시안 125.9 g (2.05 ㏖) (하이드록시기 1 ㏖ 에 대하여 1.6 ㏖), 디클로로메탄 293.8 g, 36 % 염산 194.5 g (1.92 ㏖) (하이드록시기 1 몰에 대하여 1.5 몰), 물 1205.9 g 을, 교반하, 액온 -2 ∼ -0.5 ℃ 로 유지하면서, 용액 1 을 30 분에 걸쳐서 주하하였다. 용액 1 주하 종료 후, 동온도에서 30 분 교반한 후, 트리에틸아민 65 g (0.64 ㏖) (하이드록시기 1 ㏖ 에 대하여 0.5 ㏖) 을 디클로로메탄 65 g 에 용해시킨 용액 (용액 2) 을 10 분에 걸쳐서 주하하였다. 용액 2 주하 종료 후, 동온도에서 30 분 교반하여 반응을 완결시켰다., 293.8 g of dichloromethane, 194.5 g (1.92 mol) of 36% hydrochloric acid (1.5 mol per 1 mol of the hydroxyl group) and 1205.9 g of water were added to a solution of 125.9 g (2.05 mol) of cyanogen chloride (1.6 mol with respect to 1 mol of hydroxyl group) , While stirring and maintaining the solution temperature at -2 to -0.5 占 폚, Solution 1 was sprinkled over 30 minutes. Solution 1 After completion of the stirring, the solution was stirred for 30 minutes at the same temperature, and a solution (solution 2) in which 65 g (0.64 mol) of triethylamine (0.5 mol with respect to 1 mol of the hydroxyl group) was dissolved in 65 g of dichloromethane was dissolved in 10 Min. Solution 2 After completion of stirring, stirring was carried out at the same temperature for 30 minutes to complete the reaction.
그 후 반응액을 정치 (靜置) 하여 유기상과 수상을 분리하였다. 얻어진 유기상을 물 1300 g 으로 5 회 세정하였다. 수세 5 회째의 폐수의 전기 전도도는 5 μS/㎝ 로, 물에 의한 세정에 의해, 제거할 수 있는 이온성 화합물은 충분히 제거된 것을 확인하였다.Thereafter, the reaction solution was allowed to stand to separate the organic phase and water phase. The obtained organic phase was washed 5 times with 1300 g of water. It was confirmed that the ionic compound which can be removed by the washing with water was sufficiently removed, and the electrical conductivity of the wastewater at the fifth washing with water was 5 μS / cm.
수세 후의 유기상을 감압하에서 농축하고, 최종적으로 90 ℃ 에서 1 시간 농축 건고시켜 목적으로 하는 나프톨아르알킬형의 시안산에스테르 화합물 (SNCN) (등색 점성물) 을 331 g 얻었다. 얻어진 SNCN 의 질량 평균 분자량 Mw 는 600 이었다. 또한, SNCN 의 IR 스펙트럼은 2250 ㎝-1 (시안산에스테르기) 의 흡수를 나타내고, 또한, 하이드록시기의 흡수는 나타내지 않았다.The washed organic phase was concentrated under reduced pressure, and finally concentrated to dryness at 90 DEG C for 1 hour to obtain 331 g of objective naphthol aralkyl type cyanate ester compound (SNCN) (orangeish viscous product). The mass average molecular weight Mw of the obtained SNCN was 600. In addition, the IR spectrum of SNCN showed absorption of 2250 cm -1 (cyanate ester group), and no absorption of hydroxyl group was shown.
〔실시예 1〕[Example 1]
(수지 조성물 및 수지 시트의 제작)(Production of resin composition and resin sheet)
식 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A) 로서, 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (식 (1) 중의 n 은, 1 ∼ 3 이다. NC3000L (상품명), 닛폰 화약 (주) 제조) 22.4 질량부, 광 경화 개시제 (B) 로서, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부타논-1 (Irgacure (등록상표) 369, BASF 재팬 (주) 제조) 6.5 질량부, 화합물 (C) 로서, TrisP-PA 에폭시아크릴레이트 화합물의 프로필렌글리콜모노메틸에테르아세테이트 (이하, PGMEA 라고 약기하는 경우가 있다) 용액 (KAYARAD (등록상표) ZCR-6007H, 불휘발분 65 질량%, 산가 : 70 mgKOH/g, 닛폰 화약 (주) 제조) 77.5 질량부 (불휘발분 환산으로 50.4 질량부), (C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 로서, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (KAYARAD (등록상표) DPHA, 닛폰 화약 (주) 제조) 17.4 질량부, 말레이미드 화합물 (E) 로서, 말레이미드 화합물 (BMI-2300 (상품명), 다이와 화성 공업 (주) 제조) 3.3 질량부, 충전재 (F) 로서, 에폭시실란 처리 실리카의 메틸에틸케톤 (이하, MEK 라고 약기하는 경우가 있다) 슬러리 (SC2050MB (상품명), 평균 입경 0.5 ㎛, 불휘발분 70 질량%, (주) 아드마텍스 제조) 71.4 질량부 (불휘발분 환산으로 50 질량부) 를 배합하고, 초음파 호모게나이저로 교반하여 바니시 (수지 조성물의 용액) 를 얻었다. 이들 바니시를 두께 38 ㎛ 의 PET 필름 (유니필 (등록상표) TR1-38, 유니티카 (주) 제조, 상품명) 상에 자동 도공 장치 (PI-1210, 테스터 산업 (주) 제조) 를 사용하여 도포하고, 80 ℃ 에서 7 분간 가열 건조시켜, PET 필름을 지지체로 하고 수지 조성물층의 두께가 30 ㎛ 인 수지 시트를 얻었다.As the biphenylaralkyl type epoxy resin (A) represented by the formula (1), a biphenylaralkyl type epoxy resin (n in the formula (1) is 1 to 3) NC3000L (trade name), manufactured by Nippon Yakuhaku Co., (Irgacure (registered trademark) 369, manufactured by BASF Japan Co., Ltd.) as a photocuring initiator (B), 22.4 parts by mass of 2- (Hereinafter sometimes referred to as PGMEA) solution (KAYARAD (registered trademark) ZCR-6007H, nonvolatile matter (hereinafter referred to as " PGMEA ") solution) of TrisP-PA epoxy acrylate compound 77.5 parts by mass (50.4 parts by mass in terms of nonvolatile content), 65% by mass, acid value: 70 mgKOH / g, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) as the compound (D) having an ethylenic unsaturated group other than the component 17.4 parts by mass of erythritol hexaacrylate (KAYARAD (registered trademark) DPHA, manufactured by Nippon Yaku Yakuhin Co., Ltd.), 10 parts by mass of maleimide compound (E) , 3.3 parts by mass of a maleimide compound (BMI-2300 (trade name), manufactured by Daiwa Hoso Industry Co., Ltd.), and a methyl ethyl ketone (hereinafter may be abbreviated as MEK) slurry of epoxy silane- And 71.4 parts by mass (50 parts by mass in terms of nonvolatile content) were mixed with an organic solvent (SC2050MB (trade name), average particle diameter 0.5 mu m, nonvolatile matter 70 mass%, Admatech Co., Ltd.), and the mixture was stirred with an ultrasonic homogenizer Solution of the resin composition). These varnishes were coated on a PET film (Unifyl (registered trademark) TR1-38, trade name, product name) having a thickness of 38 탆 by using an automatic coating machine (PI-1210, manufactured by Tester Industry Co., Ltd.) And dried by heating at 80 DEG C for 7 minutes to obtain a resin sheet having a resin composition layer having a thickness of 30 mu m using a PET film as a support.
또한, 상기 KAYARAD (등록상표) ZCR-6007H 는, 상기 화합물 (C1) 및 상기 화합물 (C2) ∼ (C5) 의 어느 1 종 이상을 포함하는 혼합물이다.The KAYARAD (registered trademark) ZCR-6007H is a mixture containing at least one of the compound (C1) and the compounds (C2) to (C5).
(내층 회로 기판의 제작)(Fabrication of inner layer circuit board)
내층 회로를 형성한 유리천 기재 BT 수지 양면 구리 피복 적층판 (동박 두께 18 ㎛, 두께 0.2 ㎜, 미츠비시 가스 화학 (주) 제조 CCL (등록상표)-HL832NS) 의 양면을 맥 (주) 제조 CZ8100 으로 동 표면의 조화 처리를 실시하여 내층 회로 기판을 얻었다.Both sides of a glass cloth base BT resin double coated copper clad laminate (copper foil thickness 18 탆, thickness 0.2 탆, CCL (registered trademark) -HL832NS manufactured by Mitsubishi Gas Chemical Co., Ltd.) Surface roughening treatment was carried out to obtain an inner-layer circuit board.
(평가용 적층체의 제작)(Preparation of laminate for evaluation)
상기 수지 시트의 수지면을 내층 회로 기판 상에 배치하고, 진공 라미네이터 (닛코·머테리얼즈 (주) 제조) 를 사용하여, 30 초간 배기 (5.0 ㎫ 이하) 를 실시한 후, 압력 10 kgf/㎠, 온도 70 ℃ 에서 30 초간의 적층 성형을 실시하였다. 또한, 압력 10 kgf/㎠, 온도 70 ℃ 에서 60 초간의 적층 성형을 실시함으로써 내층 회로 기판과 수지 조성물층과 지지체가 적층된 적층체를 얻었다. 얻어진 적층체에 200 mJ/㎠ 의 자외선을 조사하는 노광 공정을 실시하고, 지지체를 박리하여, 1 질량% 의 탄산나트륨 수용액으로 현상하고, 또한 1000 mJ/㎠ 의 자외선을 조사하는 노광 공정을 실시하고, 180 ℃, 120 분간 가열 처리하는 포스트베이크 공정을 실시한 후, 평가용 적층체로 하였다.The resin surface of the resin sheet was placed on the inner layer circuit board and exhausted (5.0 MPa or less) for 30 seconds using a vacuum laminator (manufactured by Nikko Industries Co., Ltd.) Followed by lamination molding at 70 DEG C for 30 seconds. Further, lamination molding was carried out at a pressure of 10 kgf / cm 2 and a temperature of 70 캜 for 60 seconds to obtain a laminate in which an inner layer circuit board, a resin composition layer and a support were laminated. The obtained laminate was subjected to an exposure step of irradiating ultraviolet light of 200 mJ / cm 2, the support was peeled off, developed with a 1% by mass aqueous solution of sodium carbonate and subjected to an exposure step of irradiating ultraviolet rays of 1000 mJ / Post baking step of heating treatment at 180 占 폚 for 120 minutes was carried out to obtain a laminate for evaluation.
(평가용 경화물의 제작)(Preparation of cured product for evaluation)
상기 수지 시트에 200 mJ/㎠ 의 자외선을 조사하고, 또한 1000 mJ/㎠ 의 자외선을 조사하는 노광 공정을 실시하고, 180 ℃, 120 분간 가열 처리하는 포스트베이크 공정을 실시한 후, 지지체를 박리하여 평가용 경화물로 하였다.A post-baking step of irradiating the resin sheet with ultraviolet rays of 200 mJ / cm < 2 > and irradiating ultraviolet rays of 1000 mJ / cm < 2 >, and performing a heat treatment at 180 DEG C for 120 minutes, .
〔실시예 2〕[Example 2]
성분 (A) 로서, 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (NC3000L (상품명), 닛폰 화약 (주) 제조) 21.9 질량부, 광 경화 개시제 (B) 로서, 2-벤질-2-디메틸아미노-1-(4-모르폴리노페닐)-부타논-1 (Irgacure (등록상표) 369, BASF 재팬 (주) 제조) 6.5 질량부, 화합물 (C) 로서, TrisP-PA 에폭시아크릴레이트 화합물의 PGMEA 용액 (KAYARAD (등록상표) ZCR-6007H, 불휘발분 65 질량%, 산가 : 70 mgKOH/g, 닛폰 화약 (주) 제조) 77.5 질량부 (불휘발분 환산으로 50.4 질량부), (C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 로서, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (KAYARAD (등록상표) DPHA, 닛폰 화약 (주) 제조) 17.4 질량부, 말레이미드 화합물 (E) 로서, 말레이미드 화합물 (BMI-2300 (상품명), 다이와 화성 공업 (주) 제조) 3.3 질량부, 충전재 (F) 로서, 에폭시실란 처리 실리카의 MEK 슬러리 (SC2050MB (상품명), 평균 입경 0.5 ㎛, 불휘발분 70 질량%, (주) 아드마텍스 제조) 71.4 질량부 (불휘발분 환산으로 50 질량부), 화합물 (G) 로서, 합성예 1 에서 얻어진 시안산에스테르 화합물 SNCN 0.5 질량부를 배합하고, 초음파 호모게나이저로 교반하여 바니시 (수지 조성물의 용액) 를 얻었다. 이들 바니시를 두께 38 ㎛ 의 PET 필름 (유니필 (등록상표) TR1-38, 유니티카 (주) 제조, 상품명) 상에 자동 도공 장치 (PI-1210, 테스터 산업 (주) 제조) 를 사용하여 도포하고, 80 ℃ 에서 7 분간 가열 건조시켜, PET 필름을 지지체로 하고 수지 조성물층의 두께가 30 ㎛ 인 수지 시트를 얻었다. 이것을 사용하여, 실시예 1 과 동일하게 하여, 평가용 적층체 및 평가용 경화물을 얻었다.As the component (A), 21.9 parts by mass of a biphenylaralkyl type epoxy resin (NC3000L (trade name), manufactured by Nippon Yakasei Co., Ltd.) and 2 parts by mass of 2-benzyl-2-dimethylamino- 6.5 parts by mass of 4-morpholinophenyl) -butanone-1 (Irgacure (registered trademark) 369, manufactured by BASF Japan Ltd.), and PGMEA solution of TrisP-PA epoxy acrylate compound (KAYARAD 77.5 parts by mass (50.4 parts by mass in terms of nonvolatile content)), and an ethylenic unsaturated group other than the component (C) (hereinafter referred to as " ZCR-6007H ", trade name of ZCR-6007H, 65% by mass of nonvolatile content, 70 mgKOH / g of acid value, , 17.4 parts by mass of dipentaerythritol hexaacrylate (KAYARAD (registered trademark) DPHA, manufactured by Nippon Yakuza Co., Ltd.) as the compound (D) having the maleimide compound (BMI-2300 ), 3.3 parts by mass of an epoxy resin (manufactured by Daikin Industries, Ltd.), and MEK slurry of epoxysilane-treated silica (SC2050MB (trade name) , 71.4 parts by mass (50 parts by mass in terms of nonvolatile content), 0.5 parts by mass of the cyanate ester compound SNCN obtained in Synthesis Example 1 And the mixture was stirred with an ultrasonic homogenizer to obtain a varnish (solution of a resin composition). These varnishes were coated on a PET film (Unifyl (registered trademark) TR1-38, trade name, product name) having a thickness of 38 탆 by using an automatic coating machine (PI-1210, manufactured by Tester Industry Co., Ltd.) And dried by heating at 80 DEG C for 7 minutes to obtain a resin sheet having a resin composition layer having a thickness of 30 mu m using a PET film as a support. Using this, a laminate for evaluation and a cured product for evaluation were obtained in the same manner as in Example 1.
〔실시예 3〕[Example 3]
성분 (A) 로서, 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (NC3000L (상품명), 닛폰 화약 (주) 제조) 21.9 질량부, 광 경화 개시제 (B) 로서, 2,4,6-트리메틸벤조일-디페닐-포스핀옥사이드 (Irgacure (등록상표) 819, BASF 재팬 (주) 제조) 6.5 질량부, 화합물 (C) 로서, TrisP-PA 에폭시아크릴레이트 화합물의 PGMEA 용액 (KAYARAD (등록상표) ZCR-6007H, 불휘발분 65 질량%, 산가 : 70 mgKOH/g, 닛폰 화약 (주) 제조) 77.5 질량부 (불휘발분 환산으로 50.4 질량부), (C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 로서, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (KAYARAD (등록상표) DPHA, 닛폰 화약 (주) 제조) 17.4 질량부, 말레이미드 화합물 (E) 로서, 말레이미드 화합물 (BMI-2300 (상품명), 다이와 화성 공업 (주) 제조) 3.3 질량부, 충전재 (F) 로서, 에폭시실란 처리 실리카의 MEK 슬러리 (SC2050MB (상품명), 평균 입경 0.5 ㎛, 불휘발분 70 질량%, (주) 아드마텍스 제조) 71.4 질량부 (불휘발분 환산으로 50 질량부), 화합물 (G) 로서, 합성예 1 에서 얻어진 시안산에스테르 화합물 SNCN 0.5 질량부를 배합하고, 초음파 호모게나이저로 교반하여 바니시 (수지 조성물의 용액) 를 얻었다. 이들 바니시를 두께 38 ㎛ 의 PET 필름 (유니필 (등록상표) TR1-38, 유니티카 (주) 제조, 상품명) 상에 자동 도공 장치 (PI-1210, 테스터 산업 (주) 제조) 를 사용하여 도포하고, 80 ℃ 에서 7 분간 가열 건조시켜, PET 필름을 지지체로 하고 수지 조성물층의 두께가 30 ㎛ 인 수지 시트를 얻었다. 이것을 사용하여, 실시예 1 과 동일하게 하여, 평가용 적층체 및 평가용 경화물을 얻었다.As the component (A), 21.9 parts by mass of a biphenylaralkyl type epoxy resin (NC3000L (trade name), manufactured by Nippon Yakitori Co., Ltd.) and 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl- 6.5 parts by mass of phosphine oxide (Irgacure (registered trademark) 819, manufactured by BASF Japan Ltd.), 10 parts by mass of a PGMEA solution of a TrisP-PA epoxy acrylate compound (KAYARAD (registered trademark) ZCR-6007H, 77.5 parts by mass (50.4 parts by mass in terms of nonvolatile content), 65% by mass, acid value: 70 mgKOH / g, manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) as the compound (D) having an ethylenic unsaturated group other than the component 17.4 parts by mass of maleimide compound (BMI-2300 (trade name), manufactured by Daiwa Hoso Ind. Co., Ltd.) as the maleimide compound (E) ) As a filler (F), a MEK slurry of epoxy silane-treated silica (SC2050MB (trade name), average particle diameter 0.5 (50 parts by mass in terms of nonvolatile content) and 0.5 parts by mass of the cyanate ester compound SNCN obtained in Synthesis Example 1 as a compound (G) were compounded , And the mixture was stirred with an ultrasonic homogenizer to obtain a varnish (solution of a resin composition). These varnishes were coated on a PET film (Unifyl (registered trademark) TR1-38, trade name, product name) having a thickness of 38 탆 by using an automatic coating machine (PI-1210, manufactured by Tester Industry Co., Ltd.) And dried by heating at 80 DEG C for 7 minutes to obtain a resin sheet having a resin composition layer having a thickness of 30 mu m using a PET film as a support. Using this, a laminate for evaluation and a cured product for evaluation were obtained in the same manner as in Example 1.
〔실시예 4〕[Example 4]
성분 (A) 로서, 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (NC3000L (상품명), 닛폰 화약 (주) 제조) 15.8 질량부, 성분 (G) 로서, 나프탈렌형 에폭시 수지 (HP-4710 (상품명), DIC (주) 사 제조) 6.1 질량부, 광 경화 개시제 (B) 로서, 2,4,6-트리메틸벤조일-디페닐-포스핀옥사이드 (Irgacure (등록상표) 819, BASF 재팬 (주) 제조) 6.5 질량부, 화합물 (C) 로서, TrisP-PA 에폭시아크릴레이트 화합물의 PGMEA 용액 (KAYARAD (등록상표) ZCR-6007H, 불휘발분 65 질량%, 산가 : 70 mgKOH/g, 닛폰 화약 (주) 제조) 77.5 질량부 (불휘발분 환산으로 50.4 질량부), (C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 로서, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (KAYARAD (등록상표) DPHA, 닛폰 화약 (주) 제조) 17.4 질량부, 말레이미드 화합물 (E) 로서, 말레이미드 화합물 (BMI-2300 (상품명), 다이와 화성 공업 (주) 제조) 3.3 질량부, 충전재 (F) 로서, 에폭시실란 처리 실리카의 MEK 슬러리 (SC2050MB (상품명), 평균 입경 0.5 ㎛, 불휘발분 70 질량%, (주) 아드마텍스 제조) 71.4 질량부 (불휘발분 환산으로 50 질량부), 화합물 (G) 로서, 합성예 1 에서 얻어진 시안산에스테르 화합물 SNCN 0.5 질량부를 배합하고, 초음파 호모게나이저로 교반하여 바니시 (수지 조성물의 용액) 를 얻었다. 이들 바니시를 두께 38 ㎛ 의 PET 필름 (유니필 (등록상표) TR1-38, 유니티카 (주) 제조, 상품명) 상에 자동 도공 장치 (PI-1210, 테스터 산업 (주) 제조) 를 사용하여 도포하고, 80 ℃ 에서 7 분간 가열 건조시켜, PET 필름을 지지체로 하고 수지 조성물층의 두께가 30 ㎛ 인 수지 시트를 얻었다. 이것을 사용하여, 실시예 1 과 동일하게 하여, 평가용 적층체 및 평가용 경화물을 얻었다.15.8 parts by mass of a biphenylaralkyl type epoxy resin (NC3000L (trade name), manufactured by Nippon Yaku Yakuhin Co., Ltd.) as the component (A) and 20 parts by mass of a naphthalene type epoxy resin (HP-4710 6.1 parts by mass as a photo-curing initiator (B), 6.5 parts by mass of 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl-phosphine oxide (Irgacure (registered trademark) 819, BASF Japan) , 77.5 parts by mass of a PGMEA solution of a TrisP-PA epoxy acrylate compound (KAYARAD (registered trademark) ZCR-6007H, nonvolatile content of 65% by mass, acid value: 70 mgKOH / g, manufactured by Nippon Yaku Yakuhin K.K.) as the compound (C) (KAYARAD (registered trademark) DPHA, manufactured by Nippon Yakugaku Co., Ltd.) as the compound (D) having an ethylenic unsaturated group other than the component (C) in a proportion of 17.4 (50.4 parts by mass in terms of non- , 3.3 parts by mass of a maleimide compound (BMI-2300 (trade name), manufactured by Daiwa Hoso Industry Co., Ltd.) as the maleimide compound (E) 71.4 parts by mass (50 parts by mass in terms of nonvolatile content) of a MEK slurry of epoxy silane-treated silica (SC2050MB (trade name), average particle size of 0.5 占 퐉, nonvolatile component of 70% by mass, , And 0.5 part by mass of the cyanate ester compound SNCN obtained in Synthesis Example 1 as a compound (G) were mixed and stirred with an ultrasonic homogenizer to obtain a varnish (solution of a resin composition). These varnishes were coated on a PET film (Unifyl (registered trademark) TR1-38, trade name, product name) having a thickness of 38 탆 by using an automatic coating machine (PI-1210, manufactured by Tester Industry Co., Ltd.) And dried by heating at 80 DEG C for 7 minutes to obtain a resin sheet having a resin composition layer having a thickness of 30 mu m using a PET film as a support. Using this, a laminate for evaluation and a cured product for evaluation were obtained in the same manner as in Example 1.
〔실시예 5〕[Example 5]
성분 (A) 로서, 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (NC3000L (상품명), 닛폰 화약 (주) 제조) 15.8 질량부, 성분 (G) 로서, 나프탈렌형 에폭시 수지 (HP-4710 (상품명), DIC (주) 사 제조) 6.1 질량부, 광 경화 개시제 (B) 로서, 2,4,6-트리메틸벤조일-디페닐-포스핀옥사이드 (Irgacure (등록상표) 819, BASF 재팬 (주) 제조) 6.5 질량부, 화합물 (C) 로서, TrisP-PA 에폭시아크릴레이트 화합물의 PGMEA 용액 (KAYARAD (등록상표) ZCR-6007H, 불휘발분 65 질량%, 산가 : 70 mgKOH/g, 닛폰 화약 (주) 제조) 77.5 질량부 (불휘발분 환산으로 50.4 질량부), (C) 성분 이외의 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 로서, 디펜타에리트리톨헥사아크릴레이트 (KAYARAD (등록상표) DPHA, 닛폰 화약 (주) 제조) 17.4 질량부, 말레이미드 화합물 (E) 로서, 말레이미드 화합물 (BMI-2300 (상품명), 다이와 화성 공업 (주) 제조) 3.3 질량부, 충전재 (F) 로서, 에폭시실란 처리 실리카의 MEK 슬러리 (SC2050MB (상품명), 평균 입경 0.5 ㎛, 불휘발분 70 질량%, (주) 아드마텍스 제조) 71.4 질량부 (불휘발분 환산으로 50 질량부), 화합물 (G) 로서, 합성예 1 에서 얻어진 시안산에스테르 화합물 SNCN 0.5 질량부, 열 경화 촉진제 (H) 로서, 2-에틸-4-메틸이미다졸 (2E4MZ (상품명), 시코쿠 화성 (주) 제조) 0.2 질량부를 배합하고, 초음파 호모게나이저로 교반하여 바니시 (수지 조성물의 용액) 를 얻었다. 이들 바니시를 두께 38 ㎛ 의 PET 필름 (유니필 (등록상표) TR1-38, 유니티카 (주) 제조, 상품명) 상에 자동 도공 장치 (PI-1210, 테스터 산업 (주) 제조) 를 사용하여 도포하고, 80 ℃ 에서 7 분간 가열 건조시켜, PET 필름을 지지체로 하고 수지 조성물층의 두께가 30 ㎛ 인 수지 시트를 얻었다. 이것을 사용하여, 실시예 1 과 동일하게 하여, 평가용 적층체 및 평가용 경화물을 얻었다.15.8 parts by mass of a biphenylaralkyl type epoxy resin (NC3000L (trade name), manufactured by Nippon Yaku Yakuhin Co., Ltd.) as the component (A) and 20 parts by mass of a naphthalene type epoxy resin (HP-4710 6.1 parts by mass as a photo-curing initiator (B), 6.5 parts by mass of 2,4,6-trimethylbenzoyl-diphenyl-phosphine oxide (Irgacure (registered trademark) 819, BASF Japan) , 77.5 parts by mass of a PGMEA solution of a TrisP-PA epoxy acrylate compound (KAYARAD (registered trademark) ZCR-6007H, nonvolatile content of 65% by mass, acid value: 70 mgKOH / g, manufactured by Nippon Yaku Yakuhin K.K.) as the compound (C) (KAYARAD (registered trademark) DPHA, manufactured by Nippon Yakugaku Co., Ltd.) as the compound (D) having an ethylenic unsaturated group other than the component (C) in a proportion of 17.4 (50.4 parts by mass in terms of non- , 3.3 parts by mass of a maleimide compound (BMI-2300 (trade name), manufactured by Daiwa Hoso Industry Co., Ltd.) as the maleimide compound (E) 71.4 parts by mass (50 parts by mass in terms of nonvolatile content) of a MEK slurry of epoxy silane-treated silica (SC2050MB (trade name), average particle size of 0.5 占 퐉, nonvolatile component of 70% by mass, , 0.5 part by mass of the cyanate ester compound SNCN obtained in Synthesis Example 1 and 2 parts by mass of 2-ethyl-4-methylimidazole (2E4MZ (trade name), manufactured by Shikoku Chemical Co., Ltd.) Ltd.), and the mixture was stirred with an ultrasonic homogenizer to obtain a varnish (solution of the resin composition). These varnishes were coated on a PET film (Unifyl (registered trademark) TR1-38, trade name, product name) having a thickness of 38 탆 by using an automatic coating machine (PI-1210, manufactured by Tester Industry Co., Ltd.) And dried by heating at 80 DEG C for 7 minutes to obtain a resin sheet having a resin composition layer having a thickness of 30 mu m using a PET film as a support. Using this, a laminate for evaluation and a cured product for evaluation were obtained in the same manner as in Example 1.
〔비교예 1〕[Comparative Example 1]
화합물 (C) 대신에, 비스페놀 F 형 에폭시아크릴레이트 (KAYARAD (등록상표) ZFR-1553H, 불휘발분 68 질량%, 산가 : 70 mgKOH/g, 닛폰 화약 (주) 제조) 74.1 질량부 (불휘발분 환산으로 50.4 질량부) 를 사용한 것 이외에는 실시예 1 과 동일하게 하여 바니시를 조제하여, 수지 시트, 평가용 적층체 및 평가용 경화물을 얻었다.Except that 74.1 parts by mass of bisphenol F type epoxy acrylate (KAYARAD (registered trademark) ZFR-1553H, nonvolatile matter 68% by mass, acid value 70 mgKOH / g, manufactured by Nippon Yaku Yakuhin KK) (50.4 parts by mass) was used in place of the resin composition of Example 1 to prepare a varnish, to obtain a resin sheet, a laminate for evaluation, and a cured product for evaluation.
또한, KAYARAD (등록상표) ZFR-1553H 는, 상기 식 (2) 로 나타내는 구조를 갖지 않는다.In addition, KAYARAD (registered trademark) ZFR-1553H does not have the structure represented by the above formula (2).
〔비교예 2〕[Comparative Example 2]
성분 (A) 대신에, 나프탈렌형 에폭시 수지 (HP-4710 (상품명), DIC (주) 제조) 22.4 질량부를 사용한 것 이외에는 실시예 1 과 동일하게 하여 바니시를 조제하여, 수지 시트, 평가용 적층체 및 평가용 경화물을 얻었다.A varnish was prepared in the same manner as in Example 1 except that 22.4 parts by mass of a naphthalene type epoxy resin (HP-4710 (trade name), manufactured by DIC Corporation) was used in place of the component (A) And a cured product for evaluation were obtained.
〔비교예 3〕[Comparative Example 3]
성분 (A) 대신에, 다관능형 에폭시 수지 (1031S (상품명), 미츠비시 화학 (주) 제조) 22.4 질량부를 사용한 것 이외에는 실시예 1 과 동일하게 하여 바니시를 조제하여, 수지 시트, 평가용 적층체 및 평가용 경화물을 얻었다.A varnish was prepared in the same manner as in Example 1 except that 22.4 parts by mass of a multifunctional epoxy resin (1031S (trade name), manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) was used instead of the component (A) to prepare a resin sheet, To obtain a cured product for evaluation.
또한, 상기 다관능형 에폭시 수지 (1031S (상품명), 미츠비시 화학 (주) 제조) 는, 이하의 구조식 (12) 를 갖는다.The polyfunctional epoxy resin (1031S (trade name), manufactured by Mitsubishi Chemical Corporation) has the following structural formula (12).
[화학식 20][Chemical Formula 20]
〔물성 측정 평가〕[Evaluation of physical properties]
수지 시트, 평가용 적층체 및 평가용 경화물을, 이하의 방법에 의해 측정하고, 평가하였다. 그들의 결과를 표 1 에 나타낸다.The resin sheet, the evaluation laminate and the cured product for evaluation were measured and evaluated by the following methods. The results are shown in Table 1.
<도막성><Film Formation>
A4 사이즈의 각 지지체가 형성된 수지 시트의 수지 표면 단부에 손가락을 가볍게 눌러, 손가락에 대한 부착 정도를 이하의 기준으로 평가하였다.The fingers were lightly pressed against the resin surface end portion of the resin sheet on which each support of A4 size was formed, and the degree of attachment to the fingers was evaluated according to the following criteria.
○ : 손가락에 대한 부착이 거의 확인되지 않는다. 지지체가 형성된 수지 시트의 단부가 손가락에 부착되지만, 높이 30 ㎜ 미만에서 손가락으로부터 박리되어 낙하한다.?: Almost no adhesion to the finger is confirmed. The end of the resin sheet on which the support is formed adheres to the finger, but peels off from the finger at a height less than 30 mm and drops.
× : 손가락에 대한 부착이 확인된다. 지지체가 형성된 수지 시트의 단부가 손가락에 부착되어, 높이 30 ㎜ 이상 부상한다.X: Attachment to the finger is confirmed. The end portion of the resin sheet on which the support is formed is attached to the fingers and floats at a height of 30 mm or more.
<내열성 (유리 전이 온도)>≪ Heat resistance (glass transition temperature) >
평가용 경화물을 DMA 장치 (TA 인스트루먼트사 제조 동적 점탄성 측정 장치 DMAQ800 (상품명)) 를 사용하여 10 ℃/분으로 승온하여, LossModulus 의 피크 위치를 유리 전이 온도 (Tg, ℃) 로 하였다.The cured product for evaluation was heated at a rate of 10 ° C / min using a DMA device (dynamic viscoelasticity measuring device DMAQ800 (trade name) manufactured by TA Instrument), and the peak position of the loss modulus was defined as a glass transition temperature (Tg, ° C).
<현상성><Developability>
평가용 적층체의 현상면을, 현상 공정이 개시하고 나서 육안으로 잔류물이 없어질 때까지의 시간을 측정한 후, SEM (주사 전자 현미경) 으로 관찰 (배율 1000 배) 하여, 잔류물의 유무를 하기 기준으로 평가하였다.The development surface of the evaluation laminate was observed with a scanning electron microscope (SEM) (magnification: 1000 times) after measuring the time from the start of the development process to the time when the residue disappears visually, and the presence or absence of the residue And evaluated according to the following criteria.
◎ : 육안에서의 현상 잔류물이 없어질 때까지의 시간이 50 sec 이하이고, SEM 관찰 후에도 가로세로 30 ㎜ 의 범위에 현상 잔류물은 없어, 현상성이 매우 우수하다.?: The time until the development residue in the naked eye disappears is 50 sec or less, and there is no developing residue in the range of 30 mm in width and after the SEM observation, and the developing property is excellent.
○ : 육안에서의 현상 잔류물이 없어질 때까지의 시간이 50 sec 를 초과하지만, SEM 관찰 후에도 가로세로 30 ㎜ 의 범위에 현상 잔류물은 없어, 현상성이 우수하다. ?: The time until the development residue in the naked eye disappears is more than 50 sec, but there is no developing residue in the range of 30 mm in width and after the SEM observation, and the developing property is excellent.
× : 가로세로 30 ㎜ 의 범위에 현상 잔류물이 있어, 현상성이 뒤떨어진다.X: Developed residue exists in a range of 30 mm in length and width, resulting in poor developability.
평가용 경화물의 습식 조화 처리와 도체층 도금 : Wet coarsening treatment of the cured product for evaluation and conductor layer plating:
실시예 1 ∼ 5 및 비교예 1 ∼ 3 에서 얻어진 다층 프린트 배선판을, 우에무라 공업 제조의 무전해 동 도금 프로세스 (사용 약액명 : MCD-PL, MDP-2, MAT-SP, MAB-4-C, MEL-3-APEA ver.2) 로, 약 0.8 ㎛ 의 무전해 동 도금을 실시하고, 130 ℃ 에서 1 시간의 건조를 실시하였다. 계속해서, 전해 동 도금을 도금 동의 두께가 18 ㎛ 가 되도록 실시하고, 180 ℃ 에서 1 시간의 건조를 실시하였다. 이렇게 하여, 절연층 상에 두께 18 ㎛ 의 도체층 (도금 동) 이 형성된 샘플을 제작하고, 이하의 평가에 제공하였다.The multilayer printed wiring boards obtained in Examples 1 to 5 and Comparative Examples 1 to 3 were subjected to electroless copper plating process (use chemical name: MCD-PL, MDP-2, MAT-SP, MAB-4-C , MEL-3-APEA ver.2), electroless copper plating of about 0.8 μm was carried out, and drying was carried out at 130 ° C. for 1 hour. Subsequently, the electrolytic copper plating was carried out so that the thickness of the plating copper was 18 占 퐉, and the coating was dried at 180 占 폚 for 1 hour. Thus, a sample having a conductor layer (plated copper) having a thickness of 18 mu m formed on the insulating layer was prepared and provided for the following evaluation.
<도금 밀착성 (kN/m)>≪ Plating adhesion (kN / m) >
상기 순서에 의해 제작된 샘플을 이용하여, 도금 동의 접착력을 JIS C 6481 에 준하여 3 회 측정하고, 평균치를 구하였다. 전해 동 도금 후의 건조로 팽윤된 샘플에 관해서는, 팽윤되어 있지 않은 부분을 사용하여 평가를 실시하였다.Using the samples prepared in the above procedure, the adhesive strength of the plating copper was measured three times in accordance with JIS C 6481, and the average value was obtained. The samples swollen by the drying after the electrolytic copper plating were evaluated by using the portions which were not swelled.
표 1 로부터 분명한 바와 같이, 실시예 1 ∼ 5 는 도금 밀착성이 우수하다. 그 중에서도, 실시예 2 ∼ 5 는 내열성 및 도금 밀착성이 양호하고, 특히, 실시예 3 ∼ 5 는, 내열성 및 도금 밀착성이 현저하게 우수하다. 또한, 실시예 4 및 5 는, 현상성도 우수하다. 이에 반하여, 비교예 1 ∼ 3 은 도금 밀착성이 불충분하다. 따라서, 본 발명에 의하면, 도금 밀착성이 우수하고, 내열성 및 현상성도 우수한 수지 조성물, 그것을 사용한 수지 시트, 다층 프린트 배선판 및 반도체 장치가 얻어진다.As apparent from Table 1, Examples 1 to 5 are excellent in the plating adhesion. Among them, Examples 2 to 5 are excellent in heat resistance and plating adhesion, and in particular, Examples 3 to 5 are remarkably excellent in heat resistance and plating adhesion. In addition, Examples 4 and 5 are excellent in developing property. On the contrary, the coating adhesiveness of Comparative Examples 1 to 3 was insufficient. Therefore, according to the present invention, a resin composition excellent in adhesion to plating, excellent in heat resistance and developability, a resin sheet using the same, a multilayer printed wiring board, and a semiconductor device can be obtained.
Claims (14)
[화학식 1]
(식 (1) 중, n 은 0 ∼ 15 의 정수를 나타낸다.)
[화학식 2]
(식 (2) 중, 복수의 R1 은, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 메틸기를 나타내고, 복수의 R2 는, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 치환기를 가지고 있어도 되는 탄소수 1 ∼ 22 의 탄화수소기를 나타내고, 복수의 R3 은, 각각 독립적으로, 하기 식 (3) 으로 나타내는 치환기, 하기 식 (4) 로 나타내는 치환기 또는 하이드록시기를 나타낸다.).
[화학식 3]
[화학식 4]
(식 (4) 중, R4 는, 수소 원자 또는 메틸기를 나타낸다.).(B) other than the compound (C) represented by the following formula (2) and the compound (C) represented by the following formula (2) And a compound (D) having an ethylenically unsaturated group.
[Chemical Formula 1]
(In the formula (1), n represents an integer of 0 to 15.)
(2)
(In the formula (2), a plurality of R 1 s each independently represents a hydrogen atom or a methyl group, the plurality of R 2 s each independently represent a hydrogen atom or a hydrocarbon group of 1 to 22 carbon atoms which may have a substituent , And the plurality of R 3 independently represent a substituent represented by the following formula (3), a substituent represented by the following formula (4) or a hydroxy group.
(3)
[Chemical Formula 4]
(In the formula (4), R 4 represents a hydrogen atom or a methyl group.).
말레이미드 화합물 (E) 를 추가로 함유하는, 수지 조성물.The method according to claim 1,
And a maleimide compound (E).
충전재 (F) 를 추가로 함유하는, 수지 조성물.3. The method according to claim 1 or 2,
And further contains a filler (F).
시안산에스테르 화합물, 페놀 수지, 옥세탄 수지, 벤조옥사진 화합물 및 상기 (1) 로 나타내는 비페닐아르알킬형 에폭시 수지 (A) 와 상이한 에폭시 수지로 이루어지는 군에서 선택되는 어느 1 종 이상의 화합물 (G) 를 추가로 함유하는, 수지 조성물.4. The method according to any one of claims 1 to 3,
(G) selected from the group consisting of a cyanate ester compound, a phenol resin, an oxetane resin, a benzoxazine compound, and an epoxy resin different from the biphenylaralkyl type epoxy resin (A) ). ≪ / RTI >
상기 식 (2) 로 나타내는 화합물 (C) 의 산가가, 30 mgKOH/g 이상 120 mgKOH/g 이하인, 수지 조성물.5. The method according to any one of claims 1 to 4,
Wherein the acid value of the compound (C) represented by the formula (2) is 30 mgKOH / g or more and 120 mgKOH / g or less.
성분 (A) 의 함유량이, 수지 조성물 중의 수지 고형분 100 질량부에 대하여, 3 질량부 이상 50 질량부 이하인, 수지 조성물.6. The method according to any one of claims 1 to 5,
Wherein the content of the component (A) is 3 parts by mass or more and 50 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the resin solid content in the resin composition.
상기 에틸렌성 불포화기를 갖는 화합물 (D) 가, (메트)아크릴로일기를 갖는 화합물 및/또는 비닐기를 갖는 화합물인, 수지 조성물.7. The method according to any one of claims 1 to 6,
Wherein the ethylenically unsaturated group-containing compound (D) is a compound having a (meth) acryloyl group and / or a compound having a vinyl group.
상기 충전재 (F) 가, 실리카, 베마이트, 황산바륨, 실리콘 파우더, 불소 수지계 충전재, 우레탄 수지계 충전재, 아크릴 수지계 충전재, 폴리에틸렌계 충전재, 스티렌·부타디엔 고무 및 실리콘 고무로 이루어지는 군에서 선택되는 어느 1 종류 이상인, 수지 조성물.The method of claim 3,
Wherein the filler (F) is at least one kind selected from the group consisting of silica, boehmite, barium sulfate, silicone powder, fluororesin filler, urethane resin filler, acrylic resin filler, polyethylene filler, styrene / butadiene rubber, By weight.
열 경화 촉진제 (H) 를 추가로 함유하는, 수지 조성물.9. The method according to any one of claims 1 to 8,
And a thermosetting accelerator (H).
하기 식 (5) 로 나타내는 나프탈렌형 에폭시 수지를 추가로 함유하는, 수지 조성물.
[화학식 5]
10. The method according to any one of claims 1 to 9,
A resin composition further comprising a naphthalene type epoxy resin represented by the following formula (5).
[Chemical Formula 5]
상기 광 경화 개시제 (B) 가, 하기 식 (6) 으로 나타내는 포스핀옥사이드 화합물을 함유하는, 수지 조성물.
[화학식 6]
(식 (6) 중, R5 ∼ R10 은, 각각 독립적으로, 수소 원자 또는 탄소수 1 ∼ 4 의 알킬기를 나타내고, R11 은, 탄소수 1 ∼ 20 의 알킬기 또는 탄소수 6 ∼ 20 의 아릴기를 나타낸다.)11. The method according to any one of claims 1 to 10,
Wherein the photo-curing initiator (B) contains a phosphine oxide compound represented by the following formula (6).
[Chemical Formula 6]
(In the formula (6), R 5 to R 10 each independently represent a hydrogen atom or an alkyl group having 1 to 4 carbon atoms, and R 11 represents an alkyl group having 1 to 20 carbon atoms or an aryl group having 6 to 20 carbon atoms. )
Applications Claiming Priority (5)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JPJP-P-2016-128722 | 2016-06-29 | ||
JP2016128722 | 2016-06-29 | ||
JPJP-P-2017-013316 | 2017-01-27 | ||
JP2017013316 | 2017-01-27 | ||
PCT/JP2017/018045 WO2018003314A1 (en) | 2016-06-29 | 2017-05-12 | Resin composition, resin sheet, multilayer printed circuit board, and semiconductor device |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
KR20190022480A true KR20190022480A (en) | 2019-03-06 |
KR102324898B1 KR102324898B1 (en) | 2021-11-10 |
Family
ID=60785117
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
KR1020187033291A KR102324898B1 (en) | 2016-06-29 | 2017-05-12 | Resin composition, resin sheet, multilayer printed wiring board and semiconductor device |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP6913305B2 (en) |
KR (1) | KR102324898B1 (en) |
CN (1) | CN109415491B (en) |
TW (1) | TWI744332B (en) |
WO (1) | WO2018003314A1 (en) |
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KR102454135B1 (en) * | 2021-05-27 | 2022-10-14 | 한국화학연구원 | Two part epoxy adhesive composition containing acid anhydride-based epoxy compound modified with fatty acid and cured product prepared therfrom |
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-
2017
- 2017-05-12 KR KR1020187033291A patent/KR102324898B1/en active IP Right Grant
- 2017-05-12 JP JP2018524943A patent/JP6913305B2/en active Active
- 2017-05-12 WO PCT/JP2017/018045 patent/WO2018003314A1/en active Application Filing
- 2017-05-12 CN CN201780040875.6A patent/CN109415491B/en active Active
- 2017-05-24 TW TW106117074A patent/TWI744332B/en active
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KR102324898B1 (en) | 2021-11-10 |
JP6913305B2 (en) | 2021-08-04 |
TWI744332B (en) | 2021-11-01 |
CN109415491A (en) | 2019-03-01 |
TW201800473A (en) | 2018-01-01 |
CN109415491B (en) | 2022-05-03 |
JPWO2018003314A1 (en) | 2019-04-18 |
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JP2023167803A (en) | resin composition |
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E701 | Decision to grant or registration of patent right | ||
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