KR20180111581A - Method for cleaning a sputtering target, apparatus for cleaning a sputtering target, method for manufacturing a sputtering target, sputtering target, method for manufacturing a recycled ingot and a recycled ingot - Google Patents

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Abstract

Provided is a method for cleaning a target, comprising: a process of separating a target from a sputtering target where a target mainly composed of metal and a support member are coupled by using a bonding material; and a process of injecting water to a surface of the target where the bonding material is attached in order to remove the bonding material from the target material. The target can be reused as an ingot.

Description

타깃재의 세정 방법, 그것을 위한 장치, 타깃재의 제조 방법 및 타깃재, 및 리사이클 주괴의 제조 방법 및 리사이클 주괴{METHOD FOR CLEANING A SPUTTERING TARGET, APPARATUS FOR CLEANING A SPUTTERING TARGET, METHOD FOR MANUFACTURING A SPUTTERING TARGET, SPUTTERING TARGET, METHOD FOR MANUFACTURING A RECYCLED INGOT AND A RECYCLED INGOT}FIELD OF THE INVENTION [0001] The present invention relates to a method of cleaning a target material, an apparatus therefor, a method of manufacturing a target material, a target material, and a method of manufacturing a reclaim ingot and a recycling ingot. , METHOD FOR MANUFACTURING A RECYCLED INGOT AND A RECYCLED INGOT}

본 발명은, 타깃재의 세정 방법, 그것을 위한 장치, 타깃재의 제조 방법, 타깃재, 리사이클 주괴(鑄塊)의 제조 방법 및 리사이클 주괴에 관한 것이다.The present invention relates to a method of cleaning a target material, an apparatus therefor, a method of manufacturing a target material, a target material, a method of manufacturing a reclaim ingot, and a reclaim ingot.

스퍼터링 타깃은, 일반적으로, 금속, 합금이나 세라믹으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합(본딩)되어 이루어진다. 타깃재는, 그 사용 후에 있어서 회수되며, 금속은 다시 용해하여 주조함으로써 주괴(슬래브, 잉곳)로서 재사용(리사이클)할 수 있다.The sputtering target is generally formed by bonding (bonding) a target material composed of a metal, an alloy or a ceramic and a supporting member with a bonding material. The target material is recovered after its use, and the metal can be reused (recycled) as an ingot (slab, ingot) by dissolving and casting again.

스퍼터링 타깃의 리사이클에 관하여, 예를 들면, 일본공개특허 특개2005-23350호 공보, 일본공개특허 특개2005-23349호 공보나 국제공개 제2015/151498호 팸플릿에는, 산 처리나 블라스트 처리 등의 기계적 제거에 의한 스퍼터링 타깃의 표면 부착물의 제거가 개시되어 있다.Regarding the recycling of the sputtering target, for example, Japanese Patent Application Laid-Open Nos. 2005-23350, 2005-23349, and 2015/151498 disclose mechanical recycling such as acid treatment or blast treatment The removal of the surface adherend of the sputtering target is disclosed.

본 발명자는, 예의 연구한 결과, 주로 금속으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 스퍼터링 타깃에 있어서, 그 사용 후에 스퍼터링 타깃으로부터 타깃재를 분리하고, 그 후, 타깃재의 접합재가 부착되어 잔존하는 면에 물을 분사하는 것에 의해 타깃재를 세정함으로써, 타깃재로부터, 부착된 접합재를 간편하게 제거할 수 있는 것을 발견했다.As a result of intensive studies, the inventors of the present invention have found that, in a sputtering target in which a target material mainly composed of metal and a support member are joined by a bonding material, the target material is separated from the sputtering target after use, It has been found that the attached bonding material can be easily removed from the target material by cleaning the target material by spraying water onto the remaining surface attached thereto.

본원은, 이하의 발명에 관한 것이다.The present invention relates to the following invention.

[1] 주로 금속으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 스퍼터링 타깃으로부터 상기 타깃재를 분리하는 공정과, 상기 타깃재에 있어서의 상기 접합재가 부착되어 있는 면에 물을 분사함으로써, 상기 타깃재로부터 상기 접합재를 제거하는 공정을 포함하는 타깃재의 세정 방법.[1] A process for producing a target material, comprising the steps of: separating the target material from a target material mainly composed of metal; and a sputtering target having a support member joined with a bonding material; spraying water on the surface of the target material on which the bonding material is adhered And a step of removing the bonding material from the target material.

[2] 상기 물의 압력이 90MPa 이상인 [1]에 기재된 타깃재의 세정 방법.[2] The method of cleaning a target material according to [1], wherein the pressure of the water is 90 MPa or more.

[3] 상기 금속이 알루미늄 또는 구리인 [1] 또는 [2]에 기재된 타깃재의 세정 방법.[3] A method for cleaning a target material described in [1] or [2], wherein the metal is aluminum or copper.

[4] [1]~[3] 중 어느 하나에 기재된 세정 방법을 행하는 공정을 포함하는, 타깃재의 제조 방법.[4] A method for producing a target material, which comprises the step of carrying out the cleaning method according to any one of [1] to [3].

[5] 주로 금속으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 스퍼터링 타깃으로부터 분리된 타깃재로서,[5] A target material mainly composed of a metal and a target material separated from a sputtering target in which a support member is joined with a bonding material,

상기 접합재 및 상기 지지 부재에 유래하는 원소가, 에너지 분산형 형광 X선 분석에 의해, 검출되지 않는 것을 특징으로 하는 타깃재.And the elements derived from the bonding material and the support member are not detected by energy-dispersive X-ray fluorescence analysis.

[6] [1]~[3] 중 어느 하나에 기재된 세정 방법을 행함으로써 얻어진 타깃재를 주조함으로써, 상기 금속을 포함하는 리사이클 주괴를 얻는 공정을 포함하는 리사이클 주괴의 제조 방법.[6] A process for producing a recycled ingot comprising the step of casting a target material obtained by performing the cleaning method according to any one of [1] to [3] to obtain a reclaim ingot containing the metal.

[7] 주로 금속으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 스퍼터링 타깃의 타깃재에 유래하는 리사이클 주괴로서,[7] A reclaim ingot derived from a target material mainly composed of metal and a target material of a sputtering target having a support member joined with a bonding material,

상기 접합재 및 상기 지지 부재에 유래하는 원소의 합계량이 중량 기준으로 10ppm 미만인 리사이클 주괴.Wherein a total amount of the elements derived from the bonding material and the support member is less than 10 ppm by weight.

[8] 상기 리사이클 주괴의 주성분인 금속이 알루미늄 또는 구리인 [7]에 기재된 리사이클 주괴.[8] A recycled ingot as described in [7], wherein the metal as the main component of the recycled ingot is aluminum or copper.

[9] 상기 리사이클 주괴의 주성분인 금속이 알루미늄이며, 상기 원소의 합계량이 중량 기준으로 5ppm 미만인 것을 특징으로 하는 [7]에 기재된 리사이클 주괴.[9] The recycled ingot according to [7], wherein the metal as the main component of the recycled ingot is aluminum and the total amount of the elements is less than 5 ppm by weight.

[10] 주로 금속으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 스퍼터링 타깃으로부터 분리된 상기 타깃재에 있어서의 상기 접합재가 부착되어 있는 면에 물을 분사함으로써, 상기 타깃재로부터 상기 접합재를 제거하기 위해 이용되는 장치이며,[10] A sputtering target comprising a target material mainly composed of a metal and a target material separated from a sputtering target in which a support member is joined by a bonding material, water is sprayed from the target material onto the surface to which the bonding material is adhered, , The apparatus comprising:

상기 타깃재에 물을 분사하기 위한 분사구를 적어도 1개 구비하는 적어도 1개의 노즐 헤드와,At least one nozzle head having at least one jetting port for jetting water to the target material,

상기 노즐 헤드를 조작하기 위한 액추에이터와,An actuator for operating the nozzle head,

상기 액추에이터가 배치되며, 상기 타깃재를 수용하여 처리하기 위한 처리실을 포함하는, 장치.And a processing chamber in which the actuator is disposed and for receiving and processing the target material.

[11] 상기 타깃재를 상기 처리실 내에 고정하기 위한 클램프를 더 포함하는, [10]에 기재된 장치.[11] The apparatus according to [10], further comprising a clamp for fixing the target material in the treatment chamber.

[12] 상기 타깃재를 반전시키기 위한 반전 기구를 더 포함하는, [10] 또는 [11]에 기재된 장치.[12] The apparatus according to [10] or [11], further comprising an inversion mechanism for inverting the target material.

[13] 상기 분사구로부터 분사된 물을 회수하여 배수하고, 상기 타깃재로부터 제거된 접합재를 포함하는 처리물을 분리하기 위한 배수 기구를 포함하는, [10]~ [12] 중 어느 하나에 기재된 장치.[13] The apparatus according to any one of [10] to [12], further comprising a drain mechanism for collecting and discharging the water jetted from the jetting port and separating the processed material including the bonding material removed from the target material. .

도 1은 본 발명의 개요를 나타내는 개략도이다.
도 2는 스퍼터링 타깃의 타깃재와 지지 부재와의 결합을 나타내는 개략도이다.
도 3은 다른 스퍼터링 타깃의 타깃재와 지지 부재와의 결합을 나타내는 개략도이다.
도 4는 다른 스퍼터링 타깃의 타깃재와 지지 부재와의 결합을 나타내는 개략도이다.
도 5는 본 발명에 있어서 사용하는 것이 가능한 장치의 실시 형태를 모식적으로 나타내는 개략 사시도이다.
도 6은 본 발명에 있어서 사용하는 것이 가능한 장치의 실시 형태를 모식적으로 나타내는 개략 상면도이다.
도 7은 도 6에 나타내는 장치의 A-A에서의 단면을 나타내는 개략도이다.
도 8은 도 6에 나타내는 장치의 B-B에서의 단면을 나타내는 개략도이다.
도 9는 도 5~8에 나타내는 액추에이터(103)와 노즐 헤드(102)와의 관계를 모식적으로 나타내는 개략도이다.
도 10은 배수 기구의 일례로서의 막 분리식의 고액 분리 장치를 모식적으로 나타내는 개략도이다.
도 11은 배수 기구의 일례로서의 다단식의 침전조를 모식적으로 나타내는 개략도이다.
1 is a schematic diagram showing an outline of the present invention.
Fig. 2 is a schematic view showing the coupling of the target material and the support member of the sputtering target. Fig.
Fig. 3 is a schematic view showing the coupling of the target material and the support member of another sputtering target. Fig.
4 is a schematic view showing the coupling of a target material and a support member of another sputtering target.
5 is a schematic perspective view schematically showing an embodiment of an apparatus that can be used in the present invention.
Fig. 6 is a schematic top view schematically showing an embodiment of an apparatus usable in the present invention. Fig.
7 is a schematic view showing a cross section taken along the line AA of the apparatus shown in Fig.
Fig. 8 is a schematic view showing a section in BB of the apparatus shown in Fig. 6; Fig.
9 is a schematic view schematically showing the relationship between the actuator 103 shown in Figs. 5 to 8 and the nozzle head 102. Fig.
10 is a schematic view schematically showing a membrane separation type solid-liquid separation device as an example of a drainage mechanism.
11 is a schematic view schematically showing a multistage sedimentation tank as an example of a drainage mechanism.

본 발명에 있어서, 스퍼터링 타깃은, 예를 들면 도 1의 개략도에 나타내는 바와 같이, 일반적으로 금속을 용해하고, 주조하여 얻어지는 주괴를 가공(예를 들면, 얻어진 주괴에 압연, 압출 등의 소성 가공을 실시한 후, 절삭, 연마 등의 기계 가공)하여 평판형이나 원통형 등의 형상을 가지는 타깃재를 제작하고, 이 타깃재와, 별도로 제작한 지지 부재인 백킹 플레이트나 백킹 튜브 등을 접합재를 이용하여 결합 또는 접합함으로써 제작할 수 있다.In the present invention, as shown in the schematic diagram of Fig. 1, for example, in the present invention, an ingot obtained by melting a metal and casting the ingot is generally processed (for example, the obtained ingot is subjected to a sintering process such as rolling or extrusion After machining such as cutting and polishing, a target material having a shape such as a flat plate shape or a cylindrical shape is manufactured, and the target material and a backing plate or backing tube, which are separately formed support members, Or by bonding.

본 발명의 일 실시 형태에 의하면, 스퍼터링에 사용한 스퍼터링 타깃은, 타깃재와 지지 부재로 분리된다. 또한, 분리된 타깃재에 대하여 물을 분사함으로써, 당해 타깃재로부터 접합재를 제거할 수 있다. 또한, 접합재를 제거한 타깃재를 용해하여, 주조함으로써 주괴(이하, 「리사이클 주괴」라고 칭함)가 얻어진다. 이 리사이클 주괴를 가공함으로써, 타깃재를 제조할 수 있다.According to one embodiment of the present invention, the sputtering target used for sputtering is separated into a target material and a support member. Further, by spraying water onto the separated target material, the bonding material can be removed from the target material. In addition, the ingot material from which the bonding material has been removed is melted and cast to obtain ingot (hereinafter referred to as "recycled ingot"). By processing the recycled ingot, the target material can be produced.

타깃재의 세정 방법How to clean the target material

본 발명에 있어서, 「스퍼터링 타깃」은, 주로 금속(원소)으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 것이며, 스퍼터링에 사용될 수 있는 것이면 특별히 제한은 없다.In the present invention, the " sputtering target " is not particularly limited as long as it is composed of a target material composed mainly of a metal (element) and a support member joined together by a bonding material and can be used for sputtering.

스퍼터링 타깃이 평판형인 경우, 지지 부재로서, 평판 형상의 백킹 플레이트가 이용될 수 있다. 또한, 스퍼터링 타깃이 원통형인 경우, 지지 부재로서, 원통 형상의 백킹 튜브가 이용될 수 있다. 여기서, 원통형 타깃재의 내부에는, 원통 형상의 백킹 튜브를 삽입할 수 있어, 원통형 타깃재의 내주부(內周部)와 백킹 튜브의 외주부(外周部)가 접합재에 의해 결합될 수 있다.When the sputtering target is a flat plate type, a flat plate-like backing plate may be used as a supporting member. Further, when the sputtering target is cylindrical, a cylindrical backing tube may be used as the supporting member. Here, a cylindrical backing tube can be inserted into the cylindrical target member, so that the inner peripheral portion of the cylindrical target member and the outer peripheral portion of the backing tube can be joined by the bonding material.

「타깃재」는, 주로, 금속(원소)으로 구성될 수 있는 것이며, 예를 들면, 알루미늄(Al), 구리(Cu), 크롬(Cr), 철(Fe), 탄탈(Ta), 티탄(Ti), 지르코늄(Zr), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo), 니오브(Nb), 은(Ag), 코발트(Co), 루테늄(Ru), 백금(Pt), 팔라듐(Pd), 금(Au), 로듐(Rh), 이리듐(Ir) 및 니켈(Ni)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 금속(원소)을 포함하는 것이고, 상기의 금속을 포함하는 합금이어도 된다. 타깃재로서는, 비커스 경도가 통상 200 이하, 바람직하게는 100 이하, 더 바람직하게는 50 이하인 금속 또는 합금인 것이 바람직하다. 그 중에서도 주로 알루미늄(순도 99.99%(4N) 이상, 바람직하게는 순도 99.999%(5N) 이상) 또는 구리(순도 99.99%(4N) 이상)로 구성되는 것이 바람직하다. 비커스 경도는, 비커스 경도 시험(JIS Z 2244:2003)에 의해 확인할 수 있다. 타깃재의 치수, 형상 및 구조에 특별히 제한은 없다. 타깃재로서, 판 형상의 것을 사용하는 것이 바람직하다.The " target material " is mainly composed of a metal (element), for example, aluminum (Al), copper (Cu), chromium (Cr), iron (Fe), tantalum (Ta) Ti, Zr, W, Mo, Nb, Ag, Co, Ru, Pt, Pd, (Element) selected from the group consisting of gold (Au), rhodium (Rh), iridium (Ir) and nickel (Ni). The target material is preferably a metal or an alloy having a Vickers hardness of usually 200 or less, preferably 100 or less, more preferably 50 or less. Among them, it is preferable to mainly consist of aluminum (purity of 99.99% (4N) or more, preferably purity of 99.999% (5N) or more) or copper (purity of 99.99% (4N) or more). Vickers hardness can be confirmed by Vickers hardness test (JIS Z 2244: 2003). The dimensions, shape, and structure of the target material are not particularly limited. As the target material, it is preferable to use a plate-like material.

타깃재가 판 형상인 경우, 타깃재의 길이 방향의 치수는, 예를 들면 500mm~4000mm, 바람직하게는 1000mm~3200mm, 보다 바람직하게는 1200mm~2700mm이다.When the target material has a plate shape, the dimension of the target material in the longitudinal direction is, for example, 500 mm to 4000 mm, preferably 1000 mm to 3200 mm, and more preferably 1200 mm to 2700 mm.

폭 방향(길이 방향에 대하여 수직인 방향)의 치수는, 예를 들면 50mm~1200mm, 바람직하게는 150mm~750mm, 보다 바람직하게는 170mm~300mm이다.The dimension in the width direction (direction perpendicular to the longitudinal direction) is, for example, 50 mm to 1200 mm, preferably 150 mm to 750 mm, and more preferably 170 mm to 300 mm.

두께는, 예를 들면 5mm~35mm, 바람직하게는 10mm~30mm, 보다 바람직하게는 12mm~25mm이다.The thickness is, for example, 5 mm to 35 mm, preferably 10 mm to 30 mm, and more preferably 12 mm to 25 mm.

본 발명에서는, 예를 들면, 대형의 플랫 패널 디스플레이용의 타깃재라도 간편하게 처리할 수 있다.In the present invention, for example, even a target material for a large flat panel display can be easily processed.

지지 부재가, 「백킹 플레이트」인 경우에는, 주로, 구리(Cu), 크롬(Cr), 알루미늄(Al), 티탄(Ti), 텅스텐(W), 몰리브덴(Mo), 탄탈(Ta), 니오브(Nb), 철(Fe), 코발트(Co) 및 니켈(Ni)로 이루어지는 군으로부터 선택되는 금속(원소)을 포함하고, 상기의 금속을 포함하는 합금이어도 된다. 지지 부재는, 「백킹 플레이트」인 경우, 구리(무산소 구리), 크롬 구리 합금, 알루미늄 합금 등인 것이 바람직하다. 타깃재를 배치하는 것이 가능한 판 형상의 것이면, 백킹 플레이트의 치수, 형상 및 구조에 특별히 제한은 없다.When the support member is a " backing plate ", it is mainly composed of at least one of copper (Cu), chromium (Cr), aluminum (Al), titanium (Ti), tungsten (W), molybdenum (Mo), tantalum (Element) selected from the group consisting of iron (Nb), iron (Fe), cobalt (Co) and nickel (Ni). In the case of the "backing plate", the supporting member is preferably copper (oxygen-free copper), chrome copper alloy, aluminum alloy, or the like. The size, shape, and structure of the backing plate are not particularly limited as long as it is plate-like in which the target material can be disposed.

지지 부재가, 「백킹 튜브」인 경우에도, 구성하는 금속은, 상기의 백킹 플레이트의 경우와 동일하다. 지지 부재는, 「백킹 튜브」인 경우, 스테인리스강(SUS), 티탄, 티탄 합금 등인 것이 바람직하다. 백킹 튜브의 치수는, 원통형 타깃재의 내부에 삽입하여 접합하기 위해, 원통형 타깃재보다 통상 길고, 백킹 튜브의 외경은, 원통형 타깃재의 내경보다 조금 작은 것이 바람직하다.Even when the supporting member is a " backing tube ", the constituent metal is the same as that of the backing plate. In the case of the "backing tube", the supporting member is preferably stainless steel (SUS), titanium, titanium alloy, or the like. It is preferable that the dimensions of the backing tube are longer than the cylindrical target material in order to be inserted into the cylindrical target material to join them, and the outer diameter of the backing tube is slightly smaller than the inner diameter of the cylindrical target material.

「접합재」는, 타깃재와 지지 부재의 결합에 기여하여 스퍼터링 타깃을 형성하기 위해 사용될 수 있는 것이면 특별히 제한은 없다(도 2). 접합재에는, 땜납재, 경납재 등이 포함된다.The "bonding material" is not particularly limited as long as it can be used for forming a sputtering target by contributing to the bonding of the target material and the supporting member (FIG. 2). The bonding material includes a brazing material, a hard material and the like.

「땜납재」란, 저융점(예를 들면 723K 이하)의 금속 또는 합금을 포함하는 재료이며, 인듐(In), 주석(Sn), 아연(Zn), 납(Pb), 은(Ag), 구리(Cu), 비스무트(Bi), 카드뮴(Cd) 및 안티몬(Sb)으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 금속 또는 그 합금을 포함하는 재료 등을 들 수 있다. 보다 구체적으로는, In, In-Sn, Sn-Zn, Sn-Zn-In, In-Ag, Sn-Pb-Ag, Sn-Bi, Sn-Ag-Cu, Pb-Sn, Pb-Ag, Zn-Cd, Pb-Sn-Sb, Pb-Sn-Cd, Pb-Sn-In, Bi-Sn-Sb 등을 들 수 있다.The "solder material" is a material containing a metal or an alloy having a low melting point (for example, 723K or less) and is made of indium (In), tin (Sn), zinc (Zn), lead (Pb) A material containing a metal selected from the group consisting of copper (Cu), bismuth (Bi), cadmium (Cd) and antimony (Sb), or an alloy thereof. More specifically, it is preferable to use a metal such as In, In-Sn, Sn-Zn, Sn-Zn-In, In-Ag, Sn-Pb-Ag, Sn- Cd, Pb-Sn-Sb, Pb-Sn-Cd, Pb-Sn-In and Bi-Sn-Sb.

「경납재」로서는, 타깃재와 지지 부재를 결합할 수 있고, 타깃재 및 지지 부재보다 융점이 낮은 금속 또는 합금이면, 특별히 제한 없이 사용할 수 있다.As the " hard material ", a target material and a support member can be combined, and a metal or an alloy having a melting point lower than that of the target material and the support member can be used without particular limitation.

접합재로서, 일반적으로 저융점인 In이나 In 합금, Sn이나 Sn 합금 등의 땜납재가 바람직하다.As the bonding material, a solder material such as In or In alloy, Sn or Sn alloy generally having a low melting point is preferable.

예를 들면, 땜납재는, 가열에 의해, 타깃재와의 결합면에 있어서, 타깃재에 포함되는 금속(원소)과 확산층(합금층)을 형성하여 결합할 수 있다. 땜납재는, 지지 부재와의 접합면에 있어서도, 마찬가지로 지지 부재에 포함되는 금속(원소)과 확산층(합금층)을 형성하여 결합할 수 있다. 따라서, 이러한 땜납재로 땜납층을 형성하여, 타깃재와 지지 부재를 결합할 수 있다(도 3).For example, the solder material can be bonded by forming a diffusion layer (alloy layer) and a metal (element) included in the target material on the bonding surface with the target material by heating. The solder material can also be bonded to the surface of the support member by forming a diffusion layer (alloy layer) and a metal (element) included in the support member. Therefore, a solder layer can be formed of such a brazing material to bond the target material and the support member (Fig. 3).

일반적으로, 타깃재나 지지 부재에 상기의 땜납재를 얹는 것만으로는, 타깃재나 지지 부재의 표면에 존재할 수 있는 산화막의 영향으로, 충분한 접합 강도가 얻어지지 않는 경우가 있다. 이 때문에, 우선은 그들의 표면에 대한 땜납재의 젖음성을 향상시키기 위해 메탈라이즈층이 마련될 수 있다.In general, sufficient bonding strength may not be obtained due to the influence of the oxide film which may exist on the surface of the target material or the support member by merely placing the above-described solder material on the target material or the support member. For this reason, a metallization layer may first be provided to improve the wettability of the solder material to their surface.

「메탈라이즈」란, 일반적으로 비금속의 표면을 금속막화하기 위해 사용될 수 있는 처리 방법이며, 본 발명에서는, 예를 들면, 타깃재나 지지 부재가 산화막을 가지는 경우 등에 있어서, 메탈라이즈용의 땜납재를 이용하여 타깃재나 지지 부재와 결합시켜 메탈라이즈층을 형성시키는 것을 말한다.The term " metallization " is a treatment method that can be generally used to metalize the surface of a base metal. In the present invention, for example, when a target material or a support member has an oxide film, Is used to form a metallization layer by bonding with a target material or a support member.

메탈라이즈층은, 예를 들면, 초음파 땜납 인두를 사용하여, 초음파의 진동 에너지(캐비테이션 효과)에 의해 타깃재나 지지 부재의 산화막을 파괴하면서, 가열에 의해, 산화막 중의 산소 원자와 함께, 메탈라이즈용의 땜납재에 포함되는 금속 원자와, 타깃재나 지지 부재에 포함되는 금속 원자를 화학적으로 결합시킴으로써 형성될 수 있는 것이다. 메탈라이즈층의 형성에는, 전술의 접합재를 이용할 수 있다.The metallization layer can be formed by heating, for example, using an ultrasonic soldering iron to destroy the oxide film of the target material or the support member by the vibration energy (cavitation effect) of the ultrasonic wave, Can be formed by chemically bonding metal atoms contained in the solder material of the support member and the metal atoms contained in the support member. The above-mentioned bonding material can be used for forming the metallization layer.

메탈라이즈층(5, 5')(도 4 참조)은, 상기의 땜납층(4)과도 결합할 수 있고, 타깃재(1)와 땜납층(4)의 사이, 지지 부재(2)와 땜납층(4)의 사이에 위치하여, 타깃재(1)와 땜납층(4), 지지 부재(2)와 땜납층(4)을 강고하게 결합하는 역할을 할 수 있다.The metallization layers 5 and 5 '(see FIG. 4) can also be bonded to the solder layer 4 and can be bonded between the support material 2 and the solder layer 4, The solder layer 4 and the support member 2 and the solder layer 4 can be firmly bonded to each other.

땜납층의 두께는, 평판형인 경우에는 예를 들면 10㎛~1000㎛, 바람직하게는 50㎛~500㎛, 원통형인 경우에는 예를 들면 100㎛~2000㎛, 바람직하게는 250㎛~1500㎛의 범위 내이다.The thickness of the solder layer is, for example, 10 mu m to 1000 mu m, preferably 50 mu m to 500 mu m in the case of a flat plate type and 100 mu m to 2000 mu m, preferably 250 mu m to 1500 mu m Within the range.

메탈라이즈층의 두께는, 평판형, 원통형 모두, 통상 1㎛~100㎛, 바람직하게는 10㎛~100㎛, 보다 바람직하게는 5㎛~50㎛의 범위 내이다.The thickness of the metallized layer is usually in the range of 1 탆 to 100 탆, preferably 10 탆 to 100 탆, and more preferably 5 탆 to 50 탆 in both the flat plate type and the cylindrical type.

메탈라이즈에 사용할 수 있는 땜납재는, 예를 들면, 인듐(In), 주석(Sn), 아연(Zn), 납(Pb), 은(Ag), 구리(Cu), 비스무트(Bi), 카드뮴(Cd) 및 안티몬(Sb)으로 이루어지는 군으로부터 선택되는 금속 또는 그 합금을 포함하는 재료 등이며, 보다 구체적으로는, In, In-Sn, Sn-Zn, Sn-Zn-In, In-Ag, Sn-Pb-Ag, Sn-Bi, Sn-Ag-Cu, Pb-Sn, Pb-Ag, Zn-Cd, Pb-Sn-Sb, Pb-Sn-Cd, Pb-Sn-In, Bi-Sn-Sb 등을 들 수 있다. 타깃재 또는 지지 부재와 친화성이 높은 재료를 적절히 선택하면 된다.The solder material that can be used for the metallization can be selected from the group consisting of indium (In), tin (Sn), zinc (Zn), lead (Pb), silver (Ag), copper (Cu), bismuth Cd) and antimony (Sb), or a material containing an alloy thereof. More specifically, the material may be In, In-Sn, Sn-Zn, Sn-Zn- Pb-Sn-Sb, Pb-Sn-In, Bi-Sn-Sb, Pb-Ag, Sn-Bi, Sn-Ag-Cu, Pb-Sn, And the like. A material having high affinity with the target material or the support member may be appropriately selected.

본 발명에서는, 예를 들면 도 1의 개략도에 나타내는 바와 같이, 스퍼터링 타깃을 스퍼터링에서 사용한 후, 스퍼터링 타깃으로부터 타깃재를 분리(박리)한다.In the present invention, as shown in the schematic diagram of Fig. 1, after the sputtering target is used in sputtering, the target material is separated (peeled) from the sputtering target.

타깃재와 지지 부재를 분리하는 방법에 특별히 제한은 없다. 예를 들면, 상기의 접합재로 형성될 수 있는 접합층(또는 결합층)에 열(예를 들면 180℃~300℃)을 가하여, 접합층을 연화 또는 용융하면서, 필요에 따라 물리적으로 접합층을 파괴하여 타깃재를 스퍼터링 타깃으로부터 분리할 수 있다.The method of separating the target material from the support member is not particularly limited. For example, heat (for example, 180 占 폚 to 300 占 폚) is applied to the bonding layer (or bonding layer) which may be formed of the bonding material, and the bonding layer is softened or melted, So that the target material can be separated from the sputtering target.

타깃재가 평판형인 경우, 분리한 후의 타깃재에 있어서, 지지 부재와 결합(또는 접합)하고 있던 측의 면(이하, 「결합면」 또는 「접합면」이라고 칭하는 경우도 있음)에는, 접합재가 부착되어 잔존하고 있는 경우가 많다. 부착된 접합재를 스패튤라(예를 들면, 실리콘제의 스패튤라) 등으로 떼어 내도, 당해 접합재를 완전히 제거하는 것은 어렵다. 특히 타깃재와 결합한 메탈라이즈층을 제거하는 것은 어렵고, 통상, 두께 수㎛ 정도의 메탈라이즈층과, 두께 50㎛~200㎛ 정도의 땜납층이 잔존한다. 타깃재의 스퍼터링면에 있어서도 접합재가 부착되어 잔존하는 경우가 있다. 그 원인으로서는, 예를 들면, 타깃재의 분리 시에 용융된 접합재가 스퍼터링면에 부착되는 것을 들 수 있다. 그 밖의 원리로서, 분리된 타깃재를 서로 겹쳐 쌓아 보관했기 때문에, 결합면과 스퍼터링면이 접촉하여, 결합면의 접합재가 스퍼터링면에 부착되는 것을 들 수 있다.When the target material is in the form of a flat plate, it is preferable that the target material after separation has a bonding material adhered to the side (hereinafter also referred to as "bonding surface" or "bonding surface" In many cases. Even if the attached bonding material is peeled off with a spatula (for example, a spatula made of silicone) or the like, it is difficult to completely remove the bonding material. In particular, it is difficult to remove the metallized layer combined with the target material, and usually a metallization layer with a thickness of several micrometers and a solder layer with a thickness of about 50 to 200 m remain. The bonding material may adhere and remain on the sputtering surface of the target material. The reason for this is that, for example, when the target material is separated, the molten bonding material adheres to the sputtering surface. As another principle, since the separated target materials are stacked and stored, the bonding surface and the sputtering surface are in contact with each other, and the bonding material of the bonding surface is attached to the sputtering surface.

타깃재가 원통형인 경우, 원통형 타깃재가 원통 형상의 백킹 튜브의 외주부에 접합재를 이용하여 결합될 수 있기 때문에, 전술의 판 형상 타깃의 경우와 마찬가지로, 분리 후의 타깃재의 결합면(내주부)에는 접합재가 부착되며, 메탈라이즈층을 포함하여, 완전히 접합재를 제거할 수는 없다. 타깃재의 스퍼터링면에도 접합재가 부착되어 잔존하는 경우가 있다. 백킹 튜브에 유래하는 성분도 불순물로서 혼입될 수 있는 경우도 있다. 따라서, 원통형 타깃재에 있어서도 스퍼터링면인 외주부나 내주부에 대하여 당해 세정 방법을 적용해도 된다.When the target material is cylindrical, the cylindrical target material can be bonded to the outer peripheral portion of the cylindrical backing tube by using a bonding material. Therefore, similarly to the case of the plate target described above, And it is not possible to completely remove the bonding material, including the metallization layer. The bonding material may remain on the sputtering surface of the target material. The components derived from the backing tube may also be incorporated as impurities. Therefore, the cleaning method may also be applied to the outer peripheral portion or the inner peripheral portion, which is the sputtering surface, of the cylindrical target material.

분리 후의 타깃재에 있어서의 접합재의 부착의 존재는, 예를 들면, 에너지 분산형 형광 X선 분석(EDXRF: Energy Dispersive X-ray Fluorescence Analysis)에 의해 확인할 수 있다.The existence of adhesion of the bonding material in the target material after separation can be confirmed by, for example, energy dispersive X-ray fluorescence analysis (EDXRF).

또한, 지지 부재로부터 타깃재(특히, 접합면 근방)로 금속 원소가 확산되는 경우도 있다. 이러한 금속 원소에 대해서도 마찬가지로 EDXRF에 의해 확인할 수 있다. 그 밖에도, 파장 분산형 형광 X선 분석(WDXRF: Wavelength Dispersive X-ray Fluorescence Analysis), 전자선 프로브 마이크로 어낼러시스(EPMA: Electron Probe Micro Analysis), 오제 전자 분광법(AES: Auger Electron Spectroscopy), X선 광전자 분광법(XPS: X-ray Photoelectron Spectroscopy), 비행 시간형 2차 이온 질량 분석법(TOF-SIMS: Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry), 레이저 조사형 유도 결합 플라즈마 질량 분석(LA-ICP-MS:Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry), X선 회절법(XRD: X-ray Diffraction Analysis) 등의 분석 방법으로도, 접합재, 지지 부재에 유래하는 불순물은 확인 가능하지만, 분석의 간편함, 분석 범위의 넓이로부터, EDXRF, WDXRF으로의 확인이 바람직하다.In addition, the metal element may diffuse from the support member to the target material (particularly, in the vicinity of the bonding surface). These metal elements can also be confirmed by EDXRF. In addition, wavelength dispersive X-ray fluorescence analysis (WDXRF), electron probe microanalysis (EPMA), Auger electron spectroscopy (AES), X- ICP-MS, X-ray photoelectron spectroscopy (XPS), Time-of-Flight Secondary Ion Mass Spectrometry (TOF-SIMS), and Laser Induced Coupled Plasma Mass Spectrometry : Laser Ablation Inductively Coupled Plasma Mass Spectrometry (XRD), and X-ray Diffraction Analysis (XRD). Although the impurities derived from the bonding material and the supporting member can be identified, It is preferable to confirm from EDXRF and WDXRF from the width.

여기서, 접합재가 부착된 분리 후의 타깃재를 그대로 사용하여, 주괴(이하, 「슬래브」또는 「잉곳」이라고 칭하는 경우도 있음)를 제조하고, 이 주괴로부터 타깃재를 제조하면, 부착된 접합재의 성분에 유래하는 불순물이 혼입된다. 또한, 지지 부재로부터 타깃재로 금속 원소가 확산되어 불순물로서 혼입되는 경우도 있으며, 이러한 금속 원소도 또한, 불순물로서 주괴 중에 혼입되는 경우가 있다.Here, when an ingot (hereinafter sometimes referred to as "slab" or "ingot") is produced by using the target material after the separation with the bonding material attached thereto as it is and manufacturing the target material from the ingot, Impurities are mixed. Further, the metal element may diffuse from the support member to the target material and may be mixed as an impurity. Such a metal element may also be incorporated into the ingot as an impurity.

본 발명에서는, 스퍼터링 타깃으로부터 타깃재를 분리한 후, 적어도 타깃재에 있어서의 접합재가 부착되어 잔존하는 면에 물을 분사함으로써 타깃재를 세정하여, 부착된 접합재를 타깃재로부터 제거할 수 있다(도 1). 또한, 당해 세정에 의해, 타깃재에 결합된 메탈라이즈층도 제거할 수 있다.In the present invention, after the target material is separated from the sputtering target, the target material may be cleaned by spraying water on at least the remaining surface of the target material with the bonding material attached thereto to remove the attached bonding material from the target material 1). Further, the metalization layer bonded to the target material can also be removed by the cleaning.

물의 분사 방법에 특별히 제한은 없지만, 이하의 조건으로 물을 분사하는 것이 바람직하다.The method of spraying water is not particularly limited, but it is preferable to spray water under the following conditions.

물의 분사는, 예를 들면, 펌프를 이용하여 행할 수 있고, 고압으로 물을 분사하는 것이 바람직하다(이하, 「워터 제트」라고 칭하는 경우도 있음). 물을 분사하는 압력은, 예를 들면 90MPa 이상이며, 바람직하게는 90MPa~350MPa, 보다 바람직하게는 100MPa~300MPa, 더 바람직하게는 150MPa~280MPa, 특히 바람직하게는 180MPa~250MPa이다. 분사압을 높게 함으로써, 접합재, 특히 메탈라이즈층을 제거할 수 있어, 충분한 세정 효과를 얻을 수 있다. 분사압을 어느 정도 낮게 함으로써, 메탈라이즈층을 초과하여 타깃재 자체를 깊게 깎아 버리는 것을 방지할 수 있다. 타깃재 자체를 깊게, 예를 들면 1.5mm 이상 깎아 버리면, 수율이 나빠지거나, 설비비가 높아질 가능성이 있다.The injection of water can be performed, for example, by using a pump, and it is preferable to spray water at a high pressure (hereinafter sometimes referred to as " water jet "). The pressure for spraying water is, for example, 90 MPa or more, preferably 90 MPa to 350 MPa, more preferably 100 MPa to 300 MPa, more preferably 150 MPa to 280 MPa, and particularly preferably 180 MPa to 250 MPa. By increasing the injection pressure, the bonding material, particularly the metallization layer, can be removed, and a sufficient cleaning effect can be obtained. By lowering the injection pressure to some extent, it is possible to prevent the target material itself from being excessively shaved beyond the metallization layer. If the target material itself is shaved deeply, for example, by 1.5 mm or more, the yield may be deteriorated or the equipment cost may increase.

물의 분사는, 복수의 분사구(또는 노즐)를 가지는 회전식(또는 회전 가능)의 노즐 헤드를 이용하여 행하는 것이 바람직하다. 노즐 헤드의 형상에 특별히 제한은 없고, 노즐 헤드의 타깃재에 대향하여 접하는 측의 면(또는 노즐을 설치하는 측의 면)의 형상은, 예를 들면, 삼각형, 사각형 등의 다각형, 원형, 타원형이지만, 회전시켜 물을 분사하기 위해, 원형 및 정방형 등의 정다각형이 바람직하고, 진원형이 보다 바람직하다. 평판형 타깃재의 접합면을 처리하는 경우에는, 노즐 헤드의 회전축에 대하여 대략 평행한 방향으로 물이 분사되도록 분사구를 장착할 수 있는 노즐 헤드를 사용하는 것이 바람직하다. 원통형 타깃재의 접합면(내주부)을 처리하는 경우에는, 노즐 헤드의 회전축에 대하여 대략 수직인 방향으로 물이 분사되도록 분사구를 장착할 수 있는 노즐 헤드를 사용하는 것이 바람직하다.The injection of water is preferably carried out using a rotary (or rotatable) nozzle head having a plurality of nozzles (or nozzles). The shape of the nozzle head is not particularly limited and the shape of the side of the nozzle head facing the target material (or the side on which the nozzle is provided) may be a polygonal shape such as a triangular shape or a rectangular shape, However, in order to rotate and spray water, regular polygonal shapes such as circular and square shapes are preferable, and a true circular shape is more preferable. It is preferable to use a nozzle head capable of mounting the jetting port so that water is jetted in a direction substantially parallel to the rotational axis of the nozzle head. It is preferable to use a nozzle head capable of mounting the jetting port so that water is jetted in a direction substantially perpendicular to the rotational axis of the nozzle head when treating the joint surface (inner peripheral portion) of the cylindrical target material.

1개의 노즐 헤드에 마련하는 분사구의 수(또는 노즐수)에 특별히 제한은 없고, 예를 들면 1개 이상, 바람직하게는 1개~15개, 보다 바람직하게는 3개~10개이다. 노즐수는, 노즐 헤드의 사이즈에 맞춰 적절히 결정하면 된다. 노즐수를 많게 함으로써, 접합재 등의 잔삭이 생기거나, 처리 시간이 길어지는 것을 방지할 수 있다. 노즐수가 많으면 총 토출량이 증가하기 때문에, 보다 대형 또한 고가인 펌프가 필요해져, 설비비가 높아지는 경우가 있다. 복수의 분사구를 노즐 헤드에 마련한 경우에는, 분사구를 노즐 헤드의 동경(同徑) 위치에 배치해도 되고, 이경(異徑) 위치에 배치해도 된다. 또한, 동경 배치, 이경 배치의 조합이어도 된다.The number of ejection openings (or the number of nozzles) provided in one nozzle head is not particularly limited, and is, for example, one or more, preferably one to fifteen, more preferably three to ten. The number of nozzles may be appropriately determined in accordance with the size of the nozzle head. By making the number of nozzles larger, it is possible to prevent a residue of a bonding material or the like from being generated or a processing time to be long. If the number of nozzles is large, the total discharge amount increases, so that a larger and more expensive pump is required, which may increase the equipment cost. When a plurality of ejection openings are provided in the nozzle head, the ejection openings may be arranged at the same diameter position or at different diameter positions of the nozzle head. Further, it may be a combination of a long-diameter arrangement and a short-diameter arrangement.

분사구의 치수(노즐 직경)는, 예를 들면 0.1mm 이상, 바람직하게는 0.15mm~0.50mm, 보다 바람직하게는 0.2mm~0.35mm이다. 직경이 동일한 분사구를 노즐 헤드에 장착해도 되고, 직경이 상이한 분사구를 조합하여 노즐 헤드에 장착시켜도 된다.The dimension of the jetting port (nozzle diameter) is, for example, 0.1 mm or more, preferably 0.15 mm to 0.50 mm, and more preferably 0.2 mm to 0.35 mm. The ejection openings having the same diameter may be mounted on the nozzle head, or the ejection openings having different diameters may be combined and mounted on the nozzle head.

물의 토출량(또는 수량)은, 분사하는 물의 압력이나 분사구의 치수에 따라 변화되고, 커질수록 세정 효과는 높아진다. 1개의 노즐 헤드의 전체 분사구로부터 분사되는 물의 총 토출량은, 예를 들면 2.0L/min 이상이며, 바람직하게는 2.0L/min~42L/min, 보다 바람직하게는 5.0L/min~30L/min이고, 더 바람직하게는 5.0L/min~20L/min이다.The amount of water discharged (or the amount of water) changes depending on the pressure of the water to be sprayed and the dimension of the jetting port, and the cleaning effect becomes higher as the size of the jetting port increases. The total discharge amount of water jetted from the total jetting ports of one nozzle head is, for example, 2.0 L / min or more, preferably 2.0 L / min to 42 L / min, more preferably 5.0 L / min to 30 L / min , More preferably 5.0 L / min to 20 L / min.

물의 분사는, 타깃재의 처리면에 대하여 일정한 거리를 유지하면서, 일정한 속도로 수평 방향으로 띠 형상(라인 형상)으로 이동하여 행하는 것이 바람직하다. 물의 분사는, 동일 개소에 있어서, 수 차례, 바람직하게는 1회~3회 거듭하여 행해도 된다. 또는, 1회의 물의 분사에 있어서의 처리 폭이 타깃 폭보다 작은 경우 등은, 라인 형상으로 부분적으로 중복(오버랩)시켜 물을 분사시켜도 된다.It is preferable that the jetting of water is performed in the form of a belt (line) in the horizontal direction at a constant speed while maintaining a constant distance from the treated surface of the target material. The injection of water may be repeated several times, preferably once to three times, at the same place. Alternatively, in the case where the processing width in one injection of water is smaller than the target width, water may be injected partially overlapping (overlapping) in a line shape.

노즐 헤드의 이동 속도는, 예를 들면 100mm/min 이상, 바람직하게는 500mm/min~7000mm/min, 보다 바람직하게는 900mm/min~5000mm/min이다. 이동 속도를 크게 함으로써, 처리 시간을 짧게 할 수 있다. 이동 속도를 작게 하면, 충분한 세정 효과를 얻을 수 있다.The moving speed of the nozzle head is, for example, 100 mm / min or more, preferably 500 mm / min to 7000 mm / min, and more preferably 900 mm / min to 5000 mm / min. By increasing the moving speed, the processing time can be shortened. If the moving speed is reduced, a sufficient cleaning effect can be obtained.

노즐 헤드의 회전 속도는, 예를 들면 500min-1 이상, 바람직하게는 500min-1~4000min-1, 보다 바람직하게는 900min-1~2500min-1이다. 회전 속도를 크게 함으로써, 노즐의 수에 따라서는 타깃재 전체 면에 물이 닿아, 접합재 등의 잔삭을 방지할 수 있다. 회전 속도를 작게 하면, 타깃재에 닿았을 때의 충격이 커지기 때문에, 충분한 세정 효과가 얻어진다.The rotational speed of the nozzle head is, for example, 500min -1 or more, preferably 500min -1 ~ 4000min -1, more preferably 900min -1 ~ 2500min -1. By increasing the rotation speed, depending on the number of the nozzles, the water touches the entire surface of the target material, and the residue of the bonding material or the like can be prevented. When the rotational speed is reduced, the impact when the target material is touched is increased, so that a sufficient cleaning effect can be obtained.

노즐 헤드와 타깃재와의 사이의 거리(또는 노즐 거리)는, 예를 들면 10mm 이상, 바람직하게는 15mm~100mm, 보다 바람직하게는 20mm~70mm이다. 거리를 어느 정도 크게 함으로써, 타깃재에 닿아 튀어 오른 물의 영향을 방지할 수 있고, 그 결과, 충분한 세정 효과가 얻어진다. 거리를 어느 정도 작게함으로써, 타깃재에 닿았을 때의 충격이 커지기 때문에, 충분한 세정 효과가 얻어진다.The distance (or nozzle distance) between the nozzle head and the target material is, for example, 10 mm or more, preferably 15 mm to 100 mm, and more preferably 20 mm to 70 mm. By increasing the distance to some extent, it is possible to prevent the influence of the protruding water from reaching the target material, and as a result, a sufficient cleaning effect can be obtained. By reducing the distance to some extent, the impact at the time of contact with the target material becomes large, so that a sufficient cleaning effect can be obtained.

분사되는 물은, 노즐이 막힐 것 같은 입자 형상의 불순물이나 먼지 등이 포함되어 있지 않은 것이면 특별히 제한은 없고, 예를 들면 수돗물이나 순수의 사용을 들 수 있다. 또한, 펌프와 노즐과의 사이에 필터를 마련하여, 이러한 필터를 통하여 물을 분사해도 된다.The water to be sprayed is not particularly limited as long as it does not contain particle-like impurities or dust that may block the nozzle, for example, use of tap water or pure water. Further, a filter may be provided between the pump and the nozzle, and water may be injected through the filter.

물의 분사 방향은, 타깃재에 물이 닿는 각도이면 특별히 제한은 없고, 타깃재에 대하여 수직이어도 경사져 있어도 된다. 예를 들면, 분사구의 각도(분사구의 중심축과 타깃재에 대한 수선(垂線)과의 이루는 각)는, 0°~60°, 바람직하게는 0°~45°, 보다 바람직하게는 5°~45°, 더 바람직하게는 5°~30°, 보다 더 바람직하게는 8°~30°, 특히 바람직하게는 10°~25°이다. 타깃재에 대하여 비스듬하게 물을 분사한 경우, 노즐 헤드가 회전하고 있기 때문에, 수직으로 분사하는 경우보다 처리 폭이 커진다. 타깃재에 닿은 물이 처리면에 머무르지 않고, 외측으로 회피되기 때문에, 세정 효과의 향상도 기대된다. 노즐 헤드로부터 비스듬하게 물이 분사되면, 노즐 헤드를 타깃재의 상방에 위치시킨 상태에서 측면의 세정도 실시할 수 있다.The spraying direction of water is not particularly limited as long as the target material is in contact with water, and it may be perpendicular or inclined with respect to the target material. For example, the angle of the jetting port (the angle between the central axis of the jetting port and the perpendicular to the target material) is 0 ° to 60 °, preferably 0 ° to 45 °, more preferably 5 ° to 45 °, More preferably 5 ° to 30 °, even more preferably 8 ° to 30 °, particularly preferably 10 ° to 25 °. When water is injected obliquely to the target material, since the nozzle head rotates, the processing width becomes larger than when the nozzle is vertically jetted. The water contacted to the target material does not stay on the treatment surface and is avoided to the outside, so that the cleaning effect is also expected to be improved. When water is sprayed obliquely from the nozzle head, cleaning of the side surface can be performed while the nozzle head is positioned above the target material.

물의 분사의 방향을 상기 서술한 범위 내로 설정함으로써, 타깃재에 닿았을 때의 충격의 감소를 방지하여, 충분한 세정 효과를 얻을 수 있다. 나아가서는 타깃재의 접합면의 처리, 스퍼터링면의 처리, 측면의 처리에 관하여, 타깃재를 다시 세팅하거나, 노즐 헤드의 위치를 변경하거나 할 필요가 없기 때문에, 처리 시간을 단축할 수 있다. 복수의 분사구를 노즐 헤드에 마련한 경우에는, 각 노즐의 각도는 동일해도 되고, 상이해도 된다. 각각의 분사구의 각도는, 원하는 처리 폭이나 물이 닿지 않는 것에 의한 잔삭이 생기지 않도록 적절히 결정하면 된다.By setting the direction of spraying of the water within the above-described range, it is possible to prevent a decrease in impact when it touches the target material, and a sufficient cleaning effect can be obtained. Further, with respect to the treatment of the bonding surface of the target material, the treatment of the sputtering surface, and the treatment of the side surface, it is not necessary to set the target material again or change the position of the nozzle head. When a plurality of jetting ports are provided in the nozzle head, the angles of the respective nozzles may be the same or different. The angle of each jetting port may be appropriately determined so as not to produce a desired processing width or a residual due to the non-contact of water.

상기 노즐 헤드는, 타깃재 1매당의 처리 시간을 단축시키기 위해, 복수의 노즐 헤드를 동시에 주사시켜도 된다.The nozzle head may simultaneously scan a plurality of nozzle heads to shorten the processing time per target material.

상기에서는 회전식의 노즐 헤드를 사용한 경우에 대해 설명했지만, 타깃재를 회전시킬 수 있는 경우나, 물이 선 형상으로 분사되는 평사형(平射型) 노즐 헤드를 이용하는 경우에는, 고정식의 노즐 헤드를 이용해도 타깃재를 효율적으로 세정할 수 있다.In the above description, the rotary nozzle head is used. However, in the case where the target material can be rotated or the flat nozzle nozzle in which water is linearly sprayed is used, a fixed nozzle head is used The target material can be efficiently cleaned.

사용이 끝난 타깃재의 접합면으로부터, 세정에 의해 접합재나 메탈라이즈층의 제거가 충분히 행해지면, 타깃재 자체의 표면도 깎인다. 이 때, 타깃재 자체의 표면이, 두께 방향으로, 예를 들면 5㎛ 이상, 바람직하게는 10㎛ 이상 1000㎛ 이하, 바람직하게는 20㎛ 이상 750㎛ 이하, 보다 바람직하게는 50㎛ 이상 500㎛ 이하가 깎이고, 그 세정된 표면은 이지(梨地) 형상이 될 수 있다. 세정 시의 노즐 헤드의 움직임에 따른 주기적인 가공 자국(비늘 형상, 나선 형상 등)이 형성되어 있어도 된다. 이지 형상이 된 경우, 세정된 표면의 파장 300nm~1500nm에 있어서의 정반사율은, 통상 1.0% 이하이며, 접합재 및 지지 부재에 유래하는 불순물이 충분히 제거된 것을 확인하기 위해서는, 바람직하게는 0.7% 이하이다.When the joining material and the metalized layer are sufficiently removed by cleaning from the joint surface of the used target material, the surface of the target material itself is also cut away. In this case, the surface of the target material itself is preferably 5 占 퐉 or more, preferably 10 占 퐉 or more and 1000 占 퐉 or less, preferably 20 占 퐉 or more and 750 占 퐉 or less, more preferably 50 占 퐉 or more and 500 占 퐉 Or less, and the cleaned surface can be an irregular surface. (Scales, spirals, etc.) may be formed in accordance with the movement of the nozzle head at the time of cleaning. In the case of an easy-to-see shape, the specular reflectance at a wavelength of 300 nm to 1500 nm of the cleaned surface is usually 1.0% or less. To confirm that the impurities derived from the bonding material and the supporting member are sufficiently removed, to be.

또한, 파장 300nm~1500nm에 있어서의 각 입사광의 파장에 대한 정반사율의 변화율(세정된 표면의 정반사율/세정 전의 표면의 정반사율)이, 통상 0.025 이상 0.85 이하, 바람직하게는 0.05 이상 0.75 이하, 보다 바람직하게는 0.08 이상 0.60 이하, 더 바람직하게는 0.10 이상 0.40 이하가 되도록 세정 처리하면, 접합재 및 지지 부재에 유래하는 불순물이 충분히 제거된 것을 확인할 수 있음과 함께, 타깃재를 필요 이상으로 지나치게 깎는 것을 방지할 수 있다.The rate of change of the reflectance (wavelength of the cleaned surface / reflectance of the surface before cleaning) relative to the wavelength of each incident light at a wavelength of 300 nm to 1500 nm is usually 0.025 or more and 0.85 or less, preferably 0.05 or more and 0.75 or less, More preferably not less than 0.08 and not more than 0.60, and more preferably not less than 0.10 but not more than 0.40, it is possible to confirm that the impurities derived from the bonding material and the supporting member are sufficiently removed, and that the target material is excessively removed Can be prevented.

세정 후의 타깃재의 접합면에 있어서의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 5㎛ 이상이며, 접합재 및 지지 부재에 유래하는 불순물이 충분히 제거된 것을 확인하기 위해서는 바람직하게는 10㎛ 이상, 보다 바람직하게는 15㎛ 이상이다. 세정 전후에서의 산술 평균 거칠기(Ra)의 변화율(세정된 표면의 산술 평균 거칠기(Ra)/세정 전의 표면의 산술 평균 거칠기(Ra))이, 4 이상 80 이하, 바람직하게는 5 이상 50 이하, 보다 바람직하게는 7.5 이상 20 이하, 더 바람직하게는 10 이상 15 이하가 되도록 세정 처리를 하면 된다. 세정 후의 타깃재의 접합면에 있어서의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 통상 100㎛ 이하, 바람직하게는 50㎛ 이하이다. 산술 평균 거칠기(Ra)가 너무 크면, 먼지나 모래 등의 이물이 부착되기 쉽거나, 산화막의 두께가 두꺼워져, 리사이클 주괴 중의 불순물이 증가할 우려가 있다.The arithmetic mean roughness (Ra) at the bonding surface of the target material after cleaning is not less than 5 占 퐉 and preferably not less than 10 占 퐉, more preferably not less than 15 占 퐉 in order to confirm that impurities derived from the bonding material and the support member are sufficiently removed. Mu m or more. (Arithmetic mean roughness (Ra) of the cleaned surface / arithmetic mean roughness (Ra) of the surface before cleaning) of the arithmetic mean roughness (Ra) before and after cleaning is preferably 4 or more and 80 or less, More preferably 7.5 or more and 20 or less, and still more preferably 10 or more and 15 or less. The arithmetic mean roughness (Ra) at the bonding surface of the target material after cleaning is usually 100 占 퐉 or less, preferably 50 占 퐉 or less. If the arithmetic mean roughness (Ra) is too large, foreign matter such as dust or sand tends to adhere, or the thickness of the oxide film becomes thick, and the impurities in the recycled ingot may increase.

본 발명의 세정 방법에 의하면, EDXRF의 검출 하한계(통상, 검출 하한계는 원소에 따라 상이하지만, 예를 들면, 접합재에 유래하는 불순물의 검출 하한계는 0.01중량% 정도이며, 예를 들면 인듐에서는 0.01중량%임)보다 낮은 값으로까지 접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소의 양을 저감할 수 있다. 즉, 본 발명에 의하면, 세정 후의 타깃재에 있어서, 접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소가 실질적으로 검출되지 않는(또는 세정 후의 타깃재가, 접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소를 실질적으로 포함하지 않는) 것을 특징으로 한다.According to the cleaning method of the present invention, the lower detection limit of EDXRF (usually, the lower detection limit varies depending on the element, for example, the detection limit of the impurity derived from the bonding material is about 0.01 wt% The amount of the element derived from the bonding material and the supporting member can be reduced to a value lower than that of the bonding material and the supporting member. That is, according to the present invention, in the target material after cleaning, the bonding material and the element derived from the supporting member are substantially not detected (or the target material after cleaning does not substantially contain elements derived from the bonding material and the supporting member) .

본 발명에 있어서, 「접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소가 실질적으로 검출되지 않는」 (또는 「접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소를 실질적으로 포함하지 않는」)이란, 전술한 바와 같이, EDXRF의 검출 하한계보다도 작고, EDXRF에서는 검출할 수 없을 정도로까지, 접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소의 양이 저감되는 것을 의미한다. 여기서, 접합재 또는 지지 부재에 유래하는 「불순물」이란, 접합재나 지지 부재를 구성하는 주된 원소만을 나타낸다. 「접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소」란, 접합재나 지지 부재를 구성하는 주된 원소를 의미한다. 당해 원소는, 접합재나 지지 부재 100 질량부에 대하여, 통상 0.1질량부, 바람직하게는 0.5질량부 이상, 보다 바람직하게는 1질량부 이상 포함된다.In the present invention, " substantially no element derived from the bonding material and the supporting member is detected " (or " substantially not including the element derived from the bonding material and the supporting member " Means that the amount of elements derived from the bonding material and the support member is reduced to a level that is smaller than the lower limit and can not be detected in EDXRF. Here, the " impurity " derived from the bonding material or the supporting member indicates only the main elements constituting the bonding material and the supporting member. &Quot; Element derived from bonding material and supporting member " means the main element constituting the bonding material and supporting member. The content of the element is usually 0.1 parts by mass, preferably 0.5 parts by mass or more, and more preferably 1 part by mass or more based on 100 parts by mass of the bonding material and the supporting member.

본 발명의 세정 방법은, 프레이스에 의한 절삭 가공과 같이, 일정한 높이의 위치에서 평면으로 가공하는 방법과는 상이하며, 분사된 물이 닿은 타깃재(또는 워크)의 표면만을 효율적으로 깎아 내는 방법이다. 따라서, 본 발명의 세정 방법은, 타깃재에 요철이나 변형이 존재하고 있어도 높은 수율로의 처리가 가능하고, 타깃재의 접합면 뿐만 아니라, 스퍼터링에 의해 형성된 요철을 가지는 타깃재의 스퍼터링면이나 원통 타깃 내부의 접합면의 세정 처리에도 적합하다.The cleaning method of the present invention is different from the method of machining a flat surface at a predetermined height, such as a cutting process by a flat, and is a method of efficiently carving out only the surface of a target material (or a work) . Therefore, the cleaning method of the present invention is capable of processing at a high yield even if there is irregularity or deformation in the target material, and can be applied not only to the joining surface of the target material but also to the sputtering surface of the target material having irregularities formed by sputtering, And the like.

또한, 본 발명의 세정 방법은, 처리면의 높이를 신경쓰지 않고 워크를 세팅할 수 있기 때문에, 세팅이나 세정에 시간을 필요로 하지 않고 간편하게 행하는 것이 가능하므로, 블라스트나 절삭 등의 종래의 방법과 비교해 많은 이점을 가진다.Further, since the cleaning method of the present invention can set the work without paying attention to the height of the processing surface, it is possible to easily perform the setting without requiring time for setting and cleaning. Therefore, the conventional method such as blasting and cutting There are many advantages compared to.

장치Device

본 발명은, 상기 서술의 세정 방법에 있어서 사용할 수 있는 장치에도 관한 것이다. 상세하게는, 상기 서술의 주로 금속으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 스퍼터링 타깃으로부터 분리된 타깃재(또는 사용이 끝난 타깃재)에 있어서의 적어도 접합재가 부착되어 있는 면에 물을 분사함으로써, 타깃재로부터 접합재를 제거하기 위해 이용되는 장치에 관한 것이다(이하, 단순히 「세정 장치」라고 칭하는 경우도 있음).The present invention also relates to a device usable in the cleaning method described above. More specifically, at least a target material composed of metal described above and a target material (or a used target material) separated from a sputtering target in which a support member is joined with a bonding material are provided on at least a surface to which the bonding material is attached (Hereinafter sometimes referred to simply as a " cleaning apparatus ").

세정 장치는, 적어도, 이하의 구성 (a)~(c)를 포함할 수 있다.The cleaning apparatus may include at least the following constitutions (a) to (c).

(a) 타깃재에 물을 분사하기 위한 분사구를 적어도 1개 구비하는 적어도 1개의 노즐 헤드(a) at least one nozzle head having at least one jetting orifice for jetting water to a target material

(b) 노즐 헤드를 조작 또는 이동시키기 위한 액추에이터(b) an actuator for manipulating or moving the nozzle head

(c) 액추에이터가 배치되며, 타깃재를 수용하여 처리하기 위한 처리실(c) an actuator is disposed, and a processing chamber for containing and treating the target material

예를 들면, 도 5~8에 나타내는 바와 같이, 장치(100)는, 적어도,For example, as shown in FIGS. 5 to 8, the apparatus 100 includes, at least,

사용이 끝난 타깃재(또는 워크)(101)에 물을 분사하는 것이 가능한 적어도 1개의 분사구(도시 생략)를 구비하는 적어도 1개의 노즐 헤드(102)와,At least one nozzle head 102 having at least one jetting port (not shown) capable of jetting water to the used target material (or workpiece) 101,

노즐 헤드(102)를 조작하는(또는 이동시키는) 것이 가능한 액추에이터, 바람직하게는 X축 슬라이더(103X)와, Y축 슬라이더(103Y)와, Z축 슬라이더(103Z)를 구비하고, 노즐 헤드(102)를 XYZ축의 어느 방향으로도 이동시키는 것이 가능하게 구성된 액추에이터(103)와,An X-axis slider 103Y, a Y-axis slider 103Y and a Z-axis slider 103Z capable of operating (or moving) the nozzle head 102. The nozzle head 102 ) Can be moved in any direction of the X, Y and Z axes,

액추에이터를 배치할 수 있고, 또한 타깃재(101)를 수용하여 처리(또는 세정)하는 것이 가능한 처리실(104)을 포함한다.And a treatment chamber 104 capable of disposing an actuator and capable of receiving (treating) the target material 101 (or cleaning).

도시하는 양태에 있어서, 타깃재(101)는 평판형으로 기재되어 있지만, 장치(100)에 있어서 사용할 수 있는 타깃재(101)는, 평판형에 한정되는 것은 아니다.In the illustrated embodiment, the target material 101 is described as a flat plate, but the target material 101 usable in the apparatus 100 is not limited to a flat plate.

·노즐 헤드· Nozzle head

노즐 헤드는, 물을 분사하는 것이 가능한 분사구(또는 노즐)를 적어도 1개 구비하는 것이면, 특별히 제한 없이 사용할 수 있다. 또한, 사용하는 노즐 헤드의 수에도 특별히 제한은 없다. 복수의 노즐 헤드를 사용하는 경우에는, 노즐로부터 분사되는 물이 서로 간섭하지 않도록 적절하게 간격을 두고 배치하는 것이 바람직하다.The nozzle head can be used without particular limitation as long as it has at least one jetting orifice (or nozzle) capable of jetting water. There is no particular limitation on the number of nozzle heads to be used. When a plurality of nozzle heads are used, it is preferable that the nozzles are arranged at appropriate intervals so that the water sprayed from the nozzles does not interfere with each other.

또한, 본 발명의 장치는, 워크의 측면에 물을 분사하여 세정하기 위한 노즐 헤드(또는 사이드 노즐 헤드)를 별도로 구비하고 있어도 된다. 워크의 측면(X-Z면 및/또는 Y-Z면)을 처리하기 위해 사용되는 노즐 헤드의 수 및 배치하는 위치에 특별히 제한은 없다.Further, the apparatus of the present invention may further include a nozzle head (or a side nozzle head) for spraying water on the side surface of the workpiece for cleaning. There are no particular restrictions on the number of nozzle heads used to process the sides of the workpiece (X-Z surface and / or Y-Z surface) and the location of the placement.

노즐 헤드로서, 상기 서술한 「타깃재의 세정 방법」에 있어서 상세하게 설명한 것을 적절히, 제한 없이 사용할 수 있다.As the nozzle head, those described in detail in the above-mentioned " method for cleaning the target material " can be appropriately used without limitation.

노즐 헤드를 회전시키기 위한 로터리 유닛을 더 구비하고 있어도 된다.And a rotary unit for rotating the nozzle head.

·액추에이터· Actuator

액추에이터로서는, 전기, 유압, 공기압 등에 의한 구동력을 이용하여, 노즐 헤드를 조작 또는 이동시킬 수 있는 것을 사용하면 된다. 바람직하게는 X축, Y축 및 Z축 중 적어도 일방향, 보다 바람직하게는 X축, Y축 및 Z축의 모든 방향에 각각 임의로 적절하게 노즐 헤드를 이동시킬 수 있는 것을 사용한다.As the actuator, any actuator capable of operating or moving the nozzle head may be used by using driving force by electric, hydraulic, air pressure or the like. Preferably, at least one of the X-axis, the Y-axis, and the Z-axis, and more preferably, the nozzle head can arbitrarily and suitably move in all directions of the X-axis, the Y-axis, and the Z-

보다 구체적으로는, X축, Y축 및 Z축의 모든 방향으로 노즐 헤드를 이동시키기 위해, 예를 들면, 도 5~9(특히, 도 9)에 나타내는 바와 같이, X축 슬라이더(103X)와, Y축 슬라이더(103Y)와, Z축 슬라이더(103Z)를 구비하는 3축 조합 타입의 액추에이터(103)를 사용할 수 있다.More specifically, as shown in Figs. 5 to 9 (particularly, Fig. 9), in order to move the nozzle head in all directions of the X axis, Y axis and Z axis, the X axis slider 103X, A Y-axis slider 103Y, and a Z-axis slider 103Z can be used.

노즐 헤드(102)는, 예를 들면, 필요에 따라 로드(106) 등을 개재하여, Z축 슬라이더(103Z)에 직접 또는 간접적으로 결합할 수 있도록 구성되어 있어, Z축 슬라이더(103Z)에 의해, Z축 방향(상하 방향 혹은 타깃재(101)의 피처리면에 대하여 접근하는 방향 또는 멀어지는 방향)으로 노즐 헤드(102)를 이동시킬 수 있다(도 9). 다른 양태에서는, Z축 슬라이더(103Z)는, 그 내부를 로드(106)가 관통하여 통과하도록 구성되어 있어도 된다.The nozzle head 102 is configured to be able to directly or indirectly be coupled to the Z-axis slider 103Z via a rod 106 or the like as required, for example. The Z-axis slider 103Z , The nozzle head 102 can be moved in the Z-axis direction (the up-down direction or the direction in which the target material 101 approaches or moves away from the target surface) (Fig. 9). In another embodiment, the Z-axis slider 103Z may be configured so that the rod 106 passes through the Z-axis slider 103Z.

Z축 슬라이더(103Z)는, Y축 슬라이더(103Y)에 물리적 또는 기계적으로 결합할 수 있도록 구성되어 있어, Y축 슬라이더(103Y)에 의해, 노즐 헤드(102)를 슬라이더(103Z)와 함께 Y축 방향(타깃재(101)의 진행 방향 또는 도시하는 장치(100) 혹은 타깃재(101)의 길이 방향에 대하여 수직인 방향)을 따라 이동시킬 수 있다(도 9).The Z-axis slider 103Z is configured to be physically or mechanically coupled to the Y-axis slider 103Y so that the nozzle head 102 can be moved along with the slider 103Z to the Y- (The direction in which the target material 101 advances or the direction perpendicular to the device 100 or the longitudinal direction of the target material 101 shown in Fig. 9).

Y축 슬라이더(103Y)는, X축 슬라이더(103X)에 물리적 또는 기계적으로 결합할 수 있도록 구성되어 있어, X축 슬라이더(103X)에 의해, 노즐 헤드(102)를 슬라이더(103Y 및 103Z)와 함께 X축 방향(타깃재(101)의 진행 방향 또는 도시하는 장치(100) 혹은 타깃재(101)의 길이 방향)을 따라 이동시킬 수 있다(도 9). 또한, Y축 슬라이더(103Y)의 X축 슬라이더(103X)와 결합하는 단부와는 반대측의 단부는, X축 슬라이더(103X)와 평행하게 배치될 수 있는 서포트 가이드(또는 가이드 레일)와 계합(engaging)하고 있어도 된다.The Y axis slider 103Y is configured so as to be physically or mechanically coupled to the X axis slider 103X so that the X axis slider 103X moves the nozzle head 102 along with the sliders 103Y and 103Z (The direction of travel of the target material 101 or the longitudinal direction of the device 100 or the target material 101 shown in Fig. 9) (Fig. 9). The end of the Y-axis slider 103Y on the opposite side to the end engaged with the X-axis slider 103X is engaged with a support guide (or guide rail) that can be disposed in parallel with the X- ).

이러한 슬라이더(103X, 103Y 및 103Z)를 포함하는 액추에이터(103)(도 9)의 사용에 의해, 노즐 헤드(102)를 X축, Y축 및 Z축의 3방향으로 적절하게 이동시킬 수 있다.By using the actuator 103 (Fig. 9) including the sliders 103X, 103Y and 103Z, the nozzle head 102 can be appropriately moved in three directions of the X axis, Y axis and Z axis.

슬라이더(103X, 103Y 및 103Z)는, 전기, 유압, 공기압 등에 의한 구동력을 이용하여 서로 슬라이드 가능하게 이동시키는 것이 가능한 한, 그 구동 양식이나 결합 양식에 특별히 제한은 없다.As long as the sliders 103X, 103Y, and 103Z can be slidably moved relative to each other using a driving force by electricity, hydraulic pressure, air pressure, or the like, there is no particular limitation on the driving style and the combining style.

액추에이터에 의한 노즐 헤드의 이동 및 물의 분사는, 전자적인 프로그램에 의해 제어되고 있어도 된다. 그 경우, 각 슬라이더는, 전기 케이블 등으로 적절하게 접속되어 있어도 된다. 노즐 헤드의 이동 속도 및 물의 분사에 대해서는, 상기의 「타깃재의 세정 방법」에 있어서 정의한 바와 같이 제어하는 것이 바람직하다.The movement of the nozzle head by the actuator and the injection of water may be controlled by an electronic program. In this case, each slider may be suitably connected by an electric cable or the like. The moving speed of the nozzle head and the jetting of water are preferably controlled as defined in the above-described " cleaning method of the target material ".

액추에이터는, 방수 사양이어도 되고, 방수 사양임으로써, 분사된 물이나 타깃재에 닿아 발생하는 물보라가 액추에이터에 접촉함으로써 발생하는 녹이나 기름 떨어짐에 의한 문제를 방지할 수 있다. 또한, 액추에이터의 각 슬라이더를 전기 케이블로 접속하는 경우, 전기 케이블에 대해서도, 방수 사양인 것이 바람직하다.The actuator may be waterproof and waterproof, thereby preventing the problem of rust and oil falling caused by contact of the sprayed water or the target material with the generated water. In the case of connecting each slider of the actuator with an electric cable, it is preferable that the electric cable is also waterproof.

도시하는 실시 형태와 같이 , 노즐 헤드로부터 수직 하방으로 물을 분사해도 되지만, 노즐 헤드의 각도를 변경하는 것이 가능한 기구를 필요에 따라 더 배치해도 된다. 그 경우, 전자적인 프로그램에 의해, 노즐 헤드의 각도에 대해서도, 함께 제어할 수 있다. 또한, 이러한 기구에 의해, 원통형의 타깃재에 대해서는, 보다 효율적으로 세정할 수 있다.Although water may be injected vertically downward from the nozzle head as in the illustrated embodiment, a mechanism capable of changing the angle of the nozzle head may be further arranged as required. In this case, the angle of the nozzle head can also be controlled by an electronic program. With such a mechanism, the cylindrical target material can be more efficiently cleaned.

액추에이터로서는, 예를 들면, 주식회사아이에이아이(IAI)제(製)의 3축 조합 타입의 산업용 로봇을 사용해도 된다.As the actuator, for example, a three-axis combination type industrial robot made by IAI Co., Ltd. may be used.

또한, 본 발명의 장치에서 사용할 수 있는 액추에이터는, 상기의 것에 한정하여 해석되어야 하는 것은 아니다.Further, the actuators usable in the apparatus of the present invention are not limited to those described above.

·처리실· Treatment room

처리실은, 상기 서술의 액추에이터를 노즐 헤드와 함께 배치할 수 있고, 타깃재를 수용하여, 상기 서술의 「타깃재의 세정 방법」에 따라, 타깃재를 처리하는 것을 주요한 목적으로 한다.The main purpose of the treatment chamber is to dispose the actuator described above together with the nozzle head, to receive the target material, and to treat the target material according to the above-described " target material cleaning method ".

처리실 내에서 타깃재를 처리함으로써, 노즐 헤드로부터 분사된 물이 타깃재에 닿아 발생하는 물보라나, 타깃재로부터 제거된 접합재를 포함하는 고체의 처리물(또는 분진)이 주위에 비산하여 환경을 오염시키는 것을 방지할 수 있다.By treating the target material in the treatment chamber, water sprayed from the nozzle head due to contact with the target material, or solid treated material (or dust) containing the bonding material removed from the target material scattered around, Can be prevented.

예를 들면, 도 5~8에 나타내는 바와 같이, 처리실(104)은, 직사각형의 본체를 가지고, 그 상부가 개방되어 있어, 액추에이터(구체적으로는, 도 9에 나타내는 슬라이더(103X, 103Y, 103Z)를 포함하는 액추에이터(103))를 배치할 수 있도록 구성되어 있다.For example, as shown in Figs. 5 to 8, the processing chamber 104 has a rectangular main body and its upper portion is opened, and the actuator (concretely, the sliders 103X, 103Y, (The actuator 103 including the actuator 103).

처리실(104)의 치수에 특별히 제한은 없고, 대형의 스퍼터링 타깃용의 타깃재를 처리할 수 있는 것이 바람직하다.The size of the treatment chamber 104 is not particularly limited, and it is preferable that the target material for a large sputtering target can be treated.

도시하는 실시 형태와 같이 타깃재(101)를 그 길이 방향을 따라 반송하는 경우, 처리실(104)의 X축 방향의 치수와 Y축 방향의 치수와의 비(X/Y)는, 예를 들면 3/16~10/1, 바람직하게는 1/2~10/3, 보다 바람직하게는 6/7~7/3이다.In the case of transporting the target material 101 along the longitudinal direction thereof as in the illustrated embodiment, the ratio (X / Y) of the dimension in the X-axis direction to the dimension in the Y-axis direction of the treatment chamber 104 is, for example, 3/16 to 10/1, preferably 1/2 to 10/3, and more preferably 6/7 to 7/3.

X축 방향의 치수와 Z축 방향의 치수와의 비(X/Z)는, 예를 들면 1/3~10/1, 바람직하게는 1/2~4/1, 보다 바람직하게는 5/6~35/12이다.The ratio (X / Z) of the dimension in the X-axis direction to the dimension in the Z-axis direction is, for example, 1/3 to 10/1, preferably 1/2 to 4/1, more preferably 5/6 ~ 35/12.

Y축 방향의 치수와 Z축 방향의 치수와의 비(Y/Z)는, 예를 들면 1/5~8/1, 바람직하게는 3/5~2/1, 보다 바람직하게는 5/6~35/24이다.The ratio (Y / Z) of the dimension in the Y-axis direction to the dimension in the Z-axis direction is, for example, 1/5 to 8/1, preferably 3/5 to 2/1, more preferably 5/6 ~ 35/24.

상기의 경우, X축 방향의 치수는, 예를 들면 750mm~5000mm, 바람직하게는 1000mm~4000mm, 보다 바람직하게는 1500mm~3500mm이다.In this case, the dimension in the X-axis direction is, for example, 750 mm to 5000 mm, preferably 1000 mm to 4000 mm, and more preferably 1500 mm to 3500 mm.

Y축 방향의 치수는, 예를 들면 500mm~4000mm, 바람직하게는 1200mm~2000mm, 보다 바람직하게는 1500mm~1750mm이다.The dimension in the Y-axis direction is, for example, 500 mm to 4000 mm, preferably 1200 mm to 2000 mm, and more preferably 1500 mm to 1750 mm.

Z축 방향의 치수는, 구체적으로는, 예를 들면 500mm~2500mm, 바람직하게는 1000mm~2000mm, 보다 바람직하게는 1200mm~1750mm이다.Specifically, the dimension in the Z-axis direction is, for example, 500 mm to 2500 mm, preferably 1000 mm to 2000 mm, and more preferably 1200 mm to 1750 mm.

도시하는 실시 형태에서는, 이하에서 상세하게 설명하는 벨트 컨베이어, 롤러 등의 반송 수단(105)을 이용함으로써, 타깃재(101)를 그 길이 방향을 따라 반송하고, 처리실(104)의 내부에서 타깃재를 처리할 수 있지만, 타깃재(101)의 폭 방향(길이 방향에 수직인 방향)을 따라(예를 들면, Y축을 따라) 타깃재(101)를 반송하여, 처리실(104)의 내부에서 타깃재(101)를 처리해도 된다.In the illustrated embodiment, the target material 101 is conveyed along the longitudinal direction thereof by using the conveying means 105 such as a belt conveyor or a roller, which will be described in detail below, The target material 101 may be transported along the width direction (direction perpendicular to the longitudinal direction) of the target material 101 (for example, along the Y axis) The ashes 101 may be processed.

타깃재(101)를 그 폭 방향(길이 방향에 수직인 방향)을 따라 반송하는 경우, 처리실(104)의 X축 방향의 치수와 Y축 방향의 치수와의 비(X/Y)는, 예를 들면 3/16~10/1, 바람직하게는 1/2~10/3, 보다 바람직하게는 6/7~7/3이다.The ratio (X / Y) of the dimension in the X-axis direction to the dimension in the Y-axis direction of the treatment chamber 104 in the case of transporting the target material 101 along the width direction (direction perpendicular to the longitudinal direction) For example, from 3/16 to 10/1, preferably from 1/2 to 10/3, and more preferably from 6/7 to 7/3.

X축 방향의 치수와 Z축 방향의 치수와의 비(X/Z)는, 예를 들면 1/3~10/1, 바람직하게는 1/2~4/1, 보다 바람직하게는 5/6~35/12이다.The ratio (X / Z) of the dimension in the X-axis direction to the dimension in the Z-axis direction is, for example, 1/3 to 10/1, preferably 1/2 to 4/1, more preferably 5/6 ~ 35/12.

Y축 방향의 치수와 Z축 방향의 치수와의 비(Y/Z)는, 예를 들면 1/5~8/1, 바람직하게는 3/5~2/1, 보다 바람직하게는 5/6~35/24이다.The ratio (Y / Z) of the dimension in the Y-axis direction to the dimension in the Z-axis direction is, for example, 1/5 to 8/1, preferably 3/5 to 2/1, more preferably 5/6 ~ 35/24.

상기의 경우, X축 방향의 치수는, 예를 들면 750mm~5000mm, 바람직하게는 1000mm~4000mm, 보다 바람직하게는 1500mm~3500mm이다.In this case, the dimension in the X-axis direction is, for example, 750 mm to 5000 mm, preferably 1000 mm to 4000 mm, and more preferably 1500 mm to 3500 mm.

Y축 방향의 치수는, 예를 들면 500mm~4000mm, 바람직하게는 1200mm~2000mm, 보다 바람직하게는 1500mm~1750mm이다.The dimension in the Y-axis direction is, for example, 500 mm to 4000 mm, preferably 1200 mm to 2000 mm, and more preferably 1500 mm to 1750 mm.

Z축 방향의 치수는, 예를 들면 500mm~2500mm, 바람직하게는 1000mm~2000mm, 보다 바람직하게는 1200mm~1800mm이다.The dimension in the Z-axis direction is, for example, 500 mm to 2500 mm, preferably 1000 mm to 2000 mm, and more preferably 1200 mm to 1800 mm.

반송 수단(105)을 이용하는 경우, 처리실(104)에는, 반송 수단(105) 및 타깃재(101)가 통과하기 위한 한 쌍의 개구부(반입구, 반출구)를 가지고 있어도 된다. 타깃재(101)를 통과시키는 것이 가능한 한, 개구부의 치수에 특별히 제한은 없다.When the conveying means 105 is used, the processing chamber 104 may have a pair of openings (inlet and outlet) through which the conveying means 105 and the target material 101 pass. The size of the opening is not particularly limited as long as it is possible to pass the target material 101 through.

도시하는 실시 형태와 같이 타깃재(101)를 그 길이 방향을 따라 반송하는 경우, 개구부의 Y축 방향의 치수는, 예를 들면 100mm 이상이며, 바람직하게는 150mm~1500mm, 보다 바람직하게는 200mm~1000mm, 보다 더 바람직하게는 250mm~500mm이며, Z축 방향의 치수는, 예를 들면 10mm 이상이고, 바람직하게는 12mm~300mm, 보다 바람직하게는 20mm~200mm, 보다 더 바람직하게는 45mm~150mm이다.When the target material 101 is transported along its longitudinal direction as shown in the illustrated embodiment, the dimension of the opening in the Y-axis direction is, for example, 100 mm or more, preferably 150 mm to 1500 mm, The dimension in the Z-axis direction is, for example, 10 mm or more, preferably 12 mm to 300 mm, more preferably 20 mm to 200 mm, and even more preferably 45 mm to 150 mm .

타깃재(101)를 그 폭 방향(길이 방향에 수직인 방향)을 따라 반송하는 경우, 개구부의 X축 방향의 치수는, 예를 들면 500mm 이상이며, 바람직하게는 750mm~4000mm, 보다 바람직하게는 1000mm~3500mm, 보다 더 바람직하게는 1500mm~3000mm이고, Z축 방향의 치수는, 예를 들면 10mm 이상이며, 바람직하게는 12mm~300mm, 보다 바람직하게는 20mm~200mm, 보다 더 바람직하게는 45mm~150mm이다.When the target material 101 is transported along its width direction (direction perpendicular to the longitudinal direction), the dimension of the opening in the X-axis direction is, for example, 500 mm or more, preferably 750 mm to 4000 mm, The dimension in the Z-axis direction is, for example, 10 mm or more, preferably 12 mm to 300 mm, more preferably 20 mm to 200 mm, still more preferably 45 mm to 300 mm, 150 mm.

상기 실시형태에서는, 타깃재(101)를 반송 가능한 장치에 대해 서술했지만, 본 발명의 세정 장치는, 반송 수단(105)을 마련하지 않아도 된다.In the above embodiment, the apparatus capable of transporting the target material 101 has been described. However, the cleaning apparatus of the present invention does not need to include the conveying means 105. [

도 5에 나타내는 실시 형태에서는, 처리실(104)의 내부의 모습이 잘 보이도록, 그 측면(X-Z면)에 있어서도 개구부를 가지도록 나타내고 있지만, 이러한 개구부는, 존재하고 있어도, 존재하고 있지 않아도 된다. 이러한 개구부가 존재하는 경우, 이러한 개구부에는, 개폐식의 도어(예를 들면, 좌우 여닫이 도어)를 마련하여, 물보라나 분진의 비산을 방지해도 된다. 이러한 도어를 마련함으로써, 처리실(104)의 내부에서의 메인터넌스가 간편해지므로 바람직하다.In the embodiment shown in Fig. 5, the opening is also shown on the side surface (X-Z plane) so that the inside of the processing chamber 104 can be seen clearly. However, such opening may or may not exist. When such openings are present, opening and closing doors (for example, right and left door) may be provided in these openings to prevent splashing of water or dust. By providing such a door, maintenance in the processing chamber 104 can be simplified.

처리실(104)의 내부의 바닥부에는, 노즐 헤드로부터 분사되어 타깃재(101)를 세정한 후의 물(타깃재로부터 제거된 접합재를 포함하는 고체의 처리물(또는 분진)을 포함함)(이하, 「처리수」라고 부름)을 일시적으로 저류하기 위한 풀(도시 생략)을 구비하고 있어도 된다.The bottom of the inside of the treatment chamber 104 is filled with water (including solid matter (or dust) including the bonding material removed from the target material) (hereinafter referred to as " , And a pool (not shown) for temporarily storing the water (hereinafter referred to as " treated water ").

처리실(104)의 내부에는, 처리수를 배출하기 위한 배출구(도시 생략)를 가지고 있어도 된다. 배출구는, 처리실(104)의 바닥면에 배치되어 있어도 되지만, 처리물이 퇴적하여 배출구를 막는 경우도 있을 수 있으므로, 바닥면으로부터, 예를 들면 1mm~50mm, 바람직하게는 10mm~25mm의 간격을 두고 측면에 배치할 수도 있다. 배출구는, 처리수를 배출할 수 있으면, 그 형상, 치수 및 구조에 특별히 제한은 없다.In the inside of the treatment chamber 104, a discharge port (not shown) for discharging treated water may be provided. The discharge port may be disposed on the bottom surface of the process chamber 104. However, since the process material may accumulate to block the discharge port, the discharge port may be spaced from the bottom surface by an interval of, for example, 1 mm to 50 mm, preferably 10 mm to 25 mm It can also be placed on the side. There is no particular limitation on the shape, dimension and structure of the discharge port as long as it can discharge the treated water.

또한, 처리실(104)의 내부에는, 처리실(104)의 내벽면에 부착된 처리물을 씻어 내기 위한 샤워 기구를 임의로 구비하고 있어도 된다.In addition, a shower mechanism may be optionally provided in the processing chamber 104 to wash the processing material attached to the inner wall surface of the processing chamber 104.

본 발명의 장치에서 사용할 수 있는 처리실은, 상기의 것에 한정하여 해석되어야 하는 것은 아니다.The treatment chamber usable in the apparatus of the present invention is not limited to the above.

그 밖의 구성Other configurations

장치는, 상기의 구성에 더해, 다른 구성을 포함하고 있어도 된다.In addition to the above configuration, the apparatus may include other configurations.

·클램프·clamp

본 발명의 장치는, 타깃재를 처리실 내에서 고정하기 위한 클램프를 더 포함하고 있어도 된다. 타깃재를 클램프로 고정함으로써, 세정 처리의 동안에 타깃재가 움직이지 않도록 고정할 수 있다. 처리실 내에 있어서, 클램프를 배치하는 위치에 특별히 제한은 없다. 타깃재의 측면을 그 양측으로부터 고정하는 것이 바람직하다. 그렇게 고정함으로써, 타깃재의 피처리면이 클램프로 덮여지지 않아, 피처리면의 전체 면에 걸쳐 물을 분사할 수 있다.The apparatus of the present invention may further comprise a clamp for fixing the target material in the treatment chamber. By fixing the target material with a clamp, the target material can be fixed so as not to move during the cleaning process. There is no particular limitation on the position of the clamp in the treatment chamber. It is preferable to fix the side surface of the target material from both sides thereof. By so fixing, the target surface of the target material is not covered with the clamp, and water can be sprayed over the entire surface of the target surface.

타깃재가 변형되어 있는 경우, 활 모양으로 구부러져 있는 경우 등에는, 타깃재의 상측으로부터 물을 분사하면, 타깃재가 진동하여 세정 처리의 퍼포먼스가 저하되는 경우도 있지만, 상기 서술한 바와 같이 타깃재의 측면을 클램프로 고정함으로써, 타깃재의 진동을 억제할 수 있다.In the case where the target material is deformed and bent in an arcuate shape, when the water is sprayed from above the target material, the target material may vibrate and the performance of the cleaning treatment may be lowered. However, The vibration of the target material can be suppressed.

타깃재의 휨이 적은 경우나, 타깃재의 하측에 토대가 있는 경우에는, 타깃재의 연직 상방으로부터 물을 분사하기 때문에, 미리 결정한 소정의 위치로부터 타깃재가 이동하지 않도록 고정하는 것 만이어도 된다.In the case where there is little warpage of the target material or when there is a base under the target material, it is only necessary to fix the target material so that the target material does not move from a predetermined predetermined position because the water is sprayed from above the vertical direction of the target material.

미리 결정한 소정의 위치에 타깃재를 클램프로 고정함으로써(타깃재의 위치 결정), 노즐 헤드의 조작 시에 0점 조정(처리 범위의 지정)을 행할 필요가 없어진다고 하는 이점도 얻어진다.There is an advantage that it is not necessary to perform zero point adjustment (designation of a processing range) at the time of operating the nozzle head by fixing the target material with a clamp at a predetermined predetermined position (positioning of the target material).

클램프의 형상 및 치수 등에 제한은 없지만, 상기 서술한 바와 같이 타깃재의 측면을 그 양측으로부터 고정하는 것이 가능한 클램프를 사용하는 것이 바람직하다. 예를 들면, 주식회사 이마오코포레이션, 쓰다코마공업주식회사제의 사이드 클램프 등을 사용할 수 있다. 클램프의 수, 클램프를 배치하는 위치에 특별히 제한은 없고, 타깃재에 맞춰 적절히 결정하면 된다.There is no limitation on the shape and dimensions of the clamp, but it is preferable to use a clamp capable of fixing the side surface of the target material from both sides thereof as described above. For example, Imao Corporation, a side clamp manufactured by Tsudakoma Kogyo Co., Ltd., and the like can be used. The number of clamps and the position at which the clamps are arranged are not particularly limited and may be appropriately determined in accordance with the target material.

클램프의 기구는, 자동이어도, 수동이어도 되지만, 대형의 타깃재를 고정하는 작업을 간편화하기 위해서는, 소정의 위치에 타깃재를 설치하였을 때에, 타깃재의 측면을 그 양측으로부터 사이에 끼우는 것 같은 자동식인 것이 바람직하다. 또한, 클램프가 수동식인 경우, 작업성의 면에서, 처리실(104) 측면(X-Z면)에는, 개구부, 바람직하게는 개폐식의 도어를 마련한 것이 좋다.The mechanism of the clamp may be automatic or manual. However, in order to simplify the task of fixing the large target member, it is necessary to provide a mechanism for automatically setting the target member such that the side surface of the target member is sandwiched from both sides thereof . When the clamp is of the manual type, it is preferable to provide an opening, preferably an opening and closing door, on the side surface (X-Z surface) of the processing chamber 104 from the viewpoint of workability.

·반송 기구· Carrier

본 발명의 장치는, 처리실 내에 타깃재를 반입하고 처리실로부터 타깃재를 반출하는 것이 가능한 반송 기구를 포함하고 있어도 된다(예를 들면, 도 5~8에 나타내는 반송 수단(105)).The apparatus of the present invention may include a transport mechanism capable of transporting a target material into the treatment chamber and carrying out the target material from the treatment chamber (for example, the transport means 105 shown in Figs. 5 to 8).

반송 기구로서는, 타깃재를 반송할 수 있는 것이면 특별히 제한 없이 사용할 수 있고, 예를 들면, 벨트 컨베이어, 롤러 컨베이어, 캐터필러 등의 컨베이어, 셔틀 반송, 파렛트 반송, 진공 척 반송, 로봇 암 반송 등을 들 수 있다.The conveying mechanism may be any type of conveying mechanism capable of conveying the target material such as a belt conveyor, a roller conveyor, a conveyor such as a caterpillar, a shuttle conveying, a pallet conveying, a vacuum chuck conveying, .

반송 기구에 의한 타깃재의 반송 속도에 특별히 제한은 없지만, 예를 들면 15m/분~60m/분, 바람직하게는 20m/분~50m/분, 보다 바람직하게는 25m/분~40m/분이다.The conveying speed of the target material by the conveying mechanism is not particularly limited, but is, for example, 15 m / min to 60 m / min, preferably 20 m / min to 50 m / min, more preferably 25 m / min to 40 m / min.

반송 기구는, 처리실로부터 타깃재가 반출된 후, 재차, 처리실에 반입될 수 있도록 연속된 루프를 형성하고 있어도 된다.The transport mechanism may form a continuous loop so that the target material can be carried into the processing chamber again after the target material is taken out from the processing chamber.

반송 기구는, 반입용, 반출용, 처리실내용, 루프용 등의 목적에 따라, 임의로 분할할 수 있는 것이어도 된다.The transport mechanism may be one which can be arbitrarily divided depending on the purpose of carrying, carrying out, processing chamber contents, loop, and the like.

또한, 반송 기구에는, 처리실의 입구측에 타깃재의 공급 기구가 마련되어 있어도 되고, 처리실의 출구측에는 타깃재의 반전 기구가 마련되어 있어도 된다.The transport mechanism may be provided with a target material supply mechanism on the inlet side of the treatment chamber and a reversing mechanism of the target material may be provided on the outlet side of the treatment chamber.

·타깃재의 공급 기구· The supply mechanism of the target material

본 발명의 장치는, 타깃재를 상기 서술의 반송 기구에 적절하게 공급할 수 있도록 타깃재의 공급 기구를 포함하고 있어도 된다. 타깃재의 공급 기구는, 타깃재를 적절히 공급할 수 있는 것이면 특별히 제한은 없다. 또한, 타깃재의 공급 기구는, 복수의 타깃재를 저류하기 위한 카세트를 포함하고 있어도 되고, 거기에서, 필요에 따라, 타깃재를 적절히 공급할 수 있는 것이어도 된다. 타깃재의 공급 기구로서, 시판의 자동 공급 장치를 사용해도 된다.The apparatus of the present invention may include a supply mechanism of the target material so that the target material can be appropriately supplied to the above-described transport mechanism. The supply mechanism of the target material is not particularly limited as long as it can appropriately supply the target material. The supply mechanism of the target material may include a cassette for storing a plurality of target materials, and if necessary, the target material may be appropriately supplied. As a supply mechanism of the target material, a commercially available automatic feeder may be used.

·타깃재의 반전 기구· Reversing mechanism of target material

본 발명의 장치는, 타깃재를 반전시키기 위한 반전 기구, 바람직하게는 타깃재를 고정(예를 들면 클램프 등으로 고정)한 상태로 반전시킬 수 있는 기구를 더 포함하고 있어도 된다. 이러한 반전 기구를 포함함으로써, 타깃재의 피처리면을 임의로 반전시킬 수 있다. 반전 기구의 치수에 특별히 제한은 없다.The apparatus of the present invention may further include an inversion mechanism for inverting the target material, preferably a mechanism capable of reversing the target material in a state in which the target material is fixed (for example, clamped). By including such an inversion mechanism, the target surface of the target material can be reversed arbitrarily. The dimensions of the reversing mechanism are not particularly limited.

시판의 자동 반전 장치를 사용해도 되고, 예를 들면, 주식회사애드펙제의 자동 반전 장치 등을 사용할 수 있다.A commercially available automatic inversion device may be used, for example, an automatic inversion device of Advex Co., Ltd. may be used.

·배수 기구· Drainage

타깃재를 세정한 후의 처리수는, 타깃재로부터 제거된 접합재를 포함하는 고체의 처리물(또는 분진) 등을 포함하는 점에서, 본 발명의 장치는, 필요에 따라, 이러한 처리수로부터, 바람직하게는 물만을 회수하여 배수하고, 접합재 등의 고체의 처리물을 분리할 수 있는 배수 기구를 포함하고 있어도 된다.The treated water after the target material has been washed contains the solid treated material (or dust) containing the bonding material removed from the target material, and the apparatus of the present invention can remove the desired A drainage mechanism capable of collecting and discharging only water and discharging a solid treated material such as a bonding material may be included.

배수 기구로서는, 고체와 액체를 분리할 수 있는 것이면 특별히 제한 없이 사용할 수 있다. 당해 분야에 있어서, 일반적으로 잘 알려져져 있는 고액 분리 장치 등을 필요에 따라 적절히 사용할 수 있다.The drainage mechanism can be used without particular limitation as long as it can separate the solid and the liquid. In this field, commonly known solid-liquid separators can be suitably used as needed.

배수 기구는, 처리실의 내부에 마련될 수 있는 배출구에 접속되는 것이 바람직하다.Preferably, the drainage mechanism is connected to an outlet that can be provided inside the treatment chamber.

예를 들면, 일반적으로 물 처리에 이용할 수 있는 막 분리식의 고액 분리 장치를 이용할 수 있다. 막 분리식의 고액 분리 장치에서는, 고액 분리가 가능한 막을 포함하는 복수의 막 카트리지를 적어도 1개 사용하여, 이러한 막 카트리지에 접속된 집수관을 통하여 펌프로 물을 흡인 여과함으로써 회수한 물을 외부에 배수할 수 있다(도 10). 이 때, 처리물은, 조의 바닥부에 침전될 수 있으므로, 별도로 회수하여 재이용할 수도 있다.For example, a membrane separation type solid-liquid separation device which can be generally used for water treatment can be used. In the membrane separation type solid-liquid separation apparatus, at least one membrane cartridge including a membrane capable of solid-liquid separation is used, and the collected water is sucked and filtered by a pump through a collecting pipe connected to such a membrane cartridge, (Fig. 10). At this time, the treated material can be settled in the bottom of the tank, so it can be recovered separately and reused.

배수 기구로서, 고체와 액체를 침전에 의해 분리하는 것이 가능한 침전조를 이용해도 된다. 예를 들면, 일반적으로 물처리에 이용할 수 있는 호퍼형 침전조, 중심 구동 스크래퍼(scraper)를 구비하는 원형 침전조, 횡류식 침전조 등을 들 수 있다. 이러한 침전조를 사용함으로써, 타깃재로부터 제거된 접합재를 포함하는 고체의 처리물을 별도로 회수할 수 있다.As the drainage mechanism, a sedimentation tank capable of separating solid and liquid by sedimentation may be used. For example, a hopper-type sedimentation tank generally used for water treatment, a circular sedimentation tank equipped with a central drive scraper, a transverse sedimentation tank, and the like can be given. By using such a settling tank, it is possible to separately recover the solid treated material including the bonding material removed from the target material.

혹은, 도 11에 나타내는 바와 같은 다단식의 침전조를 이용하여 고체와 액체를 분리해도 된다. 다단식의 침전조는, 복수의 침전조를 가지고, 수위가 높은 침전조로부터, 수위가 낮은 침전조로, 순차, 침전조의 상방으로부터 하단의 침전조로 배수할 수 있다. 각 침전조의 바닥부에는 처리물이 침전되고, 별도로 회수하여 재이용할 수 있다.Alternatively, the solid and the liquid may be separated using a multistage sedimentation tank as shown in Fig. The multistage settling tank can be drained from the upper side of the settling tank to the lower settling tank sequentially from the settling tank having a high water level to the settling tank having a low water level with a plurality of settling tanks. The treated material is settled in the bottom of each settling tank and can be recovered separately and reused.

침전조의 단수(段數) 및 각 침전조의 용량에 특별히 제한은 없다. 또한, 침전조로부터 다음의 침전조로의 배수는, 펌프를 이용하여 행해도 된다.There is no particular limitation on the number of stages of the sedimentation tank and the capacity of each sedimentation tank. The drainage from the settling tank to the next settling tank may be performed using a pump.

·사이드 노즐 헤드· Side nozzle head

본 발명의 장치는, 처리실 내에 있어서, 타깃재의 측면에 물을 분사하기 위한 적어도 1개의 노즐을 가지는 사이드 노즐 헤드를 적어도 1개 포함하고 있어도 된다. 사이드 노즐 헤드는, 상기 서술의 「타깃재의 세정 방법」에 있어서 설명한 노즐 헤드를 상기와 마찬가지로 사용할 수 있다. 사이드 노즐 헤드는, 고정식이어도, 가동식이어도 된다. 사이드 노즐 헤드가 가동식인 경우에는, X축 또는 Y축을 따라, 사이드 노즐 헤드를 이동시켜 사용하는 것이 바람직하다.The apparatus of the present invention may include at least one side nozzle head having at least one nozzle for spraying water on the side surface of the target material in the treatment chamber. As the side nozzle head, the nozzle head described in the above-described " method for cleaning the target material " can be used as described above. The side nozzle heads may be fixed or movable. When the side nozzle head is movable, it is preferable to move the side nozzle head along the X axis or the Y axis.

사이드 노즐 헤드를 배치하는 위치 및 그 수에 특별히 제한은 없다.There are no particular limitations on the position and the number of the side nozzle heads.

이러한 사이드 노즐 헤드를 필요에 따라 사용함으로써, 타깃재의 주면 뿐만 아니라, 그 측면도 포함하여, 3차원적으로 세정 처리를 실시하는 것이 가능해진다.By using such a side nozzle head as needed, it is possible to perform the cleaning treatment three-dimensionally including not only the main surface of the target material but also the side surface thereof.

·펌프·Pump

본 발명의 장치는, 상기 서술의 노즐 헤드 및/또는 사이드 노즐 헤드에 물을 공급하는 것이 가능한 펌프를 포함하고 있어도 된다. 펌프로서는, 예를 들면, 상기 서술의 「타깃재의 세정 방법」에 있어서 설명한 펌프를 사용할 수 있다.The apparatus of the present invention may include a pump capable of supplying water to the above described nozzle head and / or side nozzle head. As the pump, for example, the pump described in the above-described " method for cleaning the target material "

펌프는, 유체 접속이 가능한 라인, 바람직하게는 내압성의 라인을 통하여, 노즐 헤드 및/또는 사이드 노즐 헤드와 접속할 수 있다. 이러한 라인은, 임의로 배치할 수 있고, 예를 들면, 도 5~8에 나타내는 로드(106)를 따라, 혹은 로드(106)의 내부를 통하여 배치할 수 있다. 이러한 펌프는, 처리실의 내부, 외부 중 어느 것에 배치되어 있어도 되지만, 처리실의 외부에 배치되어 있는 것이 바람직하다. 또한, 사용하는 펌프의 수에 특별히 제한은 없어, 복수의 펌프를 사용해도 된다.The pump can be connected to the nozzle head and / or the side nozzle head through a fluid-connectable line, preferably a pressure-resistant line. These lines may be arranged arbitrarily and may be arranged along the rod 106 shown in FIGS. 5 to 8 or through the interior of the rod 106, for example. Such a pump may be disposed either inside or outside the treatment chamber, but is preferably disposed outside the treatment chamber. There is no particular limitation on the number of pumps to be used, and a plurality of pumps may be used.

·제어 수단· Control means

상기 서술의 구성은, 제어 수단을 이용하여, 모두 적절하게 제어할 수 있다. 제어 수단으로서는, 예를 들면, CPU, ROM, RAM 등을 구비하는 것을 들 수 있다. 상기 서술의 구성을 임의로 선택하여 전기적으로 접속하고, 필요에 따라 전자적인 프로그램을 이용하여, 상기 구성을 이러한 제어 수단에 의해 제어할 수 있다.The configuration described above can be appropriately controlled by using the control means. Examples of the control means include a CPU, a ROM, a RAM, and the like. The configuration described above can be arbitrarily selected and electrically connected, and the configuration can be controlled by such control means using an electronic program as required.

·건조 기구· Drying equipment

본 발명의 장치는, 처리실 내외에 있어서, 세정 후의 사용이 끝난 타깃재에 부착된 물을 조속히 제거하기 위한 건조 기구를 포함하고 있어도 된다. 물을 제거함으로써, 세정 후의 사용이 끝난 타깃재를 원료로서 용해, 주조를 행할 때에, 원료에 부착된 물이 원인으로 발생하는 이물 혼입 등의 문제를 방지할 수 있다.The apparatus of the present invention may include a drying mechanism for rapidly removing water adhered to the used target material after cleaning, both inside and outside the treatment chamber. By removing the water, it is possible to prevent problems such as contamination of foreign matters caused by the water adhering to the raw material when the used target after washing is melted and cast as a raw material.

건조 기구로서는, 예를 들면, 건조 공기나 질소 가스 등의 가스를 세정 후의 사용이 끝난 타깃재에 분사하여, 타깃재에 부착된 물을 날려 버리는 송풍에 의한 건조 기구나, 온풍이나 핫플레이트 상에서의 가열에 의한 건조 기구를 채용할 수 있다. 처리실(104)에 반송 수단(105) 및 타깃재(101)가 통과하기 위한 개구부(반출구)를 가지는 경우, 개구부 내외 중 어느 인접부에 송풍에 의한 건조 기구를 마련해 두는 것이 바람직하다.Examples of the drying mechanism include a drying mechanism by blowing air such as dry air or nitrogen gas to the used target material after cleaning and blowing water adhering to the target material, A drying mechanism by heating can be employed. In the case where the processing chamber 104 has an opening (exit) through which the conveying means 105 and the target material 101 pass, it is preferable to provide a drying mechanism by blowing air to any of adjacencies of inside and outside of the opening.

[세정 장치의 바람직한 실시 형태][Preferred Embodiment of Cleaning Apparatus]

장치는, 바람직한 실시 형태에 있어서,The apparatus, in a preferred embodiment,

노즐 헤드와,A nozzle head,

액추에이터와,An actuator,

처리실과,A processing chamber,

클램프, 사이드 노즐 헤드, 반전 기구, 배수 기구, 건조 기구 및 반송 기구로 이루어지는 군으로부터 선택되는 적어도 1개의 구성 요소를 포함한다.At least one component selected from the group consisting of a clamp, a side nozzle head, a reversing mechanism, a drainage mechanism, a drying mechanism, and a transport mechanism.

본 발명의 장치는, 상기의 구성을 포함하는 것에 한정하여 해석되어야 하는 것은 아니다.The device of the present invention should not be construed to be limited to the configuration including the above configuration.

리사이클 주괴의 제조 방법Manufacturing method of recycled ingot

본 발명의 세정 방법을 행하는 공정을 포함하는 제조 방법에 의해 얻어진 타깃재를, 예를 들면 도 1에 나타내는 바와 같이, 용해, 주조함으로써, 리사이클 주괴를 제조할 수 있다.The reclaim ingot can be produced by dissolving and casting the target material obtained by the manufacturing method including the step of carrying out the cleaning method of the present invention, for example, as shown in Fig.

리사이클 주괴를 제조하는 방법으로서, 본 발명에 따라 세정된 타깃재를 용해나 주조의 공정을 거쳐 제조할 수 있다. 용해나 주조는, 공지의 순서로 행할 수 있다. 리사이클 주괴에 있어서, 용해 방법으로서는, 전기로나 연소로에 의해, 대기중 또는 진공중에서 용해시키면 되고, 주조 방법으로서는, 연속 주조법, 반연속 주조법, 금형 주조법, 정밀 주조법, 핫 탑 주조법, 중력 주조법 등을 채용할 수 있다. 또한, 용해, 주조 공정의 사이에, 탈가스 처리, 개재물 제거 처리를 행해도 된다.As a method for producing the recycled ingot, the target material washed in accordance with the present invention can be manufactured through a process of melting or casting. The melting and casting can be performed in a known order. As the recycling ingot, the melting method may be dissolving in the air or in a vacuum by an electric furnace or a burning furnace. As the casting method, a continuous casting method, a semi-continuous casting method, a metal casting method, a precision casting method, a hot- Can be adopted. Further, degassing treatment and inclusion removing treatment may be performed during the dissolution and casting steps.

리사이클 주괴의 제조 조건(온도 등)은, 타깃재에 주로 포함되는 금속(원소)에 따라 적절히 결정하면 된다.The production conditions (temperature, etc.) of the recycled ingot may be appropriately determined according to the metal (element) mainly included in the target material.

타깃재에 주성분으로서 포함되는 금속이 알루미늄인 경우, 세정 후의 타깃재를 진공 상태(예를 들면, 0.03Torr) 혹은 대기하, 670~1200℃, 바람직하게는 750~850℃에 있어서, 카본이나 알루미나 등의 도가니 내에서 용해하고, 필요에 따라 대기중에서 교반하여 드로스(dross)를 제거한 후, 대기중에서 냉각함으로써, 리사이클 주괴를 제조할 수 있다.When the metal contained as the main component in the target material is aluminum, the target material after being cleaned may be carbon or alumina at a temperature of 670 to 1200 占 폚, preferably 750 to 850 占 폚 in a vacuum state (e.g., 0.03 Torr) Or the like, and if necessary, stirring is carried out in the air to remove the dross, and then the mixture is cooled in the atmosphere, whereby recycled ingot can be produced.

타깃재에 주성분으로서 포함되는 금속이 구리인 경우, 세정 후의 타깃재를 진공 상태(예를 들면, 0.03Torr) 혹은 대기하, 1100~1500℃, 바람직하게는 1150~1200℃에 있어서 카본이나 알루미나 등의 도가니 내에서 용해하고, 필요에 따라 대기중에서 교반하여 드로스를 제거한 후, 대기중에서 냉각함으로써, 리사이클 주괴를 제조할 수 있다.When the metal contained as the main component in the target material is copper, the target material after being cleaned may be carbon, alumina or the like at a temperature of 1100 to 1500 占 폚, preferably 1150 to 1200 占 폚 under vacuum (for example, 0.03 Torr) And then the dross is removed by stirring in an atmosphere if necessary, followed by cooling in the atmosphere, whereby a recycled ingot can be produced.

리사이클 주괴의 제조에는, 세정 후의 타깃재로부터만 제조해도 되고, 종래의 원료 금속과 세정 후의 타깃재와의 혼합물을 함께 사용해도 된다.The recycled ingot may be produced only from a target material after cleaning, or may be a mixture of a conventional raw material metal and a target material after cleaning.

원료 금속과 세정 후의 타깃재를 혼합하는 경우, 세정 후의 타깃재의 혼합 비율은, 통상 20중량% 이상이며, 제조 비용에 있어서의 원료 비용의 비율을 억제하기 위해서는, 50중량% 이상인 것이 바람직하다.When the raw material metal and the target after cleaning are mixed, the mixing ratio of the target material after the cleaning is usually 20 wt% or more, and it is preferable that the mixing ratio is 50 wt% or more in order to suppress the ratio of the raw material cost in the production cost.

리사이클 주괴Recycled ingot

본 발명의 리사이클 주괴는, 주로 금속으로 구성되는 타깃재와 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 스퍼터링 타깃의 타깃재에 유래하는 리사이클 주괴로서, 전술한 바와 같이, 접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소를 실질적으로 포함하지 않는 것을 특징으로 하고, 원래의(미사용의) 타깃재와 실질적으로 동일한 조성을 가질 수 있다. 이 때문에, 상기 리사이클 주괴로부터, 원래의 타깃재와 실질적으로 동일한 조성을 가지는 타깃재를 제조할 수 있다.The recycled ingot of the present invention is a reclaim ingot derived from a target material of a sputtering target in which a target material mainly composed of metal and a supporting member are joined together by a bonding material. As described above, , And may have substantially the same composition as the original (unused) target material. Therefore, a target material having substantially the same composition as the original target material can be manufactured from the recycled ingot.

여기서, 「원래의 타깃재와 실질적으로 동일한 조성을 가지는」이란, 주된 금속(원소)이 동일하며, 원래의 타깃재에 원래 포함되는 불순물과 동일 정도의 양의 불순물을 포함할 수 있는 것을 의미한다.Here, "having substantially the same composition as the original target material" means that the main metal (element) is the same and can contain the same amount of impurities as those of the original target material.

상기 리사이클 주괴에 있어서, 접합재 및 지지 부재에 유래하는 불순물의 합계량이 중량 기준으로, 통상 10ppm 미만, 바람직하게는 0.1ppm~8ppm, 보다 바람직하게는 5ppm 이하(또는 미만), 보다 더 바람직하게는 0.1ppm~5ppm이며, 보다 더 바람직하게는 0.1ppm~2ppm이다. 상기 리사이클 주괴에 있어서, 전체 불순물 합계량이, 예를 들면 50ppm 미만, 바람직하게는 0.1ppm~20ppm, 보다 바람직하게는 0.1ppm~10ppm, 더 바람직하게는 5ppm 이하(또는 미만), 보다 더 바람직하게는 0.1ppm~5ppm의 범위 내에 있다. 또한, 원래의 타깃재에 포함되는 불순물 및 그 양은, 그 타깃재에 주성분으로서 포함되는 금속의 종류 및 원래의 타깃재의 제조 방법에 의존할 수 있다.The recycled ingot generally has a total amount of impurities derived from the bonding material and the supporting member of usually less than 10 ppm, preferably 0.1 ppm to 8 ppm, more preferably 5 ppm or less (or less), more preferably 0.1 ppm to 5 ppm, and even more preferably 0.1 ppm to 2 ppm. The total amount of impurities in the recycled ingot is, for example, less than 50 ppm, preferably 0.1 ppm to 20 ppm, more preferably 0.1 ppm to 10 ppm, more preferably 5 ppm or less (or less) And is in the range of 0.1 ppm to 5 ppm. The impurities contained in the original target material and the amount thereof may depend on the kind of the metal contained as the main component in the target material and the method of producing the original target material.

리사이클 주괴는, 타깃재 이외의 용도로 사용해도 되고, 알루미늄 전해 콘덴서, 하드 디스크 기판, 내식성 재료, 고순도 알루미나 등의 높은 순도가 요구되는 제품 원료로서도 사용할 수 있다.The recycled ingot may be used for purposes other than the target material, and may also be used as a raw material for products requiring high purity such as aluminum electrolytic capacitors, hard disk substrates, corrosion-resistant materials, and high-purity alumina.

타깃재에 주성분으로서 포함되는 금속이 알루미늄인 경우, 리사이클 주괴에 포함되는 접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소의 합계량은, 중량 기준으로, 예를 들면 10ppm 미만이며, 바람직하게는 0.1ppm~8ppm, 보다 바람직하게는 5ppm 이하(또는 미만), 더 바람직하게는 0.1ppm~5ppm이고, 보다 더 바람직하게는 0.1ppm~2ppm이다. 용도에 따르지만, 예를 들면 플랫 디스플레이용의 알루미늄제의 타깃재는, 통상, 50ppm 이하, 바람직하게는 0.1ppm~20ppm, 보다 바람직하게는 0.1ppm~10ppm, 보다 더 바람직하게는 5ppm 이하(또는 미만)의 불순물을 포함하고 있어도, 스퍼터링에 특별히 지장은 없다.When the metal contained as the main component in the target material is aluminum, the total amount of the elements derived from the bonding material and the support member contained in the recycled ingot is, for example, less than 10 ppm, preferably 0.1 ppm to 8 ppm, Preferably 5 ppm or less (or less), more preferably 0.1 ppm to 5 ppm, and even more preferably 0.1 ppm to 2 ppm. For example, a target material made of aluminum for flat display usually has a content of 50 ppm or less, preferably 0.1 ppm to 20 ppm, more preferably 0.1 ppm to 10 ppm, and even more preferably 5 ppm (or less) , There is no particular problem in sputtering.

타깃재에 주성분으로서 포함되는 금속이 구리인 경우, 리사이클 주괴에 포함되는 접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소의 합계량은, 중량 기준으로 통상 10ppm 미만이며, 바람직하게는 0.05ppm~9ppm, 보다 바람직하게는 0.05ppm~8ppm이다. 용도에 따르지만, 예를 들면 플랫 디스플레이용의 무산소 구리제의 타깃재는, 통상 100ppm 이하, 바람직하게는 0.1ppm~75ppm, 보다 바람직하게는 0.1ppm~50ppm의 불순물을 포함할 수 있는 것이 알려져 있고, 불순물의 양이 이 정도이면, 스퍼터링에 특별히 지장은 없다.When the metal contained as the main component in the target material is copper, the total amount of the elements derived from the bonding material and the support member contained in the recycled ingot is usually less than 10 ppm, preferably 0.05 ppm to 9 ppm, 0.05 ppm to 8 ppm. It is known that the target material made of oxygen-free copper for flat display, for example, may contain impurities of usually 100 ppm or less, preferably 0.1 ppm to 75 ppm, more preferably 0.1 ppm to 50 ppm, The sputtering is not particularly affected.

리사이클 주괴에 포함되는 불순물의 양은 매우 미량이기 때문에, 이러한 불순물의 양은, 글로우 방전 질량 분석법(Glow Discharge Mass Spectrometry(GDMS))을 이용하여 측정할 수 있다. GDMS의 정량 하한은, 타깃재의 주원소 및 검출 대상인 원소에 따라 상이하지만, 예를 들면 타깃재가 주성분으로서 포함되는 금속이 알루미늄인 경우, 통상, 0.001ppm~0.1ppm이며, 예를 들면 인듐에서는 0.01ppm이다.Since the amount of impurities contained in the recycled ingot is very small, the amount of such impurities can be measured using Glow Discharge Mass Spectrometry (GDMS). The quantitative lower limit of the GDMS varies depending on the principal element of the target material and the element to be detected. For example, when the metal containing the target material as the main component is aluminum, it is usually 0.001 ppm to 0.1 ppm, to be.

전술한 바와 같이, 본 발명에 의하면, 사용이 끝난 타깃재는 간편하게 세정 할 수 있고, 세정 후의 타깃재는, 접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소를 실질적으로 포함하지 않는다. 따라서, 이러한 세정 방법으로 처리한 상기 타깃재를 재사용(또는 리사이클)함으로써, 접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소를 실질적으로 포함하지 않는 리사이클 주괴를 얻을 수 있다. 즉, 본 발명에 의해, 원래의 타깃재와 실질적으로 동일한 조성을 가지는 타깃재를 간편하게 재생할 수 있다.As described above, according to the present invention, the used target material can be easily cleaned, and the target material after cleaning does not substantially contain elements derived from the bonding material and the supporting member. Therefore, by recycling (or recycling) the target material treated by this cleaning method, it is possible to obtain a recycled ingot substantially containing no elements derived from the bonding material and the supporting member. That is, according to the present invention, a target material having substantially the same composition as the original target material can be easily reproduced.

본 발명에 의하면, 주로 금속으로 구성되는 타깃재의 표층에 존재하는 접합재(땜납재, 경납재, 등)를 효율적으로 제거하는 것이 가능하다.According to the present invention, it is possible to efficiently remove a bonding material (solder material, hard material, etc.) present in the surface layer of a target material mainly composed of metal.

타깃재의 표층에 있어서의 접합재의 결합 상태, 특히 메탈라이즈층의 형성 상태에 따라, 워터 제트의 수압을 증가(예를 들면, 90MPa 이상으로 증가)시킬 필요가 있지만, 주로 금속으로 구성되는 타깃재로 함으로써, 고수압의 물을 닿게 해도 타깃재 자체를 파손하지 않고, 접합재를 제거할 수 있다.It is necessary to increase the water pressure of the water jet (for example, increase to 90 MPa or more) in accordance with the bonding state of the bonding material in the surface layer of the target material, particularly the formation state of the metallization layer. However, , It is possible to remove the bonding material without damaging the target material itself even if water of high water pressure is exposed.

이하, 본 발명의 실시예를 들어 본 발명을 상세하게 설명하지만, 본 발명은, 이하의 실시예에 한정되는 것은 아니다.Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples of the present invention, but the present invention is not limited to the following examples.

[실시예][Example]

실시예 1Example 1

사용이 끝난 스퍼터링 타깃의 접합층을 가열(280℃)함으로써, 타깃재를 백킹 플레이트로부터 분리했다.The target material was separated from the backing plate by heating (280 DEG C) the bonding layer of the used sputtering target.

또한, 당해 스퍼터링 타깃은, 사용 전의 상태에서, 알루미늄제의 평판형 타깃재(순도: 99.999%, 비커스 경도: 15~17, 치수: 2000mm×200mm×15mm)와, 무산소 구리제의 백킹 플레이트(순도: 99.99%, 치수: 2300mm×250mm×15mm)를 In의 땜납재(땜납층의 두께: 350㎛)로 접합(타깃재의 메탈라이즈에는, Sn-Zn-In의 땜납재를 사용)하여 이루어진다.The sputtering target was prepared in the same manner as in Example 1 except that a flat plate type target material (purity: 99.999%, Vickers hardness: 15-17, dimensions: 2000 mm x 200 mm x 15 mm) made of aluminum and a backing plate made of oxygen- (Solder material of Sn-Zn-In is used for the metallization of the target material) with a solder material (thickness of solder layer: 350 mu m) of In.

또한, 분리한 타깃재의 접합면에 부착되어 있는 땜납재를 실리콘제의 스패튤라로 긁어 내어, 가능한 한 땜납재를 회수했다. 백킹 플레이트로부터 분리 후, 타깃재를 300mm×200mm×15mm 정도가 되도록 절단했다.Further, the solder material attached to the bonded surfaces of the separated target materials was scraped with a spatula made of silicon, and the solder material was recovered as much as possible. After separating from the backing plate, the target material was cut to a size of about 300 mm x 200 mm x 15 mm.

노즐 직경: 0.25mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0825), 0.30mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0830)의 노즐을 각각 3개씩(계 6개, 노즐 헤드의 외측 3개소에 0.30mm 노즐, 내측 3개소에 0.25mm 노즐을 배치) 장착한 진원형의 노즐 헤드((주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506CH)를 이용하여, 타깃재의 접합면 및 스퍼터링면에 물을 분사하여 전체 면을 세정했다(수압: 245MPa, 수량: 11.6L/min, 타깃재와 노즐 헤드와의 사이의 거리: 55mm, 주사: 2회, 오버랩: 5mm, 노즐 헤드의 회전 속도: 1500min-1, 노즐 헤드의 이동 속도: 3000mm/min). 이 때, 노즐 헤드의 중심축과 사용이 끝난 타깃재의 접합면이 연직이 되도록 노즐 헤드 및 사용이 끝난 타깃재를 배치하고, 노즐 헤드를 사용이 끝난 타깃재의 긴변 방향으로 주사했다(노즐 헤드의 물이 분사되는 측의 면은 아래로 볼록한 산 모양 구조로 되어 있기 때문에, 노즐은 접합면에 대하여 경사 방향을 향하고 있으며, 물은 접합면에 비스듬하게 맞는다). 세정 후의 타깃재 표면으로부터 접합재 및 메탈라이즈층이 제거되어, 이지 형상으로 되어 있었다. 이지 형상으로 된 접합면의 파장 300nm~1500nm 전역에 있어서의 정반사율을 자외 가시 근적외 분광 광도계((주)히타치하이테크놀러지즈제, U- 4100형(型))로 측정했다. 5° 정반사 부속 장치를 이용하여, 시료에 대하여 입사각 5°의 입사광을 조사하고, 반사각 5°로 반사된 반사광의 입사광에 대한 반사율을 입사광의 파장 100nm 단위로 구했다. 최대는 입사광의 파장이 1300nm일 때에 0.4%이며, 파장 500nm일 때에는 0.3%이고, 1000nm일 때에는 0.2%였다. 또한, 처리 전의 접합재가 부착된 접합면의 파장 300nm~1500nm 전역에 있어서의 정반사율은, 최대는 입사광의 파장이 1300nm일 때에 2~3% 정도이며, 파장 500nm일 때에는 1~2%, 1000nm일 때에는 1~2%였다. 또한, 산술 평균 거칠기(Ra)를 접촉식 표면 조도계((주)미츠토요제, 서프 테스트 SJ-301)를 이용하여, JIS B 0601(2001)에 규정의 방법으로, 이지 형상으로 된 접합면을 3점 측정한 바, Ra의 평균값은 19㎛였다. 또한, 처리 전의 접합재가 부착된 접합면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 평균으로 1.7㎛였다.Three nozzles of a nozzle diameter of 0.25 mm (manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0825) and 0.30 mm (model number: DN-0830 manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., , A neodymium nozzle head (model number: MNH-2506CH, manufactured by Sugino Machine Co., Ltd.) equipped with a nozzle head of 0.30 mm on the outside of the nozzle head and a 0.25 mm nozzle on the inside side of the nozzle head) Water was sprayed onto the bonded surface and the sputtering surface of the ashes to clean the entire surface (water pressure: 245 MPa, quantity: 11.6 L / min, distance between the target material and the nozzle head: 55 mm, injection: twice, overlap: Rotation speed of the nozzle head: 1500 min -1 , moving speed of the nozzle head: 3000 mm / min). At this time, the nozzle head and the used target material were arranged so that the center axis of the nozzle head and the used surface of the used target material were vertical, and the nozzle head was scanned in the direction of the long side of the used target material The nozzle faces the oblique direction with respect to the abutment surface, and the water abuts the abutment surface obliquely). The bonding material and the metallized layer were removed from the surface of the target material after the cleaning, and it was formed into an easy shape. The retroreflectivity at the wavelength of 300-1,500 nm of the joint surface in the form of an ejaculate was measured with an ultraviolet visible near infrared spectrophotometer (Hitachi High Technologies, U-4100 type). The specimen was irradiated with incident light at an incident angle of 5 ° using a 5 ° specular reflection attachment and the reflectance of the reflected light reflected at a reflection angle of 5 ° with respect to the incident light was obtained in terms of the wavelength of the incident light in 100 nm units. The maximum was 0.4% when the wavelength of the incident light was 1300 nm, 0.3% when the wavelength was 500 nm, and 0.2% when the wavelength was 1000 nm. When the wavelength of the incident light is 1300 nm, the maximum reflectance is about 2 to 3%. When the wavelength is 500 nm, the reflectance is 1 to 2% and the wavelength is 1000 nm It was 1 to 2%. In addition, the arithmetic mean roughness (Ra) was measured using a contact surface roughness meter (Surf Test SJ-301 manufactured by Mitsutoyo Co., Ltd.) in accordance with JIS B 0601 (2001) Three points were measured, and the average value of Ra was 19 占 퐉. In addition, the arithmetic mean roughness (Ra) of the bonding surfaces to which the bonding material was bonded before treatment was 1.7 mu m on average.

시마즈제작소제의 EDXRF 분석 장치(EDX-700L, 검출 한계: In에서 약 0.01중량%)를 이용하여, 하기 조건에서 세정 후의 사용이 끝난 타깃재의 접합면을 분석(반정량 분석)했다. 그 결과, 세정 후의 사용이 끝난 타깃재의 접합면에는, 땜납재에 유래하는 Sn, Zn, In이나, 백킹 플레이트에 유래하는 Cu는, 어느 것도 전혀 검출할 수 없었다. 그 때, 접합재나 백킹 플레이트의 성분의 원소에 대해, X선 피크의 검출 유무에 대해서도 확인했다.Using the EDXRF analyzer (EDX-700L, detection limit: about 0.01 wt% in In) manufactured by Shimadzu Corporation, the bonded surfaces of the used target after cleaning under the following conditions were analyzed (semi-quantitative analysis). As a result, Sn, Zn, In derived from the brazing material, and Cu derived from the backing plate could not be detected at all at the joint surface of the used target after cleaning. At that time, the presence or absence of detection of the X-ray peak was also confirmed with respect to the elements of the components of the bonding material and the backing plate.

또한, 세정 전의 사용이 끝난 타깃재의 접합면을 상기와 마찬가지로 EDXRF로 분석하면, 땜납재에 유래하는 Sn, Zn, In은, 각각 10중량% 이하, 10중량% 이하, 1중량%~70중량%로 존재하고, 백킹 플레이트에 유래하는 Cu는 1중량%~50중량%의 양으로 존재하며, 본 발명의 세정 방법에 의해, 세정 후의 사용이 끝난 타깃재는, 땜납재 및 백킹 플레이트에 유래하는 불순물에 포함되는 원소를 실질적으로 포함하지 않는 것을 알 수 있었다.When the bonded surfaces of the used target materials before cleaning are analyzed by EDXRF as described above, Sn, Zn, and In derived from the brazing material are 10 wt% or less, 10 wt% or less, 1 wt% And Cu derived from the backing plate is present in an amount of 1 wt% to 50 wt%. By using the cleaning method of the present invention, after the used target material after cleaning, impurities derived from the solder material and the backing plate It was found that it does not substantially contain the contained elements.

<분석 조건><Analysis condition>

X선 조사 직경: 10mmφX-ray irradiation diameter: 10 mm?

여기 전압: 10kV(Na~Sc), 50kV(Ti~U)Excitation voltage: 10 kV (Na ~ Sc), 50 kV (Ti ~ U)

전류: 100 ㎂Current: 100 ㎂

측정 시간: 200초(각 여기 전압에 있어서 100초 측정)Measurement time: 200 sec (100 sec measurement at each excitation voltage)

분위기: HeAtmosphere: He

관구(管球): Rh 타깃Duct: Rh target

필터: 없음Filter: None

측정 방법: 펀드멘탈 파라미터법Measurement method: Fundamental parameter method

검출기: Si(Li) 반도체 검출기Detector: Si (Li) semiconductor detector

세정 후의 사용이 끝난 타깃재를 진공 상태(약 0.03Torr), 850℃에 있어서 용해하고, 대기중에서 교반하여 드로스를 제거한 후, 대기중에서 냉각함으로써, 리사이클 주괴를 제조했다.The used target material after washing was dissolved in a vacuum state (about 0.03 Torr) at 850 캜, stirred in the air to remove dross, and then cooled in the atmosphere to produce recycled ingots.

리사이클 주괴에 포함되는 불순물의 양을, GDMS(VG Elemental사제, VG9000)를 이용하여, Sn, Zn, In, Cu에 대한 미량 분석을 행했다. 사용이 끝난 타깃재(세정 전)로부터 동일한 방법으로 제작한 주괴와 미사용의 타깃재(접합전)의 분석 결과와 함께 결과를 이하의 표 1에 나타낸다.The amount of impurities contained in the recycled ingot was analyzed using a GDMS (VG Elemental, VG9000) for trace amounts of Sn, Zn, In and Cu. The results of the analysis of the ingot produced by the same method from the used target material (before washing) and the unused target material (before bonding) are shown in Table 1 below.

Figure pat00001
Figure pat00001

실시예 2Example 2

사용이 끝난 스퍼터링 타깃의 접합층을 가열(280℃)함으로써, 타깃재를 백킹 플레이트로부터 분리했다.The target material was separated from the backing plate by heating (280 DEG C) the bonding layer of the used sputtering target.

또한, 당해 스퍼터링 타깃은, 사용 전의 상태에서, 무산소 구리제의 평판형 타깃재(순도: 99.99%, 비커스 경도: 90, 치수: 2000mm×200mm×15mm)와, 무산소 구리제의 백킹 플레이트(순도: 99.99%, 치수: 2300mm×250mm×15mm)를 In의 땜납재(땜납층의 두께: 350㎛)로 접합(타깃재의 메탈라이즈에는 Sn-Zn-In의 땜납재를 사용)하여 이루어진다.The sputtering target was a plate-like target material (purity: 99.99%, Vickers hardness: 90, dimension: 2000 mm x 200 mm x 15 mm) made of oxygen-oxygen copper and a backing plate made of oxygen- (Solder material of Sn-Zn-In is used for metallization of the target material) with a solder material (thickness of solder layer: 350 mu m) of In.

또한, 분리한 타깃재의 접합면에 부착되어 있는 땜납재를 실리콘제의 스패튤라로 긁어 내어, 가능한 한 땜납재를 회수했다. 백킹 플레이트로부터 분리 후, 타깃재를 300mm×200mm×15mm 정도가 되도록 절단했다.Further, the solder material attached to the bonded surfaces of the separated target materials was scraped with a spatula made of silicon, and the solder material was recovered as much as possible. After separating from the backing plate, the target material was cut to a size of about 300 mm x 200 mm x 15 mm.

노즐 직경: 0.30mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0830)의 노즐을 6개 장착한 진원형의 노즐 헤드((주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506CH)를 이용하여, 타깃재의 접합면에 물을 분사하여 전체 면을 세정했다(수압: 245MPa, 수량: 13.7L/min, 타깃재와 노즐 헤드와의 사이의 거리: 25mm, 주사: 3회, 오버랩: 5mm, 노즐 헤드의 회전 속도: 1500min-1, 노즐 헤드의 이동 속도: 100mm/min). 이 때, 노즐 헤드의 중심축과 접합면이 연직이 되도록 노즐 헤드 및 사용이 끝난 타깃재를 배치하고, 노즐 헤드를 사용이 끝난 타깃재의 긴변 방향으로 주사했다(노즐 헤드의 물이 분사되는 측의 면은 아래로 볼록한 산 모양 구조로 되어 있기 때문에, 노즐은 접합면에 대하여 경사 방향을 향하고 있으며, 물은 접합면에 비스듬하게 맞는다). 세정 후의 타깃재 표면으로부터 접합재 및 메탈라이즈층이 제거되어, 이지 형상으로 되어 있었다. 이지 형상이 된 접합면의 파장 300nm~1500nm 전역에 있어서의 정반사율을 실시예 1과 동일한 조건으로 측정한 바, 최대는 입사광의 파장이 1300nm일 때에 0.5%이며, 파장 500nm일 때에는 0.1%이고, 1000nm일 때에는 0.3%였다. 또한, 처리 전의 접합체가 부착된 접합면의 파장 300nm~1500nm 전역에 있어서의 정반사율은, 입사광의 파장이 1300nm일 때에 최대가 되어, 2~3% 정도, 파장 500nm일 때에는, 1~2%, 파장 1000nm일 때에는, 1~2%였다. 또한, 산술 평균 거칠기(Ra)를 실시예 1과 동일하게 측정한 바, Ra의 평균값은 17㎛였다. 또한, 처리 전의 접합체가 부착된 접합면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 평균으로 2.1㎛였다.A circular circular nozzle head (model number: MNH-2506CH manufactured by Sugino Machine Co., Ltd.) equipped with six nozzles of a nozzle diameter of 0.30 mm (manufactured by Sugino Machine Co., model number: DN-0830) (Water pressure: 245 MPa, water: 13.7 L / min, distance between the target material and the nozzle head: 25 mm, injection: 3 times, overlap: 5 mm The rotation speed of the nozzle head is 1500 min -1 , and the moving speed of the nozzle head is 100 mm / min). At this time, the nozzle head and the used target material were arranged so that the central axis of the nozzle head and the joining surface were vertical, and the nozzle head was scanned in the direction of the long side of the used target material Since the surface has a convex mountain-like structure in the downward direction, the nozzle faces the oblique direction with respect to the abutting surface, and the water is obliquely fitted to the abutting surface. The bonding material and the metallized layer were removed from the surface of the target material after the cleaning, and it was formed into an easy shape. When the wavelength of the incident light was 0.5% at a wavelength of 1300 nm and 0.1% at a wavelength of 500 nm, the maximum reflectance at a wavelength of 300 nm to 1500 nm was measured under the same conditions as in Example 1, When it was 1000 nm, it was 0.3%. When the wavelength of the incident light is 1300 nm, the maximum reflectance is about 2 to 3%, and when the wavelength is 500 nm, the reflectance of the bonded surface having the bonded body before treatment is 1 to 2% And when the wavelength was 1000 nm, it was 1 to 2%. The arithmetic mean roughness (Ra) was measured in the same manner as in Example 1, and the average value of Ra was 17 占 퐉. In addition, the arithmetic mean roughness (Ra) of the bonding surfaces to which the bonded bodies were bonded before treatment was 2.1 mu m on average.

시마즈제작소제의 EDXRF 분석 장치(EDX-700L)를 이용하여, 실시예 1과 동일한 조건으로 세정 후의 사용이 끝난 타깃재의 접합면을 분석했다. 그 결과, 세정 후의 사용이 끝난 타깃재의 접합면에는, 땜납재에 유래하는 Sn, Zn, In은, 어느 것도 전혀 검출할 수 없었다.Using the EDXRF analyzer (EDX-700L) manufactured by Shimadzu Corporation, the bonded surfaces of the used target after cleaning were analyzed under the same conditions as in Example 1. [ As a result, no Sn, Zn, or In derived from the solder material could be detected on the joint surface of the used target after cleaning.

세정 전의 사용이 끝난 타깃재의 접합면을 상기와 마찬가지로 EDXRF로 분석하면, 땜납재에 유래하는 Sn, Zn, In은, 각각 1중량%~20중량%, 1중량%~20중량%, 2중량%~60중량%의 양으로 존재하고 있었다.When the bonded surfaces of the used target materials before cleaning are analyzed by EDXRF as described above, Sn, Zn, and In derived from the brazing material are respectively 1 wt% to 20 wt%, 1 wt% to 20 wt%, and 2 wt% By weight to 60% by weight.

세정 후의 사용이 끝난 타깃재를 진공 상태(약 0.03Torr), 1200℃에 있어서 용해하고, 대기중에서 교반하여 드로스를 제거한 후, 대기중에서 냉각함으로써, 리사이클 주괴를 제조했다.The used target after cleaning was dissolved in a vacuum state (about 0.03 Torr) at 1200 占 폚, stirred in air to remove dross, and then cooled in the atmosphere to produce recycled ingots.

리사이클 주괴에 포함되는 불순물의 양을, GDMS(VG Elemental사제, VG9000)를 이용하여, Sn, Zn, In에 대한 미량 분석을 행했다. 미사용의 타깃재(접합 전)로부터 동일한 방법으로 제작한 주괴의 분석 결과와 함께 결과를 표 2에 나타낸다.The amount of impurities contained in the recycled ingot was analyzed using a GDMS (VG Elemental, VG9000) for trace amounts of Sn, Zn and In. Table 2 shows the results of the analysis of the ingot produced from the unused target material (before joining) by the same method.

Figure pat00002
Figure pat00002

표 2에 나타내는 결과로부터, 세정 후의 사용이 끝난 타깃재를 이용하여 제조한 리사이클 주괴 중에 포함되는 불순물(땜납재에 유래하는 In, Sn, Zn)의 양은, 미사용의 타깃재(접합전)와 비교해 약간의 증가는 알 수 있지만, 그 증가량의 합계가 1.4ppm(중량 기준) 정도였다.From the results shown in Table 2, it can be seen that the amount of impurities (In, Sn, and Zn derived from the solder material) contained in the recycled ingot produced by using the used target material after cleaning is smaller than that of the unused target material A slight increase is known, but the sum of the increase is about 1.4 ppm (by weight).

실시예 3Example 3

사용이 끝난 스퍼터링 타깃의 접합층을 가열(280℃)함으로써, 타깃재를 백킹 플레이트로부터 분리했다.The target material was separated from the backing plate by heating (280 DEG C) the bonding layer of the used sputtering target.

또한, 당해 스퍼터링 타깃은, 사용 전의 상태에서, 알루미늄제의 평판형 타깃재(순도: 99.999%, 비커스 경도: 15~17, 치수: 2000mm×200mm×15mm)와, 무산소 구리제의 백킹 플레이트(순도: 99.99%, 치수: 2300mm×250mm×15mm)를 하기의 땜납재(땜납층의 두께: 350㎛)로 접합하여 이루어진다.The sputtering target was prepared in the same manner as in Example 1 except that a flat plate type target material (purity: 99.999%, Vickers hardness: 15-17, dimensions: 2000 mm x 200 mm x 15 mm) made of aluminum and a backing plate made of oxygen- : 99.99%, dimension: 2300 mm x 250 mm x 15 mm) with the following brazing material (solder layer thickness: 350 m).

또한, 분리한 타깃재의 접합면에 부착되어 있는 땜납재를 실리콘제의 스패튤라로 긁어 내어, 가능한 한 땜납재를 회수했다. 백킹 플레이트로부터 분리 후, 타깃재를 300mm×200mm×15mm 정도가 되도록 절단했다.Further, the solder material attached to the bonded surfaces of the separated target materials was scraped with a spatula made of silicon, and the solder material was recovered as much as possible. After separating from the backing plate, the target material was cut to a size of about 300 mm x 200 mm x 15 mm.

이하의 조건 1~10으로 타깃재의 접합면을 세정했다. 어느 조건에서도, 세정 후의 타깃재 표면으로부터 접합재 및 메탈라이즈층이 제거되어, 이지 형상으로 되어 있었다. 세정 후의 타깃재에 대해, 시마즈제작소제의 EDXRF 분석 장치(EDX-700L, 검출 한계: In에서 약 0.01중량%)를 이용하여, 실시예 1과 동일한 조건으로 세정 후의 사용이 끝난 타깃재의 접합면을 분석했다. 그 결과, 세정 후의 사용이 끝난 타깃재의 접합면에는, 땜납재에 유래하는 In, Sn, Zn이나 백킹 플레이트에 유래하는 Cu는, 어느 것도 전혀 검출할 수 없었다. 특히 이하의 조건 1~8에서 얻어진 세정 후의 사용이 끝난 타깃재에 대해, 진공 상태(예를 들면, 0.03Torr), 850℃에 있어서, 타깃재를 용해하고, 대기중에서 교반하여 드로스를 제거한 후, 대기중에서 냉각함으로써, 리사이클 주괴를 제조했다.The bonded surfaces of the target materials were cleaned under the following conditions 1 to 10. Under both conditions, the bonding material and the metallized layer were removed from the surface of the target material after cleaning, and the result was an easy-to-shape. Using the EDXRF analyzer (EDX-700L, detection limit: about 0.01 wt% in In) manufactured by Shimadzu Corporation, the target material after washing was subjected to the same conditions as in Example 1 to measure the contact surface of the used target after cleaning I analyzed it. As a result, none of In, Sn, Zn derived from the brazing material, and Cu derived from the backing plate could be detected on the joint surface of the used target after cleaning. Particularly, the target material after being cleaned obtained under the following conditions 1 to 8 is dissolved in a vacuum state (for example, 0.03 Torr) at 850 ° C and stirred in the atmosphere to remove the dross , And then cooled in the atmosphere to produce a recycled ingot.

미사용의 타깃재(접합 전), 당해 리사이클 주괴 및 사용이 끝난 타깃재(세정 전)로부터 동일한 방법으로 제작한 주괴에 포함되는 불순물의 양을, 각각 GDMS(VG Elemental사제, VG9000)를 이용하여 측정했다. 결과를 이하의 표 3, 4에 나타낸다.The amount of impurities contained in the ingot produced from the unused target material (before joining), the recycled ingot, and the used target material (before washing) in the same manner was measured using GDMS (VG Elemental Co., VG9000) did. The results are shown in Tables 3 and 4 below.

조건 1Condition 1

접합용의 땜납재: InSolder material for bonding: In

메탈라이즈용의 땜납재: Sn-Zn-InMetallization Solder material: Sn-Zn-In

수압: 200MPaWater pressure: 200MPa

수량: 8.5L/minQuantity: 8.5L / min

노즐수: 6개(노즐 헤드는, (주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506CH를 사용)Number of nozzles: 6 (nozzle head is manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., type number: MNH-2506CH)

노즐 직경: 0.25mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0825)Nozzle diameter: 0.25 mm (manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0825)

노즐 거리: 25mmNozzle distance: 25mm

회전 속도: 1500min-1 Rotation speed: 1500 min -1

이동 속도: 1000mm/minMoving speed: 1000mm / min

라인 처리: 1회Line processing: 1 time

오버랩: 5mmOverlap: 5mm

세정 처리: 접합면Cleaning process:

조건 2Condition 2

접합용의 땜납재: InSolder material for bonding: In

메탈라이즈용의 땜납재: Sn-Zn-InMetallization Solder material: Sn-Zn-In

수압: 200MPaWater pressure: 200MPa

수량: 8.5L/minQuantity: 8.5L / min

노즐수: 6개(노즐 헤드는, (주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506CH를 사용)Number of nozzles: 6 (nozzle head is manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., type number: MNH-2506CH)

노즐 직경: 0.25mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0825)Nozzle diameter: 0.25 mm (manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0825)

노즐 거리: 25mmNozzle distance: 25mm

회전 속도: 1500min-1 Rotation speed: 1500 min -1

이동 속도: 1000mm/minMoving speed: 1000mm / min

라인 처리: 1회Line processing: 1 time

오버랩: 22mmOverlap: 22mm

세정 처리: 접합면 및 스퍼터링면Cleaning process: bonding surface and sputtering surface

조건 3Condition 3

접합용의 땜납재: InSolder material for bonding: In

메탈라이즈용의 땜납재: Sn-Zn-InMetallization Solder material: Sn-Zn-In

수압: 200MPaWater pressure: 200MPa

수량: 8.5L/minQuantity: 8.5L / min

노즐수: 6개 노즐 헤드는, (주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506CH를 사용)Number of nozzles: 6 nozzle heads, manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., type number: MNH-2506CH)

노즐 직경: 0.30mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0830)Nozzle diameter: 0.30 mm (manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0830)

노즐 거리: 25mmNozzle distance: 25mm

회전 속도: 1500min-1 Rotation speed: 1500 min -1

이동 속도: 1000mm/minMoving speed: 1000mm / min

라인 처리: 1회Line processing: 1 time

오버랩: 22mmOverlap: 22mm

세정 처리: 접합면 및 스퍼터링면Cleaning process: bonding surface and sputtering surface

조건 4Condition 4

접합용의 땜납재: InSolder material for bonding: In

메탈라이즈용의 땜납재: Sn-Zn-InMetallization Solder material: Sn-Zn-In

수압: 200MPaWater pressure: 200MPa

수량: 8.5L/minQuantity: 8.5L / min

노즐수: 6개(노즐 헤드는, (주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506CH를 사용)Number of nozzles: 6 (nozzle head is manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., type number: MNH-2506CH)

노즐 직경: 0.25mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0825)Nozzle diameter: 0.25 mm (manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0825)

노즐 거리: 25mmNozzle distance: 25mm

회전 속도: 1500min-1 Rotation speed: 1500 min -1

이동 속도: 2000mm/minMoving speed: 2000 mm / min

라인 처리: 2회Line processing: 2 times

오버랩: 22mmOverlap: 22mm

세정 처리: 접합면 및 스퍼터링면Cleaning process: bonding surface and sputtering surface

조건 5Condition 5

접합용의 땜납재: InSolder material for bonding: In

메탈라이즈용의 땜납재: Sn-Zn-InMetallization Solder material: Sn-Zn-In

수압: 200MPaWater pressure: 200MPa

수량: 8.5L/minQuantity: 8.5L / min

노즐수: 6개(노즐 헤드는, (주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506CH를 사용)Number of nozzles: 6 (nozzle head is manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., type number: MNH-2506CH)

노즐 직경: 0.25mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0825)Nozzle diameter: 0.25 mm (manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0825)

노즐 거리: 25mmNozzle distance: 25mm

회전 속도: 1500min-1 Rotation speed: 1500 min -1

이동 속도: 2000mm/minMoving speed: 2000 mm / min

라인 처리: 2회Line processing: 2 times

오버랩: 5mmOverlap: 5mm

세정 처리: 접합면 및 스퍼터링면Cleaning process: bonding surface and sputtering surface

조건 6Condition 6

접합용의 땜납재: Sn-ZnSolder material for bonding: Sn-Zn

메탈라이즈용의 땜납재: Sn-Zn-InMetallization Solder material: Sn-Zn-In

수압: 200MPaWater pressure: 200MPa

수량: 8.5L/minQuantity: 8.5L / min

노즐수: 6개(노즐 헤드는, (주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506CH를 사용)Number of nozzles: 6 (nozzle head is manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., type number: MNH-2506CH)

노즐 직경: 0.25mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0825)Nozzle diameter: 0.25 mm (manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0825)

노즐 거리: 25mmNozzle distance: 25mm

회전 속도: 1500min-1 Rotation speed: 1500 min -1

이동 속도: 1000mm/minMoving speed: 1000mm / min

라인 처리: 2회Line processing: 2 times

오버랩: 5mmOverlap: 5mm

세정 처리: 접합면 및 스퍼터링면Cleaning process: bonding surface and sputtering surface

조건 7Condition 7

접합용의 땜납재: InSolder material for bonding: In

메탈라이즈용의 땜납재: Sn-Zn-InMetallization Solder material: Sn-Zn-In

수압: 245MPaWater pressure: 245MPa

수량: 11.6L/minQuantity: 11.6L / min

노즐수: 6개(노즐 헤드는, (주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506CH를 사용)Number of nozzles: 6 (nozzle head is manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., type number: MNH-2506CH)

노즐 직경: 0.25mm, 0.30mm(각각 노즐 3개씩, (주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0825, DN-0830, 노즐 헤드의 외측 3개소에 0.30mm 노즐, 내측 3개소에 0.25mm 노즐을 배치)Nozzle diameter: 0.25 mm, 0.30 mm (each of three nozzles manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0825, DN-0830, 0.30 mm nozzle at three outer sides of the nozzle head, 0.25 mm at three inner sides Nozzle)

노즐 거리: 55mmNozzle distance: 55mm

회전 속도: 1500min-1 Rotation speed: 1500 min -1

이동 속도: 4000mm/minMoving speed: 4000mm / min

라인 처리: 2회Line processing: 2 times

오버랩: 5mmOverlap: 5mm

세정 처리: 접합면 및 스퍼터링면Cleaning process: bonding surface and sputtering surface

조건 8Condition 8

접합용의 땜납재: Sn-ZnSolder material for bonding: Sn-Zn

메탈라이즈용의 땜납재: Sn-Zn-InMetallization Solder material: Sn-Zn-In

수압: 245MPaWater pressure: 245MPa

수량: 11.6L/minQuantity: 11.6L / min

노즐수: 6개(노즐 헤드는, (주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506CH를 사용)Number of nozzles: 6 (nozzle head is manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., type number: MNH-2506CH)

노즐 직경: 0.25mm, 0.30mm(각각 노즐 3개씩, (주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0825, DN-0830, 노즐 헤드의 외측 3개소에 0.30mm 노즐, 내측 3개소에 0.25mm 노즐을 배치)Nozzle diameter: 0.25 mm, 0.30 mm (each of three nozzles manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0825, DN-0830, 0.30 mm nozzle at three outer sides of the nozzle head, 0.25 mm at three inner sides Nozzle)

노즐 거리: 55mmNozzle distance: 55mm

회전 속도: 1500min-1 Rotation speed: 1500 min -1

이동 속도: 3000mm/minMoving speed: 3000mm / min

라인 처리: 2회Line processing: 2 times

오버랩: 5mmOverlap: 5mm

세정 처리: 접합면 및 스퍼터링면Cleaning process: bonding surface and sputtering surface

조건 9Condition 9

접합용의 땜납재: InSolder material for bonding: In

메탈라이즈용의 땜납재: Sn-Zn-InMetallization Solder material: Sn-Zn-In

수압: 150MPaWater pressure: 150MPa

수량: 7.3L/minQuantity: 7.3L / min

노즐수: 3개(노즐 헤드는, (주)스기노머신제, 피치원 직경(P.C.D.) 20mm의 위치에 배치, 물은 연직 방향으로 분사됨)Number of nozzles: 3 (Nozzle head is placed on a machine made by Sugino Machine Co., Ltd., pitch circle diameter (P.C.D.) 20 mm, water is sprayed in the vertical direction)

노즐 직경: 0.35mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0835)Nozzle diameter: 0.35 mm (manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0835)

노즐 거리: 25mmNozzle distance: 25mm

회전 속도: 1000min-1 Rotation speed: 1000 min -1

이동 속도: 1000mm/minMoving speed: 1000mm / min

라인 처리: 1회Line processing: 1 time

오버랩: 5mmOverlap: 5mm

세정 처리: 접합면Cleaning process:

조건 10Condition 10

접합용의 땜납재: InSolder material for bonding: In

메탈라이즈용의 땜납재: Sn-Zn-InMetallization Solder material: Sn-Zn-In

수압: 245MPaWater pressure: 245MPa

수량: 3.4L/minQuantity: 3.4L / min

노즐수: 6개(노즐 헤드는, (주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506CH를 사용)Number of nozzles: 6 (nozzle head is manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., type number: MNH-2506CH)

노즐 직경: 0.15mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0815)Nozzle diameter: 0.15 mm (manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0815)

노즐 거리: 25mmNozzle distance: 25mm

회전 속도: 1500min-1 Rotation speed: 1500 min -1

이동 속도: 1000mm/minMoving speed: 1000mm / min

라인 처리: 1회Line processing: 1 time

오버랩: 5mmOverlap: 5mm

세정 처리: 접합면Cleaning process:

Figure pat00003
Figure pat00003

Figure pat00004
Figure pat00004

비교예 1Comparative Example 1

실시예 1과 동일한 사용이 끝난 평판형 타깃재를 100mm×200mm×15mm 정도가 되도록 절단하고, 실온에서 4.4wt%의 질산 수용액 중에 20시간 침지하여, 화학적 처리에 의한 땜납재의 제거를 행했다. 접합면의 파장 300nm~1500nm 전역에 있어서의 정반사율을 실시예 1과 동일한 처리로 측정한 바, 입사광의 파장이 1300nm일 때에 최대가 되어, 13%, 파장 500nm일 때에는, 6.0%, 파장 1000nm일 때에는, 8.0%였다. 또한, 산술 평균 거칠기(Ra)를 실시예 1과 동일하게 측정한 바, Ra의 평균값은 1.1㎛였다. 또한, 처리 전의 접합체가 부착된 접합면의 파장 300nm~1500nm 전역에 있어서의 정반사율은, 입사광의 파장이 1300nm일 때에 최대가 되어, 2~3% 정도, 파장 500nm일 때에는, 1~2%, 파장 1000nm일 때에는, 1~2%이며, 처리 전의 접합면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 평균으로 1.7㎛였다. 시마즈제작소제의 EDXRF 분석 장치(EDX-700L, 검출 한계: In에서 약 0.01중량%)를 이용하여, 실시예 1과 동일한 조건으로 화학적 처리 후의 사용이 끝난 타깃재의 접합면을 분석했다. 그 결과, 화학적 처리 후의 사용이 끝난 타깃재의 접합면에는, 백킹 플레이트에 유래하는 Cu가 0.6wt% 검출되어, 불순물이 제거되어 있지 않은 것이 판명되었다.The used flat plate type target material as in Example 1 was cut to a size of about 100 mm x 200 mm x 15 mm and immersed in a nitric acid aqueous solution of 4.4 wt% at room temperature for 20 hours to remove the solder material by chemical treatment. When the wavelength of the incident light was 1300 nm, the maximum reflectance was 13%. When the wavelength was 500 nm, the reflectance was 6.0% and the wavelength was 1000 nm. , It was 8.0%. Further, the arithmetic average roughness (Ra) was measured in the same manner as in Example 1, and the average value of Ra was 1.1 탆. When the wavelength of the incident light is 1300 nm, the maximum reflectance is about 2 to 3%, and when the wavelength is 500 nm, the reflectance is 1 to 2% at a wavelength of incident light of 300 to 1500 nm, And when the wavelength was 1000 nm, it was 1 to 2%, and the arithmetic mean roughness (Ra) of the bonding surfaces before the treatment was 1.7 탆 on average. Using the EDXRF analyzer (EDX-700L, detection limit: about 0.01 wt% in In) manufactured by Shimadzu Corporation, the bonded surfaces of the used targets after the chemical treatment were analyzed under the same conditions as in Example 1. As a result, it was found that Cu derived from the backing plate was detected at 0.6 wt% on the joint surface of the used target material after the chemical treatment, and the impurities were not removed.

또한, 화학적 처리 후의 사용이 끝난 타깃재를 진공 상태(약 0.03Torr), 850℃에 있어서 용해하고, 대기중에서 교반하여 드로스를 제거한 후, 대기중에서 냉각함으로써, 리사이클 주괴를 제조했다.Further, after the chemical treatment, the used target material was dissolved in a vacuum state (about 0.03 Torr) at 850 캜, stirred in the air to remove dross, and then cooled in the air to produce recycled ingots.

미사용의 타깃재(접합 전), 비교예 1의 리사이클 주괴, 사용이 끝난 타깃재(화학적 처리 전)를 용해하여 제조한 주괴에 포함되는 불순물의 양을, 각각 GDMS(VG Elemental사제, VG9000)를 이용하여 측정했다. 결과를 이하의 표 5에 나타낸다.The amount of the impurities contained in the ingot produced by dissolving the unused target material (before joining), the recycled ingot of Comparative Example 1, and the used target material (before chemical treatment) was measured by GDMS (VG 9000 manufactured by VG Elemental Co., Ltd.) . The results are shown in Table 5 below.

Figure pat00005
Figure pat00005

산에 의한 처리만을 행한 비교예 1에서는, 20시간에 걸쳐 처리했음에도 불구하고, 리사이클 주괴 중에 포함되는 접합재 및 백킹 플레이트에 유래하는 불순물(즉, In, Sn, Zn, Cu)의 합계량은 중량 기준으로 약 19ppm으로, 원래의 타깃재와 실질적으로 동일한 조성을 가지는 리사이클 주괴를 얻을 수는 없었다.The total amount of the impurities (i.e., In, Sn, Zn, Cu) derived from the bonding material contained in the recycled ingot and the backing plate, on the basis of weight, A recycled ingot having substantially the same composition as that of the original target material could not be obtained at about 19 ppm.

실시예 4Example 4

사용이 끝난 스퍼터링 타깃의 접합층을 가열(280℃)함으로써, 타깃재를 백킹 플레이트로부터 분리했다.The target material was separated from the backing plate by heating (280 DEG C) the bonding layer of the used sputtering target.

또한, 당해 스퍼터링 타깃은, 알루미늄제의 평판형 타깃재(순도: 99.999%, 비커스 경도: 14~17, 치수: 2000mm×200mm×15mm)와, 무산소 구리제의 백킹 플레이트(순도: 99.99%, 치수: 2300mm×250mm×15mm)를 하기의 땜납재(땜납층의 두께: 350㎛)로 접합하여 이루어진다.The sputtering target was made of an aluminum plate-shaped target material (purity: 99.999%, Vickers hardness: 14 to 17, dimensions: 2000 mm x 200 mm x 15 mm) and a backing plate made of oxygen- : 2300 mm x 250 mm x 15 mm) with the following brazing material (solder layer thickness: 350 m).

또한, 분리한 타깃재의 접합면에 부착되어 있는 땜납재를 실리콘제의 스패튤라로 긁어 내어, 가능한 한 땜납재를 회수했다. 백킹 플레이트로부터 타깃재를 분리한 후, 타깃재를 300mm×200mm×15mm 정도가 되도록 절단했다.Further, the solder material attached to the bonded surfaces of the separated target materials was scraped with a spatula made of silicon, and the solder material was recovered as much as possible. After the target material was separated from the backing plate, the target material was cut to a size of about 300 mm x 200 mm x 15 mm.

이하의 조건 11에서 55매의 타깃재의 접합면, 스퍼터링면 및 측면을 세정했다. 어느 것에 있어서도, 세정 후의 타깃재 표면으로부터 접합재 및 메탈라이즈층이 제거되고, 이지 형상으로 되어 있었다. 세정한 55매 중 10매를 무작위로 선출하여, 이지 형상이 된 접합면의 파장 300nm~1500nm 전역에 있어서의 정반사율을 실시예 1과 동일한 조건으로 측정했다. 어느 타깃재에서도, 정반사율은, 최대로 0.4% 정도이며, 파장 500nm일 때에는 평균 0.2% 정도, 1000nm일 때에는 평균 0.2% 정도였다. 무작위로 선출한 10매의 산술 평균 거칠기(Ra)를 실시예 1과 동일한 방법으로 측정한 바, Ra의 평균값은 20㎛였다. 또한, 처리 전의 접합체가 부착된 접합면의 파장 300nm~1500nm 전역에 있어서의 정반사율은, 입사광의 파장이 1300nm일 때에 최대가 되어, 2~3% 정도, 파장 500nm일 때에는, 1~2%, 파장 1000nm일 때에는, 1~2%이며, 처리 전의 접합면의 산술 평균 거칠기(Ra)는, 평균으로 1.8㎛였다. 세정 후의 타깃재에 대해 시마즈제작소제의 EDXRF 분석 장치(EDX-700L, 검출 한계: In에서 약 0.01중량%)를 이용하여, 실시예 1과 동일한 조건으로 세정 후의 사용이 끝난 타깃재 55매의 접합면을 분석했다. 그 결과, 세정 후의 사용이 끝난 타깃재의 접합면에는, 땜납재에 유래하는 In, Sn, Zn이나 백킹 플레이트에 유래하는 Cu는, 어느 것도 전혀 검출할 수 없었다. 또한, 55매의 타깃재의 세정 전후의 중량차로부터 수율을 구한 바, 평균하여 98%였다.The joining surface, sputtering surface and side surface of the 55 target materials were cleaned under the following condition 11. In either case, the bonding material and the metallized layer were removed from the surface of the target material after cleaning, and the result was an easy shape. 10 out of 55 cleaned sheets were randomly selected to measure the reflectance of the joint surface in the form of an ejaculate in the entire wavelength range of 300 to 1500 nm under the same conditions as in Example 1. [ In any of the target materials, the specular reflectance was about 0.4% at the maximum, and an average of about 0.2% when the wavelength was 500 nm and an average of 0.2% when the wavelength was 1000 nm. The arithmetic average roughness (Ra) of 10 randomly selected samples was measured in the same manner as in Example 1, and the average value of Ra was 20 占 퐉. When the wavelength of the incident light is 1300 nm, the maximum reflectance is about 2 to 3%, and when the wavelength is 500 nm, the reflectance of the bonded surface having the bonded body before treatment is 1 to 2% And when the wavelength was 1000 nm, it was 1 to 2%, and the arithmetic average roughness (Ra) of the bonding surfaces before the treatment was 1.8 탆 on average. Using the EDXRF analyzer (EDX-700L, detection limit: about 0.01 wt% in In) manufactured by Shimazu Seisakusho, the target material after washing was subjected to the same conditions as in Example 1, Cotton. As a result, none of In, Sn, Zn derived from the brazing material, and Cu derived from the backing plate could be detected on the joint surface of the used target after cleaning. The yield was calculated from the weight difference between the 55 target materials before and after cleaning, and the average yield was 98%.

이어서, 처리한 세정에 끝난 타깃재 중 25매(약 50kg)를 진공중, 800℃에 있어서 용해하고, 드로스를 제거한 후, 대기중에서 카본제의 주형에 용탕(溶湯)을 부어 넣고, 용탕을 대기중에서 냉각함으로써, 리사이클 주괴를 제조했다. 리사이클 주괴에 포함되는 불순물의 양을, GDMS(VG Elemental사제, VG9000(형식 번호))를 이용하여 측정했다. 결과를 표 4에 나타낸다.Subsequently, 25 pieces (about 50 kg) of the treated target cleaned material were dissolved in a vacuum at 800 ° C to remove the dross, and then a molten metal was poured into a mold made of carbon in the atmosphere, And then cooled in the atmosphere to produce a recycled ingot. The amount of the impurities contained in the recycled ingot was measured using GDMS (VG 9000, VG9000 (model number)). The results are shown in Table 4.

조건 11Condition 11

접합용의 땜납재: InSolder material for bonding: In

메탈라이즈용의 땜납재: Sn-Zn-InMetallization Solder material: Sn-Zn-In

수압: 245MPaWater pressure: 245MPa

수량: 18.6L/minQuantity: 18.6L / min

노즐수: 6개(노즐 헤드는, (주)스기노머신제, 형식 번호: MNH-2506-15C를 사용(노즐은, P.C.D. 36mm의 위치에 배치))Number of nozzles: 6 (nozzle head is manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., type number: MNH-2506-15C (nozzles are disposed at a position of P.C.D. 36 mm))

노즐 직경: 0.35mm((주)스기노머신제, 형식 번호: DN-0835)Nozzle diameter: 0.35 mm (manufactured by Sugino Machine Co., Ltd., model number: DN-0835)

노즐 거리: 60mmNozzle distance: 60mm

회전 속도: 2000min-1 Rotation speed: 2000 min -1

이동 속도: 4000mm/minMoving speed: 4000mm / min

라인 처리: 2회Line processing: 2 times

오버랩: 5mmOverlap: 5mm

세정 처리: 접합면, 스퍼터링면 및 측면Cleaning process: bonding surface, sputtering surface and side surface

본 발명에 의하면, 예를 들면 상기 서술의 장치를 이용하여, 사용이 끝난 타깃재를 상기 서술한 바와 같이 세정함으로써, 접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소를 실질적으로 포함하지 않는 사용이 끝난 타깃재를 얻을 수 있다. 또한, 이러한 사용이 끝난 타깃재를 원료로서 주괴를 제조함으로써, 원래의 타깃재와 실질적으로 동일한 조성을 가지는 리사이클 주괴를 얻을 수 있다. 본 발명에 의하면, 이러한 리사이클 주괴로부터, 원래의 타깃재와 실질적으로 동일한 조성을 가지는 타깃재를 재생할 수 있으므로, 타깃재의 리사이클에 유용하다.According to the present invention, for example, by using the apparatus described above, the used target material is cleaned as described above, whereby the used target material substantially not containing the elements derived from the bonding material and the supporting member Can be obtained. By producing the ingot using the used target material as a raw material, a recycled ingot having substantially the same composition as that of the original target material can be obtained. According to the present invention, a target material having substantially the same composition as the original target material can be regenerated from such recycled ingot, which is useful for recycling the target material.

1 타깃재
2 지지 부재
3 접합재(또는 접합층)
4 땜납층
5, 5' 메탈라이즈층
10, 20, 30 스퍼터링 타깃
100 장치
101 타깃재(또는 워크)
102 노즐 헤드
103 액추에이터
103X X축 슬라이더
103Y Y축 슬라이더
103Z Z축 슬라이더
104 처리실
105 반송 수단
106 로드
1 target material
2 supporting member
3 bonding material (or bonding layer)
4 solder layer
5, 5 'metallization layer
10, 20, 30 Sputtering target
100 device
101 target material (or workpiece)
102 nozzle head
103 Actuator
103X X axis slider
103Y Y-axis slider
103Z Z-axis slider
104 treatment room
105 conveying means
106 load

Claims (13)

주로 금속으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 스퍼터링 타깃으로부터 상기 타깃재를 분리하는 공정과, 상기 타깃재에 있어서의 상기 접합재가 부착되어 있는 면에 물을 분사함으로써, 상기 타깃재로부터 상기 접합재를 제거하는 공정을 포함하는 타깃재의 세정 방법.A step of separating the target material from a target material mainly composed of metal and a sputtering target in which a support member is joined with a bonding material; and a step of spraying water on the surface of the target material on which the bonding material is adhered, And removing the bonding material from the ash. 제 1 항에 있어서,
상기 물의 압력이 90MPa 이상인 타깃재의 세정 방법.
The method according to claim 1,
Wherein the pressure of the water is 90 MPa or more.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 금속이 알루미늄 또는 구리인 타깃재의 세정 방법.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the metal is aluminum or copper.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 기재된 세정 방법을 행하는 공정을 포함하는 타깃재의 제조 방법.A method for producing a target material comprising the step of carrying out the cleaning method according to any one of claims 1 to 3. 주로 금속으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 스퍼터링 타깃으로부터 분리된 타깃재로서,
접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소가, 에너지 분산형 형광 X선 분석에 의해 검출되지 않는 것을 특징으로 하는 타깃재.
A target member separated from a sputtering target in which a support member is joined with a bonding material,
And the elements derived from the bonding material and the support member are not detected by energy dispersive X-ray fluorescence analysis.
제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 기재된 세정 방법을 행한 타깃재를 주조함으로써, 상기 금속을 포함하는 리사이클 주괴를 얻는 공정을 포함하는 리사이클 주괴의 제조 방법.A method for producing a recycled ingot comprising the step of casting a target material subjected to the cleaning method according to any one of claims 1 to 3 to obtain a recycled ingot containing the metal. 주로 금속으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 스퍼터링 타깃의 타깃재에 유래하는 리사이클 주괴로서,
상기 접합재 및 지지 부재에 유래하는 원소의 합계량이 중량 기준으로 10ppm 미만인 리사이클 주괴.
A reclaim ingot derived from a target material mainly composed of metal and a target material of a sputtering target having a support member joined with a bonding material,
Wherein the total amount of the elements derived from the bonding material and the supporting member is less than 10 ppm by weight.
제 7 항에 있어서,
상기 리사이클 주괴의 주성분인 금속이 알루미늄 또는 구리인 리사이클 주괴.
8. The method of claim 7,
A recycled ingot in which the metal as the main component of the recycled ingot is aluminum or copper.
제 7 항에 있어서,
상기 리사이클 주괴의 주성분인 금속이 알루미늄이며, 상기 원소의 합계량이 중량 기준으로 5ppm 미만인 것을 특징으로 하는 리사이클 주괴.
8. The method of claim 7,
Wherein the metal as a main component of the recycled ingot is aluminum and the total amount of the elements is less than 5 ppm by weight.
주로 금속으로 구성되는 타깃재와, 지지 부재가 접합재로 결합되어 이루어지는 스퍼터링 타깃으로부터 분리된 상기 타깃재에 있어서의 상기 접합재가 부착되어 있는 면에 물을 분사함으로써, 상기 타깃재로부터 상기 접합재를 제거하기 위해 이용되는 장치이며,
상기 타깃재에 물을 분사하기 위한 분사구를 적어도 1개 구비하는 적어도 1개의 노즐 헤드와,
상기 노즐 헤드를 조작하기 위한 액추에이터와,
상기 액추에이터가 배치되며, 상기 타깃재를 수용하여 처리하기 위한 처리실을 포함하는, 장치.
The bonding material is removed from the target material by spraying water on a surface of the target material on which the bonding material is adhered, the target material being mainly composed of metal and the target material separated from the sputtering target in which the supporting member is joined with the bonding material &Lt; / RTI &gt;
At least one nozzle head having at least one jetting port for jetting water to the target material,
An actuator for operating the nozzle head,
And a processing chamber in which the actuator is disposed and for receiving and processing the target material.
제 10 항에 있어서,
상기 타깃재를 상기 처리실 내에서 고정하기 위한 클램프를 더 포함하는 장치.
11. The method of claim 10,
And a clamp for fixing the target material in the treatment chamber.
제 10 항 또는 제 11 항에 있어서,
상기 타깃재를 반전시키기 위한 반전 기구를 더 포함하는 장치.
The method according to claim 10 or 11,
And a reversing mechanism for reversing the target material.
제 10 항 내지 제 12 항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 분사구로부터 분사된 물을 회수하여 배수하고, 상기 타깃재로부터 제거된 접합재를 포함하는 처리물을 분리하기 위한 배수 기구를 포함하는 장치.
13. The method according to any one of claims 10 to 12,
And a drain mechanism for collecting and discharging the water jetted from the jetting port and separating the processed material including the bonding material removed from the target material.
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