JP2002053953A - Method for manufacturing sputtering target - Google Patents

Method for manufacturing sputtering target

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JP2002053953A
JP2002053953A JP2000242779A JP2000242779A JP2002053953A JP 2002053953 A JP2002053953 A JP 2002053953A JP 2000242779 A JP2000242779 A JP 2000242779A JP 2000242779 A JP2000242779 A JP 2000242779A JP 2002053953 A JP2002053953 A JP 2002053953A
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backing plate
sputtering target
bonding
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聡 黒澤
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a method by which the operation of removing an excess bonding agent remaining in the periphery of the bonding layer of a target- backing plate assembly and also a bonding agent remaining the bottom of a division section formed between target members of a multi-division target can be carried out easily in a short time. SOLUTION: After the target member of ITO, Cr, etc., and the backing plate are bonded by the bonding agent, high-pressure water of (200 to 700) kgf/cm2 is sprayed onto the bonding agent remaining on the periphery of the bonding layer or on the bottom of the division section of the multi-division target to remove the bonding agent.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明が属する技術分野】本発明は、ターゲットの製造
方法に関する。更に詳しくは、ターゲット部材とバッキ
ングプレートとの接合部に残存する接合剤、または多分
割ターゲットにおいて、ターゲット部材間により形成さ
れる分割部の底部に残存する接合剤を除去してなるター
ゲットの製造方法に関する。
The present invention relates to a method for manufacturing a target. More specifically, a method of manufacturing a target obtained by removing a bonding agent remaining at a bonding portion between a target member and a backing plate or a bonding agent remaining at a bottom of a divided portion formed between target members in a multi-split target About.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年の情報社会およびマルチメディアを
支える半導体素子、記録媒体、フラットパネルディスプ
レイ等のデバイスには、多種多様の薄膜が使用されてい
る。薄膜を形成する手段としては、スパッタリング法、
真空蒸着法、CVD法等があげられる。なかでも、スパ
ッタリング法は、大面積に均一な膜を成膜するのに有利
なため、フラットパネルディスプレイの分野では多く使
用されている。
2. Description of the Related Art A variety of thin films are used in devices such as semiconductor elements, recording media, flat panel displays, etc., which support the information society and multimedia in recent years. Means for forming a thin film include a sputtering method,
A vacuum deposition method, a CVD method and the like can be given. In particular, the sputtering method is advantageous in forming a uniform film over a large area, and is therefore often used in the field of flat panel displays.

【0003】スパッタリング法で用いられるスパッタリ
ングターゲットは、特殊なものを除いて、ターゲット部
材とバッキングプレートとを接合することにより製造さ
れる。ターゲット部材とバッキングプレートとの接合方
法としては、金属接合剤(例えばインジウムはんだ)に
よるろう付け、拡散接合、爆着、EBウェルド等多様の
手法があり、ターゲット部材やバッキングプレートの材
質に合わせて適宜選択され、採用されている。
[0003] A sputtering target used in the sputtering method, except for a special one, is manufactured by joining a target member and a backing plate. As a method for joining the target member and the backing plate, there are various methods such as brazing with a metal joining agent (for example, indium solder), diffusion bonding, explosion, EB welding, etc. Selected and adopted.

【0004】そのうち、金属接合剤を用いたろう付けに
よる手法は、一般的であり、製造設備を導入する際のコ
ストが低く、またフラットパネルディスプレイ用の大型
サイズのターゲットに対しても比較的容易に適応できる
という利点を有している。
[0004] Among them, a brazing method using a metal bonding agent is common, the cost for introducing a manufacturing facility is low, and a relatively large target for a flat panel display is relatively easily used. It has the advantage of being adaptable.

【0005】ターゲット部材とバッキングプレートとの
ろう付けによる接合は、ターゲット部材とバッキングプ
レートとの接合面に、融点以上に加熱した接合剤を塗布
した後、これらを所定の位置に配置し室温まで冷却する
ことによってなされる。この時、室温まで冷却された状
態のターゲット−バッキングプレート組立体の接合層
(はんだ層)の周囲には、接合の際、あふれ出た余分な
接合剤が残り、この接合剤がスパッタリングされるとパ
ーティクルの原因となり好ましくない。また、このよう
なターゲットをスパッタリング装置内に設置した場合、
アースシールドと接触すると放電が不可能となるため、
これらを除去する工程が必要となる。
[0005] The joining of the target member and the backing plate by brazing is performed by applying a joining agent heated to a melting point or higher to the joining surface of the target member and the backing plate, and then disposing them at predetermined positions and cooling them to room temperature. It is done by doing. At this time, excess bonding agent that has overflowed during bonding remains around the bonding layer (solder layer) of the target-backing plate assembly that has been cooled to room temperature. It is not preferable because it causes particles. When such a target is installed in a sputtering apparatus,
Discharge is not possible if it comes in contact with the earth shield.
A process for removing these is required.

【0006】この余分な接合剤の除去工程は、従来より
金属へらなどを使用した手作業で行われていた。しかし
このような方法は、手作業であるがゆえに、長い作業時
間を有し、ひいてはターゲットのコストに影響を与えて
いた。
The step of removing the excess bonding agent has conventionally been performed manually using a metal spatula or the like. However, such a method has a long working time because it is a manual operation, and thus affects the cost of the target.

【0007】また、接合剤が流動性をある程度有してい
るような温度で、接合剤を除去する方法も考えられる
が、この場合、必要な部分の接合剤が流出してしまうお
それがあり、また、作業温度が接合剤の融点近く(イン
ジウムはんだで156℃)となるため危険が伴うという
問題があった。
A method of removing the bonding agent at a temperature at which the bonding agent has a certain degree of fluidity is also conceivable. In this case, however, a necessary portion of the bonding agent may flow out. In addition, there is a problem that the working temperature is close to the melting point of the bonding agent (156 ° C. for indium solder), which involves danger.

【0008】一方、液晶パネルの大型化および生産性向
上のため、液晶パネル生産用のマザーガラスサイズが増
大し、これに対応可能な大型ターゲットが求められてお
り、その対応策の一つとして、複数のターゲット部材を
同一のバッキングプレート上に接合した多分割ターゲッ
トが用いられている。この多分割ターゲットは、大型タ
ーゲットを歩留まり良く製造できる反面、ターゲットの
分割部の底部に残存している接合剤が不純物として膜中
に取り込まれ、薄膜の特性を劣化させたり、接合剤自身
が数μmサイズのパーティクルとなり、製品の歩留まり
を低下させるという問題を引き起こした。
On the other hand, in order to increase the size of the liquid crystal panel and improve productivity, the size of the mother glass for producing the liquid crystal panel has increased, and a large target capable of responding to the increase has been demanded. A multi-split target in which a plurality of target members are joined on the same backing plate is used. Although this multi-segmented target can produce a large target with good yield, the bonding agent remaining at the bottom of the split part of the target is taken into the film as an impurity, deteriorating the characteristics of the thin film, or reducing the bonding agent itself. The particles had a size of μm and caused a problem of lowering the product yield.

【0009】従来この問題の解決のために、分割部に残
存する接合剤を金属へらなどを用いて、掻き取り、除去
していた。しかしこのような方法は、手作業であるがゆ
えに、長い作業時間を有し、ひいてはターゲットのコス
トに影響を与えていた。
Conventionally, in order to solve this problem, the bonding agent remaining in the divided portion has been scraped and removed using a metal spatula or the like. However, such a method has a long working time because it is a manual operation, and thus affects the cost of the target.

【0010】そこで、ターゲット−バッキングプレート
組立体の接合層(はんだ層)の周囲に残存した余分な接
合剤や、多分割ターゲットにおける分割部の底部に残存
する接合剤を、実際の生産ラインで採用できるような、
短時間かつ簡便な方法で除去可能なターゲットの製造方
法の開発が望まれていた。
Therefore, an extra bonding agent remaining around the bonding layer (solder layer) of the target-backing plate assembly and a bonding agent remaining at the bottom of the divided portion in the multi-split target are employed in an actual production line. Like you can
It has been desired to develop a method for manufacturing a target that can be removed in a short time and with a simple method.

【0011】[0011]

【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、ター
ゲット−バッキングプレート組立体の接合層(はんだ
層)の周囲に残存した余分な接合剤や、多分割ターゲッ
トにおける分割部の底部に残存する接合剤の除去作業
を、簡便かつ短時間に行える方法を提供することにあ
る。
SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide an excessive bonding agent remaining around a bonding layer (solder layer) of a target-backing plate assembly and a bonding agent remaining at the bottom of a split portion in a multi-split target. It is an object of the present invention to provide a method for easily and quickly removing a bonding agent.

【0012】[0012]

【課題を解決するための手段】上記のような現状に鑑
み、本発明者等は鋭意検討を重ねた結果、接合作業の終
了したターゲット部材−バッキングプレート組立体や多
分割ターゲットを室温近傍まで冷却した後、高圧水を接
合層周辺、または分割部底部に残存している接合剤に吹
き付けることにより、前記接合剤を除去できることを見
いだし、本発明を完成した。
In view of the above situation, the present inventors have made intensive studies and as a result, cooled the target member-backing plate assembly and the multi-split target after joining operation to near room temperature. After that, it has been found that the bonding agent can be removed by spraying high-pressure water to the bonding agent remaining around the bonding layer or at the bottom of the divided portion, thereby completing the present invention.

【0013】即ち、本発明は、ターゲット部材とバッキ
ングプレートとを接合剤により接合した後、接合層周囲
に残存する接合剤に高圧水を吹き付けて除去することを
特徴とするスパッタリングターゲットの製造方法、およ
び、複数のターゲット部材を、同一のバッキングプレー
ト上に接合剤により接合した後、ターゲット部材間によ
り形成される分割部の底部に残存する接合剤に高圧水を
吹き付けて除去することを特徴とするスパッタリングタ
ーゲットの製造方法に関する。
[0013] That is, the present invention provides a method for manufacturing a sputtering target, comprising joining a target member and a backing plate with a bonding agent and then spraying high-pressure water on the bonding agent remaining around the bonding layer to remove the bonding agent. And, after joining the plurality of target members on the same backing plate with a bonding agent, high-pressure water is sprayed on the bonding agent remaining at the bottom of the divided portion formed between the target members and removed. The present invention relates to a method for manufacturing a sputtering target.

【0014】以下、本発明を詳細に説明する。Hereinafter, the present invention will be described in detail.

【0015】本発明に使用されるスパッタリングターゲ
ットの材料は、特に限定することなく使用することがで
きる。特に、はんだ材を用いたろう付けによる接合がな
されることが多い、ITO(インジウム−スズ酸化
物)、AZO(アルミニウムー亜鉛酸化物)、酸化マグ
ネシウム、クロム、モリブデン等の材料に適している。
The material of the sputtering target used in the present invention can be used without any particular limitation. In particular, it is suitable for materials such as ITO (indium-tin oxide), AZO (aluminum-zinc oxide), magnesium oxide, chromium, and molybdenum, which are often joined by brazing using a solder material.

【0016】本発明に使用するスパッタリングターゲッ
トとしては、1個のターゲット部材を1個のバッキング
プレート上の接合したスパッタリングターゲットであっ
ても、複数のターゲット部材を同一のバッキングプレー
ト上に接合した多分割スパッタリングターゲットでもよ
い。
The sputtering target used in the present invention may be a sputtering target in which one target member is joined on one backing plate, or a multi-split target in which a plurality of target members are joined on the same backing plate. A sputtering target may be used.

【0017】多分割スパッタリングターゲットにおい
て、個々のターゲット部材間の距離としては、好ましく
は0.05〜0.2mmの幅の間隙を保って、バッキン
グプレート上に接合されていることが好ましい。また、
その分割数や形状は特に限定されない。各ターゲット部
材のサイズがほぼ同等であってもよく、分割された各タ
ーゲット部材のサイズが異なっても良い。さらに、4分
割の場合には、田の字状に分割したものであってもよ
い。
In the multi-split sputtering target, the distance between the individual target members is preferably maintained on a backing plate with a gap having a width of preferably 0.05 to 0.2 mm. Also,
The number of divisions and the shape are not particularly limited. The size of each target member may be substantially equal, and the size of each divided target member may be different. Further, in the case of four divisions, it may be divided into crosses.

【0018】まず、通常用いられる方法によってターゲ
ット部材を製造する。ターゲット部材を製造する際の原
材料の種類、成形方法、焼結方法等には、特に制限はな
い。使用するターゲット部材の特性に合わせて適宜選択
し製造すればよい。
First, a target member is manufactured by a commonly used method. There are no particular restrictions on the types of raw materials, molding methods, sintering methods, etc., when manufacturing the target member. What is necessary is just to select and manufacture suitably according to the characteristic of the target member used.

【0019】次に、得られたターゲット部材を機械的に
加工してターゲット部材を製造する。
Next, the obtained target member is processed mechanically to produce a target member.

【0020】このとき、多分割ターゲットを構成する個
々のターゲット部材を製造する場合には、ターゲット部
材同士が対向する側のターゲット部材のエッジ部であっ
て、スパッタリング面に存在するエッジ部は、半径0.
5〜2mmの丸みを有するように、すなわち、R0.5
〜R2に加工することが好ましい。なお、ターゲット部
材のスパッタリング面に存在する他のエッジ部について
は、必ずしも必要ではないが、適当な丸み加工を施して
も良い。
At this time, when manufacturing the individual target members constituting the multi-split target, the edge portion of the target member on the side where the target members face each other, and the edge portion existing on the sputtering surface has a radius of 0.
To have a roundness of 5 to 2 mm, that is, R0.5
It is preferable to process to R2. Note that other edge portions existing on the sputtering surface of the target member are not necessarily required, but may be appropriately rounded.

【0021】続いて、得られたターゲット部材をバッキ
ングプレート上に接合する。本発明に使用されるバッキ
ングプレートおよびはんだ材は特に限定されるものでは
ないが、バッキングプレートとしては、無酸素銅および
リン青銅等を、はんだ材としては、インジウムはんだ等
をあげることができる。
Subsequently, the obtained target member is joined on a backing plate. The backing plate and the solder material used in the present invention are not particularly limited, but examples of the backing plate include oxygen-free copper and phosphor bronze, and examples of the solder material include indium solder.

【0022】接合は、例えば以下に示す方法で行うこと
ができる。まず、所定の形状に加工し表面を洗浄して得
られたターゲット部材、および同じく洗浄処理を施した
バッキングプレートの各接合面に、金属インジウム等の
接合剤を塗布する。この際、ターゲット部材やバッキン
グプレートが、直接接合剤と溶着しない材料で構成され
ている場合には、予めその接合面に接合剤との濡れ性に
優れた銅、ニッケル等の薄膜層を、スパッタリング法、
メッキ法等により形成してもよいし、また、超音波はん
だごてを用いて接合面に直接接合剤を塗布してもよい。
The joining can be performed, for example, by the following method. First, a bonding agent such as metal indium is applied to a target member obtained by processing into a predetermined shape and cleaning the surface, and each bonding surface of the backing plate that has also been cleaned. At this time, if the target member or the backing plate is made of a material that does not directly adhere to the bonding agent, a thin film layer of copper, nickel, or the like having excellent wettability with the bonding agent is previously formed on the bonding surface by sputtering. Law,
It may be formed by a plating method or the like, or a bonding agent may be directly applied to the bonding surface using an ultrasonic soldering iron.

【0023】接合剤を塗布する前に、接合面以外の部分
への接合剤による汚染を防止するため、必要に応じてポ
リアミドテープ等を用いて、接合剤の不要部分にマスキ
ング処理を施すことが好ましい。
Before applying the bonding agent, a masking process may be performed on unnecessary portions of the bonding agent using a polyamide tape or the like as necessary in order to prevent contamination of the portion other than the bonding surface by the bonding agent. preferable.

【0024】次に、このターゲット部材およびバッキン
グプレートを使用する接合剤の融点以上に加熱して表面
の接合剤を融解させた後、ターゲット部材とバッキング
プレートを接合し、室温まで冷却してターゲットとす
る。このとき、充分な接合強度を得るために、必要に応
じて接合剤を更に塗布してもよい。
Next, the target member and the backing plate are heated to a temperature equal to or higher than the melting point of the bonding agent to be used to melt the bonding agent on the surface. I do. At this time, a bonding agent may be further applied as necessary to obtain a sufficient bonding strength.

【0025】汚染防止用にポリアミドテープ等を使用し
た場合には、冷却後、該テープを剥離する。この状態で
は、接合層の周囲に余分な接合剤が残存した状態となっ
ている。
When a polyamide tape or the like is used for preventing contamination, the tape is peeled off after cooling. In this state, an extra bonding agent remains around the bonding layer.

【0026】一方、多分割ターゲットの場合には、ま
ず、加工の施された複数のターゲット部材とバッキング
プレートとを使用する接合剤の融点以上に加熱し、各接
合面に接合剤を塗布した後、接合する。この時、ターゲ
ット部材にR加工が施されている場合には、R加工が施
されたエッジ部を分割部のスパッタリング面に配置して
接合する。
On the other hand, in the case of a multi-split target, first, the plurality of processed target members and the backing plate are heated to a temperature equal to or higher than the melting point of the bonding agent to be used, and the bonding agent is applied to each bonding surface. To join. At this time, if the target member has been subjected to the R processing, the edge part subjected to the R processing is arranged on the sputtering surface of the divided portion and joined.

【0027】各ターゲットの分割部の幅は、0.05〜
0.2mmが好ましい。0.05mm未満とすると、真
空装置内に設置して実際にスパッタリングした場合に、
各ターゲットが熱膨張により増大し、隣り合った焼結体
同士がぶつかりあい破損する恐れがある。
The width of the divided portion of each target is 0.05 to
0.2 mm is preferred. If it is less than 0.05 mm, when it is installed in a vacuum device and actually sputtered,
Each target increases due to thermal expansion, and adjacent sintered bodies may collide with each other and be damaged.

【0028】接合時(加熱時)における分割部の幅は、
使用するターゲット部材およびバッキングプレートの材
質およびサイズ並びに使用する接合剤の融点を考慮し適
宜選択すればよい。
The width of the divided portion at the time of joining (at the time of heating) is
The material may be appropriately selected in consideration of the materials and sizes of the target member and the backing plate to be used and the melting point of the bonding agent to be used.

【0029】例えば、800mm×280mmのITO
焼結体3枚を1枚のバッキングプレート上にボンディン
グして1枚のターゲットとするに際し、バッキングプレ
ートに無酸素銅を使用し、接合剤にインジウム半田を使
用した場合には、158℃に焼結体およびバッキングプ
レートを加熱した状態で分割部の幅を0.53mmとす
ることにより、冷却後の接合部の幅は0.2mmとな
る。
For example, an 800 mm × 280 mm ITO
When bonding three sintered bodies onto one backing plate to form one target, if oxygen-free copper is used for the backing plate and indium solder is used for the bonding agent, it is fired at 158 ° C. By setting the width of the divided portion to 0.53 mm in a state where the body and the backing plate are heated, the width of the joined portion after cooling is 0.2 mm.

【0030】実際の分割部の幅のコントロールは、例え
ば、分割部に厚さ0.53mmの治具を挿入して、バッ
キングプレートと各ターゲットとを接合して位置合わせ
を行い、接合剤が固化した後、分割部に挿入した治具を
抜き取り、室温まで冷却することによって、行うことが
できる。この状態において、分割部底部に余分な接合剤
が残存した状態となっている。
The actual control of the width of the divided portion is performed, for example, by inserting a jig having a thickness of 0.53 mm into the divided portion, joining the backing plate and each target to perform positioning, and solidifying the joining agent. After that, the jig inserted into the divided portion can be extracted and cooled to room temperature. In this state, an extra bonding agent remains at the bottom of the divided portion.

【0031】分割部に挿入する治具は、接合時の温度に
耐えられる材質であれば特に限定されないが、例えば、
ステンレス、鉄、真鍮、カーボン、テフロン(登録商
標)、ポリイミド樹脂等があげられる。
The jig to be inserted into the division is not particularly limited as long as it can withstand the temperature at the time of joining.
Examples thereof include stainless steel, iron, brass, carbon, Teflon (registered trademark), and polyimide resin.

【0032】本発明においては、この残存した接合剤に
対して、高圧水を吹き付け、前記余分な接合剤の除去を
行う。高圧水としては、200〜700kgf/cm2
の圧力が好ましい。より好ましくは、300〜600k
gf/cm2である。高圧水を噴射するノズルの形状
は、直射状のもの、扇状のものなどを使用することが可
能であるが、直射状のものが、効率的にはんだ材を除去
できて好ましい。このような高圧水を用いることによ
り、ターゲット部材や、バッキングプレートを傷つける
ことなく、短時間で接合剤のみを除去することが可能と
なる。
In the present invention, high pressure water is sprayed on the remaining bonding agent to remove the excess bonding agent. 200-700 kgf / cm 2 as high pressure water
Is preferred. More preferably, 300-600k
gf / cm 2 . The shape of the nozzle for injecting high-pressure water can be a direct shape, a fan shape, or the like, but a direct shape is preferable because the solder material can be efficiently removed. By using such high-pressure water, it is possible to remove only the bonding agent in a short time without damaging the target member or the backing plate.

【0033】吹き付ける高圧水は、一般の水道水を使用
することが可能であるが、ターゲットの汚染防止を考慮
すると、好ましくは50μm以下のフィルターを通した
水、より好ましくはイオン交換水、特に好ましくは抵抗
率10MΩ・cm以上の超純水である。
As the high-pressure water to be sprayed, general tap water can be used. However, in consideration of prevention of contamination of the target, water that has passed through a filter having a size of 50 μm or less, more preferably ion-exchanged water, and particularly preferably water is preferred. Is ultrapure water having a resistivity of 10 MΩ · cm or more.

【0034】また、水量としては、作業性と廃水処理量
低減の点で10〜40L/分が好ましく、水温としては
作業の安全性の点で、15〜35℃が好ましい。
The amount of water is preferably from 10 to 40 L / min from the viewpoint of workability and reduction of wastewater treatment amount, and the water temperature is preferably from 15 to 35 ° C from the viewpoint of work safety.

【0035】[0035]

【実施例】以下、本発明を実施例をもって更に詳細に説
明するが、本発明はこれらに限定されるものではない。
EXAMPLES Hereinafter, the present invention will be described in more detail with reference to Examples, but the present invention is not limited thereto.

【0036】(実施例1)従来より知られている方法に
従い、酸化インジウム粉末と酸化スズ粉末とを混合、成
形、焼結し、ITO焼結体を得た。得られた焼結体を4
インチ×7インチmm×6mmに加工した。得られた焼
結体の、はんだ材の不要な部分をアルミ箔とポリアミド
テープで覆った後、焼結体と平板状バッキングプレート
を158℃まで加熱し、それぞれの接合面に超音波はん
だごてを用いて、インジウムはんだを塗布した。
Example 1 Indium oxide powder and tin oxide powder were mixed, molded and sintered according to a conventionally known method to obtain an ITO sintered body. The obtained sintered body was 4
It processed to inch x 7 inch mm x 6 mm. After covering unnecessary portions of the obtained sintered body with aluminum foil and polyamide tape, the sintered body and the flat backing plate are heated to 158 ° C., and an ultrasonic soldering iron is applied to each joint surface. Was used to apply indium solder.

【0037】次に、この焼結体をバッキングプレート上
の所望の位置に配置した後、室温まで冷却し、アルミ箔
およびポリアミドテープを除去してITOターゲットと
した。
Next, after placing this sintered body at a desired position on the backing plate, it was cooled to room temperature, and the aluminum foil and the polyamide tape were removed to obtain an ITO target.

【0038】次に、高圧水噴射装置を用いて、高圧水を
吹き付け、接合層周囲に残存したはんだ材を除去した。
噴射条件は、以下の通り。
Next, high-pressure water was sprayed using a high-pressure water injection device to remove the solder material remaining around the bonding layer.
The injection conditions are as follows.

【0039】(噴射条件) 媒体:50μmのフィルターを通した水道水(水温:2
3℃) 水圧:300kgf/cm2 水量:20L/分 作業に要した時間は、処理した長さ10mmあたり2.
5秒、トータルで140秒であった。また、処理後の焼
結体およびバッキングプレートに傷は認められなかっ
た。
(Injection conditions) Medium: tap water passed through a 50 μm filter (water temperature: 2)
(3 ° C.) Water pressure: 300 kgf / cm 2 Water volume: 20 L / min
5 seconds, 140 seconds in total. Further, no scratch was observed on the sintered body and the backing plate after the treatment.

【0040】(実施例2)使用した媒体をイオン交換水
とした以外は、実施例1と同じ方法で接合層周囲のはん
だ材を除去した。 作業に要した時間は、処理した長さ
10mmあたり2.5秒であった。 また、処理後の焼
結体およびバッキングプレートに傷は認められなかっ
た。
(Example 2) The solder material around the joining layer was removed in the same manner as in Example 1 except that the medium used was ion-exchanged water. The time required for the operation was 2.5 seconds per 10 mm of the processed length. Further, no scratch was observed on the sintered body and the backing plate after the treatment.

【0041】(実施例3)使用した媒体を12.3MΩ
・cmの超純水とした以外は、実施例1と同じ方法で接
合層周囲のはんだ材を除去した。 作業に要した時間
は、処理した長さ10mmあたり2.5秒であった。
また、処理後の焼結体およびバッキングプレートに傷は
認められなかった。 (比較例1)実施例1と同様の方法で、ITO焼結体を
製造し、バッキングプレートに接合した。接合層周囲に
残存したはんだ材を、金属製のへらを用いて手作業によ
り除去した。 作業に要した時間は、処理した長さ10
mmあたり5秒、トータルで280秒であった。 ま
た、バッキングプレートに多くの擦過傷は認められた。
Example 3 The medium used was 12.3 MΩ.
The solder material around the bonding layer was removed in the same manner as in Example 1 except that ultrapure water of cm was used. The time required for the operation was 2.5 seconds per 10 mm of the processed length.
Further, no scratch was observed on the sintered body and the backing plate after the treatment. (Comparative Example 1) In the same manner as in Example 1, an ITO sintered body was manufactured and joined to a backing plate. The solder material remaining around the joining layer was manually removed using a metal spatula. The time required for the work was 10
5 seconds per mm, a total of 280 seconds. In addition, many scratches were found on the backing plate.

【0042】(実施例4)クロム粉末をCIP法により
成形した後、HIP法により焼結し、クロムの焼結体を
得た。得られた焼結体を4インチ×7インチmm×6m
mに加工した。このようにして得られた焼結体の、はん
だ材の不要な部分をアルミ箔とポリアミドテープで覆っ
た後、焼結体と平板状バッキングプレートを158℃ま
で加熱し、それぞれの接合面にインジウムはんだを塗布
した。
Example 4 A chromium powder was formed by a CIP method and then sintered by a HIP method to obtain a sintered body of chromium. The obtained sintered body is 4 inches x 7 inches mm x 6 m
m. After covering unnecessary portions of the solder material of the thus obtained sintered body with aluminum foil and polyamide tape, the sintered body and the flat backing plate were heated to 158 ° C., and indium was applied to each joint surface. Solder was applied.

【0043】次に、この焼結体をバッキングプレート上
の所望の位置に配置した後、室温まで冷却し、アルミ箔
およびポリアミドテープを除去してクロムターゲットと
した。
Next, after placing this sintered body at a desired position on the backing plate, it was cooled to room temperature, and the aluminum foil and the polyamide tape were removed to obtain a chromium target.

【0044】次に、高圧水噴射装置を用いて、高圧水を
吹き付け、接合層周囲に残存したはんだ材を除去した。
噴射条件は、以下の通り。
Next, using a high-pressure water injection device, high-pressure water was sprayed to remove the solder material remaining around the bonding layer.
The injection conditions are as follows.

【0045】(噴射条件) 媒体:50μmのフィルターを通した水道水(水温:2
3℃) 水圧:300kgf/cm2 水量:20L/分 接合層周囲に残存するはんだ材の除去に要した時間は、
処理した長さ10mmあたり2.5秒であった。また、
焼結体およびバッキングプレートに傷は認められなかっ
た。
(Injection conditions) Medium: tap water passed through a 50 μm filter (water temperature: 2)
3 ° C.) Water pressure: 300 kgf / cm 2 Water volume: 20 L / min The time required for removing the solder material remaining around the joining layer is as follows:
2.5 seconds per 10 mm of treated length. Also,
No scratch was observed on the sintered body and the backing plate.

【0046】(実施例5)使用した媒体をイオン交換水
とした以外は、実施例4と同じ方法で接合層周囲のはん
だ材を除去した。 作業に要した時間は、処理した長さ
10mmあたり2.5秒であった。 また、焼結体およ
びバッキングプレートに傷は認められなかった。
Example 5 The solder material around the joining layer was removed in the same manner as in Example 4 except that the medium used was ion-exchanged water. The time required for the operation was 2.5 seconds per 10 mm of the processed length. No damage was found on the sintered body or the backing plate.

【0047】(実施例6)使用した媒体を12.3MΩ
・cmの超純水とした以外は、実施例4と同じ方法で接
合層周囲のはんだ材を除去した。 作業に要した時間
は、処理した長さ10mmあたり2.5秒であった。
また、焼結体およびバッキングプレートに傷は認められ
なかった。 (比較例2)実施例4と同様の方法で、クロム焼結体を
作製し、バッキングプレートに接合した。接合層周囲に
残存したはんだ材を、金属製のへらを用いて手作業によ
り除去した。作業に要した時間は、処理した長さ10m
mあたり5秒であった。 また、バッキングプレートに
多くの擦過傷が認められた。
Example 6 The medium used was 12.3 MΩ.
The solder material around the joining layer was removed in the same manner as in Example 4 except that ultrapure water of cm was used. The time required for the operation was 2.5 seconds per 10 mm of the processed length.
No damage was found on the sintered body or the backing plate. (Comparative Example 2) A chromium sintered body was produced in the same manner as in Example 4, and joined to a backing plate. The solder material remaining around the joining layer was manually removed using a metal spatula. The time required for the work is 10m
5 seconds per m. In addition, many scratches were found on the backing plate.

【0048】(実施例7)従来より知られている方法に
従い、酸化インジウム粉末と酸化スズ粉末を混合、成
形、焼結し、ITO焼結体を得た。得られた焼結体を機
械加工して、4インチ×3.5インチ×6.35mmの
ITO焼結体2枚を得た。次いで、スパッタリング面と
なるエッジ部分に対して、R1の加工を施した。
(Example 7) Indium oxide powder and tin oxide powder were mixed, molded and sintered according to a conventionally known method to obtain an ITO sintered body. The obtained sintered body was machined to obtain two ITO sintered bodies of 4 inches × 3.5 inches × 6.35 mm. Next, R1 processing was performed on an edge portion to be a sputtering surface.

【0049】このようにして得られた、焼結体とバッキ
ングプレートを158℃まで加熱した後、それぞれの接
合面にインジウム半田を塗布した。
After the thus obtained sintered body and backing plate were heated to 158 ° C., indium solder was applied to each joint surface.

【0050】このようにして得られた、金属接合剤塗布
済みのターゲット部材と平板状バッキングプレートとの
接合面同士を合わせて接合した後、室温まで冷却した。
冷却後の分割部の幅は0.15mmであった。
The bonding surfaces of the thus obtained target member coated with the metal bonding agent and the flat backing plate were bonded together, and then cooled to room temperature.
The width of the divided part after cooling was 0.15 mm.

【0051】次に、高圧水噴射装置を用いて、水を吹き
付け、分割部に残存したはんだ材を除去した。噴射条件
は、以下の通り。
Next, using a high-pressure water injection device, water was sprayed to remove the solder material remaining in the divided portions. The injection conditions are as follows.

【0052】(噴射条件) 媒体:50μmのフィルターを通した水道水(水温:2
3℃) 水圧:300kgf/cm2 水量:20L/分 分割部に残存するはんだ材の除去に要した時間は、分割
部10mmあたり1秒であった。また、焼結体およびバ
ッキングプレートに傷は認められなかった。
(Injection conditions) Medium: tap water passed through a 50 μm filter (water temperature: 2)
(3 ° C.) Water pressure: 300 kgf / cm 2 Water volume: 20 L / min The time required for removing the solder material remaining in the divided portion was 1 second per 10 mm of the divided portion. No damage was found on the sintered body or the backing plate.

【0053】(実施例8)使用した媒体をイオン交換水
とした以外は、実施例7と同じ方法で分割部のはんだ材
を除去した。 分割部に残存するはんだ材の除去に要し
た時間は、分割部10mmあたり1秒であった。 ま
た、焼結体およびバッキングプレートに傷は認められな
かった。
(Embodiment 8) Except that the medium used was ion-exchanged water, the solder material at the divided portion was removed in the same manner as in Embodiment 7. The time required for removing the solder material remaining in the divided portion was 1 second per 10 mm of the divided portion. No damage was found on the sintered body or the backing plate.

【0054】(実施例9)使用した媒体を12.3MΩ
・cmの超純水とした以外は、実施例7と同じ方法で分
割部のはんだ材を除去した。 分割部に残存するはんだ
材の除去に要した時間は、分割部10mmあたり1秒で
あった。 また、焼結体およびバッキングプレートに傷
は認められなかった。 (比較例3)実施例7と同様の方法で、ITO焼結体を
作製し、バッキングプレートに接合した。分割部に残存
したはんだ材を、金属製のへら、薄片を用いて手作業に
より除去した。 分割部に残存するはんだ材の除去に要
した時間は、分割部10mmあたり25秒であった。
また、バッキングプレートに多くの擦過傷は認められ
た。
(Embodiment 9) The medium used was 12.3 MΩ.
The solder material at the divided portion was removed in the same manner as in Example 7 except that ultrapure water of cm was used. The time required for removing the solder material remaining in the divided portion was 1 second per 10 mm of the divided portion. No damage was found on the sintered body or the backing plate. (Comparative Example 3) In the same manner as in Example 7, an ITO sintered body was manufactured and joined to a backing plate. The solder material remaining in the divided portion was manually removed using a metal spatula and a thin piece. The time required for removing the solder material remaining in the divided portion was 25 seconds per 10 mm of the divided portion.
In addition, many scratches were found on the backing plate.

【0055】[0055]

【発明の効果】本発明の製造方法によれば、極めて簡便
な方法で、しかも短時間で接合層周囲や多分割ターゲッ
トにおける分割部底部に残存するはんだ材を除去するこ
とが可能となった。
According to the manufacturing method of the present invention, it is possible to remove the solder material remaining around the bonding layer and at the bottom of the divided portion in the multi-split target in a very simple manner and in a short time.

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 ターゲット部材とバッキングプレートと
を接合剤により接合した後、接合層周囲に残存する接合
剤に高圧水を吹き付けて除去することを特徴とするスパ
ッタリングターゲットの製造方法。
1. A method for manufacturing a sputtering target, comprising: after joining a target member and a backing plate with a bonding agent, removing high-pressure water by spraying the bonding agent remaining around the bonding layer.
【請求項2】 複数のターゲット部材を、同一のバッキ
ングプレート上に接合剤により接合した後、ターゲット
部材間により形成される分割部の底部に残存する接合剤
に高圧水を吹き付けて除去することを特徴とするスパッ
タリングターゲットの製造方法。
2. A method in which a plurality of target members are joined on the same backing plate with a bonding agent, and then high-pressure water is sprayed on a bonding agent remaining at a bottom of a division formed between the target members to remove the target members. Characteristic method for manufacturing a sputtering target.
【請求項3】 高圧水の圧力が、200〜700kgf
/cm2であることを特徴とする請求項1または請求項
2に記載のスパッタリングターゲットの製造方法。
3. The pressure of high-pressure water is 200 to 700 kgf.
/ Cm 2. The method for producing a sputtering target according to claim 1, wherein:
【請求項4】 50μm以下のフィルターを通した高圧
水を用いることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1
項に記載のスパッタリングターゲットの製造方法。
4. The method according to claim 1, wherein high-pressure water passed through a filter of 50 μm or less is used.
13. The method for producing a sputtering target according to item 9.
【請求項5】 イオン交換水を用いることを特徴とする
請求項1〜3のいずれか1項に記載のスパッタリングタ
ーゲットの製造方法。
5. The method for producing a sputtering target according to claim 1, wherein ion-exchanged water is used.
【請求項6】 抵抗率10MΩ・cm以上の超純水を使
用することを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に
記載の記載のスパッタリングターゲットの製造方法。
6. The method for producing a sputtering target according to claim 1, wherein ultrapure water having a resistivity of 10 MΩ · cm or more is used.
【請求項7】 ターゲット部材が実質的に、インジウ
ム、スズおよび酸素からなることを特徴とする請求項1
〜6のいずれか1項に記載のスパッタリングターゲット
の製造方法。
7. The target member according to claim 1, wherein the target member consists essentially of indium, tin and oxygen.
7. The method for producing a sputtering target according to any one of items 6 to 6.
【請求項8】 ターゲット部材が実質的に、クロムから
なることを特徴とする請求項1〜6のいずれか1項に記
載のスパッタリングターゲットの製造方法。
8. The method for manufacturing a sputtering target according to claim 1, wherein the target member is substantially made of chromium.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009057598A (en) * 2007-08-31 2009-03-19 Mitsui Kinzoku Korea Co Ltd Sputtering target
KR20180111581A (en) * 2017-03-30 2018-10-11 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 Method for cleaning a sputtering target, apparatus for cleaning a sputtering target, method for manufacturing a sputtering target, sputtering target, method for manufacturing a recycled ingot and a recycled ingot
JP2018168465A (en) * 2017-03-30 2018-11-01 住友化学株式会社 Method for cleaning target material, device therefor, method for manufacturing target material, target material, method for manufacturing recycled ingot, and recycled ingot
KR20210122153A (en) * 2020-03-31 2021-10-08 제이엑스금속주식회사 Sputtering target and manufacturing method of sputtering target

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110565057B (en) * 2019-08-21 2020-07-03 东莞市欧莱溅射靶材有限公司 Binding method of TFT target and copper back plate

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06272027A (en) * 1993-03-17 1994-09-27 Fuji Photo Film Co Ltd Method for automatically cleaning vacuum deposition tank and device therefor
JPH11106904A (en) * 1997-09-29 1999-04-20 Riyouka Massey Kk Production of sputtering target
JP2001262333A (en) * 2000-03-16 2001-09-26 Tdk Corp Method for producing target for sputtering

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH06272027A (en) * 1993-03-17 1994-09-27 Fuji Photo Film Co Ltd Method for automatically cleaning vacuum deposition tank and device therefor
JPH11106904A (en) * 1997-09-29 1999-04-20 Riyouka Massey Kk Production of sputtering target
JP2001262333A (en) * 2000-03-16 2001-09-26 Tdk Corp Method for producing target for sputtering

Cited By (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009057598A (en) * 2007-08-31 2009-03-19 Mitsui Kinzoku Korea Co Ltd Sputtering target
KR102540958B1 (en) * 2017-03-30 2023-06-07 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 Method for cleaning a sputtering target, apparatus for cleaning a sputtering target, method for manufacturing a sputtering target, sputtering target, method for manufacturing a recycled ingot and a recycled ingot
CN108690958A (en) * 2017-03-30 2018-10-23 住友化学株式会社 Target cleaning method, the device for it, target manufacturing method and target and recycling ingot casting manufacturing method and recycling ingot casting
JP2018168465A (en) * 2017-03-30 2018-11-01 住友化学株式会社 Method for cleaning target material, device therefor, method for manufacturing target material, target material, method for manufacturing recycled ingot, and recycled ingot
JP2018172796A (en) * 2017-03-30 2018-11-08 住友化学株式会社 Method for cleaning target material, device therefor, method for manufacturing target material, target material, method for manufacturing recycled ingot, and recycled ingot
JP7102237B2 (en) 2017-03-30 2022-07-19 住友化学株式会社 Target material cleaning method, equipment for that purpose, target material manufacturing method and target material, recycled ingot manufacturing method and recycled ingot
KR20180111581A (en) * 2017-03-30 2018-10-11 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 Method for cleaning a sputtering target, apparatus for cleaning a sputtering target, method for manufacturing a sputtering target, sputtering target, method for manufacturing a recycled ingot and a recycled ingot
TWI816663B (en) * 2017-03-30 2023-10-01 日商住友化學股份有限公司 Target cleaning method and target cleaning device, target manufacturing method and recovery ingot manufacturing method
KR20210122153A (en) * 2020-03-31 2021-10-08 제이엑스금속주식회사 Sputtering target and manufacturing method of sputtering target
JP2021161497A (en) * 2020-03-31 2021-10-11 Jx金属株式会社 Sputtering target, and production method of sputtering target
JP7250723B2 (en) 2020-03-31 2023-04-03 Jx金属株式会社 Sputtering target and sputtering target manufacturing method
US11851748B2 (en) 2020-03-31 2023-12-26 Jx Metals Corporation Sputtering target and method for manufacturing a sputtering target
KR102682271B1 (en) * 2020-03-31 2024-07-09 제이엑스금속주식회사 Sputtering target and manufacturing method of sputtering target

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