KR20180098147A - 반도체 장치 및 그것을 구비한 전자 제어 시스템 - Google Patents
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Abstract
Description
도 2는 도 1에 도시한 차량에 설치된 전자 제어 시스템의 구체적인 구성예를 도시하는 블록도.
도 3은 도 2에 도시한 전자 제어 유닛에 설치된 드라이버 IC의 구체적인 구성예를 도시하는 블록도.
도 4는 도 3에 도시한 드라이버 IC에 있어서의 드라이버의 구체적인 구성예를 도시하는 도면.
도 5는 도 4에 도시한 드라이버 IC에 있어서의 드라이버 제어 회로의 구체적인 구성예를 도시하는 회로도.
도 6은 도 4에 도시한 드라이버 IC에 설치된 ESD 보호 회로의 구체적인 구성예를 도시하는 도면.
도 7은 하이사이드 스위치로서 사용되는 출력 트랜지스터와, 배터리 전원과, 유도성 부하의 접속 관계를 도시하는 도면.
도 8은 도 7에 도시한 접속 상태에 있어서의 드라이버의 동작을 나타내는 타이밍차트.
도 9는 드라이버 IC의 출력 단자 OUT에 부전압이 인가된 경우에 있어서의, 당해 드라이버 IC에 흐르는 전류의 경로를 도시하는 도면.
도 10은 드라이버 IC의 출력 단자 OUT에 정전압이 인가된 경우에 있어서의, 당해 드라이버 IC에 흐르는 전류의 경로를 도시하는 도면.
도 11은 실시 형태 2에 따른 드라이버 IC의 구체적인 구성예를 도시하는 블록도.
도 12는 도 11에 도시한 드라이버 IC에 있어서의 드라이버의 구체적인 구성예를 도시하는 도면.
도 13은 도 12에 도시한 드라이버 IC에 설치된 드라이버에 있어서의 드라이버 제어 회로의 구체적인 구성예를 도시하는 도면.
도 14는 하이사이드 스위치로서 사용되는 출력 트랜지스터와, 배터리 전원과, 유도성 부하의 접속 관계를 도시하는 도면.
도 15는 도 14에 도시한 접속 상태에 있어서의 드라이버의 동작을 나타내는 타이밍차트.
도 16은 드라이버 IC의 외부 접속 단자 OUTS에 부전압이 인가된 경우에 있어서의, 당해 드라이버 IC에 흐르는 전류의 경로를 도시하는 도면.
도 17은 드라이버 IC의 외부 접속 단자 OUTS에 정전압이 인가된 경우에 있어서의, 당해 드라이버 IC에 흐르는 전류의 경로를 도시하는 도면.
도 18은 로우사이드 스위치로서 사용되는 출력 트랜지스터와, 배터리 전원과, 유도성 부하의 접속 관계를 도시하는 도면.
도 19는 도 18에 도시한 접속 상태에 있어서의 드라이버의 동작을 나타내는 타이밍차트.
도 20은 드라이버 IC의 외부 접속 단자 OUTD에 정전압이 인가된 경우에 있어서의, 당해 드라이버 IC에 흐르는 전류의 경로를 도시하는 도면.
도 21은 드라이버 IC의 외부 접속 단자 OUTD에 부전압이 인가된 경우에 있어서의, 당해 드라이버 IC에 흐르는 전류의 경로를 도시하는 도면.
11 : ECU
12 : 엔진
13 : 트랜스미션
14 : 차동 기어
15 : 타이어
111 : 마이크로컴퓨터
112 : 센서 IC
113 : 드라이버 IC
121 : 연료 탱크
122 : 연료 펌프
123 : 연료 분사 장치
124 : 흡기관
125 : 실린더
126 : 배기관
127 : O2 센서
128 : O2 센서 히터
301 : 입출력 회로
302 : 제어 로직
303 : 레귤레이터
304 : 드라이버
304_1∼304_3 : 드라이버
305 : ESD 보호 회로
305_1∼305_3 : ESD 보호 회로
401 : 드라이버 제어 회로
402 : 출력 트랜지스터
403 : 보디 다이오드
404 : 게이트 보호 다이오드
405 : 부전위 클램프 회로
406 : 제너 다이오드
407 : MOS 트랜지스터
408 : 보디 다이오드
501 : 오프 제어 회로
502 : 온 제어 회로
MP1∼MP4 : MOS 트랜지스터
MN1∼MN8 : MOS 트랜지스터
601 : MOS 트랜지스터
602 : 보디 다이오드
603 : 저항 소자
604 : 게이트 보호 다이오드
605 : 클램프 회로
701 : 배터리 전원
702 : 부하
1101 : 드라이버 IC
1102 : 드라이버
1102_1∼1102_3 : 드라이버
1401 : 배터리 전원
1402 : 부하
1801 : 배터리 전원
1802 : 부하
Claims (19)
- 외부로부터 전력이 공급되는 입력 단자와, 부하에 접속되는 출력 단자 사이에 설치된 출력 트랜지스터와,
상기 출력 단자의 전압을 기준으로 하여 상기 출력 트랜지스터의 게이트 전압을 제어함으로써 상기 출력 트랜지스터의 온/오프를 전환하는 제어 회로와,
상기 출력 단자에 소정 전압보다 낮은 부전압이 인가된 경우, 상기 제어 회로에 의한 제어에 관계없이 상기 출력 트랜지스터를 온하는 부전위 클램프 회로와,
상기 입력 단자와 기준 전압 단자 사이에 설치되며, 상기 입력 단자에 서지 전압이 인가된 경우에 도통하는 서지 보호 회로를 구비한 반도체 장치. - 제1항에 있어서,
상기 부전위 클램프 회로는,
상기 출력 트랜지스터의 게이트와 상기 기준 전압 단자 사이에 설치되고, 상기 출력 단자에 상기 소정 전압보다 낮은 부전압이 인가된 경우에, 상기 출력 트랜지스터의 게이트 전압을 상기 소정 전압에 대응하는 전압으로 클램프하는 반도체 장치. - 제1항에 있어서,
상기 부전위 클램프 회로는,
상기 출력 트랜지스터의 게이트로부터 상기 기준 전압 단자에 걸쳐 순방향으로 설치된 1개 또는 복수의 제너 다이오드와,
상기 1개 또는 복수의 제너 다이오드에 직렬 또한 역방향으로 설치된 역류 방지용 다이오드를 갖는 반도체 장치. - 제1항에 있어서,
상기 출력 트랜지스터의 게이트와 상기 출력 단자 사이에 설치된 제1 게이트 보호 다이오드를 더 구비한 반도체 장치. - 제1항에 있어서,
상기 서지 보호 회로는,
상기 입력 단자와 상기 기준 전압 단자 사이에 설치된 MOS 트랜지스터와,
상기 MOS 트랜지스터의 게이트와 상기 입력 단자 사이에 설치되며, 상기 입력 단자에 서지 전압이 인가된 경우에 도통하는 클램프 회로와,
상기 MOS 트랜지스터의 게이트와 상기 기준 전압 단자 사이에 설치된 저항 소자를 갖는 반도체 장치. - 제5항에 있어서,
상기 서지 보호 회로는,
상기 MOS 트랜지스터의 게이트와 상기 기준 전압 단자 사이에, 상기 저항 소자에 병렬로 설치된 제2 게이트 보호 다이오드를 더 갖는 반도체 장치. - 제1항에 있어서,
상기 부하는, 유도성 부하인 반도체 장치. - 부하와,
상기 부하에 공급되는 전력을 제어하는 제1항에 기재된 반도체 장치를 구비한 전자 제어 시스템. - 제8항에 있어서,
상기 부하는, 유도성 부하인 전자 제어 시스템. - 제1 외부 접속 단자와 제2 외부 접속 단자 사이에 설치된 출력 트랜지스터와,
상기 제2 외부 접속 단자의 전압을 기준으로 하여 상기 출력 트랜지스터의 게이트 전압을 제어함으로써 상기 출력 트랜지스터의 온/오프를 전환하는 제어 회로와,
상기 제2 외부 접속 단자에 소정 전압보다 낮은 부전압이 인가된 경우, 상기 제어 회로에 의한 제어에 관계없이 상기 출력 트랜지스터를 온하는 부전위 클램프 회로와,
상기 제1 외부 접속 단자와 기준 전압 단자 사이에 설치되며, 상기 제1 외부 접속 단자에 서지 전압이 인가된 경우에 도통하는 서지 보호 회로를 구비한 반도체 장치. - 제10항에 있어서,
상기 부전위 클램프 회로는,
상기 출력 트랜지스터의 게이트와 상기 기준 전압 단자 사이에 설치되고, 상기 제2 외부 접속 단자에 상기 소정 전압보다 낮은 부전압이 인가된 경우에, 상기 출력 트랜지스터의 게이트 전압을 상기 소정 전압에 대응하는 전압으로 클램프하는 반도체 장치. - 제10항에 있어서,
상기 부전위 클램프 회로는,
상기 출력 트랜지스터의 게이트로부터 상기 기준 전압 단자에 걸쳐 순방향으로 설치된 1개 또는 복수의 제너 다이오드와,
상기 1개 또는 복수의 제너 다이오드에 직렬 또한 역방향으로 설치된 역류 방지용 다이오드를 갖는 반도체 장치. - 제10항에 있어서,
상기 출력 트랜지스터의 게이트와 상기 제2 외부 접속 단자 사이에 설치된 제1 게이트 보호 다이오드를 더 구비한 반도체 장치. - 제10항에 있어서,
상기 서지 보호 회로는,
상기 제1 외부 접속 단자와 상기 기준 전압 단자 사이에 설치된 MOS 트랜지스터와,
상기 MOS 트랜지스터의 게이트와 상기 제1 외부 접속 단자 사이에 설치되며, 상기 제1 외부 접속 단자에 서지 전압이 인가된 경우에 도통하는 클램프 회로와,
상기 MOS 트랜지스터의 게이트와 상기 기준 전압 단자 사이에 설치된 저항 소자를 갖는 반도체 장치. - 제14항에 있어서,
상기 서지 보호 회로는,
상기 MOS 트랜지스터의 게이트와 상기 기준 전압 단자 사이에, 상기 저항 소자에 병렬로 설치된 제2 게이트 보호 다이오드를 더 갖는 반도체 장치. - 부하와,
상기 제1 외부 접속 단자가 전력 공급원에 접속되고, 상기 제2 외부 접속 단자가 상기 부하에 접속된, 제10항에 기재된 반도체 장치를 구비한 전자 제어 시스템. - 제16항에 있어서,
상기 부하는, 유도성 부하인 전자 제어 시스템. - 부하와,
상기 제1 외부 접속 단자가 상기 부하에 접속되고, 상기 제2 외부 접속 단자가 전력 공급원에 접속된, 제10항에 기재된 반도체 장치를 구비한 전자 제어 시스템. - 제18항에 있어서,
상기 부하는, 유도성 부하인 전자 제어 시스템.
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Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
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| PA0109 | Patent application |
Patent event code: PA01091R01D Comment text: Patent Application Patent event date: 20180221 |
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| PG1501 | Laying open of application | ||
| A201 | Request for examination | ||
| PA0201 | Request for examination |
Patent event code: PA02012R01D Patent event date: 20210209 Comment text: Request for Examination of Application Patent event code: PA02011R01I Patent event date: 20180221 Comment text: Patent Application |
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| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| PE0902 | Notice of grounds for rejection |
Comment text: Notification of reason for refusal Patent event date: 20220523 Patent event code: PE09021S01D |
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| E601 | Decision to refuse application | ||
| PE0601 | Decision on rejection of patent |
Patent event date: 20220823 Comment text: Decision to Refuse Application Patent event code: PE06012S01D Patent event date: 20220523 Comment text: Notification of reason for refusal Patent event code: PE06011S01I |