KR20180017930A - Substrate treating apparatus - Google Patents

Substrate treating apparatus Download PDF

Info

Publication number
KR20180017930A
KR20180017930A KR1020160102516A KR20160102516A KR20180017930A KR 20180017930 A KR20180017930 A KR 20180017930A KR 1020160102516 A KR1020160102516 A KR 1020160102516A KR 20160102516 A KR20160102516 A KR 20160102516A KR 20180017930 A KR20180017930 A KR 20180017930A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
substrate
chemical solution
unit
vibration plate
foreign substance
Prior art date
Application number
KR1020160102516A
Other languages
Korean (ko)
Other versions
KR101947992B1 (en
Inventor
박은호
Original Assignee
주식회사 케이씨텍
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 주식회사 케이씨텍 filed Critical 주식회사 케이씨텍
Priority to KR1020160102516A priority Critical patent/KR101947992B1/en
Publication of KR20180017930A publication Critical patent/KR20180017930A/en
Application granted granted Critical
Publication of KR101947992B1 publication Critical patent/KR101947992B1/en

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02041Cleaning
    • H01L21/02043Cleaning before device manufacture, i.e. Begin-Of-Line process
    • H01L21/02052Wet cleaning only
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02296Forming insulating materials on a substrate characterised by the treatment performed before or after the formation of the layer
    • H01L21/02299Forming insulating materials on a substrate characterised by the treatment performed before or after the formation of the layer pre-treatment
    • H01L21/02307Forming insulating materials on a substrate characterised by the treatment performed before or after the formation of the layer pre-treatment treatment by exposure to a liquid
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/02104Forming layers
    • H01L21/02107Forming insulating materials on a substrate
    • H01L21/02296Forming insulating materials on a substrate characterised by the treatment performed before or after the formation of the layer
    • H01L21/02318Forming insulating materials on a substrate characterised by the treatment performed before or after the formation of the layer post-treatment
    • H01L21/02343Forming insulating materials on a substrate characterised by the treatment performed before or after the formation of the layer post-treatment treatment by exposure to a liquid
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like
    • H01L21/6704Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like for wet cleaning or washing
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67126Apparatus for sealing, encapsulating, glassing, decapsulating or the like
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/6715Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67703Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations between different workstations
    • H01L21/67718Changing orientation of the substrate, e.g. from a horizontal position to a vertical position
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/677Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations
    • H01L21/67793Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere for conveying, e.g. between different workstations with orientating and positioning by means of a vibratory bowl or track

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Cleaning Or Drying Semiconductors (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Abstract

The present invention relates to a substrate treating apparatus for processing a chemical solution coating process on a substrate to be treated. The substrate treating apparatus comprises: a substrate transferring unit for lifting and transferring a substrate by using vibration energy due to an ultrasonic wave; a chemical solution coating unit for coating a chemical solution on the surface of the substrate; and a foreign material removing unit separately arranged from the chemical solution coating unit, and preliminarily removing a foreign material present in a lower part of the substrate before the substrate reaches the chemical solution coating unit. Therefore, the foreign material present in the lower part of the substrate can be removed, and the substrate and equipment can be prevented from being damaged by the foreign material.

Description

기판 처리 장치{SUBSTRATE TREATING APPARATUS}[0001] SUBSTRATE TREATING APPARATUS [0002]

본 발명은 기판 처리 장치에 관한 것으로서, 보다 구체적으로 기판의 하부에 존재하는 이물질을 제거할 수 있으며, 이물질에 의한 기판 및 장비의 손상을 방지할 수 있는 기판 처리 장치에 관한 것이다.BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a substrate processing apparatus, and more particularly, to a substrate processing apparatus capable of removing foreign substances existing in a lower portion of a substrate and preventing damage to substrates and equipment caused by foreign substances.

LCD 등 플랫 패널 디스플레이를 제조하는 공정에서는 유리 등으로 제작된 피처리 기판의 표면에 레지스트액 등의 약액을 도포하는 코팅 공정이 수반된다. LCD의 크기가 작았던 종래에는 피처리 기판의 중앙부에 약액을 도포하면서 피처리 기판을 회전시키는 것에 의하여 피처리 기판의 표면에 약액을 도포하는 스핀 코팅 방법이 사용되었다.In a process for manufacturing a flat panel display such as an LCD, a coating process for applying a chemical liquid such as a resist solution onto the surface of a substrate to be processed, which is made of glass or the like, is involved. Conventionally, a spin coating method for applying a chemical liquid to the surface of a substrate to be processed by rotating a substrate while applying a chemical liquid to a central portion of the substrate has been used.

그러나, LCD 화면의 크기가 대형화됨에 따라 스핀 코팅 방식은 거의 사용되지 않으며, 피처리 기판의 폭에 대응하는 길이를 갖는 슬릿 형태의 슬릿 노즐과 피처리 기판을 상대 이동시키면서 슬릿 노즐로부터 약액을 피처리 기판의 표면에 도포하는 방식의 코팅 방법이 사용되고 있다.However, as the size of the LCD screen becomes larger, the spin coating method is scarcely used, and a slit-shaped slit nozzle having a length corresponding to the width of the substrate to be processed and a slit nozzle A coating method of coating the surface of the substrate is used.

최근에는 정해진 시간에 보다 많은 수의 피처리 기판의 표면에 약액을 코팅하는 방법의 일환으로서, 일본 공개특허공보 제2005-243670호에는 기판이 반입되고 도포되며 반출되는 방향을 따라 에어를 분출하여 기판을 부상시키는 부상 스테이지가 설치되고, 그 양측에 흡착 패드 등으로 형성된 기판 배출 기구가 구비되어, 정지된 상태의 슬릿 노즐에 의해 연속적으로 공급되는 피처리 기판의 표면에 약액을 공급하여 코팅하는 기술이 개시되어 있다.Recently, as a method of coating a chemical solution on the surface of a greater number of substrates to be processed at a predetermined time, Japanese Unexamined Patent Publication (Kokai) No. 2005-243670 discloses a method of ejecting air along a direction in which a substrate is carried, And a substrate discharging mechanism formed on both sides thereof with a suction pad or the like to supply a chemical solution to the surface of a substrate to be processed continuously supplied by a slit nozzle in a stopped state, Lt; / RTI >

한편, 기판이 부상된 상태로 이송되는 동안, 기판의 하부에 이물질이 존재하면, 기판의 표면에 약액이 균일하게 도포되기 어렵고, 이물질에 의해 기판에 스크레치가 발생하거나, 기판에 인접한 장비가 손상될 수 있기 때문에, 기판의 하부의 이물질이 제거될 수 있어야 한다.On the other hand, if foreign substances are present on the lower surface of the substrate during transport of the substrate in a floating state, it is difficult for the chemical solution to uniformly spread on the surface of the substrate, scratches on the substrate due to foreign substances, So that the foreign matter on the lower part of the substrate can be removed.

다시 말해서, 기판이 부상된 높이(진동플레이트와 기판 사이의 거리)보다 큰 크기의 비고착성(이동 가능한) 이물질이 기판의 하부에 존재하는 상황에서 기판이 이송되면, 이물질이 위치한 부위에서는 이물질에 의해 기판의 부상 높이가 국부적으로 달라(높아)지기 때문에 약액이 균일한 조건으로 도포되기 어려운 문제점이 있다.In other words, if the substrate is transported in a state where a non-sticky (movable) foreign substance having a size larger than the height at which the substrate is floated (distance between the vibration plate and the substrate) is present at the bottom of the substrate, The floating height of the substrate is locally different (high), so that the chemical liquid is difficult to be applied under uniform conditions.

또한, 기판의 부상 높이보다 큰 크기의 비고착성 이물질은 기판이 이송됨에 따라 기판에 의해 쓸려지며 이동하게 되는데, 주변 간섭에 의해 이물질의 이동이 정지된 상태에서 기판만이 이송되면, 기판과 이물질 간의 간섭에 의해 기판에 스크레치 및 데미지가 발생하는 문제점이 있다. 뿐만 아니라, 슬릿 노즐의 하부에서 이물질이 정지되면, 이물질에 의해 기판의 배치 높이가 비정상적으로 높아져 기판이 슬릿 노즐에 접촉하는 문제점이 있고, 기판과 슬릿 노즐의 비정상적인 접촉에 의해 슬릿 노즐이 손상되거나 기판이 손상되는 문제점이 있다.In addition, when a non-sticking foreign matter having a size larger than the floating height of the substrate is swept away and moved by the substrate as the substrate is transported, if only the substrate is transported while the movement of foreign matter is stopped due to the peripheral interference, There is a problem that scratches and damage are generated on the substrate due to interference. In addition, when the foreign matter is stopped at the lower part of the slit nozzle, the height of the substrate is abnormally increased due to the foreign matter, and the substrate contacts the slit nozzle. The slit nozzle is damaged due to abnormal contact between the substrate and the slit nozzle, There is a problem that this is damaged.

이에 따라, 최근에는 기판 주변의 이물질을 제거할 수 있으며, 이물질에 의한 기판 및 장비의 손상을 방지하기 위한 다양한 검토가 이루어지고 있으나, 아직 미흡하여 이에 대한 개발이 요구되고 있다.Accordingly, in recent years, foreign materials around the substrate can be removed, and various studies have been made to prevent damage to substrates and equipment caused by foreign substances.

본 발명은 기판 주변의 이물질을 제거할 수 있으며, 이물질에 의한 기판 및 장비의 손상을 방지할 수 있는 기판 처리 장치를 제공하는 것을 목적으로 한다.An object of the present invention is to provide a substrate processing apparatus capable of removing foreign substances from the periphery of a substrate and preventing damage to substrates and equipment caused by foreign substances.

특히, 본 발명은 기판의 표면에 약액을 도포하기 전에 기판의 하부에 존재하는 이물질을 제거할 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다.In particular, it is an object of the present invention to remove foreign matter present in the lower portion of the substrate before applying the chemical solution to the surface of the substrate.

또한, 본 발명은 기판에 약액을 도포하는 과정에서, 약액을 균일하게 도포하여 얼룩의 발생을 억제할 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다.Another object of the present invention is to uniformly apply a chemical liquid in the process of applying a chemical liquid to a substrate to suppress the occurrence of stains.

또한, 본 발명은 고품질의 약액 도포층을 형성할 수 있으며, 수율을 향상시킬 수 있도록 하는 것을 목적으로 한다. It is another object of the present invention to be able to form a high-quality chemical solution coating layer and improve the yield.

상술한 본 발명의 목적들을 달성하기 위한 본 발명의 바람직한 실시예에 따르면, 피처리 기판에 대한 약액 도포 공정을 처리하는 기판 처리 장치는, 초음파에 의한 진동 에너지를 이용하여 기판을 부상시킨 상태로 이송하는 기판이송부와, 기판의 표면에 약액을 도포하는 약액 도포 유닛과, 약액 도포 유닛과 이격되게 배치되며 기판이 약액 도포 유닛에 도달하기 전에 먼저 기판의 하부에 존재하는 이물질을 제거하는 이물질 제거부를 포함한다.According to another aspect of the present invention, there is provided a substrate processing apparatus for processing a chemical liquid applying process on a substrate to be processed, the substrate processing apparatus comprising: A chemical liquid applying unit for applying a chemical liquid to the surface of the substrate; a foreign matter removing unit disposed so as to be spaced apart from the chemical liquid applying unit and removing foreign substances existing under the substrate before the substrate reaches the chemical liquid applying unit; .

이는, 기판의 하부에 존재하는 이물질을 제거하는 것에 의하여, 약액의 도포 균일성을 보장하면서, 이물질에 의한 기판 및 기판에 인접한 주변 장비의 손상을 방지하기 위함이다.This is to prevent foreign substances from damaging the substrate and peripheral equipment adjacent to the substrate while ensuring uniformity of application of the chemical solution by removing foreign substances present in the lower portion of the substrate.

즉, 기판이 부상된 높이(진동플레이트와 기판 사이의 거리)보다 큰 크기의 비고착성(이동 가능한) 이물질이 기판의 하부에 존재하는 상황에서 기판이 이송되면, 이물질이 위치한 부위에서는 이물질에 의해 기판의 부상 높이가 국부적으로 달라(높아)지기 때문에 약액이 균일한 조건으로 도포되기 어렵다. 또한, 기판의 부상 높이보다 큰 크기의 비고착성 이물질은 기판이 이송됨에 따라 기판에 의해 쓸려지며 이동하게 되는데, 주변 간섭에 의해 이물질의 이동이 정지된 상태에서 기판만이 이송되면, 기판과 이물질 간의 간섭에 의해 기판에 스크레치 및 데미지가 발생하는 문제점이 있고, 약액도포유닛의 하부에서 이물질이 정지되면, 이물질에 의해 기판의 배치 높이가 비정상적으로 높아져 기판이 약액도포유닛에 접촉하는 문제점이 있고, 기판과 약액도포유닛의 비정상적인 접촉에 의해 약액도포유닛이 손상되거나 기판이 손상되는 문제점이 있다.That is, if the substrate is transported in a state where a non-sticky (movable) foreign substance having a size greater than the height at which the substrate is lifted (distance between the vibration plate and the substrate) is present at the bottom of the substrate, The height of the flotation is locally different (high), so that it is difficult to apply the chemical liquid in a uniform condition. In addition, when a non-sticking foreign matter having a size larger than the floating height of the substrate is swept away and moved by the substrate as the substrate is transported, if only the substrate is transported while the movement of foreign matter is stopped due to the peripheral interference, There is a problem that scratches and damage are generated on the substrate due to interference, and when the foreign matter stops in the lower portion of the chemical solution applying unit, the arrangement height of the substrate becomes abnormally high due to the foreign substance and the substrate contacts the chemical solution applying unit. There is a problem that the chemical liquid application unit is damaged or the substrate is damaged due to abnormal contact of the chemical liquid application unit.

이에, 본 발명은, 기판의 하부에 배치된 이물질이 약액 도포 유닛에 도달하기 전에 먼저 이물질 제거부에 의해 제거되도록 하는 것에 의하여, 약액이 도포되는 약액 도포 유닛의 하부에서 기판의 부상 높이를 일정하게 유지시킴으로써, 약액을 균일하게 도포하는 효과를 얻을 수 있다.Accordingly, the present invention is characterized in that the floating height of the substrate in the lower portion of the chemical solution applying unit to which the chemical solution is applied is made constant by making the foreign matter disposed at the lower portion of the substrate to be removed by the foreign substance removing unit before reaching the chemical solution applying unit The effect of uniformly applying the chemical solution can be obtained.

더욱이, 본 발명은, 기판 하부의 이물질이 먼저 제거된 후 소정 시간차를 두고 기판이 약액 도포 유닛의 하부에 도달하도록 하는 것에 의하여, 기판의 부상 높이보다 큰 크기의 비고착성 이물질이 약액 도포 유닛의 하부에 정지됨에 따른 기판 및 장비(약액 도포 유닛)의 손상을 방지하는 효과를 얻을 수 있다.Furthermore, by allowing the substrate to reach the lower portion of the chemical solution applying unit at a predetermined time after the foreign matter under the substrate is first removed, the non-sticking foreign matter having a size larger than the floating height of the substrate is transferred to the lower portion It is possible to obtain an effect of preventing the damage of the substrate and the equipment (chemical solution coating unit) due to the stoppage of the substrate.

여기서, 이물질이라 함은, 기판의 하부에 존재하는 비고착성을 이물질, 다시 말해서 기판의 하부에 고착(고정)되지 않고 이동할 수 있는 이물질을 의미한다. 무엇보다도, 이물질 제거부는, 기판의 부상 높이보다 큰 크기를 가지며, 기판이 이송됨에 따라 기판에 의해 쓸려 이동 가능한 이물질을 제거하는 것을 목적으로 한다.Here, the term " foreign body " means a foreign substance existing in the lower portion of the substrate, i.e., a foreign body that can move without being fixed (fixed) to the lower portion of the substrate. Above all, the foreign substance removing portion has a size larger than the floating height of the substrate, and aims to remove foreign matter which can be moved and swept by the substrate as the substrate is transferred.

이물질 제거부는 기판 하부의 이물질을 제거 가능한 다양한 구조로 형성될 수 있다. 일 예로, 이물질 제거부는 진동플레이트에 형성되며 이물질이 배출되는 배출홀(또는 배출홈)일 수 있다.The foreign substance removing unit may be formed in various structures capable of removing foreign matter from the lower portion of the substrate. For example, the foreign substance removing portion may be a discharge hole (or discharge groove) formed in the vibration plate and discharging foreign matter.

아울러, 배출홀은 기판 하부의 이물질을 배출할 수 있는 다양한 형태로 형성될 수 있다.In addition, the discharge hole may be formed in various forms for discharging foreign matter on the lower portion of the substrate.

일 예로, 배출홀을 기판이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 연속적인 슬릿 형태로 형성하는 것에 의하여, 기판의 하부에 존재하는 이물질을 빠짐없이 효과적으로 제거하는 효과를 얻을 수 있다. For example, by forming the discharge holes in the form of a continuous slit along the direction perpendicular to the direction in which the substrate is transported, it is possible to obtain the effect of effectively eliminating the foreign substances present in the lower portion of the substrate.

다른 일 예로, 기판이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 이격되게 복수개의 배출홀을 형성하는 것도 가능하다. 바람직하게, 배출홀은, 기판이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 제1열을 이루도록 이격되게 배치되는 복수개의 제1배출홀과, 제1열로부터 이격된 제2열을 이루도록 배치되되 기판이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 제1배출홀과 교호적으로 배치되는 복수개의 제2배출홀을 포함하는 것에 의하여, 기판의 하부에 존재하는 이물질을 빠짐없이 효과적으로 제거하는 효과를 얻을 수 있다.In another example, it is also possible to form a plurality of discharge holes so as to be spaced along a direction perpendicular to the direction in which the substrate is transported. Preferably, the discharge hole comprises a plurality of first discharge holes spaced apart to form a first row along a direction perpendicular to the direction in which the substrate is transported, and a second row spaced apart from the first row, The second discharge holes arranged alternately with the first discharge holes along the direction perpendicular to the direction in which the substrate is transported can be effectively removed without fail.

그리고, 기판이송부는, 기판이 로딩되는 로딩영역과, 약액 도포 유닛에 의해 약액이 도포되는 약액도포영역과, 약액이 도포된 기판이 언로딩되는 언로딩영역을 포함한다.The substrate transferring portion includes a loading region where the substrate is loaded, a chemical solution applying region to which the chemical solution is applied by the chemical solution applying unit, and an unloading region where the substrate to which the chemical solution is applied is unloaded.

이물질 제거부(배출홀)는 기판이 약액 도포 유닛에 도달하기 전에 먼저 기판의 하부에 존재하는 이물질을 제거할 수 있는 다양한 위치에 형성될 수 있다.The foreign material removing unit (discharge hole) may be formed at various positions capable of removing foreign substances present in the lower portion of the substrate before the substrate reaches the chemical solution applying unit.

일 예로, 이물질 제거부(배출홀)는 로딩영역과 약액도포영역의 경계에 형성될 수 있다. 다른 일 예로, 이물질 제거부(배출홀)는 로딩영역 상에 형성될 수 있다. 바람직하게, 배출홀을 약액도포영역에 최대한 인접하게 로딩영역의 단부에 형성하는 것에 의하여, 배출홀과 약액도포영역의 사이에 이물질이 잔류하는 것을 방지하는 효과를 얻을 수 있다. 또 다른 일 예로, 이물질 제거부(배출홀)는 약액도포영역에 형성되되, 약액 도포 유닛보다 먼저 기판에 근접하도록 약액 도포 유닛에 이격되게 배치될 수 있다.For example, the foreign matter removing unit (discharge hole) may be formed at the boundary between the loading area and the chemical solution application area. In another example, a foreign matter removing unit (discharge hole) may be formed on the loading area. Preferably, by forming the discharge hole at the end portion of the loading region as close as possible to the chemical solution application region, an effect of preventing foreign matter from remaining between the discharge hole and the chemical solution application region can be obtained. In another embodiment, the foreign matter removing unit (discharge hole) is formed in the chemical solution application area, and may be disposed apart from the chemical solution application unit so as to be closer to the substrate than the chemical solution application unit.

또한, 진동플레이트에 형성되어 이물질을 배출하는 배출홀에 흡입압을 인가하는 흡입압 형성부를 포함하는 것에 의하여, 기판에 의해 쓸려진 이물질이 보다 효과적으로 배출홀로 배출되게 하는 효과를 얻을 수 있다.In addition, by including the suction pressure forming portion formed on the vibration plate and applying the suction pressure to the discharge hole for discharging the foreign substance, the effect that the foreign substance swept by the substrate is discharged to the discharge hole more effectively can be obtained.

더욱이, 배출홀에 흡입압을 인가하는 것에 의하여, 기판이 진동플레이트를 따라 이송되는 동안 기판에 흡입압을 인가할 수 있기 때문에, 기판의 떨림 및 요동을 억제하는 효과를 얻을 수 있다.Further, by applying the suction pressure to the discharge hole, the suction pressure can be applied to the substrate while the substrate is being conveyed along the vibration plate, so that the effect of suppressing shaking and fluctuation of the substrate can be obtained.

또한, 기판의 하부에서 이물질을 감지하는 감지센서를 포함할 수 있다. 이와 같이, 감지센서를 이용하여 기판의 하부에 이물질이 남아 있는지 여부를 감지하고, 이물질의 감지 여부에 따라 선택적으로 약액도포유닛의 작동을 정지(이물질이 감지되면 작동 정지)시키는 것에 의하여, 이물질에 의한 기판 및 약액도포유닛의 손상을 방지하는 효과를 얻을 수 있다.In addition, it may include a sensor for detecting a foreign substance at a lower portion of the substrate. Thus, by detecting whether or not the foreign substance remains on the lower part of the substrate by using the detection sensor and selectively stopping the operation of the chemical solution dispensing unit according to whether or not foreign matter is detected (stopping the operation when foreign matter is detected) It is possible to obtain an effect of preventing the substrate and the chemical solution applying unit from being damaged.

바람직하게, 감지센서가 약액 도포 유닛과 이격되게 배치되어, 이물질이 약액 도포 유닛에 도달하기 전에 먼저 이물질을 감지하도록 하는 것에 의하여, 이물질에 의한 기판 및 약액도포유닛의 손상을 효과적으로 방지하는 효과를 얻을 수 있다.Preferably, the detection sensor is disposed so as to be spaced apart from the chemical-solution applying unit, thereby effectively preventing damage to the substrate and the chemical-solution applying unit by the foreign matter by allowing the foreign substance to be detected before the foreign substance reaches the chemical- .

아울러, 기판이 이송되는 방향에 수직한 진동플레이트의 제1폭(수직 방향 폭)은 기판이 이송되는 방향에 수직한 기판의 제2폭(수직 방향 폭)보다 크거나 같게 형성된다.In addition, the first width (vertical width) of the vibration plate perpendicular to the direction in which the substrate is transported is formed to be equal to or larger than the second width (vertical width) of the substrate perpendicular to the direction in which the substrate is transported.

이와 같이, 진동플레이트(진동플레이트)의 제1폭을 기판의 제2폭보다 크거나 같게 형성하는 것에 의하여, 진동플레이트(진동플레이트)에 의해 기판에 작용하는 진동 에너지를 보다 균일하게 조절하고, 기판의 부상력을 보다 정교하게 조절하는 효과를 얻을 수 있다.By thus forming the first width of the vibration plate (vibration plate) larger than or equal to the second width of the substrate, the vibration energy acting on the substrate is more uniformly controlled by the vibration plate (vibration plate) It is possible to obtain an effect of more precisely controlling the lifting force.

다시 말해서, 진동플레이트가 일정 이상 큰 크기(예를 들어, 기판보다 큰 면적)로 형성되면, 진동플레이트의 전면에 걸쳐 진동 에너지를 균일하게 유지하기 어렵기 때문에 기판의 부상력을 정교하게 조절하기 어렵다. 반면, 진동플레이트가 작은 크기로 형성되면, 진동플레이트의 전면에 걸쳐 진동 에너지를 균일하게 유지시키는데 유리하지만, 각 진동플레이트의 진동 조건을 서로 완벽하게 일치시키기 어렵기 때문에, 기판이 각 진동플레이트의 사이 간극을 통과하는 동안 각 진동플레이트의 진동 편차에 의해 미세한 떨림(terminal effect)이 발생하는 문제가 있다.In other words, if the vibration plate is formed to have a size larger than a certain size (for example, an area larger than the substrate), it is difficult to precisely control the floating force of the substrate because it is difficult to uniformly maintain the vibration energy over the entire surface of the vibration plate . On the other hand, if the vibration plate is formed in a small size, it is advantageous to uniformly maintain the vibration energy over the entire surface of the vibration plate. However, since it is difficult to perfectly match the vibration conditions of the vibration plates with each other, There is a problem that a terminal effect is generated due to a vibration deviation of each vibration plate while passing through the gap.

이에 본 발명은, 기판이 이송되는 방향에 수직한 진동플레이트의 제1폭(수직 방향 폭)을 기판이 이송되는 방향에 수직한 기판의 제2폭(수직 방향 폭)보다 크거나 같게 형성하고, 진동플레이트를 기판이 이송되는 방향을 따라 횡대로 이격되게 배치하는 것에 의하여, 기판이 이송되는 동안 기판의 제2폭 방향을 따라서 기판에는 단 하나의 진동플레이트에 의한 진동에너지만이 작용되게 함으로써, 기판에 작용하는 진동 에너지를 균일하게 조절할 수 있고, 기판의 부상 높이를 정교하게 제어하는 효과를 얻을 수 있다.Accordingly, the present invention forms the first width (vertical width) of the vibration plate perpendicular to the direction in which the substrate is conveyed to be greater than or equal to the second width (vertical width) of the substrate perpendicular to the direction in which the substrate is conveyed, By arranging the vibrating plate so as to be spaced apart in a transverse direction along the direction in which the substrate is conveyed, only the vibration energy by the single vibrating plate is applied to the substrate along the second width direction of the substrate during the conveyance of the substrate, The vibration energy acting on the substrate can be uniformly controlled, and the effect of finely controlling the floating height of the substrate can be obtained.

진동플레이트는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양한 조건으로 배치될 수 있다.The vibrating plate can be arranged in various conditions according to the required conditions and design specifications.

일 예로, 진동플레이트는 수평면에 수평하게 배치되고, 기판은 진동플레이트에 평행하게 부상될 수 있다. 이와 같이, 기판이 수평하게 이송되는 상태에서 약액이 도포되도록 하는 것에 의하여, 높은 점도(고점도 1000 cP 이상)의 약액을 사용할 수 있음은 물론이며, 낮은 점도(중점도, 100 cP)의 약액을 사용하더라도 흘러내림 없이 약액을 균일하게 도포할 수 있다.In one example, the vibration plate is horizontally disposed on the horizontal plane, and the substrate can float parallel to the vibration plate. By applying the chemical solution in a state in which the substrate is horizontally conveyed as described above, it is possible to use a chemical solution having a high viscosity (high viscosity of 1000 cP or more), and a chemical solution of low viscosity (high degree of viscosity, 100 cP) It is possible to uniformly apply the chemical solution without flowing down.

다른 일 예로, 진동플레이트는 기판의 진행 방향을 따른 일측변을 중심으로 수평면에 경사지게 배치되고, 기판은 진동플레이트에 평행하게 부상된다. 바람직하게 수평면에 대해 경사지게 틸팅된 기판의 일측변을 지지하며 기판을 이송시키는 이송부재를 포함하고, 이송부재에는 기판의 하중이 작용되고, 기판의 하중에 의한 마찰력에 의해 기판은 이송부재에 의해 이송된다.In another example, the vibrating plate is disposed obliquely to a horizontal plane around one side along the direction of advance of the substrate, and the substrate floats parallel to the vibrating plate. And a transfer member for transferring the substrate, which supports one side of the substrate, which is preferably tilted with respect to the horizontal plane. The load of the substrate is applied to the transfer member, and the substrate is transferred by the transfer member by the frictional force by the load of the substrate do.

이와 같이, 틸팅된 기판의 하중이 이송부재에 작용하고, 기판의 하중에 의한 마찰력에 의해 기판이 이송부재에 의해 이송되게 하는 것에 의하여, 진공흡착수단과 같은 복잡한 장비없이 기판의 자중을 이용하여 기판을 이송시키는 유리한 효과를 얻을 수 있다.By thus causing the load of the tilted substrate to act on the conveying member and causing the substrate to be conveyed by the conveying member by the frictional force due to the load of the substrate, It is possible to obtain an advantageous effect.

더욱이, 본 발명에서는 기판의 하중을 이용하여 기판을 이송부재에 구속(마찰력을 이용하여 상대 이동 구속)하기 때문에, 다시 말해서, 복잡한 제어 공정(예를 들어, 진공 압력 조절 공정)을 거치지 않고 기판의 일측변을 이송부재에 지지시키는 것에 의하여 이송부재와 기판을 구속할 수 있기 때문에, 구조 및 처리 공정을 간소화하는 유리한 효과를 얻을 수 있다.Further, in the present invention, since the substrate is restrained (relatively moved and constrained by using a frictional force) by using the load of the substrate, in other words, the substrate can be restrained by a complicated control process (for example, Since the conveying member and the substrate can be confined by supporting the side face on the conveying member, an advantageous effect of simplifying the structure and the process can be obtained.

상술한 바와 같이 본 발명에 따르면, 기판의 하부에 존재하는 이물질을 제거하는 것에 의하여, 약액의 도포 균일성을 보장하면서, 이물질에 의한 기판 및 기판에 인접한 주변 장비의 손상을 방지하는 효과를 얻을 수 있다.As described above, according to the present invention, by removing the foreign substances existing in the lower portion of the substrate, it is possible to obtain the effect of preventing damage to the substrate and peripheral equipment adjacent to the substrate while ensuring uniformity of application of the chemical solution have.

즉, 기판이 부상된 높이(진동플레이트와 기판 사이의 거리)보다 큰 크기의 비고착성(이동 가능한) 이물질이 기판의 하부에 존재하는 상황에서 기판이 이송되면, 이물질이 위치한 부위에서는 이물질에 의해 기판의 부상 높이가 국부적으로 달라(높아)지기 때문에 약액이 균일한 조건으로 도포되기 어렵다. 또한, 기판의 부상 높이보다 큰 크기의 비고착성 이물질은 기판이 이송됨에 따라 기판에 의해 쓸려지며 이동하게 되는데, 주변 간섭에 의해 이물질의 이동이 정지된 상태에서 기판만이 이송되면, 기판과 이물질 간의 간섭에 의해 기판에 스크레치 및 데미지가 발생하는 문제점이 있고, 약액도포유닛의 하부에서 이물질이 정지되면, 이물질에 의해 기판의 배치 높이가 비정상적으로 높아져 기판이 약액도포유닛에 접촉하는 문제점이 있고, 기판과 약액도포유닛의 비정상적인 접촉에 의해 약액도포유닛이 손상되거나 기판이 손상되는 문제점이 있다.That is, if the substrate is transported in a state where a non-sticky (movable) foreign substance having a size greater than the height at which the substrate is lifted (distance between the vibration plate and the substrate) is present at the bottom of the substrate, The height of the flotation is locally different (high), so that it is difficult to apply the chemical liquid in a uniform condition. In addition, when a non-sticking foreign matter having a size larger than the floating height of the substrate is swept away and moved by the substrate as the substrate is transported, if only the substrate is transported while the movement of foreign matter is stopped due to the peripheral interference, There is a problem that scratches and damage are generated on the substrate due to interference, and when the foreign matter stops in the lower portion of the chemical solution applying unit, the arrangement height of the substrate becomes abnormally high due to the foreign substance and the substrate contacts the chemical solution applying unit. There is a problem that the chemical liquid application unit is damaged or the substrate is damaged due to abnormal contact of the chemical liquid application unit.

하지만, 본 발명에 따르면, 기판의 하부에 배치된 이물질이 약액 도포 유닛에 도달하기 전에 먼저 이물질 제거부에 의해 제거되도록 하는 것에 의하여, 약액이 도포되는 약액 도포 유닛의 하부에서 기판의 부상 높이를 일정하게 유지시킴으로써, 약액을 균일하게 도포하는 효과를 얻을 수 있다.However, according to the present invention, the floating height of the substrate in the lower portion of the chemical liquid application unit to which the chemical liquid is applied is adjusted to be constant by the foreign substance removing unit so that the foreign matter disposed at the lower portion of the substrate is removed by the foreign substance removing unit before reaching the chemical liquid applying unit. The effect of uniformly applying the chemical liquid can be obtained.

더욱이, 본 발명은, 기판 하부의 이물질이 먼저 제거된 후 소정 시간차를 두고 기판이 약액 도포 유닛의 하부에 도달하도록 하는 것에 의하여, 기판의 부상 높이보다 큰 크기의 비고착성 이물질이 약액 도포 유닛의 하부에 정지됨에 따른 기판 및 장비(약액 도포 유닛)의 손상을 방지하는 효과를 얻을 수 있다.Furthermore, by allowing the substrate to reach the lower portion of the chemical solution applying unit at a predetermined time after the foreign matter under the substrate is first removed, the non-sticking foreign matter having a size larger than the floating height of the substrate is transferred to the lower portion It is possible to obtain an effect of preventing the damage of the substrate and the equipment (chemical solution coating unit) due to the stoppage of the substrate.

또한, 본 발명에 따르면, 배출홀에 흡입압을 인가하는 것에 의하여, 이물질의 배출 특성을 향상시킴과 동시에, 기판이 이송되는 동안 기판에 흡입압을 인가하여 기판의 떨림 및 요동을 억제하는 효과를 얻을 수 있다.Further, according to the present invention, by applying the suction pressure to the discharge hole, it is possible to improve the discharge characteristic of the foreign matter and to apply the suction pressure to the substrate while the substrate is being conveyed to suppress the shaking and oscillation of the substrate Can be obtained.

또한, 본 발명에 따르면, 진동 에너지에 의해 기판이 부상되도록 하는 것에 의하여, 기판의 부상력을 정밀하게 제어하되, 부상유닛을 구성하는 진동플레이트를 기판이 이송되는 방향을 따라 횡대로 이격되게 배치하는 것에 의하여, 기판에 작용하는 진동 에너지를 균일하게 조절할 수 있고, 기판의 부상 높이를 정교하게 제어하는 효과를 얻을 수 있다.Further, according to the present invention, by floating the substrate by the vibration energy, the floating force of the substrate is precisely controlled, and the vibration plate constituting the floating unit is arranged so as to be spaced apart in the horizontal direction along the direction in which the substrate is conveyed The vibration energy acting on the substrate can be uniformly controlled, and the effect of finely controlling the floating height of the substrate can be obtained.

또한, 본 발명에 따르면, 기판이 수평하게 부상된 상태에서 약액이 도포되도록 하는 것에 의하여, 높은 점도(고점도 1000 cP 이상)의 약액을 사용할 수 있음은 물론이며, 낮은 점도(중점도, 100 cP)의 약액을 사용하더라도 흘러내림 없이 약액을 균일하게 도포하는 효과를 얻을 수 있다.According to the present invention, it is possible to use a chemical having a high viscosity (high viscosity of 1000 cP or more) by allowing the chemical liquid to be applied while the substrate is floated horizontally, The effect of uniformly applying the chemical solution without flowing down can be obtained.

또한, 본 발명에 따르면, 틸팅된 기판의 하중이 이송부재에 작용하고, 기판의 하중에 의한 마찰력에 의해 기판이 이송부재에 의해 이송되게 하는 것에 의하여, 진공흡착수단과 같은 복잡한 장비없이 기판의 자중을 이용하여 기판을 이송시키는 유리한 효과를 얻을 수 있다.According to the present invention, since the load of the tilted substrate acts on the conveying member and the substrate is conveyed by the conveying member by the frictional force by the load of the substrate, the weight of the substrate without the complicated equipment such as the vacuum suction means It is possible to obtain an advantageous effect of transferring the substrate by using the substrate.

또한, 본 발명에 따르면, 고품질의 약액 도포층을 형성할 수 있으며, 수율을 향상시키는 유리한 효과를 얻을 수 있다.Further, according to the present invention, a high-quality chemical solution coating layer can be formed, and an advantageous effect of improving the yield can be obtained.

도 1은 본 발명에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 도면,
도 2 내지 도 4는 도 1의 기판 처리 장치의 이물질 제거부의 구조 및 이물질 제거 공정을 설명하기 위한 도면,
도 5 내지 도 8은 도 1의 기판 처리 장치의 이물질 제거부의 변형예를 설명하기 위한 도면,
도 9 및 도 10은 도 1의 진동플레이트에 의한 기판의 부상 과정을 설명하기 위한 도면,
도 11 및 도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 도면이다.
1 is a view for explaining a substrate processing apparatus according to the present invention,
FIGS. 2 to 4 are views for explaining the structure and foreign matter removing process of the foreign substance removing unit of the substrate processing apparatus of FIG. 1;
5 to 8 are views for explaining a modified example of the foreign substance removing unit of the substrate processing apparatus of FIG. 1,
9 and 10 are views for explaining the floating process of the substrate by the vibration plate of FIG. 1,
11 and 12 are views for explaining a substrate processing apparatus according to another embodiment of the present invention.

이하 첨부된 도면들을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시예를 상세하게 설명하지만, 본 발명이 실시예에 의해 제한되거나 한정되는 것은 아니다. 참고로, 본 설명에서 동일한 번호는 실질적으로 동일한 요소를 지칭하며, 이러한 규칙 하에서 다른 도면에 기재된 내용을 인용하여 설명할 수 있고, 당업자에게 자명하다고 판단되거나 반복되는 내용은 생략될 수 있다.DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the present invention is not limited to the embodiments. For reference, the same numbers in this description refer to substantially the same elements and can be described with reference to the contents described in the other drawings under these rules, and the contents which are judged to be obvious to the person skilled in the art or repeated can be omitted.

도 1은 본 발명에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 도면이고, 도 2 내지 도 4는 도 1의 기판 처리 장치의 이물질 제거부의 구조 및 이물질 제거 공정을 설명하기 위한 도면이다. 또한, 도 5 내지 도 8은 도 1의 기판 처리 장치의 이물질 제거부의 변형예를 설명하기 위한 도면이고, 도 9 및 도 10은 도 1의 진동플레이트에 의한 기판의 부상 과정을 설명하기 위한 도면이다.FIG. 1 is a view for explaining a substrate processing apparatus according to the present invention, and FIGS. 2 to 4 are views for explaining a structure of a foreign substance removing unit and a foreign substance removing process of the substrate processing apparatus of FIG. 5 to 8 are views for explaining a modified example of the foreign substance removing unit of the substrate processing apparatus of FIG. 1, and FIGS. 9 and 10 are views for explaining a floating process of the substrate by the vibration plate of FIG. 1 to be.

도 1 내지 도 9를 참조하면, 본 발명에 따른 피처리 기판(10)에 대한 약액 도포 공정을 처리하는 기판 처리 장치(1)는, 초음파에 의한 진동 에너지를 이용하여 기판을 부상시킨 상태로 이송하는 기판이송부(100)와, 기판의 표면에 약액을 도포하는 약액 도포 유닛(300)과, 약액 도포 유닛(300)과 이격되게 배치되며 기판이 약액 도포 유닛(300)에 도달하기 전에 먼저 기판의 하부에 존재하는 이물질(G)을 제거하는 이물질 제거부(200)를 포함한다.1 to 9, a substrate processing apparatus 1 for processing a chemical liquid applying process for a substrate to be processed 10 according to the present invention transfers substrate in a floating state using vibration energy by ultrasonic waves, A chemical liquid application unit 300 for applying a chemical liquid to the surface of the substrate and a chemical liquid application unit 300 which are disposed apart from each other and before the substrate reaches the chemical liquid application unit 300, And a foreign substance removing unit 200 for removing the foreign substance G existing in the lower part of the body.

기판이송부(100)는 초음파에 의한 진동 에너지를 이용하여 기판을 부상시킨 상태로 이송시킨다.The substrate transfer unit 100 transfers the substrate in a floating state using the vibration energy by ultrasonic waves.

보다 구체적으로, 기판이송부(100)는, 기판이 로딩되는 로딩영역(102)과, 약액 도포 유닛(300)에 의해 약액이 도포되는 약액도포영역(104)과, 약액이 도포된 기판이 언로딩되는 언로딩영역(106)을 포함한다.More specifically, the substrate transfer section 100 includes a loading region 102 where the substrate is loaded, a chemical solution application region 104 to which the chemical solution is applied by the chemical solution application unit 300, Loading region 106 to be loaded.

세정 처리 유닛에서 세정 공정이 완료된 기판(10)은 로딩영역(102)을 따라 약액도포영역(104)으로 이송되고, 약액도포영역(104)으로 이송된 기판의 표면에는 약액이 도포된다. 그 후, 약액이 도포된 기판은 언로딩영역(106)을 따라 이송되는 동안 가열 건조 유닛에 의해 가열됨에 따라 약액이 건조된다.The substrate 10 having been subjected to the cleaning process in the cleaning processing unit is transferred to the chemical solution application region 104 along the loading region 102 and the chemical solution is applied to the surface of the substrate transferred to the chemical solution application region 104. Thereafter, the substrate to which the chemical liquid is applied is heated by the heat drying unit while being transported along the unloading area 106, so that the chemical liquid is dried.

기판이송부(100)는 초음파에 의한 진동 에너지를 이용하여 기판을 부상시킨 상태로 이송시킬 수 있는 다양한 구조로 제공될 수 있다. 일 예로, 기판이송부(100)는, 기판의 이송 경로를 따라 배치되는 진동플레이트(110)와, 진동플레이트(110)에 의해 부상된 기판을 이송시키는 이송부재를 포함한다.The substrate transfer unit 100 may be provided with various structures capable of transferring the substrate in a floating state by using vibration energy by ultrasonic waves. In one example, the substrate transfer section 100 includes a vibration plate 110 disposed along a transfer path of the substrate and a transfer member for transferring the substrate floating by the vibration plate 110.

진동플레이트(110)는 기판(10)의 이송 경로를 따라 배치되며, 초음파에 의한 진동 에너지를 이용하여 기판(10)을 부상시키기 위해 마련된다.The vibrating plate 110 is disposed along the conveying path of the substrate 10 and is provided to float the substrate 10 using the vibration energy by ultrasonic waves.

여기서, 기판(10)이 부상된다 함은, 기판(10)이 소정 간격을 두고 공중에 띄워진 상태를 의미하며, 진동플레이트(110)의 상부에 부상된 기판(10)은 이송 레일(122)을 따라 직선 이동하는 이송부재(120)에 의해 이송된다.Here, the substrate 10 floats means that the substrate 10 is floating in the air at a predetermined interval, and the substrate 10 floated on the vibration plate 110 is transported to the transport rail 122, And is conveyed by a conveying member 120 which moves linearly along the conveying direction.

진동플레이트(110)는 사각 플레이트 형상으로 형성되며, 진동플레이트(110)의 저면에는 초음파를 발진하여 진동플레이트(110)를 가진시키는 가진기가 장착된다.The vibrating plate 110 is formed in the shape of a square plate, and a vibrator is mounted on the bottom surface of the vibrating plate 110 to generate ultrasonic waves and to have the vibrating plate 110.

이송부재(120')는 이송 레일(122)을 따라 직선 이동하도록 구성될 수 있다. 가령, 이송 레일(122)은 N극과 S극의 영구 자석이 교대로 배열되고, 이송부재(120')의 코일에 인가되는 전류 제어에 의하여 정교한 위치 제어가 가능한 리니어 모터의 원리로 구동될 수 있다. The conveying member 120 'may be configured to move linearly along the conveying rail 122. For example, the transferring rail 122 can be driven by the principle of a linear motor that alternately arranges the N-pole and S-pole permanent magnets alternately and can control the position precisely by controlling the current applied to the coil of the transfer member 120 ' have.

약액 도포 유닛(300)은, 기판(10)이 진동플레이트(110)의 상부에 부상된 상태로 이동하는 동안, 기판(10)의 표면에 약액(PR)을 도포하도록 마련된다.The chemical solution applying unit 300 is provided to apply the chemical solution PR to the surface of the substrate 10 while the substrate 10 is moved on the upper surface of the vibration plate 110 in a floating state.

여기서, 약액 도포 유닛(300)에 의해 약액이 도포되는 영역은 피처리 기판(10)의 전체 표면일 수도 있고, 다수의 셀 영역으로 분할된 부분일 수도 있다.Here, the region to which the chemical liquid is applied by the chemical liquid application unit 300 may be the entire surface of the substrate 10 to be processed or may be a portion divided into a plurality of cell regions.

구체적으로, 약액 도포 유닛(300)은 기판(10)의 이송 경로 양측에 설치되는 겐트리에 결합되어 기판(10)의 표면에 약액을 도포하도록 구비되되, 중간위치영역(Z3)에 배치되어 중간위치영역(Z3) 상에서 기판(10)의 표면에 약액을 도포한다.Specifically, the chemical solution applying unit 300 is provided to apply chemical solution to the surface of the substrate 10, which is coupled to a gantry provided on both sides of the transfer path of the substrate 10, and is disposed in the intermediate position zone Z3, The chemical solution is applied on the surface of the substrate 10 on the region Z3.

약액 도포 유닛(300)의 저단부에는 기판(10)의 너비와 대응하는 길이의 슬릿 노즐이 형성되며, 슬릿 노즐의 노즐 립(lip)(310)은 기판이송부(100)의 약액도포영역(104) 상에 배치되어, 약액도포영역(104) 상에서 기판(10)의 표면에 약액을 도포한다. A slit nozzle having a length corresponding to the width of the substrate 10 is formed at the lower end of the chemical solution applying unit 300 and the nozzle lip 310 of the slit nozzle is provided in the chemical solution applying region 104), and the chemical liquid is applied to the surface of the substrate 10 on the chemical liquid application region 104.

아울러, 약액 도포 유닛(300)에는 예비토출장치(미도시)가 구비되며, 예비토출장치는 슬릿 노즐을 통해 기판(10)상에 약액을 도포하기 직전에 슬릿 노즐 토출구 측에 잔류되어 있는 도포액을 탈락시킴과 아울러 차후 양호한 도포를 위해 토출구를 따라 약액 비드층을 미리 형성할 수 있다.In addition, the chemical solution applying unit 300 is provided with a preliminary ejection device (not shown), and the preliminary ejection device ejects the coating liquid remaining on the side of the slit nozzle ejection opening just before applying the chemical liquid on the substrate 10 through the slit nozzle And a chemical liquid bead layer may be formed along the discharge port in advance for good application.

도 2 내지 도 4를 참조하면, 이물질 제거부(200)는 약액 도포 유닛(300)과 소정 거리(L1)만큼 이격되게 배치되며, 기판이 약액 도포 유닛(300)에 도달하기 전에 먼저 기판의 하부에 존재하는 이물질(G)을 제거하기 위해 마련된다.2 to 4, the foreign material removing unit 200 is disposed apart from the chemical liquid applying unit 300 by a predetermined distance L 1, and before the substrate reaches the chemical liquid applying unit 300, (G) existing in the exhaust gas.

참고로, 본 발명에서 기판이 약액 도포 유닛(300)에 도달하기 전에 먼저 기판의 하부에 존재하는 이물질(G)을 제거한다 함은, 기판이 약액 도포 유닛(300)의 하부(약약 도포 시작 지점)까지 이동하기 전에 기판의 하부에 존재하는 이물질(G)이 제거하는 것으로, 다시 말해서, 이물질(G)이 먼저 제거된 후 소정 시간차를 두고 기판이 약액 도포 유닛(300)의 하부에 도달하는 것으로 정의된다.In the present invention, the foreign substance G existing in the lower portion of the substrate is removed before the substrate reaches the chemical solution applying unit 300, so that the substrate is immersed in the lower portion of the chemical solution applying unit 300 The foreign substance G existing in the lower portion of the substrate is removed before the foreign substance G is moved to the lower portion of the chemical solution applying unit 300. That is, Is defined.

또한, 본 발명에서 이물질(G)이라 함은, 기판의 하부에 존재하는 비고착성을 이물질(G), 다시 말해서 기판의 하부에 고착(고정)되지 않고 이동할 수 있는 이물질(G)을 의미한다. 특히, 도 4와 같이, 이물질 제거부(200)는, 기판의 부상 높이(H1)보다 큰 크기(H2)를 가지며, 기판이 이송됨에 따라 기판에 의해 쓸려 이동 가능한 이물질(G)을 제거하는 것을 목적으로 한다. 일 예로, 기판은 초음파 진동 에너지에 의해 진동플레이트(110)의 상부에 30~50㎛의 부상 높이(H1)로 부상될 수 있는 바, 기판의 부상 높이(H1)가 30㎛인 경우에는, 이물질 제거부(200)가 30㎛보다 큰 크기의 이물질(G)을 제거하도록 구성된다.In the present invention, a foreign substance G means a foreign substance G existing in the lower part of the substrate, which can move without being fixed (fixed) to the lower part of the substrate. Particularly, as shown in FIG. 4, the foreign substance removing unit 200 has a size (H2) larger than the floating height H1 of the substrate, and removes foreign matter G removable by the substrate as the substrate is transferred The purpose. For example, the substrate can be lifted at a floating height H1 of 30 to 50 mu m at the top of the vibration plate 110 by ultrasonic vibration energy. When the floating height H1 of the substrate is 30 mu m, The removing unit 200 is configured to remove foreign matter G having a size larger than 30 mu m.

이와 같이, 본 발명은 기판의 하부에 배치된 이물질(G)이 약액 도포 유닛(300)에 도달하기 전에 먼저 이물질 제거부(200)에 의해 제거되도록 하는 것에 의하여, 약액이 도포되는 약액 도포 유닛(300)의 하부에서 기판의 부상 높이를 일정하게 유지시킴으로써, 약액을 균일하게 도포하는 효과를 얻을 수 있다.As described above, according to the present invention, the foreign substance (G) disposed at the lower portion of the substrate is removed by the foreign substance removing unit 200 before reaching the chemical agent applying unit 300, so that the chemical agent applying unit 300, the effect of uniformly applying the chemical liquid can be obtained by keeping the floating height of the substrate constant.

더욱이, 기판의 부상 높이보다 큰 크기의 비고착성 이물질(G)은 기판이 이송됨에 따라 기판에 의해 쓸려지며 이동하게 되는데, 약액 도포 유닛(300)의 하부에서 이물질(G)이 주변 간섭(이물질(G)의 크기만큼 비정상적으로 높게 부상된 기판이 약액 도포 유닛(300)의 노즐 립에 접촉됨에 따른 간섭)에 의해 정지되면, 고정된 이물질(G)에 대해 기판이 접촉된 상태로 이동함에 따라 기판에 스크레치 및 데미지가 발생할 뿐만 아니라, 기판과 약액 도포 유닛(300)의 비정상적인 접촉에 의해 약액 도포 유닛(300)의 노즐 립이 손상되는 문제점이 있다. 하지만, 본 발명에서는 기판 하부의 이물질(G)이 약액 도포 유닛(300)에 도달하기 전에 먼저 이물질 제거부(200)에 의해 제거되도록 하는 것에 의하여, 이물질(G)에 의한 기판 및 장비(약액 도포 유닛)의 손상을 방지하는 효과를 얻을 수 있다.Further, the non-sticking foreign matter G having a size larger than the floating height of the substrate is swept away and moved by the substrate as the substrate is transported. In the lower portion of the chemical solution dispensing unit 300, G) is interrupted due to the contact of the substrate floating abnormally with the nozzle lip of the chemical liquid application unit 300), as the substrate moves in contact with the fixed foreign substance G, There is a problem that the nozzle lip of the chemical solution applying unit 300 is damaged due to abnormal contact between the substrate and the chemical solution applying unit 300. [ However, in the present invention, since the foreign substance G under the substrate is removed by the foreign substance removing unit 200 before reaching the chemical liquid applying unit 300, the substrate and the equipment Unit) can be prevented from being damaged.

이물질 제거부(200)는 기판 하부의 이물질(G)을 제거 가능한 다양한 구조로 형성될 수 있다. 일 예로, 이물질 제거부(200)는 진동플레이트(110)에 형성되며 이물질(G)이 배출되는 배출홀(202)(또는 배출홈)일 수 있다. 바람직하게 배출홀(202)은 제거하고자 하는 제거 대상 이물질(G)의 크기보다 큰 크기(직경 또는 폭)을 갖도록 형성된다.The foreign substance removing unit 200 may have various structures that can remove the foreign substances G under the substrate. For example, the foreign substance removing unit 200 may be a discharge hole 202 (or a discharge groove) formed in the vibration plate 110 and discharging the foreign matter G therefrom. Preferably, the discharge hole 202 is formed to have a size (diameter or width) larger than that of the foreign object G to be removed.

아울러, 배출홀(202)은 기판 하부의 이물질(G)을 배출할 수 있는 다양한 형태로 형성될 수 있다. 바람직하게, 배출홀(202)을 기판이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 연속적인 슬릿 형태로 형성하는 것에 의하여, 기판의 하부에 존재하는 이물질(G)을 빠짐없이 효과적으로 제거하는 효과를 얻을 수 있다. 참고로, 배출홀(202)이 연속적인 슬릿 형태로 형성된다 함은, 배출홀(202)이 직선 슬릿 형태 또는 곡선 슬릿 형태로 형성되는 것을 모두 포함하는 개념으로 이해된다.In addition, the discharge hole 202 may be formed in various forms to discharge foreign matter G under the substrate. Preferably, the discharge hole 202 is formed in a continuous slit shape along the direction perpendicular to the direction in which the substrate is transported, thereby effectively removing the foreign substances G existing in the lower portion of the substrate have. Note that the discharge hole 202 is formed in a continuous slit shape, it is understood that the discharge hole 202 is formed in a linear slit shape or a curved slit shape.

배출홀(202)은, 기판이 약액 도포 유닛(300)에 도달하기 전에 먼저 기판의 하부에 존재하는 이물질(G)을 제거할 수 있는 다양한 위치에 형성될 수 있다.The discharge hole 202 may be formed at various positions where the substrate G can be removed from the lower portion of the substrate G before the chemical substance dispensing unit 300 is reached.

일 예로, 도 3을 참조하면, 이물질 제거부(200)(배출홀)는 로딩영역(102)과 약액도포영역(104)의 경계에 형성된다. 기판이 로딩영역(102)을 거쳐 약액도포영역(104)으로 이송되는 동안 기판 하부에 존재하는 이물질(G)은 기판에 의해 쓸려 이동하면서, 로딩영역(102)과 약액도포영역(104)의 경계에 형성된 배출홀(202)을 통해 배출된다.3, the foreign substance removing unit 200 (discharge hole) is formed at the boundary between the loading area 102 and the chemical solution application area 104. In the example shown in FIG. While the substrate is being transferred to the chemical solution application area 104 via the loading area 102, As shown in FIG.

다른 일 예로, 도 5를 참조하면, 배출홀(202)은 로딩영역(102) 상에 형성될 수 있다. 배출홀(202)은 로딩영역(102) 상에 배치되는 복수개의 진동플레이트(110) 중 어느 하나에 형성될 수 있다. 기판이 로딩영역(102)을 따라 이송되는 동안 기판 하부에 존재하는 이물질(G)은 기판에 의해 쓸려 이동하면서, 로딩영역(102)에 형성된 배출홀(202)을 통해 배출된다.As another example, referring to FIG. 5, a discharge hole 202 may be formed on the loading area 102. The discharge hole 202 may be formed in any one of the plurality of vibration plates 110 disposed on the loading area 102. While the substrate is being transported along the loading region 102, the foreign substance G present in the lower portion of the substrate is swept away by the substrate and is discharged through the discharge hole 202 formed in the loading region 102.

바람직하게, 배출홀(202)을 약액도포영역(104)에 최대한 인접하게 로딩영역(102)의 단부에 형성하는 것에 의하여, 배출홀(202)과 약액도포영역(104)의 사이에 이물질(G)이 잔류하는 것을 방지하는 효과를 얻을 수 있다.It is preferable that the foreign material G (e.g., G) is formed between the discharge hole 202 and the chemical solution application region 104 by forming the discharge hole 202 at the end of the loading region 102 as close as possible to the chemical solution application region 104 Can be prevented from remaining.

참고로, 본 발명의 실시예에서는 로딩영역(102)에 배치된 복수개의 진동플레이트(110) 중 어느 하나에만 배출홀(202)이 형성된 예를 들어 설명하고 있지만, 경우에 따라서는 로딩영역에 배치된 복수개의 진동플레이트 중 2개 이상의 진동플레이트에 각각 배출홀을 형성하는 것도 가능하다. For reference, in the embodiment of the present invention, the discharge hole 202 is formed in only one of the plurality of vibration plates 110 disposed in the loading area 102. However, in some cases, It is also possible to form discharge holes in two or more of the plurality of vibration plates.

또 다른 일 예로, 도 6을 참조하면, 배출홀(202)은 약액도포영역(104)에 구비되되, 약액 도포 유닛(300)보다 먼저 기판에 근접하도록 약액 도포 유닛(300)에 이격되게 배치된다. 기판이 로딩영역(102)을 거쳐 약액도포영역(104)으로 이송되는 동안 기판 하부에 존재하는 이물질(G)은 기판에 의해 쓸려 이동하면서, 약액도포영역(104)의 경계에 형성된 배출홀(202)을 통해 배출된다.6, the discharge hole 202 is provided in the chemical solution application region 104 so as to be spaced apart from the chemical solution application unit 300 so as to be closer to the substrate before the chemical solution application unit 300 . The foreign substance G existing in the lower portion of the substrate while being swept away by the substrate while the substrate is being transferred to the chemical solution application region 104 via the loading region 102 is discharged through the discharge hole 202 formed at the boundary of the chemical solution application region 104 .

다르게는, 도 7 및 도 8과 같이, 기판(10)이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 이격되게 복수개의 배출홀(202')을 형성하는 것도 가능하다.Alternatively, as shown in FIGS. 7 and 8, it is also possible to form a plurality of discharge holes 202 'so as to be spaced along a direction perpendicular to the direction in which the substrate 10 is conveyed.

일 예로, 도 7을 참조하면, 기판(10)이 약액 도포 유닛(300)에 도달하기 전에 먼저 기판(10)의 하부에 존재하는 이물질(G)을 제거할 수 있는 위치(로딩영역과 약액도포영역의 경계, 로딩영역, 약액도포영역)에는, 기판(10)이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 이격되게 복수개의 배출홀(202')이 1열 구조를 이루도록 형성될 수 있다.7, before the substrate 10 reaches the chemical solution dispensing unit 300, a position where the foreign substance G existing in the lower part of the substrate 10 can be removed (a loading area and a chemical solution application A plurality of discharge holes 202 'may be formed in a single row structure so as to be spaced along a direction perpendicular to the direction in which the substrate 10 is conveyed.

다른 일 예로, 도 8을 참조하면, 기판(10)이 약액 도포 유닛(300)에 도달하기 전에 먼저 기판(10)의 하부에 존재하는 이물질(G)을 제거할 수 있는 위치에는, 기판(10)이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 이격되게 복수개의 배출홀(202')이 2열 구조를 이루도록 형성될 수 있다. 구체적으로, 배출홀(202')은, 기판(10)이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 제1열을 이루도록 이격되게 배치되는 복수개의 제1배출홀(202a')과, 제1열로부터 이격된 제2열을 이루도록 배치되되 기판(10)이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 제1배출홀(202a')과 교호적으로 배치되는 복수개의 제2배출홀(202b')을 포함하는 것에 의하여, 기판(10)의 하부에 존재하는 이물질(G)을 빠짐없이 효과적으로 제거하는 효과를 얻을 수 있다.8, before the substrate 10 reaches the chemical solution dispensing unit 300, the substrate 10 may be removed from the substrate 10 at a position where the foreign substance G existing in the lower portion of the substrate 10 may be removed first. The plurality of discharge holes 202 'may be formed to have a two-row structure so as to be spaced apart from each other in a direction perpendicular to the conveying direction. Specifically, the discharge hole 202 'includes a plurality of first discharge holes 202a' arranged to be spaced apart from each other so as to form a first row along a direction perpendicular to the direction in which the substrate 10 is fed, And a plurality of second discharge holes 202b 'arranged alternately with the first discharge holes 202a' along the direction perpendicular to the direction in which the substrate 10 is conveyed, It is possible to obtain an effect of effectively and effectively eliminating the foreign substances G existing in the lower portion of the substrate 10.

한편, 기판(10)이 이송되는 방향에 수직한 진동플레이트(110)의 제1폭(수직 방향 폭)(W1)은 기판(10)이 이송되는 방향에 수직한 기판(10)의 제2폭(수직 방향 폭)(W2)보다 크거나 같게 형성되며, 기판(10)의 제2폭(W2)은 진동플레이트(110)의 제1폭(W1)의 영역 내에 위치한다.The first width (vertical width) W1 of the vibration plate 110 perpendicular to the direction in which the substrate 10 is conveyed is a width of the substrate 10 perpendicular to the direction in which the substrate 10 is conveyed, And the second width W2 of the substrate 10 is located in the region of the first width W1 of the vibrating plate 110. In this case,

이와 같이, 진동플레이트(110)의 제1폭(W1)을 기판(10)의 제2폭(W2)보다 크거나 같게 형성하는 것에 의하여, 진동플레이트(110)에 의해 기판(10)에 작용하는 진동 에너지를 보다 균일하게 조절하고, 기판(10)의 부상력을 보다 정교하게 조절하는 효과를 얻을 수 있다.By forming the first width W1 of the vibration plate 110 to be equal to or greater than the second width W2 of the substrate 10 as described above, The vibration energy can be controlled more uniformly and the floating force of the substrate 10 can be adjusted more precisely.

다시 설명하면, 진동플레이트(110)가 일정 이상 큰 크기(예를 들어, 기판(10)보다 큰 면적)로 형성되면, 진동플레이트(110)의 전면에 걸쳐 진동 에너지를 균일하게 유지하기 어렵기 때문에 기판(10)의 부상력을 정교하게 조절하기 어렵다. 반면, 진동플레이트(110)가 작은 크기로 형성되면, 진동플레이트(110)의 전면에 걸쳐 진동 에너지를 균일하게 유지시키는데 유리하지만, 각 진동플레이트(110)의 진동 조건을 서로 완벽하게 일치시키기 어렵기 때문에, 기판(10)이 각 진동플레이트(110)의 사이 간극을 통과하는 동안 각 진동플레이트(110)의 진동 편차에 의해 미세한 떨림(terminal effect)이 발생하는 문제가 있다.In other words, if the vibration plate 110 is formed to have a size larger than a predetermined size (for example, an area larger than the substrate 10), it is difficult to uniformly maintain the vibration energy over the entire surface of the vibration plate 110 It is difficult to precisely adjust the floating force of the substrate 10. On the other hand, when the vibration plate 110 is formed to have a small size, it is advantageous to uniformly maintain the vibration energy over the entire surface of the vibration plate 110, but it is difficult to perfectly match the vibration conditions of the vibration plates 110 Therefore, there is a problem that a terminal effect is generated due to the vibration deviation of each vibration plate 110 while the substrate 10 passes through the gap between the vibration plates 110.

이에 본 발명은, 기판(10)이 이송되는 방향에 수직한 진동플레이트(110)의 제1폭(수직 방향 폭)(W1)을 기판(10)이 이송되는 방향에 수직한 기판(10)의 제2폭(수직 방향 폭)(W2)보다 크거나 같게 형성하고, 진동플레이트(110)를 기판(10)이 이송되는 방향을 따라 횡대로 이격되게 배치하는 것에 의하여, 기판(10)이 이송되는 동안 기판(10)의 제2폭(W2) 방향을 따라서 기판(10)에는 단 하나의 진동플레이트(110)에 의한 진동에너지만이 작용되게 함으로써, 기판(10)에 작용하는 진동 에너지를 균일하게 조절할 수 있고, 기판(10)의 부상 높이를 정교하게 제어하는 효과를 얻을 수 있다.The present invention is characterized in that the first width (vertical width) W1 of the vibration plate 110 perpendicular to the direction in which the substrate 10 is conveyed is perpendicular to the direction in which the substrate 10 is conveyed And the vibration plate 110 is arranged so as to be spaced apart in the lateral direction along the direction in which the substrate 10 is conveyed so that the substrate 10 is conveyed Only the vibration energy of the single vibration plate 110 is applied to the substrate 10 along the direction of the second width W2 of the substrate 10 to uniformly apply the vibration energy acting on the substrate 10 And the effect of finely controlling the floating height of the substrate 10 can be obtained.

물론, 진동플레이트(110)의 제1폭(수직 방향 폭)을 기판(10)의 제2폭(수직 방향 폭)보다 작게 형성하고 복수개의 진동플레이트(110)를 기판(10)이 이송되는 방향에 수직한 종대로 이격되게 배치하는 것도 가능하지만, 이 경우에는 기판(10)의 제2폭(수직 방향 폭)(W2) 방향을 따른 진동 편차에 의한 떨림(terminal effect)과, 기판(10)의 제1폭(수평 방향 폭)(W2') 방향을 따른 진동 편차에 의한 떨림이 모두 기판(10)에 작용하기 때문에, 기판(10)에 가해하는 진동 에너지를 균일하게 조절하기 어려울 수 있다. 하지만, 본 발명에서는 기판(10)의 제2폭 방향(W2)을 따라서 기판(10)에는 단 하나의 진동플레이트(110)에 의한 진동에너지만이 작용되도록 하는 것에 의하여, 기판(10)의 제2폭(수직 방향 폭) 방향을 따른 진동 편차에 의한 떨림을 방지하고, 기판(10)에 가해하는 진동 에너지를 균일하게 조절하는 유리한 효과를 얻을 수 있다.Of course, the first width (vertical width) of the vibration plate 110 may be smaller than the second width (vertical width) of the substrate 10 and the plurality of vibration plates 110 may be arranged in a direction In this case, the terminal effect due to the vibration deviation along the second width (the width in the vertical direction) W2 of the substrate 10, It is difficult to uniformly control the vibration energy applied to the substrate 10 because all the vibration due to the vibration deviation along the first width (the width in the horizontal direction) W2 'of the substrate 10 acts on the substrate 10. [ In the present invention, however, only the vibration energy by the single vibration plate 110 is applied to the substrate 10 along the second width direction W2 of the substrate 10, It is possible to obtain a favorable effect of preventing the vibration due to the vibration deviation along the second width (vertical width direction) and uniformly controlling the vibration energy applied to the substrate 10. [

또한, 기판(10)의 제1폭(W2') 방향을 따라서는 각 진동플레이트(110)의 사이 간극에 의해 터미널 이펙트(terminal effect)가 발생할 수 있으나, 기판(10)의 제1폭(W2') 방향(이송 방향)을 따른 터미널 이펙트는 기판(10)의 제1폭(W2') 방향을 따라 규칙적으로 발생되기 때문에 기판(10) 표면 전체에 평균화된 터미널 이펙트로 적용하는 것이 가능하다.A terminal effect may occur due to the gap between the vibration plates 110 along the first width W2 'of the substrate 10, but the first width W2 of the substrate 10 ') Direction (transfer direction) is regularly generated along the first width W2' direction of the substrate 10, it is possible to apply the terminal effect as an averaged terminal effect across the surface of the substrate 10.

한편, 진동플레이트(110)는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 다양한 조건으로 배치될 수 있다.On the other hand, the vibration plate 110 can be arranged in various conditions according to required conditions and design specifications.

일 예로, 도 9를 참조하면, 진동플레이트(110)는 수평면에 수평하게 배치되고, 기판(10)은 진동플레이트(110)에 평행하게 부상될 수 있다.9, the vibration plate 110 is horizontally disposed on the horizontal plane, and the substrate 10 can be floated parallel to the vibration plate 110. In this case,

여기서, 수평면(horizontal plane)이라 함은, 중력 방향에 대해 수직인 평면(또는 지평면)을 의미한다.Here, the horizontal plane means a plane (or a horizon plane) perpendicular to the gravity direction.

진동플레이트(110)는 약액 도포 공정중에 약액의 흘러 내림을 방지하고, 약액이 균일하게 도포될 수 있도록 기판(10)을 수평하게 부상시킨다. 이와 같이, 기판(10)은 수평하게 부상되기 때문에, 기판(10)의 표면에 중점도 또는 저점도 약액을 도포하는 것이 가능하다. 일 예로, 기판(10)에는 100 cP(centi-poise)의 중점도 특성을 갖는 약액이 도포될 수 있다.The vibration plate 110 prevents the chemical liquid from flowing down during the chemical liquid applying process, and floats the substrate 10 horizontally so that the chemical liquid can be uniformly applied. As described above, since the substrate 10 floats horizontally, it is possible to coat the surface of the substrate 10 with a medium viscosity or low viscosity chemical liquid. For example, the substrate 10 may be coated with a chemical solution having a centripetal characteristic of 100 cP (centi-poise).

다시 말해서, 기판(10)이 수평면에 대해 경사지게 부상된 상태에서 기판(10)의 표면에 중점도(100 cP) 약액을 도포하면 약액이 흘러내려 기판(10)의 표면에 약액이 균일하게 도포되기 어려운 문제점이 있다. 하지만, 본 발명에서는 기판(10)이 수평하게 부상되기 때문에, 중점도 약액을 사용하더라도 약액이 흘러내림 없이 균일하게 도포될 수 있다.In other words, if a medium viscosity (100 cP) chemical solution is applied to the surface of the substrate 10 in a state where the substrate 10 is lifted up with respect to a horizontal plane, the chemical solution flows down and the chemical solution is uniformly applied to the surface of the substrate 10 There is a difficult problem. However, in the present invention, since the substrate 10 floats horizontally, the chemical liquid can be uniformly applied without flowing down even when the medium viscosity liquid is used.

참고로, 본 발명의 실시예에서는 중점도(100 cP) 약액이 사용되는 예를 들어 설명하고 있지만, 경우에 따라서는 100 cP보다 낮은 점도의 저점도 약액을 사용하거나, 1000 cP 이상의 고점도 특성을 갖는 약액을 사용하는 것이 가능하며, 고점도 약액을 사용하는 조건에서는 기판을 수평면에 대해 경사지게 부상시킨 상태에서 약액을 균일하게 도포할 수 있다.For reference, in the embodiment of the present invention, a medium viscosity (100 cP) chemical liquid is used. However, in some cases, a low viscosity liquid having a viscosity lower than 100 cP is used, or a low viscosity liquid having a viscosity of 1000 cP or more It is possible to use the chemical liquid and to uniformly apply the chemical liquid in a state in which the substrate is levitated with respect to the horizontal plane under the condition of using the high viscosity chemical liquid.

다른 일 예로, 도 10을 참조하면, 진동플레이트(110)는 기판(10)의 진행 방향을 따른 일측변(진행 방향을 따른 좌측변 또는 우측변)을 중심으로 수평면에 경사지게 배치되고, 기판(10)은 진동플레이트(110)에 평행하게 부상된다.10, the vibration plate 110 is disposed obliquely to a horizontal plane around one side (a left side or a right side along a moving direction) along the traveling direction of the substrate 10, and the substrate 10 Is lifted in parallel with the vibration plate 110. [

수평면에 대한 진동플레이트(110)의 틸팅(tilting) 각도(경사지게 부상된 기판(10)의 틸팅 각도)는 요구되는 조건 및 설계 사양에 따라 적절히 변경될 수 있으며, 진동플레이트(110)의 틸팅 각도에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다.The tilting angle of the vibration plate 110 with respect to the horizontal plane (tilting angle of the inclined substrate 10) can be appropriately changed according to the required conditions and design specifications, and the tilting angle of the vibration plate 110 The present invention is not limited thereto.

아울러, 기판(10)의 틸팅 각도는 약액(예를 들어, 1000 cP 이상의 고점도 약액)의 흘러 내림을 방지할 수 있는 범위 내에서 자유롭게 설정될 수 있다. 일 예로, 진동플레이트(110)에 의한 기판(10)의 틸팅 각도(θ)는 2°로 설정될 수 있다.In addition, the tilting angle of the substrate 10 can be set freely within a range that can prevent the flow of a chemical liquid (for example, a high viscosity chemical liquid of 1000 cP or more). As an example, the tilting angle [theta] of the substrate 10 by the vibration plate 110 can be set to 2 [deg.].

또한, 기판 처리 장치(1)는, 수평면에 대해 경사지게 틸팅된 기판(10)의 일측변을 지지하며 기판(10)을 이송시키는 이송부재(120')를 포함할 수 있으며, 진동플레이트(110)로부터 부상된 기판(10)은 일측변이 이송부재(120')에 의해 지지(접촉)된 상태로 이송부재(120')가 이동함에 따라 이송될 수 있다.The substrate processing apparatus 1 may include a transfer member 120 'that supports one side of the substrate 10 inclined and tilted with respect to a horizontal plane and transfers the substrate 10, The substrate 10 lifted from the transfer member 120 'can be transferred as the transfer member 120' moves while one side is supported (contacted) by the transfer member 120 '.

여기서, 틸팅된 상태의 기판(10)의 일측변이 이송부재(120')에 지지(접촉)된다 함은, 기판(10)의 하중(W)이 기판(10)의 일측변을 통해 이송부재(120')에 작용하는 것으로 정의된다.Here, the one side of the substrate 10 in a tilted state is supported (contacted) with the transfer member 120 'by the fact that the load W of the substrate 10 is transferred to the transfer member 120 ').

이송부재(120')는 틸팅된 기판(10)의 일측변을 지지 가능한 다양한 구조로 형성될 수 있다. 참고로, 본 발명의 실시예에서는 이송부재(120')가 틸팅된 기판(10)의 일측변에 면접촉하는 예를 들어 설명하고 있지만, 경우에 따라서는 이송부재가 기판의 일측변에 선접촉하거나 국부적으로 접촉하도록 구성되는 것도 가능하다.The transfer member 120 'may be formed in various structures capable of supporting one side of the tilted substrate 10. For reference, in the embodiment of the present invention, the example in which the conveying member 120 'is in surface contact with one side of the tilted substrate 10 is described, but in some cases, the conveying member may be in line contact with one side of the substrate Or may be configured to be in contact locally.

일 예로, 이송부재(120')는 이송 레일(122)을 따라 직선 이동하도록 구성될 수 있다. 가령, 이송 레일(122)은 N극과 S극의 영구 자석이 교대로 배열되고, 이송부재(120')의 코일에 인가되는 전류 제어에 의하여 정교한 위치 제어가 가능한 리니어 모터의 원리로 구동될 수 있다. In one example, the transfer member 120 'may be configured to move linearly along the transfer rail 122. For example, the transferring rail 122 can be driven by the principle of a linear motor that alternately arranges the N-pole and S-pole permanent magnets alternately and can control the position precisely by controlling the current applied to the coil of the transfer member 120 ' have.

이와 같이, 본 발명은 틸팅된 기판(10)의 하중(W)이 이송부재(120')에 작용하고, 기판(10)의 하중(W)에 의한 마찰력에 의해 기판(10)이 이송부재(120')에 의해 이송되게 하는 것에 의하여, 진공흡착수단과 같은 복잡한 장비없이 기판(10)의 자중(W)을 이용하여 기판(10)을 이송시키는 유리한 효과를 얻을 수 있다.As described above, according to the present invention, the load W of the tilted substrate 10 acts on the transfer member 120 ', and the substrate 10 is moved by the friction force of the load W of the substrate 10, 120 ', it is possible to obtain an advantageous effect of transferring the substrate 10 using the weight W of the substrate 10 without complicated equipments such as the vacuum adsorption means.

더욱이, 본 발명에서는 기판(10)의 하중(W)을 이용하여 기판(10)을 이송부재(120')에 구속(마찰력을 이용하여 상대 이동 구속)하기 때문에, 다시 말해서, 복잡한 제어 공정(예를 들어, 진공 압력 조절 공정)을 거치지 않고 기판(10)의 일측변을 이송부재(120')에 지지시키는 것에 의하여 이송부재(120')와 기판(10)을 구속할 수 있기 때문에, 구조 및 처리 공정을 간소화하는 유리한 효과를 얻을 수 있다.Further, in the present invention, since the substrate 10 is restrained (relative movement restrained by using a frictional force) to the transfer member 120 'by using the load W of the substrate 10, in other words, Since it is possible to restrain the transfer member 120 'and the substrate 10 by supporting one side of the substrate 10 on the transfer member 120' without going through the vacuum pressure regulating process, An advantageous effect of simplifying the treatment process can be obtained.

한편, 도 11 및 도 12는 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판 처리 장치를 설명하기 위한 도면이다. 아울러, 전술한 구성과 동일 및 동일 상당 부분에 대해서는 동일 또는 동일 상당한 참조 부호를 부여하고, 그에 대한 상세한 설명은 생략하기로 한다.11 and 12 are views for explaining a substrate processing apparatus according to another embodiment of the present invention. In addition, the same or equivalent portions as those in the above-described configuration are denoted by the same or equivalent reference numerals, and a detailed description thereof will be omitted.

도 11을 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판 처리 장치(1)는, 진동플레이트(110)에 형성되어 이물질(G)을 배출하는 배출홀(202)에 흡입압을 인가하는 흡입압 형성부(210)를 포함할 수 있다.11, the substrate processing apparatus 1 according to another embodiment of the present invention includes a vibration plate 110, a suction pressure applying unit 120 for applying a suction pressure to a discharge hole 202 for discharging a foreign substance G, And may include a forming portion 210.

흡입압 형성부(210)는 배출홀(202)에 흡입압을 인가하여, 이물질(G)이 배출홀(202)에 흡입될 수 있게 함으로써, 기판에 의해 쓸려진 이물질(G)이 보다 효과적으로 배출홀(202)로 배출되게 하는 효과를 얻을 수 있다.The suction pressure forming unit 210 applies the suction pressure to the discharge hole 202 to allow the foreign matter G to be sucked into the discharge hole 202 so that the foreign substance G, It is possible to obtain an effect of discharging it to the hole 202.

더욱이, 배출홀(202)에 흡입압을 인가하는 것에 의하여, 이물질(G)의 배출 특성을 향상 시킬 뿐만 아니라, 기판(10)이 진동플레이트(110)를 따라 이송되는 동안 기판(10)에 흡입압을 인가할 수 있기 때문에, 기판(10)의 떨림 및 요동을 억제하는 효과를 얻을 수 있다.In addition, by applying the suction pressure to the discharge hole 202, not only the discharging characteristic of the foreign substance G is improved but also the suction force of the substrate 10 It is possible to obtain an effect of restraining the substrate 10 from shaking and rocking.

여기서, 기판(10)에 흡입압이 인가된다 함은, 기판(10)의 표면을 빨아들이는 흡입압(부압)에 의해 기판(10)이 지지(움직이지 않게 구속)되는 상태를 의미하고, 기판(10)에 흡입압이 인가된 상태에서는 흡입압에 의한 지지력에 의해 기판(10)의 떨림 및 요동이 최대한 억제될 수 있다.Here, application of the suction pressure to the substrate 10 means that the substrate 10 is supported (unrestricted) by the suction pressure (negative pressure) sucking the surface of the substrate 10, In the state where the suction pressure is applied to the substrate 10, tremor and fluctuation of the substrate 10 can be suppressed to the utmost by the supporting force by the suction pressure.

경우에 따라서는, 기판이 이송되는 방향을 따른 약액 도포 유닛의 전방에 형성된 배출홀을 통해 흡입압을 인가하고, 기판이 이송되는 방향을 따른 약액 도포 유닛의 후방에 흡입압을 인가하는 흡입홀을 형성하는 것에 의하여, 기판에서 약액이 도포되는 지점(노즐 립의 하부)에 인접한 양단 부위가 흡입압에 의해 각각 지지될 수 있게 함으로써, 진동 및 떨림을 보다 효과적으로 억제하는 유리한 효과를 얻을 수 있다.In some cases, a suction pressure is applied through a discharge hole formed in front of a chemical solution applying unit along a direction in which the substrate is fed, and a suction hole for applying a suction pressure to the rear of the chemical solution applying unit along the direction in which the substrate is fed The advantageous effect of more effectively suppressing the vibration and tremble can be obtained by allowing the both end portions adjacent to the point where the chemical liquid is applied on the substrate (the lower portion of the nozzle lip) to be respectively supported by the suction pressure.

도 12를 참조하면, 본 발명의 다른 실시예에 따른 기판 처리 장치(1)는, 기판의 하부에서 이물질(G)을 감지하는 감지센서(220)를 포함할 수 있다.Referring to FIG. 12, the substrate processing apparatus 1 according to another embodiment of the present invention may include a detection sensor 220 for detecting a foreign substance G in the lower portion of the substrate.

감지센서(220)는 이물질 제거부(200)를 통해 제거되지 못한 이물질(G)이 남아 있는지 여부를 감지하고, 이물질(G)의 감지 여부에 따라 선택적으로 약액도포유닛의 작동을 정지(이물질이 감지되면 작동 정지)시키는 것에 의하여, 이물질(G)에 의한 기판 및 약액도포유닛의 손상을 방지하는 효과를 얻을 수 있다.The detection sensor 220 detects whether a foreign substance G that has not been removed is left through the foreign substance removing unit 200 and selectively stops the operation of the chemical substance applying unit depending on whether the foreign substance G is detected It is possible to obtain the effect of preventing damage of the substrate and the chemical solution coating unit by the foreign matter G. [

감지센서(220)로서는 통상의 센서가 사용될 수 있으며, 감지센서(220)의 종류 및 특성에 의해 본 발명이 제한되거나 한정되는 것은 아니다.As the sensing sensor 220, a conventional sensor may be used, and the present invention is not limited or limited by the type and characteristics of the sensing sensor 220.

바람직하게, 감지센서(220)는 약액 도포 유닛(300)과 이격되게 배치되어, 이물질(G)이 약액 도포 유닛(300)에 도달하기 전에 먼저 이물질(G)을 감지한다. 이와 같이, 이물질(G)이 약액 도포 유닛(300)에 도달하기 전에 먼저 이물질(G)을 감지하고, 이물질(G)이 감지되면, 약액도포유닛의 작동을 정지시키는 것에 의하여, 이물질(G)에 의한 기판 및 약액도포유닛의 손상을 효과적으로 방지하는 효과를 얻을 수 있다.Preferably, the sensing sensor 220 is disposed apart from the chemical solution dispensing unit 300 so that the foreign substance G is first sensed before the foreign substance G reaches the chemical solution dispensing unit 300. As described above, the foreign matter G is sensed before the foreign matter G reaches the chemical liquid application unit 300, and when the foreign substance G is sensed, the foreign substance G is stopped by stopping the operation of the chemical solution dispensing unit. It is possible to obtain an effect of effectively preventing damage to the substrate and the chemical solution applying unit by the chemical solution applying unit.

상술한 바와 같이, 본 발명의 바람직한 실시예를 참조하여 설명하였지만 해당 기술분야의 숙련된 당업자라면 하기의 특허청구범위에 기재된 본 발명의 사상 및 영역으로부터 벗어나지 않는 범위 내에서 본 발명을 다양하게 수정 및 변경시킬 수 있음을 이해할 수 있을 것이다.Although the preferred embodiments of the present invention have been disclosed for illustrative purposes, those skilled in the art will appreciate that various modifications, additions and substitutions are possible, without departing from the scope and spirit of the invention as disclosed in the accompanying claims. It will be understood that the present invention can be changed.

1 : 기판 처리 장치 100 : 기판이송부
102 : 로딩영역 104 : 약액도포영역
106 : 언로딩영역 110 : 진동플레이트
120 : 이송부재 200 : 이물질 제거부
202 : 배출홀 210 : 흡입압 형성부
220 : 감지센서 300 : 약액 도포 유닛
1: substrate processing apparatus 100: substrate transferring
102: loading area 104: chemical solution application area
106: unloading area 110: vibrating plate
120: conveying member 200: foreign matter removing unit
202: exhaust hole 210: suction pressure forming portion
220: Detection sensor 300: Chemical solution dispensing unit

Claims (20)

피처리 기판에 대한 약액 도포 공정을 처리하는 기판 처리 장치에 있어서,
초음파에 의한 진동 에너지를 이용하여 기판을 부상시킨 상태로 이송하는 기판이송부와;
상기 기판의 표면에 약액을 도포하는 약액 도포 유닛과;
상기 약액 도포 유닛과 이격되게 배치되며, 상기 기판이 상기 약액 도포 유닛에 도달하기 전에 먼저 상기 기판의 하부에 존재하는 이물질을 제거하는 이물질 제거부를;
포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
A substrate processing apparatus for processing a chemical liquid applying process on a substrate to be processed,
A substrate for transferring a substrate in a floating state using vibration energy by ultrasonic waves;
A chemical solution applying unit for applying a chemical solution to a surface of the substrate;
A foreign matter removing unit disposed to be spaced apart from the chemical solution applying unit and removing foreign substances existing in the lower portion of the substrate before the substrate reaches the chemical solution applying unit;
The substrate processing apparatus comprising:
제1항에 있어서,
상기 기판이송부는,
상기 기판이 로딩되는 로딩영역과;
상기 약액 도포 유닛에 의해 상기 약액이 도포되는 약액도포영역과;
상기 약액이 도포된 상기 기판이 언로딩되는 언로딩영역을;
포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
The method according to claim 1,
The substrate transferring unit includes:
A loading region in which the substrate is loaded;
A chemical solution application region to which the chemical solution is applied by the chemical solution application unit;
An unloading region in which the substrate to which the chemical liquid is applied is unloaded;
The substrate processing apparatus comprising:
제2항에 있어서,
상기 이물질 제거부는 상기 로딩영역과 상기 약액도포영역의 경계에 구비된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the foreign substance removing unit is provided at a boundary between the loading area and the chemical solution application area.
제2항에 있어서,
상기 이물질 제거부는 상기 로딩영역에 구비된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the foreign substance removing unit is provided in the loading area.
제4항에 있어서,
상기 이물질 제거부는 상기 약액도포영역에 인접하게 상기 로딩영역의 단부에 형성된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
5. The method of claim 4,
Wherein the foreign substance removing portion is formed at an end of the loading region adjacent to the chemical solution applying region.
제2항에 있어서,
상기 이물질 제거부는 상기 약액도포영역에 구비되되, 상기 약액 도포 유닛보다 먼저 상기 기판에 근접하도록 상기 약액 도포 유닛에 이격되게 배치된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
3. The method of claim 2,
Wherein the foreign substance removing unit is disposed in the chemical solution applying region so as to be spaced apart from the chemical solution applying unit so as to be closer to the substrate than the chemical solution applying unit.
제1항에 있어서,
상기 기판이송부는,
상기 기판의 이송 경로를 따라 배치되는 진동플레이트와;
상기 진동플레이트에 의해 부상된 상기 기판을 이송시키는 이송부재를; 포함하고,
상기 이물질 제거부는 상기 진동플레이트에 구비된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
The method according to claim 1,
The substrate transferring unit includes:
A vibrating plate disposed along a conveying path of the substrate;
A transfer member for transferring the substrate floated by the vibration plate; Including,
Wherein the foreign substance removing unit is provided on the vibration plate.
제7항에 있어서,
상기 이물질 제거부는 상기 진동플레이트에 형성되며 상기 이물질이 배출되는 배출홀인 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
8. The method of claim 7,
Wherein the foreign substance removing unit is a discharge hole formed in the vibration plate and discharging the foreign substance.
제8항에 있어서,
상기 배출홀은 상기 기판이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 연속적인 슬릿 형태로 형성된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
9. The method of claim 8,
Wherein the discharge hole is formed in a continuous slit shape along a direction perpendicular to the direction in which the substrate is transported.
제8항에 있어서,
상기 배출홀은 상기 기판이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 이격되게 복수개가 형성된 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
9. The method of claim 8,
Wherein the plurality of discharge holes are spaced apart from each other in a direction perpendicular to a direction in which the substrate is transferred.
제10항에 있어서,
상기 배출홀은,
상기 기판이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 제1열을 이루도록 이격되게 배치되는 복수개의 제1배출홀과;
상기 제1열로부터 이격된 제2열을 이루도록 배치되되, 상기 기판이 이송되는 방향에 수직한 방향을 따라 상기 제1배출홀과 교호적으로 배치되는 복수개의 제2배출홀을;
포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
11. The method of claim 10,
The discharge hole
A plurality of first discharge holes spaced apart from each other to form a first row along a direction perpendicular to the direction in which the substrate is transported;
A plurality of second discharge holes arranged to form a second row spaced from the first row and arranged alternately with the first discharge holes along a direction perpendicular to a direction in which the substrate is conveyed;
The substrate processing apparatus comprising:
제8항에 있어서,
상기 배출홀에 흡입압을 인가하는 흡입압 형성부를 더 포함하고,
상기 배출홀에 형성되는 상기 흡입압에 의해 상기 기판이 지지 가능한 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
9. The method of claim 8,
Further comprising a suction-pressure-forming portion for applying a suction pressure to the discharge hole,
And the substrate can be supported by the suction pressure formed in the discharge hole.
제1항에 있어서,
상기 이물질은 비고착성인 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
The method according to claim 1,
Wherein the foreign matter is non-sticking.
제13항에 있어서,
상기 이물질은 상기 기판의 부상 높이보다 큰 크기를 가지며, 상기 기판에 의해 쓸려 이동 가능한 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
14. The method of claim 13,
Wherein the foreign matter has a size larger than the floating height of the substrate and is removable by the substrate.
제1항에 있어서,
상기 기판의 하부에서 상기 이물질을 감지하는 감지센서를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
The method according to claim 1,
Further comprising: a sensor for detecting the foreign matter at a lower portion of the substrate.
제15항에 있어서,
상기 감지센서는 상기 약액 도포 유닛과 이격되게 배치되며, 상기 이물질이 상기 약액 도포 유닛에 도달하기 전에 먼저 상기 이물질을 감지하는 것을 특징으로 하는 기팜 처리 장치.
16. The method of claim 15,
Wherein the detection sensor is disposed so as to be spaced apart from the chemical solution application unit and detects the foreign matter before the foreign matter reaches the chemical solution application unit.
제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 기판이 이송되는 방향에 수직한 상기 진동플레이트의 제1폭은 상기 기판이 이송되는 방향에 수직한 상기 기판의 제2폭보다 크거나 같게 형성되는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
17. The method according to any one of claims 1 to 16,
Wherein a first width of the vibration plate perpendicular to a direction in which the substrate is conveyed is formed to be equal to or larger than a second width of the substrate perpendicular to a direction in which the substrate is conveyed.
제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 진동플레이트는 수평면에 수평하게 배치되고,
상기 기판은 상기 진동플레이트에 평행하게 부상되는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
17. The method according to any one of claims 1 to 16,
Wherein the vibration plate is horizontally disposed on a horizontal plane,
Wherein the substrate is floated parallel to the vibration plate.
제1항 내지 제16항 중 어느 한 항에 있어서,
상기 진동플레이트는 상기 기판의 진행 방향을 따른 일측변을 중심으로 수평면에 경사지게 배치되고,
상기 기판은 상기 진동플레이트에 평행하게 부상되는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
17. The method according to any one of claims 1 to 16,
Wherein the vibrating plate is disposed at an oblique angle with respect to a horizontal plane around one side along a traveling direction of the substrate,
Wherein the substrate is floated parallel to the vibration plate.
제19항에 있어서,
수평면에 대해 경사지게 틸팅된 상기 기판의 일측변을 지지하며, 상기 기판을 이송시키는 이송부재를 포함하되,
상기 이송부재에는 상기 기판의 하중이 작용되고, 상기 기판의 하중에 의한 마찰력에 의해 상기 기판은 상기 이송부재에 의해 이송되는 것을 특징으로 하는 기판 처리 장치.
20. The method of claim 19,
And a conveying member for supporting one side of the substrate inclinedly inclined with respect to a horizontal plane and conveying the substrate,
Wherein a load of the substrate is applied to the transferring member, and the substrate is transferred by the transferring member by a friction force caused by a load of the substrate.
KR1020160102516A 2016-08-11 2016-08-11 Substrate treating apparatus KR101947992B1 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160102516A KR101947992B1 (en) 2016-08-11 2016-08-11 Substrate treating apparatus

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020160102516A KR101947992B1 (en) 2016-08-11 2016-08-11 Substrate treating apparatus

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20180017930A true KR20180017930A (en) 2018-02-21
KR101947992B1 KR101947992B1 (en) 2019-05-10

Family

ID=61524845

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020160102516A KR101947992B1 (en) 2016-08-11 2016-08-11 Substrate treating apparatus

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR101947992B1 (en)

Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050111860A (en) * 2004-05-24 2005-11-29 이부락 Transfer device for semi-conductor manufacture device
JP4579071B2 (en) * 2005-07-06 2010-11-10 ヒューグルエレクトロニクス株式会社 Substrate transport dust remover
KR20160038245A (en) * 2014-09-30 2016-04-07 주식회사 케이씨텍 Floating coater apparatus with high accuracy of substrate alignment

Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20050111860A (en) * 2004-05-24 2005-11-29 이부락 Transfer device for semi-conductor manufacture device
JP4579071B2 (en) * 2005-07-06 2010-11-10 ヒューグルエレクトロニクス株式会社 Substrate transport dust remover
KR20160038245A (en) * 2014-09-30 2016-04-07 주식회사 케이씨텍 Floating coater apparatus with high accuracy of substrate alignment

Also Published As

Publication number Publication date
KR101947992B1 (en) 2019-05-10

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101965571B1 (en) Substrate treating apparatus and substrate processing system
TWI305371B (en) Developing treatment apparatus and developing treatment method
KR101975278B1 (en) Substrate treating apparatus
TWI393205B (en) Substrate transmission apparatus and substrate transmission method
JP2010034309A (en) Coating apparatus and substrate processing system
CN109494174B (en) Substrate processing apparatus, substrate processing method, and computer storage medium
JP4785210B2 (en) Substrate transfer device
KR101947992B1 (en) Substrate treating apparatus
KR20130017443A (en) Substrate coating apparatus, substrate conveyance apparatus having the function for floating the surface and the method of conveying floating the substrate
KR101814362B1 (en) Substrate treating apparatus
KR101836797B1 (en) Substrate transfering apparatus and substrate processing system having the same
JP7258913B2 (en) Fluid homogenization processing equipment for printed circuit boards
KR101938554B1 (en) Substrate treating apparatus
KR102583012B1 (en) Substrate transfering apparatus and substrate processing system having the same
KR101865534B1 (en) Substrate treating apparatus
KR20180011693A (en) Substrate transfering apparatus and substrate processing system having the same
KR20180014886A (en) Substrate transfering apparatus and substrate processing system having the same
KR101280220B1 (en) Inline type substrate coater apparatus and method thereof
KR20180029120A (en) Substrate treating apparatus
KR20110029704A (en) Apparatus for substrate processing
KR102278073B1 (en) Apparatus for treating substrate
KR102326115B1 (en) Coating apparatus and coating method
KR102572118B1 (en) Substrate processing apparatus
KR101960661B1 (en) Substrate transfering apparatus and substrate processing system having the same
KR101303461B1 (en) Inline type substrate coater apparatus and method thereof

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
N231 Notification of change of applicant
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right