KR20180005985A - Test tray of handler for testing electronic devices - Google Patents

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Abstract

The present invention relates to a test tray of a handler for testing an electronic component. According to the present invention, the test tray of a handler for testing an electronic component has an insert installed in a circularly moving frame, and moves the insert toward a tester by external force, thereby properly performing electric connection between an electronic component and the tester. According to the present invention, a coupling degree between the tester and the handler has an improved degree of freedom since the electric connection between the electronic component and the tester is properly performed regardless of the coupling degree between the tester and the handler.

Description

전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이{TEST TRAY OF HANDLER FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES}[0001] TEST TRAY OF HANDLER FOR TESTING ELECTRONIC DEVICES [0002]

본 발명은 전자부품 테스트용 핸들러에서 전자부품을 적재한 후 일정한 순환경로 상에서 순환 이동하는 테스트트레이에 관한 것이다.The present invention relates to a test tray that circulates on a certain circulating path after loading an electronic component in a handler for testing electronic parts.

생산된 전자부품들은 테스터에 의해 테스트된 후 양품과 불량품으로 나뉘어서 양품만이 출하된다.The produced electronic parts are tested by a tester and divided into good and defective parts, and only good parts are shipped.

테스터와 전자부품의 전기적인 연결은 전자부품 테스트용 핸들러(이하 '핸들러'라 약칭 함)에 의해 이루어지는 데, 전자부품의 종류에 따라 다양한 형태의 핸들러들이 있다. 그 중 본 발명은 순환 이동하는 테스트트레이를 구비한 핸들러에 관한 것이다.Electrical connection between the tester and the electronic component is performed by a handler for testing electronic components (hereinafter, referred to as a 'handler'), and there are various types of handlers depending on the type of electronic component. Among them, the present invention relates to a handler having a circulating moving test tray.

본 발명과 관련된 종래의 테스트트레이에 대해서는 대한민국 특허공개 10-1998-030401호 등에 제시되어 있다.A conventional test tray related to the present invention is disclosed in Korean Patent Laid-Open Publication No. 10-1998-030401.

핸들러는 로딩위치에서 테스트트레이로 전자부품들을 적재하고, 전자부품들이 적재된 테스트트레이를 테스트위치로 이동시킨다. 테스트위치에서 테스트트레이에 적재된 상태의 전자부품들을 핸들러에 결합된 테스터에 전기적으로 연결시킨 핸들러는 테스트 종료 후 테스트트레이를 언로딩위치로 이동시킨다. 그리고 언로딩위치에 있는 테스트트레이로부터 전자부품들을 언로딩한 핸들러는 테스트트레이를 로딩위치로 이동시킨다.The handler loads the electronic components from the loading position into the test tray and moves the test tray on which the electronic components are loaded to the test position. The handler, which electrically connects the electronic components in the test tray to the tester coupled to the handler at the test location, moves the test tray to the unloading position after the test. And a handler that unloads the electronic components from the test tray in the unloading position moves the test tray to the loading position.

이와 같이, 테스트트레이는 핸들러 내에서 로딩위치, 테스트위치 및 언로딩위치를 거쳐 다시 로딩위치로 이어지는 순환 경로를 따라 순환 이동하게 된다.As such, the test tray circulates within the handler along the circulation path leading back to the loading position via the loading position, the test position, and the unloading position.

한편, 테스트위치에서 전자부품을 테스터에 전기적으로 연결시키기 위해서는 전자부품을 테스터의 테스트소켓 측으로 가압하여야만 한다. 이 때, 전자부품의 가압 방향으로의 이동은 테스트트레이의 이동에 구속된다. 그래서 테스트트레이의 이동 범위는 전자부품과 테스트소켓이 전기적으로 접촉할 수 있는 정도로 확보되어야만 한다.On the other hand, in order to electrically connect the electronic component to the tester in the test position, the electronic component must be pressed toward the test socket side of the tester. At this time, the movement of the electronic component in the pressing direction is restricted to the movement of the test tray. The range of movement of the test tray must therefore be ensured such that the electronic component and the test socket are in electrical contact with each other.

그런데, 테스트트레이를 지지하는 지지레일의 구조나 테스터의 결합구조에 따라서는 전자부품과 테스터 간의 전기적인 접촉이 담보되지 못하는 경우가 발생한다. 물론, 테스터의 결합구조를 변경하는 등의 방법을 취할 수는 있으나, 핸들러 업체가 테스터의 결합구조를 변경할 것을 요구하는 것은 현실적으로 곤란하다. 따라서 테스터의 구조 변경을 가할 필요도 없고, 기존의 테스터에도 적용될 수 있는 기술의 개발이 필요하다.However, electrical contact between the electronic component and the tester may not be secured depending on the structure of the support rails supporting the test tray or the structure of the tester. Of course, it is possible to adopt a method of changing the joining structure of the tester or the like, but it is practically difficult for the handler company to require changing the joining structure of the tester. Therefore, there is no need to change the structure of the tester, and it is necessary to develop a technology that can be applied to existing testers.

본 발명은 테스트트레이의 이동 거리가 테스트트레이에 적재된 전자부품과 테스터의 테스트소켓 간의 전기적인 접촉을 담보할 수 없는 경우에도 테스트트레이에 적재된 전자부품과 테스터의 테스트소켓 간의 전기적인 접촉이 이루어질 수 있는 기술을 제공하는 것이다.Even if the moving distance of the test tray can not secure the electrical contact between the electronic part loaded in the test tray and the test socket of the tester, the electronic contact between the electronic part loaded in the test tray and the test socket of the tester is made To provide a technology that can be used.

본 발명에 따른 전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이는, 행렬 형태로 배치되는 다수의 삽입구멍이 형성되어 있는 프레임; 상기 프레임에 설치되되, 상기 다수의 삽입구멍에 각각 삽입 배치되고, 전자부품이 안착될 수 있는 안착홈을 가지며, 상기 안착홈에 안착된 전자부품의 단자들을 테스터 측으로 노출시키는 다수의 인서트; 및 상기 삽입구멍에 배치된 인서트를 정해진 자리에 위치시키는 위치부재들; 을 포함하고, 상기 위치부재들은 상기 인서트에 테스터 측으로 외력이 가해지면 상기 테스터 측으로 상기 인서트가 이동하는 것을 허락하고, 외력이 제거되면 상기 인서트를 정해진 위치로 복원시킬 수 있도록 탄성 변형과 복원이 가능한 탄성소재로 구비되며, 상기 위치부재는 상기 프레임에 결합된 상태로 설치되고, 상기 인서트에 외력이 작용할 시에 상기 인서트에 복원력를 가할 수 있도록 상기 인서트를 지지하는 지지부분을 가진다.A test tray of a handler for testing electronic parts according to the present invention comprises: a frame having a plurality of insertion holes arranged in a matrix; A plurality of inserts disposed in the frame, each insert being inserted into the plurality of insertion holes, the plurality of inserts having a seating groove into which the electronic component can be seated, and exposing the terminals of the electronic component seated in the seating recess to the tester side; And positioning members for positioning the insert disposed in the insertion hole at a predetermined position; Wherein the positioning members allow the insert to move to the tester side when an external force is applied to the tester side of the insert and allow the insert to be resiliently deformed and restored to a predetermined position when an external force is removed, Wherein the positioning member is installed in a state of being coupled to the frame and has a support portion for supporting the insert so as to apply a restoring force to the insert when an external force is applied to the insert.

상기 위치부재는 토션스프링이고, 상기 프레임은 상기 위치부재를 설치하기 위한 설치축을 가지며, 상기 위치부재는, 상기 설치축에 결합되는 결합부분; 및 상기 결합부분의 일 측으로 연장되어서 상기 프레임에 의해 변위가 제한되는 제한부분; 을 더 가지며, 상기 지지부분은 상기 결합부분의 타 측으로 연장되어서 상기 인서트의 사각 귀퉁이 중 하나의 귀퉁이를 지지함으로써 상기 인서트의 이동에 연동하여 변위하면서 상기 인서트를 지속적으로 지지할 수 있다.Wherein the positioning member is a torsion spring and the frame has a mounting shaft for mounting the positioning member, A coupling portion coupled to the mounting shaft; And A restricting portion extending to one side of the engaging portion and restricting displacement by the frame; And the support portion extends to the other side of the engagement portion to support one of the square corners of the insert to support the insert while being displaced in association with the movement of the insert.

상기 인서트에는 상기 지지부분이 상기 인서트의 지지를 유지할 수 있도록 하는 유지홈이 형성된다.The insert is provided with a retaining groove for the support portion to retain the support of the insert.

상기 프레임에는 상기 위치부재를 설치하기 위한 설치부분을 가지며, 상기 설치부분은 상기 삽입구멍에서 외측에 구비된다.The frame has a mounting portion for mounting the position member, and the mounting portion is provided outside the insertion hole.

상기 프레임에는 상기 위치부재의 탄성력에 의해 상기 인서트가 상기 삽입구멍으로부터 이탈되는 것을 방지하기 위한 이탈방지돌기가 상기 삽입구멍 측으로 돌출되도록 형성되어 있고, 상기 인서트에는 상기 이탈방지돌기에 걸리는 이탈방지턱이 형성된다.The frame may be formed with a release preventing protrusion protruding toward the insertion hole to prevent the insert from being detached from the insertion hole by an elastic force of the position member, do.

상기 인서트를 상기 삽입구멍에 유지시키기 위한 유지부재; 를 더 포함하며, 상기 유지부재에는 상기 위치부재의 탄성력에 의해 상기 인서트가 상기 삽입구멍으로부터 이탈되는 것을 방지하기 위한 이탈방지돌기가 상기 삽입구멍 측으로 돌출되도록 형성되어 있고, 상기 인서트에는 상기 이탈방지돌기에 걸리는 이탈방지턱이 형성된다.A holding member for holding the insert in the insertion hole; Wherein the retaining member is formed with a detachment protrusion protruding toward the insertion hole to prevent the insert from being detached from the insertion hole by an elastic force of the position member, Is formed.

상기 프레임에는 상기 인서트에 가해지는 외력에 의해 상기 인서트가 이동할 시에 상기 인서트의 이동을 안내하기 위한 안내돌기가 상기 삽입구멍 측으로 돌출되도록 형성되어 있다.The frame is formed with a guide projection for guiding movement of the insert when the insert moves due to an external force applied to the insert.

상기 인서트에는 외력에 의해 상기 인서트가 상기 테스터 측으로 과도하게 이동되는 것을 제한하기 위한 이동제한턱이 형성되어 있고, 상기 이동제한턱은 상기 안내돌기를 걸어 외력에 의한 상기 인서트의 과도한 이동이 방지된다.The insert is provided with a transfer agent stop for restricting excessive movement of the insert to the tester side by an external force, and the transfer agent stop is prevented from excessive movement of the insert due to external force.

상기 인서트에는 상기 인서트에 비틀린 방향으로 외력이 가해질 때 상기 인서트가 상기 삽입구멍으로부터 탈거되는 것을 방지하기 위한 복수개의 탈거방지돌기가 형성되고, 상기 프레임의 삽입구멍을 이루는 내벽면에는 상기 탈거방지돌기와 대응되는 탈거방지홈이 형성된다.The insert is provided with a plurality of detachment prevention protrusions for preventing the insert from being detached from the insertion hole when an external force is applied to the insert in a twisted direction and the inner wall surface forming the insertion hole of the frame corresponds to the detachment prevention protrusion The detachment prevention groove is formed.

상기 인서트는 상기 테스터 측으로 상기 프레임보다 더 돌출되게 이동한다.The insert moves more toward the tester than the frame.

상기 핸들러의 이송장치에 의해 정해진 순환경로를 따라 순환 이동하함으로써, 상기 인서트도 상기 프레임과 함께 순환 이동하며, 상기 인서트는 상기 인서트가 순환 이동할 시에는 상기 프레임보다 돌출되지 아니하고, 테스트 시에만 상기 프레임보다 더 돌출된다.The insert is also circularly moved with the frame so that the insert is not protruded from the frame when the insert is circularly moved and is not protruded from the frame only during testing More protruding.

본 발명에 따르면 인서트가 위치 복원이 가능하게 테스트소켓 측으로 이동함으로써, 테스터와 핸들러 간의 결합 정도에 관계없이 전자부품과 테스터 간의 전기적인 연결이 적절히 이루어질 수 있기 때문에 테스터와 핸들러 간의 결합 정도에 자유도가 향상되는 이점이 있다.According to the present invention, since the insert is moved to the test socket side so that the position can be restored, the electrical connection between the electronic component and the tester can be appropriately performed irrespective of the degree of connection between the tester and the handler, .

도 1은 본 발명에 따른 테스트트레이가 적용될 수 있는 전자부품 테스트용 핸들러에 대한 개념적인 평면도이다.
도 2는 본 발명에 따른 테스트트레이에 대한 일부 분해 사시도이다.
도 3은 도 2의 테스트트레이에 적용된 프레임의 일부에 대한 저면 사시도이다.
도 4는 도 2의 테스트트레이에 적용된 인서트에 대한 평면 사시도이다.
도 5는 도 4의 인서트에 대한 저면 사시도이다.
도 6은 도 2의 테스트트레이의 주요 부위에 대한 단면도이다.
도 7 내지 11은 도 2의 테스트트레이의 주요 작동을 설명하기 위한 각 단계별 작동에 따른 단면도이다.
도 12는 종래의 테스트트레이와 도 2의 테스트트레이를 비교하기 위한 참조도이다.
도 13 내지 도15는 도 2의 테스트트레이에 대한 변형예이다.1 is a conceptual plan view of a handler for testing electronic components to which a test tray according to the present invention can be applied.
2 is a partially exploded perspective view of a test tray according to the present invention.
3 is a bottom perspective view of a portion of a frame applied to the test tray of FIG.
Figure 4 is a plan perspective view of the insert applied to the test tray of Figure 2;
Figure 5 is a bottom perspective view of the insert of Figure 4;
FIG. 6 is a cross-sectional view of the main portion of the test tray of FIG. 2;
FIGS. 7 to 11 are cross-sectional views illustrating the main operation of the test tray of FIG.
FIG. 12 is a reference diagram for comparing a conventional test tray with the test tray of FIG. 2;
Figs. 13 to 15 are variations of the test tray of Fig. 2. Fig.

본 발명에 따른 바람직한 실시예를 첨부된 도면을 참조하여 설명하되, 설명의 간결함을 위해 중복되는 설명은 가급적 생략하거나 압축한다.Preferred embodiments according to the present invention will be described with reference to the accompanying drawings, wherein redundant description is omitted or compressed as much as possible for brevity's sake.

<개략적인 핸들러에 대한 구성 설명><Explanation of the configuration for the schematic handler>

도 1은 본 발명에 따른 테스트트레이(110)가 적용될 수 있는 전자부품 테스트용 핸들러(100, 이하 '핸들러'라 약칭 함)에 대한 개념적인 평면도이다.1 is a conceptual plan view of an electronic component test handler 100 (hereinafter, referred to as a 'handler') to which a test tray 110 according to the present invention can be applied.

핸들러(100)는 테스트트레이(110), 로딩장치(120), 가압장치(130), 언로딩장치(140) 및 다수의 이송장치(151 내지 155)를 포함한다.The handler 100 includes a test tray 110, a loading device 120, a pressurizing device 130, an unloading device 140 and a plurality of conveying devices 151 to 155.

테스트트레이(110)은 전자부품들이 적재될 수 있으며, 정해진 순환 경로(C)를 따라 순환한다.The test tray 110 can load electronic components and circulate along a predetermined circulation path C.

로딩장치(120)는 로딩위치(LP)에 있는 테스트트레이(110)로 테스트되어야 할 전자부품들을 로딩시킨다.The loading device 120 loads the electronic components to be tested with the test tray 110 in the loading position LP.

가압장치(130)는 테스트위치(TP)에 있는 테스트트레이(110)에 적재된 전자부품들을 테스트위치(TP)의 하방에서 핸들러(100)에 결합된 테스터(도시되지 않음)의 테스트소켓(도시되지 않음) 측으로 가압하여 전자부품과 테스트소켓이 전기적으로 접촉될 수 있게 한다.The pressurizing device 130 pushes the electronic parts loaded on the test tray 110 in the test position TP to the test socket TP of the tester (not shown) coupled to the handler 100 below the test position TP So that the electronic component and the test socket can be brought into electrical contact with each other.

언로딩장치(140)는 언로딩위치(UP)에 있는 테스트트레이(110)로부터 전자부품들을 언로딩시키면서 테스트 등급별로 분류한다.The unloading device 140 unloads the electronic components from the test tray 110 in the unloading position UP and classifies them according to the test grade.

다수의 이송장치(151 내지 155)는 로딩위치(LP), 테스트위치(TP) 및 언로딩위치(UP)를 거쳐 다시 로딩위치(LP)로 이어지는 순환 경로(C) 상으로 테스트트레이(110)를 이동시킨다.The plurality of conveying devices 151 to 155 convey the test tray 110 onto the circulating path C leading to the loading position LP via the loading position LP, the test position TP and the unloading position UP. .

<테스트트레이에 대한 구성 설명><Configuration description for test tray>

도 2는 본 발명에 따른 테스트트레이(110)에 대한 일부 분해 사시도이다.2 is a partially exploded perspective view of a test tray 110 according to the present invention.

본 발명에 따른 테스트트레이(110)는 프레임(111), 다수의 인서트(112), 위치부재(113)들 및 유지부재(114)들을 포함한다.The test tray 110 according to the present invention includes a frame 111, a plurality of inserts 112, positioning members 113, and retaining members 114.

프레임(111)에는 행렬 행태로 배치되는 다수의 삽입구멍(IH)이 형성되어 있고, 삽입구멍(IH)의 외측 사각 귀퉁이 측에 삽입구멍(IH)으로부터 연장된 4개의 설치홈(IS)이 형성되어 있다(확대된 A 영역 참조). 이러한 프레임(111)이 위의 정해진 순환 경로(C)를 따라 순환 이동함으로써, 궁극적으로 프레임(111)에 설치된 인서트(112)들과 해당 인서트(112)들에 적재된 전자부품들이 정해진 순환 경로(C)를 따라 순환 이동하게 된다.A plurality of insertion holes IH arranged in a matrix form are formed in the frame 111 and four installation grooves IS extending from the insertion holes IH are formed on the outer square edges of the insertion holes IH (See enlarged area A). This frame 111 is circulated along the predetermined circulation path C so that the inserts 112 installed in the frame 111 and the electronic parts loaded in the inserts 112 are connected to the predetermined circulation path C).

한편 도 3을 참조하여 프레임(111)의 저면 측을 보면, 프레임(111)의 저면 측에는 인서트(112)가 하방(또는 테스터 측 방향)으로 이동할 때 인서트(112)의 이동을 안내하기 위한 안내돌기(GP)가 삽입구멍(IH) 측으로 돌출되게 형성되어 있다.3, the bottom surface of the frame 111 is provided with a guide projection 112 for guiding the movement of the insert 112 when the insert 112 moves downward (or in the tester-side direction) (GP) protrudes toward the insertion hole (IH) side.

또한, 삽입구멍(IH)을 이루는 내벽면에는 전자부품을 가압하는 방향(본 실시예에서는 '상하 방향')으로 길게 4개의 탈거방지홈(a1 내지 a4)이 형성되어 있다. 여기서 부호 a1의 탈거방지홈은 평면 형태가 사다리꼴 형태이다. On the inner wall surface forming the insertion hole IH, four detachment prevention grooves a 1 to a 4 are formed long in the direction in which the electronic component is pressed (in the present embodiment, the vertical direction). Here, the detachment prevention groove of the symbol a 1 has a trapezoidal shape in plan view.

그리고 프레임(111)은 설치홈(IS)에 위치부재(114)를 설치하기 위한 설치축(111a)들을 가진다. 즉, 설치홈(IS)과 설치축(111a)은 위치부재(114)를 프레임(111) 측에 설치하기 위한 설치부분으로서 기능하며, 적용될 위치부재(114)의 구조에 따라서 다양한 형태를 가질 수 있으나, 삽입구멍(IH)의 외측에 마련되는 것이 바람직하다.The frame 111 has mounting shafts 111a for mounting the position member 114 in the mounting groove IS. That is, the mounting groove IS and the mounting shaft 111a function as a mounting portion for mounting the positioning member 114 on the frame 111 side, and may have various shapes depending on the structure of the positioning member 114 to be applied However, it is preferably provided outside the insertion hole IH.

도 4의 평면 사시도 및 도 5의 저면 사시도에서와 같이 인서트(112)는 삽입구멍(IH)에 삽입 배치되고, 전자부품이 안착될 수 있는 안착홈(RS)을 가진다. 이러한 인서트(112)는 다양한 구조로 구비될 수 있는데, 본 실시예에서는 본체(112a)와 지지필름(112b)으로 구성되는 예를 취하고 있다.4 and the bottom perspective view of FIG. 5, the insert 112 is inserted into the insertion hole IH and has a seating groove RS into which the electronic component can be seated. The insert 112 may have various structures. In this embodiment, the insert 112 is formed of a main body 112a and a support film 112b.

본체(112a)에는 위의 안착홈(RS)이 형성되어 있다. 이러한 본체(112a)의 저면 측 사각 귀퉁이에는 위치부재(113)의 지지부분(113c)이 인서트(112)를 지지하는 상태로부터 이탈되지 않으면서 인서트(112)를 지지하는 상태를 유지하도록 하는 4개의 유지홈(SS)이 형성되어 있다. 여기서 유지홈(SS)은 위치부재(113)의 구조에 따라 다양한 형태로 형성될 수 있다. The main body 112a is formed with an upper seating groove RS. The square side of the bottom surface of the main body 112a is provided with four supporting portions 113c for retaining the insert 112 in a state in which the supporting portion 113c of the positioning member 113 does not separate from the state of supporting the insert 112 A holding groove SS is formed. Here, the holding groove SS may be formed in various shapes according to the structure of the positioning member 113.

본체(112a)의 상부에는 가압장치(130)에 의한 외력에 의해 인서트(112)가 테스터(도시되지 않음) 측으로 과도하게 이동되는 것을 제한하기 위해 좌우 양측에 이동제한턱(LJ)이 형성되어 있다. 이러한 이동제한턱(LJ)에 안내돌기(GP)가 대응되게 걸림으로써 인서트(112b)가 테스터 측으로 과도하게 이동되는 것이 제한된다. 즉, 안내돌기(GP)는 인서트(112)가 테스터 측으로 과도하게 이동되는 것을 제한하기 위한 이동제한돌기로서의 기능도 가진다.The upper portion of the main body 112a is provided with a shifter threshold LJ on both sides to limit excessive movement of the insert 112 toward the tester (not shown) due to external force by the pressure device 130. The guide protrusion GP is correspondingly hooked to the transfer agent tip LJ, thereby limiting the excessive movement of the insert 112b toward the tester side. That is, the guide projection GP also functions as a movement restricting projection for restricting excessive movement of the insert 112 toward the tester side.

또한, 본체(112a)의 상부에는 전후 방향으로 이탈방지턱(BJ)이 형성되어 있다.Further, on the upper portion of the main body 112a, a release preventing tab BJ is formed in the front-back direction.

그리고, 본체(112a)의 상측에는 4개의 탈거방지돌기(PP)가 형성되어 있다. 이러한 4개의 탈거방지돌기(PP)는 4개의 탈거방지홈(a1 내지 a4)에 대응되게 위치됨으로써 가압장치(130)에 의한 가압력이 상하 수직 방향에서 다소 비틀린 방향으로 가해지더라도 인서트(112)가 삽입구멍(IH)으로부터 탈거되는 것이 방지된다. 물론, 탈거방지돌기(PP)와 탈거방지홈(a1 내지 a4)은 인서트(112)의 이동 시에 이동을 안내하는 기능도 수행한다. 여기서 4개의 탈거방지돌기(PP) 중 부호 a1에 대응하는 하나(도면상 우측 전방의 탈거방지돌기)는 평면적이 다른 것들보다 더 넓은 사다리꼴 형태를 가진다. 따라서 인서트(112)를 삽입구멍(IH)에 배치시킬 때 역삽입이 방지될 수 있다. 이러한 탈거방지돌기(PP)는 인서트(112)의 양 측으로 나뉘어 2개 이상이 형성되고, 적어도 하나 이상의 것이 다른 것들보다 평면적이 다르거나 형태가 다르다면 그 기능을 적절히 수행할 수 있다.Four removal preventing protrusions PP are formed on the upper side of the main body 112a. The four detachment prevention projections PP are positioned corresponding to the four detachment prevention grooves a 1 to a 4 so that the pressing force by the pressing device 130 is applied to the insert 112 in a slightly twisted direction in the up- Is prevented from being detached from the insertion hole IH. Of course, the detachment prevention protrusion PP and the detachment prevention grooves a 1 to a 4 also function to guide the movement when the insert 112 is moved. The four anti-detachment projections (PP) of one (detachment preventing projection drawing of the right front) that corresponds to code a 1 is a plan view has a wider trapezoidal shape than the others. Therefore, reverse insertion can be prevented when the insert 112 is disposed in the insertion hole IH. The detachment preventing protrusion PP may be divided into two parts on both sides of the insert 112, and at least one of the detachment preventing protrusions PP may have a function different from that of the insert 112 or function differently.

지지필름(112b)은 전자부품이 테스터 측으로 이탈되지 않도록 지지하면서, 전자부품의 단자들을 테스터 측으로 노출시키기 위한 노출구멍(EH)들을 가진다.The support film 112b has exposure holes EH for exposing the terminals of the electronic component to the tester side while supporting the electronic component so as not to be released to the tester side.

위치부재(113)는 인서트(112) 한 개당 4개씩 구비되며, 삽입구멍(IH)에 배치된 인서트(112)를 정해진 자리에 위치시키는 기능을 수행한다. 이러한 위치부재(113)는 가압장치(130)에 의해 인서트(112)에 테스터 측으로 외력이 가해지면, 테스터 측으로 인서트(112)가 이동하는 것을 허락하고, 외력이 제거되면 인서트(112)를 정해진 위치로 복원시킬 수 있도록 탄성 변형과 복원이 가능한 탄성소재로 구비된다. 본 실시예에서는 위치부재(113)로서 토션스프링이 구비되었다. 따라서 다시 도 2의 확대된 B 영역을 참조해 보면, 본 예에서의 위치부재(113)는 결합부분(113a), 제한부분(113b) 및 지지부분(113c)을 포함한다.The positioning members 113 are provided for each one of the inserts 112 and function to position the inserts 112 disposed in the insertion holes IH at predetermined positions. The positioning member 113 allows the insert 112 to move to the tester side when an external force is applied to the insert 112 by the pressing device 130 and allows the insert 112 to move to a predetermined position The elastic material can be elastically deformed and restored. In this embodiment, the position member 113 is provided with a torsion spring. 2, the position member 113 in this embodiment includes the engaging portion 113a, the restricting portion 113b, and the supporting portion 113c.

결합부분(114a)은 원통 형상으로서 내부로 설치축(111a)이 삽입되는 구조(도 3 참조)를 가진다. 따라서 위치부재(113)는 결합부분(113a)을 통해 프레임(111)에 결합된 상태로 설치될 수 있다.The engaging portion 114a has a cylindrical shape and has a structure (see Fig. 3) in which the mounting shaft 111a is inserted therein. Therefore, the positioning member 113 can be installed in a state of being coupled to the frame 111 through the engagement portion 113a.

제한부분(113b)은 결합부분(113a)의 일 측으로 연장되어서 프레임(111)에 의해 변위가 제한된다. 이를 위해 제한부분(113b)은 도 3에서와 같이 설치홈(IS)을 이루는 내벽면 측으로 프레임(111)에 접해 있다.The restricting portion 113b extends to one side of the engaging portion 113a and is restricted in displacement by the frame 111. [ For this, the limiting portion 113b is in contact with the frame 111 toward the inner wall surface side of the installation groove IS as shown in FIG.

지지부분(113c)은 도 6에서 참조되는 바와 같이 결합부분(113a)의 타 측으로 연장되어서 인서트(112)에 테스터 측 방향으로 외력이 작용할 시에 인서트(112)에 복원력을 가할 수 있도록 인서트(112)를 지지한다. 이러한 지지부분(113c)은 인서트(112)의 지지 상태를 지속적으로 유지할 수 있도록 유지홈(SS)에 위치된다. 따라서 지지부분(113c)은 인서트(112)의 사각 귀퉁이 중 하나의 귀퉁이를 지지하게 된다. 그리고 인서트(112)의 이동에 연동하여 지지부분(113c)도 변위하면서 인서트(112)를 지속적으로 지지함으로써 인서트(112)에 복원력을 가하게 된다. The support portion 113c extends to the other side of the engagement portion 113a as shown in FIG. 6 and is inserted into the insert 112 to apply a restoring force to the insert 112 when an external force is applied to the insert 112 ). This support portion 113c is located in the retaining groove SS so as to maintain the support state of the insert 112 constantly. The support portion 113c thus supports one of the square corners of the insert 112. In conjunction with the movement of the insert 112, the support portion 113c is also displaced and the insert 112 is continuously supported to apply the restoring force to the insert 112. [

도 2을 참조하면, 유지부재(114)는 인서트(112) 한 개당 2개씩 구비된다. 이러한 유지부재(114)는 볼트(BT)에 의해 프레임(111)에 결합되며, 인서트(112)를 삽입구멍(IH)에 유지시키는 기능을 수행한다. 이를 위해 유지부재(114)에는 위치부재(113)의 탄성력에 의해 인서트(112)가 삽입구멍(IH)으로부터 이탈되는 것을 방지하기 위한 이탈방지돌기(BP)가 삽입구멍(IH) 측으로 돌출되도록 형성되어 있다. 그리고 이탈방지돌기(BP)가 인서트(112)의 이탈방지턱(BJ)에 걸림으로써 인서트(112)가 삽입구멍(IH)에 유지될 수 있게 된다. 참고로, 실시하기에 따라서는 유지부재가 프레임과 일체로 형성될 수 있으며, 이러한 경우 이탈방지돌기는 당연히 프레임에 구성되어져야 한다.Referring to FIG. 2, two retaining members 114 are provided for each of the inserts 112. This holding member 114 is coupled to the frame 111 by bolts BT and functions to hold the insert 112 in the insertion hole IH. To this end, the retaining member 114 is formed with a release preventing projection BP for preventing the insert 112 from being detached from the insertion hole IH by the elastic force of the positioning member 113 protruding toward the insertion hole IH . And the release preventing protrusion BP is caught by the release preventing tab BJ of the insert 112 so that the insert 112 can be held in the insertion hole IH. For reference, the retaining member may be integrally formed with the frame depending on the implementation, and in such a case, the escape prevention projection should naturally be formed in the frame.

위의 테스트트레이(110)에서 인서트(112)는 테스트트레이(110)가 순환할 시에는 프레임(111)보다 돌출되지 않고, 테스트 시에 가압장치(130)에 의한 외력이 작용할 때에만 프레임(111)보다 더 돌출된다.The insert 112 in the test tray 110 does not protrude from the frame 111 when the test tray 110 circulates and only when the external force is applied by the pressurizing device 130 during the test, ).

계속하여 본 발명의 주요 작동에 대하여 도 7 이하를 참조하여 설명한다.Subsequently, the main operation of the present invention will be described with reference to FIG.

<주요 작동에 대한 설명><Explanation of main operation>

도 7에서와 같이 테스트위치(TP)에서 가압장치(130)의 푸셔(131)가 인서트(112)의 안착홈(RS)에 안착된 전자부품(D)을 테스터의 테스트소켓(TS) 측으로 가압하면, 도 8에서와 같이 인서트(112)가 테스트소켓(TS) 측으로 전진 이동하게 된다. 이 때, 프레임(111)의 안내돌기(GP)에 의해 인서트(112)의 이동이 안내되는 한편, 탈거방지돌기(PP)들에 의해서도 인서트(112)의 이동이 안내된다.The electronic component D in which the pusher 131 of the pressing device 130 is seated in the seating groove RS of the insert 112 at the test position TP as shown in Fig. 7 is pressed against the test socket TS side of the tester The insert 112 is moved forward to the test socket TS side as shown in FIG. At this time, the movement of the insert 112 is guided by the guide protrusion GP of the frame 111 while the movement of the insert 112 is guided by the detachment prevention protrusions PP.

도 9는 현재 인서트(112)가 완전히 이동하여 인서트(112)에 적재된 전자부품(D)과 테스트소켓(TS)이 전기적으로 접촉된 상태를 보여주고 있다.9 shows a state in which the electronic component D mounted on the insert 112 and the test socket TS are electrically contacted with each other by the current movement of the insert 112 completely.

한편, 경우에 따라서는 도 10에서와 같이 테스트소켓(TS)이 핸들러(100)의 테스트창(TW)를 통해 내측으로 들어오지 못하고, 핸들러(100)의 외측에 구비될 수 있다. 이러한 경우도 고려되어야 하므로, 인서트(112)는 적어도 테스트창(TW) 측을 이루는 벽(W)의 두께(T)만큼 또는 그보다 긴 이동 거리를 가져야만 한다. 도 11에서 참조되는 바와 같이 테스트트레이(110)를 지지하는 지지레일(160)이 최대한 이동할 수 있는 위치가 테스트창(TW) 측을 이루는 벽(W)의 내벽면(IF)까지 이기 때문이고, 이는 지지레일(160)의 지지 형태에 따라서 다소 달라질 수는 있지만 테스트트레이(110)에 적재된 전자부품(D)이 인서트(112)의 이동 없이 지지레일(160)과 함께 최대한 이동 가능한 지점이 내벽면(IF)까지 임을 의미한다. 따라서 인서트(112)의 이동에 의해 전자부품(D)이 테스트소켓(TS)에 전기적으로 접촉할 수 있는 벽(W)의 두께(T)만큼의 거리가 인서트(112)의 이동에 의해 보상되어야만 한다. 따라서 인서트(112)의 이동거리는 이동 방향으로의 프레임(111)의 두께보다는 짧은 거리임이 바람직하고, 벽(W)의 두께(T)보다는 최소한 동일하거나 긴 거리인 것이 바람직하다.On the other hand, the test socket TS may be provided outside the handler 100 without entering the test socket TW through the test window TW as shown in FIG. Since this case must also be taken into account, the insert 112 must have a travel distance that is at least as large as the thickness T of the wall W constituting the test window TW side. 11, since the position where the support rail 160 supporting the test tray 110 can move to the inner wall surface IF of the wall W constituting the test window TW side, This may be somewhat different depending on the support form of the support rail 160. However, the point at which the electronic part D loaded on the test tray 110 can be moved as far as possible with the support rail 160 without moving the insert 112, Wall (IF). The distance of the thickness T of the wall W capable of electrically contacting the test socket TS with the movement of the insert 112 by the movement of the insert 112 must be compensated by the movement of the insert 112 do. The distance of movement of the insert 112 is preferably shorter than the thickness of the frame 111 in the moving direction and is at least equal or longer than the thickness T of the wall W. [

<종래 테스트트레이와의 비교><Comparison with conventional test tray>

종래의 테스트트레이의 경우는 개략적으로 도시된 도 12의 (a)에서와 같이 테스트트레이(100')를 측면으로 바라볼 때, 프레임(111')의 두께(T1)보다 작은 두께(T2)를 지닌 인서트(112')가 다소 유동 가능하게 프레임(111')에 설치된다. 이 때, 프레임(111')의 두께 방향(도 12에서는 상하 방향)으로의 가능한 인서트(112')의 유동 거리는 테스트트레이(100')의 두께(T1) 폭 내에서 또는 테스트트레이(100')의 최하단면 보다 돌출이 거의 없는 미세한 정도의 수준이다. 더욱이 도 12의 (a)에서와 같이 테스트트레이(111')의 상하 방향이 설정될 때에는 외력에 의한 인서트(112')의 하방 이동은 발생할 수 없다. 즉, 종래의 테스트트레이(100')에서 프레임(111')의 두께 방향으로의 인서트(112')의 이동 거리는 극히 미세하게 제한된다. 반면 본 발명은 도 12의 (b)에서와 같이 테스트트레이(100) 일면(테스터와 마주보는 면)을 벗어나 테스터 방향으로 더 긴 거리를 이동할 수 있는 기술이다.In the case of the conventional test tray, when the test tray 100 'is viewed from the side, as shown in FIG. 12A, which is schematically shown, a thickness T 2 (T 2 ) smaller than the thickness T 1 of the frame 111' Is installed on the frame 111 'so that the insert 112' is somewhat flowable. At this time, the flow distance of a possible insert 112 'in the thickness direction (vertical direction in FIG. 12) of the frame 111' is set to be within the thickness T 1 of the test tray 100 ' ) Is a level of microscopic level with almost no protrusion. Further, when the vertical direction of the test tray 111 'is set as shown in FIG. 12 (a), downward movement of the insert 112' due to external force can not occur. That is, the moving distance of the insert 112 'in the thickness direction of the frame 111' in the conventional test tray 100 'is extremely finely limited. On the other hand, the present invention is a technique capable of moving a longer distance in the direction of the tester out of one side (the side facing the tester) of the test tray 100 as shown in FIG. 12 (b).

한편, 테스트창(TW) 측 벽(W)의 두께의 경우에 있어서도, 과거 얇은 벽을 쓰거나 상온 테스트만 가능한 과거의 핸들러는 그 두께가 2mm 내외일 수도 있다. 그러나 본 발명은 기존보다 두껍게 설계된 외벽을 지녔거나, 고온 테스트와 저온 테스트 중 적어도 어느 하나가 가능한 핸들러에 적용될 수 있는 테스트트레이(100)이다. 즉, 벽(W)이 고강도 또는 단열이 가능한 최소한 3mm 이상의 두께(3mm 이상의 두께는 예시에 불과함)를 지녀야 하는 경우에 본 발명에 따른 테스트트레이(100)가 적절히 적용될 수 있다. 이에 따라 도 12의 (b)에서 참조되는 바와 같이 본 발명에 따른 테스트트레이(100)에 의하면, 프레임(111)의 최 하단면을 기준으로 인서트가 10mm 정도 까지 하방으로 더 돌출되게 이동될 수 있다는 것이 특징이다.On the other hand, in the case of the thickness of the side wall W of the test window TW, the thickness of the past handler in which the thin wall is used or the room temperature test is only possible may be about 2 mm. However, the present invention is a test tray 100 that can be applied to a handler having an outer wall designed to be thicker than the conventional one, or at least one of a high temperature test and a low temperature test. That is, the test tray 100 according to the present invention can be suitably applied when the wall W must have a thickness of not less than 3 mm (thickness of not less than 3 mm is an example only) capable of high strength or heat insulation. 12 (b), according to the test tray 100 according to the present invention, the insert can be further protruded downward by about 10 mm on the basis of the lowermost surface of the frame 111 .

따라서 온도 제어가 필요한 두꺼운 벽을 지닌 핸들러에서, 종래의 테스트트레이(100')는 적용이 불가능하지만, 본 발명에 따른 테스트트레이(100)는 얼마든지 적용될 수 있다. 물론, 인서트(112)의 이동거리는 설계자의 의도에 따라서 얼마든지 가감이 가능하며, 기술의 발전에 따라 벽의 두께는 점차 줄어들 수도 있다. Therefore, in the handler having a thick wall requiring temperature control, the conventional test tray 100 'is not applicable, but the test tray 100 according to the present invention can be applied to any number of applications. Of course, the moving distance of the insert 112 can be increased or decreased according to the designer's intention, and the thickness of the wall may gradually decrease as the technology develops.

물론, 앞서 설명한 바와 같이 벽(W)의 두께만큼 테스터를 테스트창(TW) 내측으로 유입하면 족하다. 그러나 테스터를 생산 또는 보유한 기업이 고객사이기 때문에, 기존의 테스터를 그대로 활용하고자 하는 고객에게 테스터의 교체나 개조를 논하는 것은 실제적으로 불가능하다.Of course, as described above, it is enough to inflow the tester into the test window TW by the thickness of the wall W. [ However, since the company that owns or produces the tester is a customer, it is practically impossible to discuss the replacement or modification of the tester to customers who intend to use the existing tester as it is.

또한 핸들러 내부의 개조를 통해 반도체소자와 테스터 간의 적절한 전기적 연결을 담보시킬 수는 있으나, 이 역시 상당한 비용과 복잡한 구조체를 구성해야만 한다.In addition, modification of the interior of the handler can ensure proper electrical connection between the semiconductor device and the tester, but it also has to constitute a complex and costly structure.

그런데, 본 발명에 따르면 순환하는 테스트트레이(100)의 인서트가 벽(W)의 두께를 극복할 정도로 이동이 가능하므로, 위와 같은 곤란한 점을 한꺼번에 해결할 수 있게 된 것이다.However, according to the present invention, since the insert of the circulating test tray 100 can be moved so as to overcome the thickness of the wall W, it is possible to solve the above-mentioned difficulties at once.

위와 같이 본 발명에 따르면 테스트트레이(100)를 측면에서 바라볼 때, 프레임(111)의 테스터를 향한 면보다 인서트(112)가 테스터 측으로 더 돌출되게 이동할 수 있으며, 이러한 점이 본 발명의 가장 큰 특징인 것이다.As described above, according to the present invention, when the test tray 100 is viewed from the side, the insert 112 can move more toward the tester side than the surface of the frame 111 facing the tester, will be.

<변형예에 대한 설명>&Lt; Description of Modifications >

위의 실시예에서는 위치부재(113)로서 토션스프링을 적용하고 있지만, 실시하기에 따라서는 도 13 및 도 14에서 참조되는 바와 같이 인서트(112)를 정해진 위치에 위치시키기 위한 위치부재(113)로서 인장스프링(도 12의 예)이 적용되거나 판스프링(도 13의 예)이 적용될 수도 있다.Although the torsion spring is applied as the position member 113 in the above embodiment, the position member 113 for positioning the insert 112 at a predetermined position as shown in FIGS. 13 and 14 A tension spring (an example of Fig. 12) may be applied, or a leaf spring (an example of Fig. 13) may be applied.

또한, 도 15에서와 같이 탄성적으로 길이 변동이 가능한 텐션 와이어를 위치부재(133)로 활용하고, 압착고정부재(FE, 압착볼트나 압착핀 등)를 이용하여 텐션 와이어를 고정시키는 방식도 얼마든지 고려될 수 있을 것이다. 15, there is a method in which a tension wire capable of elastically varying its length is used as the position member 133 and a tension wire is fixed by using a compression fixing member (FE, compression bolt, compression pin, or the like) Can be considered.

참고로, 도 2 및 도 13에서와 같이 위치부재(113)가 프레임(111)에만 고정될 수도 있고, 도 12 및 도 14에서와 같이 위치부재(113)가 프레임(111)과 인서트(112)에 모두 고정될 수도 있다.2 and 13, the position member 113 may be fixed only to the frame 111, and the position member 113 may be fixed to the frame 111 and the insert 112, as shown in FIGS. 12 and 14. [ Respectively.

상술한 바와 같이, 본 발명에 대한 구체적인 설명은 첨부된 도면을 참조한 실시예에 의해서 이루어졌지만, 상술한 실시예는 본 발명의 바람직한 예를 들어 설명하였을 뿐이기 때문에, 본 발명이 상기의 실시예에만 국한되는 것으로 이해되어져서는 아니 되며, 본 발명의 권리범위는 후술하는 청구범위 및 그 균등범위로 이해되어져야 할 것이다.Although the present invention has been fully described by way of example only with reference to the accompanying drawings, it is to be understood that the present invention is not limited thereto. It is to be understood that the scope of the present invention is to be construed as being limited only by the following claims and their equivalents.

110 : 테스트트레이
111 : 프레임
IH : 삽입구멍 111a : 설치축
IS : 설치홈 GP : 안내돌기
a1 내지 a4 : 탈거방지홈
112 : 인서트
RS : 안착홈 SS : 유지홈
BJ : 이탈방지턱 LJ : 이동제한턱
PP : 탈거방지돌기
113 : 위치부재
113a : 결합부분 113b : 제한부분
113c : 지지부분
114 : 유지부재
BP : 이탈방지돌기110: Test tray
111: frame
IH: Insertion hole 111a: Mounting axis
IS: Installation home GP: Guide projection
a 1 to a 4 : detachment preventing groove
112: insert
RS: Seated groove SS: Holding groove
BJ: Leakage inhibitor LJ: Leakage inhibitor
PP: Removal protrusion
113: position member
113a: coupling portion 113b: limiting portion
113c: Support portion
114: Retaining member
BP:

Claims (11)

행렬 형태로 배치되는 다수의 삽입구멍이 형성되어 있는 프레임;
상기 프레임에 설치되되, 상기 다수의 삽입구멍에 각각 삽입 배치되고, 전자부품이 안착될 수 있는 안착홈을 가지며, 상기 안착홈에 안착된 전자부품의 단자들을 테스터 측으로 노출시키는 다수의 인서트; 및
상기 삽입구멍에 배치된 인서트를 정해진 자리에 위치시키는 위치부재들; 을 포함하고,
상기 위치부재들은 상기 인서트에 테스터 측으로 외력이 가해지면 상기 테스터 측으로 상기 인서트가 이동하는 것을 허락하고, 외력이 제거되면 상기 인서트를 정해진 위치로 복원시킬 수 있도록 탄성 변형과 복원이 가능한 탄성소재로 구비되며,
상기 위치부재는 상기 프레임에 결합된 상태로 설치되고, 상기 인서트에 외력이 작용할 시에 상기 인서트에 복원력를 가할 수 있도록 상기 인서트를 지지하는 지지부분을 가지는
전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이.A frame having a plurality of insertion holes arranged in a matrix form;
A plurality of inserts disposed in the frame, each insert being inserted into the plurality of insertion holes, the plurality of inserts having a seating groove into which the electronic component can be seated, and exposing the terminals of the electronic component seated in the seating recess to the tester side; And
Positioning members for positioning the insert disposed in the insertion hole at a predetermined position; / RTI &gt;
The positioning members are made of an elastic material capable of being elastically deformed and restored to allow the insert to move to the tester side when an external force is applied to the tester side and to restore the insert to a predetermined position when an external force is removed ,
The positioning member being mounted to the frame and having a support portion for supporting the insert so as to apply restoring force to the insert when an external force is applied to the insert,
Test trays for handlers for testing electronic components. 제1 항에 있어서,
상기 위치부재는 토션스프링이고,
상기 프레임은 상기 위치부재를 설치하기 위한 설치축을 가지며,
상기 위치부재는,
상기 설치축에 결합되는 결합부분; 및
상기 결합부분의 일 측으로 연장되어서 상기 프레임에 의해 변위가 제한되는 제한부분; 을 더 가지며,
상기 지지부분은 상기 결합부분의 타 측으로 연장되어서 상기 인서트의 사각 귀퉁이 중 하나의 귀퉁이를 지지함으로써 상기 인서트의 이동에 연동하여 변위하면서 상기 인서트를 지속적으로 지지할 수 있는
전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이.The method according to claim 1,
Wherein the positioning member is a torsion spring,
The frame having an installation axis for installing the position member,
Wherein the positioning member comprises:
A coupling portion coupled to the mounting shaft; And
A restricting portion extending to one side of the engaging portion and restricting displacement by the frame; Lt; / RTI &gt;
The support portion extends to the other side of the engagement portion and supports one of the square corners of the insert to thereby support the insert while being displaced in association with the movement of the insert
Test trays for handlers for testing electronic components. 제2 항에 있어서,
상기 인서트에는 상기 지지부분이 상기 인서트의 지지를 유지할 수 있도록 하는 유지홈이 형성된
전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이.3. The method of claim 2,
Wherein the insert is provided with a retaining groove for retaining the support of the insert
Test trays for handlers for testing electronic components. 제1 항에 있어서,
상기 프레임에는 상기 위치부재를 설치하기 위한 설치부분을 가지며,
상기 설치부분은 상기 삽입구멍에서 외측에 구비되는
전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이The method according to claim 1,
Wherein the frame has a mounting portion for mounting the positioning member,
The mounting portion is provided outside the insertion hole
Test trays for handlers for testing electronic components 제1 항에 있어서,
상기 프레임에는 상기 위치부재의 탄성력에 의해 상기 인서트가 상기 삽입구멍으로부터 이탈되는 것을 방지하기 위한 이탈방지돌기가 상기 삽입구멍 측으로 돌출되도록 형성되어 있고,
상기 인서트에는 상기 이탈방지돌기에 걸리는 이탈방지턱이 형성된
전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이.The method according to claim 1,
The frame is formed with a detachment protrusion protruding toward the insertion hole for preventing the insert from being detached from the insertion hole by the elastic force of the positioning member,
The insertion protrusion is formed on the insert,
Test trays for handlers for testing electronic components. 제1 항에 있어서,
상기 인서트를 상기 삽입구멍에 유지시키기 위한 유지부재; 를 더 포함하며,
상기 유지부재에는 상기 위치부재의 탄성력에 의해 상기 인서트가 상기 삽입구멍으로부터 이탈되는 것을 방지하기 위한 이탈방지돌기가 상기 삽입구멍 측으로 돌출되도록 형성되어 있고,
상기 인서트에는 상기 이탈방지돌기에 걸리는 이탈방지턱이 형성된
전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이.The method according to claim 1,
A holding member for holding the insert in the insertion hole; Further comprising:
The retaining member is formed with a detachment protrusion protruding toward the insertion hole for preventing the insert from being detached from the insertion hole by the elastic force of the positioning member,
The insertion protrusion is formed on the insert,
Test trays for handlers for testing electronic components. 제1 항에 있어서,
상기 프레임에는 상기 인서트에 가해지는 외력에 의해 상기 인서트가 이동할 시에 상기 인서트의 이동을 안내하기 위한 안내돌기가 상기 삽입구멍 측으로 돌출되도록 형성되어 있는
전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이.The method according to claim 1,
A guide protrusion for guiding the movement of the insert when the insert is moved by an external force applied to the insert is formed in the frame so as to protrude toward the insertion hole
Test trays for handlers for testing electronic components. 제7 항에 있어서,
상기 인서트에는 외력에 의해 상기 인서트가 상기 테스터 측으로 과도하게 이동되는 것을 제한하기 위한 이동제한턱이 형성되어 있고,
상기 이동제한턱은 상기 안내돌기를 걸어 외력에 의한 상기 인서트의 과도한 이동이 방지되는
전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이.8. The method of claim 7,
Wherein the insert is provided with a transfer agent tip for limiting an excessive movement of the insert toward the tester by an external force,
The transfer agent is guided by the guide protrusion so that excessive movement of the insert due to external force is prevented
Test trays for handlers for testing electronic components. 제1 항에 있어서,
상기 인서트에는 상기 인서트에 비틀린 방향으로 외력이 가해질 때 상기 인서트가 상기 삽입구멍으로부터 탈거되는 것을 방지하기 위한 복수개의 탈거방지돌기가 형성되고,
상기 프레임의 삽입구멍을 이루는 내벽면에는 상기 탈거방지돌기와 대응되는 탈거방지홈이 형성된
전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이.The method according to claim 1,
Wherein the insert has a plurality of detachment prevention protrusions for preventing the insert from being detached from the insertion hole when an external force is applied to the insert in a twisted direction,
An anti-detachment groove corresponding to the detachment prevention protrusion is formed on an inner wall surface of the frame,
Test trays for handlers for testing electronic components. 제1 항에 있어서,
상기 인서트는 상기 테스터 측으로 상기 프레임보다 더 돌출되게 이동하는
전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이.The method according to claim 1,
The insert is moved to protrude more toward the tester than the frame
Test trays for handlers for testing electronic components. 제10 항에 있어서,
상기 핸들러의 이송장치에 의해 정해진 순환경로를 따라 순환 이동하함으로써, 상기 인서트도 상기 프레임과 함께 순환 이동하며,
상기 인서트는 상기 인서트가 순환 이동할 시에는 상기 프레임보다 돌출되지 아니하고, 테스트 시에만 상기 프레임보다 더 돌출되는
전자부품 테스트용 핸들러의 테스트트레이.










11. The method of claim 10,
The insert is also circulatively moved with the frame by making a circular movement along the circulation path defined by the transfer device of the handler,
The insert does not protrude from the frame when the insert is circularly moved, but protrudes more than the frame only during testing
Test trays for handlers for testing electronic components.










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