KR102210398B1 - Pusher assembly for match plate of test handler - Google Patents

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Abstract

본 발명은 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체에 관한 것이다. 구체적으로 본 발명의 일 실시예에 따르면 테스트핸들러의 테스트소켓에 전자부품을 밀착시키는 푸셔조립체에 있어서, 매치플레이트에 제공되는 베이스부; 상기 매치플레이트에 대하여 수직 방향으로 이동 가능하도록 상기 베이스부상에 배치되며, 상기 전자부품을 상기 테스트소켓 측으로 밀어주는 푸싱부; 상기 베이스부와 상기 푸싱부 사이에 배치되며, 상기 푸싱부에 탄성력을 제공하는 탄성부재; 상기 푸싱부의 수직 방향 이동을 가이드하는 가이드부재; 및 상기 베이스부와 상기 가이드부재를 체결하는 체결부재를 포함하고, 상기 푸싱부는 상기 가이드부재에 형성된 제 1 관통홀에 삽입되고, 상기 탄성부재는 상기 푸싱부를 감싸는 형태로 제공되는, 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체가 제공될 수 있다.The present invention relates to a pusher assembly for a match plate of a test handler. Specifically, according to an embodiment of the present invention, there is provided a pusher assembly for attaching an electronic component to a test socket of a test handler, comprising: a base portion provided on a match plate; A pushing portion disposed on the base portion so as to be movable in a vertical direction with respect to the match plate and pushing the electronic component toward the test socket; An elastic member disposed between the base portion and the pushing portion and providing an elastic force to the pushing portion; A guide member for guiding the vertical movement of the pushing part; And a fastening member for fastening the base part and the guide member, wherein the pushing part is inserted into a first through hole formed in the guide member, and the elastic member is provided in a form surrounding the pushing part. A pusher assembly for a plate may be provided.

Figure 112020045787300-pat00001
Figure 112020045787300-pat00001

Description

테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체{PUSHER ASSEMBLY FOR MATCH PLATE OF TEST HANDLER}Pusher assembly for match plate of test handler {PUSHER ASSEMBLY FOR MATCH PLATE OF TEST HANDLER}

이하의 설명은 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체에 관한 것이다.The following description relates to a pusher assembly for a match plate of a test handler.

전자부품 검사 지원 장치는 소정의 제조공정을 거쳐 제조된 전자부품이 테스터에 의해 테스트될 수 있도록 지원하며, 테스트 결과에 따라 전자부품들을 등급별로 분류하여 고객트레이에 적재하는 기기로서, 대한민국 등록특허 제10-0553992호(이하 선행기술이라고 함) 등과 같은 다수의 공개문헌들을 통해 이미 공개되어 있으며, 일명 테스트핸들러(test handler)로 불리고 있다.The electronic parts inspection support device supports electronic parts manufactured through a predetermined manufacturing process so that they can be tested by a tester, and classifies electronic parts according to the test results and loads them into customer trays. It has already been disclosed through a number of publications such as 10-0553992 (hereinafter referred to as prior art), and is referred to as a test handler.

일반적으로, 제조된 전자부품은 고객트레이에 적재된 상태에서 테스트핸들러로 공급된다. 테스트핸들러로 공급된 전자부품은 로딩위치에 있는 테스트트레이로 로딩되고, 테스트사이트에서의 테스트를 거쳐 언로딩위치로 이동된 후 고객트레이로 언로딩된다.In general, manufactured electronic components are supplied to a test handler while being loaded in a customer tray. The electronic components supplied to the test handler are loaded into the test tray at the loading position, are moved to the unloading position after being tested at the test site, and then unloaded into the customer tray.

이와 같은 테스트핸들러 내에서의 전자부품의 이동과정 중 테스트트레이가 테스트사이트 상에 위치하게 되면 전자부품에 도킹된 테스터에 의해 전자부품의 테스트가 이루어진다. 이 때, 테스트트레이의 인서트에 안착되어 있는 전자부품을 테스터소켓 측으로 가압하기 위한 푸싱장치가 필요하다. 종래의 푸싱장치는 테스트트레이에 매칭되는 매치플레이트와 이 매치플레이트를 테스트트레이 방향으로 진퇴시키는 실린더 등으로 구성되었다. 매치플레이트는 설치판에 다수의 푸셔들이 행렬형태로 결합되어 있는 구조를 가지는데, 개개의 푸셔는 테스트트레이의 개개의 인서트에 일대일로 대응함으로써 인서트에 안착된 전자부품을 가압하여 전자부품이 테스터소켓에 밀착되도록 하는 역할을 수행한다.When the test tray is placed on the test site during the moving process of the electronic component in the test handler, the electronic component is tested by the tester docked on the electronic component. At this time, a pushing device for pressing the electronic component seated on the insert of the test tray toward the tester socket is required. A conventional pushing device is composed of a match plate that matches a test tray and a cylinder that advances and retreats the match plate in the direction of the test tray. The match plate has a structure in which a number of pushers are combined in a matrix form on the mounting plate.Each pusher corresponds to each insert in the test tray on a one-to-one basis to pressurize the electronic component seated on the insert, and the electronic component is a tester socket. It plays the role of making it adhere to.

한편, 반도체소자 등의 전자부품의 경우, 관련 제조공정의 발달로 인해 집적화가 빠른 속도로 이루어지고 있고, 그에 따라 갈수록 소형화되고 있다. 따라서 푸셔 역시 소형화는 물론이고, 미세 피치(fine pitch)에 효율적으로 대응할 수 있어야 하는데, 기존에 제시된 선행기술에 의한 푸셔는 전자부품, 테스터소켓 등 각종 부품의 공차에 의해 영향을 많이 받게 된다. 다시 말해, 푸셔가 전자부품을 가압하여 전자부품을 테스터소켓에 밀착시킬 때, 각종 부품의 공차로 인해 일정한 접촉 스트로크(contact stroke) 및 접촉력(contact force)을 유지하기가 어렵게 되고, 이는 전자부품 테스트 공정의 전체 수율을 현격하게 떨어뜨리는 원인이 되고 있다.On the other hand, in the case of electronic components such as semiconductor devices, integration is being made at a high speed due to the development of related manufacturing processes, and accordingly, the size is getting smaller. Therefore, the pusher must be able to respond efficiently to a fine pitch as well as miniaturization. The pusher according to the existing prior art is greatly affected by the tolerance of various parts such as electronic parts and tester sockets. In other words, when the pusher presses the electronic component and makes the electronic component in close contact with the tester socket, it becomes difficult to maintain a constant contact stroke and contact force due to the tolerance of various components, which makes it difficult to test the electronic component. It is a cause of significantly lowering the overall yield of the process.

등록특허공보 제10-0553992호Registered Patent Publication No. 10-0553992

여기에서 설명되는 실시예들은 미세 피치 대응 시 각종 부품의 공차에 의한 테스트 수율의 감소를 방지할 수 있는 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체를 제공하기 위한 것이다.Embodiments described herein are intended to provide a pusher assembly for a match plate of a test handler capable of preventing a decrease in test yield due to tolerances of various parts in response to a fine pitch.

또한, 미세 피치 대응 시 구조적 안정성을 가지는 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체를 제공하기 위한 것이다.In addition, it is to provide a pusher assembly for a match plate of a test handler having structural stability when responding to a fine pitch.

본 발명의 일 측면에 따르면, 테스트핸들러의 테스트소켓에 전자부품을 밀착시키는 푸셔조립체에 있어서, 매치플레이트에 제공되는 베이스부; 상기 매치플레이트에 대하여 수직 방향으로 이동 가능하도록 상기 베이스부상에 배치되며, 상기 전자부품을 상기 테스트소켓 측으로 밀어주는 푸싱부; 상기 베이스부와 상기 푸싱부 사이에 배치되며, 상기 푸싱부에 탄성력을 제공하는 탄성부재; 상기 푸싱부의 수직 방향 이동을 가이드하는 가이드부재; 및 상기 베이스부와 상기 가이드부재를 체결하는 체결부재를 포함하고, 상기 푸싱부는 상기 가이드부재에 형성된 제 1 관통홀에 삽입되고, 상기 탄성부재는 상기 푸싱부를 감싸는 형태로 제공되는, 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체가 제공될 수 있다.According to an aspect of the present invention, there is provided a pusher assembly for attaching an electronic component to a test socket of a test handler, comprising: a base portion provided on a match plate; A pushing portion disposed on the base portion so as to be movable in a vertical direction with respect to the match plate and pushing the electronic component toward the test socket; An elastic member disposed between the base portion and the pushing portion and providing an elastic force to the pushing portion; A guide member for guiding the vertical movement of the pushing part; And a fastening member for fastening the base part and the guide member, wherein the pushing part is inserted into a first through hole formed in the guide member, and the elastic member is provided in a form surrounding the pushing part. A pusher assembly for a plate may be provided.

또한, 상기 푸싱부는 상기 베이스부에 형성된 제 2 관통홀에 삽입되어, 수직 이동에 따라 상기 베이스부를 관통 가능한, 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체가 제공될 수 있다.In addition, a pusher assembly for a match plate of a test handler may be provided, which is inserted into the second through-hole formed in the base and penetrates the base according to vertical movement.

또한, 상기 가이드부재와 상기 매치플레이트를 연결하는 스프링을 더 포함하고, 상기 베이스부는 상기 매치플레이트에 형성된 제 3 관통홀 내에 배치되며, 상기 푸싱부가 상기 전자부품을 밀어줌에 따라 상기 베이스부는 상기 제 3 관통홀을 벗어나 상기 매치플레이트 보다 상기 전자부품으로부터 더 멀어지는, 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체가 제공될 수 있다.In addition, it further comprises a spring connecting the guide member and the match plate, the base portion is disposed in a third through hole formed in the match plate, and as the pushing portion pushes the electronic component, the base portion 3 A pusher assembly for a match plate of a test handler may be provided, which is further away from the electronic component than the match plate through the through hole.

또한, 상기 제 3 관통홀의 직경은 상기 매치플레이트의 상기 전자부품 측 일면에서 상기 전자부품의 반대 측 타면으로 갈수록 증가하고, 상기 베이스부의 상기 매치플레이트 측 일단부는 상기 전자부품 반대 측으로 갈수록 폭이 증가하여 상기 제 3 관통홀의 내측면에 접하는, 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체가 제공될 수 있다.In addition, the diameter of the third through-hole increases from one side of the match plate to the other side opposite to the electronic component, and the width of one end of the base portion increases toward the opposite side of the electronic component. A pusher assembly for a match plate of a test handler may be provided in contact with the inner side of the third through hole.

또한, 상기 가이드부재는 상기 푸싱부가 상기 전자부품 방향으로 이탈되는 것을 방지하는 단턱부를 포함하고,상기 푸싱부는 상기 단턱부에 의해 이동이 간섭되는 돌출부를 포함하는, 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체가 제공될 수 있다.In addition, the guide member includes a stepped portion that prevents the pushing portion from being separated in the direction of the electronic component, and the pushing portion includes a protrusion to which movement is interfered by the stepped portion, a pusher assembly for a match plate of a test handler Can be provided.

여기에서 설명되는 실시예들에 따르면, 미세 피치 대응 시 각종 부품의 공차에 의한 테스트 수율의 감소를 방지할 수 있는 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체를 제공할 수 있다.According to the embodiments described herein, it is possible to provide a pusher assembly for a match plate of a test handler capable of preventing a decrease in test yield due to tolerances of various parts when responding to a fine pitch.

또한, 미세 피치 대응 시 구조적 안정성을 가지는 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체를 제공할 수 있다.In addition, it is possible to provide a pusher assembly for a match plate of a test handler having structural stability when responding to a fine pitch.

도 1은 일실시예에 따른 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체의 분해사시도.
도 2는 도 1의 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체가 조립된 모습을 나타내는 사시도.
도 3은 도 2의 A-A 선을 따라 절단하여 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체의 내부 구성을 나타내는 단면도.
도 4 및 도 5는 도 1의 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체의 작동 모습을 나타내는 단면도.
도 6은 다른 실시예에 따른 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체의 평면도.
도 7는 도 6의 B-B 선을 따라 절단한 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체의 측단면도.
도 8은 또 다른 실시예에 따른 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체의 내부 구성을 나타내는 단면도.
도 9 및 도 10은 도 8의 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체의 작동 모습을 나타내는 단면도.1 is an exploded perspective view of a pusher assembly for a match plate of a test handler according to an embodiment.
2 is a perspective view showing a state in which the pusher assembly for the match plate of the test handler of FIG. 1 is assembled.
3 is a cross-sectional view showing the internal configuration of a pusher assembly for a match plate of a test handler by cutting along the line AA of FIG. 2;
4 and 5 are cross-sectional views showing the operation of the pusher assembly for the match plate of the test handler of FIG. 1;
6 is a plan view of a pusher assembly for a match plate of a test handler according to another embodiment.
7 is a side cross-sectional view of a pusher assembly for a match plate of a test handler cut along line BB of FIG. 6.
8 is a cross-sectional view showing the internal configuration of a pusher assembly for a match plate of a test handler according to another embodiment.
9 and 10 are cross-sectional views showing the operation of the pusher assembly for the match plate of the test handler of FIG. 8;

이하에서는 본 기술 사상의 구체적인 실시예들에 대하여 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명하도록 한다. 아울러, 관련된 공지 구성 또는 기능에 대한 구체적인 설명이 본 기술 사상의 요지를 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다.Hereinafter, specific embodiments of the present technical idea will be described in detail with reference to the accompanying drawings. In addition, when it is determined that a detailed description of a related known configuration or function may obscure the gist of the present technical idea, a detailed description thereof is omitted.

도 1은 일실시예에 따른 테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체(이하, 푸셔조립체라 함)의 분해사시도이고, 도 2는 도 1의 푸셔조립체가 조립된 모습을 나타내는 사시도이다.1 is an exploded perspective view of a pusher assembly (hereinafter referred to as a pusher assembly) for a match plate of a test handler according to an embodiment, and FIG. 2 is a perspective view showing a state in which the pusher assembly of FIG. 1 is assembled.

도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 본 실시예에 따른 푸셔조립체(100)는 베이스부(110), 푸싱부(120), 탄성부재(131) 및 가이드부재(130)를 포함할 수 있다. 1 and 2, the pusher assembly 100 according to the present embodiment may include a base portion 110, a pushing portion 120, an elastic member 131, and a guide member 130. .

베이스부(110)는 매치플레이트(미도시) 상에 설치될 수 있다. 구체적으로, 매치플레이트 상에는 다수의 설치부가 행렬형태로 형성되고, 이러한 다수의 설치부에 다수의 푸셔조립체(100)가 각각 설치될 수 있다. 푸셔조립체(100) 중에서도 베이스부(110)의 일측(도 1을 기준으로 하측)이 매치플레이트에 직접적으로 연결될 수 있는데, 본 실시예에서는 베이스부(110)의 일측과 매치플레이트 사이에 스프링(111)이 개재되어 베이스부(110)는 매치플레이트와 탄성적으로 연결될 수 있고, 이에 따라 베이스부(110)는 매치플레이트에 대하여 이동 가능할 수 있다.The base unit 110 may be installed on a match plate (not shown). Specifically, a plurality of installation portions are formed in a matrix form on the match plate, and a plurality of pusher assemblies 100 may be respectively installed on the plurality of installation portions. Among the pusher assembly 100, one side (lower side with reference to FIG. 1) of the base unit 110 may be directly connected to the match plate. In this embodiment, a spring 111 is provided between one side of the base unit 110 and the match plate. ) Is interposed so that the base unit 110 may be elastically connected to the match plate, and accordingly, the base unit 110 may be movable with respect to the match plate.

위와 같은 스프링(111)은, 기본적으로 푸싱부(120)에 의해 가압되는 전자부품을 보호하는 완충효과를 제공 할 수 있다. 또한, 본 실시예에 따른 푸셔조립체(100)에는 총 4개의 스프링(111)이 베이스부(110)의 각 모서리마다 제공되어, 푸싱부(120)가 전자부품에 기울어진 상태로 접촉하는 것을 사전에 차단함과 동시에 전자부품 전체 면적에 균일한 압력 분포가 형성되도록 할 수 있다.The spring 111 as described above may basically provide a cushioning effect to protect the electronic component pressed by the pushing unit 120. In addition, in the pusher assembly 100 according to the present embodiment, a total of four springs 111 are provided for each corner of the base unit 110, so that the pushing unit 120 is in contact with the electronic component in an inclined state. At the same time, it is possible to form a uniform pressure distribution over the entire area of the electronic component.

베이스부(110)의 타측(도 1을 기준으로 상측)에는 푸싱부(120)가 안착될 수 있다. 후술하겠지만, 베이스부(110)는 푸싱부(120)와도 탄성적으로 연결될 수 있다.The pushing part 120 may be seated on the other side (upper side with reference to FIG. 1) of the base part 110. As will be described later, the base unit 110 may also be elastically connected to the pushing unit 120.

베이스부(110)에는 후술할 가이드부재(130)의 일단부가 수용될 수 있는 수용부(115)가 형성될 수 있다. 수용부(115)는 베이스부(110)를 관통하는 홀 형태일 수 있고, 또는 소정의 깊이를 가지는 홈 형태일 수도 있다.An accommodating portion 115 capable of accommodating one end of a guide member 130 to be described later may be formed in the base portion 110. The receiving part 115 may be in the form of a hole penetrating through the base part 110 or may be in the form of a groove having a predetermined depth.

푸싱부(120)는 전자부품과 직접적으로 접촉하여 전자부품을 테스터소켓 측으로 가압/밀착하는 역할을 할 수 있다. 푸싱부(120)는 베이스부(110)의 타측에 안착될 수 있는데, 도 1에 도시된 것과 같이, 베이스부(110)에 형성된 함몰부에 안착됨으로써 보다 안정적인 구조를 가질 수 있다.The pushing unit 120 may directly contact the electronic component to press/close the electronic component toward the tester socket. The pushing unit 120 may be seated on the other side of the base unit 110, and as shown in FIG. 1, the pushing unit 120 may have a more stable structure by being seated in a recess formed in the base unit 110.

또한, 푸싱부(120)는 베이스부(110)와 탄성적으로 연결될 수 있다. 본 실시예에서는 후술할 가이드부재(130)의 외주면 상의 탄성부재(131)를 통해 푸싱부(120)와 베이스부(110)가 탄성적으로 연결된다. 이와 같은 구성을 통해 전자부품이나 테스터소켓 등 각종 부품의 공차에 의한 오버 스트로크(over stroke)를 보상하여 전자부품을 보다 정밀하게 테스터소켓에 밀착시킬 수 있다.In addition, the pushing unit 120 may be elastically connected to the base unit 110. In this embodiment, the pushing part 120 and the base part 110 are elastically connected through an elastic member 131 on the outer circumferential surface of the guide member 130 to be described later. Through this configuration, it is possible to more precisely adhere the electronic component to the tester socket by compensating for overstroke due to tolerances of various components such as electronic components or tester sockets.

또한, 푸싱부(120)에는 후술할 가이드부재(130)가 관통 삽입되는 관통홀(125)이 형성될 수 있다.In addition, a through hole 125 through which a guide member 130 to be described later is inserted may be formed in the pushing part 120.

가이드부재(130)는 봉 형상의 부재일 수 있고, 이러한 가이드부재(130)는 푸싱부(120)의 관통홀(125)을 관통하며, 관통한 상태에서 베이스부(110) 측 일단부는 베이스부(110)에 형성된 수용부(115)에 수용될 수 있다. 가이드부재(130)는 푸셔조립체(100)가 전자부품을 가압할 때, 서로 탄성적으로 연결된 베이스부(110)와 푸싱부(120)의 거동을 서로에 대하여 가이드함으로써 구조적인 안정성을 제공하며, 이로써 전자부품이 테스터소켓에 더욱 정밀하게 밀착될 수 있도록 한다.The guide member 130 may be a rod-shaped member, and the guide member 130 penetrates through the through hole 125 of the pushing part 120, and one end of the base part 110 side is the base part. It may be accommodated in the receiving portion 115 formed in (110). When the pusher assembly 100 presses the electronic component, the guide member 130 guides the behavior of the base unit 110 and the pushing unit 120 elastically connected to each other to provide structural stability, This allows the electronic component to more precisely adhere to the tester socket.

본 실시예에 따르면, 상술한 바와 같이 베이스부(110)와 푸싱부(120)가 서로 탄성적으로 연결되어 있어, 미세 피치 대응 시 각종 부품의 공차를 보상할 수 있으므로 상기 공차에 의한 테스트 수율의 감소를 방지할 수 있다.According to the present embodiment, the base unit 110 and the pushing unit 120 are elastically connected to each other as described above, so that tolerances of various components can be compensated for when responding to a fine pitch. It can prevent reduction.

여기서, 가이드부재(130) 없이 단순히 베이스부(110)와 푸싱부(120)를 탄성적으로 연결하는 것만을 통해서는 위에서 언급한 효과를 완전히 거둘 수 없다. 다시 말해, 아무런 가이드 장치 없이 베이스부(110)와 푸싱부(120)를 탄성적으로 연결하면, 베이스부(110)와 푸싱부(120)의 위치 안정성(구조적 안정성)이 저하되어 미세 피치에 정밀하게 대응하기가 어렵다. 본 실시예에 따른 푸셔조립체(100)는 상술한 바와 같은 가이드부재(130)를 포함하는 바, 베이스부(110)와 푸싱부(120)가 서로 탄성적으로 연결되면서도 구조적인 안정성을 가져 각종 부품의 공차를 효과적으로 보상할 수 있다.Here, the above-mentioned effect cannot be completely achieved by simply elastically connecting the base unit 110 and the pushing unit 120 without the guide member 130. In other words, if the base unit 110 and the pushing unit 120 are elastically connected without any guide device, the positional stability (structural stability) of the base unit 110 and the pushing unit 120 is deteriorated, so that a fine pitch It is difficult to respond well. The pusher assembly 100 according to the present embodiment includes the guide member 130 as described above, and the base part 110 and the pushing part 120 are elastically connected to each other, yet have structural stability. Can effectively compensate for the tolerance of

도 3은 도 2의 A-A 선을 따라 절단하여 푸셔조립체(100)의 내부 구성을 나타내는 단면도이다. 베이스부(110)의 일측은 스프링(111)을 통해 매치플레이트(미도시)와 연결될 수 있고, 푸싱부(120)는 베이스부(110)의 타측에 제공될 수 있다. 가이드부재(130)는 푸싱부(120)에 형성된 관통홀(125)을 관통하여 그 일단부가 베이스부(110)에 형성된 수용부(115)에 수용될 수 있다. 가이드부재(130)의 외주면 상에는 탄성부재(131)가 제공될 수 있고, 베이스부(110)와 푸싱부(120)는 이러한 탄성부재(131)를 통해 서로 탄성적으로 연결될 수 있다. 3 is a cross-sectional view showing the internal configuration of the pusher assembly 100 by cutting along the line A-A of FIG. 2. One side of the base unit 110 may be connected to a match plate (not shown) through a spring 111, and the pushing unit 120 may be provided on the other side of the base unit 110. The guide member 130 may pass through the through hole 125 formed in the pushing part 120, and one end thereof may be accommodated in the receiving part 115 formed in the base part 110. An elastic member 131 may be provided on the outer circumferential surface of the guide member 130, and the base unit 110 and the pushing unit 120 may be elastically connected to each other through the elastic member 131.

도 4 및 도 5는 푸셔조립체(100)의 작동 모습을 나타내는 단면도이다. 이를 참조하여 본 실시예에 따른 푸셔조립체(100)의 작동 모습을 설명하기로 한다.4 and 5 are cross-sectional views illustrating the operation of the pusher assembly 100. With reference to this, the operation of the pusher assembly 100 according to the present embodiment will be described.

우선, 도 4는 푸셔조립체(100)가 아직 전자부품(20)을 테스터소켓(30) 측으로 가압하지 않은 상태를 도시한 것이며, 이를 표현하기 위해 전자부품(20)과 테스터소켓(30) 사이에 간극이 존재하는 것으로 도시하였다. 도 5는 푸셔조립체(100)가 전자부품(20)을 테스터소켓(30) 측으로 가압한 상태를 도시한 것이다. First, FIG. 4 shows a state in which the pusher assembly 100 has not yet pressed the electronic component 20 toward the tester socket 30, and between the electronic component 20 and the tester socket 30 to express this The gap is shown as being present. 5 illustrates a state in which the pusher assembly 100 presses the electronic component 20 toward the tester socket 30.

우선 외부의 힘에 의해 매치플레이트(미도시)가 상승되고, 이에 의해 푸셔조립체(100), 특히 푸싱부(120)가 인서트(10)에 안착된 전자부품(20)을 테스터소켓(30) 측으로 가압하여 전자부품(20)을 테스터소켓(30)에 밀착시킨다. 이 때, 베이스부(110)의 일측에 제공된 복수의 스프링(111)은 완충효과를 제공하여 전자부품(20)을 보호함과 동시에, 초기에 푸싱부(120)가 기울어진 상태로 전자부품(20)과 접촉하는 것을 방지할 수 있다. 한편, 베이스부(110)와 푸싱부(120)를 탄성적으로 연결하는 가이드부재(130) 상의 탄성부재(131)는 푸싱부(120)가 전자부품(20)을 가압할 때 각종 부품의 공차를 보상하는 역할을 할 수 있다. 가이드부재(130)는 서로 탄성적으로 연결된 베이스부(110)와 푸싱부(120)의 거동을 안정적으로 가이드하여 구조적인 안정성을 제공할 수 있고, 이를 통해 푸싱부(120)는 보다 정밀하게 전자부품(20)을 테스터 소켓(30) 측으로 가압할 수 있게 된다.First, the match plate (not shown) is raised by an external force, and thereby the pusher assembly 100, in particular, the electronic component 20 seated on the insert 10, is moved to the tester socket 30. By pressing the electronic component 20 in close contact with the tester socket (30). At this time, the plurality of springs 111 provided on one side of the base unit 110 provide a buffering effect to protect the electronic component 20 and at the same time, the electronic component ( 20) can prevent contact. On the other hand, the elastic member 131 on the guide member 130 that elastically connects the base unit 110 and the pushing unit 120 to the tolerance of various parts when the pushing unit 120 presses the electronic component 20 It can play a role of rewarding. The guide member 130 can provide structural stability by stably guiding the behavior of the base unit 110 and the pushing unit 120 that are elastically connected to each other, and through this, the pushing unit 120 is more accurately electronic It is possible to press the component 20 toward the tester socket 30.

한편, 전자부품은 다양한 환경조건 하에서 사용될 수 있으므로, 테스트핸들러는 각종 온도환경을 조성하여 전자부품이 해당 온도환경에서 정상적으로 작동하는지 여부를 확인할 필요가 있다. 이를 위해, 전자부품(20)에 열매체(냉기 또는 열기)를 공급하여 전자부품(20)의 온도환경을 설정하게 된다.Meanwhile, since an electronic component can be used under various environmental conditions, the test handler needs to establish various temperature environments to check whether the electronic component operates normally in the corresponding temperature environment. To this end, a heat medium (cold air or hot air) is supplied to the electronic component 20 to set the temperature environment of the electronic component 20.

본 실시예에 따른 푸셔조립체(100)의 가이드부재(130)에는 위와 같은 열매체를 통과시킬 수 있는 구성이 마련될 수 있다. 이를 위해, 도 1 내지 도 3에서 확인할 수 있듯이, 푸싱부(120)의 관통홀(125)은 푸싱부(120)의 중앙부에 형성될 수 있고, 이러한 관통홀(125)을 통해 열매체가 전자부품(20)에 제공될 수 있다. 또한, 본 실시예에서는, 상기 관통홀(125)에 삽입되는 가이드부재(130)의 중앙부에는 관통홀(125)보다 작은 직경의 열매체유로(132)가 형성될 수 있다. 점차 소형화되는 전자부품(20) 및 푸셔조립체(100)의 발전 경향을 고려하였을 때, 제한된 공간을 적극적으로 활용할 필요가 있고, 이에 따라 본 실시예의 가이드부재(130)는 베이스부(110)와 푸싱부(120)를 가이드함과 동시에 전자부품(20)에 열매체를 공급할 수 있는 통로 역할도 할 수 있는 것이다.The guide member 130 of the pusher assembly 100 according to the present embodiment may be provided with a configuration capable of passing the heat medium as described above. To this end, as can be seen in FIGS. 1 to 3, the through hole 125 of the pushing part 120 may be formed in the central part of the pushing part 120, and the heat medium through the through hole 125 is an electronic component. (20) can be provided. In addition, in the present embodiment, a heat medium passage 132 having a diameter smaller than that of the through hole 125 may be formed in the central portion of the guide member 130 inserted into the through hole 125. Considering the development trend of the electronic component 20 and the pusher assembly 100, which are gradually miniaturized, it is necessary to actively utilize a limited space, and accordingly, the guide member 130 of the present embodiment includes the base unit 110 and the pushing unit. While guiding the part 120, it may also serve as a passage for supplying a heat medium to the electronic component 20.

한편, 다시 도 4를 참조하면, 본 실시예에 따른 푸셔조립체(100)는 베이스부(110)와 푸싱부(120)가 별도로 마련되는 바, 가이드부재(130)의 전자부품(20) 측 타단부(도 4를 기준으로, 상단부)에는 가이드부재(130) 본체의 직경보다 큰 직경의 단턱부(133)가 형성될 수 있고, 푸싱부(120)의 관통홀(125) 내측면에는 상기 단턱부(133)에 걸리는 돌출부(123)가 형성되어 푸싱부(120)가 전자부품(20) 방향으로 이탈되는 것이 방지될 수 있다.Meanwhile, referring again to FIG. 4, in the pusher assembly 100 according to the present embodiment, the base unit 110 and the pushing unit 120 are separately provided, and the other side of the electronic component 20 of the guide member 130 A stepped portion 133 having a diameter larger than the diameter of the guide member 130 may be formed at the end (based on FIG. 4, the upper end), and the end portion 133 may be formed on the inner surface of the through hole 125 of the pushing portion 120. The protrusion 123 caught on the jaw portion 133 may be formed to prevent the pushing portion 120 from being separated in the direction of the electronic component 20.

베이스부(110)의 매치플레이트 측 일측(도 4를 기준으로, 하측)에는 체결부(117)가 형성될 수 있다. 이러한 체결부(117)는 베이스부(110)와 매치플레이트의 연결을 위한 것으로, 예를 들어 상술한 스프링(111)의 일단이 체결되는 공간일 수 있고, 스프링(111) 외의 나사 등의 기타 체결부재가 체결되는 공간일 수도 있다. 본 실시예에 따른 푸셔조립체(100)의 가이드부재(130)는 관통홀(125)에 전자부품(20) 측으로부터 삽입되므로(도 4를 기준으로, 위에서 아래로), 스프링(111) 등과 같은 베이스부(110)와 매치플레이트 사이의 체결부재와 간섭 현상이 발생하지 않게 된다.A fastening portion 117 may be formed on one side of the base portion 110 on the match plate side (lower side with reference to FIG. 4 ). This fastening part 117 is for connecting the base part 110 and the match plate, for example, it may be a space in which one end of the spring 111 is fastened, and other fastening such as screws other than the spring 111 It may be a space in which the member is fastened. Since the guide member 130 of the pusher assembly 100 according to the present embodiment is inserted from the side of the electronic component 20 into the through hole 125 (from top to bottom based on FIG. 4), such as the spring 111 The interference phenomenon with the fastening member between the base unit 110 and the match plate does not occur.

도 6 및 도 7은 각각 다른 실시예에 따른 푸셔조립체(200)의 평면도 및 측단면도이다. 이하에서는, 앞서 설명한 실시예와 차이가 나는 부분을 위주로 설명하기로 한다.6 and 7 are plan and side cross-sectional views of a pusher assembly 200 according to different embodiments, respectively. Hereinafter, a description will be made mainly on a part that differs from the above-described embodiment.

도 1 내지 도 5에서 설명한 실시예와는 다르게, 본 실시예에 따른 푸셔조립체(200)는 일명 듀얼타입 푸셔조립체(200)로서, 하나의 베이스부(210)에 복수의 푸싱부가 제공될 수 있다. 본 실시예에서는 두 개의 푸싱부(220, 221)가 제공되었다.Unlike the embodiments described in FIGS. 1 to 5, the pusher assembly 200 according to the present embodiment is a so-called dual-type pusher assembly 200, and a plurality of pushing portions may be provided on one base portion 210. . In this embodiment, two pushing units 220 and 221 are provided.

복수의 푸싱부(220, 221)는 베이스부(210)에 형성된 복수의 함몰부에 제공될 수 있고, 탄성부재(238, 239)를 통해 각각 베이스부(210)와 탄성적으로 연결될 수 있으며, 이 때 복수의 가이드부재(230 내지 233)가 복수의 푸싱부(220, 221)와 베이스부(210)의 거동을 안정적으로 가이드할 수 있다.The plurality of pushing parts 220 and 221 may be provided in a plurality of depressions formed in the base part 210, and may be elastically connected to the base part 210, respectively, through elastic members 238 and 239, In this case, the plurality of guide members 230 to 233 may stably guide the movements of the plurality of pushing parts 220 and 221 and the base part 210.

구체적인 가이드 방법은 도 1 내지 도 5에서 설명한 실시예와 같다. 즉, 가이드부재(230 내지 233)가 푸싱부(220, 221)를 관통하고, 그 일단부는 베이스부(210)에 수용될 수 있다. 또한, 가이드부재(230 내지 233)의 외주면 상에 배치되는 탄성부재(238, 239)를 통해 베이스부(210)와 푸싱부(220, 221)가 서로 탄성적으로 연결될 수 있는 것이다.The specific guide method is the same as the embodiments described in FIGS. 1 to 5. That is, the guide members 230 to 233 may pass through the pushing parts 220 and 221, and one end thereof may be accommodated in the base part 210. In addition, the base portion 210 and the pushing portions 220 and 221 may be elastically connected to each other through the elastic members 238 and 239 disposed on the outer circumferential surfaces of the guide members 230 to 233.

본 실시예에 따른 푸셔조립체(200)에 있어서, 열매체유로(225)는 각 푸싱부(220, 221)의 중앙부에 형성될 수 있다. 가이드부재(230 내지 233)는, 열매체유로(225)의 위치를 고려하여 푸싱부(220, 221) 및 베이스부(210)의 좌우(도 6을 기준으로는 상하)에 대칭적으로 마련될 수 있다. 다시 말해, 관통홀 및 수용부는 각각 푸싱부(220, 221) 및 베이스부(210)의 좌우에 대칭적으로 복수 개 형성되고, 가이드부재(230, 231, 232, 233)도 복수 개로 마련되어 각 관통홀-수용부에 제공될 수 있다. 대칭적으로 배치된 복수의 가이드부재로 인하여 보다 정밀하게 베이스부(210)와 푸싱부(220, 221)를 가이드할 수 있고, 이에 따라 전자부품의 테스트 수율이 상승될 수 있다.In the pusher assembly 200 according to the present embodiment, the heat medium flow path 225 may be formed in the central portion of each of the pushing parts 220 and 221. The guide members 230 to 233 may be symmetrically provided on the left and right (up and down with reference to FIG. 6) of the pushing parts 220 and 221 and the base part 210 in consideration of the position of the heat medium flow path 225. have. In other words, a plurality of through holes and receiving portions are formed symmetrically on the left and right sides of the pushing portions 220 and 221 and the base portion 210, respectively, and a plurality of guide members 230, 231, 232, and 233 are also provided to penetrate each It can be provided in the hole-receiving part. Due to the plurality of symmetrically arranged guide members, the base unit 210 and the pushing units 220 and 221 may be guided more precisely, and accordingly, the test yield of the electronic component may be increased.

또한, 본 실시예에 따른 푸셔조립체(200)의 푸싱부(220, 221)의 전자부품 측 면(surface)에는 열매체유로(225)를 통해 전자부품에 공급된 열매체가 원활하게 배출될 수 있는 배출홈(240)이 형성될 수 있다.In addition, the electronic component surface of the pusher assembly 200 according to the present embodiment (220, 221) is discharged through the heat medium flow path 225 so that the heat medium supplied to the electronic component can be smoothly discharged. A groove 240 may be formed.

도 8은 또 다른 실시예에 따른 푸셔조립체(300)의 내부 구성을 나타내는 단면도이다. 이하에서는, 앞서 설명한 실시예들과 차이가 나는 부분을 위주로 설명하기로 한다.8 is a cross-sectional view showing the internal configuration of a pusher assembly 300 according to another embodiment. Hereinafter, a description will be made mainly on a portion different from the above-described embodiments.

베이스부(310)는 매치플레이트(1)에 제공될 수 있다. 구체적으로, 본 실시예의 경우, 매치플레이트(1)에는 제 3 관통홀(2)(제 1 관통홀 및 2 관통홀에 대하여는 후술함)이 형성될 수 있고, 베이스부(310)는 이러한 제 3 관통홀(2) 내에 위치할 수 있다. 초기 상태에서는, 도 8에 도시된 것처럼, 베이스부(310)의 전자부품(20) 반대 측(도 8에서는 하측) 일단부(319)는 매치플레이트(1)의 제 3 관통홀(2) 내에 정위치되나, 작동 상태에 따라서는 상기 일단부(319)는 제 3 관통홀(2)을 벗어나면서 매치플레이트(1) 보다 전자부품(20)으로부터 멀어질 수 있다. 즉, 도 8을 기준으로, 상기 일단부(319)는 매치플레이트(1)의 아래에 위치할 수도 있다. 이에 대하여는 도 10에서 다시 설명하기로 한다. 또한, 매치플레이트(1)에 형성된 제 3 관통홀(2)의 직경은 전자부품(20) 측 일면(도 8을 기준으로는 상면)에서 전자부품(20) 반대 측 타면(도 8을 기준으로는 하면)으로 갈수록 증가할 수 있다. 그리고 베이스부(310)의 상기 일단부(319)는 전자부품(20) 반대 측으로 갈수록 그 폭이 증가하여 제 3 관통홀(2)의 내측면(3)에 접할 수 있다. 이로써 베이스부(310)의 상기 일단부(319)는 매치플레이트(1)와의 관계에 있어서 매치플레이트(1)의 제 3 관통홀(2) 내에 위치하거나 도 8을 기준으로 매치플레이트(1) 보다 아래에 위치할 수 있을 뿐, 도 8을 기준으로 매치플레이트(1) 보다 위에 위치할 수는 없다. 이에 대하여도 도 10에서 다시 설명하기로 한다.The base portion 310 may be provided on the match plate 1. Specifically, in the case of the present embodiment, the match plate 1 may be formed with a third through hole 2 (the first through hole and the second through hole will be described later), and the base portion 310 is It can be located in the through hole (2). In the initial state, as shown in FIG. 8, the end portion 319 of the base portion 310 opposite the electronic component 20 (the lower side in FIG. 8) is in the third through hole 2 of the match plate 1. Although positioned correctly, the one end portion 319 may be further away from the electronic component 20 than the match plate 1 while leaving the third through hole 2 depending on the operating state. That is, based on FIG. 8, the one end portion 319 may be located under the match plate 1. This will be described again in FIG. 10. In addition, the diameter of the third through-hole 2 formed in the match plate 1 is from one side of the electronic component 20 side (the top surface with reference to FIG. 8) to the other side opposite the electronic component 20 (with reference to FIG. 8). Can increase as you go to the bottom). In addition, the width of the one end portion 319 of the base portion 310 increases toward the opposite side of the electronic component 20, so that it may contact the inner surface 3 of the third through hole 2. Accordingly, the one end portion 319 of the base portion 310 is positioned within the third through hole 2 of the match plate 1 in relation to the match plate 1, or more than the match plate 1 based on FIG. It can be positioned below, but cannot be positioned above the match plate 1 based on FIG. 8. This will also be described again in FIG. 10.

한편, 베이스부(310)에는 제 2 관통홀(315)이 형성될 수 있다. 본 실시예에서는 제 2 관통홀(315)이 베이스부(310)의 중앙부를 상하(도 8 기준)로 관통하는 것으로 예시하였다. 그리고 이러한 제 2 관통홀(315)에 푸싱부(320)가 삽입될 수 있다. 도 1 내지 도 5에서 설명한 실시예와는 달리, 본 실시예에 따른 푸셔조립체(300)의 푸싱부(320)는 푸셔조립체(300)의 중앙부에 위치하고, 가이드부재(330)는 푸셔조립체(300)의 주변부에 위치할 수 있다. 또한, 푸싱부(320)의 외주면에는 탄성부재(321)가 제공될 수 있고, 이러한 탄성부재(321)로 인하여 베이스부(310)와 푸싱부(320)가 서로 탄성적으로 연결됨으로써 각종 공차에 의한 오버 스트로크를 보상할 수 있다. 아울러, 푸싱부(320)에는 전자부품(20)에 열매체를 공급하기 위한 열매체유로(322)가 형성될 수 있다.Meanwhile, a second through hole 315 may be formed in the base portion 310. In this embodiment, it is illustrated that the second through-hole 315 penetrates the central portion of the base portion 310 vertically (based on FIG. 8 ). In addition, the pushing part 320 may be inserted into the second through hole 315. Unlike the embodiments described in FIGS. 1 to 5, the pushing part 320 of the pusher assembly 300 according to the present embodiment is located in the center of the pusher assembly 300, and the guide member 330 is the pusher assembly 300. ) Can be located in the periphery. In addition, an elastic member 321 may be provided on the outer circumferential surface of the pushing part 320, and the base part 310 and the pushing part 320 are elastically connected to each other due to the elastic member 321, thereby preventing various tolerances. Overstroke caused by can be compensated. In addition, a heat medium flow path 322 for supplying a heat medium to the electronic component 20 may be formed in the pushing part 320.

상술한 바와 같이, 가이드부재(330)는 푸셔조립체(300)의 주변부에 위치할 수 있다. 이에 따라, 가이드부재(330)는 푸싱부(320)를 감싸는 형태를 가진 채 푸싱부(320)의 이동을 안내할 수 있다. 구체적으로, 가이드부재(330)의 중앙부에는 제 1 관통홀(335)이 형성될 수 있다. 이러한 제 1 관통홀(335)을 통해 푸싱부(320)의 일단부가 전자부품(20) 측으로 돌출될 수 있고, 작동 상태에 따라 전자부품(20)에 접하여 전자부품(20)을 테스터 소켓(30)에 밀착시킬 수 있다. 한편, 푸싱부(320)의 전자부품(20) 방향의 이탈을 방지하기 위하여 푸싱부(320)에는 돌출부(323)가 형성될 수 있고, 가이드부재(330)에는 단턱부(333)가 형성될 수 있다. 또한, 가이드부재(330)는 베이스부(310)와 체결부재(4)로 체결되어 서로 일체로 이동할 수 있다.As described above, the guide member 330 may be located at the periphery of the pusher assembly 300. Accordingly, the guide member 330 may guide the movement of the pushing unit 320 while having a shape surrounding the pushing unit 320. Specifically, a first through hole 335 may be formed in the central portion of the guide member 330. One end of the pushing part 320 may protrude toward the electronic component 20 through the first through hole 335, and according to the operating state, the electronic component 20 is brought into contact with the electronic component 20 to connect the electronic component 20 to the tester socket 30. ) Can be brought into close contact. Meanwhile, a protrusion 323 may be formed on the pushing unit 320 to prevent separation of the pushing unit 320 in the direction of the electronic component 20, and a stepped portion 333 may be formed on the guide member 330. I can. In addition, the guide member 330 is fastened with the base portion 310 and the fastening member 4 so as to move integrally with each other.

한편, 가이드부재(330)와 매치플레이트(1) 사이에는 복수의 스프링(331)이 개재될 수 있다. 이러한 복수의 스프링(331)은 서로 대칭적으로 배치될 수 있다. 이로써, 전자부품(20)에 완충효과를 제공할 수 있고, 푸싱부(320)가 최초에 기울어진 채 전자부품(20)에 접촉하는 것을 방지할 수 있으며, 전자부품(20)의 전체 면적에 균일한 압력이 분포되도록 할 수 있다.Meanwhile, a plurality of springs 331 may be interposed between the guide member 330 and the match plate 1. The plurality of springs 331 may be disposed symmetrically to each other. Accordingly, it is possible to provide a buffering effect to the electronic component 20, to prevent the pushing unit 320 from contacting the electronic component 20 while initially inclined, and to cover the entire area of the electronic component 20. Uniform pressure distribution can be made.

도 9는 본 실시예에 따른 푸셔조립체(300)의 작동 모습을 나타내는 단면도이다. 도 8에서는 제 1 관통홀(335), 제 2 관통홀(315) 및 제 3 관통홀(2)을 설명하기 위해 푸싱부(320) 및 가이드부재(330), 그리고 베이스부(310) 및 매치플레이트(1)는 서로 이격된 것으로 도시하였다. 그러나, 이들은 도 9 및 도 10에 도시한 바와 같이 서로 접한 채 서로에 대하여 운동할 수 있다.9 is a cross-sectional view showing the operation of the pusher assembly 300 according to the present embodiment. In FIG. 8, the pushing part 320 and the guide member 330, and the base part 310 and match to explain the first through hole 335, the second through hole 315, and the third through hole 2 The plates 1 are shown to be spaced apart from each other. However, they can move relative to each other while in contact with each other as shown in FIGS. 9 and 10.

전자부품(20)의 테스트를 위하여, 매치플레이트(1)가 전자부품(20) 측으로 이동할 수 있다. 매치플레이트(1)의 이동에 따라 스프링(331)으로 매치플레이트(1)와 연결되어 있는 푸셔조립체(300)도 전자부품(20) 측으로 이동할 수 있다. 매치플레이트(1) 및 푸셔조립체(300)는 푸싱부(320)가 전자부품(20)에 접촉된 이후로 계속 상승(도 9 기준)할 수 있고, 이에 따라 전자부품(20)은 테스터 소켓(30)에 접촉될 수 있다. 여기서, 전자부품(20)이 테스터 소켓(30)에 밀착되도록 하기 위하여 매치플레이트(1) 및 푸셔조립체(300)는 더 상승(도 9 기준)할 수 있다. 이로써 전자부품(20)은 적당한 압력을 받은 채 테스터 소켓(30)에 밀착될 수 있다. 그리고 이 과정에서 푸싱부(320)는 다른 구성들(310, 330 등)과의 상대적인 관계에 있어서 하강(도 9 기준)할 수 있고 탄성부재(321)는 압축될 수 있다. 이는, 도 9을 기준으로, 다른 구성들(310, 330 등)은 계속 상승할 수 있는 반면, 푸싱부(320)는 더 이상 상승할 수 없는 전자부품(20)과 접촉한 상태이기 때문에 푸싱부(320) 역시 더 이상 상승할 수 없음을 의미할 수 있다. 푸셔조립체(300)가 전체적으로 전자부품(20) 측으로 이동하면서 전자부품(20)을 가압하는 과정에서 전자부품(20)에 직접적으로 접촉하는 푸싱부(320)가 전자부품(20) 측으로 이동하지 않으므로, 그 반력에 의해 푸싱부(320) 외주면 상의 탄성부재(321)는 압축될 수 있는 것이다. 이러한 탄성부재(321)에 의해 각종 공차가 보상될 수 있음은 전술한 바와 같다.For testing of the electronic component 20, the match plate 1 may be moved toward the electronic component 20. As the match plate 1 moves, the pusher assembly 300 connected to the match plate 1 by a spring 331 may also move toward the electronic component 20. The match plate 1 and the pusher assembly 300 may continue to rise (refer to FIG. 9) after the pushing unit 320 contacts the electronic component 20, and accordingly, the electronic component 20 is a tester socket ( 30) can be contacted. Here, the match plate 1 and the pusher assembly 300 may be further raised (refer to FIG. 9) so that the electronic component 20 is in close contact with the tester socket 30. Accordingly, the electronic component 20 can be in close contact with the tester socket 30 while receiving an appropriate pressure. In this process, the pushing unit 320 may be lowered (refer to FIG. 9) in a relative relationship with other components 310, 330, etc., and the elastic member 321 may be compressed. 9, the other components (310, 330, etc.) can continue to rise, while the pushing unit 320 is in a state in contact with the electronic component 20 that can no longer rise, the pushing unit (320) may also mean that it can no longer ascend. In the process of pressing the electronic component 20 while the pusher assembly 300 moves toward the electronic component 20 as a whole, the pushing unit 320 directly contacting the electronic component 20 does not move toward the electronic component 20. , By the reaction force, the elastic member 321 on the outer circumferential surface of the pushing unit 320 may be compressed. As described above, various tolerances can be compensated for by the elastic member 321.

도 10은 본 실시예에 따른 푸셔조립체(300)의 작동 모습을 나타내는 단면도이다. 도 10은 도 9의 경우보다 가압이 더 진행된 모습을 나타낼 수 있다. 일반적인 경우(도 9)보다 전자부품(20)을 더 가압해야 할 필요성이 있는 경우 또는 기계의 오작동에 따라 전자부품(20)이 예상보다 더 가압되는 경우를 예로 들 수 있다.10 is a cross-sectional view showing the operation of the pusher assembly 300 according to the present embodiment. FIG. 10 may show a state in which pressurization is further advanced than that of FIG. 9. An example may be a case where there is a need to pressurize the electronic component 20 more than the general case (FIG. 9) or a case where the electronic component 20 is pressed more than expected due to a malfunction of a machine.

도 10에 도시된 바와 같이, 전자부품(20)에 대한 가압이 더 진행되어 매치플레이트(1)가 계속 상승할 경우, 가이드부재(330)와 매치플레이트(1) 사이에 개재된 스프링(331)이 압축될 수 있다. 이에 따라 푸셔조립체(300)의 전자부품(20) 반대 측 일단부(319)는 매치플레이트(1)의 제 3 관통홀(2)을 벗어날 수 있고, 도 10을 기준으로 상기 일단부(319)는 매치플레이트(1)의 하부에 위치할 수 있다. 한편, 상기 스프링(331)에 의해 전자부품(20)이 파손이 방지될 수 있고, 푸싱부(320)가 초기에 기울어진 채 전자부품(20)에 접촉되는 것이 방지될 수 있으며, 전자부품(20) 전체 면적에 압력이 균일하게 분포될 수 있음은 전술한 바와 같다.As shown in FIG. 10, when the electronic component 20 is further pressed and the match plate 1 continues to rise, a spring 331 interposed between the guide member 330 and the match plate 1 Can be compressed. Accordingly, the one end 319 on the opposite side of the electronic component 20 of the pusher assembly 300 may escape from the third through hole 2 of the match plate 1, and the one end 319 is based on FIG. May be located under the match plate 1. Meanwhile, damage to the electronic component 20 may be prevented by the spring 331, and contact with the electronic component 20 while the pushing part 320 is initially inclined may be prevented, and the electronic component ( 20) As described above, the pressure can be uniformly distributed over the entire area.

그리고, 전술한 바와 같이, 도 10을 기준으로 제 3 관통홀(2)의 직경은 아래로 갈수록 증가하고, 베이스부(310)의 일단부(319)의 폭 역시 아래로 갈수록 증가하여 상기 일단부(319)가 제 3 관통홀(2)의 내측면(3)에 접하기 때문에, 베이스부(310)를 포함한 푸셔조립체(300)가 매치플레이트(1)로부터 이탈되는 것이 방지될 수 있다. 구체적으로, 베이스부(310)는, 그 일단부(319) 및 제 3 관통홀(2)의 내측면(3) 형상으로 인하여, 매치플레이트(1)로부터 하방 이동(도 10 기준, 매치플레이트(1)와의 상대적 개념임)만이 가능할 뿐이고, 매치플레이트(1)로부터 상방 이동을 불가할 수 있다.And, as described above, the diameter of the third through-hole 2 increases downwardly, and the width of the one end 319 of the base part 310 also increases downward, based on FIG. Since the 319 contacts the inner surface 3 of the third through hole 2, the pusher assembly 300 including the base portion 310 can be prevented from being separated from the match plate 1. Specifically, the base portion 310 moves downward from the match plate 1 due to the shape of the inner side 3 of the one end portion 319 and the third through hole 2 (based on FIG. 10, the match plate ( 1) is a relative concept), and upward movement from the match plate 1 may not be possible.

이상에서 설명된 실시예는 본 기술 사상의 일부 예를 설명한 것에 불과하고, 본 기술 사상의 범위는 설명된 실시예에 한정되는 것은 아니며, 이 분야의 통상의 기술자에 의하여 본 기술 사상의 범위 내에서의 다양한 변경, 변형 또는 치환이 가능할 것이고, 그와 같은 실시는 모두 본 기술 사상의 범위에 속하는 것으로 보아야 한다. The embodiments described above are only for describing some examples of the present technical idea, and the scope of the present technical idea is not limited to the described embodiments, and within the scope of the present technical idea by one of ordinary skill in the art. Various changes, modifications or substitutions may be made, and all such implementations should be considered to be within the scope of the present technical idea.

예를 들어, 도 1 내지 도 5에서 설명한 실시예에 따른 푸셔조립체(100)의 특징은 도 6 및 도 7에서 설명한 실시예에 따른 푸셔조립체(200)에도 동일하게 적용될 수 있고, 그 반대의 경우도 마찬가지이다.For example, the characteristics of the pusher assembly 100 according to the embodiment described in FIGS. 1 to 5 can be equally applied to the pusher assembly 200 according to the embodiment described in FIGS. 6 and 7, and vice versa. The same goes for it.

10: 인서트 20: 전자부품
30: 테스터 소켓 100: 푸셔조립체
110: 베이스부 115: 수용부
120: 푸싱부 125: 관통홀
130: 가이드부재 131: 탄성부재10: insert 20: electronic components
30: tester socket 100: pusher assembly
110: base portion 115: receiving portion
120: pushing part 125: through hole
130: guide member 131: elastic member

Claims (5)

테스트핸들러의 테스트소켓에 전자부품을 밀착시키는 푸셔조립체에 있어서,
매치플레이트에 제공되는 베이스부;
상기 매치플레이트에 대하여 수직 방향으로 이동 가능하도록 상기 베이스부상에 배치되며, 상기 전자부품을 상기 테스트소켓 측으로 밀어주는 푸싱부;
상기 베이스부와 상기 푸싱부 사이에 배치되며, 상기 푸싱부에 탄성력을 제공하는 탄성부재;
상기 푸싱부의 수직 방향 이동을 가이드하는 가이드부재; 및
상기 베이스부와 상기 가이드부재를 체결하는 체결부재를 포함하고,
상기 푸싱부는, 상기 가이드부재에 형성된 제 1 관통홀에 삽입되고, 상기 전자부품의 온도를 조절하기 위한 열매체가 통과하는 열매체유로를 포함하며,
상기 탄성부재는 상기 푸싱부를 감싸는 형태로 제공되는,
테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체.In the pusher assembly that adheres electronic components to the test socket of the test handler,
A base portion provided on the match plate;
A pushing portion disposed on the base portion so as to be movable in a vertical direction with respect to the match plate, and pushing the electronic component toward the test socket;
An elastic member disposed between the base portion and the pushing portion and providing an elastic force to the pushing portion;
A guide member for guiding the vertical movement of the pushing part; And
It includes a fastening member for fastening the base portion and the guide member,
The pushing part includes a heat medium flow path inserted into a first through hole formed in the guide member and through which a heat medium for controlling a temperature of the electronic component passes,
The elastic member is provided in a form surrounding the pushing part,
Pusher assembly for match plate of test handler. 제 1 항에 있어서,
상기 푸싱부는 상기 베이스부에 형성된 제 2 관통홀에 삽입되어, 수직 이동에 따라 상기 베이스부를 관통 가능한,
테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체.The method of claim 1,
The pushing part is inserted into the second through hole formed in the base part, and is capable of penetrating the base part according to vertical movement,
Pusher assembly for match plate of test handler. 제 1 항에 있어서,
상기 가이드부재와 상기 매치플레이트를 연결하는 스프링을 더 포함하고,
상기 베이스부는 상기 매치플레이트에 형성된 제 3 관통홀 내에 배치되며,
상기 푸싱부가 상기 전자부품을 밀어줌에 따라 상기 베이스부는 상기 제 3 관통홀을 벗어나 상기 매치플레이트 보다 상기 전자부품으로부터 더 멀어지는,
테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체.The method of claim 1,
Further comprising a spring connecting the guide member and the match plate,
The base portion is disposed in a third through hole formed in the match plate,
As the pushing part pushes the electronic part, the base part escapes from the third through hole and becomes further away from the electronic part than the match plate,
Pusher assembly for match plate of test handler. 제 3 항에 있어서,
상기 제 3 관통홀의 직경은 상기 매치플레이트의 상기 전자부품 측 일면에서 상기 전자부품의 반대 측 타면으로 갈수록 증가하고,
상기 베이스부의 상기 매치플레이트 측 일단부는 상기 전자부품 반대 측으로 갈수록 폭이 증가하여 상기 제 3 관통홀의 내측면에 접하는,
테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체.The method of claim 3,
The diameter of the third through-hole increases from one surface of the match plate to the other surface of the electronic component opposite to the electronic component,
One end portion of the match plate side of the base portion increases in width toward the opposite side of the electronic component to contact the inner surface of the third through hole,
Pusher assembly for match plate of test handler. 제 1 항에 있어서,
상기 가이드부재는 상기 푸싱부가 상기 전자부품 방향으로 이탈되는 것을 방지하는 단턱부를 포함하고,
상기 푸싱부는 상기 단턱부에 의해 이동이 간섭되는 돌출부를 포함하는,
테스트핸들러의 매치플레이트용 푸셔조립체.The method of claim 1,
The guide member includes a stepped portion for preventing the pushing portion from being separated in the direction of the electronic component,
The pushing part includes a protrusion to which movement is interfered by the stepped part,
Pusher assembly for match plate of test handler.
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