KR20170113100A - 전자부품의 특성 측정장치 - Google Patents

전자부품의 특성 측정장치 Download PDF

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타카아키 나카지마
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Abstract

홀더(25)에 마련된 복수 개의 수용 캐비티(26)에, 복수 개의 전자부품(24)을 1개씩 수용한 상태로, 측정단자(31, 32)를 외부단자 전극(22, 23)에 접촉시켜 전자부품(24)의 특성을 측정하는 장치에서, 홀더(25)의 제1 개구단(29) 측의 면 위에 돌기(34)가 마련되어 있다. 돌기(34)는, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티(26) 사이에 측정단자(31)가 위치할 때, 해당 제1 측정단자를 수용 캐비티(26) 내의 전자부품(24)으로부터 멀리 떨어지게 한다.

Description

전자부품의 특성 측정장치{DEVICE FOR MEASURING CHARACTERISTIC OF ELECTRONIC COMPONENT}
이 발명은, 전자부품의 특성 측정장치에 관한 것으로, 특히 전기적 특성이 측정되는 전자부품을 유지하기 위한 홀더 측의 구성과 전자부품의 외부단자 전극에 접촉하는 측정단자 측의 구성의 치수관계에 대한 개량에 관한 것이다.
이 발명에서 흥미 있는 종래의 전자부품의 특성 측정장치로서, 일본 공표특허공보 2005-514605호에 기재된 것이 있다. 도 8을 참조하여 설명하면, 일본 공표특허공보 2005-514605호에 기재된 특성 측정장치(1)는, 서로 대향하는 제1 및 제2 단부(端部)에 제1 및 제2 외부단자 전극(2 및 3)이 각각 형성된 칩상의 전자부품(4)의 특성을 측정하기 위한 것이다. 또한 도 8에 나타낸 구성은, 이 발명에 따른 특성 측정장치와의 대비를 용이하게 하기 위해, 일본 공표특허공보 2005-514605호에서 도시된 구성을 간략화한 것으로 되어 있다.
특성 측정장치(1)는, 전자부품(4)을 수용하기 위한 수용 캐비티(5)를 가지면서, 제1 및 제2 외부단자 전극(2 및 3)을 수용 캐비티(5)의 서로 대향하는 제1 및 제2 개구단(6 및 7) 측을 각각 향한 상태로 전자부품(4)을 유지하는 홀더(8)를 포함하고 있다.
또한 특성 측정장치(1)는, 수용 캐비티(5)의 제1 및 제2 개구단(6 및 7) 근방의 각 위치에서, 전자부품(4)의 제1 및 제2 외부단자 전극(2 및 3)에 각각 접촉하도록 배치되는 제1 및 제2 측정단자(9 및 10)를 포함하고 있다. 제1 측정단자(9)는, 롤러상이며 베어링대(bearing stand)(11)에 의해 회전 가능하게 유지되고 있다. 베어링대(11)는, 고정부(도시하지 않음.)에 대하여 판 스프링(12)을 통해 유지되고, 이에 따라 제1 측정단자(9)가 제1 외부단자 전극(2)에 탄성적으로 접촉하게 된다. 제2 측정단자(10)는 고정적으로 마련된 베이스(13) 내에 내장된다. 제2 측정단자(10)는 제1 측정단자(9)의 바로 아래에 위치하고 있다.
홀더(8)는 원판상이며, 거기에는 복수 개의 수용 캐비티(5)가 둘레방향으로 분포하도록 배열되고, 각 수용 캐비티(5)에는 전자부품(4)이 1개씩 수용된다. 따라서 도 8에는, 홀더(8)의 일부가 도시되어 있다고 이해하면 된다.
원판상의 홀더(8)는 회전한다. 이 홀더(8)의 회전에 따라 이동되는 수용 캐비티(5)의 경로상의 소정 위치에서, 전자부품(4)이 수용 캐비티(5) 내에 들어가고, 이어서, 수용 캐비티(5) 내에 수용된 전자부품(4)이 제1 및 제2 측정단자(9 및 10) 사이의 위치로 이동되며, 제1 및 제2 측정단자(9 및 10)가, 각각 제1 및 제2 외부단자 전극(2 및 3)에 접촉함으로써 전자부품(4)의 전기적 특성이 측정된다. 그 후, 전자부품(4)은 수용 캐비티(5)로부터 꺼내진다. 이 때, 측정된 전기적 특성에 따라, 예를 들면 전기적 특성의 좋고 나쁨에 따라 전자부품(4)이 선별된다.
상술한 바와 같은 특성 측정장치(1)에서, 다수 개의 전자부품(4)의 특성 측정을 능률적으로 실시하기 위해서는, 서로 이웃하여 수용되는 전자부품(4) 상호 간의 간격을 좁히는 것이 바람직하다. 그러나 복수의 전자부품(4)의 간격을 지나치게 좁히면, 도 9에 나타내는 바와 같이, 롤러상의 제1 측정단자(9)가 2개의 전자부품(4)의 각각의 제1 외부단자 전극(2)에 동시에 접촉해 버리는 상황(이하, "2개 접촉"이라고 하는 경우가 있음.)이 초래된다. 또한 도 9에서는, 제1 측정단자(9)를 회전 가능하게 지지하는 베어링대(11) 및 판 스프링(12)의 도시가 생략되어 있다.
예를 들면, 전자부품(4)이 적층 세라믹 콘덴서인 경우, 이 특성 측정장치(1)에 의해, 적층 세라믹 콘덴서의 절연 저항이 측정된다. 절연 저항의 측정 시에는, 적층 세라믹 콘덴서가 충전 상태가 된다. 그러나 상술한 바와 같이, 제1 측정단자(9)가 2개의 전자부품(4)의 각각의 제1 외부단자 전극(2)에 동시에 접촉하면, 한쪽 전자부품(4)에서 충전된 전하가, 제1 측정단자(9)를 통해 다른 쪽 전자부품(4)으로 회피하기 때문에, 정확한 특성 측정의 방해가 될 수 있다.
이와 동일한 문제는, 적층 세라믹 콘덴서에 대한 절연 저항 측정의 경우에 한하지 않고, 다른 전자부품에 대한 다른 전기적 특성 측정의 경우에도 만날 수 있다.
본 발명의 주 목적은, 복수 개의 전자부품의 특성 측정을 능률적으로 실시할 수 있는, 전자부품의 특성 측정장치를 제공하는 것이다.
이 발명은, 서로 대향하는 제1 및 제2 단부에 제1 및 제2 외부단자 전극이 각각 형성된 칩상의 전자부품의 전기적 특성을 측정하는 장치에 대한 것이다.
이 특성 측정장치는, 전자부품을 1개씩 수용하기 위한 복수 개의 수용 캐비티를 가지며, 제1 및 제2 외부단자 전극을 수용 캐비티의 서로 대향하는 제1 및 제2 개구단 측을 각각 향한 상태로 전자부품을 유지하는 홀더와, 수용 캐비티의 제1 및 제2 개구단 근방의 각 위치에서, 전자부품의 제1 및 제2 외부단자 전극에 각각 접촉하도록 배치되는 제1 및 제2 측정단자를 포함하고 있다.
상기 홀더는, 제1 및 제2 측정단자가 각 수용 캐비티 내에 수용된 각 전자부품의 제1 및 제2 외부단자 전극에 순차 접촉하도록, 제1 및 제2 측정단자에 대하여 상대적으로 이동 가능하게 된다.
또한 제1 측정단자의 제1 외부단자 전극에 대한 접촉면은, 복수 개의 수용 캐비티의 배열방향에 대하여 직교하는 방향을 향하는 중심축선을 가지는 원통면을 이루고 있다.
그리고 원통면의 반지름을 R, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티 간의 간격을 w, 수용 캐비티에 수용된 전자부품의, 제1 개구단으로부터의 돌출 길이를 a로 했을 때 서로 이웃하는 2개의 전자부품의 제1 외부단자 전극에 동시에 접촉할 수 있는 조건인,
a＞R-{R2-(w2/4)}1 /2
의 조건을 만족하고 있는 것을 전제로 한 후에, 상술한 기술적 과제를 해결하기 위해 다음과 같은 구성을 포함하는 것을 특징으로 하고 있다.
즉, 이 발명에 따른 전자부품의 특성 측정장치는, 홀더의 제1 개구단 측의 면 위에 마련된 돌기를 더 포함한다. 이 돌기는, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티 사이에 제1 측정단자가 위치할 때, 해당 제1 측정단자를 수용 캐비티 내의 전자부품으로부터 멀리 떨어지게 하기 위한 것이며,
돌기의 높이를 t, 서로 이웃하는 돌기 간의 간격을 c로 했을 때,
{R2-(w2/4)}1 /2-R+a＜t＜R+a-{R2-(c2/4)}1 /2
의 조건을 만족하고 있는 것을 특징으로 하고 있다.
상기한 부등식 중 {R2-(w2/4)}1 /2-R+a＜t는, 특히 "2개 접촉"이 생기지 않도록 하기 위한 조건을 규정하는 것이며, t＜R+a-{R2-(c2/4)}1 / 2은, 서로 이웃하는 돌기 간에 위치하는 전자부품의 제1 외부단자 전극에 제1 측정단자를 확실하게 접촉시키기 위한 조건을 규정하는 것이다.
바람직하게는, 상기 돌기는 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티 사이에 위치한다. 이와 같이, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티 사이에 돌기를 마련하도록 하면, 제1 측정단자가 서로 이웃하는 수용 캐비티 사이에서 돌기 상에 확실하게 올라앉는다. 따라서 제1 측정단자를 수용 캐비티 내의 전자부품으로부터 멀리 떨어지게 한 상태를 확실하게 얻을 수 있고, 따라서 "2개 접촉"을 확실하게 방지할 수 있다.
상기 돌기의 가장 높은 부분은, 보다 바람직하게는, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티 사이의 중앙부에 위치한다. 이에 따라, 홀더에 대한 제1 측정단자의 동작을 안정적인 것으로 할 수 있다.
제1 측정단자는, 제1 외부단자 전극에 접촉하면서 회전하는 롤러를 포함하는 것이 바람직하다. 이에 따라, 제1 측정단자를, 제1 외부단자 전극에 대하여 원활하게 접촉시킬 수 있다.
바람직하게는, 홀더는 원판상이며, 복수 개의 수용 캐비티는 홀더의 둘레방향으로 분포하도록 배열되고, 홀더가 회전함으로써 제1 및 제2 측정단자가 각 수용 캐비티 내에 수용된 각 전자부품의 제1 및 제2 외부단자 전극에 순차 접촉하게 된다. 이와 같이 구성됨으로써, 홀더의 한쪽방향에 대한 회전에 따라 전자부품의 특성 측정 공정을 연속적으로 진행할 수 있으므로, 특성 측정 공정의 능률화를 한층 더 도모할 수 있다.
이 발명에 의하면, 홀더의 수용 캐비티에 수용된 복수 개의 전자부품의 간격을, "2개 접촉"이 생길 수 있을 정도로 좁혔다고 해도, 홀더에 마련된 돌기에 의해 제1 측정단자가 들어 올려지므로, "2개 접촉"이 생기지 않도록 할 수 있다. 따라서 "2개 접촉"의 문제를 회피하면서, 능률적인 특성 측정을 실시하는 것이 가능해진다.
이 발명의 상기 및 다른 목적, 특징, 국면 및 이점은, 첨부한 도면과 관련하여 이해되는 이 발명에 관한 다음의 상세한 설명으로부터 명백해질 것이다.
도 1은 이 발명의 제1 실시형태에 의한 전자부품의 특성 측정장치(21)에 포함하는 홀더(25)를 나타내는 평면도이다.
도 2는 도 1에 나타낸 홀더(25)를 포함하는 특성 측정장치(21)의 주요부를 확대하여 나타내는, 도 1의 선II-II를 따른 단면에 상당하는 단면을 나타내는 도면이다.
도 3은 도 2에 나타낸 전자부품의 특성 측정장치(21)에서, "2개 접촉"이 생기는 조건을 설명하기 위한 도 2에 대응하는 단면도이다.
도 4는 도 2에 나타낸 전자부품의 특성 측정장치(21)에서, 돌기(34)를 마련함으로써 "2개 접촉"이 생기지 않도록 하는 조건을 설명하기 위한 도 2에 대응하는 단면도이다.
도 5는 도 2에 나타낸 전자부품의 특성 측정장치(21)에서, 돌기(34)를 마련함으로써 "2개 접촉"이 생기지 않도록 함과 함께, 제1 측정단자(31)가 전자부품(24)의 제1 외부단자 전극(22)에 접촉할 수 있는 조건을 설명하기 위한 도 2에 대응하는 단면도이다.
도 6은 이 발명의 제2 실시형태에 의한 전자부품의 특성 측정장치에 포함하는 제1 측정단자(31a)를 나타내는 정면도이다.
도 7은 이 발명의 제3 실시형태에 의한 전자부품의 특성 측정장치의 주요부를 확대하여 나타내는, 도 2의 선VII-VII를 따른 단면에 상당하는 단면을 나타내는 도면이다.
도 8은 이 발명에서 흥미 있는 종래의 전자부품의 특정 측정장치(1)의 주요부를 나타내는 단면도이다.
도 9는 도 8에 나타낸 전자부품의 특성 측정장치(1)에서, 서로 이웃하여 수용되는 복수 개의 전자부품(4)의 간격을 좁힘으로써 "2개 접촉"이 생긴 상태를 설명하기 위한 단면도이다.
도 1 및 도 2를 참조하여, 이 발명의 제1 실시형태에 의한 전자부품의 특성 측정장치(21)에 대해 설명한다.
특성 측정장치(21)에서는, 도 8을 참조하여 상술한 특성 측정장치(1)의 경우와 마찬가지로, 도 2에 나타내는 바와 같이, 서로 대향하는 제1 및 제2 단부에 제1 및 제2 외부단자 전극(22 및 23)이 각각 형성된 칩상의 전자부품(24)이 취급된다.
또한 특성 측정장치(21)는, 이하에 설명하는 바와 같이, 상술한 특성 측정장치(1)와 공통되는 많은 요소를 포함하고 있다.
홀더(25)는, 도 1에 잘 나타나 있는 바와 같이 원판상이다. 홀더(25)는 전기 절연 재료로 이루어지고, 거기에는, 전자부품(24)을 1개씩 수용하는 복수 개의 수용 캐비티(26)가 마련되어 있다. 복수 개의 수용 캐비티(26)는, 홀더(25)의 둘레방향으로 분포하도록 배열되어 있다. 또한 도시하는 바와 같이, 복수 개의 수용 캐비티(26)는, 필요에 따라 복수 열로 배열되어도 된다.
홀더(25)의 중심에는, 샤프트 수용 구멍(27)이 마련되고, 여기에 수용된 샤프트(도시하지 않음.)의 회전이 전달됨으로써, 홀더(25)는 화살표(28)로 나타내는 바와 같이 회전한다. 홀더(25)는, 통상 간헐적으로 회전한다.
홀더(25)의 회전에 따라 이동되는 수용 캐비티(26)의 경로상의 소정 위치에서, 수용 캐비티(26) 내에 전자부품(24)이 들어간다. 수용 캐비티(26) 내에 수용된 전자부품(24)은, 도 2에 나타내는 바와 같이, 제1 및 제2 외부단자 전극(22 및 23)을 수용 캐비티(26)의 서로 대향하는 제1 및 제2 개구단(29 및 30) 측을 각각 향한 상태로 되어 있다.
특성 측정장치(21)는, 도체로 이루어지는 제1 및 제2 측정단자(31 및 32)를 포함하고 있다. 제1 및 제2 측정단자(31 및 32)는, 수용 캐비티(26)의 제1 및 제2 개구단(29 및 30) 근방의 각 위치에서, 전자부품(24)의 제1 및 제2 외부단자 전극(22 및 23)에 각각 접촉하도록 배치된다. 홀더(25)가 회전함으로써 제1 및 제2 측정단자(31 및 32)는, 각 수용 캐비티(26) 내에 수용된 각 전자부품(24)의 제1 및 제2 외부단자 전극(22 및 23)에 순차 접촉하고, 이 상태에서, 전자부품(24)의 원하는 전기적 특성을 측정하는 공정이 실시된다.
그 후, 전자부품(24)은, 홀더(25)의 회전에 따라 이동된 후, 수용 캐비티(26)로부터 꺼내진다. 이 때, 측정된 전기적 특성에 따라, 예를 들면 전기적 특성의 좋고 나쁨에 따라 전자부품(24)이 선별된다.
상술한 제1 측정단자(31)의 제1 외부단자 전극(22)에 대한 접촉면은, 복수 개의 수용 캐비티(26)의 배열방향에 대하여 직교하는 방향을 향하는 중심축선을 가지는 원통면을 이루고 있다. 보다 구체적으로는, 제1 측정단자(31)는 롤러상이며, 도시를 생략한 베어링대에 의해 회전 가능하게 유지되고 있다. 따라서 제1 측정단자(31)는, 홀더(25)의 회전에 따라 이동하는 전자부품(24)의 외부단자 전극(22)에 대하여 원활한 접촉 상태를 실현할 수 있다.
상기 베어링대는, 도 8에 나타낸 베어링대(11)의 경우와 마찬가지로, 고정부에 대하여, 예를 들면 판 스프링을 통해 유지되고, 이에 따라 제1 측정단자(31)가 제1 외부단자 전극(22)에 탄성적으로 접촉하게 된다. 또한 제1 측정단자(31)의, 제1 외부단자 전극(22)에 대한 탄성적 접촉 때문에, 판 스프링 이외의 예를 들면 코일 스프링이 이용되어도 되고, 또한 제1 측정단자(31)에 작용하는 중력이 이용되어도 된다.
홀더(25)의 아래쪽에는, 전기 절연 재료로 이루어지는 베이스(33)가 고정적으로 마련된다. 제2 측정단자(32)는, 제1 측정단자(31)의 바로 아래의 위치에서 베이스(33) 내에 내장된다. 베이스(33)는, 수용 캐비티(26) 내에 수용된 전자부품(24)이 탈락하지 않도록, 이를 받는 기능을 가지고 있다.
이상과 같은 특성 측정장치(21)에서, 이하와 같은 구성을 포함하는 것을 특징으로 하고 있다.
홀더(25)의 제1 개구단(29) 측의 면 위에 돌기(34)가 마련된다. 돌기(34)는, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티(26) 사이에 제1 측정단자(31)가 위치할 때, 해당 제1 측정단자(31)를 수용 캐비티(26) 내의 전자부품(24)으로부터 멀리 떨어지게 하기 위한 것이다. 이 실시형태에서는, 돌기(34)는, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티(26) 사이에 위치한다. 바꿔 말하면, 돌기(34)는, 배열된 수용 캐비티(26)가 존재하는 띠상 영역 내에 위치한다. 또한 도 1에서는, 돌기(34)의 도시가 생략되어 있다.
이와 같이, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티(26) 사이에 돌기(34)를 마련하도록 하면, 제1 측정단자(31)가 서로 이웃하는 수용 캐비티(26) 사이에서 돌기(34) 상에 확실하게 올라앉는다. 따라서 제1 측정단자(31)를 수용 캐비티(26) 내의 전자부품(24)으로부터 멀리 떨어지게 한 상태를 확실하게 얻을 수 있다. 즉, "2개 접촉"을 확실하게 방지할 수 있다.
이 실시형태에서는, 상기 돌기(34)의 가장 높은 부분은, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티(26) 사이의 중앙부에 위치한다. 이에 따라, 홀더(25)에 대한 제1 측정단자(31)의 동작을 안정적인 것으로 할 수 있다.
또한 돌기(34)는, 홀더(25)의 회전방향(28)에서의 상류 측 및 하류 측에, 각각, 원호상의 움푹함(35 및 36)을 형성한 형상을 가지고 있다. 돌기(34)의, 이러한 형상은, 서로 이웃하는 돌기(34) 사이에 위치하는 전자부품(24)의 제1 외부단자 전극(22)에 제1 측정단자(31)를 보다 확실하게 접촉시키는 것에 기여하고 있다.
도 3을 참조하여, 이 발명에서는, 제1 측정단자(31)의 원통면의 반지름을 R, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티(26) 사이의 간격을 w, 수용 캐비티(26)에 수용된 전자부품(24)의, 제1 개구단(29)으로부터의 돌출 길이를 a로 했을 때 서로 이웃하는 2개의 전자부품(24)의 제1 외부단자 전극(22)에 동시에 접촉할 수 있는 조건("2개 접촉"이 생기는 조건)인,
a＞R-{R2-(w2/4)}1 /2
의 조건을 만족하고 있는 것이 전제가 된다. 상기 간격(w)은, 서로 이웃하는 전자부품(24)끼리가 가장 가까이 갈 수 있는 거리이기도 하다. 또한 이 전제가 되는 조건이란, 이 발명의 특징적 구성인 돌기(34)를 마련하기 전 단계에서의 조건이다.
상기 전제 조건을 나타내는 부등식은, 다음과 같이 하여 구한다.
도 3을 참조하여, y+a＞R, 즉 a＞R-y일 때, "2개 접촉"이 생긴다.
상기 y는 y=(R2-x2)1/2로 나타내고, 이 식 중 x는 x=w/2로 나타낸다. 따라서
y=(R2-x2)1/2
={R2-(w/2)2}1 /2
={R2-(w2/4)}1 /2
이 된다.
상기 a＞R-y의 식에서 y={R2-(w2/4)}1 / 2을 대입하면, 상술한 a＞R-{R2-(w2/4)}1/2이 얻어진다.
즉, 제1 측정단자(31)의 원통면의 반지름(R), 및 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티(26) 간의 간격(w)으로부터 산출되는 R-{R2-(w2/4)}1 / 2이, 수용 캐비티(26)에 수용된 전자부품(24)의, 제1 개구단(29)으로부터의 돌출길이(a)보다 작을 때 "2개 접촉"이 생긴다.
상기한 바와 같이, "2개 접촉"이 생기는 전제 조건하에서, 돌기(34)를 마련함으로써 "2개 접촉"이 생기지 않도록 하기 위해서는, 이하와 같은 조건을 만족할 필요가 있다.
도 4를 참조하여, 돌기(34)의 높이를 t로 했을 때 R+t＞y+a의 조건을 만족하는 높이(t)의 돌기(34)를 마련하면, "2개 접촉"이 생기지 않도록 할 수 있다.
R+t＞y+a는 t＞y-R+a이며, 여기서 y={R2-(w2/4)}1 /2
를 대입하면,
t＞{R2-(w2/4)}1 /2-R+a
가 얻어진다. 즉, 돌기(34)의 높이(t)를, {R2-(w2/4)}1 /2-R+a보다 크게 하면, "2개 접촉"이 생기지 않도록 할 수 있다.
그러나 돌기(34)의 높이(t)가 지나치게 크면, 이번에는, 서로 이웃하는 돌기(34) 간에 위치하는 전자부품(24)의 제1 외부단자 전극(22)에, 제1 측정단자(31)를 접촉시킬 수 없는 것과 같은 사태를 초래한다.
따라서 돌기(34)의 높이(t)의 상한은, 다음과 같이 규정된다.
도 5를 참조하여, 제1 측정단자(31)가 제1 외부단자 전극(22)에 접촉할 때 y′+t＜R+a의 조건을 만족하고 있다. 서로 이웃하는 돌기(34) 사이의 간격을 c로 하면, y′={R2-(c2/4)}1/2로 나타낼 수 있다.
y′+t＜R+a는, t＜R+a-y′이며, 여기서 y′={R2-(c2/4)}1 / 2을 대입하면,
t＜R+a-{R2-(c2/4)}1 /2
가 얻어진다. 즉, 돌기(34)의 높이(t)를 R+a-{R2-(c2/4)}1 /2보다 작게 하면, 제1 측정단자(31)를 제1 외부단자 전극(22)에 접촉시킬 수 있다.
이상으로부터, "2개 접촉"이 생기지 않도록 하면서, 제1 측정단자(31)를 제1 외부단자 전극(22)에 접촉시키기 위해서는,
{R2-(w2/4)}1 /2-R+a＜t＜R+a-{R2-(c2/4)}1 /2
의 조건을 만족하고 있을 필요가 있다.
또한 상술한 설명에서 참조한 도 4 및 도 5에서는, 돌기(34)는, 단면이 장방형이었지만, 이는 설명의 편의를 위한 것이며, 도 2에 나타내는 바와 같은 형상이어도 되고, 혹은 다른 형상이어도 된다. 어느 쪽의 경우라도, 서로 이웃하는 돌기(34) 간의 간격(c)은, 돌기(34)의 윗면에서 측정한 치수이다.
상술한 제1 실시형태에서는, 제1 측정단자(31)는 롤러상이며, 베어링대에 의해 회전 가능하게 유지되고 있었다. 제1 측정단자(31)는, 그 제1 외부단자 전극(22)에 대한 접촉면이 복수 개의 수용 캐비티(26)의 배열방향에 대하여 직교하는 방향을 향하는 중심축선을 가지는 원통면을 이루고 있는 것을 조건으로 하고 있다. 따라서 이 조건을 만족하는 한, 제1 측정단자(31)는 다양하게 변경할 수 있다. 예를 들면 제2 실시형태에서는, 제1 측정단자(31a)는 도 6에 나타내는 바와 같이, 부분 원통면을 가지는 것이 된다.
또한 제1 실시형태에서는, 돌기(34)는, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티(26) 사이에 위치하고 있었다. 이에 반하여, 제3 실시형태에서는, 도 7에 나타내는 바와 같이, 돌기(34)는, 배열방향으로 서로 이웃하는 수용 캐비티(26) 사이가 아니라, 배열된 수용 캐비티(26)가 존재하는 띠상 영역(37)을 끼는 위치에 쌍을 이루는 상태로 마련되어 있다.
또한 도 7에는, 도 2 내지 도 5에서는 도시가 생략된 베어링대(38)가 도시됨과 함께, 베어링대(38)에 의해 회전 가능하게 지지된 제1 측정단자(31)의 중심 샤프트(39)가 도시되어 있다.
이상, 이 발명을 도시한 실시형태와 관련하여 설명했지만, 이 발명의 범위 내에서, 그 밖의 다양한 변형예가 가능하다.
예를 들면, 상술한 실시형태에서는, 홀더(25)는 원판상이며, 홀더(25)가 회전하도록 구성되었지만, 홀더는 예를 들면, 평행 이동하도록 구성되어도 된다.
또한 상술한 실시형태에서는, 제1 및 제2 측정단자(31 및 32)가 고정이며, 홀더(25)가 회전함으로써 제1 및 제2 측정단자(31 및 32)가, 각각 전자부품(24)의 제1 및 제2 외부단자 전극(22 및 23)에 순차 접촉하도록 구성되었지만, 반대로, 홀더가 고정이며, 제1 및 제2 측정단자가 이동하도록 구성되어도 된다.
본 발명의 실시형태에 대해 설명했지만, 이번에 개시된 실시형태는 모든 점에서 예시로서 제한적인 것이 아니라고 생각되어야 한다. 본 발명의 범위는 청구범위에 의해 나타내며, 청구범위와 균등한 의미 및 범위 내에서의 모든 변경이 포함되는 것이 의도된다.

Claims (5)

  1. 서로 대향하는 제1 및 제2 단부(端部)에 제1 및 제2 외부단자 전극이 각각 형성된 칩상의 전자부품의 전기적 특성을 측정하는 장치로서,
    상기 전자부품을 1개씩 수용하기 위한 복수 개의 수용 캐비티를 가지며, 상기 제1 및 제2 외부단자 전극을 상기 수용 캐비티의 서로 대향하는 제1 및 제2 개구단 측을 각각 향한 상태로 상기 전자부품을 유지하는 홀더와,
    상기 수용 캐비티의 상기 제1 및 제2 개구단 근방의 각 위치에서, 상기 전자부품의 상기 제1 및 제2 외부단자 전극에 각각 접촉하도록 배치되는 제1 및 제2 측정단자를 포함하며,
    상기 홀더는, 상기 제1 및 제2 측정단자가 각 상기 수용 캐비티 내에 수용된 각 상기 전자부품의 상기 제1 및 제2 외부단자 전극에 순차 접촉하도록, 상기 제1 및 제2 측정단자에 대하여 상대적으로 이동 가능하게 되고,
    상기 제1 측정단자의 상기 제1 외부단자 전극에 대한 접촉면은, 복수 개의 상기 수용 캐비티의 배열방향에 대하여 직교하는 방향을 향하는 중심축선을 가지는 원통면을 이루고 있으며,
    상기 원통면의 반지름을 R, 배열방향으로 서로 이웃하는 상기 수용 캐비티 간의 간격을 w, 상기 수용 캐비티에 수용된 상기 전자부품의, 상기 제1 개구단으로부터의 돌출 길이를 a로 했을 때 서로 이웃하는 2개의 상기 전자부품의 상기 제1 외부단자 전극에 동시에 접촉할 수 있는 조건인,
    a＞R-{R2-(w2/4)}1 /2
    의 조건을 만족하고 있는 전자부품의 특성 측정장치에 있어서,
    상기 홀더의 상기 제1 개구단 측의 면 위에 마련된 돌기를 더 포함하고, 상기 돌기는, 배열방향으로 서로 이웃하는 상기 수용 캐비티 사이에 상기 제1 측정단자가 위치할 때, 해당 제1 측정단자를 상기 수용 캐비티 내의 상기 전자부품으로부터 멀리 떨어지게 하기 위한 것이며,
    상기 돌기의 높이를 t, 서로 이웃하는 상기 돌기 간의 간격을 c로 했을 때,
    {R2-(w2/4)}1 /2-R+a＜t＜R+a-{R2-(c2/4)}1 /2
    의 조건을 만족하고 있는 것을 특징으로 하는 전자부품의 특성 측정장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 돌기는, 배열방향으로 서로 이웃하는 상기 수용 캐비티 사이에 위치하는 것을 특징으로 하는 전자부품의 특성 측정장치.
  3. 제2항에 있어서,
    상기 돌기의 가장 높은 부분은, 배열방향으로 서로 이웃하는 상기 수용 캐비티 사이의 중앙부에 위치하는 것을 특징으로 하는 전자부품의 특성 측정장치.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제1 측정단자는, 상기 제1 외부단자 전극에 접촉하면서 회전하는 롤러를 포함하는 것을 특징으로 하는 전자부품의 특성 측정장치.
  5. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 홀더는 원판상이며, 복수 개의 상기 수용 캐비티는 상기 홀더의 둘레방향으로 분포하도록 배열되고, 상기 홀더가 회전함으로써 상기 제1 및 제2 측정단자가 각 상기 수용 캐비티 내에 수용된 각 상기 전자부품의 상기 제1 및 제2 외부단자 전극에 순차 접촉하게 되는 것을 특징으로 하는 전자부품의 특성 측정장치.
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