KR20170106982A - Dicing tape - Google Patents

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Abstract

소형, 박형의 전자 부품에서도, 다이싱 공정에서의 칩의 비산 및 치핑을 억제할 수 있고, 픽업을 용이하게 할 수 있고, 점착제 잔여물이 생기기 어려운 다이싱 테이프를 제공한다. 본 발명에 의하면, 기재 필름에 점착제 조성물로 이루어지는 점착제층을 적층하여 이루어지는 다이싱 테이프로서, 상기 점착제 조성물이 (메트)아크릴산에스테르 공중합체 100질량부와, 광중합성 화합물 5~250질량부, 경화제 0.1~20질량부와 광중합개시제 0.1~20질량부를 포함하고, 상기 (메트)아크릴산에스테르 공중합체가, 메틸(메트)아크릴레이트 단위를 35~85질량%, 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트 단위를 10~60질량%, 카르복실기를 가지는 단량체 단위를 0.5~10질량%, 히드록실기를 가지는 단량체 단위를 0.05~5질량% 함유하고, 상기 광중합성 화합물이 중량 평균 분자량 4,000~8,000이며 불포화 이중 결합 관능기수가 10~15인 우레탄 아크릴레이트 올리고머이며, 상기 점착제층의 두께가 3~7μm인 것을 특징으로 하는 다이싱 테이프가 제공된다.The present invention also provides a dicing tape which can suppress scattering and chipping of a chip in a dicing step even in small and thin electronic components, can easily perform pick-up, and is free from residual adhesive residue. According to the present invention, there is provided a dicing tape comprising a substrate film laminated with a pressure-sensitive adhesive layer comprising a pressure-sensitive adhesive composition, wherein the pressure-sensitive adhesive composition comprises 100 parts by mass of a (meth) acrylic acid ester copolymer, 5 to 250 parts by mass of a photopolymerizable compound, (Meth) acrylate unit is contained in an amount of 35 to 85% by mass and a 2-ethylhexyl (meth) acrylate unit is contained in an amount of 0.1 to 20 parts by mass and a photopolymerization initiator in an amount of 0.1 to 20 parts by mass, Wherein the photopolymerizable compound has a weight average molecular weight of 4,000 to 8,000 and an unsaturated double bond functional group is contained in an amount of 10 to 60% by mass, 0.5 to 10% by mass of a monomer unit having a carboxyl group and 0.05 to 5% by mass of a monomer unit having a hydroxyl group, Wherein the pressure-sensitive adhesive layer is a urethane acrylate oligomer having a number of 10 to 15, and the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is 3 to 7 占 퐉.

Description

다이싱 테이프Dicing tape

본 발명은 전자 부품의 제조 공정에서 사용되는 다이싱 테이프에 관한 것이다. The present invention relates to a dicing tape used in a manufacturing process of an electronic component.

반도체 웨이퍼 또는 기판은, 다이싱 테이프를 접합한 다음 소자조각으로의 절단(다이싱), 다이싱 테이프의 연신(익스팬딩), 다이싱 테이프로부터의 소자조각의 박리(픽업) 등의 각 공정에 배치된다. 이러한 공정에서 사용되는 다이싱 테이프에는, 다이싱 공정에서는 절단된 소자조각(칩)에 대하여 충분한 점착력을 가지면서, 픽업 공정 시에는 점착제 잔여물이 없을 정도로 점착력이 감소되어 있는 것이 기대된다.The semiconductor wafer or the substrate is subjected to various processes such as cutting (dicing) into a device piece after the dicing tape is bonded, stretching of the dicing tape (expansion), peeling of the device piece from the dicing tape . It is expected that the dicing tape used in such a process has a sufficient adhesive force to the cut pieces (chips) in the dicing step, and the adhesive force is reduced to such an extent that there is no adhesive residue during the pick-up process.

다이싱 테이프로서, 자외선 및/또는 전자선 등의 활성광선에 대하여 투과성을 가지는 기재 필름 상에 자외선 등에 의해 중합 경화 반응을 하는 점착제층을 도포한 것이 있다. 이 다이싱 테이프로는, 다이싱 공정 후에 자외선 등을 점착제층에 조사하고, 점착제층을 중합 경화시켜 점착력을 저하시킨 후, 절단된 칩을 픽업하는 방법이 채용된다. As the dicing tape, there has been coated a pressure-sensitive adhesive layer which undergoes polymerization curing reaction with ultraviolet rays or the like on a base film having transparency to an active ray such as ultraviolet rays and / or electron rays. This dicing tape employs a method of irradiating ultraviolet rays or the like to the pressure-sensitive adhesive layer after the dicing process and polymerizing and curing the pressure-sensitive adhesive layer to lower the adhesive force, and then picking up the cut chips.

이러한 다이싱 테이프로서는, 특허문헌 1 및 특허문헌 2에는, 기재 필름면에 예를 들면 활성 광선에 의해 삼차원 망상화할 수 있는, 분자 내에 광중합성 불포화 이중 결합을 가지는 화합물(다관능성 올리고머)을 함유하여 이루어지는 점착제를 도포한 다이싱 테이프가 공개되어 있다.As such a dicing tape, Patent Documents 1 and 2 include a compound (polyfunctional oligomer) having a photopolymerizable unsaturated double bond in a molecule, which can be three-dimensionally retreated by an actinic ray, for example, A dicing tape coated with a pressure-sensitive adhesive is disclosed.

일본공개특허 2006-049509호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-049509 일본공개특허 2007-246633호 공보Japanese Patent Application Laid-Open No. 2007-246633

최근, 전자 부품의 소형화, 박(薄)형화에 따라 반도체 웨이퍼 또는 기판의 다이싱 공정에서 칩의 비산이나 치핑(chipping)(칩의 결손)이 발생하기 쉬워져 수율 저하의 요인이 되는 경우가 있었다.In recent years, along with the miniaturization and thinning of electronic components, chip scattering and chipping (chip defects) are likely to occur in the dicing process of a semiconductor wafer or substrate, leading to a decrease in yield .

그래서, 본 발명은 소형, 박형의 전자 부품에서도 다이싱 공정에서의 칩의 비산 및 치핑을 억제할 수 있고, 픽업을 용이하게 할 수 있으며, 점착제 잔여물이 생기기 어려운 다이싱 테이프를 제공하는 것을 주요한 목적으로 한다. Therefore, it is an object of the present invention to provide a dicing tape which can suppress scattering and chipping of a chip in a dicing step even in small-sized and thin electronic components, can easily perform pick-up, The purpose.

본 발명에 의하면, 기재 필름에 점착제 조성물로 이루어지는 점착제층을 적층하여 이루어지는 다이싱 테이프로서, 상기 점착제 조성물이 (메트)아크릴산에스테르 공중합체 100질량부와, 광중합성 화합물 5~250질량부, 경화제 0.1~20질량부와 광중합개시제 0.1~20질량부를 포함하고, 상기 (메트)아크릴산에스테르 공중합체가, 메틸(메트)아크릴레이트 단위를 35~85질량%, 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트 단위를 10~60질량%, 카르복실기를 가지는 단량체 단위를 0.5~10질량%, 히드록실기를 가지는 단량체 단위를 0.05~5질량% 함유하고, 상기 광중합성 화합물은 중량 평균 분자량 4,000~8,000인 동시에 불포화 이중 결합 관능기수가 10~15인 우레탄 아크릴레이트 올리고머이며, 상기 점착제층의 두께가 3~7μm인 것을 특징으로 하는 다이싱 테이프가 제공된다. According to the present invention, there is provided a dicing tape comprising a substrate film laminated with a pressure-sensitive adhesive layer comprising a pressure-sensitive adhesive composition, wherein the pressure-sensitive adhesive composition comprises 100 parts by mass of a (meth) acrylic acid ester copolymer, 5 to 250 parts by mass of a photopolymerizable compound, (Meth) acrylate unit is contained in an amount of 35 to 85% by mass and a 2-ethylhexyl (meth) acrylate unit is contained in an amount of 0.1 to 20 parts by mass and a photopolymerization initiator in an amount of 0.1 to 20 parts by mass, Wherein the photopolymerizable compound has a weight average molecular weight of 4,000 to 8,000, and the content of the monomer unit having a hydroxyl group is 0.05 to 5% by mass, the content of the monomer unit is 10 to 60% by mass, the content of the monomer unit having a carboxyl group is 0.5 to 10% Wherein the pressure-sensitive adhesive layer is a urethane acrylate oligomer having a number of functional groups of 10 to 15, and the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is 3 to 7 占 퐉.

일반적으로, 점착제층의 두께를 작게 하면, 치핑은 발생하기 어려워지지만, 점착력이 작아져 칩의 비산이 발생하기 쉬워진다. 또한, 칩의 비산의 발생을 억제시키기 위하여 점착제의 조성을 조정하면, 치핑이 발생하기 쉬워지거나 픽업성이 나빠지거나 점착제 잔여물이 발생하기 쉬워지는 문제가 발생하기 쉽다. 때문에, 종래, 치핑, 칩의 비산 및 점착제 잔여물을 효과적으로 억제하면서 픽업성을 양호하게 하는 것은 아주 어려웠다.In general, if the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is made small, chipping does not easily occur, but the adhesive force becomes small, and chip scattering tends to occur. Further, if the composition of the pressure-sensitive adhesive is adjusted in order to suppress the generation of scattering of the chips, chipping easily occurs, the pick-up property becomes worse, or the problem that the pressure-sensitive adhesive residue tends to be generated easily. Therefore, conventionally, it has been very difficult to effectively improve the pickup performance while effectively suppressing chipping, chip scattering, and adhesive residue.

본 발명자는, 이들 모두에서 우수한 다이싱 테이프를 얻기 위해 예의 검토를 실시한 결과, 특정 조성의 점착제를 이용하여 두께 3~7μm의 점착제층을 형성했을 경우에, 치핑, 칩의 비산 및 점착제 잔여물을 효과적으로 억제하면서 픽업성을 양호하게 할 수 있는 것을 알아내어 본 발명의 완성에 이르렀다. The present inventors have conducted intensive studies to obtain excellent dicing tapes from all of them. As a result, it has been found that when a pressure sensitive adhesive layer having a thickness of 3 to 7 탆 is formed using a pressure sensitive adhesive having a specific composition, chipping, chip scattering, It is possible to improve the pick-up property while effectively suppressing the above-mentioned problems, thereby completing the present invention.

바람직하게는, 상기 경화제가 다관능 이소시아네이트 경화제 또는 다관능 에폭시 경화제인 것을 특징으로 한다. Preferably, the curing agent is a polyfunctional isocyanate curing agent or a polyfunctional epoxy curing agent.

바람직하게는, 상기 다이싱 테이프의 JIS Z0237에 준거하여 측정한 실리콘 웨이퍼의 경면(鏡面)에 대한 점착력이 5.0N/20mm 이상인 것을 특징으로 한다. Preferably, the adhesive force of the dicing tape to the mirror surface of the silicon wafer measured according to JIS Z0237 is 5.0 N / 20 mm or more.

본 발명의 다른 관점에 의하면, (a) 반도체 웨이퍼 또는 기판과 링 프레임에 다이싱 테이프를 첩부하는 첩부 공정과, (b) 상기 반도체 웨이퍼 또는 기판을 다이싱하여 반도체 칩 또는 반도체 부품으로 하는 다이싱 공정과, (c) 상기 다이싱 테이프에 활성 광선을 조사하는 광조사 공정과, (d) 상기 반도체 칩 또는 반도체 부품끼리의 간격을 넓히기 위하여, 상기 다이싱 테이프를 연신하는 익스팬드 공정과, (e) 상기 다이싱 테이프로부터 반도체 칩 또는 반도체 부품을 픽업하는 픽업 공정을 포함하고, 상기 다이싱 테이프는, 상기 기재의 다이싱 테이프인, 전자 부품의 제조 방법이 제공된다. According to another aspect of the present invention, there is provided a semiconductor device comprising: (a) a bonding step of bonding a dicing tape to a semiconductor wafer or a substrate and a ring frame; (b) dicing the semiconductor wafer or substrate to form a semiconductor chip or a semiconductor part; (C) exposing the dicing tape to an actinic ray; and (d) expanding the dicing tape to widen the distance between the semiconductor chips or the semiconductor components, and and a pickup step of picking up a semiconductor chip or a semiconductor component from the dicing tape, wherein the dicing tape is a dicing tape of the substrate.

본 발명에 의해, 소형, 박형의 전자 부품에서도, 다이싱 공정에서의 칩의 비산 및 치핑을 억제할 수 있고, 픽업을 용이하게 할 수 있으며, 점착제 잔여물이 생기기 어려운 다이싱 테이프가 제공된다. INDUSTRIAL APPLICABILITY According to the present invention, it is possible to suppress scattering and chipping of a chip in a dicing step even in a small and thin electronic component, and to provide a dicing tape which can easily be picked up and hard to produce adhesive residue.

이하, 본 발명을 실시하기 위한 바람직한 형태에 대해 설명한다. 한편, 이하에 설명하는 실시 형태는 본 발명의 대표적인 실시 형태의 일례를 제시한 것이며, 이에 의해 본 발명의 범위가 좁게 해석되는 것은 아니다. Hereinafter, preferred embodiments for carrying out the present invention will be described. On the other hand, the embodiment described below is an example of a representative embodiment of the present invention, and the scope of the present invention is not narrowly construed thereby.

<점착제 조성물> &Lt; Pressure sensitive adhesive composition &

본 발명의 다이싱 테이프의 점착제층의 형성에 사용하는 점착제 조성물은 (메트)아크릴산에스테르 공중합체 100질량부와, 광중합성 화합물 5~250질량부, 경화제 0.1~20질량부와 광중합 개시제 0.1~20질량부를 포함하는 것이다. The pressure-sensitive adhesive composition for use in forming the pressure-sensitive adhesive layer of the dicing tape of the present invention comprises 100 parts by mass of a (meth) acrylic acid ester copolymer, 5 to 250 parts by mass of a photopolymerizable compound, 0.1 to 20 parts by mass of a curing agent, Mass part.

((메트)아크릴산에스테르 공중합체) ((Meth) acrylic acid ester copolymer)

(메트)아크릴산에스테르 공중합체는, 메틸(메트)아크릴레이트 단위를 35~85질량%(바람직하게는 45~75질량%, 더 바람직하게는 50~70질량%, 더 바람직하게는 55~65질량%), 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트 단위를 10~60질량%(바람직하게는 20~50질량%, 더 바람직하게는 25~45질량%, 더 바람직하게는 30~40질량%), 카르복실기를 가지는 단량체 단위를 0.5~10질량%(바람직하게는 2~7질량%, 더 바람직하게는 3~6질량%, 더 바람직하게는 4~5질량%), 히드록실기를 가지는 단량체 단위를 0.05~5질량%(바람직하게는 0.1~3질량%, 더 바람직하게는 0.2~2질량%, 더 바람직하게는 0.3~1질량%, 더 바람직하게는 0.4~0.7질량%) 함유한다. (메트)아크릴산에스테르 공중합체가 이러한 단량체 단위로 구성됨으로써, 점착제층의 두께가 3~7μm로서 비교적 작지만, 점착력이 충분히 높은 다이싱 테이프를 얻을 수 있다. 한편, 다이싱 테이프의 점착력은 JIS Z 0237에 준거하여 측정한 실리콘 웨이퍼의 경면에 대한 점착력이 5.0N/20mm 이상으로 하는 것이 바람직하다. The (meth) acrylic acid ester copolymer preferably contains 35 to 85% by mass (preferably 45 to 75% by mass, more preferably 50 to 70% by mass, and more preferably 55 to 65% by mass) of methyl (meth) (Preferably 20 to 50 mass%, more preferably 25 to 45 mass%, still more preferably 30 to 40 mass%) of 2-ethylhexyl (meth) (Preferably 2 to 7% by mass, more preferably 3 to 6% by mass, and more preferably 4 to 5% by mass) of a monomer unit having a carboxyl group, and a monomer unit having a hydroxyl group (Preferably 0.1 to 3 mass%, more preferably 0.2 to 2 mass%, still more preferably 0.3 to 1 mass%, and still more preferably 0.4 to 0.7 mass%). (Meth) acrylic acid ester copolymer is composed of such a monomer unit, a dicing tape having a sufficiently small adhesive force of 3 to 7 占 퐉 and a relatively small adhesive force can be obtained. On the other hand, it is preferable that the adhesive force of the dicing tape is 5.0 N / 20 mm or more in terms of the adhesive force to the mirror surface of the silicon wafer measured in accordance with JIS Z 0237.

카르복실기를 가지는 단량체로서는, 예를 들면 (메트)아크릴산, 크로톤산, 말레산, 이타콘산, 푸마르산, 아크릴아미도N-글리콜산 및 신남산 등을 들 수 있으며, (메트)아크릴산이 바람직하다. Examples of the monomer having a carboxyl group include (meth) acrylic acid, crotonic acid, maleic acid, itaconic acid, fumaric acid, acrylamido N-glycolic acid and cinnamic acid, and (meth) acrylic acid is preferable.

히드록실기를 가지는 관능기 함유 단량체로서는, 예를 들면 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트, 2-히드록시프로필(메트)아크릴레이트, 및 2-히드록시부틸(메트)아크릴레이트가 있으며, 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트가 바람직하다. Examples of the functional group-containing monomer having a hydroxyl group include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate and 2-hydroxybutyl (meth) -Hydroxyethyl (meth) acrylate are preferable.

(광중합성 화합물) (Photopolymerizable compound)

광중합성 화합물의 배합량은, (메트)아크릴산에스테르 공중합체 100질량부에 대하여 5~250질량부이며, 40~200질량부가 바람직하다. 광중합성 화합물의 배합량을 적게 하면, 자외선 등의 활성광선의 조사 후의 다이싱 테이프의 박리성이 저하되고, 반도체 칩의 픽업 불량이 생기기 쉬워진다. 한편, 광중합성 화합물의 배합량을 많게 하면, 광조사 공정에 의해 점착력이 너무 저하되어 버려, 픽업 공정에서 칩의 분산(loosen)을 일으켜 생산성 저하의 요인으로 된다. The blending amount of the photopolymerizable compound is 5 to 250 parts by mass, preferably 40 to 200 parts by mass, per 100 parts by mass of the (meth) acrylic acid ester copolymer. When the compounding amount of the photopolymerizable compound is decreased, the peeling property of the dicing tape after irradiation with an actinic ray such as ultraviolet light is lowered, and the pickup failure of the semiconductor chip tends to occur easily. On the other hand, if the compounding amount of the photopolymerizable compound is increased, the adhesive force is excessively lowered by the light irradiation step, and the chip is loosened in the pick-up step, which causes a decrease in productivity.

본 발명에서 이용가능한 광중합성 화합물은, 중량 평균 분자량 4,000~8,000인 동시에 불포화 이중 결합 관능기수가 10~15인 우레탄아크릴레이트 올리고머이다. 중량 평균 분자량이 작으면 점착제가 유연해지기 때문에 치핑을 일으키기 쉬워지고, 중량 평균 분자량이 크면 피착체에 대한 밀착성이 저하되여 칩의 비산을 일으키기 쉬워진다. 불포화 이중 결합 관능기수가 적으면 자외선 등의 광조사 후의 점착제의 경화성이 저하되여 픽업 불량을 일으키기 쉬워지며, 불포화 이중 결합 관능기 수가 많으면 자외선 등의 광조사 후의 점착제의 경화가 과잉되어 칩의 분산을 일으킨다. 또한, 우레탄 아크릴레이트 올리고머를 사용했을 경우, 기재 필름과의 밀착성과 유연성이 뛰어나기 때문에 픽업 시에 점착제가 잔류하기 어렵다는 이점이 있다. The photopolymerizable compound usable in the present invention is a urethane acrylate oligomer having a weight average molecular weight of 4,000 to 8,000 and an unsaturated double bond functional group number of 10 to 15. If the weight average molecular weight is small, the pressure sensitive adhesive tends to be chipped because of the softening of the pressure sensitive adhesive. If the weight average molecular weight is large, the adhesiveness to the adherend is lowered and the chip tends to be scattered. If the number of the unsaturated double bond functional groups is small, the curing property of the pressure-sensitive adhesive after irradiation with light such as ultraviolet rays is lowered, and the pickup failure tends to occur. If the number of unsaturated double bond functional groups is large, curing of the pressure- In addition, when a urethane acrylate oligomer is used, adhesion and flexibility with the base film are excellent, which makes it difficult for the pressure-sensitive adhesive to remain at the time of picking up.

우레탄 아크릴레이트 올리고머는, 폴리에스테르형 또는 폴리에테르형 등의 폴리올 화합물과 다가 이소시아네이트 화합물을 반응시켜 얻은 말단 이소시아네이트 우레탄 프레폴리머에, 히드록시기를 가지는 (메트)아크릴레이트를 반응시켜 얻을 수 있다. The urethane acrylate oligomer can be obtained by reacting a (meth) acrylate having a hydroxy group with a terminal isocyanate urethane prepolymer obtained by reacting a polyol compound such as a polyester type or a polyether type with a polyisocyanate compound.

폴리올 화합물로서는, 예를 들면, 에틸렌글리콜, 프로필렌글리콜, 부탄디올, 헥산디올, 네오펜틸글리콜, 디에틸렌글리콜, 트리에틸렌글리콜, 펜탄디올, 글리세린, 트리메틸올프로판, 트리메틸올에탄, 펜타에리트리톨 등이 사용된다. 다가 이소시아네이트 화합물로서는, 예를 들면, 2,4-톨릴렌 디이소시아네이트, 2,6-톨릴렌 디이소시아네이트, 1,3-크실렌 디이소시아네이트, 1,4-크실렌 디이소시아네이트, 디페닐메탄 4,4-디이소시아네이트, 트리메틸헥사메틸렌 디이소시아네이트, 헥사메틸렌 디이소시아네이트, 이소포론 디이소시아네이트 등을 이용할 수 있다. 또한, 히드록시기를 가지는 (메트)아크릴레이트로서는, 예를 들면, 2-히드록시에틸(메트)아크릴레이트, 2-히드록시프로필(메트)아크릴레이트, 폴리에틸렌글리콜(메트)아크릴레이트, 펜타에리트리톨 트리아크릴레이트, 글리시돌 디(메트)아크릴레이트, 디펜타에리트리톨 모노히드록시펜타아크릴레이트 등이 사용된다.As the polyol compound, for example, ethylene glycol, propylene glycol, butanediol, hexanediol, neopentyl glycol, diethylene glycol, triethylene glycol, pentanediol, glycerin, trimethylolpropane, trimethylolethane, pentaerythritol, do. Examples of the polyvalent isocyanate compound include 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, 1,3-xylene diisocyanate, 1,4-xylene diisocyanate, Diisocyanate, trimethylhexamethylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, isophorone diisocyanate, and the like. Examples of the (meth) acrylate having a hydroxy group include 2-hydroxyethyl (meth) acrylate, 2-hydroxypropyl (meth) acrylate, polyethylene glycol (meth) acrylate, pentaerythritol tri Acrylate, glycidol di (meth) acrylate, dipentaerythritol monohydroxypentaacrylate, and the like.

(경화제) (Hardener)

경화제의 배합량은, (메트)아크릴산 에스테르 공중합체 100질량부에 대하여, 0.1질량부 이상 20질량부 이하이며, 1질량부 이상 10질량부 이하인 것이 바람직하다. 경화제의 배합량을 적게 하면, 점착제 잔여물이 생기기 쉬워진다. 한편, 경화제의 배합량을 많게 하면 점착력의 부족이나 칩의 분산을 일으켜 생산성 저하의 요인이 된다.The blending amount of the curing agent is preferably 0.1 part by mass or more and 20 parts by mass or less, and more preferably 1 part by mass or more and 10 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the (meth) acrylic acid ester copolymer. If the blending amount of the curing agent is decreased, the adhesive residue tends to be generated. On the other hand, if the blending amount of the curing agent is increased, the adhesive force is insufficient and the chips are dispersed, which leads to a decrease in productivity.

경화제로서는, 다관능 이소시아네이트 경화제, 다관능 에폭시 경화제, 아지린 화합물, 멜라민 화합물 등이 있으며, 바람직하게는, 다관능 이소시아네이트 경화제, 다관능 에폭시 경화제가 좋다. 상기 경화제의 적어도 일부로서 다관능 에폭시 경화제 또는 다관능 이소시아네이트 경화제를 사용함으로써, 선택적으로 카르복실기를 가지는 관능기 함유 단량체를 반응시켜 소멸시키는 것이 가능하여 경화 후의 카르복실기를 가지는 관능기 함유 단량체량을 조절할 수 있다. Examples of the curing agent include a polyfunctional isocyanate curing agent, a polyfunctional epoxy curing agent, an azine compound, and a melamine compound, and a polyfunctional isocyanate curing agent and a polyfunctional epoxy curing agent are preferable. By using a polyfunctional epoxy curing agent or a polyfunctional isocyanate curing agent as at least a part of the curing agent, the functional group-containing monomer having a carboxyl group can be selectively reacted and eliminated, so that the amount of the functional group-containing monomer having a carboxyl group after curing can be controlled.

다관능 이소시아네이트 경화제로서는, 예를 들면 방향족 폴리이소시아네이트 경화제, 지방족 폴리이소시아네이트 경화제, 지방환족 폴리이소시아네이트 경화제가 있다. As the polyfunctional isocyanate curing agent, there are, for example, aromatic polyisocyanate curing agents, aliphatic polyisocyanate curing agents and fatty aliphatic polyisocyanate curing agents.

방향족 폴리이소시아네이트는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 1,3-페닐렌 디이소시아네이트, 4,4'-디페닐 디이소시아네이트, 1,4-페닐렌 디이소시아네이트, 4,4'-디페닐메탄 디이소시아네이트, 2,4-톨릴렌 디이소시아네이트, 2,6-톨릴렌 디이소시아네이트, 4,4'-톨루이딘 디이소시아네이트, 2,4,6-트리이소시아네이트 톨루엔, 1,3,5-트리이소시아네이트 벤젠, 디아니시딘 디이소시아네이트, 4,4'-디페닐에테르 디이소시아네이트, 4,4',4”-트리페닐메탄 트리이소시아네이트, ω,ω'-디이소시아네이트-1,3-디메틸벤젠, ω,ω'-디이소시아네이트-1,4-디메틸벤젠, ω,ω'-디이소시아네이트-1,4-디에틸벤젠, 1,4-테트라메틸크실릴렌 디이소시아네이트, 및 1,3-테트라메틸크실릴렌 디이소시아네이트 등을 들 수 있다. The aromatic polyisocyanate is not particularly limited and examples thereof include 1,3-phenylene diisocyanate, 4,4'-diphenyl diisocyanate, 1,4-phenylene diisocyanate, 4,4'-diphenylmethane diisocyanate , 2,4-tolylene diisocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, 4,4'-toluidine diisocyanate, 2,4,6-triisocyanate toluene, 1,3,5-triisocyanate benzene, Diene diisocyanate, 4,4'-diphenyl ether diisocyanate, 4,4 ', 4 "-triphenylmethane triisocyanate, ω'-diisocyanate-1,3-dimethylbenzene, ω, Isocyanate-1,4-dimethylbenzene, ω, ω'-diisocyanate-1,4-diethylbenzene, 1,4-tetramethylxylylene diisocyanate, and 1,3-tetramethylxylylene diisocyanate .

지방족 폴리 이소시아네이트는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 트리메틸렌 디이소시아네이트, 테트라메틸렌 디이소시아네이트, 헥사메틸렌 디이소시아네이트, 펜타메틸렌 디이소시아네이트, 1,2-프로필렌 디이소시아네이트, 2,3-부틸렌 디이소시아네이트, 1,3-부틸렌 디이소시아네이트, 도데카메틸렌 디이소시아네이트 및 2,4,4-트리메틸헥사메틸렌 디이소시아네이트 등을 들 수 있다. The aliphatic polyisocyanate is not particularly limited and includes, for example, trimethylene diisocyanate, tetramethylene diisocyanate, hexamethylene diisocyanate, pentamethylene diisocyanate, 1,2-propylene diisocyanate, 2,3-butylene diisocyanate, , 3-butylene diisocyanate, dodecamethylene diisocyanate, and 2,4,4-trimethylhexamethylene diisocyanate.

지방환족 폴리이소시아네이트는 특별히 한정되지 않으며, 예를 들면 3-이소시아네이트 메틸-3,5,5-트리메틸시클로헥실 이소시아네이트, 1,3-시클로펜탄 디이소시아네이트, 1,3-시클로헥산 디이소시아네이트, 1,4-시클로헥산 디이소시아네이트, 메틸-2,4-시클로헥산 디이소시아네이트, 메틸-2,6-시클로헥산 디이소시아네이트, 4,4'-메틸렌비스(시클로헥실 이소시아네이트), 1,4-비스(이소시아네이트메틸)시클로헥산 및 1,4-비스(이소시아네이트메틸)시클로헥산이 있다.The alicyclic polyisocyanate is not particularly limited, and examples thereof include 3-isocyanatomethyl-3,5,5-trimethylcyclohexyl isocyanate, 1,3-cyclopentane diisocyanate, 1,3-cyclohexane diisocyanate, 1,4 Cyclohexane diisocyanate, methyl-2,4-cyclohexane diisocyanate, methyl-2,6-cyclohexane diisocyanate, 4,4'-methylenebis (cyclohexyl isocyanate), 1,4-bis (isocyanate methyl) Cyclohexane and 1,4-bis (isocyanatomethyl) cyclohexane.

폴리이소시아네이트 중, 1,3-페닐렌 디이소시아네이트, 4,4'-디페닐 디이소시아네이트, 1,4-페닐렌 디이소시아네이트, 4,4'-디페닐메탄 디이소시아네이트, 2,4-톨릴렌 디이소시아네이트, 2,6-톨릴렌 디이소시아네이트, 4,4'-톨루이딘 디이소시아네이트, 헥사메틸렌 디이소시아네이트를 바람직하게 이용할 수 있다. Among the polyisocyanates, 1,3-phenylene diisocyanate, 4,4'-diphenyl diisocyanate, 1,4-phenylene diisocyanate, 4,4'-diphenylmethane diisocyanate, 2,4- Isocyanate, 2,6-tolylene diisocyanate, 4,4'-toluidine diisocyanate, and hexamethylene diisocyanate can be preferably used.

다관능 에폭시 경화제는, 주로 에폭시기를 2개 이상, 제3급 질소원자를 1개 이상 가지는 화합물을 말하며, N·N-글리시딜 아닐린, N·N-글리시딜 톨루이딘, m-N·N-글리시딜 아미노페닐 글리시딜에테르, p-N·N-글리시딜 아미노페닐 글리시딜에테르, 트리글리시딜 이소시아누레이트, N·N·N'·N'-테트라글리시딜 디아미노디페닐메탄, N·N·N'·N'-테트라글리시딜-m-크실릴렌디아민, N·N·N'·N'·N"-펜타글리시딜 디에틸렌트리아민 등을 들 수 있다. The polyfunctional epoxy curing agent refers to a compound having at least two epoxy groups and at least one tertiary nitrogen atom and includes N · N-glycidyl aniline, N · N-glycidyl toluidine, mN · N-gly N, N ', N'-tetraglycidyldiaminodiphenylmethane, N, N'N'-N'-tetraglycidylaminophenylglycidyl ether, pN.N-glycidylaminophenylglycidyl ether, triglycidylisocyanurate, , N · N · N '· N'-tetraglycidyl-m-xylylenediamine, N · N · N' · N '· N' '- pentaglycidyldiethylenetriamine and the like.

(광중합 개시제) (Photopolymerization initiator)

광중합 개시제의 배합량은, (메트)아크릴산 에스테르 중합체 100질량부에 대하여 0.1질량부 이상 20질량부 이하이며, 1질량부 이상 10질량부 이하가 바람직하다. 배합량이 너무 적으면, 광조사 후의 다이싱 테이프로부터의 박리성이 저하되고, 반도체 칩의 픽업 불량을 일으키기 쉬워진다. 한편, 배합량이 너무 많으면, 광중합 개시제가 점착제 표면에 블리드 아웃(Bleed out)되어 오염의 원인이 된다. The blending amount of the photopolymerization initiator is preferably 0.1 part by mass or more and 20 parts by mass or less, more preferably 1 part by mass or more and 10 parts by mass or less based on 100 parts by mass of the (meth) acrylic acid ester polymer. If the blending amount is too small, the peeling property from the dicing tape after the light irradiation is lowered, and the pickup failure of the semiconductor chip tends to occur easily. On the other hand, if the blending amount is too large, the photopolymerization initiator bleeds out to the surface of the pressure-sensitive adhesive and becomes a cause of contamination.

광중합 개시제로서는, 벤조인, 벤조인 알킬에테르류, 아세토페논류, 안트라퀴논류, 티오크산톤류, 케탈류, 벤조페논류 또는 크산톤류 등을 이용할 수 있다. As the photopolymerization initiator, benzoin, benzoin alkyl ethers, acetophenones, anthraquinones, thioxanthones, ketals, benzophenones, xanthones and the like can be used.

벤조인으로서는, 예를 들면 벤조인, 벤조인 메틸에테르, 벤조인 에틸에테르, 벤조인 프로필에테르 등이 있다. Examples of the benzoin include benzoin, benzoin methyl ether, benzoin ethyl ether, benzoin propyl ether and the like.

아세토페논류로서는, 예를 들면 벤조인 알킬에테르류, 아세토페논, 2,2-디메톡시-2-아세토페논, 2,2-디에톡시-2-아세토페논, 1,1-디클로로아세토페논 등이 있다. Examples of the acetophenones include benzoin alkyl ethers, acetophenone, 2,2-dimethoxy-2-acetophenone, 2,2-diethoxy-2-acetophenone, 1,1-dichloroacetophenone and the like have.

안트라퀴논류로서는, 2-메틸안트라퀴논, 2-에틸안트라퀴논, 2-터셔리부틸 안트라퀴논, 1-클로로안트라퀴논 등이 있다. Examples of the anthraquinones include 2-methyl anthraquinone, 2-ethyl anthraquinone, 2-tertiary butyl anthraquinone, 1-chloro anthraquinone, and the like.

티오크산톤류로서는, 예를 들면 2,4-디메틸티오크산톤, 2,4-디이소프로필티오크산톤, 2-클로로티오크산톤, 2,4-디이소프로필 티오크산톤 등이 있다. The thioxanthones include, for example, 2,4-dimethylthioxanthone, 2,4-diisopropylthioxanthone, 2-chlorothioxanthone and 2,4-diisopropylthioxanthone.

케탈류로서는, 예를 들면 아세토페논 디메틸케탈, 벤질디메틸메탈, 벤질디페닐술피드, 테트라메틸티우람술피드, 아조비스이소부티로니트릴, 디벤질, 디아세틸, β-클로로안트라퀴논 등이 있다.Examples of the ketalization include acetophenone dimethyl ketal, benzyldimethyl metal, benzyldiphenylsulfide, tetramethylthioureasulfide, azobisisobutyronitrile, dibenzyl, diacetyl,? -Chloroanthraquinone, and the like .

광중합 개시제에는, 필요에 따라 종래 공지의 광중합 촉진제를 1종 또는 2종 이상을 조합시켜 병용해도 된다. 광중합 촉진제로는, 벤조산계나 제3급 아민 등을 이용할 수 있다. 제3급 아민으로서는, 트리에틸아민, 테트라에틸펜타아민, 디메틸아미노에틸 등을 들 수 있다.The photopolymerization initiator may be used in combination with one or more kinds of conventionally known photopolymerization accelerators, if necessary. As the photopolymerization accelerator, a benzoic acid or a tertiary amine can be used. Examples of tertiary amines include triethylamine, tetraethylpentanamine, dimethylaminoethyl and the like.

(점착 부여 수지) (Tackifier resin)

점착제 조성물에는 점착 부여 수지를 배합해도 된다. 점착 부여 수지로서는, 테르펜 페놀 수지를 완전 또는 부분 수첨된 테르펜 페놀 수지이다. A tackifier resin may be added to the pressure-sensitive adhesive composition. As the tackifier resin, terpene phenol resin is completely or partially hydrogenated terpene phenol resin.

테르펜 페놀 수지는, 예를 들면, 테르펜 화합물 1몰과 페놀류 0.1~50을 반응시켜 제조할 수 있다.The terpene phenol resin can be produced, for example, by reacting 1 mole of a terpene compound with 0.1 to 50 of a phenol.

테르펜 화합물로서는, 미르센(myrcene), 알로오시멘(alloocimene), 오시멘, α-피넨, β-피넨, 디펜텐, 리모넨, α-페란드렌, α-테르피넨, γ-테르피넨, 테르피놀렌, 1,8-시네올, 1,4-시네올, α-테르피네올, β-테르피네올, γ-테르피네올, 칸펜, 트리시클렌, 사비넨, 파라멘타디엔류, 카렌류 등을 들 수 있다. 이들 화합물 중에서, α-피넨, β-피넨, 리모넨, 미르센, 알로오시멘, α-테르피넨이 본 발명에서는 특히 바람직하게 이용된다. Examples of the terpene compound include myrcene, alloocimene, ocimene,? -Pinene,? -Pinene, dipentene, limonene,? -Perlandrene,? -Terpinene,? -Terpinene, Phenanols, 1,8-cineol, 1,4-cineol,? -Terpineol,? -Terpineol,? -Terpineol, And the like. Among these compounds,? -Pinene,? -Pinene, limonene, myrcene, allocyanene and? -Terpinene are particularly preferably used in the present invention.

페놀류로서는, 페놀, 크레졸, 크실레놀, 카테콜, 레조르신, 히드로퀴논, 비스페놀A 등을 들 수 있지만, 이들에 한정되는 것은 아니다. Examples of phenols include, but are not limited to, phenol, cresol, xylenol, catechol, resorcin, hydroquinone, bisphenol A and the like.

테르펜 페놀 수지의 페놀류의 비율은 25~50몰% 정도이지만, 이들에 한정되는 것은 아니다. The ratio of the phenols of the terpene phenol resin is about 25 to 50 mol%, but is not limited thereto.

완전 또는 부분 수첨된 테르펜 페놀 수지의 수산기값은 50~250이 바람직하다. 수산기값이 50 미만인 경우에는, 이소시아네이트계 경화제와의 반응이 충분하지 못하고, 점착제 표면에 블리드 아웃되어 오염의 원인이 되며, 250보다 많으면 점도가 상승하여 (메트)아크릴산 에스테르 공중합체등과의 혼합 불균일이 발생하여 픽업 특성이 안정되지 않기 때문이다. The hydroxyl value of the completely or partially hydrogenated terpene phenol resin is preferably 50 to 250. When the hydroxyl group value is less than 50, the reaction with the isocyanate curing agent becomes insufficient and causes bleeding-out on the surface of the pressure-sensitive adhesive to cause contamination. When the hydroxyl value is more than 250, the viscosity increases and mixing unevenness with the (meth) And the pickup characteristic is not stable.

수첨하는 방법으로서는 특별히 한정되는 것이 아니며 예를 들면, 팔라듐, 루테늄, 로듐 등의 귀금속 또는 이들을 활성 탄소, 활성 알루미나, 규조토 등의 담체상에 담지한 것을 촉매로서 사용하여 실시하는 방법을 들 수 있고, 수첨율은 브롬값 측정, 요오드값 측정 등에 의해 측정할 수 있다. The method of hydrogenation is not particularly limited, and examples thereof include a method in which a noble metal such as palladium, ruthenium, or rhodium is supported on a carrier such as activated carbon, activated alumina or diatomaceous earth as a catalyst, The hydrotreating rate can be measured by measuring the bromine value, measuring the iodine value, and the like.

완전 또는 부분 수첨된 테르펜 페놀 수지의 수첨율은 30몰% 이상인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 70몰% 이상이다. 30몰% 미만인 경우, 활성 광선의 조사에 의한 광중합성 화합물의 반응 저해에 의해 점착력이 충분히 저하되지 않아 픽업성이 저하되기 때문이다. The hydrogenation rate of the completely or partially hydrogenated terpene phenol resin is preferably 30 mol% or more, and more preferably 70 mol% or more. When the content is less than 30 mol%, the adhesion of the photopolymerizable compound is not sufficiently lowered due to the reaction of the photopolymerizable compound with the irradiation of the actinic ray, resulting in deterioration of the pick-up property.

완전 또는 부분 수첨된 테르펜 페놀 수지의 배합비는 (메트)아크릴산에스테르 공중합체 100질량부에 대하여 0.5질량부 이상 100질량부 이하가 바람직하고, 1.0질량부 이상 50질량부 이하가 보다 바람직하다. 완전 또는 부분 수첨된 테르펜 페놀 수지가 0.5질량부 이상이면 점착력이 너무 낮지 않기 때문에 다이싱 시에 반도체 칩의 유지성이 유지되며, 100질량부 이하이면 픽업 불량의 발생을 억제할 수 있다. The blending ratio of the completely or partially hydrogenated terpene phenol resin is preferably 0.5 parts by mass or more and 100 parts by mass or less, more preferably 1.0 parts by mass or more and 50 parts by mass or less, based on 100 parts by mass of the (meth) acrylic acid ester copolymer. If the amount of the completely or partially hydrogenated terpene phenol resin is 0.5 parts by mass or more, the adhesive strength is not too low. Therefore, the durability of the semiconductor chip is maintained at the time of dicing, and if it is 100 parts by mass or less,

(첨가제 등) (Such as additives)

점착제 조성물에는, 예를 들면, 연화제, 노화 방지제, 충전제, 도전제, 자외선 흡수제 및 광 안정제 등의 각종 첨가제를 첨가해도 된다. Various additives such as a softening agent, an anti-aging agent, a filler, a conductive agent, an ultraviolet absorber, and a light stabilizer may be added to the pressure-sensitive adhesive composition.

점착제층의 두께는, 3~7μm이며, 바람직하게는, 4~6μm이다. 점착제층이 너무 두꺼우면 치핑이 발생하기 쉬워진다. 또한, 점착제층이 너무 얇으면 점착력이 너무 낮아져서, 다이싱 시의 칩 유지성이 저하되어 칩의 비산이 발생하는 경우나, 링 프레임과 시트 사이에서 박리가 생기는 경우가 있다. The thickness of the pressure-sensitive adhesive layer is 3 to 7 占 퐉, preferably 4 to 6 占 퐉. If the pressure-sensitive adhesive layer is too thick, chipping tends to occur. In addition, if the pressure-sensitive adhesive layer is too thin, the adhesive force becomes too low, so that the chip retention at the time of dicing is lowered, and scattering of the chip occurs, or peeling may occur between the ring frame and the sheet.

(기재 필름) (Substrate film)

기재 필름의 재료로서는, 예를 들면, 폴리염화비닐, 폴리에틸렌 테레프탈레이트, 에틸렌-아세트산비닐 공중합체, 에틸렌-아크릴산-아크릴산에스테르 필름, 에틸렌-에틸아크릴레이트 공중합체, 폴리에틸렌, 폴리프로필렌, 프로필렌계 공중합체, 에틸렌-아크릴산 공중합체 및 에틸렌-(메트)아크릴산 공중합체나 에틸렌-(메트)아크릴산-(메트)아크릴산에스테르 공중합체 등을 금속 이온으로 가교한 아이오노머 수지 등을 들 수 있다. 기재 필름은 이들 수지의 혼합물 또는 공중합체여도 되며, 이들 수지로 이루어지는 필름이나 시트의 적층체여도 된다. Examples of the material of the base film include polyvinyl chloride, polyethylene terephthalate, ethylene-vinyl acetate copolymer, ethylene-acrylic acid-acrylic acid ester film, ethylene-ethyl acrylate copolymer, polyethylene, polypropylene, , An ethylene-acrylic acid copolymer, and an ionomer resin obtained by crosslinking an ethylene- (meth) acrylic acid copolymer or an ethylene- (meth) acrylic acid- (meth) acrylic acid ester copolymer with a metal ion. The base film may be a mixture or a copolymer of these resins, or a laminate of films or sheets of these resins.

기재 필름의 소재는 아이오노머 수지를 이용하는 것이 바람직하다. 아이오노머 수지 중에서도, 에틸렌 단위, 메타크릴산 단위 및 (메트)아크릴산 알킬에스테르 단위를 갖는 공중합체를 Na+, K+, Zn2+ 등의 금속 이온으로 가교한 아이오노머 수지를 사용하면 절삭 부스러기 억제 효과가 현저하여 바람직하게 이용된다.It is preferable to use an ionomer resin as a material of the base film. Among the ionomer resins, the use of ionomer resins obtained by crosslinking a copolymer having an ethylene unit, a methacrylic acid unit and a (meth) acrylic acid alkyl ester unit with metal ions such as Na + , K + , Zn 2+ or the like can be used to suppress cutting debris The effect is remarkable and is preferably used.

기재 필름은 상기 재료로 이루어지는 단층 혹은 다층의 필름 혹은 시트이면 되며, 다른 재료로 이루어지는 필름 등을 적층한 것이어도 된다. 기재 필름의 두께는 50~200μm, 바람직하게는 70~150μm이다.The base film may be a single layer or a multilayer film or sheet made of the above-described material, or a laminate of films made of other materials or the like. The thickness of the base film is 50 to 200 占 퐉, preferably 70 to 150 占 퐉.

기재 필름에는 대전 방지 처리를 실시하는 것이 바람직하다. 대전 방지 처리로서는, 기재 필름에 대전 방지제를 배합하는 처리, 기재 필름 표면에 대전 방지제를 도포하는 처리, 코로나 방전에 의한 처리가 있다. It is preferable that the base film is subjected to an antistatic treatment. As the antistatic treatment, there are a treatment for adding an antistatic agent to a base film, a treatment for applying an antistatic agent to the surface of the base film, and a treatment for corona discharge.

대전 방지제로서는, 예를 들면 4급 아민염 단량체 등을 이용할 수 있다. 4급 아민염 단량체로서는, 예를 들면 디메틸아미노에틸(메트)아크릴레이트 4급 염화물, 디에틸아미노에틸(메트)아크릴레이트 4급 염화물, 메틸에틸아미노에틸(메트)아크릴레이트 4급 염화물, p-디메틸아미노스티렌 4급 염화물 및 p-디에틸아미노스티렌 4급 염화물을 들 수 있다. 이 중, 디메틸아미노에틸메타크릴레이트 4급 염화물이 바람직하다. As the antistatic agent, for example, quaternary amine salt monomers and the like can be used. Examples of the quaternary amine salt monomer include dimethylaminoethyl (meth) acrylate quaternary chloride, diethylaminoethyl (meth) acrylate quaternary chloride, methylethylaminoethyl (meth) acrylate quaternary chloride, p- Dimethylaminostyrene quaternary chloride and p-diethylaminostyrene quaternary chloride. Of these, dimethylaminoethyl methacrylate quaternary chloride is preferable.

윤활제 및 대전 방지제의 사용 방법은 특별히 한정되지 않지만, 예를 들면 기재 필름의 한 면에 점착제를 도포하고, 그 이면에 윤활제 및/또는 대전 방지제를 도포해도 되고, 윤활제 및/또는 대전 방지제를 기재 필름의 수지에 반죽해서 넣어 시트화해도 된다. The method of using the lubricant and the antistatic agent is not particularly limited. For example, a lubricant and / or an antistatic agent may be applied to the back surface of the base film and a lubricant and / The resin may be kneaded and put into a sheet.

기재 필름의 한 면에 점착제를 적층하고, 다른 한 면은 평균 표면 거칠기(Ra)가 0.3~1.5μm인 엠보스면으로 하는 것이 가능하다. 익스팬디드 장치의 기계 테이블 측에 엠보스 면을 설치함으로써, 다이싱 후의 익스팬디드 공정에서 기재 필름을 용이하게 확장할 수 있다. An adhesive may be laminated on one surface of the base film and the other surface may be an embossed surface having an average surface roughness (Ra) of 0.3 to 1.5 탆. By providing the embossed surface on the machine table side of the expanded device, the base film can be easily expanded in the exposing step after dicing.

(윤활제) (slush)

다이싱 후의 익스팬디드성을 향상시키기 위해, 기재 필름의 점착제 비접촉면에 윤활제를 가하거나, 기재 필름에 윤활제를 반죽해서 넣을 수 있다. In order to improve the expandability after dicing, a lubricant may be added to the non-contact surface of the pressure-sensitive adhesive of the base film, or a lubricant may be kneaded into the base film.

윤활제는, 다이싱 테이프와 익스팬디드 장치의 마찰 계수를 저하시키는 물질이면 특별히 한정되지 않고, 예를 들면 실리콘 수지나 (변성)실리콘유 등의 실리콘 화합물, 불소 수지, 육방정 보론 니트라이드, 카본블랙 및 이황화 몰리브덴 등을 들 수 있다. 이런 마찰 저감제는 복수의 성분을 혼합해도 된다. 전자 부품의 제조는 클린 룸(clean roonm)에서 실시되기 때문에 실리콘 화합물 또는 불소 수지를 이용하는 것이 바람직하다. 실리콘 화합물 중에서도 특히 실리콘 매크로모노머 단위를 가지는 공중합체는 대전 방지층과의 상용성(相溶性)이 좋고 대전 방지성과 익스팬디드성의 밸런스를 도모할 수 있기 때문에 바람직하게 이용된다.The lubricant is not particularly limited as long as it is a material that lowers the friction coefficient of the dicing tape and the expanding device. For example, a silicone compound such as silicone resin or (modified) silicone oil, a fluorine resin, hexagonal boron nitride, Black and molybdenum disulfide. Such a friction modifier may be a mixture of a plurality of components. Since the manufacture of electronic components is performed in a clean room, it is preferable to use a silicone compound or a fluororesin. Among the silicone compounds, copolymers having silicon macromonomer units in particular are preferably used because they have good compatibility with the antistatic layer and balance antistatic properties and expansibility.

본 발명에 따른 전자 부품의 제조 방법의 구체적인 공정을 순서대로 설명한다. The specific steps of the method of manufacturing an electronic component according to the present invention will be described in order.

(1) 첩부 공정 (1) Adhesive process

먼저, 첩부 공정에서 다이싱 테이프를 반도체 웨이퍼 또는 기판과 링 프레임에 첩부한다. 반도체 웨이퍼는, 실리콘 웨이퍼 및 갈륨 니트라이드 웨이퍼, 탄화 규소 웨이퍼, 사파이어 웨이퍼 등의 종래 범용의 웨이퍼이면 된다. 기판은 수지로 칩을 봉지한 패키지 기판, LED 패키지 기판, 세라믹 기판 등의 범용의 기판이면 된다.First, in the attaching step, the dicing tape is stuck to the semiconductor wafer or the substrate and the ring frame. The semiconductor wafer may be a conventional wafer such as a silicon wafer, a gallium nitride wafer, a silicon carbide wafer, or a sapphire wafer. The substrate may be a general-purpose substrate such as a package substrate in which a chip is sealed with a resin, an LED package substrate, or a ceramic substrate.

(2) 다이싱 공정 (2) Dicing process

다이싱 공정에서는, 반도체 웨이퍼 또는 기판을 다이싱하여 반도체 칩 또는 반도체 부품으로 한다. In the dicing step, a semiconductor wafer or a substrate is diced into a semiconductor chip or a semiconductor component.

(3) 광조사 공정 (3) Light irradiation process

광조사 공정에서는, 상기 다이싱 테이프에 자외선이나 전자선 등의 활성 광선을 조사한다. 활성 광선은 기재 필름 측에서 조사하는 것이 바람직하다. 자외선의 광원으로서는, 저압 수은등, 고압 수은등, 초고압 수은등, 메탈할라이드 램프를 이용할 수 있다. 또한, 자외선 대신에 전자선을 이용해도 되고, 전자선의 광원으로서는 α선, β선, γ선을 이용할 수 있다. In the light irradiation step, the dicing tape is irradiated with an actinic ray such as ultraviolet ray or electron ray. The active ray is preferably irradiated from the base film side. As a light source of ultraviolet rays, a low pressure mercury lamp, a high pressure mercury lamp, an ultra high pressure mercury lamp, and a metal halide lamp can be used. Alternatively, an electron beam may be used in place of the ultraviolet ray, and?,?, And? Rays may be used as a light source of the electron beam.

광조사에 의해 점착제층은 삼차원 망상화(網狀化)하여 경화하고, 점착제층의 점착력이 저하된다. 이 경우, 상술한 바와 같이, 본 발명에 따른 다이싱 테이프는 가온해도 반도체 웨이퍼 또는 기판에 과도하게 밀착하지 않기 때문에, 자외선 등의 조사에 의해 충분한 접착력의 저하를 얻을 수 있다. By the irradiation of light, the pressure-sensitive adhesive layer is three-dimensionally networked and hardened, and the adhesive force of the pressure-sensitive adhesive layer is lowered. In this case, as described above, since the dicing tape according to the present invention is not excessively adhered to the semiconductor wafer or the substrate even when it is warmed, a sufficient decrease in the adhesive force can be obtained by irradiation with ultraviolet rays or the like.

(4) 익스팬디드·픽업 공정 (4) Expansion and Pickup Process

익스팬디드·픽업 공정에서는, 반도체 칩 또는 반도체 부품끼리의 간격을 넓히기 위해 다이싱 테이프를 연신하여, 칩 또는 부품을 니들 핀 등으로 밀어 올린다. 그 후, 칩 또는 부품을 진공 콜릿 또는 에어 핀셋 등으로 흡착하고, 다이싱 테이프의 점착제층으로부터 박리하여 픽업한다. 이 경우, 본 발명에 따른 다이싱 테이프로는 자외선 등의 조사에 의해 충분한 접착력의 저하를 얻을 수 있기 때문에, 칩 또는 부품과 점착제층 사이의 박리가 용이하게 되고, 양호한 픽업성을 얻을 수 있고, 점착제 잔여물 등의 불량이 생기지도 않는다. In the expanded / pick-up process, the dicing tape is stretched to widen the distance between the semiconductor chips or the semiconductor components, and the chips or parts are pushed up to the needle pins or the like. Thereafter, the chip or the component is adsorbed by a vacuum collet, an air force or the like, peeled from the pressure-sensitive adhesive layer of the dicing tape and picked up. In this case, since the dicing tape according to the present invention can attain a sufficient reduction of the adhesive force by irradiation with ultraviolet rays or the like, peeling between the chip or the component and the pressure-sensitive adhesive layer is facilitated, There is no defect such as adhesive residue.

<다이싱 테이프의 제조> &Lt; Preparation of dicing tape &

기재 필름 상에 점착제층을 형성하여 다이싱 테이프로 하는 방법으로서는, 예를 들면 그라비어 코터(Gravure coater), 콤마 코터(Comma coater), 바 코터(Bar coater), 나이프 코터(Knife coater) 또는 롤 코터(Roll coater)와 같은 코터로 기재 필름 상에 점착제를 직접 도포하는 방법이나, 박리 필름에 점착제를 도포/건조 후에 기재 필름에 첩합하는 방법이 있다. 철판 인쇄, 요판 인쇄, 평판 인쇄, 플렉소 인쇄, 오프셋 인쇄 또는 스크린 인쇄 등으로 기재 필름 상에 점착제를 인쇄해도 된다. Examples of the method of forming a pressure-sensitive adhesive layer on a base film to form a dicing tape include a gravure coater, a comma coater, a bar coater, a knife coater, A method of directly applying a pressure-sensitive adhesive on a base film with a coater such as a roll coater, or a method of applying a pressure-sensitive adhesive on a release film / drying and then bonding the pressure-sensitive adhesive to a base film. The pressure-sensitive adhesive may be printed on the base film by iron plate printing, intaglio printing, flat plate printing, flexo printing, offset printing, or screen printing.

본 발명의 다이싱 테이프는, 전자 부품의 제조 공정인 다이싱 공정, 백 그라인드(back grind) 공정에서, 워크라고 불리는 전자 부품 집합체의 첩착용으로 바람직하게 이용된다. The dicing tape of the present invention is preferably used in the dicing step or the back grind step, which is a manufacturing process of an electronic part, to be an application of a bundle of electronic parts called a work.

실시예·비교예서의 점착제 조성물 및 다이싱 테이프를 다음 처방으로 제조했다. 주요한 배합과 각 실험예의 결과를 표 1 ~ 표 3에 나타낸다. The pressure-sensitive adhesive composition and dicing tape of Examples and Comparative Examples were prepared by the following prescription. Table 1 to Table 3 show the main formulation and the results of each experimental example.

표 1 ~ 표 3 중의 조성에 관한 수치는 질량부를 나타낸다. 광중합성 화합물, 경화제, 광중합 개시제에 관한 수치는, (메트)아크릴산에스테르 공중합체를 100부로 했을 때의 질량부를 나타낸다. 기재 필름, 광중합성 화합물, 경화제, 광중합 개시제의 상세한 내용은 아래와 같다. The numerical values relating to the compositions in Tables 1 to 3 indicate mass parts. The numerical values of the photopolymerizable compound, the curing agent and the photopolymerization initiator indicate the parts by mass when 100 parts of the (meth) acrylic acid ester copolymer is used. Details of the base film, the photopolymerizable compound, the curing agent and the photopolymerization initiator are as follows.

한편, 중량 평균 분자량은 겔투과 크로마토그래피법 (GPC)에 의해 폴리스티렌 환산의 중량 평균 분자량으로서 측정한 값이다. 구체적으로는 아래와 같다. On the other hand, the weight average molecular weight is a value measured as a weight average molecular weight in terms of polystyrene by gel permeation chromatography (GPC). Specifically, it is as follows.

장치: GPC-8020 SEC 시스템(토소사제) Apparatus: GPC-8020 SEC system (manufactured by Tosoh Corporation)

칼럼: TSK Guard HZ-L + HZM-N 6.0×150mm×3 Column: TSK Guard HZ-L + HZM-N 6.0 × 150mm × 3

유량: 0.5ml/min Flow rate: 0.5 ml / min

검출기: RI-8020 Detector: RI-8020

농도: 0.2wt/Vol% Concentration: 0.2wt / Vol%

주입량: 20μL Injection volume: 20 μL

칼럼 온도: 40℃ Column temperature: 40 DEG C

시스템 온도: 40℃ System temperature: 40 ℃

용매: THF Solvent: THF

검량선: 표준 폴리스티렌(PL사제)을 이용하여 작성하고 중량평균 분자량(Mw)은 폴리스티렌 환산치로 표시했다. Calibration curve: Prepared using standard polystyrene (manufactured by PL), and weight average molecular weight (Mw) expressed in terms of polystyrene.

<기재 필름> <Base film>

·수지 필름 A: 두께 80μm의 아이오노머 수지제 필름, 에틸렌-메타크릴산-아크릴산2-메틸프로필 공중합체의 Zn염을 주체. MFR 2.8g/10min(JIS K7210법, 210℃), 미츠이·듀폰케미칼 주식회사제 (시판품). Resin film A: A film made of an ionomer resin having a thickness of 80 μm, and a Zn salt of an ethylene-methacrylic acid-2-methylpropyl acrylate copolymer. MFR 2.8 g / 10 min (JIS K7210 method, 210 캜), manufactured by Mitsui DuPont Chemicals, Inc. (commercially available).

<광중합성 화합물> &Lt; Photopolymerizable compound >

·광중합성 화합물 A: 헥사메틸렌디이소시아네이트의 이소시아네이트에 디펜타에리트리톨펜타아크릴레이트를 주성분으로 하는 수산기 함유 아크릴레이트를 반응시킨 것으로, 중량평균 분자량이 7,500이며, 불포화 이중 결합 관능기수가 10인 우레탄 아크릴레이트 올리고머(합성품). Photopolymerizable compound A: A reaction product of an isocyanate of hexamethylene diisocyanate with a hydroxyl group-containing acrylate containing dipentaerythritol pentaacrylate as a main component and having a weight average molecular weight of 7,500 and a urethane acrylate having an unsaturated double bond functional group of 10 Oligomers (synthetic).

·광중합성 화합물 B: 광중합성 화합물 A와 동일한 제조법으로 합성한 중량 평균 분자량 4,200, 불포화 이중 결합 관능기수가 10인 우레탄 아크릴레이트 올리고머(합성품) Photopolymerizable compound B: A urethane acrylate oligomer (synthetic product) having a weight average molecular weight of 4,200 and a number of unsaturated double bond functional groups synthesized by the same production method as that of the photopolymerizable compound A,

·광중합성 화합물 C: 광중합성 화합물 A와 동일한 제조법으로 합성한 중량 평균 분자량 2,100, 불포화 이중 결합 관능기수가 10인 우레탄 아크릴레이트 올리고머(합성품) Photopolymerizable compound C: A urethane acrylate oligomer (synthetic product) synthesized by the same production method as the photopolymerizable compound A and having a weight average molecular weight of 2,100 and an unsaturated double bond functional group of 10,

·광중합성 화합물 D: 광중합성 화합물 A와 동일한 제조법으로 합성한 중량 평균 분자량 10,300, 불포화 이중 결합 관능기수가 10인 우레탄 아크릴레이트 올리고머(합성품) Photopolymerizable compound D: A urethane acrylate oligomer (synthetic product) synthesized by the same production method as the photopolymerizable compound A and having a weight average molecular weight of 10,300 and an unsaturated double bond functional group of 10,

·광중합성 화합물 E: 이소포론 디이소시아네이트의 삼량체의 이소시아네이트에 디펜타에리트리톨펜타아크릴레이트를 주성분으로 하는 수산기 함유 아크릴레이트를 반응시킨 것이며, 중량평균 분자량이 4,900이며, 불포화 이중 결합 관능기수가 15인 우레탄 아크릴레이트 올리고머(합성품). Photopolymerizable compound E: isocyanate of isophorone diisocyanate trimer is reacted with hydroxyl group-containing acrylate containing dipentaerythritol pentaacrylate as a main component, and has a weight average molecular weight of 4,900 and an unsaturated double bond functional group of 15 Urethane acrylate oligomer (synthetic).

한편, 광중합제 화합물은 일본공개특허 소 61-42529호 공보 등에 기재된 공지의 방법에 의해 조제했다. On the other hand, the photopolymerizable compound was prepared by a known method described in JP-A-61-42529.

<경화제> <Curing agent>

·경화제 A: 2,4-톨릴렌 디이소시아네이트의 트리메틸올프로판 어덕트체(시판품) Curing agent A: Trimethylol propane adduct of 2,4-tolylene diisocyanate (commercially available)

·경화제 B: 헥사메틸렌디이소시아네이트의 트리메틸올프로판 어덕트체(시판품) Curing agent B: Trimethylol propane adduct of hexamethylene diisocyanate (commercially available)

·경화제 C: N,N,N',N'-테트라글리시딜-m-크실릴렌디아민(시판품) Curing agent C: N, N, N ', N'-tetraglycidyl-m-xylylenediamine (commercially available)

<광중합 개시제> <Photopolymerization initiator>

·광중합 개시제 A: 1-히드록시시클로헥실 페닐케톤(시판품) Photopolymerization initiator A: 1-Hydroxycyclohexyl phenyl ketone (commercially available)

·광중합 개시제 B: 벤질디메틸케탈(시판품) Photopolymerization initiator B: Benzyl dimethyl ketal (commercially available)

Figure pct00001
Figure pct00001

Figure pct00002
Figure pct00002

Figure pct00003
Figure pct00003

(1) 점착력 (1) Adhesion

JIS Z 0237;2009에 준거하여 인장시험기(A&D사제, RTG-1210)을 이용하여, 실리콘 웨이퍼의 경면에 첩부하여 20분 경과 후의 다이싱 테이프의 23℃, 상대 습도 50%에서의 180° 박리법에 의해 점착력을 측정했다. 인장속도는 300mm/min, 다이싱 테이프의 사이즈는 250mm×20mm로 했다. 한편, 실리콘 웨이퍼의 경면은 JIS H 0614에 의해 제조된 것을 사용했다. (Manufactured by A & D Co., RTG-1210) in accordance with JIS Z 0237, 2009. The dicing tape was stuck to the mirror surface of a silicon wafer for 20 minutes, and subjected to 180 ° peeling method at 23 ° C and 50% The adhesive force was measured. The tensile speed was 300 mm / min, and the size of the dicing tape was 250 mm x 20 mm. On the other hand, a mirror surface of a silicon wafer manufactured by JIS H 0614 was used.

(2) 칩 유지성, 픽업성 및 치핑의 평가 (2) Evaluation of chip retainability, pick-up property and chipping

얻어진 다이싱 테이프를 더미의 회로 패턴을 형성한 직경 8인치×두께 0.15mm의 실리콘 웨이퍼와 링 프레임에 첩합했다. 첩합하여 20분 후에 고압 수은등으로 자외선을 150mJ/cm2 조사한 후, 다이싱, 픽업의 각 공정을 실시했다. The obtained dicing tape was bonded to a ring wafer with a silicon wafer having a diameter of 8 inches by a thickness of 0.15 mm on which a dummy circuit pattern was formed. 20 minutes after the lamination, ultraviolet rays were irradiated at 150 mJ / cm 2 with a high-pressure mercury lamp, and dicing and pickup were performed.

다이싱 공정의 조건은 아래와 같이 했다. The conditions of the dicing step were as follows.

다이싱 장치: DISCO사제 DAD341 Dicing device: DAD341 manufactured by DISCO

다이싱 블레이드: DISCO사제 NBC-ZH205O-27HEEE Dicing blade: manufactured by DISCO NBC-ZH205O-27HEEE

다이싱 블레이드 형상: 외경 55.56mm, 칼 폭 35μm, 내경 19.05mm Dicing blade shape: outer diameter 55.56 mm, knife width 35 m, inner diameter 19.05 mm

다이싱 블레이드 회전수: 40,000rpm Rotation speed of dicing blade: 40,000 rpm

다이싱 블레이드 이송 속도: 100mm/초 Dicing blade feed rate: 100 mm / sec

다이싱 사이즈: 1.0mm 정방형 Dicing size: 1.0mm square

다이싱 테이프에 대한 절입량: 30μm Depth for dicing tape: 30μm

절삭수 온도: 25도 Cutting temperature: 25 degrees

절삭수 양: 1.0리터/분 Cutting water amount: 1.0 liter / min

픽업 공정의 조건은 아래와 같이 했다. The conditions of the pickup process were as follows.

픽업 장치: 캐논 머시너리사제 CAP-300II Pick-up device: CAP-300II manufactured by Canon Machinery Inc.

익스팬디드 양: 8mm Expanded amount: 8mm

니들 핀 형상: 70μmR Needle pin shape: 70 mR

니들 핀 수: 1개 Number of needle pins: 1

니들 핀 밀어올림 높이: 0.3mmNeedle pin push-up height: 0.3mm

다이싱 공정 및 픽업 공정에서 이하의 평가를 실시했다. The following evaluations were carried out in the dicing step and the pick-up step.

(2-1) 칩 유지성 (2-1) Chip retention

칩 유지성은 다이싱 공정 후의 반도체 칩이 다이싱 테이프에 유지되어 있는 반도체 칩의 잔존율에 기초하여 이하의 기준에 의해 평가했다. Chip retention was evaluated based on the remaining ratio of the semiconductor chips held by the dicing tape after the dicing step according to the following criteria.

◎ (우수): 칩의 비산이 5% 미만 ◎ (excellent): chip scattering less than 5%

○ (양호): 칩의 비산이 5% 이상 10% 미만 ○ (Good): chip scattering is 5% or more and less than 10%

× (불가): 칩의 비산이 10% 이상 × (not applicable): chip scattering of 10% or more

(2-2) 픽업성 (2-2) Pickup property

픽업성은 픽업 공정에서 반도체 칩이 픽업된 비율에 기초하여 이하의 기준에 의해 평가했다. The pick-up performance was evaluated based on the following criteria based on the ratio at which the semiconductor chips were picked up in the pickup process.

◎ (우수): 칩의 픽업 성공률이 95% 이상 ◎ (excellent): Chip pickup success rate is over 95%

○ (양호): 칩의 픽업 성공률이 80% 이상 95% 미만 ○ (Good): Chip pickup success rate is over 80% and less than 95%

× (불가): 칩의 픽업 성공률이 80% 미만 × (not applicable): Chip pickup success rate less than 80%

(2-3) 치핑 (2-3) Chipping

치핑은 픽업한 칩을 무작위로 50개 선택하고, 칩의 이면의 4변을 500배의 현미경으로 관찰하여, 중심방향으로 최대의 결손의 크기에 대해 이하의 기준에 의해 평가했다. Chipping picked up 50 randomly selected chips, and observed four sides of the back surface of the chip with a 500-fold microscope. The size of the largest defect in the center direction was evaluated according to the following criteria.

◎ (우수): 결손의 크기가 25μm 미만 ◎ (Excellent): Size of defect is less than 25μm

○ (양호): 결손의 크기가 25μm 이상 50μm 미만 (Good): The size of the defect is not less than 25 占 퐉 and less than 50 占 퐉

× (불가): 결손의 크기가 50μm 이상 × (not allowed): The size of the defect is 50 μm or more

(3) 오염성 (3) Contamination

다이싱 테이프를 실리콘 웨이퍼의 경면에 첩부하고, 20분 후에 고압 수은등으로 자외선을 150mJ/cm2 조사한 후 다이싱 테이프를 박리했다. 실리콘 웨이퍼의 경면(첩부면) 상에 잔류한 0.28μm 이상의 입자수를 파티클 카운터로 측정했다. The dicing tape was attached to the mirror surface of the silicon wafer. After 20 minutes, ultraviolet rays were irradiated at 150 mJ / cm 2 with a high-pressure mercury lamp, and the dicing tape was peeled off. The number of particles of 0.28 탆 or more remained on the mirror surface (adhesive surface) of the silicon wafer was measured with a particle counter.

◎ (우수): 파티클이 500개 이하 ◎ (Excellent): No more than 500 particles

○ (양호): 파티클이 501개 이상 2000개 미만 ○ (Good): More than 501 particles and less than 2000 particles

× (불가): 파티클이 2000개 이상 × (Not applicable): More than 2000 particles

(4) 칩의 분산 (4) Dispersion of chips

칩의 분산은 픽업 공정에서 픽업하려고 한 반도체 칩의 인접하는 반도체 칩이 핀의 밀어올림의 충격에 의해 분산된 비율에 기초하여 이하의 기준에 의해 평가했다. The chip dispersion was evaluated according to the following criteria based on the rate at which adjacent semiconductor chips of the semiconductor chip to be picked up in the pick-up process were dispersed by the impact of the push-up of the pins.

◎ (우수): 칩의 분산이 1% 미만 ◎ (excellent): chip dispersion less than 1%

○ (양호): 칩의 분산이 1% 이상 3% 미만 ○ (Good): Chip dispersion is 1% or more and less than 3%

× (불가): 칩의 분산이 3% 이상 × (not applicable): chip dispersion of 3% or more

(고찰) (Review)

표 1 ~표 3의 실시예·비교예에 나타낸 바와 같이, 특정 조성의 점착제를 이용하여 두께 3~7μm의 점착제층을 형성한 모든 실시예에서는, 종합 판정이 ○ 또는 ◎이 되었다. 한편, 점착제의 조성 또는 점착제층의 두께가 규정 외인 모든 비교예에서는, 종합 판정이 ×이 되었다. 이 결과에 의해, 본 발명의 다이싱 테이프를 이용하면, 치핑, 칩의 비산 및 점착제 잔여를 효과적으로 억제하면서 픽업성을 양호하게 할 수 있는 것이 실증되었다. As shown in Examples and Comparative Examples of Tables 1 to 3, in all the examples in which the pressure-sensitive adhesive layer having a thickness of 3 to 7 占 퐉 was formed using the pressure-sensitive adhesive of a specific composition, the overall judgment was? Or?. On the other hand, in all comparative examples in which the composition of the pressure-sensitive adhesive or the thickness of the pressure-sensitive adhesive layer was outside the specified range, the overall judgment was negative. These results demonstrate that the use of the dicing tape of the present invention makes it possible to improve pick-up properties while effectively suppressing chipping, chip scattering, and adhesive residue.

보다 상세하게 분석하면 아래와 같다. More detailed analysis is as follows.

비교예 1에서는, 메틸(메트)아크릴레이트 단위가 너무 적었기 때문에 오염성이 악화되었다. In Comparative Example 1, the stainability deteriorated because the methyl (meth) acrylate unit was too small.

비교예 2에서는, 메틸(메트)아크릴레이트 단위가 너무 많았기 때문에 칩 유지성이 악화된 동시에 칩의 분산이 생기기 쉬워졌다. In Comparative Example 2, since the methyl (meth) acrylate unit was too large, chip retention deteriorated and chips were liable to be dispersed.

비교예 3에서는, 카르복실기를 가지는 단량체 단위가 너무 적었기 때문에 칩 유지성이 악화되었다. In Comparative Example 3, since the number of monomer units having a carboxyl group was too small, chip retention deteriorated.

비교예 4에서는, 카르복실기를 가지는 단량체 단위가 너무 많았기 때문에 픽업성 및 오염성이 악화되었다. In Comparative Example 4, since the number of monomer units having a carboxyl group was too large, the pickup property and the staining property were deteriorated.

비교예 5에서는, 히드록실기를 가지는 단량체 단위가 너무 적었기 때문에 오염성이 악화되었다. In Comparative Example 5, since the number of monomer units having a hydroxyl group was too small, the staining property deteriorated.

비교예 6에서는, 히드록실기를 가지는 단량체 단위가 너무 많았기 때문에 칩의 분산이 생기기 쉬워졌다. In Comparative Example 6, since the number of monomer units having a hydroxyl group was too large, chip dispersion tended to occur easily.

비교예 7에서는, 광중합성 화합물이 너무 적었기 때문에 칩 유지성 및 픽업성이 악화되었다. In Comparative Example 7, since the photopolymerizable compound was too small, the chip retention property and the pick-up property deteriorated.

비교예 8에서는, 광중합성 화합물이 너무 많았기 때문에 오염성이 악화된 동시에 칩의 분산이 생기기 쉬워졌다. In Comparative Example 8, since the photopolymerizable compound was too much, the staining property deteriorated and chips were liable to be dispersed.

비교예 9에서는, 광중합성 화합물의 중량 평균 분자량이 너무 작았기 때문에 치핑이 생기기 쉬워졌다. In Comparative Example 9, since the weight average molecular weight of the photopolymerizable compound was too small, chipping occurred easily.

비교예 10에서는, 광중합성 화합물의 중량 평균 분자량이 너무 컸기 때문에 칩 유지성이 악화되었다. In Comparative Example 10, since the weight average molecular weight of the photopolymerizable compound was too large, chip retention deteriorated.

비교예 11에서는, 경화제가 너무 적었기 때문에 오염성이 악화되었다. In Comparative Example 11, the stainability deteriorated because the amount of the curing agent was too small.

비교예 12에서는, 경화제가 너무 많았기 때문에 칩 유지성 및 오염성이 악화된 동시에 칩의 분산이 생기기 쉬워졌다. In Comparative Example 12, since the amount of the curing agent was too large, the chip retainability and staining property deteriorated and chips were liable to be dispersed.

비교예 13에서는, 광중합 개시제가 너무 적었기 때문에 픽업성이 악화되었다. In Comparative Example 13, since the photopolymerization initiator was too small, the pickupability deteriorated.

비교예 14에서는, 광중합 개시제가 너무 많았기 때문에 오염성이 악화된 동시에 칩의 분산이 생기기 쉬워졌다. In Comparative Example 14, since the photopolymerization initiator was too much, the staining property deteriorated and the chips were liable to be dispersed.

비교예 15에서는, 점착제층이 너무 얇았기 때문에 칩 유지성이 악화된 동시에 칩의 분산이 생기기 쉬워졌다. In Comparative Example 15, since the pressure-sensitive adhesive layer was too thin, chip retention deteriorated and chips were liable to be dispersed.

비교예 16에서는, 점착제층이 너무 두꺼웠기 때문에 치핑이 생기기 쉬워지고 픽업성이 악화되었다.In Comparative Example 16, since the pressure-sensitive adhesive layer was too thick, chipping occurred easily and the pickup property deteriorated.

Claims (4)

기재 필름에 점착제 조성물로 이루어지는 점착제층을 적층하여 이루어지는 다이싱 테이프로서,
상기 점착제 조성물이 (메트)아크릴산에스테르 공중합체 100질량부와, 광중합성 화합물 5~250질량부, 경화제 0.1~20질량부와 광중합개시제 0.1~20질량부를 포함하고,
상기 (메트)아크릴산에스테르 공중합체가, 메틸(메트)아크릴레이트 단위를 35~85질량%, 2-에틸헥실(메트)아크릴레이트 단위를 10~60질량%, 카르복실기를 가지는 단량체 단위를 0.5~10질량%, 히드록실기를 가지는 단량체 단위를 0.05~5질량% 함유하고,
상기 광중합성 화합물은 중량 평균 분자량 4,000~8,000이며, 불포화 이중 결합 관능기수가 10~15인 우레탄 아크릴레이트 올리고머이며,
상기 점착제층의 두께가 3~7μm인 것을 특징으로 하는 다이싱 테이프.
A dicing tape comprising a base film laminated with a pressure-sensitive adhesive layer comprising a pressure-sensitive adhesive composition,
Wherein the pressure-sensitive adhesive composition comprises 100 parts by mass of a (meth) acrylic acid ester copolymer, 5 to 250 parts by mass of a photopolymerizable compound, 0.1 to 20 parts by mass of a curing agent, and 0.1 to 20 parts by mass of a photopolymerization initiator,
Wherein the (meth) acrylic acid ester copolymer contains 35 to 85 mass% of a methyl (meth) acrylate unit, 10 to 60 mass% of a 2-ethylhexyl (meth) acrylate unit, 0.5 to 10 By mass and 0.05 to 5% by mass of a monomer unit having a hydroxyl group,
The photopolymerizable compound is a urethane acrylate oligomer having a weight average molecular weight of 4,000 to 8,000 and an unsaturated double bond functional group number of 10 to 15,
Wherein the pressure-sensitive adhesive layer has a thickness of 3 to 7 占 퐉.
제 1 항에 있어서,
상기 경화제가 다관능 이소시아네이트 경화제 또는 다관능 에폭시 경화제인 것을 특징으로 하는 다이싱 테이프.
The method according to claim 1,
Wherein the curing agent is a polyfunctional isocyanate curing agent or a polyfunctional epoxy curing agent.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
상기 다이싱 테이프의 JIS Z 0237에 준거하여 측정한 실리콘 웨이퍼의 경면에 대한 점착력이 5.0N/20mm 이상인 것을 특징으로 하는 다이싱 테이프.
3. The method according to claim 1 or 2,
Wherein the adhesive force of the dicing tape to the mirror surface of the silicon wafer measured according to JIS Z 0237 is 5.0 N / 20 mm or more.
(a) 반도체 웨이퍼 또는 기판과 링 프레임에 다이싱 테이프를 첩부하는 첩부 공정과,
(b) 상기 반도체 웨이퍼 또는 기판을 다이싱하여 반도체 칩 또는 반도체 부품으로 하는 다이싱 공정과,
(c) 상기 다이싱 테이프에 활성 광선을 조사하는 광조사 공정과,
(d) 상기 반도체 칩 또는 반도체 부품끼리의 간격을 넓히기 위해 상기 다이싱 테이프를 연신하는 익스팬디드 공정과,
(e) 상기 다이싱 테이프로부터 반도체 칩 또는 반도체 부품을 픽업하는 픽업 공정
을 포함하고,
상기 다이싱 테이프는 제 1 항 내지 제 3 항 중 어느 한 항에 기재된 다이싱 테이프인, 전자 부품의 제조 방법.
(a) an attaching step of attaching a dicing tape to a semiconductor wafer or a substrate and a ring frame,
(b) a dicing step of dicing the semiconductor wafer or substrate into semiconductor chips or semiconductor parts,
(c) a light irradiation step of irradiating the dicing tape with an actinic ray,
(d) an expanding step of stretching the dicing tape to widen the gap between the semiconductor chips or the semiconductor components,
(e) picking up a semiconductor chip or a semiconductor component from the dicing tape
/ RTI &gt;
Wherein the dicing tape is the dicing tape according to any one of claims 1 to 3.
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