KR20170075423A - Resistor element and board having the same mounted thereon - Google Patents

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KR20170075423A
KR20170075423A KR1020150185055A KR20150185055A KR20170075423A KR 20170075423 A KR20170075423 A KR 20170075423A KR 1020150185055 A KR1020150185055 A KR 1020150185055A KR 20150185055 A KR20150185055 A KR 20150185055A KR 20170075423 A KR20170075423 A KR 20170075423A
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최우진
이재훈
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삼성전기주식회사
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Abstract

본 발명의 일 실시 예에 따른 저항 소자는 베이스 기재; 상기 베이스 기재의 일면에 배치되는 저항층; 상기 저항층 상에서 서로 분리되도록 배치되며, 상기 저항층과 연결되는 제1 및 제2 단자; 및 상기 제1 및 제2 단자 사이에 배치되고, 상기 저항층과 접촉하는 제1면과 상기 제1면의 폭보다 작은 폭을 갖는 제2면을 갖는 제3 단자를 포함할 수 있다.A resistive element according to an embodiment of the present invention includes a base substrate; A resistive layer disposed on one surface of the base substrate; First and second terminals arranged to be separated from each other on the resistive layer and connected to the resistive layer; And a third terminal disposed between the first and second terminals, the third terminal having a first surface in contact with the resistive layer and a second surface having a width less than the width of the first surface.

Description

저항 소자 및 그 실장 기판{Resistor element and board having the same mounted thereon}BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a resistive element,

본 발명은 저항 소자 및 그 실장기판에 관한 것이다.
The present invention relates to a resistive element and a mounting substrate thereof.

칩 형상의 저항 소자는 정밀 저항을 구현하는 데에 적합하며, 회로 내에서 전류를 조절하고, 전압을 강하시키는 역할을 할 수 있다.The chip-shaped resistive element is suitable for realizing a precision resistor, and it can serve to regulate the current in the circuit and to drop the voltage.

저항을 사용한 회로 설계에서 저항이 외부 충격(서지, 정전기 등)으로 인한 데미지를 받아 불량(단락)이 발생되는 경우, 전원의 모든 전류가 IC에 흘러, 회로에 2차 피해가 가는 경우가 발생할 수 있다.In a circuit design using a resistor, if a resistor is damaged by external shock (surge, static electricity, etc.) and a fault (short circuit) occurs, all the current of the power supply flows to the IC, have.

이와 같은 현상을 방지하기 위해서는 회로 설계 시, 복수의 저항을 사용하여 회로를 설계하는 경우를 고려해 볼 수 있다. 그러나, 이와 같은 회로 설계는 필수적으로 기판의 공간 사용이 늘어날 수 밖에 없다는 문제점이 있다.In order to prevent such a phenomenon, a circuit may be designed by using a plurality of resistors when designing a circuit. However, such a circuit design has a problem in that the space use of the substrate is inevitably increased.

특히, 점차 소형화 및 정밀화되고 있는 모바일 기기의 경우, 상술한 바와 같이 회로의 안정성을 위해 기판의 공간 사용이 늘어나는 것은 바람직하지 않으므로, 보다 효과적으로 회로에 흐르는 전류를 조절할 수 있는 저항 소자에 대한 연구가 필요한 실정이다.
Particularly, in the case of a mobile device which is getting smaller and more precise, it is not desirable to increase the space usage of the substrate for the stability of the circuit as described above. Therefore, it is necessary to study the resistance element which can control the current flowing in the circuit more effectively It is true.

미국공개특허 제2010-0117783호U.S. Published Patent Application No. 2010-0117783

본 발명의 일 실시 예에 따르면, 기판 실장 시 공간 효율이 우수하고 인쇄회로기판과의 안정적인 연결이 가능한 저항 소자 및 그 실장 기판이 제공될 수 있다.
According to an embodiment of the present invention, a resistive element and a mounting substrate thereof, which are excellent in space efficiency and capable of stable connection with a printed circuit board, can be provided.

본 발명의 일 실시 예에 따른 저항 소자는 베이스 기재; 상기 베이스의 일면에 배치되는 저항층; 상기 저항층 상에서 서로 분리되도록 배치되며, 상기 저항층과 연결되는 제1 및 제2 단자; 및 상기 제1 및 제2 단자 사이에 배치되고, 상기 저항층과 접촉하는 제1면과 상기 제1면의 폭보다 작은 폭을 갖는 제2면을 갖는 제3 단자를 포함한다.A resistive element according to an embodiment of the present invention includes a base substrate; A resistive layer disposed on one side of the base; First and second terminals arranged to be separated from each other on the resistive layer and connected to the resistive layer; And a third terminal disposed between the first and second terminals, the third terminal having a first surface in contact with the resistive layer and a second surface having a width less than the width of the first surface.

또한, 본 발명의 다른 일 실시 예에 따른 저항 소자 실장 기판은 상부에 복수의 전극 패드를 갖는 인쇄회로기판; 및 상기 인쇄회로기판에 배치되는 저항 소자를 포함하며, 상기 저항 소자는 베이스 기재, 상기 베이스의 일면에 배치되는 저항층, 상기 저항층 상에서 서로 분리되도록 배치되며, 상기 저항층과 연결되는 제1 및 제2 단자, 및 상기 제1 및 제2 단자 사이에 배치되고, 상기 저항층과 접촉하는 제1면과 상기 제1면의 폭보다 작은 폭을 갖는 제2면을 갖는 제3 단자를 포함한다.
According to another aspect of the present invention, there is provided a resistance element mounting board comprising: a printed circuit board having a plurality of electrode pads on an upper surface thereof; And a resistive element disposed on the printed circuit board, wherein the resistive element comprises a base substrate, a resistive layer disposed on one side of the base, first and second resistive elements arranged to be separated from each other on the resistive layer, And a third terminal disposed between the first and second terminals and having a first surface in contact with the resistive layer and a second surface having a width less than the width of the first surface.

본 발명의 일 실시 예에 따른 저항 소자는 기판 실장 시 공간 효율이 우수하고 인쇄회로기판과의 안정적인 연결이 가능한 효과를 가진다.
The resistive element according to an embodiment of the present invention has an excellent space efficiency when mounting a substrate, and has a stable connection with a printed circuit board.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 저항 소자를 나타내는 사시도이다.
도 2는 도 1의 Ⅰ-Ⅰ'의 단면도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 저항 소자를 나타내는 단면도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 저항 소자의 실장기판을 나타내는 사시도이다.
도 5는 도 5의 Ⅱ-Ⅱ'의 단면도이다.
1 is a perspective view showing a resistance element according to an embodiment of the present invention.
2 is a cross-sectional view taken along the line I-I 'in Fig.
3 is a cross-sectional view showing a resistance element according to another embodiment of the present invention.
4 is a perspective view showing a mounting substrate of a resistance element according to an embodiment of the present invention.
5 is a sectional view of II-II 'of FIG.

이하, 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 바람직한 실시 형태들을 설명한다. 그러나, 본 발명의 실시 예는 여러 가지 다른 형태로 변형될 수 있으며, 본 발명의 범위가 이하 설명하는 실시 예로 한정되는 것은 아니다. 또한, 본 발명의 실시 예는 당해 기술분야에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해서 제공되는 것이다. 본 발명의 다양한 실시예는 서로 다르지만 상호 배타적일 필요는 없음이 이해되어야 한다.
Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described with reference to the accompanying drawings. However, the embodiments of the present invention can be modified into various other forms, and the scope of the present invention is not limited to the following embodiments. Further, the embodiments of the present invention are provided to more fully explain the present invention to those skilled in the art. It should be understood that the various embodiments of the present invention are different, but need not be mutually exclusive.

도 1은 본 발명의 일 실시 예에 따른 저항 소자를 나타내는 사시도이고, 도 2는 도 1의 Ⅰ-Ⅰ'의 단면도이다.
FIG. 1 is a perspective view showing a resistance element according to an embodiment of the present invention, and FIG. 2 is a cross-sectional view taken along line I-I 'of FIG.

도 1 및 도 2를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 저항 소자(100)는 베이스 기재(110), 저항층(120) 및 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133)를 포함한다.
1 and 2, the resistance device 100 according to an embodiment of the present invention includes a base substrate 110, a resistance layer 120, and first to third terminals 131, 132, and 133 do.

상기 베이스 기재(110)는 저항층(120)을 지지하고 저항 소자(100)의 강도를 확보하기 위한 것으로, 특별히 제한되지 않으며 예를 들어, 알루미늄 기판 또는 절연 기판 등을 사용할 수 있다. The base substrate 110 is for supporting the resistance layer 120 and securing the strength of the resistance element 100, and is not particularly limited. For example, an aluminum substrate or an insulating substrate may be used.

이에 제한되는 것은 아니나, 상기 베이스 기재(110)는 소정의 두께를 가지며, 일면의 형상이 직사각형인 얇은 판형으로 구성될 수 있으며, 표면이 아노다이징(anodizing) 처리되어 절연된 알루미나 재질로 형성될 수 있다.Although not limited thereto, the base substrate 110 may have a predetermined thickness and may have a thin plate shape having a rectangular shape on one side, and the surface may be formed of an insulated alumina material by anodizing .

또한, 베이스 기재(110)는 열전전도가 우수한 재질로 형성됨에 따라 저항 소자의 사용 시 저항층(120)에서 생성된 열을 외부로 발산하는 열 확산 통로의 역할을 할 수 있다.
In addition, since the base substrate 110 is formed of a material having a good thermal conductivity, it can serve as a heat diffusion path for dissipating the heat generated in the resistance layer 120 to the outside when the resistance element is used.

저항층(120)은 상기 베이스 기재의 일면에 배치된다. 또한, 상기 저항층(120)은 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133)와 연결되어 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133) 간에 소정의 저항을 형성할 수 있다. The resistive layer 120 is disposed on one side of the base substrate. The resistor layer 120 may be connected to the first to third terminals 131, 132 and 133 to form a predetermined resistance between the first to third terminals 131, 132 and 133.

또한, 도면에는 도시하지 않았으나, 저항층(120)은 제1 및 제3 단자(131, 133)와 연결되어 저항을 형성하는 제1 저항층 및 제2 및 제3 단자(132, 133)와 연결되어 저항을 형성하는 제2 저항층을 포함할 수 있다.
The resistor layer 120 is connected to the first and third terminals 131 and 133 and is connected to the first resistor layer and the second and third terminals 132 and 133, And a second resistor layer forming a resistor.

예를 들어, 저항층(120)은 트리밍(trimming)에 의해 저항값이 결정될 수 있다. 트리밍이란 저항값의 미세 조정을 위한 커팅 등과 같은 공정을 일컫는 것으로서, 회로 설계 시 각 저항부에 설정된 저항값을 결정하는 공정일 수 있다.For example, the resistive layer 120 can be resisted by trimming. Trimming refers to a process such as cutting for fine adjustment of a resistance value, and may be a process of determining a resistance value set in each resistance portion when designing a circuit.

이에 제한되는 것은 아니나, 저항층(120)은 주성분으로 Ag, Pd, Cu, Ni, Cu-Ni계 합금, Ni-Cr계 합금, Ru 산화물, Si 산화물, Mn 및 Mn계 합금 등을 포함할 수 있으며 필요한 저항값에 따라 다양한 재료를 포함할 수 있다.
The resistance layer 120 may include Ag, Pd, Cu, Ni, Cu-Ni alloy, Ni-Cr alloy, Ru oxide, Si oxide, Mn and Mn alloy And may include various materials depending on the required resistance value.

제1 내지 제3 단자(131, 132, 133)는 베이스 기재(110)의 제1면 상에서 서로 분리되도록 배치된다. 또한, 제3 단자(133)는 상기 저항층과 접촉하는 제1면과 대향하는 제2면을 포함하고, 상기 제1면의 폭(W3')은 상기 제2면의 폭 폭(W3")보다 크다(예를 들어, 사다리꼴 형태의 단면).The first to third terminals 131, 132, and 133 are disposed to be separated from each other on the first surface of the base substrate 110. The width W3 'of the first surface is greater than the width W3' of the second surface. The width W3 'of the first surface is greater than the width W3' of the second surface. (For example, a cross-sectional shape in the form of a trapezoid).

또한, 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133) 사이에서 노출되는 저항층의 폭(W4, W5)이 상기 제1면의 폭(W3')보다 크거나 같고, 상기 제1면의 폭(W3')에 대한 상기 제2면의 폭(W3")의 비율이 0.4이상 및 1 미만일 수 있다.The widths W4 and W5 of the resistive layer exposed between the first to third terminals 131, 132 and 133 are equal to or greater than the width W3 'of the first surface, (W3 ") of the second surface with respect to the first surface (W3 ') may be 0.4 or more and less than 1.

또한, 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133) 사이에서 노출되는 저항층의 폭(W4, W5)이 상기 제1면의 폭(W3')보다 작고, 상기 제1면의 폭(W3')에 대한 상기 제2면의 폭(W3")의 비율이 0.4이상 및 0.9 이하일 수 있다.The widths W4 and W5 of the resistive layer exposed between the first to third terminals 131 and 132 and 133 are smaller than the width W3 'of the first surface and the width W3 ) Of the second surface to the width W3 "of the second surface may be 0.4 or more and 0.9 or less.

여기서, 상기 베이스 기재(110)는 직육면체 형상을 가지며, 상기 제1면의 폭(W3') 및 상기 제2면의 폭(W3")은 상기 직육면체의 길이 방향(L)의 폭일 수 있다.
Here, the base substrate 110 has a rectangular parallelepiped shape, and the width W3 'of the first surface and the width W3''of the second surface may be the width of the length direction L of the rectangular parallelepiped.

아래의 표 1은 상기 제1면의 폭(W3')에 대한 상기 제2면의 폭(W3")의 비율(W3"/W3' ratio)를 변화시킴에 따라 저항 소자의 실장 상태가 적합한지를 테스트한 실험예 1의 데이터이다.
Table 1 below shows the relationship between the width W3 'of the first surface and the width W3' of the second surface with respect to the width W3 ' Data of Experimental Example 1 tested.

단위(Lot)Unit (Lot) W3'W3 ' W3"W3 " W3"/W3'ratioW3 "/ W3'ratio 결과result 1One 0.08㎜0.08 mm 0.008㎜0.008 mm 0.10.1 불합격fail 22 0.08㎜0.08 mm 0.016㎜0.016 mm 0.20.2 불합격fail 33 0.08㎜0.08 mm 0.028㎜0.028 mm 0.350.35 불합격fail 44 0.08㎜0.08 mm 0.032㎜0.032 mm 0.40.4 합격pass 55 0.08㎜0.08 mm 0.036㎜0.036 mm 0.450.45 합격pass 66 0.08㎜0.08 mm 0.040㎜0.040 mm 0.50.5 합격pass 77 0.08㎜0.08 mm 0.048㎜0.048 mm 0.60.6 합격pass 88 0.08㎜0.08 mm 0.056㎜0.056 mm 0.70.7 합격pass 99 0.08㎜0.08 mm 0.064㎜0.064 mm 0.80.8 합격pass 1010 0.08㎜0.08 mm 0.072㎜0.072㎜ 0.90.9 합격pass 1111 0.08㎜0.08 mm 0.076㎜0.076 mm 0.950.95 합격pass 1212 0.08㎜0.08 mm 0.080㎜0.080 mm 1One 합격pass

실험예 1은 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133) 사이에서 노출되는 저항층의 폭(W4, W5)이 상기 제1면의 폭(W3')보다 크거나 같고, 저항 소자의 사이즈가 0704mm인 경우, 제3 단자(133)의 제1면의 폭(W3')을 0.08mm로 고정하고 제3 단자(133)의 제2면의 폭(W3")을 변화시키는 조건에서 테스트한 것으로서, 표 1에 각 단위(Lot) 당 1000개의 저항 소자를 제조하고 테스트한 결과를 나타내었다. 각 단위에서 1개 이상의 불량이 발생한 경우에는 결과값을 불합격으로 표시하였다. 표 1을 참조하면, W3"/W3' ratio가 0.4 미만인 경우에 불량이 발생한 것을 확인할 수 있다. In Experimental Example 1, the widths W4 and W5 of the resistive layer exposed between the first to third terminals 131, 132 and 133 are equal to or greater than the width W3 'of the first surface, Was tested under the condition that the width W3 'of the first surface of the third terminal 133 was fixed to 0.08 mm and the width W3 "of the second surface of the third terminal 133 was changed As a result, 1000 resistance elements were manufactured and tested for each lot in Table 1. In the case where one or more defects occurred in each unit, the result was shown as failure. Referring to Table 1, If W3 "/ W3 'ratio is less than 0.4, it can be confirmed that a defect has occurred.

즉, W3"/W3' ratio가 과도하게 작으면, 도금 공정 후 제3 단자(133)의 높이가 기 설정된 높이로 형성되지 않을 수 있다. 또한, 제3 단자(133)의 표면적이 인쇄회로기판의 전극 패드에 솔더링(soldering)되기에 충분하지 않을 수 있다. 따라서, 겉보기에는 본딩된 것처럼 보이나 실제로는 본딩이 되지 않은 상태인, 소위 냉납(cold solder joint) 현상이 발생될 수 있다.
That is, if the W3 '' / W3 'ratio is excessively small, the height of the third terminal 133 may not be formed to a predetermined height after the plating process. So that a so-called cold solder joint phenomenon may appear, which appears to be apparently bonded but not actually bonded.

아래의 표 2는 실험예 1과 다른 조건에서 상기 제1면의 폭(W3')에 대한 상기 제2면의 폭(W3")의 비율(W3"/W3' ratio)을 변화시킴에 따라 저항 소자의 실장 상태가 적합한지를 테스트한 실험예 2의 데이터이다.
Table 2 below shows the relationship between the width W3 'of the second surface and the width W3' / W3 'ratio of the second surface with respect to the width W3' of the first surface under conditions different from those of Experimental Example 1, This is the data of Experimental Example 2 in which it is tested whether the mounted state of the device is appropriate.

단위(Lot)Unit (Lot) W3'W3 ' W3"W3 " W3"/W3'ratioW3 "/ W3'ratio 결과result 1One 0.08㎜0.08 mm 0.008㎜0.008 mm 0.10.1 불합격fail 22 0.08㎜0.08 mm 0.016㎜0.016 mm 0.20.2 불합격fail 33 0.08㎜0.08 mm 0.028㎜0.028 mm 0.350.35 불합격fail 44 0.08㎜0.08 mm 0.032㎜0.032 mm 0.40.4 합격pass 55 0.08㎜0.08 mm 0.036㎜0.036 mm 0.450.45 합격pass 66 0.08㎜0.08 mm 0.040㎜0.040 mm 0.50.5 합격pass 77 0.08㎜0.08 mm 0.048㎜0.048 mm 0.60.6 합격pass 88 0.08㎜0.08 mm 0.056㎜0.056 mm 0.70.7 합격pass 99 0.08㎜0.08 mm 0.064㎜0.064 mm 0.80.8 합격pass 1010 0.08㎜0.08 mm 0.072㎜0.072㎜ 0.90.9 합격pass 1111 0.08㎜0.08 mm 0.076㎜0.076 mm 0.950.95 불합격fail 1212 0.08㎜0.08 mm 0.080㎜0.080 mm 1One 불합격fail

실험예 2는 제 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133) 사이에서 노출되는 저항층의 폭(W4, W5)이 상기 제1면의 폭(W3')보다 작고, 저항 소자의 사이즈가 0704mm인 경우, 제3 단자(133)의 제1면의 폭(W3')을 0.08mm로 고정하고 제3 단자(133)의 제2면의 폭(W3")을 변화시키는 조건에서 테스트한 것으로서, 표 1과 같이 각 단위(Lot) 당 1000개의 저항 소자를 제조하고 테스트한 결과를 나타내었다. 각 단위에서 1개 이상의 불량이 발생한 경우에는 결과값을 불합격으로 표시하였다. 표 1을 참조하면, W3"/W3' ratio가 0.4 내지 0.9의 범위를 벗어나는 경우에 불량이 발생한 것을 확인할 수 있다. In Experimental Example 2, the widths W4 and W5 of the resistive layer exposed between the first to third terminals 131, 132 and 133 are smaller than the width W3 'of the first surface, The width W3 'of the first surface of the third terminal 133 is fixed to 0.08 mm and the width W3' 'of the second surface of the third terminal 133 is changed, , And 1000 resistance elements per lot are manufactured and tested as shown in Table 1. In the case where one or more defects occurred in each unit, the result is shown as failure. W3 "/ W3 'ratio is out of the range of 0.4 to 0.9, it can be confirmed that a defect has occurred.

즉, 실험예 1과 같이 W3"/W3' ratio가 과도하게 작으면, 냉납 현상이 발생될 수 있다. 또한, W3"/W3' ratio가 과도하게 크면, 솔더링 공정시 솔더(solder)가 과잉되어 전극 패드 주변의 불필요한 곳에 솔더가 형성되는 문제인 소위 과납(solder in excess) 현상이 발생될 수 있다. 이러한 과납에 의해 형성된 솔더는 전극 패드간 단락을 일으켜 오동작 및 과전류의 원인이 된다.
That is, if the W3 '' / W3 'ratio is excessively small as in the case of Experimental Example 1, the soldering may be excessive in the soldering process. A so-called solder in excess phenomenon may occur, which is a problem that solder is formed at an unnecessary portion around the electrode pad. The solder formed by such overcharge causes a short circuit between the electrode pads, which causes malfunction and overcurrent.

한편, 도면에 도시하지 않았으나, 제3 단자(133)는 저항층(120)과 접촉하는 제1면과 상기 제1면의 길이보다 작은 길이를 갖는 제2면을 가질 수 있다.Although not shown in the drawing, the third terminal 133 may have a first surface contacting the resistance layer 120 and a second surface having a length smaller than the length of the first surface.

예를 들어, 상기 제3 단자(133)의 길이 방향(즉, 저항 소자의 폭 방향(W)) 단면이 사다리꼴 형태를 가질 수 있다.
For example, the longitudinal direction of the third terminal 133 (that is, the width direction W of the resistance element) may have a trapezoidal shape.

또한, 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133)는 베이스 기재(110)의 일면에서 서로 분리되도록 배치된 제1 내지 제3 전극층(131a, 132a, 133a)을 각각 포함할 수 있으며, 상기 제1 내지 제3 전극층(131a, 132a, 133a)을 덮는 제1 내지 제3 도금층(131b, 132b, 133b)을 각각 포함할 수 있다.The first to third terminals 131, 132, and 133 may include first to third electrode layers 131a, 132a, and 133a that are separated from each other on one surface of the base substrate 110, 132b, and 133b covering the first to third electrode layers 131a, 132a, and 133a, respectively.

예를 들어, 도 2에 도시된 바와 같이 제1 단자(131)는 제1 전극층(131a) 및 제1 도금층(131b)을 포함하고, 제2 단자(132)는 제2 전극층(132a) 및 제2 도금층(132b)을 포함하며, 제3 단자(133)는 제3 전극층(133a) 및 제3 도금층(133b)을 포함할 수 있다.
2, the first terminal 131 includes a first electrode layer 131a and a first plating layer 131b, and the second terminal 132 includes a second electrode layer 132a and a second electrode layer 132b. 2 plating layer 132b and the third terminal 133 may include a third electrode layer 133a and a third plating layer 133b.

도 2에 도시된 바와 같이, 상기 제3 전극층(133a)은 저항층(120)과 접촉하는 상변의 폭이 상기 상변과 마주보는 하변의 폭보다 큰 단면을 가질 수 있다. 이에 따라, 제3 전극층(133a) 및 상기 제3 전극층(133a)의 표면에 덮는 제3 도금층(133b)을 포함하는 제3 단자(133)는 사다리꼴 형태의 단면을 가질 수 있다.
As shown in FIG. 2, the third electrode layer 133a may have a width larger than the width of the upper side in contact with the resistance layer 120, which is larger than a width of the lower side facing the upper side. Accordingly, the third terminal 133 including the third electrode layer 133a and the third plating layer 133b covering the surface of the third electrode layer 133a may have a trapezoidal cross section.

이에 제한되는 것은 아니나, 상기 제1 내지 제3 전극층(131a, 132a, 133a)은 저항층(120) 및 베이스 기재(110) 상에 도전성의 전극 형성을 위한 도전성 페이스트를 도포하는 방법으로 형성할 수 있으며 도포 방법은 스크린 인쇄 등의 방법을 사용할 수 있다.Although not limited thereto, the first to third electrode layers 131a, 132a, and 133a may be formed by applying a conductive paste for forming a conductive electrode on the resistive layer 120 and the base substrate 110 And a method such as screen printing may be used as a coating method.

상기 제1 내지 제3 전극층(131a, 132a, 133a)은 전술한 저항층(120)과는 다른 재질로 형성될 수 있으며, 예를 들어 구리, 니켈, 백금 등이 이용될 수 있고, 필요에 따라 저항층(120)과 같은 성분을 이용할 수도 있다.The first, second, and third electrode layers 131a, 132a, and 133a may be formed of a material different from that of the resistance layer 120. For example, copper, nickel, and platinum may be used. Components such as the resistive layer 120 may be used.

또한, 선택적으로 상기 제1 및 제2 전극층(131a, 132a)과 대향하도록 상기 베이스 기재(110)의 일면과 마주보는 타면에 제1 및 제2 이면전극(131d, 132d)이 배치될 수 있다. 상기와 같이 상기 베이스 기재(110)의 타면에 제1 및 제2 이면전극(131d, 132d)이 배치되는 경우, 제1 및 제2 전극층(131a, 132a)과 제1 및 제2 이면전극(131d, 132d)은 소성 공정에서 저항층(120)이 베이스 기재(110)에 미치는 힘을 상쇄하여 저항층(120)에 의해 베이스 기재가 휘는 현상을 방지할 수 있다.
The first and second backside electrodes 131d and 132d may be disposed on the other side of the base substrate 110 opposite to the first and second electrode layers 131a and 132a. When the first and second backside electrodes 131d and 132d are disposed on the other surface of the base substrate 110 as described above, the first and second electrode layers 131a and 132a and the first and second backside electrodes 131d and 131d And 132d can cancel the force applied to the base substrate 110 by the resistive layer 120 in the firing process, thereby preventing the base substrate from being bent by the resistive layer 120. [

이에 제한되는 것은 아니나, 상기 제1 및 제2 이면전극(131d, 132d)은 도전성 페이스트를 인쇄하여 형성할 수 있다.
Although not limited thereto, the first and second backside electrodes 131d and 132d may be formed by printing a conductive paste.

또한, 상기 베이스 기재(110), 저항층(120) 및 제1 내지 제3 전극층(131a, 132a, 133a)이 배치되어 형성된 적층체의 양 단면에는 제1 및 제2 전극층(131a, 132a)과 각각 연결되는 제1 및 제2 측면전극(131c, 132c)이 선택적으로 배치될 수 있다.The first and second electrode layers 131a and 132a are formed on both end faces of the laminate having the base substrate 110, the resistance layer 120, and the first to third electrode layers 131a, 132a, and 133a. The first and second side electrodes 131c and 132c may be selectively arranged.

즉, 상기 제1 측면전극은 제1 전극층(131a) 및 제1 이면전극(132d)과 연결되도록 배치되고, 제2 측면전극(132c)은 제2 전극층(132a)과 제2 이면전극(132d)과 연결되도록 배치될 수 있다.That is, the first side electrode is connected to the first electrode layer 131a and the first back electrode 132d, the second side electrode 132c is connected to the second electrode layer 132a and the second back electrode 132d, As shown in FIG.

상기 제1 및 제2 측면전극(131c, 132c)은 상기 적층체의 단면에 측면전극(131c, 132c)을 형성하는 도전성 물질을 스퍼터링 하는 공정으로 형성될 수 있으며, 반드시 이에 제한되는 것은 아니다.
The first and second side electrodes 131c and 132c may be formed by sputtering a conductive material that forms the side electrodes 131c and 132c on the end surface of the laminate. However, the present invention is not limited thereto.

또한, 제1 내지 제3 전극층(131a, 132a, 133a)이 배치되지 않은 저항층(120)의 표면에는 저항층(120)을 외부 충격으로부터 보호하기 위한 보호층(140)이 배치될 수 있다.A protection layer 140 for protecting the resistance layer 120 from external impact may be disposed on the surface of the resistance layer 120 where the first to third electrode layers 131a, 132a, and 133a are not disposed.

이에 제한되는 것은 아니나 상기 보호층(140)은 실리콘(SiO2)이나 글라스(glass) 재질로 구성될 수 있으며, 오버 코팅에 의해 저항층(120) 상에 형성될 수 있다.Although not limited thereto, the protective layer 140 may be formed of silicon (SiO 2 ) or glass, and may be formed on the resistance layer 120 by overcoating.

한편, 보호층(140)이 저항층(120) 상에 배치되더라도 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133)가 보호층(140)보다 돌출된 형상을 가짐으로써, 기판 실장 시 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133)와 기판에 배치된 전극패드와의 접촉을 용이하게 할 수 있다.
The first through third terminals 131, 132, and 133 may protrude from the protective layer 140 even if the protective layer 140 is disposed on the resistance layer 120, Contact between the third terminals 131, 132, and 133 and the electrode pads disposed on the substrate can be facilitated.

또한, 상기 보호층(140)을 형성한 뒤에 기판 실장을 위하여, 상기 제1 내지 제3 전극층(131a, 132a, 133a) 상에 제1 내지 제3 도금층(131b, 132b, 133b)이 각각 형성될 수 있다.After the protective layer 140 is formed, first to third plating layers 131b, 132b, and 133b are formed on the first to third electrode layers 131a, 132a, and 133a, respectively, .

저항 소자(100)가 제1 및 제2 이면전극(131d, 132d) 및 제1 및 제2 측면전극(131c, 132c)을 포함하는 경우 상기 이면전극 및 측면전극 상에도 각각 제1 및 제2 도금층(131b, 132b)이 형성될 수 있다.When the resistance element 100 includes the first and second backside electrodes 131d and 132d and the first and second side electrodes 131c and 132c, (131b, 132b) may be formed.

예를 들어, 제1 도금층(131b)은 제1 전극층(131a), 제1 이면전극(131d) 및 상기 제1 전극층과 상기 제1 이면전극을 연결하는 측면전극(131c)을 커버하도록 형성될 수 있으며, 제2 도금층(132b)은 제2 전극층(132a), 제2 이면전극(132d) 및 상기 제2 전극층과 상기 제2 이면전극을 연결하는 측면전극(132c)을 커버하도록 형성될 수 있다. 이에 제한되는 것은 아니나, 상기 제1 내지 제3 도금층(131b, 132b, 133b)은 배럴 도금법에 의해 형성될 수 있다.
For example, the first plating layer 131b may be formed to cover the first electrode layer 131a, the first back electrode 131d, and the side electrode 131c connecting the first electrode layer and the first back electrode. And the second plating layer 132b may cover the second electrode layer 132a, the second backside electrode 132d and the side electrode 132c connecting the second electrode layer and the second backside electrode. Although not limited thereto, the first to third plating layers 131b, 132b, and 133b may be formed by a barrel plating method.

본 발명의 일 실시 예에 의한 저항 소자는 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133)를 포함하므로, 기판 실장시 실장 강도가 향상되고 인쇄회로기판과의 안정적인 연결이 가능하다. 또한, 저항 소자는 제3 단자(133)는 제1면의 폭보다 제2면의 폭이 작은 형태를 가지므로 기판 실장 시 과납(solder in excess) 또는 냉납(cold solder joint)를 방지할 수 있는 효과를 가진다.
Since the resistance element according to an embodiment of the present invention includes the first to third terminals 131, 132, and 133, the mounting strength is improved at the time of substrate mounting and stable connection with the printed circuit board is possible. Since the resistance of the third terminal 133 is smaller than the width of the first surface of the resistor 133, it is possible to prevent solder in excess or cold solder joint during substrate mounting. Effect.

도 3은 본 발명의 다른 실시 예에 따른 저항 소자를 나타내는 단면도이다. 도 3을 참조하면, 도 2에 도시한 저항 소자(100)와 비교하여, 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133)가 변형된 실시 예에 따른 저항 소자(100')를 확인할 수 있다.
3 is a cross-sectional view showing a resistance element according to another embodiment of the present invention. Referring to FIG. 3, the resistance element 100 'according to the embodiment in which the first to third terminals 131, 132, and 133 are deformed can be identified as compared with the resistance element 100 shown in FIG. 2 .

도 3에 도시된 바와 같이, 제3 전극층(133a)의 두께(t2)는 제1 및 제2 전극층(131a, 132a)의 두께(t1)보다 두껍게 형성될 수 있고, 제3 도금층(133b)의 뚜께(t4)는 제1 및 제2 도금층(131b, 132b)의 두께(t3)보다 얇게 형성될 수 있다.The thickness t2 of the third electrode layer 133a may be greater than the thickness t1 of the first and second electrode layers 131a and 132a and the thickness t2 of the third plating layer 133b may be greater than the thickness t1 of the first and second electrode layers 131a and 132a, The target t4 may be formed to be thinner than the thickness t3 of the first and second plating layers 131b and 132b.

예를 들어, 도금층(131b, 132b, 133b)은 배럴 도금법에 의해 형성될 수 있으므로, 상기 제1 및 제2 전극층(131a, 132a)에 비해 제3 전극층(133a)은 접촉으로 인한 통전 확률이 낮아 제3 전극층(133a)의 도금은 주로 저항층를 통한 통전으로 이루어 진다. 일반적으로 저항층은 전극층에 비해 전도도가 낮기 때문에 제3 전극층(133a)은 제1 및 제2 전극층(131a, 132a) 보다 도금층의 두께가 얇게 형성될 수 있다.For example, since the plating layers 131b, 132b, and 133b can be formed by the barrel plating method, the third electrode layer 133a is less likely to be energized due to contact with the first and second electrode layers 131a and 132a Plating of the third electrode layer 133a is mainly performed by energization through the resistive layer. Generally, since the resistance layer has a lower conductivity than the electrode layer, the thickness of the third electrode layer 133a may be thinner than that of the first and second electrode layers 131a and 132a.

도3 에 도시된 바와 같이, 제3 전극층(133a)을 두껍게 형성함으로써, 전극층 및 도금층을 포함하는 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133)의 전체 두께를 균일하게 형성할 수 있다.
As shown in FIG. 3, by forming the third electrode layer 133a to be thick, the entire thicknesses of the first to third terminals 131, 132, and 133 including the electrode layer and the plating layer can be uniformly formed.

또한, 상기 제3 전극층(133a)은 하부 전극층(133a") 및 하부 전극층(133a") 상에 배치되고 저항층(120)과 접촉하는 상부 전극층(133a')을 포함하는 적어도 2개의 층으로 형성될 수 있다.The third electrode layer 133a is formed of at least two layers including an upper electrode layer 133a 'disposed on the lower electrode layer 133a "and the lower electrode layer 133a" and in contact with the resistance layer 120 .

여기서, 상기 상부 전극층(133a')의 폭(W7)은 상기 하부 전극층(133a")의 폭(W8)보다 크게 형성될 수 있다. 즉, 제3 전극층(133a)은 서로 다른 면적을 갖는 복수의 층을 포함한다.The width W7 of the upper electrode layer 133a 'may be greater than the width W8 of the lower electrode layer 133a. That is, the third electrode layer 133a may have a plurality of Layer.

이러한 상부 전극층(133a') 및 하부 전극층(133a")을 포함하는 제3 전극층(133a)에 제3 도금층(133b)을 덮는 도금 공정을 거치면 제3 단자(133)는 사다리꼴 형태의 단면을 가질 수 있다.When the third electrode layer 133a including the upper electrode layer 133a 'and the lower electrode layer 133a is subjected to a plating process to cover the third plating layer 133b, the third terminal 133 may have a trapezoidal cross section have.

이외의 구성 및 기능은 도 1 및 도 2를 참조하여 설명한 저항 소자(100)로부터 이해될 수 있으므로, 중복되는 설명은 생략한다.
Other configurations and functions can be understood from the resistance element 100 described with reference to Fig. 1 and Fig. 2, and thus redundant description will be omitted.

도 4는 본 발명의 일 실시 예에 따른 저항 소자의 실장기판을 나타내는 사시도이고, 도 5는 도 4의 Ⅱ-Ⅱ'의 단면도이다.FIG. 4 is a perspective view showing a mounting substrate of a resistance device according to an embodiment of the present invention, and FIG. 5 is a cross-sectional view of II-II 'of FIG.

도 4 및 도 5를 참조하면, 본 발명의 일 실시 예에 따른 저항 소자의 실장기판(10)은 서로 이격되어 배치된 복수의 전극 패드 및 저항 소자(100')를 가지는 인쇄회로기판(11)을 포함한다.
4 and 5, a mounting substrate 10 of a resistive element according to an embodiment of the present invention includes a printed circuit board 11 having a plurality of electrode pads and resistive elements 100 ' .

상기 저항 소자는 베이스 기재(110), 상기 베이스 기재의 일면에 배치되는 저항층(120), 저항층(120) 상에서 서로 분리되도록 배치되며, 저항층(120)과 연결되는 제1 및 제2 단자(131, 132)를 포함한다.The resistance element includes a base substrate 110, a resistance layer 120 disposed on one side of the base substrate, and a first and a second terminal 120, which are disposed to be separated from each other on the resistance layer 120, (131, 132).

또한, 제1 및 제2 단자(131, 132) 사이에 배치되고, 상기 저항층(120)과 접촉하는 제1면과 상기 제1면의 폭보다 작은 폭을 갖는 제2면을 갖는 제3 단자(133)를 포함한다.
A third terminal 131 is disposed between the first and second terminals 131 and 132 and has a first surface contacting the resistance layer 120 and a second surface having a width smaller than the width of the first surface. (133).

상기 저항 소자(100')는 도 1 내지 도 3을 참조하여 설명한 저항 소자로부터 이해될 수 있으므로, 중복되는 설명은 생략한다.
Since the resistance element 100 'can be understood from the resistance element described with reference to FIGS. 1 to 3, a duplicate description will be omitted.

인쇄회로기판(11)은 전자회로가 형성되는 부분으로, 전자기기의 특정 작동 내지 제어를 위한 집적회로(IC) 등이 형성되어 별도의 전원으로부터 공급되는 전류가 흐를 수 있다.The printed circuit board 11 is a portion in which an electronic circuit is formed. An integrated circuit (IC) or the like for specific operation or control of the electronic apparatus is formed, and a current supplied from a separate power source can flow.

이 경우, 인쇄회로기판(11)은 다양한 배선 라인을 포함하거나 또는 트랜지스터 등과 같은 다른 종류의 반도체 소자들을 더 포함할 수 있다. 또한, 인쇄회로기판(11)은 도전층을 포함하거나, 유전층을 포함하는 등 필요에 따라 다양하게 구성될 수 있다.In this case, the printed circuit board 11 may include various wiring lines or may further include other kinds of semiconductor elements such as transistors and the like. In addition, the printed circuit board 11 may include a conductive layer, a dielectric layer, or the like.

제1 내지 제3 전극패드(12, 13, 14)는 인쇄회로기판(11) 상에 서로 이격되게 배치되는 것으로, 솔더(15)에 의해 저항 소자(100')의 제1 내지 제3 단자(131, 132, 133)와 각각 연결될 수 있다.The first to third electrode pads 12, 13 and 14 are disposed on the printed circuit board 11 so as to be spaced apart from each other and are connected to the first to third terminals 131, 132, and 133, respectively.

도 4 및 도 5에서는 제1 전극패드(12)가 제1 단자(131)와 연결되고 제2 전극패드(13)가 제2 단자(132)와 연결되는 것으로 도시하였으나, 설계에 따라 제1 전극패드(12)가 제2 단자(132)와 연결되고 제2 전극패드(13)가 제1 단자(131)와 연결될 수 있다.
4 and 5, the first electrode pad 12 is connected to the first terminal 131 and the second electrode pad 13 is connected to the second terminal 132. However, according to the design, The pad 12 may be connected to the second terminal 132 and the second electrode pad 13 may be connected to the first terminal 131.

이상에서 본 발명의 실시 형태에 대하여 상세하게 설명하였지만 본 발명의 권리 범위는 이에 한정되는 것은 아니고, 청구 범위에 기재된 본 발명의 기술적 사항을 벗어나지 않는 범위 내에서 다양한 수정 및 변형이 가능 하다는 것은 당 기술 분야의 통상의 지식을 가진 자에게는 자명할 것이다.
While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments thereof, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, and that various changes and modifications may be made therein without departing from the scope of the invention. It will be obvious to those of ordinary skill in the art.

100, 100': 저항 소자
110: 베이스 기재
120: 저항층
131, 132, 133: 제1 내지 제3 단자
140: 보호층
10: 저항 소자 실장 기판
11: 인쇄회로 기판
12, 13, 14: 제1 내지 제3 전극패드
15: 솔더
100, 100 ': Resistance element
110: base substrate
120: resistance layer
131, 132, 133: first to third terminals
140: Protective layer
10: Resistor element mounting substrate
11: printed circuit board
12, 13 and 14: first to third electrode pads
15: Solder

Claims (15)

베이스 기재;
상기 베이스 기재의 일면에 배치되는 저항층;
상기 저항층 상에서 서로 분리되도록 배치되며, 상기 저항층과 연결되는 제1 및 제2 단자; 및
상기 제1 및 제2 단자 사이에 배치되고, 상기 저항층과 접촉하는 제1면과 상기 제1면의 폭보다 작은 폭을 갖는 제2면을 갖는 제3 단자
를 포함하는 저항 소자.
A base substrate;
A resistive layer disposed on one surface of the base substrate;
First and second terminals arranged to be separated from each other on the resistive layer and connected to the resistive layer; And
A third terminal disposed between the first and second terminals, the third terminal having a first surface in contact with the resistive layer and a second surface having a width smaller than the width of the first surface,
≪ / RTI >
제1항에 있어서,
상기 제1 내지 제3 단자 사이에서 노출되는 저항층의 폭이 상기 제1면의 폭보다 크거나 같고, 상기 제1면의 폭에 대한 상기 제2면의 폭의 비율이 0.4이상 및 1 미만인 저항 소자.
The method according to claim 1,
Wherein a width of the resistive layer exposed between the first to third terminals is equal to or greater than a width of the first surface and a ratio of a width of the second surface to a width of the first surface is 0.4 or more and less than 1 device.
제1항에 있어서,
상기 제1 내지 제3 단자 사이에서 노출되는 저항층의 폭이 상기 제1면의 폭보다 작고, 상기 제1면의 폭에 대한 상기 제2면의 폭의 비율이 0.4이상 및 0.9 이하인 저항 소자.
The method according to claim 1,
Wherein the width of the resistive layer exposed between the first to third terminals is smaller than the width of the first surface and the ratio of the width of the second surface to the width of the first surface is 0.4 or more and 0.9 or less.
제1항에 있어서,
상기 제1 내지 제3 단자 각각은
상기 저항층 상에 배치된 제1 내지 제3 전극층; 및
상기 제1 내지 제3 전극층을 덮는 제1 내지 제3 도금층
을 포함하는 저항 소자.
The method according to claim 1,
Each of the first to third terminals
First to third electrode layers disposed on the resistance layer; And
The first to third plating layers covering the first to third electrode layers
≪ / RTI >
제4항에 있어서,
상기 제3 전극층은 상기 제1 및 제2 전극층보다 두꺼운 두께로 형성되고, 상기 제3 도금층은 상기 제1 및 제2 도금층보다 얇은 두께로 형성된 저항 소자.
5. The method of claim 4,
Wherein the third electrode layer is thicker than the first and second electrode layers, and the third plating layer is thinner than the first and second plating layers.
제4항에 있어서,
상기 제3 전극층은 하부 전극층 및 상기 하부 전극층 상에 배치되고 상기 저항층과 접촉하는 상부 전극층을 포함하는 적어도 2개의 층으로 형성된 저항 소자.
5. The method of claim 4,
Wherein the third electrode layer is formed of at least two layers including a lower electrode layer and an upper electrode layer disposed on the lower electrode layer and in contact with the resistance layer.
제6항에 있어서
상기 상부 전극층의 폭은 상기 하부 전극층의 폭보다 큰 저항 소자.
The method of claim 6, wherein
Wherein a width of the upper electrode layer is larger than a width of the lower electrode layer.
제1항에 있어서,
상기 제1 내지 제3 단자 사이에서 상기 저항층 상에 배치되는 보호층을 더 포함하는 저항 소자.
The method according to claim 1,
And a protective layer disposed on the resistive layer between the first to third terminals.
제1항에 있어서,
상기 베이스 기재는 직육면체 형상을 가지며,
상기 제1면의 폭 및 상기 제2면의 폭은 상기 직육면체의 길이 방향의 폭인 저항 소자.
The method according to claim 1,
Wherein the base substrate has a rectangular parallelepiped shape,
Wherein the width of the first surface and the width of the second surface are the width in the longitudinal direction of the rectangular parallelepiped.
복수의 전극 패드를 갖는 인쇄회로기판; 및
상기 인쇄회로기판에 배치되는 저항 소자를 포함하며,
상기 저항 소자는 베이스 기재, 상기 베이스 기재의 일면에 배치되는 저항층, 상기 저항층 상에서 서로 분리되도록 배치되며, 상기 저항층과 연결되는 제1 및 제2 단자, 및 상기 제1 및 제2 단자 사이에 배치되고, 상기 저항층과 접촉하는 제1면과 상기 제1면의 폭보다 작은 폭을 갖는 제2면을 갖는 제3 단자
를 포함하는 저항 소자 실장 기판.
A printed circuit board having a plurality of electrode pads; And
And a resistance element disposed on the printed circuit board,
The resistance element includes a base substrate, a resistive layer disposed on one side of the base substrate, first and second terminals arranged to be separated from each other on the resistive layer, the first and second terminals being connected to the resistive layer, And a third terminal having a first surface in contact with the resistance layer and a second surface having a width smaller than the width of the first surface,
And the resistor element mounting substrate.
제10항에 있어서,
상기 제1 내지 제3 단자 사이에서 노출되는 저항층의 폭이 상기 제1면의 폭보다 크거나 같고, 상기 제1면의 폭에 대한 상기 제2면의 폭의 비율이 0.4이상 및 1 미만인 저항 소자 실장 기판.
11. The method of claim 10,
Wherein a width of the resistive layer exposed between the first to third terminals is equal to or greater than a width of the first surface and a ratio of a width of the second surface to a width of the first surface is 0.4 or more and less than 1 Element mounting substrate.
제10항에 있어서,
상기 제1 내지 제3 단자 사이에서 노출되는 저항층의 폭이 상기 제1면의 폭보다 작고, 상기 제1면의 폭에 대한 상기 제2면의 폭의 비율이 0.4이상 및 0.9 이하인 저항 소자 실장 기판.
11. The method of claim 10,
Wherein a width of the resistive layer exposed between the first to third terminals is smaller than a width of the first surface and a ratio of a width of the second surface to a width of the first surface is 0.4 or more and 0.9 or less, Board.
제10항에 있어서,
상기 제3 단자는 하부 전극층 및 상기 하부 전극층 상에 배치되고 상기 저항층과 접촉하는 상부 전극층을 포함하는 적어도 2개의 층을 포함하는 저항 소자 실장 기판.
11. The method of claim 10,
And the third terminal includes a lower electrode layer and at least two layers disposed on the lower electrode layer and including an upper electrode layer in contact with the resistance layer.
제10항에 있어서,
상기 제1 내지 제3 단자 사이에서 상기 저항층 상에 배치되는 보호층을 더 포함하는 저항 소자 실장 기판.
11. The method of claim 10,
And a protective layer disposed on the resistive layer between the first to third terminals.
제10항에 있어서,
상기 베이스 기재는 직육면체 형상을 가지며,
상기 제1면의 폭 및 상기 제2면의 폭은 상기 직육면체의 길이 방향의 폭인 저항 소자 실장 기판.
11. The method of claim 10,
Wherein the base substrate has a rectangular parallelepiped shape,
Wherein the width of the first surface and the width of the second surface are the width in the longitudinal direction of the rectangular parallelepiped.
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JP2002208506A (en) * 2001-01-11 2002-07-26 Rohm Co Ltd Shape of through-hole of multiple electronic part
JP2007088161A (en) * 2005-09-21 2007-04-05 Koa Corp Chip resistor
CN103258606B (en) * 2009-09-04 2016-04-06 三星电机株式会社 Array type chip resistor
CN102082017B (en) * 2009-11-26 2012-10-24 昆山厚声电子工业有限公司 Manufacturing method of surface mounted device resistor
JP2011138868A (en) * 2009-12-28 2011-07-14 Ngk Spark Plug Co Ltd Multilayer wiring substrate
WO2012114673A1 (en) * 2011-02-24 2012-08-30 パナソニック株式会社 Chip resistor and method of producing same
KR101630035B1 (en) * 2014-04-25 2016-06-13 삼성전기주식회사 Resistance assembly for mobile device and manufacturing method thereof

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