KR20160132198A - X선 회절분석용 부정방위 파우더시료 충진장치 - Google Patents

X선 회절분석용 부정방위 파우더시료 충진장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20160132198A
KR20160132198A KR1020150063565A KR20150063565A KR20160132198A KR 20160132198 A KR20160132198 A KR 20160132198A KR 1020150063565 A KR1020150063565 A KR 1020150063565A KR 20150063565 A KR20150063565 A KR 20150063565A KR 20160132198 A KR20160132198 A KR 20160132198A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
sample
filling
holder
flat
filled
Prior art date
Application number
KR1020150063565A
Other languages
English (en)
Inventor
안기오
오일영
임지현
Original Assignee
한국지질자원연구원
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 한국지질자원연구원 filed Critical 한국지질자원연구원
Priority to KR1020150063565A priority Critical patent/KR20160132198A/ko
Publication of KR20160132198A publication Critical patent/KR20160132198A/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20008—Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
    • G01N23/2005—Preparation of powder samples therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/20—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using diffraction of the radiation by the materials, e.g. for investigating crystal structure; by using scattering of the radiation by the materials, e.g. for investigating non-crystalline materials; by using reflection of the radiation by the materials
    • G01N23/20008—Constructional details of analysers, e.g. characterised by X-ray source, detector or optical system; Accessories therefor; Preparing specimens therefor
    • G01N23/20025—Sample holders or supports therefor
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/05—Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection
    • G01N2223/056—Investigating materials by wave or particle radiation by diffraction, scatter or reflection diffraction
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/312—Accessories, mechanical or electrical features powder preparation
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/30—Accessories, mechanical or electrical features
    • G01N2223/313—Accessories, mechanical or electrical features filters, rotating filter disc
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
    • G01N2223/60—Specific applications or type of materials
    • G01N2223/616—Specific applications or type of materials earth materials

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

본 발명은 X선 회절분석용 시료 충진장치에 관한 것이다.
본 발명에 따른 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치는 시료가 충진되도록 일면에 오목하게 충진부가 형성되어 있는 홀더, 홀더의 충진부 상면에 밀착하여 홀더에 채워지는 시료의 상면을 평평하게 형성하는 평면부와, 평면부의 상측 전방에 배치되어 홀더에 충진될 시료를 수용하며 전면이 개구되어 충진부와 연통되어 있는 수용부와, 수용부의 개구된 후면에 배치되며 일정 입도 이하의 시료만 수용부로부터 홀더의 충진부로 통과시키는 스크린을 구비하는 충진유닛 및 충진유닛의 평면부가 홀더의 충진부에 밀착된 상태로 유지되도록 충진유닛과 홀더를 함께 고정시키는 고정대를 구비하는 것에 특징이 있다.

Description

X선 회절분석용 부정방위 파우더시료 충진장치{Charging apparatus of nonoriented falling powder sample for X-ray diffractometer}
본 발명은 광물의 X선 회절분석시, 측정대상이 되는 광물시료를 홀더에 충진하는 과정에서 광물시료가 규칙적인 방향없이 불규칙하게 충진되도록 하기 위한 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치에 관한 것이다.
X선 회절분석법은 X선을 시료에 조사함으로써, 시료의 원자구조에 기인해서 방출되는 회절 X선을 검출하여 시료를 분석하는 방법을 말한다. 물질에 X선을 입사시키면 각각의 원자로부터 산란파가 서로 간섭현상을 일으켜 특정항 방향으로만 회절파가 발생하게 되는데 이 현상을 X선 회절현상이라 한다. 이러한 X선 회절현상의 강도와 진행방향은 물질을 구성하고 있는 원자의 배열상태에 따라서 달라지므로, 이러한 특징을 이용하여 물질의 격자구조나 배열상태를 알 수 있다.
상기한 원리를 이용한 X선 회절분석은 광물 시료의 정성적 분석 및 정량적 분석이 가능하기 때문에 광물의 결정구조 연구 또는 광물 감정에 있어서 널리 활용되고 있다.
X선 회절분석을 위해서는 먼저 광물 시료를 미립자로 분쇄하여 파우더 형태로 만든 후 홀더에 충진해야 한다. 광물 시료를 수용한 홀더를 회절분석기에 장착하여 분석을 수행하기 때문이다.
일반적으로 널리 사용되고 있는 광물 시료를 수용하는 홀더와, 이 홀더에 시료를 충진하는 과정이 도 1에 도시되어 있다.
도 1을 참고하면, 광물 시료를 수용하는 홀더(100)는 원반 형태로 중앙에 오목하게 홈부가 형성되어 있으며, 이 홈부에 광물 시료(110)를 수용한다. 중요한 점은 광물 시료를 홈부에 충진하는 방법이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 기존에는 특별한 장치나 도구를 이용하지 않고 광물 시료(110)를 홈부에 부어 넣은 후, 홀더(100)의 상면 위로 올라온 부분을 깍아 내서 광물 시료(110)의 상면을 홀더(100)의 상면과 수평하게 만든다. 광물 시료(100)의 상면이 홀더(100)의 상면과 수평하게 되어야 X선 회절분석시 오류가 발생하지 않기 때문이다.
그러나 광물 시료(100)를 수평하게 깍아내는 과정에서 문제가 발생한다. 광물 시료에 대한 X선 회절분석의 신뢰성과 재현성을 향상시키기 위해서는 광물 시료가 특정한 방향성을 가지고 배치되기 보다는 부정 방위로 랜덤하게 배치되어야 한다. 그러나 도 1에 도시된 바와 같은 종래의 방법은 광물 시료(110)를 홀더(100)에 담은 후 수평하게 깍아내게 되는데, 이렇게 깍아내는 과정에서 광물 시료(110), 특히 표면쪽에 놓인 시료들이 가압되면서 광물의 결정 모양에 따라 방향성을 가지고 재배열 된다. 광물 시료는 마이크로 미터 단위의 미세 파우더로 형성되므로 약간의 힘만 가해져도 배치 방향이 바뀌기 때문이다. 즉, 종래의 방법으로 시료를 충진하면 광물들이 방향성을 가지고 배열되기 때문에 회절선의 강도가 변화하여 X선 회절분석의 재현성과 정량적 분석에 있어서 어려움이 따른다.
본 발명은 상기한 문제점을 해결하기 위한 것으로서, 광물 시료들을 홀더에 충진할 때 특정한 방향성을 나타내지 않고 부정방위로 배열될 수 있도록 구조가 개선된 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치를 제공하는데 그 목적이 있다.
상기 목적을 달성하기 위한 본 발명에 따른 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치는,
X선 회절분석을 위하여 시료를 충진하기 위한 것으로서, 시료가 충진되도록 일면에 오목하게 충진부가 형성되어 있는 홀더; 상기 홀더의 충진부 상면에 밀착하여 상기 홀더에 채워지는 상기 시료의 상면을 평평하게 형성하는 평면부와, 상기 평면부의 상측 전방에 배치되어 상기 홀더에 충진될 시료를 수용하며 후면이 개구되어 상기 충진부와 연통되어 있는 수용부와, 상기 수용부의 개구된 후면에 배치되며 일정 입도 이하의 시료만 상기 수용부로부터 상기 홀더의 충진부로 통과시키는 스크린을 구비하는 충진유닛; 및 상기 충진유닛의 평면부가 상기 홀더의 충진부에 밀착된 상태로 유지되도록, 상기 충진유닛과 홀더를 함께 고정시키는 고정대;를 구비하는 것에 특징이 있다.
본 발명에 따르면, 상기 스크린은 상기 평면부와 평행하게 배치되는 것이 바람직하다.
또한, 본 발명의 일 실시예에서, 상기 수용부는 상기 평면부의 상면으로부터 곡면을 형성하며 상방으로 연장형성되는 경사부와, 상기 경사부의 양측으로부터 상기 충진부 방향으로 돌출되는 한 쌍의 측벽부로 이루어지며, 상기 스크린은 상기 측벽부에 밀착되게 부착되는 것이 바람직하다. 다른 실시예에서는 상기 수용부는 상기 한 쌍의 측벽부의 상측 사이를 연결하는 지지부를 더 구비할 수 있다.
그리고, 상기 평면부의 적어도 일측에는 관통공이 형성되어 상기 홀더의 충진부에 상기 시료의 충진 여부를 확인가능하다.
또한, 본 발명의 일 실시예에서는 상기 평면부는 금속 소재로 이루어지며, 평면부의 후면에는 투명한 소재로 이루어진 판상의 보강부재가 부착되어 평면부가 휘어지지 않고 평평한 상태를 유지할 수 있도록 한다.
X선 회절분석을 위하여 시료를 홀더에 충진할 때 본 발명에 따른 시료 충진장치를 사용하면 시료들이 부정방위로 충진되면서 X선 회절분석 결과가 왜곡되지 않고 시료의 특성이 그대로 반영될 수 있다. 즉, 시료에 대한 X선 회절분석의 재현성이 우수하다는 이점이 있다.
또한 본 발명에 따른 시료 충진장치를 사용하면 분진 발생량이 최소화되고 시료의 손실이 없는 바 작업이 수월해지고, 작업 환경이 우수해진다는 이점이 있다.
또한, 충진유닛이 홀더와 일체화 되어 있어 매우 수월하게 시료를 충진할 수 있다는 이점이 있다.
도 1은 종래의 X선 회절분석을 위하여 광물 시료를 충진하는 과정을 설명하기 위한 개략적 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 시료 충진장치의 개략적 분리 사시도이다.
도 3은 도 2에 도시된 시료 충진장치의 결합된 상태의 사시도이다.
도 4는 도 3의 A-A선 개략적 단면도이다.
도 5는 도 3을 정면에서 바라본 정면도이다.
도 6은 본 발명의 다른 실시예에 따른 시료 충진장치의 개략적 단면도이다.
도 7 내지 도 8은 본 발명에 따라 실제 제작된 시료 충진장치의 사진이다.
도 9 내지 도 11은 본 발명에 따른 시료 충진장치를 이용하여 동일한 시료에 대하여 반복적으로 X선 회절분석을 수행한 결과 그래프이다.
이하에서 도면을 참조하여 설명하는 사항들은 본 발명에 대한 이해를 돕기 위한 하나의 예이며, 다른 실시예들로 구현될 수 있으며, 다양한 방법으로 수행될 수 있다. 또, 장치 또는 요소 방향(예를 들어 "전", "후", "위", "아래", "상", "하", "좌", "우", "횡")등과 같은 용어들에 관하여 본 발명에 사용된 표현 및 술어는 단지 본 발명의 설명을 단순화하기 위해 사용된 것이며, 관련된 장치 또는 요소가 단순히 특정 방향을 가져야 함을 나타내거나 의미하지 않는다.
또한 본 명세서 및 청구범위에 사용된 용어나 단어는 통상적이거나 사전적인 의미로 한정해서 해석되어서는 아니 되며, 발명자는 그 자신의 발명을 가장 최선의 방법으로 설명하기 위해 용어의 개념을 적절하게 정의할 수 있다는 원칙에 입각하여 본 발명의 기술적 사상에 부합하는 의미와 개념으로 해석되어야만 한다. 따라서, 본 명세서에 기재된 실시예와 도면에 도시된 구성은 본 발명의 가장 바람직한 일 실시예에 불과할 뿐이고 본 발명의 기술적 사상을 모두 대변하는 것은 아니므로, 본 출원시점에 있어서 이들을 대체할 수 있는 다양한 균등물과 변형 예들이 있을 수 있음을 이해하여야 한다.
이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치(이하 "시료 충진장치"라고 함)에 대하여 첨부된 도면을 참고하여 더욱 상세하게 설명하기로 한다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 시료 충진장치의 개략적 분리 사시도이며, 도 3은 도 2에 도시된 시료 충진장치의 결합된 상태의 사시도이고, 도 4는 도 3의 A-A선 개략적 단면도이며, 도 5는 도 3의 개략적 정면도이다.
도 2 내지 도 5를 참고하면, 본 발명의 일 실시예에 따른 X선 회절분석용 시료 충진장치(200, 이하 "시료 충진장치"라 함)는 홀더(10), 충진유닛(50) 및 고정대(60)를 구비한다.
홀더(10)는 X선 회절분석의 대상이 되는 시료를 담기 위한 것이다. 즉, 시료(s)는 홀더(10)에 담겨진 상태로 X선 회절분석 장치에 설치되어 분석이 이루어진다. 본 발명에서 X선 회절분석의 대상이 되는 시료는 주로 광물 시료이지만, 본 발명을 이용한 측정 대상은 광물 시료에 한정되는 것은 아니며 X선 회절분석이 가능한 모든 재료로 확장된다.
본 실시예에서 홀더(10)는 원반 형상으로 이루어지며, 전면은 평평하게 형성된다. 또한 홀더(10)의 전면에는 시료(s)가 수용되는 오목한 충진부(11)가 형성된다. 충진부(11)는 대략 직사각 형태를 가지는데 가로 20mm 내외, 세로 30mm 내외, 깊이 2mm 내외로 형성되는데, 충진부의 규격은 다양하게 변화가능하다. 홀더(10)는 도 3에 도시된 바와 같이 수직하게 배치된 상태에서 시료(s)를 충진하게 된다.
충진유닛(50)은 홀더(10)의 충진부(11)에 광물 시료(s)가 특정한 방향으로 배열되지 않고, 부정방위로 랜덤하게 충진되도록 하기 위한 것이다. 충진유닛(50)은 평면부(20)와 수용부(30) 및 스크린(40)을 구비한다. 평면부(20)는 평평한 판상으로 이루어져 홀더(10)의 전면에 밀착된다. 홀더(10)가 수직하게 배치된 상태에서 충진유닛(50)의 평면부(20)가 충진부(11)의 전면에 밀착됨으로써 충진부(11)는 밀폐된 공간을 형성하여 시료(s)를 충진할 수 있는 상태가 된다. 그리고 충진부(11)의 개구된 전면은 평면부(20)에 의하여 홀더(10)의 전면과 동일한 높이에서 평평하게 형성되므로, 시료(s)가 충진부(11)에 수용되면 시료(s)는 홀더(10)의 전면에 대하여 돌출되지 않고 홀더(10)과 동일한 높이에서 평평하게 담겨진다.
수용부(30)는 평면부(20)의 상측 전방에 배치되어 시료(s)를 충진부(11)에 충진하기에 앞서 일시적으로 시료(s)를 수용하기 위한 것이다. 본 실시예에서 수용부(30)는 평면부(20)의 상측으로부터 곡면을 이루며 상방으로 연장형성되는 경사부(31)와, 이 경사부(31)의 양측으로부터 홀더(10)쪽으로 돌출되는 한 쌍의 측벽부(32)와, 한 쌍의 측벽부(32)로 이루어진다.
상기한 구성에서 수용부(30)의 후면은 개방된 상태가 되는데, 이 개방된 후면에 스크린(40)이 부착된다. 즉, 스크린(40)은 지지부(33)와 한 쌍의 측벽부(32)를 프레임으로 활용하여 부착된다. 스크린(40)은 평면부(20)의 직상부에 바로 배치되어 평면부(20)와 동일한 평면상에 평행하게 배치된다. 특히 스크린(40)은, 도 4에 도시된 바와 같이, 충진부(11)의 상측 부분과 대면하여 배치된다. 전체적으로 보면 충진부(11)의 개구된 전면은 평면부(20)에 의해서 대부분 막히게 되고, 스크린(40)에 의해서 상측 부분이 막히게 된다.
수용부(30)에 수용되어 있다가 스크린(40)을 통과한 광물 시료(s)는 충진부(11) 내부로 낙하하여 충진된다. 스크린(40)은 대략 5~10μm 정도의 입도를 가지는 시료(s)를 통과시킬 수 있다.
그리고 충진부(20)에 광물 시료(s)가 완전히 충전되었는지를 육안으로 확인할 수 있도록, 도 5에 도시된 바와 같이, 평면부(20)의 상부 양측에는 관통공(21)이 형성된다. 관통공(21)을 통해 광물 시료(s)의 충진 높이를 확인할 수 있다. 그리고 이 관통공(21)은 매우 작은 크기로 형성되지만, 시료(s)의 입도는 마이크로 미터 사이즈이므로 시료(s)가 관통공(21)을 통해 배출될 수 있는 바, 평면부(20)의 전면에는 예컨대 유리판과 같이 투명한 소재의 보강부재(22)가 부착된다. 보강부재(22)는 시료(s)가 관통공을 통해 배출되는 것을 막는 목적과 함께, 평면부(20)가 휘어지지 않고 평평한 상태를 유지하기 위한 목적도 가진다. 즉, 충진유닛(50)의 평면부(20)는 연성의 금속 소재로 이루어지는 바, 유리판과 같이 투명하면서도 휘어지지 않으면서도 소재를 부착하여 평면부(20)의 형상 변경을 방지할 수 있다.
그리고, 상기한 바와 같이, 홀더(10)와 충진유닛(50)은 모두 수직하게 배치되고, 홀더(10)와 충진유닛(50)의 평면부(20)는 밀착된 상태를 유지해야 하므로 본 발명에서는 고정대(60)를 구비한다. 고정대(60)는 홀더(10)와 평면부(20)를 밀착시킨 상태로 수직하게 고정할 수 있으면 어떠한 부재도 사용할 수 있다. 본 실시예에서는 도면에 도시된 바와 같이 여러 장의 문서를 함께 고정하기 위한 클립을 고정대(60)로 사용하였다. 클립은 홀더(10)와 충진유닛(50)을 수직하게 고정할 수 있으면서도 매우 쉽게 구할 수 있다는 이점이 있다.
한편, 도 6에는 본 발명의 다른 실시예에 따른 시료 충진장치(201)가 도시되어 있다. 도 6을 참고하면, 시료 충진장치(201)의 다른 모든 구성은 앞에서 도 2 내지 도 5를 참고하여 설명한 시료 충진장치(200)의 구성과 동일하다. 다만, 도 6에 도시된 시료 충진장치(201)에서는 홀더(10)의 충진부(11)의 형태와, 충진유닛(50)의 수용부(30)의 형태에서 약간의 차이가 있다. 즉, 홀더(10)의 충진부를 형성하는 4개의 내벽부들 중에서 상부에 배치된 상벽부(35)는 수직하게 배치되는 것이 아니라, 도 6에 도시된 바와 같이, 상방으로 경사지게 배치된다. 이에 따라, 스크린(40)을 통해 수용부(30)와 홀더의 충진부(11) 사이에 상호 연통되는 면적이 증대함으로써 시료(s)를 충진부(11)에 충진하는 작업이 보다 수월해질 수 있다. 그리고 앞에서 설명한 실시예에서는 스크린(40)이 측벽부(31)에만 밀착되어 고정되는 것으로 설명 및 도시하였으나, 도 6에 도시된 실시예에서는 한 쌍의 측벽부(31)의 상측을 상호 연결하는 지지부(33)가 형성된다. 이에 따라 스크린(40)은 한 쌍의 측벽부(31)와 지지부(33)에 밀착됨으로써 안정적으로 위치고정될 수 있다.
상기한 구성으로 이루어진 본 발명에 따른 시료 충진장치(200,201)를 사용하여 X선 회절분석을 위하여 시료를 충진하는 과정을 설명한다. 먼저, 홀더(10)를 수직하게 배치한 상태에서 충진유닛(50)을 홀더(10)에 밀착시키고, 고정대(60)를 이용하여 홀더(10)와 충진유닛(50)이 함께 고정되도록 한다. 위와 같이 시료 충진장치(200,201)를 설치하면 충진부(11)의 상중앙부부터 하부까지는 평면부(20)에 의하여 막히게 되며, 스크린(40)은 충진부(11)의 상측을 막아서 충진부(11)에 시료(s)가 충진될 수 있는 상태가 된다. 중요한 점은 평면부(20)와 스크린(40)이 모두 평평하게 형성되기 때문에, 충진부(11)의 상면도 평평하게 형성된다는 점이다.
상기한 상태에서 충진유닛(50)의 수용부(30)에 마이크로 미터 사이즈로 분쇄되어 있는 광물 시료(s)를 수용시킨다. 그리고 도 10의 사진에 도시된 바와 같이 미술용 붓으로 수용부(30)에 수용된 시료(s)를 부드럽게 문질러 주면 시료(s)는 스크린(40)을 통해 홀더(10)의 충진부(11)로 유입되어 낙하된다. 시료(s)가 충진부(11)로 유입되는 순간부터는 중력 이외에 별도의 외력이 작용하지 않으므로 시료(s)는 특정한 방향성을 가지지 않고 랜덤(부정방위)하게 충진부(11)에 충진된다. 실험자는 평면부(20)에 형성되어 있는 관통공(21)을 통해 시료(s)가 충진부(11)에 얼마나 충진되었는지를 확인하면서 충진작업을 수행할 수 있다.
상기한 과정을 통해 시료의 충진이 완료되면 고정대(60)를 분리하고 홀더(10)를 수평하게 배치한 후 충진유닛(50)을 분리하면, 도 8의 사진에 도시된 바와 같이, 시료(s)는 상면이 평평한 상태로 충진부(11)에 충진된다. 충진부(11)의 위쪽, 즉 홀더(10)의 표면 상부에 일부 묻어 있는 시료를 제거하고 나면 시료를 홀더에 충진하는 작업이 완료된다.
상기한 바와 같이, 본 발명에 따른 시료 충진장치를 사용하면 X선 회절분석의 신뢰성과 정확성이 향상된다는 이점이 있다. 도 9 내지 도 11의 그래프는 동일한 시료를 대상으로 하여 반복적으로 충진작업을 수행하여 X선 회절분석을 실시한 결과이다. 즉, 시료를 충진하여 X선 회절분석을 수행하고, 홀더에서 시료를 제거한 후 다시 동일한 과정을 거쳐 시료를 충진하여 X선 회절분석을 5회 수행하는 방식으로 3가지 시료로 실험을 수행하였다. 도 9 내지 도 11의 그래프를 참고하면, X선 회절분석 결과가 거의 일정하게 나왔다. 이러한 결과는 시료가 홀더에 충진되는 과정에서 특정 방향을 가지고 배열된 것이 아니라 부정방위로 배열되었기 때문에 X선 회절분석이 왜곡되지 않고 시료의 특성이 그대로 들어날 수 있었기 때문으로 파악된다. 다른 말로 하면, X선 회절분석을 위하여 시료를 홀더에 충진할 때 본 발명에 따른 시료 충진장치를 사용하면 시료들이 부정방위로 충진되면서 시료의 특성이 X선 회절분석에서 그대로 반영될 수 있다. 즉, 재현성이 우수하다. X선 회절분석에서 신뢰성과 정확성이라는 것은 동일한 시료에 대한 결과값이 언제나 일정하게 나올 수 있다는 것, 즉 재현성이 좋다는 말과 같은 동일한 의미이다.
본 발명에 따른 시료 충진장치의 이점은 위에서 언급한 재현성이 가장 큰 것이지만, 작업의 편이성과 용이성에도 있다. 즉, 본 발명에 따른 시료 충진장치를 사용하면 분진 발생량이 최소화되고, 시료의 손실이 없다는 이점이 있다. 또한 시료 충진유닛이 홀더와 일체화 되어 있어 매우 수월하게 시료를 충진할 수 있다는 이점이 있다.
200,201 ... 시료 충진장치
10 ... 홀더 11 ... 충진부
20 ... 평면부 21 ... 관통공 22 ... 보강부재
30 ... 수용부 31 ... 경사부 32 ... 측벽부 33... 지지부
40 ... 스크린 50 ... 충진유닛 s ... 시료

Claims (9)

  1. X선 회절분석을 위하여 시료를 충진하기 위한 것으로서,
    시료가 충진되도록 일면에 오목하게 충진부가 형성되어 있는 홀더; 및
    상기 홀더의 충진부 상면에 밀착하여 상기 홀더에 채워지는 상기 시료의 상면을 평평하게 형성하는 평면부와, 상기 평면부의 상측 전방에 배치되어 상기 홀더에 충진될 시료를 수용하며 전면이 개구되어 상기 충진부와 연통되어 있는 수용부와, 상기 수용부의 개구된 후면에 배치되며 일정 입도 이하의 시료만 상기 수용부로부터 상기 홀더의 충진부로 통과시키는 스크린을 구비하는 충진유닛; 및
    상기 충진유닛의 평면부가 상기 홀더의 충진부에 밀착된 상태로 유지되도록, 상기 충진유닛과 홀더를 함께 고정시키는 고정대;를 구비하는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 스크린은 상기 평면부와 평행하게 배치되는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 수용부는 상기 평면부의 상면으로부터 곡면을 형성하며 상방으로 연장형성되는 경사부와, 상기 경사부의 양측으로부터 상기 충진부 방향으로 돌출되는 한 쌍의 측벽부로 이루어지며,
    상기 스크린은 상기 측벽부에 밀착되게 부착되는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 수용부는 상기 한 쌍의 측벽부의 상측 사이를 연결하는 지지부를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치.
  5. 제1항에 있어서,
    상기 평면부의 적어도 일측에는 관통공이 형성되어 상기 홀더의 충진부에 상기 시료의 충진 여부를 확인가능한 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치.
  6. 제1항 또는 제5항에 있어서,
    투명한 소재로 이루어져 상기 평면부의 전면에 부착되는 판상의 보강부재를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치.
  7. 제1항에 있어서,
    상기 충진유닛의 평면부는 금속 소재로 이루어진 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치.
  8. 제1항에 있어서,
    상기 고정대는 상기 홀더와 충진유닛이 수직하게 배치되도록 고정하며,
    상기 스크린을 통과한 시료는 수직하게 배치된 상기 충진부로 낙하하여 충진되는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치.
  9. 제1항에 있어서,
    상기 홀더의 충진부를 형성하는 4개의 내벽부 중 상부에 배치된 상벽부는 수직한 방향에 대하여 상측으로 경사지게 배치되는 것을 특징으로 하는 X선 회절분석용 부정방위 시료 충진장치.
KR1020150063565A 2015-05-07 2015-05-07 X선 회절분석용 부정방위 파우더시료 충진장치 KR20160132198A (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150063565A KR20160132198A (ko) 2015-05-07 2015-05-07 X선 회절분석용 부정방위 파우더시료 충진장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020150063565A KR20160132198A (ko) 2015-05-07 2015-05-07 X선 회절분석용 부정방위 파우더시료 충진장치

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20160132198A true KR20160132198A (ko) 2016-11-17

Family

ID=57542350

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150063565A KR20160132198A (ko) 2015-05-07 2015-05-07 X선 회절분석용 부정방위 파우더시료 충진장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR20160132198A (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230088013A (ko) 2021-12-10 2023-06-19 한국세라믹기술원 미소 충전 샘플링에 의한 ｐｅｂ 유도 에너지 분석 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20230088013A (ko) 2021-12-10 2023-06-19 한국세라믹기술원 미소 충전 샘플링에 의한 ｐｅｂ 유도 에너지 분석 방법

Similar Documents

Publication Publication Date Title
Kohn et al. Fission-track analysis: field collection, sample preparation and data acquisition
TWI611175B (zh) 表面增強拉曼散射單元及拉曼分光分析方法
US7634053B2 (en) Fluorescent X-ray analysis apparatus
CA2872067A1 (en) A method and system for multi-energy computer tomographic cuttings analysis
TWI622763B (zh) Surface enhanced Raman scattering unit and Raman spectroscopic analysis method
Fittschen et al. Confocal MXRF in environmental applications
KR20160132198A (ko) X선 회절분석용 부정방위 파우더시료 충진장치
KR102159238B1 (ko) 핵 산란과 자기 산란의 분리 장치 및 이를 포함하는 극소각 중성자 산란장치
CN207396384U (zh) 一种用于x射线衍射仪测试的样品托架
EP3327466A1 (en) Marinelli beaker correction container for stable radionuclide analysis
Karanfil et al. Quantitative performance measurements of bent crystal Laue analyzers for X-ray fluorescence spectroscopy
JP3188758U (ja) ポータブル放射線遮蔽体及び放射線遮蔽装置
JP7208882B2 (ja) 粉体試料セル、蛍光ｘ線分析装置及び蛍光ｘ線分析方法
KR101727835B1 (ko) 센서 접착물 제거장치 및 센서 접착물 제거방법
CN211627417U (zh) 一种用于块体材料精密x射线衍射测试的样品架
CN207502403U (zh) 一种压紧式盐酸克伦特罗检测试剂盒
JP2012159517A (ja) 放射線遮蔽体
CN107402196B (zh) X射线荧光分析仪器及用于其的样品容器
KR102340376B1 (ko) 시료 보관용 데시케이터
JP3210530U (ja) 蛍光ｘ線分析用一体化試料及び試料保持具
CN206515113U (zh) 一种用于电子探针试样的水平定位台装置
JP2012043985A (ja) 半導体ウェーハの支持構造検討装置
KR102490089B1 (ko) 다목적 분석을 위한 입자성 시료 고정장치
Whitfield et al. X-ray powder diffraction
CN208334382U (zh) 一种便携式检测试剂盒

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E601 Decision to refuse application