CN207396384U - 一种用于x射线衍射仪测试的样品托架 - Google Patents

Abstract

本实用新型公开一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，包括平板结构的C部件，所述平板结构的C部件的材质为单晶硅，所述平板结构的C部件放置升降台上，所述升降台放置在仪器样品台下部仪器箱体平面上，所述平板结构的C部件镶嵌在窗式结构的B部件的窗口内，所述窗式结构的B部件材质为高纯金属铜板材，所述窗式结构的B部件的上方放置平板结构的A部件。窗式结构的B部件采用铜材料，有效吸收杂散光。平板结构的C部件使用X射线衍射仪在测量区域无衍射峰的单晶硅制作，本实用新型的样品托架可以稳定地与仪器原有的样品台连接合用，并且可通过该样品托架实现无论样品大小，薄厚、形状都能与样品台严格平行，保证测量的准确性，并且不改变原仪器结构。

Description

一种用于X射线衍射仪测试的样品托架

技术领域

本实用新型属于一种实验测试辅助用品，更具体地说是一种用于X射线衍射仪测量的样品托架。

背景技术

X射线的发现是人类1895年里程碑式的发现，现代物理学研究的开始，X射线衍射仪应用于材料的晶体结构分析距今也有100年的历史。X射线衍射仪是利用X射线的波长和晶体内部原子之间的间距相近，晶体可以作为X射线的空间衍射光栅，即一束X射线照射到晶体上时，受到晶体中原子的散射，每个原子都产生散射波，这些波互相干涉，产生衍射。衍射波叠加的结果使射线的强度在某些方向上加强，在其他方向上减弱。通过分析衍射峰位和峰强，便可获得晶体结构参数。是分析判断材料晶体结构的一种可靠技术。物相鉴定是晶体材料研究的常规测试手段，X射线衍射仪对晶体结构分析，具有速度快，准确性高的特点，是一种目前在高校实验室及科研院所广为普及的常规测试设备。

X射线衍射仪的测试技术水平，除依赖于仪器的射线发生器功率、角分辨率、稳定性外，样品表部件是否平整，是否与样品台的水平一致也是造成衍射峰位分析误差的重要因素。

X射线衍射仪仪器为进口设备，原样品台对样品要求高，对一些样品量少、形状太小或者太大的样品的分析有以下几点缺陷：1.样品太大放不到样品台上，不能检测，2.样品太小，样品周围的背底杂散信号太强，对衍射信号造成干扰；3.样品表部件不能与样品台严格平行造成衍射峰偏移。

实用新型内容

本实用新型所要解决的技术问题是针对现有技术中的缺点而提供一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，本实用新型样品托架简单、方便实用，测量结构准确性高，并且不改变原仪器结构。

为解决本实用新型的技术问题采用如下技术方案：

一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，包括平板结构的C部件，所述平板结构的C部件的材质为单晶硅，所述平板结构的C部件放置升降台上，升降台放置在仪器样品台下部仪器箱体平面上，所述平板结构的C部件镶嵌在窗式结构的B部件的窗口内，所述窗式结构的B部件材质为高纯金属铜板材，所述窗式结构的B部件的上方放置平板结构的A部件。

所述平板结构的A部件材质为普通玻璃。

所述窗式结构的B部件的尺寸为为长45 mm、宽35 mm、高2mm，其中的窗口尺寸为长25 mm、宽15 mm，所述平板结构的C部件的尺寸为长25 mm、宽15 mm。

所述平板结构的A部件的尺寸为长45 mm、宽35 mm、高2mm。

所述平板结构的C部件的表部件平整度为0.05mm。

所述升降台为手动精密升降台。

本实用新型为了解决X射线衍射仪原有样品托的局限性，使测试工作更加广泛开展，设计了用于X射线衍射仪测试的样品托架。采用四部分组合式设计，使用方便，测试正常样品时，可以简单快速挪移，不损害亦不影响仪器原样品台的原有使用功能。使用本样品托架既可以保证样品严格与仪器样品台平部件平行，放置样品的平板结构的C部件选用单晶硅，可以去除背底杂散光。窗式结构的B部件针对X光管的铜靶选用铜材料，还可以吸收杂散光；升降台的可升降设计增加样品的灵活性。测试较小薄膜样品或者样品量极少的粉末样品时，将样品直接放在平板结构的C部件上，将窗式结构的B部件固定在仪器样品台平面，窗式结构的B部件的窗口边缘对准仪器测试部位，平板结构的A部件放在窗式结构的B部件上，旋动升降台手柄，使三部分顶紧，确保样品表部件与测试平部件的一致，将限位的平板结构的A部件拿开，开始测试样品。用单晶硅材质的平板结构的C部件做托底，可以避免样品小、少不能充满X光照射区域，造成的背底噪声干扰测试信号；窗式的限位结构，避免了样品表部件不在仪器样品台平部件造成的峰位偏移。

附图说明

图1为平板结构的C部件结构示意图；

图2为平板结构的B部件结构示意图；

图3为平板结构的A部件结构示意图；

图4为本实用新型结构示意图；

图5为本实用新型使用状态图。

具体实施方式

以下结合附图对本实用新型的优选实施例进行说明，应当理解，此处所描述的优选实施例仅用于说明和解释本实用新型，并不用于限定本实用新型。

如图所示，一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，包括平板结构的C部件1，其中平板结构的C部件1使用X射线衍射仪在测量区域无衍射峰的单晶硅制作，表部件平整度为0.05mm。平板结构的C部件1放置升降台4上，升降台4放置在仪器样品台下部仪器箱体平面5上，升降台4为手动精密升降台，升降台4解决了大块样品原仪器样品台上无法放置的问题。平板结构的C部件1镶嵌在窗式结构的B部件2的窗口内，窗式结构的B部件2的材质为高纯金属铜板材，有效吸收杂散光，去除原样品托无法克服的背底问题。窗式结构的B部件2的尺寸为为长45 mm、宽35 mm、高2mm，其中窗式结构的B部件2的窗口尺寸为长25 mm、宽15 mm，平板结构的C部件1的尺寸为长25 mm、宽15 mm。窗式结构的B部件2的上方放置平板结构的A部件3，平板结构的A部件3的材质为普通玻璃，平板结构的A部件3的尺寸为长45 mm、宽35 mm、高2mm。

本样品托架使用过程：将升降台4放置在仪器原测试样品台正下方的仪器箱体平面5上，根据样品的大小调整好大致位置，超大样品直接放置在升降台4上，将较小薄膜样品或者较少量的粉末样品直接放在平板结构的C部件1上，将B部件固定在原仪器样品台上，窗口边缘对准测区域，平板结构的A部件3放在窗式结构的B部件2上，旋动升降台4手柄，将样品托架三部分顶紧，使样品表部件与测试平部件严格一致，将平板结构的A部件3移开，关好仪器箱门开始测试。

根据原仪器样品台平部件距离仪器箱体底部件的高度设计升降台4的高度及精密调节范围，可采用可升降、手动调节结构，台部件带有插孔结构，便于定位平板结构的C部件1。

本实用新型的样品托架可以稳定地与仪器原有的样品台连接合用，并且可通过该样品托架实现无论样品大小，薄厚、形状都能与样品台严格平行，保证测量的准确性，并且不改变原仪器结构。此装置无需安装，拆装方便，测试方法转换简易，本实用新型结构简单，方便实用。

最后应说明的是：以上所述仅为说明本实用新型的实施方式，并不用于限制本实用新型，对于本领域的技术人员来说，凡在本实用新型的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本实用新型的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，其特征在于：包括平板结构的C部件（1），所述平板结构的C部件（1）的材质为单晶硅，所述平板结构的C部件（1）放置升降台（4）上，所述升降台（4）放置在仪器样品台下部仪器箱体平面（5）上，所述平板结构的C部件（1）镶嵌在窗式结构的B部件（2）的窗口内，所述窗式结构的B部件（2）的材质为高纯金属铜板材，所述窗式结构的B部件（2）的上方放置平板结构的A部件（3）。

2.根据权利要求1所述的一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，其特征在于：所述平板结构的A部件（3）的材质为普通玻璃。

3.根据权利要求1或2所述的一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，其特征在于：所述窗式结构的B部件（2）的尺寸为长45 mm、宽35 mm、高2mm，其中窗式结构的B部件（2）的窗口尺寸为长25 mm、宽15 mm，所述平板结构的C部件（1）的尺寸为长25 mm、宽15 mm。

4.根据权利要求1或2所述的一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，其特征在于：所述平板结构的A部件（3）的尺寸为长45 mm、宽35 mm、高2mm。

5.根据权利要求1或2所述的一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，其特征在于：所述平板结构的C部件（1）的表部件平整度为0.05mm。

6.根据权利要求5所述的一种用于X射线衍射仪测试的样品托架，其特征在于：所述升降台（4）为手动精密升降台。