KR20160081360A

KR20160081360A - 전기적 검사소켓

Info

Publication number: KR20160081360A
Application number: KR1020140195085A
Authority: KR
Inventors: 정영배
Original assignee: 주식회사 아이에스시
Priority date: 2014-12-31
Filing date: 2014-12-31
Publication date: 2016-07-08
Also published as: KR101647443B1

Abstract

본 발명은 전기적 검사소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스의 단자를 검사장치의 패드에 전기적으로 접속시키기 위한 전기적 검사 소켓에 있어서, 피검사 디바이스가 삽입되는 삽입공이 중앙에 마련되며 상하이동가능한 커버부재; 상기 커버부재의 하측에 배치되고 상기 삽입공과 대응되는 위치에 수용공이 마련되며 검사장치 측에 설치되는 베이스부재; 상기 베이스부재와 상기 커버부재에 각각 연결되어 상기 커버부재의 상승 및 하강에 따라서 상기 베이스부재에 대하여 회전운동함으로서 상기 수용공을 개방 및 폐쇄하는 래칫수단; 및 상기 피검사 디바이스가 안착되되, 상기 커버부재에 연결되어 상기 커버부재의 상승 및 하강에 따라서 상기 피검사 디바이스의 안착높이를 변경시킬 수 있는 높이조정 안착부를 포함하는 전기적 검사소켓에 대한 것이다.

Description

전기적 검사소켓{Test socket}

본 발명은 전기적 검사소켓에 대한 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스가 안착되는 안착높이를 변경하는 높이조정 안착부를 마련하여 다양한 장치에 범용적으로 사용가능한 전기적 검사소켓에 대한 것이다.

일반적으로, 반도체 집적 회로 장치의 제조 공정에서는, 예를 들면 실리콘으로 이루어지는 웨이퍼에 다수의 집적 회로를 형성하고, 그 후 이들 집적 회로의 각각에 대하여 기초적인 전기 특성을 검사함으로써, 결함을 갖는 집적 회로를 선별하는 프로브 시험이 행해진다. 이어서, 이 웨이퍼를 절단함으로써 반도체칩이 형성되고, 이 반도체칩이 적절한 패키지 내에 수납되어 밀봉된다. 또한, 패키지화된 반도체 집적 회로 장치의 각각에 대하여 고온 환경하에서 전기 특성을 검사함으로써, 잠재적 결함을 갖는 반도체 집적 회로 장치를 선별하는 번인(burn-in) 시험이 행해진다.

이러한 번인 시험에서 사용하는 전기적 검사소켓의 일 예로서는, 대한민국 공개특허 10-2006-0069947호에 개시되어 있다. 이에 대해서는 도 1 내지 도 3에 개시된 바와 같이, 커버(21)가 눌리게 되면 커버스프링(26)이 눌려짐과 동시에 상기 래치(29)가 열리게 되고, 상기 커버(21)가 커버스프링(26)의 탄성력을 통해 원상태로 복귀되면, 상기 래치(29)가 닫히게 된다. 이때 래치 캠 슬롯(25)의 급경사부(48)는 수직방향에 대하여 각도가 10도 정도로 구비되어 상기 커버(21)의 상승 힘에 대해 5배 이상의 래치 회전력을 발생시키게 되며, 이에 따른 상기 커버(21)의 상승력을 이용하여 IC를 강하게 누르는 래치 구조가 마련된다.

도 1 내지 도 3의 실시예는 두께가 비교적 두꺼운 콘택트를 제공한 예를 도시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 도 4에 도시한 바와 같이 두께가 비교적 작은 포고형 콘택트 또는 러버 시트형 콘택트를 사용한 예를 도시한다.

구체적으로 도 4에서는 즉 상기 소켓이 IC를 구비(Loading)한 상태에서, 상기 래치 가동 축(223)이 래치의 급경사부(278)를 지나가게 되는 동안, 상기 래치의 끝단(272)이 상기 IC를 하측 방향으로 강한 힘을 갖고 눌러주게 되고, 상기 커버(221)는 제 1 단계와 같은 초기 위치로 복귀된다. 그리고 상기 IC와 IC가이드(130)는 함께 하측 방향으로 내려가게 되며, 상기 포고형 콘택트의 상부단자(262)는 IC의 단자와 접촉된 후, IC가이드(130)가 콘택트가이드(251)의 상측 면에 닿을 때까지 아래로 내려가게 되고, 상기 상부단자(262)가 IC의 단자들과 적정한 힘을 갖고 접촉되도록 구성된다.

이러한 종래기술에 따른 전기적 검사소켓은 다음과 같은 문제점을 가진다.

전기적 검사소켓 내에 설치되는 콘택트를 그 형태에 따라서 다양한 두께를 가지고 있게 된다. 즉 도 1 내지 도 3와 같은 비교적 두께가 두꺼운 일반 Bow pin 소켓이 사용될 수 있으나, 이에 반해서 두께가 비교적 얇은 도 4에 도시된 바와 같이 포고형 콘택트 또는 러버 시트형 콘택트 등이 사용될 수 있다.

그러나, 피검사 디바이스를 운반하는 운반체는 피검사 디바이스를 전기적 검사소켓 내에 안착시키는 높이가 상이하게 되면 같은 제품을 사용하기 어렵고 콘택트의 두께에 따라서 서로 다른 제품을 사용해야 하는 경우가 있다.

즉, 도 1 내지 도 3에 도시된 바와 같은 전기적 검사소켓에서는 피검사 디바이스의 안착높이가 비교적 높게 위치되어 있기 때문에 피검사 디바이스 운반체는 피검사 디바이스를 비교적 높은 위치에 위치시켜야 하는데 반해서, 도 4에 도시된 바와 같은 전기적 검사소켓에서는 피검사 디바이스의 안착높이가 낮게 위치되어 있기 때문에 피검사 디바이스를 최대한 하강시켜 피검사 위치의 안착높이를 가급적 낮게 해야 하는데, 이에 따라서 기존의 범용 운반체로서는 하나의 범용제품으로서 여러 타입의 전기적 검사소켓에 일일히 대응하기 어렵고 서로 다른 운반체를 사용해야 하는 문제점이 있었다. 더욱이 운반체의 경우 전기적 검사소켓에 비하여 고가이기 때문에 이러한 운반체를 여러대 보유하는 것은 전체적인 검사비용을 증대를 초래하고 있는 것이다.

대한민국 공개특허 10-2006-0069947호

본 발명은 상술한 문제점을 해결하기 위하여 창출된 것으로서, 더욱 상세하게는 피검사 디바이스가 안착되는 안착높이를 변경하는 높이조정 안착부를 마련하여 다양한 장치에 범용적으로 사용가능한 전기적 검사소켓을 제공하는 것을 목적으로 한다.

상술한 목적을 달성하기 위한 본 발명의 전기적 검사소켓은, 피검사 디바이스의 단자를 검사장치의 패드에 전기적으로 접속시키기 위한 전기적 검사 소켓에 있어서,

피검사 디바이스가 삽입되는 삽입공이 중앙에 마련되며 상하이동가능한 커버부재;

상기 커버부재의 하측에 배치되고 상기 삽입공과 대응되는 위치에 수용공이 마련되며 검사장치 측에 설치되는 베이스부재;

상기 베이스부재와 상기 커버부재에 각각 연결되어 상기 커버부재의 상승 및 하강에 따라서 상기 베이스부재에 대하여 회전운동함으로서 상기 수용공을 개방 및 폐쇄하는 래칫수단; 및

상기 피검사 디바이스가 안착되되, 상기 커버부재에 연결되어 상기 커버부재의 상승 및 하강에 따라서 상기 피검사 디바이스의 안착높이를 변경시킬 수 있는 높이조정 안착부를 포함한다.

상기 전기적 검사소켓에서,

상기 커버부재가 상승하는 경우 상기 높이조정 안착부는 하강하면서 상기 검사장치와 근접하게 이동하고,

상기 커버부재가 하강하는 경우 상기 높이조정 안착부는 상승하면서 상기 검사장치와 멀어지도록 이동할 수 있다.

상기 전기적 검사 소켓은,

상기 높이조정 안착부가 상승하는 경우 상기 래칫수단은 상기 수용공간을 개방하도록 회전운동하고,

상기 높이조정 안착부가 하강하는 경우 상기 래칫수단은 상기 수용공간을 폐쇄하도록 회전운동할 수 있다.

상기 전기적 검사 소켓은,

상기 베이스부재의 수용공 내부에는 상기 검사장치의 패드와 상기 피검사 디바이스의 단자를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 매개수단이 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.

상기 전기적 검사 소켓은,

상기 높이조정 안착부가 하강하여 상기 높이조정 안착부에 안착된 피검사 디바이스의 단자가 상기 매개수단과 접촉하는 경우 상기 래칫수단은 상기 피검사 디바이스의 상면에 접촉하여 상기 피검사 디바이스를 상기 매개수단 측으로 가압할 수 있다.

상기 전기적 검사 소켓에서,

상기 높이조정 안착부는, 상기 피검사 디바이스가 안착되는 안착몸체와,

상기 커버부재의 상승 및 하강에 연동되어 상기 안착몸체의 높이를 변경시키는 높이조정수단을 포함할 수 있다.

상기 전기적 검사 소켓에서,

상기 높이조정수단은, 일단이 상기 커버부재에 힌지연결되고, 타단이 상기 안착몸체에 힌지연결되며, 일단과 타단 사이의 어느 한 위치가 상기 베이스부재에 힌지연결되어 있는 바부재를 포함할 수 있다.

상기 전기적 검사 소켓에서, 상기 바부재의 타단에는,

바부재의 길이방향을 따라 길게 연장된 장공이 마련되어 있으며,

상기 장공 내에는 상기 안착몸체에 고정된 안착핀이 삽입되어 상기 장공의 길이방향을 따라서 슬라이드 이동할 수 있다.

상기 전기적 검사 소켓에서, 상기 바부재의 일단은 상기 커버부재의 중앙에 힌지연결될 수 있다.

상기 전기적 검사 소켓에서, 상기 바부재는 한 쌍이 대칭적으로 배치되어 있으며 각각의 바부재의 일단은 상기 커버부재의 중앙에 단일의 중앙핀에 의하여 힌지연결되고,

각각의 바부재의 타단은 서로 다른 안착핀에 의하여 상기 안착몸체에 연결될 수 있다.

상기 전기적 검사 소켓에서, 상기 안착몸체는,

피검사 디바이스와 대응되는 형상을 가지는 안착공이 마련된 하부몸체와,

상기 하부몸체의 가장자리로부터 상측으로 연장된 측벽부를 포함하되,

상기 측벽부는 내면이 상단에서 하단을 향하여 갈수록 경사지는 형상을 가질 수 있다.

상기 커버부재의 하측에 배치되고 상기 삽입공과 대응되는 위치에 수용공이 마련되는 상기 검사장치 측에 설치되는 베이스부재;

상기 피검사 디바이스가 안착되되, 상기 피검사 디바이스의 단자가 상기 검사장치의 패드와 전기적으로 연결되는 제1위치와,

상기 제1위치보다 상측인 제2위치 사이에서 상승 및 하강하면서 높이가 변경되는 안착몸체; 및

상기 커버부재 및 상기 안착몸체에 연결되어 커버부재의 하강에 연동하여 상기 피검사 디바이스의 안착높이를 상승시키는 높이조정수단을 포함한다.

상기 전기적 검사소켓에서,

상기 높이조정수단은,

일단이 상기 커버부재에 회전가능하게 연결되고, 타단이 상기 안착몸체에 회전가능하게 연결되며, 일단과 타단 사이가 상기 베이스부재에 회전가능하게 지지되는 바부재일 수 있다.

상기 전기적 검사소켓에서,

상기 안착몸체에는, 피검사 디바이스의 하면 가장자리를 지지하기 위한 단턱이 마련될 수 있다.

본 발명은 커버부재에 연결되어 상기 커버부재의 상승 및 하강에 따라서 상기 피검사 디바이스의 안착높이를 변경시킬 수 있는 높이조정 안착부를 포함하고 있기 때문에 기존의 피검사 디바이스의 운반체를 범용적으로 사용가능하다는 장점이 있다.

도 1은 종래기술의 일 실시예에 따른 전기적 검사소켓의 평면도.
도 2는 도 1의 절단선(X1-X1)에 의한 종단면도.
도 3은 는 도 1의 절단선(X2-X2)에 의한 종단면도.
도 4는 종래기술의 다른 실시예에 따른 전기적 검사소켓의 도면.
도 5는 본 발명의 전기적 검사소켓을 일 방향에서 바라본 분리사시도.
도 6은 도 5의 전기적 검사소켓을 다른 방향에서 바라본 분리사시도.
도 7은 도 6의 전기적 검사소켓의 결합도로서, 커버부재가 제거된 모습을 나타낸 결합사시도.
도 8은 도 7의 Ⅷ-Ⅷ 단면도로서, 커버부재가 결합된 모습을 나타내는 단면도.
도 9은 도 7의 Ⅸ-Ⅸ 단면도로서, 커버부재가 결합된 모습을 나타내는 단면도.
도 10은 도 7의 전기적 검사소켓의 작동도.
도 11은 도 10의 ⅩⅠ- ⅩⅠ 단면도로서, 커버부재가 결합된 모습을 나타내는 단면도.
도 12는 도 10의 ⅩⅡ- ⅩⅡ 단면도로서, 커버부재가 결합된 모습을 나타내는 단면도.

이하, 본 발명의 바람직한 실시예에 따른 전기적 검사소켓을 첨부된 도면을 참조하면서 상세하게 설명한다.

본 발명에 따른 전기적 검사소켓(100)은, 피검사 디바이스(190)의 전기적 검사를 위하여 검사장치 측에 설치되어 외부로부터 운반되는 피검사 디바이스(190)를 안착하고 그 안착된 디바이스를 검사장치와 전기적으로 연결시키는 검사장치에 대한 것이다.

전기적 검사소켓(100)은, 피검사 디바이스(190)의 안착, 고정을 동시에 수행하여 피검사 디바이스(190)가 검사과정에서 안정적으로 전기적 연결이 유지될 수 있도록 한다.

이러한 본 발명의 전기적 검사장치는, 커버부재(110), 베이스부재(120), 래칫수단(130) 및 높이조정 안착부(150)를 포함하여 구성된다.

상기 커버부재(110)는, 피검사 디바이스(190)가 삽입되는 삽입공(115)이 중앙에 마련되며 상하이동가능한 것이다. 이러한 커버부재(110)는 4개의 측벽으로 이루어진 육면체 형태로 이루어지되, 그 중앙에는 사각형태의 삽입공(115)이 마련되어 있게 된다.

이러한 4개의 측벽 중 어느 한 제1커버측벽(111)과, 그 제1커버측벽(111)과 마주보는 제3커버측벽(113)의 하단에는 하면으로부터 돌출되는 제1커버돌기(1111) 및 제3커버돌기(1131)가 각각 형성된다. 상기 제1커버돌기(1111)와, 제3커버돌기(1131)의 하부에는 각각 제1커버구멍(1111a) 및 제3커버구멍(1131a)이 형성되어 있다.

상기 제1커버돌기(1111)의 주변에는 상기 제1커버돌기(1111)를 사이에 두고 양측에 배치되며 상기 제1커버측벽(111)의 하면으로부터 돌출되는 제1걸림돌기(1112)가 마련되어 있다. 상기 제1걸림돌기(1112)는 베이스부재(120)의 제1걸림턱(1214)에 걸림으로서 커버부재(110)가 베이스부재(120)에 대하여 이탈되는 것을 방지하는 기능을 수행한다. 구체적으로는 커버부재(110)가 베이스부재(120)에 대하여 소정의 범위에서 상승 또는 하강은 가능하나 상기 제1걸림돌기(1112)가 상기 제1걸림턱(1214)에 걸리는 위치 이상으로는 상기 커버부재(110)가 베이스부재(120)로부터 이탈되는 것을 방지하는 기능을 수행한다.

한편, 상기 제3커버돌기(1131)의 양측에서도 상기 제3커버돌기(1131)를 사이에 두고 양측에 배치되며 상기 제3커버측벽(113)의 하면으로부터 돌출되는 제3걸림돌기(1132)가 마련되어 있게 된다.

상기 제4개의 측벽 중 다른 한 제2커버측벽(112)(제1커버측벽(111)과 연결된 측벽)과, 그 제2커버측벽(112)과 마주보는 제4커버측벽(114)의 하단에는 하면으로부터 돌출되는 제2커버돌기(1121) 및 제4커버돌기(1141)가 마련되어 있게 된다.

상기 제2커버돌기(1121)는 한 쌍이 마련되되 일정간격 이격되어 있으며, 한 쌍의 제2커버돌기(1121)에는 동일높이에서 제2커버구멍(1121a)이 각각 형성되어 있게 된다. 또한, 제4커버돌기(1141)도 한 쌍이 마련되며 일정간격 이격되어 있으며, 한 쌍의 제2커버돌기(1121)에는 동일높이에서 제4커버구멍(1141a)이 각각 형성되어 있게 된다.

이러한 제2커버구멍(1121a)과 제4커버구멍(1141a)은 후술하는 래칫수단(130)의 래칫핀(134, 139)이 끼워걸리는 구멍이다. 래칫수단(130)은 상기 제2커버구멍(1121a)과 제4커버구멍(1141a)에 각각 끼워걸려 회전함으로서 커버부재(110)의 상승 및 하강에 따라서 회전운동을 하게 된다.

상기 베이스부재(120)는, 상기 커버부재(110)의 하측에 배치되고 상기 삽입공(115)과 대응되는 위치에 수용공(125)이 마련되며 검사장치 측에 설치되는 것이다. 이러한 베이스부재(120)는, 검사장치에 고정결합된 상태에서 외부로부터 운반되어온 피검사 디바이스(190)를 검사장치에 전기적으로 접속되도록 한다. 또한, 상기 베이스부재(120)는 커버부재(110)가 상승 및 하강할 때 상기 커버부재(110)의 상승 및 하강경로를 제공함은 물론 상기 커버부재(110)가 상기 베이스부재(120)로부터 벗어나지 못하도록 하는 기능도 동시에 수행한다.

이러한 베이스부재(120)는, 커버부재(110)의 제1커버측벽(111), 제2커버측벽(112), 제3커버측벽(113), 제4커버측벽(114)과 대응되는 위치에 각각 제1베이스측벽(121), 제2베이스측벽(122), 제3베이스측벽(123) 및 제4베이스측벽(124)이 배치되어 있게 된다. 또한, 상기 베이스부재(120)의 중앙에는 피검사 디바이스(190)와 대응되는 크기를 가지는 수용공(125)이 마련되어 있는데, 상기 수용공(125)의 둘레에 제1베이스측벽(121), 제2베이스측벽(122), 제3베이스측벽(123) 및 제4베이스측벽(124)이 마련되어 있다.

상기 제1베이스측벽(121)에는 그 중앙에 상단으로부터 하측으로 연장되는 제1중앙슬롯(1211)이 마련되어 있게 된다. 이러한 제1중앙슬롯(1211)은 후술하는 높이조정수단(155)의 제1중앙핀(158)이 삽입되어 상승 또는 하강하는 경로를 제공하는 것이다. 즉, 제1중앙핀(158)은 상기 제1중앙슬롯(1211)에 끼워진 상태에서 길이방향을 따라서 상승 및 하강하게 된다.

또한, 상기 제1베이스측벽(121)에는 상기 제1중앙슬롯(1211)을 사이에 두고 동일간격 이격되어 배치되는 제1중앙홀(1212)이 마련되어 있게 된다. 이러한 제1중앙홀(1212)에는 높이조정수단(155)의 제1중심핀(160)이 끼워지게 되고, 상기 제1중심핀(160)을 고정시키는 기능을 수행하게 된다. 즉, 상기 제1중심핀(160)은 상기 제1중앙홀(1212)에 억지끼움되어 그 위치가 고정되게 된다.

상기 제1중앙홀(1212)의 주변에는 상단부터 하단까지 좁은 폭으로 연장되는 제1슬롯(1213)이 마련되어 있으며, 상기 제1슬롯(1213) 내에 제1안착핀(162)이 삽입되어 상승 또는 하강하게 된다.

상기 제3베이스측벽(123)에는 상기 제1중앙슬롯(1211)과 대응되는 위치에 제3중앙슬롯(1231)이 마련되고, 상기 제1중앙홀(1212)과 대응되는 위치에 제3중앙홀(1232)이 형성되며, 제1슬롯(1213)과 대응되는 위치에 제3슬롯(1233)이 마련되어 있게 되는데, 제3중앙슬롯(1231), 제3중앙홀(1232) 및 제3슬롯(1233)의 기능 및 형상은 상기 제1중앙슬롯(1211), 제1중앙홀(1212) 및 제1슬롯(1213)과 동일하므로 자세한 설명은 생략한다.

상기 제2베이스측벽(122)에는 그 중앙에 래칫수단(130)이 삽입되는 삽입부가 마련되고 상기 삽입부의 제2내측면에는 래칫수단(130)의 래칫봉이 끼워지는 제2측면공(1221)이 형성되어 있게 된다. 또한, 상기 제2내측면에서 제2측면공(1221)과 인접하게는 상단으로부터 하단까지 연장되는 제2측면슬롯(1222)이 마련되는데, 상기 제2측면슬롯(1222)에 래칫수단(130)의 제1래칫핀(134)이 끼워서 삽입되어 길이방향을 따라서 상승 및 하강하게 된다.

한편, 제4베이스측벽(124)에는 상기 제2측벽공과 대응되는 위치에 제4측면공(1241)이 형성되고, 제2측면슬롯(1222)과 대응되는 위치에 제4측면슬롯(1242)이 형성되는데, 제4측면공(1241) 및 제4측면슬롯(1242)의 기능 및 형상은 제2측면공(1221) 및 제2측면슬롯(1222)과 동일하므로 자세한 설명은 생략한다.

상기 수용공(125) 내부에는 상기 검사장치의 패드와 상기 피검사 디바이스(190)의 단자(191)를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 매개수단(170)이 마련되어 있다. 이러한 매개수단(170)으로는 이방 도전성 시트가 사용된다. 구체적으로 상기 이방 도전성 시트는 전체적으로 시트형태로 이루어지되, 도전부(171)와 절연부(172)로 이루어진다.

상기 도전부(171)는 피검사 디바이스(190)의 단자(191) 및 검사장치의 패드와 대응되는 위치마다 배치되어 피검사 디바이스(190)의 단자(191) 및 검사장치의 패드를 서로 전기적으로 연결시키는 기능을 수행한다. 각각의 도전부(171)는 절연성 탄성물질 내에 두께방향으로 배향되는 다수의 도전성 입자가 밀집되어 배치된다. 이때 절연성 탄성물질은 실리콘 고무와 같이 연질이면서 탄성이 좋은 소재가 사용되는데, 이에 한정되는 것은 아니며 천연고무 등이 다양하게 사용될 수 있다.

이러한 도전부(171)의 상면에는 피검사 디바이스(190)의 단자(191)가 접촉되고 도전부(171)의 하면에는 검사장치의 패드가 접촉되는데, 피검사 디바이스(190)의 단자(191)가 상기 도전부(171)를 가압하는 경우에는 도전성 입자들이 서로 확실하게 접촉되면서 전기적 도통로를 형성함으로서 검사장치의 패드와 피검사 디바이스(190)의 단자(191) 사이에 전류가 흐를 수 있도록 한다.

상기 절연부(172)는 각각의 도전부(171)를 지지하면서 각 도전부(171)를 서로 절연시키는 기능을 수행한다. 즉, 도전부(171)를 통하여 수직방향으로 흐르는 전류가 인접한 도전부(171) 측으로 흐르지 않도록 충분한 절연성을 가지게 됨은 물론 각 도전부(171)를 둘러싸면서 지지하는 기능을 수행한다. 이러한 절연부(172)는 상기 도전부(171)를 구성하는 절연성 탄성물질과 동일한 소재를 사용하는 것도 가능하며, 바람직하게는 실리콘 고무가 사용되는 것이 좋다. 다만, 이에 한정되는 것은 아니며 천연고무가 사용될 수 있다. 한편, 도전부(171)를 구성하는 절연성 탄성물질과 절연부(172)의 소재를 동일한 소재가 사용되는 것이 바람직하나, 이에 한정되는 것은 아니며 도전부(171)를 견고하게 지지하기 위하여 도전부(171)를 구성하는 절연성 탄성물질보다 절연부(172)의 소재가 경질인 것도 좋다.

상기 래칫수단(130)은, 상기 베이스부재(120)와 상기 커버부재(110)에 각각 연결되어 상기 커버부재(110)의 상승 및 하강에 따라서 상기 베이스부재(120)에 대하여 회전운동함으로서 상기 수용공(125)을 개방 및 폐쇄하는 것이다.

이러한 래칫수단(130)은, 래칫, 래칫봉, 연결바, 래칫핀 및 누름판으로 이루어진다.

상기 래칫은 제2베이스측벽(122)과 제4베이스측벽(124) 측에 각각 설치되는 제1래칫(131)과, 제2래칫(136)으로 구성된다.

상기 제1래칫(131)과, 제2래칫(136)은, 전체적으로 사각형태를 가지되 소정의 두께를 가지며 일축방향으로 소정각도 구부러진 곡면형태를 가진다. 이러한 제1래칫(131) 및 제2래칫(136)은 커버부재(110)의 상하유동에 따라서 회전하도록 구성된다.

상기 래칫봉은, 제2베이스측벽(122)의 제2측면공(1221)에 끼워져 고정되는 제1래칫봉(132)과, 상기 제4베이스측벽(124)의 제4측면공(1241)에 끼워져 고정되는 제2래칫봉(137)으로 이루어진다.

상기 연결바는, 일단은 상기 래칫봉에 고정되고 타단은 상기 래칫의 일단 측에 회전가능하게 연결되는 것이다. 구체적으로 연결바는, 제1래칫봉(132)과 제1래칫(131)에 연결되는 제1연결바(133)와, 상기 제2래칫봉(137)과 제2래칫(136)에 연결되는 제2연결바(138)로 이루어진다.

상기 래칫핀은, 상기 제1래칫(131)의 타단으로부터 돌출되는 제1래칫핀(134)과, 제2래칫(136)의 타단으로부터 돌출되는 제2래칫핀(139)으로 이루어진다. 상기 제1래칫핀(134)은, 커버부재(110)의 제2커버돌기(1121)의 제2커버구멍(1121a)에 삽입된 상태에서 베이스부재(120)의 제2측면슬롯(1222)에 끼워져서 상하이동하는 것이다. 즉, 상기 제1래칫핀(134)은 상기 제2커버구멍(1121a)에 끼워져서 상기 커버부재(110)의 상승 또는 하강에 연동하여 상승 또는 하강하고 각 단부가 제2측면슬롯(1222)에 끼워져서 제2측면슬롯(1222)의 길이방향을 따라서 슬라이드 이동한다.

한편, 상기 제2래칫핀(139)은, 상기 커버부재(110)의 제4커버돌기(1141)의 제4커버구멍(1141a)에 삽입된 상태에서 베이스부재(120)의 제4측면슬롯(1242)에 끼워져서 상하이동하는 것으로서, 제1래칫핀(134)과 동일한 형상 및 기능을 수행하게 된다.

상기 누름판은 상기 래칫의 일단에 설치되어 래칫과 함께 회동하는 것으로서, 피검사 디바이스(190)의 상면과 접촉하여 상기 피검사 디바이스(190)를 가압하기 위한 것이다. 이러한 누름판은 제1래칫(131)의 일단에 설치되는 제1누름판(135)과, 제2래칫(136)의 일단에 설치되는 제2누름판(140)으로 구성된다. 상기 제1누름판(135) 및 제2누름판(140)은 사각판 형태로 이루어지며 그 하면이 피검사 디바이스(190)의 상면에 접촉되도록 구성된다.

상기 높이조정 안착부(150)는, 상기 피검사 디바이스(190)가 안착되되, 상기 커버부재(110)에 연결되어 상기 커버부재(110)의 상승 및 하강에 따라서 상기 피검사 디바이스(190)의 안착높이를 변경시킬 수 있는 것이다. 상기 커버부재(110)가 상승하는 경우 상기 높이조정 안착부(150)는 하강하면서 상기 검사장치와 근접하게 이동하고, 상기 커버부재(110)가 하강하는 경우 상기 높이조정 안착부(150)는 상승하면서 상기 검사장치(베이스부재의 하단에 배치되는 것으로서 미도시)와 멀어지도록 이동한다. 또한, 상기 높이조정 안착부(150)가 상승하는 경우 상기 래칫수단(130)은 상기 수용공간을 개방하도록 회전운동하고, 상기 높이조정 안착부(150)가 하강하는 경우 상기 래칫수단(130)은 상기 수용공간을 폐쇄하도록 회전운동한다. 이러한 높이조정 안착부(150)가 하강하여 상기 높이조정 안착부(150)에 안착된 피검사 디바이스(190)의 단자(191)가 상기 매개수단(170)과 접촉하는 경우 상기 래칫수단(130)은 상기 피검사 디바이스(190)의 상면에 접촉하여 상기 피검사 디바이스(190)를 상기 매개수단(170) 측으로 가압하게 된다.

이러한 높이조정 안착부(150)는, 상기 피검사 디바이스(190)가 안착되는 안착몸체(151)와, 상기 커버부재(110)의 상승 및 하강에 연동되어 상기 안착몸체(151)의 높이를 변경시키는 높이조정수단(155)을 포함한다.

상기 안착몸체(151)는, 상기 제1위치보다 상측인 제2위치 사이에서 상승 및 하강하면서 높이가 변경되는 것이다. 안착몸체(151)는, 피검사 디바이스(190)와 대응되는 형상을 가지는 안착공이 마련된 사각틀 형태의 하부몸체(152)와, 상기 하부몸체(152)의 가장자리로부터 상측으로 연장되며 서로 마주보는 한 쌍의 측벽부(153)를 포함한다. 이때, 상기 측벽부(153)는 내면이 상단에서 하단을 향하여 갈수록 경사지는 형상을 가진다. 이러한 안착몸체(151)의 하부몸체(152)에는 피검사 디바이스(190)의 하면 가장자리를 지지하기 위하여 내측으로 돌출된 단턱(1521)이 마련되어 있다.

상기 높이조정수단(155)은, 일단이 상기 커버부재(110)에 힌지연결되고, 타단이 상기 안착몸체(151)에 힌지연결되며, 일단과 타단 사이의 어느 한 위치가 상기 베이스부재(120)에 힌지연결되어 있는 바부재를 포함한다.

이러한 바부재는, 그 일단이 커버부재(110)의 중앙에 힌지연결되는 것으로서, 상기 바부재는 한 쌍이 대칭적 배치된다. 이러한 바부재는, 일단이 제1중앙핀(158)에 의하여 제1커버돌기(1111)에 회전가능하게 결합되고, 타단에는 바부재의 길이방향을 따라 길게 연장된 제1장공(1561)이 마련된 한 쌍의 제1바부재(156)와, 일단이 제2중앙핀(159)에 의하여 제3커버돌기(1131)에 회전가능하게 결합되고 타단에는 바부재의 길이방향을 따라서 길게 연장된 제2장공(1571)이 마련된 한 쌍의 제2바부재(157)를 포함한다.

이러한 장공(제1장공(1561), 제2장공(1571)) 내에는 장공의 길이방향을 따라서 슬라이드 이동하는 안착핀(제1안착핀(162), 제2안착핀(163))이 삽입된다. 또한, 상기 안착핀은 안착몸체(151)에 고정설치된다.

구체적으로, 상기 바부재는 한 쌍이 대칭적으로 배치되어 있으며 각각의 바부재의 일단은 상기 커버부재(110)의 중앙에 단일의 중앙핀에 의하여 힌지연결되고, 각각의 바부재의 타단은 서로 다른 안착핀에 의하여 상기 안착몸체(151)에 연결되어 있다.

이러한 높이조정수단(155)은, 상기 커버부재(110) 및 상기 안착몸체(151)에 연결되어 커버부재(110)의 상승 및 하강에 연동하여 상기 피검사 디바이스(190)의 안착높이를 변경시키게 된다.

도면에서 도면번호 180은 스프링(180)을 지칭하며, 이러한 스프링(180)은 커버부재(110)의 각 모서리와 베이스부재(120)의 각 모서리의 사이에 배치된다. 구체적으로 상기 스프링(180)은 4군데에 배치되어 있어서 커버부재(110)를 상기 베이스부재(120)에 대하여 멀어지는 방향으로 탄성바이어스 시킨다.

이러한 본 발명의 일 실시예에 따른 전기적 검사소켓(100)의 작용효과는 다음과 같다.

도 7 내지 9는 커버부재(110)가 하강하여 피검사 디바이스(190)를 안착시키는 높이조정 안착부(150)가 최대 높이까지 상승된 상태를 나타내는 도면으로서, 래칫수단(130)은 개방되어 피검사 디바이스(190)가 높이조정 안착부(150) 내에 안착가능하게 한다.

또한, 도 10 내지 도 12는 커버부재(110)가 상승하고 높이조정 안착부(150)는 최소 높이까지 하강된 상태를 나타내는 도면이다. 즉, 피검사 디바이스(190)는 베이스부재(120) 내에 배치된 매개수단(170)까지 하강하여 검사장치와 전기적 검사가 가능한 상태에 있게 되고, 이 상태에서 래칫수단(130)은 폐쇄위치로 회전하여 상기 피검사 디바이스(190)의 상면을 가압함으로서 피검사 디바이스(190)의 단자(191)들이 확고하게 매개수단(170)과 접촉될 수 있도록 하는 상태이다.

각 단계별 작동모습에 대하여 자세하게 설명하면, 먼저 커버부재(110)가 하강하게 되면 이에 따라서 제1바부재(156)와, 제2바부재(157)의 일단은 제1중심핀(160)을 중심으로 하여 회전하게 된다. 커버부재(110)의 하강에 따라서 제1중앙핀(158)과 제1바부재(156)의 일단이 하강하고, 제2중앙핀(159)과 제2바부재(157)의 일단이 하강하게 된다.

이와 반대로 제1바부재(156) 및 제2바부재(157)의 타단은 제2중심핀(161)을 중심으로 회전하여 상승하게 된다. 이와 같이 제1바부재(156) 및 제2바부재(157)의 타단이 상승하게 되면 제1안착핀(162), 제2안착핀(163)이 동시에 상승하게 되고 안착몸체(151)도 동시에 상승하게 된다. 따라서 커버부재(110)가 최소 높이까지 하강하게 되면, 그와 반대로 안착몸체(151)는 최대높이까지 상승하게 되는 것이다. 한편, 제1안착핀(162)과 제2안착핀(163)은, 제1슬롯(1213)과 제3슬롯(1233)을 따라서 안정적으로 상하이동하며 이에 따라서 안착몸체(151)가 좌우유동이 없이 상승 또는 하강하게 된다.

한편, 커버부재(110)가 하강하게 되면 래칫수단(130)은 개방상태에 놓이게 되는데, 커버부재(110)가 하강하면 커버돌기가 동시에 하강하고 이에 따라서 래칫핀이 하강하게 되는데 이에 따라서 래칫(131, 132)은 연결바의 단부를 중심으로 하여 회전하게 된다. 구체적으로는 래칫(131, 132)은 수용공(125)을 개방하는 방향으로 회전이동하게 된다.

결국, 커버부재(110)의 하강에 따라서 높이조정 안착부(150)는 상승하고, 래칫수단(130)은 개방되는 방향으로 회전하게 된다.

이후 피검사 디바이스(190)가 높이조정 안착부(150)에 안착되게 되면, 커버부재(110)가 상승하게 된다. 이와 같이 커버부재(110)가 상승하게 되면, 이에 따라서 제1바부재(156)와, 제2바부재(157)의 일단은 제1중심핀(160)을 중심으로 하여 회전하게 된다. 커버부재(110)의 상승에 따라서 제1중앙핀(158)과 제1바부재(156)의 일단이 상승하고, 제2중앙핀(159)과 제2바부재(157)의 일단이 상승하게 된다.

이와 반대로 제1바부재(156) 및 제2바부재(157)의 타단은 제2중심핀(161)을 중심으로 회전하여 하강하게 된다. 이와 같이 제1바부재(156) 및 제2바부재(157)의 타단이 하강하게 되면 제1안착핀(162), 제2안착핀(163)이 동시에 하강하게 되고 안착몸체(151)도 동시에 하강하게 된다. 따라서 커버부재(110)가 최대 높이까지 상승하게 되면, 그와 반대로 안착몸체(151)는 최소높이까지 하강하게 되는 것이다.

한편, 커버부재(110)가 상승하게 되면 래칫수단(130)은 폐쇄상태에 놓이게 되는데, 커버부재(110)가 상승하면 커버돌기가 동시에 상승하고 이에 따라서 래칫핀(134, 139)이 상승하게 되는데 이에 따라서 래칫(131, 136)은 연결바(133, 138)의 단부를 중심으로 하여 회전하게 된다. 구체적으로는 래칫(131, 136)은 수용공(125)을 폐쇄하는 방향으로 회전이동하게 된다. 래칫이 수용공(125)을 폐쇄하는 방향을 회전이동하게 되면, 누름판(135, 140)이 상기 피검사 디바이스(190)의 상면을 가압하여 상기 피검사 디바이스(190)를 매개수단(170) 측으로 누르게 된다.

이러한 상태에서 검사장치로부터 소정의 전기적 신호가 인가되면, 상기 전기적 신호를 매개수단(170)의 도전부(171)를 통하여 피검사 디바이스(190)의 단자(191)로 전달되고, 이에 따라서 소정의 전기적 검사가 이루어진다.

한편, 전기적 검사가 완료된 후에는 스프링(180)의 탄성력에 의하여 커버부재(110)가 다시 상승하게 되는데, 이에 따라서 도 7 내지 도 9에 도시된 바와 같은 상태로 변화된다.

이러한 본 발명에 다른 전기적 검사소켓은, 피검사 디바이스를 운반하는 운반체는 피검사 디바이스를 종전의 기술과 같이 매개수단이 접촉되는 위치(제1위치; 도 10에 도시된 위치)까지 피검사 디바이스를 하강하여 운반시킬 필요가 없이 상기 제1위치보다 상측인 제2위치(도 8에 도시된 위치)까지만 피검사 디바이스를 하강하여 높이조정 안착부에 안착시키면, 그 이후에는 높이조정 안착부가 하강하면서 피검사 디바이스를 전기적 검사가 이루어지는 제2위치까지 하강하게 되기 때문에, 운반체를 변경하지 않고도 하나의 운반체만으로 전기적 검사가 가능하다.

즉, 고가의 운반체 자체를 변경할 필요없이 매개수단이 변경됨에 따라서 전기적 검사소켓만을 변경하면 필요한 전기적 검사가 가능하게 되는 장점이 있다.

또한, 운반체가 직접 피검사 디바이스를 하강시키지 않고 높이조정 안착부가 안정적으로 피검사 디바이스를 하강시킬 수 있어서 피검사 디바이스의 안정적인 하강 및 상승이 가능하다는 또 다른 장점도 있게 된다.

또한, 스프링 타입의 로딩 높이 하강시에 스프링이 압축되어야 하는데, 압축시에 필요한 힘이 래칫힘에 영향을 주게 된다. (커버부재 작동력이 높아야 됨) 본 발명의 경우 부품간 마찰력 이외 별도로 커버부재의 작동력에 영향을 주지 않게 된다. 또한, 높이조정 안착부에 구속된 움직임이기 때문에 작동 변수가 적어진다는 장점도 있게 된다.

이러한 본 발명의 전기적 검사소켓은 다음과 같이 변형되는 것도 가능하다. 상술한 실시예에서는 높이조정 안착부가 커버부재에 연동하는 기술만을 개시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 높이조정 안착부가 상승시에는 커버부재에 연동하고, 높이조정 안착부가 하강시에는 미리 연결된 스프링에 연동되어 하강하는 것도 가능하다.

또한, 움직임은 같으나 높이조정 안착부가 커버부재의 외각부분에 연결되어 작동되는 것 또는 커버부재의 중앙에 연결되어 작동하는 것도 고려할 수 있다.

이상에서 다양한 실시예를 들어 본 발명의 전기적 검사 소켓을 설명하였으나, 이에 한정되는 것은 아니며 본 발명의 권리범위로부터 합리적으로 해석될 수 있는 것이라면 무엇이나 본 발명의 권리범위에 속하는 것은 당연하다.

100...전기적 검사소켓 110...커버부재
111...제1커버측벽 112...제2커버측벽
113...제3커버측벽 114...제4커버측벽
115...삽입공 120...베이스부재
121...제1베이스측벽 122...제2베이스측벽
123...제3베이스측벽 124...제4베이스측벽
125...수용공 130...래칫수단
140...높이조정 안착부 151...안착몸체
152...하부몸체 1521...단턱
153...측벽부 155...높이조정수단
156...제1바부재 1561...제1장공
157...제2바부재 170...매개수단
171...도전부 172...절연부
180...스프링 190...피검사 디바이스
191...단자

Claims

피검사 디바이스의 단자를 검사장치의 패드에 전기적으로 접속시키기 위한 전기적 검사 소켓에 있어서,
피검사 디바이스가 삽입되는 삽입공이 중앙에 마련되며 상하이동가능한 커버부재;
상기 커버부재의 하측에 배치되고 상기 삽입공과 대응되는 위치에 수용공이 마련되며 검사장치 측에 설치되는 베이스부재;
상기 베이스부재와 상기 커버부재에 각각 연결되어 상기 커버부재의 상승 및 하강에 따라서 상기 베이스부재에 대하여 회전운동함으로서 상기 수용공을 개방 및 폐쇄하는 래칫수단; 및
상기 피검사 디바이스가 안착되되, 상기 커버부재에 연결되어 상기 커버부재의 상승 및 하강에 따라서 상기 피검사 디바이스의 안착높이를 변경시킬 수 있는 높이조정 안착부를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
제1항에 있어서,
상기 커버부재가 상승하는 경우 상기 높이조정 안착부는 하강하면서 상기 검사장치와 근접하게 이동하고,
상기 커버부재가 하강하는 경우 상기 높이조정 안착부는 상승하면서 상기 검사장치와 멀어지도록 이동하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
제1항 또는 제2항에 있어서,
상기 높이조정 안착부가 상승하는 경우 상기 래칫수단은 상기 수용공간을 개방하도록 회전운동하고,
상기 높이조정 안착부가 하강하는 경우 상기 래칫수단은 상기 수용공간을 폐쇄하도록 회전운동하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
제3항에 있어서,
상기 베이스부재의 수용공 내부에는 상기 검사장치의 패드와 상기 피검사 디바이스의 단자를 서로 전기적으로 연결시키기 위한 매개수단이 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
제4항에 있어서,
상기 높이조정 안착부가 하강하여 상기 높이조정 안착부에 안착된 피검사 디바이스의 단자가 상기 매개수단과 접촉하는 경우 상기 래칫수단은 상기 피검사 디바이스의 상면에 접촉하여 상기 피검사 디바이스를 상기 매개수단 측으로 가압하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
제1항에 있어서,
상기 높이조정 안착부는,
상기 피검사 디바이스가 안착되는 안착몸체와,
상기 커버부재의 상승 및 하강에 연동되어 상기 안착몸체의 높이를 변경시키는 높이조정수단을 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
제6항에 있어서,
상기 높이조정수단은,
일단이 상기 커버부재에 힌지연결되고,
타단이 상기 안착몸체에 힌지연결되며,
일단과 타단 사이의 어느 한 위치가 상기 베이스부재에 힌지연결되어 있는 바부재를 포함하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
제7항에 있어서,
상기 바부재의 타단에는,
바부재의 길이방향을 따라 길게 연장된 장공이 마련되어 있으며,
상기 장공 내에는 상기 안착몸체에 고정된 안착핀이 삽입되어 상기 장공의 길이방향을 따라서 슬라이드 이동하는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
제7항 또는 제8항에 있어서,
상기 바부재의 일단은 상기 커버부재의 중앙에 힌지연결되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
제9항에 있어서,
상기 바부재는 한 쌍이 대칭적으로 배치되어 있으며 각각의 바부재의 일단은 상기 커버부재의 중앙에 단일의 중앙핀에 의하여 힌지연결되고,
각각의 바부재의 타단은 서로 다른 안착핀에 의하여 상기 안착몸체에 연결되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
제6항에 있어서,
상기 안착몸체는,
피검사 디바이스와 대응되는 형상을 가지는 안착공이 마련된 하부몸체와,
상기 하부몸체의 가장자리로부터 상측으로 연장된 측벽부를 포함하되,
상기 측벽부는 내면이 상단에서 하단을 향하여 갈수록 경사지는 형상을 가지는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
피검사 디바이스의 단자를 검사장치의 패드에 전기적으로 접속시키기 위한 전기적 검사 소켓에 있어서,
피검사 디바이스가 삽입되는 삽입공이 중앙에 마련되며 상하이동가능한 커버부재;
상기 커버부재의 하측에 배치되고 상기 삽입공과 대응되는 위치에 수용공이 마련되는 상기 검사장치 측에 설치되는 베이스부재;
상기 피검사 디바이스가 안착되되, 상기 피검사 디바이스의 단자가 상기 검사장치의 패드와 전기적으로 연결되는 제1위치와,
상기 제1위치보다 상측인 제2위치 사이에서 상승 및 하강하면서 높이가 변경되는 안착몸체; 및
상기 커버부재 및 상기 안착몸체에 연결되어 커버부재의 하강에 연동하여 상기 피검사 디바이스의 안착높이를 상승시키는 높이조정수단을 포함하는 전기적 검사소켓.
제12항에 있어서,
상기 높이조정수단은,
일단이 상기 커버부재에 회전가능하게 연결되고, 타단이 상기 안착몸체에 회전가능하게 연결되며, 일단과 타단 사이가 상기 베이스부재에 회전가능하게 지지되는 바부재인 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.
제12항 또는 제13항에 있어서,
상기 안착몸체에는, 피검사 디바이스의 하면 가장자리를 지지하기 위한 단턱이 마련되어 있는 것을 특징으로 하는 전기적 검사소켓.