KR20160059789A - 이차전지의 복수개의 전극 탭과 전극 리드의 용접 방법 및 이에 의해 제조된 이차 전지, 이차전지의 복수개의 전극 탭과 전극 리드의 용접 불량 검사 방법 - Google Patents
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Abstract
이에, 복수개의 전극 탭과 전극 리드의 약(弱)용접에 의한 용접 불량 및 강(强)용접에 의한 전극 탭의 단선을 방지할 수 있다.
Description
도 2는 초음파 용접 장치를 이용하여 도 1의 복수개의 전극 탭과 전극 리드를 용접하는 방법을 개략적으로 도시한 도면이다.
도 3은 도 2의 용접 방법에 의해 형성된 혼 측의 용접면의 길이(H)와 앤빌 측 용접면의 길이(A)에 따른 전극 탭의 단선 여부를 나타내는 그래프이다.
도 4는 도 2의 용접 방법에 의해 형성된 앤빌 측의 용접면을 촬영한 사진으로서, (a)는 용접면이 약(弱)용접된 경우이고, (b)는 용접면이 정상 용접된 경우이며, (c)는 용접면이 강(强)용접된 경우이다.
20 : 전지 케이스 50 : 초음파 용접기
60 : 혼 70 : 앤빌
T1 : 양극 탭 T2 : 음극 탭
L1 : 양극 리드 L2 : 음극 리드
W : 용접면
Claims (7)
- 전극 조립체를 가지는 이차전지의 복수개의 전극 탭과 전극 리드의 용접 방법에 있어서,
(a) 상기 전극 조립체를 구성하는 복수개의 전극판으로부터 연장되어 있는 상기 복수개의 전극 탭을 상하 방향으로 서로 겹치는 단계와;
(b) 서로 겹쳐진 상기 복수개의 전극 탭의 일부와 겹치도록 상기 전극 리드를 상기 복수개의 전극 탭의 상부 또는 하부에 위치시키는 단계와;
(c) 용접 장치를 이용하여 상기 복수개의 전극 탭과 상기 전극 리드가 겹쳐진 부분을 용접함으로써 용접면을 형성하는 단계를 포함하며,
상기 (c) 단계에서, 상기 용접면의 길이는 0.4mm 이상 0.7mm 이하로 형성되는 것을 특징으로 하는 이차전지의 복수개의 전극 탭과 전극 리드의 용접 방법. - 청구항 1에 있어서,
상기 용접 장치는 혼과 앤빌로 구성된 초음파 용접기인 것을 특징으로 하는 이차전지의 복수개의 전극 탭과 전극 리드의 용접 방법. - 청구항 2에 있어서,
상기 용접면은 상기 앤빌 측에 형성된 용접면인 것을 특징으로 하는 이차전지의 복수개의 전극 탭과 전극 리드의 용접 방법. - 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 하나의 용접 방법에 의해 제조된 전극 조립체와;
상기 전극 조립체를 수용하여 외관을 형성하는 전지 케이스를 포함하는 것을 특징으로 하는 이차 전지. - 이차전지의 복수개의 전극 탭과 전극 리드의 용접 불량 검사 방법에 있어서,
상기 복수개의 전극 탭과 상기 전극 리드가 서로 용접되는 용접면의 길이가 0.4mm 이상 0.7mm 이하이면 정상 용접으로 판정하고,
상기 용접면의 길이가 0.4mm 미만 또는 0.7mm 초과이면 불량 용접으로 판정하는 것을 특징으로 하는 이차전지의 복수개의 전극 탭과 전극 리드의 용접 불량 검사 방법. - 청구항 5에 있어서,
상기 복수개의 전극 탭과 상기 전극 리드는 혼과 앤빌로 구성된 초음파 용접기에 의해 용접되는 것을 특징으로 하는 이차전지의 복수개의 전극 탭과 전극 리드의 용접 불량 검사 방법. - 청구항 6에 있어서,
상기 용접면은 상기 앤빌 측에 형성된 용접면인 것을 특징으로 하는 이차전지의 복수개의 전극 탭과 전극 리드의 용접 불량 검사 방법.
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