KR20160018510A - Defect inspection system - Google Patents

Defect inspection system Download PDF

Info

Publication number
KR20160018510A
KR20160018510A KR1020157034307A KR20157034307A KR20160018510A KR 20160018510 A KR20160018510 A KR 20160018510A KR 1020157034307 A KR1020157034307 A KR 1020157034307A KR 20157034307 A KR20157034307 A KR 20157034307A KR 20160018510 A KR20160018510 A KR 20160018510A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
film
defect inspection
cover
defect
inspection system
Prior art date
Application number
KR1020157034307A
Other languages
Korean (ko)
Inventor
료코 스에마츠
게이타 이무라
Original Assignee
스미또모 가가꾸 가부시키가이샤
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 filed Critical 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤
Priority to KR1020217010535A priority Critical patent/KR102369758B1/en
Publication of KR20160018510A publication Critical patent/KR20160018510A/en

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/8914Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the material examined
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B41PRINTING; LINING MACHINES; TYPEWRITERS; STAMPS
    • B41JTYPEWRITERS; SELECTIVE PRINTING MECHANISMS, i.e. MECHANISMS PRINTING OTHERWISE THAN FROM A FORME; CORRECTION OF TYPOGRAPHICAL ERRORS
    • B41J2/00Typewriters or selective printing mechanisms characterised by the printing or marking process for which they are designed
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/02Mechanical

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Liquid Crystal (AREA)
  • Polarising Elements (AREA)

Abstract

결함 검사 시스템은, 긴 띠 형상의 필름을 반송하는 반송 라인과, 반송 라인에 의해 반송되는 필름의 결함 검사를 행하는 결함 검사 장치와, 결함 검사 결과에 기초한 결함 정보를 반송 라인에 의해 반송되는 필름(F105)에 기록하는 기록 장치(13)를 포함하고, 기록 장치(13)는, 필름(F105)의 단부 가장자리부를 따른 기록 영역(S)에 잉크(i)를 토출시킴으로써 결함 정보를 인자하는 인자 헤드(13a)와, 필름(F105)에 있어서의 적어도 기록 영역(S)보다 내측의 영역에 잉크(i)가 부착되는 것을 방지하는 커버(30)를 갖는다. The defect inspection system includes a transfer line for transferring a long strip-shaped film, a defect inspection device for defect inspection of the film conveyed by the transfer line, and a defect information detection means for detecting defect information based on the defect inspection result, And the recording apparatus 13 records the defect information by ejecting the ink i into the recording area S along the end edge of the film F105, And a cover 30 for preventing ink (i) from adhering to at least an area inside the recording area S of the film F105.

Description

결함 검사 시스템{DEFECT INSPECTION SYSTEM}{DEFECT INSPECTION SYSTEM}

본 발명은 결함 검사 시스템에 관한 것이다. The present invention relates to a defect inspection system.

본원은 2013년 6월 12일에 출원된 일본국 특허 출원 제2013-124040호에 기초하여 우선권을 주장하며, 그 내용을 여기에 원용한다.The present application claims priority based on Japanese Patent Application No. 2013-124040, filed on June 12, 2013, the contents of which are incorporated herein by reference.

예컨대, 편광판 등의 광학 필름은, 이물 결함이나 요철 결함 등의 결함 검사를 행한 후, 심재 둘레에 권취된다. 결함의 위치나 종류에 관한 정보(이하, 결함 정보라고 함)는, 광학 필름의 단부에 바코드를 인자(印字)하거나, 결함 부위에 마킹을 실시함으로써, 광학 필름에 기록된다. 심재에 권취된 광학 필름은, 권취량이 일정량에 도달하면, 상류측의 광학 필름으로부터 분리되어, 원반(原反)롤로서 출하된다. 예컨대, 특허문헌 1에는, 광학 필름의 반송 라인 상에, 결함 검사 장치와, 결함 정보를 필름에 기록하는 기록 장치를 구비한 결함 검사 시스템이 개시되어 있다. For example, an optical film such as a polarizing plate is wound around the core after inspecting defects such as foreign matter defect, irregular defect and the like. Information on the position and kind of the defect (hereinafter referred to as defect information) is recorded on the optical film by printing a bar code on the end portion of the optical film or marking the defective portion. The optical film wound on the core material is separated from the optical film on the upstream side when the amount of winding reaches a certain amount, and is shipped as a raw material roll. For example, Patent Document 1 discloses a defect inspection system including a defect inspection apparatus and a recording apparatus for recording defect information on a film on a transport line of an optical film.

특허문헌 1: 일본국 특허 공개 제2011-7779호 공보Patent Document 1: JP-A-2011-7779

그런데, 전술한 결함 검사 시스템에서는, 결함 정보를 광학 필름에 기록할 때에, 인자 헤드로부터 토출된 잉크가 주위로 비산함으로써, 광학 필름을 오염시켜 버리는 경우가 있었다. 이 광학 필름의 오염은, 광학 필름의 수율을 저하시키는 원인의 하나로 되어 있다. Incidentally, in the above-described defect inspection system, when defect information is recorded on an optical film, the ink ejected from the print head is scattered to the periphery, thereby contaminating the optical film. The contamination of this optical film is one of the causes for lowering the yield of the optical film.

결함 검사 시스템에서는, 광학 필름과 인자 헤드 사이의 거리가 넓어질수록 잉크의 비산에 의한 영향이 크다. 그러나, 광학 필름과 인자 헤드 사이의 거리를 좁히는 것은, 인자 사이즈 등에 영향을 미치기 때문에, 이 거리를 안이하게 조정할 수는 없다.In the defect inspection system, the larger the distance between the optical film and the print head, the larger the influence of scattering of the ink. However, narrowing the distance between the optical film and the print head affects the print size and the like, and therefore this distance can not be adjusted easily.

본 발명의 양태는, 이러한 종래의 사정을 감안하여 제안된 것으로, 결함 정보를 필름에 기록할 때의 잉크의 비산에 의한 필름의 오염을 방지한 결함 검사 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다. An aspect of the present invention has been proposed in view of such conventional circumstances, and it is an object of the present invention to provide a defect inspection system which prevents contamination of a film due to scattering of ink when defect information is recorded on a film.

상기 목적을 달성하기 위해서, 본 발명의 양태에 따른 결함 검사 시스템은, 이하의 구성을 채용한다. In order to achieve the above object, a defect inspection system according to an aspect of the present invention employs the following configuration.

(1) 본 발명의 일 양태에 따른 결함 검사 시스템은, 긴 띠 형상의 필름을 반송하는 반송 라인과, 상기 반송 라인에 의해 반송되는 필름의 결함 검사를 행하는 결함 검사 장치와, 상기 결함 검사 결과에 기초한 결함 정보를 상기 반송 라인에 의해 반송되는 필름에 기록하는 기록 장치를 포함하고, 상기 기록 장치는, 상기 필름의 단부 가장자리부를 따른 기록 영역에 잉크를 토출시킴으로써 상기 결함 정보를 인자하는 인자 헤드와, 상기 필름에 있어서의 적어도 상기 기록 영역보다 내측의 영역에 잉크가 부착되는 것을 방지하는 커버를 포함한다. (1) A defect inspection system according to an embodiment of the present invention includes: a transfer line for transferring a long strip-shaped film; a defect inspection device for defect inspection of a film carried by the transfer line; And a recording apparatus for recording defect information based on the film conveyed by the conveyance line, the recording apparatus comprising: a print head for printing the defect information by ejecting ink to a recording region along the edge portion of the film; And a cover for preventing ink from adhering to at least an area inside the recording area of the film.

(2) 상기 (1)의 양태에서는, 상기 커버는, 상기 필름과 상기 인자 헤드가 대향하는 공간 중, 적어도 상기 필름의 내측에 면하는 측을 덮는 제1 측판부를 가져도 좋다.(2) In the mode (1), the cover may have a first side plate portion that covers at least a side facing the inside of the film, out of the space in which the film and the print head face each other.

(3) 상기 (2)의 양태에서는, 상기 커버는, 상기 공간 중, 상기 필름의 반송 방향의 상류측에 면하는 측을 덮는 제2 측판부와, 상기 필름의 반송 방향의 하류측에 면하는 측을 덮는 제3 측판부를 가져도 좋다. (3) In the embodiment (2), the cover may include a second side plate portion that covers a side of the space that faces the upstream side in the transport direction of the film, and a second side plate portion that faces the downstream side in the transport direction of the film And a third side plate portion covering the side of the first side plate.

(4) 상기 (3)의 양태에서는, 상기 커버는, 상기 공간 중, 상기 필름의 외측에 면하는 측을 덮는 제4 측판부를 가져도 좋다. (4) In the embodiment (3), the cover may have a fourth side plate portion covering the side facing the outer side of the film in the space.

(5) 상기 (1) 내지 (4) 중 어느 일 항의 양태에서는, 상기 커버에 있어서의 상기 필름과 대향하는 면과, 상기 필름의 표면 사이의 간격이 1 ㎜ 이하여도 좋다. (5) In any one of the above-mentioned aspects (1) to (4), the distance between the surface of the cover facing the film and the surface of the film may be 1 mm or less.

(6) 상기 (1) 내지 (5) 중 어느 일 항의 양태에서는, 상기 커버는, 상기 인자 헤드에 대해 착탈 가능하게 부착되어도 좋다. (6) In any one of the above aspects (1) to (5), the cover may be detachably attached to the print head.

(7) 상기 (1)의 양태에서는, 상기 커버는 상기 필름에 근접한 상태로 상기 필름에 대향하여 배치됨과 아울러, 상기 기록 영역에 면한 위치에 창부를 가져도 좋다.(7) In the embodiment of (1) above, the cover may be disposed opposite to the film in a state of being close to the film, and may have a window at a position facing the recording area.

(8) 상기 (1) 내지 (7) 중 어느 일 항의 양태에서는, 결함 검사 시스템은, 상기 필름의 반송 방향에 있어서의 상기 기록 장치보다 상류측에 위치하여 상기 필름의 표면을 제전(除電)하는 정전기 제거 장치를 구비해도 좋다. (8) In any one of the above-mentioned aspects (1) to (7), the defect inspection system may further include a defect inspection system which is located on the upstream side of the recording apparatus in the transport direction of the film, A static electricity removing device may be provided.

본 발명의 양태에 의하면, 결함 정보를 필름에 기록할 때의 잉크의 비산에 의한 필름의 오염을 방지한 결함 검사 시스템을 제공하는 것이 가능하다. According to an aspect of the present invention, it is possible to provide a defect inspection system that prevents contamination of a film due to scattering of ink when recording defect information on a film.

도 1은 액정 표시 패널의 일례를 도시한 평면도이다.
도 2는 도 1 중에 도시한 액정 표시 패널의 단면도이다.
도 3은 광학 필름의 일례를 도시한 단면도이다.
도 4는 필름 제조 장치 및 결함 검사 시스템의 구성을 도시한 측면도이다.
도 5a는 필름의 상방측에서 커버의 일례를 본 평면도이다.
도 5b는 필름의 상류측에서 커버의 일례를 본 측면도이다.
도 5c는 필름의 외측에서 커버의 일례를 본 측면도이다.
도 6은 커버의 변형예를 도시한 평면도이다.
도 7a는 커버의 변형예를 도시한 사시도이다.
도 7b는 커버의 변형예를 도시한 측면도이다.
도 8a는 커버의 다른 실시형태를 도시한 평면도이다.
도 8b는 커버의 다른 실시형태를 도시한 측면도이다.
1 is a plan view showing an example of a liquid crystal display panel.
2 is a cross-sectional view of the liquid crystal display panel shown in Fig.
3 is a cross-sectional view showing an example of an optical film.
4 is a side view showing a configuration of a film production apparatus and a defect inspection system.
Fig. 5A is a plan view of an example of the cover on the upper side of the film.
5B is a side view showing an example of the cover on the upstream side of the film.
5C is a side view showing an example of the cover on the outside of the film.
6 is a plan view showing a modified example of the cover.
7A is a perspective view showing a modified example of the cover.
7B is a side view showing a modified example of the cover.
8A is a plan view showing another embodiment of the cover.
8B is a side view showing another embodiment of the cover.

이하, 본 발명의 실시형태에 대해, 도면을 참조하여 상세히 설명한다.BEST MODE FOR CARRYING OUT THE INVENTION Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the drawings.

본 실시형태에서는, 광학 표시 디바이스의 생산 시스템으로서, 그 일부를 구성하는 필름 제조 장치에 대해 설명한다.In this embodiment, a film production apparatus constituting a part of the production system of the optical display device will be described.

필름 제조 장치는, 예컨대 액정 표시 패널이나 유기 EL 표시 패널 등과 같은 패널형의 광학 표시 부품(광학 표시 패널)에 접합된다, 예컨대 편광 필름이나 위상차 필름, 휘도 향상 필름 등과 같은 필름형의 광학 부재(광학 필름)를 제조하는 장치이다. 필름 제조 장치는, 이러한 광학 표시 부품이나 광학 부재를 포함하는 광학 표시 디바이스를 생산하는 생산 시스템의 일부를 구성하고 있다.The film production apparatus is bonded to a panel-type optical display component (optical display panel) such as a liquid crystal display panel or an organic EL display panel. For example, a film-like optical member such as a polarizing film, a retardation film, Film). The film production apparatus constitutes a part of a production system for producing such an optical display device or an optical display device including an optical member.

본 실시형태에서는, 광학 표시 디바이스로서 투과형의 액정 표시 장치를 예시하고 있다. 투과형의 액정 표시 장치는, 액정 표시 패널과, 백라이트를 구비하고 있다. 이 액정 표시 장치에서는, 백라이트로부터 출사된 조명광을 액정 표시 패널의 이면측으로부터 입사하고, 액정 표시 패널에 의해 변조된 광을 액정 표시 패널의 표면측으로부터 출사함으로써, 화상을 표시하는 것이 가능하다. In the present embodiment, a transmissive liquid crystal display device is exemplified as an optical display device. A transmissive liquid crystal display device includes a liquid crystal display panel and a backlight. In this liquid crystal display device, it is possible to display an image by causing the illumination light emitted from the backlight to enter from the back side of the liquid crystal display panel and emitting the light modulated by the liquid crystal display panel from the surface side of the liquid crystal display panel.

(광학 표시 디바이스)(Optical display device)

먼저, 광학 표시 디바이스로서, 도 1 및 도 2에 도시된 액정 표시 패널(P)의 구성에 대해 설명한다. 도 1은 액정 표시 패널(P)의 구성을 도시한 평면도이다. 도 2는 도 1 중에 나타낸 절단선 A-A에 의한 액정 표시 패널(P)의 단면도이다. 한편, 도 2에서는, 단면을 나타내는 해칭의 도시를 생략하고 있다. First, the configuration of the liquid crystal display panel P shown in Figs. 1 and 2 will be described as an optical display device. 1 is a plan view showing a configuration of a liquid crystal display panel P. Fig. Fig. 2 is a sectional view of the liquid crystal display panel P taken along the line A-A shown in Fig. On the other hand, in Fig. 2, the illustration of hatching showing the cross section is omitted.

액정 표시 패널(P)은, 도 1 및 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 기판(P1)과, 제1 기판(P1)에 대향하여 배치된 제2 기판(P2)과, 제1 기판(P1)과 제2 기판(P2) 사이에 배치된 액정층(P3)을 구비하고 있다. 1 and 2, the liquid crystal display panel P includes a first substrate P1, a second substrate P2 disposed opposite to the first substrate P1, a first substrate P1, And a liquid crystal layer P3 disposed between the first substrate P1 and the second substrate P2.

제1 기판(P1)은, 평면에서 보아 직사각형 형상을 이루는 투명 기판으로 이루어진다. 제2 기판(P2)은, 제1 기판(P1)보다 비교적 소형의 직사각형 형상을 이루는 투명 기판으로 이루어진다. 제1 기판(P1)과 제2 기판(P2) 사이의, 액정층(P3) 주위는 시일재(도시하지 않음)로 밀봉되어 있다. 액정층(P3)은, 시일재에 의해 둘러싸인 평면에서 보아 직사각형 형상을 이루는 영역의 내측에 배치되어 있다. 액정 표시 패널(P)에서는, 평면에서 보아 액정층(P3)의 외주의 내측에 들어가는 영역을 표시 영역(P4)으로 하고, 이 표시 영역(P4)의 주위를 둘러싸는 외측의 영역을 액자부(G)로 한다. The first substrate P1 is made of a transparent substrate having a rectangular shape in plan view. The second substrate P2 is made of a transparent substrate having a rectangular shape relatively smaller than the first substrate P1. The periphery of the liquid crystal layer P3 between the first substrate P1 and the second substrate P2 is sealed with a sealing material (not shown). The liquid crystal layer P3 is disposed inside a rectangular region viewed from a plane surrounded by the sealing material. In the liquid crystal display panel P, a region which is located inside the outer periphery of the liquid crystal layer P3 in plan view is used as the display region P4, and an outer region surrounding the periphery of the display region P4 is referred to as a frame portion G).

액정 표시 패널(P)의 이면(백라이트측)에는, 편광 필름으로서의 제1 광학 필름(F11)이 접합되어 있다. 액정 표시 패널(P)의 표면(표시면측)에는, 편광 필름으로서의 제2 광학 필름(F12)과, 이 제2 광학 필름(F12)에 겹쳐져 휘도 향상 필름으로서의 제3 광학 필름(F13)이 접합되어 있다. 이하, 제1, 제2 및 제3 광학 필름(F11, F12, F13)을 광학 필름(F1X)이라고 총칭하는 경우가 있다.A first optical film F11 as a polarizing film is bonded to the rear surface (backlight side) of the liquid crystal display panel P. A second optical film F12 as a polarizing film and a third optical film F13 as a brightness enhancement film are overlapped with the second optical film F12 on the surface (display surface side) of the liquid crystal display panel P have. Hereinafter, the first, second and third optical films F11, F12 and F13 are collectively referred to as an optical film F1X.

(광학 필름)(Optical film)

다음으로, 도 3에 도시된 광학 필름(F1X)을 구성하는 광학 시트(FX)의 일례에 대해 설명한다. 도 3은 광학 시트(FX)의 구성을 도시한 단면도이다. 한편, 도 3에서는, 단면을 나타내는 해칭의 도시를 생략하고 있다.Next, an example of the optical sheet FX constituting the optical film F1X shown in Fig. 3 will be described. 3 is a sectional view showing the structure of the optical sheet FX. On the other hand, in FIG. 3, the illustration of hatching showing the cross section is omitted.

광학 필름(F1X)은, 도 3에 도시된 긴 띠 형상의 광학 시트(FX)로부터 미리 정해진 길이의 시트편을 잘라냄으로써 얻어진다. 구체적으로, 이 광학 시트(FX)는, 기재(基材) 시트(F4)와, 기재 시트(F4)의 한쪽 면(도 3 중의 상면)에 형성된 점착층(F5)과, 점착층(F5)을 통해 기재 시트(F4)의 한쪽 면에 형성된 세퍼레이터 시트(F6)와, 기재 시트(F4)의 다른쪽 면(도 3 중의 하면)에 형성된 표면 보호 시트(F7)를 갖는다. The optical film F1X is obtained by cutting out a sheet piece of a predetermined length from the long strip-shaped optical sheet FX shown in Fig. Specifically, the optical sheet FX comprises a base sheet F4, an adhesive layer F5 formed on one surface (the upper surface in Fig. 3) of the base sheet F4, an adhesive layer F5, A separator sheet F6 formed on one side of the base sheet F4 via a base sheet F4 and a surface protection sheet F7 formed on the other side of the base sheet F4.

기재 시트(F4)는, 예컨대 편광 필름의 경우, 편광자(F4a)를 한 쌍의 보호 필름(F4b, F4c) 사이에 끼고 있는 구조를 갖고 있다. 점착층(F5)은, 기재 시트(F4)를 액정 표시 패널(P)에 접착하기 위한 층이다. 세퍼레이터 시트(F6)는, 점착층(F5)을 보호하기 위한 시트이다. 세퍼레이터 시트(F6)는, 광학 시트(FX)로부터 시트편[광학 필름(F1X)]을 잘라낼 때에 점착층(F5)으로부터 박리된다. 이하, 광학 필름(F1X)으로부터 세퍼레이터 시트(F6)를 제외한 부분[광학 필름(F1X)이 되는 부분]을 접합 시트(F8)라고 한다. 표면 보호 시트(F7)는, 기재 시트(F4)의 표면을 보호하는 시트이다. 표면 보호 시트(F7)는, 기재 시트(F4)가 액정 표시 패널(P)에 접착된 후에, 기재 시트(F4)의 표면으로부터 박리된다.The substrate sheet F4 has a structure in which, for example, in the case of a polarizing film, the polarizer F4a is sandwiched between a pair of protective films F4b and F4c. The adhesive layer F5 is a layer for adhering the base sheet F4 to the liquid crystal display panel P. [ The separator sheet F6 is a sheet for protecting the adhesive layer F5. The separator sheet F6 is peeled from the adhesive layer F5 when the sheet piece (optical film F1X) is cut from the optical sheet FX. Hereinafter, the portion excluding the separator sheet F6 (the portion that becomes the optical film F1X) from the optical film F1X is referred to as a bonded sheet F8. The surface protection sheet F7 is a sheet for protecting the surface of the base sheet F4. The surface protective sheet F7 is peeled from the surface of the base sheet F4 after the base sheet F4 is bonded to the liquid crystal display panel P. [

한편, 기재 시트(F4)에 대해서는, 한 쌍의 보호 필름(F4b, F4c) 중 어느 한쪽을 생략한 구성으로 해도 좋다. 예컨대, 점착층(F5)측의 보호 필름(F4b)을 생략하여, 편광자(F4a)에 점착층(F5)이 직접 형성된 구성으로 할 수 있다. 또한, 표면 보호 시트(F7)측의 보호 필름(F4c)에는, 예컨대, 액정 표시 패널(P)의 최외면을 보호하는 하드 코트 처리나, 방현(防眩) 효과가 얻어지는 안티글레어 처리 등의 표면 처리가 실시되어 있어도 좋다. 또한, 기재 시트(F4)에 대해서는, 전술한 적층 구조의 것에 한하지 않고, 단층 구조의 것이어도 좋다. 또한, 표면 보호 시트(F7)에 대해서는, 생략하는 것도 가능하다. On the other hand, for the substrate sheet F4, either one of the pair of protective films F4b and F4c may be omitted. For example, the protective film F4b on the side of the adhesive layer F5 may be omitted, and the adhesive layer F5 may be directly formed on the polarizer F4a. The protective film F4c on the side of the surface protective sheet F7 may be provided with a hard coat treatment for protecting the outermost surface of the liquid crystal display panel P or a surface treatment such as an antiglare treatment for obtaining anti- Or may be processed. The substrate sheet F4 is not limited to the above-described laminated structure, and may be a single-layered structure. The surface protective sheet F7 may be omitted.

(필름 제조 장치)(Film Production Apparatus)

다음으로, 도 4에 도시된 필름 제조 장치(100)에 대해 설명한다. 도 4는 필름 제조 장치(100)의 구성을 도시한 측면도이다.Next, the film production apparatus 100 shown in Fig. 4 will be described. Fig. 4 is a side view showing the structure of the film production apparatus 100. Fig.

필름 제조 장치(100)는, 도 4에 도시된 바와 같이, 예컨대, 편광 필름이 되는 긴 띠 형상의 제1 필름(F101)의 한쪽 면에, 표면 보호 필름이 되는 긴 띠 형상의 제2 필름(F102)을 접합한 후, 제1 필름(F101)의 다른쪽 면에 표면 보호 필름이 되는 긴 띠 형상의 제3 필름(F103)을 접합함으로써, 제1 필름(F101)의 양면에 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합된 광학 필름(F10X)를 제조하는 장치이다.As shown in Fig. 4, the film production apparatus 100 is provided with a long strip-shaped second film (for example, a long strip-shaped first film F101 as a polarizing film) F102 are bonded to the other side of the first film F101 and then the third film F103 in the form of a long strip which is to be a surface protective film is bonded to the other side of the first film F101, F102) and the third film (F103) are bonded to each other.

구체적으로, 이 필름 제조 장치(100)는, 제1 반송 라인(101)과, 제2 반송 라인(102)과, 제3 반송 라인(103)과, 제4 반송 라인(104)과, 제5 반송 라인(105)과, 권취부(106)를 구비하고 있다.Specifically, the film production apparatus 100 includes a first conveying line 101, a second conveying line 102, a third conveying line 103, a fourth conveying line 104, A conveying line 105, and a winding unit 106. [0034]

제1 반송 라인(101)은, 제1 필름(F101)을 반송하는 반송 경로를 형성하고 있다. 제2 반송 라인(102)은, 제1 원반롤(R1)로부터 풀어진 제2 필름(F102)을 반송하는 반송 경로를 형성하고 있다. 제3 반송 라인(103)은, 제1 필름(F101)의 한쪽 면에 제2 필름(F102)이 접합된 편면(片面) 접합 필름(F104)을 반송하는 반송 경로를 형성하고 있다. 제4 반송 라인(104)은, 제2 원반롤(R2)로부터 풀어진 제3 필름(F103)을 반송하는 반송 경로를 형성하고 있다. 제5 반송 라인(105)은, 편면 접합 필름(F104)의 제1 필름(F101)측의 면[제1 필름(F101)의 다른쪽 면]에 제3 필름(F103)이 접합된 양면 접합 필름(F105)[광학 필름(F10X)]을 반송하는 반송 경로를 형성하고 있다. 제조된 광학 필름(F10X)은, 권취부(106)에 있어서, 제3 원반롤(R3)로서 심재에 권취된다. The first transfer line 101 forms a transfer path for transferring the first film F101. The second conveyance line 102 forms a conveyance path for conveying the second film F102 released from the first original roll R1. The third conveyance line 103 forms a conveyance path for conveying the single-sided adhesive film F104 on which the second film F102 is bonded to one surface of the first film F101. The fourth conveyance line 104 forms a conveyance path for conveying the third film F103 released from the second original roll R2. The fifth conveying line 105 is a double-side bonded film F103 on which the third film F103 is bonded to the surface of the one-side bonded film F104 on the first film F101 side (the other side of the first film F101) Thereby forming a transport path for transporting the optical film F105 (optical film F10X). The produced optical film F10X is wound on the core material as the third disk roll R3 in the winding section 106. [

제1 반송 라인(101)은, 예컨대, PVA(Polyvinyl Alcohol) 등의 편광자의 기재가 되는 필름에 대해, 염색 처리나 가교 처리, 연신 처리 등을 실시한 후, 그 양면에 TAC(Triacetylcellulose) 등의 보호 필름을 접합함으로써 얻어진 긴 띠 형상의 제1 필름(F101)을 제3 반송 라인(103)을 향해 반송시키는 라인이다. The first transfer line 101 is formed by subjecting a film to be a base material of a polarizer such as PVA (Polyvinyl Alcohol), for example, to a dyeing treatment, a cross-linking treatment, a stretching treatment, Is a line that transports the first film (F101) of a long strip shape obtained by bonding the film toward the third conveyance line (103).

구체적으로, 이 제1 반송 라인(101)에는, 제3 반송 라인(103)의 상류측을 사이에 둔 한쪽측으로부터 제3 반송 라인(103)을 향해, 한 쌍의 제1 닙롤(111a, 111b)과, 복수의 제1 댄서롤(112a, 112b)을 포함하는 제1 어큐뮬레이터(accumulator; 112)와, 제1 가이드롤(113)이, 수평 방향으로 순차 나란히 배치되어 있다.Specifically, the first conveying line 101 is provided with a pair of first nip rolls 111a and 111b (first conveying line), from one side with the upstream side of the third conveying line 103 interposed therebetween toward the third conveying line 103 A first accumulator 112 including a plurality of first dancer rolls 112a and 112b and a first guide roll 113 are arranged side by side in the horizontal direction.

한 쌍의 제1 닙롤(111a, 111b)은, 그 사이에 제1 필름(F101)을 끼고서 서로 반대 방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 나타낸 화살표 방향(우측 방향)으로 제1 필름(F101)을 인출하는 롤이다.The pair of first nip rolls 111a and 111b are rotated in opposite directions with the first film F101 interposed therebetween to thereby draw out the first film F101 in the arrow direction It is a roll.

제1 어큐뮬레이터(112)는, 제1 필름(F101)의 이송량의 변동에 의한 차를 흡수하고, 제1 필름(F101)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 장치이다. 구체적으로, 이 제1 어큐뮬레이터(112)는, 제1 닙롤(111a, 111b)과 제1 가이드롤(113) 사이에서, 상부측에 위치하는 복수의 제1 댄서롤(112a)과, 하부측에 위치하는 복수의 제1 댄서롤(112b)이 교대로 나란히 배치된 구성을 갖고 있다.The first accumulator 112 is a device for absorbing the difference due to the variation of the feed amount of the first film F101 and reducing the fluctuation of the tension applied to the first film F101. Specifically, the first accumulator 112 includes a plurality of first dancer rolls 112a positioned on the upper side between the first nip rolls 111a, 111b and the first guide roll 113, And a plurality of first dancer rolls 112b are alternately arranged side by side.

제1 어큐뮬레이터(112)에서는, 상부측의 제1 댄서롤(112a)과 하부측의 제1 댄서롤(112b)에 제1 필름(F101)이 번갈아 걸쳐진 상태로, 제1 필름(F101)을 반송시키면서, 상부측의 제1 댄서롤(112a)과 하부측의 제1 댄서롤(112b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 의해, 제1 반송 라인(101)을 정지하지 않고, 제1 필름(F101)을 축적하는 것이 가능해지고 있다. 예컨대, 제1 어큐뮬레이터(112)에서는, 상부측의 제1 댄서롤(112a)과 하부측의 제1 댄서롤(112b) 사이의 거리를 넓힘으로써, 제1 필름(F101)의 축적량을 늘릴 수 있다. 한편, 제1 어큐뮬레이터(112)에서는, 상부측의 제1 댄서롤(112a)과 하부측의 제1 댄서롤(112b) 사이의 거리를 좁힘으로써, 제1 필름(F101)의 축적량을 줄일 수 있다. 제1 어큐뮬레이터(112)는, 예컨대, 원반롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 스플라이싱(splicing) 등의 작업시에 가동된다. In the first accumulator 112, the first film F101 is transferred to the first dancer roll 112a on the upper side and the first film F101 alternately on the first dancer roll 112b on the lower side, The first dancer roll 112a on the upper side and the first dancer roll 112b on the lower side are moved up and down relative to each other. As a result, the first film F101 can be stored without stopping the first transfer line 101. [ For example, in the first accumulator 112, the distance between the first dancer roll 112a on the upper side and the first dancer roll 112b on the lower side is widened, so that the accumulation amount of the first film F101 can be increased . On the other hand, in the first accumulator 112, the accumulation amount of the first film F101 can be reduced by narrowing the distance between the first dancer roll 112a on the upper side and the first dancer roll 112b on the lower side . The first accumulator 112 is activated at the time of work such as splicing after exchanging the core of the master rolls R1 to R3.

제1 가이드롤(113)은, 회전하면서, 제1 닙롤(111a, 111b)에 의해 인출된 제1 필름(F101)을 제3 반송 라인(103)의 상류측을 향해 안내하는 롤이다. 한편, 제1 가이드롤(113)은, 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이어도 좋다. The first guide roll 113 is a roll for guiding the first film F101 drawn by the first nip rolls 111a and 111b toward the upstream side of the third conveyance line 103 while rotating. On the other hand, the first guide rolls 113 may be arranged not only in a single arrangement but also in a plurality of arrangements.

제2 반송 라인(102)은, 예컨대, PET(Polyethylene terephthalate) 등의 표면 보호 필름이 되는 긴 띠 형상의 제2 필름(F102)을 제1 원반롤(R1)로부터 풀어내면서, 제3 반송 라인(103)을 향해 반송시키는 라인이다. The second conveying line 102 is a conveying path for conveying the second film F102 of the long strip shape which is a surface protective film of PET (polyethylene terephthalate) or the like from the first disk roll R1, 103).

구체적으로, 이 제2 반송 라인(102)에는, 제3 반송 라인(103)의 상류측을 사이에 둔 다른쪽측으로부터 제3 반송 라인(103)을 향해, 한 쌍의 제2 닙롤(121a, 121b)과, 복수의 제2 댄서롤(122a, 122b)을 포함하는 제2 어큐뮬레이터(122)와, 복수의 제2 가이드롤(123a, 123b)이, 수평 방향으로 순차 나란히 배치되어 있다. Concretely, the second conveying line 102 is provided with a pair of second nip rolls 121a, 121b (121a, 121b) A second accumulator 122 including a plurality of second dancer rolls 122a and 122b and a plurality of second guide rollers 123a and 123b are arranged side by side in the horizontal direction.

한 쌍의 제2 닙롤(121a, 121b)은, 그 사이에 제2 필름(F102)을 끼고서 서로 반대 방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 나타낸 화살표 방향(좌측 방향)으로 제2 필름(F102)을 인출하는 롤이다.The pair of second nip rolls 121a and 121b rotate in opposite directions with the second film F102 interposed therebetween to thereby draw out the second film F102 in the arrow direction It is a roll.

제2 어큐뮬레이터(122)는, 제2 필름(F102)의 이송량의 변동에 의한 차를 흡수하고, 제2 필름(F102)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 장치이다. 구체적으로, 이 제2 어큐뮬레이터(122)는, 제2 닙롤(121a, 121b)과 제2 가이드롤(123a) 사이에서, 상부측에 위치하는 복수의 제2 댄서롤(122a)과, 하부측에 위치하는 복수의 제2 댄서롤(122b)이 교대로 나란히 배치된 구성을 갖고 있다.The second accumulator 122 is a device for absorbing the difference due to the variation of the feed amount of the second film F102 and reducing the fluctuation of the tension applied to the second film F102. Specifically, the second accumulator 122 includes a plurality of second dancer rolls 122a positioned on the upper side between the second nip rolls 121a, 121b and the second guide roll 123a, And a plurality of second dancer rolls 122b are alternately arranged side by side.

제2 어큐뮬레이터(122)에서는, 상부측의 제2 댄서롤(122a)과 하부측의 제2 댄서롤(122b)에 제2 필름(F102)이 번갈아 걸쳐진 상태로, 제2 필름(F102)을 반송시키면서, 상부측의 제2 댄서롤(122a)과 하부측의 제2 댄서롤(122b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 의해, 제2 반송 라인(102)을 정지하지 않고, 제2 필름(F102)을 축적하는 것이 가능해지고 있다. 예컨대, 제2 어큐뮬레이터(122)에서는, 상부측의 제2 댄서롤(122a)과 하부측의 제2 댄서롤(122b) 사이의 거리를 넓힘으로써, 제2 필름(F102)의 축적량을 늘릴 수 있다. 한편, 제2 어큐뮬레이터(122)에서는, 상부측의 제2 댄서롤(122a)과 하부측의 제2 댄서롤(122b) 사이의 거리를 좁힘으로써, 제2 필름(F102)의 축적량을 줄일 수 있다. 제2 어큐뮬레이터(122)는, 예컨대, 원반롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 스플라이싱 등의 작업시에 가동된다. In the second accumulator 122, the second film F102 is conveyed in a state in which the second film F102 is alternately wound on the second dancer roll 122a on the upper side and the second dancer roll 122b on the lower side, The second dancer roll 122a on the upper side and the second dancer roll 122b on the lower side are relatively moved up and down in the vertical direction. This makes it possible to store the second film F102 without stopping the second transfer line 102. [ For example, in the second accumulator 122, the distance between the second dancer roll 122a on the upper side and the second dancer roll 122b on the lower side can be widened to increase the accumulation amount of the second film F102 . On the other hand, in the second accumulator 122, the distance between the second dancer rolls 122a on the upper side and the second dancer rolls 122b on the lower side is narrowed, so that the accumulation amount of the second film F102 can be reduced . The second accumulator 122 is operated at the time of work such as splicing after exchanging the core material of the disk rolls R1 to R3, for example.

복수의 제2 가이드롤(123a, 123b)은, 각각 회전하면서 제2 닙롤(121a, 121b)에 의해 인출된 제2 필름(F102)을 제3 반송 라인(103)의 상류측을 향해 안내하는 롤이다. 한편, 제2 가이드롤(123a, 123b)은, 복수 배치된 구성에 한하지 않고 하나만 배치된 구성이어도 좋다.The plurality of second guide rollers 123a and 123b are rolls for guiding the second film F102 drawn by the second nip rolls 121a and 121b toward the upstream side of the third conveyance line 103 while rotating, to be. On the other hand, the second guide rollers 123a and 123b are not limited to a plurality of arrangements, but may be arranged only one.

제3 반송 라인(103)은, 제1 필름(F101)의 한쪽 면에 제2 필름(F102)을 접합한 긴 띠 형상의 편면 접합 필름(F104)을 제5 반송 라인(105)을 향해 반송시키는 라인이다. The third conveying line 103 conveys the long strip-shaped one-side bonded film F104, which is obtained by bonding the second film F102 to one side of the first film F101, toward the fifth conveying line 105 Line.

구체적으로, 이 제3 반송 라인(103)에는, 한 쌍의 제3 닙롤(131a, 131b)이 배치되어 있다. 한 쌍의 제3 닙롤(131a, 131b)은, 제1 반송 라인(101)의 하류측과 제2 반송 라인(102)의 하류측의 합류점에 위치한다. 한 쌍의 제3 닙롤(131a, 131b)은, 그 사이에 제1 필름(F101) 및 제2 필름(F102)을 끼고서 서로 반대 방향으로 회전함으로써, 제1 필름(F101)과 제2 필름(F102)을 접합한다. 한 쌍의 제3 닙롤(131a, 131b)은, 제1 필름(F101)과 제2 필름(F102)이 접합된 편면 접합 필름(F104)을 도 4 중에 나타낸 화살표 방향(하측 방향)으로 인출한다.Specifically, a third pair of third nip rolls 131a and 131b is disposed on the third conveyance line 103. As shown in Fig. The pair of third nip rolls 131a and 131b are located at the junction of the downstream side of the first conveyance line 101 and the downstream side of the second conveyance line 102. [ The pair of third nip rolls 131a and 131b are rotated in opposite directions with the first film F101 and the second film F102 interposed therebetween so that the first film F101 and the second film F102 ). The pair of third nip rolls 131a and 131b draw the single-sided bonding film F104 in which the first film F101 and the second film F102 are joined in the direction of the arrow (lower side) in Fig.

제4 반송 라인(104)은, 예컨대, PET(Polyethylene terephthalate) 등의 표면 보호 필름이 되는 긴 띠 형상의 제3 필름(F103)을 제2 원반롤(R2)로부터 풀어내면서, 제5 반송 라인(105)을 향해 반송시키는 라인이다. The fourth conveying line 104 is a conveying line for conveying the third film F103 in the form of a long strip which is a surface protective film such as PET (polyethylene terephthalate) from the second disk roll R2, 105).

구체적으로, 이 제4 반송 라인(104)에는, 제3 반송 라인(103)의 하류측을 사이에 둔 한쪽측으로부터 제3 반송 라인(103)을 향해, 한 쌍의 제4 닙롤(141a, 141b)과, 복수의 제3 댄서롤(142a, 142b)을 포함하는 제3 어큐뮬레이터(142)와, 복수의 제4 가이드롤(143a, 143b)이, 수평 방향으로 순차 나란히 배치되어 있다.Concretely, the fourth conveying line 104 is provided with a pair of fourth nip rolls 141a, 141b (first conveying line) A third accumulator 142 including a plurality of third dancer rolls 142a and 142b and a plurality of fourth guide rolls 143a and 143b are arranged side by side in the horizontal direction.

한 쌍의 제4 닙롤(141a, 141b)은, 그 사이에 제3 필름(F103)을 끼고서 서로 반대 방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 나타낸 화살표 방향(우측 방향)으로 제3 필름(F103)을 인출하는 롤이다.The pair of fourth nip rolls 141a and 141b are rotated in the directions opposite to each other with the third film F103 interposed therebetween to thereby draw out the third film F103 in the arrow direction It is a roll.

제3 어큐뮬레이터(142)는, 제3 필름(F103)의 이송량의 변동에 의한 차를 흡수하고, 제3 필름(F103)에 가해지는 장력의 변동을 저감하기 위한 장치이다. 구체적으로, 이 제3 어큐뮬레이터(142)는, 제4 닙롤(141a, 141b)과 제4 가이드롤(143a) 사이에서, 상부측에 위치하는 복수의 제3 댄서롤(142a)과, 하부측에 위치하는 복수의 제3 댄서롤(142b)이 교대로 나란히 배치된 구성을 갖고 있다.The third accumulator 142 is a device for absorbing the difference due to the variation of the feed amount of the third film F103 and reducing the fluctuation of the tension applied to the third film F103. Specifically, the third accumulator 142 includes a plurality of third dancer rolls 142a located on the upper side between the fourth nip rolls 141a, 141b and the fourth guide roll 143a, And a plurality of third dancer rolls 142b are alternately arranged.

제3 어큐뮬레이터(142)에서는, 상부측의 제3 댄서롤(142a)과 하부측의 제3 댄서롤(142b)에 제3 필름(F103)이 번갈아 걸쳐진 상태로, 제3 필름(F103)을 반송시키면서, 상부측의 제3 댄서롤(142a)과 하부측의 제3 댄서롤(142b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 의해, 제4 반송 라인(104)을 정지하지 않고, 제3 필름(F103)을 축적하는 것이 가능해지고 있다. 예컨대, 제3 어큐뮬레이터(142)에서는, 상부측의 제3 댄서롤(142a)과 하부측의 제3 댄서롤(142b) 사이의 거리를 넓힘으로써, 제3 필름(F103)의 축적량을 늘릴 수 있다. 한편, 제3 어큐뮬레이터(142)에서는, 상부측의 제3 댄서롤(142a)과 하부측의 제3 댄서롤(142b) 사이의 거리를 좁힘으로써, 제3 필름(F103)의 축적량을 줄일 수 있다. 제3 어큐뮬레이터(142)는, 예컨대, 원반롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 스플라이싱 등의 작업시에 가동된다. In the third accumulator 142, the third film F103 is conveyed in a state in which the third film F103 is alternately wound on the third dancer roll 142a on the upper side and the third dancer roll 142b on the lower side, The third dancer roll 142a on the upper side and the third dancer roll 142b on the lower side are relatively moved up and down in the vertical direction. This makes it possible to store the third film F103 without stopping the fourth transfer line 104. [ For example, in the third accumulator 142, the distance between the third dancer roll 142a on the upper side and the third dancer roll 142b on the lower side is widened, so that the accumulation amount of the third film F103 can be increased . On the other hand, in the third accumulator 142, the accumulation amount of the third film F103 can be reduced by narrowing the distance between the third dancer roll 142a on the upper side and the third dancer roll 142b on the lower side . The third accumulator 142 is activated at the time of work such as splicing after exchanging the core of the master rolls R1 to R3.

복수의 제4 가이드롤(143a, 143b)은, 각각 회전하면서 제4 닙롤(141a, 141b)에 의해 인출된 제3 필름(F103)을 제3 반송 라인(103)의 하류측[제5 반송 라인(105)의 상류측]을 향해 안내하는 롤이다. 한편, 제4 가이드롤(143a, 143b)은, 복수 배치된 구성에 한하지 않고 하나만 배치된 구성이어도 좋다. The plurality of fourth guide rollers 143a and 143b are arranged such that the third film F103 drawn out by the fourth nip rolls 141a and 141b while being rotated is disposed on the downstream side of the third conveyance line 103 (The upstream side of the rollers 105). On the other hand, the fourth guide rollers 143a and 143b are not limited to a plurality of arrangements, but may be arranged only one.

제5 반송 라인(105)은, 편면 접합 필름(F104)의 제1 필름(F101)측의 면[제1 필름(F101)의 다른쪽 면]에 제3 필름(F103)을 접합한 긴 띠 형상의 양면 접합 필름(F105)[광학 필름(F10X)]을 제3 원반롤(R3)을 향해 반송시키는 라인이다. The fifth conveying line 105 is an elongated strip shape in which the third film F103 is joined to the surface of the one-side bonded film F104 on the first film F101 side (the other side of the first film F101) Side bonding film F105 (optical film F10X) toward the third disk roll R3.

구체적으로, 이 제5 반송 라인(105)에는, 제3 반송 라인(103)의 하류측을 사이에 둔 다른쪽측으로부터 제3 원반롤(R3)을 향해, 한 쌍의 제5 닙롤(151a, 151b)과, 제5 가이드롤(153a)과, 한 쌍의 제6 닙롤(151c, 151d)과, 복수의 제4 댄서롤(152a, 152b)을 포함하는 제4 어큐뮬레이터(152)와, 제6 가이드롤(153b)이, 수평 방향으로 순차 나란히 배치되어 있다.Concretely, the fifth conveying line 105 is provided with a pair of fifth nip rolls 151a and 151b (hereinafter, referred to as " second conveying rollers ") from the other side with the downstream side of the third conveying line 103 interposed therebetween, , A fifth guide roll 153a, a pair of sixth nip rolls 151c and 151d, a fourth accumulator 152 including a plurality of fourth dancer rolls 152a and 152b, And the rolls 153b are arranged side by side in the horizontal direction.

한 쌍의 제5 닙롤(151a, 151b)은, 제3 반송 라인(103)의 하류측과 제5 반송 라인(105)의 상류측의 합류점에 위치한다. 한 쌍의 제5 닙롤(151a, 151b)은, 그 사이에 편면 접합 필름(F104) 및 제3 필름(F103)을 끼고서 서로 반대 방향으로 회전함으로써, 편면 접합 필름(F104)과 제3 필름(F103)을 접합한다. 한 쌍의 제5 닙롤(151a, 151b)은, 편면 접합 필름(F104)과 제3 필름(F103)이 접합된 양면 접합 필름(F105)을 도 4 중에 나타낸 화살표 방향(하측 방향)으로 인출한다. The pair of fifth nip rolls 151a and 151b are located at the confluence of the downstream side of the third conveyance line 103 and the upstream side of the fifth conveyance line 105. [ The pair of fifth nip rolls 151a and 151b are rotated in opposite directions to each other with the one side bonding film F104 and the third film F103 interposed therebetween to form the one side bonding film F104 and the third film F103 ). The pair of fifth nip rolls 151a and 151b draw the double-side bonded film F105 in which the one-side bonded film F104 and the third film F103 are joined in the arrow direction (downward direction) shown in Fig.

제5 가이드롤(153a)은, 회전하면서, 제5 닙롤(151a, 151b)에 의해 인출된 양면 접합 필름(F105)을 제4 어큐뮬레이터(152)를 향해 안내하는 롤이다. 한편, 제5 가이드롤(153a)은, 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이어도 좋다. The fifth guide roll 153a is a roll that guides the double-side bonded film F105 drawn by the fifth nip rolls 151a and 151b toward the fourth accumulator 152 while rotating. On the other hand, the fifth guide rollers 153a may be arranged in a plurality of arrangements instead of only one.

한 쌍의 제6 닙롤(151c, 151d)은, 그 사이에 양면 접합 필름(F105)을 끼고서 서로 반대 방향으로 회전함으로써, 도 4 중에 나타낸 화살표 방향(우측 방향)으로 양면 접합 필름(F105)을 인출하는 롤이다. The pair of sixth nip rolls 151c and 151d are rotated in opposite directions with the double-sided adhesive film F105 sandwiched therebetween to withdraw the double-sided adhesive film F105 in the arrow direction (rightward direction) It is a roll.

제4 어큐뮬레이터(152)에서는, 상부측의 제4 댄서롤(152a)과 하부측의 제4 댄서롤(152b)에 양면 접합 필름(F105)이 번갈아 걸쳐진 상태로, 양면 접합 필름(F105)을 반송시키면서, 상부측의 제4 댄서롤(152a)과 하부측의 제4 댄서롤(152b)을 상대적으로 상하 방향으로 승강 동작시킨다. 이에 의해, 제5 반송 라인(105)을 정지하지 않고, 양면 접합 필름(F105)을 축적하는 것이 가능해지고 있다. 예컨대, 제4 어큐뮬레이터(152)에서는, 상부측의 제4 댄서롤(152a)과 하부측의 제4 댄서롤(152b) 사이의 거리를 넓힘으로써, 양면 접합 필름(F105)의 축적량을 늘릴 수 있다. 한편, 제4 어큐뮬레이터(152)에서는, 상부측의 제4 댄서롤(152a)과 하부측의 제4 댄서롤(152b) 사이의 거리를 좁힘으로써, 양면 접합 필름(F105)의 축적량을 줄일 수 있다. 제4 어큐뮬레이터(152)는, 예컨대, 원반롤(R1∼R3)의 심재를 교환한 후의 스플라이싱 등의 작업시에 가동된다.In the fourth accumulator 152, the double-side bonded film F105 is conveyed in a state in which the double-side bonded film F105 is alternately wound on the upper side fourth dancer roll 152a and the lower side fourth dancer roll 152b The fourth dancer roll 152a on the upper side and the fourth dancer roll 152b on the lower side are relatively moved up and down in the vertical direction. This makes it possible to store the double-side bonded film F105 without stopping the fifth conveying line 105. [ For example, in the fourth accumulator 152, the distance between the fourth dancer roll 152a on the upper side and the fourth dancer roll 152b on the lower side can be widened to increase the accumulation amount of the double-side bonded film F105 . On the other hand, in the fourth accumulator 152, the distance between the fourth dancer roll 152a on the upper side and the fourth dancer roll 152b on the lower side is narrowed, whereby the accumulation amount of the double-side bonded film F105 can be reduced . The fourth accumulator 152 is operated at the time of work such as splicing after exchanging core members of the disk rolls R1 to R3, for example.

제6 가이드롤(153b)은, 양면 접합 필름(F105)을 제3 원반롤(R3)을 향해 안내하는 롤이다. 한편, 제6 가이드롤(153b)은, 하나만 배치된 구성에 한하지 않고 복수 배치된 구성이어도 좋다. The sixth guide roll 153b is a roll for guiding the double-side bonded film F105 toward the third disk roll R3. On the other hand, the sixth guide rollers 153b may be arranged not only in a single arrangement but also in a plurality of arrangements.

양면 접합 필름(F105)은, 권취부(106)에 있어서, 광학 필름(F10X)의 제3 원반롤(R3)로서 심재에 권취된 후, 다음 공정으로 보내진다. The double-sided adhesive film F105 is wound on the core material as the third disk roll R3 of the optical film F10X in the take-up unit 106, and then sent to the next step.

(결함 검사 시스템)(Defect inspection system)

다음으로, 상기 필름 제조 장치(100)가 구비하는 결함 검사 시스템(10)에 대해 설명한다. Next, a defect inspection system 10 provided in the film production apparatus 100 will be described.

결함 검사 시스템(10)은, 도 4에 도시된 바와 같이, 반송 라인(L)과, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)와, 기록 장치(13)와, 제1 측장기(測長器; 14) 및 제2 측장기(15)와, 제어 장치(16)를 구비하여 구성되어 있다.4, the defect inspection system 10 includes a transfer line L, a first defect inspection apparatus 11 and a second defect inspection apparatus 12, a recording apparatus 13, A first side organ (a length measuring device) 14, a second side organ 15, and a control device 16.

반송 라인(L)은, 검사 대상이 되는 필름을 반송하는 반송 경로를 형성하는 라인이며, 본 실시형태에서는, 상기 제1 반송 라인(101), 제3 반송 라인(103) 및 제5 반송 라인(105)에 의해 반송 라인(L)이 구성되어 있다. The conveying line L is a line forming a conveying path for conveying a film to be inspected. In the present embodiment, the first conveying line 101, the third conveying line 103 and the fifth conveying line 105 constitute a conveying line L.

제1 결함 검사 장치(11)는, 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합되기 전의 제1 필름(F101)의 결함 검사를 행하는 장치이다. 구체적으로, 이 제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 필름(F101)을 제조할 때나, 제1 필름(F101)을 반송할 때에 생긴 이물 결함, 요철 결함, 휘점(輝点) 결함 등의 각종 결함을 검출한다. 제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 반송 라인(101)에 의해 반송되는 제1 필름(F101)에 대해, 예컨대, 반사 검사, 투과 검사, 경사 투과 검사, 크로스 니콜 투과 검사 등의 검사 처리를 실행함으로써, 제1 필름(F101)의 결함을 검출한다. The first defect inspection apparatus 11 is a device for defect inspection of the first film F101 before the second film F102 and the third film F103 are bonded. Specifically, the first defect inspection apparatus 11 is capable of detecting defects such as foreign matter, irregularity defects, bright spots, and the like, which are generated when the first film F101 is manufactured or when the first film F101 is transported Various defects are detected. The first defect inspection apparatus 11 performs inspection processing such as reflection inspection, transmission inspection, warp penetration inspection, Cross-Nicol penetration inspection, and the like on the first film F101 carried by the first transfer line 101 To detect a defect in the first film (F101).

제1 결함 검사 장치(11)는, 제1 반송 라인(101)에 있어서, 제1 닙롤(111a, 111b)보다 상류측에, 제1 필름(F101)에 조명광을 조사하는 복수의 조명부(21a, 22a, 23a)와, 제1 필름(F101)을 투과한 광(투과광) 또는 제1 필름(F101)에서 반사된 광(반사광)을 검출하는 복수의 광검출부(21b, 22b, 23b)를 갖고 있다. The first defect inspection apparatus 11 includes a plurality of illumination units 21a and 21b for irradiating the first film F101 with illumination light on the upstream side of the first nip rolls 111a and 111b in the first transfer line 101, 22b and 23b for detecting the light (transmitted light) transmitted through the first film F101 or the light reflected from the first film F101 (reflected light) .

본 실시형태에서는, 투과광을 검출하는 구성이기 때문에, 제1 필름(F101)의 반송 방향으로 늘어서는 복수의 조명부(21a, 22a, 23a)와 광검출부(21b, 22b, 23b)가, 각각 제1 필름(F101)을 사이에 두고 대향하여 배치되어 있다. 또한, 제1 결함 검사 장치(11)에서는, 이러한 투과광을 검출하는 구성에 한하지 않고, 반사광을 검출하는 구성, 혹은 투과광 및 반사광을 검출하는 구성이어도 좋다. The plurality of illumination portions 21a, 22a and 23a and the light detection portions 21b, 22b and 23b, which are arranged in the transport direction of the first film F101, And are disposed so as to face each other with the film F101 interposed therebetween. In addition, the first defect inspection apparatus 11 is not limited to the configuration for detecting such transmitted light, but may be configured to detect reflected light or to detect transmitted light and reflected light.

조명부(21a, 22a, 23a)는, 결함 검사의 종류에 따라 광 강도나 파장, 편광 상태 등이 조정된 조명광을 제1 필름(F101)에 조사한다. 광검출부(21b, 22b, 23b)는, CCD 등의 촬상 소자를 이용하여, 제1 필름(F101)의 조명광이 조사된 위치의 화상을 촬상한다. 광검출부(21b, 22b, 23b)에 의해 촬상된 화상(결함 검사 결과)은, 제어 장치(16)에 출력된다. The illumination units 21a, 22a, and 23a irradiate the first film F101 with the illumination light whose light intensity, wavelength, polarization state, and the like are adjusted depending on the type of defect inspection. The photodetector units 21b, 22b, and 23b capture an image at a position irradiated with the illumination light of the first film F101 using an image pickup device such as a CCD. An image (defect inspection result) captured by the photodetector units 21b, 22b, and 23b is output to the control unit 16. [

제2 결함 검사 장치(12)는, 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)이 접합된 후의 제1 필름(F101), 즉 양면 접합 필름(F105)의 결함 검사를 행하는 장치이다. 구체적으로, 이 제2 결함 검사 장치(12)는, 제1 필름(F101)에 제2 필름(F102) 및 제3 필름(F103)을 접합할 때나, 편면 접합 필름(F104) 및 양면 접합 필름(F105)을 반송할 때에 생긴 이물 결함, 요철 결함, 휘점 결함 등의 각종 결함을 검출한다. 제2 결함 검사 장치(12)는, 제5 반송 라인(105)에 의해 반송되는 양면 접합 필름(F105)에 대해, 예컨대, 반사 검사, 투과 검사, 경사 투과 검사, 크로스 니콜 투과 검사 등의 검사 처리를 실행함으로써, 양면 접합 필름(F105)의 결함을 검출한다. The second defect inspection apparatus 12 is a device for defect inspection of the first film F101, that is, the double-side bonded film F105 after the second film F102 and the third film F103 are bonded. Specifically, the second defect inspection apparatus 12 is used for bonding the second film F102 and the third film F103 to the first film F101, the one-side bonding film F104, and the two- Defects such as foreign matter defect, concavo-convex defect, spots defect, and the like, which are generated when carrying out the defects. The second defect inspection apparatus 12 performs inspection processing such as reflection inspection, transmission inspection, warp penetration inspection, Cross-Nicole penetration inspection, and the like on the double-side bonded film F105 carried by the fifth transfer line 105 Thereby detecting defects in the double-sided bonded film F105.

제2 결함 검사 장치(12)는, 제5 반송 라인(105)에 있어서, 제6 닙롤(151c, 151d)보다 상류측에, 양면 접합 필름(F105)에 조명광을 조사하는 복수의 조명부(24a, 25a)와, 양면 접합 필름(F105)을 투과한 광(투과광) 또는 양면 접합 필름(F105)에서 반사된 광(반사광)을 검출하는 복수의 광검출부(24b, 25b)를 갖고 있다. The second defect inspection apparatus 12 includes a plurality of illumination units 24a and 24b for irradiating illumination light on the both-side bonded film F105 on the upstream side of the sixth nip rolls 151c and 151d in the fifth conveyance line 105, And a plurality of optical detecting portions 24b and 25b for detecting light (transmitted light) transmitted through the double-sided bonded film F105 or light (reflected light) reflected from the double-side bonded film F105.

본 실시형태에서는, 투과광을 검출하는 구성이기 때문에, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향으로 늘어서는 복수의 조명부(24a, 25a)와 광검출부(24b, 25b)가, 각각 양면 접합 필름(F105)을 사이에 두고 대향하여 배치되어 있다. 또한, 제2 결함 검사 장치(12)에서는, 이러한 투과광을 검출하는 구성에 한하지 않고, 반사광을 검출하는 구성, 혹은 투과광 및 반사광을 검출하는 구성이어도 좋다. The plurality of illumination portions 24a and 25a and the light detection portions 24b and 25b arranged in the conveying direction of the double-sided adhesive film F105 are provided on the both-side adhesive film F105, As shown in Fig. Further, the second defect inspection apparatus 12 is not limited to the structure for detecting such transmitted light, but may be configured to detect reflected light or to detect transmitted light and reflected light.

조명부(24a, 25a)는, 결함 검사의 종류에 따라 광 강도나 파장, 편광 상태 등이 조정된 조명광을 양면 접합 필름(F105)에 조사한다. 광검출부(24b, 25b)는, CCD 등의 촬상 소자를 이용하여, 양면 접합 필름(F105)의 조명광이 조사된 위치의 화상을 촬상한다. 광검출부(24b, 25b)에 의해 촬상된 화상(결함 검사 결과)은, 제어 장치(16)에 출력된다. The illumination units 24a and 25a irradiate the double-side bonded film F105 with the illumination light whose light intensity, wavelength, polarization state, etc. are adjusted according to the type of defect inspection. The photodetecting sections 24b and 25b use an image pickup device such as a CCD to pick up an image of the position where the illumination light of the double-side bonded film F105 is irradiated. The image (defect inspection result) picked up by the optical detection units 24b and 25b is output to the control unit 16. [

기록 장치(13)는, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)의 결함 검사 결과에 기초한 결함 정보를 양면 접합 필름(F105)에 기록하는 장치이다. 구체적으로, 결함 정보는, 결함의 위치나 종류 등에 관한 정보를 포함하며, 예컨대, 일차원 바코드, 이차원 바코드, QR 코드(등록 상표) 등의 식별 코드로서 기록된다. 식별 코드에는, 예컨대, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에 의해 검출된 결함이, 식별 코드가 인자된 위치로부터 필름 폭 방향을 따라 어느 정도의 거리만큼 떨어진 위치에 존재하는지를 나타내는 정보(결함의 위치에 관한 정보)가 포함된다. 또한, 식별 코드에는, 검출된 결함의 종류에 관한 정보가 포함되어 있어도 좋다. The recording apparatus 13 is a device for recording defect information based on the defect inspection results of the first defect inspection apparatus 11 and the second defect inspection apparatus 12 in the double-side bonded film F105. Specifically, the defect information includes information on the position and kind of defects, and is recorded as an identification code such as a one-dimensional bar code, a two-dimensional bar code, or a QR code (registered trademark). The identification code includes, for example, a defect detected by the first defect inspecting apparatus 11 and the second defect inspecting apparatus 12 at a position separated by a certain distance along the film width direction from the position where the identification code is printed (Information on the position of the defect) is included. The identification code may include information on the type of the detected defect.

기록 장치(13)는, 제5 반송 라인(105)에 있어서, 제2 결함 검사 장치(12)보다 하류측에 설치되어 있다. 기록 장치(13)는, 예컨대 잉크젯 방식을 채용한 인자 헤드(13a)를 갖고 있다. 이 인자 헤드(13a)는, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향의 단부 가장자리부를 따른 위치(기록 영역)에 잉크를 토출하여, 상기 결함 정보의 인자를 행한다.The recording apparatus 13 is provided on the fifth conveyance line 105 on the downstream side of the second defect inspection apparatus 12. The recording apparatus 13 has a print head 13a employing, for example, an ink jet method. The print head 13a ejects ink to a position (recording area) along the widthwise end edge portion of the double-sided bonded film F105 to print the defect information.

또한, 기록 장치(13)는, 양면 접합 필름(F105)의 결함 부위에, 결함을 포함하는 것과 같은 크기의 도트형, 라인형 또는 프레임형의 마크를 인자(마킹)함으로써, 결함 부위에 직접 기록을 행해도 좋다. 이때, 마크 외에도 결함의 종류를 나타내는 기호나 모양을 결함 부위에 인자함으로써, 결함의 종류에 관한 정보를 기록해도 좋다. Further, the recording apparatus 13 records (directly marks) the defective portion of the double-sided bonded film F105 on a defective portion by marking a dot-shaped, line-shaped, or frame- . At this time, information on the type of the defect may be recorded by printing a mark or a shape indicating the type of defect in addition to the mark, on the defect part.

제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)는, 제1 필름(F101)의 반송량을 측정하는 장치이다. 구체적으로, 본 실시형태에서는, 제1 반송 라인(101)에 있어서, 제1 어큐뮬레이터(112)보다 상류측에 있는 제1 닙롤(111a)에 제1 측장기(14)를 구성하는 로터리 인코더가 배치되고, 제1 어큐뮬레이터(112)보다 하류측에 있는 제3 닙롤(131a)에 제2 측장기(15)를 구성하는 로터리 인코더가 배치되어 있다. The first side orifice (14) and the second side orifice (15) are devices for measuring the transport amount of the first film (F101). Specifically, in this embodiment, a rotary encoder constituting the first side arm 14 is disposed in the first nip roll 111a on the upstream side of the first accumulator 112 in the first transfer line 101 And a rotary encoder constituting the second side arm 15 is disposed in the third nip roll 131a on the downstream side of the first accumulator 112. [

제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)는, 제1 필름(F101)에 접하여 회전하는 제1 닙롤(111a) 및 제3 닙롤(131a)의 회전 변위량에 따라, 로터리 인코더가 제1 필름(F101)의 반송량을 측정한다. 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과는, 제어 장치(16)에 출력된다. The first side orifice 14 and the second side orifice 15 are arranged in such a manner that the rotary encoder is moved in the direction in which the rotary encoder is rotated in accordance with the amount of rotational displacement of the first nip roll 111a and the third nip roll 131a which rotate in contact with the first film F101 1 Film F101 is conveyed. The measurement results of the first side arm 14 and the second side arm 15 are output to the controller 16.

한편, 본 실시형태에서는, 제1 결함 검사 장치(11)와 기록 장치(13) 사이에, 어큐뮬레이터가 하나밖에 존재하지 않기 때문에, 이 어큐뮬레이터의 상류측과 하류측에 측장기가 하나씩 배치된 구성으로 되어 있다. 한편, 제1 결함 검사 장치(11)와 기록 장치(13) 사이에 어큐뮬레이터가 복수 존재하는 경우에는, 그 가장 상류측에 있는 어큐뮬레이터의 상류측과, 가장 하류측에 있는 어큐뮬레이터의 하류측에 측장기가 하나씩 배치된 구성으로 하면 된다. On the other hand, in the present embodiment, since there is only one accumulator between the first defect inspection apparatus 11 and the recording apparatus 13, there is a configuration in which one side organ is arranged on the upstream side and the downstream side of the accumulator . On the other hand, when there are a plurality of accumulators between the first defect inspection apparatus 11 and the recording apparatus 13, the upstream side of the accumulator at the most upstream side and the downstream side of the accumulator at the most downstream side May be arranged one by one.

제어 장치(16)는, 필름 제조 장치(100)의 각부를 통괄 제어하는 장치이다. 구체적으로, 이 제어 장치(16)는, 전자 제어 장치로서의 컴퓨터 시스템을 구비하고 있다. 컴퓨터 시스템은, CPU 등의 연산 처리부와, 메모리나 하드 디스크 등의 정보 기억부를 구비하고 있다. The control device 16 is an apparatus for collectively controlling each part of the film production apparatus 100. Specifically, the control device 16 is provided with a computer system as an electronic control device. The computer system includes an operation processing unit such as a CPU and an information storage unit such as a memory or a hard disk.

제어 장치(16)의 정보 기억부에는, 컴퓨터 시스템을 제어하는 오퍼레이팅 시스템(OS)이나, 연산 처리부에 필름 제조 장치(100)의 각부에 각종의 처리를 실행시키는 프로그램 등이 기록되어 있다. 또한, 제어 장치(16)는, 필름 제조 장치(100)의 각부의 제어에 요하는 각종 처리를 실행하는 ASIC 등의 논리 회로를 포함하고 있어도 좋다. 또한, 제어 장치(16)는, 컴퓨터 시스템의 외부 장치와의 입출력을 행하기 위한 인터페이스를 포함한다. 이 인터페이스에는, 예컨대 키보드나 마우스 등의 입력 장치나, 액정 표시 디스플레이 등의 표시 장치, 통신 장치 등이 접속 가능하게 되어 있다.An operating system (OS) for controlling the computer system and a program for executing various types of processing are recorded in the information storage unit of the control device 16, and the arithmetic processing unit is provided for each part of the film production apparatus 100. The control device 16 may also include a logic circuit such as an ASIC for executing various processes required for controlling each part of the film production apparatus 100. The control device 16 also includes an interface for performing input / output with an external device of the computer system. An input device such as a keyboard or a mouse, a display device such as a liquid crystal display display, a communication device, or the like can be connected to this interface.

제어 장치(16)는, 광검출부(21b, 22b, 23b) 및 광검출부(24b, 25b)에 의해 촬상된 화상을 해석하여, 결함의 유무(위치)나 종류 등을 판별한다. 제어 장치(16)는, 제1 필름(F101)이나 양면 접합 필름(F105)에 결함이 존재한다고 판정한 경우에는, 기록 장치(13)를 제어하여 양면 접합 필름(F105)에 결함 정보를 기록한다. The controller 16 analyzes the image picked up by the optical detectors 21b, 22b, and 23b and the optical detectors 24b and 25b to determine the presence or absence (position) or type of the defect. When the controller 16 determines that a defect exists in the first film F101 or the both-side bonded film F105, the controller 16 controls the recording apparatus 13 to record the defect information on the both-side bonded film F105 .

결함 검사 시스템(10)에서는, 양면 접합 필름(F105)의 결함 검사 위치와, 결함 정보의 정보 기록 위치 사이에 어긋남이 발생하지 않도록, 결함 검사 후에 미리 정해진 타이밍에서 결함 정보의 기록을 행한다. 예컨대, 본 실시형태에서는, 제1 결함 검사 장치(11) 또는 제2 결함 검사 장치(12)에 의한 결함 검사가 행해진 시각 이후에, 반송 라인(L) 상에서 반송되는 필름의 반송량을 산출하고, 산출된 반송량이 오프셋 거리와 일치했을 때에, 기록 장치(13)에 의해 기록이 행해진다. The defect inspection system 10 records defect information at a predetermined timing after the defect inspection so that a deviation does not occur between the defect inspection position of the double-sided adhesive film F105 and the information recording position of the defect information. For example, in the present embodiment, after the time at which the defect inspection is performed by the first defect inspection apparatus 11 or the second defect inspection apparatus 12, the transport amount of the film transported on the transport line L is calculated, When the calculated conveyance amount coincides with the offset distance, recording is performed by the recording apparatus 13.

여기서, 오프셋 거리는, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)와, 기록 장치(13) 사이의 필름의 반송 거리를 말한다. 엄밀하게는, 오프셋 거리는, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에 의해 결함 검사가 행해지는 위치(결함 검사 위치)와, 기록 장치(13)에 의해 결함 정보의 기록이 행해지는 위치(정보 기록 위치) 사이의 필름의 반송 거리로서 정의된다. 또한, 오프셋 거리는, 제1 어큐뮬레이터(112)를 가동시키면 변동한다.Here, the offset distance refers to the transport distance of the film between the first defect inspection apparatus 11 and the second defect inspection apparatus 12 and the recording apparatus 13. Strictly speaking, the offset distance is determined by the position (defect inspection position) at which the defect inspection is performed by the first defect inspection apparatus 11 and the second defect inspection apparatus 12 and the recording of the defect information by the recording apparatus 13 Is defined as the transport distance of the film between the position (information recording position) where the film is carried out. Further, the offset distance fluctuates when the first accumulator 112 is activated.

제1 어큐뮬레이터(112)의 비가동시에 있어서의 오프셋 거리(이하, 제1 오프셋 거리라고 함)는, 미리 제어 장치(16)의 정보 기억부에 기억되어 있다. 구체적으로, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에는, 복수의 광검출부(21b, 22b, 23b) 및 광검출부(24b, 25b)가 존재하고, 광검출부(21b, 22b, 23b, 24b, 25b)마다 결함 검사가 행해진다. 이 때문에, 제어 장치(16)의 정보 기억부에는, 광검출부(21b, 22b, 23b, 24b, 25b)마다 제1 오프셋 거리가 기억되어 있다. The offset distance (hereinafter referred to as a first offset distance) at the same time as the ratio of the first accumulator 112 is stored in the information storage unit of the control device 16 in advance. Specifically, the first defect inspection apparatus 11 and the second defect inspection apparatus 12 include a plurality of photodetection units 21b, 22b, and 23b and photodetection units 24b and 25b, and the photodetection units 21b, 22b, 23b, 24b, and 25b. Therefore, the first offset distance is stored in the information storage unit of the controller 16 for each of the optical detectors 21b, 22b, 23b, 24b, and 25b.

제1 어큐뮬레이터(112)의 가동에 의해 오프셋 거리가 변동하는 경우에는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 상류측과 하류측의 제1 필름(F101)의 반송량의 차에 기초하여, 오프셋 거리의 보정값을 산출한다. 즉, 제어 장치(16)에서는, 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과로부터, 제1 어큐뮬레이터(112)에 의한 제1 필름(F101)의 축적량을 산출하고, 이 제1 필름(F101)의 축적량에 기초하여 오프셋 거리의 보정값을 산출한다. When the offset distance fluctuates due to the operation of the first accumulator 112, correction of the offset distance is performed based on the difference between the amount of conveyance of the first film F101 on the upstream side of the first accumulator 112 and the amount of conveyance of the first film F101 on the downstream side, Lt; / RTI > That is, the control device 16 calculates the accumulation amount of the first film F101 by the first accumulator 112 from the measurement results of the first side arm 14 and the second side arm 15, The correction value of the offset distance is calculated based on the accumulation amount of the first film (F101).

결함 검사 시스템(10)에서는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 가동시에, 오프셋 거리의 보정값에 기초하여, 기록 장치(13)가 결함 정보를 기록하는 타이밍을 보정한다. 예컨대, 본 실시형태에서는, 제1 측장기(14) 및 제2 측장기(15)의 측정 결과에 기초하여, 오프셋 거리의 보정값을 산출한다. 제어 장치(16)는, 이 보정값 및 제1 오프셋 거리에 기초하여, 제1 어큐뮬레이터(112)의 가동시에 있어서의 오프셋 거리(이하, 제2 오프셋 거리라고 함)를 산출한다.The defect inspection system 10 corrects the timing at which the recording apparatus 13 records defect information on the basis of the correction value of the offset distance when the first accumulator 112 is in operation. For example, in the present embodiment, the correction value of the offset distance is calculated based on the measurement results of the first side arm 14 and the second side arm 15. The control device 16 calculates an offset distance (hereinafter referred to as a second offset distance) when the first accumulator 112 is in operation based on the correction value and the first offset distance.

본 실시형태에서는, 제1 측장기(14) 또는 제2 측장기(15)의 측정 결과에 기초하여, 제1 결함 검사 장치(11) 및 제2 결함 검사 장치(12)에 의한 결함 검사가 행해진 시각 이후에, 반송 라인(L) 상에서 반송되는 필름의 반송량을 산출하고, 산출된 반송량이 제2 오프셋 거리와 일치했을 때에, 기록 장치(13)에 의해 기록이 행해진다. The defect inspection is performed by the first defect inspection apparatus 11 and the second defect inspection apparatus 12 on the basis of the measurement results of the first side arm 14 or the second side arm 15 After the time, the transport amount of the film transported on the transport line L is calculated, and when the calculated transport amount coincides with the second offset distance, recording is performed by the recording apparatus 13.

또한, 본 실시형태에서는, 제1 어큐뮬레이터(112)의 가동시에, 결함 정보와는 별도로, 제1 어큐뮬레이터(112)가 가동된 것을 나타내는 정보(이하, 어큐뮬레이터 가동 정보라고 함)를 양면 접합 필름(F105)에 기록해도 좋다. 어큐뮬레이터 가동 정보를 기록한 경우에는, 어큐뮬레이터 가동 정보가 부여된 부분의 결함 부위를 오퍼레이터가 꼼꼼히 검사함으로써, 기록 위치의 어긋남 등을 검출할 수 있다. 이에 의해, 양품 부분을 잘못해서 결함 부위라고 판정할 가능성이 적어져, 수율의 향상이 도모된다. In the present embodiment, information indicating that the first accumulator 112 is activated (hereinafter referred to as accumulator operation information) is displayed on the double-side adhesive film F105). When the accumulator operation information is recorded, the operator can thoroughly inspect the defective portion of the portion to which the accumulator operation information is given, thereby detecting the shift of the recording position. As a result, it is less likely that a good part is determined to be a defective part by mistake, and the yield can be improved.

그런데, 본 실시형태에서의 기록 장치(13)에서는, 도 5a 내지 도 5c에 도시된 바와 같이, 양면 접합 필름(F105)의 적어도 기록 영역(S)보다 내측의 영역에 잉크(i)가 부착되는 것을 방지하는 커버(30)가 설치되어 있다. 도 5a는 커버(30)를 양면 접합 필름(F105)의 상방측에서 본 평면도이다. 도 5b는 커버(30)를 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향의 상류측에서 본 측면도이다. 도 5c는 커버(30)를 양면 접합 필름(F105)의 외측에서 본 측면도이다.5A to 5C, in the recording apparatus 13 in the present embodiment, ink (i) is adhered to at least an area inside the recording area S of the both-side bonded film F105 A cover 30 is provided to prevent the above- 5A is a plan view of the cover 30 viewed from the upper side of the double-sided adhesive film F105. 5B is a side view of the cover 30 viewed from the upstream side in the carrying direction of the double-sided adhesive film F105. 5C is a side view of the cover 30 viewed from the outside of the double-side bonded film F105.

구체적으로, 이 커버(30)는, 양면 접합 필름(F105)과 인자 헤드(13a)가 대향하는 공간(K) 중, 양면 접합 필름(F105)의 내측에 면하는 측을 덮는 제1 측판부(30a)와, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향의 상류측에 면하는 측을 덮는 제2 측판부(30b)와, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향의 하류측에 면하는 측을 덮는 제3 측판부(30c)를 갖고 있다. Specifically, the cover 30 includes a first side plate portion (a second side plate portion) F105 covering the side facing the inside of the double-side bonded film F105 among the space K opposed to the double-side bonded film F105 and the print head 13a A second side plate portion 30b covering the upstream side in the carrying direction of the double-side bonded film F105 and a second side plate portion 30b covering the side facing the downstream side in the carrying direction of the double- And three side plate portions 30c.

커버(30)는, 나사 고정 등의 수단을 이용하여 인자 헤드(13a)에 대해 착탈 가능하게 부착되어 있다. 커버(30)는, 공간(K) 중, 양면 접합 필름(F105)의 외측에 면하는 측이 개방되어 있기 때문에, 인자 헤드(13a)에 대한 착탈이 용이하게 되어 있다.The cover 30 is detachably attached to the print head 13a by means of screw fixing or the like. Since the side of the cover 30 facing the outside of the double-side bonded film F105 is open in the space K, the cover 30 is easily attached to and detached from the print head 13a.

커버(30)의, 양면 접합 필름(F105)과 대향하는 면과, 양면 접합 필름(F105)의 표면 사이의 간격(T)은 1 ㎜ 이하로 할 수 있다. 이 간격(T)을 1 ㎜ 이하로 함으로써, 인자 헤드(13a)로부터 토출된 잉크(i)가 주위로 비산했을 때에, 이 잉크(i)의 비산물이 커버(30)의 외측으로 비산하는 것을 방지할 수 있다. 한편, 상기한 수치는 일례이며, 이것에 한정되지 않는다. The interval T between the surface of the cover 30 facing the double-sided adhesive film F105 and the surface of the double-sided adhesive film F105 can be set to 1 mm or less. By making the interval T equal to or smaller than 1 mm, it is possible to prevent the scattered matter of the ink i from scattering to the outside of the cover 30 when the ink i ejected from the print head 13a is scattered around . On the other hand, the above numerical values are merely examples, and the present invention is not limited thereto.

한편, 잉크(i)의 비산물로서는, 인자 헤드(13a)로부터 토출된 잉크(i) 중, 예컨대 정보 기록 위치로부터 벗어나 주위로 비산한 잉크(i)나, 양면 접합 필름(F105)에 부착된 후에 주위로 비산한 잉크(i) 등이 있다.As the non-product of the ink (i), among the ink (i) ejected from the print head 13a, for example, ink (i) scattered around and deviating from the information recording position, And ink (i) scattered around later.

기록 영역(S)은, 양면 접합 필름(F105)을 상기 액정 표시 패널(P)에 접합했을 때에, 이 액정 표시 패널(P)의 표시 영역(P4)과 겹쳐지는 영역보다 외측에 위치하고 있다. 또한, 기록 영역(S)은, 상기 액정 표시 패널(P)에 접합하기 전 또는 접합한 후에 절단되어 제거되는 영역이다. The recording area S is located outside the area overlapping with the display area P4 of the liquid crystal display panel P when the double-sided adhesive film F105 is bonded to the liquid crystal display panel P. [ The recording area S is an area which is cut off and removed before or after the liquid crystal display panel P is bonded.

커버(30)를 구성하는 3개의 측판부(30a, 30b, 30c) 중, 제1 측판부(30a)는, 양면 접합 필름(F105)의 표시 영역(P4)과 겹쳐지는 영역에 잉크(i)의 비산물이 부착되는 것을 방지하고 있다. 한편, 제2 측판부(30b)는, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향의 상류측에 잉크(i)의 비산물이 부착되는 것을 방지하고 있다. 한편, 제3 측판부(30c)는, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향의 하류측에 잉크(i)의 비산물이 부착되는 것을 방지하고 있다. The first side plate portion 30a out of the three side plate portions 30a, 30b and 30c constituting the cover 30 is provided with the ink i in the region overlapping the display region P4 of the double- Thereby preventing the non-product of the adhesive. On the other hand, the second side plate portion 30b prevents the non-produced ink of the ink (i) from adhering to the upstream side in the carrying direction of the both-side bonded film F105. On the other hand, the third side plate portion 30c prevents the non-produced ink of the ink (i) from adhering to the downstream side in the carrying direction of the both-side bonded film F105.

잉크(i)의 비산물은, 커버(30)의 내면에 부착된다. 따라서, 커버(30)는, 인자 헤드(13a)로부터 정기적으로 떼어내어, 세정을 행한 후, 다시 인자 헤드(13a)에 부착하여 반복해서 사용하는 것이 가능하다.The non-product of the ink (i) is attached to the inner surface of the cover (30). Therefore, the cover 30 can be removed repeatedly from the print head 13a, cleaned, and then reattached to the print head 13a for repeated use.

또한, 필름 제조 장치(100)는, 양면 접합 필름(F105)의 표면을 제전하는 정전기 제거 장치(40)를 구비한 구성으로 할 수 있다. 정전기 제거 장치(40)는, 이오나이저(ionizer)라고 불리는 것이며, 양면 접합 필름(F105)의 반송 방향에 있어서의 기록 장치(13)[인자 헤드(13a)]보다 상류측에 배치되어 있다. 그리고, 이 정전기 제거 장치(40)는, 양면 접합 필름(F105)의 폭 방향의 전역에 걸쳐 이온화된 기체를 내뿜음으로써, 양면 접합 필름(F105)의 표면에 발생한 정전기를 제거한다. The film production apparatus 100 may be provided with a static eliminator 40 for eliminating the surface of the double-sided adhesive film F105. The static eliminator 40 is called an ionizer and is disposed on the upstream side of the recording apparatus 13 (the print head 13a) in the conveying direction of the double-sided adhesive film F105. The static electricity removing device 40 removes static electricity generated on the surface of the double-sided bonded film F105 by blowing ionized gas over the entire width direction of the double-sided bonded film F105.

이에 의해, 필름 제조 장치(100)에서는, 잉크(i)의 비산물이 정전기에 의해 양면 접합 필름(F105)의 표면으로 끌어 당겨지는 것을 방지한다. 따라서, 필름 제조 장치(100)에서는, 전술한 커버(30)와 정전기 제거 장치(40)를 조합함으로써, 잉크(i)의 비산물이 양면 접합 필름(F105)의 표면에 부착되는 것을 더욱 억제하는 것이 가능하다.Thereby, in the film production apparatus 100, the inorganic matter of the ink (i) is prevented from being attracted to the surface of the double-side bonded film F105 by static electricity. Therefore, in the film production apparatus 100, by combining the cover 30 and the electrostatic eliminator 40 described above, it is possible to further suppress the deposition of the inorganic matter of the ink i on the surface of the double-side bonded film F105 It is possible.

이상과 같이, 본 실시형태에서의 결함 검사 시스템(10)에서는, 결함 정보를 양면 접합 필름(F105)에 기록할 때의 잉크(i)의 비산에 의한 양면 접합 필름(F105)의 오염을 방지하는 것이 가능하다. As described above, in the defect inspection system 10 according to the present embodiment, it is possible to prevent contamination of the double-side bonded film F105 by scattering of the ink (i) when the defect information is recorded on the double-side bonded film F105 It is possible.

한편, 본 발명은, 상기 실시형태의 것에 반드시 한정되는 것은 아니며, 본 발명의 취지를 일탈하지 않는 범위에서 여러 가지 변경을 가하는 것이 가능하다.On the other hand, the present invention is not necessarily limited to the above embodiment, and various modifications can be made within the scope of the present invention.

구체적으로, 상기 커버(30)에 대해서는, 상기 3개의 측판부(30a, 30b, 30c) 중, 적어도 제1 측판부(30a)를 배치한 구성이면 된다. 이에 의해, 양면 접합 필름(F105)의 표시 영역(P4)과 겹쳐지는 영역에 잉크(i)의 비산물이 부착되는 것을 방지할 수 있다. Specifically, as for the cover 30, at least the first side plate portion 30a among the three side plate portions 30a, 30b, and 30c may be disposed. As a result, it is possible to prevent the non-product of the ink (i) from adhering to the region overlapping the display region P4 of the double-sided adhesive film F105.

또한, 상기 커버(30)에 대해서는, 도 6에 도시된 바와 같이, 상기 3개의 측판부(30a, 30b, 30c) 외에, 양면 접합 필름(F105)의 외측에 면하는 측을 덮는 제4 측판부(30d)를 배치한 구성으로 하는 것도 가능하다.As shown in Fig. 6, in addition to the three side plate portions 30a, 30b, and 30c, the cover 30 may include a fourth side plate portion 40b that covers the side facing the outside of the double- (30d) may be disposed.

또한, 상기 기록 장치(13)에 대해서는, 예컨대 도 7a 및 도 7b에 도시된 바와 같이, 상기 인자 헤드(13a)가 가이드롤(41)에 대향하여 배치된 구성이어도 좋다. 이 경우, 인자 헤드(13a)에 부착된 커버(31)의 하단부에 대해서는, 가이드롤(41)의 외형을 따른 형상으로 한다. 이에 의해, 양면 접합 필름(F105)의 표면과의 사이의 간격(T)을 1 ㎜ 이하로 하는 것이 가능하다. As for the recording apparatus 13, for example, the print head 13a may be arranged to face the guide roll 41 as shown in Figs. 7A and 7B. In this case, the lower end of the cover 31 attached to the print head 13a has a shape conforming to the outer shape of the guide roll 41. Thereby, it is possible to make the interval T between the surface of the both-side bonded film F105 and the surface of the double-side bonded film F105 to 1 mm or less.

또한, 본 발명의 다른 실시형태로서는, 예컨대 도 8a 및 도 8b에 도시된 바와 같은 커버(32)를 이용하는 것도 가능하다. 이 커버(32)는, 평행 평판형의 판재(板材)로 이루어지며, 양면 접합 필름(F105)에 근접한 상태로 양면 접합 필름(F105)에 대향하여 배치되어 있다. 또한, 커버(32)의 기록 영역(S)에 면한 위치에는, 창부(개구부)(32a)가 형성되어 있다. 이 구성의 경우, 기록 영역(S) 이외의 영역을 커버(32)가 덮음으로써, 결함 정보를 양면 접합 필름(F105)에 기록할 때의 잉크(i)의 비산에 의한 양면 접합 필름(F105)의 오염을 방지하는 것이 가능하다. 또한, 커버(32)에는, 전술한 측판부(30a, 30b, 30c, 30d)를 설치한 구성으로 하는 것도 가능하다. 즉, 이 커버(32)가 상기 커버(30)의 바닥면을 덮는 바닥판부를 구성하는 것이어도 좋다.As another embodiment of the present invention, it is also possible to use a cover 32 as shown in Figs. 8A and 8B, for example. The cover 32 is made of a plate material in the form of a parallel flat plate and is arranged so as to be opposed to the both-side bonded film F105 in the state of being close to the both-side bonded film F105. In addition, a window portion (opening portion) 32a is formed at a position facing the recording area S of the cover 32. [ In the case of this configuration, the cover 32 covers the area other than the recording area S, whereby the double-side bonded film F105 is formed by scattering of the ink (i) when the defect information is recorded on the double-side bonded film F105. It is possible to prevent contamination. The cover 32 may be provided with the above-described side plate portions 30a, 30b, 30c, and 30d. In other words, the cover 32 may constitute a bottom plate portion that covers the bottom surface of the cover 30.

또한, 상기 기록 장치(13)는, 제2 결함 검사 장치(12)의 하류측에 배치된 구성으로 되어 있으나, 제1 결함 검사 장치(11)의 하류측에 배치하는 것도 가능하다. 이 경우, 제1 결함 검사 장치(11)에 의한 결함 검사를 행한 후에, 기록 장치(13)에 의한 결함 정보의 기록을 행하는 것이 가능하다.The recording apparatus 13 is disposed on the downstream side of the second defect inspection apparatus 12, but it may be disposed on the downstream side of the first defect inspection apparatus 11. [ In this case, it is possible to record defect information by the recording apparatus 13 after defect inspection by the first defect inspection apparatus 11 is performed.

또한, 상기 기록 장치(13)에 대해서는, 전술한 결함 검사 후에 결함 정보를 기록하는 것에 한정되는 것은 아니다. 예컨대, 장거리의 반송 라인에서는, 기록 장치를 복수 배치하고, 일정 거리마다 거리 정보의 기록을 행하며, 이 기록된 거리 정보에 기초하여 거리의 보정을 행하는 경우가 있다. 이러한 거리 정보의 기록을 행하는 기록 장치에 대해서는, 예컨대, 제1 결함 검사 장치(11)의 상류측 등에 배치되는 경우가 있다. 본 발명의 일 실시형태에서는, 이러한 거리 정보의 기록을 행하는 기록 장치에 대해서도, 이 기록 장치가 구비하는 인자 헤드에 상기 커버(30, 31, 32)와 동일한 커버를 설치하여, 기록시의 잉크의 비산에 의한 필름의 오염을 방지하는 것이 가능하다.Further, the recording apparatus 13 is not limited to recording the defect information after the above-described defect inspection. For example, in a long-distance conveyance line, a plurality of recording apparatuses are arranged, the distance information is recorded at a certain distance, and the distance is corrected based on the recorded distance information. The recording apparatus for recording the distance information may be disposed on the upstream side of the first defect inspection apparatus 11, for example. In a recording apparatus for recording such distance information, a cover similar to the cover (30, 31, 32) is provided on a print head of the recording apparatus, It is possible to prevent the film from being contaminated by scattering.

한편, 본 발명의 실시형태가 적용되는 필름에 대해서는, 전술한 편광 필름이나 위상차 필름, 휘도 향상 필름과 같은 광학 필름에 반드시 한정되는 것은 아니며, 기록 장치(13)에 의한 기록이 행해지는 필름에 대해 본 발명의 실시형태를 폭넓게 적용하는 것이 가능하다.On the other hand, the film to which the embodiment of the present invention is applied is not necessarily limited to the above-mentioned optical film such as the polarizing film, the retardation film and the brightness enhancement film, and the film to be recorded by the recording apparatus 13 It is possible to broadly apply the embodiments of the present invention.

100: 필름 제조 장치 101: 제1 반송 라인
102: 제2 반송 라인 103: 제3 반송 라인
104: 제4 반송 라인 105: 제5 반송 라인
106: 권취부 111a, 111b: 제1 닙롤
112: 제1 어큐뮬레이터 112a, 112b: 제1 댄서롤
113: 제1 가이드롤 121a, 121b: 제2 닙롤
122: 제2 어큐뮬레이터 122a, 122b: 제2 댄서롤
123a, 123b: 제2 가이드롤 131a, 131b: 제3 닙롤
141a, 141b: 제4 닙롤 142: 제3 어큐뮬레이터
142a, 142b: 제3 댄서롤 143a, 143b: 제4 가이드롤
151a, 151b: 제5 닙롤 152: 제4 어큐뮬레이터
152a, 152b: 제4 댄서롤 153a: 제5 가이드롤
153b: 제6 가이드롤 10: 결함 검사 시스템
11: 제1 결함 검사 장치 12: 제2 결함 검사 장치
13: 기록 장치 13a: 인자 헤드
14: 제1 측장기 15: 제2 측장기
16: 제어 장치 21a, 22a, 23a, 24a, 25a: 조명부
21b, 22b, 23b, 24b, 25b: 광검출부
30: 커버 30a: 제1 측판부
30b: 제2 측판부 30c: 제3 측판부
30d: 제4 측판부 31: 커버
32: 커버 32a: 창부
40: 정전기 제거 장치 P: 액정 표시 패널(광학 표시 디바이스)
F1X: 광학 필름 F10X: 광학 필름
F101: 제1 필름 F102: 제2 필름
F103: 제3 필름 F104: 편면 접합 필름
F105: 양면 접합 필름
100: Film production apparatus 101: First conveying line
102: second conveying line 103: third conveying line
104: Fourth conveying line 105: Fifth conveying line
106: winding part 111a, 111b: first nip roll
112: first accumulator 112a, 112b: first dancer roll
113: first guide rolls 121a, 121b: second nip roll
122: second accumulator 122a, 122b: second dancer roll
123a, 123b: second guide roll 131a, 131b: third nip roll
141a, 141b: fourth nip roll 142: third accumulator
142a, 142b: third dancer rolls 143a, 143b: fourth guide roll
151a, 151b: fifth nip roll 152: fourth accumulator
152a, 152b: fourth dancer roll 153a: fifth guide roll
153b: sixth guide roll 10: defect inspection system
11: first defect inspection device 12: second defect inspection device
13: Recording device 13a: Printing head
14: first lateral organ 15: second lateral organ
16: Control device 21a, 22a, 23a, 24a, 25a:
21b, 22b, 23b, 24b, and 25b:
30: cover 30a: first side plate portion
30b: second side plate portion 30c: third side plate portion
30d: fourth side plate portion 31: cover
32: cover 32a: window
40: static eliminator P: liquid crystal display panel (optical display device)
F1X: Optical film F10X: Optical film
F101: first film F102: second film
F103: Third film F104: One-side bonded film
F105: Double-sided laminated film

Claims (8)

긴 띠 형상의 필름을 반송하는 반송 라인과,
상기 반송 라인에 의해 반송되는 필름의 결함 검사를 행하는 결함 검사 장치와,
상기 결함 검사 결과에 기초한 결함 정보를 상기 반송 라인에 의해 반송되는 필름에 기록하는 기록 장치
를 포함하고, 상기 기록 장치는,
상기 필름의 단부 가장자리부를 따른 기록 영역에 잉크를 토출시킴으로써 상기 결함 정보를 인자(印字)하는 인자 헤드와,
상기 필름에 있어서의 적어도 상기 기록 영역보다 내측의 영역에 잉크가 부착되는 것을 방지하는 커버
를 포함하는 결함 검사 시스템.
A transporting line for transporting the long strip-shaped film,
A defect inspection device for defect inspection of the film conveyed by the conveyance line,
And recording the defect information based on the defect inspection result on a film conveyed by the conveyance line
The recording apparatus comprising:
A print head for printing the defect information by discharging ink to a recording area along the edge portion of the film;
A cover for preventing ink from adhering to at least an area inside the recording area of the film
And a defect inspection system.
제1항에 있어서, 상기 커버는, 상기 필름과 상기 인자 헤드가 대향하는 공간 중, 적어도 상기 필름의 내측에 면하는 측을 덮는 제1 측판부를 갖는 것인 결함 검사 시스템. The defect inspection system according to claim 1, wherein the cover has a first side plate portion that covers at least a side of the film facing the inside of the film, out of the space in which the print head and the print head are opposed. 제2항에 있어서, 상기 커버는, 상기 공간 중, 상기 필름의 반송 방향의 상류측에 면하는 측을 덮는 제2 측판부와, 상기 필름의 반송 방향의 하류측에 면하는 측을 덮는 제3 측판부를 갖는 것인 결함 검사 시스템. 3. The film processing apparatus according to claim 2, wherein the cover comprises: a second side plate portion that covers a side of the space that faces the upstream side in the transport direction of the film; and a second side plate portion that covers the side facing the downstream side of the film in the transport direction And a side plate portion. 제3항에 있어서, 상기 커버는, 상기 공간 중, 상기 필름의 외측에 면하는 측을 덮는 제4 측판부를 갖는 것인 결함 검사 시스템. The defect inspection system according to claim 3, wherein the cover has a fourth side plate portion that covers a side of the space facing the outside of the film. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 커버에 있어서의 상기 필름과 대향하는 면과, 상기 필름의 표면 사이의 간격이 1 ㎜ 이하인 것인 결함 검사 시스템. The defect inspection system according to any one of claims 1 to 4, wherein the interval between the surface of the cover facing the film and the surface of the film is 1 mm or less. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 커버는 상기 인자 헤드에 대해 착탈 가능하게 부착되는 것인 결함 검사 시스템. The defect inspection system according to any one of claims 1 to 5, wherein the cover is detachably attached to the print head. 제1항에 있어서, 상기 커버는 상기 필름에 근접한 상태로 상기 필름에 대향하여 배치됨과 아울러, 상기 기록 영역에 면한 위치에 창부를 갖는 것인 결함 검사 시스템. The defect inspection system according to claim 1, wherein the cover is disposed to face the film in a state of being close to the film, and has a window at a position facing the recording area. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 필름의 반송 방향에 있어서의 상기 기록 장치보다 상류측에 위치하여 상기 필름의 표면을 제전(除電)하는 정전기 제거 장치를 구비하는 것인 결함 검사 시스템. The electrophotographic apparatus according to any one of claims 1 to 7, further comprising a static eliminator disposed on an upstream side of the recording apparatus in the transport direction of the film to remove the surface of the film Inspection system.
KR1020157034307A 2013-06-12 2014-06-09 Defect inspection system KR20160018510A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020217010535A KR102369758B1 (en) 2013-06-12 2014-06-09 Defect inspection system

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013124040A JP6177017B2 (en) 2013-06-12 2013-06-12 Defect inspection system
JPJP-P-2013-124040 2013-06-12
PCT/JP2014/065231 WO2014199952A1 (en) 2013-06-12 2014-06-09 Defect inspection system

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020217010535A Division KR102369758B1 (en) 2013-06-12 2014-06-09 Defect inspection system

Publications (1)

Publication Number Publication Date
KR20160018510A true KR20160018510A (en) 2016-02-17

Family

ID=52022245

Family Applications (2)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020157034307A KR20160018510A (en) 2013-06-12 2014-06-09 Defect inspection system
KR1020217010535A KR102369758B1 (en) 2013-06-12 2014-06-09 Defect inspection system

Family Applications After (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020217010535A KR102369758B1 (en) 2013-06-12 2014-06-09 Defect inspection system

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JP6177017B2 (en)
KR (2) KR20160018510A (en)
CN (1) CN105247351B (en)
TW (1) TWI626439B (en)
WO (1) WO2014199952A1 (en)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180101206A (en) * 2017-03-03 2018-09-12 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 Defect inspection system, film manufacturing apparatus, film manufacturing method, printing apparatus and printing method
KR20190026602A (en) * 2017-09-05 2019-03-13 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 System for recording defect and system for manufacturing film, and method for manufacturing film

Families Citing this family (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP6641093B2 (en) * 2015-03-20 2020-02-05 住友化学株式会社 Defect inspection method for optical film and laminated optical film
JP6704230B2 (en) * 2015-09-30 2020-06-03 日東電工株式会社 Inspection method for long polarizer, inspection system, and manufacturing method
KR101748208B1 (en) * 2016-03-07 2017-06-19 동우 화인켐 주식회사 Polarizing and system and method for inspection of sheet-shaped product
JP6774803B2 (en) * 2016-07-14 2020-10-28 東京エレクトロン株式会社 Droplet ejection device and ejection inspection method
KR102469408B1 (en) * 2017-03-03 2022-11-22 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 Defect inspection system, film manufacturing apparatus, film manufacturing method, printing apparatus, and printing method
JP6934733B2 (en) * 2017-03-03 2021-09-15 住友化学株式会社 Marking equipment, defect inspection system and film manufacturing method
KR102475056B1 (en) * 2017-03-03 2022-12-06 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 Defect marking method and defect marking apparatus, web manufacturing method and the web, and sheet manufacturing method and the sheet
JP6978842B2 (en) * 2017-03-03 2021-12-08 住友化学株式会社 Marking equipment, defect inspection system and film manufacturing method
JP6991721B2 (en) * 2017-03-03 2022-01-12 住友化学株式会社 Marking equipment, defect inspection system and film manufacturing method
JP6408654B1 (en) * 2017-06-16 2018-10-17 株式会社オプトン Inspection device
CN107703152A (en) * 2017-10-27 2018-02-16 深圳精创视觉科技有限公司 The automatic indication device of optical film shortcoming
JP7044583B2 (en) 2018-02-22 2022-03-30 住友化学株式会社 Film manufacturing method, film winding device
CN108982530A (en) * 2018-05-24 2018-12-11 京东方科技集团股份有限公司 A kind of detection system of backlight coiled strip
JP2019215371A (en) * 2019-08-26 2019-12-19 住友化学株式会社 Optical film and method for inspecting defect of laminated optical film
CN112874163A (en) * 2021-01-14 2021-06-01 恒美光电股份有限公司 Optical film defect jet printing device
CN113466256B (en) * 2021-06-29 2022-04-15 深圳市楠轩光电科技有限公司 Batch type detection equipment for optical film defects
US11867639B2 (en) * 2021-09-15 2024-01-09 Te Connectivity Solutions Gmbh Method and apparatus for flattening and imaging a printed thin film product
CN113978139B (en) * 2021-11-23 2023-01-10 深圳市盛波光电科技有限公司 Film defect code spraying and spray supplementing processing method and processing system

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011007779A (en) 2009-05-26 2011-01-13 Asahi Kasei E-Materials Corp Defect marking device for film, and defect marking method

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000062166A (en) * 1998-08-18 2000-02-29 Dainippon Screen Mfg Co Ltd Writing head
JP3890430B2 (en) * 1999-08-24 2007-03-07 富士フイルム株式会社 Surface inspection method and apparatus
JP2002292853A (en) * 2001-03-29 2002-10-09 Tomoegawa Paper Co Ltd Marking system, marking method and marking apparatus
KR20050013491A (en) * 2003-07-28 2005-02-04 닛토덴코 가부시키가이샤 Inspection method and inspection system of sheet type product
TW200607828A (en) * 2004-07-30 2006-03-01 Sumitomo Chemical Co Polymer, polymer film and polymer film device using same
JP4671773B2 (en) * 2005-06-10 2011-04-20 株式会社Isowa Printing device
JP2008093849A (en) * 2006-10-06 2008-04-24 Canon Inc Droplet discharge head and droplet discharge device
JP4514059B2 (en) 2006-12-11 2010-07-28 日東電工株式会社 Inspection result recording method and inspection result recording system for sheet-like molded body
JP2009244064A (en) * 2008-03-31 2009-10-22 Sumitomo Chemical Co Ltd Inspection method of polarization film
JP2010030768A (en) * 2008-07-30 2010-02-12 Seiko Epson Corp Paper feeding device and recording device
JP2010262265A (en) * 2009-04-10 2010-11-18 Nitto Denko Corp Optical film raw roll and method for manufacturing image display apparatus by using the same
JP5598654B2 (en) * 2010-02-18 2014-10-01 セイコーエプソン株式会社 Liquid ejecting head, liquid ejecting head unit, and liquid ejecting apparatus
JP2011218712A (en) * 2010-04-13 2011-11-04 Seiko Epson Corp Ink jet printer
JP2013016398A (en) * 2011-07-05 2013-01-24 Sumitomo Chemical Co Ltd Manufacturing method of optical sheet

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011007779A (en) 2009-05-26 2011-01-13 Asahi Kasei E-Materials Corp Defect marking device for film, and defect marking method

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20180101206A (en) * 2017-03-03 2018-09-12 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 Defect inspection system, film manufacturing apparatus, film manufacturing method, printing apparatus and printing method
KR20190026602A (en) * 2017-09-05 2019-03-13 스미또모 가가꾸 가부시키가이샤 System for recording defect and system for manufacturing film, and method for manufacturing film

Also Published As

Publication number Publication date
TW201502495A (en) 2015-01-16
CN105247351B (en) 2019-12-24
JP2014240816A (en) 2014-12-25
JP6177017B2 (en) 2017-08-09
KR102369758B1 (en) 2022-03-03
WO2014199952A1 (en) 2014-12-18
CN105247351A (en) 2016-01-13
TWI626439B (en) 2018-06-11
KR20210043007A (en) 2021-04-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR102369758B1 (en) Defect inspection system
JP7086642B2 (en) Defect inspection system, film manufacturing equipment, film manufacturing method, printing equipment and printing method
JP6978963B2 (en) Defect marking method and defect marking device, raw fabric manufacturing method and raw fabric, and sheet manufacturing method and sheet
KR20160046811A (en) Defect inspection device, optical member manufacturing system, and optical display device production system
KR20160014630A (en) Defect inspection system and film production apparatus
KR102476511B1 (en) Marking apparatus, defect inspection system and film manufacturing method
KR20160045727A (en) Apparatus and method for manufacturing optical member-bonded body
KR102478804B1 (en) Marking device, defect inspection system and film manufacturing method
WO2014192334A1 (en) Defect inspection apparatus, and production system of optical display device
JP7117864B2 (en) Defect inspection system, film manufacturing device, film manufacturing method, printing device and printing method
JP6991721B2 (en) Marking equipment, defect inspection system and film manufacturing method
JP7195042B2 (en) Defect information reading method, defect information reading system and film manufacturing apparatus
JP6179886B2 (en) Defect inspection apparatus, optical display device production system, and optical sheet manufacturing system

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
AMND Amendment
E601 Decision to refuse application
X091 Application refused [patent]
AMND Amendment
X601 Decision of rejection after re-examination
J201 Request for trial against refusal decision
J301 Trial decision

Free format text: TRIAL NUMBER: 2021101000896; TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20210408

Effective date: 20210723