KR20160007616A - 인증 장치 및 방법 - Google Patents

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KR20160007616A
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로버트 레어드 스튜어트
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인노비아 필름즈 리미티드
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Abstract

본 발명은 폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치를 제공하고, 상기 장치는 필름의 복굴절 특성에 의해 영향을 받는 제 1 효과 및 필름의 다른 광학 특성에 의해 영향을 받는 제 2 효과를 측정하도록 동작하는 광학 기반 측정 어레인지먼트를 포함하고, 상기 장치는 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특정에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 다른 광학 특성에 대응하는 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 그리고 상기 비교들 중 하나 또는 둘 다에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하도록 동작한다. 또한 폴리머 필름의 진본성을 결정하는 하나 또는 그 초과의 방법들이 제공된다.

Description

인증 장치 및 방법{AUTHENTICATION APPARATUS AND METHOD}
본 발명은 인증 장치 및 방법, 특히 배타적이 아니게 폴리머 필름을 인증하기 위한 인증 장치 및 방법에 관한 것이다.
폴리머 필름들은 보안, 인증, 식별 및 위조 방지(anti-counterfeiting)가 중요한 분야들에서 기판들로서 점점 사용되고 있다. 그런 영역들에서 폴리머 기반 물건들은 예를 들어 지폐들, 중요 서류들(예를 들어, ID 자료들 이를테면 예를 들어 여권들 및 등기부등본(land title), 주식 및 최종학력 증명서들), 위조 방지 목적들을 위한 고가 상품들을 패키징하기 위한 필름들, 및 보안 카드들을 포함한다.
폴리머 기반 보안 재료들은 보안성, 기능성, 내구성, 비용 효율성, 청결성, 가공성(processability) 및 환경 고려들 측면에서 장점들을 가진다. 아마도 이들 중 가장 중요한 것은 보안 장점이다. 예를 들어 종이 기반 지폐들은 비교적 카피(copy)하기 쉽고, 종이 기반 지폐들에 비교될 때 폴리머 기반 지폐들을 사용하는 나라들에서 보다 위조들의 발생이 낮다. 폴리머 기반 지폐들은 또한 더 오래 지속되고 덜 쉽게 찢어진다.
폴리머 기반 필름들에 기초한 보안 재료들은 다양한 가시적 및 숨겨진 보안 피처들의 통합을 받아들일 수 있다. 대략 30년 전에 제 1 폴리머 지폐들의 도입 이래, 보안 피처들은 광학적으로 가변 디바이스들(OVD), 불투명화 피처들, 인쇄된 보안 피처들, 보안 스레드들, 엠보싱(embossing)들, 투명한 윈도우들 및 회절 격자들을 포함하였다. 복잡해진 보안 피처들 외에, 또한 종종 위조자들이 카핑 머신들을 사용하여 보안 재료들(예를 들어, 지폐들)을 간단히 카피하도록 시도하면 카핑 머신들에 사용된 고온들이 종종 폴리머 기반 재료의 용융 또는 왜곡을 유발한다는 보다 즉각적인 장점이 있다.
다양한 폴리머들은 보안 기판들로서 사용될 수 있다. 이들 중에는 폴리프로필렌 필름이 있다. 폴리프로필렌 필름을 제조하는 3개의 주 방법들은 스텐터(stenter) 방법, 캐스트(cast) 방법 및 버블(bubble) 방법이다.
캐스트 및 스텐터 방법들에서, 폴리머 칩들은 통상적으로 압출기에 배치되고 필름(캐스트 방법의 경우) 또는 두꺼운 폴리머 리본(스텐터 방법의 경우)을 형성하기 위하여 칠드 롤러(chilled roller) 상 슬릿 다이(slit die) 밖으로 밀려나가도록 가열된다. 그 다음 스텐터 방법에서, 두꺼운 폴리머 리본은 재가열되고 그 다음 필름을 형성하기 위하여 길이방향들("머신 방향"으로 칭해짐) 및 폭방향들("횡 방향"으로 칭해짐)으로 스트레칭된다. 일반적으로, 머신 및 횡 방향들로 스트레칭은 순차적으로 발생하고 일반적으로 비균질한데, 즉 머신 방향과 비교될 때 횡 방향으로 더 큰 정도의 스트레칭이 존재한다.
버블 방법에서, 폴리머는 비교적 두꺼운 사출체(extrudate)를 형성하기 위하여 공기가 블로운(blown)되는 중공 실린더 또는 "드레인파이프(drainpipe)" 형상의 형태로 슬릿 다이를 통해서가 아닌 환형 다이를 통해 사출된다(extrude). 환형 다이는 통상적으로 몇몇 높은 층들(예를 들어 40 내지 50 미터)과 동일한 장치의 최상부에 있다. 사출체는 하향으로 움직이고 버블을 형성하기 위해 팽창되도록 순차적으로 가열된다. 그 다음 버블은 2개의 반쪽 버블들로 잘라지고, 그 각각은 "모노웨브(monoweb)" 필름들로서 개별적으로 사용될 수 있거나 또는 대안적으로 2개의 반쪽들은 두 배 두께 필름을 형성하기 위하여 닙핑되고(nipped) 함께 라미네이트(laminate)된다(또는 버블은 두 배 두께 필름을 형성하기 위하여 접혀진다(collapsed). 통상적으로, 다이에 3개의 동심원 환형부가 있어서, 중공 실린더는 3개의 층들의 사출체이다. 예를 들어, 한 측상에 터폴리머 스킨(terpolymer skin) 층 및 다른 측 상에 터폴리머 스킨 층을 가진 폴리프로필렌의 코어 층이 있을 수 있다. 이 경우 모노웨브는 중간에 폴리프로필렌을 가진 3개의 층들로 이루어질 것이고 이중 웨브는 중간 층이 각각의 반쪽 버블의 동일한 스킨 층(터폴리머)일 것이기 때문에 5개의 층들로 이루어질 것이다. 많은 다른 가능한 어레인지먼트들 및 컴포넌트들은, 예를 들어 환형부들의 수, 스킨 층의 타입, 코어 층의 타입, 등의 측면에서 가능하다.
따라서 버블 방법은 버블을 형성함으로써 얇은 필름(예를 들어 10 내지 100 마이크론 두께)를 초래하는 반면 스텐터 방법은 편평한 프레임 상에서 재료를 스트레칭함으로써 얇은 필름을 초래한다. 버블 방법에서, 스트레칭은 머신 및 횡 방향들 둘 다에서 동시에 발생하고, 양쪽 방향들에서 스트레칭 정도는 일반적으로 동일하다. 따라서, 버블 방법은 스텐터 필름에 비해 유리한 몇몇 목적들과 상이하고 몇몇 목적들에 대해 상이한 비균질적으로 스트레치된 필름을 초래한다. 이축 지향 폴리프로필렌(BOPP) 필름은 영국 Wigton의 Innovia Films Ltd.에 의한 버블 프로세스에 의한 만들어진다. 폴리프로필렌에 더하여, 다른 폴리머들(예를 들어, LLDPE, 폴리프로필렌/부틸렌 코폴리머들)은 또한 버블 프로세스를 사용하여 얇은 필름들로서 형성될 수 있다.
보안 서류들, 아이덴티티 서류들 또는 가치 있는 서류들 및 잠재적인 인증되지 않은 사용자 또는 위조자에게 쉽게 명백하지 않고, 비록 식별되더라도 쉽게 재생될 수 없는 물품들을 위한 기판으로서 사용된 필름에 피처들을 도입하는 것이 알려져 있다. 그런 보안 피처들의 도입은 또한 입학 서류들 및 티켓들 같은 인증의 검증을 요구하는 다른 토큰들 또는 물품들에 적용 가능할 수 있다.
이전 인증 장치 및 방법들은 예를 들어 전자기 스펙트럼의 가시 구역에서 투명한 전자기 조사선에 투과성인 보안 서류 기판의 알려진 시트들을 이용한다. 불투명 잉크들을 투명 플라스틱 기판 재료의 시트들에 프린팅하고, 투명 윈도우를 남김으로써 지폐들 같은 보안 서류들을 생성하는 것이 알려져 있다. 결과적인 윈도우는 인간 눈에 뚜렷한 명시적인 보안 피처를 제공한다. 부가적인 명시적 보안 피처들을 제공하기 위하여, 회절 격자들에 의해 형성된 광학적으로 가변 디바이스들 같은 부가적인 광학 보안 피처들을 결과적인 투명 윈도우들 상에 또는 내에 프린트, 에치 또는 임베드하는 것은 알려져 있다. 이들 부가적인 광학 보안 피처들의 존재 또는 부재로부터 진본성을 결정할 수 있는 자동 인증 장치를 제공하는 것이 알려져 있지만, 그런 장치는 통상적으로 복잡하고 값비싸다.
WO 2009/133390는 폴리머 필름 내의 코어 층의 복굴절을 측정하는 것을 포함하는 폴리머 필름을 인증하는 방법을 개시한다. 도 1 내지 도 3은 WO 2009/133390에 개시된 바와 같이 복굴절을 관찰하는 상이한 방법들에 대한 장치의 컴포넌트들을 도시한다.
복굴절, 또는 이중 굴절은 2개의 상이한 편광들(s- 및 p-)을 위한 재료의 굴절율들의 차이, 및 자신의 표면 평면의 2개의 축들 사이의 차이에 의해 유발된 재료들의 특성이다.
편광된 광(예를 들어, 제 1 편광기를 통해 통과된 광으로부터 형성됨)이 제시될 때 복굴절 재료는 광을 보통 광선들(O-광선들) 및 특별 광선들(E-광선들)로 분할하고, 둘 다는 복굴절 재료를 통한 투과에 의해 지연되지만, 상이한 정도로 지연된다. 편광된 광에 관하여 90°(예를 들어, 제 1 편광기의 편광 배향에 90°)로 제 2 편광기를 통한 투과 후, 2개의 선들(즉, 보통 및 특별)은 재결합하고 서로 상쇄적으로 또는 보강적으로 간섭한다. 생성된 효과는 복굴절 재료가 최소(편광기들에 관하여 0°)로부터 최대(편광기들에 관하여 45°)로 회전됨에 따라 사인파 형태의 가변 투과를 가진다. 이것은 0°및 90°에서, 복굴절 재료가 간단히 정렬하는 이들 편광기들과 동일하게 행동하고, 45°에서, 제 2 편광 이벤트가 발생하기 때문에 발생한다. 제 1 편광기를 통하여 통과한 광은 복굴절 재료의 E-평면 및 O-평면으로부터 정확히 45°회전되고; 결과적으로, 복굴절 재료는 광을 입사하는 편광된 광으로부터 45°회전되는 O-선 및 E-선으로 분할한다. 제 2 편광기에 이를 때(이제 그 자체가 새로운 O-선 및 E-선으로부터 45°회전됨), 2개의 선들은 제 2 편광기를 통해 통과하도록 결합된다.
편광된 광은 초기 포커스된 부분 회전 단계에 의해 도움을 받으면 90°를 통해 효과적으로 회전할 수 있다. 복굴절 재료가 다른 각도들로 회전되면, 이것은 복굴절 재료에서 O-선 또는 E-선이 될 수 있는 편광된 광의 부분에 영향을 미칠 것이고 따라서 또한 제 2 편광기에 의해 궁극적으로 투과되는 광의 부분에 영향을 미칠 것이다. 상기 주의된 바와 같이, 실제로 중앙 편광기의 회전은 90°를 넘는 사인파형 강도 대 회전 각도를 가진 광을 허용한다.
O-선 및 E-선은 상이한 속도들(복굴절 재료에서 상이한 복굴절율들로 인한)에서 복굴절 재료를 통해 이동한다. 이 차이가 충분하고 복굴절 재료를 통한 경로 길이가 충분히 길면 상이한 파장들의 광의 위상이 완전히 달라질 것이다. 제 2 편광기에서 재결합시, 몇몇 컬러들은 전송된 광이 컬러화되게 파괴적으로 간섭할 것이다.
복굴절은 방정식(1)에 의해 설명된다:
Figure pct00001
(1)
Δn = 복굴절이고, nx = 특별 평면에서 굴절률이고 ny = 보통 평면에서 굴절률이다.
복굴절의 효과는 "회전" 및 재료를 통한 경로 길이 및 복굴절의 곱인 편광된 광의 간섭을 가진다.
마이클 레비 간섭 컬러 차트는 상이한 수차들의 복굴절로부터 간섭 컬러들을 정의한다. 실험자는 재료의 복굴절 및 또한 차트 상 컬러들과 투과된 광 컬러의 비교로부터 재료의 지연을 추정하기 위하여 이 차트를 사용할 수 있다. 그런 차트는 단지 참조를 위하여 도 12에 예시된다. 차트는 검정색 및 백색이고, 차트의 풀-컬러 버전은 투과 컬러들을 인식하도록 보여져야 한다.
지연 정도는 방정식(2)에 의해 설명될 수 있다:
r = dΔn (2)
여기서: r=지연(m)이고, Δn = 복굴절이고 d = 경로 길이(m)이다.
재료의 대략 일정한 두께로 인해, 경로 길이(d)는 동일하게 있는다. 그러므로 재료를 통해 통과하는 광의 측정치는 재료가 복굴절하는지 및 그러므로 재료가 다른 재료에 대조적으로 하나의 방향에서 어떻게 더 많이 배향되는지를 가리킬 것이다.
복굴절은 3개의 방식들로 투명한 폴리머 필름들에 유도된다: 결정 배향, 폴리머 체인 배향 및 결정 격자 변형.
복굴절율은 재료 밀도에 비례하고; 폴리머릭 재료들은 2개의 형태들, 즉 결정질 및 비결정질로 존재하고, 그 둘 다는 특정 폴리머 타입 내에서 알려진 비율로 존재하고 - 폴리프로필렌은 자신의 분자량 범위 및 자신의 입체 화학에 따라 35%와 50% 결정질 사이에 있을 수 있다. 버블 프로세스 동안 결정화는, 용융된 캐스트 튜브(1mm 두께)가 냉수를 사용하여 퀀치(quench)될 때 발생하고; 냉각은 빠르고 온도 기울기들은 결정화에 몇몇 방향성을 제공하는 필름의 두께에 걸쳐 발생한다. 그 다음 결정 영역들은 마무리된 폴리머 내에서 자신의 최종 형상으로 스트레칭 프로세스 동안 당겨지는 캐스트 튜브들을 통해 형성된다. 복굴절은 폴리머 내의 결정 구역들의 다양한 치수들의 길이들 및 자신의 배향의 차이들에 의해 유발되고; 버블 폴리머가 머신 및 횡 방향들 둘 다에서 똑같이 스트레치될 때, 이것은 결국 낮은 복굴절을 형성하는 것으로 평균이 될 것으로 예상되고; 그러나 결정 영역들의 편평하지 않은 분포는 1-3mm의 거리들에 걸쳐 복굴절의 변화를 유발한다.
복굴절율은 또한 재료 내의 폴리머 체인들의 배향에 의해 영향을 받고; 이것은 스트레칭 동안 머신 방향 스트레스와 횡 방향 스트레치 사이의 비율에 비례하는 전체 복굴절에 가장 큰 효과를 가진다.
마지막으로, 격자 변형은 이론적으로 복굴절의 원인이지만 폴리프로필렌 같은 연질의 낮은 용융점 재료에서 중요할 것 같지 않다.
재료의 복굴절의 결과적인 효과 그 자체는 재료를 통해 투과되는 광의 편광 각의 회전으로서 나타나고; 그 효과는 계면 상호작용을 통해 개시되고 복굴절 재료를 통해 전파되고; 관찰된 복굴절 정도는 초기 계면 상호작용(즉, 입사 각) 및 재료를 통한 추후 경로 길이의 곱이다.
상기 주의된 바와 같이, 복굴절 효과는, 필름의 두께와 복굴절율들이 2개의 축들 사이에서 상이한 정도의 곱이다. 그 효과는, 필름이 2개의 크로스된 편광기들 사이에 놓여지고 90°의 최소들(크로스된 편광기들로부터 투과시 아무런 변화도 없음과 동일함) 내지 단일 편광기를 통과하는 것과 같이 잠재적으로 많은 광이 투과되는 45°의 최대들 사이에서 회전된다면 보여질 수 있다.
필름들의 복굴절은 머신과 횡방향 사이에 생성시 배향 차에 의해 유도되고; 결과적인 필름들은 서로 90°의 2개의 축들을 가지며(이 지점들에서 복굴절은 자신의 최소 값에 있음), 어느 하나로부터의 45°는 최대이다. 릴(reel)들 및 시트(sheet)들의 필름 프로세싱 성질의 결과로서, 모든 알려진 프로세스에 의해 생성된 모든 재료는 편광기들을 포함하여 동일한 특성들을 가질 것이다.
폴리머들의 배향의 일반성으로 인해, 45°에서 복굴절의 단일 측정치는 임의의 필름 및 그 필름으로부터 임의의 인쇄된 물건의 최대 값을 결정하기에 충분하다. 편광기들 자체들은 또한 이에 따르고; 그러므로 이와 같은 디바이스의 제조시 편광기들에 대한 사양은, 편광기들이 마스터 편광기 시트로부터 45°로 잘려져야 한다는 것이다.
WO 2009/133390에 개시된 방법 및 장치는 서로 90°로 배향된 한 쌍의 스피닝(spinning) 편광기들의 사용을 수반한다. 편광기들은 동일한 속도로 회전하도록 동작하고, 장치는 편광기들 사이에 놓여진 샘플을 통하여 통과하는 광의 강도를 측정하도록 동작한다.
설계된 진짜 필름과 다른 것들 사이를 구별하기 위하여, WO 2009/1333390에 개시된 복굴절 측정 방법은 다른 타입들의 필름, 즉 설계된 위조 필름들을 사용자가 제거하게 하도록 이용될 수 있고: 스텐터 프로세스에 의해 만들어진 BOPP 필름은 머신 방향보다 횡 방향으로 더 잘 배향되고, 따라서 이중 버블 프로세스에 의해 만들어진 BOPP 필름들보다 상당히 큰 복굴절성이다. 복굴절은 이중 버블 프로세스를 사용하여 정밀하게 제어될 수 있고 다라서 필름들을 제거할 수 있는 고유 시그네이처(signature)를 제공할 수 있다.
WO 2009/133390의 방법은 필름이 있는 그대로 정교화되게 한다. 필름의 특정 고유 특성들은 개시된 방법을 사용하여 관찰되고, 임의의 추가 보안성 또는 식별 피처들을 부가할 필요가 없다. 이런 식별은 보안 목적들을 위한 인증을 허용하고 또한 필름의 오리진(origin)이 결정되게 한다.
본원에 참조된 필름들은 일반적으로 시트-형태 재료들이고, 개별 시트들, 또는 재료들로부터 시트 또는 물품을 제공하기 위하여 추후 프로세스(예를 들어 다이 커팅에 의해)될 수 있는 웨브 재료로서 제공될 수 있다. 이 명세서에서 "필름"을 참조할 때, 명시적으로 다르게 제공되지 않으면, 시트, 물품 또는 웨브 형태의 필름들을 포함하는 것으로 의도된다.
상기 설명된 바와 같이, WO 2009/133390의 방법은 버블 프로세스에 의해 만들어진 필름들을 포함하는 아이템들을 인증하기에 적당하다. 버블 프로세스는 밸런스된 배향, 잘 정의되고 균일한 두께 및 버블 프로세스에 의해 준비된 것을 가리키는 필름의 "시그네이처"를 정의하는 다른 특성들(높은 인장 강도, 낮은 신장율, 높은 광택 및 선명도, 우수한 천공 및 굴곡 균열 저항성, 오이들 및 그리스들에 대한 저항성, 우수한 불투수성)을 가진 필름들을 초래한다.
필름들(예를 들어, BOPP 필름들 및 다른 필름들) 사이를 구별하기 위하여, 필름의 전체 두께뿐 아니라 개별 층들, 예를 들어 라미네이팅 층의 두께가 측정될 수 있다. 이것은 특정 프로세스들, 예를 들어 특정 버블 프로세스에 따른 특정 특성들의 결정을 허용한다. 부가적으로, 또는 대안적으로, 필름의 고유 복굴절 시그네이처는 평가될 수 있고 필름이 특정 프로세스에 의해 만들어졌는지 그리고 따라서 예를 들어 진짜 지폐인지 위조인지를 결정하기 위하여 사용될 수 있다. 복굴절은 재료의 이방성에 따르고 버블 프로세스에 의해 만들어진 필름들은 상이한 이방성들을 가지며 따라서 다른 프로세스들에 의해 만들어진 필름들과 상이한 복굴절 특성들을 가진다. 게다가 버블 프로세스에서 사용된 정확한 조건들은 복굴절 시그네이처에 영향을 줄 것이다.
따라서 WO 2009/133390는 보안성 또는 식별 피처들을 부가하는 것을 필요로 하기보다, 특정 프로세스들, 이를테면 버블 프로세스에 의해 만들어진 필름들의 고유 특성들이 유일하고 시그네이처로서 작동하는 것을 인식한다.
실제 위조 필름은 위조자에 의해 만들어진 것보다 오히려 보다 사기 쉬울 것이다. 3개의 주 그룹들로 분할될 수 있는 몇몇 소스들이 있다:
1. 캐스트 또는 블로운 필름들 - 캐스트 필름들은 폴리머를 다이를 통해 칠드 롤러로 사출함으로써 만들어진다. 블로운 필름들은 원형 다이를 통해 폴리머를 사출하고 반 용융된 상태의 버블을 팽창함으로써 만들어진다. 캐스트 필름들 & 블로운 필름들은 통상적으로 배향되지 않거나 약간 배향되고 따라서 더 낮은 치수 안정성(즉, 필름들은 쉽게 스트레치될 수 있음), 더 빈약한 옵틱(optic)들 및 두께 제어를 가진다.
2. 모노 배향 필름들 - 모노 배향 필름들은 다이를 통해 사출하고 머신 방향으로 스트레칭함으로써 만들어진다. 모노 배향 필름들은 심하게 배향되고; 필름들은 더 빈약한 옵틱들 및 빈약한 횡 방향 치수 안정성을 가진다.
3. 이축 배향 필름들 - 이축 배향 필름들은 Innovia Films Limited 및 다수의 다른 공급자들로부터 상업적으로 이용 가능하다. 많은 공급자들로부터의 BOPP의 상업적 등급들은 일반적으로 스텐터 프로세스에 의해 만들어지고 여기서 PP는 슬롯 다이를 통해 칠 롤러로 사출되고, 가열된 롤러들을 거쳐 머신 방향으로 스트레치되고 텐터(tneter) 프레임에서 횡 방향으로 스트레치된다. 이들 필름들은 모든 방향들로 균등하게 배향된 스트레치인 이중 버블 프로세스에 의해 만들어진 BOPP와 달리 성질적으로 이방성이다.
WO 2009/133390의 방법 및 장치가 만족스럽고 특정 동작 조건들에 대해 계속 만족스럽게 될 것이 믿어지지만, 출원자는 특정 애플리케이션들 및/또는 환경들에서 방법 및 장치의 사용 및 잠재적으로 다른 프로세스들에 의해 제조된 필름 타입들(예를 들어, 스텐터 프로세스에 의해 형성된 진짜 필름들)의 진본성을 가리키는데 사용하도록 허용하기 위해 동작 조건들의 범위를 증가시키는 바람직하다는 것을 인식하였다. 출원자는 또한 유사한 측정 가능 특성들을 가진 상이한 필름 타입들 사이를 구별하고, 장치에서 오정렬된 필름들을 고려하기 위한 능력을 증가시키는 것이 바람직하다는 것을 인식하였다. 출원자는 또한 BOPP 버블 프로세스 필름들에 대해 부정 오류들의 기회들을 억제하기 위해 진본 필름들의 품질의 변화들을 고려하는 것이 바람직하다는 것을 인식하였고 여기서 이들 필름들의 제조 프로세스는 (또는 정말로 제조된 프로세스에 무관하게 임의의 다른 타입의 설계된 진짜 필름에 대해) 빈약하게 제어된다.
본 발명은 상기 고려들을 염두에 두고 고안되었다.
본 발명의 양상에 따라, 폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치가 제공되고, 상기 인증 장치는 필름의 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 제 1 효과 및 필름의 다른 광학 특성에 의해 영향을 받은 제 2 효과를 측정하도록 동작하는 광학 기반 측정 어레인지먼트를 포함하고, 그리고 상기 장치는 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 다른 광학 특성에 대응하는 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 그리고 비교들 중 하나 또는 둘 다에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하도록 동작한다.
본 발명은 필름이 있는 그대로 정교화되게 한다. 필름의 특정 고유 특성들은 본 발명에서 관찰되고 임의의 추가 보안성 또는 식별 피처들을 부가할 필요가 없다. 이런 식별은 보안 목적들을 위해 인증을 허용하고 또한 필름의 오리진이 결정되게 한다.
부가적으로, 본 발명의 장치는 비교적 낮은 레벨들의 복굴절을 나타내는 필름들의 진본성을 결정하기에 적당할 수 있다. 정말로, 예를 들어 BOPP 필름 같은 높게 배향된 필름들이 비교적 낮은 레벨의 복굴절(아마도 몇몇 경우들에서 제로)을 가지기 때문에, 편광기들이 크로스된 구성인 장치를 사용한 이 특성의 임의의 "측정"은 배경 잡음으로부터 구별 불가능할 수 있는 결과를 제공할 수 있다. 몇몇 다른 특성에 의해 영향을 받은 몇몇 다른 효과를 측정할 수 있는 장치를 사용하여 취해진 측정은, 필름이 진짜인지 아닌지 표시를 여전히 제공할 수 있다.
추가로, 본 발명의 장치는 또한 폴리머 필름 기판을 가진 지폐들의 진본성을 결정하기에 적당할 수 있고 여기서 진본성 측정들은 지폐의 "윈도우" 구역, 즉 필름 기판이 노출된 지폐의 구역(예를 들어, 구역을 오버레이하는 프린트가 없거나 구역을 오버레이하는 명시적 보안 피처들이 없음)에서 수행된다. 인식될 바와 같이, 지폐들은 시간에 따라 훼손되고 지폐의 훼손의 일 양상은 그 자체가 지폐의 윈도우 구역에 대한 손상으로서 나타날 수 있다. 그런 손상은 예를 들어 윈도우 표면에 대한 스크래치(scratch)들 및/또는 윈도우 표면에 전달되는 기름 물질들을 포함할 수 있고, 그 둘 다는 윈도우가 흐릿한 외관을 가지게 할 수 있다. 이들 "손상" 형태들은 지폐의 윈도우 구역을 통한 광의 투과를 효과적으로 물리적으로 차단(또는 부분적으로 차단)할 수 있다. 이것은 인증 프로세스 동안 취해진 복굴절 측정들에 영향을 미칠 수 있다. 그러나, 그런 복굴절 측정들이 몇몇 다른 특성에 의해 영향을 받은 몇몇 다른 효과의 측정에 의해 보완되거나 다른 효과의 측정이 복굴절 측정 대신 수행되면, 진본성 표시는 여전히 가능할 수 있다.
선택적으로, 장치는 버블 프로세스에 의해 만들어진 필름들과 상이한 프로세스에 의해 만들어진 필름들 사이를 구별하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 광학 기반 측정 어레인지먼트는 전자기 조사선으로 장치의 측정 구역에 위치된 필름의 제 1 측을 조명하도록 위치되어 동작하는 방사기; 제 1 방사기에 의해 방사된 전자기 조사선의 적어도 일부가 통하여 통과하도록 제 1 방사기와 필름의 제 1 측 사이에 위치된 제 1 편광기; 필름의 제 2 측에 위치되고, 필름을 통해 투과되는 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 동작하는 제 1 검출기; 필름을 통해 투과된 전자기 조사선의 적어도 일부가 통하여 통과하도록 필름의 제 2 측 및 제 1 검출기 사이에 위치된 제 2 편광기를 포함할 수 있고, 여기서 제 2 편광기는 제 1 편광기의 방향에 횡방향인 제 1 방향 및 제 1 편광기의 방향과 동일한 제 2 방향 중 하나에서 편광을 이루기 위하여 제어 가능하게 배향할 수 있고; 제 1 검출기는 제 2 편광기가 제 1 편광기의 방향에 횡방향인 제 1 방향에서 편광을 이루기 위하여 배향될 때 필름의 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 제 1 효과를 측정하고 그리고 제 2 편광기가 제 1 편광기의 방향과 동일한 제 2 방향에서 편광을 이루기 위하여 배향될 때 필름의 다른 광학 특성에 의해 영향을 받은 제 2 효과를 측정하도록 동작한다.
선택적으로, 제 1 검출기는 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 제 1 신호를 출력하고 측정된 바와 같은 제 2 효과를 나타내는 제 2 신호를 출력하도록 동작할 수 있다. 추가로 선택적으로, 제 1 검출기에 의해 출력된 제 1 및 제 2 출력 신호들은 수신된 투과된 전자기 조사선의 강도에 비례할 수 있다.
선택적으로, 제 1 검출기는 제 1 출력 신호의 값을 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 그리고 제 2 출력 신호의 값을 미리 결정된 필름 투과율에 대응하는 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하도록 동작하는 프로세서에 제 1 및 제 2 출력 신호들을 통신하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 제 1 출력 신호 값, 또는 값들의 범위는 배경 조건들에 의해 영향을 받은 효과를 나타내는 제 1 출력 신호 값, 또는 값들의 범위로부터 구별 불가능한 레벨을 가질 수 있고, 프로세서는 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 제 2 출력 신호의 값, 또는 값들의 범위의 비교에 기초하여 진본성 신호를 출력하도록 동작한다.
즉, 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 제 1 출력 신호의 값의 프로세서에 의한 비교가 프로세서에 의한 결론을 내리지 못하는 진본성 결정을 유발하면(제 1 출력 신호 값이 예를 들어 매우 낮거나, 배경 잡음으로부터 구별 불가능하기 때문에), 프로세서는 특정 제 2 효과(예를 들어, 미리 결정된 필름 투과율)을 나타내는 값 또는 값들의 범위와 제 2 출력 신호의 값의 비교에 기초하여 진본성 결정 표시를 제공하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 값 또는 값들의 범위는 진본 필름이 측정 구역에 위치되면 제 2 편광기가 개별적으로 제 1 방향 및 제 2 방향으로 편광을 이루기 위하여 배향될 때, 필름의 제 2 측으로부터 투과되고 제 1 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 1 검출기 출력 신호 값을 포함할 수 있다.
선택적으로, 프로세서는 제 1 출력 신호의 값과 제 2 출력 신호의 값 사이의 차이 값을 계산하고; 차이 값을 반분함으로써 수정된 차이 값을 계산하고; 제 2 출력 신호 값으로부터 수정된 차이 값을 감산함으로써 복굴절 대표 값을 계산하고; 복굴절 대표 값을 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위에 비교하고; 그리고 비교에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하도록 추가로 동작할 수 있다.
선택적으로, 광학 기반 측정 어레인지먼트는 필름 평면에 비수직 각도를 포함하는 제 1 각도, 및 제 2 각도; 및 제 3 각도 중 적어도 하나로부터 제 1 효과를 측정하도록 추가로 동작하고; 그리고 상기 장치는 제 1 각도로부터 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 제 1 각도에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 제 2 및 제 3 각도들 중 적어도 하나로부터 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위를 개별 제 2 및/또는 제 3 각도들에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 그리고 추가 비교들에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하도록 추가로 동작할 수 있다.
선택적으로, 제 2 각도는 필름의 평면에 비수직 각도를 포함할 수 있고 제 3 각도는 필름의 평면에 수직 각도를 포함할 수 있다.
선택적으로, 제 1 검출기는 필름을 통하여 투과되고 제 1 각도 및 제 2 및 제 3 각도들 중 적어도 하나에서 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하고 제 1 각도 및 제 2 및 제 3 각도들 중 적어도 하나에서 필름의 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하도록 추가로 동작할 수 있다.
선택적으로, 제 1 검출기는 필름을 통해 투과되고 제 1 각도로 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 제 1 포지션 위치에 대해 필름의 제 2 측에 관하여 움직일 수 있고, 필름을 통해 투과되고 개별 제 2 및/또는 제 3 각도들에서 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 제 2 및/또는 제 3 포지션에 관하여 추가로 움직일 수 있다.
선택적으로, 장치는 필름의 제 2 측 상에 위치되고, 그리고 필름을 통해 투과되고 제 2 각도로 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 동작하는 제 2 검출기; 및/또는 필름의 제 2 측 상에 위치되고, 필름을 통해 투과되고 제 3 각도로 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 동작하는 제 3 검출기를 더 포함할 수 있고; 제 2 검출기는 제 2 각도로 필름의 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하도록 동작하고; 및/또는 제 3 검출기는 제 3 각도로 필름의 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하도록 동작한다.
선택적으로, 제 1 각도는 (ⅰ) 필름에 관하여 벡터 [101]에 의해 설명된 것; 및 (ⅱ) 필름에 관하여 벡터 [111]에 의해 설명된 것 중 하나를 포함할 수 있다. 추가로 선택적으로, 제 2 각도는 (ⅰ) 필름에 관하여 벡터 [101]에 의해 설명된 것; 및 (ⅱ) 필름에 관하여 벡터 [111]에 의해 설명된 것 중 다른 하나를 포함할 수 있다.
선택적으로, 제 1 검출기는 제 1 각도로부터 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 출력 신호의 값을 제 1 각도에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위와 비교하도록 동작하는 프로세서에 출력 신호를 통신하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 값 또는 값들의 범위는 진본 필름이 측정 구역에 위치되면 제 1 각도로 필름의 제 2 측으로부터 투과되고 제 1 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 1 검출기 출력 신호 값을 포함할 수 있다.
선택적으로, 제 2 검출기 및/또는 제 3 검출기에 의해 출력된 출력 신호는 수신된 투과된 전자기 조사선의 강도에 비례할 수 있다.
선택적으로, 제 2 검출기는 제 2 각도로부터 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 출력 신호의 값을 제 2 각도에 대한 진본 필름 폴리머의 개별 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위와 비교하도록 동작하는 프로세서에 출력 신호를 통신하도록 동작할 수 있고 ; 및/또는 제 3 검출기는 제 3 각도로부터 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 출력 신호의 값을 제 3 각도에 대해 진본 폴리머 필름의 개별 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위와 비교하도록 동작하는 프로세서에 출력 신호를 통신하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 값 또는 값들의 범위는 제 2 편광기가 제 1 방향으로 편광을 이루기 위하여 배향될 때 그리고 진본 필름이 측정 구역에 위치되면 필름의 제 2 측으로부터 투과되고 제 2 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 2 검출기 출력 신호 값을 포함할 수 있고; 및/또는 값 또는 값들의 범위는 제 2 편광기가 제 1 방향으로 편광을 이루기 위하여 배향될 때 그리고 진본 필름이 측정 구역에 위치되면 필름의 제 2 측으로부터 투과되고 제 3 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 3 검출기 출력 신호 값을 포함할 수 있다.
선택적으로, 광학 기반 측정 어레인지먼트는 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에 걸쳐 필름의 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 제 3 효과를 측정하도록 추가로 동작할 수 있고, 그리고 장치는 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를, 전자기 스펙트럼의 적어도 일부와 동일한 스펙트럼에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 3 효과를 나타내는 개별 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 그리고 비교에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하도록 동작한다.
선택적으로, 제 3 효과의 측정은 단색성 측정(예를 들어, 특정 컬러의 조명 광이 사용된 컬러 측정)을 포함할 수 있다.
선택적으로, 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 전자기 스펙트럼의 적어도 일부로부터의 전자기 조사선을 선택적으로 검출하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 자신의 검출 범위를 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에 대응하게 변경하도록 제어 가능할 수 있다.
선택적으로, 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 전자기 스펙트럼의 적어도 일부로부터의 전자기 조사선을 검출하기 위해 미리 선택될 수 있다.
선택적으로, 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 적어도 2개의 서브-검출기들의 어레이를 포함할 수 있고, 적어도 2개의 서브-검출기들 중 제 1 서브-검출기는 전자기 스펙트럼의 제 1 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 동작하고, 적어도 2개의 서브-검출기들 중 제 2 서브-검출기는 전자기 스펙트럼의 제 2 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 동작한다.
선택적으로, 제 1 서브-검출기는 자신의 검출 범위를 전자기 스펙트럼의 제 1 부분에 대응하게 변경하도록 제어 가능할 수 있고, 제 2 서브-검출기들은 자신의 검출 범위를 전자기 스펙트럼의 제 2 부분에 대응하게 변경하도록 제어 가능할 수 있다.
선택적으로, 제 1 서브-검출기는 전자기 스펙트럼의 제 1 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 미리 선택될 수 있고 제 2 서브-검출기는 전자기 스펙트럼의 제 2 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 미리 선택될 수 있다.
선택적으로, 장치는 전자기 스펙트럼의 적어도 다른 부분을 마스크(mask)하고 그리고 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들에 의한 수신을 위하여 전자기 스펙트럼의 적어도 일부를 투과하도록 배열된 적어도 하나의 필터를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방사기, 또는 선택적으로 방사기들은 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에서 전자기 조사선을 방사하도록 제어 가능할 수 있다.
선택적으로, 방사기, 또는 선택적으로 방사기들은 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에서의 전자기 조사선을 방사하도록 미리 선택될 수 있다.
선택적으로, 방사기, 또는 선택적으로 방사기들은 백색 광을 방사하도록 제 1 모드에서 그리고 컬러화된 광을 방사하도록 제 2 모드에서 동작할 수 있다.
선택적으로, 장치는 백색 광을 방사하도록 제 1 방사기를 제어하기 위한 제 1 모드 및 컬러화된 광을 방사하도록 제 2 방사기를 제어하기 위한 제 2 모드에서 동작할 수 있다.
선택적으로, 제 1 모드에서 장치는 테스트 하의 폴리머 필름이 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들의 출력 신호에 기초하여 제 1 진짜 타입 또는 적어도 제 2 진짜 타입의 폴리머 필름을 포함하는지를 가리키도록 동작할 수 있고, 그리고 추가로 테스트 하의 폴리머가 제 1 진짜 타입과 다른 타입을 가지는 것을 가리키는 출력 신호에 응답하여, 장치는 제 2 모드를 구현하고 그리고 테스트 하의 폴리머 필름이 제 1 및 제 2 모드들 둘 다에서 제 1 검출기의 출력 신호들, 및/또는 선택적으로 제 1 및 제 2 모드들 둘 다에서 제 2 및/또는 제 3 검출기들의 출력 신호들에 기초하여 적어도 제 2 진짜 타입의 폴리머 필름을 포함할 수 있는지 또는 그렇지 않은지를 가리키도록 동작한다.
선택적으로, 제 1 모드에서 장치는 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 제 1 진짜 타입의 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 3 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 그리고 비교에 기초하여 제 1 진짜 타입을 포함하는 필름인지 아닌지를 가리키는 분류 신호를 출력하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 장치는, 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값이 대응하는 제 1 진짜 타입의 필름에 대한 특정 제 1 효과에 대한 상한을 나타내는 제 1 모드 제 1 임계값보다 작으면 제 1 진짜 타입을 포함하는 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 장치는, 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값이 제 1 모드 제 1 임계값보다 높고 제 1 모드 제 2 임계값과 제 1 모드 제 3 임계값 사이의 값들의 범위 외측이면 진짜가 아닌 타입을 포함하는 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 장치는, 제 1 모드에서 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값이 제 1 모드 제 2 임계값과 제 1 모드 제 3 임계값 사이에 있다면 제 2 모드를 구현하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 장치는, 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값이 제 2 모드 제 1 임계값과 제 2 모드 제 2 임계값 사이의 값들의 범위 내에 있다면 제 2 진짜 타입을 포함하는 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하도록 동작할 수 있고, 상기 값들의 범위는 제 2 진짜 타입의 필름에 대한 특정 제 3 효과를 나타낸다.
선택적으로, 장치는 필름의 복굴절 패턴을 이미징하기 위한 광학 기반 복굴절 이미징 어레인지먼트를 더 포함할 수 있고, 그리고 장치는 진본 폴리머 필름의 복굴절 패턴을 나타내는 개별 이미지와 복굴절 패턴의 이미지를 비교하고; 그리고 비교에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하도록 동작한다.
선택적으로, 광학 기반 복굴절 이미징 어레인지먼트는 전자기 조사선으로 장치의 측정 구역에 위치된 필름의 제 1 측을 조명하도록 위치 및 동작하는 방사기; 제 1 방사기에 의해 방사된 전자기 조사선의 적어도 일부가 통과하도록 필름의 제 1 측과 제 1 방사기 사이에 위치된 제 1 편광기; 필름의 제 2 측 상에 위치되고, 그리고 필름을 통해 투과되고 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 동작하는 이미징 디바이스; 필름을 통해 투과된 전자기 조사선의 적어도 일부가 통과하도록 필름의 제 2 측과 이미징 디바이스 사이에 위치된 제 2 편광기를 포함할 수 있고, 이미징 디바이스는 필름의 제 2 측으로부터 투과되고 이미징 디바이스에서 수신된 전자기 조사선에 기초하여 이미지된 복굴절 패턴을 나타내는 데이터를 출력하도록 동작한다.
선택적으로, 이미징 디바이스는 출력 데이터를 미리 결정된 복굴절 패턴을 나타내는 데이터 세트와 비교하도록 동작하는 프로세서에 이미지된 복굴절 패턴을 나타내는 데이터를 출력하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 방사기; 제 1 편광기; 및 제 2 편광기 중 적어도 하나는 광학 기반 측정 어레인지먼트의 것들과 공통이다.
선택적으로, 방사기는 백색 광 소스를 포함할 수 있다.
추가로 선택적으로, 이미징 디바이스는 광감지 어레이를 포함할 수 있다.
선택적으로, 장치는 미리 결정된 양의 오프셋을 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위에 도입하도록 제 1 효과를 수정하기 위해 배열된 광학 응답 수정기를 더 포함할 수 있고, 광학 기반 복굴절 측정 어레인지먼트는 수정된 바와 같은 제 1 효과를 측정하도록 동작한다.
선택적으로, 광학 응답 수정기는 방사기와 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들 사이에서 전자기 조사선의 빔 경로에 위치될 수 있고, 추가로 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 측정된 바와 같은 제 1 효과를 측정하도록 동작한다.
선택적으로, 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 수정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 수정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 출력 신호의 값을 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하고 동일한 광학 응답 수정기에 의해 수정된 바와 같은 특정 제 1 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위와 비교하도록 동작하는 프로세서에 출력 신호를 통신하도록 동작할 수 있다.
선택적으로, 장치는 아이템의 기판의 적어도 일부를 형성하는 폴리머 필름을 포함하는 아이템을 수용하도록 동작할 수 있다.
본 발명의 다른 양상에 따라, 상기 설명된 피처들 중 임의의 하나 또는 그 초과를 포함하는 장치를 포함하는 지폐 인증 장치가 제공되고, 장치는 지폐의 기판의 적어도 일부를 형성하는 폴리머 필름을 포함하는 지폐의 진본성을 결정하도록 동작할 수 있다.
상기 설명된 바와 같은 피처들 중 임의의 하나 또는 그 초과를 포함하는 장치는 폴리머필름의 진본성을 결정하기 위하여 사용될 수 있다.
본 발명의 다른 양상에 따라, 폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법이 제공되고, 방법은 필름의 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 제 1 효과 및 필름의 다른 광학 특성에 의해 영향을 받은 제 2 효과를 측정하는 단계; 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 다른 광학 특성에 대응하는 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 및 비교들 중 하나 또는 둘 다에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하는 단계를 포함한다.
선택적으로, 방법은, 폴리머 필름이 버블 프로세스에 의해 만들어지는지 상이한 프로세스에 의해 만들어지는지를 가리키는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 제 1 방사기에 의해 방사된 전자기 복사선의 적어도 일부가 통하여 통과하도록 제 1 방사기와 필름의 제 1 측 사이에 위치된 제 1 편광기에 의해 편광된 전자기 조사선으로 장치의 측정 구역에 위치된 필름의 제 1 측을 조명하는 단계; 필름의 제 2 측에 위치된 제 1 검출기에서, 필름을 통해 투과된 전자기 조사선의 적어도 일부가 제 2 편광기를 통해 통과하도록 필름을 통해 투과되고 필름의 제 2 측과 제 1 검출기 사이에 위치된 제 2 편광기에 의해 편광된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하는 단계, 제 1 편광기의 방향에 횡방향인 제 1 방향; 및 제 1 편광기의 방향과 동일한 제 2 방향 중 하나에서 편광을 이루기 위하여 제 2 편광기를 배향하는 단계; 제 2 편광기가 제 1 편광기의 방향에 횡방향인 제 1 방향에서 편광을 이루기 위하여 배향될 때 필름의 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 제 1 효과를 측정하고 제 2 편광기가 제 1 편광기의 방향과 동일한 제 2 방향으로 편광을 이루기 위하여 배향될 때 필름의 다른 광학 특성에 의해 영향을 받은 제 2 효과를 측정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 제 1 신호 및 측정된 바와 같은 제 2 효과를 나타내는 제 2 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다. 추가로 선택적으로, 제 1 및 제 2 출력 신호들은 수신된 투과된 전자기 조사선의 강도에 비례할 수 있다.
선택적으로, 방법은 제 1 및 제 2 출력 신호들을 프로세서에 통신하는 단계; 제 1 출력 신호의 값을 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 및 제 2 출력 신호의 값을 미리 결정된 필름 투과율에 대응하는 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 제 1 출력 신호 값, 또는 값들의 범위가 배경 조건들에 의해 영향을 받은 효과를 나타내는 제 1 출력 신호 값, 또는 값들의 범위로부터 구별 불가능할 수 있는 레벨을 가지면, 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 제 2 출력 신호의 값, 또는 값들의 범위의 비교에 기초하여 진본성 신호를 출력한다.
선택적으로, 값 또는 값들의 범위는, 진본 필름이 측정 구역에 위치되면 제 2 편광기가 각각 제 1 방향 및 제 2 방향에서 편광을 이루기 위하여 배향될 때, 필름의 제 2 측으로부터 투과되고 제 1 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 1 검출기 출력 신호 값을 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 제 1 출력 신호의 값과 제 2 출력 신호의 값 사이의 차이 값을 계산하는 단계; 차이 값을 반분함으로써 수정된 차이 값을 계산하는 단계; 제 2 출력 신호 값으로부터 수정된 차이 값을 감산함으로써 복굴절 대표 값을 계산하는 단계; 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위에 복굴절 대표 값을 비교하는 단계; 및 비교에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로 방법은 상기 필름의 평면에 비수직 각을 포함하는 제 1 각도, 및 제 2 각도; 및 제 3 각도 중 적어도 하나로부터 제 1 효과를 측정하는 단계; 상기 제 1 각도로부터 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 상기 제 1 각도에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 상기 제 2 및 제 3 각도들 중 적어도 하나로부터 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 개별 제 2 및/또는 제 3 각도들에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 그리고 추가 비교들에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 제 2 각도는 필름의 평면에 비수직 각도를 포함할 수 있고 제 3 각도는 필름의 평면에 수직 각을 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 필름을 통해 투과되고 제 1 각도 및 제 2 및 제 3 각도들 중 적어도 하나에서 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하는 단계 및 제 1 각도 및 제 2 및 제 3 각도들 중 적어도 하나에서 필름의 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 필름을 통해 투과되고 제 1 각도에서 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 제 1 포지션에 제 1 검출기를 위치시키는 단계, 및 필름을 통해 투과되고 개별 제 2 및/또는 제 3 각도들에서 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하기 위하여 제 1 검출기를 제 2 및/또는 제 3 포지션으로 움직이는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 필름을 통해 투과되고 제 2 각도에서 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하기 위한 제 2 검출기를 필름의 제 2 측 상에 제공하는 단계; 및/또는 필름을 통해 투과되고 제 3 각도에서 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하기 위한 제 3 검출기를 필름의 제 2 측 상에 제공하는 단계; 및 제 2 검출기로부터, 제 2 각도에서 필름의 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하는 단계; 및/또는 제 3 검출기로부터, 제 3 각도에서 필름의 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 제 1 각도는 (ⅰ) 필름에 관하여 벡터 [101]에 의해 설명되고; 그리고 (ⅱ) 필름에 관하여 벡터 [111]에 의해 설명된 것 중 하나를 포함할 수 있다. 추가로 선택적으로, 제 2 각도는 (ⅰ) 필름에 관하여 벡터 [101]에 의해 설명되고; 그리고 (ⅱ) 필름에 관하여 벡터 [111]에 의해 설명된 것 중 다른 하나를 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 출력 신호를 프로세서에 통신하는 단계; 제 1 각도로부터 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 출력 신호의 값을 제 1 각도에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위와 비교하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 값 또는 값들의 범위는 진본 필름이 측정 구역에 위치되면 제 1 각도에서 필름의 제 2 측으로부터 투과되고 제 1 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 1 검출기 출력 신호 값을 포함할 수 있다.
선택적으로, 제 2 검출기 및/또는 제 3 검출기에 의해 출력된 출력 신호는 수신된 투과된 전자기 조사선의 강도에 비례할 수 있다.
선택적으로, 방법은 제 2 검출기로부터 프로세서로 출력 신호를 통신하는 단계; 제 2 각도로부터 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 출력 신호의 값을 제 2 각도에 대한 진본 필름 폴리머의 개별 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 및/또는 제 3 검출기로부터 프로세서로 출력 신호를 통신하는 단계; 제 3 각도로부터 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 출력 신호의 값을 제 3 각도에 대한 진본 폴리머 필름의 개별 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위와 비교하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로: 값 또는 값들의 범위는, 제 2 편광기가 제 1 방향에서 편광을 이루기 위하여 배향되고 그리고 진본 필름이 측정 구역에 위치되면 필름의 제 2 측으로부터 투과되고 제 2 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 2 검출기 출력 신호 값을 포함할 수 있고; 및/또는 값 또는 값들의 범위는 제 2 편광기가 제 1 방향으로 편광을 이루기 위하여 배향될 때 그리고 진본 필름이 측정 구역에 위치되면 필름의 제 2 측으로부터 투과되고 제 3 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 3 검출기 출력 신호 값을 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에 걸쳐 필름의 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 제 3 효과를 측정하는 단계; 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 전자기 스펙트럼의 동일한 적어도 일부에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 3 효과를 나타내는 개별 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 및 비교에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 제 3 효과의 측정은 단색성 측정을 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 전자기 스펙트럼의 적어도 일부로부터의 전자기 조사선을 선택적으로 검출하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에 대응하도록 자신의 검출 범위를 변경하도록 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 제어하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 전자기 스펙트럼의 적어도 일부로부터 전자기 복사선을 검출하기 위하여 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들을 미리 선택하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들로서 적어도 2개의 서브-검출기들의 어레이를 제공하는 단계; 및 적어도 2개의 서브-검출기들 중 제 1 서브-검출기에서, 전자기 스펙트럼의 제 1 부분으로부터의 전자기 복사선을 검출하는 단계; 적어도 2개의 서브-검출기들 중 제 2 서브-검출기에서, 전자기 스펙트럼의 제 2 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 전자기 스펙트럼의 제 1 부분에 대응하도록 자신의 검출 범위를 변경하도록 제 1 서브-검출기를 제어하는 단계, 및 전자기 스펙트럼의 제 2 부분에 대응하도록 자신의 검출 범위를 변경하도록 제 2 서브-검출기를 제어하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 전자기 스펙트럼의 제 1 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 제 1 서브-검출기 및 전자기 스펙트럼의 제 2 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 제 2 서브-검출기를 미리 선택하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들에 의해 수신을 위해 전자기 스펙트럼의 적어도 일부를 투과하도록 전자기 스펙트럼의 적어도 다른 부분을 마스킹하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 전자기 스펙트럼의 적어도 일부의 전자기 조사선을 방사하도록 방사기, 또는 선택적으로 방사기들을 제어하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에서 전자기 조사선을 방사하도록 방사기, 또는 선택적으로 방사기들을 미리 선택하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 백색 광을 방사하기 위한 제 1 모드 및 컬러화된 광을 방사하기 위한 제 2 모드에서 방사기, 또는 선택적으로 방사기들을 동작시키는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 백색광을 방사하기 위한 제 1 모드에서 제 1 방사기를 제어하는 단계; 및 컬러화된 광을 방사하기 위한 제 2 모드에서 제 2 방사기를 제어하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은, 제 1 모드에서, 테스트 하의 폴리머 필름이 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들의 출력 신호에 기초하여 제 1 진짜 타입 또는 적어도 제 2 진짜 타입의 폴리머 필름을 포함하는지를 가리키는 단계를 포함할 수 있고, 그리고 추가로 테스트 하의 폴리머가 제 1 진짜 타입과 다른 타입을 가지는 것을 가리키는 출력 신호에 응답하여, 방법은 제 2 모드를 구현하는 단계 및 테스트 하의 폴리머 필름이 제 1 및 제 2 모드들 둘 다에서 제 1 검출기의 출력 신호들, 및/또는 선택적으로 제 1 및 제 2 모드들 둘 다에서 제 2 및/또는 제 3 검출기들의 출력 신호들에 기초하여 적어도 제 2 진짜 타입의 폴리머 필름을 포함할 수 있는지 또는 그렇지 않은지를 가리키는 단계를 포함한다.
선택적으로, 제 1 모드에서 방법은 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 제 1 진짜 타입의 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 3 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 그리고 비교에 기초하여 제 1 진짜 타입을 포함하는 필름인지 아닌지를 가리키는 분류 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은, 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값이 제 1 진짜 타입의 필름에 대한 특정 제 1 효과에 대한 상한을 나타내는 제 1 모드 제 1 임계값보다 작으면 제 1 진짜 타입을 포함하는 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은, 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값이 제 1 모드 제 1 임계값보다 높고 제 1 모드 제 2 임계값과 제 1 모드 제 3 임계값 사이의 값들의 범위 외측이면 진짜가 아닌 타입을 포함하는 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은, 제 1 모드에서 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값이 제 1 모드 제 2 임계값과 제 1 모드 제 3 임계값 사이에 있다면 제 2 모드를 구현하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은, 측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값이 제 2 모드 제 1 임계값과 제 2 모드 제 2 임계값 사이의 값들의 범위 내에 있다면 제 2 진짜 타입을 포함하는 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있고, 상기 값들의 범위는 제 2 진짜 타입의 필름에 대한 특정 제 3 효과를 나타낸다.
선택적으로, 방법은 필름의 복굴절 패턴을 이미징하는 단계; 복굴절 패턴의 이미지를 진본 폴리머 필름의 복굴절 패턴을 나타내는 개별 이미지와 비교하는 단계; 및 비교에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 이미징 디바이스로부터, 이미지된 복굴절 패턴을 나타내는 데이터를 프로세서에 출력하는 단계 및 출력 데이터를 미리 결정된 복굴절 패턴을 나타내는 데이터-세트와 비교하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 백색 광 소스를 포함하는 방사기를 사용하여 필름을 조명하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 이미징 단계를 구현하기 위하여 광감지 어레이를 제공하는 단계를 더 포함할 수 있다.
선택적으로, 방법은 미리 결정된 양의 오프셋을 측정된 바와 같은 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위에 도입하기 위하여 제 1 효과를 수정하는 단계, 및 수정된 바와 같은 제 1 효과를 측정하는 단계를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 다른 양상에 따라, 상기 및 이후 설명된 바와 같은 장치의 하나 또는 그 초과의 양상들을 구현하기 위하여 컴퓨터 프로세서에서 동작하는 컴퓨터 프로그램 엘리먼트들을 포함하는 컴퓨터 프로그램이 제공된다.
본 발명의 다른 양상에 따라, 상기 및 이후 설명된 바와 같은 방법의 하나 또는 그 초과의 양상들을 구현하기 위하여 컴퓨터 프로세서에서 동작하는 컴퓨터 프로그램 엘리먼트들을 포함하는 컴퓨터 프로그램이 제공된다.
본 발명의 다른 양상에 따라, 상기 설명된 바와 같은 컴퓨터 프로그램을 보유하는 컴퓨터 판독가능 매체가 제공된다.
본 발명의 양상들에 따라 하나 또는 그 초과의 특정 실시예들은 예로서만 그리고 다음 도면들을 참조하여 설명될 것이다.
도 1 내지 도 3은 복굴절을 관찰하는 상이한 방법들을 구현하기 위한 공지된 장치의 컴포넌트들을 개략적으로 예시한다.
도 4a 내지 도 4d는 본 발명의 하나 또는 그 초과의 실시예들에 따라 인증 장치의 투시도, 평면도, 측면도 및 엔드 도를 개략적으로 예시한다.
도 5는 선택적 어레인지먼트에서 도 4a 내지 도 4d의 인증 장치의 투시도를 개략적으로 예시한다.
도 6은 다른 선택적 어레인지먼트에서 도 4a 내지 도 4d의 인증 장치의 투시도를 개략적으로 예시한다.
도 7a 및 도 7b는 본 발명의 하나 또는 그 초과의 실시예들에 따른 다른 인증 장치의 투시도들을 개략적으로 예시한다.
도 8은 본 발명의 하나 또는 그 초과의 실시예들에 따른 추가 인증 장치의 투시도를 개략적으로 예시한다.
도 9는 본 발명의 하나 또는 그 초과의 실시예들에 따라 또 다른 인증 장치의 투시도를 개략적으로 예시한다.
도 10은 본 발명의 하나 또는 그 초과의 실시예들에 따라 또 다른 인증 장치의 투시도를 개략적으로 예시한다.
도 11은 60μm BOPP 필름에 대한 복굴절 대 퍼센티지 투과의 그래프를 예시한다.
도 12는 마이클-레비 차트를 예시한다.
도 13은 도 10에 예시되 장치의 선택적 어레인지먼트의 투시도를 개략적으로 예시한다.
도 14는 제 1 모드에서 동작할 때 도 13의 장치에 대한 검출기에 의해 측정된 바와 같은 지연 대 강도의 그래프를 예시한다.
도 15는 제 2 모드에서 동작할 때 도 13의 장치에 대한 검출기에 의해 측정된 바와 같은 지연 대 강도의 그래프를 예시한다.
도 16은 도 14 및 도 15의 그래프들의 결합된 그래프를 예시한다.
도 4a 내지 도 4d는 복굴절 측정 장치(102), 프로세서(104) 및 경고 시스템(106)을 포함하는 인증 장치(100)를 예시한다.
인증 장치(100)는 아이템(108)(예를 들어, 지폐)의 복굴절 특성들을 측정하도록 동작한다. 특히, 인증 장치(100)는 인증 장치(100)의 측정 구역에 위치된 아이템(108)의 일부의 복굴절을 측정하도록 동작한다.
프로세서(104)(선택적으로 마이크로제어기)는 복굴절 측정 장치(102)를 제어하도록 동작한다. 복굴절 측정 장치(102)의 입력은 프로세서(104)에 커플되고 프로세서(104)에 의해 제어 가능하다. 복굴절 측정 장치(102)의 출력은 프로세서(104)에 커플된다. 프로세서(104)는 인증 장치 내 아이템(108)이 복굴절 측정 장치(102)로부터 수신된 출력 신호에 기초하여 진본인지 아닌지를 결정하도록 동작한다. 그런 결정의 결과는 경고 시스템(106)을 통하여 (예를 들어, 장치 오퍼레이터에게) 표시된다. 경고 시스템(106)은 프로세서(104)에 커플되고 상기 프로세서(104)로부터 수신된 신호에 기초하여 진본인지 아닌지 표시를 출력하도록 동작한다.
복굴절 측정 장치(102)는 방사기(110)(선택적으로 LED), 제 1 편광기(112), 제 2 편광기(114), 및 검출기(116)(선택적으로 포토다이오드)를 포함한다. 편광기들(112, 114)은 실질적으로 평행하도록 이격되고 배향된다. 편광기들(112, 114) 사이의 구역은 측정 구역을 정의한다.
복굴절 측정 장치(102)의 엘리먼트들은, 방사기(110) 및 제 1 편광기(112)가 복굴절 측정 장치(102)의 측정 구역의 제 1 측에 위치되고, 제 1 검출기(116) 및 제 2 편광기(114)가 측정 구역의 제 2 측(즉, 제 1 방사기(110) 및 제 1 편광기(112)의 반대 편) 상에 위치되도록 배열된다.
방사기(110)는 전자기 조사선(도면에서 화살표 IL에 의해 나타냄)으로 제 1 편광기(112)를 조명하도록 동작한다. 이 조명 전자기 조사선(IL)은 측정 구역 내에 위치된 아이템(108)의 부분을 조사하도록 편광된 조명 전자기 조사선(도면에서 화살표 PIL에 의해 나타냄)으로서 통과하고 계속될 때 제 1 편광기(112)에 의해 편광된다. 아이템(108)의 일부를 통해 투과된 편광된 조명 전자기 조사선(화살표 TL에 의해 나타냄)의 일부는 제 2 편광기(114)로 계속된다. 이런 투과된 전자기 조사선(TL)은 통과하고, 검출기(116) 쪽으로 편광되고 투과된 전자기 조사선(화살표들 PTL1, PTL2, PTL3에 의해 나타냄)으로서 계속될 때 제 2 편광기(114)에 편광된다. 검출기(116)는 편광되고 투과된 전자기 조사선(PTL1, PTL2 또는 PTL3)을 수신하도록 위치되고, 배향되고 그리고 동작한다.
측정 구역은 일반적으로 이격된 편광기들(112, 114) 사이의 평면을 정의한다. 제 1 편광기(112)는 이 제 1 평면으로 이격되고 측정 구역의 제 1 "업스트림" 측 상의 제 2 평면에 위치된다. 제 2 평면은 제 1 평면에 실질적으로 평행이다. 유사하게, 제 2 편광기(114)는 제 1 평면으로부터 이격되고 측정 구역의 제 2 "다운스트림" 측 상의 제 3 평면에 위치된다. 제 2 편광기(114)는 제 1 편광기(112)에 대향하여 위치되고, 제 3 평면은 실질적으로 제 1 및 제 2 평면들에 평행이다. 제 1 및 제 2 편광기들(112, 114)의 투과 배향들의 어레인지먼트는, 이들이 크로스된 편광기들을 포함하도록 한다. 즉, 제 1 편광기(112)는, 자신의 투과 배향이 측정 구역에 위치된 아이템(108)의 부분의 투과 배향에 약 +45°이도록 배열된다. 제 2 편광기(114)는, 자신의 투과 배향이 측정 구역에 위치된 아이템(108)의 일부의 투과 배향에 약 -45°이도록 배열된다. 대안적으로, 제 1 편광기(112)의 투과 배향은, 측정 구역에 위치된 아이템(108)의 일부의 투과 배향에 약 -45°이도록 할 수 있고 제 2 편광기(114)의 투과 배향은, 측정 구역에 위치된 아이템(108)의 일부의 투과 배향에 약 +45°이도록 할 수 있다.
따라서, 예시된 어레인지먼트에서, 방사기(110)에 의해 방사된 조명 전자기 조사선(IL)은 제 1 편광기(112)에 의해 편광될 것이고 편광된 조명 전자기 조사선(PIL)으로서 측정 구역에 위치된 아이템(108)의 부분을 조사할 것이다. 이런 편광된 조명 전자기 조사선(PIL)은 아이템(108)을 통해 통과하고, 제 2 편광기(114)(즉, 크로스된 편광기)로의 투과된 전자기 조사선(TL)으로서 계속된다. 투과된 전자기 조사선(TL)은 제 2 편광기(114)를 통해 통과하고 검출기(116)에 의해 수신을 위해 편광되고 투과된 전자기 조사선(PTL1, PTL2, 또는 PTL3)로서 계속된다. 검출기(116)는 자신에게 입사되는 편광되고 투과된 전자기 조사선(PTL1 또는 PTL2 또는 PTL3)의 검출에 응답하여, 각각 편광되고 투과된 전자기 조사선(PTL1 또는 PTL2 또는 PTL3)의 강도에 비례하는 신호를 프로세서(104)에 출력한다.
검출기(116)는 트랜슬레이션(translation) 디바이스(도시되지 않음)에 장착된다. 트랜슬레이션 디바이스는 제 2 편광기(114)에 관하여 검출기(116)의 포지션을 변경하기 위하여 프로세서(104)에 의해 제어 가능하다. 이것은 검출기(116)가 상이한 각도들로 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선을 측정하게 할 수 있다.
그런 어레인지먼트는 협정을 사용하여 도 4a 내지 도 4d에 예시되고 여기서 제 1 검출기는 제 1 각도(θ)로 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(즉, 점선 화살표 PTL1에 의해 나타낸 상기 편광기(114)에 의해 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선)을 수신하도록 포지션될 때 점선들(및 참조 번호 116')을 사용하여 나타내진다. 검출기는 제 2 각도(φ)로 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(즉, 점선 화살표 PTL2에 의해 나타낸 상기 편광기(114)에 의해 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선)을 수신하도록 포지션될 때 점선들(및 참조 번호 116")을 사용하여 나타낸다. 검출기는 제 3 각도로 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(즉, 실선 화살표 PTL3에 의해 나타낸 상기 편광기(114)에 의해 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선)을 수신하도록 포지션될 때 실선들(및 참조 번호 116)을 사용하여 나타내진다.
예시된 어레인지먼트에서, 검출기(116)는 3개의 상이한 각도들(즉, 제 2 편광기(114)의 평면에 수직인 제 1 각도(θ)(선택적으로 45°); 양쪽 수평 및 수직 방향으로 제 2 편광기(114)의 평면에 수직에 대해 제 2 각도(φ)(선택적으로 45°); 및 제 2 편광기(114)의 평면에 수직인 제 3 각도(및 결과적으로 아이템(108)의 필름의 평면에 수직)에서 제 2 편광기(114)로부터 투과된 수신되고 편광되고 투과된 전자기 조사선을 측정하도록 동작한다. 따라서, 검출기(116)는 3개의 측정 신호들을 프로세서(104)에 출력할 것이다.
프로세서(104)는 제 1 검출기(116)로부터 3개의 출력 측정 신호들을 수신할 때, 수신된 신호들 중 제 1 신호의 값을 데이터베이스(도시되지 않음)에 저장된 미리 정의된 값들의 제 1 세트와 비교하고; 수신된 신호들 중 제 2 신호의 값을 데이터베이스에 저장된 미리 정의된 값들의 제 2 세트와 비교하고; 그리고 수신된 신호들 중 제 3 신호의 값을 데이터베이스에 저장된 미리 정의된 값들의 제 3 세트와 비교하도록 동작한다. 이들 미리 정의된 값들은 진본 아이템(예를 들어, 진본 필름)이 측정 구역에 위치될 대 예상된 편광되고 투과된 전자기 조사선 값들에 대응한다.
프로세서(104)는, 비교를 수행한 후, 필름/아이템이 진본인지 진본이 아닌지를 가리도록 경고 시스템(106)에 명령하도록 동작한다. 비교의 결과가 긍정이면(즉 필름이 진본임), 프로세서는 필름/아이템이 진본이라는 표시를 발행하기 위한 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(106)에게 전송하도록 동작한다. 그렇지 않으면, 프로세서는 필름/아이템이 진본이 아니라는 표시를 발행하기 위한 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(106)에 전송하도록 동작한다.
인증 장치(100)는 내부에 위치된 아이템의 진본성을 결정하기 위하여 모두 3개의 각도들에서 편광되고 투과된 전자기 조사선을 측정할 필요가 없다. 정말로, 선택적 어레인지먼트에서, 인증 장치(100)는 인증 부분이 실행할 때만 2개의 각도들을 측정할 수 있다.
높게 배향된 필름을 포함하는 아이템(108)은, 제 2 편광기(PTL3)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선이 필름의 평면에 수직으로 측정될 때 검출기(116)로부터 높은 판독이 생기게 할 것이다(다량의 전자기 조사선이 투과될 것이기 때문에, 즉 제 2 편광기(PTL3)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선이 비교적 높을 것이기 때문에). 그러나, 밸런스된 필름은, 제 1 및 제 2 크로스된 편광기들을 통한 전자기 조사선의 거동이 크게 변경되지 않을 것이기 때문에 제 2 편광기(PTL3)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선이 필름의 평면에 수직으로 측정될 때 검출기(116)로부터 제로-값 또는 낮은 판독이 생기게 할 것이다.
캐스트 필름들 및 버블 필름들(예를 들어, BOPP 필름들)은, 제 2 편광기(PTL3)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선이 필름의 평면에 수직으로 측정될 때 검출기(116)에서 비교적 낮은 복굴절 신호를 생성할 것이다. 다른 한편, 스텐터 필름이 측정 구역에 위치될 때, 검출기(116)는, 필름의 평면에 수직으로 제 2 편광기(PTL3)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선을 측정할 때, 캐스트 및 버블 필름들에 대한 복굴절 신호들과 상이한 높은 복굴절 신호를 생성할 것이다. 필름이 버블 필름인 경우 예상된 신호와 비교된 스텐터 필름에 대한 복굴절 신호 사이의 이런 차이는, 진본 신호를 가리키는 미리 정의된 값(즉, 진짜인 것으로 여겨지는 특정 필름 타입에 대한 복굴절을 나타내는 값)과 검출기(116)로부터의 출력 신호를 비교할 때 프로세서(104)에 의해 발견된다. 프로세서(104)는, 비교를 수행한 후, 필름/아이템이 진본이 아닌 것을 가리키기 위하여 경고 시스템(106)에 명령하도록 동작한다.
장치는 예를 들어 진짜 아이템들이 버블 프로세스에 의해 형성된 기판들을 포함하는 경우 및 일반적으로, 위조 아이템들이 스텐터 프로세스에 의해 형성된 기판들을 포함하는 경우에서 적당할 수 있다. 그러나, 진짜 아이템들이 스텐터 프로세스에 의해 형성된 기판들을 포함하는 경우들에서, 추가 프로세싱 단계들은 스텐터-타입 필름 기판을 갖는 물품이 진짜인지 아닌지에 관한 표시를 제공하기 위하여 요구될 수 있다.
제 2 편광기(PTL3)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선이 캐스트 또는 버블 필름들에 대한 필름의 평면에 수직으로 측정될 때 검출기(116)로부터의 출력 신호의 차이는 비교적 작다. 그러므로, 인증 장치(100)가 필름의 평면에 수직인 제 2 편광기로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(즉, PTL3)의 측정에만 의존할 때 이들 두 개의 타입들의 필름들 사이를 구별하는 것은 어려울 수 있다. 이 경우, 또는 측정들이 비수직 각도들로부터 취해지는 대안 경우에서, 인증 장치(100)는 제 1 각도(θ) 및 제 2 각도(φ) 중 하나 또는 둘 다에서 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선을 측정하도록 동작할 수 있다. 제 1 및/또는 제 2 각도들에서 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(PTL1, PTL2)을 수신하도록 위치될 때 검출기(116)로부터의 출력 신호들은 측정 구역에 위치된 필름/아이템이 진본인지 아닌지를 결정하기 위하여 비교 프로세스에 대한 추가 파라미터들(또는 대안 파라미터들)로서 프로세서(104)에 의해 사용될 수 있다.
상이한 각도들에서 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선을 수신하기 위하여 포지션들에서 검출기(116)의 포지셔닝은 평면 기하구조를 사용하여 편리하게 설명될 수 있다. 평면은 좌표들 [x y z]의 벡터에 수직인 표면으로서 정의된다. 벡터(001)에 수직인 평면은 (001) 평면으로서 정의된다. 따라서, 상기 설명되고 도 4a 내지 도 4d에 예시된 바와 같은 어레인지먼트에서, 검출기(116)가 필름의 평면에 수직으로 제 2 편광기로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(즉, (PTL3))을 측정하기 위하여 위치될 때, 필름의 평면에 관련한 자신의 포지션(필름의 평면이 x-y 평면인 것을 가정함)은 벡터(001)에 의해 설명된 기하학적 방향에 의해 정의될 수 있다. 검출기(116)는 z 축(즉, 벡터(001)에 의해 정의됨)을 따라 필름의 x-y 평면(즉, (001) 평면)을 효과적으로 관찰한다.
유사하게, 검출기(116)가 제 2 각도(θ)로 제 2 편광기로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(즉, PTL1)을 측정하기 위하여 위치되는 상황에 대해, 그 제 1 각도(θ)는 제 2 편광기(114)의 평면에 수직에 대해 45°일 수 있다. 평면 기하구조 벡터 협정을 사용하여, 필름의 평면에 관하여 검출기(116)의 포지션은 (하나의 경우에서) 벡터(110)에 의해 설명된 기하학적 방향에 의해 정의될 수 있다. 따라서, 검출기(116)는 벡터(110)에 의해 정의된 방향을 따라 필름의 (110) 평면을 관찰한다.
검출기(116)가 제 2 각도(φ)로 제 2 편광기로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(즉, (PTL2))을 측정하도록 배치되는 상황에 대해, 그 제 2 각도(φ)는 수평 및 수직 방향 둘 다에서 제 2 편광기(114)의 평면에 수직에 대해 45°일 수 있다. 평면 기하구조 벡터 협정을 사용하여, 필름의 평면에 관하여 검출기(116)의 포지션은 벡터(111)에 의해 설명된 기하구조 방향에 의해 정의될 수 있다. 따라서, 검출기(116)는 벡터(111)에 의해 정의된 방향을 따라 필름의 (111) 평면을 관찰한다.
제 1 각도(θ) 및 제 2 각도(φ)에서 취해진 측정들은 장치(100)가 버블 및 캐스트 필름들 사이를 구별하게 하기에 적당할 수 있다. 그런 필름들의 평면에 수직으로 그런 필름들에서 취해진 측정들은 비교적 유사할 수 있고 따라서 제 1 및 제 2 각도들에서 추가 측정들은, 프로세서에 의해 비교에 사용될 대, 2개의 타입들 사이를 구별하기 위하여 사용될 수 있다.
선택적 어레인지먼트에서, 인증 장치(100)는 아이템이 전달될 수 있는 경로를 포함할 수 있다. 측정 구역은 이 경로의 부분을 형성한다. 따라서, 이 특정 어레인지먼트에서, 아이템은 인증 장치(100)의 일 측으로부터 다른 측으로 경로를 따라 전달될 수 있고 이의 수송 동안, 측정 구역을 통해 통과한다. 즉, 이런 선택적 어레인지먼트에서, 인증될 아이템은 인증 장치(100)에 관하여 움직여질 수 있거나 그 반대도 가능하다. 다른 선택적 어레인지먼트에서, 인증 측정은 아이템이 정적일 때 발생할 수 있다. 즉, 인증 측정이 발생할 때까지 아이템이 홀드되는 경우, 아이템은 인증 장치(100)의 아이템 위치 구역(측정 구역이 부분을 형성함)에 도입될 수 있다.
이 장치(100)는 예를 들어 지폐 인증 시스템에서 구현될 수 있다.
도 4a 내지 도 4d에 예시된 인증 장치(100)의 동작은 다음과 같이 요약될 수 있다. 복굴절 측정은 측정 구역에 위치된 아이템/필름상에서 수행된다. 적어도 하나의 복굴절 측정은 필름의 평면에 관하여 적어도 하나의 비수직 각도로 검출기(116)를 사용하여 수행된다. 프로세서는 복굴절 측정으로부터 발생하는 신호의 값을 진본 필름에 대응하는 값과 비교한다. 측정된 값이 진본 필름에 대응하는 값에 매칭하면(또는 진본인 것으로 여겨지는 적당한 값들의 범위 내에 놓임), 프로세서는 필름이 진본인 표시를 제공하도록 경고 시스템에게 명령하도록 동작한다. 그러나, 측정된 값들 중 하나(선택적으로 측정된 값들 중 2개, 추가로 선택적으로 측정된 값들 중 3개)가 진본 필름에 대응하는 값(또는 값들)에 매칭하지 않으면(또는 진본인 것으로 여겨지는 적당한 값들의 범위 외측에 놓임), 프로세서는 필름이 진본이 아니라는 표시를 제공하도록 경고 시스템에게 명령하도록 동작한다.
도 5는 도 4a 내지 도 4d에 예시되고 상기 설명된 바와 같은 인증 장치(100)의 선택적 어레인지먼트르 예시한다.
어레인지먼트는 이동 가능 검출기(116)가 2개의 고정된 검출기들(116a, 116b)에 의해 대체된 것을 제외하고 도 4a 내지 도 4d에 예시되고 상기 설명된 것과 유사하다. 제 1 고정된 검출기(116a)는 제 1 각도(θ)로 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(화살표 PTL1에 의해 나타냄)을 수신하도록 위치된다. 제 2 고정된 검출기(116b)는 제 2 각도에서 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(화살표 PTL2에 의해 나타냄)을 수신하도록 위치된다.
어레인지먼트에서, 제 1 및 제 2 고정된 검출기들(116a, 116b)은 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선의 개별 부분들(즉, PTL1, PTL2)을 동시에 측정할 수 있다.
프로세서(104)는 제 1 고정된 검출기(116a) 및 제 2 고정된 검출기(116b)로부터의 출력 측정 신호를 수신시, 제 1 고정된 검출기(116a)로부터 수신된 신호의 값을 데이터베이스(도시되지 않음)에 저장된 미리 정의된 값들의 제 1 세트와 비교하고; 그리고 제 2 고정된 검출기(116b)로부터 수신된 신호의 값을 데이터베이스에 저장된 미리 정의된 값들의 제 2 세트와 비교하도록 동작한다. 이들 미리 정의된 값들은 진본 아이템(예를 들어, 진본 필름)이 측정 구역에 위치될 때 예상된 편광되고 투과된 전자기 조사선 값들에 대응한다.
프로세서(104)는, 비교를 수행한 후, 필름/아이템이 진본인지 아닌지를 가리키도록 경고 시스템(106)에게 명령하도록 동작한다. 비교 결과가 긍정이면(즉, 필름이 진본임), 프로세서는 필름/아이템이 진본이라는 표시를 발생하기 위한 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(106)에게 전송하도록 동작한다. 그렇지 않으면, 프로세서는 필름/아이템이 진본이 아니라는 표시를 발행하기 위한 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(106)에게 전송하도록 동작한다.
도 6은 도 4a 내지 도 4d에 예시되고 상기 설명된 바와 같은 인증 장치(100)의 또 다른 선택적 어레인지먼트를 예시한다.
어레인지먼트는 3개의 고정된 검출기들(116a, 116b, 116c)이 2개 대신 이용되는 것을 제외하고 도 5에 예시된 것과 유사하다. 제 1 고정된 검출기(116a)는 제 1 각도(θ)로 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(화살표 PTL1에 의해 나타냄)을 수신하도록 위치된다. 제 2 고정된 검출기(116b)는 제 2 각도(φ)로 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(화살표 PTL2에 의해 나타냄)을 수신하도록 위치된다. 제 3 고정된 검출기(116c)는 제 3 각도로 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(화살표 PTL3에 의해 나타냄)을 수신하도록 위치된다.
이 어레인지먼트에서, 제 1, 제 2 및 제 3 고정된 검출기들(116a, 116b, 116c)은 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선의 개별 부분들(즉, PTL1, PTL2, PTL3)을 동시에 측정할 수 있다.
프로세서(104)는, 제 1 고정된 검출기(116a), 제 2 고정된 검출기(116b), 및 제 3 고정된 검출기(116c)로부터 출력 측정 신호를 수신 시: 제 1 고정된 검출기(116a)로부터 수신된 신호의 값을 데이터베이스(도시되지 않음)에 저장된 미리 정의된 값들의 제 1 세트와 비교하고; 제 2 고정된 검출기(116b)로부터 수신된 신호의 값을 데이터베이스에 저장된 미리 정의된 값들의 제 2 세트와 비교하고; 그리고 제 3 고정된 검출기(116c)로부터 수신된 신호의 값을 데이터베이스에 저장된 미리 정의된 값들의 제 3 세트와 비교하도록 동작한다. 이전에 설명된 바와 같이, 이들 미리 정의된 값들은 진본 아이템(예를 들어, 진본 필름)이 측정 구역에 위치될 때 예상된 편광되고 투과된 전자기 조사선 값들에 대응한다.
상기 설명된 바와 같이, 프로세서(104)는 비교를 수행한 후, 필름/아이템이 진본인지 진본이 아닌지를 가리키도록 경고 시스템(106)에게 명령하도록 동작한다. 비교의 결과가 긍정적이면(즉, 필름이 진본임), 프로세서는 필름/아이템이 진본이라는 표시를 발생하기 위한 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(106)에 전송하도록 동작한다. 그렇지 않으면, 프로세서는 필름/아이템이 진본이 아니라는 표시를 발행할 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(106)에게 전송하도록 동작한다.
다른 선택적 어레인지먼트에서, 인증 장치(100)는 고정된 및 움직이는 검출기들 둘 다의 어레인지먼트를 이용할 수 있고 및/또는 4 또는 그 초과의 각도들에서 제 2 편광기(114)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선을 측정하도록 배열될 수 있다.
도 7a 및 도 7b는 본 발명의 하나 또는 그 초과의 실시예들에 따른 다른 인증 장치를 예시한다.
도 4a 내지 도 4d, 도 5 또는 도 6에 예시된 것들과 유사한 피처들은 도 7a 및 도 7b에 또한 예시된다. 도 7a 및 도 7b에서, 도 4a 내지 도 4d, 도 5 또는 도 6의 것들과 공통인 피처들은 타입 1XX보다 오히려 타입 2XX의 참조 번호들로 표기된다. 따라서, 도 7a 및 도 7b에서, 인증 장치는 참조 번호(200)(100보다 오히려)에 의해 나타내고, 복굴절 측정 장치는 참조 번호(202)(102보다 오히려)에 의해 나타내고 등등이 있다.
도 7a 및 도 7b에 예시된 인증 장치(200)는 제 2 편광기(214)가 편광 배향(도 7a에 예시된 바와 같이) 및 비 편광 배향, 또는 수직 투과 배향(도 7b에 예시된 바와 같이) 사이에서 회전 가능하다는 점에서 이전에 설명된(및 도 4a 내지 도 4d, 도 5 또는 도 6에 예시된 것과 같은) 인증 장치(100)와 상이하다. 편광 배향으로 배향될 때, 제 2 편광기(214)는 이전에 설명된 바와 같이 제 2 편광기(114)와 동일한 방식으로 작동한다. 즉, 제 2 편광기(214)의 투과 배향은, 제 1 및 제 2 편광기들(212, 214)이 크로스된 편광기들을 포함하도록 제 1 편광기(212)의 배향에 수직이다. 그러므로, 그리고 이전에 설명된 제 1 및 제 2 편광기들(112, 114)의 투과 배향들의 어레인지먼트를 사용하여, 제 1 편광기(212)는, 자신의 투과 배향이 측정 구역에 위치된 아이템(208)의 부분의 투과 배향에 약 +45°이도록 배열된다. 제 2 편광기(214)(편광 배향에서)는, 자신의 투과 배향이 측정 구역에 위치된 아이템(208)의 부분의 투과 배향에 약 -45°이도록 배열된다. 대안적으로, 제 1 편광기(212)의 투과 배향은, 측정 구역에 위치된 아이템(208)의 부분의 투과 배향에 약 -45°이도록 할 수 있고 제 2 편광기(214)의 투과 배향은, 측정 구역에 위치된 아이템(208)의 부분의 투과 배향에 약 +45°이도록 할 수 있다.
비편광 배향으로 배향될 때, 제 2 편광기(214)의 투과 배향은 제 1 편광기(212)의 배향과 동일하다(즉, 제 1 편광기(212)의 투과 배향과 평행함). 이 경우에서, 제 1 및 제 2 편광기들(212, 214)은, 자신의 투과 배향들이 측정 구역에 위치된 아이템(208)의 부분의 투과 배향에 약 +45°이도록 배열된다. 대안적으로, 제 1 및 제 2 편광기들(212, 214)의 투과 배향들은, 측정 구역에 위치된 아이템(208)의 부분의 투과 배향에 약 -45°이도록 할 수 있다.
인증 장치(200)는 편광 배향으로부터 비편광 배향으로 제 2 편광기(214)의 회전을 이루도록 동작하고, 그 반대고 가능한 작동기(도시되지 않음)를 포함한다. 프로세서(204)는 작동기를 제어하도록 동작한다.
동작시, 검출기(216)는, 제 2 편광기(214)가 편광 배향으로 배향될 때 제 2 편광기(214)로부터 투과된 수신된 편광되고 투과된 전자기 조사선(도 7a에서 화살표 PTL에 의해 나타냄)을 측정하도록 동작한다. 제 1 측정 신호는 프로세서(204)에 통신된다.
검출기(216)는, 제 2 편광기가 비편광 배향으로 배향될 때 제 2 편광기(214)로부터 투과된 수신된 투과된 전자기 조사선(도 7b에서 화살표 TL에 의해 나타냄)을 측정하도록 추가로 동작한다. 제 2 측정 신호는 프로세서(204)에 통신된다.
프로세서(204)는, 검출기(216)로부터 제 1 및 제 2 측정 신호들을 수신시 수신된 제 1 측정 신호의 값을 데이터베이스(도시되지 않음)에 저장된 미리 정의된 값들의 제 1 세트와 비교하고; 및/또는 수신된 제 2 측정 신호의 값을 데이터베이스에 저장된 미리 정의된 값들의 제 2 세트와 비교하도록 동작한다. 미리 정의된 값들의 제 1 세트는, 진본 아이템(예를 들어, 진본 필름)이 측정 구역에 위치될 때 예상된 편광되고 투과된 전자기 조사선 값들에 대응한다. 미리 정의된 값들의 제 2 세트는 진본 아이템/필름이 측정 구역에 위치될 때 예상된 직접 투과 전자기 조사선 값들(예를 들어, 진본 아이템/필름에 의해 직접 투과된 전자기 조사선의 강도를 가리키는 값)에 대응한다.
선택적 어레인지먼트에서, 프로세서(204)는 측정 구역에 어떠한 아이템/필름도 위치되지 않은 것을 가리키는 미리 정의된 값으로부터 수신된 제 2 측정 신호의 값을 감산하도록 동작한다. 그 다음 프로세서(204)는 진본 아이템/필름이 측정 구역에 위치될 때 예상된 투과된 전자기 조사선 값들(복굴절 값들)에 대응하는 미리 정의된 값들의 상이한 제 2 세트와 감산의 결과 값을 비교하도록 동작한다.
선택적 어레인지먼트에서, 아이템/필름(208)에 의해 비편광 배향에서 제 2 편광기(214)와 함께 검출기(216)에 투과된 전자기 조사선의 강도는 값(INP)을 가진다. 만약 어떠한 아이템/필름(208)도 측정 구역에 존재하지 않으면, 조명 조사선은 간단히 측정 구역에서 공기를 통해 통과하고, 비편광 배향에서 편광기(214)와 함께 검출기(216)에 수신된 전자기 조사선의 강도는 값(IAIR)을 가진다. 상기 설명된 결과 값(IRV)을 얻기 위하여, 강도 값(INP)은 강도 값(IAIR)으로부터 감산된다. 따라서, IAIR - INP = IRV이다. 결과적인 IRV는 사실상 필름의 복굴절의 측정치이다. 프로세서(204)에 의해 미리 정의된 값들의 상이한 제 2 세트와 이런 결과 값(IRV)의 비교는 프로세서(204)가 인증 결정을 하게 한다.
이전에 설명된 바와 같이, 복굴절 재료가 사이에 위치된 2개의 크로스된 편광기들을 포함하는 어레인지먼트에서, 복굴절은 제 2 크로스된 편광기에 의한 투과시 보통 선들 및 특별 선들의 재결합에 의해 유발된 간섭으로부터 발생한다. 복굴절 전자기 조사선은 하나의 편광으로서 구성되고 제 2 편광기를 통해 통과하는 반면 나머지는 반대 편광으로 구성되고 제 2 편광기에 의해 반사되거나 흡수된다. 비투과된 전자기 조사선은, 제 2 편광기가 크로스되는 대신 제 1 편광기에 평행하도록 회전되면 투과될 수 있다. 이 효과는 상기 설명된 어레인지먼트에서 이용된다.
비교적 낮은 레벨의 복굴절을 가지는 필름들, 또는 필름들을 포함하는 아이템들은 공기로부터 구별될 수 없고, 크로스된 편광기들의 경우 프린트된 가장자리 옆이 보이지 않을 수 있다. 이전에 설명되고 추후 설명되는 어레인지먼트들은 전자기 조사선을 효과적으로 재지향하는 복굴절 현상 및 재지향된 조사선중 하나의 부분이 관찰되게 하는 전자기 조사선을 보게 하도록 크로스된 편광기들의 사용에 따른다. 다른 부분(즉, 상기 참조된 "비투과된" 부분)은 편광기들이 평행할 때 보여질 수 있다. 평행한 편광기들을 이용하는 장치의 거동은, 높은 강도의 전자기 조사선이 투과되고, 이 전자기 조사선의 강도가 복굴절과 함께 감소할 것(예를 들어, 복굴절 필름이 편광기들 사이에서 장치에 도입될 때)이라는 것이다. 이런 평행 편광기 경우에서, 빈 장치는 높은 강도의 전자기 조사선이 검출기에서 수신되게 할 것인 반면 장치의 측정 구역에 위치된 필름은 보다 낮은 강도의 전자기 조사선이 검출기에 수신되게 할 것이다. 높은 강도(빈 장치)의 전자기 조사선의 측정치와 약간 보다 낮은 강도(필름이 존재함)의 전자기 조사선의 측정치 사이의 차이는 필름의 복굴절 측정치를 제공한다.
그러므로, 상기 설명되고, 도 7a 및 도 7b에 예시된 바와 같은 인증 장치(200)는 비교적 낮은 레벨들의 복굴절을 나타내는 필름들의 진본성을 결정하기에 적당할 수 있다. 정말로, 예를 들어 BOPP 필름 같은 높게 배향된 필름들이 비교적 낮은 레벨의 복굴절(몇몇 경우들에서 아마도 제로)을 가지기 때문에, 편광기들이 크로스된 구성에 있는 장치를 사용하여 이런 특성의 임의의 "측정"은 배경 잡음으로부터 구별할 수 없는 결과를 제공할 수 있다. 편광기들이 크로스된 구성이 아닌 장치를 사용하여 취해진 측정은 "인버스" 복굴절을 나타내는 측정이 취해지게 할 수 있다(즉, 장치가 비어 있을 때 수신된 전자기 조사선의 강도(IAIR) 마이너스 필름이 장치의 측정 구역에 위치될 때 수신된 전자기 조사선의 강도(INP)는 IRV와 동일하고 IRV는 필름의 "인버스" 복굴절, 즉 필름 투과율에 비례함).
상기 어레인지먼트(및 선택적 어레인지먼트)에서, 프로세서(204)는 비교를 수행한 후 필름/아이템이 진본인지 진본이 아닌지를 가리키도록 경고 시스템(206)에게 명령하도록 동작한다. 비교 결과가 긍정적이면(즉, 필름이 진본임), 프로세서는 필름/아이템이 진본이라는 표시를 발행하기 위한 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(206)에게 전송하도록 동작한다. 그렇지 않으면, 프로세서는 필름/아이템이 진본이 아니라는 표시를 발행할 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(206)에게 전송하도록 동작한다.
이런 어레인지먼트는 또한 장치가 폴리머 필름 기판을 가진 지폐의 진본성을 결정하도록 동작하기에 적당할 수 있고 여기서 진본성 측정들은 지폐의 "윈도우" 구역, 즉 필름 기판이 노출되는 지폐의 구역(예를 들어, 구역을 오버레이하는 프린트가 없거나 구역을 오버레이하는 명시적인 보안성 피처들이 없음)에서 수행된다. 인식될 바와 같이, 지폐들은 시간에 걸쳐 훼손되고 지폐의 훼손의 하나의 양상은 그 자체가 지폐의 윈도우 구역에 대한 손상으로서 나타날 수 있다. 그런 손상은 예를 들어 윈도우 표면에 대한 스크래치(scratch)들 및/또는 윈도우 표면에 전달되는 기름 물질들을 포함할 수 있고, 그 둘 다는 윈도우가 흐릿한 외관을 가지게 할 수 있다. 이들 "손상" 형태들은 지폐의 윈도우 구역을 통한 광의 투과를 효과적으로 물리적으로 차단(또는 부분적으로 차단)할 수 있다. 이것은 인증 프로세스 동안 취해진 측정들에 영향을 미칠 수 있다.
도 7a 및 도 7b에 관하여 상기 설명된 어레인지먼트에서, 지폐의 윈도우 구역의 물리적 차단(예를 들어, 손상을 통해)은 크로스된 편광기 동작 모드에서 복굴절의 실질적 감소로서 관찰될 수 있다. 그러나, 지폐의 윈도우 구역의 물리적 차단은 크로스되지 않은 편광된 동작 모드에서 복굴절의 실질적 증가로서 관찰될 수 있다. 양쪽 경우들에서, 물리적 차단은 필름 기판 자체의 복굴절을 변경하는 것이 아니라, 오히려 검출기에 의해 취해진 측정들에 영향을 주고 따라서 실제로 그 경우와 상이한 복굴절이도록 여겨진다.
손상된/흐릿한 필름의 복굴절의 보다 정확한 측정은 크로스된 편광기 동작 모드(즉, 편광 모드) 및 크로스되지 않은 편광기 동작 모드(즉, 비편광 모드)에서 얻어진 강도 값들을 사용하여 계산들을 수행함으로써 얻어질 수 있다. 상기 설명된 바와 같이, 제 2 편광기가 비편광 배향(즉, 크로스되지 않은 편광기 동작 모드)에 있을 때 검출기에서 수신된 전자기 조사선의 강도는 INP에 의해 나타내어 진다. 제 2 편광기가 편광 배향(즉, 크로스된 편광기 동작 모드)에 있을 때 검출기에서 수신된 전자기 조사선의 강도는 IP에 의해 나타내진다. 필름의 윈도우가 구역이 손상되지 않으면(또는 모호하게 되지 않음) 예상될 수 있는 강도, 및 따라서 필름의 복굴절의 측정치를 결정하기 위하여, 2개의 강도 값들 사이의 차이는 얻어질 수 있고 그 다음 이 차이 값은 반분된다. 결과 값은 필름의 복굴절의 보다 정확한 측정치(IUNDAMAGED)를 얻기 위하여 INP로부터 감산되거나 IP에 가산되는데, 즉 하기와 같다.
(INP-IP )/2+ IP=IUNDAMAGED
또는
INP-(INP-IP)/2=IUNDAMAGED
이 복굴절 대표 값(즉, IUNDAMAGED)은 진본성 결정시 프로세서(204)에 의해 미리 정의된 값에 비교된다.
도 8은 본 발명의 하나 또는 그 초과의 실시예들에 따른 다른 인증 장치를 예시한다.
다시, 도 4a 내지 도 4d, 도 5, 도 6, 도 7a 또는 도 7b에 예시된 것들과 유사한 피처들은 또한 도 8에 예시된다. 도 8에서, 도 4a 내지 도 4d, 도 5, 도 6 도 7a 또는 도 7b의 것들과 공통인 피처들은 1XX 또는 2XX보다 오히려 타입 3XX의 참조 번호들로 표기된다. 따라서, 도 8에서, 인증 장치는 참조 번호(300)(100 또는 200보다 오히려)에 의해 나타내고, 복굴절 측정 장치는 참조 번호(302)(102 또는 202보다 오히려)에 의해 나타내고 등등이 있다.
도 8에 예시된 인증 장치(300)는 검출기(116)가 이미징 어레이(320)(예를 들어, 광감지 어레이)에 의해 대체(또는 예시되지 않은 선택적 어레인지먼트에서, 보충)된다는 점에 이전에 설명(및 도 4a 내지 도 4d에 예시된 바와 같은) 인증 장치(100)와 상이하다.
이전에 설명된 제 1 및 제 2 편광기들(112, 114)의 투과 배향들의 어레인지먼트 처럼, 제 1 편광기(312)는, 자신의 투과 배향이 측정 구역에 위치된 아이템(308)의 부분의 투과 배향에 대해 약 +45°이도록 배열된다. 제 2 편광기(314)(편광 배향에서)는, 자신의 투과 배향이 측정 구역에 위치된 아이템(308)의 부분의 투과 배향에 대해 약 -45°이도록 배열된다. 대안적으로, 제 1 편광기(312)의 투과 배향은 측정 구역에 위치된 아이템(308)의 부분의 투과 배향에 대해 약 -45°이도록 할 수 있고 제 2 편광기(314)의 투과 배향은, 측정 구역에 위치된 아이템(308)의 부분의 투과 배향에 대해 약 +45°이도록 할 수 있다.
이미징 어레이(320)는 제 2 편광기(314)를 통해 이미징 어레이(320)의 위치로부터 관찰되는 바와 같은 상기 필름의 적어도 일부를 이미지하도록 동작한다. 즉, 이미징 어레이(320)는 제 2 편광기(314)로부터 투과된 편광되고 투과된 전자기 조사선(도 8에서 화살표 PTL에 의해 나타냄)을 수신하도록 위치된다. 이미징 어레이(320)(프로세서(304) 단독으로 또는 함께)는 제 2 편광기(314)로부터 투과되고 이미징 어레이(320)에 의해 수신된 편광되고 투과된 전자기 조사선으로부터 아이템(308)의 특정 부분 또는 필름 영역의 이미지를 컴파일하도록 동작한다.
프로세서(304)는 데이터베이스(도시되지 않음)에 저장된 미리 정의된 값들의 데이터 세트와 컴파일된 이미지에 대응하는 데이터 세트를 비교하도록 동작한다. 미리 정의된 값들의 데이터 세트는, 진본 아이템(예를 들어, 진본 필름)이 측정 구역에 위치될 때 관찰될 예상된 이미지에 대응한다.
프로세서(304)는, 비교를 수행한 후, 필름/아이템이 진본인지 진본이 아닌지를 가리키도록 경고 시스템(306)에게 명령하도록 동작한다. 만약 비교 결과가 긍정적이면, 즉 컴파일된 이미지 데이터 세트가 진본 필름/아이템의 예상된 이미지에 대응하는 미리 정의된 값들의 데이터 세트와 매칭하면, 필름은 진본으로 여겨지고 프로세서는 필름/아이템이 진본이라는 표시를 발행할 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(306)에게 전송하도록 동작한다. 그렇지 않으면, 프로세서는 필름/아이템이 진본이 아니라는 표시를 발행할 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(306)에게 전송하도록 동작한다.
이 어레인지먼트의 장치(300)에 의해 구현된 인증 방법은 상기 설명된 어레인지먼트들에 의해 구현된 바와 같은 스폿 관찰들보다 필름/아이템의 영역 관찰들을 구현하기에 적당할 수 있다. 이 "영역 관찰" 기술을 이용하는 것은 도 8의 장치(300)를 사용하여 관찰 가능할 필름의 고유 복굴절 패턴에 기초하여 필름의 인증을 허용할 수 있다. 따라서, 복굴절 패턴(존재하면)은 컴파일된 이미지에서 캡처될 것이고, 이 관찰된 복굴절 패턴은 진본 필름이 장치(300)에 존재하면 관찰될 것으로 예상될 미리 정의된 이미지(즉, 복굴절 패턴)에 비교될 수 있다.
상기 설명되고 도 8에서 예시된 바와 같은 하나 또는 그 초과의 실시예들의 선택적 어레인지먼트에서, 방사기(310)는 백색 광 소스(예를 들어, 광 박스)를 포함할 수 있고, 및/또는 이미징 어레이(320)는 CCD 카메라를 포함할 수 있다. 다른 선택적 어레인지먼트에서, 이미징 어레이(320)는 플랫 베드(flat-bed) 스캐너를 포함할 수 있다.
도 9는 본 발명의 하나 또는 그 초과의 실시예들에 따른 다른 인증 장치를 예시한다.
다시, 이전 도면들에 예시된 것들과 유사한 피처들은 또한 도 9에 예시된다. 도 9에서, 이전 도면들의 것들과 공통인 피처들은 1XX, 2XX 또는 3XX보다 오히려 타입 4XX의 참조 번호들로 표기된다. 따라서, 도 9에서, 인증 장치는 참조 번호(400)(100, 200 또는 300보다 오히려)에 의해 나타내지고, 복굴절 측정 장치는 참조 번호(402)(102, 202 또는 302보다 오히려)에 의해 나타내고 등등이 있다.
도 9에 예시된 인증 장치(400)는 단일 고정된 검출기(414)가 있고 광학 응답 수정기(418)를 더 포함한다는 점에서 미리 설명된 것(및 도 4a 내지 도 4d, 도 5, 도 6에 예시된 것과 같은)고 상이하다.
광학 응답 수정기(418)는 방사기(410)와 검출기(416) 사이의 전자기 조사선의 빔 경로에 위치된다(제 1 및 제 2 크로스된 편광기들(412, 414) 및 아이템(408)인 바와 같이).
광학 응답 수정기(418)는 측정 구역에 위치된 아이템(408)의 관찰 가능 광학 응답을 수정하도록 동작한다. 광학 응답 수정기(418)의 수정 효과는 측정 구역에 위치된 아이템(408)의 관찰된 복굴절 특성을 수정하는 것이다. 광학 응답 수정기(418)는 검출기(416)에서 수신되고 측정된 바와 같은 편광되고 투과된 전자기 조사선의 강도를 나타내는 값에 미리 결정된 양의 오프셋을 효과적으로 도입하기 위해 제공된다.
광학 응답 수정기(418)는 선택적으로 반파 또는 1/4 파 지연 판으로서 작동하기에 적당한 재료를 포함한다. 광학 응답 수정기(418)(예를 들어, 복굴절 재료)는 아이템(408)의 회전 정렬에 관하여 광학 응답 수정기(418)를 회전시킴으로써 추가로 변경될 수 있는 가산 또는 감산 지연을 제공함으로써 응답을 제어한다. 지연의 변경 정도는 다음을 사용하여 계산될 수 있다:
Δr = IΔn cos(2θ)
여기서 Δr은 지연 변화이고, Δn은 광학 응답 수정기(418)의 복굴절이고, I는 광학 응답 수정기(418)의 두께이고 θ는 아이템(408) 측정 각도에 관한 회전 각도이다.
그러므로 동작시, 상기 아이템(408)에 의해 투과된 투과된 전자기 조사선(TL)은 제 2 편광기(414)를 통하여 통과할 때 제 2 편광기(414)에 의해 편광되고, 상기 아이템(408)에 의해 투과된 투과된 전자기 조사선(TL)의 일부는 검출기(416) 쪽으로 편광되고 투과된 전자기 조사선(화살표 PTL에 의해 나타냄)으로서 계속된다. 검출기(416)에 도달하기 전에, 편광되고 투과된 전자기 조사선(PTL)은 광학 응답 수정기(418)에 입사한다. 입사하는 편광되고 투과된 전자기 조사선(PTL)의 일부는 투과되지 않고(예를 들어, 반사되거나 흡수됨) 나머지 부분은 광학 응답 수정기(418)에 의해 투과된다. 이런 나머지 부분(이후 "광학적으로 수정된 투과된 조사선"(OMTL))은 검출기(416)로 계속되고 그 때문에 수신된다.
검출기(416)는 입사하는 광학적으로 수정되고 투과된 조사선(OMTL)의 검출에 응답하여, 광학적으로 수정되고 투과된 조사선(OMTL)의 강도에 비례하는 신호를 프로세서(404)에 출력한다.
프로세서(404)는 검출기(416)로부터 출력 측정 신호를 수신시, 수신된 신호의 값을 데이터베이스(도시되지 않음)에 저장된 미리 정의된 값들의 세트와 비교하도록 동작한다. 이들 미리 정의된 값들은, 진본 아이템(예를 들어, 진본 필름)이 측정 구역에 위치될 때 예상된 광학적으로 수정되고 투과된 조사선(OMTL) 값들에 대응한다.
프로세서(404)는 비교를 수행한 후, 필름/아이템이 진본인지 진본이 아닌지를 가리키기 위하여 경고 시스템(406)에게 명령하도록 동작한다. 비교의 결과가 긍정적이면(즉, 필름이 진본임), 프로세서는 필름/아이템이 진본이라는 표시를 발행할 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(406)에게 전송하도록 동작한다. 그렇지 않으면, 프로세서는 필름/아이템이 진본이 아니라는 표시를 발행할 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(406)에 전송하도록 동작한다.
종래 기술 시스템들에서, 복굴절은 백색 광 방사기를 가진 장비를 사용하고 그 다음 검출기에 수신된 광의 강도를 통합(필수적으로 평균화)하여 측정된다. 즉, 측정들은 백색 스펙트럼에 걸쳐 통합된다. 이것은 스텐터 필름들에 대해 취해진 측정들이 BOPP 버블 프로세스 필름들에 대해 취해진 측정들과 매우 유사할 수 있다는 것을 의미하고 여기서 이들 필름들의 제조 프로세스는 빈약하게 제어되었다.
복굴절의 측정은 0 내지 1 스케일을 사용하여 표준화되었고 여기서 0의 값은 복굴절이 없다(즉, 어떤 아이템도 존재하지 않는 한 쌍의 크로스된 편광기들)는 것을 나타낸다. 1의 값은 "반파" 특성들(약 275 nm 지연)을 가진 아이템이 존재할 때 복굴절을 나타낸다. 이전 측정 시스템들과 함께 사용된 표준화된(즉, 0 내지 1) 복굴절 측정 스케일에서, BOPP 버블 프로세스 필름은 표준화된 복굴절 측정 스케일에서 일반적으로 약 0.3의 측정 판독이 생기게 할 것이다. 그러나, 표준화된 복굴절 측정 스케일에서 약 0.4 내지 약 0.6의 측정 판독들은 스텐터 필름들에 대해 보통 보여질 수 있다.
선택적 어레인지먼트에서, 광학 응답 수정기(418)는 광학 응답 수정기(418)의 x 및 y 복굴절 축들의 배향을 변경하기 위하여 프로세서(404) 및 작동기(도시되지 않음)에 의해 제어 가능하게 회전할 수 있다.
복굴절이 가산적이기 때문에, 긍정 복굴절을 가산하거나 부정 복굴절을 감산함으로써 표준화된 복굴절 측정 스케일의 제로 포인트를 변경하는 것은 가능하다. 따라서, 동일한 복굴절을 가진 2개의 필름들은 2배 많은 지연(및 결과적으로 2배 많은 복굴절)을 생성하기 위하여 함께 가산될 것이다. 동일한 2개의 필름들은, 서로의 배향에 관하여 90°로 포지션될 때 효과적으로 서로 상쇄할 것이다.
장비가 측정할 아이템의 축과 대향 축에서 0.3 단색성 복굴절을 가진 광학 응답 수정기(418)(예를 들어, 필름)가 제공되면, 검출기(416)에서 수신된 광학적으로 수정되고 투과된 조사선(OMTL)의 측정 값은 측정 구역에 아이템이 없을 때 0.3일 것이다. 대향 축에서 지연 증가와 함께 샘플들을 배치하는 것은, 검출기(416)에서 수신된 광학적으로 수정되고 투과된 조사선(OMTL)의 측정 값이 0일 때, 샘플(즉, 삽입된 아이템) 복굴절이 0.3일 때까지 이 값을 감소시킬 것이다. 대향 축에서 지연을 추가로 증가시키는 것은 검출기(416)에서 수신된 광학적으로 수정되고 투과된 조사선(OMTL)의 측정 값을 증가시킬 것이다. 이 기술을 사용하는 것은 0 내지 0.6의 복굴절이 효과적으로 0.3으로 반분되는 것을 의미한다.
백색 광 시스템들에 대해 상기 기술을 이용한 결과는 갭이 이런 타입의 필름들에 대해 예상된 값들의 높은 쪽 엔드에서 BOPP 버블 프로세스에 대한 검출기 측정 값들과 이런 타입의 필름들에 대해 예상된 값들의 낮은쪽 엔드에서 스텐터 필름들에 대한 검출기 측정 값들 사이에서 넓어진다는 것이다.
상기 설명된 바와 같이 도 9의 어레인지먼트는 BOPP 버블 프로세스 필름들 및 BOPP 버블 프로세스 필름들 자체들의 범위와 유사한 범위의 복굴절 값들을 가진 스텐터 필름들 사이를 구별할 능력을 돕기에 적당할 수 있다. 따라서, 장치는 진짜 버블 프로세스 필름들, 진짜 비버블 프로세스 필름들(예를 들어, 스텐터 프로세스를 사용하여 만들어진 진본 필름들) 또는 진짜가 아닌 비버블 프로세스 필름들을 식별하기에 적당할 수 있다.
도 10은 본 발명의 하나 또는 그 초과의 실시예들에 따른 다른 인증 장치를 예시한다.
다시, 이전 도면들에 예시된 것들과 유사한 피처들은 또한 도 10에 예시된다. 도 10에서, 이전 도면들의 것들과 공통인 피처들은 1XX, 2XX, 3XX 또는 4XX보다 오히려 타입 5XX의 참조 번호들로 표기된다. 따라서, 도 10에서, 인증 장치는 참조 번호(500)(100, 200, 300 또는 400보다 오히려)에 의해 나타내고, 복굴절 측정 장치는 참조 번호(502)(102, 202, 302 또는 402보다 오히려)에 의해 나타내고 등등이 있다.
도 10의 인증 장치(500)를 더 상세히 설명하기 전에, WO 2009/133390에 개시된 바와 같은 복굴절 측정 시스템은 배경 기술 정보로서 논의될 것이다.
WO 2009/133390에 개시된 시스템은 인증될 필름이 제 1 및 제 2 편광기들 사이에 포지션 되는 방사기→제 1 편광기→제 2(크로스된) 편광기→검출기 시스템을 포함한다.
그 시스템의 방사기는 백색광을 방사하도록 동작한다. 시스템을 통해 통과하는 이 백색 광은 단지 하나의 파장이 아닌, 파장들의 전체 범위의 전자기 조사선을 포함한다. 그 범위 내에서 각각의 파장은 자신 및 자신의 파장 사이의 관계에 따라 제 2 편광기에서 상이하게 간섭할 것이다. 방정식(3)은 파장(λ) 및 지연 사이의 관계를 설명하는 위상 차(p)를 계산하기 위하여 사용될 수 있다:
Figure pct00002
(3)
위상 차(p)를 가진 2개의 파들의 간섭에 의해 형성된 파형의 진폭(A)은 방정식(4)을 사용함으로써 계산될 수 있다:
Figure pct00003
(4)
투과된 광의 임의의 광선에 대해, 강도(I)는 방정식(5)을 사용하여 계산될 수 있다:
Figure pct00004
(5)
방정식(5)은 특정 파장에서 파의 강도가 계산되게 하고 투과된 광이 무엇 처럼 보이는지를 도시하는 스펙트럼들을 빌드 업(build up)하기 위하여 사용될 수 있다. 그러나, 이는 측정될 범위에 걸쳐 투과된 광의 전체 강도(T)이고 따라서 이 방정식(5)은 다음과 같이 방정식(6)으로 수정되어야 한다:
Figure pct00005
(6)
도 11은 0 내지 0.05 복굴절의 범위에 걸쳐 60μm 필름에 대해 계산된 바와 같은 방정식(6)의 결과들을 도시한다. 이전에 표시된 바와 같이, 도 11은 필름의 투과되 강도 대 복굴절의 레벨을 도시한다. 알 수 있는 바와 같이, 피크에 도달된 다음, 발진하는 강도가 강하 및 상승한다. 도 11은 무슨 통합 검출기가 보일 것인지를 도시하고; 버블 프로세스에 의해 생성된 필름에 대해 가능한 것에 몇 배의 복굴절을 가진 필름은 이 스케일 상에서(예를 들어, 박스 A에 의해 나타낸 구역(이것은 모델링되고, 따라서 강도들을 정확하지 않을 수 있음))에서 30%만큼 작은 투과 값들을 가질 것이다. 인식될 수 있는 바와 같이, 이들 투과 값들은 버블 프로세스에 의해 생성된 필름에 대한 투과 값들의 범위의 상부 엔드에서의 값들과 유사하다(박스 B에 의해 나타냄).
복굴절은 통상적으로 마이크로-레비 차트(도 12에서 흑색 및 백색으로만 본원에 예시됨)로부터 판독에 의해 식별된다. 바닥 x 축은 지연(nm)이고 자신의 거동에 따라 상이한 순차들로 분할된다. 제 1 차의 제 1 절반(0-300nm)은 흑색으로부터 백색광의 광대역으로 투과하는 제로를 나타내는 백색으로의 전이로 구성된다. 이런 제 1 차는 도 11에 예시된 그래프에서 제 1 피크(0-0.004)에 대응한다. 강도가 제 1 차의 제 1 절반 이후 명백히 최대의 30%의 값으로 강하한다는 것이 주의되어야 한다. 이것은 제 1 차의 엔드에 대응하고 전파 필름을 사용함으로써 실제로 측정될 수 있다. 측정된 값은 계산된 값과 상이하고, 아마도 현실 장비의 변동들 및 상기 방정식들에 의해 정의된 모델의 단순화들로 인해, 최대치의 50%에 더 가깝게 된다.
WO 2009/133390에 개시된 타입의 백색 단일 검출기 통합 시스템은 사실상 단일 값으로 백색 광 소스로부터의 모든 광의 투과의 통합인 시스템의 검출기 엔드에서 측정을 초래한다. 이 때문에, 제 1 차보다 높은 지연들에서 발견되는 컬러 변화들을 해결할 수 없다(보다 상세히 도 12에 예시된 마이클-레비 차트의 풀 컬러 버전 참조). 그러므로, 몇몇 정보는 이런 타입의 시스템에 의해 취해진 측정들에서 손실된다.
추가로 예시하기 위하여, 도 11이 다시 참조된다. 도 11에 디스플레이된 투과 레벨들은 도 12에 예시된 마이클-레비 차트에 맵핑될 수 있다. 도 11에 예시된 제 1 사이클은 마이클-레비 차트의 제 1 차의 흑색 투 백색 전이에 대응한다. 도 11에 예시된 중간 사이클들은 도 12에 예시된 마이클-레비 차트의 보다 높은 차수에서 컬러 대역들(도 12에서 흑색 및 백색으로만 도시됨)에 대응한다. 풀-컬러 마이클-레비 차트가 참조되면, 보다 높은 차수들에서, 컬러들이 투과되는 것을 알 수 있다.
마이클 레비 차트가 취해지고 그레이-스케일로 변환되고, 그 다음 강도 라인이 이에 걸쳐 취해지면, 결과 프로파일은 도 11에 예시된 것과 대략적으로 동일한 형상을 가질 것이다.
이 그래프의 0.01에서 복굴절을 가진 필름(포인트 P에 의해 나타냄)이 0.002에서 1과 대략 동일한 통합된 투과 값을 가지며(포인트 Q에 의해 나타냄) 및 또한(도 12의 마이클-레비 차트를 상호 참조함으로써 알 수 있는 바와 같이) 5배의 지연을 가지는 것은 도 11로부터 알 수 있다.
버블 필름 및 스텐터 필름 사이의 관계는 심지어 보다 극단적이다. 60μm 스텐터 필름은 800과 1200 사이의 지연 값들을 가질 것인 반면 버블 필름들에 대한 지연 값은 약 200 미만일 것이다. 그러나, 이들 값들을 도 11의 그래프로 변환하는 것은 대략적으로 약 40% 유사한 투과들을 제공한다(200nm의 지연(마이클-레비 차트)은 도 11에서 약 0.002-0.003 복굴절에 대응하고; 800-1000nm의 지연은 도 11에서 약 0.015-0.025 복굴절에 대응함).
따라서, 이런 측정 기술은 매우 상이한 필름들에 대한 복굴절을 나타내는 유사한 값들을 리턴한다. 투과 레벨들에 대한 근거는 매우 상이하다. 버블 필름은 관찰자의 눈에 백색으로 보일 유사한 편평한 스펙트럼을 가질 것이고 스텐터 필름은 가시 스펙트럼 부분의 손실의 결과일 특정 컬러를 투과시킬 것이다. 가시 스펙트럼 부분의 이런 손실은 무엇이 통합 강도를 감소시키는지이다.
파장 구별을 허용하는 측정은 이런 차이를 드러낼 것이다. 도 10의 어레인지먼트는 상기 참조된 정보의 이런 손실을 회피하도록 시도하기 위한 그런 기술을 이용하도록 동작한다. 게다가, 도 10의 어레인지먼트는 투과될 수 있는 컬러 정보(즉, 마이클-레비 차트의 보다 높은 차수들에 대응함)를 수용하도록 설계된다. 이를 수행하기 위하여, 도 10의 어레인지먼트는 상기 참조된 0 내지 1 스케일을 제공하도록 보다 높은 복굴절 레벨들을 설명하는 1 내지 20 스케일을 이용할 수 있다. 그런 스케일은 프로세서가 스펙트럼을 단일 값으로 변환하기 위한 프로세스(이후 더 상세히 설명됨)를 구현하도록 동작할 때 프로세서에 의해 이용될 수 있다. 프로세스는 일반적으로 파장 정보(필수적으로 "컬러" 정보)가 임의의 측정에서 유지되게 하고 측정된 강도 값들의 세트의 변동을 값들 자체에 효과적으로 가산한다.
프로세서(504)의 프로세스에 의해 구현 가능할 수 있는 "컬러화된" 측정은 오정렬된 샘플들에 대한 시스템의 감도를 감소시킬 수 있다. 예를 들어 높은 복굴절 스텐터 필름은 가시 전자기 스펙트럼의 적색 부분의 광을 투과시킬 것이다. 즉, 검출기는 가시 전자기 스펙트럼의 적색 부분에 대응하는 파장들의 전자기 조사선을 수신할 것이다. 스텐터 필름은 회전될 때 여전히 적색 광을 투과할 것이지만, 측정된 강도는 필름이 회전됨에 따라 감소할 것이다. 백색 광 단일 검출기 통합 시스템은 필름이 회전될 때 강도의 이런 감소를 복굴절 감소로서 해석할 것이다. 컬러 측정 시스템은 이것이 그 경우가 아니라는 것을 도시한다. 복굴절/지연은 필름이 회전될 때와 동일하지만 투과되는 지연된 광의 양은 감소한다. 이것은 2개의 별개 효과들로 인한다. 투과가 실제로 검정색→회색→백색인 제 1 차로 지연하는 필름에 대해(풀-컬러 마이클-레비 차트 참조), 이것은 적색 광을 투과하는 필름에 대해 명백하지 않고: 만약 지연 정도가 변화하면, 관찰된 컬러는 변화할 것이다. 그러나, 그것은 그렇지 않고, 관찰된 적색 컬러의 강도는 단순히 감소할 것이다. 컬러 측정 시스템은 강도의 전체적 감소를 기억할 것이지만 일관된 스펙트럼들의 형상을 기억할 것이다.
도 10의 인증 장치를 사용하여, 오정렬되도록 측정 구역에 삽입된 "적색" 1000nm 지연 필름(즉, 적색 광을 전송하는 필름)은 매우 상이하고 투과 레벨이 보다 낮을지라도 비버블 필름(즉, 비교적 높은 복굴절 필름)으로서 여전히 검출 가능할 것이다. 이것은 프로세서(504)의 평균화 모듈에 의해 수행된 "라인-형상" 결정 프로세스의 이용(그리고 이후 추가로 논의됨)이 자신의 평균 강도보다 라인의 평탄도에 보다 많은 가중을 두기 때문이다. 따라서, 도 10에 예시된 바와 같이 컬러 측정 시스템은 백색 광 단일 검출기 통합 시스템에서 발생할 수 있는 정보의 손실을 회피하기 위하여 강도 정보에 부가하여 컬러 정보를 해석할 수 있다. 인증 결정은 정보의 양쪽 세트들에 기초하여 이 어레인지먼트의 프로세서(504)에 의해 이루어진다.
단지 백색 광 조건들 하에서만 복굴절의 측정들에 기초하여 진본성을 결정하는 시스템들의 제한들을 인식하는 위조자는, 비교적 높은 복굴절 진짜가 아닌 폴리머 필름 기판의 머신 및 횡 방향들이 기판의 에지들에 관하여 휘어지는 위조 보안 서류를 생성하도록 추구할 수 있다. 즉, 기판의 머신 및 횡 방향들은 기판의 에지들에 평행하지 않을 수 있다. 따라서, 이런 타입의 위조 보안 서류는 백색 광 방사기, 단일 통합 검출기 기술들을 사용하여 복굴절 측정들에 기초하여 진본성을 결정하는 시스템에 도입되고, 상기 위조 보안 서류는 맨눈에 적당하게 정렬된 것으로 나타날 수 있다. 그러나, 실제로 기판의 머신 및 횡 방향들은 장치에 관하여 오정렬될 것이고 만약 보다 낮은 복굴절의 필름 기판이 존재하면 관찰될 효과를 모방할 수 있다. 즉, 오정렬은, 그렇지 않으면 머신 및 횡 방향들이 정렬되도록 진짜가 아닌 보다 높은 복굴절 필름이 구성되면 관찰될 보다 낮은 복굴절의 관찰을 유발한다.
도 10에 관련하여 상기 설명된 장치는 비버블 프로세스 필름 기판들(즉, 비교적 높은 복굴절을 가진 이들 필름 기판들, 예를 들어 스텐터 기판들) 상에 형성된 위조 보안 서류들의 검출에 적당할 수 있고 여기서 폴리머 필름 기판의 머신 방향 및 횡 방향은 장치에 배치될 때 오정렬되도록 의도적으로 배열된다.
도 10에 예시된 인증 장치(500)는 단일 고정된 검출기(514)가 있고 적어도 하나의 파장 필터링 엘리먼트(518)를 더 포함한다는 점에서 이전에 설명된 것들의 몇몇과 상이하다.
적어도 하나의 파장 필터링 엘리먼트(518)는 방사기(510)와 검출기(516) 사이에서 이동하는 전자기 조사선의 빔 경로에 위치되도록 동작한다.
예시된 어레인지먼트에서, 파장 필터링 엘리먼트(518)는 검출기(516)에 의해 수신되기 전에 편광되고 투과된 전자기 조사선의 파장들 중 일부를 투과하도록 동작한다. 복수의 파장 필터링 엘리먼트들(518)이 제공되는 선택적 어레인지먼트들에서, 상기 복수의 파장 필터링 엘리먼트들(518) 각각은 편광되고 투과된 전자기 조사선의 스펙트럼의 상이한 부분들(즉, 상이한 파장 범위들)을 투과하는 역할을 할 수 있다. 빔 경로에서 복수의 파장 필터링 엘리먼트들(518) 중 하나의 배치는 프로세서(504)에 의해 제어된 작동기(도시되지 않음)에 의해 이루어질 수 있다. 이런 선택적 어레인지먼트에서, 장치는 검출기(516)에서 검출 측정을 수행할 편광되고 투과된 전자기 조사선의 스펙트럼의 상이한 부분들을 선택하도록 동작한다.
그러므로 동작시, 상기 아이템(508)에 의해 투과된 투과된 전자기 조사선(TL)은 통하여 통과할 때 제 2 편광기(514)에 의해 편광되고, 상기 아이템(508)에 의해 투과된 투과된 전자기 조사선(TL)의 일부가 편광되고 투과된 전자기 조사선(화살표 PTL에 의해 나타냄)으로서 검출기(516)로 계속된다. 검출기(516)에 도달하기 전에, 편광되고 투과된 전자기 조사선(PTL)은 파장 필터링 엘리먼트(518)에 입사된다. 입사된 편광되고 투과된 전자기 조사선(PTL)의 특정 파장들은 투과되지 않고(예를 들어, 반사 또는 흡수됨) 파장들의 나머지 부분은 파장 필터링 엘리먼트(518)에 의해 투과된다. 이런 나머지 부분(이후 "필터되고 투과된 조사선"(FTL))은 검출기(516)로 계속되고 그 때문에 수신된다.
검출기(516)는 입사된 필터되고 투과된 조사선(FTL)의 검출에 응답하여, 필터되고 투과된 조사선(FTL)의 강도에 비례하는 신호를 프로세서(504)에 출력한다.
프로세서(504)는 스펙트럼을 단일 값으로 변환하기 위한 프로세스를 구현하도록 동작한다. 프로세스는 이하 더 상세히 설명된다. 이런 단일 값은 스펙트럼이 얼마나 편평한지를 설명하는 팩터 플러스 평균 값에 기초한다. 편평한 스펙트럼은 스펙트럼의 평균 값에 대략 동일한 값(또는 통합된 강도)을 리턴할 것이고: 버블 필름들은 이 카테고리에 속할 것이다. 복굴절이 증가할 때, 스펙트럼은 기울어지고 궁극적으로 더 많이 복잡하게 되어, 변동 값 부분은 주가 되도록 증가하고 - 그러므로 높은 복굴절 재료들은 더 큰 값들을 스코어(score)할 것이다. 0 내지 1 표준화된 측정 스케일을 이용하는 상기 설명된 타입의 백색 광 단일 검출기 통합 시스템은, 비어 있을 때 0의 판독을 제공할 것이고 ("반파" 필름이 시스템에 위치될 때) "1"의 판독을 제공할 것이다. 이는 도 11의 그래프 상 스케일에 대략적으로 대응한다.
인증 장치(500)를 캘리브레이트(calibrate)하기 위하여, 오퍼레이터는 인증 프로세스를 시작하기 전에 캘리브레이션 프로세스를 수행할 수 있다.
"다크(dark)" 판독이 취해질 수 있고, 즉 방사기(510)를 사용한 장치의 빈 측정 구역의 스펙트럼은 오프이다. "라이트(light)" 판독은 또한 취해지고, 즉 방사기(510)를 갖는 빈 측정 구역의 스펙트럼은 온이다. 프로세서(504)는 이들 판독들이 "다크" 및 "라이트" 판독들인 것을 가리키는 표현들을 가진 상기 판독들로부터 얻어진 측정 값들을 플래그(flag)하도록 동작한다. 프로세서(504)는 몇몇 다른 시점에서 측정 값들을 리트리벌을 위하여 적당한 스토리지 수단에 통신하도록 추가로 동작한다.
일단 캘리브레이션 프로세스가 완료되면, 인증 장치(500)는 샘플들을 인증할 준비가 된다.
샘플 아이템/필름(508)이 인증 장치(500)의 측정 구역에 위치될 때, 샘플 판독이 취해지고, 즉 내부에 위치된 샘플을 가진 측정 구역의 스펙트럼 및 광들은 온이다.
검출기(516)에 의해 프로세서(504)에 출력된 측정 값들의 범위는 결과 스펙트럼을 계산하기 위하여 프로세서에 의해 동작된다. 프로세서(504)는 결과 스펙트럼을 계산하기 위하여 다음 계산을 구현하도록 동작한다:
resultSpectrum = (sampleReading - darkReading) / (lightReading - darkReading)
프로세서(504)는 평균화 모듈(도시되지 않음)을 사용하여 계산된 결과 스펙트럼을 "평활화"하도록 동작한다. 평균화 모듈에 의해 이루어진 프로세는 다음과 같다:
temp[j] = (resultSpectrum[j - 3] + resultSpectrum[j - 2] + resultSpectrum[j - 1] + resultSpectrum[j] + resultSpectrum[j + 1] + resultSpectrum[j + 2] + resultSpectrum[j + 3])/7
이 "평활화" 기능은 샘플의 변동에 대한 랜덤 잡음 효과를 감소시킬 수 있다.
각각의 결과(temp[j])는 스펙트럼을 통한 결과의 어느 한 측 상에서 +/-3 결과들로 평균화된다.
프로세서(504)는 평균화 모듈을 사용하여 동작하고, 그 다음 스펙트럼의 평균 값, 및 스펙트럼의 통계 변동을 계산한다.
그 다음 프로세서(504)는 평균화 모듈을 사용하여 동작하여, 그의 강도를 포지션하기 위하여 실제 스펙트럼의 평균을 사용한 이론적 이상적 형상으로부터 제 1 차(즉, 흑색 내지 백색) 지연 스펙트럼의 다항식을 계산한다.
그 다음 프로세서(504)는 평균화 모듈을 사용하여 동작하여, 다항식의 일반적 형상으로부터 이 결과적 스펙트럼의 변동을 계산한다.
프로세서(504)는 변동이 특정 레벨을 초과하면 다항식 정정이 적용되는 것을 결정하도록 동작한다. 이것에 대한 이유는 낮은 레벨들의 복굴절에 대해, 계산된 스펙트럼 라인이 스펙트럼의 적색 엔드(end)로 기울어지기 때문이다. 이것을 정정하는 것은 낮은 복굴절 라인들을 편평하게 하여, 변동시 이런 기울기의 효과를 감소시킨다. 그러나, 이런 기울기가 1차의 엔드에 근접한 복굴절 결과들에 적용되면(마이클-레비 차트 참조) 최종 변동을 감소시키거나 경계선상 필름들의 변동을 불공평하게 증가시킬 수 있다.
프로세서(504)는 다항식 정정이 적용되었다는 것을 결정하면 편평해진 라인의 변동을 재계산한다.
재계산된 변동은 라인의 편평도를 설명한다(상기 주의된 바와 같이). 라인이 편평해질수록, 변동은 작아진다. 모든 낮은 복굴절 라인들이 이론적 다항식에 따라 편평해졌기 때문에, 제 1 차의 복굴절은 평균 강도와 동등할 것이다. 공식은 라인을 설명하기 위하여 사용된다:
Result = average + 100*variance
이 기술을 사용하여, 결과는 라인 편평도의 변동들에 매우 민감하고, 다음 결과들이 얻어진다:
● 0-0.8 - 현재 백색광 단일 검출기 통합 시스템 0 내지 1(반파 플레이트) 스케일에 딱 맞음.
● 0.8-1.2 - 라인이 기울어지기 시작할 때, 백색 광 단일 검출기 통합 시스템 0 내지 1 스케일 상에서 0.8-1에 대략 대응하는 이 구역에서의 정확도 손실이 있음.
● 1.2-30 - 라인이 컬러화될 때, 변동이 크게 증가함. 스텐터 필름들은 적어도 9를 스코어하고 종종 더 높다. 이것은 0 내지 1 스케일 상에서 0.5-1에 동등하고: 백색 광 단일 검출기 통합 시스템에 의해 초래된 상황.
프로세서는, 상기된 프로세스를 구현한 후, 상기 프로세스를 사용하여 계산된 값들(또는 스펙트럼)(이는 수신된 신호를 나타냄)을 데이터베이스(도시되지 않음)에 저장된 미리 정의된 값들(또는 미리 정의된 스펙트럼)의 세트와 비교하도록 동작한다. 이들 미리 정의된 값들(또는 미리 정의된 스펙트럼)은, 진본 아이템(예를 들어, 진본 필름)이 측정 구역에 위치될 때, 예상된 필터되고 투과된 조사선(FTL) 값들(특정 파장 필터링 엘리먼트(518)가 이용될 때), 또는 미리 정의된 스펙트럼에 대응한다.
프로세서(504)는, 비교를 수행한 후, 필름/아이템이 진본인지 진본이 아닌지를 가리키도록 경고 시스템(506)에 명령하도록 동작한다. 비교 결과가 긍정적이면(즉, 필름이 진본이면), 프로세서는 필름/아이템이 진본이라는 표시를 발생할 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(506)에 전송하도록 동작한다. 그렇지 않으면, 프로세서는 필름/아이템이 진본이 아니라는 표시를 발행할 명령을 포함하는 신호를 경고 시스템(506)에게 전송하도록 동작한다.
도 7a 및 도 7b에 예시된 어레인지먼트의 선택적 어레인지먼트에서, 편광 방향이 제 1 편광기의 방향에 관하여 크로스되는 배향과 편광 방향이 제 1 편광기의 방향과 동일한 배향 사이에서 회전 가능한 단일 제 2 편광기보다, 제 2 편광기는 실제로 어느 투과 타입이 요구되는지(즉, 제 1 편광기와 비교되는 크로스된 편광 또는 제 1 편광기와 비교되는 평행 편광)에 따라 빔 경로에 배치될 수 있는 상이한 배향들을 가진 2개의 별도의 제 2 편광기들을 포함할 수 있다.
도 10에 예시된 어레인지먼트의 선택적 어레인지먼트에서, 백색 광 방사기 소스는 검출기(516)로서 분광기와 함께 사용될 수 있다. 그런 어레인지먼트에서, 파장 필터링 엘리먼트(518)는 요구되지 않는다.
도 10에 예시된 어레인지먼트의 다른 선택적 어레인지먼트에서, 방사기(510)는 백색 광 소스를 포함할 수 있고 검출기(516)는 파장 필터링 엘리먼트들(518)(선택적으로 상이한 컬러화 필터들)의 대응하는 어레이를 가진 포토다이오드들의 어레이를 포함할 수 있다. 예를 들어, 장치(500)는 방사기(510)로서 백색 LED, 및 검출기(516)로서 동작하는 3개의 포토다이오드들을 포함할 수 있다. 3개의 포토다이오드들 중 제 1 포토다이오드는 자신의 연관된 파장 필터링 엘리먼트(518)로서 대응하는 청색 필터를 가질 수 있고, 3개의 포토다이오드들 중 제 2 포토다이오드는 자신의 연관된 파장 필터링 엘리먼트(518)로서 대응하는 녹색 필터를 가질 수 있고, 그리고 3개의 포토다이오드들 중 데 3 포토다이오드는 자신의 연관된 파장 필터링 엘리먼트(518)로서 대응하는 적색 필터를 가질 수 있다.
도 10에 예시된 어레인지먼트의 다른 선택적 어레인지먼트에서, 방사기(510)는 방사기들의 어레이를 포함할 수 있고, 각각의 방사기는 상이한 컬러의 광을 방사하도록 동작한다. 검출기(516)는 대응하는 검출기들의 어레이를 포함하고, 각각의 검출기는 방사기들 중 연관된 방사기에 의해 방사된 특정 컬러의 광에 응답한다.
도 10에 예시된 어레인지먼트의 다른 선택적 어레인지먼트에서, 방사기(510)는 백색 광, 특정 컬러의 광(즉, 가시 전자기 스펙트럼의 특정 파장 범위의 광), 및/또는 컬러(그러나 모든 컬러들이 아님)들의 혼합 광을 방사하도록 제어할 수 있는 전자기 방사기 소스, 또는 소스들의 어레이를 포함할 수 있다. 이것은 백색 광 LED 하우징에 위치된 적색, 녹색 및 청색 LED들을 포함하는 타입의 백색 광 LED를 사용하여 구현될 수 있다. 적색, 녹색 및 청색 LED들은 백색 광을 생성하기 위하여 함께 조명될 수 있다. 그러나, 적색, 녹색 및 청색 LED들의 각각이 개별적으로 제어 가능하도록 백색 광 LED를 적응함으로써, 백색 광, 컬러 광(예를 들어, 적색만, 청색만 또는 녹색만), 또는 혼합된 컬러 광(예를 들어, 적색 및 녹색 광, 청색 및 녹색 광, 청색 및 적색 광)은 LED들(또는 LED들의 결합들)이 조명되는 것을 제어함으로서 얻어질 수 있다.
도 10에 예시된 어레인지먼트의 이런 선택적 어레인지먼트는 테스트되는 필름이 제 1 타입을 가지는지, 또는 그렇지 않은지, 또는 적어도 제 2 타입을 가지는지 그렇지 않은지를 결정하기에 적당할 수 있다. 제 1 타입의 필름은 예를 들어 버블 프로세스를 사용하여 형성된 필름일 수 있다. 적어도 제 2 타입의 필름은 예를 들어 스텐터 프로세스를 사용하여 형성된 필름일 수 있다. 장치는 제 1 타입의 진짜 필름들, 적어도 제 2 타입의 진짜 필름들, 진짜가 아닌 필름들을 식별하기 위하여 이용될 수 있다.
어레인지먼트는 도 13 내지 도 16을 참조하여 추가로 설명될 것이다. 도 13은 도 10에 예시된 장치의 선택적 어레인지먼트의 투시도를 개략적으로 예시한다. 이런 선택적 어레인지먼트에서, 방사기(510)는 동작 모드에 따라 백색 광(WL) 또는 특정 컬러(CL)의 광을 방사하도록 제어 가능한 전자기 방사기 소스를 포함한다.
상이한 방사기 소스들은 상이한 강도 대 지연 곡선들을 생성할 것이다. 따라서, 방사기 소스가 백색 광을 방사하는 강도 대 지연 곡선은 방사기 소스가 컬러 광을 방사하는 강도 대 지연 곡선과 상이할 것이다.
도 14는 방사기(510)가 백색 광을 방사하고 검출기(516)가 백색 광(PTL)을 수신하도록 장치가 제 1 모드에서 동작할 때 도 13의 장치(500)의 검출기(516)에 의해 측정된 바와 같이 지연 대 강도의 그래프를 예시한다. 도 15는 방사기(510)가 컬러 광을 방사하고 검출기(516)가 컬러 광(PTL)을 수신하도록 장치가 제 2 모드에서 동작할 때 도 13의 장치(500)의 검출기(516)에 의해 측정된 바와 같은 지연 대 강도의 그래프를 예시한다. 도 16은 도 14 및 도 15의 그래프들의 결합된 그래프를 예시한다.
도 14에 예시된 강도 곡선은 방사기(510)가 백색 광을 방사할 제 1 모드에서 동작할 때 상이한 필름 타입들(즉, 상이한 지연 값들)에 대해 검출기(516)에 의해 수신된 전자기 조사선의 강도에 대응한다. 버블 프로세스를 사용하여 제조된 폴리머 필름은 일반적으로 0 내지 120nm 범위의 지연 값을 가질 것이다(도 14에서 박스 R에 의해 나타냄). 도 14에 예시된 곡선으로부터 알 수 있는 바와 같이, 이 범위 내에서 지연 값을 가진 폴리머 필름에 대한 강도 신호는 보다 높은 지연 값들을 가진 필름들에 비교될 때 비교적 낮을 것이다.
그러므로, 어레인지먼트는 검출기에 의해 수신된 백색 광 전자기 조사선의 강도 값이 0.2 보다 작으면, 테스트 하의 필름이 버블 프로세스를 사용하여 제조된 필름(즉, 낮은 지연 값을 가진 필름)인지를 결정하기 위하여 사용될 수 있다. 따라서, 제 1 동작 모드에서, 장치(500)는 강도 값이 0.2 보다 작으면 테스트 하의 필름을 제 1 타입(즉, 버블 프로세스를 사용하여 만들어진 바와 같은)으로서 분류하고 강도 값이 0.2보다 크면 테스트 하의 필름을 적어도 제 2, 또는 몇몇 다른 타입으로서 분류한다.
몇몇 경우들에서, 비버블 프로세스에 의해 형성된 폴리머 기판(예를 들어, 스텐터 필름)을 포함하는 아이템의 진본성을 결정하는 것이 바람직할 수 있다. 장치(500)가 그런 방식으로 사용되면, 제 1 모드 측정 및 제 2 모드 측정은 그런 진본성 결정을 하기 위하여 사용되어야 한다.
스텐터 프로세스를 사용하여 제조된 매우 일반적인 폴리머 필름은 일반적으로 900 내지 1100nm 범위의 지연 값을 가질 것이다(박스 S1에 의해 나타냄). 도 14를 다시 참조하여, 이 범위 내의 지연 값을 가진 필름이 0.5와 0.6 사이의 값을 가진 검출기(516)에서 수신된 백색 광의 강도를 생성할 것이라는 것을 알 수 있다(장치가 제 1 모드에서 동작할 때). 그러나, 도면에서 알 수 있는 바와 같이, 0.5 내지 0.6의 강도 값은 보다 높은 그리고 보다 낮은 지연 값들 둘 다에서의 스펙트럼을 통해 매우 일반적이다. 실제로, 그런 강도 값은 또한 테스트 하의 필름이 약 1400nm 내지 약 1700nm(박스 S2에 의해 나타냄); 약 2100nm 내지 약 2400nm(박스 S3에 의해 나타냄); 약 2800nm 내지 약 3200nm((박스 S4에 의해 나타냄); 및 약 3500nm 내지 약 3900nm((박스 S5에 의해 나타냄)의 지연을 가지는 경우 발생할 수 있다.
그러므로, 인식될 바와 같이, 0.5와 0.6 사이의 강도 값을 사용하는 것은 테스트 하의 필름에 대한 지연 값이 결정되지 않도록 할 것인데, 그 이유는 이 범위의 값의 수신된 백색 광 전자기 조사선은 다수의 가능한 필름 지연 값들에 대응하기 때문이다.
비록 0.5 및 0.6 범위의 강도 값이 상기 언급된 바와 같이 이런 타입 외의 강도 값들이 생기게 하는 필름들을 제거하기 위하여 사용될 수 있지만, 추가 단계는 테스트 하의 필름이 요구된 범위 내의 지연 값을 가지는지를 결정하기 위하여 요구된다.
따라서 이전 프로세스의 요약에서, 검출기(516)에 의해 수신된 백색 광의 강도 값이 0.2(즉, 제 1 모드 제 1 임계 값) 보다 작으면, 장치(500)는 테스트 하의 필름이 제 1 타입(즉, 버블 프로세스 필름)을 가지는 것을 가리킨다. 검출기(516)에 의해 수신된 백색 광의 강도 값이 0.5와 0.6 사이(즉, 제 1 임계값을 초과하지만 제 1 모드 제 2 임계값과 제 1 모드 제 3 임계값 사이)이면, 장치(500)는 지연 값을 결정(그리고 따라서 필름이 제 2 타입을 가지는지 아닌지의 결정)하기 위하여 제 2 동작 모드(이하 추가로 설명됨)로 진행하여야 한다. 검출기(516)에 의해 수신된 백색 광의 강도 값이 둘 다 제 1 모드 제 1 임계값(즉, 0.2)보다 크고 제 1 모드 제 2 임계값(즉, 0.5)과 제 1 모드 제 3 임계값(즉, 0.6) 사이의 값들의 범위 외측이면, 장치(500)는 테스트 하의 필름이 진짜가 아닌 타입을 가지는 것을 가리키도록 동작한다.
제 2 동작 모드는 도 15에 관련하여 설명될 것이다. 이 동작 모드에서, 방사기(510)는 2개의 소스들(490nm의 광을 방사하는 소스 및 540nm의 광을 방사하는 소스)을 사용하여 컬러 광을 방사하도록 동작한다. 물론, 다른 어레인지먼트들에서, 상이한 파장들의 광을 방사하도록 동작하는 상이한 소스들이 사용될 수 있다.
따라서, 도 15의 강도 곡선은 방사기(510)로서 상기 소스들을 사용하여 검출기(516)에서 수신된 컬러 광에 대응한다. 다시, 버블 프로세스를 사용하여 제조되고 0 내지 120nm 범위의 지연 값을 가진 폴리머 필름은 이 도면에서 박스 R에 의해 나타내진다.
스텐터 프로세스를 사용하여 제조되고 900 내지 1100nm 범위의 지연 값을 가진 폴리머 필름(이 도면에서 박스 T1에 의해 나타냄)은 약 0.1 내지 0.2의 강도 값을 검출기(516)에서의 생성할 것이다. 도 15에서 알 수 있는 바와 같이, 검출기(516)에서 0.1 내지 0.2의 대략 동등한 강도 값들을 생성할 2개의 다른 필름 지연 값 범위들이 있다. 이들은 50 내지 120nm 범위의 지연 값(즉, 버블 프로세스 필름에 대응하는 박스 R 내의); 및 약 450nm 내지 약 600nm 범위의 지연 값(이 도면에서 박스 T2에 의해 나타냄)이다. 그러나, 박스 R 및 박스 T2 내의 범위의 지연 값들은 제 1 동작 모드로부터 강도 값 측정이 또한 고려될 때 프로세서(504)에 의해 제거될 수 있다. 이들 프로세싱 단계들은 도 14의 강도 곡선을 도 16에 예시된 바와 같이 도 15의 강도 곡선과 오버레잉함으로써 알 수 있다.
도 16에서, 박스 S1 & T1은 제 1 동작 모드 및 제 2 동작 모드 둘 다로부터의 파라미터들의 결합을 나타낸다. 즉, 테스트 하의 필름이 제 1 및 제 2 동작 모드들 둘 다에서 경계 파라미터들을 만족하는 강도 값들이 생기게 하면, 장치는 테스트 하의 필름이 제 2 타입, 즉 이 경우에서, 진짜 스텐터 필름을 가지는 것을 결정한다.
따라서, 제 1 동작 모드에서, 검출기(516)에 의해 수신된 백색 광의 강도 값이 0.5와 0.6 사이(즉, 제 1 임계값을 초과하지만 제 1 모드 제 2 임계값과 제 1 모드 제 3 임계값 사이)이면, 장치(500)는 제 2 동작 모드를 구현하도록 진행한다. 제 2 동작 모드에서, 검출기(516)에 의해 수신된 컬러 광의 강도 값이 약 0.1(제 2 모드 제 1 임계값)과 약 0.2(제 2 모드 제 2 임계값) 사이에 있으면, 장치는 테스트 하의 필름이 제 2 진짜 타입(예를 들어, 진짜 스텐터 필름)을 가지는 것을 결정하도록 동작한다. 그러나, 제 2 동작 모드를 구현한 후, 검출기(516)에 의해 수신된 컬러 광의 강도 값이 제 2 모드 제 1 임계값(즉, 0.1)과 제 2 모드 제 2 임계값(즉, 0.2) 사이의 값들의 범위 외측에 있다면, 장치(500)는 테스트 하의 필름이 진짜가 아닌 타입을 가지는 것을 가리키도록 동작한다.
프로세서(504)에 의해 구현된 상기 설명된 알고리즘은 다음과 같이 요약될 수 있다:
모드 1(백색 광)
a) 검출기에서의 강도 값이 약 0.2보다 작으면, 장치는 필름이 진짜이고 제 1 타입을 가진다는 표시를 제공하도록 동작하거나; 또는
b) 검출기에서의 강도 값이 약 0.5와 약 0.6 사이에 있다면, 장치는 모드 2를 구현하도록 동작하거나; 또는
c) 검출기에서의 강도 값이 약 0.2 보다 크고 약 0.5와 0.6 사이에 있지 않으면, 장치는 필름이 진짜가 아니라는 표시를 제공하도록 동작한다.
모드 2(컬러 광)
a) 검출기에서 강도 값이 약 0.1과 약 0.2 사이에 있다면, 장치는 필름이 진짜이고 제 2 타입을 가지는 표시를 제공하도록 동작하거나; 또는
b) 검출기에서 강도 값이 약 0.1과 약 0.2 사이에 있지 않으면, 장치는 필름이 진짜가 아닌 표시를 제공하도록 동작한다.
장치(500)가 제 1 및/또는 제 2 동작 모드들에서 임계값들을 간단히 변경함으로써 다른 진짜 필름 타입들을 검출하도록 구성될 수 있다는 것이 인식되어야 한다. 즉, 장치(500)에 의해 이용된 기술은 임의의 범위의 지연 값들을 가진 필름들의 진본성을 결정하기 위하여 사용될 수 있다.
게다가, 장치(500)는 상이한 컬러 광 소스 결합들을 사용하여 테스트 하의 샘플 필름을 조명하도록 구성될 수 있다. 따라서, 제 1 모드의 백색 광 소스 및 제 2 모드의 컬러 광 소스 대신, 장치는 제 1 모드의 제 1 컬러 광 소스 및 제 2 모드의 제 2 컬러 광 소스를 이용할 수 있다. 선택적으로, 2개보다 큰 동작 모드들이 있을 수 있고, 예를 들어 제 1 모드에서 동작하는 제 1 컬러 광 소스, 제 2 모드에서 동작하는 제 2 컬러 광 소스, 제 3 모드에서 제 3 컬러 광 소스 등등이 있다.
상기 설명된 실시예들 중 하나 또는 그 초과에서, 인증 장치는 미리 결정된 복굴절 특성 데이터 및 다른 광학 특성 데이터를 저장하기 위한 데이터 스토리지 엘리먼트(예를 들어, ROM), 및 작업 메모리 또는 캐시(예를 들어, RAM)를 더 포함할 수 있다.
또 다른 선택적 어레인지먼트들에서, 상기 설명된 하나 또는 그 초과의 실시예들의 피처들 중 하나 또는 그 초과(도 4a 내지 도 4b, 도 5, 도 6, 도 7, 도 8, 도 9, 도 10 및 도 13에 예시된 바와 같은)는 인증 장치의 다른 실시예들을 형성하기 위하여 상이한 결합들로 이용될 수 있다.
예시된 하나 또는 그 초과의 실시예들에서, 포인트 전자기 조사선 방사 소스들 및 포인트 검출기들이 도시된다. 그러나, 선택적 어레인지먼트들에서, 선형 전자기 조사선 방사 소스들 및/또는 선형 검출기들이 사용될 수 있다. 또 다른 선택적 어레인지먼트들에서, 포인트 소스들, 선형 소스들, 포인트 검출기 및/또는 선형 검출기들의 결합이 사용될 수 있다.
상기 설명에서, "광"에 대한 임의의 참조는 전자기 스펙트럼의 "가시적" 부분 및 또한 전자기 스펙트럼의 "비가시적" 부분 둘 다의 전자기 조사선을 포함하도록 의도된다. 게다가, 전자기 스펙트럼의 "가시적" 부분에 대한 임의의 참조는 적외선 및 자외선 광을 포함하도록 의도된다.
상기 설명된 본 발명의 실시예들이 적어도 부분적으로, 범용 프로세서 또는 특수 목적 프로세서, 디지털 신호 프로세서, 마이크로프로세서, 또는 다른 프로세싱 디바이스, 데이터 프로세싱 장치 또는 컴퓨터 같은 소프트웨어 제어된 프로그램 가능 프로세싱 디바이스를 사용하여 구현 가능한 한, 방법들 및 장치를 구현하기 위한 프로그램 가능 디바이스, 장치 또는 시스템을 구성하기 위한 컴퓨터 프로그램이 본 발명의 일 양상으로서 예상되는 것이 인식될 것이다. 컴퓨터 프로그램은 소스 코드, 객체 코드, 컴파일된 코드, 해석된 코드, 실행 가능 코드, 정적 코드, 동적 코드 등 같은 임의의 적당한 타입의 코드로서 실현될 수 있다. 명령들은 임의의 적당한 고급, 저급, 객체 지향, 비주얼, 컴파일된 및/또는 해석된 프로그래밍 언어, 이를테면 Liberate, OCAP, MHP, Flash, HTML 및 연관된 언어들, JavaScript, PHP, C, C++, Java, BASIC, Perl, Matlab, Pascal, Visual BASIC, JAVA, ActiveX, 어셈블리어, 머신 코드 등을 사용하여 구현될 수 있다. 당업자는 용어 "컴퓨터"가 가장 일반적인 측면에서 상기 참조된 바와 같은 프로그램 가능 디바이스들, 및 데이터 프로세싱 장치 및 컴퓨터 시스템들을 포함하는 것을 쉽게 이해할 것이다.
적절하게, 컴퓨터 프로그램은 머신 판독가능 형태의 캐리어상에 저장되고, 예를 들어 캐리어 매체는 메모리, 제거가능 또는 비제거가능 매체들, 소거가능 또는 비소거가능 매체들, 기록가능 또는 재기록가능 매체들, 디지털 또는 아날로그 매체들, 하드 디스크(disk), 플로피 디스크(disk), 컴팩트 디스크 판독 전용 메모리(CD-ROM), 기록 가능 컴포니 디스크(Company Disk Recordable: CD-R), 재기록가능 컴팩트 디스크(Compact Disk Rewriteable: CD-RW), 광학 디스크(disk), 자기 매체들, 자기 광학 매체들, 제거가능 메모리 카드들 또는 디스크(disk)들, 다양한 타입들의 디지털 다기능 디스크(DVD) 가입자 아이덴티티 모듈, 테이프, 카세트 고체 상태 메모리를 포함할 수 있다.
본원에 사용된 바와 같이 "일 실시예" 또는 "실시예"에 대한 임의의 참조는, 실시예와 관련하여 설명된 특정 엘리먼트, 피처, 구조, 또는 특성이 적어도 하나의 실시예에 포함되는 것을 의미한다. 명세서에서 다양한 장소들의 어구 "일 실시예에서"의 출현들은 반드시 동일한 실시예를 모두 참조하지 않는다.
본원에 사용된 바와 같이, 용어들 "포함하는", "가지는" 또는 이들의 임의의 다른 변형은 비배타적 포함을 커버하도록 의도된다. 예를 들어, 엘리먼트들의 리스트를 포함하는 프로세스, 방법, 물품 또는 장치는 반드시 이들 엘리먼트들로만 제한되는 것이 아니고 다른 엘리먼트들을 포함할 수 있지만 명시적으로 리스트되지 않거나 그런 프로세스, 방법, 물품, 또는 장치에 내재하지 않는다. 게다가, 명시적으로 반대로 언급되지 않으면, "또는"은 배타적 또는이 아닌 포괄적 또는을 지칭한다. 예를 들어, 조건 A 또는 B는 다음 중 임의의 하나에 의해 만족된다: A가 진실(또는 존재함)이고 B가 거짓(또는 존재하지 않음)이고, A가 거짓(또는 존재하지 않음)이고 B가 진실(또는 존재함)이고, 그리고 A 및 B 둘 다가 진실(또는 존재함)이다.
게다가, "관사"의 사용은 본 발명의 엘리먼트들 및 컴포넌트들을 설명하기 위하여 사용된다. 이것은 단순히 본 발명의 편리성 및 일반적 의미를 제공하기 위하여 행해진다. 이 설명은 다르게 의미되지 않은 것이 명백하지 않으면 하나 또는 적어도 하나를 포함하고 단수는 또한 복수를 포함하도록 판독되어야 한다.
상기 설명을 고려하여, 다양한 수정들이 본 발명의 범위 내에서 이루어질 수 있다는 것이 당업자에게 명백할 것이다.
본 개시의 범위는 청구된 본 발명에 관련되든 아니든 본 발명에 의해 처리되는 문제들 중 임의의 또는 모든 문제를 완화시키는 것에 무관하게 임의의 일반화 또는 명시적으로 또는 암시적으로 본원에 개시된 임의의 신규 피처 또는 피처들의 결합을 포함한다. 이에 의해 출원자는 새로운 청구항들이 이 출원 또는 이 출원으로부터 유도된 임의의 그런 추가 출원의 추진 동안 그런 피처들로 만들어질 수 있다는 안내를 제공한다. 특히, 첨부된 청구항들을 참조하여, 종속항들로부터의 피처들은 독립항들의 피처들과 결합될 수 있고 개별 독립항들로부터의 피처들은 단순히 청구항들에 열거된 특정 결합들이 아닌 임의의 적당한 방식으로 결합될 수 있다.

Claims (103)

  1. 폴리머 필름의 진본성(authenticity)을 결정하도록 동작하는 인증 장치로서,
    상기 인증 장치는 상기 필름의 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 제 1 효과 및 상기 필름의 다른 광학 특성에 의해 영향을 받은 제 2 효과를 측정하도록 동작하는 광학 기반 측정 어레인지먼트를 포함하고; 그리고 상기 장치는
    상기 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고;
    상기 제 2 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위를 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 다른 광학 특성에 대응하는 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 그리고
    상기 비교들 중 하나 또는 둘 다에 기초하여 상기 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력
    하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 장치는 버블 프로세스에 의해 만들어진 필름들과 상이한 프로세스에 의해 만들어진 필름들 사이를 구별하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  3. 제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
    상기 광학 기반 측정 어레인지먼트는 전자기 조사선으로 상기 장치의 측정 구역에 위치된 상기 필름의 제 1 측을 조명하도록 위치되어 동작하는 방사기; 상기 제 1 방사기에 의해 방사된 전자기 조사선의 적어도 일부가 통하여 통과하도록 상기 제 1 방사기와 상기 필름의 제 1 측 사이에 위치된 제 1 편광기; 상기 필름의 제 2 측에 위치되고, 상기 필름을 통해 투과되는 상기 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 동작하는 제 1 검출기; 상기 필름을 통해 투과된 전자기 조사선의 적어도 일부가 제 2 편광기를 통하여 통과하도록 상기 필름의 상기 제 2 측 및 상기 제 1 검출기 사이에 위치된 제 2 편광기를 포함하고, 상기 제 2 편광기는 상기 제 1 편광기의 방향에 횡방향인 제 1 방향, 및 상기 편광기의 방향과 동일한 제 2 방향 중 하나에서 편광을 이루기 위하여 제어 가능하게 배향하고; 상기 제 1 검출기는 상기 제 2 편광기가 상기 제 1 편광기의 방향에 횡방향인 제 1 방향에서 편광을 이루기 위하여 배향될 때 상기 필름의 상기 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 상기 제 1 효과를 측정하고 상기 제 2 편광기가 상기 제 1 편광기의 방향과 동일한 상기 제 2 방향에서 편광을 이루기 위하여 배향될 때 상기 필름의 상기 다른 광학 특성에 의해 영향을 받은 상기 제 2 효과를 측정하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기는 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 제 1 신호를 출력하고 측정된 바와 같은 상기 제 2 효과를 나타내는 제 2 신호를 출력하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기에 의해 출력된 상기 제 1 및 제 2 출력 신호들은 수신된 투과된 전자기 조사선의 강도에 비례하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  6. 제 4 항 또는 제 5 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기는
    상기 제 1 출력 신호의 값을 상기 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 그리고
    상기 제 2 출력 신호의 값을 미리 결정된 필름 투과율에 대응하는 상기 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하도록
    동작하는 프로세서에 상기 제 1 및 제 2 출력 신호들을 통신하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 제 1 출력 신호 값, 또는 값들의 범위가 배경 조건들에 의해 영향을 받은 효과를 나타내는 제 1 출력 신호 값, 또는 값들의 범위로부터 구별 불가능한 레벨을 가지면, 상기 프로세서는 상기 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 상기 제 2 출력 신호의 값, 또는 값들의 범위의 비교에 기초하여 상기 진본성 신호를 출력하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  8. 제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,
    상기 값 또는 값들의 범위는 진본 필름이 상기 측정 구역에 위치되면 상기 제 2 편광기가 개별적으로 제 1 방향 및 제 2 방향으로 편광을 이루기 위하여 배향될 때, 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과되고 상기 제 1 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 1 검출기 출력 신호 값을 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  9. 제 6 항 내지 제 8 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 프로세서는
    상기 제 1 출력 신호의 값과 상기 제 2 출력 신호의 값 사이의 차이 값을 계산하고;
    상기 차이 값을 반분함으로써 수정된 차이 값을 계산하고;
    상기 제 2 출력 신호 값으로부터 상기 수정된 차이 값을 감산함으로써 복굴절 대표 값을 계산하고;
    상기 복굴절 대표 값을 상기 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위에 비교하고; 그리고
    상기 비교에 기초하여 상기 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하도록
    동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  10. 제 1 항 내지 제 9 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광학 기반 측정 어레인지먼트는 상기 필름 평면에 비수직 각도를 포함하는 제 1 각도, 및 제 2 각도; 및 제 3 각도 중 적어도 하나로부터 상기 제 1 효과를 측정하도록 추가로 동작하고; 그리고 상기 장치는
    상기 제 1 각도로부터 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 상기 제 1 각도에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고;
    상기 제 2 및 제 3 각도들 중 상기 적어도 하나로부터 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위를 개별 제 2 및/또는 제 3 각도들에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 그리고
    상기 추가 비교들에 기초하여 상기 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하도록
    추가로 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  11. 제 10 항에 있어서,
    상기 제 2 각도는 상기 필름의 평면에 비수직 각도를 포함할 수 있고 상기 제 3 각도는 상기 필름의 평면에 수직 각도를 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  12. 제 10 항 또는 제 11 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기는 상기 필름을 통하여 투과되고 상기 제 1 각도 및 상기 제 2 및 제 3 각도들 중 적어도 하나에서 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 상기 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하고 상기 제 1 각도 및 상기 제 2 및 제 3 각도들 중 적어도 하나에서 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하도록 추가로 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  13. 제 12 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기는 상기 필름을 통해 투과되고 상기 제 1 각도로 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 상기 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 제 1 포지션 위치에 대해 상기 필름의 상기 제 2 측에 관하여 움직일 수 있고, 상기 필름을 통해 투과되고 개별 상기 제 2 및/또는 제 3 각도들에서 상기 필름의 제 2 측으로부터 투과된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 제 2 및/또는 제 3 포지션에 관하여 추가로 움직일 수 있는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  14. 제 12 항에 있어서,
    상기 필름의 제 2 측 상에 위치되고, 그리고 상기 필름을 통해 투과되고 상기 제 2 각도로 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 상기 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 동작하는 제 2 검출기; 및/또는
    상기 필름의 제 2 측 상에 위치되고, 상기 필름을 통해 투과되고 상기 제 3 각도로 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 상기 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 동작하는 제 3 검출기
    를 더 포함하고;
    상기 제 2 검출기는 상기 제 2 각도로 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하도록 동작하고; 및/또는
    상기 제 3 검출기는 상기 제 3 각도로 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  15. 제 10 항 내지 제 14 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 각도는 (ⅰ) 상기 필름에 관하여 벡터 [101]에 의해 설명된 것; 및 (ⅱ) 상기 필름에 관하여 벡터 [111]에 의해 설명된 것 중 하나를 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  16. 제 15 항에 있어서,
    상기 제 2 각도는 (ⅰ) 상기 필름에 관하여 벡터 [101]에 의해 설명된 것; 및 (ⅱ) 상기 필름에 관하여 벡터 [111]에 의해 설명된 것 중 다른 하나를 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  17. 제 10 항 내지 제 16 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기는 상기 제 1 각도로부터 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 상기 출력 신호의 값을 상기 제 1 각도에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위와 비교하도록 동작하는 프로세서에 상기 출력 신호를 통신하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  18. 제 17 항에 있어서,
    상기 값 또는 값들의 범위는 진본 필름이 측정 구역에 위치되면 상기 제 1 각도로 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과되고 상기 제 1 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 1 검출기 출력 신호 값을 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  19. 제 14 항, 또는 제 14 항에 직접적으로 또는 간접적으로 종속할 때 제 15 항 내지 제 18 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 2 검출기 및/또는 상기 제 3 검출기에 의해 출력된 출력 신호는 수신된 투과된 전자기 조사선의 강도에 비례하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  20. 제 19 항에 있어서,
    상기 제 2 검출기는 상기 제 2 각도로부터 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 상기 출력 신호의 값을 상기 제 2 각도에 대한 진본 필름 폴리머의 개별 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 상기 값 또는 값들의 범위와 비교하도록 동작하는 상기 프로세서에 상기 출력 신호를 통신하도록 동작하고; 및/또는
    상기 제 3 검출기는 상기 제 3 각도로부터 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 상기 출력 신호의 값을 상기 제 3 각도에 대해 진본 폴리머 필름의 개별 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 상기 값 또는 값들의 범위와 비교하도록 동작하는 상기 프로세서에 상기 출력 신호를 통신하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  21. 제 20 항에 있어서,
    상기 값 또는 값들의 범위는 상기 제 2 편광기가 상기 제 1 방향으로 편광을 이루기 위하여 배향될 때 그리고 진본 필름이 상기 측정 구역에 위치되면 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과되고 상기 제 2 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 2 검출기 출력 신호 값을 포함하고; 및/또는
    상기 값 또는 값들의 범위는 상기 제 2 편광기가 상기 제 1 방향으로 편광을 이루기 위하여 배향될 때 그리고 진본 필름이 상기 측정 구역에 위치되면 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과되고 상기 제 3 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 3 검출기 출력 신호 값을 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  22. 제 1 항 내지 제 21 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 광학 기반 측정 어레인지먼트는 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에 걸쳐 상기 필름의 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 제 3 효과를 측정하도록 추가로 동작하고, 그리고 상기 장치는
    측정된 바와 같은 제 3 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를, 전자기 스펙트럼의 적어도 일부와 동일한 스펙트럼에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 3 효과를 나타내는 개별 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 그리고
    상기 비교에 기초하여 상기 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  23. 제 22 항에 있어서,
    상기 제 3 효과의 측정은 단색성 측정을 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  24. 제 3 항에 직접적으로 또는 간접으로 종속할 때, 제 22 항 또는 제 23 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부로부터의 전자기 조사선을 선택적으로 검출하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  25. 제 24 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 자신의 검출 범위를 상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에 대응하게 변경하도록 제어 가능한,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  26. 제 24 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부로부터의 전자기 조사선을 검출하기 위해 미리 선택되는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  27. 제 24 항 내지 제 26 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 적어도 2개의 서브-검출기들의 어레이를 포함하고, 상기 적어도 2개의 서브-검출기들 중 제 1 서브-검출기는 전자기 스펙트럼의 제 1 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 동작하고, 상기 적어도 2개의 서브-검출기들 중 제 2 서브-검출기는 상기 전자기 스펙트럼의 제 2 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  28. 제 27 항에 있어서,
    상기 제 1 서브-검출기는 자신의 검출 범위를 상기 전자기 스펙트럼의 제 1 부분에 대응하게 변경하도록 제어 가능하고, 제 2 서브-검출기들은 자신의 검출 범위를 상기 전자기 스펙트럼의 제 2 부분에 대응하게 변경하도록 제어 가능한,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  29. 제 27 항에 있어서,
    상기 제 1 서브-검출기는 상기 전자기 스펙트럼의 제 1 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 미리 선택되고 상기 제 2 서브-검출기는 상기 전자기 스펙트럼의 제 2 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 미리 선택되는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  30. 제 3 항에 직접적으로 또는 간접적으로 종속할 때, 제 22 항 내지 제 29 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 전자기 스펙트럼의 적어도 다른 부분을 마스크(mask)하고 그리고 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들에 의한 수신을 위하여 상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부를 투과하도록 배열된 적어도 하나의 필터를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  31. 제 3 항에 직접적으로 또는 간접적으로 종속할 때, 제 22 항 내지 제 30 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 방사기, 또는 선택적으로 방사기들은 상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에서 전자기 조사선을 방사하도록 제어 가능한,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  32. 제 3 항에 직접적으로 또는 간접적으로 종속할 때 제 22 항 내지 제 31 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 방사기, 또는 선택적으로 방사기들은 상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에서의 전자기 조사선을 방사하도록 미리 선택되는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  33. 제 31 항 또는 제 32 항에 있어서,
    상기 방사기, 또는 선택적으로 방사기들은 백색 광을 방사하도록 제 1 모드에서 그리고 컬러화된 광을 방사하도록 제 2 모드에서 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  34. 제 31 항 또는 제 32 항에 있어서,
    상기 장치는 백색 광을 방사하도록 제 1 방사기를 제어하기 위한 제 1 모드 및 컬러화된 광을 방사하도록 제 2 방사기를 제어하기 위한 제 2 모드에서 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  35. 제 33 항 또는 제 34 항에 있어서,
    상기 제 1 모드에서 상기 장치는 상기 테스트 하의 폴리머 필름이 상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들의 출력 신호에 기초하여 제 1 진짜 타입 또는 적어도 제 2 진짜 타입의 폴리머 필름을 포함하는지를 가리키도록 동작할 수 있고, 그리고 추가로 상기 테스트 하의 폴리머가 제 1 진짜 타입과 다른 타입을 가지는 것을 가리키는 출력 신호에 응답하여, 상기 장치는 상기 제 2 모드를 구현하고 그리고 상기 테스트 하의 폴리머 필름이 상기 제 1 및 제 2 모드들 둘 다에서 상기 제 1 검출기의 상기 출력 신호들, 및/또는 선택적으로 상기 제 1 및 제 2 모드들 둘 다에서 상기 제 2 및/또는 제 3 검출기들의 출력 신호들에 기초하여 상기 적어도 제 2 진짜 타입의 폴리머 필름을 포함하는지 또는 그렇지 않은지를 가리키도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  36. 제 35 항에 있어서,
    상기 제 1 모드에서 상기 장치는
    측정된 바와 같은 상기 제 3 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 제 1 진짜 타입의 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 3 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하고; 그리고
    상기 비교에 기초하여 상기 제 1 진짜 타입을 포함하는 필름인지 아닌지를 가리키는 분류 신호를 출력하도록
    동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  37. 제 36 항에 있어서,
    상기 장치는, 측정된 바와 같은 상기 제 3 효과를 나타내는 상기 값이 상기 제 1 진짜 타입의 필름에 대한 상기 특정 제 1 효과에 대한 상한을 나타내는 제 1 모드 제 1 임계값보다 작으면 제 1 진짜 타입을 포함하는 상기 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  38. 제 37 항에 있어서,
    상기 장치는, 측정된 바와 같은 상기 제 3 효과를 나타내는 상기 값이 상기 제 1 모드 제 1 임계값보다 높고 상기 제 1 모드 제 2 임계값과 제 1 모드 제 3 임계값 사이의 값들의 범위 외측이면 진짜가 아닌 타입을 포함하는 상기 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  39. 제 38 항에 있어서,
    상기 장치는, 상기 제 1 모드에서 측정된 바와 같은 상기 제 3 효과를 나타내는 상기 값이 상기 제 1 모드 제 2 임계값과 상기 제 1 모드 제 3 임계값 사이에 있다면 상기 제 2 모드를 구현하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  40. 제 39 항에 있어서,
    상기 장치는, 측정된 바와 같은 상기 제 3 효과를 나타내는 상기 값이 제 2 모드 제 1 임계값과 제 2 모드 제 2 임계값 사이의 값들의 범위 내에 있다면 제 2 진짜 타입을 포함하는 상기 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하도록 동작하고, 상기 값들의 범위는 상기 제 2 진짜 타입의 필름에 대한 특정 제 3 효과를 나타내는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  41. 제 1 항 내지 제 40 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 필름의 복굴절 패턴을 이미징하기 위한 광학 기반 복굴절 이미징 어레인지먼트를 더 포함하고, 그리고 상기 장치는
    진본 폴리머 필름의 복굴절 패턴을 나타내는 개별 이미지와 상기 복굴절 패턴의 이미지를 비교하고; 그리고
    상기 비교에 기초하여 상기 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하도록
    동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  42. 제 41 항에 있어서,
    상기 광학 기반 복굴절 이미징 어레인지먼트는 전자기 조사선으로 상기 장치의 측정 구역에 위치된 상기 필름의 제 1 측을 조명하도록 위치 및 동작하는 방사기; 상기 제 1 방사기에 의해 방사된 전자기 조사선의 적어도 일부가 통과하도록 상기 필름의 상기 제 1 측과 상기 제 1 방사기 사이에 위치된 제 1 편광기; 상기 필름의 제 2 측 상에 위치되고, 그리고 상기 필름을 통해 투과되고 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 상기 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 동작하는 이미징 디바이스; 상기 필름을 통해 투과된 전자기 조사선의 적어도 일부가 통과하도록 상기 필름의 상기 제 2 측과 상기 이미징 디바이스 사이에 위치된 제 2 편광기를 포함하고, 상기 이미징 디바이스는 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과되고 상기 이미징 디바이스에서 수신된 전자기 조사선에 기초하여 이미지된 복굴절 패턴을 나타내는 데이터를 출력하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  43. 제 42 항에 있어서,
    상기 이미징 디바이스는 상기 출력 데이터를 미리 결정된 복굴절 패턴을 나타내는 데이터 세트와 비교하도록 동작하는 프로세서에 이미지된 복굴절 패턴을 나타내는 상기 데이터를 출력하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  44. 제 42 항 또는 제 43 항에 있어서,
    상기 방사기; 상기 제 1 편광기; 및 상기 제 2 편광기 중 적어도 하나는 상기 광학 기반 복굴절 측정 어레인지먼트의 것들과 공통인,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  45. 제 42 항 내지 제 44 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 방사기는 백색 광 소스를 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  46. 제 42 항 내지 제 45 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 이미징 디바이스는 광감지 어레이를 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  47. 제 1 항 내지 제 46 항 중 어느 한 항에 있어서,
    미리 결정된 양의 오프셋을 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위에 도입하도록 상기 제 1 효과를 수정하기 위해 배열된 광학 응답 수정기를 더 포함하고, 상기 광학 기반 복굴절 측정 어레인지먼트는 수정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 측정하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  48. 제 42 항에 직접적으로 또는 간접적으로 종속할 때, 제 47 항에 있어서,
    상기 광학 응답 수정기는 상기 방사기와 상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 상기 제 2 및/또는 제 3 검출기들 사이에서 전자기 조사선의 빔 경로에 위치되고, 추가로 상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 상기 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 수정된 바와 같은 제 1 효과를 측정하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  49. 제 48 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 상기 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 수정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  50. 제 48 항 또는 제 49 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 상기 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 수정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 상기 출력 신호의 값을 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하고 동일한 광학 응답 수정기에 의해 수정된 바와 같은 특정 제 1 효과를 나타내는 값 또는 값들의 범위와 비교하도록 동작하는 프로세서에 상기 출력 신호를 통신하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  51. 제 1 항 내지 제 50 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 장치는 아이템의 기판의 적어도 일부를 형성하는 폴리머 필름을 포함하는 상기 아이템을 수용하도록 동작하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하도록 동작하는 인증 장치.
  52. 제 1 항 내지 제 51 항 중 어느 한 항에 따른 장치를 포함하는 지폐 인증 장치로서,
    상기 장치는 상기 지폐의 기판의 적어도 일부를 형성하는 폴리머 필름을 포함하는 지폐의 진본성을 결정하도록 동작하는,
    지폐 인증 장치.
  53. 폴리머 필름의 진본성을 결정하기 위하여 제 1 항 내지 제 51 항 중 어느 한 항에 따른 장치의 용도.
  54. 폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법으로서,
    상기 필름의 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 제 1 효과 및 상기 필름의 다른 광학 특성에 의해 영향을 받은 제 2 효과를 측정하는 단계;
    상기 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계;
    상기 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 다른 광학 특성에 대응하는 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 및
    상기 비교들 중 하나 또는 둘 다에 기초하여 상기 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하는 단계
    를 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  55. 제 54 항에 있어서,
    상기 폴리머 필름이 버블 프로세스에 의해 만들어지는지 상이한 프로세스에 의해 만들어지는지를 가리키는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  56. 제 54 항 또는 제 55 항에 있어서,
    제 1 방사기에 의해 방사된 전자기 복사선의 적어도 일부가 통하여 통과하도록 제 1 방사기와 상기 필름의 상기 제 1 측 사이에 위치된 제 1 편광기에 의해 편광된 전자기 조사선으로 상기 장치의 측정 구역에 위치된 상기 필름의 제 1 측을 조명하는 단계;
    상기 필름의 제 2 측에 위치된 제 1 검출기에서, 상기 필름을 통해 투과된 전자기 조사선의 적어도 일부가 제 2 편광기를 통해 통과하도록 상기 필름을 통해 투과되고 상기 필름의 상기 제 2 측과 상기 제 1 검출기 사이에 위치된 제 2 편광기에 의해 편광된 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하는 단계;
    제 1 편광기의 방향에 횡방향인 제 1 방향; 및 제 1 편광기의 방향과 동일한 제 2 방향 중 하나에서 편광을 이루기 위하여 상기 제 2 편광기를 배향하는 단계;
    상기 제 2 편광기가 제 1 편광기의 방향에 횡방향인 상기 제 1 방향에서 편광을 이루기 위하여 배향될 때 상기 필름의 상기 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 제 1 효과를 측정하고 제 2 편광기가 제 1 편광기의 방향과 동일한 제 2 방향으로 편광을 이루기 위하여 배향될 때 필름의 다른 광학 특성에 의해 영향을 받은 상기 제 2 효과를 측정하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  57. 제 56 항에 있어서,
    측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 제 1 신호 및 측정된 바와 같은 제 2 효과를 나타내는 제 2 신호를 출력하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  58. 제 57 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 출력 신호들은 수신된 투과된 전자기 조사선의 강도에 비례하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  59. 제 57 항 또는 제 58 항에 있어서,
    상기 제 1 및 제 2 출력 신호들을 프로세서에 통신하는 단계;
    상기 제 1 출력 신호의 값을 상기 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 및
    상기 제 2 출력 신호의 값을 미리 결정된 필름 투과율에 대응하는 상기 특정 제 2 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계
    를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  60. 제 59 항에 있어서,
    상기 제 1 출력 신호 값, 또는 값들의 범위가 배경 조건들에 의해 영향을 받은 효과를 나타내는 제 1 출력 신호 값, 또는 값들의 범위로부터 구별 불가능할 수 있는 레벨을 가지면, 상기 특정 제 2 효과를 나타내는 상기 값, 또는 값들의 범위와 상기 제 2 출력 신호의 상기 값, 또는 값들의 범위의 비교에 기초하여 상기 진본성 신호를 출력하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  61. 제 59 항 또는 제 60 항에 있어서,
    상기 값 또는 값들의 범위는, 진본 필름이 상기 측정 구역에 위치되면 상기 제 2 편광기가 각각 상기 제 1 방향 및 상기 제 2 방향에서 편광을 이루기 위하여 배향될 때, 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과되고 상기 제 1 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 1 검출기 출력 신호 값을 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  62. 제 59 항 내지 제 61 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 출력 신호의 값과 상기 제 2 출력 신호의 값 사이의 차이 값을 계산하는 단계;
    상기 차이 값을 반분함으로써 수정된 차이 값을 계산하는 단계;
    상기 제 2 출력 신호 값으로부터 상기 수정된 차이 값을 감산함으로써 복굴절 대표 값을 계산하는 단계;
    상기 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위에 상기 복굴절 대표 값을 비교하는 단계; 및
    상기 비교에 기초하여 상기 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하는 단계
    를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  63. 제 54 항 내지 제 62 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 필름의 평면에 비수직 각을 포함하는 제 1 각도, 및 제 2 각도; 및 제 3 각도 중 적어도 하나로부터 상기 제 1 효과를 측정하는 단계;
    상기 제 1 각도로부터 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 상기 제 1 각도에 대한 진본 폴리머의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계;
    상기 제 2 및 제 3 각도들 중 적어도 하나로부터 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 개별 제 2 및/또는 제 3 각도들에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 그리고
    상기 추가 비교들에 기초하여 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하는 단계
    를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  64. 제 63 항에 있어서,
    상기 제 2 각도는 상기 필름의 평면에 비수직 각도를 포함할 수 있고 상기 제 3 각도는 상기 필름의 평면에 수직 각을 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  65. 제 63 항 또는 제 64 항에 있어서,
    상기 필름을 통해 투과되고 상기 제 1 각도 및 상기 제 2 및 제 3 각도들 중 적어도 하나에서 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 상기 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하는 단계 및 상기 제 1 각도 및 상기 제 2 및 제 3 각도들 중 적어도 하나에서 상기 필름의 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  66. 제 65 항에 있어서,
    상기 필름을 통해 투과되고 상기 제 1 각도에서 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 상기 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하도록 제 1 포지션에 상기 제 1 검출기를 위치시키는 단계, 및 상기 필름을 통해 투과되고 개별 상기 제 2 및/또는 제 3 각도들에서 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 상기 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하기 위하여 상기 제 1 검출기를 제 2 및/또는 제 3 포지션으로 움직이는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  67. 제 65 항에 있어서,
    상기 필름을 통해 투과되고 상기 제 2 각도에서 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 상기 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하기 위한 제 2 검출기를 상기 필름의 제 2 측 상에 제공하는 단계; 및/또는
    상기 필름을 통해 투과되고 상기 제 3 각도에서 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 상기 방사기로부터의 전자기 조사선을 수신하기 위한 제 3 검출기를 상기 필름의 제 2 측 상에 제공하는 단계; 및
    상기 제 2 검출기로부터, 상기 제 2 각도에서 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하는 단계; 및/또는
    상기 제 3 검출기로부터, 상기 제 3 각도에서 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과된 전자기 조사선에 기초하여 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 신호를 출력하는 단계
    를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  68. 제 63 항 내지 제 67 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 각도는 (ⅰ) 상기 필름에 관하여 벡터 [101]에 의해 설명되고; 그리고 (ⅱ) 상기 필름에 관하여 벡터 [111]에 의해 설명된 것 중 하나를 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  69. 제 68 항에 있어서,
    상기 제 2 각도는 (ⅰ) 상기 필름에 관하여 벡터 [101]에 의해 설명되고; 그리고 (ⅱ) 상기 필름에 관하여 벡터 [111]에 의해 설명된 것 중 다른 하나를 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  70. 제 63 항 내지 제 69 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 출력 신호를 프상기 로세서에 통신하는 단계;
    상기 제 1 각도로부터 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 상기 출력 신호의 값을 상기 제 1 각도에 대한 진본 폴리머의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 상기 값 또는 값들의 범위와 비교하는 단계
    를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  71. 제 70 항에 있어서,
    상기 값 또는 값들의 범위는 진본 필름이 상기 측정 구역에 위치되면 상기 제 1 각도에서 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과되고 상기 제 1 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 1 검출기 출력 신호 값을 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  72. 제 67 항, 또는 제 67 항에 직접적으로 또는 간접적으로 종속할 때, 제 68 항 내지 제 71 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 2 검출기 및/또는 상기 제 3 검출기에 의해 출력된 출력 신호는 수신된 투과된 전자기 조사선의 강도에 비례하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  73. 제 72 항에 있어서,
    상기 제 2 검출기로부터 상기 프로세서로 상기 출력 신호를 통신하는 단계;
    상기 제 2 각도로부터 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 상기 출력 신호의 값을 상기 제 2 각도에 대한 진본 필름 폴리머의 개별 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 상기 값 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 및/또는
    상기 제 3 검출기로부터 상기 프로세서로 상기 출력 신호를 통신하는 단계;
    상기 제 3 각도로부터 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 상기 출력 신호의 값을 상기 제 3 각도에 대한 진본 폴리머 필름의 개별 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 1 효과를 나타내는 상기 값 또는 값들의 범위와 비교하는 단계
    를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  74. 제 73 항에 있어서,
    상기 값 또는 값들의 범위는, 상기 제 2 편광기가 제 1 방향에서 편광을 이루기 위하여 배향되고 그리고 진본 필름이 측정 구역에 위치되면 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과되고 상기 제 2 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 2 검출기 출력 신호 값을 포함하고; 및/또는
    상기 값 또는 값들의 범위는 상기 제 2 편광기가 상기 제 1 방향으로 편광을 이루기 위하여 배향될 때 그리고 진본 필름이 측정 구역에 위치되면 상기 필름의 상기 제 2 측으로부터 투과되고 상기 제 3 검출기에 의해 수신된 전자기 조사선을 나타내는 적어도 하나의 예상된 제 3 검출기 출력 신호 값을 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  75. 제 54 항 내지 제 74 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에 걸쳐 상기 필름의 상기 복굴절 특성에 의해 영향을 받은 제 3 효과를 측정하는 단계;
    측정된 바와 같은 상기 제 3 효과를 나타내는 값, 또는 값들의 범위를 전자기 스펙트럼의 동일한 적어도 일부에 대한 진본 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 3 효과를 나타내는 개별 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 및
    상기 비교에 기초하여 상기 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하는 단계
    를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  76. 제 75 항에 있어서,
    상기 제 3 효과의 측정은 단색성 측정을 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  77. 제 56 항에 직접적으로 또는 간접적으로 종속할 때, 제 75 항 또는 제 76 항에 있어서,
    상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부로부터의 전자기 조사선을 선택적으로 검출하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  78. 제 77 항에 있어서,
    상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에 대응하도록 자신의 검출 범위를 변경하도록 상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들은 제어하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  79. 제 77 항에 있어서,
    상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부로부터 전자기 복사선을 검출하기 위하여 상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들을 미리 선택하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  80. 제 77 항 내지 제 79 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들로서 적어도 2개의 서브-검출기들의 어레이를 제공하는 단계; 및
    상기 적어도 2개의 서브-검출기들 중 제 1 서브-검출기에서, 전자기 스펙트럼의 제 1 부분으로부터의 전자기 복사선을 검출하는 단계;
    상기 적어도 2개의 서브-검출기들 중 제 2 서브-검출기에서, 전자기 스펙트럼의 제 2 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하는 단계
    를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  81. 제 80 항에 있어서,
    상기 전자기 스펙트럼의 제 1 부분에 대응하도록 자신의 검출 범위를 변경하도록 상기 제 1 서브-검출기를 제어하는 단계, 및 상기 전자기 스펙트럼의 제 2 부분에 대응하도록 자신의 검출 범위를 변경하도록 상기 제 2 서브-검출기를 제어하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  82. 제 80 항에 있어서,
    상기 전자기 스펙트럼의 제 1 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 상기 제 1 서브-검출기 및 상기 전자기 스펙트럼의 제 2 부분으로부터의 전자기 조사선을 검출하도록 제 2 서브-검출기를 미리 선택하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  83. 제 56 항에 직접적으로 또는 간접적으로 종속할 때, 제 75 항 내지 제 82 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들에 의해 수신을 위해 상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부를 투과하도록 상기 전자기 스펙트럼의 적어도 다른 부분을 마스킹하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  84. 제 56 항에 직접적으로 또는 간접적으로 종속할 때, 제 75 항 내지 제 83 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부의 전자기 조사선을 방사하도록 방사기, 또는 선택적으로 방사기들을 제어하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  85. 제 56 항에 직접적으로 또는 간접적으로 종속할 때, 제 75 항 내지 제 84 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 전자기 스펙트럼의 적어도 일부에서 전자기 조사선을 방사하도록 상기 방사기, 또는 선택적으로 방사기들을 미리 선택하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  86. 제 84 항 또는 제 85 항에 있어서,
    백색 광을 방사하기 위한 제 1 모드 및 컬러화된 광을 방사하기 위한 제 2 모드에서 상기 방사기, 또는 선택적으로 방사기들을 동작시키는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  87. 제 84 항 또는 제 85 항에 있어서,
    백색광을 방사하기 위한 제 1 모드에서 제 1 방사기를 제어하는 단계; 및
    컬러화된 광을 방사하기 위한 제 2 모드에서 제 2 방사기를 제어하는 단계
    를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  88. 제 86 항 또는 제 87 항에 있어서,
    상기 제 1 모드에서, 상기 테스트 하의 폴리머 필름이 상기 제 1 검출기, 및/또는 선택적으로 제 2 및/또는 제 3 검출기들의 출력 신호에 기초하여 제 1 진짜 타입 또는 적어도 제 2 진짜 타입의 폴리머 필름을 포함하는지를 가리키는 단계를 포함하고, 그리고 추가로 상기 테스트 하의 폴리머가 상기 제 1 진짜 타입과 다른 타입을 가지는 것을 가리키는 출력 신호에 응답하여, 상기 제 2 모드를 구현하는 단계 및 상기 테스트 하의 폴리머 필름이 상기 제 1 및 제 2 모드들 둘 다에서 상기 제 1 검출기의 상기 출력 신호들, 및/또는 선택적으로 상기 제 1 및 제 2 모드들 둘 다에서 상기 제 2 및/또는 제 3 검출기들의 출력 신호들에 기초하여 상기 적어도 제 2 진짜 타입의 폴리머 필름을 포함하는지 또는 그렇지 않은지를 가리키는 단계를 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  89. 제 88 항에 있어서,
    상기 제 1 모드에서 상기 방법은
    측정된 바와 같은 상기 제 3 효과를 나타내는 상기 값, 또는 값들의 범위를 제 1 진짜 타입의 폴리머 필름의 미리 결정된 복굴절 특성에 대응하는 특정 제 3 효과를 나타내는 상기 값, 또는 값들의 범위와 비교하는 단계; 그리고
    상기 비교에 기초하여 제 1 진짜 타입을 포함하는 필름인지 아닌지를 가리키는 분류 신호를 출력하는 단계
    를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  90. 제 89 항에 있어서,
    측정된 바와 같은 상기 제 3 효과를 나타내는 상기 값이 상기 제 1 진짜 타입의 필름에 대한 상기 특정 제 1 효과에 대한 상한을 나타내는 제 1 모드 제 1 임계값보다 작으면 제 1 진짜 타입을 포함하는 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  91. 제 90 항에 있어서,
    측정된 바와 같은 상기 제 3 효과를 나타내는 상기 값이 상기 제 1 모드 제 1 임계값보다 높고 제 1 모드 제 2 임계값과 제 1 모드 제 3 임계값 사이의 값들의 범위 외측이면 진짜가 아닌 타입을 포함하는 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  92. 제 91 항에 있어서,
    상기 제 1 모드에서 측정된 바와 같은 상기 제 3 효과를 나타내는 상기 값이 상기 제 1 모드 제 2 임계값과 상기 제 1 모드 제 3 임계값 사이에 있다면 상기 제 2 모드를 구현하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  93. 제 92 항에 있어서,
    측정된 바와 같은 상기 제 3 효과를 나타내는 상기 값이 제 2 모드 제 1 임계값과 제 2 모드 제 2 임계값 사이의 값들의 범위 내에 있다면 제 2 진짜 타입을 포함하는 필름을 가리키는 분류 신호를 출력하는 단계를 더 포함하고, 상기 값들의 범위는 상기 제 2 진짜 타입의 필름에 대한 특정 제 3 효과를 나타내는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  94. 제 54 항 내지 제 93 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 필름의 복굴절 패턴을 이미징하는 단계;
    상기 복굴절 패턴의 이미지를 진본 폴리머 필름의 복굴절 패턴을 나타내는 개별 이미지와 비교하는 단계; 및
    상기 비교에 기초하여 상기 필름이 진본인지 아닌지를 가리키는 진본성 신호를 출력하는 단계
    를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  95. 제 94 항에 있어서,
    이미징 디바이스로부터, 이미지된 복굴절 패턴을 나타내는 데이터를 프로세서에 출력하는 단계 및 상기 출력 데이터를 미리 결정된 복굴절 패턴을 나타내는 데이터-세트와 비교하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  96. 제 94 항 또는 제 95 항에 있어서,
    상기 백색 광 소스를 포함하는 방사기를 사용하여 상기 필름을 조명하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  97. 제 94 항 내지 제 96 항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 이미징 단계를 구현하기 위하여 광감지 어레이를 제공하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  98. 제 54 항 내지 제 97 항 중 어느 한 항에 있어서,
    미리 결정된 양의 오프셋을 측정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 나타내는 상기 값, 또는 값들의 범위에 도입하기 위하여 상기 제 1 효과를 수정하는 단계, 및 수정된 바와 같은 상기 제 1 효과를 측정하는 단계를 더 포함하는,
    폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
  99. 제 1 항 내지 제 51 항 중 어느 한 항에 따른 장치의 하나 또는 그 초과의 양상들을 구현하도록 컴퓨터 프로세서에서 동작하는 컴퓨터 프로그램 엘리먼트들을 포함하는 컴퓨터 프로그램.
  100. 제 54 항 내지 제 98 항 중 어느 한 항에 따른 방법의 하나 또는 그 초과의 양상들을 구현하도록 컴퓨터 프로세서에서 동작하는 컴퓨터 프로그램 엘리먼트들을 포함하는 컴퓨터 프로그램.
  101. 제 99 항 또는 제 100 항에 따른 컴퓨터 프로그램을 보유한 컴퓨터 판독가능 매체.
  102. 첨부 도면들 중 도 4a 내지 도 4b, 도 5, 도 6, 도 7a, 도 7b, 도 8, 도 9, 도 10 및 도 13 중 임의의 하나 또는 초과를 참조하여 실질적으로 이전에 설명되고 예시된 바와 같은 인증 장치.
  103. 첨부 도면들 중 도 4a 내지 도 4b, 도 5, 도 6, 도 7a, 도 7b, 도 8, 도 9, 도 10 및 도 13 중 임의의 하나 또는 초과를 참조하여 실질적으로 이전에 설명되고 예시된 바와 같은 폴리머 필름의 진본성을 결정하는 방법.
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