KR20150138927A - 토출 헤드 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 - Google Patents

토출 헤드 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20150138927A
KR20150138927A KR1020140065893A KR20140065893A KR20150138927A KR 20150138927 A KR20150138927 A KR 20150138927A KR 1020140065893 A KR1020140065893 A KR 1020140065893A KR 20140065893 A KR20140065893 A KR 20140065893A KR 20150138927 A KR20150138927 A KR 20150138927A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
film layer
liquid
organic film
ejection
discharge
Prior art date
Application number
KR1020140065893A
Other languages
English (en)
Other versions
KR102379015B1 (ko
Inventor
권강
김정선
Original Assignee
세메스 주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 세메스 주식회사 filed Critical 세메스 주식회사
Priority to KR1020140065893A priority Critical patent/KR102379015B1/ko
Publication of KR20150138927A publication Critical patent/KR20150138927A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR102379015B1 publication Critical patent/KR102379015B1/ko

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/6715Apparatus for applying a liquid, a resin, an ink or the like
    • BPERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
    • B08CLEANING
    • B08BCLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
    • B08B5/00Cleaning by methods involving the use of air flow or gas flow
    • B08B5/04Cleaning by suction, with or without auxiliary action
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/67Apparatus specially adapted for handling semiconductor or electric solid state devices during manufacture or treatment thereof; Apparatus specially adapted for handling wafers during manufacture or treatment of semiconductor or electric solid state devices or components ; Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67005Apparatus not specifically provided for elsewhere
    • H01L21/67011Apparatus for manufacture or treatment
    • H01L21/67017Apparatus for fluid treatment
    • H01L21/67028Apparatus for fluid treatment for cleaning followed by drying, rinsing, stripping, blasting or the like

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Coating Apparatus (AREA)
  • Particle Formation And Scattering Control In Inkjet Printers (AREA)
  • Application Of Or Painting With Fluid Materials (AREA)

Abstract

본 발명은 토출 헤드 및 토출 헤드를 포함하는 기판 처리 장치를 제공한다. 토출 헤드는 그 액 토출면에 유기막 층이 제공되고, 유기막 층의 저면에는 무기막 층이 제공된다. 따라서, 토출 헤드의 액 토출면은 거칠기가 개선되고 표면 에너지가 낮아짐으로써, 액 맺힘 현상이 최소화 되고, 액이 맺힌 경우 잔류 액과 액 토출면간의 접촉각이 커짐으로써, 석션이 용이하다.

Description

토출 헤드 및 이를 포함하는 기판 처리 장치{EJECTION HEAD AND SUBSTRATE TREATING APPARATUS INCLUDING THE SAME}
본 발명은 기판을 처리하는 장치에 관한 것으로, 보다 상세하게는 기판에 액을 토출하는 토출 헤드 및 이를 포함하는 기판 처리 장치에 관한 것이다.
일반적으로, 잉크젯 프린트 장치는 기판 상에 액을 도포하는 헤드 및 헤드를 세정하는 세정 유닛을 구비한다. 헤드는 액을 토출하는 다수의 노즐을 구비하며, 기판의 특정 위치에 액을 도포한다. 잉크젯 프린트 장치에 사용되는 액은 대체로 점성 및 휘발성이 높기 때문에 응고되기 쉽다.
도 1은 일반적인 노즐이 형성된 액 토출면(1)에대해 석션 유닛(2)이 석션을 수행하는 모습을 나타낸 도면이다. 도 1을 참고하면, 일반적으로, 잔류 액을 세정하기 위해 석션 유닛(2)을 이용한 석션이 수행된다. 이 경우, 액 토출면의 표면이 거칠수록, 표면 에너지가 상승하여 액이 넓게 분포함으로써, 액 맺힘 현상이 쉽게 발생되고, 액 토출면에 대한 석션 수행이 용이하지 않다.
본 발명은 액이 토출되는 액 토출면의 액맺힘 현상을 최소화 하기 위한 토출 헤드를 제공하기 위한 것이다.
또한, 본 발명은 액 토출면에 대한 석션 수행을 용이하게 하기 위한 토출 헤드를 제공하기 위한 것이다.
본 발명이 해결하고자 하는 과제는 여기에 제한되지 않으며, 언급되지 않은 또 다른 과제들은 아래의 기재로부터 당업자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.
본 발명의 일 실시예는 액을 토출하는 토출 헤드를 제공한다. 토출 헤드는, 내부에 액이 수용되는 공간이 제공되고, 그 길이 방향이 제 1 방향을 따라 제공된 바디;와 상기 바디의 저면에 결합되며, 상하 방향으로 관통되어 상기 액을 토출하는 토출구들이 형성된 분사 플레이트;를 가지되, 상기 분사 플레이트는, 베이스 판; 상기 베이스 판의 저면에 코팅된 유기막 층을 포함한다.
상기 분사 플레이트는, 상기 유기막 층의 저면에 코팅된 무기막 층을 더 포함한다.
상기 베이스 판의 저면은, 상기 토출구들이 형성된 중앙 영역; 및 상기 토출구들이 형성되지 않은 가장자리 영역;을 가지되, 상기 유기막 층은, 상기 중앙 영역에 코팅되고, 상기 가장자리 영역에는 코팅되지 않는다.
상기 분사 플레이트는, 상기 유기막 층의 저면 및 측면을 감싸도록 무기막 층을 더 포함한다.
또한, 본 발명은 기판 처리 장치를 제공한다. 기판 처리 장치는 베이스; 상기 베이스에 설치되고, 기판이 놓여지는 기판 지지 유닛; 및 상기 기판 지지 유닛의 이동 경로 상부에 제공되며, 기판 상에 액을 토출하는 토출 헤드가 결합된 갠트리;를 포함하되, 상기 토출 헤드는, 상술한 토출 헤드와 동일하다.
본 발명의 일 실시예에 의하면, 액이 토출되는 액 토출면의 액맺힘 현상을 최소화 할 수 있다.
또한, 본 발명의 일 실시예에 의하면, 액 토출면에 대한 석션 수행을 용이하게 할 수 있다.
도 1은 일반적인 액 토출면을 나타낸 도면이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 기판 처리 장치를 나타낸 사시도이다.
도 3은 도 1의 토출 헤드를 나타낸 사시도이다.
도 4는 도 3의 분사 플레이트의 저면을 나타낸 사시도이다.
도 5는 도 4의 분사 플레이트를 A에서 A'으로 절단한 단면을 나타낸 단면도이다.
도 6은 도 3의 분사 플레이트를 설명하기 위한 단면도이다.
이하, 본 발명의 실시 예를 첨부된 도면들을 참조하여 더욱 상세하게 설명한다. 본 발명의 실시 예는 여러 가지 형태로 변형할 수 있으며, 본 발명의 범위가 아래의 실시 예들로 한정되는 것으로 해석되어서는 안 된다. 본 실시 예는 당업계에서 평균적인 지식을 가진 자에게 본 발명을 더욱 완전하게 설명하기 위해 제공되는 것이다. 따라서 도면에서의 요소의 형상은 보다 명확한 설명을 강조하기 위해 과장되었다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 기판 처리 장치의 사시도이다.
도 2를 참조하면, 기판 처리 장치(10)는 베이스(B), 기판 지지 유닛(100), 갠트리(200), 토출 헤드(300), 그리고 헤드 세정 유닛(400)을 포함한다.
베이스(B)는 일정한 두께를 가지는 직육면체 형상으로 제공될 수 있다. 베이스(B)의 상면에는 기판 지지 유닛(100)이 배치된다.
기판 지지 유닛(100)은 기판(S)이 놓이는 지지판(110)을 가진다. 지지판(110)은 사각형 형상의 판일 수 있다. 지지판(110)의 하면에는 회전 구동 부재(120)가 연결된다. 회전 구동 부재(120)는 회전 모터일 수 있다. 회전 구동 부재(120)는 지지판(110)에 수직한 회전 중심축을 중심으로 지지판(110)을 회전시킨다. 지지판(110)이 회전 구동 부재(120)에 의해 회전되면, 기판(S)은 지지판(110)의 회전에 의해 회전될 수 있다.
제 1 방향(Ⅰ)은 갠트리(210)의 길이 방향이다. 제 2 방향(Ⅱ)은 상부에서 바라볼 때, 제 1 방향(Ⅰ)에 수직한 방향이다. 제 3 방향(Ⅲ)은 제 1 방향(Ⅰ) 및 제 2 방향(Ⅱ)에 수직한 방향이다.
지지판(110)과 회전 구동 부재(120)는 직선 구동 부재(130)에 의해 제 2 방향(Ⅱ)으로 직선 이동될 수 있다. 직선 구동 부재(130)는 슬라이더(132)와 가이드 부재(134)를 포함한다. 회전 구동 부재(120)는 슬라이더(132)의 상면에 설치된다. 가이드 부재(134)는 베이스(B)의 상면 중심부에 제 2 방향(Ⅱ)으로 길게 연장된다. 슬라이더(132)에는 리니어 모터가 내장될 수 있으며, 슬라이더(132)는 리니어 모터에 의해 가이드 부재(134)를 따라 제 2 방향(Ⅱ)으로 직선 이동된다.
갠트리(200)는 지지판(110)이 이동되는 경로의 상부에 제공된다. 갠트리(200)는 베이스(B)의 상면으로부터 위방향으로 이격 배치되며, 갠트리(200)는 길이 방향이 제 1 방향(Ⅰ)을 향하도록 배치된다.
토출 헤드(300)는 헤드 이동 유닛(500)에 의해 갠트리(200)에 결합된다. 토출 헤드(300)는 헤드 이동 유닛(500)에 의해 갠트리의 길이 방향, 즉 제 1 방향(Ⅰ)으로 직선 이동하고, 또한 제3 방향(Ⅲ)으로 직선 이동될 수 있다. 토출 헤드(300)는 기판에 액정의 액적을 토출한다. 토출 헤드(300)는 복수 개가 제공될 수 있다. 본 실시예에서는 3개의 토출 헤드(300a, 300b, 300c)가 제공된 예를 도시하였으나 이에 한정되는 것은 아니다. 토출 헤드(300)는 제 1 방향(Ⅰ)으로 일렬로 나란하게 배열될 수 있으며, 갠트리(200)에 결합된다.
도 3은 도 2의 헤드를 나타낸 사시도이다. 도 3을 참고하면, 토출 헤드(300)는 바디(310) 및 분사 플레이트(320)를 포함한다.
바디(310)는 내부에 액이 수용되는 공간(310a)이 제공된다. 바디(310)는 그 길이 방향이 제 1 방향(Ⅰ)을 따라 제공된다.
도 4 는 분사 플레이트(320)의 저면을 보여주는 사시도이다. 도 5는 도 4의 분사 플레이트(320)를 A에서 A'으로 절단한 단면을 나타낸 단면도이다. 도 6은 도 5의 유기막 층(323) 및 무기막 층(324)을 나타낸 도면들이다. 도 3 내지 도 6을 참고하면, 분사 플레이트(320)는 베이스 판(322); 유기막 층(323) 및 무기막 층(324)을 포함한다. 분사 플레이트(320)는 바디(310)의 저면에 결합된다.
베이스 판(322)에는 상하 방향으로 관통되어 액을 토출하는 복수개의 토출구(321)들이 형성된다. 예를 들어, 베이스 판(322)에는 128개 또는 256개의 토출구(321)들이 제공될 수 있다. 토출구(321)들은 일정 피치의 간격으로 일렬로 배치될 수 있다. 베이스 판(322)의 저면은 중앙 영역(325) 및 가장자리 영역(326)을 가진다. 토출구(321)들은 중앙 영역(325)에 형성된다. 가장자리 영역(326)에는 토출구(321)들이 형성되지 않는다.
유기막 층(323)은 베이스 판(322)의 저면에 코팅된다. 유기막 층(323)은 페릴렌(Parylene)을 포함하는 재질로 제공될 수 있다. 베이스 판(322) 저면에 유기막 층(323)이 코팅됨으로써, 베이스 판(322) 저면의 거칠기가 개선된다. 따라서, 표면 에너지가 감소하여 액맺힘 현상이 감소된다. 또한 액이 맺힌 경우, 베이스 판(322)의 저면과 액의 접촉각이 크게 제공되어 석션 수행이 용이하다. 또한, 유기막 층(323)은 무기막 층(324)에 비해 코팅이 용이하고 두껍게 제공될 수 있어, 외부 충격에 대한 완충효과를 제공한다.
무기막 층(324)은 유기막 층(323)의 저면에 코팅된다. 무기막 층(324)은 소수성 성질을 가지는 무기물을 포함하는 재질로 제공된다. 예를 들어, 무기막 층(324)은 금속 재질, 실리콘 등의 재질을 포함하는 재질로 제공된다. 소수성 성질을 갖는 무기막 층(324)이 코팅됨으로써, 베이스 판(322)의 저면은 친수성 성질의 유기막 층(323)이나 베이스 판(322)에 비해 표면 에너지가 감소하여 액맺힘 현상이 감소된다. 또한 액이 맺힌 경우, 베이스 판(322)의 저면과 액의 접촉각이 크게 제공되어 석션 수행이 용이하다.
유기막 층(323)은 중앙 영역(325)에 코팅되고, 가장자리 영역(326)에는 코팅되지 않을 수 있다. 이 경우, 무기막 층(324)은 유기막 층(323)의 저면 및 측면(323a)을 감싸도록 유기막 층(323)의 저면 및 측면(323a)과 베이스 판(322)의 가장자리 영역(326)에 코팅된다. 따라서, 친수성 성질을 가져 수분과 공기에 취약한 유기막 층(323)의 저면 및 측면(323a)을 외부 수분과 공기로부터 보호할 수 있다.
토출 헤드(300)는 공간(310a)에 제공된 액이 토출 헤드(300)를 통해 분사되도록 압력을 제공하는 압전 소자를 더 포함한다. 토출 헤드(300)각각의 토출 헤드(300)에는 토출구(321)들에 대응하는 수만큼의 압전 소자(330)가 제공될 수 있으며, 토출구(321)들의 액적 토출량은 압전 소자(330)들에 인가되는 전압의 제어에 의해 각기 독립적으로 조절될 수 있다. 압전 소자(330)들은 바디(310)의 내부의 토출구(321)들의 상부에 제공될 수 있다.
헤드 세정 유닛(400)은 베이스(B) 상에 설치되어, 토출 헤드(300)를 세정한다. 헤드 세정 유닛(400)은 음압을 형성하여 토출 헤드(300)에 잔류하는 액 및 세정액 등을 석션(Suction)하는 석션 부재로 제공될 수 있다.
상술한 바와 같이, 베이스 판(322)의 저면에 유기막 층(323)을 제공하고, 유기막 층(323)의 저면 및 측면(323a)에 무기막 층(324)을 제공함으로써, 액이 토출되는 액 토출면의 액맺힘 현상을 최소화 할 수 있으며, 액 토출면에 대한 석션 수행을 용이하게 할 수 있다.
10: 기판 처리 장치 S: 기판
100: 기판 지지 유닛 200: 갠트리
300: 토출 헤드 310: 바디
320: 분사 플레이트 322: 베이스 판
323: 유기막 층 324: 무기막 층
400: 헤드 세정 유닛

Claims (12)

  1. 액을 토출하는 토출 헤드에 있어서,
    내부에 액이 수용되는 공간이 제공되고, 그 길이 방향이 제 1 방향을 따라 제공된 바디;와
    상기 바디의 저면에 결합되며, 상하 방향으로 관통되어 상기 액을 토출하는 토출구들이 형성된 분사 플레이트;를 가지되,
    상기 분사 플레이트는,
    베이스 판;
    상기 베이스 판의 저면에 코팅된 유기막 층을 포함하는 토출 헤드.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 분사 플레이트는,
    상기 유기막 층의 저면에 코팅된 무기막 층을 더 포함하는 토출 헤드.
  3. 제 2 항에 있어서,
    상기 베이스 판의 저면은,
    상기 토출구들이 형성된 중앙 영역; 및 상기 토출구들이 형성되지 않은 가장자리 영역;을 가지되,
    상기 유기막 층은, 상기 중앙 영역에 코팅되고, 상기 가장자리 영역에는 코팅되지 않는 토출 헤드.
  4. 제 1 항에 있어서,
    상기 분사 플레이트는,
    상기 유기막 층의 저면 및 측면을 감싸도록 무기막 층을 더 포함하는 토출 헤드.
  5. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 하나에 있어서,
    상기 유기막 층은, 페릴렌(Parylene)을 포함하는 재질로 제공되는 토출 헤드.
  6. 제 1 항 내지 제 4 항 중 어느 하나에 있어서,
    상기 공간에 제공된 액이 상기 토출 헤드를 통해 분사되도록 압력을 제공하는 압전 소자를 더 포함하는 토출 헤드.
  7. 베이스;
    상기 베이스에 설치되고, 기판이 놓여지는 기판 지지 유닛; 및
    상기 기판 지지 유닛의 이동 경로 상부에 제공되며, 기판 상에 액을 토출하는 토출 헤드가 결합된 갠트리;를 포함하되,
    상기 토출 헤드는,
    내부에 액이 수용되는 공간이 제공되고, 그 길이 방향이 제 1 방향을 따라 제공된 바디;와
    상기 바디의 저면에 결합되며, 상하 방향으로 관통되어 상기 액을 토출하는 토출구들이 형성된 분사 플레이트;를 가지되,
    상기 분사 플레이트는,
    베이스 판;
    상기 베이스 판의 저면에 코팅된 유기막 층을 포함하는 기판 처리 장치.
  8. 제 7 항에 있어서,
    상기 분사 플레이트는,
    상기 유기막 층의 저면에 코팅된 무기막 층을 더 포함하는 기판 처리 장치.
  9. 제 8 항에 있어서,
    상기 베이스 판의 저면은,
    상기 토출구들이 형성된 중앙 영역; 및 상기 토출구들이 형성되지 않은 가장자리 영역;을 가지되,
    상기 유기막 층은, 상기 중앙 영역에 코팅되고, 상기 가장자리 영역에는 코팅되지 않는 기판 처리 장치.
  10. 제 7 항에 있어서,
    상기 분사 플레이트는,
    상기 유기막 층의 저면 및 측면을 감싸도록 무기막 층을 더 포함하는 기판 처리 장치.
  11. 제 7 항 내지 제 10 항 중 어느 하나에 있어서,
    상기 유기막 층은, 페릴렌(Parylene)을 포함하는 재질로 제공되는 기판 처리 장치.
  12. 제 7 항 내지 제 10 항 중 어느 하나에 있어서,
    상기 토출 헤드는, 상기 공간에 제공된 액이 상기 토출 헤드를 통해 분사되도록 압력을 제공하는 압전 소자를 더 포함하는 기판 처리 장치.
KR1020140065893A 2014-05-30 2014-05-30 토출 헤드 및 이를 포함하는 기판 처리 장치 KR102379015B1 (ko)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140065893A KR102379015B1 (ko) 2014-05-30 2014-05-30 토출 헤드 및 이를 포함하는 기판 처리 장치

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020140065893A KR102379015B1 (ko) 2014-05-30 2014-05-30 토출 헤드 및 이를 포함하는 기판 처리 장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150138927A true KR20150138927A (ko) 2015-12-11
KR102379015B1 KR102379015B1 (ko) 2022-03-29

Family

ID=55020183

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020140065893A KR102379015B1 (ko) 2014-05-30 2014-05-30 토출 헤드 및 이를 포함하는 기판 처리 장치

Country Status (1)

Country Link
KR (1) KR102379015B1 (ko)

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070013219A (ko) * 2005-07-25 2007-01-30 캐논 가부시끼가이샤 액체 토출 헤드 제조 방법
KR20110006500A (ko) * 2009-07-14 2011-01-20 세메스 주식회사 세정 유닛, 이를 갖는 처리액 도포 장치 및 이를 이용한 세정 방법
KR20110074284A (ko) * 2009-12-24 2011-06-30 삼성모바일디스플레이주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 제조방법
KR20130142456A (ko) * 2012-06-19 2013-12-30 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린트 헤드 및 이의 제조 방법

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20070013219A (ko) * 2005-07-25 2007-01-30 캐논 가부시끼가이샤 액체 토출 헤드 제조 방법
KR20110006500A (ko) * 2009-07-14 2011-01-20 세메스 주식회사 세정 유닛, 이를 갖는 처리액 도포 장치 및 이를 이용한 세정 방법
KR20110074284A (ko) * 2009-12-24 2011-06-30 삼성모바일디스플레이주식회사 유기 발광 표시 장치 및 그 제조방법
KR20130142456A (ko) * 2012-06-19 2013-12-30 삼성디스플레이 주식회사 잉크젯 프린트 헤드 및 이의 제조 방법

Also Published As

Publication number Publication date
KR102379015B1 (ko) 2022-03-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US8998381B2 (en) Liquid jet head and liquid jet apparatus
US9713924B2 (en) Liquid jet head having drive electrodes of different depths on ejection and dummy channels
KR101968139B1 (ko) 토출 헤드의 세정 방법
KR101968536B1 (ko) 처리액 공급 유닛 및 이를 가지는 기판 처리 장치
KR20150138927A (ko) 토출 헤드 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
US9085153B2 (en) Liquid jet head, method for producing liquid jet head, and liquid jet apparatus
JP5939966B2 (ja) 液体噴射ヘッド、液体噴射装置及び液体噴射ヘッドの製造方法
JP2016055544A (ja) 液体噴射ヘッドの製造方法、液体噴射ヘッド、および液体噴射記録装置
JP2014091273A (ja) 液体噴射ヘッド及び液体噴射装置
KR101955598B1 (ko) 기판 처리 장치 및 기판 처리 방법
KR20150141457A (ko) 헤드 세정 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
KR20160031470A (ko) 기판 처리 장치
JP2010181674A (ja) 配向膜の成膜方法
JP2017065144A (ja) 液体噴射装置及び液体噴射ヘッドのクリーニング方法
US9889658B2 (en) Bonded member, liquid discharge head, liquid discharge device, and liquid discharge apparatus
KR101585930B1 (ko) 기판 처리 장치 및 토출 헤드 세정 방법
KR101955604B1 (ko) 처리액 공급 유닛 및 기판 처리 장치
KR20150076861A (ko) 헤드 세정 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
KR101581321B1 (ko) 토출 헤드 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
KR101536725B1 (ko) 세정 유닛, 이를 이용한 세정 방법 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
KR102297378B1 (ko) 리저버 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치
JP2017189886A (ja) 塗布ヘッドのクリーニング装置とクリーニング方法
JP6850547B2 (ja) 噴射孔プレートの製造方法
JP2020146599A (ja) インクジェットヘッド洗浄装置
KR101673223B1 (ko) 세정 유닛 및 이를 포함하는 기판 처리 장치

Legal Events

Date Code Title Description
E902 Notification of reason for refusal
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant