KR20150129844A - 펄스 자극을 이용한 수동 상호변조 테스트 - Google Patents

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티모시 엘. 홀트
티모시 엠. 오브라이언
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버드 테크놀러지스 그룹, 인코포레이티드
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Abstract

펄스 신호 생성기를 가지고 펄스 자극신호를 생성하여 테스트 대상 디바이스로 인가하는 수동 상호변조(PIM) 테스트 시스템이 개시된다. PIM 테스트 시스템은 추가로 펄스 자극신호를 이용하여 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하도록 구성된다. 또한 테스트 대상 디바이스에서 PIM을 평가하는 방법이 개시되며, 그 방법은 펄스 자극신호를 이용하여 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하는 단계를 포함한다.

Description

펄스 자극을 이용한 수동 상호변조 테스트{PASSIVE INTERMODULATION TESTING USING PULSE STIMULUS}
<관련 출원에 대한 상호참조>
본 출원은 2013년 3월 15일자로 출원된 미국 특허 가출원 제61/793,644호의 우선권을 주장하며, 그 전체가 참조로서 여기에 포함된다.
본 출원은 수동 상호변조 테스트에 관한 것이다. 더 구체적으로는, 펄스 자극(pulse stimulus)을 이용한 수동 상호변조 테스트에 관한 것이다.
수동 상호변조(PIM, Passive Intermodulation) 테스트는 현대 통신 시스템의 평가 및 트러블 슈팅(trouble shootinig)에서의 중요한 요소로 되었다. 이 테스트의 증가하는 대중성은 기지국(base station) 및 사용자 단말기(user equipment) 전력 레벨의 전반적인 감소뿐만 아니라, 허용 가능한 통신 스펙트럼을 점유하는 서비스의 밀도를 포함한 몇 가지 요인들에 공헌할 것이다. 감소된 전력 레벨은 필수적으로 통신 시스템 내의 감소된 신호 대 잡음비(signal-to-noise ratio)를 초래하며, 이는 PIM 곱(passive intermodulation product)이 시스템 성능에 더 많은 문제를 발생시키게 한다. 이는 PIM 테스트에 대한 필요성을 증가시킨다.
본 발명은 개선된 수동 상호변조 테스트를 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명의 일 측면에 따르면, 펄스 톤(pulse tone) 수동 상호변조(PIM) 테스트 시스템은 펄스 톤 PIM 테스트 시스템에 전력을 공급하도록 구성된 DC 전력원; 제1 송신기 및 제2 송신기에 전기적으로 커플링된 펄스 생성기(펄스 생성기 및 제1 송신기는 제1 펄스 자극신호를 생성하도록 구성됨, 펄스 생성기 및 제2 송신기는 제2 펄스 자극신호를 생성하도록 구성됨); 제1 송신기에 전기적으로 커플링되어 제1 펄스 자극신호에 연관된 스펙트럼 성분(spectral components)을 감쇠(attenuate)시키도록 구성된 제1 밴드패스 필터; 제2 송신기에 전기적으로 커플링되어 제2 펄스 자극신호에 연관된 스펙트럼 성분을 감쇠시키도록 구성된 제2 밴드패스 필터; 제1 밴드패스 필터 및 제2 밴드패스 필터에 전기적으로 커플링되어 제1 및 제2 자극신호를 결합 펄스 자극신호로 결합하도록 구성된 결합기(combiner); 결합기에 전기적으로 커플링되는 입력 및 테스트 대상 디바이스(device under test)에 전기적으로 커플링되도록 구성된 출력을 가지는 메인 라인을 가지는 방향성 커플러(directional coupler)(메인 라인이 포워드 방향으로 진행하는 결합 펄스 자극신호를 테스트 대상 디바이스로 전달하고 테스트 대상 디바이스로부터 반사 방향(reflected direction)으로 진행하는 신호를 수신하도록 구성됨; 양방향(bi-directional) 커플러는 반사 채널 출력을 더 포함함; 방향성 커플러는 추가적으로 메인 라인 상에서 반사 방향으로 진행하는 신호를 샘플링하도록 구성됨; 반사 채널 출력은 반사 방향으로 진행하는 샘플링 신호를 노치 필터(notch filter)로 제공하도록 구성됨); 반사 채널 출력에 전기적으로 커플링되고 반사 방향으로 진행하는 샘플링 신호로부터의 제1 및 제2 자극신호를 감쇠하도록 구성된 노치 필터; 노치 필터에 전기적으로 커플링되어, 반사 방향으로 진행하는 샘플링 신호를 증폭하도록 구성된 저 노이즈 게인 스테이지; 및 저 노이즈 게인 스테이지에 전기적으로 커플링되어 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱을 수신하고 식별하도록 구성된 스펙트럼 분석기;를 포함한다.
본 발명의 다른 측면에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템은 펄스 생성기, 제1 펄스 전력 증폭기, 제2 펄스 전력 증폭기, 및 스펙트럼 분석기에 전기적으로 커플링된 프로세서를 더 구비하며, 프로세서는 시간 T1에서 제1 및 제2 자극 펄스를 생성하여 테스트 대상 디바이스에 인가하고, 시간 T2A -N에서 스펙트럼 분석기에 의하여 수신된 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, 프로세서는 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비(power ratio)를 계산하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, 전력비는 dBc이다.
본 발명의 다른 측면에서, 프로세서는 테스트 대상 디바이스의 속도 팩터값(velocity factor value)과 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 T1 및 T2A -N 사이의 경과 시간을 사용하여 테스트 대상 디바이스에서의 PIM 소스 및 펄스 톤 PIM 테스트 시스템 사이의 거리를 계산하도록 추가적으로 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템은 프로세서에 전기적으로 커플링된 키패드를 추가적으로 포함하고, 키패드는 사용자가 속도 팩터값을 입력하거나 프로세서의 메모리 내에 저장된 속도 팩터값에 대응하는 테스트 대상 디바이스에 대한 전송 매체를 선택하도록 구성한다.
본 발명의 다른 측면에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템은 프로세서에 전기적으로 커플링된 디스플레이를 추가적으로 구비하고, 디스플레이는 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 적어도 하나의 PIM 곱 통계를 디스플레이하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, 적어도 하나의 PIM 곱 통계는 PIM 곱 전력 레벨, PIM 곱 전력비 또는 PIM 곱 소스 거리 중 적어도 하나이다.
본 발명의 다른 측면에서, DC 전력원은 배터리를 구비한다.
본 발명의 다른 측면에서, DC 전력원은 배터리를 재충전하도록 구성된 회로를 더 구비한다.
본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 펄스 톤 수동 상호변조(PIM) 테스트 시스템은 펄스 톤 PIM 테스트 시스템에 전력을 공급하도록 구성된 DC 전력원; 방향성 커플러에 전기적으로 커플링되고, 결합 펄스 자극신호를 생성하도록 구성된 펄스 신호 생성기; 결합기에 전기적으로 커플링되는 입력 및 테스트 대상 디바이스에 전기적으로 커플링되도록 구성된 출력을 가지는 메인 라인을 가지는 방향성 커플러(메인 라인은 포워드 방향으로 진행하는 결합 펄스 자극신호를 테스트 대상 디바이스로 전달하고, 테스트 대상 디바이스로부터 반사 방향으로 진행하는 신호를 수신하도록 구성되며, 양방향 커플러는 반사 채널 출력을 더 구비하고, 방향성 커플러는 추가로 메인 라인 상에서 반사 방향으로 진행하는 신호를 샘플링하도록 구성되고, 반사 채널 출력은 반사 방향으로 진행하는 샘플링된 신호를 PIM 분석기로 제공하도록 구성됨); 방향성 커플러에 전기적으로 커플링되고, 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱을 수신하고 식별하도록 구성된 PIM 분석기;를 포함한다.
본 발명의 다른 측면에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템은 펄스 신호 생성기 및 PIM 분석기에 전기적으로 커플링된 프로세서를 더 구비하고, 프로세서는 시간 T1에 결합 펄스 자극신호를 생성하여 테스트 대상 디바이스에 인가하고, 시간 T2A-N에 PIM 분석기에 의하여 수신된 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, 결합 펄스 자극신호는 제1 펄스 자극신호 및 제2 펄스 자극신호를 구비한다.
본 발명의 다른 측면에서, 프로세서는 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비를 계산하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, 전력비는 dBc이다.
본 발명의 다른 측면에서, 프로세서는 추가로 테스트 대상 디바이스의 속도 팩터값 및 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 T1 및 T2A -N 사이의 경과 시간을 이용하여 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스 및 펄스 톤 PIM 테스트 시스템 사이의 거리를 계산하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템은 프로세서에 전기적으로 커플링된 유저 I/O를 더 구비하고, 유저 I/O은 사용자가 속도 팩터값을 입력하거나 프로세서의 메모리 내에 저장된 속도 팩터값에 대응하는 테스트 대상 디바이스에 대한 전송 매체를 선택하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, 유저 I/O은 추가로 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 적어도 하나의 PIM 곱 통계를 디스플레이하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, 적어도 하나의 PIM 곱 통계는 PIM 곱 전력 레벨, PIM 곱 전력비 또는 PIM 곱 소스 거리 중 적어도 하나이다.
본 발명의 다른 측면에서, DC 전력원은 배터리를 구비한다.
본 발명의 다른 측면에서, DC 전력원은 배터리를 재충전하도록 구성된 회로를 더 구비한다.
본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조(PIM)를 판단하는 방법으로서, DC 전력원을 가지는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템을 제공하는 단계; 결합 펄스 자극신호를 생성하는 단계; 테스트 대상 디바이스로 결합 자극신호를 인가하는 단계; 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱을 수신하는 단계; 및 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하는 단계;를 포함한다.
본 발명의 다른 측면에서, 결합 펄스 자극신호는 제1 펄스 자극신호 및 제2 펄스 자극신호를 구비한다.
본 발명의 다른 측면에서, 본 방법은 적어도 하나의 PIM 곱의 측정된 전력을 이용하여 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비를 계산하는 단계를 더 포함한다.
본 발명의 다른 측면에서, 전력비는 dBc이다.
본 발명의 다른 측면에서, 본 방법은 테스트 대상 디바이스의 속도 팩터값 및 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 T1 및 T2A -N 사이의 경과 시간을 이용하여 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스 및 펄스 톤 PIM 테스트 시스템 사이의 거리를 계산하는 단계를 더 포함하고, 결합 펄스 자극신호는 시간 T1에 PIM 분석기에 의하여 테스트 대상 디바이스에 인가되고, 적어도 하나의 PIM 곱은 시간 T2A -N에 PIM 분석기에 의하여 수신된다.
본 발명의 다른 측면에서, 속도 팩터는 사용자가 펄스 톤 PIM 테스트 시스템의 유저 I/O에 속도 팩터값을 입력하거나, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템 내의 메모리에 저장된 속도 팩터값에 대응하는 테스트 대상 디바이스에 대한 전송 매체를 선택하도록 유저 I/O을 사용함으로써 제공된다.
본 발명의 다른 측면에서, 유저 I/O은 추가로 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 적어도 하나의 PIM 곱 통계를 디스플레이하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, 적어도 하나의 PIM 곱 통계는 PIM 곱 전력 레벨, PIM 곱 전력비 또는 PIM 곱 소스 거리 중 적어도 하나이다.
본 발명의 다른 측면에서, DC 전력원은 배터리를 구비한다.
본 발명의 다른 측면에서, DC 전력원은 배터리를 재충전하도록 구성된 회로를 더 구비한다.
본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 수동 상호변조(PIM) 테스트 시스템이 펄스 신호 생성기를 구비하고, PIM 테스트 시스템은 펄스 자극신호를 이용하여 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, PIM 테스트 시스템은 추가로 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비를 계산하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, PIM 테스트 시스템은 추가로 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 곱 소스 및 PIM 테스트 시스템 사이의 거리를 계산하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, PIM 테스트 시스템은 추가로 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 적어도 하나의 PIM 곱 통계를 디스플레이하도록 구성된다.
본 발명의 다른 측면에서, 적어도 하나의 PIM 곱 통계는 PIM 곱 전력 레벨, PIM 곱 전력비 또는 PIM 곱 소스 거리 중 적어도 하나이다.
본 발명의 또 다른 측면에 따르면, 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조(PIM)를 판단하는 방법으로서, 펄스 자극신호를 이용하여 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하는 단계를 포함한다.
본 발명의 다른 측면에서, 펄스 자극신호는 제1 펄스 자극신호 및 제2 펄스 자극신호를 구비하는 결합 펄스 자극신호이다.
본 발명의 다른 측면에서, 적어도 하나의 PIM 곱의 측정된 전력을 이용하여 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비를 계산하는 단계를 더 포함한다.
본 발명의 다른 측면에서, 전력비는 dBc이다.
본 발명의 다른 측면에서, 본 방법은 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스 및 PIM 테스트 시스템 사이의 거리를 계산하는 단계를 더 포함한다.
본 발명의 이점들이 예시로서 도시되고 설명되는 본 발명의 실시예들에 대한 후속하는 설명으로부터 통상의 기술자에게 명확하게 될 것이다. 알 수 있는 바와 같이, 본 발명은 다른 그리고 상이한 실시예들 일 수도 있으며, 그 상세는 다양한 관점에서 수정 가능하다.
본 발명은 개선된 수동 상호변조 테스트를 제공하게 된다.
본 발명의 이들 특징 및 다른 특징들 및 그 이점들은 예시로서 설명될 본 발명의 실시예에서 첨부된 도식적 도면을 참조하여 구체적으로 설명되며:
도 1은 종래의 PIM 테스트 시스템의 블록도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 펄스 자극을 사용하는 PIM 테스트 시스템의 블록도이다.
도 2a는 본 발명의 다른 실시예에 따른 펄스 자극을 사용하는 PIM 테스트 시스템의 블록도이다.
도 3은 본 발명의 다른 실시예에 따른 펄스 자극을 사용하는 PIM 테스트 시스템의 블록도이다.
도 3a는 본 발명의 다른 실시예에 따른 펄스 자극을 사용하는 PIM 테스트 시스템의 블록도이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 펄스 자극을 사용하는 PIM 테스트 시스템 프로세서에 의하여 실행되는 프로그램의 순서도이다.
도 5는 본 발명의 다른 실시예에 따른 펄스 자극을 사용하는 PIM 테스트 시스템 프로세서에 의하여 실행되는 프로그램의 순서도이다.
도 6a는 본 발명의 일 실시예에 따른 펄스 자극을 사용하는 PIM 테스트 시스템을 이용하는 방법의 순서도이다.
도 6b는 본 발명의 다른 실시예에 따른 펄스 자극을 사용하는 PIM 테스트 시스템을 이용하는 방법의 순서도이다.
도 6c는 본 발명의 또 다른 실시예에 따른 펄스 자극을 사용하는 PIM 테스트 시스템을 이용하는 방법의 순서도이다.
모든 도면은 도식적인 것으로 실제 크기를 그린 것은 아니라는 것을 이해하여야 할 것이다. 이들 도면의 부분들의 상대적인 크기 및 비율이 도면에서 명확성 및 편의성을 위하여 크기가 과장되거나 감소될 수 있다. 동일한 참조 번호는 일반적으로 다른 실시예에서 상응하는 또는 유사한 구성을 언급하기 위하여 사용된다. 따라서, 도면들 및 설명은 본질적으로 설명하기 위한 것으로 간주되어야 하며, 제한하기 위한 것으로 간주되어서는 안된다.
명세서 및 특허청구범위를 통틀어 사용되는 근사 언어(approximating language)는, 그것이 관련된 기본 기능의 변화를 초래하지 않으면서 허용 가능하도록 변하는, 임의의 양적인 표현을 수정하는데 적용될 수 있을 것이다. 따라서 "약(about)"과 같은 용어 또는 용어들에 의하여 수정된 값은 특정된 정확한 값으로 제한되는 것은 아니다. 적어도 몇몇 경우에, 근사 언어는 값을 측정하는 기기의 정확성에 상응할 수 있을 것이다. 범위 제한은 조합 및/또는 상호교환 될 수 있을 것이며, 그러한 범위들은 문맥상 또는 언어상 달리 나타내지 않는 한 여기서 언급된 모든 하위 범위(sub-ranges)들을 포함하고 식별된다. 운용되는 예시들 외에는, 또는 달리 언급되지 않으면, 명세서 및 특허청구범위에서 사용되는, 구성요소의 양을 나타내는 모든 수치나 표현, 반응 조건 등은 모든 경우에 용어 "약"에 의하여 수정된 것으로 이해되어야 할 것이다.
"선택적(optional)" 또는 "선택적으로(optionally)"는 후속적으로 설명되는 이벤트나 상황이 일어나거나 일어나지 않을 수 있는 것을 의미하며, 또는 후속적으로 식별되는 재료가 존재하거나 존재하지 않을 수 있는 것을 의미하며, 따라서 설명이 이벤트나 상황이 일어나는 경우 또는 재료가 존재하는 경우, 및 이벤트나 상황이 일어나지 않는 경우 또는 재료가 존재하지 않는 경우를 포함한다.
여기서 사용되는 것과 같이, 용어 "구비하는(comprises, comprising)", "포함하는(includes, including)", "가지는(has, having)", 또는 이들의 어떤 다른 변형은 비배타적인 포함을 커버하는 것을 의도한다. 예를 들어, 구성요소들(elements)의 목록을 포함하는 프로세스, 방법, 물품 또는 장치는 반드시 그들 구성요소만으로 제한되는 것은 아니며, 명시적으로 나열되거나 그러한 프로세스, 방법, 물품 또는 장치에 고유하지 않은 다른 구성요소를 포함할 수도 있을 것이다.
단수 형식 "하나의(a, an)", 및 ""그(the)"는 문맥상 달리 지시되지 않는 한, 복수의 대상을 포함한다.
개시된 기술들의 측면은 종래의 PIM 테스트가 통상적으로 비교적 높은(예를 들어, 20W(Watts)) 연속파(continuous wave) 톤이 사용되는 것을 인식할 수 있으며, 이는 결과적으로 60 파운드(pounds)를 넘는 테스트 시스템 무게를 초래한다.
도 1은 종래의 상수 톤(constant tone) PIM 테스트 시스템(10)의 구성을 나타낸다. PIM 곱은 통신 시스템 내에 존재하는 둘 이상의 신호가 시스템 내의 비선형 컴포넌트(component)에 노출될 때마다 생성된다. 비선형 시스템 컴포넌트는 시스템 내에 위치한 비선형 정션(non-linear junction) 상의 솔리드 스테이트 정션(solid-state junctions)과 같이 많은 곳에서 발견될 수 있으며, 이에 제한되는 것은 아니다. 솔리드 스테이트 정션은 전력 증폭기의 출력 스테이지와 같은 곳에서 통상적으로 발견된다. 비선형 정션은 이종(dissimilar)의 금속들의 콘택과 그 이종의 금속들 사이의 산화층 형성에 의하여 형성된다.
둘 이상의 신호들을 시스템 내의 비선형 구성요소에 노출시키는 것은 신호의 혼합 컴포넌트(mixing components)의 생성을 야기한다. 이 혼합 컴포넌트는 신호들의 합과 차(외적(cross product))이다. 자주, 이 혼합 컴포넌트는 시스템의 사용 가능한 주파수 범위 내에 있는 주파수에서 발생하며, 이는 혼합 컴포넌트의 주파수에서 통신 장애(impairment)를 초래한다.
PIM 곱의 존재를 판단하기 위한 시스템 및 컴포넌트의 테스트를 위하여 사용되는 프로세스는, 그들 사이의 혼합 곱이 관심 대상인 통신 대역 내에서 발생하도록 선택되는 두 개의 신호를 사용하여, 테스트 대상 디바이스를 자극하는 것을 수반한다.
PIM 테스트 시스템이 전체적인 노이즈 성능은 주로 시스템 대역폭에 의존한다(노이즈 전력 = KTB, 여기서 K는 볼츠만 상수(Boltsmann's Constant)인 1.38 E-23 J/K(Joules/Kelvin), T는 켈빈 단위인 절대 온도, B는 헤르츠 단위의 대역폭). 일반적으로, 이루어지는 신호 측정은 필터에 의하여 자극 신호 또는 수동 상호변조 곱을 통과시키기 위해 충분한 최소 대역폭으로 제한된다. 따라서, 측정 시스템의 사용 가능한 동적 범위를 개선하기 위하여, 자극신호는 통상적으로 비교적 높은 전력(예를 들어, 20 W)의 연속파 톤이다. 이 레벨의 자극신호는 매우 크고 무거운 증폭기의 사용을 필요로 하고, 결과적으로 수동 상호변조 테스트 시스템이 60 파운드를 초과하게 하며 AC 전력원을 요구하게 한다. 따라서 상수 톤 PIM 테스트 시스템(10)은, 예를 들어 RF 통신 기지국의 테스트 및 최종 통합 동안과 같은, PIM 분야 테스트 응용에 대해 다루기 어렵고 불편하다.
도 2는 배터리로 전력이 공급되며, 작고, 가볍고, RF 통신 기지국의 테스트 및 최종 통합에 대해 보다 실용적인 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 일 실시예를 나타낸다.
펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 제1 펄스 전력 증폭기(25), 제2 펄스 전력 증폭기(30)를 구비하며, 이들은 펄스형 파형의 생성에 최적화되어 있으며, 펄스 생성기(60)에 의하여 펄스가 인가된다. 제1 펄스 전력 증폭기(25)는 제1 펄스 자극신호를 생성하고, 이는 제1 밴드패스 필터로 보내진다. 제2 펄스 전력 증폭기(30)는 제2 펄스 자극신호를 생성하고, 이는 제2 밴드패스 필터(40)로 보내진다. 제1 밴드패스 필터(35) 및 제2 밴드패스 필터(40)는 제1 및 제2 펄스 자극신호에 연관된 임의의 스펙트럼 성분을 최소화한다. 밴드패스 필터링된 제1 및 제2 자극신호가 제1 밴드패스 필터(35) 및 제2 밴드패스 필터(40)에서 결합기(45)로 통과한다. 결합기(45)는 밴드패스 필터링된 제1 및 제2 펄스 자극신호를 결합하여 결합 펄스 자극신호를 방향성 커플러(50)(또는 다른 적절한 커플러)의 메인 라인 입력(52a)에 제공한다. 방향성 커플러(50)는 메인 라인(52)을 가지며, 메인 라인(52) 상에서 포워드 및 반사 방향으로 진행하는 신호를 샘플링하도록 구성된다. 메인 라인(52) 상에서 포워드 방향으로 진행하는 신호의 샘플은 포워드 채널 출력(51)으로 제공되며, 메인 라인(52) 상에서 반사 방향으로 진행하는 신호의 샘플은 반사 채널 출력(53)으로 제공된다.
포워드 채널 출력(51)은 메인 라인(52) 상에서 포워드 방향으로 진행하는 신호의 샘플을 제공하며, 저 PIM 부하(75)에서 종료된다. 저 PIM 부하(75)는 PIM 측정과 간섭될 수 있는 어떠한 측정 가능한 상호변조 곱도 제공되지 않는다. 다른 실시예로서, 포워드 채널 출력(51)은 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 하우징(21)의 외부에 존재하는 제거 가능한 또는 상호교환 가능한 저 PIM 부하(75)를 수용하도록 구성된다.
메인 라인(52)의 메인 라인 출력(52b)은 테스트 대상 디바이스(80)에 연결되고, 포워드 방향으로 테스트 대상 디바이스(80)로 결합 자극신호를 전달하고, PIM 곱을 포함하는 테스트 대상 디바이스(80)로부터 반사 방향으로 진행하는 신호를 수신하도록 구성된다.
반사 채널 출력(53)은 반사 방향으로 진행하는 메인 라인(52) 상의 신호인 반사 신호의 샘플을 적절한 수신 및 처리 회로를 포함하는 수신기(54)로 제공한다. 도 2에 도시된 실시예에서, 수신기는 노치 필터(55)를 포함한다. 노치 필터(55)에 제공되는 반사 신호는 제1 펄스 자극신호, 제2 펄스 자극신호 및 테스트 대상 디바이스(80)에 의하여 생성되는 임의의 PIM 곱을 포함한다.
노치 필터(55)는 반사 채널 출력으로부터의 제1 및 제2 펄스 자극신호를 감쇠시킨다. 몇몇 실시예에서, 노치 필터(55)는 반사 채널 출력으로부터의 제1 펄스 자극신호를 필터링하도록 구성된 제1 노치 필터(55a), 및 반사 채널 출력으로부터의 제2 펄스 자극신호를 필터링하도록 구성된 제2 노치 필터(55b)를 포함한다. 제1 및 제2 노치 필터(55b)를 가지는 실시예에서, 제1 노치 필터(55a)는 반사 채널 출력(53)을 통하여 방향성 커플러(50)에 전기적으로 커플링되고, 제1 노치 필터(55a)는 제2 노치 필터(55b)에 전기적으로 커플링되며, 제2 노치 필터(55b)는 저 노이즈 게인 스테이지(65)에 전기적으로 커플링된다.
제1 및 제2 펄스 자극신호를 필터링한 뒤, 반사 신호가 저 노이즈 게인 스테이지(65)에 의하여 증폭되고, 디스플레이(85)를 통하여 테스트 대상 디바이스(80)에 의하여 생성되는 임의의 PIM 컴포넌트들을 식별하고 디스플레이하는 스펙트럼 분석기(70)에 제공된다.
나타내어진 바와 같이, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템은 메모리(96)를 가지는 프로세서(95)를 더 포함한다. 프로세서(95)는 하우징(21)에 장착된 키패드(90)로부터의 사용자 입력을 수신하고, 역시 하우징(21)에 장착된 디스플레이(85)를 통하여 사용자에게 정보를 제공한다. 몇몇 실시예에서, 디스플레이(85) 및 키패드(90)는 터치 스크린과 같이 하우징(21)에 장착된 단일 유닛으로 결합될 수 있다.
프로세서(95)는 스펙트럼 분석기(70), 펄스 생성기(60), 제1 펄스 전력 증폭기(25), 제2 펄스 전력 증폭기(30)와 통신하고, 이들을 제어한다. 따라서, 프로세서(95)는 펄스 생성기(60), 제1 펄스 전력 증폭기(25) 및 제2 펄스 전력 증폭기(30)를 이용하여 제1 및 제2 펄스 자극신호를 생성하도록 구성되며, 이는 테스트 대상 디바이스(80)로 전달된다.
추가로, 프로세서(95)는 수신기(54)에 커플링되며, 예를 들어 스펙트럼 분석기(70) 또는 다른 적절한 수신 및 분석 회로를 이용하여 테스트 대상 디바이스(80)에 의하여 언제 PIM 곱이 생성되는지를 판단하도록 구성된다. 추가로, 몇몇 실시예에서, 프로세서(95)는 또한 제1 및 제2 펄스 자극신호들의 테스트 대상 디바이스(80)로의 전달과 방향성 커플러(50)에서의 PIM 곱의 수신 사이의 경과 시간을 측정하도록 구성된다.
추가로, 사용자가 테스트 대상 디바이스(80)의 전송 매체의 속도 팩터를 프로세서(95)에 제공했을 때, 프로세서(95)는 제1 및 제2 자극신호들의 테스트 대상 디바이스(80)로의 전달과 방향성 커플러(50)에서의 PIM 곱의 수신 사이의 경과 시간을 이용하여, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)으로부터 테스트 대상 디바이스(80) 내의 PIM 컴포넌트의 소스까지의 거리를 계산한다. 속도 팩터값을 키패드(90)를 이용하여 직접 입력함으로써, 또는 메모리(96)에 저장된 대응하는 속도 팩터를 가지는 디스플레이(85) 상에 보여지는 통상의 전송 매체의 리스트로부터 선택함으로써, 사용자가 테스트 대상 디바이스(80)의 속도 팩터를 제공할 수 있는 것을 고려할 수 있다.
DC 전력원은 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 컴포넌트들에 전력을 제공하도록 구성된다. DC 전력원에 전기적으로 커플링되어 전력을 받는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 컴포넌트들은 제1 펄스 전력 증폭기(25), 제2 펄스 전력 증폭기(30), 펄스 생성기(60), 저 노이즈 게인 스테이지(65), 스펙트럼 분석기(70), 디스플레이(85), 프로세서(95) 및 메모리(96)를 포함할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
도 2에 도시된 바와 같이, 펄스 생성기(60)는 제1 펄스 전력 증폭기(25) 및 제2 펄스 전력 증폭기(30)에 전기적으로 커플링된다. 제1 펄스 전력 증폭기(25) 및 제2 펄스 전력 증폭기(30)는 0 W에서 약 40 W까지 진동(ringing)하는 고전력 펄스 신호를 생성한다. 제1 펄스 전력 증폭기(25) 및 제2 펄스 전력 증폭기(30)는 펄스 생성기(60) 의하여 AM 변조된다. 제1 펄스 전력 증폭기(25)는 제1 밴드패스 필터(35)에 전기적으로 커플링되고, 제2 펄스 전력 증폭기(30)는 제2 밴드패스 필터(40)에 전기적으로 커플링된다. 제1 밴드패스 필터(35) 및 제2 밴드패스 필터(40)는 결합기(45)에 전기적으로 커플링된다. 결합기(45)는 방향성 커플러(50)에 전기적으로 커플링된다.
방향성 커플러(50)는 반사 채널 출력(53)을 통하여 노치 필터(55)에 전기적으로 커플링된다. 방향성 커플러(50)는 포워드 채널 출력(51)을 통하여 저 PIM 부하(75)에 전기적으로 커플링되도록 구성된다. 방향성 커플러(50)는 메인 라인(52)의 출력(52b)을 통하여 테스트 대상 디바이스(80)에 전기적으로 커플링되도록 구성된다. 노치 필터(55)는 저 노이즈 게인 스테이지(65)에 전기적으로 커플링된다. 저 노이즈 게인 스테이지(65)는 실시간 스펙트럼 분석기(70)에 전기적으로 커플링된다.
프로세서(95)는 펄스 생성기(60), 제1 펄스 전력 증폭기(25), 제2 펄스 전력 증폭기(30), 디스플레이(85), 키패드(90), 메모리(96) 및 실시간 스펙트럼 분석기(70)에 전기적으로 커플링된다.
본 발명의 범위를 벗어나지 않으면서 다른 구성들이 사용될 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, PIM 테스트 시스템은 반사 채널 출력(53)이 반사 방향으로 진행하는 메인 라인(52) 상의 신호의 샘플을 프로세서에 커플링된 적절한 수신기로 전송하도록 구성될 수 있다. 프로세서는 실시간 스펙트럼 분석기(70)와 관련하여 설명된 분석을 수행하도록 구성되거나 또는 프로그램될 수 있을 것이다.
도 3은 제1 펄스 자극신호 및 제2 펄스 자극신호를 생성하고, 필터링을 통하여 제1 및 제2 펄스 자극신호에 연관된 임의의 스펙트럼 성분을 최소화하고, 밴드패스 필터링된 제1 및 제2 펄스 자극신호를 결합 펄스 자극신호로 결합하도록 구성된 펄스 신호 생성기(245)를 가지는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 다른 실시예를 도시한다.
펄스 신호 생성기(245)는 방향성 커플러(50)에 전기적으로 커플링된다. 펄스 신호 생성기(245)는 결합 펄스 자극신호를 방향성 커플러(50)의 메인 라인(52)의 입력(52a)에 제공하도록 구성된다. 방향성 커플러(50)는 예를 들어 PIM 분석기(270)를 포함하는 수신기와 같은 수신기(54)에 전기적으로 커플링된다. 추가로, 방향성 커플러(50)는 테스트 대상 디바이스(80) 및 저 PIM 부하(75)에 전기적으로 커플링된다. 방향성 커플러(50)는 메인 라인(52)을 가지며, 메인 라인(52) 상에서 포워드 및 반사 방향으로 진행하는 신호를 샘플링한다. 메인 라인(52) 상에서 포워드 방향으로 진행하는 신호의 샘플은 포워드 채널 출력(51)으로 제공되고, 메인 라인(52) 상에서 반사 방향으로 진행하는 신호의 샘플은 반사 채널 출력(53)으로 제공된다.
포워드 채널 출력(51)은 메인 라인(52) 상에서 포워드 방향으로 진행하는 신호의 샘플을 제공하고, 저 PIM 부하(75)에서 종료된다. 저 PIM 부하(75)는 PIM 측정에 간섭될 수 있는 어떠한 측정 가능한 상호변조 곱을 제공하지 않는다. 몇몇 실시예에서, 포워드 채널 출력(51)은 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 하우징(21)의 외부에 존재하는 제거 가능한 또는 상호교환 가능한 저 PIM 부하(75)를 수용하도록 구성된다.
메인 라인(52)의 메인 라인 출력(52b)은 테스트 대상 디바이스(80)에 접속되고, 결합 자극신호를 테스트 대상 디바이스(80)에 전달하고, 테스트 대상 디바이스(80)로부터의 PIM 곱을 포함하는 메인 라인(52) 상의 반사 방향으로 진행하는 신호를 수신하도록 구성된다.
반사 채널 출력(53)은 반사 방향으로 진행하는 메인 라인(52) 상의 신호인 반사 신호의 샘플을 유저 I/O(285)을 통하여 테스트 대상 디바이스(80)에 의하여 생성된 임의의 PIM 곱을 식별하고 디스플레이하는 PIM 분석기(270)로 제공한다.
나타내어진 바와 같이, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 메모리(96)를 가지는 프로세서(95)를 더 구비한다. 프로세서(95)는 하우징(21)에 장착된 유저 I/O(285)으로부터 사용자 입력을 수신하고, 또한 유저 I/O(285)을 통하여 사용자에게 정보를 제공한다. 몇몇 실시예에서, 유저 I/O(285)는 터치 스크린인 것을 고려할 수 있다. 추가로, 다른 실시예에서, 유저 I/O(285)는 하우징(21)에 장착된 디스플레이(85) 및 키패드(90)인 것을 고려할 수 있다.
프로세서(95)는 펄스 신호 생성기(245), PIM 분석기(270), 메모리(96) 및 유저 I/O(285)에 전기적으로 커플링된다.
프로세서(95)는 PIM 분석기(270) 및 펄스 신호 생성기(245)와 통신하여 이들을 제어한다. 따라서, 프로세서(95)는 펄스 신호 생성기(245)를 이용하여 제1 및 제2 자극펄스를 생성하도록 구성되고, 이들은 테스트 대상 디바이스(80)로 전달된다.
추가로, 프로세서(95)는 PIM 분석기(270)를 이용하여 언제 PIM 곱이 테스트 대상 디바이스(80)에 의하여 생성되는지를 판단하도록 구성된다. 추가로, 몇몇 실시예에서, 프로세서(95)는 또한 제1 및 제2 자극펄스의 테스트 대상 디바이스(80)로의 전달 및 PIM 분석기(270)에서의 PIM 곱의 수신 사이의 경과 시간을 측정하도록 구성된다. 추가로, 사용자가 테스트 대상 디바이스(80)의 전송 매체의 속도 팩터를 프로세서(95)로 제공할 때, 프로세서(95)는 제1 및 제2 자극펄스의 테스트 대상 디바이스(80)로의 전달 및 PIM 분석기(270)에서의 PIM 곱의 수신 사이의 경과 시간을 이용하여, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)으로부터 테스트 대상 디바이스(80) 내의 PIM 컴포넌트의 소스까지의 거리를 계산한다. 속도 팩터값을 직접 입력하거나, 또는 메모리(96) 내에 저장된 대응하는 속도 팩터를 가지는 유저 I/O(285) 상에서 보여지는 통상의 전송 매체의 리스트로부터 선택함으로써, 사용자가 테스트 대상 디바이스(80)의 속도 팩터를 제공할 수 있는 것을 고려할 수 있다.
추가로, 프로세서(95)는 PIM 분석기(270)를 이용하여 테스트 대상 디바이스(80)에 의하여 언제 PIM 곱이 생성되는지를 판단하도록 구성된다. 추가로, 몇몇 실시예에서, 프로세서(95)는 또한 제1 및 제2 자극신호의 테스트 대상 디바이스(80)로의 전달 및 PIM 분석기(270)에서의 PIM 곱의 수신 사이의 경과 시간을 측정하도록 구성된다.
추가로, 사용자가 테스트 대상 디바이스(80)의 전송 매체의 속도 팩터를 프로세서(95)에 제공할 때, 프로세서(95)는 제1 및 제2 자극신호의 테스트 대상 디바이스(80)로의 전달 및 PIM 분석기(270)에서의 PIM 곱의 수신 사이의 경과 시간을 이용하여 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)으로부터 테스트 대상 디바이스(80) 내의 PIM 컴포넌트의 소스까지의 거리를 계산할 수 있다. 속도 팩터값을 유저 I/O(285)을 통하여 직접 입력하거나, 또는 유저 I/O(285)을 통하여 메모리(96) 내에 저장된 대응하는 속도 팩터를 가지는 통상의 전송 매체의 리스트로부터 선택함으로써, 사용자가 테스트 대상 디바이스(80)의 속도 팩터를 제공할 수 있는 것을 고려할 수 있다.
일 실시예에서, 펄스 신호 생성기(245)는 펄스 생성기(60)에 의하여 펄스가 제공되는 제1 펄스 전력 증폭기(25) 및 제2 펄스 전력 증폭기(30)를 포함한다. 펄스 신호 생성기(245)는 제1 밴드 패스 필터(35), 제2 밴드패스 필터(40) 및 결합기(45)를 더 포함한다. 펄스 생성기(60)는 제1 펄스 전력 증폭기(25) 및 제2 펄스 전력 증폭기(30)에 전기적으로 커플링된다. 제1 펄스 전력 증폭기(25)는 제1 밴드패스 필터(35)에 전기적으로 커플링되고, 제2 펄스 전력 증폭기(30)는 제2 밴드패스 필터(40)에 전기적으로 커플링된다. 제1 밴드패스 필터(35) 및 제2 밴드패스 필터(40)는 결합기(45)에 전기적으로 커플링된다. 결합기(45)는 방향성 커플러(50)에 전기적으로 커플링된다.
추가적으로, 일 실시예에서, PIM 분석기(270)는 노치 필터(55), 저 노이즈 게인 스테이지(65) 및 스펙트럼 분석기(70)를 포함한다. 방향성 커플러(50)는 반사 채널 출력(53)을 통하여 노치 필터(55)에 전기적으로 커플링된다. 방향성 커플러(50)는 포워드 채널 출력(51)을 통하여 저 PIM 부하(75)에 전기적으로 커플링되도록 구성된다. 방향성 커플러(50)는 메인 라인(52)의 출력(52b)을 통하여 테스트 대상 디바이스(80)에 전기적으로 커플링되도록 구성된다. 노치 필터(55)는 저 노이즈 게인 스테이지(65)에 전기적으로 커플링된다. 저 노이즈 게인 스테이지(65)는 실시간 스펙트럼 분석기(70)에 전기적으로 커플링된다.
노치 필터(55)는 반사 채널 출력(53)으로부터의 제1 및 제2 펄스 자극신호를 감쇠시키도록 구성된다. 일 실시예에서, 노치 필터(55)는 반사 채널 출력으로부터의 제1 펄스 자극신호를 필터링하도록 구성된 제1 노치 필터(55a), 및 반사 채널 출력으로부터의 제2 펄스 자극신호를 필터링하도록 구성된 제2 노치 필터(55b)를 포함한다. 제1 및 제2 노치 필터를 가지는 실시예에서, 제1 노치 필터(55a)는 반사 채널 출력(53)을 통하여 방향성 커플러(50)에 전기적으로 커플링되고, 제1 노치 필터(55a)는 제2 노치 필터(55b)에 전기적으로 커플링되며, 제2 노치 필터(55b)는 저 노이즈 게인 스테이지(65)로 전기적으로 커플링된다.
DC 전력원은 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 컴포넌트들에 전력을 제공하도록 구성된다. DC 전력원에 전기적으로 커플링되어 전력을 받는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 컴포넌트들은 펄스 신호 생성기(245), PIM 분석기(270), 프로세서(95), 유저 I/O(285) 및 메모리(96)를 포함할 수 있으나, 이에 제한되는 것은 아니다.
본 발명의 범위를 벗어나지 않으면서 다른 구성들이 사용될 수 있음을 알 수 있다. 예를 들어, PIM 테스트 시스템은 반사 채널 출력(53)이 반사 방향으로 진행하는 메인 라인(52) 상의 신호의 샘플을 프로세서에 커플링된 적절한 수신기로 전송하도록 구성될 수 있다. 프로세서는 PIM 분석기(70)와 관련하여 설명된 분석 및 연산을 수행하도록 구성되거나 또는 프로그램될 수 있을 것이다.
PIM 시스템이 반사된 PIM 곱에 대하여 설명된 것에 반해, 본 발명의 범위를 벗어나지 않으면서 PIM 시스템이 멀티-포트 디바이스(예를 들어, 케이블이나 필터와 같은 2 포트 디바이스)의 포워드 PIM 곱을 측정하도록 구성될 수 있음을 알 수 있을 것이다. 도 2a 및 도 3a는 각각 도 2 및 도 3의 예시적인 실시예들을 도시한다. 이들 예시적 실시예들에서, 펄스 자극신호가 테스트 대상 디바이스(80)에 직접 제공된다. 방향성 커플러의 메인 라인 입력(52a)은 테스트 대상 디바이스(80)의 제2 포트에 커플링된다. 방향성 커플러의 메인 라인(52b) 또는 포워드 샘플 포트는 수신기(54) 또는 테스트 대상 디바이스에 연관된 임의의 포워드 PIM 곱을 판단하는 다른 적절한 처리 회로에 접속된다. 본 예시적인 구성에서, 방향성 커플러(52)의 다른 두 포트(예를 들어, 포워드 포트 또는 포워드 채널 출력(51) 및 반사 커플링 포트 또는 반사 채널 출력(53))는 적절한 저 PIM 부하(75)에 커플링된다.
도 4는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 일 실시예에서 프로세서(95)에 의하여 수행되고 메모리(96)에 저장된 프로그램의 순서도이다. 스텝 305에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)이 시작되고 프로세서(95)가 초기화된다. 스텝 310에서, 프로그램은 사용자가 스텝 315로 진행하기 전에 측정을 개시하는 것을 대기한다.
스텝 315에서, 사용자는 키패드(90)를 통하여 테스트 파라미터를 입력할 것이 촉구되고, 입력되면 테스트 파라미터는 메모리(96)에 저장된다. 테스트 파라미터는 하나 이상의 제1 펄스 신호 주파수, 제2 펄스 신호 주파수, 제1 펄스 신호 전력, 제2 펄스 신호 전력, 제1 및 제2 펄스 신호의 펄스폭, 테스트 종류(예를 들어, 스윕(sweep) 또는 비-스윕), 스윕 주파수 범위, 및 테스트 대상 디바이스(80)의 속도 팩터값을 포함한다.
스텝 320에서, 프로세서(95)는, 테스트 파라미터에 따라서, 제1 펄스 전력 증폭기(25), 제2 펄스 전력 증폭기(30) 및 펄스 생성기(60)를 사용하여 제1 펄스 신호 및 제2 펄스 신호를 생성하고 테스트 대상 디바이스(80)에 인가한다. 제1 펄스 신호 및 제2 펄스 신호는 테스트 대상 디바이스(80)에 인가되기 전에 결합된다. 펄스 생성기(60)는 제1 펄스 전력 증폭기(25) 및 제2 펄스 전력 증폭기(30)를 미리 결정된 길이의 시간동안 활성화시켜, 미리 결정된 길이의 시간과 동등한 펄스 폭의 제1 펄스 신호 및 제2 펄스 신호를 생성한다. 일 실시예에서, 펄스 폭은 약 수 ms(milliseconds)이다. 다른 실시예에서, 펄스 폭은 약 1 ms에서 약 1 s 사이이다. 또 다른 실시예에서, 펄스 폭은 약 10 ms이다.
스텝 325에서, 프로세서(95)는 스펙트럼 분석기(70)를 사용하여 테스트 대상 디바이스(80)에 의하여 생성되는 적어도 하나의 PIM 곱의 전력 레벨을 측정하고, 적어도 하나의 PIM 곱의 측정된 전력 레벨을 메모리(96)에 PA -N으로서 저장하며, 여기서 N은 본 스텝에서 스펙트럼 분석기(70)에 의하여 측정되는 PIM 곱의 개수를 나타내는 알파벳 문자 또는 문자들이다.
스텝 330에서, 프로세서(95)는 스텝 325에서 측정된 적어도 하나의 PIM 곱 각각이 스펙트럼 분석기(70)에 의하여 수신된 시간을 판단한다. 시간 또는 시간들이 메모리 내에 T2A -N으로서 저장되며, 여기서 N은 스텝 325에서 스펙트럼 분석기(70)에 의하여 측정되는 PIM 곱의 개수를 나타내는 알파벳 문자 또는 문자들이다.
스텝 335에서, 프로세서(95)는 스텝 325에서 측정된 적어도 하나의 PIM 곱 각각의 전력비를 계산하고, 측정된 전력비를 PRA -N으로서 저장하며, 여기서 N은 스텝 325에서 스펙트럼 분석기(70)에 의하여 측정되는 PIM 곱의 개수를 나타내는 알파벳 문자 또는 문자들이다. 본 실시예에서, 프로세서(95)는 전력비를 dBc(캐리어에 대한 데시벨)로 계산한다. 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자는 다른 단위를 사용하여 전력비를 계산하는 것을 선택할 수 있음을 알 수 있을 것이다.
스텝 340에서, 프로세서(95)는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템으로부터 스텝 325에서 측정된 적어도 하나의 PIM 곱 각각의 소스의 테스트 대상 디바이스(80) 내의 위치까지의 거리를 계산한다. 프로세서(95)는 적어도 하나의 PIM 곱 각각에 대하여 T1 및 T2A -N 사이의 경과 시간 및 테스트 대상 디바이스(80)의 속도 팩터값을 이용하여 소스 거리를 계산한다. 프로세서(95)는 계산된 거리를 메모리(96)에 DA -N으로서 저장하며, 여기서 N은 스텝 325에서 스펙트럼 분석기(70)에 의하여 측정되는 PIM 곱의 개수를 나타내는 알파벳 문자 또는 문자들이다.
스텝 345에서, 프로세서(95)는 메모리(96)로부터 적어도 하나의 PIM 곱 A-N에 대한 적어도 하나의 PIM 곱 통계를 추출하고, 디스플레이(85) 상에 적어도 하나의 통계를 사용자에게 디스플레이한다. 일 실시예에서, PIM 곱 통계는 PIM 곱 전력 레벨, PIM 곱 전력비 또는 PIM 곱 소스 거리 중 적어도 하나를 포함한다.
스텝 350에서, 프로그램은 미리 결정된 길이의 시간동안 정지한다. 일 실시예에서, 미리 결정된 길이의 시간은 약 0.5 s이다. 그러나, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자는 프로그램이 다른 미리 결정된 길이의 시간동안 정지되도록 선택할 수 있음을 알 수 있을 것이다.
스텝 350에서 정지한 후, 프로세서(95)는 스텝 355에서 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 연속 스윕 설정(continuous sweep setting)을 조사한다. 시스템이 연속 스윕으로 설정되어 있으면, 프로그램은 스텝 320으로 돌아간다. 일 실시예에서, 사용자는 스텝 315에서 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)을 연속적으로 스윕하도록 설정할 수 있다. 추가로, 사용자는 도 4의 프로그램이 프로세서(95)에 의하여 실행되는 동안 키패드(90)를 통하여 이전에 설정된 연속 스윕을 취소할 수 있다. 만약 사용자가 스텝 315에서 연속 스윕 옵션을 설정하지 않았거나 이전에 설정된 연속 스윕을 취소하였으면, 프로세서(95)는 스텝 310으로 돌아간다.
도 5는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 다른 실시예에서 프로세서(95)에 의하여 수행되는 메모리(96)에 저장된 프로그램의 순서도이다. 스텝 405에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)이 시작되고 프로세서(95)가 초기화된다. 스텝 410에서, 프로그램은 스텝 415로 진행하기 전에 사용자가 측정을 개시시키는 것을 대기한다.
스텝 415에서, 사용자는 키패드(90)를 통하여 테스트 파라미터를 입력할 것이 촉구되고, 입력되면 테스트 파라미터는 메모리(96)에 저장된다. 테스트 파라미터는 상기 스텝 315와 관련된 그들 리스트들의 하나 이상을 포함한다.
스텝 420에서, 프로세서(95)는, 테스트 파라미터에 따라서, 제1 펄스 전력 증폭기(25), 제2 펄스 전력 증폭기(30), 펄스 생성기(60)를 사용하여 제1 펄스 신호 및 제2 펄스 신호를 생성하여 테스트 대상 디바이스(80)에 인가한다. 제1 펄스 신호 및 제2 펄스 신호는 그들이 테스트 대상 디바이스(80)에 인가되기 전에 결합된다. 펄스 생성기(60)는 제1 펄스 전력 증폭기(25) 및 제2 펄스 증폭기(30)를 미리 결정된 길이의 시간동안 활성화시켜, 미리 결정된 길이의 시간과 동등한 펄스 폭을 가지는 제1 펄스 신호 및 제2 펄스 신호를 생성한다. 일 실시예에서, 펄스 폭은 약 수 ms이다. 다른 실시예에서, 펄스 폭은 약 1 ms에서 약 1 s 사이이다.
스텝 425에서, 프로세서(95)는 스펙트럼 분석기(70)를 사용하여 테스트 대상 디바이스(80)에 의하여 생성되는 적어도 하나의 PIM 곱의 전력 레벨을 측정하고, 적어도 하나의 PIM 곱의 측정된 전력 레벨을 메모리(96)에 PA -N으로서 저장하며, 여기서 N은 본 스텝에서 스펙트럼 분석기(70)에 의하여 측정되는 PIM 곱의 개수를 나타내는 알파벳 문자 또는 문자들이다.
스텝 430에서, 프로세서(95)는 스텝 425에서 측정된 적어도 하나의 PIM 곱의 각각의 전력비를 계산하고, 측정된 전력비를 PRA -N으로서 저장하며, 여기서 N은 스텝 325에서 스펙트럼 분석기(70)에 의하여 측정되는 PIM 곱의 개수를 나타내는 알파벳 문자 또는 문자들이다. 일 실시예에서, 프로세서(95)는 전력비를 dBc(캐리어에 대한 데시벨)로 계산한다. 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자가 다른 단위를 사용하여 전력비를 계산하는 것을 선택할 수 있음을 알 수 있을 것이다.
스텝 435에서, 프로세서(95)는 메모리(96)로부터 적어도 하나의 PIM 곱 A-N에 대한 적어도 하나의 PIM 곱 통계를 추출하고, 디스플레이(85) 상에 적어도 하나의 통계를 사용자에게 디스플레이한다. 일 실시예에서, PIM 곱 통계는 PIM 곱 전력 레벨 및 PIM 곱 전력비 중 적어도 하나를 포함한다.
스텝 440에서, 프로그램은 미리 결정된 길이의 시간동안 정지한다. 일 실시예에서, 미리 결정된 길이의 시간은 약 0.5 s이다. 그러나, 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자는 프로그램이 다른 미리 결정된 길이의 시간동안 정지되도록 선택할 수 있음을 알 수 있을 것이다.
스텝 440에서 정지한 후, 프로세서(95)는 스텝 445에서 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)의 연속 스윕 설정을 조사한다. 시스템이 연속 스윕으로 설정되어 있으면, 프로그램은 스텝 420으로 돌아간다. 일 실시예에서, 사용자는 스텝 415에서 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)을 연속적으로 스윕하도록 설정할 수 있다. 추가로, 사용자는 도 5의 프로그램이 프로세서(95)에 의하여 실행되는 동안 키패드(90)를 통하여 이전에 설정된 연속 스윕을 취소할 수 있다. 만약 사용자가 스텝 415에서 연속 스윕 옵션을 설정하지 않았거나 이전에 설정된 연속 스윕을 취소하였으면, 프로세서(95)는 스텝 410으로 돌아간다.
도 6a는 테스트 대상 디바이스(80)에서 PIM을 측정하는 방법의 일 실시예를 나타낸다. 스텝 505에서, DC 전력원을 가지는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)이 제공된다. 스텝 510에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 결합 펄스 자극신호를 생성한다. 스텝 515에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 결합 펄스 자극신호를 테스트 대상 디바이스(80)로 인가한다. 스텝 520에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 테스트 대상 디바이스(80)에서 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱을 수신한다.
스텝 525에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 스텝 520에서 수신한 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정한다. 스텝 530에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 사용자에게 스텝 525에서 측정한 전력의 값을 디스플레이한다. 일 실시예에서, 만약 사용자가 주파수 스윕을 요청하면, 스텝 510-530이 주파수 스윕의 주파수 범위에 대하여 반복된다.
도 6b는 테스트 대상 디바이스(80)에서 PIM을 측정하는 방법의 다른 실시예를 나타낸다. 스텝 605에서, DC 전력원을 가지는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)이 제공된다. 스텝 610에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 결합 펄스 자극신호를 생성한다. 스텝 615에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 결합 펄스 자극신호를 테스트 대상 디바이스(80)로 인가한다. 스텝 620에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 테스트 대상 디바이스(80)에서 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱을 수신한다.
스텝 625에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 스텝 620에서 수신한 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정한다. 스텝 630에서, PIM 테스트 시스템(20)은 스텝 625에서 측정된 전력을 이용하여 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비를 계산한다. 스텝 635에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 스텝 625에서 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱의 측정된 전력 또는 스텝 630에서 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비 중 어느 하나 또는 모두의 값을 디스플레이한다. 일 실시예에서, 만약 사용자가 주파수 스윕을 요청하면, 스텝 610-635가 주파수 스윕의 주파수 범위에 대하여 반복된다.
도 6c는 테스트 대상 디바이스(80)에서 PIM을 측정하는 방법의 추가적인 실시예를 나타낸다. 스텝 705에서, DC 전력원을 가지는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)이 제공된다. 스텝 710에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 결합 펄스 자극신호를 생성한다. 스텝 715에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 결합 펄스 자극신호를 테스트 대상 디바이스(80)로 시간 T1에 인가한다. 스텝 720에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 테스트 대상 디바이스(80)에서 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱을 시간 T2A-N에 수신한다.
스텝 725에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 스텝 720에서 수신한 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정한다. 스텝 730에서, PIM 테스트 시스템(20)은 스텝 725에서 측정된 전력을 이용하여 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비를 계산한다. 스텝 735에서, 테스트 대상 디바이스(80)의 전송 매체에 대한 속도 팩터가 제공되어 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)에 펄스가 제공된다. 스텝 740에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)이 스텝 735에서 제공된 속도 팩터 및 T1 및 T2A -N 사이의 경과 시간을 이용하여 테스트 대상 디바이스(80) 내의 PIM 소스와 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20) 사이의 거리를 계산한다. 스텝 745에서, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템(20)은 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 적어도 하나의 PIM 곱의 통계를 디스플레이한다. 스텝 745에서 적어도 하나의 PIM 곱 통계는 PIM 곱 전력 레벨, PIM 곱 전력비 또는 PIM 곱 소스 거리 중 적어도 하나이다. 일 실시예에서, 만약 사용자가 주파수 스윕을 요청하면, 스텝 710-745가 주파수 스윕의 주파수 범위에 대하여 반복된다.
본 발명의 추가적인 실시예들이 부록 A에 기술된다.
본 발명이 상술된 특정 실시예들 및 부록 A와 함께 기술되었으나, 많은 대안, 조합, 수정 및 변경이 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 자명하다는 것이 명백하다. 따라서, 본 발명의 바람직한 실시예들은 전술한 바와 같이, 단지 예시로서 의도하는 것이며 제한하려는 것은 아니다. 본 발명의 범위 및 사상을 벗어나지 않으면서 다양한 변경이 이루어질 수 있다. 상술한 실시예들 및 다른 실시예들의 조합은 상술한 설명을 연구함으로써 본 발명이 속하는 기술분야의 통상의 기술자에게 자명할 것이며, 여기에 포함되는 것으로 의도된다. 따라서, 본 발명의 범위는 첨부된 특허청구범위에 의하여 정의되며, 문언적으로든 균등적으로든 특허청구범위의 의미 내에 속하는 모든 디바이스, 프로세서 및 방법이 여기에 포함되는 것으로 의도된다.

Claims (41)

  1. 펄스 톤 수동 상호변조(PIM, Passive Intermodulation) 테스트 시스템으로서,
    상기 펄스 톤 PIM 테스트 시스템에 전력을 공급하도록 구성된 DC 전력원;
    제1 송신기 및 제2 송신기에 전기적으로 커플링된 펄스 생성기(상기 펄스 생성기와 상기 제1 송신기는 제1 펄스 자극신호를 생성하도록 구성되고, 상기 펄스 생성기와 상기 제2 송신기는 제2 펄스 자극신호를 생성하도록 구성됨);
    상기 제1 송신기에 전기적으로 커플링되고, 상기 제1 펄스 자극신호와 연관된 스펙트럼 성분을 감쇠시키도록 구성된 제1 밴드패스 필터;
    상기 제2 송신기에 전기적으로 커플링되고, 상기 제2 펄스 자극신호와 연관된 스펙트럼 성분을 감쇠시키도록 구성된 제2 밴드패스 필터;
    상기 제1 및 제2 밴드패스 필터와 전기적으로 커플링되고, 상기 제1 및 제2 자극신호를 결합 펄스 자극신호로 결합하도록 구성된 결합기(combiner);
    상기 결합기에 전기적으로 커플링되는 입력 및 테스트 대상 디바이스(device under test)에 전기적으로 커플링되도록 구성된 출력을 가지는 메인 라인을 가지는 방향성 커플러(directional coupler)(상기 메인 라인은 포워드 방향(forward direction)으로 진행하는 상기 결합 펄스 자극신호를 상기 테스트 대상 디바이스로 전달하고, 상기 테스트 대상 디바이스로부터 반사 방향(reflected direction)으로 진행하는 신호를 수신하도록 구성되며, 상기 양방향 커플러는 반사 채널 출력을 더 구비하고, 상기 방향성 커플러는 추가로 상기 메인 라인 상에서 반사 방향으로 진행하는 상기 신호를 샘플링하도록 구성되고, 상기 반사 채널 출력은 상기 반사 방향으로 진행하는 상기 샘플링된 신호를 노치 필터로 제공하도록 구성됨);
    상기 반사 채널 출력에 전기적으로 커플링되고 상기 반사 방향으로 진행하는 상기 샘플링된 신호로부터의 상기 제1 및 제2 펄스 자극신호를 감쇠시키도록 구성된 상기 노치 필터;
    상기 노치 필터에 전기적으로 커플링되고, 상기 반사 방향으로 진행하는 상기 샘플링된 신호를 증폭하도록 구성된 저 노이즈 게인 스테이지(low noise gain stage); 및
    상기 저 노이즈 게인 스테이지에 전기적으로 커플링되고, 상기 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱을 수신하고 식별하도록 구성된 스펙트럼 분석기;를 포함하는, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 펄스 생성기, 제1 펄스 전력 증폭기, 제2 펄스 전력 증폭기 및 상기 스펙트럼 분석기에 전기적으로 커플링된 프로세서를 더 구비하며,
    상기 프로세서는 시간 T1에 상기 제1 및 제2 자극 펄스를 생성하여 상기 테스트 대상 디바이스에 인가하고, 시간 T2A -N에 상기 스펙트럼 분석기에 의하여 수신된 상기 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하도록 구성된 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  3. 청구항 2에 있어서,
    상기 프로세서는 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비(power ratio)를 계산하도록 구성된 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  4. 청구항 3에 있어서,
    상기 전력비는 dBc인 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  5. 청구항 1 내지 청구항 3 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 프로세서는 추가로 상기 테스트 대상 디바이스의 속도 팩터(velocity factor)값 및 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 T1 및 T2A -N 사이의 경과 시간을 이용하여 테스트 대상 디바이스 내의 상기 PIM 소스 및 상기 펄스 톤 PIM 테스트 시스템 사이의 거리를 계산하도록 구성된 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  6. 청구항 5에 있어서,
    상기 프로세서에 전기적으로 커플링된 키패드를 더 구비하고, 상기 키패드는 사용자가 상기 속도 팩터값을 입력하거나 상기 프로세서의 메모리 내에 저장된 속도 팩터값에 대응하는 상기 테스트 대상 디바이스에 대한 전송 매체를 선택하도록 구성된 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  7. 청구항 1 내치 청구항 6 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 프로세서에 전기적으로 커플링된 디스플레이를 더 구비하고,
    상기 디스플레이는 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 적어도 하나의 PIM 곱 통계를 디스플레이하도록 구성되는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  8. 청구항 6에 있어서,
    상기 적어도 하나의 PIM 곱 통계는 PIM 곱 전력 레벨, PIM 곱 전력비 또는 PIM 곱 소스 거리 중 적어도 하나인 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  9. 청구항 1 내지 청구항 8 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 DC 전력원은 배터리를 구비하는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  10. 청구항 8에 있어서,
    상기 DC 전력원은 상기 배터리를 재충전하도록 구성된 회로를 더 구비하는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  11. 펄스 톤 수동 상호변조(PIM) 테스트 시스템으로서,
    상기 펄스 톤 PIM 테스트 시스템에 전력을 공급하도록 구성된 DC 전력원;
    방향성 커플러에 전기적으로 커플링되고, 결합 펄스 자극신호를 생성하도록 구성된 펄스 신호 생성기;
    상기 결합기에 전기적으로 커플링되는 입력 및 테스트 대상 디바이스에 전기적으로 커플링되도록 구성된 출력을 가지는 메인 라인을 가지는 방향성 커플러(상기 메인 라인은 포워드 방향으로 진행하는 상기 결합 펄스 자극신호를 상기 테스트 대상 디바이스로 전달하고, 상기 테스트 대상 디바이스로부터 반사 방향으로 진행하는 신호를 수신하도록 구성되며, 상기 양방향 커플러는 반사 채널 출력을 더 구비하고, 상기 방향성 커플러는 추가로 상기 메인 라인 상에서 반사 방향으로 진행하는 상기 신호를 샘플링하도록 구성되고, 상기 반사 채널 출력은 상기 반사 방향으로 진행하는 상기 샘플링된 신호를 PIM 분석기로 제공하도록 구성됨);
    상기 방향성 커플러에 전기적으로 커플링되고, 상기 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱을 수신하고 식별하도록 구성된 상기 PIM 분석기;를 포함하는, 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  12. 청구항 10에 있어서,
    상기 펄스 신호 생성기 및 상기 PIM 분석기에 전기적으로 커플링된 프로세서를 더 구비하고,
    상기 프로세서는 시간 T1에 상기 결합 펄스 자극신호를 생성하여 상기 테스트 대상 디바이스에 인가하고, 시간 T2A -N에 상기 PIM 분석기에 의하여 수신된 상기 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하도록 구성된 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  13. 청구항 10 또는 청구항 11에 있어서,
    상기 결합 펄스 자극신호는 제1 펄스 자극신호 및 제2 펄스 자극신호를 구비하는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  14. 청구항 10 내지 청구항 12 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 프로세서는 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비를 계산하도록 구성된 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  15. 청구항 13에 있어서,
    상기 전력비는 dBc인 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  16. 청구항 10 내지 청구항 14 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 프로세서는 추가로 상기 테스트 대상 디바이스의 속도 팩터값 및 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 T1 및 T2A -N 사이의 경과 시간을 이용하여 테스트 대상 디바이스 내의 상기 PIM 소스 및 상기 펄스 톤 PIM 테스트 시스템 사이의 거리를 계산하도록 구성된 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  17. 청구항 15에 있어서,
    상기 프로세서에 전기적으로 커플링된 유저 I/O를 더 구비하고, 상기 유저 I/O은 사용자가 상기 속도 팩터값을 입력하거나 상기 프로세서의 메모리 내에 저장된 속도 팩터값에 대응하는 상기 테스트 대상 디바이스에 대한 전송 매체를 선택하도록 구성된 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  18. 청구항 10 내치 청구항 16 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 유저 I/O은 추가로 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 적어도 하나의 PIM 곱 통계를 디스플레이하도록 구성되는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  19. 청구항 17에 있어서,
    상기 적어도 하나의 PIM 곱 통계는 PIM 곱 전력 레벨, PIM 곱 전력비 또는 PIM 곱 소스 거리 중 적어도 하나인 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  20. 청구항 10 내지 청구항 18 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 DC 전력원은 배터리를 구비하는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  21. 청구항 19에 있어서,
    상기 DC 전력원은 상기 배터리를 재충전하도록 구성된 회로를 더 구비하는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템.
  22. 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조(PIM)를 판단하는 방법으로서,
    DC 전력원을 가지는 펄스 톤 PIM 테스트 시스템을 제공하는 단계;
    결합 펄스 자극신호를 생성하는 단계;
    상기 테스트 대상 디바이스로 상기 결합 자극신호를 인가하는 단계;
    상기 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱을 수신하는 단계; 및
    상기 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 상기 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하는 단계;를 포함하는 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 판단하는 방법.
  23. 청구항 21에 있어서,
    상기 결합 펄스 자극신호는 제1 펄스 자극신호 및 제2 펄스 자극신호를 구비하는 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 판단하는 방법.
  24. 청구항 21 또는 청구항 22에 있어서,
    상기 적어도 하나의 PIM 곱의 상기 측정된 전력을 이용하여 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비를 계산하는 단계를 더 포함하는 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 판단하는 방법.
  25. 청구항 23에 있어서,
    상기 전력비는 dBc인 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 판단하는 방법.
  26. 청구항 21 내지 청구항 24 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 테스트 대상 디바이스의 속도 팩터값 및 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 T1 및 T2A -N 사이의 경과 시간을 이용하여 상기 테스트 대상 디바이스 내의 상기 PIM 소스 및 상기 펄스 톤 PIM 테스트 시스템 사이의 거리를 계산하는 단계를 더 포함하고,
    상기 결합 펄스 자극신호는 시간 T1에 상기 PIM 분석기에 의하여 상기 테스트 대상 디바이스에 인가되고, 상기 적어도 하나의 PIM 곱은 시간 T2A -N에 상기 PIM 분석기에 의하여 수신되는 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 판단하는 방법.
  27. 청구항 25에 있어서,
    속도 팩터는 사용자가 상기 펄스 톤 PIM 테스트 시스템의 유저 I/O에 상기 속도 팩터값을 입력하거나, 상기 펄스 톤 PIM 테스트 시스템 내에 저장된 속도 팩터값에 대응하는 상기 테스트 대상 디바이스에 대한 상기 전송 매체를 선택하도록 상기 유저 I/O을 사용함으로써 제공되는 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 판단하는 방법.
  28. 청구항 21 내지 26에 있어서,
    상기 유저 I/O은 추가로 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 적어도 하나의 PIM 곱 통계를 디스플레이하도록 구성된 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 판단하는 방법.
  29. 청구항 27에 있어서,
    상기 적어도 하나의 PIM 곱 통계는 PIM 곱 전력 레벨, PIM 곱 전력비 또는 PIM 곱 소스 거리 중 적어도 하나인 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 판단하는 방법.
  30. 청구항 21 내지 청구항 28 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 DC 전력원은 배터리를 구비하는 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 판단하는 방법.
  31. 청구항 29에 있어서,
    상기 DC 전력원은 상기 배터리를 재충전하도록 구성된 회로를 더 구비하는 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 판단하는 방법.
  32. 펄스 신호 생성기를 구비하는 수동 상호변조(PIM) 테스트 시스템으로서, 상기 PIM 테스트 시스템은 펄스 자극신호를 이용하여 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 상기 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하도록 구성된, 수동 상호변조 테스트 시스템.
  33. 청구항 31에 있어서,
    상기 PIM 테스트 시스템은 추가로 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비를 계산하도록 구성된 수동 상호변조 테스트 시스템.
  34. 청구항 31 또는 청구항 32에 있어서,
    상기 PIM 테스트 시스템은 추가로 상기 테스트 대상 디바이스 내의 상기 PIM 곱 소스 및 상기 PIM 테스트 시스템 사이의 거리를 계산하도록 구성된 수동 상호변조 테스트 시스템.
  35. 청구항 31 내지 청구항 33 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 PIM 테스트 시스템은 추가로 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 적어도 하나의 PIM 곱 통계를 디스플레이하도록 구성된 수동 상호변조 테스트 시스템.
  36. 청구항 34에 있어서,
    상기 적어도 하나의 PIM 곱 통계는 PIM 곱 전력 레벨, PIM 곱 전력비 또는 PIM 곱 소스 거리 중 적어도 하나인 수동 상호변조 테스트 시스템.
  37. 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조(PIM)를 평가(evaluating)하는 방법으로서, 펄스 자극신호를 이용하여 상기 테스트 대상 디바이스 내의 PIM 소스에 의하여 생성된 적어도 하나의 PIM 곱의 전력을 측정하는 단계를 포함하는 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 평가하는 방법.
  38. 청구항 36에 있어서,
    상기 펄스 자극신호는 제1 펄스 자극신호 및 제2 펄스 자극신호를 구비하는 결합 펄스 자극신호인 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 평가하는 방법.
  39. 청구항 36 또는 청구항 37에 있어서,
    상기 적어도 하나의 PIM 곱의 상기 측정된 전력을 이용하여 상기 적어도 하나의 PIM 곱에 대한 전력비를 계산하는 단계를 더 포함하는 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 평가하는 방법.
  40. 청구항 38에 있어서,
    상기 전력비는 dBc인 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 평가하는 방법.
  41. 청구항 36 내지 청구항 39 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 테스트 대상 디바이스 내의 상기 PIM 소스 및 상기 PIM 테스트 시스템 사이의 거리를 계산하는 단계를 더 포함하는 테스트 대상 디바이스 내의 수동 상호변조를 평가하는 방법.
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