CN104993883A - 一种双极化天线无源互调快速测试装置 - Google Patents
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Abstract
本发明提出的一种双极化天线无源互调快速测试装置,其结构新颖,设计独特,在传统无源互调测试装置的基础上增加了一个低互调开关矩阵,实现了双极化天线的快速互调测试,当常规测试时,PORT1为反射互调测试端口、PORT2为传输互调测试端口,信号在低互调开关矩阵中按照实线传输;当测试双极化天线时,PORT1为天线一个极化互调测试端口,PORT2为天线另一个极化互调测试端口,信号在互调开关矩阵中先安装实线传输,测试完成一个极化的互调电平,然后信号自动切换到虚线传输,测试完成另外一个极化的互调电平。
Description
技术领域
本发明涉及一种双极化天线无源互调快速测试装置。
背景技术
在通信系统中,当两个或两个以上的信号通过 具有非线性特性的器件传输时,合成信号中产生互调产物。这些互调产物落入附近工作的接收机通频带时,会形成寄生干扰。在无线电环境中,有3个区域可产生互调:(1)发射机的输出级,由于功率放大器电路中的非线性;(2)接收机的输入级,由于混频器和射频电路的非线性;(3)同轴电缆、波导、连接器、多路耦合器、铁丝网、塔和天线杆中非线性材料 和非线性金属接触。 由发射机和接收机产生的有源互调干扰,可通过适当的系统隔离实现最小化。金属接触和材料非线性引起的互调,称为无源互调(PIM),它通常不能采用同样的方法加以抑制。无源互调产物通常在多频通信环境中产生,如船载通信系统、军用通信工作站、共用天线场地、蜂窝式移动通信基站和卫星地面接收站等。在这些系统中,不同程度可观测到PIM产物。特别是在上世纪70年代末以后出现的通信系统中,要求大功率发射系统和高灵敏度接收系统同时存在于有限空间,这就引起一个必须加以抑制的无源互调干扰。在过去数十年中,无源互调已经对许多通信系统造成严重问题。近年来,由于无线电设施的增加,这个问题引起新的注意。
因此产生出无源互调测试装置,事先针对无源器件进行无源互调测试并针对性解决,在现有使用的无源互调测试装置,多数存在以下问题:
(1) 传统的无源互调测试装置均为单反射单传输测试方式;
(2) 在测量双极化天线时,测试繁琐,耗时,效率低下。
发明内容
为解决现有无源互调测试装置的技术不足,本发明提供了一种即能快速测量双极化天线,又能满足常规产品的快速测试的无源互调测试装置。
为解决以上技术问题,本发明提供的技术方案是:
一种双极化天线无源互调快速测试装置,其特征在于,包括2个信号源、2个功率放大器、1个低互调3dB电桥、1个第一低互调负载、1个低互调开关矩阵、2个低互调双工器、1个第一射频开关和1个接收机模块,所述第一射频开关为单刀双掷射频开关,第一射频开关包括静触点G1、H1和动触点D1;
所述信号源与功率放大器一一对应,互相串联,2个功率放大器的输出端均与低互调3dB电桥的输入端连接,所述低互调3dB电桥的输出端分别连接第一低互调负载和低互调开关矩阵的输入端,所述低互调开关矩阵的输出端与2个低互调双工器的输入端连接,所述2个低互调双工器的输出端分别与第一射频开关的静触点G1和H1连接,第一射频开关的动触点D1与接收机模块连接。
上述的一种双极化天线无源互调快速测试装置,其中,所述低互调开关矩阵通过3种连接结构实现:
其一,所述低互调开关矩阵包括1个第二射频开关、第二低互调负载,所述第二射频开关为双刀双掷射频开关,包括动触点D2和静触点G2、H2,低互调3dB电桥的输出端与1个低互调双工器的输入端直接连接,第二射频开关的静触点G2和H2分别连接另1个低互调双工器的输入端和第二低互调负载;
其二,所述低互调开关矩阵包括1个第三射频开关、2个低互调负载和1个第四射频开关,所述第三射频开关为双刀双掷射频开关,包括动触点D3和静触点G3、H3,所述第四射频开关为单刀双掷射频开关、包括动触点D4和静触点G4、H4,低互调3dB电桥的输出端与1个低互调双工器的输入端直接连接,第三射频开关的静触点G3和H3分别连接第四射频开关的静触点G4和1个第三低互调负载,所述第四射频开关的静触点H4连接另1个第三低互调负载,动触点D4连接另1个低互调双工器的输入端;
其三,所述低互调开关矩阵包括1个第五射频开关、1个第六射频开关、1个第7射频开关和2个第四低互调负载,所述第五射频开关包括静触点G5、H5和动触点D5,所述第六射频开关包括静触点G6、H6和动触点D6,所述第七射频开关包括静触点G7、H7和动触点D7,第五射频开关的动触点D5与低互调3dB电桥的输出端连接,第六射频开关的动触点D6与1个低互调双工器的输入端连接,静触点G5与G6直接连接,静触点H5与静触点G7直接连接,静触点H6与1个第四低互调负载连接,静触点H7与另1个第四低互调负载连接,动触点D7与另1个低互调双工器的输入端连接。
本发明的有益效果为:
本发明提出的一种双极化天线无源互调快速测试装置,其结构新颖,设计独特,在传统无源互调测试装置的基础上增加了一个低互调开关矩阵,实现了双极化天线的快速互调测试,当常规测试时,PORT1为反射互调测试端口、PORT2为传输互调测试端口,信号在低互调开关矩阵中按照实线传输;当测试双极化天线时,PORT1为天线一个极化互调测试端口,PORT2为天线另一个极化互调测试端口,信号在互调开关矩阵中先安装实线传输,测试完成一个极化的互调电平,然后信号自动切换到虚线传输,测试完成另外一个极化的互调电平。
附图说明
图1 本发明示意图。
图2 本发明原理图之一。
图3 本发明原理图之二。
图4 本发明原理图之三。
具体实施方式
如图所示的一种双极化天线无源互调快速测试装置,其特征在于,包括2个信号源1、2个功率放大器1、1个低互调3dB电桥3、1个第一低互调负载4、1个低互调开关矩阵5、2个低互调双工器6、1个第一射频开关7和1个接收机模块8,所述第一射频开关为单刀双掷射频开关,第一射频开关包括静触点G1、H1和动触点D1;
所述信号源1与功率放大器2一一对应,互相串联,2个功率放大器2的输出端均与低互调3dB电桥3的输入端连接,所述低互调3dB电桥3的输出端分别连接第一低互调负载4和低互调开关矩阵5的输入端,所述低互调开关矩阵5的输出端与2个低互调双工器6的输入端连接,所述2个低互调双工器6的输出端分别与第一射频开关7的静触点G1和H1连接,第一射频开关7的动触点D1与接收机模块8连接。
上述的一种双极化天线无源互调快速测试装置,其中,所述低互调开关矩阵5通过3种连接结构实现:
其一,如图2所示的,所述低互调开关矩阵5包括1个第二射频开关51、第二低互调负载41,所述第二射频开关51为双刀双掷射频开关,包括动触点D2和静触点G2、H2,低互调3dB电桥3的输出端与1个低互调双工器6的输入端直接连接,第二射频开关51的静触点G2和H2分别连接另1个低互调双工器6的输入端和第二低互调负载41;
其二,如图3所示的,所述低互调开关矩5阵包括1个第三射频开关52、2个第三低互调负载42和1个第四射频开关53,所述第三射频开关52为双刀双掷射频开关,包括动触点D3和静触点G3、H3,所述第四射频开关53为单刀双掷射频开关、包括动触点D4和静触点G4、H4,低互调3dB电桥3的输出端与1个低互调双工器6的输入端直接连接,第三射频开关52的静触点G3和H3分别连接第四射频开关53的静触点G4和1个第三低互调负载42,所述第四射频开关53的静触点H4连接另1个第三低互调负载42,动触点D4连接另1个低互调双工器6的输入端;
其三,如图4所示的,所述低互调开关矩阵5包括1个第五射频开关54、1个第六射频开关55、1个第7射频开关56和2个第四低互调负载43,所述第五射频开关54包括静触点G5、H5和动触点D5,所述第六射频开关55包括静触点G6、H6和动触点D6,所述第七射频开关56包括静触点G7、H7和动触点D7,第五射频开关54的动触点D5与低互调3dB电桥3的输出端连接,第六射频开关55的动触点D6与1个低互调双工器6的输入端连接,静触点G5与G6直接连接,静触点H5与静触点G7直接连接,静触点H6与1个第四低互调负载43连接,静触点H7与另1个第四低互调负载43连接,动触点D7与另1个低互调双工器6的输入端连接。
本发明提出的一种双极化天线无源互调快速测试装置,其结构新颖,设计独特,在传统无源互调测试装置的基础上增加了一个低互调开关矩阵,实现了双极化天线的快速互调测试,当常规测试时,PORT1为反射互调测试端口、PORT2为传输互调测试端口,信号在低互调开关矩阵中按照实线传输;当测试双极化天线时,PORT1为天线一个极化互调测试端口,PORT2为天线另一个极化互调测试端口,信号在互调开关矩阵中先安装实线传输,测试完成一个极化的互调电平,然后信号自动切换到虚线传输,测试完成另外一个极化的互调电平。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围内。因此,本发明的保护范围应该以权利要求书的保护范围为准。
Claims (4)
1.一种双极化天线无源互调快速测试装置,其特征在于,包括2个信号源、2个功率放大器、1个低互调3dB电桥、1个第一低互调负载、1个低互调开关矩阵、2个低互调双工器、1个第一射频开关和1个接收机模块,所述第一射频开关为单刀双掷射频开关,第一射频开关包括静触点G1、H1和动触点D1;
所述信号源与功率放大器一一对应,互相串联,2个功率放大器的输出端均与低互调3dB电桥的输入端连接,所述低互调3dB电桥的输出端分别连接第一低互调负载和低互调开关矩阵的输入端,所述低互调开关矩阵的输出端与2个低互调双工器的输入端连接,所述2个低互调双工器的输出端分别与第一射频开关的静触点G1和H1连接,第一射频开关的动触点D1与接收机模块连接。
2.如权利要求1所述的一种双极化天线无源互调快速测试装置,其特征在于,所述低互调开关矩阵包括1个第二射频开关、第二低互调负载,所述第二射频开关为双刀双掷射频开关,包括动触点D2和静触点G2、H2,低互调3dB电桥的输出端与1个低互调双工器的输入端直接连接,第二射频开关的静触点G2和H2分别连接另1个低互调双工器的输入端和第二低互调负载。
3.如权利要求1所述的一种双极化天线无源互调快速测试装置,其特征在于,所述低互调开关矩阵包括1个第三射频开关、2个低互调负载和1个第四射频开关,所述第三射频开关为双刀双掷射频开关,包括动触点D3和静触点G3、H3,所述第四射频开关为单刀双掷射频开关、包括动触点D4和静触点G4、H4,低互调3dB电桥的输出端与1个低互调双工器的输入端直接连接,第三射频开关的静触点G3和H3分别连接第四射频开关的静触点G4和1个第三低互调负载,所述第四射频开关的静触点H4连接另1个第三低互调负载,动触点D4连接另1个低互调双工器的输入端。
4.如权利要求1所述的一种双极化天线无源互调快速测试装置,其特征在于,所述低互调开关矩阵包括1个第五射频开关、1个第六射频开关、1个第7射频开关和2个第四低互调负载,所述第五射频开关包括静触点G5、H5和动触点D5,所述第六射频开关包括静触点G6、H6和动触点D6,所述第七射频开关包括静触点G7、H7和动触点D7,第五射频开关的动触点D5与低互调3dB电桥的输出端连接,第六射频开关的动触点D6与1个低互调双工器的输入端连接,静触点G5与G6直接连接,静触点H5与静触点G7直接连接,静触点H6与1个第四低互调负载连接,静触点H7与另1个第四低互调负载连接,动触点D7与另1个低互调双工器的输入端连接。
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