CN207782816U - 一种lte终端射频指标测试盒及测试系统 - Google Patents
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Abstract
本实用新型属于移动通信技术领域，公开了一种LTE终端射频指标测试盒及测试系统，测试盒的盒体设置有多个射频接口，测试盒的内部设置有隔离器、衰减器、合路器、功分器、环形器；测试系统包括测试盒、信号源、综合测试仪、频谱仪、备测终端。本实用新型解决了现有技术中测试环境搭建复杂，测试不同指标时测试环境需要重新搭建，测试容易出错并造成仪器及备测终端损坏的问题；达到了降低测试平台搭建难度和测试难度，降低人为操作失误概率的技术效果。
Description
技术领域
本实用新型涉及移动通信技术领域，尤其涉及一种LTE终端射频指标测试盒及测试系统。
背景技术
根据《3GPP TS 36.521-1V9.7.0(2011-12)》以及《3GPP TS 36.508
V8.3.0(2009-09)》中规定的LTE CPE终端射频指标测试方法，测试过程中测试环境搭建方法比较复杂，且测试不同指标时测试环境需要重新搭建，同时容易出错并造成仪器及备测终端损坏。
实用新型内容
本申请实施例通过提供一种LTE终端射频指标测试盒及测试系统，解决了现有技术中测试环境搭建复杂，测试不同指标时测试环境需要重新搭建，测试容易出错并造成仪器及备测终端损坏的问题。
本申请实施例提供一种LTE终端射频指标测试盒，所述测试盒的盒体设置有第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口、第四射频接口、第五射频接口、第六射频接口、第七射频接口、第八射频接口；
所述测试盒的内部设置有隔离器、衰减器、合路器、功分器、环形器；
所述隔离器包括第一隔离器、第二隔离器，所述衰减器包括第一衰减器、第二衰减器、第三衰减器，所述功分器包括第一功分器、第二功分器，所述环形器包括第一环形器、第二环形器；
所述第一射频接口、所述第一隔离器、所述合路器的a端口依次连接，所述合路器的d端口连接所述第一功分器的a端口，所述第一功分器的b端口连接所述第一环形器的a端口，所述第一环形器的b端口与所述第七射频接口相连；
所述第二射频接口、所述第二隔离器、所述合路器的b端口依次连接；
所述第三射频接口与所述合路器的c端口相连；
所述第四射频接口、所述第一衰减器、所述第二功分器的a端口依次连接；
所述第五射频接口、所述第二衰减器、所述第二功分器的b端口依次相连；
所述第六射频接口、所述第三衰减器、所述第一环形器的c端口依次相连；
所述第一功分器的c端口与所述第二环形器的a端口相连，所述第二功分器的c端口与所述第二环形器c端口相连，所述第二环形器的b端口与所述第八射频接口相连。
优选的，所述隔离器的频率范围1～2.5GHz，正向插损＜0.2dB，带内波动＜0.2dB，反向抑制＞30dB，功率容量＞1W。
优选的，所述衰减器的频率范围0～13GHz，衰减值30±1dB，功率容量＞50W。
优选的，所述合路器的频率范围0～13GHz，插损＜5dB，带内波动：任意1GHz带宽＜1dB。
优选的，所述功分器的频率范围0～13GHz，插损＜5dB，带内波动：任意1GHz带宽＜1dB。
优选的，所述环形器的频率范围1～2.5GHz，工作频带内反向隔离度＞40dB，驻波＜1.2，功率容量＞100W。
一种LTE终端射频指标测试系统，包括：测试盒、信号源、综合测试仪、频谱仪、备测终端；
所述信号源包括第一信号源、第二信号源，所述频谱仪包括第一频谱仪、第二频谱仪；
所述测试盒的盒体设置有第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口、第四射频接口、第五射频接口、第六射频接口、第七射频接口、第八射频接口；
所述测试盒的内部设置有隔离器、衰减器、合路器、功分器、环形器；
所述隔离器包括第一隔离器、第二隔离器，所述衰减器包括第一衰减器、第二衰减器、第三衰减器，所述功分器包括第一功分器、第二功分器，所述环形器包括第一环形器、第二环形器；
所述第一射频接口、所述第一隔离器、所述合路器的a端口依次连接，所述合路器的d端口连接所述第一功分器的a端口，所述第一功分器的b端口连接所述第一环形器的a端口，所述第一环形器的b端口与所述第七射频接口相连；
所述第二射频接口、所述第二隔离器、所述合路器的b端口依次连接；
所述第三射频接口与所述合路器的c端口相连；
所述第四射频接口、所述第一衰减器、所述第二功分器的a端口依次连接；
所述第五射频接口、所述第二衰减器、所述第二功分器的b端口依次相连；
所述第六射频接口、所述第三衰减器、所述第一环形器的c端口依次相连；
所述第一功分器的c端口与所述第二环形器的a端口相连，所述第二功分器的c端口与所述第二环形器c端口相连，所述第二环形器的b端口与所述第八射频接口相连；
所述第一信号源连接所述第一射频接口，所述第二信号源连接所述第二射频接口，所述综合测试仪的TX端口连接所述第三射频接口，所述综合测试仪的TX/RX端口连接所述第四射频接口，所述第一频谱仪连接所述第五射频接口，所述第二频谱仪连接所述第六射频接口，所述备测终端的RX端口连接所述第七射频接口，所述备测终端的TX/RX端口连接所述第八射频接口。
优选的，所述信号源的频率范围0～13GHz，输出功率-100～+30dBm，支持FDD-LTE、TDD-LTE。
优选的，所述综合测试仪支持FDD-LTE、TDD-LTE信令测试。
优选的，所述频谱仪的频率范围0～13GHz，支持FDD-LTE、TDD-LTE。
本申请实施例中提供的一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果或优点：
在本申请实施例中，提供一种LTE终端射频指标测试盒，并根据测试盒构建测试系统；通过测试盒和测试系统能够有效简化测试平台搭建步骤，缩短测试平台搭建时间；降低了测试平台搭建难度及测试，缩短了测试人员的培养周期；将复杂的测试平台模块化，使测试系统看上去更清晰、整齐，降低了人为操作失误的概率。
附图说明
为了更清楚地说明本实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本实用新型的一个实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型提供的一种LTE终端射频指标测试盒及测试系统的结构示意图。
图中：
0—测试盒；
1—信号源，1.1—第一信号源，1.2—第二信号源；
2—综合测试仪；
3—频谱仪，3.1—第一频谱仪，3.2—第二频谱仪；
4—隔离器，4.1—第一隔离器，4.2—第二隔离器；
5—衰减器，5.1—第一衰减器，5.2—第二衰减器,5.3—第三衰减器；
6—合路器；
7—功分器，7.1—第一功分器，7.2—第二功分器；
8—环形器，8.1—第一环形器，8.2—第二环形器；
9—备测终端。
具体实施方式
本申请实施例通过提供一种LTE终端射频指标测试盒及测试系统，解决了现有技术中测试环境搭建复杂，测试不同指标时测试环境需要重新搭建，测试容易出错并造成仪器及备测终端损坏的问题。
本申请实施例的技术方案为解决上述技术问题，总体思路如下：
一种LTE终端射频指标测试盒，所述测试盒的盒体设置有第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口、第四射频接口、第五射频接口、第六射频接口、第七射频接口、第八射频接口；
所述测试盒的内部设置有隔离器、衰减器、合路器、功分器、环形器；
所述隔离器包括第一隔离器、第二隔离器，所述衰减器包括第一衰减器、第二衰减器、第三衰减器，所述功分器包括第一功分器、第二功分器，所述环形器包括第一环形器、第二环形器；
所述第一射频接口、所述第一隔离器、所述合路器的a端口依次连接，所述合路器的d端口连接所述第一功分器的a端口，所述第一功分器的b端口连接所述第一环形器的a端口，所述第一环形器的b端口与所述第七射频接口相连；
所述第二射频接口、所述第二隔离器、所述合路器的b端口依次连接；
所述第三射频接口与所述合路器的c端口相连；
所述第四射频接口、所述第一衰减器、所述第二功分器的a端口依次连接；
所述第五射频接口、所述第二衰减器、所述第二功分器的b端口依次相连；
所述第六射频接口、所述第三衰减器、所述第一环形器的c端口依次相连；
所述第一功分器的c端口与所述第二环形器的a端口相连，所述第二功分器的c端口与所述第二环形器c端口相连，所述第二环形器的b端口与所述第八射频接口相连。
一种LTE终端射频指标测试系统，包括：测试盒、信号源、综合测试仪、频谱仪、备测终端；
所述信号源包括第一信号源、第二信号源，所述频谱仪包括第一频谱仪、第二频谱仪；
所述测试盒的盒体设置有第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口、第四射频接口、第五射频接口、第六射频接口、第七射频接口、第八射频接口；
所述测试盒的内部设置有隔离器、衰减器、合路器、功分器、环形器；
所述隔离器包括第一隔离器、第二隔离器，所述衰减器包括第一衰减器、第二衰减器、第三衰减器，所述功分器包括第一功分器、第二功分器，所述环形器包括第一环形器、第二环形器；
所述第一射频接口、所述第一隔离器、所述合路器的a端口依次连接，所述合路器的d端口连接所述第一功分器的a端口，所述第一功分器的b端口连接所述第一环形器的a端口，所述第一环形器的b端口与所述第七射频接口相连；
所述第二射频接口、所述第二隔离器、所述合路器的b端口依次连接；
所述第三射频接口与所述合路器的c端口相连；
所述第四射频接口、所述第一衰减器、所述第二功分器的a端口依次连接；
所述第五射频接口、所述第二衰减器、所述第二功分器的b端口依次相连；
所述第六射频接口、所述第三衰减器、所述第一环形器的c端口依次相连；
所述第一功分器的c端口与所述第二环形器的a端口相连，所述第二功分器的c端口与所述第二环形器c端口相连，所述第二环形器的b端口与所述第八射频接口相连；
所述第一信号源连接所述第一射频接口，所述第二信号源连接所述第二射频接口，所述综合测试仪的TX端口连接所述第三射频接口，所述综合测试仪的TX/RX端口连接所述第四射频接口，所述第一频谱仪连接所述第五射频接口，所述第二频谱仪连接所述第六射频接口，所述备测终端的RX端口连接所述第七射频接口，所述备测终端的TX/RX端口连接所述第八射频接口。
本实用新型提供一种LTE终端射频指标测试盒，并根据测试盒构建测试系统；通过测试盒和测试系统能够有效简化测试平台搭建步骤，缩短测试平台搭建时间；降低了测试平台搭建难度及测试，缩短了测试人员的培养周期；将复杂的测试平台模块化，使测试系统看上去更清晰、整齐，降低了人为操作失误的概率。
为了更好的理解上述技术方案，下面将结合说明书附图以及具体的实施方式对上述技术方案进行详细的说明。
下面结合附图对本实用新型进行详细说明：
一、总体
如图1所示，本实用新型的工作对象是备测终端9。
本实用新型设置有测试盒0；测试盒的盒体设置有多个射频接口；在测试盒0内设置有隔离器4，衰减器5，合路器6，功分器7以及环形器8；在测试盒0以外设置有信号源1、综合测试仪2，频谱仪3。测试盒0、信号源1、综合测试仪2、频谱仪3、备测终端9构成LTE终端射频指标测试系统。
信号源1包括第一信号源1.1和第二信号源1.2；
频谱仪3包括第一频谱仪3.1和第二频谱仪3.2；
隔离器4包括第一隔离器4.1和第二隔离器4.2；
衰减器5包括第一衰减器5.1、第二衰减器5.2和第三衰减器5.3；
功分器7包括第一功分器7.1和第二功分器7.2；
环形器8包括第一环形器8.1和第二环形器8.2；
LTE终端射频指标测试系统的连接关系是：
第一信号源1.1的输出端、第一隔离器4.1、合路器6的a端口依次连接；合路器6的d端口连接第一功分器7.1的a端口；第一功分器7.1的b端口连接第一环形器8.1的a端口；第一环形器的b端口与备测终端的RX端口相连；
第二信号源1.2的输出端、第二隔离器4.2、合路器6的b端口依次连接；
综合测试仪2的TX端口连接合路器6的c端口；综合测试仪2的TX/RX端口连接第一衰减器5.1的b端口；第一衰减器5.1的a端口连接第二功分器7.2的a端口；第一功分器7.1和第二功分器7.2的c端口分别与第二环形器8.2的a、c两个端口相连；第二环形器8.2的b端口与备测终端9的TX/RX端口相连
第一频谱仪3.1的输入端口与第二衰减器5.2、第二功分器7.2的b端口依次相连；
第二频谱仪3.2的输入端口与第三衰减器5.3、第一环形器8.1的c端口依次相连。
二、功能部件
0)测试盒0
测试盒0为一种箱体结构，其上设置有8个N型射频接口。
1)信号源1
(1)第一信号源1.1
频率范围0～13GHz，输出功率-100～+30dBm，支持FDD-LTE、TDD-LTE。
(2)第二信号源1.2
频率范围0～13GHz，输出功率-100～+30dBm，支持FDD-LTE、TDD-LTE。
2)综合测试仪2
包含TX/RX可收发端口和TX发射端口，支持FDD-LTE、TDD-LTE信令测试。
3)频谱仪3
(1)第一频谱仪3.1
频率范围0～13GHz，支持FDD-LTE、TDD-LTE。
(2)第二频谱仪3.2
频率范围0～13GHz，支持FDD-LTE、TDD-LTE。
4)隔离器3
(1)第一隔离器4.1
频率范围1～2.5GHz，正向插损＜0.2dB，带内波动＜0.2dB，反向抑制＞30dB，功率容量＞1W。
(2)第二隔离器4.2
频率范围1～2.5GHz，正向插损＜0.2dB，带内波动＜0.2dB，反向抑制＞30dB，功率容量＞1W。
5)衰减器5
(1)第一衰减器5.1
衰减器频率范围0～13GHz，衰减值30±1dB，功率容量＞50W。
(2)第二衰减器5.2
衰减器频率范围0～13GHz，衰减值30±1dB，功率容量＞50W。
(3)第三衰减器5.3
衰减器频率范围0～13GHz，衰减值30±1dB，功率容量＞50W。
6)合路器6
三端口合路器，频率范围0～13GHz，插损＜5dB，带内波动：任意1GHz带宽＜1dB。
7)功分器7
(1)第一功分器7.1
2端口功分器，频率范围0～13GHz，插损＜5dB，带内波动：任意1GHz带宽＜1dB。
(2)第二功分器7.2
2端口功分器，频率范围0～13GHz，插损＜5dB，带内波动：任意1GHz带宽＜1dB。
8)环形器8
(1)第一环形器8.1
频率范围1～2.5GHz，工作频带内反向隔离度＞40dB，驻波＜1.2，功率容量＞100W。
(2)第一环形器8.2
频率范围1～2.5GHz，工作频带内反向隔离度＞40dB，驻波＜1.2，功率容量＞100W。
三、使用方法
1)发射机基本射频指标测试
备测终端9的TX/RX端口发出信号→第二环形器8.2的b端口→第二环形器8.2的c端口→第二功分器7.2的c端口→第二功分器7.2的a端口→第一衰减器5.1的a端口→第一衰减器5.1的b端口→综合测试仪2的TX/RX端口。
即备测终端9的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第二环形器8.2、第二功分器7.2、第一衰减器5.1，传输至综合测试仪2的TX/RX端口。
2)发射机杂散指标测试
备测终端9的TX/RX端口发出信号→第二环形器8.2的b端口→第二环形器8.2的c端口→第二功分器7.2的c端口→第二功分器7.2的b端口→第二衰减器5.2的a端口→第二衰减器5.2的b端口→第一频谱仪3.1的接收端口。
即备测终端9的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第二环形器8.2、第二功分器7.2、第二衰减器5.2，传输至第一频谱仪3.1的接收端口。
3)发射机互调指标
备测终端9的TX/RX端口发出信号→第二环形器8.2的b端口→第二环形器8.2的c端口→第二功分器7.2的c端口→第二功分器7.2的b端口→第二衰减器5.2的a端口→第二衰减器5.2的b端口→第一频谱仪3.1的接收端口。
即备测终端9的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第二环形器8.2、第二功分器7.2、第二衰减器5.2，传输至第一频谱仪3.1的接收端口。
第一信号源1.1发出LTE干扰信号→第一隔离器4.1的a端口→第一隔离器4.1的b端口→合路器6的a端口→合路器6的d端口→第一功分器7.1的a端口→第一功分器7.1的c端口→第二环形器8.2的a端口→第二环形器8.2的b端口→备测终端9的TX/RX端口。
第一信号源1.1发出LTE干扰信号，信号依次通过第一隔离器4.1、合路器6、第一功分器7.1、第二环形器8.2，传输至备测终端9的TX/RX端口。
4)接收机基本射频指标测试
备测终端9的TX/RX端口发出信号→第二环形器8.2的b端口→第二环形器8.2的c端口→第二功分器7.2的c端口→第二功分器7.2的a端口→第一衰减器5.1的a端口→第一衰减器5.1的b端口→综合测试仪2的TX/RX端口。
即备测终端9的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第二环形器8.2、第二功分器7.2、第一衰减器5.1，传输至综合测试仪2的TX/RX端口。
以上为测试备测终端9的接收机性能的同时发出的同步信号。
综合测试仪2的TX/RX端口发出信号→第一衰减器5.1的b端口→第一衰减器5.1的a端口→第二功分器7.2的a端口→第二功分器7.2的c端口→第二环形器8.2的c端口→第二环形器8.2的b端口→备测终端TX/RX端口。
即综合测试仪2的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第一衰减器5.1、第二功分器7.2、第二环形器8.2，传输至备测终端9的TX/RX端口。
分集接收端口RX端口接收机性能测试方式如下：
综合测试仪2的TX端口发出信号→合路器6的c端口→第一功分器7.1的a端口→第一功分器7.1的b端口→第一环形器8.1的a端口→第一环形器8.1的b端口→备测终端9的RX端口。
即综合测试仪2的TX端口发出信号，信号依次通过合路器6、第一功分器7.1、第一环形器8.1，传输至备测终端9的RX端口。
5)接收机邻道选择性、阻塞指标测试
备测终端9的TX/RX端口发出信号→第二环形器8.2的b端口→第二环形器8.2的c端口→第二功分器7.2的c端口→第二功分器7.2的a端口→第一衰减器5.1的a端口→第一衰减器5.1的b端口→综合测试仪2的TX/RX端口。
即备测终端9的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第二环形器8.2、第二功分器7.2、第一衰减器5.1，传输至综合测试仪2的TX/RX端口。
以上为测试备测终端9的接收机性能的同时发出的同步信号。
综合测试仪2的TX/RX端口发出信号→第一衰减器5.1的b端口→第一衰减器5.1的a端口→第二功分器7.2的a端口→第二功分器7.2的c端口→第二环形器8.2的c端口→第二环形器8.2的b端口→备测终端9的TX/RX端口。
即综合测试仪2的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第一衰减器5.1、第二功分器7.2、第二环形器8.2，传输至备测终端9的TX/RX端口。
第一信号源1.1发出LTE干扰信号→第一隔离器4.1的a端口→第一隔离器4.1的b端口→合路器6的a端口→合路器6的d端口→第一功分器7.1的a端口→第一功分器7.1的c端口→第二环形器8.2的a端口→第二环形器8.2的b端口→备测终端9的TX/RX端口。
第一信号源1.1发出LTE干扰信号，信号依次通过第一隔离器4.1、合路器6、第一功分器7.1、第二环形器8.2，传输至备测终端9的TX/RX端口。
6)接收机互调指标测试
备测终端9的TX/RX端口发出信号→第二环形器8.2的b端口→第二环形器8.2的c端口→第二功分器7.2的c端口→第二功分器7.2的a端口→第一衰减器5.1的a端口→第一衰减器5.1的b端口→综合测试仪2的TX/RX端口。
备测终端9的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第二环形器8.2、第二功分器7.2、第一衰减器5.1，传输至综合测试仪2的TX/RX端口。
以上为测试备测终端9的接收机性能的同时发出的同步信号。
综合测试仪2的TX/RX端口发出信号→第一衰减器5.1的b端口→第一衰减器5.1的a端口→第二功分器7.2的a端口→第二功分器7.2的c端口→第二环形器8.2的c端口→第二环形器8.2的b端口→备测终端9的TX/RX端口。
即综合测试仪2的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第一衰减器5.1、第二功分器7.2、第二环形器8.2，传输至备测终端9的TX/RX端口。
第一信号源1.1发出LTE干扰信号→第一隔离器4.1的a端口→第一隔离器4.1的b端口→合路器6的a端口→合路器6的d端口→第一功分器7.1的a端口→第一功分器7.1的c端口→第二环形器8.2的a端口→第二环形器8.2的b端口→备测终端9的TX/RX端口。
即第一信号源1.1发出LTE干扰信号，信号依次通过第一隔离器4.1、合路器6、第一功分器7.1、第二环形器8.2，传输至备测终端9的TX/RX端口。
第二信号源1.2发出CW干扰信号→第二隔离器4.2的a端口→第二隔离器4.2的b端口→合路器6的b端口→合路器6的d端口→第一功分器7.1的a端口→第一功分器7.1的c端口→第二环形器8.2的a端口→第二环形器8.2的b端口→备测终端9的TX/RX端口。
即第二信号源1.2发出CW干扰信号，信号依次通过第二隔离器4.2、合路器6、第一功分器7.1、第二环形器8.2，传输至备测终端9的TX/RX端口。
7)接收机杂散指标测试
备测终端9的TX/RX端口发出信号→第二环形器8.2的b端口→第二环形器8.2的c端口→第二功分器7.2的c端口→第二功分器7.2的a端口→第一衰减器5.1的a端口→第一衰减器5.1的b端口→综合测试仪2的TX/RX端口。
即备测终端9的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第二环形器8.2、第二功分器7.2、第一衰减器5.1，传输至综合测试仪2的TX/RX端口。
以上为测试备测终端9的接收机性能的同时发出的同步信号。
综合测试仪2的TX/RX端口发出信号→第一衰减器5.1的b端口→第一衰减器5.1的a端口→第二功分器7.2的a端口→第二功分器7.2的c端口→第二环形器8.2的c端口→第二环形器8.2的b端口→备测终端9的TX/RX端口。
即综合测试仪2的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第一衰减器5.1、第二功分器7.2、第二环形器8.2，传输至备测终端9的TX/RX端口。
备测终端9的TX/RX端口发出信号→第二环形器8.2的b端口→第二环形器8.2的c端口→第二功分器7.2的c端口→第二功分器7.2的b端口→第二衰减器5.2的a端口→第二衰减器5.2的b端口→第一频谱仪3.1的接收端口。
即备测终端9的TX/RX端口发出信号，信号依次通过第二环形器8.2、第二功分器7.2、第二衰减器5.2，传输至第一频谱仪3.1的接收端口。
第二频谱仪3.2用于测试备测终端9的RX端口接收机杂散指标。
备测终端9的RX端口发出信号→第一环形器8.1的b端口→第一环形器8.1的c端口→第三衰减器5.3→第二频谱仪3.2的接收端口。
即备测终端9的RX端口发出信号，信号依次通过第一环形器8.1、第三衰减器5.3，传输至第二频谱仪3.2的接收端口。
本实用新型实施例提供的一种LTE终端射频指标测试盒及测试系统至少包括如下技术效果：
在本申请实施例中，提供一种LTE终端射频指标测试盒，并根据测试盒构建测试系统；通过测试盒和测试系统能够有效简化测试平台搭建步骤，缩短测试平台搭建时间；降低了测试平台搭建难度及测试，缩短了测试人员的培养周期；将复杂的测试平台模块化，使测试系统看上去更清晰、整齐，降低了人为操作失误的概率。
最后所应说明的是，以上具体实施方式仅用以说明本实用新型的技术方案而非限制，尽管参照实例对本实用新型进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而不脱离本实用新型技术方案的精神和范围，其均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
Claims (10)
1.一种LTE终端射频指标测试盒，其特征在于，所述测试盒的盒体设置有第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口、第四射频接口、第五射频接口、第六射频接口、第七射频接口、第八射频接口；
所述测试盒的内部设置有隔离器、衰减器、合路器、功分器、环形器；
所述隔离器包括第一隔离器、第二隔离器，所述衰减器包括第一衰减器、第二衰减器、第三衰减器，所述功分器包括第一功分器、第二功分器，所述环形器包括第一环形器、第二环形器；
所述第一射频接口、所述第一隔离器、所述合路器的a端口依次连接，所述合路器的d端口连接所述第一功分器的a端口，所述第一功分器的b端口连接所述第一环形器的a端口，所述第一环形器的b端口与所述第七射频接口相连；
所述第二射频接口、所述第二隔离器、所述合路器的b端口依次连接；
所述第三射频接口与所述合路器的c端口相连；
所述第四射频接口、所述第一衰减器、所述第二功分器的a端口依次连接；
所述第五射频接口、所述第二衰减器、所述第二功分器的b端口依次相连；
所述第六射频接口、所述第三衰减器、所述第一环形器的c端口依次相连；
所述第一功分器的c端口与所述第二环形器的a端口相连，所述第二功分器的c端口与所述第二环形器c端口相连，所述第二环形器的b端口与所述第八射频接口相连。
2.根据权利要求1所述的LTE终端射频指标测试盒，其特征在于，所述隔离器的频率范围1～2.5GHz，正向插损＜0.2dB，带内波动＜0.2dB，反向抑制＞30dB，功率容量＞1W。
3.根据权利要求1所述的LTE终端射频指标测试盒，其特征在于，所述衰减器的频率范围0～13GHz，衰减值30±1dB，功率容量＞50W。
4.根据权利要求1所述的LTE终端射频指标测试盒，其特征在于，所述合路器的频率范围0～13GHz，插损＜5dB，带内波动：任意1GHz带宽＜1dB。
5.根据权利要求1所述的LTE终端射频指标测试盒，其特征在于，所述功分器的频率范围0～13GHz，插损＜5dB，带内波动：任意1GHz带宽＜1dB。
6.根据权利要求1所述的LTE终端射频指标测试盒，其特征在于，所述环形器的频率范围1～2.5GHz，工作频带内反向隔离度＞40dB，驻波＜1.2，功率容量＞100W。
7.一种LTE终端射频指标测试系统，其特征在于，包括：测试盒、信号源、综合测试仪、频谱仪、备测终端；
所述信号源包括第一信号源、第二信号源，所述频谱仪包括第一频谱仪、第二频谱仪；
所述测试盒的盒体设置有第一射频接口、第二射频接口、第三射频接口、第四射频接口、第五射频接口、第六射频接口、第七射频接口、第八射频接口；
所述测试盒的内部设置有隔离器、衰减器、合路器、功分器、环形器；
所述隔离器包括第一隔离器、第二隔离器，所述衰减器包括第一衰减器、第二衰减器、第三衰减器，所述功分器包括第一功分器、第二功分器，所述环形器包括第一环形器、第二环形器；
所述第一射频接口、所述第一隔离器、所述合路器的a端口依次连接，所述合路器的d端口连接所述第一功分器的a端口，所述第一功分器的b端口连接所述第一环形器的a端口，所述第一环形器的b端口与所述第七射频接口相连；
所述第二射频接口、所述第二隔离器、所述合路器的b端口依次连接；
所述第三射频接口与所述合路器的c端口相连；
所述第四射频接口、所述第一衰减器、所述第二功分器的a端口依次连接；
所述第五射频接口、所述第二衰减器、所述第二功分器的b端口依次相连；
所述第六射频接口、所述第三衰减器、所述第一环形器的c端口依次相连；
所述第一功分器的c端口与所述第二环形器的a端口相连，所述第二功分器的c端口与所述第二环形器c端口相连，所述第二环形器的b端口与所述第八射频接口相连；
所述第一信号源连接所述第一射频接口，所述第二信号源连接所述第二射频接口，所述综合测试仪的TX端口连接所述第三射频接口，所述综合测试仪的TX/RX端口连接所述第四射频接口，所述第一频谱仪连接所述第五射频接口，所述第二频谱仪连接所述第六射频接口，所述备测终端的RX端口连接所述第七射频接口，所述备测终端的TX/RX端口连接所述第八射频接口。
8.根据权利要求7所述的LTE终端射频指标测试系统，其特征在于，所述信号源的频率范围0～13GHz，输出功率-100～+30dBm，支持FDD-LTE、TDD-LTE。
9.根据权利要求7所述的LTE终端射频指标测试系统，其特征在于，所述综合测试仪支持FDD-LTE、TDD-LTE信令测试。
10.根据权利要求7所述的LTE终端射频指标测试系统，其特征在于，所述频谱仪的频率范围0～13GHz，支持FDD-LTE、TDD-LTE。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201820013688.0U CN207782816U (zh) | 2018-01-04 | 2018-01-04 | 一种lte终端射频指标测试盒及测试系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201820013688.0U CN207782816U (zh) | 2018-01-04 | 2018-01-04 | 一种lte终端射频指标测试盒及测试系统 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN207782816U true CN207782816U (zh) | 2018-08-28 |
Family
ID=63222662
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| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
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| CN201820013688.0U Active CN207782816U (zh) | 2018-01-04 | 2018-01-04 | 一种lte终端射频指标测试盒及测试系统 |
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| Country | Link |
|---|---|
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Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN110381525A (zh) * | 2019-08-26 | 2019-10-25 | 上海电气泰雷兹交通自动化系统有限公司 | 用于轨道交通的无线跳频测试系统 |
| CN112557752A (zh) * | 2020-12-06 | 2021-03-26 | 苏州大学 | 一种电磁信号的监测系统、计算机存储介质 |
| CN114172595A (zh) * | 2021-11-11 | 2022-03-11 | 中国电子科技集团公司第二十九研究所 | 一种共用收发通道的功率测试方法及装置 |
| CN114614918A (zh) * | 2020-12-04 | 2022-06-10 | 中国移动通信有限公司研究院 | 测试装置及测试系统 |
-
2018
- 2018-01-04 CN CN201820013688.0U patent/CN207782816U/zh active Active
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