CN102695184B - 基站测试系统及方法 - Google Patents

Abstract

本申请提供了一种基站测试系统及方法，其中，基站测试系统包括：第一功分器、第二功分器、第三功分器和带阻滤波器；第一功分器用于将所述待测试基站发送的天线校准口信号分为两路，分别发送到所述耦合盘和所述开关矩阵，进行天线校准测试；第二功分器用于将所述多个信号源根据所述基站控制台的控制命令产生的一个或多个干扰信号同时通过所述环形器和所述开关矩阵发送到所述待测试基站，与系统发射的射频信号一起，进行阻塞和/或互调测试；第三功分器用于通过所述带阻滤波器接收所述开关矩阵发送的射频信号，并与所述带阻滤波器一起对接收的所述射频信号进行共存共址测试。通过本申请，可在一个平台上测规范要求的所有指标。

Description

基站测试系统及方法

技术领域

本申请涉及通信技术领域，特别是涉及一种基站测试系统及方法。

背景技术

随着移动通信技术的发展，通信网络越来越庞大和复杂，通信网络的运行质量也越来越受到人们的关注。通信网络的运行质量不仅影响客户的满意度、而且关系到运营成本问题，影响运营维护商的利益。

保障通信网络的运行质量的手段之一是对通信网络的基站进行射频测试，包括发射机测试和接收机测试等。根据《3GPP TS 36.141  V8.0.0(2008-09)》，对发射机和接收机指标进行测试需要分别搭建环境。其中，发射机指标测试环境如图1所示，包括：基站控制台、NodeB、衰减器和频谱仪。在该测试环境下，可以测试发射机基站最大输出功率、频率稳定性、功率控制步长、功率控制的动态范围、最小输出功率、占用带宽等指标。在具体进行发射机测试时，先使测试环境中的各部件满足测试条件，包括：（1）设备处于正常工作状态；（2）设备经充分预热，性能指标处于稳定状态；（3）可利用基站控制台配置基站参数。在上述测试条件下，进行发射机测试的测试步骤包括：（1）按照图1连接测试设备；（2）利用基站控制台配置基站参数发射下行信号；（3）根据需测指标进行相应操作。

而在进行接收机测试时，搭建的接收机指标测试环境如图2所示，包括基站控制台、NodeB、信号源等。在该测试环境下，可以测试接收机的参考灵敏度、接收机动态范围等指标。接收机测试的测试条件和测试步骤可以对照参考发射机测试，在此不再赘述。

可见，目前在进行基站射频测试时，对发射机、接收机指标进行测试需要分别搭建测试环境，如果同时测试两者指标需要搭建两个环境，需要较多的人力、物力；如果先后测试又比较费时。并且，现在的NodeB一般是多天线的，测试时还要遍历每根天线，按照现有方案的测试方法就需要人工进行天线的切换，比较费时、费力，效率低下。

总之，需要本领域技术人员迫切解决的一个技术问题就是：如何能够提供一个综合的测试环境，以融合现有的发射机测试环境和接收机测试环境，对基站进行高效、便利的测试。

发明内容

本申请所要解决的技术问题是提供一种基站测试系统及方法，以解决现有基站测试中发射机测试环境和接收机测试环境需要分别搭建，费时、费力，无法对基站进行高效、便利的测试的问题。

为了解决上述问题，本申请公开了一种基站测试系统，包括：基站控制台、多个信号源、频谱仪、环形器、耦合盘、开关矩阵、待测试基站，其中，所述基站控制台通过内部局域网下发控制命令给所述多个信号源、所述频谱仪、所述开关矩阵和所述待测试基站，所述环形器连接于所述开关矩阵，所述开关矩阵还通过所述耦合盘与所述待测试基站相连，所述基站测试系统还包括：第一功分器、第二功分器、第三功分器和带阻滤波器；其中，所述第一功分器通过第一端口连接于所述待测试基站，通过第二端口连接于所述耦合盘，通过第三端口连接于所述开关矩阵，用于将所述待测试基站发送的天线校准口信号分为两路，分别发送到所述耦合盘和所述开关矩阵，进行天线校准测试；所述第二功分器连接于所述多个信号源和所述环形器之间，用于将所述多个信号源根据所述基站控制台的控制命令产生的一个或多个干扰信号同时通过所述环形器和所述开关矩阵发送到所述待测试基站，与系统发射的射频信号一起，进行阻塞和/或互调测试；所述第三功分器通过第一端口连接于所述环形器，通过第二端口连接于所述频谱仪，通过第三端口连接于所述带阻滤波器，通过所述带阻滤波器连接于所述开关矩阵，用于通过所述带阻滤波器接收所述开关矩阵发送的射频信号，并与所述带阻滤波器一起对接收的所述射频信号进行共存共址测试。

优选地，所述第一功分器、所述第二功分器、和所述第三功分器均为二分功分器。

优选地，该基站测试系统还包括：程控电源，连接于所述基站控制台和所述待测试基站之间，用于根据所述基站控制台的控制命令给所述待测试基站上下电，进行压力测试。

优选地，所述第二功分器还用于将所述多个信号源根据所述基站控制台的控制命令产生的一个或多个接收机射频测试所需的射频信号同时通过所述环形器和所述开关矩阵发送到所述待测试基站，以进行接收机射频测试。

优选地，所述第三功分器还用于通过所述环形器接收所述开关矩阵发送的用于进行发射机射频测试的射频信号，并将该射频信号发送到所述频谱仪进行发射机射频测试。

优选地，所述基站控制台通过测试用例对所述待测试基站进行各种测试，所述测试用例使用Python语言编写。

优选地，其特征在于，所述系统用于时分长期演进TD-LTE网络的基站测试。

为了解决上述问题，本申请还公开了一种使用上述的基站测试系统进行基站测试的方法，包括：通过开关矩阵接收待测试基站发送的射频信号，所述开关矩阵用于在基站控制台的控制下切换到不同的射频天线端口上，以便对不同的射频天线端口的射频指标进行测试；使用带阻滤波器对所述射频信号进行滤波，并将进行了所述滤波的射频信号通过第三功分器发送给频谱仪进行共存共址测试。

优选地，所述第三功分器为二分功分器。

为了解决上述问题，本申请还公开了一种使用上述的基站测试系统进行基站测试的方法，包括：待测试基站通过第二功分器、环形器和开关矩阵接收信号源发送的干扰信号，所述开关矩阵用于在基站控制台的控制下切换到不同的射频天线端口上，以便对不同的射频天线端口的射频指标进行测试；所述待测试基站将所述干扰信号与系统发射的射频信号进行互调，将互调后的信号通过所述开关矩阵、所述环形器和第三功分器发送到频谱仪进行互调测试。

与现有技术相比，本申请具有以下优点：

本申请使用基站控制台、多个信号源、频谱仪、环形器、耦合盘、开关矩阵、待测试基站、第一功分器、第二功分器、第三功分器和带阻滤波器构建出一个综合的基站测试平台，该平台不仅能进行一般的发射机指标测试和接收机指标测试，还能够通过第一功分器实现天线校准测试，通过第二功分器实现阻塞和互调测试，通过带阻滤波器和第三功分器实现共存共址测试。通过本申请的方案构建的基站测试平台，解决了现有基站射频测试中发射机测试环境和接收机测试环境需要分别搭建，费时、费力，无法对基站进行高效、便利的射频测试的问题，达到了只需一次搭建，就可在一个平台上测规范要求的所有指标，而不需要重新搭建测试环境的效果。

附图说明

图1是根据现有技术的一种发射机指标测试环境的示意图；

图2是根据现有技术的一种接收机指标测试环境的示意图；

图3是根据本发明实施例一的一种基站测试系统的结构示意图；

图4是根据本发明实施例二的一种基站测试系统的结构示意图；

图5是使用图3或图4所示系统进行接收机指标测试的测试流程图；

图6是使用图3或图4所示系统进行除发射互调和共存共址杂散指标外的发射机指标测试的测试流程图；

图7是使用图3或图4所示系统进行发射互调测试的测试流程图；

图8是使用图3或图4所示系统进行共存共址杂散指标测试的测试流程图；

图9是使用图4所示系统进行压力测试的测试流程图。

具体实施方式

为使本申请的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图和具体实施方式对本申请作进一步详细的说明。

实施例一

参照图3，示出了根据本发明实施例一的一种基站测试系统的结构示意图。

本实施例的基站测试系统包括：基站控制台10、多个信号源、频谱仪20、环形器30、耦合盘40、开关矩阵50、待测试基站60、第一功分器70、第二功分器80、第三功分器90和带阻滤波器100。

基站控制台10通过网线与多个信号源、频谱仪20、开关矩阵50、待测试基站（即待测NodeB）60连接。多个信号源中每个信号源在连接基站控制台10的同时，还与第二功分器80连接，进而通过第二功分器80连接到环形器30上，环形器30进而连接到开关矩阵50上，开关矩阵50通过耦合盘40连接到待测试基站60上。在耦合盘40、开关矩阵50和待测试基站60之间，还设置有第一功分器70，也即，第一功分器70通过第一端口连接待测试基站60，通过第二端口连接耦合盘40，通过第三端口连接开关矩阵50。此外，环形器30还连接于第三功分器90的第一端口，而第三功分器90在第二端口连接频谱仪20，在第三端口连接带阻滤波器100，进而通过该带阻滤波器100连接到开关矩阵50上。

在上述连接结构中：

基站控制台10可以是安装有自动化测试平台（ATP）的PC机，它通过网线与多个信号源、频谱仪20、开关矩阵50、待测试基站60（本实施例中为待测NodeB）连接，通过网络发送控制命令，实现对仪表、设备的远程控制。

待测NodeB 60由主站和射频远端组成，其中，主站主要完成基带数据处理；射频远端主要实现基带下行信号的调制放大和发射，完成对射频信号的接收放大和解调。

多个信号源，用于在基站控制台10的控制下开启，产生接收机射频测试所需的射频信号，或者，产生阻塞或互调测试时所需的干扰信号。这些信号通过第二功分器80、环形器30、开关矩阵50、耦合盘40到达待测NodeB60，实现相应的基站指标测试。本实施例中以2个信号源为例，更多个信号源的情况可以参照本实施例进行排布和设置。

第二功分器80连接于多个信号源和环形器之间，一方面可以将多个信号源根据基站控制台10的控制命令产生的一个或多个干扰信号同时通过环形器30发送到开关矩阵50，进而由开关矩阵50通过耦合盘40发送到待测NodeB 60，与系统发射信号一起，进行阻塞和/或互调测试；另一方面，可以将多个信号源根据基站控制台10的控制命令产生的接收机射频测试所需的射频信号同时通过环形器30发送到开关矩阵50，进而由开关矩阵50通过耦合盘40发送到待测NodeB 60，以进行接收机射频测试。通过第二功分器80，满足了测试阻塞、互调指标时的需求，使多个信号源的射频信号能够同时输入到待测NodeB 60的射频远端的天线口。

环形器30分别与第二功分器80、第三功分器90和开关矩阵50连接，用于将信号源产生的信号（射频信号或干扰信号）传输给开关矩阵50，将开关矩阵50输出的信号通过第三功分器90传输给频谱仪20。通过环形器30，信号源发向待测NodeB 60的信号和待测NodeB 60发向频谱仪20的信号可各自独立地进行传输。这样，就实现了把发射机测试和接收机测试两个测试环境结合在一起，既可测发射机指标，又能测接收机指标。

开关矩阵50用于在基站控制台10的控制下切换到不同的射频天线端口上，以便对不同的射频天线端口的射频指标进行测试。通过开关矩阵50，可以使射频远端的某个天线口输出的射频信号输出到频谱仪20进行测试；可以使信号源发出的射频信号输入到射频远端的某个天线口。开关矩阵50可经ATP控制进行天线的切换，无需人工切换，快捷方便，节省人力，提高测试效率。

耦合盘40设置于开关矩阵50和待测NodeB 60之间，可以衰减待测NodeB 60发送的信号，进而将信号均匀地分配到各个射频天线处。

第一功分器70设置有至少三个端口，第一端口（AC校准口）连接到待测试基站（即待测NodeB）60，第二端口连接到耦合盘40，第三端口连接到开关矩阵50，用于在第一端口接收待测NodeB 60和射频远端发送的AC校准口信号（即，天线校准口信号），将射频远端的AC校准口信号分成两路，即耦合盘40和开关矩阵50，从而进行AC校准流程正确性测试。

带阻滤波器100一端连接于开关矩阵50，另一端通过第三功分器90与频谱仪20相连。带阻滤波器100是阻止特定频段而让其它频段通过的部件，在测试共存共址杂散指标时，使用带阻滤波器100可以阻掉有用信号，降低频谱仪20的底噪，以便共存共址指标的测试。

第三功分器90设置有至少三个端口，第一端口连接于环形器30，第二端口连接于频谱仪20，第三端口连接于带阻滤波器100，进而通过带阻滤波器100连接于开关矩阵50，用于通过带阻滤波器100接收开关矩阵50发送的射频信号，并与带阻滤波器100一起对接收的射频信号进行共存共址测试。此外，在测试普通指标时，开关矩阵50控制使信号走环形器，进而通过第三功分器90到达频谱仪20，进行普通发射机指标的测试。可见，通过第三功分器90，既实现了普通发射机指标的测试，又实现了共存共址指标的测试，节约了测试资源。在测试普通指标时，开关矩阵50控制使信号走环形器30到第三功分器90到频谱仪20；测共存共址指标时，开关矩阵50控制信号通过带阻滤波器100，进而通过第三功分器90到达频谱仪20。

频谱仪20用于在基站控制台10的控制下开启，对接收的信号进行发射机指标测试及共存共址测试。

使用本实施例的基站测试系统进行测试时，首先执行ATP，确认PC与各仪器设备通信正常，选择要进行的测试用例，执行用例后就不需人工操作，ATP按每个指标的测试方法调度并读取测试结果，把测试结果显示于PC机并存储在硬盘。对于多天线的情况，如需遍历8根天线，ATP会控制开关矩阵自动进行天线的切换，无须人工干预。

通过本实施例，使用基站控制台10、多个信号源、频谱仪20、环形器30、耦合盘40、开关矩阵50、待测试基站60、第一功分器70、第二功分器80、第三功分器90和带阻滤波器100构建出一个综合的基站测试平台，该平台不仅能进行一般的发射机指标测试和接收机指标测试，还能够通过第一功分器70实现天线校准测试，通过第二功分器80实现阻塞和互调测试，通过带阻滤波器100和第三功分器90实现共存共址测试。通过本实施例构建的基站测试平台，解决了现有基站射频测试中发射机测试环境和接收机测试环境需要分别搭建，费时、费力，无法对基站进行高效、便利的射频测试的问题，达到了只需一次搭建，就可在一个平台上测规范要求的所有指标，而不需要重新搭建测试环境的效果。

实施例二

参照图4，示出了根据本发明实施例二的一种基站测试系统的结构示意图。

本实施例的基站测试系统在实施例一所示的测试系统的基础上，增加了程控电源200。本实施例中，程控电源200以48V程控电源为例，但不限于此，在实际使用中，任意其它程控电源均可参照本实施例实现。

本实施例的程控电源200连接于基站控制台10和待测试基站60（仍使用实施例一中的待测NodeB）之间，接收基站控制台10的控制。一方面，在基站射频测试时，根据基站控制台10的控制命令给待测试基站60或待测试基站60的射频远端供电；另一方面，进行压力测试时，可以根据基站控制台10的控制命令给待测试基站60或待测试基站60的射频远端上下电，即，进行测试时ATP向程控电源200发送上电指令和下电指令，加上时延后进行循环执行，实现对待测NodeB 60的多次上下电，以验证其在多次上下电的压力后还能否正常启动和工作。通过ATP控制48V程控电源进行压力测试，测试期间不需要人工干预。并且，在进行压力测试时，ATP还调用指标测试函数，实现对每次上电后的指标测试和数据记录，以便压力测试后读取，验证程控电源200在上下电的压力下的指标情况。

此外，对于功分器来说，功分器是一种将一路信号分成多路信号或者将多路信号合成一路信号的器件，本实施例中，优选地，第一功分器70、第二功分器80和第三功分器90均采用二分功分器。使用二分功分器搭建本实施例的基站测试平台，实现简单，既能实现基站测试平台的各种测试功能，又降低了基站测试平台的搭建成本。

此外，基站控制台10通过自动化测试平台（ATP）自动化地实现基站的各种测试。自动化测试是指能自动输入测试数据，自动检查被测对象的响应的测试。本实施例中的自动化测试平台采用Python脚本形式建设，实现了对于仪器仪表驱动函数的暴露，通过使用暴露的驱动函数进行测试用例的编写。该自动测试技术可以灵活地根据测试需求编写测试用例，不同的测试用例又可以灵活组合，这种自动化测试技术的优势和环行器及开关矩阵结合有效地实现了收发信机射频指标在同一环境下的自动测试。

本实施例不仅把测试发射机和接收机指标的环境进行了融合，在一个测试环境下实现两者指标的同时测试，而且增加了压力测试，并进一步优化了基站测试平台的自动化测试水平。通过自动化测试，首先提高了测试效率，可以使测试人员更加专注于新的测试模块的建立和开发，从而提高测试覆盖率；其次，自动化测试让用户根据自己需要定义测试步骤，灵活方便；此外，测试流程自动化管理可以使机构的测试活动开展更加过程化。可见，通过本实施例的基站测试系统，不仅节省了人力、物力、时间，而且进一步提高了测试效率。

通过本实施例，提供了一个完备（多功能）的射频指标测试系统，在一个系统下可以测所有射频指标，而不需要重新搭建环境。本实施例的基站测试系统只需一次搭建，就可测规范要求的所有指标。比如：LTE下行指标和LTE上行指标等。其中，LTE下行指标可以包括：最大发射功率、RE（资源块）功率控制动态范围、总功率动态范围、发射关功率、发射开关时间模板、占用带宽、邻道泄漏功率比（ACLR）、操作频段杂散辐射、发射机杂散辐射、共存杂散辐射、与其它基站共址杂散辐射、发射互调、频率误差、EVM（误差向量幅度）、时间校正误差、下行RS（参考信号）功率等；LTE上行指标可以包括：参考灵敏度、接收机动态范围、信道内选择性（ICS）、邻道选择性（ACS）、窄带阻塞（Narrow-band blocking）、阻塞特性（Blocking）、共址阻塞、接收机互调等。

除了测试上述所有射频指标之外，使用本实施例搭建的测试环境还可完成很多性能测试，如CFR（峰均比抑制）性能测试，DPD（数字预失真）指标例行测试，AC（天线校准）相关特性验证，OPD（输出功率检测）、驻波比VSWR等必备功能测试。进行这些特性测试时，可根据规范读取相应参数即可实现，在此不再详述。

由此进一步说明了，使用本实施例的基站测试平台可以有效节约资源设备，环境搭建好后无需更改即可进行几乎所有基站测试。

以下以接收机指标测试、除发射互调和共存共址杂散指标外的发射机指标测试、发射互调测试、共存共址杂散指标测试和压力测试为例，对使用上述基站测试系统进行测试作以说明。

参照图5，示出了使用图3或图4所示系统进行接收机指标测试的测试流程图。

本实施例的接收机指标测试包括以下步骤：

步骤S102：搭建基站测试环境，并通过PC（即基站控制台）向主站下发无MME（移动管理实体）启动命令，使主站在测试环境下成功启动，并同RRU（射频远端）建立通信，使整个系统成功启动。

本步骤中的基站测试环境可以按照实施例一中或实施例二中的测试环境进行搭建。

步骤S104：PC调节信号源产生接收机指标测试所需射频信号，通过第二功分器和环形器传输到开关矩阵。

步骤S106：通过PC控制开关矩阵使射频信号经过耦合盘输入到待测天线口。

步骤S108：RRU将收到的射频信号进行数据处理，解调为基带信号，并将基带信号通过光纤传输到主站。

步骤S110：通过PC端的测试软件读取有关参数，主要是误块率（BLER），并同时调节信号源输出的射频信号幅度，进行接收机指标测试。

可见，通过上述过程，实现了使用本申请的基站测试系统构建的综合测试环境下的接收机指标的自动化测试。

参照图6，示出了使用图3或图4所示系统进行除发射互调和共存共址杂散指标外的发射机指标测试的测试流程图。

本实施例中，除发射互调和共存共址杂散指标外的发射机指标测试可以被认为是普通的发射机指标测试，包括以下步骤：

步骤S202：搭建基站测试环境，并通过PC（即基站控制台）向主站下发无MME启动命令，使主站在测试环境下成功启动，并同RRU（射频远端）建立通信，使整个系统成功启动。

本步骤中的基站测试环境可以按照实施例一中或实施例二中的测试环境进行搭建。

步骤S204：通过PC向主站下发消息，使主站产生基带信号并通过光纤传输给射频远端。

步骤S206：射频远端对接收到的基带信号进行发射机链路上的数据处理，产生发射机指标测试所需的射频信号，并通过耦合盘和衰减器传输到开关矩阵。

其中，射频远端对接收到的基带信号进行发射机链路上的数据处理，产生发射机指标测试所需的射频信号的步骤可以参照现有处理流程，在此不再赘述。

步骤S208：通过PC控制开关矩阵，使待测天线的信号经环形器和第三功分器输出到频谱仪，对接收的射频信号进行一般射频指标测试。

可见，通过上述过程，实现了使用本申请的基站测试系统构建的综合测试环境下的普通发射机指标的自动化测试。

参照图7，示出了使用图3或图4所示系统进行发射互调测试的测试流程图。

发射互调测试是指当有用信号和通过天线进入发射机的干扰信号共同存在时，发射机对由非线性器件产生的有害信号进行抑制能力的测量。在通信领域，一个理想放大器的输出应该正比于输入信号，即Uo＝KUi，通俗地讲，就是输出信号的波形完全和输入信号一样，只是放大了若干倍。但是实际上由于各种原因，输出信号中除了有放大了的输入信号以外，还增加了一定比例的输入信号的高次谐波，使得输出信号产生了变形或叫做失真，这种失真叫非线性失真。一般讲，高次谐波中四次以上的谐波幅度很小，可以忽略，但二次和三次谐波的幅度较大，不能忽略。由二次谐波产生的失真叫二次失真，由三次谐波产生的失真叫三次失真。由于非线性失真，会出现相互调制干扰和交扰调制干扰，交调干扰是三次失真产生的，互调干扰则二次、三次失真都能产生。

本实施例中，使用实施例一或实施例二所示系统进行发射互调测试包括以下步骤：

步骤S302：搭建基站测试环境，并通过PC（即基站控制台）向主站下发无MME启动命令，使主站在测试环境下成功启动，并同射频远端建立通信，使整个系统成功启动。

本步骤中的基站测试环境可以按照实施例一中或实施例二中的测试环境进行搭建。

步骤S304：通过PC向主站下发消息，使主站产生基带信号并通过光纤传输给射频远端。

步骤S306：PC调节信号源产生发射互调测试所需干扰源（即干扰信号），通过环形器输入到射频远端与射频信号互调。

其中，干扰源为调制信号，即LTE信号。干扰源与RRU产生的射频信号（即LTE信号）发生互调。两个信号发生互调后，再通过频谱仪进行互调测试，判断互调情况。

在本步骤的具体执行过程中，干扰源经由第二功分器到达环形器，由环形器传输给开关矩阵，进而通过耦合盘到达待测试基站。

需要说明的是，可以参照本实施例也可实现阻塞测试，只需将频点根据规范进行设置即可。

其中，步骤S304和步骤S306的执行可以不分先后顺序，或者，可以同时执行。

步骤S308：射频远端对接收到的基带信号进行发射机链路上的数据处理，产生发射机指标测试所需的射频信号，并通过耦合盘和衰减器传输到开关矩阵。

步骤S310：通过PC控制开关矩阵，使待测天线的信号经环形器和第三功分器输出到频谱仪，对接收的射频信号进行发射互调指标测试。

可见，通过上述过程，在使用本申请的基站测试系统构建的综合测试环境下进行接收机发射指标和普通发射机指标的自动化测试的基础上，实现了发射互调指标测试，完善了基站测试系统的自动化测试水平。

参照图8，示出了使用图3或图4所示系统进行共存共址杂散指标测试的测试流程图。

共存共址杂散指标测试包括共存杂散指标测试和共址杂散指标测试，其中，共存杂散指标测试是指同一覆盖区域内TD-LTE系统与其他系统的共存，当TD-LTE系统与其他系统的覆盖区域有重叠时，为保证重叠区域内与其他系统的移动台和基站能正常工作，TD-LTE基站应满足的相应的要求的测试；共址杂散指标测试是指当TD-LTE系统与其他系统同址放置时，保证同址的其他系统的基站能正常工作，TD-LTE基站应满足的相应的要求的测试。

本实施例的共存共址杂散指标测试包括以下步骤：

步骤S402：搭建基站测试环境，并通过PC（即基站控制台）向主站下发无MME启动命令，使主站在测试环境下成功启动，并同射频远端建立通信，使整个系统成功启动。

本步骤中的基站测试环境可以按照实施例一中或实施例二中的测试环境进行搭建。

步骤S404：通过PC向主站下发消息，使主站产生基带信号并通过光纤传输给射频远端。

步骤S406：射频远端对接收到的基带信号进行发射机链路上的数据处理，产生发射机指标测试所需的射频信号，并通过耦合盘和衰减器传输到开关矩阵。

步骤S408：通过PC控制开关矩阵，使待测天线的信号经带阻滤波器输出到频谱仪，对接收的射频信号进行共存杂散和共址杂散指标测试。

在本步骤的具体执行过程中，待测天线的信号经过带阻滤波器时，带阻滤波器对信号进行带阻滤波，然后，再将滤波后的信号经由第三功分器发送给频谱仪进行共存共址测试。

可见，通过上述过程，在使用本申请的基站测试系统构建的综合测试环境下进行接收机发射指标和普通发射机指标的自动化测试的基础上，实现了共存共址测试，进一步完善了基站测试系统的自动化测试水平。

参照图9，示出了使用图4所示系统进行压力测试的测试流程图。

本实施例的压力测试包括以下步骤：

步骤S502：搭建基站测试环境，并通过PC（即基站控制台）向主站下发无MME启动命令，使主站在测试环境下成功启动，并同射频远端建立通信，使整个系统成功启动。

本步骤中的基站测试环境可以按照实施例二中的测试环境进行搭建。

步骤S504：配置PC端的自动测试软件，调用上下电函数和待测指标的测试函数，设置合适时延。

步骤S506：执行已配置的函数集，使48V程控电源按要求对射频远端进行压力测试。

步骤S508：经过长时间压力测试后，检测主站和射频远端的功能正常与否；读取测试所得数据，检测是否符合指标要求。

可见，通过上述过程，在使用本申请的基站测试系统构建的综合测试环境下进行接收机发射指标和普通发射机指标的自动化测试的基础上，进一步实现了压力测试，使得基站测试系统的自动化测试水平更为完善。

通过本申请的基站测试系统，有效实现了各种基站指标的自动化测试。优选地，本申请的基站测试系统适用于TD-LTE（时分长期演进）网络的基站测试。但不限于此，与TD-LTE的基站测试相似的网络，如TD-SCDMA网络等，均可使用本申请的基站测试系统进行测试，本申请对此不作限制。

本说明书中的各个实施例均采用递进的方式描述，每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处，各个实施例之间相同相似的部分互相参见即可。对于方法实施例而言，描述的比较简单，相关之处参见装置实施例的部分说明即可。

以上对本申请所提供的一种正整型数据的压缩方法和装置、解压缩方法和装置，以及一种负整型数据的压缩方法和装置、解压缩方法和装置，进行了详细介绍，本文中应用了具体个例对本申请的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只是用于帮助理解本申请的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本申请的思想，在具体实施方式及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理解为对本申请的限制。

Claims (10)

1.一种基站测试系统，包括：基站控制台、多个信号源、频谱仪、环形器、耦合盘、开关矩阵、待测试基站，其中，所述基站控制台通过内部局域网下发控制命令给所述多个信号源、所述频谱仪、所述开关矩阵和所述待测试基站，所述环形器连接于所述开关矩阵，所述开关矩阵还通过所述耦合盘与所述待测试基站相连，其特征在于，所述基站测试系统还包括：第一功分器、第二功分器、第三功分器和带阻滤波器；

其中，

所述第一功分器通过第一端口连接于所述待测试基站，通过第二端口连接于所述耦合盘，通过第三端口连接于所述开关矩阵，用于将所述待测试基站发送的天线校准口信号分为两路，分别发送到所述耦合盘和所述开关矩阵，进行天线校准测试；

所述第二功分器连接于所述多个信号源和所述环形器之间，用于将所述多个信号源根据所述基站控制台的控制命令产生的一个或多个干扰信号同时通过所述环形器和所述开关矩阵发送到所述待测试基站，与系统发射的射频信号一起，进行阻塞和/或互调测试；

所述第三功分器通过第一端口连接于所述环形器，通过第二端口连接于所述频谱仪，通过第三端口连接于所述带阻滤波器，通过所述带阻滤波器连接于所述开关矩阵，用于通过所述带阻滤波器接收所述开关矩阵发送的射频信号，并与所述带阻滤波器一起对接收的所述射频信号进行共存共址测试。

2.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第一功分器、所述第二功分器、和所述第三功分器均为二分功分器。

3.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，还包括：

程控电源，连接于所述基站控制台和所述待测试基站之间，用于根据所述基站控制台的控制命令给所述待测试基站上下电，进行压力测试。

4.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第二功分器还用于将所述多个信号源根据所述基站控制台的控制命令产生的一个或多个接收机射频测试所需的射频信号同时通过所述环形器和所述开关矩阵发送到所述待测试基站，以进行接收机射频测试。

5.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述第三功分器还用于通过所述环形器接收所述开关矩阵发送的用于进行发射机射频测试的射频信号，并将该射频信号发送到所述频谱仪进行发射机射频测试。

6.根据权利要求1所述的系统，其特征在于，所述基站控制台通过测试用例对所述待测试基站进行各种测试，所述测试用例使用Python语言编写。

7.根据权利要求1至6任一项所述的系统，其特征在于，所述系统用于时分长期演进TD-LTE网络的基站测试。

8.一种使用权利要求1所述的系统进行基站测试的方法，其特征在于，包括：

通过开关矩阵接收待测试基站发送的射频信号，所述开关矩阵用于在基站控制台的控制下切换到不同的射频天线端口上，以便对不同的射频天线端口的射频指标进行测试；

使用带阻滤波器对所述射频信号进行滤波，并将进行了所述滤波的射频信号通过第三功分器发送给频谱仪进行共存共址测试。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述第三功分器为二分功分器。

10.一种使用权利要求1所述的系统进行基站测试的方法，其特征在于，包括：

待测试基站通过第二功分器、环形器和开关矩阵接收信号源发送的干扰信号，所述开关矩阵用于在基站控制台的控制下切换到不同的射频天线端口上，以便对不同的射频天线端口的射频指标进行测试；

所述待测试基站将所述干扰信号与系统发射的射频信号进行互调，将互调后的信号通过所述开关矩阵、所述环形器和第三功分器发送到频谱仪进行互调测试。