CN110971282B - 一种天线测试系统、方法、装置、电子设备及存储介质 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及无线通信技术领域，提供了一种天线测试系统、方法、装置、电子设备及存储介质，该系统包括：用于输出射频信号的射频装置和待测多端口天线，尤其还包括：控制装置，开关装置和至少两个功分器；每个功分器分别连接开关装置和射频装置；控制装置连接开关装置，用于根据当前的测试需求，确定满足测试需求的目标功分器，控制开关装置使目标功分器与待测多端口天线连接。通过采用与测试需求对应的多个功分器，并根据测试需求控制开关装置的通断情况，可以使满足需求的目标功分器与待测多端口天线连接，因此能够实现对待测多端口天线的不同工作状态进行自动化测试，提高总体测试效率，还能够避免因拆装带来的连接误差，提高测试的准确性。

Description

一种天线测试系统、方法、装置、电子设备及存储介质
技术领域
本发明涉及无线通信技术领域，尤其涉及一种天线测试系统、方法、装置、电子设备及存储介质。
背景技术
随着无线通信技术的发展，有限的无线频率资源面临着不断增长的通信需求，越来越多的无线通信系统引入待测多端口天线，以提升系统容量、覆盖范围和系统吞吐。以中国移动商用的4G移动系统TD-LTE为例，基站多采用8天线配置。其中为了进一步提升系统信道容量，基站可能需要增加到32天线、64天线，甚至128天线。
为了仿真验证天线多波束成型的性能，现有技术中对待测多端口天线进行测试时普遍采用图1中所示天线测试系统，采用的方法为：在具有N个天线端口的待测多端口天线的输入端连接一个1分N的功分器，利用该功分器实现波束合成，从而达到模拟天线的实际工作状态的目的。然而由于一种功分器仅能实现一种波束合成，即仅能模拟待测多端口天线的一种工作状态，所以在现有技术中为了实现模拟多种波束，需要相应的制作多个不同的功分器以模拟天线的多种工作状态。
因此在待测多端口天线在测试过程中，当待测多端口天线的通道数较多且需要模拟的工作状态数较多时，需要对应不同工作状态的功分器逐一与天线端口连接，所以每次测试完成之后，都需要更换相应的功分器。由于拆装过程繁琐，消耗大量工时，因此不仅会导致总体测试效率较低，在较大程度上影响天线产品的开发周期，还会因人工操作带来的连接误差，造成测试的准确性不强。
因此，如何节省待测多端口天线测试的测试时间，提高总体测试效率，增强测试的准确性，是一个值得研究的问题。
发明内容
本发明公开了一种天线测试系统、方法、装置、电子设备及存储介质，用于解决现有技术中在进行待测多端口天线测试时，因更换功分器而导致的测试时间长，总体测试效率较低以及测试的客观性不强的技术问题。
为达到上述目的，依据本发明的一个方面，提供了一种天线测试系统，包括用于输出射频信号的射频装置和待测多端口天线，所述系统还包括：控制装置，开关装置和至少两个功分器；
每个功分器分别连接所述开关装置和射频装置；
所述控制装置连接所述开关装置，用于根据当前的测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器，控制所述开关装置使所述目标功分器与所述待测多端口天线连接。
具体地，所述开关装置包括：第一开关，
所述第一开关的控制端连接所述控制装置，所述第一开关的第一开关端连接所述射频装置，所述第一开关的每个第二开关端连接对应的功分器，每个功分器分别连接所述待测多端口天线上的每个天线端口；
所述控制装置，具体用于控制所述第一开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
具体地，所述系统还包括：射频放大器，所述射频放大器分别连接所述射频装置和所述第一开关的第一开关端。
具体地，所述开关装置还包括：第二开关，其中所述第二开关的数量与所述待测多端口天线上的天线端口的数量相同；
针对每个所述第二开关，该第二开关的控制端连接所述控制装置，该第二开关的第一开关端连接对应的天线端口，该第二开关的每个第二开关端连接对应的功分器；
所述控制装置，具体用于针对每个所述第二开关，控制该第二开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
具体地，所述功分器为无源功分器或有源功分器。
依据本发明的另一个方面，还提供了一种天线测试方法，所述方法包括：
根据当前测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器；
控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接。
具体地，所述开关装置包括：第一开关，所述第一开关的控制端连接控制装置，所述第一开关的第一开关端连接射频装置，所述第一开关的每个第二开关端连接对应的功分器，每个功分器分别连接待测多端口天线上的每个天线端口，所述控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接包括：
控制所述第一开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
具体地，所述开关装置还包括：第二开关，其中所述第二开关的数量与待测多端口天线上的天线端口的数量相同，针对每个所述第二开关，该第二开关的控制端连接控制装置，该第二开关的第一开关端连接对应的天线端口，该第二开关的每个第二开关端连接对应的功分器，所述控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接包括：
针对每个所述第二开关，控制该第二开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
依据本发明的另一个方面，还提供了一种天线测试装置，所述装置包括：
确定模块，用于根据当前测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器；
控制模块，用于控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接。
依据本发明的另一个方面，还提供了一种电子设备，包括存储器和处理器；
所述处理器，用于读取所述存储器中的程序，执行上述天线测试方法中的步骤。
依据本发明的另一个方面，还提供了一种计算机可读存储介质，其存储有可由电子设备执行的计算机程序，当所述程序在所述电子设备上运行时，使得所述电子设备执行上述天线测试方法中的步骤。
本发明的有益效果如下：
本发明提供了一种天线测试系统、方法、装置、电子设备及存储介质，该系统包括：用于输出射频信号的射频装置和待测多端口天线，其中，所述系统还包括：控制装置，开关装置和至少两个功分器；所述开关装置分别连接每个功分器；所述控制装置连接所述开关装置，用于根据当前的测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器，控制所述开关装置使所述目标功分器与所述待测多端口天线连接。在本发明中，通过采用与测试需求对应的多个功分器，并根据测试需求控制开关装置的通断情况，现有技术相比，无需对功分器进行拆装，不仅能够实现对待测多端口天线的不同工作状态进行自动化测试，大幅度提高总体测试效率，还能够避免拆装过程中因人工操作带来的连接误差，从而极大的提高测试的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为现有技术中采用的天线测试系统；
图2为本发明实施例提供的天线测试系统的示意图；
图3为本发明实施例提供的天线测试系统的结构示意图之一；
图4为本发明实施例提供的天线测试系统的结构示意图之二；
图5为本发明实施例提供的天线测试系统的结构示意图之三；
图6为本发明实施例提供的天线测试流程图；
图7为本发明实施例提供的天线测试系统的结构示意图之四；
图8为本发明实施例提供的天线测试方法的流程图；
图9为本发明实施例提供的天线测试装置；
图10为本发明实施例提供的一种电子设备；
附图标记说明：21、射频装置；22、待测多端口天线；23、控制装置；24、开关装置；241、第一开关；242、第二开关；25、功分器；26、射频放大器。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
实施例一：
本发明实施例提供了一种天线测试系统，包括用于输出射频信号的射频装置21和待测多端口天线22，如图2所示，该系统还包括：控制装置23，开关装置24和至少两个功分器25。其中，每个功分器25分别用于模拟待测多端口天线22需要测试的不同工作状态。
具体地，如图2所示，每个功分器25分别连接所述开关装置24和射频装置21；所述控制装置23连接所述开关装置24，用于根据当前的测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器，控制所述开关装置24使所述目标功分器与所述待测多端口天线22连接。
由于开关装置24分别连接每个功分器25，因此通过控制开关装置24的连通或者断开，即可实现控制对应功分器25所在支路的导通或者断开，所以当需要对待测多端口天线22的某种工作状态进行测试时，只需要确定与当前测试需求对应的目标功分器，并控制开关装置24，使目标功分器与待测多端口天线22连接，而其他功分器25与待测多端口天线22断开，那么即可通过目标功分器25对射频装置21输出的射频信号进行幅度衰减和相位时延的加权后，形成多路的射频输出信号，并将形成的射频输出信号发送给待测多端口天线22的每个天线端口上，最终通过源天线接收待测多端口天线22发射的波束，获取到对应当前测试需求的测试结果。以此类推，当需要对待测多端口天线22测试其他的工作状态时，也可以采用上述描述的测试过程，以完成对待测多端口天线22的不同测试。
由上述可知，在本发明实施例中，通过采用与测试需求对应的多个功分器25，因此可根据当前测试需求，确定满足测试需求的目标功分器25，并通过控制开关装置24的通断情况，可使得目标功分器与待测多端口天线22连接。因此现有技术相比，在通过本发明实施例提供的天线测试系统进行测试时，无需对功分器25进行拆装，即可实现对待测多端口天线22的不同工作状态进行自动化测试，不仅能够大幅度提高总体测试效率，还能够避免拆装过程中因人工操作带来的连接误差，从而极大的提高测试的准确性。
实施例二：
为实现对待测多端口天线22的不同工作状态进行自动化测试，在上述实施例的基础上，在本发明实施例中，具体采用如图3所示的天线测试系统对多端口天线进行测试。
具体地，所述开关装置24包括：第一开关241，所述第一开关241的控制端连接所述控制装置23，所述第一开关241的第一开关端连接所述射频装置21，所述第一开关241的每个第二开关端连接对应的功分器25，每个功分器25分别连接所述待测多端口天线22上的每个天线端口。
由于在射频装置21和功分器25之间连接有第一开关241，而第一开关241上设有一个第一开关端和多个第二开关端，且第一开关端与射频装置21连接，每个第二开关端与对应的功分器25连接，因此为使得射频装置21与目标功分器25连通，通过目标功分器25对射频装置21输出的射频信号进行相应处理，并将处理后生成的多路射频输出信号发送到待测多端口天线22上的每个天线端口，那么则需要控制装置23确定第一开关241上与目标功分器25连接的目标第二开关端，并控制目标第二开关端与第一开关端连接，以使得目标功分器25所在的支路导通，从而使得目标功分器与待测多端口天线22上的每个天线端口连接。
因此，在本发明实施例中，所述控制装置23，具体用于控制所述第一开关241的第一开关端与所述目标功分器25连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线22上的每个天线端口连接。
假如待测多端口天线22上的天线端口数量为N个，因此为了实现对该待测多端口天线22上的每个天线端口进行测试，那么所选用的功分器25应该为1分N功分器25，而功分器25的数量则应该与待测多端口天线22需要测试的工作状态的数量相同，假如待测多端口天线22需要测试的工作状态的数量为M，那么相应的，功分器25的数量也就是M。
其中，假如需要对待测多端口天线22的第一种工作状态进行测试，而第一种工作状态的射频输出信号需要由第一个1分N功分器25模拟生成，那么控制装置23则会控制第一开关241上与第一个1分N功分器25连接的目标第二开关端与第一开关端连接，从而使第一个1分N功分器25所在的支路导通，而其他1分N功分器25所在的支路断开。因此第一个1分N功分器25即可对射频装置21输出的射频信号进行幅度衰减和相位时延的加权后，形成多路的射频输出信号，并将该射频输出信号发送至待测多端口天线22上的N个天线端口，以使得待测多端口天线22产生第一种波束(即模拟待测多端口天线22的第一种工作状态)，其中该波束为根据方向测试系统产生的一种空间定向波束，所以源天线在接收到该第一空间定向波束后，方向图测试系统可通过源天线测得待测多端口天线22的第一种空间定向波束对应的第一种方向图测试结果。
其中，方向图测试系统是用于进行天线测试的软件系统，可控制天线旋转角度等参数，并根据源天线接收的波束进行数据处理和分析，以获取每个波束对应的方向图测试结果。由于方向图测试系统进行数据处理和分析的过程与现有技术相同，故在此不再赘述。需要说明的是，在本发明方案中，控制装置23可以是装有方向图测试系统的电子设备，而该电子设备可以具体为笔记本或者台式电脑等。
其中，还需要说明的是，在对待测多端口天线22的M中工作状态进行测试时，均可以按照上述描述的测试过程进行测试，当然可以理解的是，在本发明实施例中，对于待测多端口天线22上的天线端口数量N、待测多端口天线22需要测试的工作状态的数量M以及第一开关241的第二开关端与每个功分器25连接的对应关系并不进行具体限定。
由上述可知，通过在射频装置21和功分器25之间连接第一开关241，并根据测试需求控制第一开关241的通断情况，可以使目标功分器25所在的支路导通，从而实现对待测多端口天线22的不同工作状态进行自动化测试，不仅能够大幅度提高总体测试效率，还能够避免拆装过程中因人工操作带来的连接误差，从而极大的提高测试的准确性。
实施例三：
为实现对待测多端口天线22的不同工作状态进行自动化测试，在上述各实施例的基础上，在本发明实施例中，还可以采用如图4所示的天线测试系统对多端口天线进行测试。
具体地，所述开关装置24还包括：第二开关242，其中所述第二开关242的数量与所述待测多端口天线22上的天线端口的数量相同，针对每个所述第二开关242，该第二开关242的控制端连接所述控制装置23，该第二开关242的第一开关端连接对应的天线端口，该第二开关242的每个第二开关端连接对应的功分器25。
由于在功分器25和待测多端口天线22之间连接有与待测多端口天线22上的天线端口数量相同的第二开关242，而针对每个第二开关242，其上也设有一个第一开关端和多个第二开关端，且第一开关端与对应的天线端口连接，每个第二开关端连接对应的功分器25，因此为使得目标功分器25能够与待测多端口天线22上的天线的端口连通，并将处理后生成的多路射频输出信号发送到待测多端口天线22上的每个天线端口，那么则需要控制装置23确定第二开关242上与目标功分器25连接的目标第二开关端，并控制目标第二开关端与第一开关端连接，以使得每个第二开关242分别连通与目标功分器25相连的支路，从而使得目标功分器与待测多端口天线22上的每个天线端口连接。
因此，在本发明实施例中，所述控制装置23，具体用于针对每个所述第二开关242，控制该第二开关242的第一开关端与所述目标功分器25连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线22上的每个天线端口连接。
假如待测多端口天线22上的天线端口数量为N个，因此为了实现对该待测多端口天线22上的每个天线端口进行测试，那么所选用第二开关242的数量也为N个，且选用的功分器25应该为1分N功分器25，而功分器25的数量则应该与待测多端口天线22需要测试的工作状态的数量相同，假如待测多端口天线22需要测试的工作状态的数量为M，那么相应的，功分器25的数量也就是M。
其中，假如需要对待测多端口天线22的第二种工作状态进行测试，而第二种工作状态的射频输出信号需要由第二个1分N功分器25模拟生成，那么控制装置23则会控制每个第二开关242上与第二个1分N功分器25连接的目标第二开关端与第一开关端连接，从而使每个第二开关242分别连通与第二个1分N功分器25相连的支路，并同时使每个第二开关242对应与其余1分N功分器25相连的支路断开。那么通过第二个1分N功分器25对射频装置21输出的射频信号进行幅度衰减和相位时延的加权后所形成多路的射频输出信号，即可被发送至待测多端口天线22上的N个天线端口，以使得待测多端口天线22产生第二种波束(即模拟待测多端口天线22的第二种工作状态)。由于该波束也是根据方向测试系统产生的一种空间定向波束，所以源天线在接收到该第二空间定向波束后，方向图测试系统可通过源天线测得待测多端口天线22的第二种空间定向波束对应的第二种方向图测试结果。
其中，需要说明的是，在对待测多端口天线22的M中工作状态进行测试时，均可以按照上述描述的测试过程进行测试，当然可以理解的是，在本发明实施例中，对于待测多端口天线22上的天线端口数量N、待测多端口天线22需要测试的工作状态的数量M以及第二开关242的第二开关端与每个功分器25连接的对应关系并不进行具体限定。
由上述可知，通过在功分器25和待测多端口天线22之间连接与待测多端口天线22上的天线端口数量相同的第二开关242，并根据测试需求控制第二开关242的通断情况，可以使每个第二开关242分别连通与目标功分器25相连的支路，从而也能够实现对待测多端口天线22的不同工作状态进行自动化测试，大幅度提高总体测试效率，还能够避免拆装过程中因人工操作带来的连接误差，从而极大的提高测试的准确性。
实施例四：
为实现对待测多端口天线22的不同工作状态进行自动化测试，当然较优的是天线测试系统同时包括上述第一开关241和第二开关242，在上述各实施例的基础上，在本发明实施例中提供的天线测试系统的结构示意图如图5所示。
具体地，该天线测试系统包括第一开关241、多个第二开关242和至少两个功分器25，其中第二开关242的数量与待测多端口天线22上的天线端口的数量相同，功分器25的数量与待测多端口天线22需要测试的工作状态的数量相同。其中，第一开关241上设有一个第一开关端和多个第二开关端，且第一开关241的第一开关端与射频装置21连接，第一开关241的每个第二开关端与对应的功分器25的功分器25连接，而针对每个第二开关242，其上也设有一个第一开关端和多个第二开关端，且该第二开关242的第一开关端与对应的天线端口连接，该第二开关242的每个第二开关端连接对应的功分器25。
假如待测多端口天线22上的天线端口数量为N个，因此为了实现对该待测多端口天线22上的每个天线端口进行测试，那么所选用第二开关242的数量也为N个，且选用的功分器25应该为1分N功分器25，而功分器25的数量则应该与待测多端口天线22需要测试的工作状态的数量相同。假如待测多端口天线22需要测试的工作状态的数量为M，那么相应的，功分器25的数量也就是M。也就是说，本发明实施例提供的天线测试系统包括1个第一开关241、N个第二开关242和M个1分N功分器25。其中，在本发明实施例中，第一开关241和第二开关242均为射频开关，因此第一开关241即为图5中所示的第N+1个射频开关，第二开关242即为图5中所示的第1-N个射频开关。
具体地，第N+1个射频开关的第一开关端与射频装置21连接，第N+1个射频开关的第二开关端分别与采用的M个1分N功分器25的射频信号的输入端相连，每个1分N功分器25的射频信号输出端分别与第1-N个射频开关的第二开关端相连，且第1-N个射频开关的第一开关端分别与待测多端口天线22上对应的天线端口相连。其中，为了便于控制，可以使第一个1分N功分器25对应待测多端口天线22的第一种工作状态，第二个1分N功分器25对应待测多端口天线22的第二种工作状态，以此类推，第N个1分N功分器25对应待测多端口天线22的第N种工作状态，并使第一个射频开关与天线端口1相连，第二个射频开关与天线端口2相连，依次类推，第N个射频开关与天线端口N相连，其中，第1-N个射频开关与天线端口连接时，第1-N个射频开关上的第一开关端就是对应其所在支路的支路端口。
在对待测多端口天线22按照工作状态的预设顺序进行测试时，由于射频装置21输出的射频信号会被优先输入至第N+1个射频开关，因此首先，控制装置23会控制第N+1个射频开关上与第一个1分N功分器25连接的目标第二开关端与第一开关端连接，从而使第一个1分N功分器25所在的支路导通，其他1分N功分器25所在的支路断开，并控制第1-N个射频开关上与第一个1分N功分器25连接的目标第二开关端与第一开关端连接，从而使第1-N个射频开关分别连通与第一个1分N功分器25相连的支路，并同时使第1-N个射频开关对应与第2至M个1分N功分器25相连的支路断开。当射频信号被输入至第一个1分N功分器25时，第一个1分N功分器25会对该射频信号进行幅度衰减和相位时延的加权后，形成多路的射频输出信号，并将该射频输出信号发送至第1-N个射频开关。由于第1-N个射频开关上与第一个1分N功分器25连接的目标第二开关端与第一开关端连接，因此通过第一个1分N功分器25输出的射频输出信号，即可被发送至待测多端口天线22上的N个天线端口，以使得待测多端口天线22产生第一控制定向波束(即模拟待测多端口天线22的第一种工作状态)，源天线在接收到该第一空间定向波束后，方向图测试系统可通过源天线测得待测多端口天线22的第一种空间定向波束对应的第一种方向图测试结果。
然后，再通过控制装置23控制第N+1个射频开关上与第二个1分N功分器25连接的目标第二开关端与第一开关端连接，从而使第二个1分N功分器25所在的支路导通，其他1分N功分器25所在的支路断开，并控制第1-N个射频开关上与第二个1分N功分器25连接的目标第二开关端与第一开关端连接，从而使第1-N个射频开关分别连通与第二个1分N功分器25相连的支路，并同时使第1-N个射频开关对应与第1个功分器25以及第3至M个1分N功分器25相连的支路断开。当射频信号被输入至第二个1分N功分器25时，第二个1分N功分器25会对该射频信号进行幅度衰减和相位时延的加权后，形成多路的射频输出信号，并将该射频输出信号发送至每个第二开关242。由于第1-N个射频开关上与第二个1分N功分器25连接的目标第二开关端与第一开关端连接，因此通过第二个1分N功分器25输出的射频输出信号，即可被发送至待测多端口天线22上的N个天线端口，以使得待测多端口天线22产生第二控制定向波束(即模拟待测多端口天线22的第二种工作状态)，源天线在接收到该第二空间定向波束后，方向图测试系统可通过源天线测得待测多端口天线22的第二种空间定向波束对应的第二种方向图测试结果。
最后，依次类推，直到测试出待测多端口天线22的第M种方向图测试结果，则针对待测多端口天线22的测试结束。
其中，上述在对待测多端口天线22按照工作状态的预设顺序进行测试的测试流程如图6所示，即装有方向图测试系统的电子设备控制第N+1个射频开关切换选择接通其中一个功分器25，并同时控制第1至N个射频开关分别连通与该功分器25的各射频射信号输出端相连的支路，断开与其余功分器25的射频信号输出端相连的支路，然后再通过方向图测试系统将射频信号输入至第N+1个射频开关，第N+1个射频开关将该射频信号发送给与之连通的上述功分器25，该功分器25对接收到的射频信号进行幅度衰减和相位时延的加权后，形成N路射频输出信号并发送给被测天线的N个天线端口，被测天线(即待测多端口天线22)产生空间定向波束，源天线接收该空间定向波束，方向图测试系统通过源天线测得被测天线的上述空间定向波束对应的方向图，并判断当前测试是否结束，如果是，则确定测试完成，如果否，则针对待测多端口天线22的下一个工作状态重复上述测试过程。
由上述可知，在多端口天线22测试过程中，通过采用第一开关241、多个第二开关242和至少两个功分器25，能方便的根据实际需要通过控制第一开关241和第二开关242的通断情况，从而实现对多端口天线22不同工作状态的自动化、高效测试，从而大幅提升总体测试效率。由于该多端口天线22测试方案，测试装置结构简单，无需多次人工拆装功分器25，避免了人工操作带来的连接误差，因此极大地提高了测试的准确性和客观性。
实施例五：
由于在发射机的前级电路中，调制振荡电路所产生的射频信号功率很小，需要经过一系列的放大一缓冲级、中间放大级、末级功率放大级，获得足够的射频功率以后，才能馈送到天线上辐射出去。而在射频装置21和功分器25之间连接有第一开关241，因此为了补偿第一开关241损耗，在上述各实施例的基础上，在本发明实施例中，所述系统还包括：射频放大器26。具体地，如图7所示，所述射频放大器26分别连接所述射频装置21和所述第一开关241的第一开关端。
因此，在本发明实施例中，通过在第一开关241和射频装置21之间连接一射频放大器26，可获得足够大的射频输出功率，以补偿第一开关241损耗。
其中，还需要说明的是，在上述各实施例的基础上，在本发明实施例中，所述功分器25为无源功分器或有源功分器。其中，有源功分器为包含有射频电路的有源功分器，由于无源功分器具有工作稳定，结构简单，基本上无噪声的特点，而有源功分器具有增益，隔离度较高的特点，因此在实际应用中，可根据测试需求选择合适的功分器25，在本发明实施例中，对此并不进行具体限定。
实施例六：
在上述各实施例的基础上，依据本发明实施例的另一个方面，本发明实施例提供了一种天线测试方法，如图8所示，该方法包括以下步骤：
S801：根据当前测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器。
S802：控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接。
本发明实施例提供的天线测试方法，可以应用于电子设备上，该电子设备包括硬件层，运行在硬件层之上的操作系统层，以及运行在操作系统上的应用层。该操作系统可以是任意一种或多种通过进程(Process)实现业务处理的计算机操作系统，例如，Linux操作系统、Unix操作系统、Android操作系统、iOS操作系统或windows操作系统等。并且在本发明实施例中该电子设备可以是桌面计算机、便携式计算机等终端设备，本发明实施例中并未特别限定，只要能够通过运行记录有本发明实施例中的天线测试方法的代码的程序，实现天线测试即可。
在本发明实施例中，通过根据当前测试需求，确定满足测试需求的目标功分器，并通过控制开关装置的通断情况，可使得目标功分器与待测多端口天线连接。因此在通过本发明实施例提供的天线测试方法进行测试时，可实现对待测多端口天线的不同工作状态进行自动化测试，不仅能够大幅度提高总体测试效率，还能够避免拆装过程中因人工操作带来的连接误差，从而极大的提高测试的准确性。
具体地，由上述实施例可知，所述开关装置包括：第一开关，所述第一开关的控制端连接控制装置，所述第一开关的第一开关端连接射频装置，所述第一开关的每个第二开关端连接对应的功分器，每个功分器分别连接待测多端口天线上的每个天线端口，所述控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接包括：
控制所述第一开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
其中，假如待测多端口天线上的天线端口数量为N个，需要测试的工作状态的数量为M，而第一个功分器对应待测多端口天线的第一种工作状态，第二个功分器对应待测多端口天线的第二种工作状态，以此类推，第N个功分器对应待测多端口天线的第N种工作状态，那么当需要对待测多端口天线的第一种工作状态进行测试时，则会控制第一开关上与第一个功分器连接的目标第二开关端与第一开关端连接，从而使第一个功分器所在的支路导通，其他1分N功分器所在的支路断开，以使得目标功分器与待测多端口天线上的每个天线端口连接。
因此，当射频装置和功分器之间连接有第一开关时，通过根据测试需求控制第一开关的通断情况，可以使目标功分器所在的支路导通，并使得目标功分器与待测多端口天线上的每个天线端口连接，从而实现了对待测多端口天线的不同工作状态进行自动化测试，不仅能够大幅度提高总体测试效率，还能够避免拆装过程中因人工操作带来的连接误差，从而极大的提高测试的准确性。
具体地，由上述实施例可知，所述开关装置还包括：第二开关，其中所述第二开关的数量与待测多端口天线上的天线端口的数量相同，针对每个所述第二开关，该第二开关的控制端连接控制装置，该第二开关的第一开关端连接对应的天线端口，该第二开关的每个第二开关端连接对应的功分器，所述控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接包括：
针对每个所述第二开关，控制该第二开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
其中，当需要对待测多端口天线的第二种工作状态进行测试时，则会每个第二开关上与第二个功分器连接的目标第二开关端与第一开关端连接，从而使每个第二开关分别连通与第二个功分器相连的支路，并同时使每个第二开关对应与其余功分器相连的支路断开，以使得目标功分器与待测多端口天线上的每个天线端口连接。
因此，当功分器和待测多端口天线之间连接与待测多端口天线上的天线端口数量相同的第二开关时，通过根据测试需求控制第二开关的通断情况，可以使每个第二开关分别连通与目标功分器相连的支路，从而也能够实现对待测多端口天线的不同工作状态进行自动化测试，大幅度提高总体测试效率，还能够避免拆装过程中因人工操作带来的连接误差，从而极大的提高测试的准确性。
当然，较优的是天线测试系统同时包括上述第一开关和第二开关，通过采用第一开关、多个第二开关和至少两个功分器，能方便的根据实际需要通过控制第一开关和第二开关的通断情况，从而实现对多端口天线不同工作状态的自动化、高效测试，从而大幅提升总体测试效率。由于该多端口天线测试方案，测试装置结构简单，无需多次人工拆装功分器，避免了人工操作带来的连接误差，因此极大地提高了测试的准确性和客观性。
实施例七：
在上述各实施例的基础上，依据本发明实施例的另一个方面，本发明实施例提供了一种天线测试装置，如图9所示，该装置包括：
确定模块901，用于根据当前测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器；
控制模块902，用于控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线22连接。
具体地，所述开关装置包括：第一开关，所述第一开关的控制端连接控制装置，所述第一开关的第一开关端连接射频装置，所述第一开关的每个第二开关端连接对应的功分器，每个功分器分别连接待测多端口天线上的每个天线端口，所述控制模块902，具体用于控制所述第一开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
具体地，所述开关装置还包括：第二开关，其中所述第二开关的数量与待测多端口天线上的天线端口的数量相同，针对每个所述第二开关，该第二开关的控制端连接控制装置，该第二开关的第一开关端连接对应的天线端口，该第二开关的每个第二开关端连接对应的功分器，所述控制模块902，具体用于针对每个所述第二开关，控制该第二开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
实施例八：
在上述各实施例的基础上，依据本发明实施例的另一个方面，本发明实施例提供了一种电子设备，如图10所示，包括：处理器1001和存储器1002。
所述处理器1001，用于执行读取存储器1002中的程序，执行下列过程：
根据当前测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器；
控制开关装置使所述目标功能器与待测多端口天线连接。
具体地，所述开关装置包括：第一开关，所述第一开关的控制端连接控制装置，所述第一开关的第一开关端连接射频装置，所述第一开关的每个第二开关端连接对应的功分器，每个功分器分别连接待测多端口天线上的每个天线端口，所述处理器1001，具体用于控制所述第一开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功能器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
具体地，所述开关装置还包括：第二开关，其中所述第二开关的数量与待测多端口天线上的天线端口的数量相同，针对每个所述第二开关，该第二开关的控制端连接控制装置，该第二开关的第一开关端连接对应的天线端口，该第二开关的每个第二开关端连接对应的功分器，所述处理器1001，具体用于针对每个所述第二开关，控制该第二开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功能器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
在图10中，总线架构可以包括任意数量的互联的总线和桥，具体由处理器1001代表的一个或多个处理器和存储器1002代表的存储器的各种电路链接在一起。总线架构还可以将诸如外围设备、稳压器和功率管理电路等之类的各种其他电路链接在一起，这些都是本领域所公知的，因此，本文不再对其进行进一步描述。处理器1001负责管理总线架构和通常的处理，存储器1002可以存储处理器1001在执行操作时所使用的数据。
可选的，处理器1001可以是CPU(中央处埋器)、ASIC(Application SpecificIntegrated Circuit，专用集成电路)、FPGA(Field－Programmable Gate Array，现场可编程门阵列)或CPLD(Complex Programmable Logic Device，复杂可编程逻辑器件)。
实施例九：
在上述各实施例的基础上，本发明实施例还提供了一种计算机存储可读存储介质，所述计算机可读存储介质内存储有可由电子设备执行的计算机程序，当所述程序在所述电子设备上运行时，使得所述电子设备执行时实现如下方法中的步骤：
根据当前测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器；
控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接。
具体地，所述开关装置包括：第一开关，所述第一开关的控制端连接所述控制装置，所述第一开关的第一开关端连接所述射频装置，所述第一开关的每个第二开关端连接对应的功分器，每个功分器分别连接所述待测多端口天线22上的每个天线端口，所述控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线22连接包括：
控制所述第一开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
具体地，所述开关装置还包括：第二开关，其中所述第二开关的数量与所述待测多端口天线上的天线端口的数量相同，针对每个所述第二开关，该第二开关的控制端连接所述控制装置，该第二开关的第一开关端连接对应的天线端口，该第二开关的每个第二开关端连接对应的功分器，所述控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接包括：
针对每个所述第二开关，控制该第二开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
上述计算机可读存储介质可以是电子设备中的处理器能够存取的任何可用介质或数据存储设备，包括但不限于磁性存储器如软盘、硬盘、磁带、磁光盘(MO)等、光学存储器如CD、DVD、BD、HVD等、以及半导体存储器如ROM、EPROM、EEPROM、非易失性存储器(NANDFLASH)、固态硬盘(SSD)等。
对于系统/装置实施例而言，由于其基本相似于方法实施例，所以描述的比较简单，相关之处参见方法实施例的部分说明即可。
需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者一个操作与另一个实体或者另一个操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或者操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全应用实施例、或结合应用和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本申请的优选实施例，但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念，则可对这些实施例做出另外的变更和修改。所以，所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本申请范围的所有变更和修改。
显然，本领域的技术人员可以对本申请进行各种改动和变型而不脱离本申请的精神和范围。这样，倘若本申请的这些修改和变型属于本申请权利要求及其等同技术的范围之内，则本申请也意图包含这些改动和变型在内。

Claims (9)

1.一种天线测试系统，包括用于输出射频信号的射频装置和待测多端口天线，其特征在于，所述系统还包括：控制装置，开关装置和至少两个功分器；
每个功分器分别连接所述开关装置和射频装置；
所述控制装置连接所述开关装置，用于根据当前的测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器，控制所述开关装置使所述目标功分器与所述待测多端口天线连接，所述目标功分器用于对射频装置输出的射频信号进行幅度衰减和相位时延的加权，形成多路的射频输出信号；
所述开关装置包括：第二开关，其中所述第二开关的数量与所述待测多端口天线上的天线端口的数量相同；
针对每个所述第二开关，该第二开关的控制端连接所述控制装置，该第二开关的第一开关端连接对应的天线端口，该第二开关的每个第二开关端连接对应的功分器；
所述控制装置，具体用于针对每个所述第二开关，控制该第二开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接；
其中，功分器的数量与待测多端口天线需要测试的工作状态的数量相同；针对每个功分器，该功分器为1分N功分器，N为待测多端口天线上的天线端口的数量。
2.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述开关装置包括：第一开关，
所述第一开关的控制端连接所述控制装置，所述第一开关的第一开关端连接所述射频装置，所述第一开关的每个第二开关端连接对应的功分器，每个功分器分别连接所述待测多端口天线上的每个天线端口；
所述控制装置，具体用于控制所述第一开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
3.如权利要求2所述的系统，其特征在于，所述系统还包括：射频放大器，所述射频放大器分别连接所述射频装置和所述第一开关的第一开关端。
4.如权利要求1所述的系统，其特征在于，所述功分器为无源功分器或有源功分器。
5.一种基于权利要求1-4任一项所述的天线测试系统的天线测试方法，其特征在于，所述方法包括：
根据当前测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器，所述目标功分器用于对射频装置输出的射频信号进行幅度衰减和相位时延的加权，形成多路的射频输出信号；
控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接；
所述开关装置包括：第二开关，其中所述第二开关的数量与待测多端口天线上的天线端口的数量相同，针对每个所述第二开关，该第二开关的控制端连接控制装置，该第二开关的第一开关端连接对应的天线端口，该第二开关的每个第二开关端连接对应的功分器，所述控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接包括：
针对每个所述第二开关，控制该第二开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接；
其中，功分器的数量与待测多端口天线需要测试的工作状态的数量相同，针对每个功分器，该功分器为1分N功分器，N为待测多端口天线上的天线端口的数量。
6.如权利要求5所述的方法，其特征在于，所述开关装置包括：第一开关，所述第一开关的控制端连接控制装置，所述第一开关的第一开关端连接射频装置，所述第一开关的每个第二开关端连接对应的功分器，每个功分器分别连接待测多端口天线上的每个天线端口，所述控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接包括：
控制所述第一开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接。
7.一种天线测试装置，其特征在于，所述装置包括：
确定模块，用于根据当前测试需求，确定满足所述测试需求的目标功分器，所述目标功分器用于对射频装置输出的射频信号进行幅度衰减和相位时延的加权，形成多路的射频输出信号；
控制模块，用于控制开关装置使所述目标功分器与待测多端口天线连接；
所述开关装置包括：第二开关，其中所述第二开关的数量与待测多端口天线上的天线端口的数量相同，针对每个所述第二开关，该第二开关的控制端连接控制装置，该第二开关的第一开关端连接对应的天线端口，该第二开关的每个第二开关端连接对应的功分器；
所述控制模块，具体用于针对每个所述第二开关，控制该第二开关的第一开关端与所述目标功分器连接的目标第二开关端连接，使所述目标功分器与所述待测多端口天线上的每个天线端口连接；
其中，功分器的数量与待测多端口天线需要测试的工作状态的数量相同，针对每个功分器，该功分器为1分N功分器，N为待测多端口天线上的天线端口的数量。
8.一种电子设备，其特征在于，包括存储器和处理器；
所述处理器，用于读取所述存储器中的程序，执行权利要求5-6任一项所述方法的步骤。
9.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其存储有可由电子设备执行的计算机程序，当所述程序在所述电子设备上运行时，使得所述电子设备执行权利要求5-6任一项所述方法的步骤。
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