JP2002359581A - 相互変調歪発生箇所検出方法 - Google Patents
相互変調歪発生箇所検出方法Info
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- JP2002359581A JP2002359581A JP2001165195A JP2001165195A JP2002359581A JP 2002359581 A JP2002359581 A JP 2002359581A JP 2001165195 A JP2001165195 A JP 2001165195A JP 2001165195 A JP2001165195 A JP 2001165195A JP 2002359581 A JP2002359581 A JP 2002359581A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 相互変調歪の発生箇所を容易に検出すること
ができる相互変調歪発生箇所検出方法を提供する。 【解決手段】 アンテナ、同軸ケーブル等の被測定物に
対し複数の周波数の信号を入力し、被測定物内で発生し
た相互変調歪を含んだ信号を検出する方法において、少
なくとも１の周波数の信号を矩形波で変調しておき、相
互変調歪を含んだ矩形波を検出し、この検出された矩形
波と前記変調に使用した矩形波との位相から相互変調歪
の発生箇所までの距離を計算し、該発生箇所の位置を特
定する。これにより、相互変調歪の発生箇所を容易に検
出することができる。
ができる相互変調歪発生箇所検出方法を提供する。 【解決手段】 アンテナ、同軸ケーブル等の被測定物に
対し複数の周波数の信号を入力し、被測定物内で発生し
た相互変調歪を含んだ信号を検出する方法において、少
なくとも１の周波数の信号を矩形波で変調しておき、相
互変調歪を含んだ矩形波を検出し、この検出された矩形
波と前記変調に使用した矩形波との位相から相互変調歪
の発生箇所までの距離を計算し、該発生箇所の位置を特
定する。これにより、相互変調歪の発生箇所を容易に検
出することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、伝送路（伝送線
路）へ大電力信号を複数波入れた際に発生する相互変調
歪の発生箇所を検出する方法に係り、特に、相互変調歪
の発生箇所を容易に検出することができる相互変調歪発
生箇所検出方法に関するものである。
路）へ大電力信号を複数波入れた際に発生する相互変調
歪の発生箇所を検出する方法に係り、特に、相互変調歪
の発生箇所を容易に検出することができる相互変調歪発
生箇所検出方法に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】アンテナ、同軸ケーブル等の伝送路へ複
数の周波数の大電力信号を入力すると、伝送路内で相互
変調歪が発生する。相互変調歪ｆｉｍは、例えば、周波
数ｆ１，ｆ２の信号を入力したとすると、 ｆｉｍ＝Ｍｆ１＋Ｎｆ２ または、 ｆｉｍ＝Ｍｆ１−Ｎｆ２ （Ｍ、Ｎは整数）で表される周波数に発生する。相互変
調歪の発生は、主に接触部などの直流抵抗による非直線
性が原因である。携帯電話システムなどの双方向通信に
おいて、この相互変調歪が受信帯域に発生した場合、受
信障害を起こす。
数の周波数の大電力信号を入力すると、伝送路内で相互
変調歪が発生する。相互変調歪ｆｉｍは、例えば、周波
数ｆ１，ｆ２の信号を入力したとすると、 ｆｉｍ＝Ｍｆ１＋Ｎｆ２ または、 ｆｉｍ＝Ｍｆ１−Ｎｆ２ （Ｍ、Ｎは整数）で表される周波数に発生する。相互変
調歪の発生は、主に接触部などの直流抵抗による非直線
性が原因である。携帯電話システムなどの双方向通信に
おいて、この相互変調歪が受信帯域に発生した場合、受
信障害を起こす。
【０００３】相互変調歪を検出する測定装置の従来の構
成を図３に示す。この測定装置は、周波数ｆ１，ｆ２の
信号を発生する信号発生器１，１´と、信号発生器１，
１´からの信号を増幅する増幅器２，２´と、周波数ｆ
１，ｆ２以外の不要信号を除去するバンドパスフィルタ
３，３´と、被測定物への入力信号を複合すると共に被
測定物からの出力信号を分離するデュープレクサ４と、
分離した被測定物からの出力信号を増幅するローノイズ
アンプ５と、周波数毎の電力を分析するスペクトラムア
ナライザ６とを備える。
成を図３に示す。この測定装置は、周波数ｆ１，ｆ２の
信号を発生する信号発生器１，１´と、信号発生器１，
１´からの信号を増幅する増幅器２，２´と、周波数ｆ
１，ｆ２以外の不要信号を除去するバンドパスフィルタ
３，３´と、被測定物への入力信号を複合すると共に被
測定物からの出力信号を分離するデュープレクサ４と、
分離した被測定物からの出力信号を増幅するローノイズ
アンプ５と、周波数毎の電力を分析するスペクトラムア
ナライザ６とを備える。
【０００４】信号発生器１，１´より出力された信号
は、増幅器２，２´で増幅され、バンドパスフィルタ
３，３´で不要信号を除去された後、デュープレクサ４
で複合され、被測定物へ入力される。被測定物内で発生
した微小な相互変調歪は、デュープレクサ４で分離さ
れ、ローノイズアンプ５で増幅され、スペクトラムアナ
ライザ６で検出される。
は、増幅器２，２´で増幅され、バンドパスフィルタ
３，３´で不要信号を除去された後、デュープレクサ４
で複合され、被測定物へ入力される。被測定物内で発生
した微小な相互変調歪は、デュープレクサ４で分離さ
れ、ローノイズアンプ５で増幅され、スペクトラムアナ
ライザ６で検出される。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来の測定装置で検出
できるのは、相互変調歪の振幅だけであり、相互変調歪
の発生箇所は検出できない。従って、被測定物内で発生
する相互変調歪の大きさを知ることはできても、相互変
調歪が被測定物内のどこで発生したか分からないので、
相互変調歪の原因を究明するのが困難であった。
できるのは、相互変調歪の振幅だけであり、相互変調歪
の発生箇所は検出できない。従って、被測定物内で発生
する相互変調歪の大きさを知ることはできても、相互変
調歪が被測定物内のどこで発生したか分からないので、
相互変調歪の原因を究明するのが困難であった。
【０００６】そこで、本発明の目的は、上記課題を解決
し、相互変調歪の発生箇所を容易に検出することができ
る相互変調歪発生箇所検出方法を提供することにある。
し、相互変調歪の発生箇所を容易に検出することができ
る相互変調歪発生箇所検出方法を提供することにある。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に本発明は、アンテナ、同軸ケーブル等の被測定物に対
し複数の周波数の信号を入力し、被測定物内で発生した
相互変調歪を含んだ信号を検出する方法において、少な
くとも１の周波数の信号を矩形波で変調しておき、相互
変調歪を含んだ矩形波を検出し、この検出された矩形波
と前記変調に使用した矩形波との位相から相互変調歪の
発生箇所までの距離を計算し、該発生箇所の位置を特定
するものである。
に本発明は、アンテナ、同軸ケーブル等の被測定物に対
し複数の周波数の信号を入力し、被測定物内で発生した
相互変調歪を含んだ信号を検出する方法において、少な
くとも１の周波数の信号を矩形波で変調しておき、相互
変調歪を含んだ矩形波を検出し、この検出された矩形波
と前記変調に使用した矩形波との位相から相互変調歪の
発生箇所までの距離を計算し、該発生箇所の位置を特定
するものである。
【０００８】被測定物に臨ませたプローブにより相互変
調歪を含んだ矩形波を検出してもよい。
調歪を含んだ矩形波を検出してもよい。
【０００９】
【発明の実施の形態】以下、本発明の一実施形態を添付
図面に基づいて詳述する。
図面に基づいて詳述する。
【００１０】図１に示されるように、本発明に係る相互
変調歪の測定装置は、周波数ｆ１，ｆ２の信号を発生す
る信号発生器１，１´と、信号発生器１´からの信号に
振幅変調を施す変調回路８と、変調回路８での振幅変調
に使用する矩形波を発生するパルスジェネレータ７と、
信号発生器１及び変調回路８からの信号を増幅する増幅
器２，２´と、周波数ｆ１，ｆ２以外の不要信号を除去
するバンドパスフィルタ３，３´と、被測定物への入力
信号を複合すると共に被測定物からの出力信号を分離す
るデュープレクサ４と、分離した被測定物からの出力信
号を増幅するローノイズアンプ５と、増幅された出力信
号を復調して矩形波を取り出す復調回路９と、パルスジ
ェネレータ７からの矩形波と復調回路９からの矩形波と
を比較して位相を検出して相互変調歪の発生箇所までの
距離を計算する位相比較回路１０とを備える。
変調歪の測定装置は、周波数ｆ１，ｆ２の信号を発生す
る信号発生器１，１´と、信号発生器１´からの信号に
振幅変調を施す変調回路８と、変調回路８での振幅変調
に使用する矩形波を発生するパルスジェネレータ７と、
信号発生器１及び変調回路８からの信号を増幅する増幅
器２，２´と、周波数ｆ１，ｆ２以外の不要信号を除去
するバンドパスフィルタ３，３´と、被測定物への入力
信号を複合すると共に被測定物からの出力信号を分離す
るデュープレクサ４と、分離した被測定物からの出力信
号を増幅するローノイズアンプ５と、増幅された出力信
号を復調して矩形波を取り出す復調回路９と、パルスジ
ェネレータ７からの矩形波と復調回路９からの矩形波と
を比較して位相を検出して相互変調歪の発生箇所までの
距離を計算する位相比較回路１０とを備える。
【００１１】信号発生器１より出力された信号は、増幅
器２で増幅され、バンドパスフィルタ３で不要信号を除
去された後、デュープレクサ４で複合され、被測定物へ
入力される。
器２で増幅され、バンドパスフィルタ３で不要信号を除
去された後、デュープレクサ４で複合され、被測定物へ
入力される。
【００１２】一方、信号発生器１´より出力された信号
は、変調回路８でパルスジェネレータ７が発生した矩形
波により振幅変調され、増幅器２´で増幅され、バンド
パスフィルタ３´で不要信号を除去された後、デュープ
レクサ４で複合され、被測定物へ入力される。
は、変調回路８でパルスジェネレータ７が発生した矩形
波により振幅変調され、増幅器２´で増幅され、バンド
パスフィルタ３´で不要信号を除去された後、デュープ
レクサ４で複合され、被測定物へ入力される。
【００１３】被測定物内で発生した微小な相互変調歪を
含む矩形波は、デュープレクサ４で分離され、ローノイ
ズアンプ５で増幅され、復調回路９で復調されて矩形波
が取り出される。位相比較回路１０は、変調に使用した
パルスジェネレータ７からの矩形波と相互変調歪を含ん
でいる復調回路９からの矩形波とを比較し、位相（矩形
波の時間遅れ）を検出する。位相比較回路１０は、この
位相に基づき、デュープレクサ４から相互変調歪の発生
箇所までの距離を計算し、この距離から被測定物内にお
ける相互変調歪の発生箇所の位置を特定する。
含む矩形波は、デュープレクサ４で分離され、ローノイ
ズアンプ５で増幅され、復調回路９で復調されて矩形波
が取り出される。位相比較回路１０は、変調に使用した
パルスジェネレータ７からの矩形波と相互変調歪を含ん
でいる復調回路９からの矩形波とを比較し、位相（矩形
波の時間遅れ）を検出する。位相比較回路１０は、この
位相に基づき、デュープレクサ４から相互変調歪の発生
箇所までの距離を計算し、この距離から被測定物内にお
ける相互変調歪の発生箇所の位置を特定する。
【００１４】図２に他の実施形態を示す。この測定装置
は、周波数ｆ１，ｆ２の信号を発生する信号発生器１，
１´と、信号発生器１´からの信号に振幅変調を施す変
調回路８と、変調回路８での振幅変調に使用する矩形波
を発生するパルスジェネレータ７と、信号発生器１及び
変調回路８からの信号を増幅して被測定物の入力する増
幅器２，２´と、周波数ｆ１，ｆ２以外の不要信号を除
去するバンドパスフィルタ３，３´と、被測定物に臨ん
で相互変調歪を含んだ矩形波を検出するプローブ１１
と、プローブ１１からの出力信号を増幅するローノイズ
アンプ５と、増幅された出力信号を復調して矩形波を取
り出す復調回路９と、パルスジェネレータ７からの矩形
波と復調回路９からの矩形波とを比較して位相を検出し
て相互変調歪の発生箇所までの距離を計算する位相比較
回路１０とを備える。
は、周波数ｆ１，ｆ２の信号を発生する信号発生器１，
１´と、信号発生器１´からの信号に振幅変調を施す変
調回路８と、変調回路８での振幅変調に使用する矩形波
を発生するパルスジェネレータ７と、信号発生器１及び
変調回路８からの信号を増幅して被測定物の入力する増
幅器２，２´と、周波数ｆ１，ｆ２以外の不要信号を除
去するバンドパスフィルタ３，３´と、被測定物に臨ん
で相互変調歪を含んだ矩形波を検出するプローブ１１
と、プローブ１１からの出力信号を増幅するローノイズ
アンプ５と、増幅された出力信号を復調して矩形波を取
り出す復調回路９と、パルスジェネレータ７からの矩形
波と復調回路９からの矩形波とを比較して位相を検出し
て相互変調歪の発生箇所までの距離を計算する位相比較
回路１０とを備える。
【００１５】信号発生器１より出力された信号は、増幅
器２で増幅され、バンドパスフィルタ３で不要信号を除
去された後、被測定物へ入力される。一方、信号発生器
１´より出力された信号は、変調回路８でパルスジェネ
レータ７が発生した矩形波により振幅変調され、増幅器
２´で増幅され、バンドパスフィルタ３´で不要信号を
除去された後、被測定物へ入力される。
器２で増幅され、バンドパスフィルタ３で不要信号を除
去された後、被測定物へ入力される。一方、信号発生器
１´より出力された信号は、変調回路８でパルスジェネ
レータ７が発生した矩形波により振幅変調され、増幅器
２´で増幅され、バンドパスフィルタ３´で不要信号を
除去された後、被測定物へ入力される。
【００１６】被測定物内で発生した微小な相互変調歪を
含む矩形波は、プローブ１１に結合し、ローノイズアン
プ５で増幅され、復調回路９で復調されて矩形波が取り
出される。位相比較回路１０は、変調に使用したパルス
ジェネレータ７からの矩形波と相互変調歪を含んでいる
復調回路９からの矩形波とを比較し、位相（矩形波の時
間遅れ）を検出する。位相比較回路１０は、この位相に
基づき、デュープレクサ４から相互変調歪の発生箇所ま
での距離を計算し、この距離から被測定物内における相
互変調歪の発生箇所の位置を特定する。
含む矩形波は、プローブ１１に結合し、ローノイズアン
プ５で増幅され、復調回路９で復調されて矩形波が取り
出される。位相比較回路１０は、変調に使用したパルス
ジェネレータ７からの矩形波と相互変調歪を含んでいる
復調回路９からの矩形波とを比較し、位相（矩形波の時
間遅れ）を検出する。位相比較回路１０は、この位相に
基づき、デュープレクサ４から相互変調歪の発生箇所ま
での距離を計算し、この距離から被測定物内における相
互変調歪の発生箇所の位置を特定する。
【００１７】プローブ１１を使用する図２の測定装置
は、アレイアンテナのようにアンテナ素子が多岐に分散
している被測定物には特に有効である。即ち、図１のよ
うに被測定物への信号注入端から戻ってきた信号を用い
て相互変調歪の発生箇所までの距離を計算すると、同じ
距離にあるアンテナ素子が複数存在するため、発生箇所
が存在するアンテナ素子を特定することができないが、
プローブ１１で拾った信号を用いて相互変調歪の発生箇
所までの距離を計算すると、プローブ１１を臨ませてい
るアンテナ素子について発生箇所の位置を特定すること
ができる。
は、アレイアンテナのようにアンテナ素子が多岐に分散
している被測定物には特に有効である。即ち、図１のよ
うに被測定物への信号注入端から戻ってきた信号を用い
て相互変調歪の発生箇所までの距離を計算すると、同じ
距離にあるアンテナ素子が複数存在するため、発生箇所
が存在するアンテナ素子を特定することができないが、
プローブ１１で拾った信号を用いて相互変調歪の発生箇
所までの距離を計算すると、プローブ１１を臨ませてい
るアンテナ素子について発生箇所の位置を特定すること
ができる。
【００１８】尚、分配回路による分岐があり、かつ非放
射の被測定物に対しては、プローブ１１を使用せず、分
岐先の一端から取り出した信号をローノイズアンプ５に
入力してもよい。
射の被測定物に対しては、プローブ１１を使用せず、分
岐先の一端から取り出した信号をローノイズアンプ５に
入力してもよい。
【００１９】
【発明の効果】本発明は次の如き優れた効果を発揮す
る。
る。
【００２０】（１）相互変調歪が被測定物内のどこで発
生したかが分かるので、相互変調歪の原因を究明するこ
とができる。
生したかが分かるので、相互変調歪の原因を究明するこ
とができる。
【図１】本発明の一実施形態を示す相互変調歪測定装置
の回路図である。
の回路図である。
【図２】本発明の他の実施形態を示す相互変調歪測定装
置の回路図である。
置の回路図である。
【図３】従来の相互変調歪測定装置の回路図である。
１，１´ 信号発生器 ２，２´ 増幅器 ３，３´ バンドパスフィルタ ４ デュープレクサ ５ ローノイズアンプ ７ パルスジェネレータ ８ 変調回路 ９ 復調回路 １０ 位相比較回路 １１ プローブ
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Ｆターム(参考） 5K042 AA06 CA12 CA18 DA14 DA33 EA03 FA11 FA22 GA01 GA12 LA14
Claims (2)
- 【請求項１】 アンテナ、同軸ケーブル等の被測定物に
対し複数の周波数の信号を入力し、被測定物内で発生し
た相互変調歪を含んだ信号を検出する方法において、少
なくとも１の周波数の信号を矩形波で変調しておき、相
互変調歪を含んだ矩形波を検出し、この検出された矩形
波と前記変調に使用した矩形波との位相から相互変調歪
の発生箇所までの距離を計算し、該発生箇所の位置を特
定することを特徴とする相互変調歪発生箇所検出方法。 - 【請求項２】 被測定物に臨ませたプローブにより相互
変調歪を含んだ矩形波を検出することを特徴とする請求
項１記載の相互変調歪発生箇所検出方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001165195A JP2002359581A (ja) | 2001-05-31 | 2001-05-31 | 相互変調歪発生箇所検出方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2001165195A JP2002359581A (ja) | 2001-05-31 | 2001-05-31 | 相互変調歪発生箇所検出方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2002359581A true JP2002359581A (ja) | 2002-12-13 |
Family
ID=19007899
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2001165195A Pending JP2002359581A (ja) | 2001-05-31 | 2001-05-31 | 相互変調歪発生箇所検出方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2002359581A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012032393A (ja) * | 2010-07-07 | 2012-02-16 | Anritsu Corp | 歪測定装置 |
| JP2016517220A (ja) * | 2013-03-15 | 2016-06-09 | バード テクノロジーズ グループ インコーポレイテッド | パルス刺激を用いたパッシブ相互変調テスト |
-
2001
- 2001-05-31 JP JP2001165195A patent/JP2002359581A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2012032393A (ja) * | 2010-07-07 | 2012-02-16 | Anritsu Corp | 歪測定装置 |
| JP2012088327A (ja) * | 2010-07-07 | 2012-05-10 | Anritsu Corp | 歪測定装置 |
| JP2016517220A (ja) * | 2013-03-15 | 2016-06-09 | バード テクノロジーズ グループ インコーポレイテッド | パルス刺激を用いたパッシブ相互変調テスト |
| US10615888B2 (en) | 2013-03-15 | 2020-04-07 | Bird Technologies Group Inc. | Passive intermodulation testing using pulse stimulus |
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