KR20150087134A - 코팅 표면이 제공된 재료의 점검 장치 및 점검 방법 - Google Patents

코팅 표면이 제공된 재료의 점검 장치 및 점검 방법 Download PDF

Info

Publication number
KR20150087134A
KR20150087134A KR1020150009566A KR20150009566A KR20150087134A KR 20150087134 A KR20150087134 A KR 20150087134A KR 1020150009566 A KR1020150009566 A KR 1020150009566A KR 20150009566 A KR20150009566 A KR 20150009566A KR 20150087134 A KR20150087134 A KR 20150087134A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
camera
chromaticity
point
light
reflected
Prior art date
Application number
KR1020150009566A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101678602B1 (ko
Inventor
롤프 쿠비악
Original Assignee
이스라 서피스 비젼 게엠베하
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 이스라 서피스 비젼 게엠베하 filed Critical 이스라 서피스 비젼 게엠베하
Publication of KR20150087134A publication Critical patent/KR20150087134A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101678602B1 publication Critical patent/KR101678602B1/ko

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/251Colorimeters; Construction thereof
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J3/00Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
    • G01J3/46Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters
    • G01J3/50Measurement of colour; Colour measuring devices, e.g. colorimeters using electric radiation detectors
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/89Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
    • G01N21/892Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
    • G01N21/896Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N33/00Investigating or analysing materials by specific methods not covered by groups G01N1/00 - G01N31/00
    • G01N33/38Concrete; Lime; Mortar; Gypsum; Bricks; Ceramics; Glass
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/8422Investigating thin films, e.g. matrix isolation method
    • G01N2021/8427Coatings
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N2201/00Features of devices classified in G01N21/00
    • G01N2201/06Illumination; Optics
    • G01N2201/061Sources

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Textile Engineering (AREA)
  • Mathematical Physics (AREA)
  • Ceramic Engineering (AREA)
  • Food Science & Technology (AREA)
  • Medicinal Chemistry (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Spectrometry And Color Measurement (AREA)
  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Abstract

본 발명은 표면에 코팅이 제공된 재료(2), 바람직하게는 유리를 점검하는 장치에 관한 것으로,
미리 정해진 파장 범위의 빛을 표면 방향으로 방출하는 표면 위에 제공된 광원(18), 및 검출된 빛의 색도를 측정하기 위한 적어도 하나의 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')를 포함하며,
상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')는 표면에 놓인 점검 라인의 상부에서 상기 광원에 대해 경사지게 배열되고, 첫 번째 개방 각(21)을 가지며,
상기 점검 라인의 첫 번째 지점으로부터 반사된 광원(18)의 빛은 첫 번째 관찰 각도에서, 그리고 상기 첫 번째 지점과 간격을 두고 있는 점검 라인의 두 번째 지점으로부터 반사된 빛은 두 번째 관찰 각도에서 분리되어 검출되고, 상기 적어도 하나의 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')는 상기 첫 번째 지점으로부터 반사된 빛의 첫 번째 색도 및 두 번째 지점으로부터 반사된 빛의 두 번째 색도를 측정하며,
상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')와 연결된 평가 장치가 제공되고, 상기 평가 장치는 상기 첫 번째 색도와 두 번째 색도 또는 상기 색도들의 차이를 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진 색 목표 값 범위와 비교하는 것을 특징으로 한다.

Description

코팅 표면이 제공된 재료의 점검 장치 및 점검 방법{APPARATUS FOR INSPECTING MATERIAL PROVIDED WITH COATED SURFACE AND CORRESPONDING METHOD}
본 발명은 코팅 표면이 제공된 재료, 바람직하게는 유리를 점검하기 위한 장치 및 이에 대응하는 방법에 관한 것이다.
재료, 특히 유리 표면의 코팅은, 예를 들어 비 반사 코팅(anti-reflex coating) 또는 열 보호 코팅으로서 이러한 재료의 특성을 개선하거나 변경하기 위한 것이다. 이와 같은 층(layer)은 예를 들어 얇은 금속 층 또는 유전체 층이다. 코팅된 표면, 특히 다층으로 코팅된 표면은 간섭(간섭 층)을 형성하며, 상기 간섭 층은 상이한 관찰 각도에 따라 표면이 상이한 색을 띠게 되는 결과를 야기한다. 특히, 이러한 색은 상기 간섭 층의 두께를 통해 제공된다.
대형 유리 표면, 예를 들어 유리 파사드(glass facade)의 경우 이와 같은 색 효과는 디자인 기능을 구비할 수 있다. 일반적으로, 전체 유리 파사드가 단 하나의 색으로 균일하게 나타나는(종종 녹색 또는 파란색) 것을 원하며(경우에 따라, 이러한 층의 다른 기능과 함께), 하나의 색에서 나타나는 색의 편차는 아름답지 않은 것으로 느낀다. 이것은 재료 표면으로부터 반사된 빛이 특정 색, 즉 파장의 특정 스펙트럼을 갖는다는 것을 의미한다. 또한, 그러한 큰 표면의 경우, 관찰 각도의 변화, 예를 들어 이러한 유리 파사드를 지나갈 때 유리 파사드 색이 변하지 않는 것을 원한다.
코팅된 표면을 갖는 그와 같은 재료를 제조할 경우, 표면의 색이 더 이상 균일하게 보이지 않게 하는 오류가 발생할 수 있다. 두 가지 오류 유형이 구분되며, 즉 오류 유형 1의 경우 불변하는 관찰 각도에서 관찰할 때 색이 변하는 것이다. 오류 유형 2는 표면이 불변하는 관찰 각도에서 동일한 색을 갖지만, 표면 색이 관찰 각도의 변화에 따라 변하는 결과를 갖는다. 이러한 효과는 다층 코팅의 경우 원칙적으로 항상 나타나지만, 정해진 층 두께를 유지함으로써 이러한 오류 유형을 가능하면 적게 유지하는 것이 바람직하다. 전술한 두 종류의 오류 유형이 구분되며, 그 이유는 두 가지 오류 유형이 서로 다른 원인을 갖고, 서로 다른 조치를 필요로 하기 때문이다. 따라서, 오류 유형이 나타나는 색의 편차를 인지하는 것이 중요하다.
지금까지 표면 테스트는 다수의 분광기를 통해 실시되었으며, 상기 분광기는 표면에서 반사된 빛의 색을 적어도 두 관찰 각도에 따라 측정하였다. 모든 분광기에서 색은 단지 표면의 작은 영역만 측정될 수 있기 때문에 상기 표면은 이러한 분광기로 정확하게 스캔 되어야만 한다. 그러나, 이것은 매우 많은 비용이 들며 오래 걸리기 때문에 코팅된 표면의 색 점검을 위한 보다 용이하고 저렴한 비용이 드는 해결책이 추구되고 있다.
전술한 색 오류와 함께 그러한 표면을 생산할 때 다수의 다른 오류가 발생할 수 있으며, 이러한 오류는 색과 관련하여 예컨대 시각적 오류, 기포, 이물질 섞임, 긁힘과 같은 효과는 갖지 않는다. 예를 들어 유리 파사드를 위한 건축물 유리와 같은 고품질 표면은 오늘날 거의 이러한 다른 오류가 점검되고 있다. 이러한 점검 장치는 찾고자 하는 오류가 미세하기 때문에 높은 해상도로 처리된다. 반사된 빛으로부터 나온 색 정보는 그러한 오류 조사를 위해 불필요하기 때문에 그와 같은 오류 감지를 위해 사용된 시각적 촬영 장치는 색 정보를 파악하지 못한다.
본 발명의 목적은 따라서 코팅 표면이 제공된 재료의 색 점검을 용이하고 저렴한 비용으로 실시할 수 있는 장치를 제공하는 것이다. 또한, 본 발명의 목적은 코팅된 표면의 색 점검을 위한 용이하고 비용이 저렴한 방법을 제공하는 것이다.
본 발명의 상기 목적은 청구항 1항의 특징부를 갖는 장치 및 청구항 11항에 기재된 방법을 통해 해결된다.
특히, 본 발명에 따른 장치는, 코팅된 재료의 표면 위에 제공되어 미리 정해진 파장 범위의 빛을 표면 방향으로 방출하는 광원 및 검출된 빛의 색도(color value)를 측정하기 위한 적어도 하나의 제1 카메라를 구비하며,
상기 제1 카메라는 표면에 놓인는 라인의 상부에서 상기 광원에 대해 경사지게 배열되고, 첫 번째 (큰) 개방 각을 가지며,
라인의 첫 번째 지점으로부터 반사된 광원의 빛은 첫 번째 관찰 각도에서, 그리고 상기 첫 번째 지점과 간격을 두고 있는 라인의 두 번째 지점으로부터 반사된 빛은 두 번째 관찰 각도에서 분리되어 검출되도록 첫 번째 (큰) 개방 각을 가지며, 적어도 하나의 상기 제1 카메라는 상기 첫 번째 지점으로부터 반사된 빛의 첫 번째 색도 및 두 번째 지점으로부터 반사된 빛의 두 번째 색도를 측정하며,
상기 제1 카메라와 연결된 평가 장치가 제공되며, 상기 평가 장치는 상기 첫 번째 색도와 두 번째 색도 또는 상기 색도의 차이를 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진 색 목표 값 범위와 비교한다. 본 발명의 범위에서 상기 첫 번째 및 두 번째 관찰 각도는 동일할 수도 있고, 서로 다를 수도 있다.
광원으로 표면의 제1 지점 및 제2 지점, 즉 다수의 지점이 동시에 측정되는데, 특정 시점에 카메라에 의해 스캔 된 라인으로부터 반사된 광원의 빛은 이하에서는 점검 라인 또는 스캔 라인으로 표현된다.
본 발명에 따른 장치는 단 하나의 카메라를 사용하여 서로 다른 관찰 각도에서 카메라를 통해 관찰된 점검 라인의 상이한 두 지점의 첫 번째 색도와 두 번째 색도의 상호 비교를 통해 색 편차의 존재 여부 확인을 가능하게 한다. 색 편차가 확인될 경우, 오류 유형 2의 개연성이 높다.
바람직한 실시 형태에서, 점검 라인의 첫 번째 지점의 첫 번째 색도 및 점검 라인의 두 번째 지점의 두 번째 색도의 차이가 미리 정해진 색도 또는 미리 정해진 색도 범위와 비교하도록 평가 장치가 제공되며, 상기 첫 번째 지점 및 두 번째 지점은 동일한 관찰 각도에서 동일하거나 또는 거의 동일하게 관찰된다(즉, 서로 간격을 두고 있는 지점이 해당 되며, 첫 번째 관찰 각도 및 두 번째 관찰 각도는 동일하거나 또는 거의 동일하고, 관찰 각도는 점검 라인을 따라 서로 다른 방향으로 측정된다). 이러한 방법은 한 쌍의 지점 또는 다수의 쌍으로 된 지점에서 실시될 수 있으며, 각각의 지점은 동일하거나 또는 거의 동일한 관찰 각도에서 관찰된다. 이러한 실시 형태에서, 오류 유형 1의 개연성이 높고 오류 유형 2는 배제될 수 있다.
오류 유형 1의 존재를 확실하게 탐지하기 위해, 본 발명에 따른 장치의 바람직한 실시 형태에서는 적어도 하나의 제2 카메라가 추가로 제공되며, 이 제2 카메라는 마찬가지로 측정된 빛의 색도를 측정하기 위한 것이며, 상기 제2 카메라는 표면에 놓인 점검 라인의 상부에 배열 및 광원에 대해 경사지게 배열되어 있고, 제2 카메라는 점검 라인의 각 지점으로부터 반사된 광원의 빛이 바람직하게는 동시에 상기 제1 카메라 및 제2 카메라를 통해 측정될 수 있도록 제2 (큰) 개방 각을 가지며, 상기 제1 카메라 및 제2 카메라는 상기 점검 라인의 각 지점으로부터 반사된 빛을 측정하며, 상기 제1 카메라 및 제2 카메라와 연결된 평가 장치는 점검 라인의 각 지점에서 측정된 제1 카메라 및 제2 카메라의 색도를 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진 색 목표 값 범위와 비교한다.
따라서, 본 발명에 따른 장치는 제1 카메라 및 적어도 하나의 제2 카메라를 구비하며, 상기 장치는 점검 라인의 각 지점으로부터 제1 카메라의 색도와 표면으로부터 반사된 광원 빛의 제2 카메라의 색도를 측정한다. 또한, 상기 두 카메라는 점검 라인의 각 지점으로부터 반사된 빛이 상기 제1 카메라 및 제2 카메라에 의해 검출될 수 있도록 큰 개방 각을 갖는다. 바람직하게는, 상기 제1 카메라 및 제2 카메라는 점검 라인의 각 지점으로부터 반사된 광원의 빛이 각각의 카메라를 통해 다른 관찰 각도에서 촬영되도록 서로 나란히 배열되어 있다. 상기 카메라의 배열에 따라 상기 제1 카메라의 관찰 각도가 상기 제2 카메라의 관찰 각도와 차이가 나지 않거나, 또는 단지 매우 미세하게 차이 나는 경우가 발생할 수 있다. 이 경우, 바람직하게는 상기 점검 라인의 그러한 영역을 위해 제3 카메라가 제공되는 것이며, 상기 제3 카메라는 상기 점검 라인 영역의 지점을 세 번째 관찰 각도로 측정한다. 이러한 진행 과정은 다음에서 상세하게 설명된다.
본 발명에 따른 범위에서, 표면에 수직인 이러한 지점에 배열된 점검 라인의 대응하는 지점으로 각각의 카메라의 관측 방향(viewing direction)의 입체각(solid angle)이 관찰 각도로 간주 되며, 선택적으로, 표면에 수직인 이러한 지점 및 점검 라인을 통해 펼쳐진 평면으로 투사되는, 점검 라인의 대응하는 지점으로 각각의 카메라의 관측 방향의 각도가 또한 사용될 수 있다.
또한, 본 발명의 범위에서, "광원에 대해 경사진(기울어진)"이라는 표현은, 상기 광원에서 점검 라인 영역의 코팅 표면으로 방출된 빛의 반사를 볼 수 있도록 상기 카메라가 배열되는 것으로 이해될 수 있다.
제1 카메라 및 적어도 하나의 제2 카메라에 의해 측정된 색도가 상기 점검 라인의 각 지점으로부터 평가 장치로 전달되며, 경우에 따라 존재하는 색 편차를 감지하기 위해 상기 점검 라인의 각 지점으로부터 반사된 빛, 상기 제1 카메라 및 제2 카메라에 의해 측정된 빛의 각각의 색도가 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진 색 목표 값 범위와 비교된다. 특히, 이러한 방법으로 오류 유형 2에 따른 색 편차의 존재 여부가 확인될 수 있다. 추가로, 상기 제1 카메라 및 제2 카메라(동일한 카메라든지, 또는 서로 다른 카메라와 관련해서)의 동일한 관찰 각도를 갖는 상기 지점의 색도가 분석될 경우, 오류 유형 1의 존재가 점검될 수 있다. 상기 평가 장치는 경우에 따라 관찰 각도에 따라 상기 점검 라인의 서로 다른 지점의 반사된 빛의 색도를 평가한다.
상기 점검 라인의 모든 지점에 대한 색도, 즉 상기 색도의 관찰 각도가 가능하면 큰 편차를 갖는 색도를 첫 번째 관찰 각도 및 두 번째 관찰 각도로 획득하기 위해, 특히 적어도 세 개의 카메라가 상기 점검 라인 상부에 나란히 배열되는 것이 바람직하다. 또한, 상기 카메라의 개방 각은 상기 점검 라인의 각 지점으로부터 반사된 빛이 상기 세 개의 카메라 가운데 적어도 두 개의 카메라를 통해, 두 개의 카메라에 의해 각각 서로 다른 관찰 각도로 측정되도록 중첩되어 배열된다.
또한, 바람직하게는 상기 제1 카메라 및 적어도 하나의 제2 카메라는 공동의 지지체에 배열된다. 따라서, 본 발명에 따른 장치는 특히 작은 구조로 형성될 수 있으며, 이는 생산 라인의 공간이 매우 제한적이고 모든 추가 점검 바디의 비용이 비싸기 때문에 이점을 가진다.
또한, 바람직하게는 상기 제1 카메라 및/또는 적어도 하나의 제2 카메라는 각각 라인 카메라(line camera) 또는 평면 카메라(flat camera)로서 형성되어 있으며, 상기 라인 카메라는 한 열로 배열된 다수의 빛 측정 요소를 구비하고, 상기 평면 카메라는 평면에 배열된 다수의 빛 측정 요소(예를 들어, 포토 다이오드)를 구비한다. 라인 카메라의 카메라 라인 또는 상기 평면 카메라의 라인은 반사된 빛을 점검 라인의 적어도 한 영역에서 동시에 측정할 수 있다. 평면 카메라를 통해 다수의 점검 라인의 반사된 빛의 색도가 동시에 촬영될 수 있다. 라인 카메라 및 평면 카메라는 컬러 카메라이며, 이러한 컬러 카메라는 측정된 각 지점의 색도를 결정한다. 또한, 점검 라인의 정해진 지점에 대한 카메라의 각각의 빛 측정 요소(예를 들어, 각각의 포토 다이오드)는 색도를 가지며, 점검 라인을 따라 "지점"의 확장은 카메라의 장치에 맞춰진 해상도를 통해 결정된다. 유일하게 빛 측정 요소를 통해 기록된 빛을 반사하는 점검 라인의 각 지점에 정해진 관찰 각도가 배정되며, 상기 관찰 각도는 이러한 지점에 대한 카메라의 관측 방향으로부터 생겨난다. 따라서, 라인 카메라의 모든 빛 측정 요소를 통해 동시에 촬영된 점검 라인의 각 지점에 각각 다른 관찰 각도가 배정된다. 이것은 평면 카메라에도 동일하게 적용된다.
특히 오류 유형 2와 관련하여 재료 또는 표면 코팅의 품질에 대한 확실한 증거를 획득하기 위해 바람직하게는 첫 번째 관찰 각도와 두 번째 관찰 각도의 차이가 가능하면 큰 경우, 특히 한 지점을 관찰하기 위해 적어도 두 개의 카메라를 사용하여 관찰 각도의 차이가 적어도 10°, 바람직하게는 적어도 15°, 특히 바람직하게는 적어도 20°이다.
코팅된 대형 표면의 효율적이고 정확한 색 점검은 상기 재료가 제1 및 제2 카메라 및 광원에 대해 상기 점검 라인을 가로질러 전진 방향으로 이동될 수 있는 경우이며, 바람직하게는 상기 광원 및/또는 제1 카메라 및 제2 카메라는 광원의 반사된 빛을 측정하기 위해 전진 방향 반대쪽으로 경사져 있다. 바람직하게는 코팅된 표면에 수직 방향에 대한 카메라의 경사 각은 적어도 20°이다.
본 발명에 따르면, 상기 광원은 바람직하게는 일반적인 라인 형태의 광원으로서 형성되어 있으며, 상기 라인 형태의 광원은 바람직하게는 상기 점검 라인에 대해 평행하게 뻗어 있고, 바람직하게는 백색광을 전달한다. 특히 바람직하게는 상기 광원은 한 열 또는 복수의 열로 구성되며 전진 방향으로 연속하여 배열된 열에 사용된다.
상기 점검 라인은 바람직하게는 전진 방향에 대해 수직으로 상기 재료의 전체 너비를 덮을 경우, 전체 표면이 용이하고 빠르게 스캔 될 수 있다.
전술한 것처럼, 바람직하게는 본 발명에 따른 장치에 적어도 하나의 제3 카메라가 제공되며, 상기 제3 카메라는 측정된 빛의 세 번째 색도 측정을 위한 것이며, 상기 제3 카메라는 상기 점검 라인의 상부에서 광원에 대해 경사진 상태로 배열되며, 상기 제3 카메라는 적어도 상기 점검 라인의 정해진 영역에 있는 지점에 대해 추가로 상기 광원의 반사된 빛을 측정할 수 있고 해당 색도가 검사될 수 있도록 세 번째 개방 각을 가지며, 상기 평가 장치는 상기 점검 라인의 정해진 영역의 각 지점에 대해 상기 제3 카메라의 관찰 각도를 제1 카메라의 관찰 각도 및/또는 제2 카메라의 관찰 각도와 비교하고, 정해진 영역의 대응하는 지점에 대해 제1 카메라, 제2 카메라 및 제3 카메라의 해당 관찰 각도의 편차가 가장 큰 두 색도가 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진 색 목표 값 범위와 비교된다.
이러한 실시 형태의 경우, 상기 점검 라인의 각 지점에서 관찰 각도 비교시 각 지점에서 색도를 결정한 모든 카메라의 각각 최소 및 최대 관찰 각도가 검사된다. 상기 두 카메라의 색도는 색 목표 값 또는 색 목표 값 범위와 비교를 위해 상기 평가 장치에 의해 사용되며, 상기 장치의 해당 카메라는 최소 관찰 각도 및 다른 카메라는 최대 관찰 각도를 갖는다.
또 다른 바람직한 실시 형태에서, 상기 점검 라인의 각 지점에서 상기 평가 장치를 통해 이러한 지점의 반사 빛을 관찰하는 미리 정해진 두 카메라(즉, 제1, 제2 또는 제3 카메라, 예를 들어 가장 큰 관찰 각도 차이를 갖는 카메라)의 두 색도의 색 편차가 확인되고, 이러한 색도 편차는 필요할 경우 해당 관찰 각도의 편차에 따라 미리 정해진 색도 편차-목표 값 또는 미리 정해진 색도 편차-목표 값 범위와 비교된다. 이러한 측정 방법은 특히 오류 유형 2의 확인을 위해 바람직하고, 상기 점검 라인의 각 지점을 위해 두 개의 카메라의 색도에 대한 개별 평가보다 더 빠르다. 본 발명에 따른 장치를 위한 이러한 실시 형태는 검사될 코팅된 표면이 특정 각도에서 가장 큰 색 편차를 형성하는 것이 확인될 경우 사용될 수 있으므로 단지 작은 특정 각도 범위가 보다 정확하게 관찰되어야 한다.
본 발명은 코팅된 표면이 제공된 재료, 바람직하게는 유리를 점검하기 위한 방법에 관한 것이며, 미리 정해진 파장 범위에서 빛을 표면 방향으로 방출하는 표면 위에 배열된 광원 및 적어도 하나의 제1 카메라가 제공되어 있으며, 상기 제1 카메라는 측정된 빛의 색도 측정을 위한 것이며, 상기 제1 카메라는 상기 표면에 놓여 있는 점검 라인의 상부에서 상기 광원에 대해 경사지게 배열되어 있고 상기 첫 번째 (큰) 개방 각을 가지며, 특히 아래의 단계들, 즉:
- 상기 점검 라인의 첫 번째 지점으로부터 반사된 광원의 빛은 첫 번째 관찰 각도로, 그리고 상기 첫 번째 지점과 간격을 두고 있는 상기 점검 라인의 두 번째 지점으로부터 반사된 빛은 두 번째 관찰 각도로 상기 제1 카메라를 통해 분리되어 측정되며, 상기 제1 카메라는 상기 첫 번째 지점으로부터 반사된 빛의 첫 번째 색도 및 상기 두 번째 지점으로부터 반사된 빛의 두 번째 색도를 측정하는 단계,
- 상기 첫 번째 색도 및 두 번째 색도 또는 상기 색도의 편차는 각각 상기 제1 카메라와 연결된 평가 장치를 통해 미리 정해진 색도 목표 값 또는 미리 정해진 색도 목표 값 범위와 비교되는 단계를 포함한다.
본 발명에 따른 방법은 용이하게 실시될 수 있고, 또한 전술한 본 발명에 따른 장치의 장점을 갖는다. 전술한 것처럼, 이러한 방법은 특히 점검 라인의 지점을 색 점검의 기초로 삼을 경우, 색 편차의 높은 개연성을 갖는 오류 유형 1의 색 오류를 확인하는 데 적합하며, 상기 색 점검은 카메라를 통해 동일한 관찰 각도에서 관찰된다. 이러한 구성 관계에서 오류 유형 2가 배제될 수 없다. 상기 점검 라인의 서로 다른 지점이 색 점검을 위해 서로 다른 관찰 각도로 사용되고, 색 편차가 확인될 경우, 높은 개연성을 갖는 오류 유형 2의 존재가 확인될 수 있다.
본 발명에 따른 장치의 상기 실시 형태와 유사하게 바람직하게는 적어도 하나의 제2 카메라가 제공되며, 상기 제2 카메라는 마찬가지로 측정된 빛의 색도를 측정하기 위한 것이며, 상기 제2 카메라는 표면에 놓인 점검 라인의 상부에서 상기 광원에 대해 경사지게 배열되어 있으며, 상기 제2 카메라는 두 번째 (큰) 개방 각을 가지며, 상기 제1 카메라 및 제2 카메라를 통해 점검 라인의 각 지점으로부터 반사된 광원의 빛이 동시에 검출되고, 상기 점검 라인의 각 지점으로부터 반사된 색도가 각각 측정되며, 상기 평가 장치를 통해 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진 색 목표 값 범위와 비교된다.
또한, 상기 방법과 관련하여 상기 점검 라인의 서로 다른 지점으로부터 반사된 빛의 색도는 상기 오류 유형 1을 확인하기 위해 추가로 상기 점검 라인에 해당하는 해당 관찰 각도에 따라 평가된다. 이에 따라, 관찰 각도가 분석되고, 정해진 관찰 각도에서 원하는 색도가 달성되는 지의 여부가 점검된다.
본 발명에 따른 방법의 바람직한 실시 형태에서, 적어도 하나의 제3 카메라가 제공되며, 상기 제3 카메라는 상기 점검 라인의 상부에서 광원에 대해 경사지게 배열되어 있으며, 상기 제3 카메라는 세 번째 (큰) 개방 각을 가지며, 상기 점검 라인의 정해진 영역에서 적어도 상기 점검 라인의 지점에 대해 추가로 광원의 반사된 빛이 상기 제3 카메라를 통해 검출되고, 해당 색도가 측정되며, 상기 점검 라인의 정해진 범위의 각 영역에 대해 상기 제3 카메라의 관찰 각도는 상기 평가 장치를 통해 제1 카메라의 관찰 각도 및/또는 상기 제2 카메라의 관찰 각도와 비교되며, 정해진 영역의 대응하는 지점을 위해 제1 카메라, 제2 카메라 및 제3 카메라의 해당 관찰 각도의 편차가 가장 큰 두 색도는 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진 색 목표 값 범위와 비교된다. 전술한 것처럼, 이러한 실시 형태를 통해 관찰 각도의 큰 편차를 획득할 수 있으며, 그 이유는 예를 들어 상기 점검 라인의 각 지점을 위해 최소 관찰 각도를 갖는 카메라의 색도 및 최대 관찰 각도를 갖는 카메라의 색도가 각각 주어진 색도 목표 값 또는 색도 목표 값 범위와 비교를 위해 사용될 수 있다.
또한, 전술한 것처럼 상기 점검 라인의 각 지점에서 평가 장치를 통해 이러한 지점의 반사된 빛을 관찰하는 정해진 두 카메라의 두 색도의 색도 편차가 측정되고 색도 편차는 미리 정해진 색도 편차 목표 값 또는 미리 정해진 색도 편차 목표 값 범위와 비교되며, 경우에 따라 각각의 관찰 각도에 따라 추가로 비교된다.
첫 번째 색도 및/또는 두 번째 색도 및/또는 경우에 따라 세 번째 색도와 색도 목표 값 또는 색도 목표 값 범위의 비교는 바람직하게는 Lab-색 공간을 토대로 하여 평가 유닛에서 실시되며, 상기 Lab-색 공간은 표준 EN ISO 11664-4를 통해 제공된다. 이러한 색 공간(색 모델)은 지각될 수 있는 색의 범위를 커버하고, 색 대비 이론을 토대로 구성된다. 상기 Lab-색 공간은 입체적 좌표계를 통해 기재되며, a-축은 색의 녹색 성분 또는 적색 성분, b-축은 색의 파란 성분 또는 노란 성분 및 L-축은 1 내지 100의 값을 갖는 색의 밝기(휘도)를 나타낸다. 이러한 색 공간은 이전에는 CIELAB-색 공간으로 표기되었다. 색도 또는 색 편차 값을 색 목표 값 또는 색 목표 값 범위 또는 색도 편차 목표 값 또는 색도 편차 목표 값 범위와 비교하기 위해 경우에 따라 제1 카메라 및/또는 제2 카메라 및/또는 제3 카메라의 평가 장치를 통해 전달된 색도가 상기 Lab-색 공간으로 전환되어야만 한다.
이하에서는 본 발명이 실시예 및/또는 도면을 참조하여 더 상세하게 설명된다. 모든 기재된 및/또는 도시된 특징은 그 자체로 또는 임의적 조합에 의해 본 발명의 대상을 형성한다.
도 1은 본 발명에 따른 장치의 첫 번째 실시예를 정면도로 도시하고 있고,
도 2는 도 1에 따른 실시예의 한 면을 측면도로 도시하고 있고,
도 3은 본 발명에 따른 장치의 두 번째 실시예를 정면도로 도시하고 있고,
도 4는 첫 번째 실시예의 모든 카메라의 관찰 각도 커브를 점검 라인 지점의 위치에 따른 그래프로 도시하고 있고,
도 5는 첫 번째 실시예의 카메라에 대하여, 모든 카메라에 대한 도 4에 도시된 관찰 각도 커브으로부터 작은 관찰 각도 커브와 큰 관찰 각도 커브 및 상기 관찰 각도로부터의 편차를, 점검 라인 지점의 위치에 따른 그래프로 도시하고 있고,
도 6은 두 번째 실시예의 모든 카메라의 관찰 각도 커브를 점검 라인 지점의 위치에 따른 그래프로 도시하고 있고,
도 7은 두 번째 실시예의 카메라에 대하여, 모든 카메라에 대한 도 6에 도시된 관찰 각도 커브으로부터 작은 관찰 각도 커브와 큰 관찰 각도 커브 및 상기 관찰 각도로부터의 편차를, 점검 라인 지점의 위치에 따른 그래프로 도시하고 있고,
도 8은 균일하게 코팅된 재료를 점검하는 동안 본 발명에 따른 장치의 세 번째 실시예를 정면도로 도시하고 있고,
도 9는 불균일하나 카메라의 시각적 축에 대해 대칭으로 코팅된 재료를 점검하는 동안 도 8에 따른 실시예를 정면도로 도시하고 있고,
도 10은 쐐기 형태로 코팅된 재료를 점검하는 동안 도 8에 따른 실시예를 정면도로 도시하고 있다.
도 1에 도시된 본 발명에 따른 장치의 일 실시예는, 도 2에 도시된 표면 코팅(예를 들어, 비 반사-코팅 또는 열 보호 코팅)이 제공된 유리(2) 형태의 재료 표면의 점검 라인(1)을 도시하고 있으며, 이 점검 라인은 제1 카메라(11), 제2 카메라(12) 및 제3 카메라(13)를 통해 관찰된다. 상기 재료(2)는, 장착된 카메라(11, 12, 13) 및 상기 재료(2)의 표면 위에 배열되어 예를 들어 점검 라인에 대해 평행하게 배열된 일련의 LED를 통해 형성되고 백색광을 전달하는 광원(18)에 대해 화살표(3)로 표시된 운동 방향(도 2 참조)으로 이동된다. 너비(b)를 갖는 점검 라인(1)은 운동 방향에 대해 횡 방향으로 진행되고, 유리(2)의 전체 너비를 지나도록 뻗어 있으므로 반사된 색과 관련하여 유리(2)의 전체 표면이 점검될 수 있다. 상기 카메라(11, 12, 13)는 각각 컬러 카메라 및 라인 카메라로서 형성되어 있다.
도 1에서 알 수 있듯이, 상기 제1 카메라(11)는 첫 번째 개방 각(21), 상기 제2 카메라(12)는 두 번째 개방 각(22) 및 상기 제3 카메라(13)는 세 번째 개방 각(23)을 갖는다. 상기 제1 카메라(11), 제2 카메라(12) 및 제3 카메라(13)는 로드 형태의 지지체(5)(도 2 참조)에 나란히 배열되어 있다. 상기 제1 카메라(11) 및 제2 카메라(12)는 수직 방향과 점검 라인(1)을 통해 한정되는 평면에서 재료(2)의 표면에 수직 방향에 대해 미리 정해진 각도(카메라(11)와 관련하여 각도 α1은 도 1에 표시됨)로 틸팅되어 있다. 이로 인해, 이러한 두 카메라(11, 12)는 각각 상기 광원(18)으로부터 전달되어 상기 점검 라인(1)의 각 지점에서 반사된 빛의 반사를 다른 관찰 각도로 측정할 수 있다. 도 2는 상기 카메라(11, 12, 13)가 운동 방향(3)으로 틸팅되어 있는 것을 도시하고 있으므로, 상기 광원(18)으로부터 전달된 빛의 반사는 상기 점검 라인(1)에서 카메라(11, 12, 13)를 통해 관찰될 수도 있다. 여기서, 언급되어야 할 것은 상기 점검 라인(1)은 도 2에 개략적으로 도시되어 있는 것과 달리 상기 유리(2)의 표면에 놓여 있다는 것이며, 유리(2)의 표면에서 나타날 수 있는 높이 차이를 보정 하고, 이와 같은 높이 차이에도 색 점검을 가능하게 하도록 하기 위해 상기 점검 라인(1)은 바람직하게는 횡 방향으로 일종의 확장부를 가진다. 이를 위해, 상기 점검 라인 영역에 있는 표면에서 반사된 상기 광원(18)의 빛이 각각의 카메라(11, 12, 13)에 도달할 필요가 있다.
각각의 카메라(11, 12, 13)는 점검 라인(1)의 상부에 배열되어 있는 광원(18)에 의해 생성되었고, 상기 유리(2)의 표면에서 반사된 빛을 검출한다. 상기 제1 카메라(11)의 첫 번째 개방 각(21) 및 상기 제2 카메라(12)의 두 번째 개방 각(22)은 이러한 카메라(11, 12)가 상기 점검 라인(1)의 각 지점을 볼 수 있는 크기로 선택되기 때문에 상기 점검 라인(1)의 각 지점의 색도는 상기 카메라(11, 12)를 통해 서로 다른 두 개의 관찰 각도로 측정될 수 있다.
또한, 상기 점검 라인(1)의 중심 영역에는 제3 카메라(13)가 배열되어 있으며, 상기 제3 카메라는 상기 제3 카메라(13)의 개방 각(23) 안에 있는 점검 라인(1)의 각 지점으로부터 추가로 상기 유리(2)의 표면으로부터 반사된 빛의 색도를 세 번째 관찰 각도로 측정한다.
예를 들어 상기 제1 카메라는 첫 번째 가시선(31)을 따라 상기 점검 라인(1)의 첫 번째 지점(30)을 바라보고, 상기 제2 카메라는 두 번째 가시선(32)을 따라 상기 첫 번째 지점(30)을 바라보고, 상기 제3 카메라(13)는 세 번째 가시선(33)을 따라 이러한 지점을 바라본다. 따라서, 상기 유리(2)의 표면으로부터 반사된 빛은 상기 제1 카메라(11)에 의해 첫 번째 관찰 각도로 측정되고, 이 지점(30)에서 가시선(31)은 수직선(S)과 상기 첫 번째 관찰 각도를 형성하며, 상기 제2 카메라에 의해 두 번째 관찰 각도로 측정되고, 이 지점(30)에서 가시선(32)은 수직선(S)과 상기 두 번째 관찰 각도를 형성하며, 상기 제3 카메라(13)에 의해 세 번째 관찰 각도로 측정되고, 이 지점(30)에서 가시선(33)은 수직선(S)과 상기 세 번째 관찰 각도를 형성한다.
전술한 것에 대응하여, 상기 점검 라인(1)의 두 번째 지점(40)으로부터 반사된 빛은 상기 제1 카메라(11)를 통해 관찰 각도로 측정되고, 이 지점(40)에서 첫 번째 가시선(41)은 수직선(S)과 상기 관찰 각도를 형성하며, 상기 제2 카메라(12)에 의해 두 번째 관찰 각도로 측정되고, 이 지점(40)에서 두 번째 가시선(42)은 수직선(S)과 상기 두 번째 관찰 각도를 형성하며, 상기 제3 카메라(13)에 의해 상기 두 번째 관찰 각도로 측정되고, 이 지점(40)에서 세 번째 가시선(43)은 수직선(S)과 상기 두 번째 관찰 각도를 형성한다.
상기 카메라(11, 12, 13)에 의해 측정된 상기 점검 라인(1)의 모든 지점을 위한 색도는 도시되어 있지 않은 평가 유닛에 전달된다. 상기 평가 유닛은 각각의 지점에서 측정된 색도, 즉 예를 들어 상기 첫 번째 지점(30)과 두 번째 지점(40)에서 측정된 색도는 주어진 색 목표 값 또는 색 목표 값 범위를 비교하며, 그러한 색 목표 값 범위는 예를 들어 파란색 범위 또는 녹색 범위를 포함한다. 상기 점검 라인의 모든 지점을 위해 상기 카메라에 의해 측정된 색도가 미리 주어진 색 목표 값 범위에 놓일 경우, 코팅된 유리(2)는 오류가 없는 것이다. 상기 점검 라인의 적어도 한 지점을 위해 두 색도가 서로 다른 두 관측 방향으로 측정되며, 주어진 색도 목표 값 또는 주어진 색도 목표 값 범위와 이러한 지점을 위한 두 색도 비교시 두 색도가 확인될 경우, 오류 유형 2가 존재하는 것이다.
또한, 측정된 색도가 각각의 관찰 각도 또는 관찰 각도 영역에 주어진 색도 목표 값 또는 색도 목표 값 범위에 놓이는지의 여부는 적어도 항구적인 관찰 각도가 분석된다. 이로 인해, 오류 유형 1의 존재 여부가 확인될 수 있다.
바람직하게는, 색 목표 값 또는 색 목표 값 범위와 측정된 색도의 비교는 Lab-색 공간에서 실시된다. 이를 위해, 상기 색도는 각각의 카메라(11, 12, 13)를 통해 Lab-색 공간에 따른 값으로 전환되거나 또는 이러한 전환은 비교 전에 상기 평가 장치를 통해 실시된다.
도 4는 상기 점검 라인(1)(축 62 참조) 지점의 위치에 따라 카메라(축 61)의 관찰 각도를 도시하고 있다. 곡선(71)은 상기 점검 라인(1)의 지점으로부터 상기 제1 카메라(11)를 통해 관찰된 반사된 빛의 관찰 각도가 도 1에 도시된 점검 라인(1)의 좌측 면 지점을 위한 약 20°의 각도로부터 도 1에 도시된 점검 라인(1)의 우측 면 지점을 위한 약 58°각도로 변형된 것을 나타낸다. 전술한 것에 대응하여, 카메라(12)를 위한 관찰 각도는 상기 점검 라인(1)을 따라 좌측으로부터 우측으로 약 58°에서 20°(곡선(72) 참조)로 감소 된다. 상기 제3 카메라에 의해 측정된 중앙 관찰 각도 범위는 약 18°내지 35°(곡선(73) 참조)로 확장된다.
도 5의 그래프는 작고 큰 관찰 각도 및 관찰 각도 편차에 따른 평가를 명확하게 설명해 주고 있다. 이를 위해, 각 지점에 있는 각각의 카메라(11, 12, 13)의 관찰 각도는 상기 평가 장치를 통해 서로 비교된다.
곡선(74)은 상기 점검 라인(1)의 각 지점에서 각각 확대된(최대) 관찰 각도를 도시하고 있으며, 상기 관찰 각도는 약 58°내지 42°이며, 상기 관찰 각도는 좌측 부분 영역에서 제2 카메라(도 4의 곡선(72) 참조) 및 우측 부분 영역에서 제1 카메라(도 4의 곡선(71) 참조) 생성된다. 상기 점검 라인(1)의 각 지점에 있는 도 5에 곡선(75)으로 도시된 가장 작은(최소) 관찰 각도는 첫 번째 좌측 영역에서 상기 제3 카메라(도 4의 곡선(73) 참조)를 통해 형성되고, 우측 영역에서 상기 제2 카메라를 통해 형성된다. 가능하면 큰 관찰 각도 영역을 커버 하기 위해, 곡선(74)로 도시된 가장 큰 관찰 각도를 형성하고 있으며, 각각의 관찰 각도에 속하는 카메라의 각각의 색도는 점검 라인(1)의 각 지점을 위해 대응하여 미리 주어진 색 목표 값 또는 색 목표 값 범위와 비교된다. 유사하게, 곡선(75)으로 도시된 가장 작은 관찰 각도를 형성하고 있으며, 각각의 관찰 각도에 속하는 카메라의 색도는 상기 점검 라인의 각 지점을 위해 대응하여 미리 주어진 색 목표 값 또는 색 목표 값 범위와 비교된다.
또 다른 실시예에서, 상기 점검 라인(1)의 각 지점을 위해 곡선(74)으로 도시된 가장 큰 각각의 관찰 각도와 곡선(75)으로 도시된 각각의 가장 작은 관찰 각도 사이의 관찰 각도 편차가 형성된다. 이것은 도 5에서 곡선(76)으로 나타낸다. 또한, 각각의 카메라의 해당 색도로부터 생긴 편차는 예를 들어 상기 제2 카메라의 색도와 제1 카메라의 색도 사이의 점검 라인(1)의 좌측 영역에서 측정되며, 우선 상기 제2 카메라의 색도와 제3 카메라의 색도 사이, 이어서 상기 제1 카메라의 색도와 제3 카메라의 색도 사이의 중앙 영역에서 측정되며, 상기 제1 카메라의 색도와 제2 카메라의 색도 사이의 우측 영역에서 측정된다. 이것은 색도 편차가 미리 주어진 색도 편차-목표 값 범위에 놓여 있는지의 여부를 조사하는 것이다(경우에 따라, 곡선(76)으로 도시된 각각의 관찰 각도 편차를 포함하여).
색도 편차 목표 값 또는 색도 편차 목표 값 범위에 대해 가장 큰 관찰 각도의 각각의 색도와 가장 작은 관찰 각도를 위한 색도 사이의 편차가 상기 점검 라인의 하나의 지점 또는 복수의 지점에서 확인될 경우, 오류 유형 2가 존재한다는 결론을 얻을 수 있다.
오류 유형 1의 존재 여부가 조사되어야 한다면, 상기 제1 카메라, 제2 카메라와 제3 카메라의 동일한 관찰 각도를 위한 색도가 결정되어야만 한다. 결정된 관찰각도를 위해 상기 점검 라인 지점을 위한 색 점검이 실시될 수 있으며, 이러한 지점에서 예를 들어 곡선(74, 75)는 수평선으로 절단된다. 색 점검은 동일한 관찰 각도의 복수의 세트(sets)를 위해 실시될 수 있으며, 이러한 세트는 상기 점검 라인의 전체 너비를 지나 뻗어 있으며, 절단 선의 평행 이동을 통해 명확하게 확인될 수 있다. 동일한 관찰 각도의 세트를 위해 측정된 색도를 미리 주어진 색 목표 값 또는 미리 주어진 색 목표 값 범위와 비교함으로써 오류 유형 1의 존재 여부가 상기 점검 라인의 전체 너비를 통해 확인될 수 있다.
곡선(75)이 나타내고 있는 것은 제한적으로 상기 곡선(74)에도 해당한다. 물론, 상기 곡선(74)에 도시된 관찰 각도의 경우 각도 범위가 넓으며, 단지 두 개의 카메라에 의해 실시된다.
도 3은 제1 카메라(11'), 제2 카메라(12'), 제3 카메라(13'), 제4 카메라(14'), 제5 카메라(15'), 제6 카메라(16')를 구비한 본 발명에 따른 장치의 두 번째 실시예를 도시하고 있으며, 상기 카메라는 나란히 지지체(5)에 배열되어 있고, 도시되어 있지 않은 라인 형태 및 백색 광원으로부터 조사되며 코팅된 유리(2)의 표면으로부터 반사된 빛을 상기 점검 라인(1)을 따라 측정한다. 각각의 카메라는 상기 점검 라인의 수직 방향에 대해 특정 각으로 경사져 있으며, 예를 들어 상기 제1 카메라(11')는 각도 α1', 상기 제2 카메라(12')는 두 번째 각도 α2', 상기 제4 카메라(14')는 각도 α4' 및 제5 카메라(15')는 각도 α5'로 경사져 있다. 상기 제3 카메라(13')와 제6 카메라(16')의 경사 각은 표시되어 있지 않다. 상기 첫 번째 실시예와 유사하게 모든 카메라(11', 12', 13', 14', 15', 16')는 큰 개방 각을 가지므로, 상기 카메라들은 상기 점검 라인(1)의 큰 범위의 반사 빛을 서로 다른 관찰 각도로 측정할 수 있다. 측정된 관찰 각도 범위는 도 6에 도시된 그래프에서 장소에 따라 인지할 수 있으며, 제1 카메라(11')의 관찰 각도 범위는 곡선(81), 제2 카메라(12')의 관찰 각도 범위는 곡선(82), 제3 카메라(13')의 관찰 각도 범위는 곡선(83), 제4 카메라(14')의 관찰 각도 범위는 곡선(84), 제5 카메라(15')의 관찰 각도 범위는 곡선(85), 제6 카메라(16')의 관찰 각도 범위는 곡선(86)로 설명되고 있다. 전술한 도 5에 도시된 그래프에서 설명된 진행과정과 유사하게 이러한 본 발명에 따른 장치의 경우 카메라의 색도는 단지 각각 점별로 색도 목표 값 또는 색도 목표 값 범위와 비교를 위한 것이며, 상기 색도는 상기 점검 라인(1)의 정해진 각도를 위해 큰 관찰 각도(도 7에서 곡선(87) 비교) 및/또는 작은 관찰 각도(도 7에서 곡선(88) 비교)를 갖는다. 전술한 진행과 유사하게 곡선(87)에 도시된 큰 관찰 각도와 곡선(88)에 도시된 작은 관찰 각도( 도 7에서 곡선(89) 참조)를 위한 색도의 편차가 대응하는 색도 편차-목표 값 범위와 비교될 수 있다.
도 3에 도시된 본 발명에 따른 장치의 지지체 위에 다른 측정 장치(50)가 배열되어 있으며, 상기 평가 장치는 유리(2)를 또 다른 오류, 예를 들어 시각적 오류, 기포, 이물질 섞임, 긁힘과 같은 오류를 검사한다. 이를 위해, 바람직하게는 고 해상도의 카메라가 사용될 수 있다.
다음에서는 도 8 내지 10과 관련하여 설명되며, 상기 도면에서 단 한대의 카메라(11'')를 구비한 본 발명에 따른 장치를 통해 유리 재료(2B)의 코팅(2A) 품질이 설명될 수 있다.
카메라(11'')는 코팅(2A, 2A', 2A'')이 제공된 유리 재료(2B)와 상기 코팅(2A, 2A', 2A'')의 표면에 뻗어 있지만 도시되어 있지 않으며 특히 지점(91, 92, 93, 94)를 갖는 점검 라인의 상부에 수직으로 놓여 있다. 상기 카메라(11'')는 코팅이 제공된 유리 재료가 상기 유리 재료의 전체 너비에서 상기 카메라(11'')를 통해 검사될 수 있도록 큰 개방 각을 갖는다. 도시되어 있지 않은 광원(도 2의 설명 참조)은 코팅된 유리 표면의 상부에서 상기 카메라(11'')에 대해 경사진 상태로 배열되어 있다.
가장 간단한 구성은 도 8에 도시되어 있는 것처럼, 상기 카메라(11'')가 코팅된 유리 재료에 수직으로 놓일 경우이다. 구체적으로 상기 카메라(11'')는 예를 들어 상기 점검 라인의 지점(91, 92)에서 반사된 광원의 빛을 가시선(101, 102)을 따라 동일한 관찰 각도로 관찰한다. 상기 지점(93, 94)에서 반사된 광원의 빛은 가시선(103, 104)을 따라 서로 다른 관찰 각도로 측정된다.
도 8에 도시된 코팅(2A)은 균일한 두께를 가지므로 오류 유형 1은 존재하지 않는다. 동일한 두께 및 동일한 관찰 각도의 경우(지점 (91, 92) 및 가시선(101, 102) 참조), 색도는 동일하다. 서로 다른 관찰 각도(지점(92, 93, 94) 및 가시선(102, 103, 104) 참조)의 경우, 색도는 차이가 날 수 있다. 오류 유형 1 또는 2의 존재 여부는 명확하게 확인될 수 없다. 단지 주어진 목표 값 또는 목표 값 범위에 대한 색 편차만 확인될 수 있다. 특히, 오류 유형 2와 관련된 완전히 평평한 검사는 불가능 하며, 코팅된 유리의 각각의 지점을 위해 각각 적어도 두 색도가 서로 다른 관찰 각도를 위해 측정될 수 있으며, 이것은 도 1 및 3에 도시된 실시예에서 실시될 수 있다.
이어지는 도 9는 불균일하나 카메라(11'')의 시각 축에 대해 대칭인 코팅(2A')을 도시하고 있다.
코팅의 이러한 변형의 경우, 오류 유형 1이 존재한다고 하더라도 동일한 관찰 각도(지점(91, 92) 및 가시선(101, 102) 참조)에서 동일한 색도가 측정된다. 서로 다른 관찰 각도(지점(92, 93, 94) 및 가시선(102, 103, 104) 참조)의 경우, 서로 다른 색도가 확인된다. 오류 유형 2는 상기 오류 유형의 원인과 무관하게 두 개의 분리된 지점을 위한 도 8과 유사하게 지각될 수 있다.
도 10에 도시된 쐐기 형태의 코팅(2A'')이 관찰될 수 있다.
동일한 관찰 각도(지점(91, 92) 및 가시선(101, 102) 참조)의 경우, 서로 다른 색도가 측정되며, 서로 다른 관찰 각도(지점(92, 93, 94) 및 가시선(102, 103, 104) 참조)의 경우, 우선 서로 다른 색도가 측정된다. 또한, 이러한 관찰 각도 변형의 경우 오류 유형 2는 도 8과 유사하게 각각 두 개의 분리된 지점을 위해 상기 오류 유형의 원인과 무관하게 상기 점검 라인의 전체 너비를 통해 지각될 수 있다.
전반적으로, 색도 편차는 서로 다른 관찰 각도에서 우선 오류 유형 1 또는 2와 무관하게 확인된다. 이것은 검사될 코팅된 재료의 점검 라인 또는 표면의 큰 색 편차의 경우, 예컨대 파사드를 위해 부적합하다.
오류 유형과 무관한 색 편차는 이미 대응하는 개방 각을 갖는 카메라를 통해 확인될 수 있다. 이것은 다양한 실질적 경우를 위해 충분한 결과를 제공한다. 그러나, 오류 유형 1을 배제하기 위해 적어도 두 대의 카메라가 사용될 수 있으며, 상기 카메라는 유리의 서로 다른 지점에서 동일한 관찰 각도로 관찰하고 색도의 균일함을 확인한다.
1, 1': 점검 라인
2: 표면에 코팅을 갖는 유리
2A, 2A', 2A'': 코팅
2B: 재료(유리)
3: 화살표(이동 방향)
5: 지지체
11, 11', 11'': 제1 카메라
12, 12': 제2 카메라
13, 13': 제3 카메라
14': 제4 카메라
15': 제5 카메라
16': 제6 카메라
18L 광원
21: 제1 카메라(11)의 첫 번째 개방 각
22: 제2 카메라(12)의 두 번째 개방 각
23: 제3 카메라(13)의 세 번째 개방 각
31, 32, 33: 가시선
41, 42, 43: 가시선
30, 40: 점검 라인(1)의 지점
50: 다른 측정 장치
61: 축(관찰 각도 °)
62: 축(점검 라인(1, 1') 지점의 위치 mm)
71, 72, 73, 74, 75, 76: 곡선
81, 82, 83, 84, 85, 86, 87, 88, 89: 곡선
91, 92, 93, 94: 점검 라인의 지점
101, 102, 103, 104: 가시선
α1, α': 표면의 수직 방향에 대한 제1 카메라(11, 11')의 경사 각
α2': 표면의 수직 방향에 대한 제2 카메라(12')의 경사 각
α4': 표면의 수직 방향에 대한 제4 카메라(14')의 경사 각
α5': 표면의 수직 방향에 대한 제5 카메라(15')의 경사 각
b: 점검 라인(1)의 너비
S: 유리(2) 표면에 수직방향

Claims (15)

  1. 표면에 코팅이 제공된 재료(2), 바람직하게는 유리를 점검하는 장치로서,
    미리 정해진 파장 범위의 빛을 표면 방향으로 방출하는 표면 위에 제공된 광원(18), 및 검출된 빛의 색도를 측정하기 위한 적어도 하나의 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')를 포함하며,
    상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')는 표면에 놓인 점검 라인의 상부에서 상기 광원에 대해 경사지게 배열되고, 상기 점검 라인의 첫 번째 지점으로부터 반사된 광원(18)의 빛은 첫 번째 관찰 각도에서, 그리고 상기 첫 번째 지점과 간격을 두고 있는 점검 라인의 두 번째 지점으로부터 반사된 빛은 두 번째 관찰 각도에서 분리되어 검출되도록 첫 번째 개방 각(21)을 가지며, 상기 적어도 하나의 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')는 상기 첫 번째 지점으로부터 반사된 빛의 첫 번째 색도 및 두 번째 지점으로부터 반사된 빛의 두 번째 색도를 측정하며,
    상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')와 연결된 평가 장치가 제공되고, 상기 평가 장치는 상기 첫 번째 색도와 두 번째 색도 또는 상기 색도들의 차이를 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진 색 목표 값 범위와 비교하는 것을 특징으로 하는 장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 평가 장치는, 상기 점검 라인의 첫 번째 지점의 첫 번째 색도와 상기 점검 라인의 두 번째 지점의 두 번째 색도의 편차를 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진색 목표 값 범위와 비교하도록 설정되며, 상기 첫 번째 지점과 두 번째 지점은 카메라를 통해 동일, 또는 거의 동일한 관찰 각도로 측정되는 것을 특징으로 하는 장치.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서,
    검출된 빛의 색도를 측정하기 위한 적어도 하나의 제2 카메라(12, 12', 15')가 제공되며,
    상기 제2 카메라(12, 12', 15')는 상기 표면에 놓인 점검 라인의 상부에서 상기 광원에 대해 경사지게 배열되고, 상기 제2 카메라(12, 12', 15')는 상기 점검 라인의 각 지점으로부터 반사된 광원(18)의 빛이 바람직하게는 동시에 상기 제1 카메라(11, 11', 11'',14') 및 제2 카메라(12, 12', 15')를 통해 검출될 수 있도록 두 번째 개방 각(22)을 가지며, 상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14') 및 제2 카메라(12, 12', 15')는 각각 상기 점검 라인의 각 지점으로부터 반사된 빛의 색도를 측정하며, 상기 제1 카메라 및 제2 카메라와 연결된 평가 장치는 상기 점검 라인의 각 지점에서 측정된 제1 카메라 및 제2 카메라의 색도를 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진 색 목표 값 범위와 비교하는 것을 특징으로 하는 장치.
  4. 제1항 내지 제3항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 평가 장치는 상기 점검 라인의 서로 다른 지점으로부터 반사된 빛의 색도를 추가로 관찰 각도에 따라 평가하는 것을 특징으로 하는 장치.
  5. 제1항 내지 제4항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14') 및 상기 적어도 하나의 제2 카메라(12, 12', 15')는 공통의 지지체(5)에 배열되는 것을 특징으로 하는 장치.
  6. 제1항 내지 제5항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14') 및 제2 카메라(12, 12', 15') 중 적어도 하나는 라인 카메라 또는 평면 카메라인 것을 특징으로 하는 장치.
  7. 제1항 내지 제6항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 첫 번째 관찰 각 및 두 번째 관찰 각의 차이는 적어도 10°, 바람직하게는 적어도 15°, 특히 바람직하게는 적어도 20°인 것을 특징으로 하는 장치.
  8. 제1항 내지 제7항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 재료(2)는 상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14') 및 제2 카메라(12, 12', 15') 및 상기 광원(18)에 대해 전진 방향(3)으로 이동될 수 있으며, 바람직하게는 상기 광원(18) 및 상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14') 및 제2 카메라(12, 12', 15') 중 적어도 하나는 전진 방향 또는 전진 방향 반대쪽으로 경사져 있는 것을 특징으로 하는 장치.
  9. 제1항 내지 제8항 중 어느 한 항에 있어서,
    검출된 빛의 색도를 측정하기 위한 적어도 하나의 제3 카메라(13, 13', 16')가 제공되며, 상기 제3 카메라(13, 13', 16')는 상기 점검 라인의 상부에서 상기 광원(18)에 대해 경사지게 배열되고, 상기 제3 카메라는 적어도 상기 점검 라인의 정해진 영역에 있는 지점들에 대해 추가로 상기 광원(18)의 반사된 빛을 검출하고 색도를 측정할 수 있도록 세 번째 개방 각을 가지며,
    상기 평가 장치는, 상기 점검 라인의 정해진 영역의 각 지점에 대해, 상기 제3 카메라의 관찰 각도를 상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')의 관찰 각도 및 제2 카메라(12, 12', 15')의 관찰 각도 중 적어도 하나와 비교하고, 정해진 영역의 대응하는 지점에 대해, 제1 카메라(11, 11', 11'', 14'), 제2 카메라(12, 12', 15') 및 제3 카메라(13, 13', 16')의 해당 관찰 각도의 편차가 가장 큰 두 색도는 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진 색 목표 값 범위와 비교하는 것을 특징으로 하는 장치.
  10. 제1항 내지 제9항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 평가 장치는 상기 점검 라인의 각 지점에서 반사된 빛을 관찰하는 정해진 두 카메라의 두 색도의 편차를 측정하고, 상기 색도의 편차를 미리 주어진 색도 편차 목표 값 또는 미리 주어진 색도 편차 목표 값 범위와 비교하는 것을 특징으로 하는 장치.
  11. 표면에 코팅이 제공된 재료(2), 바람직하게는 유리를 점검하는 방법으로서,
    미리 정해진 파장 범위의 빛을 표면 방향으로 방출하는 표면 위에 제공된 광원(18), 및 검출된 빛의 색도를 측정하기 위한 적어도 하나의 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')가 제공되고, 상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')는 상기 표면에 놓인 점검 라인의 상부에서 상기 광원에 대해 경사지게 배열되고 첫 번째 개방 각(21)을 가지며, 아래의 단계들:
    - 상기 점검 라인의 첫 번째 지점으로부터 반사된 광원의 빛은 첫 번째 관찰 각도로, 그리고 상기 첫 번째 지점과 간격을 두고 있는 상기 점검 라인의 두 번째 지점으로부터 반사된 빛은 두 번째 관찰 각도로 상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')를 통해 분리되어 검출되고, 상기 제1 카메라는 상기 첫 번째 지점으로부터 반사된 빛의 첫 번째 색도 및 상기 두 번째 지점으로부터 반사된 빛의 두 번째 색도를 측정하는 단계,
    - 상기 첫 번째 색도 및 두 번째 색도 또는 상기 색도의 편차가 각각 상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')와 연결된 평가 장치를 통해 미리 정해진 색도 목표 값 또는 미리 정해진 색도 목표 값 범위와 비교되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 방법.
  12. 제11항에 있어서,
    검출된 빛의 색도를 측정하기 위한 적어도 하나의 제2 카메라(12, 12', 15')가 제공되며,
    상기 제2 카메라(12, 12', 15')는 표면에 놓여 있는 점검 라인의 상부에서 광원에 대해 경사지게 배열되고, 상기 제2 카메라(12, 12', 15')는 상기 라인의 각 지점으로부터 반사된 광원(18)의 빛이 바람직하게는 동시에 상기 제1 카메라(11, 11', 11'',14') 및 제2 카메라(12, 12', 15')를 통해 측정될 수 있도록 두 번째 개방 각(22)을 가지며, 각각 상기 점검 라인의 각 지점으로부터 반사된 빛의 색도가 측정되며, 상기 평가 장치를 통해 미리 주어진 색도 또는 미리 주어진 색도 범위와 비교되는 것을 특징으로 하는 방법.
  13. 제11항 또는 제12항에 있어서,
    상기 평가 장치를 통해 상기 점검 라인의 서로 다른 지점으로부터 반사된 빛의 색도가 추가로 관찰 각도에 따라 평가되는 것을 특징으로 하는 방법.
  14. 제11항 내지 제13항 중 어느 한 항에 있어서,
    검출된 빛의 색도를 측정하기 위한 적어도 하나의 제3 카메라(13, 13', 16')가 제공되며, 상기 제3 카메라(13, 13', 16')는 상기 점검 라인의 상부에서 상기 광원(18)에 대해 경사지게 배열되고, 상기 제3 카메라는 적어도 상기 점검 라인의 정해진 영역에 있는 지점들에 대해 추가로 상기 광원(18)의 반사된 빛을 검출하고 색도를 측정할 수 있도록 세 번째 개방 각을 가지며, 상기 평가 장치는, 상기 점검 라인의 정해진 영역의 각 지점에 대해, 상기 제3 카메라의 관찰 각도를 상기 제1 카메라(11, 11', 11'', 14')의 관찰 각도 및 제2 카메라(12, 12', 15')의 관찰 각도 중 적어도 하나와 비교하고, 정해진 영역의 대응하는 지점에 대해, 제1 카메라(11, 11', 11'', 14'), 제2 카메라(12, 12', 15') 및 제3 카메라(13, 13', 16')의 해당 관찰 각도의 편차가 가장 큰 두 색도는 미리 정해진 색 목표 값 또는 미리 정해진 색 목표 값 범위와 비교하는 것을 특징으로 하는 방법.
  15. 제11항 내지 제14항 중 어느 한 항에 있어서,
    상기 평가 장치는 상기 점검 라인의 각 지점에서 반사된 빛을 관찰하는 정해진 두 카메라의 두 색도의 편차를 측정하고, 상기 색도의 편차를 미리 주어진 색도 편차 목표 값 또는 미리 주어진 색도 편차 목표 값 범위와 비교하는 것을 특징으로 하는 방법.
KR1020150009566A 2014-01-20 2015-01-20 코팅 표면이 제공된 재료의 점검 장치 및 점검 방법 KR101678602B1 (ko)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE102014100594.5A DE102014100594A1 (de) 2014-01-20 2014-01-20 Vorrichtung zur Inspektion eines mit einer beschichteten Oberfläche versehenen Materials und entsprechendes Verfahren
DE102014100594.5 2014-01-20

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20150087134A true KR20150087134A (ko) 2015-07-29
KR101678602B1 KR101678602B1 (ko) 2016-11-22

Family

ID=52347240

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020150009566A KR101678602B1 (ko) 2014-01-20 2015-01-20 코팅 표면이 제공된 재료의 점검 장치 및 점검 방법

Country Status (7)

Country Link
US (1) US9535002B2 (ko)
EP (1) EP2910934B1 (ko)
JP (1) JP6276904B2 (ko)
KR (1) KR101678602B1 (ko)
CN (1) CN104792419B (ko)
CA (1) CA2876867C (ko)
DE (1) DE102014100594A1 (ko)

Families Citing this family (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US11628610B2 (en) 2017-02-08 2023-04-18 Cryovac, Llc Process for in-line inspection of functional film layer containing detectable component
WO2018190693A2 (en) * 2017-04-14 2018-10-18 Corning Precision Materials Co., Ltd Glass processing apparatus and methods
EP3531067A1 (de) * 2018-02-21 2019-08-28 Schneider GmbH & Co. KG Vorrichtung und verfahren zum vermessen mindestens eines optisch wirksamen gegenstands
CN109030512B (zh) * 2018-08-23 2021-09-07 红塔烟草(集团)有限责任公司 烟条单相机重复视觉检测装置及方法
DE102019100615A1 (de) * 2019-01-11 2020-07-16 NoKra Optische Prüftechnik und Automation GmbH Verfahren und Vorrichtung zur Erfassung einer Beschichtung auf einer Oberfläche
CN114641683A (zh) * 2019-11-06 2022-06-17 株式会社富士 图像处理装置、元件安装系统及图像处理方法
JP2023117023A (ja) * 2022-02-10 2023-08-23 三菱重工業株式会社 診断方法、診断装置及びプログラム
US11867630B1 (en) 2022-08-09 2024-01-09 Glasstech, Inc. Fixture and method for optical alignment in a system for measuring a surface in contoured glass sheets
CN117470175B (zh) * 2023-12-25 2024-03-01 贵州省公路工程集团有限公司 一种安全绳检测方法及卡式盖梁安全绳装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08292156A (ja) * 1995-03-15 1996-11-05 Saint Gobain Vitrage 表面被覆膜の局所欠陥を認識し、評価する認識および評価方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
GB9219450D0 (en) * 1992-09-15 1992-10-28 Glaverbel Thin film thickness monitoring and control
JPH0815033A (ja) * 1994-07-04 1996-01-19 Minolta Co Ltd 多点色検査装置
JPH11211673A (ja) * 1998-01-27 1999-08-06 Honda Motor Co Ltd 表面性状評価装置および表面性状評価方法
JP2004144545A (ja) * 2002-10-23 2004-05-20 Sumitomo Chem Co Ltd 色むらの検査方法
US7548317B2 (en) * 2006-05-05 2009-06-16 Agc Flat Glass North America, Inc. Apparatus and method for angular colorimetry
US7369240B1 (en) * 2006-07-20 2008-05-06 Litesentry Corporation Apparatus and methods for real-time adaptive inspection for glass production
US7551274B1 (en) * 2007-02-28 2009-06-23 Lite Sentry Corporation Defect detection lighting system and methods for large glass sheets
WO2011075212A1 (en) * 2009-12-18 2011-06-23 E. I. Du Pont De Nemours And Company Method for coating measurement
DE102010021853B4 (de) * 2010-05-28 2012-04-26 Isra Vision Ag Einrichtung und Verfahren zur optischen Überprüfung eines Gegenstands
JP2012255652A (ja) * 2011-06-07 2012-12-27 Mitsubishi Rayon Co Ltd 陽極酸化アルミナの検査装置および検査方法、ならびに陽極酸化アルミナを表面に有する部材の製造方法

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08292156A (ja) * 1995-03-15 1996-11-05 Saint Gobain Vitrage 表面被覆膜の局所欠陥を認識し、評価する認識および評価方法

Also Published As

Publication number Publication date
CN104792419B (zh) 2017-09-19
US20150204778A1 (en) 2015-07-23
CA2876867C (en) 2017-04-18
DE102014100594A1 (de) 2015-07-23
US9535002B2 (en) 2017-01-03
EP2910934A1 (de) 2015-08-26
EP2910934B1 (de) 2021-07-07
KR101678602B1 (ko) 2016-11-22
CN104792419A (zh) 2015-07-22
JP6276904B2 (ja) 2018-02-07
JP2015155895A (ja) 2015-08-27
CA2876867A1 (en) 2015-07-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
KR101678602B1 (ko) 코팅 표면이 제공된 재료의 점검 장치 및 점검 방법
EP3400431B1 (en) Optical method to measure the thickness of coatings deposited on substrates
KR101832081B1 (ko) 표면 결함 검출 방법 및 표면 결함 검출 장치
US9709390B2 (en) Method and a device for the inspection of surfaces of an examined object
US10060858B2 (en) Device and method for measuring distortion defects in a manufactured float glass strip
KR20110000552A (ko) 구조화된 광을 사용하여 결함을 검출하는 방법 및 장치
US20140267702A1 (en) Optical metrology by light beam analysis
US20120105860A1 (en) Method and device for carrying out an optical comparison between at least two samples, preferably by comparing sections that can be selected
JP2010133934A (ja) 2つの測定ユニットを有する表面測定装置
JP2001242091A (ja) 表面検査のための方法及び装置
TWI495867B (zh) Application of repeated exposure to multiple exposure image blending detection method
WO2006106707A1 (ja) 色彩検査装置
KR20160046746A (ko) 국소 굴절률의 측정 방법 및 장치
KR101804527B1 (ko) 다파장 광 주사 간섭계를 이용한 3차원 형상 측정장치
CN105277558B (zh) 一种研究表面的多步方法及其对应设备
JP5149880B2 (ja) 角度オフセット修正を用いる表面特性の決定
JP7136064B2 (ja) 被検査体の表面検査装置および被検査体の表面検査方法
US7633612B2 (en) Apparatus and method for determining surface properties
CN111351441A (zh) 基于视觉的厚度测量设备及方法
JP2020504308A5 (ko)
TW201502465A (zh) 使用機器視覺測量窄下凹特徵部之方法
US20220364993A1 (en) Inspection system for optical surface inspection of a test specimen
JP3421649B2 (ja) 外観検査法
JP2006138670A (ja) カラーフィルタの色ムラ検査装置及び検査方法
JP2019120605A (ja) 塗装検査装置、及び塗装検査方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
GRNT Written decision to grant