KR20150065451A - Apparatus and method for automatically testing a quality of microspeaker - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 마이크로스피커의 품질을 자동으로 검사하는 장치 및 방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 생산 라인을 통해 생산된 마이크로스피커의 품질 상태를 자동으로 검사하기 위한 검사 장치 및 방법에 관한 것이다. The present invention relates to an apparatus and a method for automatically checking the quality of a micro speaker, and more particularly, to an inspection apparatus and method for automatically checking a quality state of a micro speaker manufactured through a production line.
최근 시장에 출시되고 있는 스마트폰을 포함한 휴대용 전자기기의 경우 종래에 개별적인 기능으로서 존재하던 MP3 플레이어, 녹음기, 라디오, TV, 캠코더 등의 기능이 하나의 기기에 통합되어 있다. 이러한 기능들의 공통 요소 중 하나는 이들 기능 모두가 소리(음)의 재생과 관련되어 있다는 것이다. 따라서, 전자기기에는 소형의 마이크로스피커가 내장되어 있으며 전자기기의 소형화에 따라서 전자기기에 사용되는 마이크로스피커 역시 점점 더 소형화될 필요가 있으며, 생산된 제품의 품질이 보장되지 않을 경우 완제품 전자기기 제품 전체의 성능 및 가치에 대한 저하를 초래하게 된다. In the case of portable electronic devices including smartphones, which are currently on the market, functions such as an MP3 player, a voice recorder, a radio, a TV, and a camcorder which have conventionally existed as individual functions are integrated into one device. One of the common elements of these functions is that all of these functions are related to the reproduction of sound. Accordingly, a small micro speaker is incorporated in the electronic device, and as the size of the electronic device is miniaturized, the micro speaker used for the electronic device needs to be further miniaturized. If the quality of the produced product is not guaranteed, Resulting in degradation of the performance and value of the system.
따라서, 생산되는 마이크로스피커의 품질 테스트를 통해 불량품을 걸러내고 양품의 제품만이 완제품 전자기기의 부품으로서 공급될 수 있도록 하는 것은 마이크로스피커를 제조하는 업체의 입장에서는 매우 중요하다. Therefore, it is very important from the perspective of a maker of a micro speaker that it is possible to filter defective products through quality testing of produced micro speakers and to supply only good products as parts of finished electronic devices.
그러나, 마이크로스피커가 점점 더 소형화되고 대량 생산됨에 따라서, 다수의 불량품이 생산될 가능성이 증대되고 있으며 실제로도 많은 양의 불량품이 제품의 생산과정에서 발생하고 있다. 이로 인해, 생산된 마이크로스피커에 대한 엄격한 품질 검사가 반드시 필요하지만 품질 검사에는 많은 시간이 소요될 뿐만이 아니라 많은 검사 인력이 투입되어야 한다. However, as micro speakers become increasingly smaller and more mass-produced, the likelihood of producing a large number of defective products is increasing, and in fact, a large number of defective products are generated during the production of the product. As a result, a strict quality inspection of the produced micro speaker is indispensable, but the quality inspection is not only time consuming, but also requires a lot of inspection personnel.
이와 관련, 생산된 제품에 대한 품질 검사를 위해 투입되는 품질 검사 인력의 경우 검사 인력들 간의 숙련도가 다를 뿐만이 아니라 개개의 검사 인력의 경우에도 몸의 컨디션 상태가 상황에 따라서 변할 수 있기 때문에, 인력을 통한 품질 검사의 경우 항상 균일한 수준의 품질 검사를 보장할 수는 없다. In this regard, in the case of the quality inspection laboratories to be used for the quality inspection of the produced products, not only the proficiency level of the inspection laborers is different, but also in the case of individual inspection laborers, the condition of the body may change according to the situation. In the case of quality inspection, it is not always possible to guarantee uniform quality inspection.
또한, 인력에 의한 품질 검사의 경우 검사 대상 제품이 양품인지 불량인지만을 확인할 수 있을 뿐 제품의 불량 유형까지 확인하기는 어렵다. 제품의 불량 유형을 확인할 수 있어야 이러한 불량의 유형에 기초하여 생산 공정의 개선 등이 이루어지도록 함으로써 불량률을 감소시킬 수 있게 된다. Also, in the case of quality inspection by manpower, it is only possible to confirm whether the product to be inspected is good or defective, and it is difficult to confirm the defect type of the product. It is necessary to be able to confirm the defect type of the product so that the defect rate can be reduced by making the improvement of the production process based on the type of the defect.
따라서, 대량 생산되는 마이크로스피커에 대한 신속하고 정확한 품질 검사를 수행할 수 있을 뿐만이 아니라 불량의 유형을 구별할 수 있는 장치 및 방법에 대한 필요가 있다. Therefore, there is a need for an apparatus and method that not only can perform quick and accurate quality inspection of a mass-produced micro speaker, but also can distinguish types of defects.
본 발명의 목적은 대량으로 생산되는 마이크로스피커의 품질을 신속하고 정확히 검사할 수 있는 품질 검사 장치 및 방법을 제공하는데 있다. SUMMARY OF THE INVENTION It is an object of the present invention to provide a quality inspection apparatus and method that can quickly and accurately check the quality of a micro speaker manufactured in a large quantity.
본 발명의 다른 목적은 생산되는 제품에 대한 품질 검사를 통해 불량품을 불량의 유형별로 선별해 낼 수 있는 품질 검사 장치 및 방법을 제공하는데 있다. It is another object of the present invention to provide a quality inspection apparatus and method capable of sorting defective products by types of defects through quality inspection of products to be produced.
아울러, 제품을 단순히 양품과 불량품으로 구분할 뿐만 아니라 양품의 경우에도 품질 수준에 따라서 클래스(class)별로 제품을 구분하기 위한 품질 검사 장치 및 방법을 제공하는데 있다. The present invention also provides a quality inspection apparatus and method for classifying a product by class according to a quality level, as well as distinguishing a product into a good product and a defective product.
상기와 같은 목적을 달성하고자 본 발명은 측정기(측정기)에 측정항목을 입력하고 검사 스펙을 입력하고 측정기로부터 검사 결과를 수신하기 위한 컴퓨터 장치; 컴퓨터로부터 입력된 측정항목 및 스펙에 따라서 마이크로스피커를 통해 발생된 소리를 마이크를 통해 수신하여 분석한 후 제품을 양품과 불량품으로 판정하기 위한 측정기(측정기); 그리고 측정기로부터 판정 결과에 대한 신호를 수신하기 위한 프로그램 로직 컨트롤러(PLC)로 구성된다. According to an aspect of the present invention, there is provided a computer system comprising: a computer for inputting a measurement item to a measuring instrument, inputting an inspection specification, and receiving a test result from the measuring instrument; A measuring device for measuring a sound generated through a micro speaker according to a measurement item and a specification input from a computer through a microphone and analyzing the product to determine a good product and a defective product; And a program logic controller (PLC) for receiving a signal of the determination result from the measuring device.
또한, 본 발명의 검사 장치는 검사 대상 제품이 위치되는 검사 파레트; 검사 파레트를 운반하기 위한 검사 파레트 컨베이어; 검사 파레트의 위치를 인식하여 검사 대상 제품을 제품 측정 안착부에 정렬시키고 설정된 측정항목 및 스펙에 따라서 품질 검사를 수행하는 제품 공급 로더; 품질 검사가 종료된 제품을 픽업하여 검사 결과에 따라서 양품 또는 불량품으로 선별하여 배출하는 제품 배출 로더; 그리고 제품 배출 로더로부터 배출된 양품을 운반하기 위한 양품 배출 컨베이어와 불량의 유형별로 배출되는 불량품을 수집하기 위한 불량품 수집 박스로 구성된다. Further, the inspection apparatus of the present invention includes: a inspection pallet in which a product to be inspected is located; An inspection pallet conveyor for conveying inspection pallets; A product supply loader for recognizing the position of the inspection pallet and aligning the inspection target product with the product measurement seating part and performing quality inspection according to the set measurement items and specifications; A product discharge loader which picks up the product whose quality inspection has ended and selectively discharges the product according to the inspection result or defective product; And a defective product collection box for collecting defective products discharged by type of defects, and a good product discharge conveyor for carrying good products discharged from the product discharge loader.
또한, 본 발명의 검사 방법은 컴퓨터에서 측정 항목과 검사 스펙을 설정하는 단계; 검사에 필요한 마스터 샘플 데이터(Master sample data)를 입력하는 단계; 각 항목에 대한 측정 마스크(Mask)를 설정하는 단계; 컴퓨터를 통해 검사 시작 명령을 실행하는 단계; 측정기가 마이크로스피커에 검사 신호를 출력하는 단계; 마이크로스피커에서 발생된 소리를 마이크에 전달하는 단계; 측정기가 마이크에 입력된 소리를 분석하는 단계; 분석 데이터와 합격/불합격 판정 결과를 프로그램 로직 컨트롤러(PLC)에 전달하는 단계; 컴퓨터 모니터상에 측정 결과를 표시하는 단계로 이루어진다. According to another aspect of the present invention, there is provided an inspection method comprising: setting a measurement item and an inspection specification in a computer; Inputting master sample data necessary for inspection; Setting a measurement mask for each item; Executing a test start command through a computer; Outputting an inspection signal to the micro speaker; Transmitting sound generated from the micro speaker to a microphone; Analyzing a sound input to the microphone by the meter; Transferring the analysis data and a pass / fail determination result to a program logic controller (PLC); And displaying the measurement result on a computer monitor.
본 발명의 장치와 관련된 동작은 검사 장치의 동작 시작과 함께 제품 공급 인원이 파레트 컨베이어상의 검사 파레트에 제품을 적재하는 단계; 제품 공급 로더가 제품을 픽업한 후 제품 측정 안착부에 안착시키는 단계; 제품을 측정하는 단계; 측정된 결과를 프로그램 로직 컨트롤러(PLC) 및 컴퓨터 장치에 전달하는 단계; 제품 공급 로더는 검사 파레트로 이동하고 제품 배출 로더는 검사 위치로 이동하는 단계; 제품 배출 로더가 측정된 제품을 픽업하는 단계; 측정 결과에 따라서 불량품은 불량 유형에 따라 해당 불량품 수집 박스로 배출되고 양품은 양품 컨베이어 벨트로 이송되는 단계로 이루어진다. The operation associated with the apparatus of the present invention comprises the steps of the product dispenser loading the product into the inspection pallet on the pallet conveyor with the start of operation of the inspection apparatus; Placing the product supply loader on the product measurement mount after picking up the product; Measuring a product; Transferring the measured result to a program logic controller (PLC) and a computer device; Moving the product supply loader to the inspection pallet and moving the product discharge loader to the inspection position; The product discharge loader picking up the measured product; According to the measurement result, the defective article is discharged to the defective article collection box according to the defective type, and the good article is conveyed to the good article conveyor belt.
본 발명에 따르면 생산된 제품에 대한 신속하고 정확하며 균일한 품질 검사가 이루어질 수 있어 검사된 제품에 대한 신뢰성을 제고시킬 수 있을 뿐만이 아니라 시간과 비용에 대한 절감을 가져올 수 있다. According to the present invention, the produced product can be quickly, accurately and uniformly inspected, thereby improving not only the reliability of the inspected product but also the time and cost.
또한, 본 발명에 따르면 검사 대상 제품에 대한 불량의 유형이 즉각적으로 파악됨으로써 불량 발생 원인에 대한 대응 및 조치가 수월하게 되어 생산 제품 불량률을 낮출 수 있게 된다. In addition, according to the present invention, the types of defects with respect to the product to be inspected are immediately grasped, so that the countermeasures and countermeasures against the cause of defects can be facilitated and the defective product rate can be lowered.
본 발명의 도면 전체에 걸쳐서 동일한 구성요소에 대해서는 동일한 참조번호를 사용하며, 유사한 구성요소에 대해서는 유사한 참조번호를 기재한다.
도 1은 본 발명의 측정 시스템을 개략적으로 도시하는 도면이다.
도 2a는 본 발명의 제품 검사 장치의 일례를 도시하는 도면이다.
도 2b는 본 발명의 제품 검사 장치의 다른 일례를 도시하는 도면이다.
도 3은 본 발명의 제품 검사 장치의 또 다른 일례를 도시하는 도면이다.
도 4는 본 발명의 제품 검사 장치의 또 다른 일례를 도시하는 도면이다.
도 5는 본 발명의 제품 검사 장치의 동작을 나타내는 흐름도이다. The same reference numbers are used for the same components throughout the drawings of the present invention, and similar reference numerals are used for similar components.
BRIEF DESCRIPTION OF THE DRAWINGS FIG. 1 is a schematic view showing a measuring system of the present invention. FIG.
2A is a diagram showing an example of a product testing apparatus of the present invention.
2B is a diagram showing another example of the product inspection apparatus of the present invention.
3 is a diagram showing still another example of the product testing apparatus of the present invention.
4 is a diagram showing still another example of the product testing apparatus of the present invention.
5 is a flowchart showing the operation of the product inspection apparatus of the present invention.
도 1을 참조하면, 본 발명의 측정 시스템(100)에 대한 개략적인 도면이 도시된다. Referring to Figure 1, a schematic diagram of a
측정 시스템(100)은 모니터를 포함하는 컴퓨터 장치(110), 신호 분석기로도 지칭되는 측정기(120), 마이크로스피커(130), 마이크(140), 그리고 프로그램 로직 컨트롤러(PLC)로 구성된다. 측정 시스템(100)은 이어 설명될 제품 검사 장치의 핵심 요소로서 매우 중요한 시스템이다. 이러한 측정 시스템(100)을 구성하고 있는 각각의 구성요소에 대해 살펴보면 다음과 같다. The
컴퓨터 장치(110)는 검사 측정 항목과 검사 스펙, 그리고 검사 측정 명령을 측정기(120)에 입력하는 역할을 하며, 또한 컴퓨터 장치(110)의 모니터를 통해 측정기(120)을 통해 검사된 검사 결과가 관리자에게 표시된다. 검사 측정 항목은 주파수 특성, 음압 레벨(sound pressure level), 임피던스, 공진주파수(F0), 전고조파 왜곡(Total Harmonic Distortion), 극성, 이질음이 될 수 있으며, 이들 검사 항목들 각각에 대해 양품과 불량품을 구분하기 위해 각각의 검사 측정 항목에 대한 기준값인 검사 스펙이 설정되게 된다. 이러한 검사 측정 항목과 검사 스펙은 컴퓨터 장치(110)를 통해 측정기(120)에 입력되게 된다. 측정기(120)는 컴퓨터 장치(110)로부터 신호를 입력받은 검사 측정 항목 및 검사 스펙에 따라서 제품에 대한 검사를 수행하여 검사 대상 제품의 불량 여부를 검사한다. 마이크로스피커(130)는 검사 대상 제품으로서, 컴퓨터 장치(110)로부터 측정 명령이 측정기(120)에 전달되면 측정기(120)는 마이크로스피커(130)에 검사 신호를 출력(1회 sweep)하게 된다. 마이크로스피커(130)를 통해 발생된 소리는 측정기(120)에 연결되어 있는 마이크(140)를 통해 수신되며 측정기(120)는 마이크(140)를 통해 전달된 신호를 분석하게 된다. 이렇게 분석된 결과 데이터는 측정기(120)에 설정되어 있는 검사 스펙과 비교되어 제품의 불량 여부를 판정하는데 사용된다. 측정기(120)로부터의 검사 결과는 측정기(120)에 연결되어 있는 프로그램 로직 컨트롤러(PLC)(150)에 전달되어 이후 설명될 제품 검사 장치(200)를 제어하는데 사용되게 된다. 또한, 프로그램 로직 컨트롤러(PLC)(150)로 전달되는 검사 결과는 측정기(120)에 연결되어 있는 컴퓨터 장치(110)의 모니터를 통해 표시되게 된다. 따라서, 관리자는 모니터를 통해 표시되는 결과를 통해 생산중인 제품의 상태를 쉽게 파악할 수 있어 필요시 필요한 조치를 즉각적으로 취할 수 있게 된다. The computer device 110 serves to input test measurement items, test specifications, and test measurement commands to the
도 2a와 도 2b는 제품의 불량 여부를 검사하기 위한 제품 검사 장치(200)를 개략적으로 도시하는 도면들이다. 도 2a와 도 2b의 차이점은 제품을 검사하는 제품 측정 안착부(230)의 채널 갯수 만이 다르며 기타 모든 구성요소는 동일하다. 따라서, 도 2a를 기준으로 설명한다. 2A and 2B are diagrams schematically showing a
도 2a에 도시된 제품 검사 장치(200)는 검사 파레트(210), 검사 파레트 컨베이어(220), 제품 공급 로더(230), 제품 측정 안착부(240), 제품 배출 로더(250), 양품 배출 컨베이어(260), 그리고 불량품 수납 박스(270)를 포함한다. 이와 관련, 각각의 구성요소들에 대하여 살펴보면 다음과 같다. The
검사 파레트(210)에는 검사 대상 제품을 공급하는 제품 공급 작업자에 의해 검사가 수행되어야 할 제품이 놓여지게 되며, 복수 개의 검사 파레트(210)가 존재할 수 있다. 검사 파레트(210)를 제품 공급 로더(230)로 공급하기 위한 검사 파레트 컨베이어(220)는 회전형의 컨베이어로 이루어져 있다. In the
제품 공급 로더(230)는 검사 파레트 컨베이어(220)를 통해 운반되어 온 검사 파레트(210)가 정해진 위치에 도착하면 이를 감지하여 검사 파레트(210)에 담겨있는 검사 대상 제품을 픽업하여 제품 측정 안착부(240)에 위치시키는 역할을 한다. 제품의 픽업과 관련해서는 대상 제품이 소형이며 제품을 검사 파레트(210)에서 픽업하여 검사 완료시까지 제품을 잡아주는 역할을 하여야 하는 관계로 제품에 대한 손상이 없이 픽업이 이루어져야 한다. 이와 관련하여 본 발명에는 도시되어 있지 않지만 다음의 3가지 방법을 통해 픽업이 이루어지는 것이 일반적이다. 첫 번째 방식은 마그넷 방식으로서, 이는 마이크로스피커내에 장착되어 있는 마그넷을 활용하여 픽업하는 방식이다. 두 번째 방식은 쵸크 방식으로서, 이는 제품을 집게를 이용해 픽업하는 방식으로 제품의 손상을 방지하기 위해 알루미늄 등의 딱딱한 재질이 아니라 고무, 우레탄, 실리콘 등과 같은 연한 재질을 사용한다. 세 번째 방식은 공기 흡착 방식으로 공기의 압력을 이용하여 제품을 흡착하여 픽업하는 방식이다. The
제품 측정 안착부(240)에서는 설정된 검사 측정 항목과 검사 스펙에 따라서 제품에 대한 검사가 이루어진다. 이때 검사 파레트(210)에 적재되는 제품들 간의 피치(pitch)와 제품 측정 안착부(240)내 제품이 안착되는 위치의 피치가 서로 다를 수 있다. 따라서, 이러한 상이한 피치에 상관이 없이 검사 파레트(210)에 적재된 제품을 픽업하여 제품 측정 안착부(240)의 제품 위치에 정확히 안착시키기 위한 미세한 조정이 가능하도록 제품 공급 로더(230)가 설계된다. 이러한 설계에 의해 피치 간격의 상이함에도 불구하고 원활한 제품의 안착이 이루어질 수 있다. In the product
또한 검사를 진행함에 있어서, 여러 예기치 못한 상황들이 발생할 수 있으며 이에 대한 적절한 조치를 취하지 못할 경우 원활한 제품 검사가 수행되지 못할 수도 있다. 따라서, 이러한 돌발 상황에 대해 대처할 수 있는 방안이 충분히 마련되어야 한다. In addition, many unforeseen circumstances may arise in the course of the inspection and, if appropriate measures are not taken, a smooth product inspection may not be performed. Therefore, sufficient measures should be taken to cope with such an unexpected situation.
첫째, 제품의 검사를 진행하는 도중에 지그(JIG)의 와이어가 단선되는 경우가 발생할 수 있으며, 이 경우 접촉이 불량하게 되며 검사 제품은 임피던스의 불량으로 분류되어 해당 불량품 수집 박스로 배출되도록 한다. 이러한 배출은 1회에서 4회까지는 임피던스 불량품 수집 박스로 배출되고, 5회부터는 경고음의 울림과 함께 제품 검사를 진행하지 않으며, 관리자가 문제를 확인하고 대처할 수 있도록 한다. First, the wire of the JIG may be disconnected during the inspection of the product. In this case, the contact becomes poor, and the inspection product is classified as defective of impedance and discharged to the defective product collection box. These emissions are discharged from the 1st to 4th time to the Impedance Defective Collection Box. From the 5th time, the audible alarm sounds and the product inspection is not carried out, and the manager can identify and cope with the problem.
둘째, 제품 측정 안착부(240)의 채널에 제품이 2개 겹쳐 있는 경우가 발생할 수 있다. 이는 제품 검사가 완료된 후 제품 배출 로더(250)의 공기압이 약하거나 이물질로 인하여 제품 측정 안착부(240)에서 검사 완료된 제품이 배출되지 않을 경우이다. 이러한 경우에는 검사 지그의 센서를 통해 수신된 높이의 이상으로 인해 에러 경고음을 울림과 동시에 검사를 중단하게 된다. 이후 관리자가 육안 확인을 통해 픽업되지 않고 남아있는 제품을 제거한 후 작업을 재개하게 된다.Second, there may occur a case where two products are stacked on the channel of the product
셋째, 장비 설정의 경우 자동검사 실행인데 컴퓨터 장치(110)의 검사 프로그램이 자동이 아니라 수동으로 설정되어 있는 경우에는 프로그램 로직 컨트롤러(PLC)(150)에서 검사 진행 중인 신호를 수신하지 못하였기 때문에 에러 경고음을 울리며 검사를 진행하지 않는다. Third, in the case of the equipment setting, if the inspection program of the computer device 110 is set to be not automatic but manual, the signal being under test is not received from the program logic controller (PLC) 150, Beeps and does not test.
넷째, 컴퓨터 프로그램이 멈추고 프로그램만 보이게 되는 경우 실제 시험을 하지 못하는 경우가 발생할 수 있으며, 이때 경고음과 함께 검사를 멈춘다. Fourth, if the computer program stops and the program becomes visible, the test may not be performed.
다섯째, 제품 배출 로더(250)가 측정이 끝난 제품을 픽업한 후 검사 측정 안착부(240)내 어느 한 채널에서 제품이 없거나 픽업을 하지 못했을 경우 경고음이 울리고 더 이상 진행하지 않는데, 이는 검사가 완료된 제품을 픽업하지 못했을 경우 다음 사이클에서 해당 채널은 제품이 두 개가 되므로 잘못된 검사가 진행되기 때문이다. Fifth, when the
여섯째, 제품 검사 장치(200)에 사용되는 공기압이 미리 설정해 놓은 공기압 이하로 떨어지게 되면 경고음이 울리며 검사를 진행하지 않게 된다. Sixth, when the air pressure used in the
일곱째, 설정된 불량률 이상으로 과도한 불량이 발생하는 경우에 경고음 발생하며 검사를 진행하지 않는다. Seventh, if excessive defects occur more than the set defective rate, a warning sound is generated and the inspection is not proceeded.
여덟 번째, 제품 검사 진행 중에 설비에 문제가 발생하는 경우에 경고음이 울리며 화면에 문제 발생 원인이나 점검 내용이 표시될 수 있도록 하여 관리자가 조치를 쉽게 할 수 있도록 한다. Eighth, when there is a problem in the equipment during the product inspection, a warning tone sounds and the cause of trouble or inspection contents can be displayed on the screen so that the manager can easily take action.
이어 검사가 완료된 후, 제품 배출 로더(250)가 제품 측정 안착부(240)로 이동하여 검사가 완료된 제품을 픽업하게 된다. 제품 배출 로더(250)에 의해 픽업된 검사 완료 제품은 제품의 검사 결과에 따라서 양품은 양품 배출 컨베이어(260)로 배출되고, 불량품은 불량의 유형에 따라 각자의 불량품 수납 박스(270)로 배출된다. After the inspection is completed, the
불량품에 대한 불량의 유형은 제품 검사 장치(200)의 프로세서 프로그램을 통해 설정될 수 있다. 예를 들어, 불량품의 유형을 5종(예를 들어, 불량 1은 이질음 불량, 불량 2는 주파수특성, 음압 레벨(SPL) 불량, 불량 3은 공진주파수 불량, 불량 4는 전고조파 왜곡(THD) 불량, 불량 5는 극성, 임피던스 불량)으로 분류하고자 하는 경우 불량 1에서 불량 5까지 유형을 설정함으로써 제품 배출 로더(250)가 검사 결과에 따라서 불량품의 유형별로 제품을 분류하게 된다. 이때 제품 배출 로더(250)에 불량 유형별 위치 좌표를 설정함으로써 제품 배출 로더(250)가 불량 유형별로 정확하게 해당 불량품 수납 박스(270)에 불량품을 배출할 수 있게 된다. 이처럼 불량의 유형별로 제품을 분류할 수 있어 불량의 유형별 데이터 자료에 기초하여 공정 개선을 이룰 수 있게 된다. The type of defect for the defective product can be set through the processor program of the
또한, 양품의 경우에도 양품의 품질 수준별로 제품을 분리해 낼 수 있다. 이는 불량품의 경우와 마찬가지로 검사 프로세서 프로그램을 통해 원하는 양품의 수준을 클래스(Class) 단위로 설정할 수 있다. 예를 들어, 양품을 3종으로 분류하고자 하는 경우 클래스 3으로 설정하여 각각의 마스크(Mask)를 설정하면 제품 배출 로더(250)는 제품 검사 결과에 따라서 양품을 클래스 별로 분리하여 배출하게 된다. 이와 관련, 제품 배출 로더(250)에 구분된 클래스 별로 양품의 위치 좌표가 설정됨으로써 제품 배출 로더(250)가 양품을 각각의 클래스 별에 해당되는 컨베이어상의 정해진 장소에 제품을 위치시킬 수 있게 된다. 관리자는 생산된 제품의 클래스별 데이터에 기초하여 현재 생산되고 있는 제품의 클래스별 수량 분포에 대한 확인을 통해 제품의 품질 수준을 확인할 수 있어 제품의 공정 개선을 이룰 수 있게 된다. In addition, even in the case of good products, the product can be separated according to the quality level of good products. As in the case of defective products, it is possible to set the desired level of good products in a class unit through the inspection processor program. For example, if a good product is to be classified into three classes and set to a class 3, and a mask is set, the
도 2a와 도 2b는 검사 대상 제품이 놓여지는 제품 측정 안착부(240, 240-1)의 채널 수에 있어서만 차이가 있을 뿐 나머지 구성요소 모두는 동일하다. 도 2a에 도시된 도면에서는 제품 측정 안착부(240)의 채널 수가 채널 1과 채널 2로 2개의 채널만이 도시되어 있는데 반해, 도 2b에는 제품 검사 장치(200)에 따라서 n개의 채널까지 확장될 수 있다는 것을 알 수 있다. 즉, 제품 측정 안착부(240-1)의 채널 수가 늘어남에 따라서 제품에 대한 검사 시간의 단축을 기대할 수 있다. 2A and 2B show only differences in the number of channels of the product
도 3은 도 2b에 도시된 제품 검사 장치(200)의 여러 대가 직렬로 연결되고 하나의 양품 배출 컨베이어(260)로 연결되어 있는 제품 검사 장치(200)의 다른 일례를 도시하는 도면이다. 이와 관련, 도면에서 알 수 있듯이 여러 대의 제품 검사 장치(200)를 통해 검사된 각각의 제품 검사 장치(200)의 양품들이 하나의 양품 배출 컨베이어(260)를 통해 배출된다. 따라서, 각각의 제품 검사 장치(200)의 숫자만큼 필요한 완성된 제품의 적재 인원이 1명으로 줄어들게 됨에 따라서 검사 인원의 최소화 및 비용 절감의 효과를 기대할 수 있게 된다. FIG. 3 is a view showing another example of the
도 4는 도 2b에 도시된 제품 검사 장치(200)의 여러 대가 병렬로 연결되고 제품 검사 장치(200) 각각에 설치되어 있는 제1 양품 배출 컨베이어(260)와 이들 제1 양품 배출 컨베이어(260)들로부터 배출되는 양품을 운반하기 위한 제2 양품 배출 컨베이어(270)를 포함하는 제품 검사 장치(200)의 다른 일례를 도시하는 도면이다. 도 4에 도시되어 있는 제품 검사 장치(200)의 경우 도 3에 도시된 제품 검사 장치(200)와 달리 개개의 장치(200)에 양품 배출 컨베이어(260)가 설치되어 있다. 이들 개개의 양품 배출 컨베이어(260)와 별도로 각각의 제품 검사 장치(200)의 양품 배출 컨베이어(260)로부터 배출되는 양품을 수집하여 운반하기 위한 별도의 폭이 넓은 양품 운반 컨베이어(260-1)가 설치되어 있다. 이때 각각의 제품 검사 장치(200)에 설치되어 있는 양품 배출 컨베이어(260)의 길이는 서로 상이하므로 배출된 제품이 양품 운반 컨베이어(260-1)상에 놓여지는 양품의 위치 역시 서로 다르게 된다. 도 4에서는 3개의 위치만이 도시되었지만 양품의 클래스 구분에 따라서 양품이 놓여지는 위치가 늘어날 수도 있다. 이와 같이, 제품 검사 장치(200)를 배치함으로써, 도 3에 대한 설명에서 기술한 바와 같이 각각의 제품 검사 장치(200)의 숫자만큼 필요한 완성된 제품의 적재 인원이 1명으로 줄어들게 됨에 따라서 검사 인원의 최소화 및 비용 절감의 효과를 기대할 수 있게 된다. FIG. 4 is a sectional view of the
도 5는 본 발명의 제품 검사 장치(200)를 통해 이루어지는 제품 검사에 대한 단계를 도시하는 흐름도이다. 5 is a flowchart showing the steps for product inspection performed through the
제품 검사를 위해 도 1의 컴퓨터 장치(110)로부터 측정 명령이 제품 검사 장치(200)에 전송되면 제품 검사 장치(200)는 측정기(120)에 설정되어 있는 검사 측정 항목 및 검사 스펙에 따라서 제품 검사 프로세스를 시작하게 된다(단계 510). 제품 검사 시작에 따라서 제품 공급 인원은 검사 대상 제품을 검사 파레트(210)에 적재시킨다(단계 520). 검사 파레트(210)에 안착된 제품은 검사 파레트 컨베이어(220)를 통해 제품 공급 로더(230)로 운반되며, 설정된 위치에 도착하면 제품 공급 로더(230)는 감지 센서에 의해 검사 파레트(210)의 도착을 감지한 후 검사 파레트(210)에 적재되어 있는 제품을 픽업하여 제품 측정 안착부(240)에 안착시킨다(단계 530). 이어 안착과 동시에 제품 공급 로더(230)에 부착된 헤더(header)가 하강하면 센서가 동작되고 제품에 대한 검사 시작 명령을 장치내의 프로세서가 컴퓨터 장치(110)에 명령을 전송하고 제품 측정 안착부(240)의 채널에 안착된 제품에 대해 검사 대상 항목에 대한 검사를 수행하며(단계 540), 측정된 전 채널의 결과가 프로그램 로직 컨트롤러(PLC)(150)와 컴퓨터 장치(110)에 전달된다(단계 550). 측정 결과를 전달받은 후 제품 공급 로더(230)는 검사 파레트(210)에 적재되어 있는 다음 제품의 픽업을 위해 제품 측정 안착부(240)로부터 원래의 위치로 이동하며, 제품 배출 로더(250)는 검사 완료된 제품의 픽업을 위해 제품 측정 안착부(240)로 이동한다(단계 560). 제품 측정 안착부(240)로 이동된 제품 배출 로더(250)는 검사가 완료된 제품을 픽업하게 된다(단계 570). 이후 검사된 제품에 대한 결과가 모두 합격인 경우 양품 배출 컨베이어(260)로 배출되며(단계 590-1), 검사된 제품의 결과가 합격과 불합격 모두를 포함하고 있는 경우 단계(590)로 진행하게 된다(단계 580). 단계(590)에서는 제품의 검사 결과에 따라서 불량품의 경우에는 불량의 유형에 따라서 각각의 불량품 수집 박스(270)로 제품이 배출되고, 양품의 경우에는 양품 배출 컨베이어(260)로 배출되며, 제품 검사의 1 사이클이 종료된다. When the measurement command is transmitted from the computer device 110 of FIG. 1 to the
상기 검사의 경우 마이크로스피커 단품을 기준으로 기술되었지만 마이크로스피커를 포함하는 인클로저의 경우 검사 대상 항목이나 검사 스펙에 있어서 일부 달라지는 점이 있을 수는 있으나, 그럼에도 불구하고 본 발명의 마이크로스피커 품질 검사 장치 및 방법을 이용하여 인클로저 및 그 밖의 각종 스피커 제품에 대해 동일한 검사가 수행될 수 있다는 것은 통상의 기술자에게는 자명한 사항이다. In the case of the inspection, although the micro speaker is described as a reference, the enclosure including the micro speaker may have some differences in the inspection target item or the inspection specification. Nevertheless, the micro speaker quality inspection apparatus and method of the present invention It is obvious to those of ordinary skill in the art that the same inspection can be performed on an enclosure and various other speaker products using the same.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명은 상술한 특정의 바람직한 실시 예에 한정되지 아니하며, 청구범위에서 청구하는 본 발명의 요지를 벗어남이 없이 당해 발명이 속하는 기술 분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 누구든지 다양한 변형의 실시가 가능한 것은 물론이고, 그와 같은 변경은 청구범위 기재의 범위 내에 있게 된다.It will be apparent to those skilled in the art that various modifications and variations can be made in the present invention without departing from the spirit or scope of the general inventive concept as defined by the appended claims. It is to be understood that modifications are possible and that such modifications are within the scope of the claims.
110 : 컴퓨터 장치
120 : 측정기
130 : 마이크로스피커
140 : 마이크
150 : 프로그램 로직 컨트롤러
210 : 검사 파레트
220 : 검사 파레트 컨베이어
230 : 제품 공급 로더
240 : 제품 측정 안착부
250 : 제품 배출 로더
260 : 양품 배출 컨베이어
270 : 불량품 수집 박스110: computer device 120: measuring instrument
130: Micro speaker 140: Microphone
150: program logic controller 210: inspection palette
220: Inspection pallet conveyor 230: Product supply loader
240: product measurement seating part 250: product discharge loader
260: Good product discharge conveyor 270: Defective collection box
Claims (18)
컴퓨터로부터 입력된 검사 대상 측정항목 및 검사 스펙에 따라서 마이크로스피커를 검사하기 위한 측정기; 그리고
측정기로부터 분석된 검사 결과 데이터를 수신하기 위한 프로그램 로직 컨트롤러(PLC)를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 측정 시스템.A computer device for inputting an inspection target measurement item and an inspection specification to the measuring device;
A meter for inspecting the micro speaker according to the inspection target measurement item input from the computer and the inspection specification; And
And a program logic controller (PLC) for receiving the test result data analyzed from the meter.
측정기에 연결되어 마이크로스피커로부터 소리를 수신하기 위한 마이크를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 측정 시스템. The method according to claim 1,
Further comprising a microphone connected to the meter for receiving sound from the micro speaker.
컴퓨터 장치는 측정기로부터 전송된 검사 결과를 표시하기 위한 모니터를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 측정 시스템.The method according to claim 1,
Wherein the computer device further comprises a monitor for displaying a test result transmitted from the measuring device.
검사 파레트를 운반하기 위한 검사 파레트 컨베이어;
검사 파레트 컨베이어를 통해 운반되는 검사 대상 제품을 픽업하기 위한 제품 공급 로더;
제품 공급 로더에 의해 픽업된 검사 대상 제품이 안착되는 제품 측정 안착부;
검사가 완료된 제품을 픽업하기 위한 제품 배출 로더;
제품 배출 로더로부터 배출된 양품을 운반하기 위한 양품 운반 컨베이어; 그리고
제품 배출 로더로부터 배출된 불량품을 수집하기 위한 불량품 수집 박스들을 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 검사 장치.A inspection pallet on which a product to be inspected is loaded;
An inspection pallet conveyor for conveying inspection pallets;
A product supply loader for picking up a product to be inspected carried by the inspection pallet conveyor;
A product measurement seating part on which a product to be inspected picked up by the product supply loader is seated;
A product discharge loader for picking up the inspected product;
A good goods conveying conveyor for conveying good goods discharged from the product discharge loader; And
And a defective product collection box for collecting defective products discharged from the product discharge loader.
검사 파레트 컨베이어는 회전형 컨베이어인 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 검사 장치.5. The method of claim 4,
Wherein the inspection pallet conveyor is a rotatable conveyor.
제품 공급 로더는 제품 검사를 위한 측정 헤드를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 검사 장치.5. The method of claim 4,
Wherein the product supply loader further comprises a measurement head for product inspection.
제품 공급 로더는 픽업된 제품들간의 피치와 제품 측정 안착부의 채널들간의 피치가 상이한 경우 피치를 일치시키기 위한 피치 조절 장치를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 검사 장치.5. The method of claim 4,
Wherein the product supply loader further comprises a pitch adjusting device for matching the pitches when the pitch between the picked-up products and the pitches of the channels of the product measurement seating part are different.
제품 측정 안착부는 복수 개의 채널로 구성되어 있는 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 검사 장치.5. The method of claim 4,
Wherein the product measurement seating part comprises a plurality of channels.
제품 배출 로더는 검사 결과에 따라 양품과 불량품으로 구분하여 배출하는 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 검사 장치. 5. The method of claim 4,
Wherein the product discharge loader is divided into a good product and a defective product according to a result of inspection.
제품 배출 로더는 양품을 클래스 구분하여 배출하는 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 검사 장치.10. The method of claim 9,
Wherein the product discharge loader classifies and outputs the good products in class.
제품 배출 로더는 불량품을 유형별로 구분하여 배출하는 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 검사 장치.10. The method of claim 9,
Wherein the product discharging loader discharges the defective products by type.
불량품 수집 박스는 불량의 유형별로 구별되는 박스인 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 검사 장치.5. The method of claim 4,
Wherein the defective product collection box is a box distinguished by type of defects.
각각의 제품 검사 장치에 대응되는 검사 파레트 컨베이어; 그리고
다수의 제품 검사 장치를 연결하는 하나의 양품 배출 컨베이어를 포함하는 것을 특징으로 하는 직렬 연결형 마이크로스피커 품질 검사 장치.A plurality of product inspection devices;
An inspection pallet conveyor corresponding to each product inspection apparatus; And
And a single good discharge conveyor for connecting a plurality of product inspection apparatuses.
각각의 제품 검사 장치에 대응되는 검사 파레트 컨베이어;
각각의 제품 검사 장치에 대응되는 제1 양품 배출 컨베이어; 그리고
각각의 제품 검사 장치의 제1 양품 배출 컨베이어를 통해 배출되는 양품을 운반하기 위한 제2 양품 배출 컨베이어를 포함하는 것을 특징으로 하는 병렬 연결형 마이크로스피커 품질 검사 장치.A plurality of product inspection devices;
An inspection pallet conveyor corresponding to each product inspection apparatus;
A first good article discharge conveyor corresponding to each product inspection apparatus; And
And a second good-quality discharge conveyor for conveying good products discharged through the first good-quality discharge conveyor of each of the product inspection apparatuses.
각각의 제1 양품 배출 컨베이어의 길이는 서로 상이한 것을 특징으로 하는 병렬 연결형 마이크로스피커 품질 검사 장치.15. The method of claim 14,
And the lengths of the first good product discharge conveyors are different from each other.
제2 양품 배출 컨베이어의 폭이 제1 양품 배출 컨베이어의 폭 보다 넓은 것을 특징으로 하는 병렬 연결형 마이크로스피커 품질 검사 장치.15. The method of claim 14,
Wherein the width of the second good product discharge conveyor is wider than the width of the first good product discharge conveyor.
검사에 필요한 마스터 샘플 데이터(Master sample data)를 입력하는 단계;
각 항목에 대한 측정 마스크(Mask)를 설정하는 단계;
컴퓨터를 통해 검사 시작 명령을 실행하는 단계;
측정기가 마이크로스피커에 검사 신호를 출력하는 단계;
마이크로스피커에서 발생된 소리를 마이크에 전달하는 단계;
측정기가 마이크에 입력된 소리를 분석하는 단계;
분석 데이터와 합격/불합격 판정 결과를 프로그램 로직 컨트롤러(PLC)에 전달하는 단계;
컴퓨터 모니터상에 측정 결과를 표시하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 마이크로스피커 품질 측정 방법. Setting a measurement item and an inspection specification in a computer;
Inputting master sample data necessary for inspection;
Setting a measurement mask for each item;
Executing a test start command through a computer;
Outputting an inspection signal to the micro speaker;
Transmitting sound generated from the micro speaker to a microphone;
Analyzing a sound input to the microphone by the meter;
Transferring the analysis data and a pass / fail determination result to a program logic controller (PLC);
And displaying the measurement result on a computer monitor.
제품 공급 로더가 제품을 픽업한 후 제품 측정 안착부에 안착시키는 단계;
제품을 측정하는 단계;
측정이 완료된 후 제품 공급 로더는 검사 파레트로 이동하고 제품 배출 로더는 제품 측정 안착부로 이동하는 단계;
제품 배출 로더가 측정된 제품을 픽업하는 단계;
측정 결과에 따라서 양품은 양품 컨베이어 벨트로 배출되며 불량품은 불량 유형에 따라 해당 불량품 수집 박스로 배출되는 단계를 포함하는 것을 특징으로 마이크로스피커 품질 검사 방법. Loading the product into the inspection pallet;
Placing the product supply loader on the product measurement mount after picking up the product;
Measuring a product;
Moving the product supply loader to the inspection pallet after the measurement is completed and moving the product discharge loader to the product measurement mount;
The product discharge loader picking up the measured product;
And discharging the good product to the defective product collecting box according to the defective type according to the measurement result.
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---|---|---|---|
KR1020130150799A KR20150065451A (en) | 2013-12-05 | 2013-12-05 | Apparatus and method for automatically testing a quality of microspeaker |
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Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
KR102067960B1 (en) * | 2019-10-21 | 2020-01-20 | 아이모스시스템 주식회사 | Speaker Automatic Inspection Device for Speaker Automation Production |
KR102219803B1 (en) | 2020-11-23 | 2021-02-25 | 주식회사 투인리브 | System for counselling mentality with movie card |
-
2013
- 2013-12-05 KR KR1020130150799A patent/KR20150065451A/en not_active Application Discontinuation
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