KR20140137623A - 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법 - Google Patents

Abstract

개시된 발명의 일 측면은, 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 사용자에게 전달함으로써 사용자로 하여금 환자가 느끼는 압착 강도를 간접적으로 느낄 수 있게 하고, 이를 토대로 환자의 상태에 맞는 정확한 압착을 가능하게 하는 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법을 제공한다.
개시된 발명의 일 측면에 따른 유방 엑스선 영상을 촬영하는 엑스선 영상 장치는, 상기 유방에 엑스선을 조사하는 엑스선 소스; 상기 유방을 투과한 엑스선을 검출하는 검출기 어셈블리; 상기 검출기 어셈블리 위에 위치하는 유방을 압착하는 압착 패들; 상기 압착 패들의 조작에 관한 사용자의 명령을 입력 받는 패들 조작부; 상기 압착 패들에 의한 상기 유방의 압착 강도를 측정하는 압착 강도 감지부; 상기 측정된 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 압력 제어부를 포함한다.

Description

엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법{X-RAYIMAGING APPARATUS AND CONTROL METHOD FOR THE SAME}

본 발명은 대상체, 특히 유방에 엑스선을 투과시켜 엑스선 영상을 생성하는 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법에 관한 것이다.

엑스선 영상 장치는 대상체에 엑스선을 조사하고 대상체를 투과한 엑스선을 이용하여 대상체의 내부 영상을 획득할 수 있는 장치이다. 대상체를 구성하는 물질의 특성에 따라 엑스선의 투과성이 다르므로, 대상체를 투과한 엑스선의 세기 또는 강도를 검출하여 대상체의 내부구조를 영상화할 수 있다.

엑스선 영상 장치 중에서 대상체를 유방으로 하는 엑스선 영상 장치는 다른 부위를 대상체로 하는 엑스선 영상 장치와 다른 구조적인 특징을 갖고 있다. 유방은 유선 조직과 지방 조직이 발달한 부위이기 때문에, 엑스선 소스와 엑스선 검출기 사이에 위치한 유방을 압착 패들로 압착한 상태에서 엑스선 촬영을 수행해야 유방의 내부 구조를 명확히 나타내는 엑스선 영상을 얻을 수 있다. 이를 위해 유방을 버키(bucky)의 상부에 위치시키고 압착 패들이 유방을 압착한다.

유방의 압착 강도는 수치적인 정보로 표시되고, 압착 패들을 조작하는 방사선사는 이 수치적인 정보를 보고 현재 유방의 압착 강도를 파악하여 압착 정도를 조절할 수 있다. 그러나, 유방의 압착 강도가 수치적인 정보로만 제공되면 방사선사는 환자가 느끼는 압착 강도를 정확히 파악하기 어렵고, 유방의 위치를 조절하는 등의 다른 작업으로 인해 압착 강도가 표시된 화면을 보지 못한 경우에는 원활한 압착 작업이 이루어지기 어렵다.

개시된 발명의 일 측면은, 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 사용자에게 전달함으로써 사용자로 하여금 환자가 느끼는 압착 강도를 간접적으로 느낄 수 있게 하고, 이를 토대로 환자의 상태에 맞는 정확한 압착을 가능하게 하는 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법을 제공한다.

개시된 발명의 일 측면에 따른 유방 엑스선 영상을 촬영하는 엑스선 영상 장치는, 상기 유방에 엑스선을 조사하는 엑스선 소스; 상기 유방을 투과한 엑스선을 검출하는 검출기 어셈블리; 상기 검출기 어셈블리 위에 위치하는 유방을 압착하는 압착 패들; 상기 압착 패들의 조작에 관한 사용자의 명령을 입력 받는 패들 조작부; 상기 압착 패들에 의한 상기 유방의 압착 강도를 측정하는 압착 강도 감지부; 상기 측정된 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 압력 제어부를 포함한다.

상기 패들 조작부는, 유체가 수용되는 유체 수용부를 포함하고, 상기 압력 제어부는, 상기 유체 수용부에 수용되는 유체의 양을 상기 유방의 압착 강도에 따라 제어할 수 있다.

상기 압력 제어부는, 상기 유방의 압착 강도와 선형적으로 비례하는 압력을 상기 패들 조작부에 제공할 수 있다.

상기 유방의 압착 강도와 상기 패들 제어부에 제공되는 압력 사이의 비례 상수는 0보다 크고 1보다 작은 값을 가질 수 있다.

상기 압력 제어부는, 상기 유방의 압착 강도와 동일한 압력을 상기 패들 조작부에 제공할 수 있다.

상기 압력 제어부는, 상기 유방의 압착 강도와 비선형적으로 비례하는 압력을 상기 패들 조작부에 제공할 수 있다.

상기 압력 제어부는, 상기 유방의 압착 강도가 커질수록 상기 패들 조작부에 제공되는 압력의 증가율을 감소시킬 수 있다.

상기 압력 제어부는, 상기 유방의 압착 강도가 커질수록 상기 패들 조작부에 제공되는 압력의 증가율을 증가시킬 수 있다.

상기 압착 강도 감지부는, 실시간 또는 일정 시간 간격으로 상기 유방의 압착 강도를 측정할 수 있다.

개시된 발명의 일 측면에 따른 유방을 압착하는 압착 패들 및 상기 압착 패들의 이동에 관한 명령을 입력 받는 패들 조작부를 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법은, 상기 패들 조작부를 통해 입력된 명령에 따라 상기 압착 패들을 이동시켜 상기 유방을 압착하는 단계; 상기 유방의 압착 강도를 측정하는 단계; 및 상기 측정된 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 단계를 포함한다.

상기 유방의 압착 강도를 측정하는 단계는, 실시간 또는 일정 시간 간격으로 수행될 수 있다.

개시된 발명의 일 측면에 의하면, 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 사용자에게 전달함으로써 사용자로 하여금 환자가 느끼는 압착 강도를 간접적으로 느낄 수 있게 하고, 이를 토대로 환자의 상태에 맞는 안전하고 정확한 압착이 가능하게 된다.

도 1은 개시된 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치의 제어 블록도이다.
도 2a는 엑스선 튜브의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 2b는 엑스선 검출기의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 3은 유방의 내부 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 4는 유방을 구성하는 물질들의 감쇠 계수를 개략적으로 나타낸 그래프이다.
도 5는 개시된 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치의 외관도이다.
도 6a 및 도 6b는 풋 버튼으로 구현되는 패들 조작부의 일 예시에 따른 구조를 개략적으로 나타낸 측면도이다.
도 7은 압착 강도의 측정 원리를 개략적으로 나타낸 도면이다.
도 8은 패들 조작부가 구체화된 엑스선 영상 장치의 제어 블록도이다.
도 9a 내지 도 9c는 패들 조작부의 구조를 개략적으로 나타낸 측면도다.
도 10은 측정된 압착 강도와 패들 조작부에 제공되는 압력의 관계를 개략적으로 나타낸 그래프이다.
도 11a 및 도 11b에는 손으로 조작되는 패들 조작부의 예시가 도시되어 있다.
도 12는 개시된 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치의 제어 방법에 관한 순서도이다.

이하 첨부된 도면을 참조하여 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법의 실시예를 상세하게 설명하도록 한다.

도 1은 개시된 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치의 제어 블록도이다.

도 1을 참조하면, 엑스선 영상 장치(100)는 엑스선을 발생시켜 대상체(30)에 조사하는 엑스선 소스(110), 대상체(30)를 투과한 엑스선을 검출하는 검출기 어셈블리(120), 대상체(30)를 압착하는 압착 패들(131), 압착 패들(131)을 구동하는 패들 구동부(133), 사용자의 조작에 따라 압착 패들(31)의 이동을 제어하는 패들 조작부(150), 대상체(30)의 압착 강도를 측정하는 압착 강도 감지부(141), 측정된 압착 강도에 대응되는 압력을 패들 조작부(150)에 인가하는 압력 제어부(143)를 포함할 수 있다.

도 2a는 엑스선 튜브의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 2b는 엑스선 검출기의 구성을 개략적으로 나타낸 도면이다.

엑스선 소스(110)는 엑스선을 발생시키는 엑스선 튜브(111)를 포함하며, 엑스선 튜브 헤드 또는 엑스선 튜브 어셈블리라고도 한다. 도 2a를 참조하면, 엑스선 튜브(111)는 양극(111c)과 음극(111e)을 포함하는 2극 진공관(111a)으로 구현될 수 있고, 관체는 규산경질 유리 등을 재료로 하는 유리관일 수 있다.

음극(111e)은 필라멘트(111h)와 전자를 집속시키는 집속 전극(111g)을 포함하며, 집속 전극(111g)은 포커싱 컵(focusing cup)이라고도 한다. 유리관(111a) 내부를 약 10mmHg 정도의 고진공 상태로 만들고 음극의 필라멘트(111h)를 고온으로 가열하여 열전자를 발생시킨다. 필라멘트(111h)의 일 예로 텅스텐 필라멘트를 사용할 수 있고 필라멘트에 연결된 전기도선(111f)에 전류를 가하여 필라멘트(111h)를 가열할 수 있다.

양극(111c)은 주로 구리로 구성되고, 음극(111e)과 마주보는 쪽에 타겟 물질(111d)이 도포 또는 배치되며, 타겟 물질로는 Cr, Fe, Co, Ni, W, Mo 등의 고저항 재료들이 사용될 수 있다. 타겟 물질의 녹는점이 높을수록 초점 크기(focal spot size)가 작아진다.

그리고 음극(111e)과 양극(111c) 사이에 고전압을 걸어주면 열전자가 가속되어 양극의 타겟 물질(111d)에 충돌하면서 엑스선을 발생시킨다. 발생된 엑스선은 윈도우(111i)를 통해 외부로 조사되며, 윈도우의 재료로는 베릴륨(Be) 박막을 사용할 수 있다. 이 때, 윈도우(111i)의 전면 또는 후면에는 필터를 위치시켜 특정 에너지 대역의 엑스선을 필터링할 수 있다.

타겟 물질(111d)은 로터(111b)에 의해 회전할 수 있으며, 타겟 물질(111d)이 회전하게 되면 고정된 경우에 비해 열 축적율이 단위 면적당 10배 이상 증대될 수 있고, 초점 크기가 감소된다.

엑스선 튜브(111)의 음극(111e)과 양극(111c) 사이에 가해지는 전압을 관전압이라 하며, 그 크기는 파고치kvp로 표시할 수 있다. 관전압이 증가하면 열전자의 속도가 증가되고 결과적으로 타겟 물질에 충돌하여 발생되는 엑스선의 에너지(광자의 에너지)가 증가된다. 엑스선 튜브(111)에 흐르는 전류는 관전류라 하며 평균치 mA로 표시할 수 있고, 관전류가 증가하면 엑스선의 선량(엑스선 광자의 수)이 증가된다.

따라서, 관전압에 의해 엑스선의 에너지가 제어될 수 있고, 관전류 및 엑스선 노출 시간에 의해 엑스선의 세기 또는 선량이 제어될 수 있는바, 대상체(30)의 종류나 특성에 따라 조사되는 엑스선의 에너지 및 세기를 제어할 수 있다.

조사되는 엑스선이 일정 에너지 대역을 갖는 경우, 에너지 대역은 상한과 하한에 의해 정의될 수 있다. 에너지 대역의 상한, 즉 조사되는 엑스선의 최대 에너지는 관전압의 크기에 의해 조절될 수 있고, 에너지 대역의 하한, 즉 조사되는 엑스선의 최소 에너지는 필터에 의해 조절될 수 있다. 필터를 이용하여 저에너지 대역의 엑스선을 여과시키면, 조사되는 엑스선의 평균 에너지를 높일 수 있다.

아울러, 도면에는 도시되지 않았으나 엑스선 소스(110)는 윈도우(111i)의 전면에 배치되는 콜리메이터(collimator)를 더 포함할 수 있는바, 콜리메이터는 엑스선 튜브(111)에서 조사되는 엑스선의 조사 범위를 조절할 수 있고, 엑스선의 산란을 감소시킬 수 있다.

엑스선 소스(110)로부터 대상체(30)에 엑스선이 조사되면, 대상체(30)를 투과한 엑스선은 검출기 어셈블리(120)에 의해 검출된다. 검출기 어셈블리(120)는 엑스선을 검출하는 엑스선 검출기(121)를 포함한다.

일반적으로, 엑스선 검출기는 재료 구성 방식, 검출된 엑스선을 전기적인 신호로 변환시키는 방식 및 영상 신호를 획득하는 방식에 따라 구분될 수 있다.

먼저, 엑스선 검출기는 재료 구성 방식에 따라 단일형 소자로 구성되는 경우와 혼성형 소자로 구성되는 경우로 구분된다.

단일형 소자로 구성되는 경우는, 엑스선을 검출하여 전기적 신호를 발생시키는 부분과 전기적 신호를 읽고 처리하는 부분이 단일 소재의 반도체로 구성되거나, 단일 공정으로 제조되는 경우에 해당하며, 예를 들어, 수광 소자인 CCD(Charge Coupled Device)나 CMOS(Complementary Metal Oxide Semiconductor)를 단일하게 이용하는 경우이다.

혼성형 소자로 구성되는 경우는, 엑스선을 검출하여 전기적 신호를 발생시키는 부분과 전기적 신호를 읽고 처리하는 부분이 각기 다른 소재로 구성되거나, 다른 공정으로 제조되는 경우에 해당한다. 예를 들어, 포토다이오드나 CdZnTe 등의 수광 소자를 이용하여 엑스선을 검출하고 CMOS ROIC(Read Out Intergrated Circuit)을 이용하여 전기적 신호를 읽고 처리하는 경우, 스트립 검출기를 이용하여 엑스선을 검출하고 CMOS ROIC를 이용하여 전기적 신호를 읽고 처리하는 경우 및 a-Si 또는 a-Se 플랫 패널 시스템을 이용하는 경우 등이 있다.

그리고, 엑스선 검출기는 엑스선을 전기적 신호로 변환시키는 방식에 따라 직접변환방식과 간접변환방식으로 구분된다.

엑스선이 조사되면 수광 소자 내부에 일시적으로 전자-정공 쌍이 생성되고, 수광 소자의 양단에 인가되어 있는 전장에 의해 전자는 양극으로 정공은 음극으로 이동하는바, 직접 변환 방식에서는 엑스선 검출기가 이러한 이동을 전기적 신호로 변환한다. 직접변환방식에서 수광 소자에 사용되는 물질은 a-Se, CdZnTe, HgI₂, PbI₂ 등이 있다.

간접변환방식에서는, 수광 소자와 엑스선 소스 사이에 섬광체(scintillator)를 구비하여 엑스선 소스에서 조사된 엑스선이 섬광체와 반응하여 가시광 영역의 파장을 갖는 광자(photon)를 방출하면 이를 수광 소자가 감지하여 전기적 신호로 변환한다. 간접변환방식에서 수광 소자로 사용되는 물질은 a-Si 등이 있고, 섬광체로는 박막 형태의 GADOX 섬광체, 마이크로 기둥형 또는 바늘 구조형 CSI(T1) 등이 사용될 수 있다.

또한, 엑스선 검출기는 영상 신호를 획득하는 방식에 따라, 전하를 일정시간 동안 저장한 후에 그로부터 신호를 획득하는 전하 누적 방식(Charge Integration Mode)과 단일 엑스선 광자에 의해 신호가 발생될 때마다 문턱 에너지(threshold energy) 이상의 에너지를 갖는 광자를 계수하는 광자 계수 방식(Photon Counting Mode)으로 구분된다.

개시된 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치(100)는 엑스선 검출기(121)를 구현함에 있어 전술한 다양한 방식 중 어느 것이든 적용할 수 있다. 아울러, 개시된 발명의 실시예가 전술한 방식에 한정되는 것도 아니며, 전술한 방식 외에 엑스선을 검출하여 전기적 신호로 변환하고 영상 신호를 획득하는 다른 방식이 적용되는 것도 가능하다.

이하 구체적인 설명을 위해 엑스선으로부터 전기 신호를 직접 획득하는 직접 변환 방식 및 엑스선을 검출하는 수광 소자와 독출 회로 칩이 결합되는 하이브리드 방식이 적용된 엑스선 검출기(121)의 구조를 설명하도록 한다.

도 2b를 참조하면, 엑스선 검출기(121)는 엑스선을 검출하여 전기적인 신호로 변환하는 수광 소자(121-1)와 전기적인 신호를 읽어 내는 독출 회로(121-2)를 포함한다. 여기서, 독출 회로(121-2)는 복수의 픽셀 영역을 포함하는 2차원 픽셀 어레이 형태로 이루어진다. 수광 소자(121-1)를 구성하는 물질로는 낮은 에너지와 적은 선량에서의 높은 해상도와 빠른 응답 시간 및 높은 동적 영역을 확보하기 위하여 단결정 반도체 물질을 사용할 수 있고, 단결정 반도체 물질은 Ge, CdTe, CdZnTe, GaAs 등이 있다.

수광 소자(121-1)는 고저항의 n형 반도체 기판(121-1b)의 하부에 p형 반도체가 2차원 픽셀 어레이 구조로 배열된 p형 층(121-1c)을 접합하여 PIN 포토다이오드 형태로 형성할 수 있고, CMOS 공정을 이용한 독출 회로(121-2)는 각 픽셀 별로 수광 소자(121-1)와 결합된다. CMOS 독출 회로(121-2)와 수광 소자(121-1)는 플립 칩 본딩 방식으로 결합할 수 있는바, 땜납(PbSn), 인듐(In) 등의 범프(bump)(121-3)를 형성한 후 reflow하고 열을 가하며 압착하는 방식으로 결합할 수 있다. 다만, 상술한 구조는 엑스선 검출기(121)의 일 예시에 불과하며, 엑스선 검출기(121)의 구조가 이에 한정되는 것은 아니다.

한편, 도면에 도시하지는 않았으나, 엑스선 검출기(121)의 전방(前方)에는 엑스선의 산란을 방지하기 위한 엑스선 그리드(grid)가 배치될 수 있다.

엑스선의 광자(photon)가 수광 소자(121-1)에 입사하게 되면 가전도대에 있던 전자들이 광자의 에너지를 전달 받아 밴드 갭 에너지 차이를 넘어 전도대로 여기 된다. 이로써 공핍 영역에서 전자-정공 쌍이 발생된다.

수광 소자(121-1)의 P형 층(121-1c)과 n형 기판(121-1b)에 각각 메탈 전극을 형성하고 역방향 바이어스를 걸어주면 공핍 영역에서 발생된 전자-정공 쌍 중 전자는 n형 영역으로, 정공은 p형 영역으로 끌려간다. 그리고, p형 영역으로 끌려간 정공이 범프 본딩(121-3)을 통해 독출 회로(121-2)로 입력되어 광자에 의해 발생된 전기 신호를 읽을 수 있도록 한다. 그러나, 수광 소자(121-1)의 구조와 걸어주는 전압 등에 따라 독출 회로(121-2)에 전자가 입력되어 전기 신호를 생성하는 것도 가능하다.

독출 회로(121-2)는 수광 소자(121-1)의 p형 반도체(121-1c)와 대응되는 2차원 픽셀 어레이 구조로 형성될 수 있으며, 각 픽셀 별로 전기 신호를 읽어 낸다. 범프본딩(123)을 통해 수광 소자(121)에서 독출 회로(122)로 전하가 입력되면, 독출 회로(122)는 그 회로 구성에 따라 전압 신호 또는 광자의 수로 표현되는 영상 신호를 출력한다.

엑스선 검출기(121)에서 출력된 영상 신호는 영상 처리부(161)로 입력되고, 영상 처리부(161)는 입력된 영상 신호를 처리하여 유방의 엑스선 영상을 생성한다.

도 3은 유방의 내부 구성을 개략적으로 나타낸 도면이고, 도 4는 유방을 구성하는 물질들의 감쇠 계수를 개략적으로 나타낸 그래프이다.

도 3을 참조하면, 유방(30)의 조직은 유방의 둘레를 둘러싸면서 형태를 유지시켜주는 섬유 조직(31), 유방 전체에 분포되는 지방 조직(32), 모유를 생산하는 유선 조직(33), 모유의 이동 통로인 유관 조직(34) 등으로 구성된다. 이 중에서 유선 조직(33)과 유관 조직(34) 등 모유의 생산과 공급에 관계되는 조직을 유방의 실질 조직(fibroglandular tissue)이라 한다.

감쇠 계수(attenuation coefficient)는 엑스선이 투과하면서 감쇠되는 정도를 나타내는 데이터로서, 대상체의 내부를 구성하는 구성 물질마다 감쇠 계수가 다르므로 엑스선을 투과시켜 대상체의 내부를 영상화할 수 있는 것이다.

유방이 연조직으로만 이루어져 있기 때문에 도 4에 도시된 바와 같이, 유방을 구성하는 구성 물질들의 감쇠 계수 차이가 크지 않다. 따라서, 최대한 선명한 엑스선 영상을 획득하기 위해 구성 물질들 간의 감쇠 계수 차이가 상대적으로 크게 나타나는 저에너지 대역의 엑스선을 조사한다. 저에너지 대역의 엑스선을 조사하기 위해서는 전술한 바와 같이, 엑스선 튜브(111)에 공급되는 관전압의 크기를 작게 한다. 일 예로서, 유방을 대상체(30)로 하는 경우에는 30kvp의 관전압을 공급하여 최대 에너지를 30kev로 하는 엑스선을 조사할 수 있다.

한편, 저에너지 대역의 엑스선은 물질에 대한 투과율이 작기 때문에 선명한 엑스선 영상을 얻기 위해서는 압착 패들(131)로 유방을 압착하여 두께를 얇게 만드는 것이 필요하다. 아울러, 유방의 두께가 감소되면 엑스선 노출량도 감소시킬 수 있고, 유방이 압착되면 유방을 구성하는 물질들이 엑스선 조사 방향으로 겹쳐지지 않고 펼쳐질 수 있어 영상의 품질을 향상시키는데 도움이 된다.

따라서, 유방의 엑스선 영상을 촬영함에 있어 유방을 압착시키는 것은 매우 중요한 제어 요소가 된다.

도 5는 개시된 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치의 외관도이다.

엑스선 영상 장치(100)는 유방의 엑스선 영상을 촬영하는데 사용된다. 즉, 대상체(30)를 유방으로 한다. 개시된 발명의 일 실시예에서, 대상체(object)는 엑스선 영상 장치(100)를 이용한 진단의 대상이 되는 피검체(subject)의 피검 부위를 의미하고, 피검체는 인체를 포함한 생체일 수 있다. 유방의 특성 상 유방을 촬영하는 엑스선 영상 장치는 일반 엑스선 영상 장치와는 다른 구조적인 특징들을 갖는 바, 그 중 하나가 유방을 압착시키는 압착 패들(131)이다. 이하 전술한 내용과 함께 도 5를 참조하여 엑스선 영상 장치(100)의 구조와 동작을 상세히 설명하도록 한다.

엑스선 소스(110)와 검출기 어셈블리(120)는 서로 마주보는 위치에서 프레임(103)에 연결된다. 프레임(103)은 암(105)을 통해 본체(101)와 연결될 수 있으며, 암(105)은 상하 방향으로 이동하여 피검체와 높이를 맞추거나 일정 각도로 회전하여 엑스선 영상 장치(100)가 대상체의 단층 영상 또는 3차원 영상을 획득하도록 하는 것도 가능하다.

엑스선 촬영을 수행할 때에는 엑스선 소스(110)와 검출기 어셈블리(120) 사이에 대상체(30)인 유방을 위치시켜, 엑스선 소스(110)에서 조사된 엑스선 중 유방을 투과한 엑스선이 검출기 어셈블리(120)에 의해 검출될 수 있도록 한다.

한편, 검출기 어셈블리(120)는 유방을 지지하는 지지대 또는 테이블의 역할도 수행하며 버키(bucky)라고도 불린다. 구체적으로, 검출기 어셈블리(120)는 그 내부에 엑스선을 검출하는 엑스선 검출기(121)를 포함하고, 유방과 접촉되는 유방 접촉부(123)를 더 포함한다. 유방 접촉부(123)는 엑스선의 투과율이 우수한 재질로 이루어질 수 있으며, 일 예로서 카본(carbon) 시트로 구현될 수 있다.

유방 접촉부(123) 위에 유방이 올려지면, 사용자가 패들 조작부(150)를 조작하여 압착 패들(131)을 상하 방향으로 이동시킬 수 있다.

사용자는 패들 조작부(150)를 통해 압착 패들(131)의 이동에 관한 명령을 입력할 수 있으며, 패들 조작부(150)는 패들 구동부(133)에 제어 신호를 전송하여 압착 패들(131)의 이동을 제어할 수 있다. 일 예로서, 패들 구동부(133)는 모터와 드라이브를 포함할 수 있으며 이 외에도 모터의 구동력을 압착 패들(131)에 전달하기 위한 기어 등의 구조물을 더 포함할 수 있다.

일 예로서, 패들 조작부(150)는 도 5에 도시된 바와 같이 풋 버튼(foot button) 또는 풋 페달(foot pedal) 형태로 구현될 수 있다. 패들 조작부(150)가 풋 버튼의 형태로 구현되면, 사용자는 손으로는 피검체의 유방의 위치를 조절하고 발로는 압착 패들(131)의 이동을 조절함으로써 유방의 압착을 효율적으로 진행할 수 있다.

패들 조작부(150)는 압착 패들(131)을 상측 방향으로 업(up)시키는 업 버튼(150u)과 하측 방향으로 다운(down)시키는 다운 버튼(150d)을 포함할 수 있으며, 사용자가 본체(101)를 기준으로 좌우 어느 방향에서도 압착 패들(131)을 이동시킬 수 있도록 좌우 양쪽에 모두 패들 조작부(150)가 구비될 수 있다. 다만, 도 5에 도시된 패들 조작부(150)의 형상은 패들 조작부(150)가 풋 버튼으로 구현될 수 있음을 나타내기 위해 개략적으로 도시된 것이고, 풋 버튼으로 구현되는 패들 조작부(150)가 반드시 도 5의 형상을 가져야 하는 것은 아니다.

도 6a 및 도 6b는 풋 버튼으로 구현되는 패들 조작부의 일 예시에 따른 구조를 개략적으로 나타낸 측면도이다. 도 6a 및 도 6b의 도면에는 압력을 제공받는 구조는 생략되어 있다.

도 6a 및 도 6b를 참조하면, 패들 조작부(150)는 스위치(154)가 내장된 하판(151), 외력에 의해 상하 방향으로 움직이는 상판(153)을 포함하고, 상판(153)의 일 단부는 지지대(152)에 회동 가능하게 장착될 수 있으며, 상판(153)의 반대쪽 단부에는 스위치(154)를 누르는 돌출부(155)가 형성될 수 있다.

상판(153)과 하판(151) 사이에는 탄성체(156)를 장착하여 상판(153)에 외력이 가해지지 않은 상태에서는 돌출부(155)가 스위치(154)를 누르지 않고, 상판(153)에 외력이 가해지면 돌출부(155)가 스위치(154)를 누르도록 할 수 있다. 일 예로서, 스위치(154)는 마이크로 스위치로 구현될 수 있다.

돌출부(155)가 스위치(154)를 누르면, 스위치(154)가 온(on) 되고, 돌출부(155)가 스위치(154)를 누르지 않으면, 스위치(154)가 오프(off)된다. 즉, 상판(153)에 외력이 가해지지 않은 상태, 즉 사용자가 패들 조작부(150)를 누르지 않은 상태는 오프 상태이고, 상판(153)에 외력이 가해진 상태, 즉 사용자가 패들 조작부(150)를 누른 상태는 온 상태이다. 단, 돌출부(155)는 생략될 수 있고, 상판(153)의 단부가 스위치(154)와 바로 접촉되는 것도 가능하다.

사용자가 패들 조작부(150)를 발로 밟아 스위치(154)를 온 시키면, 패들 구동부(133)에 온 신호가 전달되고, 패들 구동부(133)가 압착 패들(131)에 구동력을 제공하여 이동시킨다. 일 예로서, 사용자가다운 버튼(150d)을 누르면 압착 패들(131)이 아래로 내려가고, 업 버튼(150u)을 누르면 압착 패들(131)이 위로 올라갈 수 있다. 이 때, 압착 패들(131)의 이동 속도는 일정한 속도로 미리 설정될 수 있다.

사용자가 패들 조작부(150)를 누르고 있는 동안은 압착 패들(131)의 이동도 계속되고, 사용자가 패들 조작부(150)를 누르는 것을 멈추면 압착 패들(131)의 이동도 멈춘다. 따라서, 사용자는 패들 조작부(150)를 누르고 멈추는 동작을 반복하면서 압착 패들(131)의 이동을 세밀하게 조절할 수 있다.

도 6a 와 도 6b의 구조나 원리는 유사하나, 패들 조작부(150)를 누르는 발의 위치에 차이가 있다. 패들 조작부(150)가 도 6a의 구조를 갖는 경우에는 상판(153)의 두 단부 중 사용자에 가까운 쪽 단부를 누르게 되고, 패들 조작부(150)가 도 6b의 구조를 갖는 경우에는 사용자에 먼 쪽 단부를 누르게 된다. 엑스선 영상 장치(100)에 적용되는 패들 조작부(150)의 구조에는 제한이 없으나, 이하 상술할 실시예에서는 설명의 편의 상 도 6b의 구조를 적용하도록 한다.

압착 패들(131)에 의해 유방이 압착되면 압착 강도 감지부(141)가 유방의 압착 강도를 측정하여 디스플레이부(171)에 표시한다. 사용자는 디스플레이부(171)에 표시된 압착 강도를 확인하여 유방의 압착 강도를 조절하는데 참고할 수 있다. 그러나, 디스플레이부(171)에 표시된 정보만으로는 피검체가 느끼는 압착의 정도를 파악하기 어렵고, 사용자가 유방의 위치를 잡는 동안 디스플레이부(171)를 보지 못하는 경우도 발생할 수 있다. 따라서, 압착 강도 감지부(141)는 측정한 압착 강도를 압력 제어부(143)로도 전달하여 그에 대응되는 압력이 패들 조작부(150)에 제공되도록 한다.

도 7은 압착 강도의 측정 원리를 개략적으로 나타낸 도면이다.

도 7에 도시된 바와 같이, 검출기 어셈블리(120)의 상부에 유방(30)이 올려지고, 압착 패들(131)이 아래 방향으로 이동하여 유방(30)이 압착되기 시작하면 유방(30)은 압착 패들(131)로부터 힘을 받고 그 반작용으로 압착 패들(131)은 유방(30)으로부터 동일한 힘을 받는다. 따라서, 압착 패들(131)에 압착 강도 감지부(141)를 장착하여 압착 패들(131)이 받는 힘을 측정함으로써 유방(30)의 압착 강도를 측정할 수 있다.

압착 강도는 힘(force) 또는 압력(pressure)으로서 측정될 수 있다. 따라서, 압착 강도 감지부(141)는 힘 센서 또는 압력 센서로 구현될 수 있다. 구체적인 예로서, 압착 강도 감지부(141)가 탄성 변형에 기초하여 힘을 측정하는 경우에는 탄성 변형량을 다이얼 게이지나 마이크로미터 등을 이용하여 기계적으로 측정하거나, 광파 간섭이나 모아레 무늬 등을 이용하여 광학적으로 측정하거나, 변형 게이지, 차동 트랜스 또는 커패시턴스 등을 이용하여 전기적으로 측정할 수 있다. 또는, 수정, 티탄산 바륨 등을 이용한 압전 효과에 기초하거나 자기 변형관, 마그네셀 등을 이용한 자기 변형 효과 등의 물리적 효과에 기초하여 힘을 측정할 수도 있다.

압력은 단위 면적에 가해지는 힘에 해당하므로, 압력 제어부(143)는 압착 강도 감지부(141)로부터 전송되는 압착 강도의 형태가 무엇이든지 원하는 형태로 변형하여 패들 조작부(150)에 제공되는 압력을 제어하는데 이용할 수 있다.

한편, 압착 강도 감지부(141)는 실시간 또는 일정 시간 간격으로 유방의 압착 강도를 측정할 수 있다.

도 8은 패들 조작부가 구체화된 엑스선 영상 장치의 제어 블록도이고, 도 9a 내지 도 9c는 패들 조작부의 구조를 개략적으로 나타낸 측면도다.

일 실시예로서, 패들 조작부(150)는 유방의 압착 강도를 유압(流壓)으로 나타낼 수 있다. 즉, 유방의 압착 강도를 유압으로 제공받을 수 있다. 도 8을 참조하면, 패들 조작부(150)는 유량 조절 수단(158)과 스위치(154)를 포함할 수 있다. 압착 강도 감지부(141)가 유방의 압착 강도를 측정하여 압력 제어부(143)에 전송하면, 압력 제어부(143)는 패들 조작부(150)의 유량 조절 수단(158)을 제어하여 유방의 압착 강도에 대응되는 유압을 패들 조작부(150)에 제공한다.

도 9a 내지 도 9c를 참조하여 압력을 제공받기 위한 패들 조작부(150)의 다양한 예시에 따른 구조를 설명한다.

도 9a에 도시된 일 예시에 따르면, 패들 조작부(150)는 앞서 도 6b에서 설명한 구조에 유체를 수용하는 유체 수용부(157)를 더 포함할 수 있다. 유체는 액체와 기체를 포함하는바, 유체 수용부(157)에는 액체 또는 기체가 수용될 수 있으며, 예를 들어, 오일이나 공기가 수용될 수 있다.

도 9a에 도시되지는 않았으나, 유량 조절 수단(158)이 유체 수용부(157)의 내부 또는 외부에 마련되어 유체 수용부(157)에 수용되는 유체의 양을 조절한다. 예를 들어, 유량 조절 수단(158)은 밸브, 펌프 또는 팬(fan)으로 구현될 수 있다.

구체적으로, 압력 제어부(143)는 유량 조절 수단(158)을 제어하여 유체 수용부(157)에 수용되는 유체의 압력이 유방의 압착 강도에 대응되도록 한다. 유체 수용부(157)는 수용된 유체의 압력을 사용자가 느낄 수 있고, 외력에 의해 그 형태가 변했다가 외력이 제거되면 다시 원래의 형태로 복귀될 수 있도록 고무와 같이 탄성을 갖는 재질로 이루어질 수 있다.

도 9a 에 도시된 바와 같이 유방이 압착되면 유체 수용부(157)에 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 갖는 유체가 유입되고, 스위치(154)를 온 시키기 위해 사용자가 패들 조작부(150)를 밟으면 사용자는 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 느낄 수 있게 된다. 구체적으로, 사용자는 돌출부(155)를 스위치(154)에 접촉시키기 위해 유체 수용부(157)를 납작하게 눌러야 하므로 기존에 가하던 힘보다 유체 수용부(157)의 압력에 대응되는 힘만큼 더 많은 힘이 필요하게 된다. 이를 통해 사용자는 유방의 압착 강도를 간접적으로 느낄 수 있게 된다.

또는, 도 9b에 도시된 다른 예시에 따르면, 도 9a의 패들 조작부(150)에서 탄성체(156)가 생략되어도 무방하다. 이 경우에는, 유방이 압착되지 않은 경우에도 탄성을 갖는 유체 수용부(157)에 일정 압력의 유체가 수용되어 탄성체(156)의 역할을 수행하고, 유방이 압착된 경우에는 유체 수용부(157)에 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 갖는 유체가 더 유입된다. 마찬가지로, 사용자는 돌출부(155)를 스위치(154)에 접촉시키기 위해 기존에 가하던 힘보다 유방의 압착 강도에 대응되는 힘만큼 더 많은 힘이 필요하게 되고, 이를 통해 유방의 압착 강도를 간접적으로 느낄 수 있게 된다.

또는, 도 9c에 도시된 또 다른 예시에 따르면, 유체 수용부(157)가 가스 스프링이나 유압 실린더의 형태로 구현되는 것도 가능하다. 가스 스프링이나 유압 실린더의 구조는 널리 공지된 것이므로 이에 관한 자세한 설명은 생략하고, 패들 조작부(150)로의 압력 전달과 관련된 부분만 설명하도록 한다.

실린더 하우징(157a)에는 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 갖는 공기 또는 오일이 채워지고, 사용자가 돌출부(155)를 스위치(154)에 접촉시키기 위해 상판(153)을 밟으면, 피스톤 로드(157b)가 실린더 하우징(157a) 내측으로 이동하면서 사용자에게 유방의 압착 강도에 대응되는 힘을 전달한다. 한편, 실린더 하우징(157a)에 채워지는 공기 또는 오일의 양을 결정함에 있어 피스톤 로드(157b)의 면적을 함께 고려할 수 있다.

전술한 도 9a 내지 도 9c에 도시된 패들 조작부(150)의 구조는 개시된 발명에 적용될 수 있는 예시들에 불과하며, 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 제공받아 사용자에게 전달할 수 있는 구조이면 어느 것이든 패들 조작부(150)에 적용될 수 있다.

전술한 바와 같이, 압력 제어부(143)는 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 패들 조작부(150)에 제공한다. 도 10은 측정된 압착 강도와 패들 조작부에 제공되는 압력의 관계를 개략적으로 나타낸 그래프이다. 이하 도 10을 참조하여 유방의 압착 강도에 대응되는 압력이 무엇인지 구체적으로 설명하도록 한다.

패들 조작부(150)에 제공되는 압력의 크기는 목적에 따라 다양하게 조절될 수 있다. 예를 들어, 압력 제어부(143)는 유방의 압착 강도와 선형적으로 비례하는 크기의 압력을 패들 조작부(150)에 제공하되, 유방의 압착 강도와 패들 조작부(150)에 제공되는 압력 사이의 비례 상수를 목적에 따라 적절하게 조절할 수 있다.

구체적으로, 압력 제어부(143)는 비례 상수를 1로 하여 즉, 압착 강도와 동일한 크기의 압력을 패들 조작부(150)에 제공하여(71의 그래프에 대응됨) 유방에 인가되는 압력을 사용자가 그대로 느끼도록 할 수 있다. 이 경우, 피검체의 상태에 가장 적합한 압착이 이루어질 수 있다.

또는, 압력 제어부(143)는 비례 상수가 0보다 크고 1보다 작은 값을 갖도록 할 수 있다(74의 그래프에 대응됨). 이 경우, 유방의 압착 강도가 커지더라도 사용자가 패들 조작부(150)를 조작하기 위해 과도하게 많은 힘을 들이지 않을 수 있어 사용자의 조작 편의성을 증대시킬 수 있다.

또한, 압력 제어부(143)는 유방의 압착 강도와 비선형적으로 비례하는 크기의 압력을 패들 조작부(150)에 제공할 수 있다.

구체적으로, 유방의 압착 강도가 커질수록 패들 조작부(150)에 제공되는 압력의 증가율을 증가시킴으로써(73의 그래프에 대응됨) 패들 조작부(150)의 민감도를 감소시켜 안전도를 향상시킬 수 있다. 즉, 유방의 압착 강도가 커질수록 패들 조작부(150)를 조작하기 위해 더 많은 힘이 필요하므로 패들 조작부(150)의 민감도가 감소되고, 이로 인해 안전도가 향상될 수 있다.

또는, 압력 제어부(143)는 유방의 압착 강도가 커질수록 패들 조작부(150)에 제공되는 압력의 증가율을 감소시킴으로써(72의 그래프에 대응됨) 사용자의 조작의 편의성을 증대시킬 수 있다.

따라서, 패들 조작부(150)에 제공되는 유방의 압착 강도에 대응되는 압력은 압력 제어부(143)의 설정에 따라 달라질 수 있으며, 압력 제어부(143)는 다양한 방식으로 유방의 압착 강도와 패들 조작부(150)에 제공되는 압력의 관계를 설정할 수 있다.

한편, 압력 제어부(143)에서 제어의 기초로 삼는 압착 강도는 압력일 수도 있고 힘일 수도 있다. 71의 그래프를 기초로 구체적으로 설명하면, 예를 들어 압착 강도가 120N인 경우에 패들 조작부(150)에 제공되는 압력 즉, 압착 강도에 대응되는 압력은 120N의 힘을 가해야 패들 조작부(150)를 조작할 수 있도록 하는 압력이다. 다시 말해, 패들 조작부(150)에 외력을 가하는 주체(사용자)에 대해 120N의 힘을 반작용으로 가할 수 있도록 하는 압력이다.

지금까지 패들 조작부(150)가 풋 버튼으로 구현되는 것으로 하여 엑스선 영상 장치(100)의 실시예를 설명하였으나, 패들 조작부(150)는 손으로 조작되는 버튼 형태로 구현되는 것도 가능하다.

도 11a 및 도 11b에는 손으로 조작되는 패들 조작부의 예시가 도시되어 있다.

도 11a의 예시에 따르면, 프레임(103)의 일 면에 패들 조작부(150)가 구비될 수 있다. 패들 조작부(150)는 프레임(103)에 장착되어 사용자의 손으로 조작된다는 점을 제외하고는 전술한 도 9a 내지 도 9c의 구조와 동일한 구조를 가질 수 있다. 즉, 패들 조작부(150)의 내부에는 유체 수용부가 마련되어 유방의 압착 강도가 커질수록 수용되는 유체의 양을 증가시켜 패들 조작부(150)를 누르는데 필요한 힘도 커지도록 할 수 있다.

도 11b의 예시에 따르면, 패들 조작부(150)는 상하 방향으로 이동되는 레버 형태로 구현되는 것도 가능하다. 다만, 이 경우에도 패들 조작부(150)를 누르는 방향을 제외하고는 그 구조나 원리는 도 9a 내지 도 9c에 도시된 패들 조작부와 동일할 수 있다. 구체적으로, 도 11a의 패들 조작부(150)는 지면을 기준으로 수평 방향으로 눌러지는 반면, 도 11b의 패들 조작부(150)는 지면을 기준으로 수직 방향(상하 방향)으로 눌러질 수 있다. 그리고, 패들 조작부(150)의 내부에는 유체 수용부가 마련되어 유방의 압착 강도가 커질수록 수용되는 유체의 양을 증가시켜 패들 조작부(150)를 누르는데 필요한 힘도 커지도록 할 수 있다.

한편, 패들 조작부(150)가 사용자의 손에 의해 조작되는 경우에도 압착 패들(131)을 위로 올리기 위한 패들 조작부와 압착 패들(131)을 아래로 내리기 위한 패들 조작부가 각각 구비될 수 있다.

전술한 실시예에 따르면, 사용자가 패들 조작부(150)를 조작하여 압착 패들(131)로 유방을 압착할 때 유방의 압착 강도가 실시간 또는 일정 시간 간격으로 측정되어 사용자에게 피드백된다. 피드백은 디스플레이부(171)에 유방의 압착 강도를 수치적으로 표시하는 것과 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 패들 조작부(150)에 제공하는 것에 의해 이루어질 수 있으며, 사용자는 유방의 압착 강도를 수치적인 정보로 인지함과 동시에 패들 제어부(150)를 통해 간접적으로 느낄 수도 있으므로 더 정확하고 안전한 압착이 가능해진다.

유방의 압착이 완료되면, 엑스선 소스(110)가 엑스선을 조사하고 엑스선 검출기(121)가 유방을 투과한 엑스선을 검출하여 유방의 엑스선 영상을 촬영한다. 일 예로서, 엑스선 영상 장치(100)는 압착 완료 버튼(미도시)을 구비하여 압착 완료 버튼이 눌러지면 유방의 압착이 완료된 것으로 판단할 수도 있고, 엑스선 촬영 시작 버튼(미도시)을 구비하여 엑스선 촬영 시작 버튼이 눌러지는 것에 의해 간접적으로 유방의 압착이 완료된 것으로 판단할 수도 있다.

이하 개시된 발명의 일 측면에 따른 엑스선 영상 장치의 제어 방법에 관한 실시예를 설명하도록 한다.

도 12는 개시된 발명의 일 실시예에 따른 엑스선 영상 장치의 제어 방법에 관한 순서도이다. 당해 실시예에는 전술한 실시예에 따른 엑스선 영상 장치(100)가 적용될 수 있다.

먼저, 유방을 검출기 어셈블리(120) 위에 위치시키고, 압착 패들을 이동시켜 유방을 압착한다(311). 사용자는 압착 패들(131)을 이동시키기 위해 패들 조작부(150)를 조작할 수 있고, 패들 조작부(150)는 엑스선 영상 장치(100)가 놓여진 지면에 위치하여 사용자의 발에 의해 조작되는 풋 버튼 또는 풋 페달의 형태로 구현되거나 프레임(103)이나 본체(101) 등의 엑스선 영상 장치(100)의 일 면에 마련되어 사용자의 손에 의해 조작될 수 있다. 패들 조작부(150)의 구조는 앞서 도 9a 내지 도 9c와 도 11a 및 도 11b에서 설명한 바와 같다.

유방의 압착 강도를 측정한다(312). 유방의 압착 강도는 압착 패들(131)에 장착된 압착 강도 감지부(141)에 의해 힘 또는 압력의 형태로 측정될 수 있으며, 실시간 또는 일정 시간 간격으로 측정될 수 있다.

측정된 압착 강도를 디스플레이부에 표시한다(313). 디스플레이부(171)는 엑스선 소스(110), 프레임(103) 또는 검출기 어셈블리(120)의 일 면 중 유방의 위치를 잡는 사용자가 확인하기 용이한 위치에 장착될 수 있으며, 디스플레이부(171)에 표시되는 압착 강도는 실시간 또는 일정 시간 간격으로 업데이트될 수 있다.

측정된 압착 강도에 대응되는 압력을 패들 조작부에 제공한다(314). 이를 위해 패들 조작부(150)에는 유체를 수용하는 유체 수용부(157)가 구비되며, 유체 수용부(157)에는 측정된 압착 강도에 대응되는 압력을 갖는 유체가 수용된다. 일 예로서, 유체 수용부(157)는 가스 스프링이나 유압 실린더의 형태로 구현될 수 있다.

한편, 측정된 압착 강도와 제공되는 압력 사이의 관계는 전술한 도 10의 그래프로 나타낼 수 있으나, 개시된 발명의 실시예가 이에 한정되는 것은 아니며 이 외에도 목적에 따라 다양한 관계가 설정될 수 있다.

유방의 압착이 완료되지 않은 경우에는(315의 아니오) 압착 강도의 측정과 피드백을 반복하고, 유방의 압착이 완료되면(315의 예) 압착 작업은 종료되고 엑스선의 조사와 검출을 통한 엑스선 촬영이 수행된다. 유방의 압착이 완료되었는지 여부는 엑스선 영상 장치(100)에 구비된 압착 완료 버튼 또는 엑스선 촬영 시작 버튼에 의해 판단될 수 있다.

전술한 실시예에 따른 엑스선 영상 장치 및 그 제어 방법에 의하면, 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 사용자에게 전달함으로써 사용자로 하여금 피검체가 느끼는 압착 강도를 간접적으로 느낄 수 있게 하고, 이를 토대로 환자의 상태에 맞는 정확한 압착이 가능하게 된다.

100 : 엑스선 영상 장치 110 : 엑스선 소스
120 : 검출기 어셈블리 121 : 엑스선 검출기
131 : 압착 패들 133 : 패들 구동부
141 : 압착강도 감지부 143 : 압력 제어부
150 : 패들 조작부

Claims (24)

1. 유방 엑스선 영상을 촬영하는 엑스선 영상 장치에 있어서,
   상기 유방에 엑스선을 조사하는 엑스선 소스;
   상기 유방을 투과한 엑스선을 검출하는 검출기 어셈블리;
   상기 검출기 어셈블리 위에 위치하는 유방을 압착하는 압착 패들;
   상기 압착 패들의 조작에 관한 사용자의 명령을 입력 받는 패들 조작부;
   상기 압착 패들에 의한 상기 유방의 압착 강도를 측정하는 압착 강도 감지부;
   상기 측정된 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 압력 제어부를 포함하는 엑스선 영상 장치.
2. 제 1 항에 있어서,
   상기 패들 조작부는,
   유체가 수용되는 유체 수용부를 포함하고,
   상기 압력 제어부는,
   상기 유체 수용부에 수용되는 유체의 양을 상기 유방의 압착 강도에 따라 제어하는 엑스선 영상 장치.
3. 제 2 항에 있어서,
   상기 유체 수용부는,
   유압 실린더 또는 가스 스프링의 형태로 구현되는 엑스선 영상 장치.
4. 제 3 항에 있어서,
   상기 패들 조작부는,
   외부로부터 힘을 받는 상판을 더 포함하고,
   상기 유체 수용부는,
   상기 상판의 하부에 위치하는 엑스선 영상 장치.
5. 제 4 항에 있어서,
   상기 패들 조작부는,
   풋 페달(foot pedal)의 형태로 구현되는 엑스선 영상 장치.
6. 제 1 항에 있어서,
   상기 압력 제어부는,
   상기 유방의 압착 강도와 선형적으로 비례하는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 엑스선 영상 장치.
7. 제 6 항에 있어서,
   상기 유방의 압착 강도와 상기 패들 제어부에 제공되는 압력 사이의 비례 상수는 0보다 크고 1보다 작은 값을 갖는 엑스선 영상 장치.
8. 제 6 항에 있어서,
   상기 압력 제어부는,
   상기 유방의 압착 강도와 동일한 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 엑스선 영상 장치.
9. 제 1항에 있어서,
   상기 압력 제어부는,
   상기 유방의 압착 강도와 비선형적으로 비례하는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 엑스선 영상 장치.
10. 제 9 항에 있어서,
    상기 압력 제어부는,
    상기 유방의 압착 강도가 커질수록 상기 패들 조작부에 제공되는 압력의 증가율을 감소시키는 엑스선 영상장치.
11. 제 9 항에 있어서,
    상기 압력 제어부는,
    상기 유방의 압착 강도가 커질수록 상기 패들 조작부에 제공되는 압력의 증가율을 증가시키는 엑스선 영상 장치.
12. 제 2 항에 있어서,
    상기 압착 강도 감지부는,
    힘 센서 또는 압력 센서를 포함하는 엑스선 영상 장치.
13. 제12항에 있어서,
    상기 압착 강도 감지부는,
    상기 압착 패들에 장착되는 영상 장치.
14. 제 12 항에 있어서,
    상기 압착 강도 감지부는,
    실시간 또는 일정 시간 간격으로 상기 유방의 압착 강도를 측정하는 엑스선 영상 장치.
15. 제 14 항에 있어서,
    상기 측정된 유방의 압착 강도를 수치적으로 표시하는 디스플레이부를 더 포함하는 엑스선 영상 장치.
16. 유방을 압착하는 압착 패들 및 상기 압착 패들의 이동에 관한 명령을 입력받는 패들 조작부를 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법에 있어서,
    상기 패들 조작부를 통해 입력된 명령에 따라 상기 압착 패들을 이동시켜 상기 유방을 압착하는 단계;
    상기 유방의 압착 강도를 측정하는 단계; 및
    상기 측정된 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 단계를 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.
17. 제16항에 있어서,
    상기 유방의 압착 강도를 측정하는 단계는,
    실시간 또는 일정 시간 간격으로 수행되는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.
18. 제 17 항에 있어서,
    상기 측정된 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 단계는,
    상기 유방의 압착 강도와 선형적으로 비례하는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.
19. 제 18 항에 있어서,
    상기 유방의 압착 강도와 상기 패들 조작부에 제공되는 압력 사이의 비례 상수는 0보다 크고 1보다 작은 값을 갖는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.
20. 제 18항에 있어서,
    상기 측정된 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 단계는,
    상기 유방의 압착 강도와 동일한 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.
21. 제 17 항에 있어서,
    상기 측정된 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 단계는,
    상기 유방의 압착 강도와 비선형적으로 비례하는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.
22. 제 21 항에 있어서,
    상기 측정된 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 단계는,
    상기 유방의 압착 강도가 커질수록 상기 패들 조작부에 제공되는 압력의 증가율을 감소시키는 것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.
23. 제 21 항에 있어서,
    상기 측정된 유방의 압착 강도에 대응되는 압력을 상기 패들 조작부에 제공하는 단계는,
    상기 유방의 압착 강도가 커질수록 상기 패들 조작부에 제공되는 압력의 증가율을 증가시키는 것을 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.
24. 제 17 항에 있어서,
    상기 측정된 유방의 압착 강도를 수치적으로 표시하는 단계를 더 포함하는 엑스선 영상 장치의 제어 방법.

Images