KR20140057295A - Pon 프로텍션 시스템의 자기진단 방법 및 pon 프로텍션 시스템 - Google Patents

Pon 프로텍션 시스템의 자기진단 방법 및 pon 프로텍션 시스템 Download PDF

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타케시 사카모토
나오토 요시모토
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니폰 덴신 덴와 가부시끼가이샤
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Abstract

본 발명은, 광스위치 관계의 고장을 미리 점검할 수 있는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법 및 PON 프로텍션 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다. 본 발명은, ONU로부터의 신호광을 ONU가 포함되는 광 액세스 네트워크의 정상계 OSU와 용장계 OSU의 쌍방에 입력하도록 광스위치를 절환하여 회로 구성하고, 정상계 OSU로의 신호광과 용장계 OSU로의 신호광을 소정 기간 모니터하며, 한쪽으로의 신호광과 다른 쪽으로의 신호광이 불일치인 상태이면 이상으로 판단하는 회로 구성 시험, 및 ONU로부터의 신호광을 당해 ONU가 포함되는 광 액세스 네트워크의 정상계 OSU에만 입력하도록 광스위치를 개방하여 용장계 OSU와 ONU의 회로를 개방 상태로 하고, 용장계 OSU로의 신호광을 소정 기간 모니터하고, 용장계로의 신호광이 존재하는 상태이면 이상으로 판단하는 개방 상태 시험을 행한다.

Description

PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법 및 PON 프로텍션 시스템{SELF-DIAGNOSTIC METHOD FOR PON PROTECTION SYSTEM, AND PON PROTECTION SYSTEM}
본 발명은, 통신 시스템에 있어서의 고장 검지 기술에 관한 것이다.
패시브 옵티컬 네트워크(PON; Passive　Optical　Network)는, 기지국측 전송장치인 광가입자 선 종단 유닛(OSU; Optical　Subscriber　Unit) 1대에 대하여, 유저측 전송장치인 광가입자 선 종단 장치(ONU; Optical　Network　Unit) 1대 이상을, 광파이버와 스플리터를 통하여 접속하는, 포인트·투·멀티포인트 형태의 광 액세스 네트워크이다.
이 PON에 있어서, 시스템의 구성요인인 OSU, ONU, 광파이버 또는 스플리터의 용장화(冗長化)를 행하여, OSU 고장·ONU 고장·광파이버 파손·스플리터 파손에 의한 시스템 다운을 회피하는 기술이 PON 프로텍션이다(비특허문헌 1, 113-116 페이지). 즉, PON 프로텍션 적용시에 있어서, 이들 시스템 구성요인의 고장·파손 시에는, 정상계로부터 용장계로의 동작 절환에 의해 서비스 계속을 행하는 것이다.
PON 프로텍션 중에서도 특히 중요시되는 것이 OSU의 용장화이다. 제1의 이유는 OSU가 PON이라는 포인트·투·멀티포인트 형태 통신에 있어서의 신호의 집약점인 점에서, 고장 시에는 수하 전부의 ONU(유저)에 대하여 영향이 미친다는 영향의 광범위성을 갖는 것에 있다. 제2의 이유는 OSU는 전자부품이나 그들을 동작시키는 소프트웨어로 구성되기 때문에 단순한 광도파로인 광파이버·스플리터에 비하여, 고장의 가능성이 높은 것에 있다. 따라서, PON 프로텍션으로서 먼저 제1로 용장화를 행하여야 할 개소는 통상 OSU로된다.
그런데, 이 OSU를 1~복수대와, 교환 스위치(1~복수대의 OSU의 상위측에 접속된다)와, 상위 네트워크 인터페이스(교환 스위치의 상위측에 접속된다)와, 이들을제어하는 OLT 제어부는, 통상 정리하여 1대의 광가입자 선단국 장치(OLT; Optical Line　Terminal)에 수용되어 있다. 즉, OLT는, PON과 상위 네트워크의 교환을 행하는 통신 노드이고, PON 측의 인터페이스로 되는 OSU는 다수로 될 수도 있는 것이다. 따라서, OSU의 용장화는, 이와 같은 OLT의 기본 구성을 전제로, 최적 구성을 고려하지 않으면 안된다(각 도면에 있어서, 교환 스위치, 상위 네트워크 인터페이스, 및 이에 관한 입출력선은 번잡함을 피하는 관점에서 생략하고 있다).
종래의 OSU 용장화 기술의 제1의 구성은, 도 1에 도시하는 바와 같이, OLT(10)의 내부에 있어서, 정상계 OSU(11)의 각각에 대하여 용장계 OSU(12)를 1대 씩 준비하는 것이다(비특허문헌 1의 114페이지의 Type-B). 편의상, 이 제1의 구성을「용장계 OSU 독립형」으로 불리는 것으로 한다. 「용장계 OSU 독립형」의 구체적 구성·동작은 이하와 같다. 정상계 OSU(11-1)과 용장계 OSU(12-1)는, N: 2스플리터(41-1)(N은 1 이상의 정수)를 통하여, (또한 N: 2스플리터 이원으로, 다시 스플리터를 설치하여 더 분지를 행하여도 좋다) ONU(51)와 접속되어 있다(ONU의 수는, 0 이상의 정수. 스플리터의 ONU 측의 포트에는, 빈 포트가 있어도 상관없다). 여기서, 정상계 OSU(11-1)는 하부의 ONU(51)로부터의 신호를 상부의 교환 스위치로, 상부의 교환 스위치로부터의 신호를 하부의 ONU(51)로 각각 전송하고 있다. 여기서, 정상계 OSU(11-1)가 통신 중에 고장난 경우, 이것을 검지한 OLT 제어부(15)에 의해 절환이 행해지며,
(i) 정상계 OSU(11-1)의 셧다운,
(ii) 용장계 OSU(12-1)의 스타트업,
(iii) 교환 스위치의 설정변경이 행해진다.
그리고, 용장계 OSU(12-1)는 고장 발생 전과 동일하게 하부의 ONU(51)로부터의 신호를 상부의 교환 스위치로, 상부의 교환 스위치로부터의 신호를 하부의 ONU(51)로, 각각 전송을 개시하는 것에 의해 서비스 계속한다.
정상계 OSU(11-i)와 용장계 OSU(12-i)(i= 2, 3, …)의 접속 형태와 프로텍션 시의 동작도, OSU(11-1)와 OSU(12-1)의 관계와 동일하다.
이 「용장계 OSU 독립형」의 구성에서는 정상계 OSU와 동수의 용장계 OSU를 미리 OLT에 수용하여 둘 필요가 있는 점에서 OLT 슬롯 소비의 문제나 OSU 도입 비용 증대의 문제를 가지고 있었다.
이에 대하여, 종래의 OSU 용장화 기술의 제2의 구성은, 도 2에 도시하는 바와 같이 OLT(10)의 내부에 있어서 복수대의 정상계 OSU(11)에 대하여 용장계 OSU(12)를 1대 준비하는 것에 의해 OLT 슬롯 소비의 문제나 코스트 증대 문제를 억압하는 것이다(도 2; 특허문헌 1의 도 1, 특허문헌 2의 도 1). 편의상 이 제2의 구성을「용장계 OSU 공유형」으로 불리는 것으로 한다. 「용장계 OSU 공유형」의 구체적 구성과 동작은 이하와 같다.
OLT(10)에는, 정상계 OSU(11-i)(i= 1, 2, 3, ..., M: M은 1 이상의 정수)와, 용장계 OSU(12-x)가 1대 수용되어 있다. 용장계 OSU(12-x)의 ONU측 입출력 포트에는, M: 1광 스위치(32)의 입출력 포트(포트(ｘ)라 칭함)가 접속되어 있다. 그리고, M: 1광스위치(32)에 M개 있는 ONU측 입출력 포트(포트 1, 2, 3, ..., M라 칭함)는, 각각 포트(1)와 OSU(11-1), 포트(2)와 OSU(11-2), 포트(3)와 OSU(11-3), ..., 포트(M)와 OSU(11-M)과 같이 1쌍으로, N: 2스플리터(41-i)(i= 1, 2, 3,..., M)를 통하여 N대 이하의 ONU(50)와 접속되어 있다(스플리터의 ONU측의 N개의 포트에는, 빈 포트가 있어도 상관없다).
여기서, 정상계 OSU(11)는, 각각 하부의 ONU(50)로부터의 신호를 상부의 교환 스위치로, 상부의 교환 스위치로부터의 신호를 하부의 ONU(50)로, 각각 전송하고 있다. 여기서, 정상계 OSU(11-1)가 통신 중에 고장난 경우, 이것을 검지한 OLT 제어부(15)에 의해 절환이 행해지며,
(i) 정상계 OSU(1)의 셧다운,
(ii) 광스위치(32)에 있어서 포트(ｘ)와 포트(1)의 접속,
(iii) 용장계 OSUｘ의 스타트업,
(iv) 교환 스위치의 설정변경이 행해진다.
그리고, 용장계 OSU(12-x)는, 고장발생 전과 동일하게, 하부의 ONU(50)로부터의 신호를 상부의 교환 스위치로, 상부의 교환 스위치로부터의 신호를 하부의 ONU(50)로, 각각 전송을 개시하는 것에 의해, 서비스 계속한다.
다른 정상계 OSU(11-i)(i= 2, 3,…)의 고장 시의 동작도, 각각 정상계 OSU(11), 스플리터(41), 광스위치(32)의 포트가 교대되는 이외, 상기 설명과 동일하다.
본 발명(도 2)에 있어서, 광스위치(32)를 광스위치 제어부(31)로 제어하고, 또한, 광스위치 제어부(31)를 OLT 제어부(15)가 제어하는 것으로 하였다. 그러나, 광스위치 제어부(31)를 설치하지 않고, 광스위치(32)를 직접 OLT 제어부(15)가 제어하여도 좋다.
이 「용장계 OSU 공유형」의 구성으로는, 정상계 OSU(11)의 M대에 대하여, 동시에 OLT(10)에 수용하는 용장계 OSU(12)가 1대로 그치는 점에서, OLT 슬롯 소비의 문제나, OSU 도입 비용 증대 문제는 해소되어 있다. 또한, 정상계 OSU가 복수로 동시에 고장나는 확률은 충분히 낮은 조건하에서는, 본 구성·동작에서의 용장화로 신뢰성을 확보하는 것도 용이하게 된다.
또한 OLT에 있어서, 교환 스위치, 상위 네트워크 인터페이스, 및, OLT 제어부에 관해서도 용장화하는 경우가 있지만, 여기서는 직접 관련되지 않는 점에서, 기재를 생략한다.
특개평 7-226796호 공보 특개 2000-332857호 공보
ITU-T G. 983．1
상기 설명을 통하여, 종래의 OSU 용장화 기술의 「용장계 OSU 공유형」의 PON 프로텍션 구성으로는,「용장계 OSU 독립형」의 PON 프로텍션 구성에 비하여, 용장계 OSU가 적어서 그치는 점에서, OLT 슬롯 소비의 문제나, OSU 도입 비용 증대 문제가 해소되어 있다.
그런데,「용장계 OSU 공유형」의 구성에 있어서 도입되어 있는 광스위치(32)에 주목되었다. 이 광스위치(32)는, 용장계 OSU(12-x)와 N: 2스플리터(41-i)(i= 1, 2, 3, ..., M)의 사이에 1대만 설치되어 있고, 광스위치(32) 자체는 용장 구성으로는 되어 있지 않다. 여기서, 광스위치(32)는, MEMS 광스위치나 메카니컬 광스위치 등이 상정되지만, 이들 디바이스는 기계적으로 동작하는 점에서, 광스위치(32)는 OSU(전자부품으로부터 구성)보다도 더욱 열화되어 고장날 가능성을 갖고 있다. 그러나, 「용장계 OSU 공유형」의 구성으로는, 광스위치의 용장화 구성이 행해지지 않고, 따라서 PON 프로텍션의 신뢰성의 향상이 요망되는 형편이다.
구체적으로, 광스위치에 기인하는 PON 프로텍션의 실패(서비스 계속 불가능으로 되는 것과 같은 고장)의 시나리오를, 이하에 기재한다.「용장계 OSU 공유형」의 PON 프로텍션 구성에 있어서, 정상계 OSU(11-1)가 고장났다고 친다. 이때, 전술한 (i)~(iv)에 따라서 용장계 OSU로의 절환 동작이 일어나는 것이다. 그런데, 상기와 같은 광스위치(32)가 OSU로부터 고장율이 높은 것으로 하면, 이미 광스위치(32)가 고장나 있는 경우가 많이 있는 점에서,「(ii) 광스위치(32)에 있어서 포트(ｘ)와 포트(1)의 접속」이 될 수 없는 경우가 있을 수 있다. 이 경우, 광스위치고장에 의해 PON 프로텍션이 될 수 없는 것으로 되어, 그 결과, 서비스 계속 불가능으로 된다.
이와 같이,「용장계 OSU 공유형」의 PON 프로텍션 구성에 관해서는, OLT 슬롯 삭감이나 OSU 도입 비용 삭감의 관점에서 매력이 있지만, 광스위치의 신뢰성의 관점에서 PON 프로텍션이 만전이라 말할 수 없는 것이 과제이다.
이에 대하여, 광스위치도 용장화하는 방법도 고려할 수 있지만, 2대째의 광스위치의 도입 비용이나 광배선의 복잡화라고 하는, 새로운 과제도 발생한다.
또한, 광스위치 자체의 신뢰성을 향상시키는 방법도 생각할 수 있지만, 시스템 전체의 평균 고장 간격(MTBＦ; Mean　Time　Between　Failure)을「용장계 OSU 독립형」의 PON 프로텍션 구성과 동일하게 하기 위해서는 광스위치 고장율을 광파이버나 스플리터 정도로 낮게 하는 것이 필요로 하게된다. 이와 같은 고신뢰성을 갖는 광스위치의 실현은, 현시점에서는 곤란하다고 말할 수 있다.
또한, 전술한 바와 같이, 광스위치의 제어에 광스위치 제어부를 설치하는 경우가 있지만, 이 고장도, 광스위치의 고장과 동일하게, PON 프로텍션의 실패의 원인으로 된다.
이와 같이, 광스위치 관계의 신뢰성을 향상시키는 것은 곤란하다. 이점을 감안하여, 광스위치 관계의 고장을 미리 알고, OSU의 고장 전에 광스위치 관계의 교환 또는 수리를 행할 수 있다면, 서비스 계속 불가능을 회피할 수 있어, PON 프로텍션의 신뢰성을 향상시킬 수 있다.
그래서, PON 프로텍션의 신뢰성을 향상하기 위하여, 본 발명은, 광스위치 관계의 고장을 미리 점검할 수 있는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법 및 PON 프로텍션 시스템을 제공하는 것을 목적으로 한다.
목표를 달성하기 위하여, 본 발명은, 정상계 OSU로의 신호광과 용장계 OSU로의 신호광을 비교하는 것으로, 광스위치에 관한 고장을 판단하는 것으로 하였다.
구체적으로는, 본 발명에 관한 제1의 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 광가입자 선 종단 유닛(OSU; Optical Subscriber　Unit)과, 유저측 전송장치인 1대 이상의 광가입자 선종단 장치(ONU; Optical　Network　Unit)를, 포인트·투·멀티포인트 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 패시브 옵티컬 네트워크(PON; Passive　Optical Network)로, 광스위치의 절환으로 어느 상기 OSU의 대리로서 상기 OSU에 수용되는 상기 ONU와 통신할 수 있는 용장계 OSU를 포함한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법으로서,
상기 용장계 OSU가 대기상태일 때에, 상기 ONU로부터의 신호광을 상기 ONU가 포함되는 상기 광 액세스 네트워크의 상기 정상계 OSU와 상기 용장계 OSU의 쌍방에 입력하도록 상기 광스위치를 절환하여 회로 구성하고, 상기 정상계 OSU로의 신호광과 상기 용장계 OSU로의 신호광을 소정 기간 모니터하고, 한쪽으로의 신호광과 다른 쪽으로의 신호광이 불일치인 상태이면 이상으로 판단하는 회로 구성 시험을 행한다.
본 회로 구성 시험은, 통신을 행하고 있는 ONU로부터 정상계 OSU의 임의 경로를 선택하고, 당해 경로에 또한 용장형 OSU가 접속하도록 광스위치를 절환한다. 이와 같이 회로 구성하는 것으로, 광스위치가 고장나 있지 않으면, ONU로부터의 신호광이 정상계 OSU의 경로뿐만 아니라 용장계 OSU의 경로에도 입력하는 것으로 된다. 즉, 정상계 OSU의 경로의 신호광과 용장계 OSU의 경로의 신호광을 비교하여, 동일하면 광스위치는 정상인 것으로 판단될 수 있고, 한쪽으로 신호광이 있고 다른 쪽으로 신호광이 없는 등, 서로 불일치이면 광스위치는 고장으로 판단될 수 있다. 그리고, 본 회로 구성 시험은 통상의 통신 중에 실시할 수 있다.
따라서, 본 발명은, 광스위치 관계의 고장을 미리 점검할 수 있는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법을 제공할 수 있다.
본 발명에 관한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 상기 회로 구성 시험을 복수회 반복하여 행하는 것을 특징으로 한다. 임의의 시각에 복수회 반복하여 회로 구성 시험을 행하는 것으로, 재현성이 없는 고장을 검출할 수 있다.
본 발명에 관한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 상기 회로 구성 시험에 있어서, 신호광을 상기 정상계 OSU와 상기 용장계 OSU에서 소정 기간 모니터하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 관한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 상기 회로 구성 시험에 있어서, 상기 정상계 OSU로의 광과 상기 용장계 OSU로의 신호광을 광전력 측정으로 소정 기간 모니터하는 것을 특징으로 한다.
구체적으로는, 본 발명에 관한 제2의 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 광가입자 선 종단 유닛(OSU; Optical Subscriber　Unit)과, 유저측 전송장치인 1대 이상의 광가입자 선종단 장치(ONU; Optical　Network　Unit)를, 포인트·투·멀티포인트 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 패시브 옵티컬 네트워크(PON; Passive　Optical　Network)에, 광스위치의 절환으로 어느 상기 OSU의 대리로서 상기 OSU에 수용되는 상기 ONU와 통신할 수 있는 용장계 OSU를 포함한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법으로서,
상기 용장계 OSU가 대기상태일 때에, 상기 ONU로부터의 신호광을 상기 ONU가 포함되는 상기 광 액세스 네트워크의 상기 정상계 OSU에만 입력하도록 상기 광스위치를 개방하여 상기 용장계 OSU와 상기 ONU의 회로를 개방상태로 하고, 상기 용장계 OSU로의 신호광을 소정 기간 모니터하여, 상기 용장계 OSU로의 신호광이 존재하는 상태이면 이상으로 판단하는 개방상태 시험을 행한다.
본 개방상태 시험은, 광스위치를 통신을 행하고 있는 ONU로부터 정상계 OSU의 어느 경로와도 접속하지 않은 상태로 하고, 정상계 OSU의 경로 신호광과 용장계 OSU의 경로의 신호광을 비교한다. 광스위치가 용장계 OSU로의 경로를 차단하고 있기 때문에, 신호광이 당해 경로에 없으면 광스위치는 정상인 것으로 판단될 수 있고, 신호광이 당해 경로에 존재하면 광스위치가 고장나 있는 것으로 판단될 수 있다. 그리고, 본 회로 구성 시험은 통상의 통신 중에 실시할 수 있다.
따라서, 본 발명은, 광스위치 관계의 고장을 미리 점검할 수 있는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법을 제공할 수 있다.
본 발명에 관한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 상기 개방 상태 시험을 복수회 반복하여 행하는 것을 특징으로 한다. 임의의 시각에 복수회 반복하여 개방 상태 시험을 행하는 것으로, 재현성이 없는 고장을 검출할 수 있다.
본 발명에 관한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 상기 개방 상태 시험에 있어서, 신호광을 상기 용장계 OSU로 소정 기간 모니터하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 관한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 상기 개방 상태 시험에 있어서, 상기 용장계 OSU로의 신호광을 광전력 측정으로 소정 기간 모니터하는 것을 특징으로 한다.
구체적으로는, 본 발명에 관한 제3의 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 광가입자 선 종단 유닛(OSU; Optical　Subscriber　Unit)과, 유저측 전송장치인 1대 이상의 광가입자 선종단 장치(ONU; Optical　Network　Unit)를, 포인트·투·멀티포인트 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 패시브 옵티컬 네트워크(PON ; Passive　Optical　Network)에, 광스위치의 절환으로 어느 상기 OSU의 대리로서 상기 OSU에 수용되는 상기 ONU와 통신할 수 있는 용장계 OSU를 포함한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법으로서,
상기 용장계 OSU가 대기상태일 때에, 상기 ONU로부터의 신호광을 상기 ONU가 포함되는 상기 광 액세스 네트워크의 상기 정상계 OSU와 상기 용장계 OSU의 쌍방에 입력하도록 상기 광스위치를 절환하여 회로 구성하고, 등록이 끝난 모든 상기 ONU에 대하여 신호광의 송신을 정지시키는 무신호 기간을 형성하며, 상기 정상계 OSU로의 광과 상기 용장계 OSU로의 광을 무신호 기간의 사이 모니터하고, 한쪽으로의 광과 다른 쪽으로의 광이 불일치인 상태이면 이상으로 판단하는 무신호 상태 시험을 행한다.
본 무신호 상태 시험은, 먼저, 각 ONU에 대하여 OSU로의 신호광의 송신을 정지시켜, 무신호 기간을 발생시킨다. 그리고, ONU으로부터 정상계 OSU의 임의의 경로를 선택하여, 당해 경로에 또한 용장형 OSU가 접속하도록 광스위치를 절환한다. 이와 같이 회로 구성하는 것으로, 광스위치나 광전송로가 고장나 있지 않으면, 정상계 OSU 및 용장계 OSU에 광이 입력되는 일은 없다. 또한, 무신호 기간이어도 시스템 관리를 위한 관리 신호광을 ONU가 송신하지 않으면 안되는 일도 있지만, 광스위치나 광전송로가 고장나 있지 않으면, 정상계 OSU 및 용장계 OSU에 관리신호광이 입력된다. 즉, 정상계 OSU의 경로의 광과 용장계 OSU 경로의 광을 비교하여, 동일하면 광스위치나 광전송로는 정상인 것으로 판단할 수 있고, 한쪽에 광이 있고 다른 쪽에 광이 없는 등, 서로 불일치이면 광스위치나 광전송로는 고장이라고 판단될 수 있다.
따라서, 본 발명은, 광스위치 관계의 고장을 미리 점검할 수 있는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법을 제공할 수 있다.
본 발명에 관한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 상기 무신호 상태 시험을 복수회 반복하여 행하는 것을 특징으로 한다. 복수회 반복하여 무신호 상태 시험을 행하는 것으로, 재현성이 없는 고장을 검출할 수 있다.
본 발명에 관한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 상기 무신호 기간을 디스커버리·윈도우로 할 수 있다.
본 발명에 관한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 상기 무신호 상태 시험에 있어서, 광입력 후에 상기 OSU가 일정 기간 출력하는 광검지 신호를 사용할 수 있다.
이 경우, 상기 정상계 OSU가 상기 광검지 신호를 출력하는 시간을 T1, 상기 용장계 OSU가 상기 광검지 신호를 출력하는 시간을 T2, 상기 무신호 기간의 시간을 TD로 했을 때 T1≤T2≤TD/2로 설정한다.
본 발명에 관한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법은, 상기 무신호 상태 시험에 있어서, 상기 정상계 OSU로의 광과 상기 용장계 OSU로의 광을 광전력 측정으로 모니터하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 관한 제1의 PON 프로텍션 시스템은, 상술한 바와 같은 회로 구성 시험과 개방 상태 시험을 실시할 수 있도록 제어회로를 갖는다. 구체적으로는, 본 발명은, 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 광가입자 선 종단 유닛(OSU; Optical　Subscriber　Unit)과, 유저측 전송장치인 1대 이상의 광가입자 선종단 장치(ONU; Optical　Network　Unit)를, 포인트·투·멀티포인트 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 패시브 옵티컬 네트워크(PON ; Passive　Optical　Network)에, 어느 상기 OSU의 대리로서 상기 OSU에 수용되는 상기 ONU와 통신할 수 있는 용장계 OSU, 상기 용장계 OSU와 어느 상기 광 액세스 네트워크를 선택적으로 접속하는 광스위치, 상기 광스위치의 절환 및 OSU를 사용하여 자기진단 방법을 행하는 제어회로를 포함한 PON 프로텍션 시스템이다.
본 발명은, 제어회로의 지시에 의해 정상계 OSU와 용장계 OSU를 사용하여 회로 구성 시험과 개방 상태 시험을 실시하기 때문에, 광스위치 관계의 고장을 미리 점검할 수 있는 PON 프로텍션 시스템을 제공할 수 있다.
본 발명에 관한 제2의 PON 프로텍션 시스템은, 상술한 바와 같은 회로 구성 시험과 개방 상태 시험을 실시할 수 있도록 제어회로 및 광전력 측정수단을 갖는다. 구체적으로는, 본 발명은, 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 광가입자 선 종단 유닛(OSU; Optical　Subscriber　Unit)과, 유저측 전송장치인 1대 이상의 광가입자 선종단 장치(ONU; Optical　Network　Unit)를, 포인트·투·멀티포인트 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 패시브 옵티컬 네트워크(PON; Passive　Optical　Network)에, 어느 상기 OSU의 대리로서 상기 OSU에 수용되는 상기 ONU와 통신할 수 있는 용장계 OSU, 상기 용장계 OSU와 어느 상기 광 액세스 네트워크를 선택적으로 접속하는 광스위치, 상기 정상계 OSU로의 신호광과 상기 용장계 OSU로의 신호광을 광전력으로 측정하는 광전력 측정수단, 상기 광스위치의 절환 및 광전력 측정수단을 사용하여 자기진단 방법을 행하는 제어회로를 포함한 PON 프로텍션 시스템이다.
본 발명은, 제어회로의 지시에 의해 광전력 측정수단을 사용하여 회로 구성 시험과 개방 상태 시험을 실시하기 때문에, 광스위치 관계의 고장을 미리 점검할 수 있는 PON 프로텍션 시스템을 제공할 수 있다.
본 발명은, 광스위치 관계의 고장을 미리 점검할 수 있는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법 및 PON 프로텍션 시스템을 제공할 수 있다.
도 1은 종래의 PON 프로텍션(용장계 OSU 독립형)의 구성을 도시하는 도이다.
도 2는 종래의 PON 프로텍션(용장계 OSU 공유형)의 구성을 도시하는 도이다.
도 3은 본 발명에 관한 PON 프로텍션의 구성을 도시하는 도이다.
도 4는 본 발명에 관한 PON 프로텍션의 플로우 차트를 도시하는 도이다.
도 5는 본 발명에 관한 PON 프로텍션의 플로우 차트를 도시하는 도이다.
도 6은 본 발명에 관한 PON 프로텍션의 구성을 도시하는 도이다.
도 7은 본 발명에 관한 PON 프로텍션의 플로우 차트를 도시하는 도이다.
도 8은 본 발명에 관한 PON 프로텍션의 플로우 차트를 도시하는 도이다.
도 9는 본 발명에 관한 PON 프로텍션의 플로우 차트를 도시하는 도이다.
도 10은 디스커버리·윈도우를 설명하는 도이다.
도 11은 본 발명에 관한 PON 프로텍션의 플로우 차트를 도시하는 도이다.
도 12는 디스커버리·윈도우를 설명하는 도이다.
발명을 실시하기 위한 형태
첨부한 도면을 참조하여 본 발명의 실시형태를 설명한다. 이하에 설명하는 실시형태는 본 발명의 실시예이고, 본 발명은, 이하의 실시형태에 제한되지 않는다. 본 명세서 및 도면에 있어서 부호가 동일한 구성 요소는, 서로 동일한 것을 나타내는 것으로 한다. 또한, 번호를 붙이지 않고 설명하고 있는 경우는 당해 부호의 전부의 번호에 공통하는 설명이다.
(실시형태 1)
도 3은 본 실시형태의 PON 프로텍션 시스템(301)의 구성을 설명하는 도이다. PON 프로텍션 시스템(301)은, 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 OSU(11)와, 유저측 전송장치인 1대 이상의 ONU(50)를, 포인트·투·멀티포인트 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 PON에, 어느 OSU(11)의 대리로서 OSU(11) 에 수용되는 ONU(50)와 통신할 수 있는 용장계 OSU(12), 용장계 OSU(12)와 어느 광 액세스 네트워크를 선택적으로 접속하는 광스위치(32), 광스위치(32)의 절환 및 자기진단 방법을 행하는 제어회로(25)를 포함한다.
PON 프로텍션 시스템(301)은, 도 2의「용장계 OSU 공유형」의 PON 프로텍션 구성에 대하여, 광스위치 자기진단을 위한 구성이 부가된 것으로 되어 있다. PON 프로텍션 시스템(301)의 구성은, 기본 구성, 및 PON 프로텍션 시의 구성이, 도 2의「용장계 OSU 공유형」의 PON 프로텍션 구성과 동일한 점에서, 이들에 관한 설명은 생략한다.
또한, 이하, 광스위치 제어부(31)와 OLT 제어부(15)를 독립한 기능 블록으로서 기재 설명하지만, 광스위치 제어부(31)의 기능을 OLT 제어부(15)에 가지게 하는 것에 의해, 독립한 광스위치 제어부를 제공하지 않는 설계 수법을 이용하여도 문제는 없다.
이후는, PON에 있어서부터 신호광(ONU(50)으로부터 OSU(11)를 향하는 송신 신호)의 특징과, 그것을 사용한 광스위치(32)의 자기검진 기능에 관한 설명이다.
PON은 복수의 ONU(50)와 1대의 OSU(11)가 포인트·투·멀티포인트 형의 통신 하는 것을 전제로 하고 있기 때문에, 업 회선의 신호광이 충돌하지 않도록 각 ONU(50)가 버스트(burst)적으로 업 신호광을 송신하고 있다. 즉, PON의 업 신호광은, 원래 연속적인 신호가 아니라 버스트 신호이다.
또한, 각 ONU(50)의 전원은 통상 유저 관리하에 있고, 전원 상태에 따라서 ONU(50)의 업 신호광의 송신 상태는 제어된다. 이 때문에, OSU(11) 수하 전부의 ONU(50)에 관하여, 전원이 유저에 의해 끊어진 경우, 트래픽이 적어 모든 ONU(50)가 전력절약 모드로 된 경우, 또는 ONU(50)에 속하는 지구가 정전된 경우, OSU(11)의 수하의 ONU(50)가 장시간 일제히 업 신호광을 송신하지 않는 상황으로 될 수 있다. 즉, PON에 있어서의 업 신호광은, 단시간의 스판으로 보아도, 장시간의 스판으로 보아도, 연속된 점등상태는 아니기 때문에 시험용의 광원으로서 안정한 것이라는 말할 수 없다.
그러나, PON의 업 신호광은, PON의 비프로텍션 시(통상 운용시에, 용장계 OSU(12)가 대기상태)에, 광스위치(32)에 입력되는 유일한 광이다. 따라서, 본 실시형태에 있어서는, PON의 업 신호광을 광스위치(32)의 자기진단에 있어서의 시험광에 사용하는 것을 특징으로 한다.
이 자기진단을 위한 동작은 이하와 같다. 도 4, 도 5및 도 9에 플로우차트를 도시한다. 자기진단시에 있어서는, PON이 비프로텍션 상태인 것이 전제로 된다. 즉, OLT 제어부(15) 및 광스위치 제어부(31)를 포함하는 제어회로(25)는, 용장계 OSU(12-x)가 대기상태일 때에, ONU(50)로부터의 신호광을 당해 ONU가 포함되는 광 액세스 네트워크의 정상계 OSU(11-i)와 용장계 OSU(12-x)의 쌍방에 입력하도록 광스위치(32)를 절환하여 회로 구성하고, 정상계 OSU(11-i)로의 신호광과 용장계 OSU(12-x)로의 신호광을 소정 기간 모니터하고, 한쪽으로의 신호광과 다른 쪽으로의 신호광이 불일치인 상태이면 이상으로 판단하는 회로 구성 시험을 행한다.
[개시]
자기진단은, OLT 제어부(15) 내의 타이머, 또는 외부로부터의 트리거가 OLT 제어부(15)에 입력되는 것에 의해 기동한다(스텝 S101). 먼저, OLT 제어부(15)는, PON이 비프로텍션 상태인 것을 확인한다(스텝 S102, S103). 프로텍션의 지시는 OLT 제어부(15)로부터 각 부로 내어지고 있기 때문에, 프로텍션/비 프로텍션 상태의 확인은, OLT 제어부(15)의 내부 메모리를 참조하면 가능하다(이 외, 정상계 OSU(11-i), 용장계 OSU(12-x), 또는 광스위치 제어부(31)의 내부 메모리를 참조하여도 가능하다). 비 프로텍션 상태가 아니면 자기진단은 행해지지 않는다(스텝 S113). 비 프로텍션 상태이면 다음의 [포트시험]으로 진행한다.
[포트시험]
광스위치(32)에는, 용장계 OSU(12) 측의 포트(ｘ)를 ONU(50)측의 포트(포트(i))에 접속하여 회로를 구성하는 M 조합이 있는 점에서, M 유형의「회로 구성 시험」이 행해진다. 또한, 해방상태(용장계 OSU(12) 측의 포트(ｘ)를 다른 어느 포트(i)와도 접속시키지 않은 상태)가 있는 점에서, 1회의 개방 상태 시험이 행해진다. 이들 시험방법에 관하여 설명한다. 이들 시험 동작의 순서는 임의이다.
(1) 회로 구성 시험 (스텝 S104~S112)
OLT 제어부(15)는, 광스위치 제어부(31)를 통하여, 광스위치(32)에 포트(ｘ)와 포트(i)를 접속하는 회로를 구성시킨다(스텝 S105). 다음에 OLT 제어부(15)는, 용장계 OSU(12-x)와 정상계 OSU(11-i)의 동시각에 있어서의 업 신호광의 수광 상태를 평가한다(스텝 S106). 이때, 업 신호광은 안정한 광원은 아니지만, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 용장계 OSU(12-x), 및 정상계 OSU(11-i)가 정상 동작하고 있으면, 용장계 OSU(12-x)와 정상계 OSU(11-i)는 동시에 수광하는 것으로 된다. 따라서, 이하의 상태
(a) 용장계 OSU(12-x)가 비 수광, 정상계 OSU(11-i)가 수광
(b) 용장계 OSU(12-x)가 수광, 정상계 OSU(11-i)가 비 수광
의 어느 한쪽이라도 검지하면, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 용장계 OSU(12-x)의 어느 것이 고장으로 판정될 수 있다(스텝 S107, S108). 또한 용장계 OSU(12-x)와 정상계 OSU(11-i)의 수광/비 수광은, 관측 중에 문턱치 이상의 전력의 업 신호광을 수광하고 있는/수광하고 있지 않은 것으로 판정하여도 좋다. 또는, 용장계 OSU(12-x)와 정상계 OSU(11-i)의 수광/비 수광은, 관측 중에 문턱치 이상 또는 규정치의 정보량(비트수, 프레임수, 패킷수, 셀 수 등)의 업로드 데이터를 수신하고 있는/수신하고 있지 않은 것으로 판정하여도 좋다(이 경우, 루프 시험설정 등에 의해 특정의 OSU로부터 규정수의 정보량(비트수, 프레임수, 패킷수, 셀 수 등)을 출력시키는 설정으로 하면, 업 신호의 정보량을 제어시킬 수 있다. 그 경우, 당해 ONU로부터의 송신 정보인지 여부는, LLID 등의 식별자로 변별할 수 있다. 이와 같이, OSU측으로부터 특정 ONU의 업 신호 송신 정보량을 제어하는 수단으로서는 루프 시험이나 OAM가 있고, 또, 당해 ONU로부터의 송신정보인지 여부의 식별자로서는 LLID나 SA가 존재한다).
또한 정상계 OSU(11-i)의 고장에 의해서도 (a) 또는 (b)는 발생할 수 있다. 그러나, 정상계 OSU(11-i)의 고장은, 주신호의 통신이 가능하게 되지 않는 것으로 정상계 OSU(11-i)의 고장이 검지되어, 이미 PON 프로텍션이 개시되어 있다. 따라서, 정상계 OSU(11-i)의 고장에 관해서는 설명을 생략한다.
(a) 또는 (b)가 발생한 경우, OLT 제어부(15)는 고장요인에 관하여「회로 i구성 시」로 기록하고, 경보를 출력하여 포트(i)에 대한 회로 구성 시험을 종료한다 (스텝 S108). 이 경보는, OAM(Operation　Administration and Maintenance) 신호 로의 중첩, LED로의 출력, 전용 출력단으로의 출력, 또는 로그로의 축적의 어느 것이어도 상관없다.
한편, 규정시간 T 내에 상기 상태 평가를 규정 간격ｔ(ｔ≤T)에서 또는 규정 회수 반복, 규정시간 T 사이, 상기 (a) 또는 (b)의 현상이 발생하지 않으면, OLT 제어부(15)는, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 또는 용장계 OSU(12-x)의 고장은 검지되지 않는 것으로 판정되고, 포트(i)에 대한 회로 구성 시험을 종료한다(스텝 S109, S110).
상기는, 특정의 포트(i)에 대한 회로 구성 시험의 흐름이다. 다른 포트에 대하여도 동일 회로 구성 시험을 실시한다(스텝 S111, S112). 또한, 회로 구성 시험 시, i는 1로부터 M으로 단조 증가시켜도, M로부터 1로 단조 감소시켜도, 임의로 변화시켜도 상관없다. 도 4는, i를 1로부터 M으로 단조증가시키는 흐름으로 되어 있지만, 본 발명은 이것에 한정되지 않는다.
(2) 개방 상태 시험
제어회로(25)는, 용장계 OSU(12-x)가 대기상태일 때에, ONU(50)로부터의 신호광을 해당 ONU가 포함되는 광 액세스 네트워크의 정상계 OSU(11-i)에만 입력하도록 광스위치(32)를 개방하여 용장계 OSU(12-x)와 ONU(50)의 회로를 개방 상태로 하고, 용장계 OSU(12-x)로의 신호광을 소정 기간 모니터하고, 용장계 OSU(12-x)로의 신호광이 존재하는 상태이면 이상으로 판단하는 개방 상태 시험을 행한다.
OLT 제어부(15)는, 광스위치 제어부(31)를 통하여, 광스위치(32)에 포트(ｘ)를 개방 상태(다른 어느 포트(i)로도 접속시키지 않는 상태)로 되도록 회로를 구성 시킨다(스텝 S121). 이어서 OLT 제어부(15)는, 용장계 OSU(12-x)의 업 신호광의 수광 상태를 평가한다(스텝 S122). 이때, 업 신호광은 안정한 광원은 아니지만, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 및 용장계 OSU(12-x)가 정상 동작하고 있으면, 용장계 OSU(12-x)는 수광하지 않는다. 따라서, 이하의 상태
(c) 용장계 OSU(12-x)가 수광
을 검지하면, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 용장계 OSU(12-x)의 어느 것의 고장으로 판정할 수 있다(스텝 S123). 용장계 OSU(12-x)의 수광/비 수광은, 관측 중에 문턱치 이상의 전력의 업 신호광을 수광하고 있는/수광하고 있지 않은 것으로 판정하여도 좋다. 또는, 용장계 OSU(12-x)의 수광/비 수광은, 관측 중에 문턱치 이상 또는 규정치의 정보량(비트수, 프레임수, 패킷수, 셀 수 등)의 업로드 데이터를 수신하고 있는/수신하고 있지 않은 것으로 판정하여도 좋다(이 경우, 루프 시험설정 등에 의해 특정의 OSU로부터 규정수의 정보량(비트수, 프레임수, 패킷수, 셀 수 등)을 출력시키는 설정으로 하면, 업 신호의 정보량을 제어시킬 수 있다. 그 경우, 당해 ONU로부터의 송신정보인지 여부는, LLID 등의 식별자로 변별할 수 있다. 이와 같이, OSU 측으로부터 특정 ONU의 업 신호 송신 정보량을 제어하는 수단으로서는 루프 시험이나 OAM이 있고, 또한, 해당 ONU로부터의 송신 정보인지 여부의 식별자로서는, LLID나 SＡ가 존재한다.
(c)가 발생한 경우, OLT 제어부(15)는 고장요인에 관하여「개방시」로 기록하고, 경보를 출력하여 개방 상태 시험을 종료한다(스텝 S124). 이 경보는, OAM 신호로의 중첩, LED로의 출력, 또는 전용 출력단으로의 출력의 어느 것이어도 상관없다.
한편, 규정시간 T 내에 상기 상태 평가를 규정 간격ｔ(ｔ≤T)에서 또는 규정 회수 반복, 규정시간 T 사이 (c)의 현상이 발생하지 않으면, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 및 용장계 OSU(12-x)의 고장은 검지되지 않은 것으로서, 개방 상태 시험을 종료한다(스텝 S125, S126, S127).
포트(ｘ)가 개방 상태로 설정될 수 없도록 광스위치도 존재하는 것으로부터, 개방 상태 시험은 실행하지 않아도 좋다. 또한, 개방 상태 시험은, 회로 구성 시험 전에 행하여도, 후에 행하여도, 회로 구성 시험과 회로 구성 시험의 사이에 행하여도 상관없다. 도 4 및 도 5는, 개방 상태 시험을 회로 구성 시험 후에 행하는 흐름으로 되어 있지만, 본 발명은 여기에 한정되지 않는다.
[종료]
OLT 제어부(15)는, M개의 포트에 관한 「회로 구성 시험」과 1회의 개방 상태 시험이 종료한 후, 자기진단 동작을 종료한다. 또한 자기진단 동작 중에 PON 프로텍션을 행할 필요가 발생한 경우에도, 자기진단 동작을 종료한다.
(3) 무신호 상태 시험
제어회로(25)는, 용장계 OSU(12-x)가 대기상태일 때에, ONU(50)로부터의 신호광을 당해 ONU가 포함되는 광 액세스 네트워크의 정상계 OSU(11-i)와 용장계 OSU(12-x)의 쌍방에 입력하도록 광스위치(32)를 절환하여 회로 구성하고, 등록이 끝난 모든 ONU(50)에 대하여 신호광의 송신을 정지시키는 무신호 기간을 형성하며, 정상계 OSU(11-i)로의 광과 용장계 OSU(12-x)로의 광을 무신호 기간 사이 모니터하고, 한쪽으로의 광과 다른 쪽으로의 광이 불일치인 상태이면 이상으로 판단하는 무신호 상태 시험을 행한다.
상기 무신호 기간을 디스커버리·윈도우(Discovery Window)를 사용하여 실현할 수 있다. 도 10은, OSU에 있어서의 디스커버리·윈도우를 도시한 것이다. 디스커버리·윈도우는, 신규하게 접속된 미등록 ONU를 OSU에 등록하는 기간이고, OSU로부터 수하의 등록이 끝난 ONU 및 미등록 ONU에 대하여, 디스커버리용의 게이트 신호를 송신하는 것에 의해 개시된다. 게이트 신호를 수신한 미등록 ONU는, 규정된 시간 내에 OSU에 대하여 등록요구를 송신한다. 한편, 게이트 신호를 수신한 등록이 끝난 OSU는, 규정된 시간, 업 신호의 송신을 정지한다.
[개시]
도 9를 이용하여 무신호 상태 시험의 자기진단을 설명한다. 자기진단은, OLT 제어부(15) 내의 타이머, 또는 외부로부터의 트리거가 OLT 제어부(15)에 입력되는 것에 의해 기동한다(스텝 S141). 먼저, OLT 제어부(15)는, 스텝 S142, S143, S144, 및 S154를 행한다. 이들 스텝은, 도 4에서 설명한 스텝 S102, S103, S104, S113과 동일하다. 비 프로텍션 상태이면 다음의 [포트시험]에 진입한다.
[포트시험]
OLT 제어부(15)는, 광스위치 제어부(31)를 통하여, 광스위치(32)에 포트(ｘ)와 포트(i)를 접속하는 회로를 구성시킨다(스텝 S145). 이어서, 정상계 OSU(11-i)는, 수하의 OSU(50)에 대하여, 디스커버리용의 게이트 신호를 송신한다(스텝 S146). 이어서, OLT 제어부(15)는, 용장계 OSU(12-x)와 정상계 OSU(11-i)의 동시각의 수광 상태를 평가한다(스텝 S147). ONU(50)가 모두 OSU(11)에 등록되어 있는 경우, OSU(11-i)가 디스커버리용의 게이트 신호를 송신하여 무신호 기간(디스커버리·윈도우 기간(TD))을 설정하면, 용장계 OSU(12-x)와 정상계 OSU(11-i)는 그 사이 수광하지 않는 것으로 된다. 한편, 신규한 ONU가 존재하는 경우, 무신호 기간에 용장계 OSU(12-x)와 정상계 OSU(11-i)는 신규한 ONU로부터의 등록요구 신호광을 수광하는 것으로 된다. 즉, 무신호 기간(디스커버리·윈도우 )에 있어서,
(d) 신규 ONU 등록이 없는 경우에, 용장계 OSU(12-x)가 수광
(e) 신규 ONU가 있는 경우에, 용장계 OSU(12-x)가 비 수광
의 어느 상태를 검지한 경우에는, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 용장계 OSU(12-x)의 어느 것의 고장으로 판정할 수 있다(스텝 S148).
(d) 또는 (e)가 발생한 경우, OLT 제어부(15)는 고장요인에 관하여「무신호 회로 i 구성 시」로 기록하고, 경보를 출력하여 포트(i)에 대한 무신호 상태 시험을 종료한다(스텝 S149). 이 경보는, OAM 신호로 중첩, LED로의 출력, 전용 출력단으로의 출력, 또는 로그로의 축적의 어느 것이어도 상관없다.
한편, 규정시간 T 내에 상기 상태 평가를 규정 간격ｔ(ｔ≤T)에서 또는 규정 회수 반복, 규정시간 T 사이, 상기 (d) 또는 (e)의 현상이 발생하지 않으면, OLT 제어부(15)는, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 또는 용장계 OSU(12-x)의 고장은 검지되지 않는 것으로 판정되고, 포트(i)에 대한 회로 구성 시험을 종료한다(스텝 S150, S151).
포트(i) 이외의 포트에 대하여도 동일의 무신호 상태 시험을 실시한다(스텝 S152, S153). 스텝 S152 및 S153은, 각각 도 4의 스텝 S111 및 S112와 동일하다.
여기서, 도 9의 스텝 S147에 관하여 또한 설명한다. 스텝 S147에서는, 광입력 후에 상기 OSU가 일정 기간 출력하는 광검지 신호를 이용할 수 있다. 예컨대, 검지 신호는, SD(Signal　Detect)신호와 편의적으로 불리는 OSU 내부의 검지 신호 이다. SD 신호는, OSU가 업 신호광을 수신하면 신호 수신 상태(도 10의 예에서는 Ｈiｇｈ 레벨)로 되고, SD 관측 주기 마다에 발생하는 리세트 신호로 신호 비수신 상태(도 10의 예에서는 Ｌｏｗ 레벨)로 된다. 여기서, 전술한 규정시간 T에 관해서는, OSU의 SD 관측 주기를 적용하면 실장을 간이화할 수 있다. 다만, OSU 마다 SD 관측 주기가 상이한 경우도 있는 점에서, 이하, 이 경우의 대처에 관하여 설명을 행한다. 정상계 OSU(11-i)의 SD 관측 주기를 T1, 용장계 OSU(12-x)의 SD 관측 주기를 T2로 하면, 디스커버리용의 게이트 신호는 정상계 OSU(11-i)가 송신하기 때문에, 디스커버리·윈도우 기간 TD는 SD 관측 주기 T1의 정수배이고, SD 관측 주기와 디스커버리·윈도우 기간은 중첩 기간이 없는 것으로 한다.
이하, 신규 OSU 등록이 없는 경우의 디스커버리·윈도우 기간 TD의 SD 신호의 거동에 관하여 설명한다. 도 10으로부터 분명한 바와 같이, 정상계 OSU(11-i)의 SD 신호는, 디스커버리·윈도우 기간 TD의 직전에 리세트되어 비 수신 상태로 되어 있다. 디스커버리·윈도우 기간 TD는 SD 관측 주기 T1의 정수배이기 때문에, 정상계 OSU(11-i)의 SD 신호는, 디스커버리·윈도우 기간 TD에 있어서 비 수신 상태를 유지한다.
한편, 용장계 OSU(12-x)의 SD 신호는, 디스커버리·윈도우 기간 TD로 되고, 리세트 신호를 받은 다음 신호 비 수신 상태로 된다. 따라서, 도 10으로부터 분명한 바와 같이, 용장계 OSU(12-x)의 SD 관측 주기 T2가 디스커버리·윈도우의 기간 TD에 포함되어 비 수신 상태를 유지하도록 되는 조건은, T2≤TD/2로 된다. 즉, 이 조건을 부과한 것에 더하여 디스커버리·윈도우 기간 TD에 포함되는 2종류의 SD 신호(정상계 OSU(11-i)의 SD 신호, 및 용장계 OSU(12-x)의 SD 신호)를 비교하는 것에 의해, (d)의 고장 판정을 행하는 것이 가능하게 된다.
또한, 디스커버리·윈도우 기간 TD에 포함되는 용장계 OSU(12-x)의 SD 관측 주기 T2가 종료할 때에, 2종류의 SD 신호(정상계 OSU(11-i)의 SD 신호, 및 용장계 OSU(12-x)의 SD 신호)를 비교할 수 있도록 하기 위해서는, 도 10으로부터 분명한 바와 같이, T1≤T2로 되는 조건을 가하면 좋다.
상술한 바와 같이, 스텝 S146을 SD 신호에 의해 실장하는 경우, T1≤T2≤ TD/2로 설정하고, 또, 정상계 OSU(11-i)의 디스커버리·윈도우 기간 TD 내에 행해지는 용장계 OSU(12-x)의 SD 관측 주기 T2의 종료시에 있어서, 2종류의 SD 신호(정상계 OSU(11-i)의 SD 신호, 및, 용장계 OSU(12-x)의 SD 신호)를 비교하여, 용장계 OSU(12-x)의 최신의 SD 신호가 신호 수신 상태를 나타내고 있으면, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 용장계 OSU(12-x)의 어느 것의 고장으로 판정할 수 있다.
[종료]
OLT 제어부(15)는, M개의 포트에 관한 「무신호 상태 시험」을 종료한 후, 자기진단 동작을 종료한다. 자기진단 동작 중에 PON 프로텍션을 행할 필요가 발생한 경우에도, 자기진단 동작을 종료한다.
무신호 상태 시험은, 도 4에서 설명한 「(1) 회로 구성 시험」과 조합시킬 수 있다. 즉, 「(1) 회로 구성 시험」에 있어서, 스텝 S107에서“Nｏ”판정 후에 「무신호 상태 시험」의 스텝 S146, S147, S148 및 S149를 행하여도 좋다.
이상, 실시형태 1의 동작에 관하여 설명하였다. 혹시, 상기 자기진단에 의해 광스위치(32), 광스위치 제어부(31) 또는 용장계 OSU(12-x)에 고장이 발견되어, OLT 제어부(15)로부터 경보가 출력된 경우에는, 작업자가, 이들의 고장 개소를 교환 또는 수리하여, PON 프로텍션 전에 보전을 행할 수 있다.
실시형태 1의 이점은, 도 2의「용장계 OSU 공유형」의 PON 프로텍션 구성과 하드 웨어 구성이 동일한 것이다. 즉, 도 2의「용장계 OSU 공유형」의 PON 프로텍션 구성에 있어서, OLT 제어부(15)와 광스위치 제어부(31)에 본 발명의 제어 알고리즘을 추기하면 실현할 수 있는 기술이기 때문에 양산 시의 도입 비용을 낮게 할 수 있다.
또한, 실시형태 1의 다른 하나의 이점은, 용장계 OSU(12-x)에 관해서도, 부위에 따라서도 검지가능하다는 것이다. 즉, PON의 비 프로텍션 시에는, 각 정상계 OSU(11-i)는 통신을 행하고 있기 때문에 고장이 일어나면 통진단으로 되어 곧 검지될 수 있지만, 용장계 OSU(12-x)는 대기상태인 점에서, 도 2의「용장계 OSU 공유형」의 PON 프로텍션 구성으로는 신호의 입출력이 없다. 그러나, 실시형태 1의 광스위치(32)의 자기진단에 있어서는, 용장계 OSU(12-x)도 사용하는 점으로부터, 용장계 OSU(12-x)의 이상 발견도 가능하다.
(실시형태 2)
도 6은 본 실시형태의 PON 프로텍션 시스템(302)의 구성을 설명하는 도이다. PON 프로텍션 시스템(302)은, 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 OSU(11)와, 유저측 전송장치인 1대 이상의 ONU(50)를, 포인트·투·멀티포인트 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 PON에, 어느 OSU(11)의 대리로서 OSU(11)에 수용되는 ONU(50)와 통신할 수 있는 용장계 OSU(12), 용장계 OSU(12)와 어느 광 액세스 네트워크를 선택적으로 접속하는 광스위치(32), 정상계 OSU(11)로의 신호광과 용장계 OSU(12)로의 신호광을 광전력으로 측정하는 광전력 측정수단(38), 광스위치(32)의 절환 및 자기진단 방법을 행하는 제어회로(25)를 포함한다.
PON 프로텍션 시스템(302)은, 도 3의 PON 프로텍션 시스템(301)과 이하의 점에서 상이하다. 즉, 각 정상계 OSU(11-i)(i는 1 이상 M 이하의 정수)의 다운측에 스플리터(37-i), 및 용장계 OSU(12-x)의 다운측에 스플리터(37-ｘ)가 접속되어 있다. 스플리터(37-i)는, 각 정상계 OSU(11-i)에 입력되는 업 신호광을 분기하여 모니터하기 위한 것이다. 스플리터(37-ｘ)는, 용장계 OSU(12-x)에 입력되는 업 신호광을 분기하여 모니터하기 위한 것이다.
분기한 업 신호광의 광전력을 측정할 수 있도록, 각 스플리터(37)에는 광전력 측정수단(38)이 접속되어 있다. 정상계 OSU(11-i) 및 용장계 OSU(12-x)로의 업 신호광의 광전력을 모니터하는 광전력 측정수단을 각각 광전력 측정수단(38-i) 및 광전력 측정수단(38-ｘ)으로 칭한다. 이들 광전력 측정수단(38)은, 포토다이오드와 A/D 변환기, 또는 광파워메터와 같은 범용품을 사용할 수 있다. 이 광전력 측정수단(38)의 출력은, 광스위치 제어부에 입력되어 있다.
또한 스플리터(37-i)를, 스플리터(41-i)로부터 정상계 OSU(11-i)로의 경로에 접속하는 대신에, 스플리터(41-i)로부터 광스위치(32)의 포트(i)로의 경로에 접속하여도 좋다. 또는, 스플리터(37-i)는 사용하지 않고, 스플리터(41-i)를 N: 3 스플리터로 치환하여, N개의 포트는 ONU에 접속하고, 3개의 포트는 정상계 OSU(11-i)와 광스위치(32)의 포트(i), 광전력 측정수단(38-i)에 각각 접속하여도 좋다.
이하는, 광스위치(32)의 자기진단 기능에 관한 설명이다. 본 실시형태에 있어서도, PON의 업 신호광을 광스위치(32)의 자기진단에 있어서의 시험광에 사용되는 것을 특징으로 한다.
이 자기진단을 위한 동작은 이하와 같다. 도 7, 도 8 및 도 11에 플로우차트를 도시한다. 자기진단시에 있어서는, PON이 비프로텍션 상태인 것이 전제로 된다. 본 실시형태에 있어서, 정상계 OSU(11-i)로의 신호광과 용장계 OSU(12-x)로의 신호광을 소정 기간 모니터하고 회로 구성 시험과 개방 상태 시험을 행하는 점은 실시형태 1과 동일하다. 그러나, 신호광의 상태를 실시형태 1에서는 OSU의 수광 상태로 판정하고 있었지만, 본 실시형태에서는 광전력 측정수단(38)으로 판정하는 점이 상이하다.
[개시]
자기진단은, 광스위치 제어부(31) 내의 타이머, 또는, 외부로부터의 트리거가 광스위치 제어부(31)에 입력되는 것에 의해 기동한다(스텝 S201). 먼저, 광스위치 제어부(31)는, PON이 비프로텍션 상태인 것을 확인한다. 프로텍션의 지시는 OLT 제어부(15)로부터 광스위치 제어부(31)로 나오고 있기 때문에, 프로텍션/비 프로텍션 상태의 확인은, 광스위치 제어부(31)의 내부 메모리를 참조하면 가능하다(이 외, 정상계 OSU(11-i), 용장계 OSU(12-x), 또는, 광스위치 제어부(31)의 내부 메모리를 참조하여도 가능하다). 비 프로텍션 상태가 아니면 자기진단은 행해지지 않는다(스텝 S213). 비 프로텍션 상태이면 다음의 [포트시험]으로 진입한다.
[포트시험]
광스위치(32)에는, 용장계 OSU(12) 측의 포트(ｘ)를 ONU(50) 측의 포트(포트(i))에 접속하여 회로를 구성하는 M 조합이 있는 점에서, M 유형의「회로 구성 시험」이 행해진다. 또한, 해방상태(OSU 측의 포트(ｘ)를 다른 어느 포트와도 접속시키지 않은 상태)가 있는 점에서, 1회의 개방 상태 시험이 행해진다. 이들 시험방법에 관하여 설명한다. 이들 시험의 동작 순서는 임의이다.
(1) 회로 구성 시험(스텝 S204~S212)
광스위치 제어부(31)는, 광스위치(32)에 포트(ｘ)와 포트(i)를 접속하는 회로를 구성시킨다(스텝 S205). 이어서 광스위치 제어부(31)는, 광전력 측정수단(38-ｘ)과 광전력 측정수단(38-i)의 동시각에 있어서의 업 신호 수광 상태를 평가한다(스텝 S206). 이때, 업 신호는 안정한 광원은 아니지만, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 용장계 OSU(12-x), 및 정상계 OSU(11-i)가 정상 동작하고 있으면, 광전력 측정수단(38-ｘ)과 광전력 측정수단(38-i)은 동시에 수광하는 것으로 된다. 따라서, 이하의 상태
(a) 광전력 측정수단(38-ｘ)이 비 수광, 광전력 측정수단(38-i)이 수광
(b) 광전력 측정수단(38-ｘ)이 수광, 광전력 측정수단(38-i)이 비 수광
의 어느 하나라도 검지하면, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 광전력 측정수단(38)의 어느 고장으로 판정할 수 있다(스텝 S207, S208). 또한, 광전력 측정수단(38-ｘ)과 광전력 측정수단(38-i)의 수광/비 수광은, 관측 중에 문턱치 이상의 전력의 업 신호광을 수광하고 있는/수광하고 있지 않은 것으로 판정하면 좋다.
(a) 또는 (b)가 발생한 경우, 광스위치 제어부(31)는 고장요인에 관하여「회로 i 구성 시」로 기록하고, 경보를 출력하여 포트(i)에 대한 회로 구성 시험을 종료한다(스텝 S208). 이 경보는, 회선을 통하여 OLT 제어부(15)로의 출력, LED로의 출력, 전용 출력단로의 출력, 또는 로그로의 축적이어도 상관없다.
한편, 규정시간 T 내에 상기 상태 평가를 규정 간격ｔ(ｔ≤T)에서 또는 규정 회수 반복, 규정시간 T 사이 (a) 또는 (b)의 현상이 발생하지 않으면, 광스위치 제어부(31)는, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 및 광전력 측정수단(38)의 고장은 검지되지 않는 것으로 판정되고, 포트(i)에 대한 회로 구성 시험을 종료한다(스텝 S209, S210).
또한, 상기는 특정의 포트(i)에 대한 회로 구성 시험의 흐름이다. 다른 포트에 대하여도 동일 회로 구성 시험을 실시한다(스텝 S211, S212). 또한, 회로 구성 시험 시, i는 1로부터 M으로 단조 증가시켜도, M으로부터 1로 단조 감소시켜도, 임의로 변화시켜도 상관없다. 도 7은, i를 1로부터 M으로 단조증가시키는 흐름으로 되어 있지만, 본 발명은 이것에 한정되지 않는다.
(2) 개방 상태 시험
광스위치 제어부(31)는, 광스위치(32)에 포트(ｘ)를 개방 상태(다른 어느 포트와도 접속시키지 않은 상태)로 되도록 회로를 구성시킨다. 이어, 광스위치 제어부(31)는, 광전력 측정수단(38-ｘ)의 업 신호광의 수광 상태를 평가한다. 이때, 업 신호는 안정한 광원은 아니지만, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 및 광전력 측정수단(38-ｘ)이 정상 동작하고 있으면, 광전력 측정수단(38-ｘ)은 수광하지 않는다. 따라서, 이하의 상태
(c) 광전력 측정수단(38-ｘ)가 수광
을 검지하면, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 및 광전력 측정수단(38-ｘ)의 어느 것의 고장으로 판정할 수 있다(스텝 S213). 또한 광전력 측정수단(38-ｘ)의 수광/비 수광은, 관측 중에 문턱치 이상의 전력의 업 신호광을 수광하고 있는/수광하고 있지 않은 것으로 판정하면 좋다.
(c)가 발생한 경우, 광스위치 제어부(31)는 고장 요인에 관하여「개방시」로 기록하고, 경보를 출력하여 개방 상태 시험을 종료한다(스텝 224). 이 경보는, 회선을 통하여 OLT 제어부로의 출력, LED로의 출력, 또는 전용 출력단로의 출력이어도 상관없다.
한편, 규정시간 T 내에 상기 상태 평가를 규정 간격ｔ(ｔ≤T)에서 또는 규정 회수 반복, 규정시간 T 사이(c)의 현상이 발생하지 않으면, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 및 광전력 측정수단(38-ｘ)의 고장은 검지되지 않은 것으로서, 개방 상태 시험을 종료한다(스텝 S225, S226, S227).
또한, 포트(ｘ)가 개방 상태로 설정될 수 없도록 광스위치도 존재하는 것으로부터, 개방 상태 시험은 실행하지 않아도 좋다. 또한, 개방 상태 시험은, 회로 구성 시험 전에 행하여도, 후에 행하여도, 회로 구성 시험과 회로 구성 시험의 사이에 행하여도 상관없다. 도 7 및 도 8은, 개방 상태 시험을 회로 구성 시험 후에 행하는 흐름으로 되어 있지만, 본 발명은 이것에 한정되지 않는다.
[종료]
광스위치 제어부(31)는, M개의 포트에 대한 회로 구성 시험과 1회의 개방 상태 시험이 종료한 후, 자기진단 동작을 종료한다. 또한, 자기진단 동작 중에 PON 프로텍션을 행할 필요가 발생한 경우에도, 자기진단 동작을 종료한다.
(3) 무신호 상태 시험
실시형태 2의 구성에 있어서도 실시형태 1에서 설명한 무신호 상태 시험을 행할 수 있다. 도 12는, 본 실시형태의 OSU에 있어서의 디스커버리·윈도우를 도시한 것이다. 본 실시형태도 무신호 기간을 디스커버리·윈도우로 할 수 있다.
[개시]
도 11을 사용하여 무신호 상태 시험의 자기진단을 설명한다. 스텝 S241, S242, S243, S244, 및 S254는, 각각 도 9의 스텝 S141, S142, S143, S144, 및 S154과 동일하다. 스텝 S243에서 비 프로텍션 상태이면 다음의 [포트시험]으로 진행한다.
[포트시험]
스텝 S245는 도 9의 스텝 S145와 동일하다. 이어서, 정상계 OSU(11-i)는, 수하의 OSU(50)에 대하여, 디스커버리용의 게이트 신호를 송신한다(스텝 S246). 이어서, OLT 제어부(15)는, 용장계 OSU(12-x)와 정상계 OSU(11-i)의 동시각의 수광 상태를 광전력 측정수단(38)을 사용하여 평가한다(스텝 S247). 즉, 무신호 기간(디스커버리·윈도우 )에 있어서,
(d) 신규 ONU 등록이 없는 경우에, 광전력 측정수단(38-ｘ)이 수광
(e) 신규 ONU가 있는 경우에, 광전력 측정수단(38-ｘ)이 비 수광
의 어느 상태를 검지한 경우에는, 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 용장계 OSU(12-x)의 어느 것의 고장으로 판정할 수 있다(스텝 S248).
스텝 S249~S255는, 각각 도 9의 스텝 S149~S155과 동일하다.
[종료]
OLT 제어부(15)는, M개의 포트에 관한 「무신호 상태 시험」을 종료한 후, 자기진단 동작을 종료한다. 자기진단 동작 중에 PON 프로텍션을 행할 필요가 발생한 경우에도, 자기진단 동작을 종료한다.
또한, 무신호 상태 시험은, 도 7에서 설명한 「(1)회로 구성 시험」과 조합시킬 수 있다. 즉, 「(1) 회로 구성 시험」에 있어서, 스텝 S207에서“Nｏ”판정 후에 「무신호 상태 시험」의 스텝 S246, S247, S248 및 S249을 행하여도 좋다.
이상, 실시형태 2의 동작에 관하여 설명하였다. 만약, 상기의 자기진단에 의해 광스위치(32), 광스위치 제어부(31), 광전력 측정수단(38-ｘ) 또는 광전력 측정수단(38-i)에 고장이 발견되어, 광스위치 제어부(31)로부터 경보가 출력되어 있는 경우에는, 작업자가, 이들의 고장 개소를 교환 또는 수리하여, PON 프로텍션 전에 보전을 행할 수 있다.
실시형태 2의 이점은, 자기진단 동작에 관하여, OLT 제어부의 제어 소프트웨어의 수정이 불필요하다는 것이다. 즉, 자기진단의 시험광의 광전력을 측정하는 것은 OSU가 아니라 새로이 설계된 광전력 측정수단(38)이고, 이 측정결과는 광스위치 제어부(31)에 입력되어 있다. 따라서, 자기진단의 제어 알고리즘은, 모두, 광스위치 제어부(31)에 격납할 수 있다. OLT 제어부(15)와 광스위치 제어부(31)의 사이의 자기진단에 관한 추가는, 고작, 자기진단 개시의 지시와 결과의 수취가 고려된다. 광스위치 제어부(31)에 자기진단 기동용의 타이머나 결과를 직접 출력하는 OAM 출력단을 설치하면, 상기의 추가조차 불필요하다. 이것은 도 2의 「용장계 OSU 공유형」PON 프로텍션의 OLT에 대하여, 광스위치 제어부(31)측 만의 대응만으로, 광스위치의 자기진단 기능을 부가가능한 것으로 된다.
이하는, 본 실시형태의 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법을 설명한 것이다.
(1) 광가입자 선단국 장치 제어부 , M대(M은 1 이상의 정수)의 정상계 광가입자 선 종단 유닛i (i는 1 이상 M 이하의 정수), 1대의 용장계 광가입자 선 종단 유닛으로부터 이루어지는 광가입자 선단국 장치,
M개의 입출력 포트 내의 임의의 입출력 포트(i) (i는 1 이상 M 이하의 정수)가, 1개의 입출력 포트(ｘ)에 결합될 수 있는 M: 1광스위치,
상기 M: 1광스위치를 제어하는 광스위치 제어부,
M개의 N: 2스플리터 i(i는 1 이상 M 이하의 정수) (N은 1 이상의 정수)로부터 구성되며,
상기 광가입자 선단국 장치 제어부와 상기 정상계 광가입자 선 종단 유닛 i의 제어회선이 접속되며,
상기 광가입자 선단국 장치 제어부와 상기 용장계 광가입자 선 종단 유닛의 제어회선이 접속되고,
상기 광가입자 선단국 장치 제어부와 상기 광스위치 제어부의 제어회선이 접속되며,
상기 광스위치 제어부와 상기 M:1 광스위치의 제어 회선이 접속되고,
상기 N:2 스플리터 i의 2분기의 한쪽이 상기 정상계 광가입자 선 종단 유닛i의 광입출력단과 접속되며,
상기 N: 2스플리터 i의 2분기의 다른 쪽이 상기 M: 1광스위치의 포트(i)과 접속되고,
상기 상기 M: 1광스위치의 포트(ｘ)가 상기 용장계 광가입자 선 종단 유닛의 광입출력단과 접속된 PON 프로텍션 시스템에 있어서,
상기 광가입자 선단국 장치 제어부가, 타이머 또는 외부 트리거를 계기로 하여, PON이 비프로텍션 상태이면 자기진단 동작을 개시하고, PON이 프로텍션 상태이면 자기진단 동작을 종료하는 스텝 1,
자기진단 동작을 개시하는 경우에, 상기 광가입자 선단국 장치 제어부가, 상기 광스위치 제어부를 통하여, 상기 포트(ｘ)와 상기 포트(i)를 접속하는 회로를 구성시켜, 규정 시간 사이, 상기 광가입자 선단국 장치 제어부가 상기 정상계 광가입자 선 종단 유닛 i과 상기 용장계 광가입자 선 종단 유닛의 수광 상태를 동시에 평가하는 것을 반복하고, 이 사이에, 상기 정상계 광가입자 선 종단 유닛 i과 상기 용장계 광가입자 선 종단 유닛의 한쪽이 수광 상태이고 다른 쪽이 비 수광상태이면, 상기 광가입자 선단국 장치 제어부는 경보를 출력하는 스텝 2-i,
상기 광가입자 선단국 장치 제어부가, 자기진단 동작을 종료하는 스텝 3를 갖고,
스텝 2-i는, i가 1 이상 M 이하의 모든 정수에 관하여, 임의의 순서로 행하는 것을 특징으로 하는, PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
(2) 상기 광가입자 선단국 장치 제어부가, 상기 광스위치 제어부를 통하여, 상기 포트(ｘ)와 임의의 상기 포트(i) (i는 1 이상 M 이하)의 어느 것과도 접속하지 않은 개방 상태를 구성시키고, 규정 시간 사이, 상기 광가입자 선단국 장치 제어부가 상기 용장계 광가입자 선 종단 유닛의 수광 상태를 평가하는 것을 반복하며, 이 사이에, 상기 용장계 광가입자 선 종단 유닛이 수광상태이면, 상기 광가입자 선단국 장치 제어부는 경보를 출력하는 스텝 4를 갖고,
상기 스텝 4는, 상기 스텝 2-i (i는 1 이상 M 이하)의 내의 임의의 1 스텝의 전 또는 후에 행해지는 것을 특징으로 하는, (1)에 기재된 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
(3) 광가입자 선단국 장치 제어부, M대(M은 1 이상의 정수)의 정상계 광가입자 선 종단 유닛 i (i는 1 이상 M 이하의 정수), 1대의 용장계 광가입자 선 종단 유닛으로부터 이루어지는 광가입자 선단국 장치,
M개의 입출력 포트 내의 임의의 입출력 포트(i) (i는 1 이상 M 이하의 정수)가, 1개의 입출력 포트(ｘ)에 결합될 수 있는 M: 1 광스위치,
상기 M: 1광스위치를 제어하는 광스위치 제어부,
M개의 N: 2스플리터 i (i는 1 이상 M 이하의 정수) (N은 1 이상의 정수)로부터 구성되며,
상기 광가입자 선단국 장치 제어부와 상기 정상계 광가입자 선 종단 유닛 i의 제어 회선이 접속되고,
상기 광가입자 선단국 장치 제어부와 상기 용장계 광가입자 선 종단 유닛의 제어회선이 접속되며,
상기 광가입자 선단국 장치 제어부와 상기 광스위치 제어부의 제어회선이 접속되며,
상기 광스위치 제어부와 상기 M: 1광스위치의 제어회선이 접속되며,
상기 N:2스플리터 i의 2분기의 한쪽이 상기 정상계 광가입자 선 종단 유닛 i의 광입출력단과 접속되고,
상기 N: 2스플리터 i의 2분기의 다른쪽이 상기 M: 1광스위치의 포트(i)과 접속되며,
상기 상기 M: 1광스위치의 포트(ｘ)가 상기 용장계 광가입자 선 종단 유닛의 광입출력단과 접속된 PON 프로텍션 시스템에 있어서,
상기 N: 2스플리터 i의 2분기의 한쪽과 상기 정상계 광가입자 선 종단 유닛 i의 광입출력단 사이, 또는, 상기 N: 2스플리터 i의 2분기의 다른 쪽과 상기 M: 1광스위치의 포트(i) 사이에, 스플리터 i (i는 1 이상 M 이하의 정수)를 제공하고,
상기 스플리터 i에는 업 신호광을 모니터하기 위한 광전력 측정수단 i (i는 1 이상 M 이하의 정수)를 접속하며,
상기 상기 M: 1광스위치의 포트(ｘ)와 용장계 광가입자 선 종단 유닛의 광입출력단 사이에, 스플리터ｘ를 제공하며,
상기 스플리터ｘ에는 업 신호광을 모니터하기 위한 광전력 측정수단ｘ을 접속하고,
상기 광스위치 제어부와 상기 광전력 측정수단 i의 출력이 접속되고,
상기 광스위치 제어부와 상기 광전력 측정수단ｘ의 출력이 접속되며,
상기 광스위치 제어부가, 타이머 또는 외부 트리거를 계기로 하여, PON이 비프로텍션 상태이면 자기진단 동작을 개시하고, PON이 프로텍션 상태이면 자기진단 동작을 종료하는 스텝 1,
자기진단 동작을 개시하는 경우에, 상기 광스위치 제어부가 상기 포트(ｘ)와 상기 포트(i)를 접속하는 회로를 구성시키고, 규정시간 사이, 상기 광스위치 제어부가 상기 광전력 측정수단 i와 상기 광전력 측정수단 ｘ의 수광 상태를 동시에 평가하는 것을 반복하고, 이 사이에, 상기 광전력 측정수단 i과 상기 광전력 측정수단 ｘ의 한쪽이 수광 상태에서 다른 쪽이 비 수광상태이면, 상기 광스위치 제어부는 경보를 출력하는 스텝 2-i,
상기 광스위치 제어부가, 자기진단 동작을 종료하는 스텝 3을 갖고,
스텝 2-i는, i가 1 이상 M 이하인 모든 정수에 관하여, 임의의 순서로 행하는 것을 특징으로 한다, PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
상기 광스위치 제어부가, 상기 포트(ｘ)와 임의의 상기 포트(i) (i는 1 이상 M 이하)의 어느 것과도 접속하지 않는 개방 상태를 구성시키고, 규정 시간 사이, 상기 광스위치 제어부가 상기 광전력 측정수단 ｘ의 수광 상태를 평가하는 것을 반복하고, 이 사이에, 상기 광전력 측정수단 ｘ이면, 상기 광스위치 제어부는 경보를 출력하는 스텝 4를 갖고,
상기 스텝 4는, 상기 스텝 2-i (i는 1 이상 M 이하) 내의 임의의 1 스텝의 전 또는 후에 행해지는 것을 특징으로 하는, (3)에 기재된 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
10: OLT
11, 11-1, 11-2, ..., 11-i, ..., 11-M: 정상계 OSU
12, 12-ｘ: 용장계 OSU
15: OLT 제어부
25: 제어회로
31: 광스위치 제어부
32: 광스위치
37, 37-1, 37-2, ..., 37-i,..., 37-M, 37-ｘ: 스플리터
38, 38-1, 38-2, ..., 38-i, ..., 38-M, 38-ｘ: 광전력 측정수단
41, 41-1, 41-2,..., 41-i,..., 41-M: N×2 스플리터
50, 51, 51-1, 51-2, 51-3: ONU
301, 302: PON 프로텍션 시스템

Claims (16)

  1. 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 광가입자 선 종단 유닛(OSU; Optical　Subscriber　Unit), 유저측 전송장치인 1대 이상의 광가입자 선종단 장치(ONU; Optical　Network　Unit)를, 포인트·투·멀티포인트(point-to-multipoint) 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 패시브 옵티컬 네트워크(PON ; Passive　Optical　Network)에, 광스위치의 절환으로 임의의 상기 OSU의 대리로서 상기 OSU에 수용되는 상기 ONU와 통신할 수 있는 용장계 OSU를 포함한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법으로서,
    상기 용장계 OSU가 대기상태일 때에, 상기 ONU로부터의 신호광을 상기 ONU가 포함되는 상기 광 액세스 네트워크의 상기 정상계 OSU와 상기 용장계 OSU의 쌍방에 입력하도록 상기 광스위치를 절환하여 회로 구성하고, 상기 정상계 OSU로의 신호광과 상기 용장계 OSU로의 신호광을 소정 기간 모니터하고, 한쪽으로의 신호광과 다른 쪽으로의 신호광이 불일치인 상태이면 이상으로 판단하는 회로 구성 시험을 행하는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  2. 제1항에 있어서, 상기 회로 구성 시험을 복수회 반복하여 행하는 것을 특징으로 하는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  3. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 회로 구성 시험에 있어서, 신호광을 상기 정상계 OSU와 상기 용장계 OSU로 소정 기간 모니터하는 것을 특징으로 하는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  4. 제1항 또는 제2항에 있어서, 상기 회로 구성 시험에 있어서, 상기 정상계 OSU로의 광과 상기 용장계 OSU로의 신호광을 광전력 측정으로 소정 기간 모니터하는 것을 특징으로 하는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  5. 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 광가입자 선 종단 유닛(OSU; Optical　Subscriber　Unit), 유저측 전송장치인 1대 이상의 광가입자 선종단 장치(ONU; Optical　Network　Unit)를, 포인트·투·멀티포인트(point-to-multipoint) 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 패시브 옵티컬 네트워크(PON ; Passive　Optical　Network)에, 광스위치의 절환으로 임의의 상기 OSU의 대리로서 상기 OSU에 수용되는 상기 ONU와 통신할 수 있는 용장계 OSU를 포함한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법으로서,
    상기 용장계 OSU가 대기상태일 때에, 상기 ONU로부터의 신호광을 상기 ONU가 포함되는 상기 광 액세스 네트워크의 상기 정상계 OSU에만 입력하도록 상기 광스위치를 개방하여 상기 용장계 OSU와 상기 ONU와의 회로를 개방 상태로서, 상기 용장계 OSU로의 신호광을 소정 기간 모니터하고, 상기 용장계 OSU로의 신호광이 존재하는 상태이면 이상으로 판단하는 개방 상태 시험을 행하는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  6. 제5항에 있어서, 상기 개방 상태 시험을 복수회 반복하여 행하는 것을 특징으로 하는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  7. 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 개방 상태 시험에 있어서, 신호광을 상기 용장계 OSU에서 소정 기간 모니터하는 것을 특징으로 하는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  8. 제5항 또는 제6항에 있어서, 상기 개방 상태 시험에 있어서, 상기 용장계 OSU로의 신호광을 광전력 측정으로 소정 기간 모니터하는 것을 특징으로 하는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  9. 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 광가입자 선 종단 유닛(OSU; Optical　Subscriber　Unit), 유저측 전송장치인 1대 이상의 광가입자 선종단 장치(ONU; Optical　Network　Unit)를, 포인트·투·멀티포인트(point-to-multipoint) 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 패시브 옵티컬 네트워크(PON; Passive　Optical　Network)에, 광스위치의 절환으로 임의의 상기 OSU의 대리로서 상기 OSU에 수용되는 상기 ONU와 통신할 수 있는 용장계 OSU를 포함한 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법으로서,
    상기 용장계 OSU가 대기상태일 때에, 상기 ONU로부터의 신호광을 상기 ONU가 포함되는 상기 광 액세스 네트워크의 상기 정상계 OSU와 상기 용장계 OSU의 쌍방에 입력하도록 상기 광스위치를 절환하여 회로 구성하고, 등록이 끝난 모든 상기 ONU에 대하여 신호광의 송신을 정지시키는 무신호 기간을 형성하고, 상기 정상계 OSU로의 광과 상기 용장계 OSU로의 광을 무신호 기간 사이 모니터하고, 한쪽으로의 광과 다른 쪽으로의 광이 불일치인 상태이면 이상으로 판단하는 무신호 상태 시험을 행하는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  10. 제9항에 있어서, 상기 무신호 상태 시험을 복수회 반복하여 행하는 것을 특징으로 하는 ON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  11. 제9항 또는 제10항에 있어서, 상기 무신호 기간이 디스커버리·윈도우인 것을 특징으로 하는 PON 프로텍션 시스템의 ON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  12. 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 무신호 상태 시험에 있어서, 광입력 후에 상기 OSU가 일정 기간 출력하는 광검지 신호(light detection siginal)를 사용하는 것을 특징으로 하는 PON 프로텍션 시스템의 ON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 정상계 OSU가 상기 광검지 신호를 출력하는 시간을 T1,
    상기 용장계 OSU가 상기 광검지 신호를 출력하는 시간을 T2,
    상기 무신호 기간의 시간을 TD,
    로 했을 때 T1≤T2≤TD/2인 것을 특징으로 하는 PON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  14. 제9항 내지 제11항 중 어느 한 항에 있어서, 상기 무신호 상태 시험에 있어서, 상기 정상계 OSU로의 광과 상기 용장계 OSU로의 광을 광전력 측정으로 모니터하는 것을 특징으로 하는 PON 프로텍션 시스템의 ON 프로텍션 시스템의 자기진단 방법.
  15. 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 광가입자 선 종단 유닛(OSU; Optical　Subscriber　Unit), 유저측 전송장치인 1대 이상의 광가입자 선종단 장치(ONU; Optical　Network　Unit)를, 포인트·투·멀티포인트(point-to-multipoint) 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 패시브 옵티컬 네트워크(PON ; Passive　Optical　Network)에,
    임의의 상기 OSU 대리로서 상기 OSU에 수용되는 상기 ONU와 통신할 수 있는 용장계 OSU와,
    상기 용장계 OSU와 임의의 상기 광 액세스 네트워크를 선택적으로 접속하는 광스위치와,
    상기 광스위치의 절환 및 청구항 제1항, 제2항, 제3항, 제5항, 제6항, 제7항, 제9항, 제10항, 제11항, 제12항, 제13항에 기재된 자기진단 방법을 행하는 제어회로를 포함하는 PON 프로텍션 시스템.
  16. 기지국측 전송장치인 1대의 정상계 광가입자 선 종단 유닛(OSU; Optical　Subscriber　Unit), 유저측 전송장치인 1대 이상의 광가입자 선종단 장치(ONU; Optical　Network　Unit)를, 포인트·투·멀티포인트(point-to-multipoint) 형태로 접속하는 광 액세스 네트워크를 복수 포함하는 패시브 옵티컬 네트워크(PON ; Passive　Optical　Network)에,
    임의의 상기 OSU의 대리로서 상기 OSU에 수용되는 상기 ONU와 통신할 수 있는 용장계 OSU와,
    상기 용장계 OSU와 임의의 상기 광 액세스 네트워크를 선택적으로 접속하는 광스위치와,
    상기 정상계 OSU로의 신호광과 상기 용장계 OSU로의 신호광을 광전력으로 측정하는 광전력 측정수단과,
    상기 광스위치의 절환 및 청구항 제1항, 제2항, 제4항, 제5항, 제6항, 제8항, 제9항, 제10항, 제11항, 제14항에 기재된 자기진단 방법을 행하는 제어회로를 포함한 PON 프로텍션 시스템.
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