KR20130126533A - 온도에 걸친 향상된 액세서리 검출 - Google Patents

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KR20130126533A
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그레고리 에이. 마허
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페어차일드 세미컨덕터 코포레이션
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Abstract

본 발명은 다른 것들 중에서도 넓은 온도 범위에 걸쳐 모바일 전자 디바이스에 결합된 액세서리를 정확하게 식별하도록 구성된 장치 및 방법을 제공한다. 일실시예에서, 본 발명에 따른 장치는, 기준 전압을 제공하도록 구성된 기준 전압 발생기와, 기준 전압을 액세서리 저항기(accessory resistor) 양단의 전압과 비교하도록 구성된 비교기와, 액세서리 저항기에 연결되고, 액세서리 저항기를 이용하여 비교기에 상기 전압을 제공하도록 구성된 전류 공급부를 포함할 수 있다. 전류 공급부는, 제1 온도 의존성(temperature dependency)을 갖는 제1 감지 저항기와, 제2 온도 의존성을 갖는 제2 감지 저항기를 포함할 수 있다. 일실시예에서, 제2 온도 의존성은 제1 온도 의존성의 적어도 일부분을 보상하도록 이루어질 수 있다. 일실시예에서, 제1 및 제2 온도 의존성 중의 적어도 하나가 상기 장치의 온도 의존성을 제어하도록 이루어질 수 있다.

Description

온도에 걸친 향상된 액세서리 검출{IMPROVED ACCESSORY DETECTION OVER TEMPERATURE}
본 발명은 다른 것들 중에서도 전자 디바이스에 대한 액세서리(accessory) 검출에 관한 것으로, 보다 구체적으로는 모바일 전자 디바이스에 결합된 액세서리를 정확하게 식별하는 온도에 민감하지 않은 장치 및 방법에 관한 것이다.
모바일 전자 디바이스가 더욱 보편화됨에 따라, 디바이스의 기능이 확장되고 있다. 그 결과, 설계자는 우수한 사용자 경험을 제공하는 특징을 구현하고 있다. 다수의 이러한 특징 중의 하나는 다양한 부착 액세서리의 자동 식별이다. 그러나, 모바일 전자 디바이스의 크기가 감소하고, 이들의 이동성이 더욱 용이하게 됨에 따라, 디바이스는 넓은 범위의 온도를 받게 될 수 있으며, 이것은 부착된 액세서리의 식별이 달라지게 할 수 있다.
본 발명은 다른 것들 중에서도 넓은 온도 범위에 걸쳐 모바일 전자 디바이스에 결합된 액세서리를 정확하게 식별하도록 구성된 장치 및 방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
일실시예에서, 본 발명에 따른 장치는, 기준 전압을 제공하도록 구성된 기준 전압 발생기와, 상기 기준 전압을 액세서리 저항기(accessory resistor) 양단에 전개되는 전압과 비교하도록 구성된 비교기와, 상기 액세서리 저항기에 연결되고, 상기 액세서리 저항기를 이용하여 상기 비교기에 상기 전압을 제공하도록 구성된 전류 공급부를 포함할 수 있다. 상기 전류 공급부는, 제1 온도 의존성(temperature dependency)을 갖는 제1 감지 저항기와, 제2 온도 의존성을 갖는 제2 감지 저항기를 포함할 수 있다. 일실시예에서, 상기 제2 온도 의존성은 상기 제1 온도 의존성의 적어도 일부분을 보상하도록 이루어질 수 있고, 상기 장치의 온도 의존성을 제어하도록 이루어질 수 있다.
본 과제의 해결 수단 부분은 본 특허 출원의 발명의 청구 대상의 개요를 제공하기 위한 것이며, 본 발명에 대한 배타적이거나 총괄적인 설명을 제공하려는 것이 아니다. 본 특허 출원에 대한 추가의 정보는 상세한 설명에 포함되어 있다.
반드시 실척으로 도시될 필요는 없는 도면에서, 동일한 도면 부호는 상이한 도면에 있는 유사한 구성요소를 나타낼 수도 있다. 앞자리의 숫자가 상이한 도면 부호는 유사한 구성요소의 상이한 예를 나타낼 수도 있다. 이들 도면은 전반적으로 본 명세서에서 논의되는 각종 실시 형태를 제한하기 위한 것이 아니라 예로서 설명하기 위한 것이다.
도 1은 부착된 액세서리의 임피던스를 바이어스하도록 구성된 모바일 디바이스의 일례의 바이어스 회로를 도시하는 도면이다.
기존의 모바일 디바이스는 모바일 디바이스의 기능을 확장시키거나 또는 모바일 디바이스를 이용한 사용자 경험을 향상시키기 위해 다양한 액세서리에 대한 접속을 도모할 수 있다. 다수의 액세서리는 액세서리를 식별하거나 또는 액세서리에 연관된 기능을 식별하는데 이용하기 위한 저항기를 통한 레지스턴스와 같은 임피던스를 포함한다. 모바일 디바이스에의 접속 시에, 모바일 디바이스는 액세서리 저항기를 기준 전류로 바이어스할 수 있고, 액세서리 저항기 양단의 전압을 기준 전압과 비교할 수 있다. 특정한 실시예에서, 기준 전압은 복수의 레지스턴스 값 중의 하나를 식별하도록 변경될 수 있다.
일부 실시예에서, 바이어스 회로는 기준 전압을 액세서리 저항기 양단의 전압과 비교하도록 구성된 비교기를 포함할 수 있다. 일실시예에서, 바이어스 회로는 비교 결과를 나타내는 출력을 제공하도록 구성될 수 있다. 바이어스 회로의 출력은 액세서리 저항기의 레지스턴스 값을 식별하도록 구성될 수 있다. 액세서리 저항기의 레지스턴스 값은 연결된 액세서리의 타입을 식별하기 위해 이용될 수 있다. 연결된 액세서리의 타입을 식별한 후, 모바일 디바이스의 컨트롤러는 액세서리에 의해 제공될 수 있는 기능을 확장하는 것을 포함한 액세서리의 이용을 최적화하도록 모바일 디바이스를 구성할 수 있다.
특정의 실시예에서, 모바일 디바이스의 바이어스 회로는 액세서리의 레지스턴스 값의 식별을 통해 연결된 액세서리를 식별하는 것을 지원하기 위해 모바일 디바이스의 포트의 하나 이상의 단자에 결합될 수 있다. 일실시예에서, 포트는 모바일 디바이스의 유니버설 시리얼 버스(USB) 포트이어도 된다.
저항기의 레지스턴스 값을 측정하는 정확도에 대해 여러 환경이 영향을 줄 수 있다. 그 중 하나의 환경은 예컨대 액세서리 저항기에 기준 전류를 제공하기 위해 이용되는 회로에서의 잘못 매칭된 컴포넌트 레이아웃을 포함할 수 있다. 그러나, 레이아웃 매칭에 관련된 문제를 해결한 때에도, 바이어스 회로의 컴포넌트의 온도 의존성(temperature dependency)이 모바일 디바이스에 의한 연결된 액세서리의 잘못된 식별에 기여할 수 있다.
본 발명의 발명자는 다른 것들 중에서도 넓은 온도 범위에 걸쳐 액세서리 디바이스의 레지스턴스의 값을 정확하게 식별하도록 구성된 장치 및 방법을 인지하였다. 도 1은 전반적으로 부착된 액세서리의 임피던스를 바이어스하도록 구성된 모바일 디바이스의 일례의 바이어스 회로(100)를 도시하고 있다.
저항기 검출은 모바일 디바이스의 마이크로-USB, 오디오 잭, 배터리 인터페이스 또는 하나 이상의 기타 인터페이스에 부착되어 있는 액세서리 또는 배터리를 식별하는 방법이다. 모바일 디바이스는 주위환경 온도 범위(environmental temperature range), 충전 회로에 연관된 온도 범위 등을 포함하는 커다란 온도 범위에 놓이게 될 수 있으며, 이러한 온도 범위는 전술한 것으로 한정되지 않는다. 일실시예에서, 접속된 액세서리(102)의 액세서리 저항기(101) 상에 전압을 생성하기 위해 이용되는 전류와 같은 검출 회로의 기준 전류가, 액세서리 저항기(101)를 식별하기 위해 이용되는 기준 전압(VREF)을 따라 추종(track)하지 못한다면, 액세서리(102)가 잘못 인식될 수도 있다.
특정한 실시예에서, 바이어스 회로(100)는 제2 기준 전류(IR2)가 넓은 온도 범위에 걸쳐 액세서리 저항기(101)를 식별하기 위해 이용되는 기준 전압(VREF)을 실질적으로 추종하도록 할 수 있다. 바이어스 회로(100)는 기준 전압 발생기(115)에서 밴드갭 기준(bandgap reference)(VBG)과 같은 제1 기준 전압을 수신할 수 있다. 기준 전압 발생기(115)는 제1 증폭기(116) 및 감지 전류 트랜지스터(117)를 포함하는 감지 전류 발생기(118)를 포함할 수 있다. 일실시예에서, 감지 전류 발생기(118) 및 전류 미러(current mirror)(103)는 폴리 저항기(poly resistor)의 제1 레그(104)의 온도 계수와 같은 제1 온도 계수(TC1)의 함수일 수 있는 제1 기준 전류(IR1)를 발생하도록 구성될 수 있다. 제1 온도 계수(TC1)를 갖는, 폴리 저항기의 제2 레그(105)는 기준 전압(VREF)을 트림(trim)하기 위해 이용될 수 있다.
일실시예에서, 제1 온도 계수(TC1)를 갖는 폴리 저항기의 제2 레그(105)의 저항기의 상단에 기준 전압(VREF)이 생성되기 때문에, 폴리 저항기의 제1 레그(104)의 제1 온도 계수(TC1)가 소거될 수 있음에 따라, 기준 전압(VREF)은 실질적으로 밴드갭 기준(VBG)과 동일한 온도 특성을 나타낼 수 있다.
바이어스 회로(100)의 제3 레그(106)는 제2 기준 전류(IR2)를 발생하기 위해 기준 전압(VREF) 또는 기준 전압의 표시치(representation)를 이용할 수 있다. 제2 기준 전류(IR2)는 접속된 액세서리 디바이스(102)의 액세서리 저항기(101)를 바이어스 하기 위한 바이어스 전류(IB)를 발생하기 위해 이용될 수 있다. 특정의 실시예에서, 제2 기준 전류(IR2)는 증폭 전류 미러(107)와 같은 전류 공급부에 대한 감지 전류로서 이용될 수 있다. 바이어스 회로(100)는 기준 전압(VREF)의 표시치에 기초하여 제2 기준 전류(IR2)를 제어하도록 구성된 증폭기(108)를 포함할 수 있다. 바이어스 회로(100)의 폴리 저항기의 제3 레그(106)의 저항기 양단에서 제2 기준 전류(IR2)의 피드백이 발생될 수 있다.
특정의 예에서, 바이어스 회로(100)의 폴리 저항기의 제3 레그(106)의 저항기는 넓은 온도 범위에 걸쳐 바이어스 회로(100)의 온도 의존성을 감소시키거나 실질적으로 영(0)의 온도 의존성을 제공하도록 선택될 수 있다. 일실시예에서, 폴리 저항기의 제3 레그(106)의 제1 감지 저항기(111)는 제1 온도 계수(TC1)를 가질 수 있고, 폴리 저항기의 제3 레그(106)의 제2 감지 저항기(112)는 바이어스 회로(100)의 사용 동안에 가장 만날 가능성이 높은 온도와 같은 요구된 온도 범위에 걸쳐 제1 온도 계수(TC1)를 보완하거나 보상하는 제2 온도 계수(TC2)를 가질 수 있다. 그 결과, 바이어스 전류(IB)가 부착된 액세서리 디바이스(102)의 액세서리 저항기(101)에 제공될 수 있으며, 그러므로 액세서리 저항기(101) 양단의 전압이 확장된 온도 범위에 걸쳐 실질적으로 동일하게 유지될 수 있다.
일실시예에서, 폴리 저항기의 제3 레그(106)의 제1 감지 저항기(111)는 제1 도핑 타입의 반도체 저항기이어도 되고, 폴리 저항기의 제3 레그(106)의 제2 감지 저항기(112)는 제2 도핑 타입의 반도체 저항기이어도 되며, 이로써 제2 감지 저항기(112)의 온도 계수가 제1 감지 저항기(111)의 온도 계수를 보상할 수 있거나, 또는 그 반대로 제1 감지 저항기(111)의 온도 계수가 제2 감지 저항기(112)의 온도 계수를 보상할 수 있다. 이러한 실시예에서, 폴리 저항기의 제3 레그(106)의 제1 감지 저항기(111) 및 제2 감지 저항기(112)의 상보적인 온도 계수는 넓은 온도 범위에 걸쳐 바이어스 회로(100)의 온도 안정성을 향상시킬 수 있다. 일실시예에서, 제1 감지 저항기(111)는 n-타입 반도체 저항기이어도 되고, 제2 감지 저항기(112)는 p-타입 반도체 저항기이어도 된다. 일실시예에서, 제1 감지 저항기(111)는 p-타입 반도체 저항기이어도 되고, 제2 감지 저항기(112)는 n-타입 반도체 저항기이어도 된다. 특정한 실시예에서, 모바일 디바이스의 식별 회로는 바이어스 전류가 넓은 온도 범위에 걸쳐 안정할 때에 극단의 온도에서 연결된 액세서리를 더욱 정확하게 식별할 수 있다.
특정의 실시예에서, 바이어스 회로(100)는 비교기(109)를 포함할 수 있으며, 이 비교기(109)는 접속된 액세서리(102)의 액세서리 저항기(101)의 레지스턴스 값을 나타내거나 또는 액세서리 저항기(101) 양단의 전압이 기준 전압(VREF)보다 큰지 아니면 작은지의 여부를 나타내는 값을 나타내는 출력(110)을 제공하도록 구성된다.
특정의 실시예에서, 증폭 전류 미러(107)는 디지털 대 아날로그 전류 공급부(digital-to-analog current supply)를 포함할 수 있고, 하나 이상의 미러 트랜지스터(M0, M1,…, Mn) 및 스위치 트랜지스터와 같은 하나 이상의 연관 스위치(S0, S1,…, Sn)를 포함할 수 있다. 디지털 대 아날로그 전류 공급부는 디지털 입력의 상태에 기초하여 액세서리 저항기(101)에 인가할 특정 바이어스 전류(IB)를 선택하기 위해 스위치에서 다수의 디지털 입력을 수신할 수 있다. 특정의 실시예에서, 스위치(S0, S1,…, Sn)는 요구된 바이어스 전류(IB) 레벨을 설정하도록 제어될 수 있다. 특정의 실시예에서, 컨트롤러(도시하지 않음)는 액세서리 저항기(101) 양단의 전압과 기준 전압(VREF)의 일련의 비교를 이용하여 스위치(S0, S1,…, Sn)를 조정할 수 있다. 각각의 비교는 액세서리 저항기(101)의 값 또는 레지스턴스가 부착된 액세서리(102)를 식별하기 위한 수용 가능한 범위 내에서 결정될 수 있을 때까지 액세서리 저항기(101)에 인가되는 바이어스 전류(IB)를 조정하기 위해 이용될 수 있다.
특정의 실시예에서, 비교기(109), 기준 전압 발생기 및 전류 공급부가 집적회로에 포함될 수도 있다.
추가 주의 사항
실시예 1에서, 본 발명에 따른 장치는, 기준 전압을 액세서리 저항기 양단에 전개되는 제1 전압과 비교하고, 비교를 나타내는 출력을 제공하도록 구성된 비교기와, 상기 기준 전압을 제공하도록 구성된 기준 전압 발생기와, 상기 액세서리 저항기에 연결되고, 상기 액세서리 저항기를 이용하여 상기 비교기에 상기 제1 전압을 제공하도록 구성된 전류 공급부를 포함한다. 상기 전류 공급부는, 제1 온도 의존성을 갖는 제1 감지 저항기와, 제2 온도 의존성을 갖는 제2 감지 저항기를 포함할 수 있다. 상기 제2 온도 의존성이 상기 제1 온도 의존성의 적어도 일부분을 보상하도록 구성될 수 있다.
실시예 2에서는, 실시예 1의 상기 제1 저항기가 반도체 저항기이어도 된다.
실시예 3에서는, 실시예 1 및 2 중의 하나 이상의 실시예의 상기 제2 저항기가 반도체 저항기이어도 된다.
실시예 4에서는, 실시예 1 내지 3 중의 하나 이상의 실시예의 상기 제1 저항기가 제1 도핑 타입 반도체 저항기를 포함할 수도 있다.
실시예 5에서는, 실시예 1 내지 4 중의 하나 이상의 실시예의 상기 제2 저항기가 제2 도핑 타입 반도체 저항기를 포함할 수도 있다.
실시예 6에서는, 실시예 1 내지 5 중의 하나 이상의 실시예의 상기 제1 도핑 타입 반도체 저항기가 p-타입 반도체 저항기이어도 되고, 실시예 1 내지 5 중의 하나 이상의 실시예의 상기 제2 도핑 타입 반도체 저항기가 n-타입 반도체 저항기이어도 된다.
실시예 7에서는, 실시예 1 내지 6 중의 하나 이상의 실시예의 상기 제1 도핑 타입 반도체 저항기가 n-타입 반도체 저항기이어도 되고, 실시예 1 내지 5 중의 하나 이상의 실시예의 상기 제2 도핑 타입 반도체 저항기가 p-타입 반도체 저항기이어도 된다.
실시예 8에서는, 실시예 1 내지 7 중의 하나 이상의 실시예의 상기 기준 전압 발생기가 밴드갭 전압 기준 및 전류 미러(current mirror)를 포함할 수도 있다. 상기 밴드갭 전압 기준은 상기 전류 미러에 대한 기준 전류를 제공하도록 구성되어도 되며, 상기 전류 미러는 기준 전압을 제공하도록 구성되어도 된다.
실시예 9에서는, 실시예 1 내지 8 중의 하나 이상의 실시예의 상기 비교기, 상기 기준 전압 발생기, 및 상기 전류 공급부가 집적회로에 포함되어도 된다.
실시예 10에서는, 실시예 1 내지 9 중의 하나 이상의 실시예의 상기 장치가 하나 이상의 디지털 입력을 더 포함할 수도 있다. 실시예 1 내지 9 중의 하나 이상의 실시예의 상기 전류 공급부는 상기 하나 이상의 디지털 입력의 상태에 응답하여 상기 액세서리 저항기에 선택된 공급 전류를 제공하도록 구성된 디지털 대 아날로그 전류 공급부를 포함할 수도 있다.
실시예 11에서는, 실시예 1 내지 10 중의 하나 이상의 실시예의 상기 장치는 상기 전류 공급부에 연결된 단자를 더 포함할 수도 있다. 유니버설 시리얼 버스(USB) 포트가 상기 단자를 포함할 수 있다.
실시예 12에서, 본 발명에 따른 방법은, 기준 전압 발생기를 이용하여 기준 전압을 발생하는 단계와, 전류 공급부에 연결된 액세서리 저항기에 전류를 제공하는 단계와, 전류 및 식별 저항기를 이용하여 비교기에 식별 전압을 제공하는 단계와, 상기 비교기에서 상기 기준 전압과 상기 식별 전압을 비교하는 단계와, 비교의 표시치를 출력에서 제공하는 단계와, 상기 전류 공급부의 제1 저항기의 제1 온도 의존성의 적어도 일부분을 상기 전류 공급부의 제2 저항기의 제2 온도 의존성을 이용하여 보상하는 단계를 포함할 수 있다.
실시예 13에서는, 실시예 1 내지 12 중의 하나 이상의 실시예의 상기 기준 전압을 발생하는 단계가, 밴드갭 기준 전압을 이용하여 상기 기준 전압을 발생하는 단계를 포함하여도 된다.
실시예 14에서는, 실시예 1 내지 13 중의 하나 이상의 실시예의 상기 기준 전압을 발생하는 단계가, 상기 밴드갭 기준 전압을 이용하여 상기 기준 전압 발생기의 전류 미러의 감지 트랜지스터에 기준 전류를 제공하는 단계를 포함할 수도 있으며, 상기 방법은 상기 전류 미러의 미러 트랜지스터를 이용하여 기준 전류의 미러 전류를 제공하는 단계를 더 포함하여도 된다.
실시예 15에서는, 실시예 1 내지 14 중의 하나 이상의 실시예의 상기 기준 전압을 발생하는 단계가, 상기 미러 전류를 이용하여 상기 기준 전압을 발생하는 단계를 포함하여도 된다.
실시예 16에서는, 실시예 1 내지 15 중의 하나 이상의 실시예의 상기 전류를 제공하는 단계가, 상기 전류 공급부에서 하나 이상의 디지털 입력을 수신하는 단계를 포함하여도 된다.
실시예 17에서는, 실시예 1 내지 16 중의 하나 이상의 실시예의 상기 전류를 제공하는 단계가, 전류의 레벨을 선택하기 위해 수신된 상기 하나 이상의 디지털 입력에 응답하여 하나 이상의 트랜지스터를 제어하는 단계를 포함하여도 된다.
실시예 18에서, 본 발명에 따른 시스템은, 컨트롤러, 유니버설 시리얼 버스(USB) 포트, 및 상기 컨트롤러와 상기 USB 포트에 연결된 바이어스 회로를 포함할 수 있다. 상기 바이어스 회로는, 기준 전압을 식별 전압과 비교하고, 비교를 나타내는 출력을 제공하도록 구성된 비교기와, 상기 기준 전압을 제공하도록 구성된 기준 전압 발생기와, 액세서리 저항기에 연결되고, 식별 저항기를 이용하여 상기 비교기에 상기 식별 전압을 제공하도록 구성된 전류 공급부를 포함할 수 있다. 상기 전류 공급부는 전류 제한 저항기(current limit resistor)를 포함할 수 있다. 상기 전류 제한 저항기는, 제1 온도 의존성을 갖는 제1 저항기와, 제2 온도 의존성을 갖는 제2 저항기를 포함할 수 있다. 상기 제2 온도 의존성은 상기 제1 온도 의존성의 적어도 일부분을 보상하도록 이루어질 수 있다.
실시예 19에서는, 실시예 1 내지 18 중의 하나 이상의 실시예의 상기 바이어스 회로가 상기 컨트롤러에 연결된 하나 이상의 디지털 입력을 포함하여도 된다. 상기 전류 공급부가 상기 하나 이상의 디지털 입력의 상태에 응답하여 상기 액세서리 저항기에 선택된 공급 전류를 제공하도록 구성된 디지털 대 아날로그 전류 공급부를 포함할 수 있다.
실시예 20에서는, 실시예 1 내지 19 중의 하나 이상의 실시예의 상기 바이어스 회로가 집적회로에 포함되어도 된다.
상기한 구체적인 설명은 상세한 설명의 일부를 형성하는 도면에 대한 참조를 포함한다. 도면은 본원 발명이 실시될 수 있는 특정 실시형태를 예시로서 보여주고 있다. 이 실시형태는 여기에서 "실시예"로도 지칭된다. 본 명세서에 언급된 모든 공개 문헌, 특허, 및 특허 문헌은 참조에 의해 개별적으로 원용되어 있지만 그 전체 내용이 참조에 의해 본 명세서에 원용된다. 본 명세서와 이와 같이 참조로 원용된 문헌 간에 일치하지 않는 사용법이 있을 경우에, 원용된 참조 문헌에서의 사용법은 본 명세서의 사용법에 대한 보조적인 것으로 간주되어야 하며, 예컨대 양립 불가능한 불일치의 경우에는, 본 명세서에서의 사용법이 우선한다.
본 명세서에서는, "일" 또는 "하나의"라는 표현은, 특허 문헌에서 흔히 쓰이는 바와 같이, 다른 경우들이나 "적어도 하나" 또는 "하나 이상"이라는 표현의 용법과 관계없이 하나 또는 하나 이상을 포함하도록 사용된다. 본 명세서에서는, 특별한 지시가 없는 이상 "A 또는 B"가 "A이나 B가 아닌", "B이나 A가 아닌" 및 "A 및 B"를 포함하도록, "또는"이라는 표현은 독점적이지 않은 것을 언급하도록 사용된다. 첨부된 청구범위에서, "포함하다(including)" 및 "~인(in which)"이라는 표현은 "구비하다(comprising)" 및 "~인, ~이고(wherein)"의 공통 등가물로 사용된다. 또한, 이하의 청구범위에서는, "포함하다" 및 "구비하다"라는 표현이 개방형(open-ended)의 의미를 갖는다. 즉, 청구항에서 이 표현 앞에 열거된 것 이외의 요소들을 포함하는 시스템, 장치, 물품, 또는 프로세스 또한 여전히 그 청구항의 범위 내에 포함되는 것으로 간주된다. 더욱이, 이하의 청구범위에서, "제1", "제2" 및 "제3" 등의 표현은 단순히 표지로서 사용되며, 그러한 대상에 대한 수적 요건을 강제하려는 의도는 아니다.
상기한 설명은 예시를 위한 것으로, 본 발명을 제한하려는 것은 아니다. 다른 실시예에서는, 전술한 실시예(또는 이러한 실시예의 하나 이상의 특징)가 서로 조합되어 이용될 수도 있다. 상기한 설명을 검토한 당업자에 의해 다른 실시형태가 이용될 수 있다. 본 명세서에 포함된 요약서는 본 명세서를 읽는 사람이 기술적인 개시 내용의 본질을 신속하게 이해할 수 있도록 하기 위하여 37 C.F.R §1.72(b)에 따라 제공된다. 이 요약서는 청구항의 범위 또는 의미를 해석하거나 제한하기 위해 이용되지 않을 것이라는 이해를 전제로 제공된 것이다. 또한, 본 발명의 상세한 설명 부분에서는, 여러 특징을 함께 그룹으로 묶어 개시내용을 간략화하였을 수도 있다. 이것은 청구되지 않은 공개된 특징이 임의의 청구항에 필수적이라고 의도되도록 해석되지 않아야 한다. 오히려, 발명의 청구 대상은 특정한 공개 실시형태의 모든 특징보다 작게 두어도 좋다. 따라서, 이하의 청구범위는 이에 의하여 상세한 설명에 포함되는 것이며, 각각의 청구항이 개별적인 실시형태를 나타낸다. 본 발명의 범위는 첨부된 청구범위와 함께 이러한 청구항으로 나타낸 등가물의 전체 범위를 참조하여 결정되어야 한다.

Claims (14)

  1. 기준 전압을 액세서리 저항기(accessory resistor) 양단에 전개되는 제1 전압과 비교하고, 비교를 나타내는 출력을 제공하도록 구성된 비교기;
    상기 기준 전압을 제공하도록 구성된 기준 전압 발생기; 및
    상기 액세서리 저항기에 연결되고, 상기 액세서리 저항기를 이용하여 상기 비교기에 상기 제1 전압을 제공하도록 구성된 전류 공급부
    를 포함하며,
    상기 전류 공급부가, 제1 온도 의존성(temperature dependency)을 갖는 제1 감지 저항기와, 제2 온도 의존성을 갖는 제2 감지 저항기를 포함하며,
    상기 제2 온도 의존성이 상기 제1 온도 의존성의 적어도 일부분을 보상하도록 되어 있는,
    장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 제1 감지 저항기가 반도체 저항기인, 장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 제2 감지 저항기가 반도체 저항기인, 장치.
  4. 제1항에 있어서,
    상기 제1 감지 저항기가 제1 도핑 타입 반도체 저항기를 포함하는, 장치.
  5. 제4항에 있어서,
    상기 제2 감지 저항기가 제2 도핑 타입 반도체 저항기를 포함하는, 장치.
  6. 제5항에 있어서,
    상기 제1 도핑 타입 반도체 저항기가 p-타입 반도체 저항기이고, 상기 제2 도핑 타입 반도체 저항기가 n-타입 반도체 저항기인, 장치.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 제1 도핑 타입 반도체 저항기가 n-타입 반도체 저항기이고, 상기 제2 도핑 타입 반도체 저항기가 p-타입 반도체 저항기인, 장치.
  8. 기준 전압 발생기를 이용하여 기준 전압을 발생하는 단계;
    전류 공급부에 연결된 액세서리 저항기에 전류를 제공하는 단계;
    전류 및 식별 저항기를 이용하여 비교기에 식별 전압을 제공하는 단계;
    상기 비교기에서 상기 기준 전압과 상기 식별 전압을 비교하는 단계;
    비교의 표시치를 출력에서 제공하는 단계; 및
    상기 전류 공급부의 제1 저항기의 제1 온도 의존성의 적어도 일부분을 상기 전류 공급부의 제2 저항기의 제2 온도 의존성을 이용하여 보상하는 단계
    를 포함하는 방법.
  9. 제8항에 있어서,
    상기 기준 전압을 발생하는 단계가, 밴드갭 전압 기준을 이용하여 상기 기준 전압을 발생하는 단계를 포함하는, 방법.
  10. 제9항에 있어서,
    상기 기준 전압을 발생하는 단계가,
    상기 밴드갭 전압 기준을 이용하여 상기 기준 전압 발생기의 전류 미러(current mirror)의 감지 트랜지스터에 기준 전류를 제공하는 단계; 및
    상기 전류 미러의 미러 트랜지스터를 이용하여 상기 기준 전류의 미러 전류(mirror current)를 제공하는 단계를 포함하는,
    방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 기준 전압을 발생하는 단계가, 상기 미러 전류를 이용하여 상기 기준 전압을 발생하는 단계를 포함하는, 방법.
  12. 컨트롤러;
    유니버설 시리얼 버스(USB) 포트; 및
    상기 컨트롤러와 상기 USB 포트에 연결된 바이어스 회로를 포함하며,
    상기 바이어스 회로가, 기준 전압을 식별 전압과 비교하고, 비교를 나타내는 출력을 제공하도록 구성된 비교기와, 상기 기준 전압을 제공하도록 구성된 기준 전압 발생기와, 액세서리 저항기에 연결되고, 식별 저항기를 이용하여 상기 비교기에 상기 식별 전압을 제공하도록 구성된 전류 공급부를 포함하며,
    상기 전류 공급부가 전류 제한 저항기(current limit resistor)를 포함하며,
    상기 전류 제한 저항기가, 제1 온도 의존성을 갖는 제1 저항기와, 제2 온도 의존성을 갖는 제2 저항기를 포함하며,
    상기 제2 온도 의존성이 상기 제1 온도 의존성의 적어도 일부분을 보상하도록 되어 있는,
    시스템.
  13. 제12항에 있어서,
    상기 바이어스 회로가 상기 컨트롤러에 연결된 하나 이상의 디지털 입력을 포함하며,
    상기 전류 공급부가 상기 하나 이상의 디지털 입력의 상태에 응답하여 상기 액세서리 저항기에 선택된 공급 전류를 제공하도록 구성된 디지털 대 아날로그 전류 공급부를 포함하는,
    시스템.
  14. 제12항에 있어서,
    상기 바이어스 회로가 집적회로에 포함되는, 시스템.
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