KR20130102299A - Semiconductor package and the method - Google Patents
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Abstract
Description
본 발명은 반도체 패키지 및 그 제조방법에 관한 것으로, 특히 반도체 패키지의 방열을 위해 칩을 봉지하는 수지층에 복수의 개구홀을 형성하여 각 개구홀에 방열핀을 삽입함으로써 칩에서 발생되는 열을 효과적으로 방열시키는 반도체 패키지 및 그 제조방법에 관한 것이다.
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a semiconductor package and a method for manufacturing the same. In particular, a plurality of opening holes are formed in a resin layer encapsulating a chip for heat dissipation of a semiconductor package, and heat radiation fins are inserted into each opening hole to effectively dissipate heat generated from the chip. It relates to a semiconductor package and a method for manufacturing the same.
일반적으로 반도체 칩들은 특정한 온도 범위 내에서 동작하도록 설계된다. 이러한 반도체 칩은 고성능이 될수록 더 많은 전력을 소비하고 더 많은 열을 발생시키기 때문에 동작 온도 범위 내에 유지하기 위해서 방열이 필요하다. In general, semiconductor chips are designed to operate within a specific temperature range. These semiconductor chips consume more power and generate more heat as they become more powerful, requiring heat dissipation to stay within the operating temperature range.
종래부터 반도체 IC 등을 1 개 또는 복수개를 내장하는 QFP, PGA, BGA 등의 싱글칩 패키지, 또는 하이브리드 IC, MCM 등의 멀티칩의 IC 부품을 실장하는 반도체 패키지에 있어서, 이들 IC 부품을 프린터 기판상에 실장함과 동시에, 프린터 기판과 반대면에 방열용의 히트싱크를 설치하였다. 이러한, 방열용의 히트싱크를 반도체 IC 등의 패키지에 설치함으로써, 이들 반도체 칩에 발생ㆍ축열되는 열을 효율적으로 방열시키고, 반도체 IC 등의 발열에 의한 오작동을 방지함과 동시에, 반도체의 열화를 억제시켜 수명이 길어지게 한다. Conventionally, in a single-chip package such as QFP, PGA, BGA, etc. in which one or a plurality of semiconductor ICs are embedded, or a semiconductor package in which multi-chip IC components such as hybrid ICs and MCMs are mounted, these IC components are used as printer substrates. On the other hand, a heat sink for heat dissipation was provided on the surface opposite to the printer substrate. By providing a heat sink for heat dissipation in a package such as a semiconductor IC, the heat generated and stored in these semiconductor chips can be efficiently dissipated, preventing malfunction due to heat generation of the semiconductor IC and at the same time, deteriorating the semiconductor. Suppresses the lifespan.
도 1은 일반적인 BGA 반도체 칩 패키지의 구조를 도시한 도면이다. 도 1에 도시된 바와 같이, 반도체 칩(10)이 접착제(20)를 통하여 인쇄회로기판(30) 위에 실장되어 있으며, 반도체 칩(10)의 본딩패드(12)가 와이어(40)를 통해 인쇄회로기판(30)과 연결되고, 봉지재(50)가 반도체 칩(10)과 와이어(40) 등을 봉지하여 외부환경으로부터 보호하고 있다. 이에 더하여 인쇄회로기판(30)의 하부에서 솔더볼들(60)이 형성되어 외부 접속 단자로 이용된다.1 is a view showing the structure of a typical BGA semiconductor chip package. As shown in FIG. 1, a
이러한 BGA는 적용되는 반도체 칩이 고집적화 고속도화하면서 보다 높은 전원을 이용하게 되고 그에 따라 반도체 칩에서 발생되는 열을 외부로 빠르게 방출시켜야 하는 필요성이 제기되었다. Such a BGA has a need to discharge heat generated from the semiconductor chip to the outside as the semiconductor chip to be applied has higher integration speed and higher power.
따라서, 반도체 칩에서 열을 방산하기 위하여 열은 패키지 재료를 통하여 열 싱크에 전달되어 외부 환경으로 방열하게 된다. 그러나, 이러한 열 패키지 재료를 통하여 열을 전달하는 과정에서 방열 효과가 떨어지는 문제점이 있다.
Thus, heat is transferred to the heat sink through the package material to dissipate heat to the external environment in order to dissipate heat in the semiconductor chip. However, there is a problem that the heat dissipation effect is inferior in the process of transferring heat through the thermal package material.
본 발명이 해결하고자 하는 기술적 과제는 반도체 패키지의 방열을 위해 칩을 봉지하는 수지층에 복수의 개구홀을 형성하여 각 개구홀에 방열핀을 삽입함으로써 칩에서 발생되는 열을 효과적으로 외부로 방열시키는 반도체 패키지 및 그 제조방법을 제공하는 것이다.The technical problem to be solved by the present invention is to form a plurality of opening holes in the resin layer encapsulating the chip for heat dissipation of the semiconductor package by inserting a heat radiation fin into each opening hole to effectively heat the heat generated from the chip to the outside package And to provide a method for producing the same.
본 발명에서 이루고자 하는 기술적 과제들은 이상에서 언급한 기술적 과제들로 제한되지 않으며, 언급하지 않은 또 다른 기술적 과제들은 아래의 기재로부터 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 명확하게 이해될 수 있을 것이다.It is to be understood that both the foregoing general description and the following detailed description are exemplary and explanatory and are not restrictive of the invention, unless further departing from the spirit and scope of the invention as defined by the appended claims. It will be possible.
상기 기술적 과제를 해결하기 위한 본 발명에 따른 반도체 패키지에 있어서, 복수의 본딩 패드를 갖는 반도체 칩과; 상기 반도체 칩을 실장하고 상기 본딩 패드와 전기적으로 연결된 기판과; 상기 결과물이 형성된 기판의 상면을 봉지하고, 복수의 개구홀이 형성된 수지층과; 상기 수지층의 개구홀에 각각 대응하여 삽입되는 복수의 방열 핀을 갖는 방열판을 포함하는 점에 그 특징이 있다. In the semiconductor package according to the present invention for solving the technical problem, a semiconductor chip having a plurality of bonding pads; A substrate on which the semiconductor chip is mounted and electrically connected to the bonding pads; A resin layer encapsulating an upper surface of the substrate on which the resultant is formed, and having a plurality of opening holes formed therein; It is characterized in that it includes a heat sink having a plurality of heat dissipation fins respectively corresponding to the opening holes of the resin layer.
여기서, 상기 방열판의 상부 면에는 요철 형태의 패턴이 형성되는 점에 그 특징이 있다. Here, the upper surface of the heat sink is characterized in that the irregular pattern is formed.
여기서, 상기 방열판은 열 전도도가 높은 금속물질로 형성되는 점에 그 특징이 있다. Here, the heat sink is characterized in that it is formed of a metal material having high thermal conductivity.
여기서, 상기 반도체 패키지는 BGA(Ball Grid Array), 플립칩 BGA(Flip-chip Ball Grid Array), QFN(Quad-Flat No-lead) 패키지 중 어느 하나의 패키지 구조로 선택되어 형성되는 점에 그 특징이 있다. The semiconductor package may be formed by selecting any one of a ball grid array (BGA), a flip-chip ball grid array (BGA), and a quad-flat no-lead (QFN) package. There is this.
여기서, 상기 기판은 상면에 상기 본딩 패드에 대응하여 형성된 복수의 전극 패드와; 하면에 형성된 복수의 솔더 볼과, 상기 전극 패드들과 상기 솔더 볼들을 전기적으로 연결하는 금속배선들을 포함하는 점에 그 특징이 있다. The substrate may include a plurality of electrode pads formed on an upper surface of the substrate to correspond to the bonding pads; It is characterized in that it comprises a plurality of solder balls formed on the lower surface, and metal wires for electrically connecting the electrode pads and the solder balls.
또한, 본 발명에 따른 반도체 패키지의 제조방법에 있어서, 전극 패드, 솔더 볼 및 금속 배선들이 형성된 기판상에 반도체 칩을 실장하는 단계와; 상기 결과물상에 수지 물질을 도포하여 경화한 후 수지층을 형성하는 단계와; 상기 경화된 수지층에 소정 패턴으로 복수의 개구홀을 형성하는 단계와; 상기 형성된 개구홀에 대응하는 복수의 방열핀을 갖는 방열판을 형성하는 단계를 포함하는 점에 그 특징이 있다. In addition, a method of manufacturing a semiconductor package according to the present invention, comprising the steps of: mounting a semiconductor chip on a substrate on which electrode pads, solder balls and metal wires are formed; Forming a resin layer after applying and curing a resin material on the resultant material; Forming a plurality of opening holes in the cured resin layer in a predetermined pattern; It is characterized in that it comprises the step of forming a heat sink having a plurality of heat radiation fins corresponding to the formed opening hole.
여기서, 상기 방열판의 상부에는 요철 패턴이 더 형성되는 점에 그 특징이 있다.
Here, the upper part of the heat sink is characterized in that the uneven pattern is further formed.
이상의 본 발명에 따르면, 반도체 패키지의 방열을 위해 칩을 봉지하는 수지층에 복수의 개구홀을 형성하여 각 개구홀에 방열핀을 삽입함으로써 칩에서 발생되는 열을 직접 전달받아 효과적으로 방열시킬 수 있다.
According to the present invention, a plurality of opening holes are formed in the resin layer encapsulating the chip for heat dissipation of the semiconductor package, thereby inserting heat radiation fins into each opening hole to directly receive heat generated from the chip, thereby effectively dissipating heat.
도 1은 일반적인 BGA 반도체 칩 패키지의 구조를 도시한 도면.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 반도체 패키지의 구조를 개략적으로 도시한 도면.
도 3은 본 발명에 따른 반도체 패키지의 방열핀이 결합되는 것을 도시한 도면.
도 4는 본 발명에 따른 반도체 패키지의 방열핀이 형성된 형태를 도시한 평면도.
도 5는 본 발명에 따른 또 다른 실시 예의 반도체 패키지의 구조를 개략적으로 도시한 도면.1 is a diagram illustrating a structure of a typical BGA semiconductor chip package.
2 is a schematic view showing a structure of a semiconductor package according to an embodiment of the present invention.
3 is a view showing that the heat radiation fins of the semiconductor package according to the present invention are coupled.
Figure 4 is a plan view showing a form in which the heat radiation fin of the semiconductor package according to the present invention.
5 is a schematic view showing the structure of a semiconductor package according to another embodiment of the present invention.
이하 첨부된 도면을 참조하여 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자가 본 발명을 용이하게 실시할 수 있는 바람직한 실시 예를 상세히 설명한다. 다만, 본 발명의 바람직한 실시 예에 대한 동작 원리를 상세하게 설명함에 있어 관련된 공지 기능 또는 구성에 대한 구체적인 설명이 본 발명의 요지를 불필요하게 흐릴 수 있다고 판단되는 경우에는 그 상세한 설명을 생략한다. DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Hereinafter, preferred embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings. However, the detailed description of known functions and configurations incorporated herein will be omitted when it may unnecessarily obscure the subject matter of the present invention.
또한, 도면 전체에 걸쳐 유사한 기능 및 작용을 하는 부분에 대해서는 동일한 도면 부호를 사용한다.The same reference numerals are used for portions having similar functions and functions throughout the drawings.
덧붙여, 명세서 전체에서, 어떤 부분이 다른 부분과 '연결'되어 있다고 할때, 이는 '직접적으로 연결'되어 있는 경우뿐만 아니라, 그 중간에 다른 소자를 사이에 두고 '간접적으로 연결'되어 있는 경우도 포함한다. 또한 어떤 구성 요소를 '포함'한다는 것은, 특별히 반대되는 기재가 없는 한 다른 구성요소를 제외하는 것이 아니라, 다른 구성요소를 더 포함할 수 있는 것을 의미한다.
In addition, in the entire specification, when a part is referred to as being 'connected' to another part, it may be referred to as 'indirectly connected' not only with 'directly connected' . Also, to include an element does not exclude other elements unless specifically stated otherwise, but may also include other elements.
이하 본 발명의 일 실시 예를 첨부된 도면을 참조하여 상세히 설명한다. Hereinafter, embodiments of the present invention will be described in detail with reference to the accompanying drawings.
도 2는 본 발명의 일 실시 예에 따른 반도체 패키지의 구조를 개략적으로 도시한 도면이고, 도 3은 본 발명에 따른 반도체 패키지의 방열핀이 결합되는 것을 도시한 도면이고, 도 4는 본 발명에 따른 반도체 패키지의 방열핀이 형성된 형태를 도시한 평면도이다. 2 is a view schematically showing the structure of a semiconductor package according to an embodiment of the present invention, Figure 3 is a view showing that the heat dissipation fins of the semiconductor package according to the present invention, Figure 4 is according to the present invention It is a top view which shows the form in which the heat radiation fin of the semiconductor package was formed.
도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 반도체 패키지에 있어서, 복수의 본딩 패드를 갖는 반도체 칩(220)과, 상기 반도체 칩(220)을 실장하고 상기 본딩 패드와 전기적으로 연결된 기판(210)과, 상기 결과물이 형성된 기판(210)의 상면을 봉지하고, 복수의 개구홀이 형성된 수지층(260)과, 상기 수지층(260)의 개구홀에 각각 대응하여 삽입되는 복수의 방열 핀을 갖는 방열판(270)을 포함하여 구성된다. As shown in FIG. 2, in the semiconductor package according to the present invention, a
상기 반도체 칩(220)을 포함하는 패키지 구조는 플립칩 BGA(Flip-chip Ball Grid Array)를 일 예로 도시하고 있으나 DIP(dual in-line package) 패키징, PGA(pin grid array) 패키징, LCC(leadless chip carrier) 패키징, SOIC(small-outline integrated circuit) 패키징, PLCC(plastic leaded chip carrier) 패키징, PQFP(plastic quad flat pack) 패키징 및 TQFP(thin quad flat pack) 패키징, TSOP(thin small-outline packages) 패키징, LGA(land grid array) 패키징 및 QFN(Quad-Flat No-lead) 패키징 등 다양한 형태의 구조에서 선택적으로 적용하는 것이 바람직하다. The package structure including the
상기 기판(210)은 인쇄회로기판으로 상면에 상기 본딩 패드(221)에 대응하여 형성된 복수의 전극 패드(230)와, 하면에 형성된 복수의 솔더 볼(250)과, 상기 전극 패드들(230)과 상기 솔더 볼들(250)을 전기적으로 연결하는 금속배선들(240)을 포함한다. The
그리고, 다층의 금속배선들(240)이 형성되어 상/하면이 전기적으로 연결되는 인쇄회로기판의 중앙부에 반도체 칩(220)이 실장된다. 여기서, 상기 금속배선들(240)은 상/하면에서 보호층으로 코팅되어 외부로부터 보호된다. In addition, the
이때, 상기 기판(210)의 상면에 형성된 복수의 전극 패드(230)는 상기 반도체 칩(220)의 본딩패드(221)와 각각 금과 같은 도전성 와이어(222)를 통해 전기적으로 연결된다. In this case, the plurality of
상기 기판(210)의 하면에서는 솔더볼(250)이 형성되어 상기 금속배선(240)을 통해 상기 전극패드(230)와 전기적으로 연결된다.
상기 수지층(260)은 반도체 칩(220)과 와이어(222) 등을 포함하는 영역에 에폭시 몰드 컴파운드(EMC ; Epoxy Mold Compound)와 같은 액상의 봉지재가 도포된 후 경화됨으로써 형성된다. The
보다 구체적으로, 상기 경화된 수지층(260)은 레이저 드릴(Laser drill)을 통해 복수의 개구홀을 형성하게 된다. 이때, 상기 개구홀(261)은 상기 방열판(270)과 결합하기 위해 형성되는 것으로 일정 간격으로 일정 크기의 패턴으로 형성하는 것이 바람직하다. More specifically, the cured
상기 방열판(270)은 열전도도가 우수한 금속 물질로 제조되는 것이 바람직하며, 이러한 금속에는 구리(Cu), 알루미늄(Al) 등이 있다. 이들 금속들은 열전도도, 접착력 및 산화방지력 등과 같은 특성들을 강화하기 위하여 열처리 등과 같은 다양한 공정이 수반될 수 있다. 또한 방열판의 두께는 사이트에 형성되는 솔더 볼의 크기보다 적은 두께로 형성되어야 하며, 이러한 방열판은 방열판이 부착된 인쇄회로기판을 공급받거나 또는 인쇄회로기판과 방열판을 별개로 공급받아 부착시키는 등 패키지 제조공정의 변화에 따라 자유롭게 형성할 수 있다. The
여기서, 상기 방열판(270)은 상기 수지층(260)에 형성된 복수의 개구홀(261)에 각각 삽입되는 복수의 방열핀(271)이 형성되어 있다. 따라서, 상기 방열핀(271)은 상기 수지층(260)에 삽입되어 상기 반도체 칩(220)으로부터 발생되는 열을 보다 빠르게 전달받아 외부로 방출하게 된다. 즉, 상기 방열핀(271)은 상기 수지층(260) 내에 각각 삽입됨으로써 열을 전달받는 면적을 넓어 방열 효과를 높일 수 있다. Here, the
또한, 도 5는 본 발명에 따른 또 다른 실시 예의 반도체 패키지의 구조를 개략적으로 도시한 도면이다. 도 5에 도시된 바와 같이, 본 발명에 따른 반도체 패키지에 있어서, 복수의 본딩 패드(521)를 갖는 반도체 칩(520)과, 상기 반도체 칩(520)을 실장하고 상기 본딩 패드(521)와 전기적으로 연결된 기판(510)과, 상기 결과물이 형성된 기판(510)의 상면을 봉지하고, 복수의 개구홀이 형성된 수지층(560)과, 하부면에 상기 수지층(260)의 개구홀에 각각 대응하여 삽입되는 복수의 방열 핀(571)이 형성되고, 상부면에 요철 형태의 패턴(572)이 형성된 방열판(570)을 포함하여 구성된다. 5 is a view schematically showing the structure of a semiconductor package according to another embodiment of the present invention. As shown in FIG. 5, in the semiconductor package according to the present invention, a
여기서, 또 다른 실시 예에 따른 동일한 상세한 설명을 상기 도 2 내지 도 4를 참조로 생략하기로 한다. Here, the same detailed description according to another embodiment will be omitted with reference to FIGS. 2 to 4.
상기 방열판(570)은 열전도도가 우수한 금속 물질로 제조되는 것이 바람직하며, 이러한 금속에는 구리(Cu), 알루미늄(Al) 등이 있다. 이들 금속들은 열전도도, 접착력 및 산화방지력 등과 같은 특성들을 강화하기 위하여 열처리 등과 같은 다양한 공정이 수반될 수 있다. 또한 방열판의 두께는 사이트에 형성되는 솔더 볼의 크기보다 적은 두께로 형성되어야 하며, 이러한 방열판은 방열판이 부착된 인쇄회로기판을 공급받거나 또는 인쇄회로기판과 방열판을 별개로 공급받아 부착시키는 등 패키지 제조공정의 변화에 따라 자유롭게 형성할 수 있다. The
여기서, 상기 방열판(570)은 하부면에 상기 수지층에 형성된 복수의 개구홀에 각각 삽입되는 복수의 방열핀(571)이 형성되어 있고, 상기 방열판의 상부 면에는 요철 형태의 패턴(572)이 형성되어 있다. Here, the
보다 구체적으로, 상기 방열핀(571)은 상기 수지층(560)에 삽입되어 상기 반도체 칩(520)으로부터 발생되는 열을 보다 빠르게 전달받아 외부로 방출하게 되며, 이때 외부면에 접촉되는 상부면을 요철 형태의 패턴(572)으로 형성하여 열을 방출하게 된다. 즉, 상기 방열핀(571)은 상기 수지층(560) 내에 각각 삽입됨으로써 열을 전달받는 면적을 넓히고, 상기 요철 패턴(572)은 외부로 방출되는 면적을 넓혀 방열 효과를 높일 수 있다. More specifically, the
한편, 상기 반도체 패키지의 제조방법은 먼저 전극 패드, 솔더 볼 및 금속 배선들이 형성된 기판상에 반도체 칩을 실장하고, 상기 결과물상에 수지 물질을 도포하여 경화한 후 수지층을 형성하게 된다.Meanwhile, in the method of manufacturing the semiconductor package, a semiconductor chip is first mounted on a substrate on which electrode pads, solder balls, and metal wires are formed, and a resin material is applied to the resultant product to cure, thereby forming a resin layer.
그리고, 상기 경화된 수지층에 소정 패턴으로 복수의 개구홀을 형성한 후, 상기 형성된 개구홀에 대응하는 복수의 방열핀을 갖는 방열판을 형성하게 된다. 여기서, 상기 방열판의 상부에는 요철 패턴을 더 형성할 수 있다.
The plurality of opening holes are formed in the cured resin layer in a predetermined pattern, and then a heat dissipation plate having a plurality of heat dissipation fins corresponding to the opening holes is formed. Here, an uneven pattern may be further formed on the heat sink.
이상에서 설명한 바와 같이, 본 발명의 상세한 설명에서는 본 발명의 바람직한 실시 예에 관하여 설명하였으나, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 본 발명의 범주에서 벗어나지 않는 한도 내에서 여러 가지 변형이 가능함은 물론이다. 따라서 본 발명의 권리 범위는 설명된 실시 예에 국한되어 정해져서는 안되며, 후술하는 청구범위뿐만 아니라, 이와 균등한 것들에 의해 정해져야 한다.While the present invention has been particularly shown and described with reference to exemplary embodiments, it is to be understood that the invention is not limited to the disclosed exemplary embodiments, Of course, this is possible. Therefore, the scope of the present invention should not be limited to the described embodiments, but should be defined by the equivalents as well as the claims that follow.
210, 510 --- 기판 220, 520 --- 반도체 칩
260, 560 --- 수지층 270, 570 --- 방열판
271, 571 --- 방열 핀 572 --- 요철 패턴210, 510 ---
260, 560 ---
271, 571 ---
Claims (7)
상기 반도체 칩을 실장하고 상기 본딩 패드와 전기적으로 연결된 기판과;
상기 결과물이 형성된 기판의 상면을 봉지하고, 복수의 개구홀이 형성된 수지층과;
상기 수지층의 개구홀에 각각 대응하여 삽입되는 복수의 방열 핀을 갖는 방열판을 포함하는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
A semiconductor chip having a plurality of bonding pads;
A substrate on which the semiconductor chip is mounted and electrically connected to the bonding pads;
A resin layer encapsulating an upper surface of the substrate on which the resultant is formed, and having a plurality of opening holes formed therein;
And a heat dissipation plate having a plurality of heat dissipation fins respectively corresponding to the opening holes of the resin layer.
상기 방열판의 상부 면에는 요철 형태의 패턴이 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
The method of claim 1,
The semiconductor package, characterized in that the pattern of the concave-convex shape is formed on the upper surface of the heat sink.
상기 방열판은 열 전도도가 높은 금속물질로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
The method of claim 1,
The heat sink is a semiconductor package, characterized in that formed of a metal material with high thermal conductivity.
상기 반도체 칩의 실장 구조는 BGA(Ball Grid Array), 플립칩 BGA(Flip-chip Ball Grid Array) 및 QFN(Quad-Flat No-lead) 패키지에서 어느 하나의 패키지 구조로 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
The method of claim 1,
The semiconductor chip mounting structure may be formed of any one package structure in a ball grid array (BGA), flip-chip ball grid array (BGA), and quad-flat no-lead (QFN) package. package.
상기 기판은 상면에 상기 본딩 패드에 대응하여 형성된 복수의 전극 패드와;하면에 형성된 복수의 솔더 볼과 및 상기 전극 패드들과 상기 솔더 볼들을 전기적으로 연결하는 금속배선들을 포함하는 인쇄회로기판인 것을 특징으로 하는 반도체 패키지.
The method of claim 1,
The substrate is a printed circuit board including a plurality of electrode pads formed on the upper surface corresponding to the bonding pads, a plurality of solder balls formed on the lower surface, and metal wires electrically connecting the electrode pads and the solder balls. A semiconductor package characterized by the above-mentioned.
상기 결과물상에 수지 물질을 도포하여 경화한 후 수지층을 형성하는 단계와;
상기 경화된 수지층에 소정 패턴으로 복수의 개구홀을 형성하는 단계와;
상기 형성된 개구홀에 대응하는 복수의 방열핀을 갖는 방열판을 형성하는 단계를 포함하는 반도체 패키지의 제조방법.
Mounting a semiconductor chip on a substrate on which electrode pads, solder balls, and metal wirings are formed;
Forming a resin layer after applying and curing a resin material on the resultant material;
Forming a plurality of opening holes in the cured resin layer in a predetermined pattern;
And forming a heat sink having a plurality of heat sink fins corresponding to the formed opening holes.
상기 방열판의 상부에는 요철 패턴이 더 형성되는 것을 특징으로 하는 반도체 패키지의 제조방법.
The method according to claim 6,
Method of manufacturing a semiconductor package, characterized in that the concave-convex pattern is further formed on the heat sink.
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Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
KR1020120023440A KR20130102299A (en) | 2012-03-07 | 2012-03-07 | Semiconductor package and the method |
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN107946254A (en) * | 2017-12-18 | 2018-04-20 | 华天科技(昆山)电子有限公司 | The silicon substrate fan-out package and wafer-level packaging method of integrated heat dissipation structure |
-
2012
- 2012-03-07 KR KR1020120023440A patent/KR20130102299A/en not_active Application Discontinuation
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