KR20130046604A - 평탄도 측정장치 및 측정방법 - Google Patents

평탄도 측정장치 및 측정방법 Download PDF

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KR20130046604A
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강기수
김동일
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현대제철 주식회사
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Abstract

본 발명은 평탄도 측정장치 및 측정방법에 관한 것으로, 롤러 테이블을 통해 이동하는 판재에 레이저를 조사하여 판재의 표면까지의 거리를 측정하는 제1 측정부, 판재에 레이저를 조사하여 판재의 표면까지의 거리를 측정하는 제2 측정부; 및 제1 측정부와 제2 측정부에서 측정된 거리의 차이값을 이용하여 판재의 평탄도를 산출하는 제어부를 포함하여 구성되며, 복수의 변위 측정센서에서 동일한 시점에 측정되는 판재 표면까지의 거리의 차이값을 이용하여 판재의 평탄도를 측정함으로써, 진동에 의한 측정 오차를 효과적으로 제거할 수 있으므로 판재의 평탄도를 정확히 측정할 수 있다.

Description

평탄도 측정장치 및 측정방법{APPARATUS AND METHOD FOR MEASURING FLATNESS}
본 발명은 평탄도 측정장치 및 측정방법에 관한 것으로서, 더욱 상세하게는 복수의 변위 측정센서를 이용하여 판재의 평탄도를 정확히 측정할 수 있도록 하는 평탄도 측정장치 및 측정방법에 관한 것이다.
일반적으로 압연공정의 기본이 되는 열간압연공정은 연속 주조에 의하여 제조한 슬라브(Slab) 또는 블룸(Bloom), 빌렛(Billet) 등의 압연재를 가열로에 장입하여 고온으로 재가열한 후 조압연, 중간압연, 사상압연 등의 과정을 거쳐 최종 압연 제품을 생산하는 것이다.
이러한 압연 공정을 거쳐 제조된 판재는 기준면에 대한 표면 굴곡을 나타내는 평탄도를 측정하는 품질검사를 거치게 되며, 접촉식 또는 비접촉식 변위 측정센서를 이용하여 판재의 평탄도를 측정한다.
본 발명의 배경기술은 대한민국 특허공개공보 제10-2010-0046742호 '비접촉식 평탄도 검사장치 및 검사방법' (2010.05.07)에 개시되어 있다.
본 발명은 복수의 변위 측정센서를 이용하여 진동에 의한 측정 오차를 제거함으로써 판재의 평탄도를 정확히 측정할 수 있도록 하는 평탄도 측정장치 및 측정방법을 제공하는데 그 목적이 있다.
본 발명의 일 측면에 따른 평탄도 측정장치는 롤러 테이블을 통해 이동하는 판재에 레이저를 조사하여 판재의 표면까지의 거리를 측정하는 제1 측정부; 판재에 레이저를 조사하여 판재의 표면까지의 거리를 측정하는 제2 측정부; 및 제1 측정부와 제2 측정부에서 측정된 거리의 차이값을 이용하여 판재의 평탄도를 산출하는 제어부를 포함한다.
본 발명에서 제1 측정부와 제2 측정부는 롤러 테이블로부터 동일한 높이에 설치되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 제1 측정부와 제2 측정부는 판재의 이동 방향과 나란하게 순차적으로 설치되는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 제1 측정부와 제2 측정부는 판재의 표면까지의 거리를 동시에 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 제1 측정부와 제2 측정부는 판재 상에서 기준거리만큼 이격된 두 지점에 대해 각각 거리를 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 제1 측정부와 제2 측정부는 상기 판재의 표면까지의 거리를 반복적으로 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에서 제1 측정부와 제2 측정부는 각각 판재의 표면에 레이저를 조사하는 발광부; 발광부에서 판재의 표면에 조사된 후 반사되는 레이저를 통과시키는 결상렌즈; 및 결상렌즈를 통과하여 결상되는 이미지를 검출하는 이미지 센서를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 다른 측면에 따른 평탄도 측정방법은 제어부가 롤러 테이블을 통해 이동하는 판재의 표면까지의 거리를 제1 측정부와 제2 측정부로부터 전달받는 단계; 제어부가 제1 측정부와 제2 측정부에서 측정된 거리의 차이값을 계산하는 단계; 및 제어부가 차이값을 이용하여 판재의 평탄도를 산출하는 단계를 포함한다.
본 발명에서 제1 측정부와 제2 측정부는 판재의 표면까지의 거리를 동시에 측정하는 것을 특징으로 한다.
본 발명의 판재의 평탄도를 산출하는 단계는 제어부가 판재의 표면까지의 초기거리를 기초로 차이값을 반복적으로 누적시켜 판재의 표면까지의 최종거리값을 반복적으로 산출하는 단계; 및 제어부가 최종거리값의 변화를 기초로 평탄도를 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 한다.
본 발명에 따르면, 복수의 변위 측정센서에서 동일한 시점에 측정되는 판재 표면까지의 거리의 차이값을 이용하여 판재의 평탄도를 측정함으로써, 진동에 의한 측정 오차를 효과적으로 제거할 수 있으므로 판재의 평탄도를 정확히 측정할 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면, 판재의 평탄도를 정확히 측정할 수 있으므로 판재의 품질 관리가 용이하며, 이에 따라 판재의 품질 및 생산성을 향상시킬 수 있다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정장치의 블록구성도이다.
도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정장치의 제1 측정부 및 제2 측정부가 설치되는 모습을 도시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정장치의 제1 측정부 또는 제2 측정부의 구성을 도시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정방법의 동작 흐름을 도시한 순서도이다.
도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정방법에서 판재의 이동에 따라 판재의 표면까지의 거리를 측정하는 과정의 일 예를 순차적으로 도시한 도면이다.
도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정방법에서 판재까지의 거리의 차이값을 순차적으로 도시한 도면이다.
이하에서는 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정장치 및 측정방법을 첨부된 도면들을 참조하여 상세하게 설명한다. 이러한 과정에서 도면에 도시된 선들의 두께나 구성요소의 크기 등은 설명의 명료성과 편의상 과장되게 도시되어 있을 수 있다. 또한 후술되는 용어들은 본 발명에서의 기능을 고려하여 정의된 용어들로써, 이는 사용자, 운용자의 의도 또는 관례에 따라 달라질 수 있다. 그러므로 이러한 용어들에 대한 정의는 본 명세서 전반에 걸친 내용을 토대로 내려져야할 것이다.
도 1은 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정장치의 블록구성도이고, 도 2는 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정장치의 제1 측정부 및 제2 측정부가 설치되는 모습을 도시한 도면이며, 도 3은 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정장치의 제1 측정부 또는 제2 측정부의 구성을 도시한 도면이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정 장치는 판재 감지부(15), 제1 측정부(20), 제2 측정부(30), 제어부(40) 및 출력부(50)를 포함한다.
먼저, 판재 감지부(15)는 롤러 테이블(10)을 통해 평탄도 측정장치로 진입하는 판재(11)를 감지하고, 판재(11)가 감지되면 판재(11)의 진입을 알리기 위한 트리거 신호를 생성하여 제어부(40)에 전달한다.
또한, 판재 감지부(15)는 판재(11)가 지속적으로 감지되다가 감지되지 않으면, 판재(11)의 진입이 종료된 것을 알리기 위한 트리거 신호를 생성하여 제어부(40)에 전달한다.
이러한 판재 감지부(15)는 판재(11)의 평탄도를 측정하는 측정지점의 일 측에 카메라(미도시)를 구비하여 판재(11)를 감지할 수 있고, 판재(11)의 유무를 감지할 수 있는 근접센서(미도시)나 적외선 수,발신 센서(미도시)를 구비하여 판재(11)를 감지할 수도 있다.
여기서, 판재(11)의 평탄도를 측정하는 측정지점은 판재(11)의 표면까지의 거리를 최초로 측정하는 지점일 수 있으며, 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)가 도 2와 같이 설치되는 경우, 제2 측정부(30)에 의해 측정이 이루어지는 지점일 수 있다.
제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)는 롤러 테이블(10)을 통해 이동하는 판재(11)에 레이저를 조사하여 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30) 각각으로부터 판재(11)의 표면까지의 거리를 측정하여 측정한 값을 제어부(40)에 전달한다.
이때, 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)는 롤러 테이블(11)로부터 동일한 높이에 설치될 수 있고, 판재(11)의 이동 방향과 나란하게 순차적으로 설치될 수 있다.
또한, 도 2에 도시된 바와 같이, 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)는 기준거리(△x)만큼 이격되도록 설치될 수 있다. 따라서, 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)는 롤러 테이블(10)을 통해 이동하는 판재(11)의 표면상에서 기준거리(△x)만큼 이격된 두 지점에 대해 각각 거리를 측정할 수 있다.
이러한 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)는 반복적으로 레이저를 조사하여 판재(11)의 표면까지의 거리를 측정할 수 있다.
이때, 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)는 판재(11)가 기준거리(△x)만큼 이동하는데 소요되는 시간 간격으로 판재(11)의 표면까지의 거리를 반복적으로 측정할 수도 있다.
여기서, 기준거리(△x)는 진동에 의한 잡음 성분을 효과적으로 제거할 수 있는 판재(11) 상에서 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)에 의해 측정되는 두 지점간의 거리를 의미하며, 설계자의 의도, 판재의 강종 및 판재의 이동 속도 등에 따라 다양하게 선택될 수 있다.
이때, 기준거리(△x)가 너무 작거나 너무 크면, 진동에 의한 잡음 성분을 효과적으로 제거할 수 없으므로, 기준거리(△x)는 진동의 잡음 성분을 제거하면서 평탄도를 측정할 수 있는 적절한 거리로 선택되는 것이 바람직하다.
또한, 판재(11)가 기준거리(△x)만큼 이동하는데 소요되는 시간은 롤러 테이블(11)의 회전속도를 기초로 산출될 수 있다.
한편, 롤러 테이블(10)을 타고 이동하는 판재(11)에는 필연적으로 진동이 발생하게 된다. 이러한 진동으로 인해 제1 측정부(20) 또는 제2 측정부(30)에서 측정되는 판재(11)의 표면까지의 거리는 진동에 의한 잡음 성분을 포함하고 있다.
제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)에서 측정되는 판재(11)의 표면까지의 거리를 각각 제1 거리(y1) 및 제2 거리(y2)로 정의하면, 제1 거리(y1) 및 제2 거리(y2)는 아래의 수학식 1과 같이 표현될 수 있다.
Figure pat00001
여기서, y1, y2는 제1 거리 및 제2 거리를 의미하고, C1, C2는 제1 거리 및 제2 거리에 포함된 진동에 의한 잡음 성분을 의미하며, h1, h2는 판재(11)가 정지상태일 때의 제1 거리 및 제2 거리를 의미한다.
이때, 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)가 적절한 기준거리(△x)만큼 근접하여 설치되고, 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)가 동일한 시점에 레이저를 조사하여 제1 거리(y1) 및 제2 거리(y2)를 측정하면, 근접한 지점에서 같은 시간에 발생하는 진동에 의한 잡음 성분은 거의 동일한 값을 가지므로, 제1 거리(y1) 및 제2 거리(y2)는 아래의 수학식 2와 같이 표현될 수 있다.
Figure pat00002
여기서, y1, y2는 제1 거리 및 제2 거리를 의미하고, C는 제1 거리 및 제2 거리에 포함된 진동에 의한 잡음 성분을 의미하며, h1, h2는 판재(11)가 정지상태일 때의 제1 거리 및 제2 거리를 의미한다.
이와 같이, 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)에서 동시에 레이저를 조사하여 판재(11)의 표면까지의 거리를 측정하면, 진동에 의한 잡음 성분이 거의 동일한 값을 가지게 되므로, 제1 거리(y1)와 제2 거리(y2)의 차이값은 진동에 의한 잡음 성분을 포함하지 않게 된다.
한편, 이러한 제1 측정부(20) 또는 제2 측정부(30)는 이동하는 판재(11)의 기울기에 따른 빛의 반사각도 변화를 검출하는 방식으로 제1 거리(y1) 또는 제2 거리(y2)를 측정할 수 있다.
설명의 편의상 제1 측정부(20)의 구성에 대해서만 설명하면, 도 3에 도시된 바와 같이, 제1 측정부(20)는 판재(11)의 표면으로 레이저를 조사하는 발광부(21), 판재(11)의 표면에 조사된 후 반사된 레이저를 통과시키는 결상렌즈(23) 및 결상렌즈(23)를 통과하여 결상되는 이미지를 검출하는 이미지 센서(25)를 포함할 수 있다.
즉, 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)는 판재(11)의 표면까지의 거리가 변화함에 따라 이미지 센서(25)에 결상되는 이미지의 위치 변화를 기초로 판재(11)의 표면까지의 거리의 변화를 검출할 수 있다.
한편, 이와 달리, 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)는 적외선 수,발신 센서(미도시)를 이용하여 판재(11)의 표면까지의 거리를 측정할 수도 있고, 전파신호나 펄스신호를 송수신할 수 있는 안테나(미도시)를 구비하여 판재(11)의 표면까지의 거리를 측정할 수도 있다.
한편, 본 실시예에서는 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)가 롤러 테이블(10)로부터 동일한 높이에 설치되는 것을 예로 들었으나, 이와 달리, 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)는 롤러 테이블(10)로부터 상이한 높이에 설치될 수도 있다.
이 경우, 제1 측정부(20)에서 측정되는 제1 거리(y1) 또는 제2 측정부(30)에서 측정되는 제2 거리(y2)는 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)가 설치된 높이의 차이에 따라 동일한 기준을 갖도록 보정되어야 할 것이다.
제어부(40)는 제1 측정부(20)에서 측정된 제1 거리(y1) 및 제2 측정부(20)에서 측정된 제2 거리(y2)의 차이값을 이용하여 판재(11)의 평탄도를 산출한다.
이때, 제어부(40)는 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)에서 동일한 시점에 측정되는 제1 거리(y1) 및 제2 거리(y2)의 차이값을 계산하여 진동에 의한 잡음 성분을 제거할 수 있다.
이러한 제어부(40)가 제1 거리(y1) 및 제2 거리(y2)의 차이값을 이용하여 평탄도를 산출하는 구체적인 과정은 후술한다.
출력부(50)는 제어부(40)에서 산출되는 평탄도를 출력한다.
이러한 출력부(50)는 디스플레이 패널(미도시)를 구비하여 반복적으로 측정되는 판재(11)의 평탄도 값을 구체적인 숫자로 표시하거나, 판재(11)의 평탄도가 정상 범위에 속하는지 여부를 문자를 출력하여 표시하거나 램프(미도시)를 점등시켜 표시할 수도 있다.
도 4는 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정방법의 동작 흐름을 도시한 순서도이다.
한편, 도 5는 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정방법에서 판재의 이동에 따라 판재의 표면까지의 거리를 측정하는 과정의 일 예를 순차적으로 도시한 도면이고, 도 6은 본 발명의 일 실시예에 따른 평탄도 측정방법에서 판재까지의 거리의 차이값을 순차적으로 도시한 도면이다.
참고로, 도 5는 판재(11)의 이동에 따른 측정을 설명하기 위해 편의상 평탄한 판재(11)가 이동하는 경우를 가정하여 도시하였다.
이하, 도 4 내지 도 6을 참조하여 제어부(40)가 판재(11)의 평탄도를 측정하는 구체적인 동작을 설명한다.
우선, 제어부(40)는 판재 감지부(15)로부터 판재(11)의 진입을 알리는 트리거 신호가 수신되는지 확인한다(S100).
만약, 평탄도를 측정하는 측정지점에 판재(11)가 진입되어 판재 감지부(15)로부터 판재(11)의 진입을 알리는 트리거 신호가 수신되면, 제어부(40)는 도 5의 (a)에 도시된 바와 같이, 제2 측정부(20)를 통해 판재(11)의 표면까지의 초기거리(y0)를 측정한다(S110).
여기서, 초기거리(y0)는 판재(11)의 선단부에 해당하는 'P0'까지의 거리를 의미한다.
이후, 제어부(40)는 제1 측정부(20) 및 제2 측정부(30)를 통해 제1 거리(y1) 및 제2 거리(y2)를 측정하고, 제1 거리(y1) 및 제2 거리(y2)의 차이값을 계산하여 최종거리값을 산출한다(S120).
이때, 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)는 동일한 시점에 판재(11)의 표면까지의 거리를 측정한다.
동일한 시점에 측정된 제1 거리(y1)와 제2 거리(y2)의 차이값은 전술한 수학식 2를 참조하면, 아래의 수학식 3과 같이 표현될 수 있고, 제1 거리(y1)와 제2 거리(y2)의 차이값은 진동에 의한 잡음 성분을 포함하고 있지 않음을 확인할 수 있다.
Figure pat00003
여기서, y1, y2는 제1 거리 및 제2 거리를 의미하고, h1, h2는 판재(11)가 정지상태일 때의 제1 거리 및 제2 거리를 의미한다.
또한, 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)는 초기거리(y0)를 측정한 시점으로부터 반복적으로 측정을 수행할 수 있다.
이때, 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)는 도 5의 (b),(c)에 도시된 바와 같이, 판재(11)가 기준거리(Δx)만큼 이동하는데 소요되는 시간 간격으로 측정을 수행할 수도 있다.
만약, 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)가 도 5에 도시된 바와 같이, 판재(11)가 기준거리(Δx) 만큼 이동하는데 소요되는 시간 간격으로 판재(11)의 표면까지의 거리를 측정한다고 가정하면, 도 6에 도시된 바와 같이, 반복적으로 측정되는 제1 거리(y1,…,yn)와 제2 거리(y2,…,yn+1)의 차이값은 아래의 수학식 4와 같이 표현될 수 있다.
Figure pat00004
여기서, y1,…,yn은 제1 측정부(20)에서 반복적으로 측정되는 제1 거리를 의미하고, y2,…,yn+1은 제2 측정부(20)에서 반복적으로 측정되는 제2 거리를 의미하며, Δy1,…,△yn은 반복적으로 측정되는 제2 거리와 제1 거리의 차이값을 의미한다.
제어부(40)는 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)로부터 반복적으로 측정되어 전달되는 제2 거리(y2,…,yn+1)와 제1 거리(y1,…,yn)의 차이값과 초기거리(y0)를 이용하여 판재(11)의 표면까지의 최종거리값을 반복적으로 산출할 수 있으며, 산출되는 최종거리값은 아래의 수학식 5와 같이 표현될 수 있다 .
Figure pat00005
여기서, H0,H1,…,Hn은 각각 판재 상의 P0,P1,…,Pn 위치까지의 최종거리값을 의미한다.
한편, 제어부(40)는 판재(11)의 표면까지의 최종거리값을 기초로 판재(11)의 평탄도를 산출하고(S130), 출력부(50)를 통해 산출된 평탄도를 출력한다(S140).
이후, 제어부(40)는 판재 감지부(15)로부터 판재(11)의 진입이 종료된 것을 알리기 위한 트리거 신호가 수신되어 판재(11)의 진입이 종료되는지 확인한다(S150).
만약, 판재(11)의 진입이 종료되지 않았으면, 제어부(40)는 S120 단계로 회귀하여 제1 거리(y1) 및 제2 거리(y2)의 차이값을 이용하여 평탄도를 산출하는 과정을 반복하여 수행한다.
이와 같이 제어부(40)가 제1 거리(y1) 및 제2 거리(y2)의 차이값을 이용하여 반복적으로 평탄도를 산출하는 과정은 수학식 4와 5를 이용하여 미리 설명하였다.
이때, 제어부(40)는 제1 측정부(20)와 제2 측정부(30)에서 반복적으로 측정한 거리의 차이값에 대해 적분을 수행하여 최종거리값을 산출하고, 이를 기초로 판재(11)의 평탄도를 산출할 수 있다.
반면, 판재(11)의 진입이 종료되었으면, 판재(11)의 평탄도 측정이 완료된 것이므로, 제어부(40)는 본 발명에 따른 제어를 종료한다.
이와 같이, 본 발명에 따른 평탄도 측정장치에 따르면, 복수의 변위 측정센서에서 동일한 시점에 측정되는 판재(11) 표면까지의 거리의 차이값을 이용하여 판재(11)의 평탄도를 측정함으로써, 진동에 의한 측정 오차를 효과적으로 제거할 수 있으므로 판재(11)의 평탄도를 정확히 측정할 수 있다.
또한, 본 발명에 따르면, 판재(11)의 평탄도를 정확히 측정할 수 있으므로 판재(11)의 품질 관리가 용이하며, 이에 따라 판재(11)의 품질 및 생산성을 향상시킬 수 있다.
본 발명은 도면에 도시된 실시예를 참고로 하여 설명되었으나, 이는 예시적인 것에 불과하며 당해 기술이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자라면 이로부터 다양한 변형 및 균등한 타 실시예가 가능하다는 점을 이해할 것이다. 따라서, 본 발명의 진정한 기술적 보호범위는 아래의 특허청구범위에 의하여 정해져야할 것이다.
10 : 롤러 테이블
11 : 판재
20 : 제1 측정부
30 : 제2 측정부
40 : 제어부
50 : 출력부

Claims (10)

  1. 롤러 테이블을 통해 이동하는 판재에 레이저를 조사하여 상기 판재의 표면까지의 거리를 측정하는 제1 측정부;
    상기 판재에 레이저를 조사하여 상기 판재의 표면까지의 거리를 측정하는 제2 측정부; 및
    상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부에서 측정된 거리의 차이값을 이용하여 상기 판재의 평탄도를 산출하는 제어부를 포함하는 평탄도 측정장치.
  2. 제 1항에 있어서, 상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부는 상기 롤러 테이블로부터 동일한 높이에 설치되는 것을 특징으로 하는 평탄도 측정장치.
  3. 제 1항에 있어서, 상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부는 상기 판재의 이동 방향과 나란하게 순차적으로 설치되는 것을 특징으로 하는 평탄도 측정장치.
  4. 제 1항에 있어서, 상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부는 상기 판재의 표면까지의 거리를 동시에 측정하는 것을 특징으로 하는 평탄도 측정장치.
  5. 제 1항에 있어서, 상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부는 상기 판재 상에서 기준거리만큼 이격된 두 지점에 대해 각각 거리를 측정하는 것을 특징으로 하는 평탄도 측정장치.
  6. 제 5항에 있어서, 상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부는 상기 판재가 기준거리만큼 이동하는데 소요되는 시간 간격으로 상기 판재의 표면까지의 거리를 반복적으로 측정하는 것을 특징으로 하는 평탄도 측정장치.
  7. 제 1항에 있어서,
    상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부는 각각
    상기 판재의 표면에 레이저를 조사하는 발광부;
    상기 발광부에서 상기 판재의 표면에 조사된 후 반사되는 레이저를 통과시키는 결상렌즈; 및
    상기 결상렌즈를 통과하여 결상되는 이미지를 검출하는 이미지 센서를 포함하는 것을 특징으로 하는 평탄도 측정장치.
  8. 제어부가 롤러 테이블을 통해 이동하는 판재의 표면까지의 거리를 제1 측정부와 제2 측정부로부터 전달받는 단계;
    상기 제어부가 상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부에서 측정된 거리의 차이값을 계산하는 단계; 및
    상기 제어부가 상기 차이값을 이용하여 상기 판재의 평탄도를 산출하는 단계를 포함하는 평탄도 측정방법.
  9. 제 8항에 있어서, 상기 제1 측정부와 상기 제2 측정부는 상기 판재의 표면까지의 거리를 동시에 측정하는 것을 특징으로 하는 평탄도 측정방법.
  10. 제 8항에 있어서, 상기 판재의 평탄도를 산출하는 단계는
    상기 제어부가 상기 판재의 표면까지의 초기거리를 기초로 상기 차이값을 반복적으로 누적시켜 상기 판재의 표면까지의 최종거리값을 반복적으로 산출하는 단계; 및
    상기 제어부가 상기 최종거리값의 변화를 기초로 상기 평탄도를 산출하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 평탄도 측정방법.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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CN112985337A (zh) * 2021-01-29 2021-06-18 吴腾辉 一种同时检测上下面的瓷条检测装置

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