KR20130036964A - 광 특성이 우수한 전도성 필름 - Google Patents
광 특성이 우수한 전도성 필름 Download PDFInfo
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Abstract
본 발명은 기재; 상기 기재상에 형성된 제 1 층; 상기 제 1 층 상에 형성된 제 2 층; 및 상기 제 2 층 상에 형성된 도전성층을 포함하고, 하기 일반식 1 및 2의 조건을 만족하는 전도성 필름에 관한 것으로서, 표면 반사율 차이가 적고 광투과도가 우수하며, 디스플레이 또는 조명 분야에서 다양하게 활용 가능하다:
[일반식 1]
n2 < n1 < n3
[일반식 2]
d2 < d1
상기 일반식 1 및 2에서, n1, n2 및 n3는 각각 제 1 층, 제 2 층 및 도전성층의 굴절율을 나타내고, d1 및 d2는 각각 제 1 층 및 제 2 층의 두께를 나타낸다.
[일반식 1]
n2 < n1 < n3
[일반식 2]
d2 < d1
상기 일반식 1 및 2에서, n1, n2 및 n3는 각각 제 1 층, 제 2 층 및 도전성층의 굴절율을 나타내고, d1 및 d2는 각각 제 1 층 및 제 2 층의 두께를 나타낸다.
Description
본 발명은 표면 반사율 차이가 작고 광투과도가 우수한 전도성 필름에 관한 것이다.
일반적인 투명 전도성 필름으로는 유리 기판 상에 산화 인듐 박막을 형성한 도전성 유리를 사용하였지만, 상기 도전성 유리는 가요성 및 가공성이 떨어지고 용도에 따라서는 바람직하지 않은 경우가 많다. 이를 보완하기 위해서 가요성 및 가공성이 우수하고 내충격성 및 경화화가 가능한 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름을 비롯한 다양한 플라스틱 기재를 적용한 투명 전도성 필름이 사용되어 왔다.
그러나, 상기와 같은 플라스틱 필름을 기재로 적용한 투명 전도성 필름은 박막 표면의 광 반사율이 크기 때문에 투과도가 저하되는 문제가 있다. 특히, 기재상에 적층되는 전도성층을 패턴화한 경우에는 패턴부와 비패턴부 사이의 반사율 차이가 높게 나타날 수 있다. 이러한 표면 반사율 차이는 투명 전도성 필름을 포함하는 소자 구성시 색감을 저하시킬 수 있다.
본 발명은 표면 반사율 차이가 작고 광투과도가 우수한 전도성 필름 및 이의 제조방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
본 발명은 기재; 상기 기재상에 형성된 제 1 층; 상기 제 1 층 상에 형성된 제 2 층; 및 상기 제 2 층 상에 형성된 도전성층을 포함하고, 하기 일반식 1 및 2의 조건을 만족하는 전도성 필름을 제공한다.
[일반식 1]
n2 < n1 < n3
[일반식 2]
d2 < d1
상기 일반식 1 및 2에서, n1, n2 및 n3는 각각 제 1 층, 제 2 층 및 도전성층의 굴절율을 나타내고, d1 및 d2는 각각 제 1 층 및 제 2 층의 두께를 나타낸다.
또한, 상기 전도성 필름을 포함하는 터치패널을 제공한다.
이상 설명한 바와 같이, 본 발명에 따른 도전성 필름은 표면 반사율 차이가 적고 광투과도가 우수하며, 디스플레이 또는 조명 분야에서 다양하게 활용 가능하다.
도 1은 본 발명의 하나의 실시예에 따른 전도성 필름의 적층구조를 나타낸 모식도이다.
본 발명은 기재; 상기 기재상에 형성된 제 1 층; 상기 제 1 층 상에 형성된 제 2 층; 및 상기 제 2 층 상에 형성된 도전성층을 포함하고, 하기 일반식 1 및 2의 조건을 만족하는 전도성 필름을 제공한다.
[일반식 1]
n2 < n1 < n3
[일반식 2]
d2 < d1
상기 일반식 1 및 2에서, n1, n2 및 n3는 각각 제 1 층, 제 2 층 및 도전성층의 굴절율을 나타내고, d1 및 d2는 각각 제 1 층 및 제 2 층의 두께를 나타낸다. 상기 굴절율은 압베 굴절계(Abbe Refractometer)를 이용하여 25℃에서 측정하였다.
상기 도전성층은 패턴화되어 있으며, 하기 일반식 3의 조건을 만족할 수 있다.
[일반식 3]
|R1-R2| ≤ 1%
상기 일반식 3에서, R1은 전도성 필름에서 도전성층이 존재하는 영역의 반사율을 나타내고, R2는 전도성 필름에서 도전성층이 존재하지 않는 영역의 반사율을 나타낸다.
상기 도전성층은 평면상에서 일정 형태로 패턴화될 수 있으며, 예를 들어, 직선 또는 곡선형, 평행 또는 사선행, 메쉬형 또는 허니콤형 등으로 패턴화된 구조일 수 있다. 또한, 본 발명에 따른 전도성 필름은 제 1 층, 제 2 층 및 전도성층의 굴절율과 두께를 조절함으로써, 전도성층이 존재하는 영역과 존재하지 않는 영역 사이의 반사율 차이를 최소화할 수 있다.
본 발명에서 상기 반사율은 분광 광도계(Shimadzu 사)를 이용하여 380 내지 780 nm의 파장 영역에서 입사광 5°에서의 정반사의 평균 반사율을 측정하였다. 또한, 상기 R1 및 R2 값은 실험적으로 측정된 반사율 수치 뿐만 아니라 오차 범위 내의 수치를 포함한다.
상기 전도성 필름은 광투과성의 투명 전도성 필름일 수 있다.
상기 기재는 특별히 제한되지 않으며, 광투과성 플라스틱 필름을 사용할 수 있다. 예를 들어, 상기 기재는 폴리에스테르계 수지, 아세테이트계 수지, 폴리에테르 술폰계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 폴리아미드계 수지, 폴리이미드계 수지, (메타)아크릴레이트계 수지, 폴리염화비닐계 수지, 폴리염화비닐리덴계 수지, 폴리스티렌계 수지, 폴리비닐 알코올계 수지, 폴리아릴레이트계 수지 및 폴리페닐렌 황화물계 수지로 구성된 군으로부터 선택된 1 종 이상일 수 있다.
상기 기재의 표면은 코팅층의 코팅성 및 부착성 향상을 위해 스퍼터링, 코로나 방전, 자외선 조사, 플라즈마 처리 또는 산/염기 처리 등을 수행할 수 있으며, 경우에 따라서는 프라이머(primer) 처리 등을 수행할 수 있다.
상기 제 1 층 및 제 2 층은 유기물, 무기물 또는 유무기 복합물을 사용할 수 있으며, 각 층의 굴절율 관계를 만족한다면 그 종류에 관계없이 사용 가능하다.
상기 유기물은 열 또는 UV 경화 가능한 유기물 수지가 사용될 수 있으며, 예를 들어, 아크릴계 수지, 우레탄계 수지, 티오우레탄계 수지, 멜라민 수지, 알키드 수지 및 실록산계 수지 등으로 이루어진 군으로부터 선택된 1 종 이상이 사용될 수 있다.
상기 무기물은 알루미늄, 지르코늄, 티타늄, 틴 및 실리콘으로 이루어진 군으로부터 선택된 1 종 이상의 금속을 포함하는 금속 알콕사이드 화합물의 축합물일 수 있다. 예를 들어, 상기 금속 알콕사이드 화합물의 축합물은 하기 화학식 a로 표시될 수 있다.
[화학식 a]
M-(R5)z
상기 식에서,
M은 알루미늄, 지르코늄, 티타늄, 틴 및 실리콘으로 이루어진 군으로부터 선택된 1 종 이상의 금속이며, R5는 할로겐; 탄소수 1 내지 12의 알킬, 알콕시 또는 아실옥시; 또는 하이드록시기이고, z는 2 또는 4의 정수이다.
예를 들어, 상기 무기물로는 CaF2, BaF2, SiO2, LaF3, CeF3, Al2O3, 산질화 실리콘(silicon oxynitride) 및 산질화 알루미늄(aluminum oxynitride) 중 1 종 이상이 사용될 수 있다.
또한, 상기 유무기 복합물로는 TiO2, Nb2O5, Ta2O5, Sb2O5, ZrO2, ZnO 및 ZnS으로 이루어진 군으로부터 선택되는 단일 또는 복합조성물의 고굴절 입자가 분산된 수지 조성물 또는 그 경화물이 사용될 수 있다.
상기 수지 조성물 또는 그 경화물은 아크릴계 수지, 우레탄계 수지, 티오우레탄계 수지, 멜라민 수지, 알키드 수지, 실록산계 수지 및 하기 화학식 1로 표시되는 유기 실란 화합물로 이루어진 군으로부터 선택되는 1 종 이상 또는 그 경화물이 사용될 수 있다. 수지 조성물로 유기 실란 화합물이 사용되는 경우에는 고굴절 입자와 혼합하여 굴절율 조절 및 가교가 가능한 구조가 바람직하다.
[화학식 1]
(R)m-Si-X(4-m)
상기 화학식 1에서,
X는 수소, 할로겐, 탄소수 1 내지 12의 알콕시, 아실옥시, 알킬카보닐, 알콕시카보닐, 또는 -N(R3)2(여기서 R3는 수소 또는 탄소수 1 내지 12의 알킬)이고,
R은 탄소수 1 내지 12의 알킬, 알케닐, 알키닐, 아릴, 아릴알킬, 알킬아릴, 아릴알케닐, 알케닐아릴, 아릴알키닐, 알키닐아릴, 할로겐, 치환된 아미노, 아마이드, 알데히드, 케토, 알킬카보닐, 카르복시, 머캅도, 시아노, 하이드록시, 탄소수 1 내지 12의 알콕시, 탄소수 1 내지 12의 알콕시카보닐, 설폰산, 인산, 아크릴옥시, 메타크릴옥시, 에폭시 또는 비닐기이고,
산소 또는 -NR4(여기서, R4는 수소 또는 탄소수 1 내지 12의 알킬)가 라디칼 R과 Si 사이에 삽입되어 (R)m-O-Si-X(4-m) 또는 (R)m-NR4-Si-X(4-m)로 될 수 있으며,
m은 1 내지 3의 정수이다.
상기 유기 실란 화합물의 예로는, 메틸트리메톡시실란, 메틸트리에톡시실란, 페닐트리메톡시실란, 페닐트리에톡시실란, 디메틸디메톡시실란, 디메틸디에톡시실란, 디페닐디메톡시실란, 디페닐디에톡시실란, 페닐디메톡시실란, 페닐디에톡시실란, 메틸디메톡시실란, 메틸디에톡시실란, 페닐메틸디메톡시실란, 페닐메틸디에톡시실란, 트리메틸메톡시실란, 트리메틸에톡시실란, 트리페닐메톡시실란, 트리페닐에톡시실란, 페닐디메틸메톡시실란, 페닐디메틸에톡시실란, 디페닐메틸메톡시실란, 디페닐메틸에톡시실란, 디메틸에톡시실란, 디메틸에톡시실란, 디페닐메톡시실란, 디페닐에톡시실란, 3-아미노프로필트리에톡시실란, 3-글리시독시프로필트리메톡시실란, p-아미노페닐실란, 알릴트리메톡시실란, n-(2-아미노에틸)-3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-아민프로필트리에톡시실란, 3-아미노프로필트리메톡시실란, 3-글리시독시프로필디이소프로필에톡시실란, (3-글리시독시프로필)메틸디에톡시실란, 3-글리시독시프로필트리메톡시실란, 3-머캅토프로필트리메톡시실란, 3-머캅토프로필트리에톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필메틸디에톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필메틸디메톡시실란, 3-메타크릴옥시프로필트리메톡시실란, n-페닐아미노프로필트리메톡시실란, 비닐메틸디에톡시실란, 비닐트리에톡시실란 또는 비닐트리메톡시실란 등이 있다.
상기 제 1 층 및 제 2 층으로 유무기 복합물을 사용하는 경우에는, 유기물의 함량이 1 중량% 이상인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 5 중량% 이상일 수 있다. 또한, 상기 무기물의 함량은 0.01 내지 99 중량%로 사용할 수 있으며, 보다 바람직하게는 95 중량% 이하일 수 있다.
상기 제 1 층의 굴절율(n1)은 1.5 내지 1.7 범위일 수 있으며, 보다 구체적으로는 1.57 내지 1.65 범위일 수 있다. 상기 제 2 층의 굴절율(n2)은 1.3 내지 1.6 범위, 보다 구체적으로는 1.4 내지 1.55 범위일 수 있다. 또한, 상기 제 1 층과 제 2 층의 굴절율 차이는 0.01 내지 0.4 범위, 보다 구체적으로는 0.02 내지 0.3 범위일 수 있다. 상기 각 층의 굴절율 범위가 상기 범위를 벗어나는 경우에는 원하는 광투과도 및 색감을 얻을 수 없다.
상기 제 1 층의 두께(d1)는 60 nm 내지 120 nm, 보다 구체적으로는 80 nm 내지 100 nm 범위일 수 있다. 상기 제 2 층의 두께(d2)는 10 nm 내지 70 nm, 보다 구체적으로는 15 nm 내지 50 nm 범위일 수 있다. 상기 제 1 층과 제 2 층의 두께 차이는 10 nm 내지 110 nm, 보다 구체적으로는 30 nm 내지 85 nm 범위일 수 있다. 상기 제 1 층 또는 제 2 층의 두께가 상기 범위보다 두꺼운 경우에는 광투과도가 저하될 수 있고 표면 크랙(crack)이 발생될 우려가 있다.
상기 전도성층의 굴절율(n3)은 1.9 내지 2.1 범위일 수 있다. 상기 전도성층의 굴절율(n3)은 우수한 광투과성과 색감을 동시에 구현하기 위한 것이다. 또한, 상기 전도성층의 두께는 10 내지 90 nm, 보다 구체적으로는 15 내지 70 nm일 수 있다. 전도성층의 두께가 상기 범위보다 얇은 경우에는 전압 인가시 면저항값이 증가될 수 있고, 상기 범위보다 두꺼운 경우에는 광투과성이 저하될 수 있다.
상기 전도성층은 인듐 틴 옥사이드; 및 13 족 원소 또는 산화수 +3의 전이 금속이 도핑된 산화 아연 중 1 종 이상을 포함할 수 있다. 상기 13 족 원소 또는 +3의 산화수를 갖는 전이금속의 비제한적인 예로는 B, Al, Ga, In, Ti, Sc, V, Cr, Mn, Fe, Co 또는 Ni 등이 있으며, 보다 구체적으로는 Al 또는 Ga 등이 사용될 수 있다.
또한, 본 발명은 상기 전도성 필름을 제조하는 방법을 제공한다. 기재상에 제 1 층, 제 2 층 및 전도성층을 형성하는 방법으로는 진공 증착법, 스퍼터링법, 이온 도금법, 도공법 등이 사용될 수 있으나, 이에 한정되는 것은 아니며, 당업계에 알려진 통상적인 방법이 이용될 수 있다.
본 발명에 따른 전도성 필름은 제조과정에서 충진제 및/또는 용매를 더 포함할 수 있다. 상기 충진제로는 금속, 유리분말, 다이아몬드분말, 실리콘옥사이드(SiOx, 여기서 x는 2 내지 4의 정수), 클레이(벤토나이트, 스멕타이트, 카올린 등), 칼슘포스페이트, 마그네슘포스페이트, 바리움설페이트, 알루미늄 플루오라이드, 칼슘실리케이트, 마그네슘실리케이트, 바륨실리케이트, 알루미늄실리케이트 등의 물질 중에서 1 종 이상을 선택하여 사용할 수 있다.
상기 용매는 통상의 가수분해 반응에 사용되는 용매를 사용할 수 있으며, 예를 들어 알코올계, 케톤계 또는 증류수 등을 사용할 수 있다. 또한, 촉매는 특별히 한정되지 않으며, 산 또는 염기 촉매가 사용될 수 있으며, 예를 들어, 염산, 아세트산, 질산, 포름산 또는 옥살산 등이 사용될 수 있다. 상기 충진제, 용매 및 촉매의 사용량은 특별히 한정되지 않으며, 필요에 따라 첨가될 수 있다.
본 발명에 따른 전도성 필름은 다양한 분야에서 적용 가능하며, 특히 PDA, 노트북, 모니터, OA·FA 기기, ATM, 휴대폰, e-종이, 네비게이션 등의 터치패널에 사용될 수 있다. 또한, LCD, LED, OLED 등의 디스플레이 또는 조명 등에도 사용 가능하다. 상기 터치패널은 저항막 방식 또는 정전용량 방식일 수 있으며, 바람직하게는 정전용량 방식일 수 있다.
예를 들어, 본 발명에 따른 전도성 필름을 포함하는 정전용량 방식의 터치패널은, 전도성 필름; 그 일면의 가장자리에 형성되어 전도성 필름에 전압을 인가하는 배선패턴; 전도성 필름의 상부에 위치하는 윈도우 패널; 및 그 윈도우 패널 하부의 배선패턴 상부에 형성되는 차단막 등을 포함할 수 있다. 상기 정전용량 방식의 터치패널의 구성은 당해 기술분야의 통상의 지식을 가진 자에 의해 다양하게 변형 내지 추가될 수 있다.
이하, 본 발명에 따른 실시예 등을 통해 본 발명을 더욱 상술하지만, 본 발명의 범주가 그것에 의해 한정되는 것은 아니다.
실시예
1
두께가 25 ㎛인 폴리에틸렌 테레프탈레이트 필름 상에 TiO2 입자가 도핑된 우레탄계 수지로 코팅을 하고 60℃에서 1 분간 건조하였다. 그런 다음, 다시 120℃에서 3 분간 건조하여 두께가 85 nm인 제 1 층(굴절율 1.60)을 형성하였다. 유기실란 : 테트라에톡시실란 : 에틸알콜 : 증류수 = 1 : 6 : 7 : 2(중량비)의 혼합물에 산 촉매를 첨가하여 25℃에서 24 시간 동안 부분 가수분해 반응하여 졸 상태의 조성물을 제조하였다. 제조된 졸 상태의 조성물을 상기 제 1 층 상에 코팅하여 60℃에서 1 분간 용매 건조 후 140℃의 대류 오븐에서 3 분 동안 젤 반응을 진행하여 두께가 35 nm인 제 2 층(굴절율 1.46)을 형성하였다. 이 후, 아르곤 가스 98.4%와 산소 가스 1.6%로 이루어진 5 mTorr의 분위기 하에서 스퍼터링 방법을 이용하여 두께가 22 nm인 ITO층(굴절율 1.95)을 증착하여 전도성 필름을 제조하였다.
실시예
2
굴절율이 1.5이고, 두께가 40 nm인 제 2 층을 형성한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 전도성 필름을 제조하였다. 상기 굴절율이 1.5인 제 2 층은 TiO2 입자를 포함하는 우레탄아크릴 수지를 코팅하고 100℃에서 1 분간 건조한 후 400 mJ/cm2 광량의 UV를 조사하여 형성하였다.
실시예
3
굴절율이 1.62이고, 두께가 90 nm인 제 1 층을 형성한 것을 제외하고는 실시예 1과 동일한 방법으로 전도성 필름을 제조하였다. 상기 제 1 층은 TiO2 입자를 포함하는 우레탄아크릴 수지를 코팅하고 100℃에서 1 분간 건조한 후 400 mJ/cm2 광량의 UV를 조사하여 형성하였다.
비교예
1
제 1 층의 굴절율을 1.46으로 형성하고, 제 2 층의 굴절율을 1.60으로 형성한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 전도성 필름을 제조하였다.
비교예
2
제 2 층의 두께를 120 nm로 형성한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 전도성 필름을 제조하였다.
비교예
3
제 2 층을 형성하지 않은 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 전도성 필름을 제조하였다.
비교예
4
제 1 층을 형성하지 않고 제 2 층의 두께를 150 nm로 형성한 것을 제외하고는, 실시예 1과 동일한 방법으로 전도성 필름을 제조하였다.
실험예
1.
전광선
투과도(%
Tt
) 값의 측정
실시예 1 내지 3 및 비교예 1 내지 4의 전도성 필름에 대하여 150℃, 60 분 동안 열처리를 실시한 후, 전광선 투과도(%Tt)를 측정하였다. 전광선 투과도는 전광선 헤이즈미터 (Total Light of Hazemeter) (JIS K 7150)을 사용하여 측정하였으며, 측정 결과는 하기 표 1 과 같다.
No. | 전광선 투과도(%Tt) |
실시예 1 | 90.8 |
실시예 2 | 90.6 |
실시예 3 | 91.1 |
비교예 1 | 87.2 |
비교예 2 | 90.0 |
비교예 3 | 89.9 |
비교예 4 | 88.5 |
상기 표 1에서 볼 수 있듯이, 본 발명에 따른 실시예 1 내지 3의 전도성 필름은 90.6% 이상의 전광선 투과도를 나타내는 것을 알 수 있다.
실험예
2. 표면 반사율 차이 측정
실시예 1 내지 3 및 비교예 1 내지 4의 전도성 필름에 대하여, 옥살산 (5% 수용액, 40℃, 1 분)을 이용하여 전도성층을 패턴화하였다. 이 후, 150℃에서 60 분 동안 열치리를 실시하고, 전도성층이 존재하는 영역과 그렇지 않은 영역 사이의 표면 반사율을 측정하여 그 차이를 산출하였다. 표면 반사율 차이는 분광 광도계(일본분광주식회사)를 이용하여 380 내지 780 nm의 파장 영역에서 입사광 5°에서 정반사의 평균 반사율을 측정하였다. 측정 결과는 하기 표 2와 같다.
No. | 반사율 차이(%) |
실시예 1 | 0.76 |
실시예 2 | 0.81 |
실시예 3 | 0.55 |
비교예 1 | 3.94 |
비교예 2 | 2.59 |
비교예 3 | 1.21 |
비교예 4 | 2.66 |
상기 표 1에서 볼 수 있듯이, 본 발명에 따른 실시예 1 내지 3의 전도성 필름은 패턴부와 비패턴부 사이의 반사율 차이가 1% 이하인 것으로 나타났다. 이에 대해, 비교예 1 내지 4의 경우에는 반사율 차이가 상대적으로 높은 것으로 나타났다.
10: 기재 20: 제 1 층
30: 제 2 층 40: 전도성층
30: 제 2 층 40: 전도성층
Claims (19)
- 기재; 상기 기재상에 형성된 제 1 층; 상기 제 1 층 상에 형성된 제 2 층; 및 상기 제 2 층 상에 형성된 도전성층을 포함하고, 하기 일반식 1 및 2의 조건을 만족하는 전도성 필름:
[일반식 1]
n2 < n1 < n3
[일반식 2]
d2 < d1
상기 일반식 1 및 2에서, n1, n2 및 n3는 각각 제 1 층, 제 2 층 및 도전성층의 굴절율을 나타내고, d1 및 d2는 각각 제 1 층 및 제 2 층의 두께를 나타낸다. - 제 1 항에 있어서,
상기 도전성층은 패턴화된 층이고, 하기 일반식 3의 조건을 만족하는 전도성 필름:
[일반식 3]
|R1-R2| ≤ 1%
상기 일반식 3에서, R1은 전도성 필름에서 도전성층이 존재하는 영역의 반사율을 나타내고, R2는 전도성 필름에서 도전성층이 존재하지 않는 영역의 반사율을 나타낸다. - 제 1 항에 있어서,
기재는 폴리에스테르계 수지, 아세테이트계 수지, 폴리에테르 술폰계 수지, 폴리카보네이트계 수지, 폴리아미드계 수지, 폴리이미드계 수지, (메타)아크릴레이트계 수지, 폴리염화비닐계 수지, 폴리염화비닐리덴계 수지, 폴리스티렌계 수지, 폴리비닐알코올계 수지, 폴리아릴레이트계 수지 및 폴리페닐렌 황화물계 수지로 이루어진 군으로부터 선택된 1 종 이상인 전도성 필름. - 제 1 항에 있어서,
제 1 층 및 제 2 층은 유기물, 무기물 또는 유무기 복합물을 포함하는 전도성 필름. - 제 4 항에 있어서,
유기물은 아크릴계 수지, 우레탄계 수지, 멜라민 수지, 알키드 수지 및 실록산계 수지로 이루어진 군으로부터 선택된 1 종 이상인 전도성 필름. - 제 4 항에 있어서,
무기물은 알루미늄, 지르코늄, 티타늄, 틴 및 실리콘으로 이루어진 군으로부터 선택된 1 종 이상의 금속을 포함하는 금속 알콕사이드 화합물의 축합물인 전도성 필름. - 제 4 항에 있어서,
유무기 복합물은 TiO2, Nb2O5, Ta2O5, Sb2O5, ZrO2, ZnO 및 ZnS으로 이루어진 군으로부터 선택되는 단일 또는 복합조성물의 고굴절 입자가 분산된 수지 조성물 또는 그 경화물인 전도성 필름. - 제 7 항에 있어서,
수지 조성물 또는 그 경화물은,
아크릴계 수지, 우레탄계 수지, 티오우레탄계 수지, 멜라민 수지, 알키드 수지, 실록산계 수지 및 하기 화학식 1로 표시되는 유기 실란 화합물로 이루어진 군으로부터 선택되는 1 종 이상 또는 그 경화물인 전도성 필름:
[화학식 1]
(R)m-Si-X(4-m)
상기 화학식 1에서,
X는 수소, 할로겐, 탄소수 1 내지 12의 알콕시, 아실옥시, 알킬카보닐, 알콕시카보닐, 또는 -N(R3)2(여기서 R3는 수소 또는 탄소수 1 내지 12의 알킬)이고,
R은 탄소수 1 내지 12의 알킬, 알케닐, 알키닐, 아릴, 아릴알킬, 알킬아릴, 아릴알케닐, 알케닐아릴, 아릴알키닐, 알키닐아릴, 할로겐, 치환된 아미노, 아마이드, 알데히드, 케토, 알킬카보닐, 카르복시, 머캅도, 시아노, 하이드록시, 탄소수 1 내지 12의 알콕시, 탄소수 1 내지 12의 알콕시카보닐, 설폰산, 인산, 아크릴옥시, 메타크릴옥시, 에폭시 또는 비닐기이고,
산소 또는 -NR4(여기서, R4는 수소 또는 탄소수 1 내지 12의 알킬)가 라디칼 R과 Si 사이에 삽입되어 (R)m-O-Si-X(4-m) 또는 (R)m-NR4-Si-X(4-m)로 될 수 있으며,
m은 1 내지 3의 정수이다. - 제 1 항에 있어서, n1은 1.5 내지 1.7인 전도성 필름.
- 제 1 항에 있어서, n2는 1.3 내지 1.6인 전도성 필름.
- 제 1 항에 있어서,
제 1 층과 제 2 층의 굴절율 차이는 0.01 내지 0.4인 전도성 필름. - 제 1 항에 있어서, d1은 60 nm 내지 120 nm인 전도성 필름.
- 제 1 항에 있어서, d2는 10 nm 내지 70 nm인 전도성 필름.
- 제 1 항에 있어서,
제 1 층과 제 2 층의 두께 차이는 10 nm 내지 110 nm인 전도성 필름. - 제 1 항에 있어서, n3는 1.9 내지 2.1인 전도성 필름.
- 제 1 항에 있어서,
전도성층은 인듐 틴 옥사이드; 및 13족 원소 또는 산화수 +3의 전이 금속이 도핑된 산화 아연 중 1 종 이상을 포함하는 전도성 필름. - 제 1 항에 있어서,
전도성층은 두께가 10 nm 내지 90 nm인 전도성 필름. - 제 1 항에 따른 전도성 필름을 포함하는 터치패널.
- 제 18 항에 있어서, 상기 터치 패널은 정전용량 방식인 터치패널.
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