KR20130032733A - 온도 측정장치 - Google Patents

온도 측정장치 Download PDF

Info

Publication number
KR20130032733A
KR20130032733A KR1020110096499A KR20110096499A KR20130032733A KR 20130032733 A KR20130032733 A KR 20130032733A KR 1020110096499 A KR1020110096499 A KR 1020110096499A KR 20110096499 A KR20110096499 A KR 20110096499A KR 20130032733 A KR20130032733 A KR 20130032733A
Authority
KR
South Korea
Prior art keywords
temperature
frequency signal
sensor
signal generator
dependent frequency
Prior art date
Application number
KR1020110096499A
Other languages
English (en)
Other versions
KR101298301B1 (ko
Inventor
표승철
Original Assignee
삼성전기주식회사
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by 삼성전기주식회사 filed Critical 삼성전기주식회사
Priority to KR1020110096499A priority Critical patent/KR101298301B1/ko
Priority to US13/624,774 priority patent/US20130077652A1/en
Publication of KR20130032733A publication Critical patent/KR20130032733A/ko
Application granted granted Critical
Publication of KR101298301B1 publication Critical patent/KR101298301B1/ko

Links

Images

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/18—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer
    • G01K7/20—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a linear resistance, e.g. platinum resistance thermometer in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/16—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements
    • G01K7/22—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor
    • G01K7/24—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using resistive elements the element being a non-linear resistance, e.g. thermistor in a specially-adapted circuit, e.g. bridge circuit
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01K—MEASURING TEMPERATURE; MEASURING QUANTITY OF HEAT; THERMALLY-SENSITIVE ELEMENTS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G01K7/00—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements
    • G01K7/30—Measuring temperature based on the use of electric or magnetic elements directly sensitive to heat ; Power supply therefor, e.g. using thermoelectric elements using thermal noise of resistances or conductors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Nonlinear Science (AREA)
  • Measuring Fluid Pressure (AREA)

Abstract

본 발명은 온도 측정장치 및 온도 측정방법에 관한 것으로, 저항을 구비하여 압력 또는 동작을 감지하여 전기 신호를 출력하는 저항형 센서; 상기 저항형 센서에서 출력된 신호를 처리하여 압력 또는 동작에 해당하는 값을 연산하는 센서 신호 처리부; 상기 저항형 센서와 연결되며, 상기 저항형 센서의 온도가 변화함에 따라 차이가 발생하는 전류정보로 온도의존 주파수 신호를 생성하는 온도의존 주파수 신호 생성부; 및 상기 온도의존 주파수 신호 생성부에서 출력된 신호를 처리하여 온도의 변화에 대한 정보를 출력하는 온도보상신호 발생부;를 포함하며, 관성 또는 압력 등의 감지기능을 수행하는 동시에 온도를 측정할 수 있으므로 장치의 소형화 및 저전력화가 가능하다는 유용한 효과를 제공한다.

Description

온도 측정장치 및 온도 측정방법{DEVICE FOR MEASURING TEMPERATURE AND METHOD FOR MEASURING TEMPERATURE}
본 발명은 온도 측정장치 및 온도 측정방법에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 저항형 센서의 온도변화에 따른 전류변화값을 반영한 주파수 신호를 이용하여 온도 변화량을 측정하는 온도 측정장치 및 온도 측정방법에 관련된다.
가속도, 각속도 등의 관성력을 감지하는 다양한 방식의 관성센서와 압력, 온도 등을 감지하는 센서들이 개발되고 있다.
이러한 센서들은 대부분의 경우 저항을 포함하고 있다.
한편, 이러한 센서들은 보다 정밀한 측정을 위하여 온도변화에 따른 결과값의 차이를 보상하는 방법을 사용하고 있다.
예를 들면, 특허문헌1에서 제안된 바와 같이 온도 보상 저항을 이용하여 압력 센서에서의 온도 보상을 수행하도록 할 수 있다.
한편, 특허문헌1에서 제안된 기술을 개략적으로 정리해보면 도 1과 같이 단순화 될 수 있다. 즉, 압력 측정을 위한 센서(10)와 온도 보상을 위한 별도의 온도 센서(20)을 구비함으로써 온도에 따른 차이를 보상하도록 한다는 것이다.
그러나, 특허문헌1과 같이 온도보상을 위한 별도의 센서를 구비할 경우 장치의 소형화에 한계가 있으며, 온도감지 및 보상을 위한 별도의 전력이 소모된다는 문제점이 있었다.
특허문헌1 : 미국등록특허 제6101883호
상기와 같은 문제점들을 해결하기 위하여 창안된 본 발명은 저항형 센서만을 이용하여 압력 또는 관성 감지와 동시에 온도측정을 병행할 수 있는 온도 측정장치 및 온도 측정방법을 제공하는 것을 목적으로 한다.
상기와 같은 목적을 달성하기 위하여 창안된 본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정장치는, 저항을 구비하여 압력 또는 동작을 감지하여 전기 신호를 출력하는 저항형 센서; 상기 저항형 센서에서 출력된 신호를 처리하여 압력 또는 동작에 해당하는 값을 연산하는 센서 신호 처리부; 상기 저항형 센서와 연결되며, 상기 저항형 센서의 온도가 변화함에 따라 차이가 발생하는 전류정보로 온도의존 주파수 신호를 생성하는 온도의존 주파수 신호 생성부; 및 상기 온도의존 주파수 신호 생성부에서 출력된 신호를 처리하여 온도의 변화에 대한 정보를 출력하는 온도보상신호 발생부;를 포함할 수 있다.
이때, 상기 온도보상신호 발생부와 연결되며, 온도 변화에 무관한 기준 주파수 신호를 제공하는 기준 주파수 신호 생성부;를 더 포함하며, 상기 온도보상신호 발생부는, 상기 온도의존 주파수 신호 생성부에서 출력된 신호와 상기 기준 주파수 신호를 비교하여 온도의 변화에 대한 정보를 출력하는 것일 수 있다.
또한, 상기 온도의존 주파수 신호 생성부는, 구동전원; 상기 구동전원과 상기 저항형 센서 사이에 연결되는 커런트 미러; 및 상기 커런트 미러에 연결되는 링오실레이터;를 포함하는 것일 수 있다.
또한, 상기 커런트 미러는, 상기 구동전원과 저항형 센서 사이에 흐르는 전류를 미러링하여 상기 링오실레이터의 제1구동전원으로 제공하는 것일 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정장치는, 저항형 센서; 상기 저항형 센서가 제1단자에 연결되는 제1트랜지스터; 상기 제1트랜지스터에 흐르는 전류와 동일한 전류가 흐르는 적어도 한 개의 제2트랜지스터; 상기 제1트랜지스터와 제2트랜지스터의 제2단자에 연결되는 구동전원; 상기 제2트랜지스터의 제1단자가 구동전원단자에 연결되는 적어도 한 개의 제1인버터; 및 상기 인버터의 출력신호를 처리하여 상기 저항형 센서에서의 온도변화정보를 출력하는 온도보상신호 발생부;를 포함할 수 있다.
이때, 온도변화에 무관한 전류원이 구동전원단자에 연결되는 적어도 한 개의 제2인버터를 구비하는 기준 주파수 신호 생성부;를 더 포함하며, 상기 온도보상신호 발생부는 상기 제1인버터에서 출력되는 신호와 상기 제2인버터에서 출력되는 신호를 비교하여 상기 저항형 센서에서의 온도변화정보를 출력하는 것일 수 있다.
또한, 상기 제2트랜지스터와 제1인버터는 각각 3개씩 구비되며, 상기 3개의 제1인버터는 링오실레이터를 이루는 것일 수 있다.
또한, 상기 제2트랜지스터, 제1인버터 및 제2인버터는 각각 3개씩 구비되며, 상기 3개의 제1인버터와 3개의 제2인버터는 링오실레이터를 이루는 것일 수 있다.
또한, 상기 저항형 센서에서 출력된 신호를 처리하여 압력 또는 동작에 해당하는 값을 연산하는 센서 신호 처리부;를 더 포함할 수 있다.
본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정방법은, (A) 저항형 센서의 온도변화에 따른 전류 변화를 반영하여 온도의존 주파수 신호를 생성하는 단계; (B) 상기 온도의존 주파수 신호를 연산하여 온도보상신호를 출력하는 단계;를 포함할 수 있다.
이때, 상기 (A) 단계는, 상기 저항형 센서의 온도변화에 따른 전류 변화를 링오실레이터에 인가하여 온도의존 주파수 신호를 생성하는 것일 수 있다.
또한, 상기 (A) 단계는, 상기 저항형 센서의 온도변화에 따른 전류 변화를 커런트 미러로 미러링해서 링오실레이터에 인가하여 온도의존 주파수 신호를 생성하는 것일 수 있다.
또한, 상기 (B) 단계는, 상기 온도의존 주파수 신호를 온도에 무관한 기준 주파수 신호와 비교하여 그 차이에 따라 온도소상신호를 출력하는 것일 수 있다.
상기와 같이 구성된 본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정장치 및 온도 측정방법은, 관성 또는 압력 등의 감지기능을 수행하는 동시에 온도를 측정할 수 있으므로 장치의 소형화 및 저전력화가 가능하다는 유용한 효과를 제공한다.
도 1은 종래기술에 따른 센서 장치를 개략적으로 예시한 도면이다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정장치를 개략적으로 예시한 도면이다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 온도의존 주파수 신호 생성부를 개략적으로 예시한 도면이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 기준 주파수 신호 생성부를 개략적으로 예시한 도면이다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정장치를 개략적으로 예시한 도면이다.
본 발명의 이점 및 특징, 그리고 그것들을 달성하는 기술 등은 첨부되는 도면들과 함께 상세하게 후술되어 있는 실시예를 참조하면 명확해질 것이다. 그러나 본 발명은 이하에서 개시되는 실시예에 한정되는 것이 아니라 서로 다른 다양한 형태로 구현될 수 있다. 본 실시예는 본 발명의 개시가 완전하도록 함과 더불어, 본 발명이 속하는 기술분야에서 통상의 지식을 가진 자에게 발명의 범주를 완전하게 알려주기 위해 제공될 수 있다. 명세서 전문에 걸쳐 동일 참조 부호는 동일 구성 요소를 지칭한다.
본 명세서에서 사용된 용어들은 실시예를 설명하기 위한 것이며 본 발명을 제한하고자 하는 것은 아니다. 본 명세서에서, 단수형은 문구에서 특별히 언급하지 않는 한 복수형도 포함한다. 명세서에서 사용되는 '포함한다(comprise)' 및/또는 '포함하는(comprising)'은 언급된 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자는 하나 이상의 다른 구성요소, 단계, 동작 및/또는 소자의 존재 또는 추가를 배제하지 않는다.
이하에서는 첨부된 도면을 참조하여 본 발명의 구성 및 작용효과를 더욱 상세하게 설명한다.
도 2는 본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정장치(100)를 개략적으로 예시한 도면이다.
도 2를 참조하면, 본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정장치(100)는 저항형 센서(110), 온도의존 주파수 신호 생성부(130) 및 온도보상신호 발생부(150)를 포함할 수 있다.
저항형 센서(110)는 압력 또는 동작을 감지하여 전기신호를 출력하는 통상적인 센서소자일 수 있다.
한편, 상기 저항형 센서(110)에서 압력 또는 동작을 감지하여 출력한 신호를 처리함으로써 압력 또는 가속도나 관성 등을 연산하는 별도의 센서 신호 처리부(120)가 구비될 수 있다.
온도의존 주파수 신호 생성부(130)는 저항형 센서(110)가 온도의 변화에 따라 저항값이 변화함에 따라 전류의 차이가 발생되는 특성을 활용하여 주파수를 달리하는 신호를 생성하여 출력하는 기능을 수행한다.
도 3은 본 발명의 일실시예에 따른 온도의존 주파수 신호 생성부(130)를 개략적으로 예시한 도면으로써, 도 3을 참조하면, 온도의존 주파수 신호 생성부(130)는 구동전원(VDD); 상기 구동전원(VDD)과 상기 저항형 센서(110) 사이에 연결되는 커런트 미러; 및 상기 커런트 미러에 연결되는 링오실레이터;를 포함할 수 있다.
구체적으로 설명하면, 커런트 미러는 제1트랜지스터(M1)와 3개의 제2트랜지스터(M11, M12, M13)로 구현될 수 있고, 링오실레이터는 3개의 제1인버터(INV1, INV2, INV3)로 구현될 수 있다.
상기 제1트랜지스터(M1)는 제1단자에 저항형 센서(110)가 연결되고, 제2단자에 구동전원(VDD)이 연결되며, 제어단자와 제1단자가 쇼트된다.
또한, 3개의 제2트랜지스터(M11, M12, M13) 제어단자 각각은 제1트랜지스터(M1)의 제어단자와 연결되며 제2트랜지스터(M11, M12, M13)의 제2단자에 구동전원(VDD)이 연결된다.
또한, 3개의 제2트랜지스터(M11, M12, M13) 제1단자 각각이 3개의 제1인버터(INV1, INV2, INV3) 각각의 구동전원단자에 연결되어 구동전원을 인가한다.
저항형 센서(110)의 온도변화에 따라 제1트랜지스터(M1)의 전류가 달라지게 되는데, 이때, 제1트랜지스터(M1)에 흐르는 전류가 제2트랜지스터(M11, M12, M13)에 미러링되어 제1인버터(INV1, INV2, INV3)의 구동전원(VDD)으로 인가된다.
또한, 이렇게 저항형 센서(110)의 온도변화가 반영된 전류를 구동전원으로 인가받음으로써 링오실레이터를 통하여 출력되는 신호의 주파수가 결정된다.
이에 따라, 온도의존 주파수 신호 생성부(130)에서 저항형 센서(110)의 온도변화에 따른 주파수 신호를 생성하여 출력할 수 있게 되는 것이다.
한편, 도 3에서는 저항형 센서(110)가 브리지 형태인 경우를 예시하였으나, 이에 한정되는 것은 아니다.
온도보상신호 발생부(150)는 전술한 온도의존 주파수 신호 생성부(130)에서 출력된 신호를 처리하여 온도의 변화에 대한 정보를 출력할 수 있다. 이때 출력되는 정보는 저항형 센서(110)의 압력 또는 관성 측정값을 보정하는데 활용될 수도 있고, 별도의 온도 측정기로 활용될 수도 있다.
이때, 온도보상신호 발생부(150)는 소정의 기준 주파수 신호와 온도의존 주파수 신호 생성부(130)에서 출력된 신호의 주파수 차이를 비교함으로써 온도 변화량을 연산할 수 있다.
한편, 본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정장치(100)는, 별도의 기준 주파수 신호 생성부(140)를 더 구비할 수도 있다.
기준 주파수 신호 생성부(140)는 전술한 온도의존 주파수 신호 생성부(130)와 반대로, 온도 변화에 무관한 주파수 신호를 생성하여 온도보상신호 발생부(150)에 제공하는 기능을 수행할 수 있다.
온도보상신호 발생부(150)는 기준 주파수 신호 생성부(140)에서 제공된 기준 주파수 신호와 온도의존 주파수 신호 생성부(130)에서 제공된 온도의존 주파수 신호를 비교함으로써 온도 변화량을 연산할 수 있는 것이다.
도 4는 본 발명의 일실시예에 따른 기준 주파수 신호 생성부(140)를 개략적으로 예시한 도면이다.
도 4를 참조하면, 기준 주파수 신호 생성부(140)는, 온도변화에 무관한 전류원(Is)이 구동전원단자에 연결되는 3개의 제2인버터(INV1', INV2', INV3')로 구현될 수 있음을 이해할 수 있다.
도 5는 본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정장치(100)를 개략적으로 예시한 도면이다.
도 5를 참조하면, 저항형 센서(110)의 일측에는 센서 신호 처리부(120)가 연결되어 관성 또는 압력 등의 정보를 처리하고, 저항형 센서(110)의 타측에는 커런트 미러와 링오실레이터로 구현된 온도의존 주파수 신호 생성부(130)가 연결되어 저항형 센서(110)의 온도변화정보를 반영하여 주파수를 변경한 온도의존 주파수 신호를 생성할 수 있다.
또한, 기준 주파수 신호 생성부(140)에서 생성된 온도변화에 무관한 기준 주파수 신호가 온도의존 주파수 신호와 함게 온도보상신호 생성부에 제공되면, 온도보상신호 생성부(150)는 입력된 두 가지 신호의 주파수 차이를 연산하여 온도변화에 대한 결과를 출력함으로써 온도 측정 내지는 온도 보상에 활용되도록 할 수 있는 것이다.
본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정방법은, 저항형 센서(110)의 온도변화에 따른 전류 변화를 반영하여 온도의존 주파수 신호를 생성하는 단계; 및 상기 온도의존 주파수 신호를 연산하여 온도보상신호를 출력하는 단계;를 포함할 수 있다.
이때, 온도의존 주파수 신호를 생성하는 단계는, 상기 저항형 센서(110)의 온도변화에 따른 전류 변화를 링오실레이터에 인가하여 온도의존 주파수 신호를 생성하는 방식으로 수행될 수 있다.
또한, 온도변화에 따른 전류 변화를 링오실레이터에 인가하는 과정은, 상기 저항형 센서(110)의 온도변화에 따른 전류 변화를 커런트 미러로 미러링해서 링오실레이터에 인가하는 방식으로 수행될 수 있다.
또한, 상기 온도보상신호를 출력하는 단계는, 상기 온도의존 주파수 신호를 온도에 무관한 기준 주파수 신호와 비교하여 그 차이에 따라 온도소상신호를 출력하는 방식으로 수행될 수 있다.
이에 따라, 본 발명의 일실시예에 따른 온도 측정방법은, 관성 또는 압력 등의 감지기능을 수행하는 동시에 온도를 측정할 수 있으므로 각종 압력 또는 관성 측정 장치의 소형화 및 저전력화가 가능하게 되는 것이다.
이상의 상세한 설명은 본 발명을 예시하는 것이다. 또한 전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시 형태를 나타내고 설명하는 것에 불과하며, 본 발명은 다양한 다른 조합, 변경 및 환경에서 사용할 수 있다. 즉, 본 명세서에 개시된 발명의 개념의 범위, 저술한 개시 내용과 균등한 범위 및/또는 당업계의 기술 또는 지식의 범위 내에서 변경 또는 수정이 가능하다. 전술한 실시예들은 본 발명을 실시하는데 있어 최선의 상태를 설명하기 위한 것이며, 본 발명과 같은 다른 발명을 이용하는데 당업계에 알려진 다른 상태로의 실시, 그리고 발명의 구체적인 적용 분야 및 용도에서 요구되는 다양한 변경도 가능하다. 따라서, 이상의 발명의 상세한 설명은 개시된 실시 상태로 본 발명을 제한하려는 의도가 아니다. 또한 첨부된 청구범위는 다른 실시 상태도 포함하는 것으로 해석되어야 한다.
10 : 센서
20 : 온도 센서
30 : 센서 신호 처리부
100 : 온도 측정장치
110 : 저항형 센서
120 : 센서 신호 처리부
130 : 온도의존 주파수 신호 생성부
140 : 기준 주파수 신호 생성부
150 : 온도보상신호 발생부
M1 : 제1트랜지스터
M11, M12, M13 : 제2트랜지스터
INV1, INV2, INV3 : 제1인버터
INV1', INV2', INV3' : 제2인버터
VDD : 구동전원
Is : 온도변화에 무관한 전류원

Claims (13)

  1. 저항을 구비하여 압력 또는 동작을 감지하여 전기 신호를 출력하는 저항형 센서;
    상기 저항형 센서에서 출력된 신호를 처리하여 압력 또는 동작에 해당하는 값을 연산하는 센서 신호 처리부;
    상기 저항형 센서와 연결되며, 상기 저항형 센서의 온도가 변화함에 따라 차이가 발생하는 전류정보로 온도의존 주파수 신호를 생성하는 온도의존 주파수 신호 생성부; 및
    상기 온도의존 주파수 신호 생성부에서 출력된 신호를 처리하여 온도의 변화에 대한 정보를 출력하는 온도보상신호 발생부;
    를 포함하는
    온도 측정장치.
  2. 제1항에 있어서,
    상기 온도보상신호 발생부와 연결되며, 온도 변화에 무관한 기준 주파수 신호를 제공하는 기준 주파수 신호 생성부;
    를 더 포함하며,
    상기 온도보상신호 발생부는, 상기 온도의존 주파수 신호 생성부에서 출력된 신호와 상기 기준 주파수 신호를 비교하여 온도의 변화에 대한 정보를 출력하는 것인
    온도 측정장치.
  3. 제1항에 있어서,
    상기 온도의존 주파수 신호 생성부는,
    구동전원;
    상기 구동전원과 상기 저항형 센서 사이에 연결되는 커런트 미러; 및
    상기 커런트 미러에 연결되는 링오실레이터;
    를 포함하는 것인
    온도 측정장치.
  4. 제3항에 있어서,
    상기 커런트 미러는,
    상기 구동전원과 저항형 센서 사이에 흐르는 전류를 미러링하여 상기 링오실레이터의 제1구동전원으로 제공하는 것인
    온도 측정장치.
  5. 저항형 센서;
    상기 저항형 센서가 제1단자에 연결되는 제1트랜지스터;
    상기 제1트랜지스터에 흐르는 전류와 동일한 전류가 흐르는 적어도 한 개의 제2트랜지스터;
    상기 제1트랜지스터와 제2트랜지스터의 제2단자에 연결되는 구동전원;
    상기 제2트랜지스터의 제1단자가 구동전원단자에 연결되는 적어도 한 개의 제1인버터; 및
    상기 인버터의 출력신호를 처리하여 상기 저항형 센서에서의 온도변화정보를 출력하는 온도보상신호 발생부;
    를 포함하는
    온도 측정장치.
  6. 제5항에 있어서,
    온도변화에 무관한 전류원이 구동전원단자에 연결되는 적어도 한 개의 제2인버터를 구비하는 기준 주파수 신호 생성부;를 더 포함하며,
    상기 온도보상신호 발생부는 상기 제1인버터에서 출력되는 신호와 상기 제2인버터에서 출력되는 신호를 비교하여 상기 저항형 센서에서의 온도변화정보를 출력하는 것인 온도 측정장치.
  7. 제5항에 있어서,
    상기 제2트랜지스터와 제1인버터는 각각 3개씩 구비되며,
    상기 3개의 제1인버터는 링오실레이터를 이루는 것인
    온도 측정장치.
  8. 제6항에 있어서,
    상기 제2트랜지스터, 제1인버터 및 제2인버터는 각각 3개씩 구비되며,
    상기 3개의 제1인버터와 3개의 제2인버터는 링오실레이터를 이루는 것인
    온도 측정장치.
  9. 제5항에 있어서,
    상기 저항형 센서에서 출력된 신호를 처리하여 압력 또는 동작에 해당하는 값을 연산하는 센서 신호 처리부;
    를 더 포함하는
    온도 측정장치.
  10. (A) 저항형 센서의 온도변화에 따른 전류 변화를 반영하여 온도의존 주파수 신호를 생성하는 단계; 및
    (B) 상기 온도의존 주파수 신호를 연산하여 온도보상신호를 출력하는 단계;
    를 포함하는
    온도 측정방법.
  11. 제10항에 있어서,
    상기 (A) 단계는,
    상기 저항형 센서의 온도변화에 따른 전류 변화를 링오실레이터에 인가하여 온도의존 주파수 신호를 생성하는 것인
    온도 측정방법.
  12. 제10항에 있어서,
    상기 (A) 단계는,
    상기 저항형 센서의 온도변화에 따른 전류 변화를 커런트 미러로 미러링하여 링오실레이터에 인가해서 온도의존 주파수 신호를 생성하는 것인
    온도 측정방법.
  13. 제10항에 있어서,
    상기 (B) 단계는,
    상기 온도의존 주파수 신호를 온도에 무관한 기준 주파수 신호와 비교하여 그 차이에 따라 온도소상신호를 출력하는 것인
    온도 측정방법.
KR1020110096499A 2011-09-23 2011-09-23 온도 측정장치 KR101298301B1 (ko)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110096499A KR101298301B1 (ko) 2011-09-23 2011-09-23 온도 측정장치
US13/624,774 US20130077652A1 (en) 2011-09-23 2012-09-21 Apparatus for measuring temperature and method for measuring temperature

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
KR1020110096499A KR101298301B1 (ko) 2011-09-23 2011-09-23 온도 측정장치

Publications (2)

Publication Number Publication Date
KR20130032733A true KR20130032733A (ko) 2013-04-02
KR101298301B1 KR101298301B1 (ko) 2013-08-20

Family

ID=47911272

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
KR1020110096499A KR101298301B1 (ko) 2011-09-23 2011-09-23 온도 측정장치

Country Status (2)

Country Link
US (1) US20130077652A1 (ko)
KR (1) KR101298301B1 (ko)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114184856A (zh) * 2021-12-06 2022-03-15 中国计量科学研究院 一种基于全差分结构的热噪声检测装置及噪声温度计

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN115307756A (zh) * 2021-05-07 2022-11-08 脸萌有限公司 温度测量电路、方法

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6188119A (ja) * 1984-10-03 1986-05-06 Seiko Epson Corp 温度検知回路
JPH0772699B2 (ja) * 1985-11-14 1995-08-02 行男 小河 多機能センサ−装置
KR910007657B1 (ko) * 1989-05-23 1991-09-30 삼성전자 주식회사 반도체 온도검출회로
JP2527695B2 (ja) * 1995-03-31 1996-08-28 セイコーエプソン株式会社 温度測定方法
KR100800470B1 (ko) * 2006-01-11 2008-02-01 삼성전자주식회사 링 오실레이터로 구현된 온도 센서 및 이를 이용한 온도검출 방법

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN114184856A (zh) * 2021-12-06 2022-03-15 中国计量科学研究院 一种基于全差分结构的热噪声检测装置及噪声温度计

Also Published As

Publication number Publication date
KR101298301B1 (ko) 2013-08-20
US20130077652A1 (en) 2013-03-28

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN107063221B (zh) 物理量检测电路、电子设备以及移动体
US9910073B2 (en) Measurement circuit
WO2010125733A1 (ja) 電流制御装置及び保護装置
KR101431973B1 (ko) 모터 구동회로의 역기전력의 영점 검출 장치 및 방법
JP2005331332A (ja) センサ装置
KR101298301B1 (ko) 온도 측정장치
EP3470860A1 (en) Voltage detection and determination circuit and power battery system having same
JP6218974B2 (ja) 加速度センサシステム、及び自己診断方法
JP2008020364A (ja) 電磁流量計
Johar et al. Adding self-x capabilities to amr sensors as a first step towards dependable embedded systems
US20130211767A1 (en) Offset compensation for flow sensing devices
US20160109533A1 (en) Inspection circuit for magnetic field detector, and inspection method for the same
JP2008157750A (ja) 抵抗計
JPH11258074A (ja) 静電容量型力学量検出装置
CN107014453B (zh) 用于运行科里奥利质量流量测量仪器的方法及对此的科里奥利质量流量测量仪器
JP5857562B2 (ja) 温度検出回路
JP2005221484A (ja) 測定装置及びその制御方法とプリンタ装置
JP5316111B2 (ja) 漏液検出装置
JP6134226B2 (ja) 四端子抵抗測定装置
JP2615321B2 (ja) 複合薄膜センサモジュール
JP2010096634A (ja) 電圧検出装置
JP2003254992A (ja) 物理量検出回路
JPH10281806A (ja) 信号処理装置及び測定器
JPH07182093A (ja) タッチパネル制御装置
JP2806730B2 (ja) トルクセンサの零点誤差の補正方法

Legal Events

Date Code Title Description
A201 Request for examination
E902 Notification of reason for refusal
E701 Decision to grant or registration of patent right
GRNT Written decision to grant
LAPS Lapse due to unpaid annual fee