KR20120034020A - Apparatus and method for testing color filter - Google Patents
Apparatus and method for testing color filter Download PDFInfo
- Publication number
- KR20120034020A KR20120034020A KR1020110098904A KR20110098904A KR20120034020A KR 20120034020 A KR20120034020 A KR 20120034020A KR 1020110098904 A KR1020110098904 A KR 1020110098904A KR 20110098904 A KR20110098904 A KR 20110098904A KR 20120034020 A KR20120034020 A KR 20120034020A
- Authority
- KR
- South Korea
- Prior art keywords
- inspection
- oled
- image
- color filter
- signal
- Prior art date
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 38
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 claims abstract description 116
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims abstract description 23
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 9
- 239000000284 extract Substances 0.000 claims description 3
- 230000002950 deficient Effects 0.000 description 11
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 7
- 230000000903 blocking effect Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000009897 systematic effect Effects 0.000 description 2
- 230000009885 systemic effect Effects 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000011109 contamination Methods 0.000 description 1
- 230000002708 enhancing effect Effects 0.000 description 1
- 230000017525 heat dissipation Effects 0.000 description 1
- 238000012423 maintenance Methods 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G09—EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
- G09G—ARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
- G09G3/00—Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
- G09G3/006—Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K59/00—Integrated devices, or assemblies of multiple devices, comprising at least one organic light-emitting element covered by group H10K50/00
- H10K59/30—Devices specially adapted for multicolour light emission
- H10K59/38—Devices specially adapted for multicolour light emission comprising colour filters or colour changing media [CCM]
-
- H—ELECTRICITY
- H10—SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- H10K—ORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
- H10K71/00—Manufacture or treatment specially adapted for the organic devices covered by this subclass
- H10K71/70—Testing, e.g. accelerated lifetime tests
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Manufacturing & Machinery (AREA)
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
Abstract
Description
본 발명은 일종의 컬러 필터를 검사하는 장치 및 방법에 관한 것이다.The present invention relates to an apparatus and method for inspecting a kind of color filter.
액정 디스플레이 패널은 일반적으로 컬러 표시를 구현하기 위하여 컬러 필터를 사용해야 하는데, 액정에 구동 제어 전압을 인가하여 백라이트의 광선이 컬러 필터를 통과하도록 하는 처리를 거쳐 컬러 화면을 표시하게 된다. 액정 디스플레이 패널의 화상은 디스플레이 품질과 직접 관련이 있기 때문에, 컬러 필터의 검사가 특히 관건이다.In general, a liquid crystal display panel uses a color filter to implement a color display. The liquid crystal display panel applies a driving control voltage to the liquid crystal to display a color screen through a process of allowing the light rays of the backlight to pass through the color filter. Since the image of the liquid crystal display panel is directly related to the display quality, inspection of the color filter is particularly important.
종래 기술에서, 컬러 필터 검사장치의 광원은 모두 냉음극 형광램프(Cold Cathode Fluorescent Lamp, CCFL) 또는 발광 다이오드(Light Emitting Diode, LED) 백라이트로 구현된다. 도1에 도시된 컬러 필터 검사장치는 스테이지(11)와 백라이트 장치(12)를 포함한다. 상기 백라이트 장치(12)는 수납 프레임(120)과 다수의 발광소자(CCFL 또는 LED)를 포함하며, 상기 수납 프레임(120)은 상기 스테이지(11)와 접촉되는 바닥면(121)과 상기 바닥면(121)과 대향하는 표면(122)이 구비되고, 상기 표면(122)에 다수의 V자형 홈(1220)이 설치되어, 검사 시, 검사할 컬러 필터(20)를 백라이트 장치(12)에 설치하도록 구성된다.In the prior art, the light sources of the color filter inspection apparatus are all implemented with a cold cathode fluorescent lamp (CCFL) or a light emitting diode (LED) backlight. The color filter inspection device shown in FIG. 1 includes a
도 2에 도시된 바와 같이, 상기 컬러 필터상의 각각의 화소는 다수개가 병렬로 설치되는 R(적색), G(녹색), B(청색) 서브 화소로 구성된다. CCFL 백라이트 또는 LED 백라이트의 발광 도트는 통상적으로 mm급 이상이고, 컬러 필터의 서브 화소는 통상적으로 미크론급이다. 따라서 백라이트와 그 검사된 서브 화소 사이는 정확하게 매칭되는 관계를 형성할 수 없다. CCFL 백라이트와 LED 백라이트는 강한 광원이기 때문에 휘도를 낮추기 위한 광차단층이 필요하며, 또한 일정한 방열 공간이 필요하다. 따라서 CCFL 또는 LED 백라이트 장치와 검사할 컬러 필터 사이에는 통상적으로 5mm 이상의 틈새가 존재한다. 그런데, 각기 다른 결함에 대하여 검사를 실시할 때의 관측 각도에는 일정한 차이가 있다. 컬러 필터를 검사할 때, 백라이트와 검사할 컬러 필터 사이에 5mm 이상의 틈새가 존재하기 때문에, 관측 각도가 다른 상태에서는 백라이트 위치를 통해 결함 위치를 확정할 수 없어, 컬러 필터의 불량 위치를 정확하게 확인하고 출력할 수 없다.As shown in Fig. 2, each pixel on the color filter is composed of R (red), G (green), and B (blue) sub-pixels, each of which is provided in parallel. The light emitting dots of the CCFL backlight or the LED backlight are typically mm or more, and the sub-pixels of the color filter are typically microns. Therefore, the backlight and its inspected sub-pixels cannot be formed with an exact matching relationship. Because CCFL backlights and LED backlights are strong light sources, a light blocking layer is required to reduce the brightness and a constant heat dissipation space is required. Therefore, there is typically a gap of 5 mm or more between the CCFL or LED backlight device and the color filter to be inspected. By the way, there is a certain difference in the observation angle when inspecting the different defects. When inspecting the color filter, there is a gap of 5mm or more between the backlight and the color filter to be inspected, so that at different viewing angles, the defect position cannot be determined through the backlight position, so that the defective position of the color filter can be accurately identified. You cannot print it.
종래 기술 중 백라이트와 검사할 컬러 필터 사이에 5mm 이상의 틈새가 존재하여 컬러 필터의 불량위치 확인이 부정확한 문제를 해결하기 위해, 본 발명의 실시예에서는 일종의 컬러 필터 검사장치 및 방법을 제공한다.In order to solve the problem of incorrect positioning of the color filter due to a gap of 5 mm or more between the backlight and the color filter to be inspected in the prior art, an embodiment of the present invention provides a kind of color filter inspection device and method.
본 발명은 한편으로 적어도 하나 이상의 OLED 백라이트로 구성되는 유기발광다이오드(OLED) 검사 템플릿과 제어콘솔을 포함하여, 상기 OLED 백라이트의 발광유닛이 검사 시 검사할 컬러필터의 서브 화소와 일대일로 매칭되고, 상기 OLED 검사 템플릿은 드라이브 버스와 데이터 전송선을 통해 상기 제어콘솔과 연결되어, 상기 제어콘솔이 상기 OLED 검사 템플릿 중 상기 OLED 백라이트의 발광소자의 온/오프(on/off)와 그레이스케일을 제어하는 일종의 컬러필터 검사장치를 제공한다.The present invention includes, on the one hand, an organic light emitting diode (OLED) inspection template consisting of at least one OLED backlight and a control console, wherein the light emitting unit of the OLED backlight is matched one-to-one with sub-pixels of a color filter to be inspected during inspection, The OLED inspection template is connected to the control console through a drive bus and a data transmission line, and the control console controls the on / off and grayscale of the light emitting device of the OLED backlight among the OLED inspection templates. Provided is a color filter inspection device.
본 발명은 또 다른 한편으로 상기 OLED 백라이트의 발광유닛이 검사 시 검사할 컬러필터의 서브 화소와 일대일로 매칭되는 유기발광다이오드 검사 템플릿과 제어콘솔을 포함하는 컬러필터 검사장치로 컬러필터를 검사하는 방법을 제공하며, 상기 방법은 제어콘솔이 상기 OLED 검사 템플릿 중의 OLED 백라이트 발광유닛의 온/오프와 그레이스케일을 포함하는 화상신호를 상기 OLED 검사 템플릿으로 전송하는 단계와; 상기 OLED 검사 템플릿 중의 OLED 백라이트 발광유닛이 상기 화상신호에 따라 발광하는 단계를 포함한다. On the other hand, the present invention is a method of inspecting a color filter with a color filter inspection device comprising a control console and an organic light emitting diode inspection template that is matched one-to-one with the sub-pixels of the color filter to be inspected during the inspection of the light emitting unit of the OLED backlight The method includes: transmitting, by a control console, an image signal including on / off and grayscale of an OLED backlight light emitting unit in the OLED inspection template to the OLED inspection template; And emitting an OLED backlight light emitting unit in the OLED inspection template according to the image signal.
본 발명의 장치와 방법에 따르면, 백라이트와 검사할 컬러 필터 사이에 5mm 이상의 틈새가 존재하여 컬러 필터의 불량위치 확인이 부정확한 문제를 해결할 수 있다. According to the apparatus and method of the present invention, a gap of 5 mm or more exists between the backlight and the color filter to be inspected, thereby solving the problem of incorrect positioning of the color filter.
도 1은 종래 기술 중 컬러필터 검사장치의 구조도이다.
도 2는 도 1 중 검사할 컬러필터의 구조도이다.
도 3은 본 발명의 실시예에서 제공하는 컬러필터 검사장치의 구조도 1이다.
도 4는 도 3의 컬러필터 검사장치 중 드라이브 버스의 배치도이다.
도 5는 본 발명의 실시예에서 제공하는 컬러필터 검사장치의 구조도 2이다.
도 6은 본 발명의 또 다른 실시예에서 제공하는 컬러필터 검사장치의 구조도이다.
도 7은 도 6에 도시된 컬러필터 검사장치 중 신호제어패널의 구조도이다.
도 8 내지 도 10은 불량 영역의 포착 형식이다.1 is a structural diagram of a color filter inspection device of the prior art.
FIG. 2 is a structural diagram of a color filter to be inspected in FIG. 1.
3 is a structural diagram 1 of a color filter inspecting apparatus provided in an embodiment of the present invention.
FIG. 4 is a layout view of a drive bus among the color filter inspecting apparatus of FIG. 3.
5 is a structural diagram 2 of a color filter inspecting apparatus provided in an embodiment of the present invention.
6 is a structural diagram of a color filter inspecting apparatus provided in another embodiment of the present invention.
FIG. 7 is a structural diagram of a signal control panel of the color filter inspecting apparatus illustrated in FIG. 6.
8 to 10 show a capture type of a defective area.
이하 본 발명의 실시예 중의 도면을 결합하여, 본 발명의 실시예의 기술방안에 대하여 분명하고도 완전하게 설명하고자 하며, 물론, 설명하는 실시예는 단지 본 발명의 일부 실시예일 뿐, 실시예의 전부는 아니다. 본 발명의 실시예를 바탕으로, 본 분야의 통상적인 기술자가 창조적인 노동을 하지 않았다는 전제 하에 획득된 모든 기타 실시예는 모두 본 발명의 보호범위에 속한다. Hereinafter, the technical solutions of the embodiments of the present invention will be clearly and completely described by combining the drawings in the embodiments of the present invention. Of course, the embodiments described are merely some embodiments of the present invention, and all of the embodiments are no. Based on the embodiments of the present invention, all other embodiments obtained on the premise that a person of ordinary skill in the art does not have creative labor are all within the protection scope of the present invention.
도 3에 도시된 바와 같이, 본 발명의 실시예에서 제공하는 컬러필터 검사장치는 유기발광다이오드(OLED) 검사 템플릿(31)과 제어콘솔(32)을 포함한다. 상기 OLED 검사 템플릿(31)은 적어도 하나 이상의 OLED 백라이트(311)로 구성되며, OLED 백라이트(311)의 발광유닛은 검사할 컬러필터(33)의 서브 화소와 일대일로 매칭된다. OLED 검사 템플릿(31)은 드라이브 버스(34)와 데이터전송선(35)을 통하여 제어콘솔(32)과 연결된다. 제어콘솔(32)은 OLED 검사 템플릿(31) 중의 OLED 백라이트(311) 발광유닛의 on/off와 그레이스케일을 제어한다. 발광유닛은 OLED 백라이트(311) 내부의 최소 발광유닛으로서, 패널(Panel) 화소와 유사하다.As shown in FIG. 3, the color filter inspection apparatus provided in the embodiment of the present invention includes an organic light emitting diode (OLED)
도 4에 도시된 바와 같이, 드라이브 버스(34)는 횡방향 드라이브 버스(41)와 종방향 드라이브 버스(42)를 포함한다. OLED 백라이트의 발광유닛(43)은 횡방향 전극(44)을 통해 횡방향 드라이브 버스(41)에 접속되고, 종방향 전극(45)을 통해 종방향 드라이브 버스(42)에 접속된다.As shown in FIG. 4, the
도 5에 도시된 바와 같이, 제어콘솔(32)은 신호발생기(51)와 주제어(master control) 컴퓨터(52)를 포함할 수 있으며, 양자는 서로 연결된다. 신호발생기(51)는 데이터 전송선(35)을 통해 드라이브 버스(34)와 연결된다. 신호발생기(51)가 주제어 컴퓨터(52)가 발송한 검사지령을 수신하면, 검사지령에 따라 화상신호를 생성하고, 신호발생기(51)가 화상신호를 데이터 전송선(35)과 드라이브 버스(34)를 통해 OLED 검사 템플릿(31)으로 전송하면, OLED 검사 템블릿(31) 중의 OLED 백라이트의 발광유닛이 화상신호에 따라 발광한다.As shown in FIG. 5, the
본 실시예에서, 제어콘솔은 드라이브 버스와 데이터 전송선을 통해 OLED 백라이트(311) 중의 각각의 발광유닛의 on/off와 그레이스케일을 제어한다.In this embodiment, the control console controls on / off and grayscale of each light emitting unit in the
본 발명의 실시예는 또한 상기 컬러필터 검사장치에 사용되는 컬러필터 검사방법을 제공하며, 이는,An embodiment of the present invention also provides a color filter inspection method used in the color filter inspection device,
제어콘솔이 OLED 검사 템플릿 중의 OLED 백라이트 발광유닛의 on/off 신호와 그레이스케일 신호를 포함하는 화상신호를 OLED 검사 템플릿으로 발송하는 단계(601)를 포함한다.The control console includes a step 601 of sending an image signal including an on / off signal and an gray scale signal of the OLED backlight light emitting unit in the OLED inspection template to the OLED inspection template.
단계(601)의 한 예시는 One example of step 601 is
신호발생기가 주제어 컴퓨터가 발송하는 검사지령을 수신하면, 검사지령에 따라 화상신호를 생성하는 단계(701)와; 신호발생기가 화상신호를 데이터전송선과 드라이브 버스를 통해 OLED 검사템플릿으로 전송하는 단계(702)를 포함한다.When the signal generator receives the inspection instruction sent by the main control computer, generating an image signal according to the inspection instruction (701); The signal generator transmits the image signal to the OLED inspection template through the data transmission line and the drive bus (702).
구체적으로 실시할 때, 검사할 컬러필터의 R 서브화소를 검사하고자 하는 경우, 제어콘솔이 검사할 컬러필터의 R 서브화소와 대응되는 OLED 백라이트의 발광유닛을 온(on)하라는 화상신호를 발송한다. 같은 원리로, B 서브화소 또는 G 서브화소를 검사하고자 하는 경우, 검사할 컬러필터의 B 서브화소 또는 G 서브화소와 대응되는 OLED 백라이트의 발광유닛을 온하라는 화상신호를 발송해야 한다. 화상신호에는 또한 발광될 발광유닛이 온되었을 때의 발광강도, 즉 발광유닛의 그레이스케일이 더 휴대된다. Specifically, when the R subpixel of the color filter to be inspected is to be inspected, the control console sends an image signal to turn on the light emitting unit of the OLED backlight corresponding to the R subpixel of the color filter to be inspected. . In the same principle, when the B subpixel or the G subpixel is to be inspected, an image signal is sent to turn on the light emitting unit of the OLED backlight corresponding to the B subpixel or G subpixel of the color filter to be inspected. In the image signal, the light emission intensity when the light emitting unit to be emitted is turned on, that is, the gray scale of the light emitting unit is further carried.
구체적으로, 제어콘솔 중의 주제어컴퓨터가 검사지령을 발송하여, 검사할 컬러필터 중 R 서브화소의 지령을 검사하면, 신호발생기가 검사지령에 따라 화상신호를 생성한다. 상기 화상신호는 OLED 백라이트 중 검사할 컬러필터의 R 서브화소와 대응되는 발광유닛을 온하는데 사용된다. 같은 원리로, 검사할 필터 중의 B 서브화소 또는 G 서브화소 역시 상기 단계를 거쳐 검사된다. Specifically, when the main control computer in the control console sends an inspection command to inspect the instruction of the R sub-pixel among the color filters to be inspected, the signal generator generates an image signal in accordance with the inspection command. The image signal is used to turn on the light emitting unit corresponding to the R subpixel of the color filter to be inspected in the OLED backlight. In the same principle, the B subpixels or the G subpixels in the filter to be inspected are also examined through the above steps.
단계 602에서, OLED 검사템플릿 중 OLED 백라이트의 발광유닛은 화상신호에 따라 발광한다.In step 602, the light emitting unit of the OLED backlight of the OLED inspection template emits light according to the image signal.
구체적으로 사용 시, 검사할 컬러필터를 OLED 검사템플릿 중의 OLED 백라이트와 기계적으로 위치를 맞춘다. 위치를 맞춘 후, 제어콘솔로 검사템플릿에게 화상신호를 발송한다. OLED 검사템플릿 중의 OLED 백라이트 발광유닛이 상기 화상신호에 따라 발광하면, 검사할 컬러필터가 OLED 백라이트의 정 상부에 놓인 상태에서 OLED 백라이트 발광이 컬러필터를 투과한 후에 화상이 형성된다. 상기 화상은 데이터 전송선을 통해 제어콘솔로 피드백되어, 조작자가 제어콘솔의 디스플레이에서 화상을 관찰할 수 있고, 또한 화상에 따라 컬러필터에 불량 도트가 존재하는지 여부를 판단할 수 있다.Specifically, the color filter to be inspected is mechanically positioned with the OLED backlight in the OLED inspection template. After positioning, the control console sends an image signal to the inspection template. When the OLED backlight light emitting unit in the OLED inspection template emits light according to the image signal, an image is formed after the OLED backlight emission passes through the color filter while the color filter to be inspected is placed on top of the OLED backlight. The image is fed back to the control console through the data transmission line, so that the operator can observe the image on the display of the control console, and can also determine whether or not there are defective dots in the color filter according to the image.
본 발명의 실시예에서 제공하는 컬러필터 검사장치 및 방법은 OLED 백라이트로 구성되는 OLED 검사템플릿을 사용하여 검사할 컬러필터를 검사한다. OLED 백라이트의 발광도트가 작기 때문에, 검사할 컬러필터의 서브화소와 일대일 매칭을 구현할 수 있는 동시에, OLED 백라이트의 발광유닛 방식은 자체발광 방식이기 때문에, 검사할 컬러필터와 OLED 검사템플릿 사이를 틈새 없이 접촉시킬 수 있어, 백라이트와 검사할 컬러필터 사이에 비교적 큰 틈새가 존재하여 발생하는 문제, 즉 컬러필터를 검사할 때, 컬러필터의 불량위치의 정확한 어드레스 확인과 출력을 실시할 수 없는 문제를 방지할 수 있다.The color filter inspection apparatus and method provided in the embodiment of the present invention inspect the color filter to be inspected using an OLED inspection template composed of an OLED backlight. Due to the small light emitting dot of the OLED backlight, one-to-one matching with the subpixels of the color filter to be inspected can be realized, while the light emitting unit method of the OLED backlight is self-luminous, so there is no gap between the color filter to be inspected and the OLED inspection template. This prevents the problem caused by the presence of a relatively large gap between the backlight and the color filter to be inspected, that is, the problem of inaccurate address checking and output of the defective position of the color filter when inspecting the color filter. can do.
도 6에 도시된 바와 같이, 본 발명의 또 다른 실시예에서 제공하는 컬러필터 검사장치는 유기발광다이오드(OLED) 검사템플릿(81)과 제어콘솔(82)을 포함한다. 제어콘솔(82)은 신호발생기(821), 주제어컴퓨터(822)와 신호저장 전송유닛(823)을 포함한다. 주제어 컴퓨터(822)는 신호발생기(821)와 연결되고, 신호발생기(821)는 데이터 전송선(83)을 통해 드라이브 버스(84)와 연결된다. 신호발생기(81)가 주제어 컴퓨터(822)가 발송하는 검사지령을 수신하면, 검사지령에 따라 화상신호가 생성된다. 신호발생기(821)가 상기 화상신호를 데이터 전송선(83)과 드라이브 버스(84)를 통해 OLED 검사템플릿(81)으로 전송하면, OLED 검사템플릿(81) 중의 OLED 백라이트 발광유닛은 화상신호에 따라 발광한다. 신호저장 전송유닛(823)은 회선회로를 통해 주제어컴퓨터(822)와 연결되며, 주제어컴퓨터(822)가 대조 처리한 결과를 저장한다.As shown in FIG. 6, the color filter inspection apparatus provided in another embodiment of the present invention includes an organic light emitting diode (OLED)
본 실시예에서, OLED 검사템플릿(81)은 적어도 하나 이상의 OLED 백라이트로 구성되며, OLED 백라이트의 발광유닛은 검사할 컬러필터의 서브화소와 일대일로 매칭된다. 신호발생기(821)는 저장모듈(8211)을 포함하며, 저장모듈(8211)은 미리 설치된 대조화상 및 대조화상을 생성하는 화상신호를 저장한다. 신호발생기(821)가 주제어 컴퓨터(822)가 발송하는 검사지령을 수신하면, 검사지령에 따라 대조화상을 생성하는 화상신호를 호출한다. 주제어 컴퓨터(822)는 프로세서(8221)를 포함하며, 프로세서(8221)는 신호발생기(821)와 연결된다. 프로세서(8221)는 대조화상 및 대조화상을 생성하는 화상신호를 통해 얻어진 검사화상을 추출하여, 대조화상과 검사화상을 비교 처리한다. 주제어컴퓨터(822) 중의 프로세서(8221)를 사용하여 검사할 필터의 불량을 검색하므로 그 정확도가 더욱 높다.In this embodiment, the
프로세서 중 대조화상과 검사화상 간의 처리는 차분법을 통해 구현할 수 있다. 최적의 상태에서, 대조화상 화소와 검사화상 화소간의 차이값이 모두 0이면, 검사할 컬러필터의 검사 결과가 우량품인 것을 설명하며, 프로세서에 하나의 문턱값을 미리 설정하여, 대조화상 화소와 검사화상 화소 간의 차이값이 문턱값보다 클 경우, 검사화상 화소와 대응되는 컬러필터의 화소가 불량 도트이므로, 상기 도트를 포착하거나 식별하게 된다. 본 실시예에서, 컬러필터의 불량은 광차단막의 색도차이, 광차단막의 결함, 광차단막 간의 혼색, 광차단막의 오염, 광차단막의 위치편차 및 시스템적인 광누출 등이다. 프로세서에는 상기 불량과 대응되는 문턱값을 설정할 수 있으며, 대조화상 화소와 검사화상 화소 간의 차이값이 문턱값보다 클 경우, 문턱값과 대응되는 불량이 발생했음을 설명하는 것이다.The processing between the contrast image and the inspection image in the processor can be implemented by the difference method. In the optimal state, if the difference value between the contrasting picture pixel and the inspection picture pixel is all zero, the result of the inspection of the color filter to be inspected is a good one. When the difference value between the image pixels is larger than the threshold value, since the pixels of the color filter corresponding to the inspection image pixels are defective dots, the dots are captured or identified. In this embodiment, the defects of the color filter are the chromaticity difference of the light blocking film, the defect of the light blocking film, the mixing of the light blocking films, the contamination of the light blocking film, the positional deviation of the light blocking film, and the systematic light leakage. The processor may set a threshold corresponding to the defect. When the difference between the contrast image pixel and the inspection image pixel is larger than the threshold value, the processor may describe that a defect corresponding to the threshold has occurred.
예를 들어, 시스템적인 광누출의 구체적인 검사방식은 다음과 같다: 블랙 매트릭스에 대응되는 발광유닛과 RGB 서브화소에 대응되는 발광유닛은 독립적인 것이기 때문에, OLED 백라이트 상의 컬러필터에 대응되는 블랙 매트릭스 영역의 발광유닛을 온함으로써 광선이 BM 영역에서 누출되는지 여부를 관측할 수 있고, 및/또는, 발광유닛을 온한 후 컬러필터를 투과하여 빛이 조사되는지 여부를 검사하는 방식으로 시스템적 광누출의 존재 여부를 판단할 수 있다. 광선이 BM 영역으로부터 누출되든 또는 컬러필터를 투과하여 빛이 조사되든 모두 상기 컬러필터에 시스템적 광누출의 불량이 존재한다는 것을 설명하는 것이다.For example, a specific inspection method for systemic light leakage is as follows: Since the light emitting unit corresponding to the black matrix and the light emitting unit corresponding to the RGB subpixel are independent, the black matrix region corresponding to the color filter on the OLED backlight is independent. By turning on the light emitting unit of the present invention, it is possible to observe whether the light leaks from the BM region, and / or the presence of the systemic light leakage by checking whether the light is irradiated through the color filter after turning on the light emitting unit. It can be determined. Whether the light leaks from the BM region or irradiates light through the color filter, it is explained that there is a defect of systematic light leakage in the color filter.
더 나아가, 컬러필터 검사장치의 원활성을 강화시키고, 주제어컴퓨터 중 프로세서의 오판을 감소시키기 위하여 제어콘솔(82)은 신호제어패널(824)을 더 포함할 수 있다. 이러한 신호제어패널(824)은 각각 신호발생기(821), 주제어 컴퓨터(822)와 연결된다.Furthermore, the
도 7에 도시된 바와 같이, 신호제어패널(824)은 그레이스케일 조절버튼(91), 표기버튼(92), 방향제어버튼(93)과 좌표전송버튼(94)을 포함할 수 있다. 그레이스케일 조절버튼(91)은 OLED 백라이트 중 발광하고 있는 발광유닛의 그레이스케일을 조절하여 필요한 그레이스케일을 원활하게 획득할 수 있으며, 전적으로 주제어 컴퓨터에 의해 제어되는 것은 아니다. 표기 버튼(92)은 인위적으로 관찰할 때 검사할 컬러필터의 불량 영역을 포착하기 위한 것이다. 불량 영역의 포착 형식은 도 8에 도시된 바와 같은 국부적인 소영역이거나, 도 9에 도시된 바와 같은 국부적인 대영역 또는 도 10에 도시된 바와 같이 시스템 중심에 포함되는 영역일 수 있다. 방향제어버튼(93)으로는 표기버튼(92)이 불량영역을 포착한 후 불량 도트를 정확하게 포착할 수 있다. 좌표전송버튼(94)은 불량도트를 정확하게 포착했을 때 불량도트의 정확한 좌표를 주제어컴퓨터로 전송할 수 있다.As shown in FIG. 7, the
본 발명이 또 다른 실시예에서 제공하는 컬러필터 검사장치에 사용되는 컬러필터 검사방법은 다음을 포함한다.The color filter inspection method used in the color filter inspection apparatus provided by another embodiment of the present invention includes the following.
단계(1301)는, 검사할 컬러필터를 OLED 검사탬플릿과 기계적으로 미리 위치를 맞추는 단계로서, 구체적으로, 검사할 컬러필터를 OLED 검사템플릿 중의 OLED 백라이트에 대응시켜, 검사할 컬러필터의 서브화소를 OLED 백라이트 중의 발광유닛과 일대일로 매칭시킨다.Step 1301 is a step of mechanically pre-positioning the color filter to be inspected with the OLED inspection template. Specifically, the color filter to be inspected is mapped to the OLED backlight in the OLED inspection template, and the subpixels of the color filter to be inspected are selected. One-to-one matching with the light emitting unit in the OLED backlight.
단계(1302)는, 제어콘솔이 화상신호를 OLED 검사템플릿으로 발송하는 단계로서, 본 실시예에서, 화상신호는 OLED 검사 템블릿 중의 OLED 백라이트 발광유닛의 온/오프와 그레이스케일을 포함한다.Step 1302 is a step in which the control console sends an image signal to the OLED inspection template. In this embodiment, the image signal includes on / off and grayscale of the OLED backlight light emitting unit in the OLED inspection template.
구체적으로 단계(1302)의 일 실시예는 신호발생기가 주제어 컴퓨터가 발송하는 검사지령을 수신하여, 검사지령에 따라 대조화상을 생성하는 화상신호를 호출 하는 단계(1401)와; 신호발생기가 대조화상을 생성하는 화상신호를 데이터 전송선과 드라이브 버스를 통해 OLED 검사 템플릿으로 전송하는 단계(1402)를 포함한다.Specifically, in one embodiment of step 1302, the signal generator receives an inspection command sent by the main control computer and calls 1401 an image signal for generating a contrast image according to the inspection command; The signal generator transmits 1402 an image signal for generating a contrast image to the OLED inspection template through the data transmission line and the drive bus.
단계(1303)는, OLED 검사 템플릿 중의 OLED 백라이트 발광유닛이 화상신호에 따라 발광하는 단계이다.In step 1303, the OLED backlight light emitting unit in the OLED inspection template emits light in accordance with an image signal.
단계(1304)는, 검사할 컬러필터가 OLED 검사템플릿의 광 조사를 통하여 검사화상을 획득하는 단계이다.Step 1304 is a step in which the color filter to be inspected acquires the inspection image through light irradiation of the OLED inspection template.
단계(1305)는, 주제어컴퓨터가 대조화상 및 대조화상을 생성하는 화상신호를 통해 획득된 검사화상을 추출하여, 대조화상과 검사화상을 대조 처리하는 단계이다.In step 1305, the main control computer extracts the inspection image obtained through the contrast image and the image signal for generating the contrast image, and performs a collation process on the contrast image and the inspection image.
대조처리의 구체적인 실현방식은 상기 프로세서가 대조 처리하는 방법과 동일하므로, 여기서는 설명을 생략한다.Since the concrete realization method of the matching processing is the same as that of the matching processing by the processor, the description is omitted here.
단계(1306)는, 주제어컴퓨터가 대조 처리된 결과를 신호저장 전송유닛에 전송하고, 더 나아가 유지보수 확인을 위해 준비하는 단계이다.Step 1306 is a step in which the main computer transmits the result of the check processing to the signal storage transmitting unit and further prepares for maintenance confirmation.
더 나아가, 컬러필터 검사장치의 원활성을 강화시키고, 주제어컴퓨터의 프로세서의 오판을 감소시키기 위한 방법은 또한 다음 단계를 더 포함한다.Furthermore, the method for enhancing the smoothness of the color filter inspection apparatus and reducing the mistake of the processor of the main control computer further includes the following steps.
단계(1501)는, 주제어컴퓨터가 제어패널이 발송한 제어명령에 따라 주제어컴퓨터 중의 처리 프로세스를 호출하는 단계이다.Step 1501 is a step in which the main control computer invokes a processing process in the main control computer according to a control command sent by the control panel.
단계(1502)는, 신호발생기가 제어패널이 발송한 제어명령에 따라 화상신호를 생성하는 단계이다.In step 1502, the signal generator generates an image signal in accordance with a control command sent by the control panel.
본 발명의 실시예가 제공하는 컬러필터 검사장치 및 방법은 OLED 백라이트를 포함하는 OLED 검사템플릿으로 검사할 컬러필터를 검사하는 방식을 채택하였다. OLED 백라이트의 발광도트가 비교적 작기 때문에 검사할 컬러필터의 서브화소와 일대일 매칭을 구현할 수 있는 동시에, OLED 백라이트의 발광유닛은 자체발광방식이기 때문에, 검사할 컬러필터와 OLED 검사템플릿 사이에 틈새 없이 접촉이 가능하여, 백라이터와 검사할 컬러필터 사이에 비교적 큰 틈새가 존재하는 문제, 즉 컬러필터 검사 시, 컬러필터의 불량위치 확인이 부정확한 문제를 방지할 수 있다.The color filter inspection apparatus and method provided by an embodiment of the present invention adopt a method of inspecting a color filter to be inspected by an OLED inspection template including an OLED backlight. Due to the relatively small light emitting dot of the OLED backlight, one-to-one matching with the subpixels of the color filter to be inspected can be realized, while the light emitting unit of the OLED backlight is self-luminous, so that there is no gap between the color filter to be inspected and the OLED inspection template. This makes it possible to prevent a problem in which a relatively large gap exists between the back lighter and the color filter to be inspected, that is, a problem of incorrect positioning of the color filter during the color filter inspection.
본 발명의 실시예에서 제공하는 컬러필터 검사장치 및 방법은 액정디스플레이장치 중 컬러필터의 검사에 응용될 수 있다.The color filter inspection apparatus and method provided in the embodiment of the present invention can be applied to the inspection of the color filter of the liquid crystal display device.
본 분야의 보통 기술자라면 상기 실시예의 방법 중의 전부 또는 일부 단계는 프로그램을 통해 관련 하드웨어를 지령하여 완성될 수 있음을 이해할 수 있을 것이다. 상기 프로그램은 컴퓨터의 읽기가 가능한 저장매체, 예를 들어 ROM/RAM, 자기디스크 또는 CD 등에 저장될 수 있다. Those skilled in the art will understand that all or some of the steps of the method of the above embodiment can be completed by instructing related hardware through a program. The program may be stored in a computer-readable storage medium such as a ROM / RAM, a magnetic disk or a CD.
이상에 설명한 내용은 단지 본 발명의 구체적인 실시방식일 뿐으로서, 본 발명의 보호범위는 이에 국한되지 않으며, 본 기술분야를 숙지하는 기술자가 본 발명에서 공개한 기술 범위 내에서 간단히 생각해 낸 변화 또는 치환은 모두 본 발명의 보호범위 내에 속하여야 한다. 따라서 본 발명의 보호범위는 상기 청구항의 보호범위에 준하여야 함이 마땅하다.The foregoing descriptions are merely specific embodiments of the present invention, and the protection scope of the present invention is not limited thereto, and a change or substitution easily conceived by those skilled in the art within the technical scope disclosed in the present invention. Should all fall within the protection scope of the present invention. Therefore, the protection scope of the present invention should conform to the protection scope of the claims.
Claims (11)
제어콘솔(console)을 포함하며,
상기 OLED 검사 템플릿은 적어도 하나 이상의 OLED 백라이트를 포함하고, 상기 OLED 백라이트의 발광 유닛은 검사 시 검사할 컬러 필터의 서브 화소와 긴밀하게 접합되면서 일대일로 매칭되며, 상기 OLED 검사 템플릿은 드라이브 버스와 데이터 전송선을 통해 상기 제어콘솔과 연결되어, 상기 제어콘솔이 상기 OLED 검사 템플릿 중의 상기 OLED 백라이트 발광 유닛의 온/오프(on/off)와 그레이스케일을 제어하는 것을 특징으로 하는 컬러 필터 검사장치.Organic light emitting diode (OLED) test templates; And
It includes a control console,
The OLED inspection template includes at least one OLED backlight, and the light emitting units of the OLED backlight are matched in one-to-one correspondence with the sub-pixels of the color filters to be inspected during inspection, and the OLED inspection template is a drive bus and a data transmission line. Is connected to the control console through the control console, characterized in that the control console controls the on / off (on / off) and grayscale of the OLED backlight light emitting unit in the OLED inspection template.
상기 제어콘솔은 신호발생기와 주제어컴퓨터를 포함하며, 상기 주제어컴퓨터는 상기 신호발생기와 연결되고, 상기 신호발생기는 상기 데이터 전송선을 통해 상기 드라이브 버스와 연결되며, 상기 신호발생기가 상기 주제어컴퓨터가 발송하는 검사지령을 수신하면, 상기 검사지령에 따라 화상신호가 생성되며, 상기 신호발생기가 상기 화상신호를 상기 데이터전송선과 상기 드라이브 버스를 통해 상기 OLED 검사 템플릿으로 전송하면, 상기 OLED 검사 템플릿 중의 OLED 백라이트 발광유닛이 상기 화상신호에 따라 발광하는 것을 특징으로 하는 컬러 필터 검사장치.The method of claim 1,
The control console includes a signal generator and a main control computer, the main control computer is connected to the signal generator, the signal generator is connected to the drive bus via the data transmission line, and the signal generator is sent by the main control computer. Upon receiving the inspection command, an image signal is generated according to the inspection command, and when the signal generator transmits the image signal to the OLED inspection template through the data transmission line and the drive bus, the OLED backlight is emitted in the OLED inspection template. And the unit emits light in accordance with the image signal.
상기 신호발생기는 미리 설치된 대조화상 및 상기 대조화상을 생성하는 화상신호가 저장되는 저장모듈을 포함하여, 상기 신호발생기가 상기 주제어컴퓨터가 발송하는 검사지령을 수신하면, 상기 검사지령에 따라 상기 대조화상을 생성하는 화상신호를 호출하며; 상기 주제어컴퓨터는 상기 신호발생기와 연결되는 프로세서를 포함하여, 상기 프로세서가 상기 대조화상 및 상기 대조화상을 생성하는 상기 화상신호를 통해 획득된 검사화상을 추출하고, 상기 대조화상과 상기 검사화상을 대조 처리하는 것을 특징으로 하는 컬러 필터 검사장치.The method of claim 2,
The signal generator includes a pre-installed collated image and a storage module for storing an image signal for generating the collated image. When the signal generator receives an inspection command sent by the main control computer, the contrast image is generated according to the inspection instruction. Calling an image signal to generate an image; The main control computer includes a processor connected to the signal generator, wherein the processor extracts the contrast image and the inspection image obtained through the image signal generating the contrast image, and compares the contrast image with the inspection image. Color filter inspection device characterized in that the processing.
상기 제어콘솔은 회선회로를 통해 상기 주제어컴퓨터와 연결되어, 상기 주제어컴퓨터가 대조 처리한 결과를 저장하는 신호저장 전송유닛을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컬러 필터 검사장치.The method of claim 3,
The control console is connected to the main control computer via a circuit circuit, the color filter inspection apparatus further comprises a signal storage transmission unit for storing the result of the contrast processing of the main control computer.
상기 제어콘솔은 각각 상기 신호발생기, 상기 주제어컴퓨터와 연결되는 신호제어패널을 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컬러 필터 검사장치.The method according to any one of claims 2 to 4,
Each of the control console further comprises a signal control panel connected to the signal generator and the main computer.
상기 드라이브 버스는 횡방향 드라이브 버스와 종방향 드라이브 버스를 포함하며, 상기 OLED 백라이트의 발광유닛은 횡방향 전극을 통해 상기 횡방향 드라이브 버스에 접속되고, 상기 OLED 백라이트의 발광유닛은 종방향 전극을 통해 상기 종방향 드라이브 버스에 접속되는 것을 특징으로 하는 컬러 필터 검사장치.5. The method according to any one of claims 1 to 4,
The drive bus includes a transverse drive bus and a longitudinal drive bus, wherein the light emitting unit of the OLED backlight is connected to the transverse drive bus via a transverse electrode, and the light emitting unit of the OLED backlight is connected via a longitudinal electrode. And a color filter inspection device connected to said longitudinal drive bus.
상기 제어콘솔이 상기 OLED 검사 템플릿 중의 상기 OLED 백라이트 발광유닛의 온/오프(on/off)와 그레이스케일을 포함하는 화상신호를 상기 OLED 검사 템플릿으로 발송하는 단계와;
상기 OLED 검사 템플릿 중의 상기 OLED 백라이트 발광유닛이 상기 화상신호에 따라 발광하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 컬러 필터 검사방법.An organic light emitting diode (OLED) inspection template and a control console, wherein a type of color filter inspection method used in a color filter inspection apparatus in which an OLED backlight light emitting unit is matched one-to-one with sub-pixels of a color filter to be inspected during inspection, Way,
Sending, by the control console, an image signal including on / off and grayscale of the OLED backlight light emitting unit in the OLED inspection template to the OLED inspection template;
And the OLED backlight light emitting unit in the OLED inspection template emits light according to the image signal.
상기 제어콘솔은 신호발생기와 주제어컴퓨터를 포함하며, 상기 제어콘솔이 화상신호를 상기 OLED 검사 템플릿으로 발송하는 단계는,
상기 신호발생기가 상기 주제어컴퓨터가 발송하는 검사지령을 수신하여, 상기 검사지령에 따라 화상신호를 생성하는 단계와;
상기 신호발생기가 상기 화상신호를 상기 데이터전송선과 상기 드라이브 버스를 통해 상기 OLED 검사 템플릿으로 전송하는 단계를 포함하는 것을 특징으로 하는 컬러 필터 검사방법.The method of claim 7, wherein
The control console includes a signal generator and a main control computer, wherein the step of sending the image signal to the OLED inspection template by the control console,
Receiving, by the signal generator, an inspection instruction sent by the main control computer, and generating an image signal according to the inspection instruction;
And the signal generator transmitting the image signal to the OLED inspection template through the data transmission line and the drive bus.
상기 제어콘솔은 신호발생기와 주제어컴퓨터를 포함하며, 상기 제어콘솔이 화상신호를 상기 OLED 검사 템플릿으로 발송하는 단계는,
상기 신호발생기가 상기 주제어컴퓨터가 발송하는 검사지령을 수신하면, 상기 검사지령에 따라 상기 대조화상을 생성하는 상기 화상신호를 호출하는 단계와;
상기 신호발생기가 상기 대조화상을 생성하는 상기 화상신호를 상기 데이터전송선과 상기 드라이브 버스를 통해 상기 OLED 검사 템플릿으로 전송하는 단계를 포함하며;
상기 방법은 또한
검사할 컬러필터가 상기 OLED 검사 템플릿의 광 조사를 통해 검사화상을 획득하는 단계와;
상기 주제어컴퓨터가 상기 대조화상 및 상기 대조화상을 생성하는 화상신호를 통해 획득된 검사화상을 추출하여, 상기 대조화상과 상기 검사화상을 대조 처리하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컬러 필터 검사방법.The method of claim 7, wherein
The control console includes a signal generator and a main control computer, wherein the step of sending the image signal to the OLED inspection template by the control console,
When the signal generator receives an inspection instruction sent by the main control computer, calling the image signal to generate the contrast image according to the inspection instruction;
Sending, by the signal generator, the image signal for generating the contrast image to the OLED inspection template through the data transmission line and the drive bus;
The method also
Obtaining, by the color filter to be inspected, an inspection image through light irradiation of the OLED inspection template;
And extracting, by the main control computer, the contrast image and the inspection image obtained through the image signal generating the contrast image, and performing a collation process on the contrast image and the inspection image. .
상기 제어콘솔은 신호저장 전송유닛을 더 포함하며, 상기 방법은
상기 주제어컴퓨터가 상기 대조 처리된 결과를 상기 신호저장 전송유닛으로 전송하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컬러 필터 검사방법. The method according to claim 8 or 9,
The control console further comprises a signal storage transmission unit, the method
And transmitting, by the main control computer, the result of the collation process to the signal storage transmission unit.
상기 제어콘솔은 신호제어패널을 더 포함하며, 상기 방법은
상기 주제어컴퓨터가 상기 제어패널이 발송하는 제어지령에 따라 상기 주제어컴퓨터 중의 처리 프로세스를 호출하는 단계와;
상기 신호발생기가 상기 제어패널이 발송한 제어지령에 따라 화상신호를 생성하는 단계를 더 포함하는 것을 특징으로 하는 컬러 필터 검사방법.The method of claim 10,
The control console further comprises a signal control panel, the method
Invoking, by the main control computer, a processing process in the main control computer according to a control instruction sent by the control panel;
And generating, by the signal generator, an image signal in accordance with a control command sent by the control panel.
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN201010502050.1 | 2010-09-30 | ||
| CN201010502050.1A CN102445324B (en) | 2010-09-30 | 2010-09-30 | Equipment and method for detecting color filter |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| KR20120034020A true KR20120034020A (en) | 2012-04-09 |
| KR101470570B1 KR101470570B1 (en) | 2014-12-08 |
Family
ID=46008037
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| KR1020110098904A KR101470570B1 (en) | 2010-09-30 | 2011-09-29 | Apparatus and method for testing color filter |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| KR (1) | KR101470570B1 (en) |
| CN (1) | CN102445324B (en) |
Families Citing this family (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103852242B (en) * | 2012-11-29 | 2016-04-20 | 海洋王（东莞）照明科技有限公司 | A kind of quality inspection method of resin optical filter |
| CN103868676B (en) * | 2012-12-13 | 2016-08-10 | 京东方科技集团股份有限公司 | A kind of Subarea detecting method and system of colored filter |
| CN103785628B (en) * | 2013-12-31 | 2016-04-20 | 合波光电通信科技有限公司 | Optical filter automatic sorting device and method |
| CN110570809B (en) * | 2019-09-10 | 2021-04-16 | 成都辰显光电有限公司 | Display panel and test method thereof |
Family Cites Families (8)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| KR100934771B1 (en) * | 2005-03-11 | 2009-12-30 | 주식회사 에이디피엔지니어링 | Color filter defect inspection device |
| KR20070055735A (en) * | 2005-11-28 | 2007-05-31 | 엘지전자 주식회사 | A test apparatus of organic electroluminescent device and test method thereof |
| US20070123133A1 (en) * | 2005-11-30 | 2007-05-31 | Eastman Kodak Company | OLED devices with color filter array units |
| CN1979101A (en) * | 2005-12-09 | 2007-06-13 | 群康科技(深圳)有限公司 | Colour optical-filter detecting device and method, and liquid-crystal display colourity detecting method |
| CN100547374C (en) * | 2006-06-01 | 2009-10-07 | 友达光电股份有限公司 | The detection system and the method that are used for a colored filter |
| JP5077887B2 (en) * | 2008-03-26 | 2012-11-21 | Ｎｔｎ株式会社 | Color filter defect correcting method and color filter defect correcting apparatus |
| CN101566578B (en) * | 2008-04-25 | 2012-07-18 | 深超光电（深圳）有限公司 | Method for inspecting panel for detecting and colored filter |
| JP5407442B2 (en) * | 2009-03-11 | 2014-02-05 | 凸版印刷株式会社 | Color filter dirt defect selection method |
-
2010
- 2010-09-30 CN CN201010502050.1A patent/CN102445324B/en active Active
-
2011
- 2011-09-29 KR KR1020110098904A patent/KR101470570B1/en active IP Right Grant
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN102445324A (en) | 2012-05-09 |
| CN102445324B (en) | 2014-08-06 |
| KR101470570B1 (en) | 2014-12-08 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| KR101856533B1 (en) | Apparatus for inspecting light emitting device and inspecting method using the same | |
| KR101286534B1 (en) | inspection apparatus of Liquid crystal display apparatus and inspection method using the same | |
| US10672117B2 (en) | Panel light-on apparatus, panel light-on testing system and panel light-on testing method | |
| US20200066195A1 (en) | Inspection device and inspection method for array substrate | |
| KR20100023258A (en) | Method and apparatus for inspecting of flat display panel | |
| KR20130136806A (en) | Apparatus for testing display device module and method for testing the same | |
| KR101470570B1 (en) | Apparatus and method for testing color filter | |
| CN106782233B (en) | OLED display screen detection system and application thereof | |
| KR101876908B1 (en) | Enhancement method for location accuracy of display panel defect | |
| CN108663371B (en) | Method and system for detecting dust and foreign matters on display panel | |
| JP2007192613A (en) | Flaw inspection method of color liquid crystal panel and flaw inspection device therefor | |
| KR101802431B1 (en) | Oled defect detection method and apparatus | |
| JP2007047062A (en) | Inspection method and inspection device of display panel | |
| JP2008216810A (en) | Liquid crystal panel inspecting device and liquid crystal panel inspection method | |
| JP2008067154A (en) | Method and device for inspecting image quality for color display board | |
| KR102028977B1 (en) | System and method for testing image display device | |
| JP2931505B2 (en) | Inspection apparatus and inspection method for color filter used in matrix type display device | |
| KR20140139929A (en) | Display Panel Inspection Apparatus and Its Method | |
| KR20190097768A (en) | Method and apparatus for inspecting of flat display panel | |
| KR20110064494A (en) | Liquid crystal display device and method of controlling picture quality thereof | |
| JP2009086294A (en) | Lighting inspection system, lighting inspection device, lighting inspection method, lighting inspection program, and computer-readable recording medium | |
| JP3375265B2 (en) | Defect repair method and defect repair device for light transmissive display panel | |
| JP2022014949A (en) | Liquid crystal panel inspection device | |
| KR101327857B1 (en) | Apparatus and method of measuring a defect of display device | |
| KR20090065844A (en) | Apparatus and method for inspecting color-filter |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| A201 | Request for examination | ||
| E902 | Notification of reason for refusal | ||
| E601 | Decision to refuse application | ||
| J201 | Request for trial against refusal decision | ||
| J301 | Trial decision |
Free format text: TRIAL DECISION FOR APPEAL AGAINST DECISION TO DECLINE REFUSAL REQUESTED 20130724 Effective date: 20140822 |
|
| S901 | Examination by remand of revocation | ||
| GRNO | Decision to grant (after opposition) | ||
| GRNT | Written decision to grant | ||
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20171030 Year of fee payment: 4 |
|
| FPAY | Annual fee payment |
Payment date: 20181119 Year of fee payment: 5 |