KR20120018382A - 플로트 유리의 주석면 확인 장치 - Google Patents

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Abstract

본 발명은 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치에 관한 것으로서, 외부 쉘(outer shell), 외부 쉘 내부에 각각 배치된 가스 방출 광 튜브와 파워 소스, 가스 방출 광 튜브의 위치에 상응하는 외부 쉘에 설치된 방사 윈도우를 구비하고, 플로트 유리의 내면 또는 외면에 배치된 UV 광-흡수 마크를 구비한다.

Description

플로트 유리의 주석면 확인 장치{Identification Device for Tin Surface of Float Glass}
본 발명은 플로트 유리(float glass)를 위한 광 검사 기술에 관한 것으로서, 보다 상세하게, 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치에 관한 것이다.
현재, 플로트 유리의 성형 공정은 보호 가스가 공급되는 주석 그루브(tin groove)에서 종료되고, 특히, 다음과 같은 공정을 거친다. 즉, 용융 유리는 탱크 퍼니스(furnace)로부터 주석 그루브 속으로 연속적으로 흘러들어서 상대적으로 큰 밀도로 용융 상태의 주석 표면 위로 부동(float)하면서, 용융 주석의 표면 위에서 중력과 표면 장력의 작용에 의해 용융 유리가 펼쳐져서 편평하게 되고 경화되어 냉각된 후 어닐링 및 다른 공정을 거치면서 편평한 유리 제품을 얻게 된다. 전술한 플로트 유리의 성형 공정에 있어서, 고온의 용융 유리는 용융 주석 위에서 부동하기 때문에, 어느 정도의 주석은 유리의 하면 속으로 침투하여 유리 표면의 일부를 주석 표면으로 변화시킨다.
플로트 유리의 주석-침투 표면은 스크린 인쇄, 멤브레인 코팅, 곡면 템퍼링 및 대면적 평탄화 템퍼링과 같은 플로트 유리의 추가적인 공정에 영향을 줄 수 있는 많은 속성들을 가지기 때문에, 플로트 유리의 주석 표면을 정확하게 결정하는 것이 매우 중요하다.
플로트 유리의 주석 표면에 있는 주석은 Sn0, Sn2 +, Sn4 +를 포함하는 3개의 원자가 형태로 존재한다. 주석 요소는 적절한 광 에너지를 흡수한 후 여기 상태를 생성할 것이다. 불안정한 여기 상태는 그라운드 상태를 급속하게 쇠퇴시킬 것이다. 여기 상태로부터 그라운드 상태로의 경로는 광자 방사선 즉, 광발광 현상을 일반적으로 수반한다. 형광은 분자들의 광발광 현상에 속한다.
현재, 상업적으로 입수 가능한 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치의 내부에는 UV 광을 조사하는 고온 음극 가스 방출 광 튜브가 장착된다. 실제적 응용에 있어서, 주석 표면 확인 장치는 플로트 유리의 하부 공간으로부터 상방으로 빛을 방사하고, 주석 표면 확인 장치의 고온 음극 가스 방출 광 튜브는 UV 광을 방사하고, 플로트 유리의 주석 요소의 자외선 광발광 현상에 따라, 주석 표면 확인 장치에 단단하게 부착된 표면이 플로트 유리의 주석 표면이며, UV 광에 의해 방사된 후의 주석 표면은 백색 형광 빛을 방출하기 위해 자외선 광발광을 증대시킬 것이며, 백색 형광은 유리의 상면으로부터 하방으로 바라보는 육안에 의해 볼 수 있으며, 주석 표면 확인 장치에 단단하게 부착된 표면이 플로트 유리의 주석 표면이 아니면, 주석 표면은 자외선 광발광을 증가시키지 않을 것이며 백색 형광은 육안에 의해 볼 수 없게 된다.
비록, 현존하는 주석 표면 확인 장치는 특별한 감지 효과를 가지지만, 고온 음극 가스 방출 광 튜브에 의한 UV 광의 방사는 간섭을 유발할 수 있는 가시 광선을 수반함으로써 주석 표면은 매우 불명확한 백색 형광 효과를 생성하고, 감지기는 백색 형광 빛의 생성 여부를 결정하기 위해 많은 시간이 소요되기 때문에 감지율이 현저히 감소되고, UV 광은 인체에 유해하기 때문에, 장기간의 관찰은 관찰자의 신체 건강을 해치게 된다. 또한, 주석 표면에 대한 UV 광의 방사에 의한 백색 형광 빛의 생성 공정은 순간적이기 때문에, 관찰자의 판단에 있어서, 즉시 관찰하지 않으면 관찰 결과에 영향을 미치게 된다.
본 발명의 목적은 플로트 유리의 주석 표면을 위한 확인 효과 및 능률을 향상시킬 수 있는 플로트 유리의 주석 표면의 확인 장치를 제공하는 것이다.
상기 목적을 달성하기 위해 본 발명에 따른 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치는, 외부 쉘, 가스 방출 광 튜브 및 파워 소스를 구비하고, 가스 방출 광 튜브와 파워 소스는 외부 쉘 내부에 배치되고, 외부 쉘 위에 장착된 방사 윈도우는 가스 방출 광 튜브의 위치에 상응하고, UV 광-흡수 마크는 플로트 유리의 내면 또는 외면에 배치된다.
또한, 가스 방출 광 튜브는 고온 음극 가스 방출 광 튜브 또는 저온 음극 가스 방출 광 튜브 또는 UV 광 튜브이다.
또한, 가스 방출 광 튜브는 그 어떤 모양일 수 있다.
또한, 광 필터가 가스 방출 광 튜브와 방사 윈도우 사이에 배치된다.
또한, UV 광-흡수 마크는 광 필터의 내면 또는 외면에 배치된다.
또한, UV 광-흡수 마크는 방사 윈도우의 내면에 배치된다.
또한, 마크는 인쇄, 본딩, 코팅 또는 에칭과 같은 방식으로 배치된다.
또한, 마크는 도형, 기호, 문자, 숫자 및 그들의 조합을 포함하는 그 어떤 형상일 수 있다.
UV 광-흡수 마크는 본 발명의 확인 장치에 배치되고, 장치의 사용 중에, UV 광의 방사가 없기 때문에, 주석 표면 확인 장치가 플로트 유리의 주석 표면을 방사할 때, 마크의 위치에 상응하는 주석 표면은 백색 형광 빛을 방출하지 않기 때문에, 어둡게 되어 백색 형광을 방출하는 UV 광-방사 주석 표면 주변 영역과 뚜렷하게 비교되고, 따라서, 사용자는 주석 표면을 보다 명확하게 확인하는 효과를 얻기 위해 플로트 유리 위에 배치된 마크를 볼 수 있고, 나아가, 그러한 방식은 확인 결과에서 가시 광선의 영향을 제거하는 광 필터의 사용을 배제할 수 있고, 전체 장치의 구조를 더 간단하게 하고 비용을 낮출 수 있다.
본 발명에 있어서, 저온 음극 가스 방출 광 튜브는 종래의 고온 음극 가스 방출 광 튜브 대신에 채택될 수 있고, 주석 표면 확인 장치의 서비스 수명은 저온 음극 가스 방출 광 튜브의 장기 서비스 수명 때문에 현저히 연장될 수 있다.
또한, 주석 표면 확인 장치의 외부 쉘에 배치된 광 필터는 저온 음극 가스 방출 광 튜브에 의해 방출되는 가시 광선을 반사 및 흡수할 수 있기 때문에, 백색 형광 빛의 보다 명확한 효과가 주석 표면에 의해 형성된다.
도 1은 본 발명에 따른 주석 표면 확인 장치의 외부 쉘 영역과 내부 기초 구조물의 정면도이다.
도 2는 본 발명에 따른 주석 표면 확인 장치의 외부 쉘의 광 필터-장착면의 외측 정면도이다.
본 발명의 기본 개념은 다음과 같다. 즉, UV 광-흡수 마크는 확인 장치에 배치되고, UV 광의 방사가 없기 때문에, 마크의 위치에 상응하는 주석 표면은 백색 형광 빛을 방출하지 않으므로 어둡게 되어 백색 형광 빛을 방출하는 UV 광-방사 주석 표면 주변의 영역과 뚜렷한 차이를 나타내고, 사용자는 주석 표면을 위한 더욱 명백한 확인 효과를 직접적으로 얻기 위해 플로트 유리에 배치된 마크를 볼 수 있다.
본 발명에 대한 더 상세한 설명은 첨부된 도면과 실시예를 참조한다.
도 1은 본 발명에 따른 주석 표면 확인 장치의 외부 쉘 영역과 내부 기본 기조물의 정면도이다.
도 1에 도시된 바와 같이, 본 발명의 주석 표면 확인 장치의 외부 쉘(3)은 인쇄 회로 기판(2), 인쇄 회로 기판(2)에 설치된 리튬 배터리(1), 저온 음극 가스 방출 광 튜브(5) 등 및 저온 음극 방출 광 튜브(5)의 위치에 상응하는 외부 쉘(3)에 설치된 광 필터(7)를 주로 내부에 구비한다. 저온 음극 가스 방출 광 튜브(5)는 무작위로 굴곡되어 그 어떤 다양한 모양을 형성할 수 있다.
실제적 응용에 있어서, 저온 음극 가스 방출 광 튜브(5)는 드라이버를 통해 리튬 배터리(1)에 의해 구동된 후 적은 양의 가시 광선과 함께 UV 광을 방출하고, 광 필터(7)는 저온 음극 가스 방출 광 튜브(5)에 의해 방사되는 가시 광선을 반사 및 흡수할 수 있으므로, UV 광만이 끝단에서 플로트 유리에 방사된다. 즉, 본 발명의 주석 표면 확인 장치가 플로트 유리의 주석 표면을 확인하는데 사용될 때, 플로트 유리에 방사되는 광이 관찰에 기초하여 백색 형광 빛이면 표면은 주석 표면으로 판단되고, 그렇지 않으면, 표면은 주석 표면이 아닌 것으로 판단된다.
본 발명의 주석 표면 확인 장치의 외부 쉘(3)의 일면에는 스위치 표시 램프(4)가 마련되고, 저온 음극 가스 방출 광 튜브(5)가 리튬 배터리(1)에 의해 구동될 때, 즉, 주석 표면 확인 장치가 사용될 때, 스위치 표시 램프(4) 점등된다.
또한, UV 광-흡수 마크(6)는 광 필터(7)의 내측에 단단하게 부착되는 방식으로 배치될 수 있고, 마크(6)의 모양은 예를 들어, 숫자, 기호, 문자, 도형과 같이 무작위로 변경될 수 있고, 마크(6)는 인쇄, 본딩, 코팅, 에칭 등에 의해 설치될 수 있다. 더 좋은 사용의 편성을 제공하기 위해, 마크(6)는 광 필터(7)의 중앙에 배치된다. 또한, 비용을 절감하기 위하여, 방사 윈도우는 광 필터(7)가 제공되지 않고, 대신에 광 필터 또는 유리 쉬트의 내면에 단단하게 부착되는 방식으로 배치된 광 필터를 교체하기 위해 유리 쉬트가 사용되고, 마크(6)는 유리 쉬트의 내면 또는 외면에 상응하게 배치될 수 있다.
도 2는 본 발명에 따른 주석 표면 확인 장치의 외부 쉘의 광 필터-장착면의 외측 정면도이다.
실제 응용에 있어서, 저온 음극 가스 방출 광 튜브(5)에 의해 방사되는 UV 광은 광 필터(7)를 통해 침투하고, 저온 음극 가스 방출 광 튜브(5)에 의해 방사되는 가시 광선은 광 필터(7)에 의해 반사 및 흡수되고, 마크(6)는 저온 음극 가스 방출 광 튜브(5)에 의해 방사되는 UV 광을 흡수하고, 즉, 광 필터(7)는 마크(6)가 배치된 위치에 상응하는 UV 광을 방사하지 않는다. 이 경우, 주석 표면 확인 장치가 플로트 유리의 주석 표면을 방사 할 때, UV 광의 방사가 없기 때문에, 마크(6)의 위치에 상응하는 주석 표면은 백색 형광 빛을 방출하지 않기 때문에, 백색 형광 빛을 방출하는 UV 광-방사 주석 표면 주위의 영역과 뚜렷이 비교되도록 흐리게 되고, 주석 표면을 위한 보다 명백한 확인 효과를 얻게 된다. 또한, 본 실시예의 리튬 배터리는 다른 형태의 입수가능한 배터리들에 의해 교체될 수 있고, 저온 음극 가스 방출 튜브는 다른 입수 가능한 형태의 UV 광 튜브들에 의해 교체될 수 있다.
전술한 내용은 본 발명의 바람직한 실시예일 뿐, 본 발명의 범위를 한정하지는 않으며, 본 발명의 정신과 범위를 벗어나지 않는 한 본 발명에 대한 변형, 등가물, 대안적 실시예, 개선예 등은 본 발명의 범위에 속한다는 것을 이해해야 한다.
1...리튬 배터리 2...인쇄 회로 기판
3...외부 쉘 4...스위치 표시 램프
5...저온 음극 가스 방출 광 튜브 6...UV 광-흡수 마크
7...광 필터

Claims (8)

  1. 외부 쉘(outer shell), 상기 외부 쉘 내부에 각각 배치된 가스 방출 광 튜브와 파워 소스, 상기 가스 방출 광 튜브의 위치에 상응하는 상기 외부 쉘에 설치된 방사 윈도우를 구비하는 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치에 있어서,
    상기 플로트 유리의 내면 또는 외면에 배치된 UV 광-흡수 마크를 구비하는 것을 특징으로 하는 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치.
  2. 청구항 1에 있어서,
    상기 가스 방출 광 튜브는 고온 음극 가스 방출 광 튜브 또는 저온 음극 가스 방출 광 튜브 또는 UV 광 튜브인 것을 특징으로 하는 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치.
  3. 청구항 1에 있어서,
    상기 가스 방출 광 튜브는 그 어떤 형태일 수 있는 것을 특징으로 하는 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치.
  4. 청구항 1에 있어서,
    상기 가스 방출 광 튜브와 상기 방사 윈도우 사이에 배치된 광 필터를 더 구비하는 것을 특징으로 하는 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치.
  5. 청구항 4에 있어서,
    상기 UV 광-흡수 마크는 상기 광 필터의 내면 또는 외면에 배치된 것을 특징으로 하는 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치.
  6. 청구항 1에 있어서,
    상기 UV 광-흡수 마크는 상기 방사 윈도우의 내면에 배치된 것을 특징으로 하는 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치.
  7. 청구항 1 또는 청구항 5 또는 청구항 6에 있어서,
    상기 UV 광-흡수 마크는 인쇄, 본딩, 코팅 또는 에칭에 의해 배치된 것을 특징으로 하는 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치.
  8. 청구항 7에 있어서,
    상기 UV 광-흡수 마크는 도형, 문자, 기호, 숫자 또는 그 조합의 형태인 것을 특징으로 하는 플로트 유리의 주석 표면 확인 장치.
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