KR20110102838A - Anti-glare film and anti-glare polarizing plate - Google Patents

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KR20110102838A
KR20110102838A KR1020110021534A KR20110021534A KR20110102838A KR 20110102838 A KR20110102838 A KR 20110102838A KR 1020110021534 A KR1020110021534 A KR 1020110021534A KR 20110021534 A KR20110021534 A KR 20110021534A KR 20110102838 A KR20110102838 A KR 20110102838A
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츠토무 후루야
다카시 후지이
쇼 간자키
도루 진노
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스미또모 가가꾸 가부시키가이샤
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Abstract

본 발명에서는, 기재 필름과, 이것에 적층되는 요철 표면을 갖는 방현층을 구비하고, 상기 기재 필름이 아크릴계 수지를 포함하며, 공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 상기 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H1 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H1 2/H2 2)가 3∼20의 범위 내이고, 공간 주파수 0.1 ㎛-1에서의 에너지 스펙트럼(H3 2)과, 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H3 2/H2 2)가 0.1 이하이며, 상기 요철 표면은 경사 각도가 5°이하인 면을 95% 이상 포함하는 방현 필름 및 이것을 이용한 방현성 편광판이 제공된다.In this invention, it is equipped with the base film and the anti-glare layer which has the uneven surface laminated | stacked on this, The said base film contains acrylic resin, The energy spectrum of the elevation of the elevation of the said uneven surface at the spatial frequency of 0.01 micrometer <-1> (H) 1 2 ) and the ratio (H 1 2 / H 2 2 ) of the energy spectrum (H 2 2 ) at the spatial frequency of 0.04 μm −1 is in the range of 3 to 20, and the energy spectrum at the spatial frequency of 0.1 μm −1 (H 3 2 ) and the ratio (H 3 2 / H 2 2 ) of the energy spectrum (H 2 2 ) is 0.1 or less, and the uneven surface has an anti-glare film containing 95% or more of the inclination angle of less than 5 ° and An anti-glare polarizing plate using this is provided.

Description

방현 필름 및 방현성 편광판{ANTI-GLARE FILM AND ANTI-GLARE POLARIZING PLATE}Anti-glare film and anti-glare polarizing plate {ANTI-GLARE FILM AND ANTI-GLARE POLARIZING PLATE}

본 발명은 방현(안티-글레어) 필름 및 이것을 이용한 방현성 편광판에 관한 것이다.The present invention relates to an antiglare (anti-glare) film and an antiglare polarizing plate using the same.

액정 디스플레이, 플라즈마 디스플레이 패널, 브라운관(음극선관 : CRT) 디스플레이, 유기 일렉트로 루미네센스(EL) 디스플레이 등의 화상 표시 장치는, 그 표시면에 외광이 비춰 들어가면 시인성이 현저히 손상되어 버린다. 종래, 이러한 외광의 배경반사를 방지하기 위해서, 화질을 중시하는 텔레비전이나 퍼스널컴퓨터, 외광이 강한 옥외에서 사용되는 비디오카메라나 디지털카메라, 및 반사광을 이용하여 표시를 하는 휴대전화 등에서는, 화상 표시 장치의 표면에, 외광의 배경반사를 방지하기 위한 방현 필름이 배치되어 있다.In an image display device such as a liquid crystal display, a plasma display panel, a cathode ray tube (CRT) display, an organic electroluminescent (EL) display, and the like, when external light shines on the display surface, visibility is remarkably impaired. Background Art [0002] Conventionally, in order to prevent such a background reflection of external light, an image display device is used in televisions and personal computers that focus on image quality, video cameras and digital cameras used outdoors with strong external light, and mobile phones which display using reflected light. The anti-glare film for preventing the background reflection of external light is arrange | positioned at the surface of the.

예컨대, 일본 특허 공개 2006-053371호 공보에는, 연마된 금형 기재에 샌드 블라스트 가공을 실시한 후, 무전해 니켈 도금을 실시함으로써, 표면에 미세한 요철을 갖는 금형을 제조하고, 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름 상에 형성된 광경화성 수지층을 상기 금형의 요철면에 밀어붙이면서 경화시킴으로써 상기 금형의 요철면을 광경화성 수지층의 표면에 전사(轉寫)한 방현 필름이 기재되어 있다.For example, Japanese Patent Laid-Open No. 2006-053371 discloses a mold having fine irregularities on its surface by sandblasting the polished mold base material and then electroless nickel plating, thereby producing a triacetyl cellulose (TAC) film. The anti-glare film which transferred the uneven surface of the said metal mold | die to the surface of the photocurable resin layer by hardening | curing while sticking the photocurable resin layer formed on the uneven surface of the said metal mold | die is described.

방현 필름에는, 방현성이 요구되는 것 외에, 화상 표시 장치의 표면에 배치했을 때에 양호한 콘트라스트를 발현할 것과, 화상 표시 장치의 표면에 배치했을 때에 산란광에 의해서 표시면 전체가 흰 빛을 띠게 되어 표시가 흐린 빛깔로 되는, 소위 「백화」의 발생을 억제할 것, 그리고 화상 표시 장치의 표면에 배치했을 때에 화상 표시 장치의 화소와 방현 필름의 표면 요철 형상이 간섭하여, 결과적으로 휘도 분포가 발생해 보기가 어렵게 되는, 소위 「눈부심」의 발생을 억제할 것이 요망되고 있다. 그러나, 전술한 일본 특허 공개 2006-053371호 공보에 기재된 방현 필름은, 샌드 블라스트 가공에 의해서 요철 형상을 형성한 금형을 사용하여 제작되기 때문에, 방현 필름에 부여되는 요철 형상의 정밀도가 충분하지 않고, 특히 50 ㎛ 이상의 주기를 갖는 비교적 큰 요철 형상을 갖는 경우가 있기 때문에, 「눈부심」이 발생하기 쉽다고 하는 문제가 있었다.The antiglare film is required for anti-glare and exhibits a good contrast when disposed on the surface of the image display device, and the entire display surface becomes white due to scattered light when disposed on the surface of the image display device. Suppress the occurrence of so-called "whitening", which becomes hazy, and when placed on the surface of the image display device, the pixels of the image display device and the surface irregularities of the antiglare film interfere, resulting in a luminance distribution. It is desired to suppress the occurrence of the so-called "glare" which becomes difficult to see. However, since the anti-glare film described in JP 2006-053371 A is produced using a mold having a concave-convex shape formed by sand blasting, the accuracy of the concave-convex shape imparted to the anti-glare film is not sufficient. In particular, there is a problem that "glare" is likely to occur because of the fact that there may be a relatively large uneven shape having a period of 50 µm or more.

또한, 동 문헌에 기재된 방현 필름은, 흠이 가기 쉬워 기계적 강도의 점에서 반드시 충분하지 않은 경우가 있었다. 게다가, 동 문헌에 기재된 방현 필름은 내습성에 있어서 충분하지 않아, 그 방현 필름을 편광 필름에 접합하여 사용하면 그 편광 필름이 흡습에 의해 열화되어 버리는 경우가 있었다.In addition, the anti-glare film described in this document tends to be flawed, and may not always be sufficient in terms of mechanical strength. Moreover, the anti-glare film described in this document is not enough in moisture resistance, and when the anti-glare film is bonded to a polarizing film and used, the polarizing film may deteriorate by moisture absorption.

그래서, 본 발명의 목적은, 우수한 방현성을 나타내고, 양호한 콘트라스트를 발현하면서, 「백화」 및 「눈부심」의 발생에 의한 시인성 저하를 방지할 수 있으며, 기계적 강도 및 내습성이 우수한 방현 필름 및 그 방현 필름과 편광 필름과의 적층체로 이루어지는 방현성 편광판으로서, 상기 편광 필름의 열화를 효과적으로 억제할 수 있는 방현성 편광판을 제공하는 데에 있다.Therefore, the objective of this invention is to show the outstanding anti-glare property, expressing favorable contrast, and can prevent the fall of the visibility by the occurrence of "whitening" and "glare", and an anti-glare film excellent in mechanical strength and moisture resistance, and its It is an anti-glare polarizing plate which consists of a laminated body of an anti-glare film and a polarizing film, Comprising: It is providing the anti-glare polarizing plate which can suppress deterioration of the said polarizing film effectively.

본 발명은, 기재 필름과, 이 기재 필름 상에 적층되는 요철 표면을 갖는 방현층을 구비하는 방현 필름으로서, 상기 기재 필름이 아크릴계 수지를 포함하고, 공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 상기 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H1 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 상기 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H1 2/H2 2)가 3∼20의 범위 내이며, 공간 주파수 0.1 ㎛-1에서의 상기 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H3 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 상기 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H3 2/H2 2)가 0.1 이하이고, 또한 상기 요철 표면은, 경사 각도가 5°이하인 면을 95% 이상 포함하는 방현 필름을 제공한다. 기재 필름의 두께는 바람직하게는 20 ㎛ 이상 100 ㎛ 이하이다.This invention is an anti-glare film provided with a base film and an anti-glare layer which has an uneven surface laminated | stacked on this base film, Comprising: The said base film contains acrylic resin, and the surface of the said uneven surface at the space frequency of 0.01 micrometer <-1> the energy spectrum of the elevation (H 1 2), a space ratio (H 2 1/2 H 2) in the range of 3 to 20 of the energy spectrum of the altitude of the concave-convex surface (H 2 2) at a frequency of 0.04 ㎛ -1 I And the ratio (H 2 2 ) of the energy spectrum (H 3 2 ) of the elevation of the uneven surface at a spatial frequency of 0.1 μm −1 and the energy spectrum (H 2 2 ) of the elevation of the uneven surface of the surface at a spatial frequency of 0.04 μm −1 (H 2 2 ). 3 2 / H 2 2 ) is 0.1 or less, and the uneven surface provides an antiglare film comprising 95% or more of a surface having an inclination angle of 5 ° or less. The thickness of the base film is preferably 20 µm or more and 100 µm or less.

또한 본 발명은, 상기 방현 필름과, 기재 필름에 있어서 방현층과는 반대측의 면에 적층되는 편광 필름을 구비하는 방현성 편광판을 제공한다.Moreover, this invention provides the anti-glare polarizing plate provided with the said anti-glare film and the polarizing film laminated | stacked on the surface on the opposite side to an anti-glare layer in a base film.

본 발명의 방현 필름은, 우수한 방현성을 나타내고, 양호한 콘트라스트를 발현하면서, 「백화」 및 「눈부심」의 발생에 의한 시인성 저하를 효과적으로 방지할 수 있는 것이다. 또한, 본 발명의 방현 필름은, 기계적 강도 및 내습성이 우수하다. 이러한 방현 필름을 이용한 본 발명의 방현성 편광판에서는, 흡습에 의한 편광 필름의 열화가 효과적으로 억제된다.The anti-glare film of this invention can prevent the fall of the visibility by the occurrence of "whitening" and "glare" effectively, showing the outstanding anti-glare property and expressing favorable contrast. Moreover, the anti-glare film of this invention is excellent in mechanical strength and moisture resistance. In the anti-glare polarizing plate of the present invention using such an anti-glare film, deterioration of the polarizing film due to moisture absorption is effectively suppressed.

도 1은 본 발명의 방현 필름의 일례를 모식적으로 도시하는 단면도이다.
도 2는 본 발명의 방현 필름의 표면을 모식적으로 도시하는 사시도이다.
도 3은 표고를 나타내는 함수 h(x, y)가 이산적으로 얻어지는 상태를 도시하는 모식도이다.
도 4는 본 발명의 방현 필름이 구비하는 방현층의 미세 요철 표면의 표고를 이차원의 이산함수 h(x, y)로 나타낸 도면의 일례이다.
도 5는 도 4에 도시한 이차원 함수 h(x, y)를 이산 푸리에 변환하여 얻어진 표고의 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)를 백과 흑의 그라데이션으로 도시한 것이다.
도 6은 도 5에 도시한 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)의 fx=0에서의 단면을 도시하는 도면이다.
도 7은 미세 요철 표면의 경사 각도의 측정 방법을 설명하기 위한 모식도이다.
도 8은 방현 필름이 구비하는 방현층의 미세 요철 표면의 경사 각도 분포의 히스토그램의 일례를 도시하는 그래프이다.
도 9는 본 발명의 방현 필름을 제작하기 위해서 이용할 수 있는 패턴인 화상 데이터의 일부를 도시하는 도면이다.
도 10은 도 9에 도시한 계조의 이차원 이산함수 g(x, y)를 이산 푸리에 변환하여 얻어진 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)를 백과 흑의 그라데이션으로 도시한 도면이다.
도 11은 도 10에 도시한 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)의 fx=0에서의 단면을 도시하는 도면이다.
도 12는 금형 제조 방법의 전반 부분의 바람직한 일례를 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 13은 금형 제조 방법의 후반 부분의 바람직한 일례를 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 14는 제1 에칭 공정에 의해서 형성된 요철면이 제2 에칭 공정에 의해서 둔화되는 상태를 모식적으로 도시하는 도면이다.
도 15는 실시예 1의 금형을 제작할 때에 사용한 패턴을 도시하는 도면이다.
도 16은 실시예 2의 금형을 제작할 때에 사용한 패턴을 도시하는 도면이다.
도 17은 도 15 및 도 16에 도시한 패턴의 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)의 fx=0에서의 단면을 나타낸 도면이다.
1: is sectional drawing which shows an example of the anti-glare film of this invention typically.
It is a perspective view which shows typically the surface of the anti-glare film of this invention.
3 is a schematic diagram showing a state where a function h (x, y) representing an elevation is obtained discretely.
It is an example of the figure which showed the elevation of the fine uneven surface of the anti-glare layer with which the anti-glare film of this invention is equipped with two-dimensional discrete function h (x, y).
FIG. 5 shows the energy spectrum H 2 (f x , f y ) of the elevation obtained by the Discrete Fourier Transform of the two-dimensional function h (x, y) shown in FIG. 4 in white and black gradations.
FIG. 6 is a diagram showing a cross section at f x = 0 of the energy spectrum H 2 (f x , f y ) shown in FIG. 5.
It is a schematic diagram for demonstrating the measuring method of the inclination angle of a fine uneven surface.
It is a graph which shows an example of the histogram of the inclination-angle distribution of the fine uneven surface of the anti-glare layer with which an anti-glare film is equipped.
It is a figure which shows a part of image data which is a pattern which can be used for producing the anti-glare film of this invention.
FIG. 10 is a diagram showing energy spectra G 2 (f x , f y ) obtained by discrete Fourier transforming the two-dimensional discrete functions g (x, y) of the gray scale shown in FIG.
FIG. 11 is a diagram showing a cross section at f x = 0 of the energy spectrum G 2 (f x , f y ) shown in FIG. 10.
It is a figure which shows typically a preferable example of the front part of a metal mold | die manufacturing method.
It is a figure which shows typically a preferable example of the latter part of a metal mold manufacturing method.
It is a figure which shows typically the state in which the uneven surface formed by the 1st etching process is slowed by the 2nd etching process.
It is a figure which shows the pattern used when producing the metal mold | die of Example 1. FIG.
It is a figure which shows the pattern used when producing the metal mold | die of Example 2. FIG.
FIG. 17 is a diagram showing a cross section at f x = 0 of the energy spectrum G 2 (f x , f y ) of the patterns shown in FIGS. 15 and 16.

<방현 필름> <Antiglare film>

도 1은 본 발명의 방현 필름의 일례를 모식적으로 도시하는 단면도이다. 본 발명의 방현 필름은, 도 1에 도시된 예와 같이, 아크릴계 수지를 포함하는 기재 필름(101)과, 기재 필름(101) 상에 적층된 방현층(102)을 구비한다. 방현층(102)에 있어서 기재 필름(101)과는 반대측의 표면은 미세한 요철 표면[미세 요철 표면(103)]으로 이루어진다. 이하, 본 발명의 방현 필름에 대해서 보다 상세히 설명한다.1: is sectional drawing which shows an example of the anti-glare film of this invention typically. The anti-glare film of this invention is equipped with the base film 101 containing acrylic resin, and the anti-glare layer 102 laminated | stacked on the base film 101 like the example shown in FIG. The surface on the opposite side to the base film 101 in the antiglare layer 102 is composed of a fine uneven surface (fine uneven surface 103). EMBODIMENT OF THE INVENTION Hereinafter, the anti-glare film of this invention is demonstrated in detail.

(방현층)(Antiglare layer)

본 발명의 방현 필름이 구비하는 방현층(102)에 있어서, 공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 미세 요철 표면(103)의 표고의 에너지 스펙트럼(H1 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 미세 요철 표면(103)의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H1 2/H2 2)는 3∼20의 범위 내이고, 공간 주파수 0.1 ㎛-1에서의 미세 요철 표면(103)의 표고의 에너지 스펙트럼(H3 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 미세 요철 표면(103)의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H3 2/H2 2)는 0.1 이하이다.In the antiglare layer 102 of the antiglare film of the present invention, the energy spectrum (H 1 2 ) of the elevation of the fine concavo-convex surface 103 at the spatial frequency of 0.01 μm −1 and at the spatial frequency of 0.04 μm −1 The ratio H 1 2 / H 2 2 of the energy spectrum H 2 2 of the elevation of the fine uneven surface 103 is in the range of 3 to 20, and the fine uneven surface 103 at a spatial frequency of 0.1 μm −1 . the energy spectrum of the altitude (H 3 2) and a non-(H 3 2 / H 2 2 ) of the spatial energy spectrum (H 2 2) of the elevation of the micro concavo-convex surface 103 of the frequency 0.04 ㎛ -1 is 0.1 or less to be.

종래, 방현 필름의 미세 요철 표면의 주기에 대해서는, JIS B 0601에 기재되어 있는 거칠기 곡선 요소의 평균 길이(RSm), 단면 곡선 요소의 평균 길이(PSm) 및 주름 곡선 요소의 평균 길이(WSm) 등으로 평가되고 있었다. 그러나, 이러한 종래의 평가 방법으로는 미세 요철 표면에 포함되는 복수의 주기를 정확하게 평가할 수가 없었다. 따라서, 눈부심과 미세 요철 표면과의 상관 및 방현성과 미세 요철 표면과의 상관에 대해서도 정확하게 평가할 수 없어, RSm, PSm, WSm 등의 값의 제어로는 눈부심 억제와 충분한 방현 성능을 겸비하는 방현 필름을 제작하는 것이 곤란했다.Conventionally, about the period of the fine uneven | corrugated surface of an anti-glare film, the average length (RSm) of the roughness curve element described in JIS B 0601, the average length (PSm) of the cross-sectional curve element, the average length (WSm) of a wrinkle curve element, etc. Was being evaluated. However, such a conventional evaluation method could not accurately evaluate a plurality of cycles included in the fine uneven surface. Therefore, the correlation between the glare and the fine concave-convex surface and the correlation between the anti-glare and the fine concave-convex surface cannot be accurately evaluated, and the control of values such as RSm, PSm, WSm, and the like can provide an antiglare film having both glare suppression and sufficient antiglare performance. It was difficult to produce.

본 발명자들은, 미세 요철 표면을 갖는 방현층을, 아크릴계 수지를 포함하는 기재 필름 상에 적층한 방현 필름에 있어서, 그 미세 요철 표면이 「미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼」을 이용하여 규정되는 특정한 공간 주파수 분포를 나타내는, 즉 표고의 에너지 스펙트럼비(H1 2/H2 2)가 3∼20의 범위 내이고, H3 2/H2 2가 0.1 이하인 방현 필름은, 우수한 방현 성능을 보이며, 또한 백화에 의한 시인성의 저하를 방지할 수 있고, 고선명의 화상 표시 장치에 적용한 경우에 있어서도, 눈부심을 발생시키지 않고서 높은 콘트라스트를 발현한다는 것을 알아냈다.MEANS TO SOLVE THE PROBLEM In the anti-glare film which laminated | stacked the anti-glare layer which has a fine uneven | corrugated surface on the base film containing acrylic resin, this fine uneven | corrugated surface is the specific thing prescribed | regulated using "the energy spectrum of the elevation of the fine uneven surface." An anti-glare film that exhibits a spatial frequency distribution, that is, an energy spectral ratio (H 1 2 / H 2 2 ) of the elevation is in the range of 3 to 20, and H 3 2 / H 2 2 is 0.1 or less, exhibits excellent anti-glare performance, Moreover, it was found that the fall of the visibility by whitening can be prevented, and even when it is applied to the high-definition image display apparatus, high contrast is expressed, without generating glare.

우선, 방현층이 갖는 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼에 관해서 설명한다. 도 2는 본 발명의 방현 필름의 표면을 모식적으로 도시하는 사시도이다. 도 2에 도시된 바와 같이, 본 발명의 방현 필름(1)은, 미세한 요철(2)로 구성되는 미세 요철 표면을 갖는 방현층을 구비한다. 여기서, 본 발명에서 말하는 「미세 요철 표면의 표고」란, 방현 필름(1) 표면의 임의의 점(P)에 있어서, 미세 요철 표면의 최저점의 높이에서의 해당 높이를 갖는 가상적인 평면(표고는 기준으로서 0 ㎛)으로부터 방현 필름의 주법선 방향(5)(상기 가상적인 평면에 있어서 법선 방향)에서의 직선 거리를 의미한다. 도 2에 도시하는 바와 같이, 방현 필름 면내의 직교 좌표를 (x, y)로 표시했을 때는, 미세 요철 표면의 표고는 좌표 (x, y)의 이차원 함수 h(x, y)로 나타낼 수 있다. 도 2에는 방현 필름 전체의 면을 투영면(3)으로 표시하고 있다.First, the energy spectrum of the elevation of the fine uneven surface of the antiglare layer will be described. It is a perspective view which shows typically the surface of the anti-glare film of this invention. As shown in FIG. 2, the anti-glare film 1 of this invention is equipped with the anti-glare layer which has the fine uneven surface comprised by the fine unevenness 2. As shown in FIG. Here, the "elevation of the fine concavo-convex surface" referred to in the present invention is an imaginary plane (the elevation of the height at the lowest point of the fine concavo-convex surface at an arbitrary point P on the antiglare film 1 surface). It means the straight line distance in the main normal direction 5 (normal line direction in the said imaginary plane) of an anti-glare film from 0 micrometer as a reference | standard. As shown in FIG. 2, when the Cartesian coordinates in the antiglare film surface are represented by (x, y), the elevation of the fine uneven surface can be represented by the two-dimensional function h (x, y) of the coordinates (x, y). . In FIG. 2, the surface of the whole anti-glare film is shown by the projection surface 3. As shown in FIG.

미세 요철 표면의 표고는, 공초점현미경, 간섭현미경, 원자간력현미경(AFM) 등의 장치에 의해 측정되는 표면 형상의 삼차원 정보로부터 구할 수 있다. 측정기에 요구되는 수평 분해능은, 적어도 5 ㎛ 이하, 바람직하게는 2 ㎛ 이하이며, 또한 수직 분해능은, 적어도 0.1 ㎛ 이하, 바람직하게는 0.01 ㎛ 이하이다. 이 측정에 적합한 비접촉의 삼차원 표면형상·거칠기 측정기로서는, New View 5000 시리즈[Zygo Corporation사 제조, 일본에서는 자이고(주)로부터 입수할 수 있음], 삼차원현미경 PLμ2300(Sensofar사 제조) 등을 예로 들 수 있다. 측정 면적은, 표고의 에너지 스펙트럼의 분해능이 0.01 ㎛-1 이하일 필요가 있기 때문에, 적어도 200 ㎛×200 ㎛ 이상으로 하는 것이 바람직하고, 더 바람직하게는 500 ㎛×500 ㎛ 이상이다.The elevation of the fine uneven surface can be obtained from three-dimensional information of the surface shape measured by a device such as a confocal microscope, an interference microscope, an atomic force microscope (AFM), or the like. The horizontal resolution required for the measuring device is at least 5 µm or less, preferably 2 µm or less, and the vertical resolution is at least 0.1 µm or less, preferably 0.01 µm or less. Examples of non-contact three-dimensional surface shape and roughness measuring instruments suitable for this measurement include the New View 5000 series (manufactured by Zygo Corporation, available from Zaigo Co., Ltd. in Japan), and three-dimensional microscope PLμ2300 (manufactured by Sensofar Corporation). Can be. Since the resolution of the energy spectrum of the elevation needs to be 0.01 µm -1 or less, the measurement area is preferably at least 200 µm × 200 µm, more preferably 500 µm × 500 µm or more.

이어서, 이차원 함수 h(x, y)로부터 표고의 에너지 스펙트럼을 구하는 방법에 관해서 설명한다. 우선, 이차원 함수 h(x, y)로부터, 하기 식(1)으로 정의되는 이차원 푸리에 변환에 의해서 이차원 함수 H(fx, fy)를 구한다.Next, a method of obtaining the energy spectrum of the elevation from the two-dimensional function h (x, y) will be described. First, from the two-dimensional function h (x, y), the two-dimensional function H (f x , f y ) is obtained by the two-dimensional Fourier transform defined by the following formula (1).

Figure pat00001
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여기서, fx 및 fy는 각각 x 방향 및 y 방향의 공간 주파수이며, 길이의 역수의 차원을 갖는다. 또한, 식(1) 중의 π는 원주율, i는 허수 단위이다. 얻어진 이차원 함수 H(fx, fy)를 제곱함으로써, 표고의 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)를 구할 수 있다. 이 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)는 방현층의 미세 요철 표면의 공간 주파수 분포를 나타내고 있다.Here, f x and f y are spatial frequencies in the x direction and the y direction, respectively, and have an inverse dimension of length. In the formula (1), pi is the circumference and i is an imaginary unit. By squaring the obtained two-dimensional functions H (f x , f y ), the energy spectrum H 2 (f x , f y ) of the elevation can be obtained. This energy spectrum H 2 (f x , f y ) represents the spatial frequency distribution of the fine uneven surface of the antiglare layer.

이하, 방현층이 갖는 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼을 구하는 방법을 더 구체적으로 설명한다. 상기한 공초점현미경, 간섭현미경, 원자간력현미경 등에 의해서 실제로 측정되는 표면 형상의 삼차원 정보는, 일반적으로 이산적인 값, 즉 다수의 측정점에 대응하는 표고로서 얻어진다. 도 3은 표고를 나타내는 함수 h(x, y)가 이산적으로 얻어지는 상태를 도시하는 모식도이다. 도 3에 도시하는 바와 같이, 방현 필름 면내의 직교 좌표를 (x, y)로 표시하고, 방현 필름의 투영면(3) 상에 x축 방향으로 Δx마다 분할한 선 및 y축 방향으로 Δy마다 분할한 선을 파선으로 나타내면, 실제의 측정에서는 미세 요철 표면의 표고는, 방현 필름의 투영면(3) 상에 있어서 각 파선의 교점마다의 이산적인 표고치로서 얻어진다.Hereinafter, the method of obtaining the energy spectrum of the elevation of the surface of the fine unevenness of the antiglare layer will be described in more detail. Three-dimensional information of the surface shape actually measured by the above confocal microscope, interference microscope, atomic force microscope, etc. is generally obtained as a discrete value, that is, an elevation corresponding to a plurality of measurement points. 3 is a schematic diagram showing a state where a function h (x, y) representing an elevation is obtained discretely. As shown in FIG. 3, the orthogonal coordinate in the antiglare film surface is represented by (x, y), and is divided on the projection surface 3 of the antiglare film by dividing every x in the x-axis direction in each x-axis direction and every y in the y-axis direction. When one line is represented by a broken line, in actual measurement, the elevation of the fine uneven surface is obtained as a discrete elevation value for each intersection point of each broken line on the projection surface 3 of the antiglare film.

얻어지는 표고치의 수는, 측정 범위와 Δx 및 Δy에 의해서 정해지며, 도 3에 도시하는 바와 같이 x축 방향의 측정 범위를 X=MΔx로 하고, y축 방향의 측정 범위를 Y=NΔy로 하면, 얻어지는 표고치의 수는 (M+1)×(N+1)개이다.The number of elevations obtained is determined by the measurement range and Δx and Δy. When the measurement range in the x-axis direction is X = MΔx and the measurement range in the y-axis direction is Y = NΔy, as shown in FIG. 3, The number of elevations obtained is (M + 1) x (N + 1) pieces.

도 3에 도시하는 바와 같이, 방현 필름의 투영면(3) 상의 주목점(A)의 좌표를 (jΔx, kΔy)(여기서, j는 0 이상 M 이하이며, k는 0 이상 N 이하임)으로 하면, 주목점(A)에 대응하는 방현 필름 표면 상의 점(P)의 표고는 h(jΔx, kΔy)으로 나타낼 수 있다.As shown in FIG. 3, when the coordinates of the point of interest A on the projection surface 3 of the antiglare film are (jΔx, kΔy) (where j is 0 or more and M or less, k is 0 or more and N or less). , The elevation of the point P on the antiglare film surface corresponding to the spot A can be represented by h (jΔx, kΔy).

여기서, 측정 간격(Δx 및 Δy)은 측정기기의 수평 분해능에 의존하며, 정밀도 좋게 미세 요철 표면을 평가하기 위해서는, 전술한 바와 같이, Δx 및 Δy 모두 5 ㎛ 이하인 것이 바람직하고, 2 ㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다. 또한, 측정 범위(X 및 Y)는 전술한 바와 같이, 모두 200 ㎛ 이상이 바람직하고, 모두 500 ㎛ 이상인 것이 보다 바람직하다.Here, the measurement intervals Δx and Δy depend on the horizontal resolution of the measuring device, and in order to accurately evaluate the fine uneven surface, as described above, both Δx and Δy are preferably 5 μm or less, and more preferably 2 μm or less. desirable. In addition, as mentioned above, as for the measurement range X and Y, all are 200 micrometers or more, and it is more preferable that all are 500 micrometers or more.

이와 같이, 실제의 측정에서는 미세 요철 표면의 표고를 나타내는 함수는 (M+1)×(N+1)개의 값을 갖는 이산함수 h(x, y)로서 얻어진다. 따라서, 측정에 의해서 얻어진 이산함수 h(x, y)와 하기 식(2)으로 정의되는 이산 푸리에 변환에 의해서 이산함수 H(fx, fy)가 구해지고, 이산함수 H(fx, fy)를 제곱함으로써 에너지 스펙트럼의 이산함수 H2(fx, fy)가 구해진다. 식(2) 중의 l은 -(M+1)/2 이상 (M+1)/2 이하의 정수이며, m은 -(N+1)/2 이상 (N+1)/2 이하의 정수이다. 또한, Δfx 및 Δfy는 각각 x 방향 및 y 방향의 공간 주파수 간격이며, 각각 식(3) 및 식(4)으로 정의된다. Δfx 및 Δfy는 표고의 에너지 스펙트럼의 수평 분해능에 상당한다.In this way, in the actual measurement, a function representing the elevation of the fine uneven surface is obtained as a discrete function h (x, y) having (M + 1) × (N + 1) values. Accordingly, the discrete function H (f x , f y ) is obtained by the discrete Fourier transform obtained by the measurement and the discrete Fourier transform defined by the following formula (2), and the discrete function H (f x , f By squaring y ), the discrete function H 2 (f x , f y ) of the energy spectrum is obtained. L in Formula (2) is an integer of-(M + 1) / 2 or more (M + 1) / 2 or less, m is an integer of-(N + 1) / 2 or more (N + 1) / 2 or less . Further, Δf x and Δf y are spatial frequency intervals in the x direction and the y direction, respectively, and are defined by equations (3) and (4), respectively. Δf x and Δf y correspond to the horizontal resolution of the energy spectrum of the elevation.

Figure pat00002
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Figure pat00003
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도 4는 본 발명의 방현 필름이 구비하는 방현층의 미세 요철 표면의 표고를 이차원의 이산함수 h(x, y)로 나타낸 도면의 일례이다. 도 4에서 표고는 백과 흑의 그라데이션으로 나타내고 있다. 도 4에 도시한 이산함수 h(x, y)는 512×512개의 값을 가지며, 수평 분해능(Δx 및 Δy)은 1.66 ㎛이다.It is an example of the figure which showed the elevation of the fine uneven surface of the anti-glare layer with which the anti-glare film of this invention is equipped with two-dimensional discrete function h (x, y). In Fig. 4, the elevation is represented by a gradation of white and black. The discrete functions h (x, y) shown in FIG. 4 have 512 × 512 values, and the horizontal resolutions Δx and Δy are 1.66 μm.

또한, 도 5는 도 4에 도시한 이차원 함수 h(x, y)를 이산 푸리에 변환하여 얻어진 표고의 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)를 백과 흑의 그라데이션으로 도시한 것이다. 도 5에 도시한 표고의 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)도 512×512개의 값을 갖는 이산함수이며, 표고의 에너지 스펙트럼의 수평 분해능(Δfx 및 Δfy)은 0.0012 ㎛-1이다.5 shows the energy spectrum H 2 (f x , f y ) of the elevation obtained by the discrete Fourier transform of the two-dimensional function h (x, y) shown in FIG. 4 in white and black gradations. The energy spectrum H 2 (f x , f y ) of the elevation shown in FIG. 5 is also a discrete function having 512 × 512 values, and the horizontal resolution (Δf x and Δf y ) of the elevation of the energy spectrum is 0.0012 μm −1 . .

도 4에 도시된 예와 같이, 본 발명의 방현 필름이 구비하는 방현층의 미세 요철 표면은, 랜덤하게 형성된 요철로 이루어지기 때문에, 표고의 에너지 스펙트럼(H2)은, 도 5에 도시된 바와 같이, 원점을 중심으로 대칭이 된다. 따라서, 공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 표고의 에너지 스펙트럼(H1 2), 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2) 및 공간 주파수 0.1 ㎛-1에서의 표고의 에너지 스펙트럼(H3 2)은, 이차원 함수인 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)의 원점을 지나는 단면으로부터 구할 수 있다. 도 6에는, 도 5에 도시한 에너지 스펙트럼 H2(fx, fy)의 fx=0에서의 단면을 도시했다. 도 6으로부터, 공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 표고의 에너지 스펙트럼(H1 2)은 4.4, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)은 0.35, 공간 주파수 0.1 ㎛-1에서의 표고의 에너지 스펙트럼(H3 2)은 0.00076인 것을 알 수 있으며, 비(H1 2/H2 2)는 14, 비(H3 2/H2 2)는 0.0022로 산출된다.As shown in FIG. 4, since the fine uneven surface of the anti-glare layer of the anti-glare film of the present invention is formed of randomly formed unevenness, the energy spectrum H 2 of the elevation is shown in FIG. 5. Likewise, it is symmetric about the origin. Therefore, the energy spectrum (H 1 2 ) of the elevation at the spatial frequency of 0.01 μm −1 , the energy spectrum of the elevation at the spatial frequency of 0.04 μm −1 (H 2 2 ) and the energy spectrum of the elevation at the spatial frequency of 0.1 μm −1 (H 3 2 ) can be obtained from a cross section passing through the origin of the energy spectrum H 2 (f x , f y ) which is a two-dimensional function. Figure 6, and shows a cross section of at f x = 0 of the energy spectrum H 2 (f x, f y ) shown in Fig. From FIG. 6, the energy spectrum (H 1 2 ) of the elevation at the spatial frequency of 0.01 μm −1 is 4.4, and the energy spectrum (H 2 2 ) of the elevation at the spatial frequency of 0.04 μm −1 is 0.35 and the spatial frequency of 0.1 μm −1 It can be seen that the energy spectrum (H 3 2 ) of the elevation at is 0.00076, the ratio (H 1 2 / H 2 2 ) is 14, and the ratio (H 3 2 / H 2 2 ) is 0.0022.

전술한 바와 같이, 본 발명에 따른 방현층에 있어서, 공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H1 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H1 2/H2 2)는 3∼20의 범위 내가 된다. 표고의 에너지 스펙트럼의 비(H1 2/H2 2)가 3을 하회한다는 것은, 방현층의 미세 요철 표면에 포함되는 100 ㎛ 이상의 장주기의 요철 형상이 적고, 25 ㎛ 미만의 단주기의 요철 형상이 많음을 나타내고 있다. 이와 같은 경우에는 외광의 배경반사를 효과적으로 방지할 수 없어, 충분한 방현 성능을 얻을 수 없다. 또한, 이에 비하여, 표고의 에너지 스펙트럼의 비(H1 2/H2 2)가 20을 상회한다는 것은, 미세 요철 표면에 포함되는 100 ㎛ 이상의 장주기의 요철 형상이 많고, 25 ㎛ 미만의 단주기의 요철 형상이 적음을 나타내고 있다. 이와 같은 경우에는, 방현 필름을 고선명의 화상 표시 장치에 배치했을 때에 눈부심을 발생시키는 경향이 있다. 보다 우수한 방현 성능을 보이면서 눈부심을 보다 효과적으로 억제하기 위해서는, 표고의 에너지 스펙트럼의 비(H1 2/H2 2)는, 5∼18의 범위 내인 것이 바람직하고, 8∼15의 범위 내인 것이 보다 바람직하다.As described above, in the antiglare layer according to the present invention, the energy spectrum (H 1 2 ) of the elevation of the fine uneven surface at the spatial frequency of 0.01 μm −1 and the energy spectrum of the elevation at the spatial frequency of 0.04 μm −1 ( ratio (H 1 2 / H 2 2 ) of H 2 2) is in the range of 3 to 20 is I. If the ratio (H 1 2 / H 2 2 ) of the energy spectrum of the elevation is less than 3, there are few long-period irregularities of 100 μm or more included in the surface of the fine unevenness of the antiglare layer, and the uneven-corrugated shape of less than 25 μm This shows a lot. In such a case, background reflection of external light cannot be prevented effectively, and sufficient anti-glare performance cannot be obtained. On the other hand, the ratio (H 1 2 / H 2 2 ) of the energy spectrum of the elevation above 20 indicates that the uneven shape of the long period of 100 μm or more included in the surface of the fine unevenness is many, and the short period of less than 25 μm It shows that there are few uneven | corrugated shapes. In such a case, there exists a tendency to generate glare when arrange | positioning an anti-glare film to a high definition image display apparatus. In order to suppress glare more effectively while showing superior anti-glare performance, the ratio (H 1 2 / H 2 2 ) of the energy spectrum of the elevation is preferably in the range of 5-18, more preferably in the range of 8-15. Do.

또한, 본 발명에 따른 방현층에 있어서, 공간 주파수 0.1 ㎛-1에서의 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H3 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H3 2/H2 2)는, 0.1 이하가 되고, 바람직하게는 0.01 이하가 된다. 비(H3 2/H2 2)가 0.1 이하인 것은, 미세 요철 표면에 포함되는 10 ㎛ 미만의 단주기 성분이 충분히 저감되고 있음을 나타내고 있으며, 이로써 백화의 발생을 효과적으로 억제할 수 있다. 미세 요철 표면에 포함되는 10 ㎛ 미만의 단주기 성분은, 방현성에 효과적으로 기여하지 않는 한편, 미세 요철 표면에 입사한 빛을 산란시켜 백화의 원인이 되는 것이다.Further, in the antiglare layer according to the present invention, the energy spectrum (H 3 2 ) of the elevation of the fine uneven surface at the spatial frequency of 0.1 μm −1 and the energy spectrum of the elevation at the spatial frequency of 0.04 μm −1 (H 2 2) ) Ratio (H 3 2 / H 2 2 ) is 0.1 or less, preferably 0.01 or less. When the ratio (H 3 2 / H 2 2 ) is 0.1 or less indicates that the short-period component of less than 10 μm included in the surface of the fine unevenness is sufficiently reduced, whereby the occurrence of whitening can be effectively suppressed. The short-period component of less than 10 µm contained in the fine concavo-convex surface does not contribute effectively to the anti-glare property, but scatters the light incident on the fine concavo-convex surface to cause whitening.

전술한 일본 특허 공개 2006-053371호 공보 등에 개시되어 있는 종래 공지된 방현 필름에 있어서는, 공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H1 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H1 2/H2 2)가 본원보다도 크기 때문에 눈부심이 발생하기 쉽다고 하는 문제가 있었다. 따라서, 비(H1 2/H2 2)를 3∼20의 범위 내로 하기 위해서는, 공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H1 2)을 작게 할 필요가 있다. 이와 같이 공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H1 2)을 작게 한 미세 요철 표면을 갖는 방현 필름은, 후술하는 바와 같이 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 범위 내에 극대치를 갖지 않는 에너지 스펙트럼을 보이는 패턴을 이용함으로써 적합하게 제작할 수 있다. 여기서, 「패턴」이란, 전형적으로는, 방현 필름의 미세 요철 표면을 형성하기 위해서 이용되는, 계산기에 의해서 작성된 2계조(예컨대, 백과 흑으로 2진화된 화상 데이터) 또는 3계조 이상의 그라데이션으로 이루어지는 화상 데이터를 의미하지만, 그 화상 데이터로 일률적으로 변환할 수 있는 데이터(행렬 데이터 등)도 포함할 수 있다. 화상 데이터로 일률적으로 변환할 수 있는 데이터로서는, 각 화소의 좌표 및 계조만이 보존된 데이터 등을 들 수 있다.In the conventionally known anti-glare film disclosed in Japanese Patent Application Laid-Open No. 2006-053371, etc., the energy spectrum (H 1 2 ) of the elevation of the surface of the fine uneven surface at the spatial frequency of 0.01 μm −1 and the spatial frequency of 0.04 μm − Since the ratio (H 1 2 / H 2 2 ) of the energy spectrum (H 2 2 ) of the elevation at 1 is larger than that of the present application, there is a problem that glare is likely to occur. Thus, to within the ratio (H 1 2 / H 2 2 ) the range of 3 to 20, there is a need to reduce the energy spectrum of the altitude of the fine concavo-convex surface in the spatial frequency 0.01 ㎛ -1 (H 1 2) . Thus, an anti-glare film having a minute uneven surface fine concavo-convex surface by reducing the energy spectrum (H 1 2) of the elevation in the spatial frequency is 0.01 ㎛ -1, of greater than 0 ㎛ -1 0.04 ㎛ -1 or less, as described below It can manufacture suitably by using the pattern which shows the energy spectrum which does not have a maximum in a range. Here, an "pattern" is typically an image composed of two gradations (for example, image data binarized in white and black) or three gradations created by a calculator, which is used to form a fine uneven surface of an antiglare film. Although it means data, data (matrix data etc.) which can be converted uniformly to the image data can also be included. Examples of data that can be uniformly converted into image data include data in which only coordinates and gradations of respective pixels are stored.

이와 같이 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 범위 내에 극대치를 갖지 않는 에너지 스펙트럼을 보이는 패턴을 이용하여 방현 필름의 미세 요철 표면을 형성함으로써, 효과적으로 공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H1 2)을 작게 하는 것이 가능하게 되어, 비(H1 2/H2 2)를 3∼20의 범위 내로 할 수 있다.Thus, by forming a fine uneven surface of the anti-glare film by using a pattern showing an energy spectrum having no maximum value within the range of more than 0 μm −1 and 0.04 μm −1 or less, effectively forming the fine uneven surface at the spatial frequency of 0.01 μm −1 . It is possible to reduce the energy spectrum H 1 2 of the elevation, and the ratio H 1 2 / H 2 2 can be set within the range of 3 to 20.

게다가, 공간 주파수 0.1 ㎛-1에서의 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H3 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H3 2/H2 2)가 0.1 이하인 미세 요철 표면을 갖는 방현 필름을 얻기 위해서는, 상기 패턴의 에너지 스펙트럼은 0.04 ㎛-1 초과 0.1 ㎛-1 미만의 공간 주파수 범위 내에 극대치를 갖는 것이 바람직하다. 이러한 에너지 스펙트럼을 갖는 패턴을 이용하여 방현 필름의 미세 요철 표면을 형성함으로써, 효과적으로 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)을 크게 하는 것이 가능하게 되어, 비(H3 2/H2 2)를 0.1 이하로 할 수 있다.Furthermore, the ratio (H 3 2 / H) of the energy spectrum (H 3 2 ) of the elevation of the fine uneven surface at the spatial frequency of 0.1 μm −1 and the energy spectrum (H 2 2 ) of the elevation at the spatial frequency of 0.04 μm −1 22) in order to obtain the anti-glare film having a minute uneven surface more than 0.1, the energy spectrum of the pattern preferably has a maximum value in excess of 0.04 ㎛ -1 spatial frequency range below 0.1 ㎛ -1. By forming the fine uneven surface of the antiglare film using the pattern having such an energy spectrum, it is possible to effectively enlarge the energy spectrum (H 2 2 ) of the elevation of the fine uneven surface at the spatial frequency of 0.04 μm −1 . (H 3 2 / H 2 2 ) can be 0.1 or less.

이러한 패턴을 이용하여 방현 필름의 미세 요철 표면을 형성하는 방법으로서는, 상기 패턴을 이용하여 요철면을 갖는 금형을 제작하고, 이 금형의 요철면을, 기재 필름 상에 형성된 수지층의 표면에 전사하는 방법(엠보싱법)이 바람직하다.As a method of forming the fine concavo-convex surface of the antiglare film using such a pattern, a metal mold having a concave-convex surface is produced using the pattern, and the concave-convex surface of the metal mold is transferred to the surface of the resin layer formed on the base film. The method (embossing method) is preferable.

본 발명자들은 또한, 방현층의 미세 요철 표면이 특정한 경사 각도 분포를 나타내도록 하는 것이, 우수한 방현 성능을 보이면서 백화를 효과적으로 방지하는 데에 있어서 한층 더 유효하다는 것을 알아냈다. 즉, 본 발명의 방현 필름에 있어서, 방현층의 미세 요철 표면은 경사 각도가 5°이하인 면을 95% 이상 포함한다. 경사 각도가 5°이하인 면의 비율이 95%를 하회하면, 요철 표면의 경사 각도가 급격해지고, 주위로부터의 빛을 집광하여, 표시면이 전체적으로 희게 되는 백화가 발생하기 쉬워진다. 이러한 집광 효과를 억제하여, 백화를 방지하기 위해서는, 미세 요철 표면의 경사 각도가 5°이하인 면의 비율이 높으면 높을수록 좋으며, 97% 이상인 것이 바람직하고, 99% 이상인 것이 보다 바람직하다.The inventors also found that it is more effective to effectively prevent whitening while exhibiting excellent anti-glare performance, so that the fine uneven surface of the anti-glare layer exhibits a specific inclination angle distribution. That is, in the anti-glare film of the present invention, the fine uneven surface of the anti-glare layer includes 95% or more of the surface having an inclination angle of 5 ° or less. When the ratio of the surface whose inclination-angle is 5 degrees or less is less than 95%, the inclination-angle of the uneven surface becomes sharp, it collects the light from the surroundings, and it becomes easy to produce the whitening which becomes white the display surface as a whole. In order to suppress such a light condensing effect and prevent whitening, the higher the ratio of the surface whose inclination-angle of the fine uneven | corrugated surface is 5 degrees or less is high, it is preferable that it is 97% or more, and it is more preferable that it is 99% or more.

여기서, 본 발명에서 말하는 「미세 요철 표면의 경사 각도」란, 도 2를 참조하면, 방현 필름(1) 표면의 임의의 점(P)에 있어서, 이 점에서의 요철을 가미한 국소적인 법선(6)이 방현 필름의 주법선 방향(5)에 대하여 이루는 각도(표면 경사 각도)(ψ)를 의미한다. 미세 요철 표면의 경사 각도에 대해서도 표고와 마찬가지로, 공초점현미경, 간섭현미경, 원자간력현미경(AFM) 등의 장치에 의해 측정되는 표면 형상의 삼차원 정보로부터 구할 수 있다.Here, with reference to FIG. 2, the "inclined angle of the fine uneven | corrugated surface" referred to in this invention is the local normal 6 which added the uneven | corrugated thing in this point at arbitrary points P of the anti-glare film 1 surface. Means the angle (surface inclination angle) (ψ) made with respect to the main normal direction 5 of an anti-glare film. Similarly to the elevation, the inclination angle of the fine uneven surface can be obtained from three-dimensional information of the surface shape measured by a device such as a confocal microscope, an interference microscope, an atomic force microscope (AFM).

도 7은 미세 요철 표면의 경사 각도의 측정 방법을 설명하기 위한 모식도이다. 구체적인 경사 각도의 결정 방법을 설명하면, 도 7에 도시하는 바와 같이, 점선으로 나타내어지는 가상적인 평면(FGHI) 상의 주목점(A)을 결정하며, 거기를 지나는 x축 상의 주목점(A) 근방에, 점(A)에 대하여 거의 대칭으로 점(B 및 D)을 잡고, 또한 점(A)을 지나는 y축 상의 주목점(A) 근방에, 점(A)에 대하여 거의 대칭으로 점(C 및 E)을 잡으며, 이들 점(B, C, D, E)에 대응하는 방현 필름면 상의 점(Q, R, S, T)을 결정한다. 한편 도 7에서는, 방현 필름 면내의 직교 좌표를 (x, y)로 표시하고, 방현 필름 두께 방향의 좌표를 z로 표시하고 있다. 평면(FGHI)은, y축 상의 점(C)을 지나는 x축에 평행한 직선, 및 마찬가지로 y축 상의 점(E)을 지나는 x축에 평행한 직선과, x축 상의 점(B)을 지나는 y축에 평행한 직선, 및 마찬가지로 x축 상의 점(D)을 지나는 y축에 평행한 직선과의 각각의 교점(F, G, H, I)에 의해서 형성되는 면이다. 또한 도 7에서는, 평면(FGHI)에 대하여, 실제의 방현 필름면의 위치가 위쪽으로 오도록 그려져 있지만, 주목점(A)을 잡는 위치에 따라서 당연한 이야기지만, 실제의 방현 필름면의 위치가 평면(FGHI)의 위쪽에 오는 경우도 있고, 아래쪽에 오는 경우도 있다.It is a schematic diagram for demonstrating the measuring method of the inclination angle of a fine uneven surface. A concrete method of determining the inclination angle will be described. As shown in Fig. 7, the point of interest A on the virtual plane FGHI indicated by the dotted line is determined, and the point A on the x-axis passing therethrough is in the vicinity. For example, the points B and D are held substantially symmetrically with respect to the point A, and near the point of interest A on the y-axis passing through the point A, the point C is almost symmetric with respect to the point A. And E), and determine the points Q, R, S, T on the antiglare film surface corresponding to these points B, C, D, and E. FIG. On the other hand, in FIG. 7, the orthogonal coordinate in the anti-glare film surface is represented by (x, y), and the coordinate of the anti-glare film thickness direction is represented by z. The plane FGHI is a straight line parallel to the x-axis passing through the point C on the y-axis, and similarly a straight line parallel to the x-axis passing through the point E on the y-axis and a point B on the x-axis. It is a surface formed by each intersection (F, G, H, I) with the straight line parallel to a y-axis, and similarly the straight line parallel to the y-axis which passes the point D on the x-axis. In addition, although the position of an actual anti-glare film surface is drawn upward with respect to the plane FGHI in FIG. 7, it is a matter of course according to the position which catches the attention point A, but the position of an actual anti-glare film surface is flat ( FGHI) may come up or down.

경사 각도는, 주목점(A)에 대응하는 실제의 방현 필름면 상의 점(P)과, 주목점(A)의 근방에 잡은 4점(B, C, D, E)에 대응하는 실제의 방현 필름면 상의 점(Q, R, S, T)의 합계 5점에 의해 펼쳐지는 폴리곤 4 평면, 즉 4개의 삼각형(PQR, PRS, PST, PTQ)의 각 법선 벡터(6a, 6b, 6c, 6d)를 평균하여 얻어지는 평균 법선 벡터[평균 법선 벡터는 도 2에 도시된 요철을 가미한 국소적인 법선(6)과 동의임]의, 방현 필름의 주법선 방향에 대한 극각을, 측정된 표면 형상의 삼차원 정보로부터 구함으로써 얻을 수 있다. 각 측정점에 대해서 경사 각도를 구한 후, 히스토그램이 계산된다.The inclination angle is the actual anti-glare corresponding to the point P on the actual anti-glare film surface corresponding to the point A and the four points B, C, D, E caught in the vicinity of the point A. Each normal vector 6a, 6b, 6c, 6d of a polygonal 4 plane, i.e. four triangles (PQR, PRS, PST, PTQ), unfolded by a total of five points on the film plane (Q, R, S, T) The average angle vector obtained by averaging the average angle of the anti-glare film with respect to the direction of the main normal of the antiglare film, which is obtained by averaging the average normal vector (the average normal vector is the same as the local normal 6 with the unevenness shown in FIG. 2). Obtained from information. After obtaining the inclination angle for each measurement point, the histogram is calculated.

도 8은 방현 필름이 구비하는 방현층의 미세 요철 표면의 경사 각도 분포의 히스토그램의 일례를 나타내는 그래프이다. 도 8에 도시하는 그래프에 있어서, 횡축은 경사 각도이며, 0.5°피치로 분할되어 있다. 예컨대, 가장 왼쪽의 세로 막대는 경사 각도가 0∼0.5°의 범위에 있는 집합의 분포를 나타내고, 이하, 오른쪽으로 감에 따라서 각도가 0.5°씩 커지고 있다. 도 8에서는, 횡축의 2눈금마다 값의 하한치를 표시하고 있으며, 예컨대 횡축에서 「1」로 되어 있는 부분은, 경사 각도가 1∼1.5°의 범위에 있는 집합의 분포를 나타낸다. 또한, 종축은 경사 각도의 분포를 나타내며, 합계하면 1(100%)이 되는 값이다. 이 예에서는, 경사 각도가 5°이하인 면의 비율은 대략 100%이다.It is a graph which shows an example of the histogram of the inclination-angle distribution of the fine uneven surface of the anti-glare layer with which an anti-glare film is equipped. In the graph shown in FIG. 8, the horizontal axis is an inclination angle, and is divided into 0.5 ° pitches. For example, the leftmost vertical bar indicates the distribution of the set in which the inclination angle is in the range of 0 to 0.5 °, and the angle increases by 0.5 ° as it goes to the right. In FIG. 8, the lower limit of a value is displayed for every two divisions of a horizontal axis, For example, the part which becomes "1" in a horizontal axis shows the distribution of the set in which the inclination-angle is in the range of 1-1.5 degrees. In addition, a vertical axis | shaft shows the distribution of an inclination-angle, and when it adds up, it is a value which becomes 1 (100%). In this example, the proportion of the face at the inclination angle of 5 degrees or less is approximately 100%.

방현층의 미세 요철 표면이, 경사 각도가 5°이하인 면을 95% 이상 포함하는 방현 필름을 제작하기 위해서는, 역시 패턴을 이용하여 요철면을 갖는 금형을 제작하고, 그 금형의 요철면을 기재 필름 상에 형성된 수지층의 표면에 전사하는 방법(엠보싱법)을 채용하는 것이 바람직하다. 이러한 엠보싱법에서는, 방현층의 미세 요철 표면의 경사 각도는, 요철면을 갖는 금형의 제조 조건에 따라 결정된다. 구체적으로는, 후술하는 금형의 제조 방법에 있어서 에칭 공정의 에칭량을 변화시킴으로써 제어할 수 있다. 즉, 제1 에칭 공정에서의 에칭량을 감소시킴으로써, 형성되는 제1 표면 요철 형상의 고저차를 작게 하여, 경사 각도가 5°이하인 면의 비율을 증가시킬 수 있다. 경사 각도가 5°이하인 면을 95% 이상 포함하는 미세 요철 표면을 갖는 방현 필름을 얻기 위해서는, 제1 에칭 공정에서의 에칭량은 2∼8 ㎛인 것이 바람직하다. 에칭량이 2 ㎛ 미만인 경우에는, 금속 표면에 요철 형상이 거의 형성되지 않고, 거의 평탄한 금형으로 되어 버리기 때문에, 이러한 금형을 이용하여 제작되는 방현 필름은, 충분한 방현성을 나타내지 않게 되어 버린다. 또한, 에칭량이 8 ㎛를 넘는 경우에는, 금속 표면에 형성되는 요철 형상의 고저차가 커져, 경사 각도가 5°이하인 면이 95% 미만으로 될 가능성이 있다. 이러한 금형을 사용하여 제작한 방현 필름은 백화가 일어날 우려가 있다.In order to manufacture the anti-glare film in which the fine uneven | corrugated surface of an anti-glare layer contains 95% or more of inclination angles 5 degrees or less, a metal mold | die which has an uneven surface is also produced using a pattern, and the uneven surface of the said mold is a base film It is preferable to employ | adopt the method (embossing method) which transfers to the surface of the resin layer formed on. In such an embossing method, the inclination angle of the fine concavo-convex surface of the antiglare layer is determined according to the manufacturing conditions of the mold having the concave-convex surface. Specifically, it can control by changing the etching amount of an etching process in the manufacturing method of the metal mold | die mentioned later. That is, by reducing the etching amount in the first etching step, it is possible to reduce the height difference of the first surface irregularities to be formed, and to increase the proportion of the surface having the inclination angle of 5 ° or less. In order to obtain the anti-glare film which has a fine uneven | corrugated surface containing 95% or more of the inclination-angles of 5 degrees or less, it is preferable that the etching amount in a 1st etching process is 2-8 micrometers. When the etching amount is less than 2 µm, almost no irregularities are formed on the surface of the metal, and almost flat molds are formed. Therefore, the anti-glare film produced using such a mold does not exhibit sufficient anti-glare property. Moreover, when the etching amount exceeds 8 micrometers, there exists a possibility that the height difference of the uneven | corrugated shape formed in a metal surface becomes large, and the surface whose inclination-angle is 5 degrees or less may become less than 95%. The anti-glare film produced using such a metal mold may cause whitening.

또한, 제2 에칭 공정에서의 에칭량에 의해서도 방현층의 미세 요철 표면의 경사 각도를 제어할 수 있다. 제2 에칭 공정에서의 에칭량을 증가시킴으로써, 제1 표면 요철 형상의 표면 경사가 급경사인 부분을 효과적으로 둔화시킬 수 있게 되어, 경사 각도가 5°이하인 면의 비율을 증가시킬 수 있다. 경사 각도가 5°이하인 면을 95% 이상 포함하는 미세 요철 표면을 갖는 방현 필름을 얻기 위해서는, 제2 에칭 공정에서의 에칭량은 4∼20 ㎛의 범위 내로 하는 것이 바람직하다. 에칭량이 작으면, 제1 에칭 공정에 의해 얻어진 요철의 표면 형상을 둔화시킬 수 있는 효과가 불충분하여, 그 요철 형상을 전사하여 얻어지는 방현 필름의 광학 특성이 그다지 좋게 되지 않는다. 한편, 에칭량이 지나치게 크면, 요철 형상이 거의 없어져 버려, 거의 평탄한 금형으로 되어 버리기 때문에, 방현성을 나타내지 않게 되어 버린다.Moreover, also the inclination angle of the fine uneven surface of an anti-glare layer can be controlled also by the etching amount in a 2nd etching process. By increasing the amount of etching in the second etching step, it is possible to effectively slow down the portion where the surface inclination of the first surface unevenness is steeply inclined, thereby increasing the proportion of the surface having the inclination angle of 5 ° or less. In order to obtain the anti-glare film which has the fine uneven | corrugated surface containing 95% or more of surfaces inclination angle 5 degrees or less, it is preferable to make the etching amount in a 2nd etching process into the range of 4-20 micrometers. If the etching amount is small, the effect of blunting the surface shape of the unevenness obtained by the first etching step is insufficient, and the optical properties of the antiglare film obtained by transferring the uneven shape are not very good. On the other hand, when the etching amount is too large, the uneven shape is almost eliminated and becomes an almost flat mold, so that the anti-glare property is not exhibited.

본 발명에 있어서 방현층은, 광경화형 수지 등의 경화형 수지의 경화물 또는 열가소성 수지 등으로 구성할 수 있으며, 그 중에서도 광경화형 수지의 경화물로 구성되는 것이 바람직하다. 방현층에는, 경화형 수지의 경화물 또는 열가소성 수지와 다른 굴절률을 갖는 미립자를 분산시키더라도 좋다. 미립자를 분산시킴으로써, 눈부심을 보다 효과적으로 억제할 수 있다.In this invention, an anti-glare layer can be comprised by hardened | cured material of curable resin, such as photocurable resin, or a thermoplastic resin, It is preferable to be comprised by hardened | cured material of photocurable resin especially. In the anti-glare layer, fine particles having a refractive index different from that of the cured resin or the thermoplastic resin may be dispersed. By dispersing the fine particles, glare can be more effectively suppressed.

방현층에 상기 미립자를 분산시키는 경우, 미립자의 평균 입경은 5 ㎛ 이상인 것이 바람직하고, 6 ㎛ 이상인 것이 보다 바람직하다. 또한, 미립자의 평균 입경은 10 ㎛ 이하 정도로 할 수 있으며, 바람직하게는 8 ㎛ 이하이다. 평균 입경이 5 ㎛를 하회하는 경우에는, 미립자에 의한 광각측의 산란광 강도가 상승하여, 화상 표시 장치에 적용했을 때에 콘트라스트를 저하시키는 경향이 있다.When disperse | distributing the said microparticles | fine-particles to an anti-glare layer, it is preferable that the average particle diameter of microparticles | fine-particles is 5 micrometers or more, and it is more preferable that it is 6 micrometers or more. Moreover, the average particle diameter of microparticles | fine-particles can be about 10 micrometers or less, Preferably it is 8 micrometers or less. When the average particle diameter is less than 5 µm, the scattered light intensity on the wide-angle side due to the fine particles increases, which tends to reduce the contrast when applied to an image display device.

또한, 미립자의 굴절률(nb)과 경화형 수지의 경화물 또는 열가소성 수지의 굴절률(nr)의 비(nb/nr)는 0.93 이상 0.98 이하 혹은 1.01 이상 1.04 이하인 것이 바람직하고, 0.97 이상 0.98 이하 혹은 1.01 이상 1.03 이하인 것이 보다 바람직하다. 굴절률비(nb/nr)가 0.93을 하회하는 경우 혹은 1.04를 상회하는 경우에는, 경화형 수지의 경화물 또는 열가소성 수지와 미립자와의 계면에 있어서의 반사율이 증대되고, 결과적으로 후방 산란이 상승하여, 전광선 투과율이 저하되는 경향이 있다. 전광선 투과율의 저하는 방현 필름의 헤이즈를 증대시켜, 화상 표시 장치에 적용했을 때의 콘트라스트의 저하를 야기한다. 또한, 굴절률비(nb/nr)가 0.98 초과 1.01 미만인 경우에는, 미립자에 의한 내부 산란 효과가 작아지므로, 소정의 산란 특성을 방현층에 부여하여 미립자에 의한 눈부심 억제 효과를 얻기 위해서, 미립자의 첨가량을 많게 할 필요가 생길 수 있다.In addition, the refractive index of the fine particle (n b) and the light refractive index of the cargo or the thermoplastic resin of the curable resin ratio of (n r) (n b / n r) is 0.93 or more 0.98 or less or 1.01 or more 1.04 or less is preferred, and 0.97 or more 0.98 It is more preferable that it is below or 1.01 or more and 1.03 or less. When the refractive index ratio (n b / n r ) is less than 0.93 or more than 1.04, the reflectance at the interface between the cured product of the curable resin or the thermoplastic resin and the fine particles increases, and as a result, the backscattering rises. This tends to lower the total light transmittance. The fall of the total light transmittance increases the haze of an anti-glare film, and causes the fall of contrast when it is applied to an image display apparatus. In addition, when the refractive index ratio (n b / n r ) is more than 0.98 and less than 1.01, since the internal scattering effect by the fine particles becomes small, in order to give a predetermined scattering characteristic to the antiglare layer and to obtain an anti-glare effect by the fine particles, It may be necessary to increase the amount of added.

미립자의 함유량은, 경화형 수지 또는 열가소성 수지 100 중량부에 대하여, 통상 50 중량부 이하이며, 바람직하게는 40 중량부 이하이다. 또한, 미립자의 함유량은, 10 중량부 이상인 것이 바람직하고, 15 중량부 이상인 것이 보다 바람직하다. 미립자의 함유량이 10 중량부 미만인 경우에는, 미립자에 의한 눈부심 억제 효과가 불충분한 경우가 있다.Content of microparticles | fine-particles is 50 weight part or less normally with respect to 100 weight part of curable resin or a thermoplastic resin, Preferably it is 40 weight part or less. Moreover, it is preferable that it is 10 weight part or more, and, as for content of microparticles | fine-particles, it is more preferable that it is 15 weight part or more. When content of microparticles | fine-particles is less than 10 weight part, the glare suppression effect by microparticles | fine-particles may be inadequate.

미립자를 구성하는 재료는, 상기 바람직한 굴절률비를 충족시키는 것이 바람직하다. 후술하는 바와 같이, 본 발명에서는 방현층의 형성에 UV 엠보싱법이 바람직하게 이용되며, UV 엠보싱법에서는, 자외선경화형 수지가 바람직하게 이용된다. 이 경우, 자외선경화형 수지의 경화물은 1.50 전후의 굴절률을 보이는 경우가 많기 때문에, 미립자로서는, 그 굴절률이 1.40∼1.60 정도인 것 중에서 방현 필름의 설계에 맞춰 적절하게 선택할 수 있다. 미립자로서는, 수지 비드, 그것도 거의 구형(球形)인 것이 바람직하게 이용된다. 이러한 적합한 수지 비드의 예를 이하에 든다.It is preferable that the material which comprises microparticles | fine-particles satisfy | fills the said preferable refractive index ratio. As will be described later, in the present invention, the UV embossing method is preferably used for forming the antiglare layer, and the ultraviolet curable resin is preferably used in the UV embossing method. In this case, since the hardened | cured material of an ultraviolet curable resin often shows the refractive index around 1.50, as microparticles | fine-particles, it can select suitably according to the design of an anti-glare film among those whose refractive index is about 1.40-1.60. As microparticles | fine-particles, a resin bead and also what is almost spherical is used preferably. Examples of such suitable resin beads are given below.

멜라민 비드(굴절률 1.57), Melamine beads (refractive index 1.57),

폴리메타크릴산메틸 비드(굴절률 1.49), Polymethyl methacrylate beads (refractive index 1.49),

메타크릴산메틸/스티렌 공중합체 수지 비드(굴절률 1.50∼1.59), Methyl methacrylate / styrene copolymer resin beads (refractive index 1.50-1.59),

폴리카보네이트 비드(굴절률 1.55), Polycarbonate beads (refractive index 1.55),

폴리에틸렌 비드(굴절률 1.53), Polyethylene beads (refractive index 1.53),

폴리스티렌 비드(굴절률 1.6), Polystyrene beads (refractive index 1.6),

폴리염화비닐 비드(굴절률 1.46), Polyvinyl chloride beads (refractive index 1.46),

실리콘 수지 비드(굴절률 1.46) 등.Silicone resin beads (refractive index 1.46) and the like.

(기재 필름)(Substrate film)

본 발명의 방현 필름에 이용되는 기재 필름은, 투명성, 내습성, 내후성이 우수하고, 기계적 강도도 우수한 아크릴계 수지를 주성분으로 하여 구성되거나 또는 아크릴계 수지로 이루어진다. 여기서, 본 발명에서 아크릴계 수지란, 메타크릴 수지 및 필요에 따라서 첨가되는 첨가제 등을 혼합하고, 용융 혼련하여 얻어진 재료를 의미한다.The base film used for the antiglare film of this invention consists of acrylic resin which is excellent in transparency, moisture resistance, and weather resistance, and also excellent in mechanical strength, or consists of acrylic resin. Here, in this invention, an acrylic resin means the material obtained by mixing and melt-kneading a methacryl resin and the additive added as needed.

상기 메타크릴 수지란, 메타크릴산에스테르를 주체로 하는 중합체이다. 메타크릴 수지는, 1종류의 메타크릴산에스테르의 단독 중합체라도 좋고, 메타크릴산에스테르와 다른 메타크릴산에스테르나 아크릴산에스테르 등과의 공중합체라도 좋다. 메타크릴산에스테르로서는, 메타크릴산메틸, 메타크릴산에틸, 메타크릴산부틸 등의 메타크릴산알킬을 들 수 있고, 그 알킬기의 탄소수는 통상 1∼4 정도이다. 또한, 메타크릴산에스테르와 공중합할 수 있는 아크릴산에스테르로서는, 아크릴산알킬이 바람직하며, 예컨대 아크릴산메틸, 아크릴산에틸, 아크릴산부틸, 아크릴산2-에틸헥실 등을 들 수 있고, 그 알킬기의 탄소수는 통상 1∼8 정도이다. 이들 외에, 분자 내에 중합성 탄소-탄소 이중 결합을 적어도 1개 갖는 화합물인 스티렌과 같은 방향족 비닐 화합물이나, 아크릴로니트릴과 같은 비닐시안 화합물 등을 공중합체 중에 포함하고 있더라도 좋다.The said methacrylic resin is a polymer mainly having methacrylic acid ester. The methacrylic resin may be a homopolymer of one kind of methacrylic acid ester, or may be a copolymer of methacrylic acid ester and other methacrylic acid ester or acrylic acid ester. As methacrylic acid ester, alkyl methacrylates, such as methyl methacrylate, ethyl methacrylate, and butyl methacrylate, are mentioned, A carbon number of this alkyl group is about 1-4 normally. Moreover, as acrylate ester which can be copolymerized with methacrylic acid ester, alkyl acrylate is preferable, For example, methyl acrylate, ethyl acrylate, butyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, etc. are mentioned, The carbon number of this alkyl group is usually 1-. 8 or so. In addition to these, the copolymer may contain an aromatic vinyl compound such as styrene, a vinyl cyan compound such as acrylonitrile, or the like, which is a compound having at least one polymerizable carbon-carbon double bond in the molecule.

아크릴계 수지는, 기재 필름의 내충격성이나 제막성(製膜性)의 관점에서, 아크릴 고무 입자를 함유하는 것이 바람직하다. 아크릴계 수지에 포함될 수 있는 아크릴 고무 입자의 양은, 바람직하게는 5 중량% 이상, 보다 바람직하게는 10 중량% 이상이다. 아크릴 고무 입자의 양의 상한은 임계적이지는 않지만, 아크릴 고무 입자의 양이 너무 많으면, 기재 필름의 표면 경도가 저하되고, 또한 기재 필름에 표면 처리를 실시하는 경우, 표면처리제 중의 유기 용제에 대한 내용제성이 저하된다. 따라서, 아크릴계 수지에 포함될 수 있는 아크릴 고무 입자의 양은 80 중량% 이하인 것이 바람직하고, 보다 바람직하게는 60 중량% 이하이다.It is preferable that acrylic resin contains acrylic rubber particle from a viewpoint of the impact resistance and film forming property of a base film. The amount of the acrylic rubber particles that can be included in the acrylic resin is preferably 5% by weight or more, more preferably 10% by weight or more. The upper limit of the amount of the acrylic rubber particles is not critical, but if the amount of the acrylic rubber particles is too large, the surface hardness of the base film is lowered, and the content of the organic solvent in the surface treating agent when the surface film is subjected to the surface treatment. Defrosting is lowered. Therefore, the amount of acrylic rubber particles that may be included in the acrylic resin is preferably 80% by weight or less, and more preferably 60% by weight or less.

상기 아크릴 고무 입자는, 아크릴산에스테르를 주체로 하는 탄성 중합체를 필수 성분으로 하는 입자이며, 실질적으로 이 탄성 중합체만으로 이루어지는 단층 구조의 것이라도 좋고, 이 탄성 중합체를 하나의 층으로 하는 다층 구조의 것이라도 좋다. 이 탄성 중합체로서, 구체적으로는 아크릴산알킬 50∼99.9 중량%와, 이것과 공중합 가능한 적어도 1종류의 다른 비닐계 단량체 0∼49.9 중량%와, 공중합성의 가교성 단량체 0.1∼10 중량%로 이루어지는 단량체 조성물의 중합에 의해 얻어지는 가교 탄성 공중합체가 바람직하게 이용된다.The said acrylic rubber particle is particle | grains which have an elastic polymer mainly as an acrylate ester as an essential component, may be the thing of the single layer structure which consists only of this elastomer substantially, or the thing of the multilayer structure which makes this elastic polymer one layer. good. As this elastic polymer, specifically, the monomer which consists of 50 to 99.9 weight% of alkyl acrylates, 0 to 49.9 weight% of at least 1 sort (s) of other vinyl monomers copolymerizable with this, and 0.1 to 10 weight% of copolymerizable crosslinkable monomers Crosslinked elastic copolymers obtained by polymerization of the composition are preferably used.

탄성 중합체를 형성하는 상기 아크릴산알킬로서는, 예컨대 아크릴산메틸, 아크릴산에틸, 아크릴산부틸, 아크릴산2-에틸헥실 등을 들 수 있고, 그 알킬기의 탄소수는 통상 1∼8 정도이다. 또한, 상기 아크릴산알킬과 공중합 가능한 다른 비닐계 단량체로서는, 분자 내에 중합성 탄소-탄소 이중 결합을 1개 갖는 화합물을 예로 들 수 있으며, 보다 구체적으로는, 메타크릴산메틸과 같은 메타크릴산에스테르, 스티렌과 같은 방향족 비닐 화합물, 아크릴로니트릴과 같은 비닐시안 화합물 등을 들 수 있다. 또한, 상기 공중합성의 가교성 단량체로서는, 분자 내에 중합성 탄소-탄소 이중 결합을 적어도 2개 갖는 가교성의 화합물을 예로 들 수 있으며, 보다 구체적으로는, 에틸렌글리콜디(메트)아크릴레이트나 부탄디올디(메트)아크릴레이트와 같은 다가 알코올의 (메트)아크릴레이트, (메트)아크릴산알릴이나 (메트)아크릴산메타크릴과 같은 (메트)아크릴산의 알케닐에스테르, 디비닐벤젠 등을 들 수 있다. 한편, 본 명세서에서, (메트)아크릴레이트란 메타크릴레이트 또는 아크릴레이트를 말하며, (메트)아크릴산이란 메타크릴산 또는 아크릴산를 말한다.As said alkyl acrylate which forms an elastic polymer, methyl acrylate, ethyl acrylate, butyl acrylate, 2-ethylhexyl acrylate, etc. are mentioned, for example, Carbon number of this alkyl group is about 1-8 normally. Moreover, as another vinylic monomer copolymerizable with the said alkyl acrylate, the compound which has one polymerizable carbon-carbon double bond in a molecule | numerator is mentioned, More specifically, methacrylic acid ester like methyl methacrylate, Aromatic vinyl compounds, such as styrene, and vinyl cyan compounds, such as an acrylonitrile, etc. are mentioned. Moreover, as said copolymerizable crosslinkable monomer, the crosslinkable compound which has at least 2 polymeric carbon-carbon double bond in a molecule | numerator is mentioned, More specifically, ethylene glycol di (meth) acrylate and butanediol di (Meth) acrylate of polyhydric alcohols, such as (meth) acrylate, alkenyl ester of (meth) acrylic acid, such as allyl (meth) acrylic acid and (meth) acrylic acid methacrylate, divinylbenzene, etc. are mentioned. In the present specification, (meth) acrylate refers to methacrylate or acrylate, and (meth) acrylic acid refers to methacrylic acid or acrylic acid.

아크릴계 수지에는, 상기 아크릴 고무 입자 이외에, 통상의 첨가제, 예컨대 자외선흡수제, 유기계 염료, 안료, 무기계 색소, 산화방지제, 대전방지제, 계면활성제 등을 함유시키더라도 좋다. 그 중에서도 자외선흡수제는, 내후성을 높이는 데에 있어서 바람직하게 이용된다. 자외선흡수제의 예로서는, 2,2'-메틸렌비스〔4-(1,1,3,3-테트라메틸부틸)-6-(2H-벤조트리아졸-2-일)페놀〕, 2-(5-메틸-2-히드록시페닐)-2H-벤조트리아졸, 2-〔2-히드록시-3,5-비스(α,α-디메틸벤질)페닐〕-2H-벤조트리아졸, 2-(3,5-디-tert-부틸-2-히드록시페닐)-2H-벤조트리아졸, 2-(3-tert-부틸-5-메틸-2-히드록시페닐)-5-클로로-2H-벤조트리아졸, 2-(3,5-디-tert-부틸-2-히드록시페닐)-5-클로로-2H-벤조트리아졸, 2-(3,5-디-tert-아밀-2-히드록시페닐)-2H-벤조트리아졸, 2-(2'-히드록시-5'-tert-옥틸페닐)-2H-벤조트리아졸과 같은 벤조트리아졸계 자외선흡수제; 2-히드록시-4-메톡시벤조페논, 2-히드록시-4-옥틸옥시벤조페논, 2,4-디히드록시벤조페논, 2-히드록시-4-메톡시-4'-클로로벤조페논, 2,2'-디히드록시-4-메톡시벤조페논, 2,2'-디히드록시-4,4'-디메톡시벤조페논과 같은 2-히드록시벤조페논계 자외선흡수제; p-tert-부틸페닐살리실산에스테르, p-옥틸페닐살리실산에스테르와 같은 살리실산페닐에스테르계 자외선흡수제 등을 들 수 있으며, 필요에 따라서 이들 중 2종 이상을 이용하더라도 좋다. 아크릴계 수지에 자외선흡수제가 포함되는 경우, 그 양은 통상 0.1 중량% 이상, 바람직하게는 0.3 중량% 이상이며, 또 바람직하게는 2 중량% 이하이다.The acrylic resin may contain, in addition to the acrylic rubber particles, ordinary additives such as ultraviolet absorbers, organic dyes, pigments, inorganic dyes, antioxidants, antistatic agents, surfactants, and the like. Especially, a ultraviolet absorber is used preferably in improving weather resistance. Examples of ultraviolet absorbers include 2,2'-methylenebis [4- (1,1,3,3-tetramethylbutyl) -6- (2H-benzotriazol-2-yl) phenol] and 2- (5- Methyl-2-hydroxyphenyl) -2H-benzotriazole, 2- [2-hydroxy-3,5-bis (α, α-dimethylbenzyl) phenyl] -2H-benzotriazole, 2- (3, 5-di-tert-butyl-2-hydroxyphenyl) -2H-benzotriazole, 2- (3-tert-butyl-5-methyl-2-hydroxyphenyl) -5-chloro-2H-benzotriazole , 2- (3,5-di-tert-butyl-2-hydroxyphenyl) -5-chloro-2H-benzotriazole, 2- (3,5-di-tert-amyl-2-hydroxyphenyl) Benzotriazole ultraviolet absorbers such as -2H-benzotriazole and 2- (2'-hydroxy-5'-tert-octylphenyl) -2H-benzotriazole; 2-hydroxy-4-methoxybenzophenone, 2-hydroxy-4-octyloxybenzophenone, 2,4-dihydroxybenzophenone, 2-hydroxy-4-methoxy-4'-chlorobenzophenone , 2-hydroxybenzophenone ultraviolet absorbers such as 2,2'-dihydroxy-4-methoxybenzophenone and 2,2'-dihydroxy-4,4'-dimethoxybenzophenone; The salicylic acid phenyl ester type ultraviolet absorbers, such as p-tert- butylphenyl salicylate ester and p-octylphenyl salicylate ester, etc. are mentioned, You may use 2 or more types of these as needed. When the ultraviolet absorber is included in the acrylic resin, the amount is usually at least 0.1% by weight, preferably at least 0.3% by weight, and preferably at most 2% by weight.

기재 필름의 두께는, 기계적 강도와 핸들링성의 관점 및 방현층 형성시에 있어서의 필름의 컬을 방지한다는 관점에서 20 ㎛ 이상인 것이 바람직하고, 또한 화상 표시 장치의 박형화 및 비용 등의 관점에서 100 ㎛ 이하인 것이 바람직하다. 기재 필름의 두께는, 더 바람직하게는 40 ㎛ 이상 80 ㎛ 이하이다.It is preferable that the thickness of a base film is 20 micrometers or more from a viewpoint of mechanical strength, handling property, and the prevention of the curl of a film at the time of anti-glare layer formation, and is 100 micrometers or less from a viewpoint of thickness reduction of an image display apparatus, cost, etc. It is preferable. The thickness of the base film is more preferably 40 µm or more and 80 µm or less.

본 발명의 방현 필름에 이용되는 기재 필름의 제작 방법으로서는, 예컨대 용융 압출 성형 등의 일반적으로 알려진 여러 가지 방법을 이용할 수 있다. 그 중에서도, T 다이로부터 용융 압출 성형하여, 얻어지는 용융형 필름의 적어도 한 면을 롤 표면 또는 벨트 표면에 접촉시켜 제막하는 방법은, 표면 성상이 양호한 필름을 얻을 수 있다는 점에서 바람직하다. 특히, 기재 필름의 표면 평활성 및 표면 광택성을 향상시킨다는 관점에서는, 상기 용융 압출 성형하여 얻어지는 용융형 필름의 양면을 롤 표면 또는 벨트 표면에 접촉시켜 제막하는 방법이 바람직하다. 이때에 이용하는 롤 또는 벨트에 있어서, 아크릴계 수지의 용융형 필름과 접하는 롤 표면 또는 벨트 표면은, 기재 필름 표면에의 평활성 부여를 위해, 경면(鏡面)인 것이 바람직하다.As a manufacturing method of the base film used for the anti-glare film of this invention, various generally known methods, such as melt extrusion molding, can be used, for example. Especially, the method of carrying out film forming by contacting the roll surface or the belt surface with at least one surface of the molten film obtained by melt-extrusion from a T die is preferable at the point which can obtain the film with a favorable surface property. In particular, from the viewpoint of improving the surface smoothness and surface glossiness of the base film, a method of forming a film by bringing both surfaces of the molten film obtained by the melt extrusion molding into contact with the roll surface or the belt surface is preferred. In the roll or belt used at this time, the roll surface or the belt surface in contact with the molten film of acrylic resin is preferably mirror surface for imparting smoothness to the base film surface.

기재 필름은 다층 구조로 이루어지는 것이라도 좋으며, 이러한 것으로서는, 아크릴 고무 입자를 함유하는 층과 함유하지 않는 층의 적층 구조를 예로 들 수 있다. 다층 구조를 갖는 기재 필름은, 예컨대 피드 블록이나 멀티매니폴드 다이 등을 이용한 다층 용융 압출 성형에 의해서 적합하게 제작할 수 있다. 기재 필름을 다층 구조로 함으로써, 기재 필름에 상반되는 특성을 부여할 수 있다. 예컨대, 아크릴 고무 입자를 함유하는 층을 중간층에 지니고, 표리의 최외측 표면에 아크릴 고무 입자를 함유하지 않는 층을 갖는 다층 구조의 기재 필름은, 아크릴 고무 입자를 함유하는 중간층에 의해서 높은 내충격성을 갖고, 아크릴 고무 입자를 함유하지 않는 표층에 의해서 높은 표면 경도를 갖는다.The base film may be made of a multilayer structure, and examples thereof include a laminated structure of a layer containing acrylic rubber particles and a layer not containing. The base film which has a multilayered structure can be suitably produced by multilayer melt extrusion molding using a feed block, a multi-manifold die, etc., for example. By making a base film into a multilayered structure, the characteristic which opposes to a base film can be provided. For example, the base film of the multilayer structure which has the layer containing acrylic rubber particle in an intermediate | middle layer, and has a layer which does not contain acrylic rubber particle in the outermost surface of front and back has high impact resistance by the intermediate | middle layer containing acrylic rubber particle. It has a high surface hardness by the surface layer which does not contain acrylic rubber particle | grains.

또한, 본 발명의 방현 필름에 이용하는 기재 필름은, 상기한 바와 같은 식으로 얻어진 아크릴계 수지로 구성되는 필름에 연신 처리를 실시한 것이라도 좋다. 연신 처리에 의해, 한층 더 내충격성을 부여할 수 있다. 연신 방법은 임의로 정해지며, 특별히 한정되는 것은 아니지만, 글라스 전이 온도 이상의 온도에 있어서 텐터(tenter)로 횡연신한 후, 열고정 처리를 실시하는 방법이나, 글라스 전이 온도 이상의 온도에 있어서 텐터로 종연신한 후, 열고정 처리를 실시하고, 이어서 횡연신 후, 열고정 처리를 실시하는 방법을 예로 들 수 있다.In addition, the base film used for the anti-glare film of this invention may be what extended | stretched the film comprised from the acrylic resin obtained by the above-mentioned formula. By extending | stretching process, impact resistance can be provided further. The stretching method is arbitrarily determined and is not particularly limited, but after transverse stretching with a tenter at a temperature above the glass transition temperature, the heat setting treatment is carried out, or longitudinal stretching with a tenter at a temperature above the glass transition temperature. After that, a heat setting treatment is performed, and then a method of performing heat setting treatment after transverse stretching is exemplified.

<방현 필름의 제조 방법> <Method for Producing Anti-glare Film>

상기 본 발명의 방현 필름은, 하기 공정 (A) 및 (B)를 포함하는 방법에 의해서 적합하게 제조할 수 있다.The anti-glare film of the said invention can be manufactured suitably by the method containing the following process (A) and (B).

(A) 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 공간 주파수 범위 내에서 극대치를 갖지 않는 에너지 스펙트럼을 보이는 패턴에 기초하여, 요철면을 갖는 금형을 제작하는 공정, 및,(A) a step of manufacturing a mold having an uneven surface based on a pattern showing an energy spectrum having no maximum value within a spatial frequency range of more than 0 µm -1 and 0.04 µm -1 or less, and

(B) 기재 필름 상에 형성된, 광경화형 수지 등의 경화형 수지 또는 열가소성 수지 등을 포함하는 수지층의 표면에, 금형의 요철면을 전사하는 공정.(B) The process of transferring the uneven surface of a metal mold | die to the surface of the resin layer containing curable resin, such as photocurable resin, or thermoplastic resin formed on the base film.

0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 공간 주파수 범위 내에서 극대치를 갖지 않는 에너지 스펙트럼을 보이는 패턴을 이용함으로써, 상기한 특정한 공간 주파수 분포를 갖는 미세 요철 표면을 정밀도 좋게 형성하는 것이 가능해진다. 또한, 상기 패턴에 기초하여 요철면을 갖는 금형을 제작하여, 그 금형의 요철면을, 기재 필름 상에 형성된 수지층의 표면에 전사하는 방법(엠보싱법)에 의해, 미세 요철 표면을 갖는 방현층을 정밀도 좋게, 또한 재현성 좋게 얻는 것이 가능해진다. 여기서, 「패턴」이란, 전형적으로는, 방현 필름의 미세 요철 표면을 형성하기 위해서 이용되는, 계산기에 의해서 작성된 2계조(예컨대, 백과 흑으로 2진화된 화상 데이터) 또는 3계조 이상의 그라데이션으로 이루어지는 화상 데이터를 의미하지만, 상기 화상 데이터로 일률적으로 변환할 수 있는 데이터(행렬 데이터 등)도 포함할 수 있다. 화상 데이터로 일률적으로 변환할 수 있는 데이터로서는, 각 화소의 좌표 및 계조만이 보존된 데이터 등을 들 수 있다.By using the pattern which shows the energy spectrum which does not have a maximum in the spatial frequency range of more than 0 micrometer -1 and 0.04 micrometer -1 or less, it becomes possible to form the fine uneven surface which has said specific spatial frequency distribution with high precision. Moreover, the anti-glare layer which has a fine uneven | corrugated surface is produced by the method (embossing method) which manufactures the metal mold | die which has an uneven surface based on the said pattern, and transfers the uneven surface of the metal mold | die to the surface of the resin layer formed on the base film. Can be obtained with high accuracy and reproducibility. Here, an "pattern" is typically an image composed of two gradations (for example, image data binarized in white and black) or three gradations created by a calculator, which is used to form a fine uneven surface of an antiglare film. Although it means data, data (matrix data, etc.) which can be converted uniformly to the said image data can also be included. Examples of data that can be uniformly converted into image data include data in which only coordinates and gradations of respective pixels are stored.

상기 공정(A)에서 이용되는 패턴의 에너지 스펙트럼은, 예컨대 화상 데이터라면, 화상 데이터를 2계조의 2진화 화상 데이터로 변환한 후, 화상 데이터의 계조를 이차원 함수 g(x, y)로 나타내고, 얻어진 이차원 함수 g(x, y)를 푸리에 변환하여 이차원 함수 G(fx, fy)를 계산하며, 얻어진 이차원 함수 G(fx, fy)를 제곱함으로써 구해진다. 여기서, x 및 y는 화상 데이터 면내의 직교 좌표를 나타내고, fx 및 fy는 각각, x 방향의 공간 주파수 및 y 방향의 공간 주파수를 나타낸다.If the energy spectrum of the pattern used in the step (A) is, for example, image data, after converting the image data into binary gray image data of two gradations, the gradation of the image data is represented by a two-dimensional function g (x, y), The two-dimensional function g (x, y) obtained is Fourier transformed to calculate the two-dimensional function G (f x , f y ), and is obtained by squaring the obtained two-dimensional function G (f x , f y ). Here, x and y represent rectangular coordinates in the image data plane, and f x and f y represent the spatial frequency in the x direction and the spatial frequency in the y direction, respectively.

미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼을 구하는 경우와 마찬가지로, 패턴의 에너지 스펙트럼을 구하는 경우에 관해서도, 계조의 이차원 함수 g(x, y)는 이산함수로서 얻어지는 경우가 일반적이다. 이 경우는, 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼을 구하는 경우와 마찬가지로, 이산 푸리에 변환에 의해서 에너지 스펙트럼이 계산된다. 구체적으로는, 식(5)으로 정의되는 이산 푸리에 변환에 의해서 이산함수 G(fx, fy)를 계산하고, 얻어진 이산함수 G(fx, fy)를 제곱함으로써 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)가 구해진다. 여기서, 식(5) 중의 π는 원주율, i는 허수 단위이다. 또한, M은 x 방향의 화소수이며, N은 y 방향의 화소수이고, l은 -M/2 이상 M/2 이하의 정수, m은 -N/2 이상 N/2 이하의 정수이다. 게다가, Δfx 및 Δfy는 각각 x 방향 및 y 방향의 공간 주파수 간격이며, 각각 식(6) 및 식(7)으로 정의된다. 식(6) 및 식(7) 중의 Δx 및 Δy는 각각 x축 방향, y축 방향에 있어서의 수평 분해능이다. 한편, 패턴이 화상 데이터인 경우에는, Δx 및 Δy는 각각 1 화소의 x축 방향의 길이 및 y축 방향의 길이와 같다. 즉, 6400 dpi의 화상 데이터로서 패턴을 작성한 경우에는 Δx=Δy=4 ㎛이며, 12800 dpi의 화상 데이터로서 패턴을 작성한 경우에는 Δx=Δy=2 ㎛이다.As in the case of obtaining the energy spectrum of the elevation of the fine uneven surface, also in the case of obtaining the energy spectrum of the pattern, the two-dimensional function g (x, y) of the gray scale is generally obtained as a discrete function. In this case, the energy spectrum is calculated by the Discrete Fourier Transform as in the case of obtaining the energy spectrum of the elevation of the fine uneven surface. Specifically, the energy spectrum G 2 (f is calculated by calculating the discrete function G (f x , f y ) by the Discrete Fourier Transform defined by Equation (5), and by squaring the obtained discrete function G (f x , f y ). x , f y ) are obtained. Is the circumference and i is the imaginary unit. Further, M is the number of pixels in the x direction, N is the number of pixels in the y direction, l is an integer of -M / 2 or more and M / 2 or less, and m is an integer of -N / 2 or more and N / 2 or less. Furthermore, Δf x and Δf y are spatial frequency intervals in the x and y directions, respectively, and are defined by equations (6) and (7), respectively. (DELTA) x and (DELTA) y in Formula (6) and Formula (7) are horizontal resolution in an x-axis direction and a y-axis direction, respectively. On the other hand, when the pattern is image data, Δx and Δy are equal to the length in the x-axis direction and the length in the y-axis direction of one pixel, respectively. That is, when a pattern is created as image data of 6400 dpi, Δx = Δy = 4 μm, and when a pattern is created as image data of 12800 dpi, Δx = Δy = 2 μm.

Figure pat00004
Figure pat00004

Figure pat00005
Figure pat00005

도 9는 본 발명의 방현 필름을 제작하기 위해서 이용할 수 있는 패턴인 화상 데이터의 일부를 도시한 도면이며, 계조의 이차원 이산함수 g(x, y)로 나타낸 것이다. 도 9에 도시한 패턴인 화상 데이터는 2 ㎜×2 ㎜의 크기이며, 12800 dpi로 작성했다.FIG. 9 is a diagram showing a part of image data which is a pattern that can be used for producing the antiglare film of the present invention, and is represented by a two-dimensional discrete function g (x, y) of gray scale. The image data of the pattern shown in FIG. 9 was 2 mm x 2 mm in size, and was created at 12800 dpi.

도 10은 도 9에 도시한 계조의 이차원 이산함수 g(x, y)를 이산 푸리에 변환하여 얻어진 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)를 백과 흑의 그라데이션으로 나타낸 도면이다. 도 9에 도시된 패턴은, 도트를 랜덤하게 배치한 것이기 때문에, 그 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)는, 도 10에 도시된 바와 같이, 원점을 중심으로 대칭이 된다. 따라서, 패턴의 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)의 극대치를 보이는 공간 주파수는 에너지 스펙트럼의 원점을 지나는 단면으로부터 구할 수 있다. 도 11은 도 10에 도시한 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)의 fx=0에서의 단면을 도시하는 도면이다. 이로부터 도 9에 도시한 패턴은, 공간 주파수 0.045 ㎛-1에 극대치를 갖지만, 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 범위 내에는 극대치를 갖지 않음을 알 수 있다. FIG. 10 is a diagram showing energy spectra G 2 (f x , f y ) obtained by discrete Fourier transforming the two-dimensional discrete functions g (x, y) of the gray scale shown in FIG. Figure 9 is the pattern shown in, because the randomly placed dots, the energy spectrum G 2 (f x, f y ) , as shown in Figure 10, is a symmetry around the origin. Therefore, the spatial frequency showing the maximum value of the energy spectrum G 2 (f x , f y ) of the pattern can be obtained from the cross section passing through the origin of the energy spectrum. FIG. 11 is a diagram showing a cross section at f x = 0 of the energy spectrum G 2 (f x , f y ) shown in FIG. 10. From this, it can be seen that the pattern shown in FIG. 9 has a maximum value at a spatial frequency of 0.045 μm −1 but does not have a maximum value within a range of more than 0 μm −1 and 0.04 μm −1 or less.

방현 필름을 제작하기 위한 패턴의 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)가 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 공간 주파수 범위 내에 극대치를 갖는 경우에는, 얻어지는 방현 필름의 미세 요철 표면이 상기한 특정한 공간 주파수 분포를 나타내지 않게 되기 때문에, 눈부심의 해소와 충분한 방현성을 겸비할 수 없다.When the anti-glare energy spectrum of the pattern to produce a film G 2 (f x, f y ) having the maximum value in the spatial frequency range of greater than 0 ㎛ -1 0.04 ㎛ -1 or less, the fine uneven surface of the resultant anti-glare film, the Since it does not exhibit a specific spatial frequency distribution, it cannot combine glare elimination and sufficient anti-glare property.

에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)가 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 공간 주파수 범위 내에 극대치를 갖지 않는 패턴은, 예컨대 도 9에 도시된 패턴과 같이, 다수의 도트를 랜덤하게 또한 균일하게 배치함으로써 작성할 수 있다. 랜덤하게 배치하는 도트 직경은 한 종류라도 좋고, 복수 종류라도 좋다. 다수의 도트를 랜덤하게 배치하여 작성한 패턴에 있어서는, 에너지 스펙트럼은 도트 사이의 평균 거리의 역수인 공간 주파수에 제1 극대치(0 ㎛-1 초과 공간 주파수의 최소의 공간 주파수에 있어서의 극대치)를 보인다. 따라서, 에너지 스펙트럼이 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 범위 내에 극대치를 갖지 않는 패턴을 작성하기 위해서는, 도트 사이의 평균 거리가 25 ㎛ 미만이 되도록 패턴을 작성하면 된다. 또한, 방현 필름의 공간 주파수 0.1 ㎛-1에서의 미세 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H3 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H3 2/H2 2)를 0.1 이하로 하기 위해서, 패턴의 에너지 스펙트럼은, 0.04 ㎛-1 초과 0.1 ㎛-1 미만의 공간 주파수 범위 내에서 극대치를 갖는 것이 바람직하다. 이러한 패턴은, 도트 사이의 평균 거리가 10 ㎛ 초과 25 ㎛ 미만의 범위 내가 되도록 작성함으로써 얻어진다.A pattern in which the energy spectrum G 2 (f x , f y ) does not have a maximum within the spatial frequency range of more than 0 μm −1 and less than 0.04 μm −1 is randomly arranged in a plurality of dots, for example, as shown in FIG. 9. Moreover, it can create by arrange | positioning uniformly. One type of dot diameter arrange | positioned at random may be sufficient, and two or more types may be sufficient as it. In a pattern created by arranging a large number of dots randomly, the energy spectrum shows a first maximum value (maximum value at the minimum spatial frequency of the spatial frequency exceeding 0 μm −1) at a spatial frequency that is an inverse of the average distance between the dots. . Therefore, in order to produce the pattern which does not have a maximum in the range whose energy spectrum is more than 0 micrometer -1 and 0.04 micrometer -1 or less, what is necessary is just to create a pattern so that the average distance between dots may be less than 25 micrometers. In addition, the ratio (H 3 ) of the energy spectrum (H 3 2 ) of the elevation of the fine uneven surface at the spatial frequency of 0.1 μm −1 of the antiglare film and the energy spectrum (H 2 2 ) of the elevation at the spatial frequency of 0.04 μm −1 to a 2 / H 2 2) to 0.1 or less, the energy spectrum of the pattern, it is preferable to have a maximum value in excess of 0.04 ㎛ -1 spatial frequency range below 0.1 ㎛ -1. Such a pattern is obtained by creating so that the average distance between dots may be more than 10 micrometers and less than 25 micrometers.

또한, 이러한 다수의 도트를 랜덤하게 배치하여 작성한 패턴으로부터, 특정한 공간 주파수 이하의 저공간 주파수 성분을 제거하는 하이패스 필터를 통과시켜 얻어진 패턴을 이용할 수도 있다. 또한, 다수의 도트를 랜덤하게 배치하여 작성한 패턴으로부터, 특정한 공간 주파수 이하의 저공간 주파수 성분과 특정한 공간 주파수 이상의 고공간 주파수 성분을 제거하는 밴드패스 필터를 통과시켜 얻어진 패턴을 이용할 수도 있다.Moreover, the pattern obtained by passing the high pass filter which removes the low spatial frequency component below a specific spatial frequency from the pattern which arrange | positioned such a large number of dots at random can also be used. Further, a pattern obtained by passing a low-pass frequency component below a specific spatial frequency and a high-pass frequency component above a specific spatial frequency from a pattern created by arranging a plurality of dots randomly may be used.

도 11에 도시한 바와 같이, 다수의 도트를 랜덤하게 배치하여 작성한 패턴의 에너지 스펙트럼은, 배치하는 도트의 도트 직경과 도트 사이의 평균 거리에 의존하는 극대치를 보인다. 이러한 패턴을 상기 하이패스 필터 혹은 상기 밴드패스 필터에 통과시킴으로써, 불필요한 성분을 제거할 수 있다. 이와 같이 하이패스 필터 혹은 밴드패스 필터를 통과시킨 패턴의 에너지 스펙트럼은, 필터에 의해서 성분을 제거하고 있기 때문에, 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 공간 주파수 범위 내에서 극대치를 갖지 않는다. 또한, 보다 효율적으로 0.04 ㎛-1 초과 0.1 ㎛-1 미만의 공간 주파수 범위 내에 극대치를 갖는 패턴을 작성할 수 있다. 여기서, 상기 하이패스 필터를 이용하는 경우에는, 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 공간 주파수 범위 내의 극대치를 제거하기 위해서, 제거하는 저공간 주파수 성분의 상한 공간 주파수는 0.04 ㎛-1 이하인 것이 바람직하다. 또한, 상기 밴드패스 필터를 이용하는 경우, 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 공간 주파수 범위 내의 극대치를 제거하고, 0.04 ㎛-1 초과 0.1 ㎛-1 미만의 공간 주파수 범위 내에 극대치를 갖도록 하기 위해서, 제거하는 저공간 주파수 성분의 상한 공간 주파수는 0.04 ㎛-1 이하인 것이 바람직하고, 제거하는 고공간 주파수 성분의 하한 공간 주파수는 0.08 ㎛-1 이상인 것이 바람직하다.As shown in FIG. 11, the energy spectrum of the pattern created by arranging many dots at random shows the maximum value which depends on the dot diameter of the arrange | positioning dot and the average distance between dots. By passing such a pattern through the high pass filter or the band pass filter, unnecessary components can be removed. The energy spectrum of the pattern which passed the high pass filter or the bandpass filter in this way does not have a maximum in the spatial frequency range of more than 0 micrometer -1 and 0.04 micrometer -1 or less, since the component is removed by the filter. Further, it is possible to write a pattern with a maximum value in excess of 0.04 ㎛ -1 spatial frequency range below 0.1 ㎛ -1 more efficiently. Here, when using the said high pass filter, in order to remove the local maximum in the spatial frequency range of more than 0 micrometer -1 and 0.04 micrometer -1 or less, it is preferable that the upper limit spatial frequency of the low spatial frequency component to remove is 0.04 micrometer -1 or less. Do. In addition, in the case of using the bandpass filter, in order to remove the maximum value within the spatial frequency range of more than 0 μm −1 and less than 0.04 μm −1 , and to have the maximum value within the spatial frequency range of more than 0.04 μm −1 and less than 0.1 μm −1 . The upper limit spatial frequency of the low spatial frequency component to be removed is preferably 0.04 µm -1 or less, and the lower limit spatial frequency of the high spatial frequency component to be removed is preferably 0.08 µm -1 or more.

하이패스 필터나 밴드패스 필터 등을 통과시키는 수법을 이용하여 패턴을 작성하는 경우에는, 필터를 통과시키기 전의 패턴으로서, 난수 혹은 계산기에 의해서 생성된 의사(擬似) 난수에 의해 농담을 결정한 랜덤한 명도 분포를 갖는 패턴을 이용할 수도 있다.In the case of creating a pattern using a method of passing a high pass filter, a band pass filter, or the like, a random brightness determined by a random number or pseudo random number generated by a calculator as a pattern before passing the filter. Patterns with distributions may also be used.

이상과 같은 식으로 얻어지는 패턴에 기초하여 금형을 제작하는 방법의 상세한 점에 관해서는 후술한다.The detail of the method of manufacturing a metal mold | die based on the pattern obtained by the above formula is mentioned later.

상기 공정(B)은, 엠보싱법에 의해서 미세 요철 표면을 갖는 방현층을 기재 필름 상에 형성하는 공정이다. 엠보싱법으로서는, 광경화형 수지를 이용하는 UV 엠보싱법, 열가소성 수지를 이용하는 핫 엠보싱법이 예시되며, 그 중에서도 생산성의 관점에서 UV 엠보싱법이 바람직하다. UV 엠보싱법에서는, 기재 필름의 표면에 광경화형 수지층을 형성하고, 그 광경화형 수지층을 금형의 요철면에 밀어붙이면서 경화시킴으로써 금형의 요철면이 광경화형 수지층 표면에 전사된다. 보다 구체적으로는, 기재 필름 상에 광경화형 수지를 포함하는 도공액을 도공하고, 도공한 광경화형 수지를 금형의 요철면에 밀착시킨 상태에서, 기재 필름측에서 자외선 등의 빛을 조사하여 광경화형 수지를 경화시키며, 그 후 금형으로부터, 경화 후의 광경화형 수지층이 형성된 기재 필름을 박리함으로써, 금형의 요철 형상이 경화 후의 광경화형 수지층(방현층)에 전사된 방현 필름을 얻을 수 있다.The said process (B) is a process of forming the anti-glare layer which has a fine uneven surface by the embossing method on a base film. As an embossing method, the UV embossing method using a photocurable resin and the hot embossing method using a thermoplastic resin are illustrated, and UV embossing method is preferable especially from a viewpoint of productivity. In the UV embossing method, a photocurable resin layer is formed on the surface of the base film, and the photocurable resin layer is transferred to the photocurable resin layer surface by curing while pushing the photocurable resin layer onto the uneven surface of the mold. More specifically, the coating liquid containing photocurable resin is coated on a base film, and the photocurable resin was irradiated with light, such as an ultraviolet-ray, on the base film side in the state which adhere | attached the uneven surface of the metal mold | die, photocurable The anti-glare film in which the uneven | corrugated shape of the metal mold | die was transferred to the photocurable resin layer (anti-glare layer) after hardening can be obtained by hardening resin and peeling the base film in which the photocurable resin layer after hardening was formed from the metal mold | die after that.

UV 엠보싱법을 이용하는 경우에 있어서의 광경화형 수지로서는, 자외선에 의해 경화되는 자외선경화형 수지가 바람직하게 이용되지만, 자외선경화형 수지에 적절하게 선택된 광개시제를 조합시켜, 자외선보다 파장이 긴 가시광으로도 경화가 가능한 수지를 이용할 수도 있다. 자외선경화형 수지의 종류는 특별히 한정되지 않고, 시판되는 적절한 것을 이용할 수 있다. 자외선경화형 수지의 적합한 예는, 트리메틸올프로판트리아크릴레이트, 펜타에리스리톨테트라아크릴레이트 등의 다관능 아크릴레이트의 1종 또는 2종 이상과, Irgacure 907(치바·스페셜티·케미컬즈사 제조), Irgacure 184(치바·스페셜티티·케미컬즈사 제조), Lucirin TPO(BASF사 제조) 등의 광중합개시제를 포함하는 수지 조성물이다. 이들 자외선경화형 수지에 필요에 따라서 미립자나 용매 등을 첨가하여, 상기 도공액이 조제된다.As the photocurable resin in the case of using the UV embossing method, an ultraviolet curable resin that is cured by ultraviolet rays is preferably used, but curing is performed even with visible light having a longer wavelength than ultraviolet rays by combining an appropriately selected photoinitiator with the ultraviolet curable resin. Possible resins can also be used. The kind of ultraviolet curable resin is not specifically limited, A commercially available suitable thing can be used. Suitable examples of ultraviolet curable resins include one or two or more kinds of polyfunctional acrylates such as trimethylolpropane triacrylate and pentaerythritol tetraacrylate, Irgacure 907 (manufactured by Chiba Specialty Chemicals Co., Ltd.), Irgacure 184 ( It is a resin composition containing photoinitiators, such as Chiba Specialty Chemicals Corporation) and Lucirin TPO (BASF Corporation). Fine particles, a solvent, etc. are added to these ultraviolet curable resins as needed, and the said coating liquid is prepared.

<방현 필름 제조용 금형의 제조 방법> <Method for producing mold for antiglare film production>

이하에서는, 본 발명의 방현 필름의 제조에 이용하는 금형을 제조하는 방법에 관해서 설명한다. 본 발명의 방현 필름의 제조에 이용하는 금형의 제조 방법에 대해서는, 전술한 패턴에 기초한 소정의 표면 형상을 얻을 수 있는 방법이라면, 특별히 제한되지 않지만, 미세 요철 표면을 정밀도 좋게, 그리고 재현성 좋게 제조하기 위해서, 〔1〕 제1 도금 공정과, 〔2〕 연마 공정과, 〔3〕 감광성 수지막 형성 공정과, 〔4〕 노광 공정과, 〔5〕 현상 공정과, 〔6〕 제1 에칭 공정과, 〔7〕 감광성 수지막 박리 공정과, 〔8〕 제2 도금 공정을 기본적으로 포함하는 것이 바람직하다. 도 12는 금형 제조 방법의 전반 부분의 바람직한 일례를 모식적으로 도시하는 도면이며, 도 13은 금형 제조 방법의 후반 부분의 바람직한 일례를 모식적으로 도시하는 도면이다. 도 12 및 도 13에는 각 공정에서의 금형의 단면을 모식적으로 나타내고 있다. 이하, 도 12 및 도 13을 참조하면서 상기 각 공정에 관해서 상세히 설명한다.Hereinafter, the method of manufacturing the metal mold | die used for manufacture of the anti-glare film of this invention is demonstrated. The manufacturing method of the metal mold | die used for manufacture of the anti-glare film of this invention is not restrict | limited especially if it is a method which can obtain the predetermined surface shape based on the pattern mentioned above, In order to manufacture fine uneven surface precisely and reproducibly, [1] a first plating step, [2] polishing step, [3] photosensitive resin film forming step, [4] exposure step, [5] developing step, [6] first etching step, [7] It is preferable to basically include a photosensitive resin film peeling step and a [8] second plating step. It is a figure which shows typically a preferable example of the first half part of a metal mold | die manufacturing method, and FIG. 13 is a figure which shows a preferable example of the latter part of a metal mold | die manufacturing method typically. 12 and 13 schematically show cross sections of the mold in each step. Hereinafter, each process is explained in full detail, referring FIG. 12 and FIG.

〔1〕 제1 도금 공정[1] first plating process

본 공정에서는, 금형에 이용하는 기재의 표면에, 구리 도금 또는 니켈 도금을 실시한다. 이와 같이, 금형용 기재의 표면에 구리 도금 또는 니켈 도금을 실시함으로써, 나중의 제2 도금 공정에 있어서의 크롬 도금의 밀착성이나 광택성을 향상시킬 수 있다. 이것은, 구리 도금 또는 니켈 도금은 피복성이 높고, 또한 평활화 작용이 강하므로, 금형용 기재의 미소한 요철이나 구멍(cavity) 등을 메워 평탄하고 광택이 있는 표면을 형성하기 위해서이다. 이들 구리 도금 또는 니켈 도금의 특성에 의해서, 후술하는 제2 도금 공정에서 크롬 도금을 실시했다고 해도, 기재에 존재하고 있었던 미소한 요철이나 구멍에 기인한다고 고려되는 크롬 도금 표면의 거칠음이 해소되고, 또한 구리 도금 또는 니켈 도금의 피복성이 높기 때문에, 미세한 크랙의 발생이 저감된다.In this process, copper plating or nickel plating is given to the surface of the base material used for a metal mold | die. Thus, by performing copper plating or nickel plating on the surface of the base material for metal mold | die, the adhesiveness and glossiness of chrome plating in a later 2nd plating process can be improved. This is because copper plating or nickel plating has a high coating property and a strong smoothing action, so as to fill a minute unevenness or cavity of the base material for a mold and to form a flat and glossy surface. By the characteristics of these copper plating or nickel plating, even if chromium plating is performed in the 2nd plating process mentioned later, the roughness of the chromium plating surface considered to originate in the minute unevenness | corrugation and the hole which existed in the base material is eliminated, and also Since the coating property of copper plating or nickel plating is high, generation | occurrence | production of a minute crack is reduced.

제1 도금 공정에서 이용되는 구리 또는 니켈로서는, 각각의 순금속일 수 있고, 그 외에 구리를 주체로 하는 합금, 또는 니켈을 주체로 하는 합금일 수도 있으며, 따라서 본 명세서에서 말하는 「구리」는 구리 및 구리 합금을 포함하는 의미이고, 또한 「니켈」은 니켈 및 니켈 합금을 포함하는 의미이다. 구리 도금 및 니켈 도금은 각각 전해 도금으로 행하더라도 무전해 도금으로 행하더라도 좋지만, 통상은 전해도금이 채용된다.As the copper or nickel used in the first plating step, the respective pure metals may be used. In addition, an alloy mainly composed of copper or an alloy mainly composed of nickel may be used. Therefore, "copper" as used herein refers to copper and It is a meaning containing a copper alloy, and "nickel" is a meaning containing nickel and a nickel alloy. Copper plating and nickel plating may be performed by electrolytic plating or electroless plating, respectively, but electroplating is usually employed.

구리 도금 또는 니켈 도금을 실시할 때에는, 도금층이 너무 얇으면, 하지 표면의 영향을 배제할 수 없으므로, 그 두께는 50 ㎛ 이상인 것이 바람직하다. 도금층 두께의 상한은 임계적은 아니지만, 비용 등을 감안하여, 500 ㎛ 정도까지로 하는 것이 바람직하다.When carrying out copper plating or nickel plating, if the plating layer is too thin, the influence of the underlying surface cannot be excluded, and the thickness thereof is preferably 50 µm or more. Although the upper limit of the plating layer thickness is not critical, it is preferable to set it to about 500 micrometers in consideration of cost and the like.

금형용 기재를 구성하는 금속 재료로서는, 비용의 관점에서 알루미늄, 철 등을 들 수 있다. 또한, 취급의 편리성을 고려하면, 경량의 알루미늄을 이용하는 것이 바람직하다. 여기서 말하는 알루미늄이나 철도, 각각 순금속일 수 있고, 그 외에 알루미늄 또는 철을 주체로 하는 합금일 수도 있다.As a metal material which comprises the base material for metal mold | die, aluminum, iron, etc. are mentioned from a cost viewpoint. Moreover, in consideration of the convenience of handling, it is preferable to use lightweight aluminum. It may be aluminum or a railroad here, and a pure metal, respectively, In addition, the alloy which mainly uses aluminum or iron may be sufficient.

또한, 금형용 기재의 형상은 그 분야에서 종래 채용되고 있는 적절한 형상이라도 좋고, 예컨대 평판형 외에, 원기둥형 또는 원통형의 롤이라도 좋다. 롤형의 기재를 이용하여 금형을 제작하면, 방현 필름을 연속적인 롤형으로 제조할 수 있다고 하는 이점이 있다.In addition, the shape of the base material for a metal mold | die may be a suitable shape conventionally employ | adopted in the field | area, for example, a cylindrical or cylindrical roll other than a flat plate shape may be sufficient. When a metal mold | die is produced using a roll base material, there exists an advantage that an anti-glare film can be manufactured in a continuous roll shape.

〔2〕 연마 공정[2] polishing process

이어지는 연마 공정에서는, 전술한 제1 도금 공정에서 구리 도금 또는 니켈 도금이 실시된 기재 표면을 연마한다. 이 공정을 거쳐, 기재 표면은 경면에 가까운 상태로 연마되는 것이 바람직하다. 이것은, 기재가 되는 금속판이나 금속 롤은, 원하는 정밀도로 만들기 위해서, 절삭이나 연삭 등의 기계 가공이 실시되고 있는 경우가 많고, 이에 따라 기재 표면에 가공 자국이 남아, 구리 도금 또는 니켈 도금이 실시된 상태라도, 이들 가공 자국이 남는 경우가 있으며, 또한 도금한 상태에서, 표면이 완전히 평활하게 되는 것은 아니기 때문이다. 즉, 이러한 깊은 가공 자국 등이 남은 표면에 후술하는 공정을 실시했다고 해도, 각 공정을 실시한 후에 형성되는 요철보다도 가공 자국 등의 요철 쪽이 깊은 경우가 있어, 가공 자국 등의 영향이 남을 가능성이 있으며, 이와 같은 금형을 이용하여 방현 필름을 제조한 경우에는, 광학 특성에 예기치 못한 영향을 미치게 하는 경우가 있다. 도 12의 (a)에는, 평판형의 금형용 기재(7)가, 제1 도금 공정에서 구리 도금 또는 니켈 도금이 그 표면에 실시되고(이 공정에서 형성한 구리 도금 또는 니켈 도금의 층에 관해서는 도시하지 않음), 또한 연마 공정에 의해서 경면 연마된 표면(8)을 갖게 된 상태를 모식적으로 나타내고 있다.In the subsequent polishing process, the surface of the base material subjected to copper plating or nickel plating in the above-described first plating process is polished. Through this step, the surface of the substrate is preferably polished in a state close to the mirror surface. In order to make a metal plate and a metal roll used as a base material with the desired precision, machining or cutting etc. are often performed, and the process mark remains on the surface of a base material, and copper plating or nickel plating was performed by this. This is because these processing marks may remain even in the state, and the surface is not completely smoothed in the plated state. In other words, even if the process described below is performed on the surface where such deep processing marks and the like remain, the irregularities such as the processing marks may be deeper than the irregularities formed after each process, and the influence of the processing marks and the like may remain. When an anti-glare film is manufactured using such a metal mold | die, it may have an unexpected influence on an optical characteristic. In FIG. 12 (a), the base material for flat metal mold 7 is subjected to copper plating or nickel plating on its surface in the first plating process (about the copper plating or nickel plating layer formed in this process). (Not shown), and also the state which had the surface 8 polished by the mirror process is shown typically.

구리 도금 또는 니켈 도금이 실시된 기재 표면을 연마하는 방법에 관해서는 특별히 제한되는 것은 아니며, 기계 연마법, 전해 연마법, 화학 연마법 중 어느 것이나 사용할 수 있다. 기계 연마법으로서는, 초마무리법, 랩핑, 유체 연마법, 버프 연마법 등이 예시된다. 또한, 절삭 공구를 이용하여 경면 절삭함으로써, 금형용 기재 표면(7)을 경면으로 만들어도 좋다. 이때의 절삭 공구의 재질이나 형상 등은 특별히 제한되는 것은 아니며, 초경 바이트, CBN 바이트, 세라믹 바이트, 다이아몬드 바이트 등을 사용할 수 있지만, 가공 정밀도의 관점에서 다이아몬드 바이트를 이용하는 것이 바람직하다.The method for polishing the surface of the substrate subjected to copper plating or nickel plating is not particularly limited, and any of mechanical polishing, electrolytic polishing and chemical polishing can be used. Examples of the mechanical polishing method include ultrafinishing, lapping, fluid polishing, buff polishing, and the like. In addition, you may make the base material surface 7 for metal mold | die mirror-mirror by mirror-cutting using a cutting tool. The material, shape, etc. of the cutting tool at this time are not particularly limited. Carbide bites, CBN bites, ceramic bites, diamond bites and the like can be used, but diamond bites are preferably used from the viewpoint of processing precision.

연마 후의 표면 조도는, JIS B 0601의 규정에 준거한 중심선 평균 거칠기(Ra)가 0.1 ㎛ 이하인 것이 바람직하고, 0.05 ㎛ 이하인 것이 보다 바람직하다. 연마 후의 중심선 평균 거칠기(Ra)가 0.1 ㎛보다 크면, 최종적인 금형 표면의 요철 형상에 연마 후의 표면 조도의 영향이 남을 가능성이 있다. 또한, 중심선 평균 거칠기(Ra)의 하한에 대해서는 특별히 제한되지 않고, 가공 시간이나 가공 비용 등을 고려하여 적절하게 결정된다.As for the surface roughness after grinding | polishing, it is preferable that centerline average roughness Ra based on the specification of JISB0601 is 0.1 micrometer or less, and it is more preferable that it is 0.05 micrometer or less. If the centerline average roughness Ra after polishing is larger than 0.1 µm, there is a possibility that the influence of surface roughness after polishing remains on the uneven shape of the final mold surface. The lower limit of the center line average roughness Ra is not particularly limited and is appropriately determined in consideration of machining time, machining cost and the like.

〔3〕 감광성 수지막 형성 공정[3] photosensitive resin film forming step

이어지는 감광성 수지막 형성 공정에서는, 전술한 연마 공정에 의해서 경면 연마를 실시한 금형용 기재(7)의 연마된 표면(8)에, 감광성 수지를 용매에 용해한 용액으로서 도포하고, 가열·건조함으로써, 감광성 수지막을 형성한다. 도 12의 (b)에는, 금형용 기재(7)의 연마된 표면(8)에 감광성 수지막(9)이 형성된 상태를 모식적으로 나타내고 있다.In the following photosensitive resin film formation process, the photosensitive resin is apply | coated as the solution which melt | dissolved photosensitive resin in the solvent, and heated and dried to the polished surface 8 of the base material 7 for mirrors which performed mirror polishing by the above-mentioned grinding | polishing process, To form a film. FIG. 12B schematically shows a state in which the photosensitive resin film 9 is formed on the polished surface 8 of the base material for metal mold 7.

감광성 수지로서는 종래 공지된 감광성 수지를 이용할 수 있다. 감광 부분이 경화되는 성질을 지닌 네거티브형의 감광성 수지로서는, 예컨대 분자 중에 아크릴기 또는 메타아크릴기를 갖는 아크릴산에스테르의 단량체나 프리폴리머, 비스아지드와 디엔고무의 혼합물, 폴리비닐신나메이트계 화합물 등을 이용할 수 있다. 또한, 현상에 의해 감광 부분이 용출되고, 미감광 부분만이 남는 성질을 지닌 포지티브형의 감광성 수지로서는, 예컨대 페놀 수지계나 노볼락 수지계 등을 이용할 수 있다. 또한, 감광성 수지에는, 필요에 따라서, 증감제, 현상촉진제, 밀착성개질제, 도포성개량제 등의 각종 첨가제를 배합하더라도 좋다.Conventionally well-known photosensitive resin can be used as photosensitive resin. As a negative photosensitive resin which has a property which hardens a photosensitive part, the monomer and prepolymer of an acrylic ester which has an acryl group or a methacryl group in a molecule | numerator, a mixture of bis azide and diene rubber, a polyvinyl cinnamate type compound, etc. are used, for example. Can be. Moreover, a phenol resin type, a novolak resin type, etc. can be used as positive type photosensitive resin which has the property which a photosensitive part elutes by development and only an unphotosensitive part remains. Moreover, you may mix | blend various additives, such as a sensitizer, a development promoter, an adhesive modifier, and a coating property improving agent, with photosensitive resin as needed.

이들 감광성 수지를 금형용 기재(7)의 연마된 표면(8)에 도포할 때에는, 양호한 도포막을 형성하기 위해서, 적당한 용매에 희석하여 도포하는 것이 바람직하다. 용매로서는, 셀로솔브계 용매, 프로필렌글리콜계 용매, 에스테르계 용매, 알코올계 용매, 케톤계 용매, 고극성 용매 등을 사용할 수 있다.When applying these photosensitive resins to the polished surface 8 of the base material 7 for metal mold | die, it is preferable to dilute and apply in a suitable solvent, in order to form a favorable coating film. As the solvent, a cellosolve solvent, a propylene glycol solvent, an ester solvent, an alcohol solvent, a ketone solvent, a high polar solvent, or the like can be used.

감광성 수지 용액을 도포하는 방법으로서는, 메니스커스 코팅, 파운틴 코팅, 디프 코팅, 회전 도포, 롤 도포, 와이어바 도포, 에어나이프 도포, 블레이드 도포 및 커튼 도포 등의 공지된 방법을 이용할 수 있다. 도포막의 두께는 건조 후에 1∼6 ㎛의 범위로 하는 것이 바람직하다.As a method of applying the photosensitive resin solution, known methods such as meniscus coating, fountain coating, dip coating, rotary coating, roll coating, wire bar coating, air knife coating, blade coating and curtain coating can be used. It is preferable to make the thickness of a coating film into the range of 1-6 micrometers after drying.

〔4〕 노광 공정[4] exposure step

이어지는 노광 공정에서는, 상기 에너지 스펙트럼이 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 공간 주파수 범위 내에 극대치를 갖지 않는 패턴을, 전술한 감광성 수지막 형성 공정에서 형성된 감광성 수지막(9) 상에 노광한다. 노광 공정에 이용하는 광원은, 도포된 감광성 수지의 감광 파장이나 감도 등에 맞춰 적절하게 선택하면 되며, 예컨대 고압 수은등의 g선(파장 : 436 nm), 고압 수은등의 h선(파장 : 405 nm), 고압 수은등의 i선(파장 : 365 nm), 반도체 레이저(파장 : 830 nm, 532 nm, 488 nm, 405 nm 등), YAG 레이저(파장 : 1064 nm), KrF 엑시머 레이저(파장 : 248 nm), ArF 엑시머 레이저(파장 : 193 nm), F2 엑시머 레이저(파장 : 157 nm) 등을 이용할 수 있다.In the following exposure process, the pattern whose energy spectrum does not have a maximum in the spatial frequency range of more than 0 micrometer -1 and 0.04 micrometer -1 or less is exposed on the photosensitive resin film 9 formed in the photosensitive resin film formation process mentioned above. . What is necessary is just to select suitably the light source used for an exposure process according to the photosensitive wavelength, sensitivity, etc. of the apply | coated photosensitive resin, For example, g line (wavelength: 436 nm) of high pressure mercury lamp, h line (wavelength: 405 nm) of high pressure mercury lamp, high pressure I-ray of mercury lamp (wavelength: 365 nm), semiconductor laser (wavelength: 830 nm, 532 nm, 488 nm, 405 nm, etc.), YAG laser (wavelength: 1064 nm), KrF excimer laser (wavelength: 248 nm), ArF Excimer laser (wavelength: 193 nm), F2 excimer laser (wavelength: 157 nm), and the like.

금형의 표면 요철 형상, 나아가서는 방현층의 표면 요철 형상을 정밀도 좋게 형성하기 위해서는, 노광 공정에서, 상기 패턴을 감광성 수지막 상에 정밀하게 제어된 상태로 노광하는 것이 바람직하며, 구체적으로는, 컴퓨터 상에서 패턴을 화상 데이터로서 작성하고, 그 화상 데이터에 기초하여, 컴퓨터 제어된 레이저 헤드로부터 발하는 레이저광에 의해서 감광성 수지막 상에 패턴을 묘화하는 것이 바람직하다. 레이저 묘화를 함에 있어서는, 인쇄판 작성용의 레이저 묘화 장치를 사용할 수 있다. 이러한 레이저 묘화 장치로서는, 예컨대 Laser Stream FX[(주)싱크·라보라토리 제조] 등을 들 수 있다.In order to form the surface uneven shape of a metal mold | die and also the surface uneven | corrugated shape of an anti-glare layer with high precision, it is preferable at the exposure process to expose the said pattern on the photosensitive resin film in the state controlled precisely, Specifically, a computer It is preferable to create a pattern as image data on the image, and draw a pattern on the photosensitive resin film by the laser beam emitted from a computer-controlled laser head based on the image data. In laser drawing, the laser drawing apparatus for printing plate preparation can be used. Examples of such a laser drawing apparatus include Laser Stream FX (manufactured by Sink Laboratories).

도 12의 (c)에는 감광성 수지막(9)에 패턴이 노광된 상태를 모식적으로 나타내고 있다. 감광성 수지막을 네거티브형의 감광성 수지로 형성한 경우에는, 노광된 영역(10)은 노광에 의해서 수지의 가교 반응이 진행되어, 후술하는 현상액에 대한 용해성이 저하된다. 따라서, 현상 공정에서 노광되고 있지 않은 영역(11)이 현상액에 의해서 용해되고, 노광된 영역(10)만 기재 표면 상에 남아 마스크가 된다. 한편, 감광성 수지막을 포지티브형의 감광성 수지로 형성한 경우에는, 노광된 영역(10)은 노광에 의해서 수지의 결합이 절단되어, 후술하는 현상액에 대한 용해성이 증가한다. 따라서, 현상 공정에서 노광된 영역(10)이 현상액에 의해서 용해되고, 노광되고 있지 않은 영역(11)만 기재 표면 상에 남아 마스크가 된다.FIG. 12C schematically shows a state in which a pattern is exposed on the photosensitive resin film 9. In the case where the photosensitive resin film is formed of negative photosensitive resin, crosslinking reaction of the resin proceeds in the exposed region 10 by exposure, and the solubility in the developer described later is lowered. Therefore, the area | region 11 which is not exposed in the image development process is melt | dissolved with a developing solution, and only the exposed area | region 10 remains on a surface of a base material, and becomes a mask. On the other hand, in the case where the photosensitive resin film is formed of a positive photosensitive resin, the bond of the resin is cut in the exposed region 10 by exposure, and the solubility in the developer described later increases. Therefore, the region 10 exposed in the developing step is dissolved by the developer, and only the region 11 that is not exposed remains on the substrate surface to become a mask.

〔5〕 현상 공정[5] Development process

이어지는 현상 공정에서는, 감광성 수지막(9)에 네거티브형의 감광성 수지를 이용한 경우에는, 노광되고 있지 않은 영역(11)은 현상액에 의해서 용해되고, 노광된 영역(10)만 금형용 기재 상에 잔존하여, 이어지는 제1 에칭 공정에서 마스크로서 작용한다. 한편, 감광성 수지막(9)에 포지티브형의 감광성 수지를 이용한 경우에는, 노광된 영역(10)만 현상액에 의해서 용해되고, 노광되고 있지 않은 영역(11)이 금형용 기재 상에 잔존하여, 이어지는 제1 에칭 공정에 있어서 마스크로서 작용한다.In the subsequent developing step, when a negative photosensitive resin is used for the photosensitive resin film 9, the unexposed regions 11 are dissolved by a developer, and only the exposed regions 10 remain on the mold substrate. And as a mask in the subsequent first etching process. On the other hand, when positive type photosensitive resin is used for the photosensitive resin film 9, only the exposed area | region 10 is melt | dissolved by the developing solution, and the area | region 11 which is not exposed remains on the base material for metal mold | die, and is following agent It acts as a mask in one etching process.

현상 공정에 이용하는 현상액은 종래 공지된 것을 사용할 수 있다. 예컨대, 수산화나트륨, 수산화칼륨, 탄산나트륨, 규산나트륨, 메타규산나트륨, 암모니아수 등의 무기 알칼리류, 에틸아민, n-프로필아민 등의 제1 아민류, 디에틸아민, 디-n-부틸아민 등의 제2 아민류, 트리에틸아민, 메틸디에틸아민 등의 제3 아민류, 디메틸에탄올아민, 트리에탄올아민 등의 알코올아민류, 테트라메틸암모늄히드록시드, 테트라에틸암모늄히드록시드, 트리메틸히드록시에틸암모늄히드록시드 등의 제4급 암모늄염, 피롤, 피페리딘 등의 환상 아민류 등의 알칼리성 수용액; 및 크실렌, 톨루엔 등의 유기 용제 등을 예로 들 수 있다.As a developing solution used for a developing process, a conventionally well-known thing can be used. For example, inorganic alkalis, such as sodium hydroxide, potassium hydroxide, sodium carbonate, sodium silicate, sodium metasilicate, and ammonia water, 1st amines, such as ethylamine and n-propylamine, diethylamine, di-n-butylamine, etc. Tertiary amines such as amines, triethylamine, methyldiethylamine, alcoholamines such as dimethylethanolamine and triethanolamine, tetramethylammonium hydroxide, tetraethylammonium hydroxide, trimethylhydroxyethylammonium hydroxide Alkaline aqueous solutions such as cyclic amines such as quaternary ammonium salts, pyrrole, and piperidine; And organic solvents such as xylene and toluene.

현상 공정에 있어서의 현상 방법에 대해서는 특별히 제한되지 않고, 침지 현상, 스프레이 현상, 브러시 현상, 초음파 현상 등의 방법을 이용할 수 있다.The developing method in the developing step is not particularly limited, and methods such as immersion development, spray development, brush development, and ultrasonic development can be used.

도 12의 (d)에는 감광성 수지막(9)에 네거티브형의 감광성 수지를 이용하여, 현상 처리를 실시한 상태가 모식적으로 도시되어 있다. 도 12의 (c)에서 노광되고 있지 않은 영역(11)이 현상액에 의해서 용해되고, 노광된 영역(10)만 기재 표면 상에 남아 마스크(12)가 된다. 도 12의 (e)에는 감광성 수지막(9)에 포지티브형의 감광성 수지를 이용하여 현상 처리를 실시한 상태가 모식적으로 도시되어 있다. 도 12의 (c)에서 노광된 영역(10)이 현상액에 의해서 용해되고, 노광되고 있지 않은 영역(11)만 기재 표면 상에 남아 마스크(12)로 된다.FIG. 12 (d) schematically shows a state in which the developing treatment is performed using a negative photosensitive resin on the photosensitive resin film 9. In FIG. 12C, the region 11 that is not exposed is dissolved by the developer, and only the exposed region 10 remains on the substrate surface to form the mask 12. FIG. 12E schematically shows a state where the development treatment is performed on the photosensitive resin film 9 by using a positive photosensitive resin. The region 10 exposed in FIG. 12C is dissolved by the developer, and only the region 11 that is not exposed remains on the substrate surface to become the mask 12.

〔6〕 제1 에칭 공정[6] first etching process

이어지는 제1 에칭 공정에서는, 전술한 현상 공정 후에 금형용 기재 표면 상에 잔존한 감광성 수지막을 마스크로서 이용하고, 주로 마스크가 없는 부위의 금형용 기재를 에칭하여, 연마된 도금면에 요철을 형성한다. 도 13의 (a)에는 제1 에칭 공정에 의해서, 주로 마스크가 없는 부위(13)의 금형용 기재(7)가 에칭되는 상태를 모식적으로 나타내고 있다. 마스크(12) 하부의 금형용 기재(7)는 금형용 기재 표면으로부터는 에칭되지 않지만, 에칭의 진행과 함께 마스크가 없는 부위(13)로부터의 에칭이 진행된다. 따라서, 마스크(12)와 마스크가 없는 부위(13)의 경계 부근에서는, 마스크(12) 하부의 금형용 기재(7)도 에칭된다. 이러한 마스크(12)와 마스크가 없는 부위(13)의 경계 부근에서, 마스크(12) 하부의 금형용 기재(7)도 에칭되는 것을 사이드 에칭이라고 부른다.In the following 1st etching process, the photosensitive resin film which remained on the surface of the metal mold | die base material after the above-mentioned image development process is used as a mask, the metal substrate for metal parts of a part without a mask is mainly etched, and an unevenness | corrugation is formed in the polished plating surface. FIG. 13A schematically shows a state in which the mold base 7 in the portion 13 without a mask is etched mainly by the first etching step. The mold base 7 under the mask 12 is not etched from the mold base surface, but etching proceeds from the portion 13 without the mask as the etching proceeds. Therefore, near the boundary between the mask 12 and the portion 13 without the mask, the base material 7 for the mold under the mask 12 is also etched. In the vicinity of the boundary between the mask 12 and the portion 13 without the mask, the etching of the mold base 7 under the mask 12 is also called side etching.

제1 에칭 공정에 있어서의 에칭 처리는, 통상 염화제2철(FeCl3)액, 염화제2구리(CuCl2)액, 알칼리 에칭액(Cu(NH3)4Cl2) 등을 이용하여 금속 표면을 부식시킴으로써 이루어지는데, 염산이나 황산 등의 강산을 이용할 수도 있고, 전해 도금할 때와 역의 전위를 거는 역전해 에칭을 이용할 수도 있다. 에칭 처리를 실시했을 때의 금형용 기재에 형성되는 오목 형상은, 하지 금속의 종류, 감광성 수지막의 종류 및 에칭 수법 등에 따라 다르기 때문에, 일률적으로는 말할 수 없지만, 에칭량이 10 ㎛ 이하인 경우에는, 에칭액에 닿고 있는 금속 표면으로부터 대략 등방적으로 에칭된다. 여기서 말하는 에칭량이란, 에칭에 의해 깎이는 기재의 두께이다.The etching treatment in the first etching step is usually performed using a ferric chloride (FeCl 3 ) solution, cupric chloride (CuCl 2 ) solution, alkaline etching solution (Cu (NH 3 ) 4 Cl 2 ), or the like. Although it forms by corrosive, strong acid, such as hydrochloric acid and a sulfuric acid, can also be used, and the reverse electrolytic etching which reverses the electric potential of when electroplating can also be used. Since the concave shape formed in the base material for metal mold | die at the time of an etching process changes with the kind of base metal, the kind of photosensitive resin film, the etching method, etc., it cannot say uniformly, but when etching amount is 10 micrometers or less, It is etched approximately isotropically from the touching metal surface. Etching amount here is the thickness of the base material shaved by etching.

제1 에칭 공정에서의 에칭량은 바람직하게는 1∼50 ㎛이며, 보다 바람직하게는 2∼10 ㎛이다. 에칭량이 1 ㎛ 미만인 경우에는, 금속 표면에 요철 형상이 거의 형성되지 않고, 거의 평탄한 금형으로 되어 버리기 때문에, 방현성을 나타내지 않게 되어 버린다. 또한, 에칭량이 50 ㎛를 넘는 경우에는, 금속 표면에 형성되는 요철 형상의 고저차가 커져, 얻어진 금형을 사용하여 제작한 방현 필름을 적용한 화상 표시 장치에 있어서 백화가 일어날 우려가 있다. 경사 각도가 5°이하인 면을 95% 이상 포함하는 미세 요철 표면을 갖는 방현 필름을 얻기 위해서는, 제1 에칭 공정에서의 에칭량은 2∼8 ㎛인 것이 보다 바람직하다. 제1 에칭 공정에 있어서의 에칭 처리는 1회의 에칭 처리에 의해서 행하더라도 좋고, 에칭 처리를 2회 이상으로 나눠 행하더라도 좋다. 에칭 처리를 2회 이상으로 나눠 행하는 경우에는, 2회 이상의 에칭 처리에 있어서의 에칭량의 합계가 상기 범위 내가 되는 것이 바람직하다.The etching amount in the first etching step is preferably 1 to 50 µm, more preferably 2 to 10 µm. In the case where the etching amount is less than 1 µm, since irregularities are hardly formed on the metal surface and become almost flat molds, anti-glare properties are not exhibited. Moreover, when etching amount exceeds 50 micrometers, the height difference of the uneven | corrugated shape formed in a metal surface becomes large, and there exists a possibility that whitening may arise in the image display apparatus which applied the anti-glare film produced using the obtained metal mold | die. In order to obtain the anti-glare film which has the fine uneven | corrugated surface containing 95% or more of surfaces in which the inclination angle is 5 degrees or less, it is more preferable that the etching amount in a 1st etching process is 2-8 micrometers. The etching process in a 1st etching process may be performed by one etching process, and you may divide an etching process into two or more times. When dividing an etching process two times or more, it is preferable that the sum total of the etching amount in two or more etching processes becomes in the said range.

〔7〕 감광성 수지막 박리 공정[7] photosensitive resin film peeling step

이어지는 감광성 수지막 박리 공정에서는, 제1 에칭 공정에서 마스크로서 사용한 잔존하는 감광성 수지막을 완전히 용해하여 제거한다. 감광성 수지막 박리 공정에서는 박리액을 이용하여 감광성 수지막을 용해한다. 박리액으로서는, 전술한 현상액과 같은 것을 이용할 수 있다. 박리액의 pH, 온도, 농도 및 침지 시간 등을 변화시킴으로써, 네거티브형의 감광성 수지막을 이용한 경우에는 노광부의 감광성 수지막을, 포지티브형의 감광성 수지막을 이용한 경우에는 비노광부의 감광성 수지막을 완전히 용해하여 제거한다. 감광성 수지막 박리 공정에 있어서의 박리 방법에 대해서도 특별히 제한되지 않고, 침지 현상, 스프레이 현상, 브러시 현상, 초음파 현상 등의 방법을 이용할 수 있다.In the following photosensitive resin film peeling process, the remaining photosensitive resin film used as a mask in a 1st etching process is melt | dissolved and removed completely. In the photosensitive resin film peeling process, a photosensitive resin film is melt | dissolved using a peeling liquid. As the peeling solution, the same developer as described above can be used. By changing the pH, temperature, concentration, and immersion time of the stripping solution, the negative photosensitive resin film is completely dissolved by removing the photosensitive resin film of the exposed part when the negative photosensitive resin film is used, and the photosensitive resin film of the non-exposed part when the positive photosensitive resin film is used. do. There is no restriction | limiting in particular also about the peeling method in the photosensitive resin film peeling process, and methods, such as an immersion phenomenon, a spray image development, a brush image development, and an ultrasonic image development, can be used.

도 13의 (b)는, 감광성 수지막 박리 공정에 의해서, 제1 에칭 공정에서 마스크(12)로서 사용한 감광성 수지막을 완전히 용해하여 제거한 상태를 모식적으로 나타내고 있다. 감광성 수지막으로 이루어지는 마스크(12)를 이용한 에칭에 의해서, 제1 표면 요철 형상(15)이 금형용 기재 표면에 형성되고 있다.FIG. 13B schematically shows a state in which the photosensitive resin film used as the mask 12 in the first etching process is completely dissolved and removed by the photosensitive resin film peeling step. The 1st surface uneven | corrugated shape 15 is formed in the surface of the metal mold | die base material by the etching using the mask 12 which consists of a photosensitive resin film.

〔8〕 제2 도금 공정[8] second plating process

이어서, 형성된 요철면[제1 표면 요철 형상(15)]에 크롬 도금을 실시함으로써, 표면의 요철 형상을 둔화시킬 수 있다. 도 13의 (c)에는, 제1 에칭 공정의 에칭 처리에 의해서 형성된 제1 표면 요철 형상(15)에 크롬 도금층(16)을 형성함으로써, 제1 표면 요철 형상(15)보다도 요철이 둔화된 표면[크롬 도금의 표면(17)]이 형성되어 있는 상태가 도시되어 있다.Subsequently, chromium plating is performed on the formed uneven surface (first surface uneven shape 15) to reduce the uneven surface shape. In (c) of FIG. 13, the surface by which the unevenness | corrugation became slower than the 1st surface uneven | corrugated shape 15 by forming the chromium plating layer 16 in the 1st surface uneven | corrugated shape 15 formed by the etching process of a 1st etching process. The state in which [the surface 17 of chromium plating] is formed is shown.

크롬 도금으로서는, 평판이나 롤 등의 표면에, 광택이 있고, 경도가 높으며, 마찰 계수가 작고, 양호한 이형성을 부여할 수 있는 크롬 도금을 채용하는 것이 바람직하다. 이러한 크롬 도금으로서는 특별히 제한되지 않지만, 소위 광택 크롬 도금이나 장식용 크롬 도금 등으로 불리는, 양호한 광택을 발현하는 크롬 도금을 이용하는 것이 바람직하다. 크롬 도금은 통상, 전해에 의해서 이루어지며, 그 도금욕으로서는, 무수 크롬산(CrO3)과 소량의 황산을 포함하는 수용액이 이용된다. 전류 밀도와 전해 시간을 조절함으로써, 크롬 도금의 두께를 제어할 수 있다.As chromium plating, it is preferable to employ | adopt chromium plating which has gloss, the hardness is high, the friction coefficient is small, and can give favorable mold release property on the surfaces, such as a flat plate and a roll. Although it does not restrict | limit especially as such chromium plating, It is preferable to use the chromium plating which expresses favorable gloss called so-called gloss chrome plating, decorative chromium plating, etc. Chromium plating is usually performed by electrolysis, and an aqueous solution containing chromic anhydride (CrO 3 ) and a small amount of sulfuric acid is used as the plating bath. By adjusting the current density and the electrolysis time, the thickness of the chromium plating can be controlled.

한편, 제2 도금 공정에서, 크롬 도금 이외의 도금을 실시하는 것은 바람직하지 못하다. 왜냐하면, 크롬 이외의 도금에서는, 경도나 내마모성이 낮아지기 때문에, 금형으로서의 내구성이 저하되어, 사용 중에 요철이 닳아 없어지거나, 금형이 손상되거나 한다. 이와 같은 금형으로부터 얻어진 방현 필름에서는, 충분한 방현 기능을 얻기가 어렵게 될 가능성이 높고, 또한 방현 필름 상에 결함이 발생할 가능성도 높아진다.On the other hand, it is not preferable to perform plating other than chromium plating in a 2nd plating process. Because in plating other than chromium, hardness and abrasion resistance are lowered, so that durability as a mold decreases, irregularities are worn out during use, and the mold is damaged. In the anti-glare film obtained from such a metal mold | die, it is highly likely that it will become difficult to acquire sufficient anti-glare function, and also the possibility that a defect will generate | occur | produce on an anti-glare film will become high.

또한, 도금 후의 표면 연마도 바람직하지 못하다. 즉, 제2 도금 공정 후에 표면을 연마하는 공정을 두지 않고서, 크롬 도금이 실시된 요철면을 그대로 기재 필름 상의 수지층 표면에 전사되는 금형의 요철면으로서 이용하는 것이 바람직하다. 연마함으로써, 최외측 표면에 평탄한 부분이 생기기 때문에, 광학 특성의 악화를 초래할 가능성이 있다는 것, 그리고 형상의 제어 인자가 늘어나기 때문에, 재현성 좋은 형상 제어가 곤란하게 된다는 것 등의 이유에 의한 것이다.In addition, surface polishing after plating is also undesirable. That is, it is preferable to use as the uneven surface of the metal mold | die which is transcribe | transferred to the resin layer surface on a base film as it is, without giving the process of grind | polishing the surface after a 2nd plating process. The reason for this is that, by polishing, flat portions are formed on the outermost surface, which may lead to deterioration of the optical characteristics, and because the control factor of the shape increases, making shape control with good reproducibility difficult.

이와 같이, 미세 표면 요철 형상이 형성된 표면에 크롬 도금을 실시함으로써, 요철 형상이 둔화될 수 있고, 그 표면 경도가 높아진 금형을 얻을 수 있다. 이때의 요철의 둔화 상태는, 하지 금속의 종류, 제1 에칭 공정에서 얻어진 요철의 사이즈와 깊이, 및 도금의 종류나 두께 등에 따라 다르기 때문에, 일률적으로는 말할 수 없지만, 둔화 상태를 제어하는 데에 있어서 가장 큰 인자는 역시 도금 두께이다. 크롬 도금의 두께가 얇으면, 크롬 도금 가공 전에 얻어진 요철의 표면 형상을 둔화시킬 수 있는 효과가 불충분하여, 그 요철 형상을 전사하여 얻어지는 방현 필름의 광학 특성이 그다지 좋게 되지 않는다. 한편, 도금 두께가 지나치게 두꺼우면, 생산성이 나빠지는데다가, 노듈이라고 불리는 돌기형의 도금 결함이 발생해 버리기 때문에 바람직하지 못하다. 그래서, 크롬 도금의 두께는 1∼10 ㎛의 범위 내인 것이 바람직하고, 3∼6 ㎛의 범위 내인 것이 보다 바람직하다.Thus, by performing chromium plating on the surface in which the fine surface uneven | corrugated shape was formed, the uneven | corrugated shape can be slowed down and the metal mold | die with the high surface hardness can be obtained. The slowing state of the unevenness at this time varies depending on the type of the base metal, the size and depth of the unevenness obtained in the first etching step, the type and thickness of the plating, and the like, but it is not generally used to control the slowing state. The biggest factor in this is also the plating thickness. When the thickness of chromium plating is thin, the effect which can slow the surface shape of the unevenness | corrugation obtained before chrome plating process is inadequate, and the optical characteristic of the anti-glare film obtained by transferring the uneven | corrugated shape is not very good. On the other hand, when the plating thickness is too thick, the productivity is deteriorated, and a projection-type plating defect called nodule is generated, which is not preferable. Therefore, it is preferable to exist in the range of 1-10 micrometers, and, as for the thickness of chromium plating, it is more preferable to exist in the range which is 3-6 micrometers.

상기 제2 도금 공정에서 형성되는 크롬 도금층은, 비커스 경도가 800 이상이 되도록 형성되어 있는 것이 바람직하고, 1000 이상이 되도록 형성되어 있는 것이 보다 바람직하다. 크롬 도금층의 비커스 경도가 800 미만인 경우에는, 금형 사용시의 내구성이 저하되는데다가, 크롬 도금으로 경도가 저하되는 것은 도금 처리시에 도금욕 조성, 전해 조건 등에 이상이 발생하고 있을 가능성이 높아, 결함의 발생 상황에 대해서도 바람직하지 못한 영향을 줄 가능성이 높기 때문이다.It is preferable that the chromium plating layer formed in the said 2nd plating process is formed so that Vickers hardness may be 800 or more, and it is more preferable to form so that it may become 1000 or more. When the Vickers hardness of the chromium plating layer is less than 800, the durability at the time of use of the mold decreases, and the decrease in the hardness due to chromium plating is likely to cause an abnormality in the plating bath composition, electrolytic conditions, etc. This is because there is a high possibility of adversely affecting the occurrence situation.

또한, 본 발명의 방현 필름을 제작하기 위한 금형의 제조 방법에 있어서는, 전술한 〔7〕 감광성 수지막 박리 공정과 〔8〕 제2 도금 공정과의 사이에, 제1 에칭 공정에 의해서 형성된 요철면을 에칭 처리에 의해서 둔화시킬 수 있는 제2 에칭 공정을 포함하는 것이 바람직하다. 제2 에칭 공정에서는, 감광성 수지막을 마스크로서 이용한 제1 에칭 공정에 의해서 형성된 제1 표면 요철 형상(15)을 에칭 처리에 의해서 둔화시킬 수 있다. 이 제2 에칭 처리에 의해서, 제1 에칭 처리에 의해서 형성된 제1 표면 요철 형상(15)에 있어서 표면 경사가 급경사인 부분이 없어져, 얻어진 금형을 이용하여 제조된 방현 필름의 광학 특성이 바람직한 방향으로 변화된다. 도 14에는, 제2 에칭 처리에 의해서, 금형용 기재(7)의 제1 표면 요철 형상(15)이 둔화되고, 표면 경사가 급경사인 부분이 무뎌져서, 완만한 표면 경사를 갖는 제2 표면 요철 형상(18)이 형성된 상태가 도시되어 있다.Moreover, in the manufacturing method of the metal mold | die for manufacturing the anti-glare film of this invention, the uneven surface formed by the 1st etching process between the above-mentioned [7] photosensitive resin film peeling process and [8] 2nd plating process. It is preferable to include the 2nd etching process which can slow down by an etching process. In a 2nd etching process, the 1st surface uneven | corrugated shape 15 formed by the 1st etching process which used the photosensitive resin film as a mask can be blunted by an etching process. By this 2nd etching process, in the 1st surface uneven | corrugated shape 15 formed by the 1st etching process, the part whose surface inclination is a steep inclination disappears and the optical characteristic of the anti-glare film manufactured using the obtained metal mold | die was made in the preferable direction. Is changed. In FIG. 14, the second surface unevenness of the mold base 7 is blunted by the second etching treatment, and the portion of the surface inclined sharply slanted is blunted to have a gentle surface slope. The state in which 18 is formed is shown.

제2 에칭 공정의 에칭 처리도, 제1 에칭 공정과 마찬가지로, 통상 염화제2철(FeCl3)액, 염화제2구리(CuCl2)액, 알칼리 에칭액(Cu(NH3)4Cl2) 등을 이용하여, 표면을 부식시킴으로써 이루어지는데, 염산이나 황산 등의 강산을 이용할 수도 있고, 전해 도금할 때와 역의 전위를 거는 역전해 에칭을 이용할 수도 있다. 에칭 처리를 실시한 후의 요철의 둔화 상태는, 하지 금속의 종류, 에칭 수법 및 제1 에칭 공정에 의해 얻어진 요철의 사이즈와 깊이 등에 따라 다르기 때문에, 일률적으로는 말할 수 없지만, 둔화 상태를 제어하는 데에 있어서 가장 큰 인자는 에칭량이다. 여기서 말하는 에칭량도, 제1 에칭 공정과 마찬가지로, 에칭에 의해 깎이는 기재의 두께이다. 에칭량이 작으면, 제1 에칭 공정에 의해 얻어진 요철의 표면 형상을 둔화시킬 수 있는 효과가 불충분하여, 그 요철 형상을 전사하여 얻어지는 방현 필름의 광학 특성이 그다지 좋게 되지 않는다. 한편, 에칭량이 지나치게 크면, 요철 형상이 거의 없어져 버려, 거의 평탄한 금형으로 되어 버리기 때문에, 방현성을 나타내지 않게 되어 버린다. 그래서, 에칭량은 1∼50 ㎛의 범위 내로 하는 것이 바람직하고, 또한 경사 각도가 5°이하인 면을 95% 이상 포함하는 미세 요철 표면을 갖는 방현 필름을 얻기 위해서, 4∼20 ㎛의 범위 내로 하는 것이 보다 바람직하다. 제2 에칭 공정에 있어서의 에칭 처리도, 제1 에칭 공정과 마찬가지로, 1회의 에칭 처리에 의해서 행하더라도 좋고, 에칭 처리를 2회 이상으로 나눠 행하더라도 좋다. 에칭 처리를 2회 이상으로 나눠 행하는 경우에는, 2회 이상의 에칭 처리에 있어서의 에칭량의 합계가 상기 범위 내가 되는 것이 바람직하다.Similarly to the first etching step, the etching treatment of the second etching step also includes ferric chloride (FeCl 3 ) solution, cupric chloride (CuCl 2 ) solution, alkaline etching solution (Cu (NH 3 ) 4 Cl 2 ), and the like. Although it forms by corroding a surface, strong acids, such as hydrochloric acid and a sulfuric acid, can also be used, and reverse electrolysis etching which has a reverse electric potential at the time of electroplating can also be used. Since the slowing state of the unevenness after the etching treatment is different depending on the type of the underlying metal, the etching method and the size and depth of the unevenness obtained by the first etching step, and so on, it is not possible to say uniformly. The biggest factor is the etching amount. Etching amount here is also the thickness of the base material shaved by etching similarly to a 1st etching process. If the etching amount is small, the effect of blunting the surface shape of the unevenness obtained by the first etching step is insufficient, and the optical properties of the antiglare film obtained by transferring the uneven shape are not very good. On the other hand, when the etching amount is too large, the uneven shape is almost eliminated and becomes an almost flat mold, so that the anti-glare property is not exhibited. Therefore, it is preferable to carry out etching amount in the range of 1-50 micrometers, and to obtain the anti-glare film which has a fine uneven | corrugated surface containing 95% or more of the surface whose inclination-angle is 5 degrees or less, it must be in the range of 4-20 micrometers. It is more preferable. Similarly to the first etching step, the etching treatment in the second etching step may be performed by one etching treatment or may be performed by dividing the etching treatment into two or more times. When dividing an etching process two times or more, it is preferable that the sum total of the etching amount in two or more etching processes becomes in the said range.

<방현성 편광판> <Anti-glare Polarizing Plate>

본 발명의 방현 필름은, 우수한 방현성을 나타내고, 양호한 콘트라스트를 발현하면서, 「백화」 및 「눈부심」의 발생에 의한 시인성의 저하를 효과적으로 방지할 수 있기 때문에, 화상 표시 장치에 장착했을 때에 시인성이 우수한 것으로 된다. 화상 표시 장치가 액정 디스플레이인 경우에는, 이 방현 필름을 편광판에 적용할 수 있다. 즉, 편광판은 일반적으로, 요오드 또는 이색성(二色性) 염료가 흡착 배향된 폴리비닐알콜계 수지 필름으로 이루어지는 편광 필름의 적어도 한 면에 보호 필름이 접합된 형태의 것이 많은데, 그 한 쪽의 보호 필름을 본 발명의 방현 필름으로 구성한다. 편광 필름과, 본 발명의 방현 필름을, 그 방현 필름의 기재 필름측에서 접합시킴으로써, 방현성 편광판으로 할 수 있다. 이 경우, 편광 필름의 다른 쪽의 면은, 아무 것도 적층되어 있지 않은 상태라도 좋고, 보호 필름 또는 다른 광학 필름이 적층되어 있더라도 좋고, 또한 액정 셀에 접합하기 위한 점착제층이 적층되어 있더라도 좋다. 또한, 편광 필름의 적어도 한 면에 보호 필름이 접합된 편광판의 상기 보호 필름 상에, 본 발명의 방현 필름을 그 기재 필름측에서 접합하여, 방현성 편광판으로 할 수도 있다. 또한, 편광 필름의 적어도 한 면에 보호 필름이 접합된 편광판에 있어서, 그 보호 필름으로서 상기 기재 필름을 편광 필름에 접합한 후, 이 기재 필름 상에 방현층을 형성함으로써, 방현성 편광판으로 할 수도 있다.Since the anti-glare film of this invention shows the outstanding anti-glare property and expresses favorable contrast, visibility can be effectively prevented from the fall of the visibility by the occurrence of "whitening" and "the glare", when it is attached to an image display apparatus, It becomes excellent. When an image display apparatus is a liquid crystal display, this anti-glare film can be applied to a polarizing plate. That is, a polarizing plate generally has a form in which a protective film is bonded to at least one surface of a polarizing film made of a polyvinyl alcohol-based resin film in which iodine or a dichroic dye is adsorbed and oriented. A protective film is comprised by the anti-glare film of this invention. It can be set as an anti-glare polarizing plate by bonding a polarizing film and the anti-glare film of this invention at the base film side of the anti-glare film. In this case, the other surface of the polarizing film may be in a state in which nothing is laminated, a protective film or another optical film may be laminated, or an adhesive layer for bonding to a liquid crystal cell may be laminated. Moreover, the anti-glare film of this invention can be bonded on the said base film side, and it can also be set as an anti-glare polarizing plate on the said protective film of the polarizing plate in which the protective film was bonded to at least one surface of the polarizing film. Moreover, in a polarizing plate in which a protective film was bonded to at least one surface of a polarizing film, after bonding the said base film to a polarizing film as this protective film, it can also be set as an anti-glare polarizing plate by forming an anti-glare layer on this base film. have.

Yes

이하에 실시예를 들어, 본 발명을 더욱 자세히 설명하지만, 본 발명은 이들 실시예에 한정되는 것은 아니다. 이하의 예에 있어서의 방현 필름 및 방현 필름 제조용 패턴의 평가 방법은 다음과 같다.Although an Example is given to the following and this invention is demonstrated in more detail, this invention is not limited to these Examples. The evaluation method of the anti-glare film and anti-glare film manufacture in the following examples is as follows.

〔1〕 방현 필름의 표면 형상의 측정[1] Measurement of surface shape of antiglare film

삼차원현미경 「PLμ2300」(Sensofar사 제조)를 이용하여, 방현 필름의 표면 형상을 측정했다. 샘플의 휘어짐을 방지하기 위해서, 광학적으로 투명한 점착제를 이용하여 요철면이 표면이 되도록 유리 기판에 접합하고 나서, 측정에 사용하게 했다. 측정할 때, 대물렌즈의 배율은 10배로 했다. 수평 분해능(Δx 및 Δy)은 모두 1.66 ㎛이며, 측정 면적은 850 ㎛×850 ㎛였다.The surface shape of the anti-glare film was measured using the three-dimensional microscope "PLμ2300" (manufactured by Sensofar). In order to prevent curvature of a sample, it bonded to the glass substrate so that an uneven surface might become a surface using an optically transparent adhesive, and was made to use for a measurement. In the measurement, the magnification of the objective lens was made 10 times. The horizontal resolutions (Δx and Δy) were both 1.66 μm and the measurement area was 850 μm × 850 μm.

(표고의 에너지 스펙트럼의 비(H1 2/H2 2) 및 비(H3 2/H2 2))(Ratio of energy spectra of elevation (H 1 2 / H 2 2 ) and ratio (H 3 2 / H 2 2 ))

위에서 얻어진 측정 데이터로부터, 방현 필름의 미세 요철 표면의 표고를 이차원 함수 h(x, y)로서 구하고, 얻어진 이차원 함수 h(x, y)를 이산 푸리에 변환하여 이차원 함수 H(fx, fy)를 구했다. 이차원 함수 H(fx, fy)를 제곱하여 에너지 스펙트럼의 이차원 함수 H2(fx, fy)를 계산하고, fx=0의 단면 곡선인 H2(0, fy)로부터, 공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 에너지 스펙트럼(H1 2) 및 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 에너지 스펙트럼(H2 2)을 구하여, 에너지 스펙트럼의 비(H1 2/H2 2)를 계산했다. 또한, 공간 주파수 0.1 ㎛-1에서의 에너지 스펙트럼(H3 2)을 구하여, 에너지 스펙트럼의 비(H3 2/H2 2)에 관해서도 계산했다.From the measurement data obtained above, the elevation of the fine concavo-convex surface of the antiglare film is obtained as the two-dimensional function h (x, y), the obtained two-dimensional function h (x, y) is discrete Fourier transformed, and the two-dimensional function H (f x , f y ) is obtained. Saved. Two-dimensional function H (f x, f y) square by calculating a two-dimensional function of the energy spectrum H 2 (f x, f y ), f x = 0 cross-sectional curve in H 2 (0, f y) from, the space obtain an energy spectrum (H 1 2) and spatial energy spectrum (H 2 2) at a frequency of 0.04 ㎛ -1 at a frequency of 0.01 ㎛ -1, it was calculated the ratio (H 1 2 / H 2 2 ) of the energy spectrum. In addition, an energy spectrum (H 3 2 ) at a spatial frequency of 0.1 μm −1 was obtained, and the ratio (H 3 2 / H 2 2 ) of the energy spectrum was also calculated.

(미세 요철 표면의 경사 각도)(Inclined angle of the fine uneven surface)

위에서 얻어진 측정 데이터를 바탕으로, 전술한 알고리즘에 기초하여 계산하여, 요철면의 경사 각도의 히스토그램를 작성하고, 그로부터 경사 각도마다의 분포를 구하여, 경사 각도가 5°이하인 면의 비율을 계산했다.Based on the measurement data obtained above, it calculated based on the algorithm mentioned above, the histogram of the inclination-angle of the uneven surface was created, the distribution for every inclination-angle was calculated | required from it, and the ratio of the surface whose inclination-angle is 5 degrees or less was calculated.

〔2〕 방현 필름의 광학 특성의 측정[2] measurement of optical properties of antiglare film

(헤이즈)(Haze)

방현 필름의 헤이즈는 JIS K 7136에 규정되는 방법으로 측정했다. 구체적으로는, 이 규격에 준거한 헤이즈미터 「HM-150형」(무라카미시키사이 기쥬츠겐쿠쇼 제조)를 이용하여 헤이즈를 측정했다. 방현 필름의 휘어짐을 방지하기 위해서, 광학적으로 투명한 점착제를 이용하여 요철면이 표면이 되도록 유리 기판에 접합하고 나서, 측정에 사용하게 했다. 일반적으로 헤이즈가 커지면, 화상 표시 장치에 적용했을 때에 화상이 어둡게 되고, 그 결과, 정면 콘트라스트가 저하되기 쉽게 된다. 그 때문에, 헤이즈는 낮은 쪽이 바람직하다.The haze of the antiglare film was measured by the method specified in JIS K 7136. Specifically, haze was measured using a haze meter "HM-150 type" (manufactured by Murakami Shikisai Kijutsugenkusho Co., Ltd.) in accordance with this standard. In order to prevent curvature of an anti-glare film, it bonded to the glass substrate so that an uneven surface might become a surface using an optically transparent adhesive, and was made to use for a measurement. In general, when the haze increases, the image becomes dark when applied to the image display device, and as a result, the front contrast tends to decrease. For this reason, the lower the haze is preferable.

〔3〕 방현 필름의 기계적 강도(연필 경도) 및 투습도의 측정[3] Measurement of mechanical strength (pencil hardness) and moisture permeability of antiglare film

(연필 경도)(Pencil hardness)

방현 필름의 연필 경도는 JIS K 5600-5-4에 규정되는 방법으로 측정했다. 구체적으로는, 이 규격에 준거한 전동 연필 모스경도 시험기[(주)야스다세이키세이사쿠쇼 제조]를 이용하여 하중 500 g으로 측정했다.The pencil hardness of the antiglare film was measured by the method specified in JIS K 5600-5-4. Specifically, it measured at the load of 500 g using the electric pencil Mohs hardness tester (made by Yasuda Seiki Seisakusho) in conformity with this standard.

(투습도)(Moisture permeability)

방현 필름의 투습도는, JIS Z 0208에 규정되는 방법으로, 온도 40℃, 상대습도 90%의 조건 하에서 측정했다.The water vapor transmission rate of the anti-glare film was measured under the conditions of a temperature of 40 ° C. and a relative humidity of 90% by the method specified in JIS Z 0208.

〔4〕 방현 필름의 방현 성능의 평가[4] evaluation of antiglare performance of antiglare film

(배경반사, 백화를 눈으로 보아서 평가)(Evaluate visually with background reflection, white flower)

방현 필름의 이면으로부터의 반사를 방지하기 위해서, 요철면이 표면이 되도록 흑색 아크릴 수지판에 방현 필름을 접합하고, 형광등이 달린 밝은 실내에서 요철면측에서부터 눈으로 보아 관찰하여, 형광등의 배경반사 유무, 백화의 정도를 눈으로 보아 평가했다. 배경반사 및 백화는 각각 1에서부터 3의 3 단계로 다음 기준에 의해 평가했다.In order to prevent reflection from the back surface of the antiglare film, the antiglare film is bonded to the black acrylic resin plate so that the uneven surface becomes the surface, and is visually observed from the uneven surface side in a bright room with a fluorescent lamp, and the background reflection of the fluorescent lamp is present. The degree of whitening was visually evaluated. Background reflection and whitening were evaluated according to the following criteria in three stages of 1 to 3, respectively.

배경반사 1 : 배경반사가 관찰되지 않는다.Background Reflection 1: No background reflection is observed.

2 : 배경반사가 조금 관찰된다.2: A little background reflection is observed.

3 : 배경반사가 명료하게 관찰된다.3: Background reflection is clearly observed.

백화 1 : 백화가 관찰되지 않는다.Whitening 1: Whitening is not observed.

2 : 백화가 조금 관찰된다.2: A little whitening is observed.

3 : 백화가 명료하게 관찰된다.3: Whitening is observed clearly.

(눈부심의 평가)(Evaluation of the glare)

눈부심은 이하의 방법으로 평가했다. 즉, 시판되는 액정 텔레비전(LC-32GH3[샤프(주) 제조]으로부터 표리 양면의 편광판을 박리했다. 이들 오리지널 편광판 대신에, 배면측 및 표시면측 모두 편광판 「스미카란 SRDB31E」[스미토모가가쿠(주) 제조]를 각각의 흡수축이 오리지널 편광판의 흡수축과 일치하도록 점착제를 통해 접합하고, 또한 표시면측 편광판 위에는, 이하의 각 예에 나타내는 방현 필름을 요철면이 표면이 되도록 점착제를 통해 접합했다. 이 상태에서, 샘플로부터 약 30 cm 떨어진 위치에서 눈으로 보아 관찰함으로써, 눈부심의 정도를 7 단계로 관능 평가했다. 레벨 1은 눈부심이 전혀 인정되지 않는 상태, 레벨 7은 심하게 눈부심이 관찰되는 상태에 해당하며, 레벨 3은 아주 근소하게 눈부심이 관찰되는 상태이다.Glare was evaluated by the following method. That is, the polarizing plate of both front and back was peeled from the commercially available liquid crystal television (LC-32GH3 [manufactured by Sharp Co., Ltd.]. Instead of these original polarizing plates, both the back side and the display surface side were polarizing plates "Sumikaran SRDB31E" [Sumitomogagaku Co., Ltd.] ) Was bonded through an adhesive such that each absorption axis coincided with the absorption axis of the original polarizing plate, and on the display surface side polarizing plate, the antiglare film shown in each of the following examples was bonded together via the adhesive such that the uneven surface became a surface. In this state, the degree of glare was organoleptically evaluated by visual observation at a position about 30 cm from the sample, where level 1 is in a state where glare is not recognized at all, and level 7 is in a state where severe glare is observed. Correspondingly, level 3 is a state where glare is observed very rarely.

〔5〕 방현 필름 제조용 패턴의 평가[5] Evaluation of pattern for antiglare film production

작성한 패턴 데이터의 계조를 이차원의 이산함수 g(x, y)로 나타냈다. 이산함수 g(x, y)의 수평 분해능(Δx 및 Δy)은 모두 2 ㎛로 했다. 얻어진 이차원 이산함수 g(x, y)를 이산 푸리에 변환하여, 이차원 함수 G(fx, fy)를 구했다. 이차원 함수 G(fx, fy)를 제곱하여 에너지 스펙트럼의 이차원 함수 G2(fx, fy)를 계산하고, fx=0의 단면 곡선인 G2(0, fy)로부터, 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 공간 주파수 범위 내에서의 극대치의 유무를 평가했다.The gray level of the created pattern data was represented by the two-dimensional discrete function g (x, y). The horizontal resolutions (Δx and Δy) of the discrete functions g (x, y) were both 2 m. The obtained two-dimensional discrete function g (x, y) was discrete Fourier transformed to obtain a two-dimensional function G (f x , f y ). Two-dimensional function G (f x, f y) by the squared spectral two-dimensional function G 2 of energy by (f x, f y) for calculation, and f x = 0, the cross-sectional curve in G 2 (0, f y) from, 0 ㎛ -1 exceeds the maximum value was evaluated in the presence or absence in the spatial frequency range of 0.04 ㎛ -1 or less.

<실시예 1>&Lt; Example 1 >

(방현 필름 제조용 금형의 제작)(Production of mold for anti-glare film production)

직경 200 ㎜의 알루미늄 롤(JIS에 의한 A5056)의 표면에 구리 발라드 도금이 실시된 것을 준비했다. 구리 발라드 도금은, 구리 도금층/얇은 은 도금층/표면 구리 도금층으로 이루어지는 것으로, 도금층 전체의 두께는 약 200 ㎛가 되도록 설정했다. 그 구리 도금 표면을 경면 연마하고, 연마된 구리 도금 표면에 감광성 수지를 도포, 건조하여 감광성 수지막을 형성했다. 이어서, 도 15에 도시된 화상 데이터로 이루어지는 패턴을 복수 연속해서 반복하여 나란히 늘어놓은 패턴을 감광성 수지막 상에 레이저광에 의해서 노광하여, 현상했다. 레이저광에 의한 노광 및 현상은 「Laser Stream FX」[(주)싱크·라보라토리 제조]를 이용하여 실시했다. 감광성 수지막에는 포지티브형의 감광성 수지를 사용했다. 도 15에 도시된 패턴은, 도트 직경이 12 ㎛인 도트를 다수 랜덤하게 배치한 패턴에 대하여, 공간 주파수가 0.04 ㎛-1 이하인 저공간 주파수 성분과 0.1 ㎛-1 이상인 고공간 주파수 성분을 제거하는 밴드패스 필터를 적용하여 작성한 것이다.The thing which copper ballad plating was given to the surface of the aluminum roll (A5056 by JIS) of diameter 200mm was prepared. Copper ballad plating consists of a copper plating layer / thin silver plating layer / surface copper plating layer, and the thickness of the whole plating layer was set so that it might be set to about 200 micrometers. The copper plating surface was mirror-polished, the photosensitive resin was apply | coated to the polished copper plating surface, and it dried and formed the photosensitive resin film. Subsequently, the pattern which consisted of the pattern which consists of image data shown in FIG. 15 repeatedly and repeating in a row was exposed and developed by the laser beam on the photosensitive resin film. Exposure and development by a laser beam were performed using "Laser Stream FX" (manufactured by Sink Laboratories Co., Ltd.). Positive photosensitive resin was used for the photosensitive resin film. The pattern shown in FIG. 15 removes low-space frequency components having a spatial frequency of 0.04 μm −1 or less and high-space frequency components of 0.1 μm −1 or more with respect to a pattern in which a large number of dots having a dot diameter of 12 μm are randomly arranged. This is written by applying a bandpass filter.

그 후, 염화제2구리액으로 제1 에칭 처리를 실시했다(에칭량 : 3 ㎛). 제1 에칭 처리 후의 롤로부터 감광성 수지막을 제거하고, 재차 염화제2구리액으로 제2 에칭 처리를 실시했다(에칭량 : 10 ㎛). 그 후, 크롬 도금 두께가 4 ㎛가 되도록 크롬 도금 가공을 하여, 금형 A를 제작했다.Then, the 1st etching process was performed with the cupric chloride liquid (etching amount: 3 micrometers). The photosensitive resin film was removed from the roll after the first etching treatment, and the second etching treatment was again performed with cupric chloride liquid (etching amount: 10 µm). Then, the chrome plating process was performed so that chrome plating thickness might be 4 micrometers, and the metal mold | die A was produced.

(기재 필름의 제작)(Production of base film)

메타크릴산메틸/아크릴산메틸=96/4(중량비)의 공중합체(굴절률 1.49) 70 중량부에 아크릴 고무 입자를 30 중량부 함유시킨 아크릴계 수지 조성물을 제1 압출기[스크류 지름 65 ㎜, 일축, 벤트 구비(도시바기까이(주) 제조)]로 용융 혼련하여, 피드 블록에 공급했다. 또한, 메타크릴산메틸/아크릴산메틸=96/4(중량비)의 공중합체(굴절률 1.49) 70 중량부에 아크릴 고무 입자를 30 중량부 함유시킨 아크릴계 수지 조성물을 제2 압출기[스크류 지름 45 ㎜, 일축, 벤트 구비(히타치죠센(주) 제조)]로 용융 혼련하여, 피드 블록에 공급했다. 제1 압출기로부터 피드 블록에 공급되는 수지가 중간층이 되고, 제2 압출기로부터 피드 블록에 공급되는 수지가 표층(양면)이 되도록, 265℃에서 공압출 성형하고, 85℃로 설정한 롤 유닛을 통해, 두께가 80 ㎛(중간층 50 ㎛, 표층 15 ㎛×2)인 3층 구조의 기재 필름 A를 제작했다.Methyl methacrylate / methyl acrylate = 96/4 (weight ratio) copolymer (refractive index 1.49) 70 parts by weight of the acrylic resin composition containing 30 parts by weight of acrylic rubber particles in the first extruder [screw diameter 65mm, uniaxial, vent (Toshiba Co., Ltd. product) was melt-kneaded, and it supplied to the feed block. Furthermore, the acrylic resin composition which contained 30 weight part of acrylic rubber particles in 70 weight part of copolymers of methyl methacrylate / methyl acrylate = 96/4 (weight ratio) (refractive index 1.49) is a 2nd extruder [screw diameter 45mm, uniaxial] And venting (Hitachijosen Co., Ltd.) were melt kneaded and supplied to a feed block. Through the roll unit co-extruded at 265 ° C and set to 85 ° C, the resin supplied to the feed block from the first extruder becomes the intermediate layer and the resin supplied to the feed block from the second extruder becomes the surface layer (both sides). The base film A of the three-layered structure whose thickness is 80 micrometers (intermediate layer 50 micrometers, surface layer 15 micrometers x 2) was produced.

(방현층의 형성)(Formation of antiglare layer)

광경화성 수지 조성물「GRANDIC 806T」[다이닛폰 잉키가가쿠고교(주) 제조]를 초산에틸에 용해하여, 50 중량% 농도의 용액으로 하고, 또한 광중합개시제인 「루시린 TPO」(BASF사 제조, 화학명 : 2,4,6-트리메틸벤조일디페닐포스핀옥사이드)를, 경화성 수지 성분 100 중량부당 5 중량부 첨가하여 도포액을 조제했다. 기재 필름 A 상에, 이 도포액을 건조 후의 도포 두께가 6 ㎛가 되도록 도포하여, 60℃로 설정한 건조기 속에서 3분간 건조시켰다. 건조 후의 기재 필름 A를, 앞서 얻어진 금형 A의 요철면에, 광경화성 수지 조성물층이 금형측이 되도록 고무 롤로 압박하여 밀착시켰다. 이 상태에서 기재 필름 A측에서, 강도 20 mW/㎠의 고압 수은등으로부터의 빛을 h선 환산 광량으로 200 mJ/㎠가 되도록 조사하여, 광경화성 수지 조성물층을 경화시켰다. 이 후, 기재 필름 A를 경화 수지마다 금형으로부터 박리하여, 표면에 요철을 갖는 경화 수지(방현층)와 기재 필름 A와의 적층체로 이루어지는, 투명한 방현 필름 A를 제작했다.The photocurable resin composition "GRANDIC 806T" (manufactured by Dainippon Inkigagaku Kogyo Co., Ltd.) was dissolved in ethyl acetate to obtain a solution having a concentration of 50% by weight, and "Lucirine TPO" as a photopolymerization initiator (manufactured by BASF Corporation, Chemical Name: 2,4,6-trimethylbenzoyldiphenylphosphine oxide) was added 5 parts by weight per 100 parts by weight of the curable resin component to prepare a coating solution. On the base film A, this coating liquid was apply | coated so that the coating thickness after drying might be 6 micrometers, and it dried for 3 minutes in the dryer set to 60 degreeC. The base film A after drying was pressed by the rubber roll so that the photocurable resin composition layer might become the metal mold | die side to the uneven surface of the metal mold A obtained previously. In this state, the light from the high pressure mercury lamp of 20 mW / cm <2> of intensity | strength was irradiated so that it might become 200 mJ / cm <2> by h-ray-converted light quantity, and the photocurable resin composition layer was hardened. Subsequently, the base film A was peeled from a metal mold | die for every cured resin, and the transparent anti-glare film A which consists of a laminated body of cured resin (antiglare layer) and base film A which have an unevenness | corrugation on the surface was produced.

<실시예 2> <Example 2>

금형 제작에 있어서의 노광 공정에서, 도 16에 도시된 화상 데이터로 이루어지는 패턴을 복수 연속해서 반복하여 나란히 늘어놓은 패턴을 감광성 수지막 상에 레이저광에 의해서 노광하고, 제1 에칭 처리에 있어서의 에칭량을 5 ㎛가 되도록 설정하며, 제2 에칭 처리에 있어서의 에칭량을 12 ㎛가 되도록 설정한 것 이외에는, 실시예 1과 같은 식으로 하여 금형 B를 제작했다. 얻어진 금형 B를 이용한 것 이외에는, 실시예 1과 같은 식으로 하여 방현 필름 B를 제작했다. 도 16에 도시된 패턴은, 도트 직경이 12 ㎛인 도트를 다수 랜덤하게 배치한 패턴에 대하여, 공간 주파수가 0.035 ㎛-1 이하인 저공간 주파수 성분과 0.135 ㎛-1 이상인 고공간 주파수 성분을 제거하는 밴드패스 필터를 적용하여 작성한 것이다.In the exposure process in metal mold | die manufacture, the pattern which consisted of the pattern which consists of image data shown in FIG. 16 in succession and repeating is exposed on the photosensitive resin film by laser beam, and the etching in a 1st etching process is carried out. A mold B was produced in the same manner as in Example 1 except that the amount was set to 5 µm and the etching amount in the second etching treatment was set to be 12 µm. An anti-glare film B was produced in the same manner as in Example 1 except that the obtained mold B was used. The pattern shown in FIG. 16 removes low-space frequency components with a spatial frequency of 0.035 μm −1 or less and high-space frequency components of 0.135 μm −1 or more for a pattern in which a large number of dots having a dot diameter of 12 μm are randomly arranged. This is written by applying a bandpass filter.

<비교예 1> Comparative Example 1

기재 필름 A 대신에 두께 80 ㎛의 트리아세틸셀룰로오스(TAC) 필름을 사용한 것 이외에는 실시예 1과 같은 식으로 하여 방현 필름 C를 제작했다.An anti-glare film C was produced in the same manner as in Example 1 except that a triacetyl cellulose (TAC) film having a thickness of 80 μm was used instead of the base film A.

<비교예 2> Comparative Example 2

직경 300 ㎜의 알루미늄 롤(JIS에 의한 A5056)의 표면을 경면 연마하고, 연마된 알루미늄면에, 블라스트 장치[(주)후지세이사쿠쇼 제조]를 이용하여, 지르코니아 비드 TZ-SX-17[도소(주) 제조, 평균 입경 : 20 ㎛]을, 블라스트 압력 0.1 MPa(게이지압), 비드 사용량 8 g/㎠(롤의 표면적 1 ㎠당 사용량)으로 블라스트하여, 표면에 요철을 부여하였다. 얻어진 요철이 들어간 알루미늄 롤에 대하여, 무전해 니켈 도금 가공을 실시하여, 금형 C를 제작했다. 이때, 무전해 니켈 도금 두께가 15 ㎛가 되도록 설정했다. 얻어진 금형 C를 이용한 것 이외에는, 실시예 1과 같은 식으로 방현 필름 D를 제작했다.The surface of the aluminum roll (A5056 by JIS) with a diameter of 300 mm was mirror-polished, and a zirconia bead TZ-SX-17 (Tosho) was used on a polished aluminum surface using a blasting device (manufactured by Fuji Seisakusho Co., Ltd.). (Manufacture), average particle diameter: 20 micrometers] was blasted by blast pressure of 0.1 MPa (gauge pressure), bead use amount 8 g / cm <2> (use amount per cm <2> of roll surface), and the unevenness | corrugation was given to the surface. The electroless nickel plating process was performed with respect to the obtained aluminum roll, and the metal mold | die C was produced. At this time, it set so that electroless nickel plating thickness might be set to 15 micrometers. An anti-glare film D was produced in the same manner as in Example 1 except that the obtained mold C was used.

얻어진 방현 필름 A∼D에 관한 상기 〔1〕∼〔4〕의 측정·평가 결과를 표 1에 정리했다. 또한, 도 17에, 실시예 1의 금형 A 및 실시예 2의 금형 B의 제작에 사용한 패턴으로부터 얻어진 에너지 스펙트럼 G2(fx, fy)의 fx=0에서의 단면을 도시했다. 도 17로부터, 실시예 1의 금형 A 및 실시예 2의 금형 B의 제작에 사용한 패턴의 에너지 스펙트럼은, 0 ㎛-1 초과 0.04 ㎛-1 이하의 공간 주파수 범위에 극대치를 보이지 않음을 알 수 있다.Table 1 summarizes the measurement and evaluation results of the above-mentioned [1] to [4] regarding the obtained anti-glare films A to D. In addition, and shows a cross section in the Figure 17, Example 1 and Example 2 A mold of the energy spectrum resulting from a pattern used in the making of the mold B G 2 (f x, f y) in f x = 0 in. It can be seen from FIG. 17 that the energy spectra of the patterns used in the production of the mold A of Example 1 and the mold B of Example 2 do not exhibit maximum values in the spatial frequency range of more than 0 μm −1 and 0.04 μm −1 or less. .

실시예1Example 1 실시예2Example 2 비교예1Comparative Example 1 비교예2Comparative Example 2 방현성 편광판Anti-glare Polarizer AA BB CC DD 기재 필름Base film A
(아크릴계수지)
A
(Acrylic resin)
B
(아크릴계수지)
B
(Acrylic resin)
TAC
필름
TAC
film
A
(아크릴계수지)
A
(Acrylic resin)
금형mold AA BB AA CC 표면
형상
surface
shape
에너지
스펙트럼의
energy
Spectral
ratio
H1 2/H2 2 H 1 2 / H 2 2 1919 44 1919 4141
H3 2/H2 2 H 3 2 / H 2 2 0.0020.002 0.0010.001 0.0020.002 0.0030.003 경사 각도 5°이하인
면의 비율(%)
Inclination angle 5 degrees or less
% Of cotton
100100 100100 100100 100100
광학
특성
optics
characteristic
헤이즈(%)Haze (%) 0.40.4 0.60.6 0.40.4 0.40.4
방현
특성
Anti-glare
characteristic
배경반사Background 1One 1One 1One 1One
백화all sorts of flowers 1One 1One 1One 1One 눈부심Glare 1One 1One 1One 66 연필 경도Pencil hardness 4H4H 4H4H 3H3H 4H4H 투습도(g/㎡ㆍ24hr)Water vapor permeability (g / ㎡ ・ 24hr) 5252 4848 287287 5050

표 1에 나타내는 결과로부터, 본 발명의 요건을 전부 만족하는 방현 필름 A 및 방현 필름 B는, 눈부심이 전혀 발생하지 않고, 충분한 방현성을 나타내며, 백화도 발생하지 않음을 알 수 있었다. 또한, 헤이즈도 낮기 때문에, 화상 표시 장치에 배치했을 때에도 콘트라스트의 저하를 야기하는 일이 없다. 또한, 연필 경도도 높고 강한 기계 강도를 갖고 있으며, 또한 투습도도 낮아, 높은 내습성을 갖고 있다.From the results shown in Table 1, the glare-proof film A and the glare-proof film B which satisfy | fill all the requirements of this invention showed that glare did not generate | occur | produce at all, it showed that it was sufficient anti-glare property, and whitening did not generate | occur | produce either. In addition, since the haze is also low, the contrast is not caused even when placed in the image display device. Moreover, pencil hardness is also high, has strong mechanical strength, and also has low water vapor transmission rate, and has high moisture resistance.

한편, 아크릴계 수지로 이루어지는 기재 필름을 이용하지 않은 방현 필름 C는 우수한 방현 성능을 보였지만, 연필 경도 및 내습성이 방현 필름 A 및 방현 필름 B보다도 낮았다. 또한, 소정의 패턴에 기초하지 않고서 제작한 방현 필름 D는, 에너지 스펙트럼의 비(H1 2/H2 2)가 본 발명의 요건을 만족하지 않기 때문에, 눈부심이 발생하고 있었다.On the other hand, although the anti-glare film C which did not use the base film which consists of acrylic resin showed the outstanding anti-glare performance, pencil hardness and moisture resistance were lower than the anti-glare film A and the anti-glare film B. In addition, since the ratio (H 1 2 / H 2 2 ) of the energy spectrum did not satisfy the requirements of the present invention, glare was generated in the antiglare film D produced based on a predetermined pattern.

Claims (4)

기재 필름과, 상기 기재 필름 상에 적층되는 요철 표면을 갖는 방현층을 구비하는 방현 필름으로서,
상기 기재 필름은, 아크릴계 수지를 포함하고,
공간 주파수 0.01 ㎛-1에서의 상기 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H1 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 상기 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H1 2/H2 2)가 3∼20의 범위 내이며,
공간 주파수 0.1 ㎛-1에서의 상기 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H3 2)과, 공간 주파수 0.04 ㎛-1에서의 상기 요철 표면의 표고의 에너지 스펙트럼(H2 2)의 비(H3 2/H2 2)가 0.1 이하이고,
상기 요철 표면은, 경사 각도가 5°이하인 면을 95% 이상 포함하는 것인 방현 필름.
As an anti-glare film provided with a base film and the anti-glare layer which has an uneven surface laminated | stacked on the said base film,
The base film contains an acrylic resin,
The ratio (H 1 2 ) of the energy spectrum (H 1 2 ) of the elevation of the uneven surface at the spatial frequency of 0.01 μm −1 and the energy spectrum (H 2 2 ) of the elevation of the uneven surface at the spatial frequency of 0.04 μm −1 / H 2 2 ) is in the range of 3-20,
The ratio of the spatial frequency 0.1 ㎛ -1 energy spectrum of the altitude of the concave-convex surface in the (3 H 2) and a spatial frequency energy spectrum of the altitude of the concave-convex surface in 0.04 ㎛ -1 (H 2 2) (H 3 2 / H 2 2 ) is 0.1 or less,
The uneven surface is an anti-glare film containing 95% or more of the inclination angle of 5 ° or less.
제1항에 있어서, 상기 기재 필름의 두께는, 20 ㎛ 이상 100 ㎛ 이하인 것인 방현 필름.The antiglare film of Claim 1 whose thickness of the said base film is 20 micrometers or more and 100 micrometers or less. 제1항에 있어서, 상기 기재 필름은, 아크릴 고무 입자를 함유하는 것인 방현 필름.The antiglare film according to claim 1, wherein the base film contains acrylic rubber particles. 제1항에 기재된 방현 필름과, 상기 기재 필름에 있어서 상기 방현층과는 반대측의 면에 적층되는 편광 필름을 구비하는 것인 방현성 편광판.The anti-glare polarizing plate provided with the anti-glare film of Claim 1, and the polarizing film laminated | stacked on the surface on the opposite side to the said anti-glare layer in the said base film.
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014081693A1 (en) * 2012-11-21 2014-05-30 3M Innovative Properties Company Optical diffusing films and methods of making same
WO2014093119A1 (en) * 2012-12-14 2014-06-19 3M Innovative Properties Company Brightness enhancing film with embedded diffuser
WO2020145643A1 (en) * 2019-01-08 2020-07-16 주식회사 엘지화학 Optical laminate, polarization plate, and display device
US11860340B2 (en) 2019-01-08 2024-01-02 Lg Chem, Ltd. Optical laminate, polarizing plate, and display device

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2014232159A (en) * 2013-05-28 2014-12-11 住友化学株式会社 Antiglare film, mold for producing antiglare film, and method for producing the same
TW201516496A (en) * 2013-10-31 2015-05-01 Wintek Corp Anti-glare light guide structure and optical film thereof
JP7378871B2 (en) * 2018-11-15 2023-11-14 エルジー・ケム・リミテッド Optical laminates, polarizing plates, and display devices

Family Cites Families (14)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004020263A (en) * 2002-06-13 2004-01-22 Minolta Co Ltd Apparatus and method for evaluating glitter feeling
WO2007000856A1 (en) * 2005-06-28 2007-01-04 Nitto Denko Corporation Antiglare hardcoat film
US7505104B2 (en) * 2005-09-16 2009-03-17 Fujifilm Corporation Antiglare antireflective film, polarizing plate and liquid crystal display
JP2007246714A (en) * 2006-03-16 2007-09-27 Nippon Paint Co Ltd Coating composition which forms finely uneven surfaces and application thereof
JP5258016B2 (en) * 2007-12-11 2013-08-07 住友化学株式会社 Set of polarizing plates, and liquid crystal panel and liquid crystal display device using the same
JP2009204837A (en) * 2008-02-27 2009-09-10 Sumitomo Chemical Co Ltd Anti-glare film, anti-glare polarizing sheet, and image display device
JP2009288650A (en) * 2008-05-30 2009-12-10 Nitto Denko Corp Antiglare hard coat film, polarizing plate and image display apparatus using the same
JP2009288655A (en) * 2008-05-30 2009-12-10 Nitto Denko Corp Antiglare hard coat film, polarizing plate and image display apparatus using the same, method for evaluating the same and method for producing the same
JP2010020268A (en) * 2008-06-09 2010-01-28 Sony Corp Optical film and its production method, anti-glare film, polarizer with optical layer, and display
TWI461746B (en) * 2009-03-25 2014-11-21 Sumitomo Chemical Co Method for producing anti-glare film and method for producing mold for anti-glare film
JP5158443B2 (en) * 2009-03-25 2013-03-06 住友化学株式会社 Antiglare film and method for producing the same, and method for producing a mold
JP2011017829A (en) * 2009-07-08 2011-01-27 Sumitomo Chemical Co Ltd Anti-glare film and method for manufacturing the same
JP2011107297A (en) * 2009-11-16 2011-06-02 Sony Corp Anti-glare film and display device
JP5832101B2 (en) * 2010-03-11 2015-12-16 住友化学株式会社 Anti-glare polarizing plate and image display device using the same

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2014081693A1 (en) * 2012-11-21 2014-05-30 3M Innovative Properties Company Optical diffusing films and methods of making same
CN108051879A (en) * 2012-11-21 2018-05-18 3M创新有限公司 Optical diffusion and preparation method thereof
US10295710B2 (en) 2012-11-21 2019-05-21 3M Innovative Properties Company Optical diffusing films and methods of making same
US10605965B2 (en) 2012-11-21 2020-03-31 3M Innovative Properties Company Optical diffusing films and methods of making same
CN108051879B (en) * 2012-11-21 2020-09-08 3M创新有限公司 Optical diffusion film and preparation method thereof
WO2014093119A1 (en) * 2012-12-14 2014-06-19 3M Innovative Properties Company Brightness enhancing film with embedded diffuser
US10557973B2 (en) 2012-12-14 2020-02-11 3M Innovative Properties Company Brightness enhancing film with embedded diffuser
WO2020145643A1 (en) * 2019-01-08 2020-07-16 주식회사 엘지화학 Optical laminate, polarization plate, and display device
US11860340B2 (en) 2019-01-08 2024-01-02 Lg Chem, Ltd. Optical laminate, polarizing plate, and display device

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