KR20110016836A - 갈바노미터 스캐너 - Google Patents

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KR20110016836A
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Abstract

본 발명의 갈바노미터 스캐너는, 광학소자의 원위단(far end)과 결합된 기계지지유닛을 구비한다. 광학소자의 근위단(near end)은 회전식 전동 모터의 출력 샤프트에 접속된다. 기계지지유닛은, 광학소자의 회전축과, 회전식 전동 모터의 회전축의 위치정합을 유지한다.

Description

갈바노미터 스캐너{GALVANOMETER SCANNER}
본 발명은 포괄적으로 반사기에 의해 광 빔을 반사하는 것에 관한 것으로, 더욱 상세하게는 갈바노미터 스캐너에 있어서 안정한 회전광학소자를 사용하는 것에 관한 것이다.
도 1에 도시한 바와 같이, 종래의 갈바노미터 스캐너는 통상, 출력 샤프트(111)가 반사광학소자(120)에 장착된 모터(110)를 구비한다. 센서(130)는 출력 샤프트의 회전각을 검출한다. 센서의 출력신호는 샤프트의 회전각에 비례한다.
동적 밸런싱(dynamic balacing)을 위해 광학소자의 무게 중심을 회전축에 위치정합시키는 것이 극히 곤란함으로 인해서, 특히 고속 광주사의 용도의 경우에, 샤프트의 X축을 중심으로 하는 회전으로 인한 주사동작에 의해, Y축 및 Z축을 따라 소망하지 않는 진동이 발생할 수 있다.
따라서, 광학소자가 회전하는 동안, 이 광학소자를 안정시키는 것이 소망된다.
본 발명에 따른 갈바노미터 스캐너는, 광학소자의 원위단(far end)과 결합된 기계지지유닛을 구비한다. 광학소자의 근위단(near end)은 회전식 전동 모터의 출력 샤프트에 접속된다. 기계지지유닛은, 광학소자의 회전축과, 회전식 전동 모터의 회전축의 위치정합을 유지한다.
도 1은 종래기술에 따른 갈바노미터 스캐너의 개략도,
도 2는 본 발명의 실시형태에 따른 기계지지유닛(MSU: mechanical support unit)을 구비한 갈바노미터 스캐너의 개략도,
도 3은 기계지지유닛과 스캐너의 회전축 간의 위치정합 에러의 개략도,
도 4는 강성의 함수로서의 굽힘 모드의 그래프,
도 5는 비틀림 모드를 위한 단순화된 모델의 개략도,
도 6은 굽힘 모드를 위한 모델의 개략도,
도 7은 본 발명의 일 실시형태에 따른 베어링 지지 구조체의 사시도,
도 8은 광학소자를 위한 기계 장착구의 사시도.
도 2는 실시형태에 따른 갈바노미터 스캐너를 도시하고 있다. 이 스캐너는 광학소자(220)의 근위단에 부착된 출력 샤프트(211)를 갖는 회전식 전동 모터(210)를 구비한다. 광학소자는, 광을 반사하는 미러, 광을 편향시키는 파장판, 또는 광을 투과시키던가 또는 굴절 반사시키는 렌즈일 수 있다.
광학소자의 원위단은 기계지지유닛(MSU: mechanical support unit)(250)과 결합된다. MSU는 모터의 X 회전축에 대하여 고정된다. MSU는 광학소자의 회전을 가능하게 하면서, Y축 및 Z축을 따라 광학소자의 변위를 제한한다. 따라서, 광학소자의 기계적 진동은 대폭적으로 저감되고, 그것에 의해 종래의 제한되지 않은 갈바노미터 스캐너보다 높은 위치결정 정확도가 가능해진다.
센서(230)는 각속도(231)를 검출하고, 이 각속도는 제어장치(240)에 출력된다.
기준생성 모듈(260)은, 제어장치를 위한 기준신호(261)를 생성한다. 제어장치는, 구동장치(270)를 위한 제어신호(241)를 생성한다. 구동장치는 모터를 위한 입력신호(271)를 생성한다. 구동장치는, 제어장치를 위한 피드백 신호(272)도 제공한다.
도 6은 굽힘 모드, 예를 들면 Y축을 따른 동작을 위한 단순화된 모델을 도시하고 있다. 본 발명에 의해 사용되는 광학소자의 진동은,
[수식 1]
Figure pat00001
인데, 여기에서, M은 굽힘 모드의 모드 관성(610)이고, Y는 Y방향에 있어서 광학소자의 변위이며, Kb 는 굽힘 모드의 모드 강성이고, KMSUy는 Y방향에 있어서 MSU의 강성이며, "¨"는 이차 도함수를 도시한다. 굽힘 모드의 공진 주파수는,
[수식 2]
Figure pat00002

이다.
도 4에 도시하는 바와 같이, 굽힘 모드의 공진 주파수는, KMSUy의 증가와 더불어 증가한다.
굽힘 모드는 주사동작, 즉 X축을 중심으로 하는 회전에 의해 그다지 영향을 받지 않기 때문에 광빔(222)의 주사 또는 위치결정 정확도를 개선한다. Z방향에 있어서의 진동에 관하여 유사한 해석을 행하고, 유사한 결론을 내는 것이 가능하다.
도 5는 비틀림 모드의 단순화된 모델,
[수식 3]
Figure pat00003
을 도시하고 있다. 여기에서, Jmt는 모터의 관성이고, Jo는 광학소자의 관성이며, θ는 회전각이고, K는 비틀림 모드의 강성이다. 비틀림 모드의 공진 주파수는,
[수식 4]
Figure pat00004
이다.
1차 해석을 위하여, MSU의 추가 회전 관성, 즉 X축을 중심으로 하는 관성이, 상기 수식의 Jo에 추가될 수 있다. 따라서, MSU의 회전관성을 가급적 작게 유지하는 것이 바람직하다. 그것에 의하여, 비틀림 모드, 즉 X축을 중심으로 하는 진동 모드의 공진 주파수가 가급적 높게 유지될 것이다.
위치정합
실제적 제한으로 인하여, 모터의 회전축과 광학소자의 회전축 사이의 위치정합 불량은 아마 X-Y 평면에 관하여 도 3에 도시하는 바와 같은 것으로 된다. 여기에서, δz는 Z방향에 있어서의 변위 위치정합 불량이고, φy는 Y축을 중심으로 하는 각위치 정합 불량이다. Y방향에 있어서 유사한 위치정합 불량 δy, 및 Z축을 중심으로 하는 각위치 정합불량 φZ이 존재할 가능성이 있다.
강성 대 위치정합 불량의 절충
X방향, Y방향, 및 Z방향에 있어서 MSU의 기계 강성과, 이들 방향에 있어서 기계 진동의 저감과, 위치정합 불량에 기인하는, X축을 중심으로 하는 회전의 저항 사이에 절충(tradeoff)이 존재한다. 강성이 높아지면, Y 및 Z 방향에 있어서의 굽힘 모드에서의 기계적 공진 주파수는 증가되지만, 위치정합 불량에 기인하는 MSU에서의 반력 및 토크는 커진다. 따라서, MSU는 이 절충에 관하여 설계되어야만 된다.
도 4는 Y축에 있어서의 굽힘 공진 주파수의 증가 대 Y방향에 있어서의 MSU 강성을 도시하고 있다.
바람직한 실시형태
도 7 및 도 8에 도시한 바와 같이, 기계지지유닛(MSU)(250)은, 지지 구조체(700)와, 광학소자(220)의 원위단에 결합되는 기계 장착구(800)를 구비한다. 베어링(710)이 기계 장착구의 샤프트(810)를 기계 지지 구조체(700)와 결합시킨다.
MSU는, 광학소자(220)의 X축을 중심으로 하는 회전을 가능하게 하면서, X방향, Y방향, 및 Z방향에 있어서의 광학소자(220)의 변위와, Y축 및 Z축을 중심으로 하는 회전을 억제한다. 기계 지지 구조체는, 베어링 시스템을 수용하고, 회전축에 대한 바람직한 위치에서의 베어링의 배치를 가능하게 한다.
도 8에 도시하는 바와 같이, 기계 장착구(800)를 사용하여, 광학소자(220)를 기계지지유닛과 결합시킨다. 샤프트(810)의 원위단 내로 나사결합된 나사(820)에 의해, 샤프트, 및 따라서 광학 소자에 대하여, 바람직한 부하가 초래된다. 광학소자는, 접착제 또는 점착제에 의해, 기계 장착구에 부착된다. 도 4에 도시하는 바와 같이, 기계 장착구는, 바람직한 기계 강성을 제공하는 데에 도움이 되도록 설계된다.
본 발명을, 바람직한 실시형태의 예로서 설명하여 왔지만, 본 발명의 정신 및 범위 내에서 다른 여러가지의 적용 및 변경을 행할 수 있음이 이해되어야 한다. 따라서, 본 발명의 참 정신 및 범위 내에 들어가는 모든 변형 및 변경을 포함하는 것이, 첨부된 특허청구범위의 목적이다.

Claims (9)

  1. 갈바노미터 스캐너에 있어서,
    광학소자(220)의 원위단(far end)과 결합된 기계지지유닛(700)을 포함하며,
    상기 광학소자(220)의 근위단(near end)은 회전식 전동 모터(210)의 출력 샤프트(211)에 접속되고, 상기 기계지지유닛(700)은 상기 광학소자(220)의 회전축과 상기 회전식 전동 모터(210)의 회전축 간의 위치정합을 유지하는,
    갈바노미터 스캐너.
  2. 제 1 항에 있어서,
    상기 광학소자(220)는 미러, 파장판 또는 렌즈인,
    갈바노미터 스캐너.
  3. 제 1 항에 있어서,
    상기 기계지지유닛(700)은 상기 모터(210)의 X 회전축에 대하여 고정되고, 상기 광학소자(220)의 회전중의 Y축 및 Z축을 따른 변위를 제한하는,
    갈바노미터 스캐너.
  4. 제 3 항에 있어서,
    상기 광학소자(220)의 진동은,
    [수식 1]
    Figure pat00005

    이며, 여기에서, M은 굽힘 모드의 모드 관성이고, y는 Y축을 따른 광학소자(220)의 변위이고, Kb 는 굽힘 모드의 모드 강성이고, KMSUy는 Y축을 따른 상기 기계지지유닛(700)의 강성이며, "¨"는 시간에 대한 2차 도함수를 도시하는,
    갈바노미터 스캐너.
  5. 제 4 항에 있어서,
    상기 굽힘 모드의 공진 주파수는,
    [수식 2]
    Figure pat00006

    인,
    갈바노미터 스캐너.
  6. 제 1 항에 있어서,
    상기 비틀림 모드는,
    [수식 3]
    Figure pat00007

    이고, 여기에서 Jmt는 상기 모터(210)의 관성이고, Jo는 상기 광학소자(220)의 관성이며, θ는 회전각이고, K는 상기 비틀림 모드의 강성이며, "¨"는 시간에 대한 2차 도함수를 도시하는,
    갈바노미터 스캐너.
  7. 제 6 항에 있어서,
    상기 비틀림 모드의 공진 주파수는,
    [수식 4]
    Figure pat00008

    인,
    갈바노미터 스캐너.
  8. 제 3 항에 있어서,
    X축, Y축, 및 Z축을 따른 상기 기계지지유닛(700)의 기계 강성과, 상기 축들을 따른 기계 진동의 저감과, 위치정합 불량에 기인하는 X축을 중심으로 하는 회전의 저항 사이에 절충이 존재하는,
    갈바노미터 스캐너.
  9. 제 1 항에 있어서,
    상기 광학 소자(220)의 상기 원위단을 상기 기계지지유닛(700)의 베어링(710)과 결합시도록 구성된 샤프트(810)와;
    상기 샤프트(810)의 원위단 내에 나사결합되어, 상기 광학소자(220)에 대하여 바람직한 부하를 제공하는 나사를 추가로 구비하는,
    갈바노미터 스캐너.
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