KR20110008916U

KR20110008916U - 회로기판 테스트 장치

Info

Publication number: KR20110008916U
Application number: KR2020100002568U
Authority: KR
Inventors: 카이젠 수
Original assignee: 오리텍 엔터프라이즈 코퍼레이션
Priority date: 2010-03-12
Filing date: 2010-03-12
Publication date: 2011-09-20

Abstract

본 고안의 회로기판테스트장치는 자동적으로 회로기판의 재료공급, 테스트, 재테스트, 분사인쇄 등의 공정작업을 일체화하도록 구성된다. 이는 장치가 차지하는 면적을 유효하게 줄이고, 한 사람이 조작할 수 있으며, 각 작업을 진행하기 위하여 이동하는 시간을 줄여 대폭적으로 작업효율을 제고할 수 있으며, 조작방법이 간단하고, 각 작업은 모두 정지기능이 있기에 쉽게 수동모드로 전환할 수 있는 장점이 있다.

Description

회로기판 테스트 장치{CIRCUIT BOARD TEST APPARATUS}

본 고안은 회로기판을 테스트하는 장치에 관한 것으로서, 특히 일체화된 자동테스트 공정을 갖는 테스트장치에 관한 것이다.

회로기판은 생산과정에서 외부의 원인으로 인해 쉽게 단락(short circuit), 회로분리(broken circuit) 및 누전 등의 전기적인 결함이 자주 발생한다. 또한 회로기판은 점점 고밀도, 좁은 간격 및 다층으로 진보하기 때문에 제때에 불량 기판을 선별해내지 못하고 이들이 제조과정에 끼어있게 되면 더욱 많은 비용을 낭비하게 된다. 따라서, 제조과정에 대한 제어를 개선하는 것 외에도 테스트의 기술수준을 높이는 것도 회로기판 제조업자에게는 폐기율을 낮추고 상품의 합격률을 제고하는 좋은 방법이 될 수 있다.

통상적으로, 회로기판은 자동테스트장치의 테스트를 거친 후, 불량품은 인공적으로 플라잉프로브 테스트장치에 옮겨져 재테스트를 받고, 회로기판이 자동테스트장치의 테스트를 거친 후의 합격품 및 플라잉프로브의 재테스트를 통과한 합격품은 인공적으로 잉크젯날인기기에 옮겨져 날인작업을 진행하게 된다. 이 과정에서, 모든 작업과 작업 사이의 운송방법은 사람의 손으로 집어드는 인공적인 방식이므로, 옮기는 과정에서 재료가 혼합되고, 부딪치고, 떨어지는 등의 상황이 발생할 수도 있다. 또한, 옮기는 과정에서 인력과 시간 등으로 인한 조작 비용을 소모하게 되고, 각 제조과정의 설비가 모두 독립적이므로 작업공간을 비교적 많이 차지한다.

따라서, 작업과정에 필요한 각 시스템을 하나로 합쳐 원활한 테스트동선을 형성함으로써 회로기판이 각 테스트지점까지 전송되는 시간, 인력을 줄이며, 장치가 차지하는 공간을 절약하는 것은 본 기술분야에서 시급히 해결해야 할 과제이다.

본 고안의 목적은 회로기판 테스트장치를 제공하는 것에 있으며, 상기 장치는 재료공급시스템, 테스트시스템, 재테스트시스템, 잉크젯시스템 및 언로딩시스템의 기능을 하나로 합치고, 각 시스템을 운송벨트, 운송선로 또는 암(arm)으로 연결하여 회로기판을 전달함으로써, 각 작업지점 사이에서 인공적으로 회로기판을 옮겨 회로기판이 손상되는 종래의 문제를 해결하고, 인공적인 전달에 필요한 시간과 인력으로 인한 단가를 절약하며, 장치가 차지하는 공간을 줄일 수 있다.

본 고안의 방법은 각 작업지점 시스템 사이에 운송선로 또는 암을 설치하여 회로기판을 받아들임을 통해 회로기판이 순서에 따라 각 작업지점의 테스트를 마칠 수 있게 한다. 또한, 각 작업지점에서 테스트를 거친 합격품과 불량품의 일시적인 저장 위치를 한층 더 명확하게 구분하여 모든 테스트작업이 막힘없이 원활하게 진행되게 하여, 양산의 수요에 적합하게 한다.

본 고안은 일체화된 작업공정을 구비한 장치를 제공한다.

제 1 실시예의 회로기판테스트장치는,

하나의 재료공급시스템;

상기 재료공급시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 자동테스트시스템;

상기 자동테스트시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 잉크젯날인시스템;

상기 잉크젯날인시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 언로딩시스템을 포함한다.

회로기판은 상기 자동테스트시스템의 테스트를 받은 후, 테스트를 통과한 회로기판에 상기 잉크젯날인시스템이 합격품 표기를 분사인쇄한 후, 상기 언로딩시스템의 합격품적재구역에 운송되어 저장된다. 테스트를 통과하지 못한 회로기판은 상기 언로딩시스템의 불량품적재구역에 운송되어 저장된다.

제 2 실시예의 회로기판테스트장치는,

하나의 재료공급시스템;

상기 자동테스트시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 플라잉프로브 테스트시스템;

상기 플라잉프로브 테스트시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 잉크젯날인시스템;

상기 잉크젯날인시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 언로딩시스템을 포함한다.

회로기판은 상기 자동테스트시스템의 첫 번째 테스트를 받은 후, 테스트를 통과하지 못한 회로기판은 상기 플라잉프로브 테스트시스템의 재테스트를 받고, 상기 첫 번째 테스트와 재테스트를 통과한 회로기판에 상기 잉크젯날인시스템이 합격품 표기를 분사 인쇄한 후, 상기 언로딩시스템의 합격품적재구역에 운송되어 저장된다. 재테스트를 통과하지 못한 회로기판은 상기 언로딩시스템의 불량품적재구역에 저장되게 된다.

제 3 실시예의 회로기판테스트장치는,

하나의 재료공급시스템;

상기 플라잉프로브 테스트시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 언로딩시스템을 포함한다.

회로기판은 상기 자동테스트시스템의 첫 번째 테스트를 받은 후, 테스트를 통과하지 못한 회로기판은 상기 플라잉프로브 테스트시스템의 재테스트를 받고, 첫 번째 테스트와 재테스트를 통과한 회로기판은 상기 언로딩시스템의 합격품적재구역에 운송되어 저장된다. 재테스트를 통과하지 못한 회로기판은 상기 언로딩시스템의 불량품적재구역에 저장되게 된다.

제 4 실시예의 회로기판테스트장치는,

하나의 재료공급시스템;

상기 재료공급시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 플라잉프로브 테스트시스템;

회로기판은 상기 플라잉프로브 테스트시스템의 테스트를 받은 후, 상기 테스트를 통과한 회로기판에 상기 잉크젯날인시스템이 합격품표기를 분사인쇄한 후, 상기 언로딩시스템의 합격품적재구역에 운송되어 저장된다. 테스트를 통과하지 못한 회로기판은 상기 언로딩시스템의 불량품적재구역에 운송되어 저장된다.

본 고안은 테스트, 분사인쇄공정을 자동으로 일체화하여 완성할 수 있는 다양한 회로기판테스트장치를 제공한다. 이로써 설비가 차지하는 면적이 유효하게 감소되며, 한 사람이 장치를 조작할 수 있다. 공정과 공정 사이의 이동시간을 줄이고, 작업 효율이 대폭 제고되며, 조작하는 방법도 간단하다. 또한, 각 공정은 모두 정지기능이 있어 쉽게 수동모드로 변환할 수 있다.

도 1은 본 고안에 따른 회로기판테스트장치의 제 1 실시예의 개략도이다.
도 2은 본 고안에 따른 회로기판테스트장치의 다른 실시예의 개략도이다.
도 3은 본 고안에 따른 회로기판테스트장치의 또 다른 하나의 실시예의 개략도이다.
도 4은 본 고안에 따른 회로기판테스트장치의 또 다른 실시예의 개략도이다.
도 5은 본 고안에 따른 회로기판테스트장치의 기타 실시예의 개략도이다.
도 6은 본 고안에 따른 회로기판테스트장치의 기타 실시예의 개략도이다.
도 7은 본 고안에 따른 회로기판테스트장치의 다른 실시예의 개략도이다.

아래 도면 및 도면부호를 통해 본 고안의 실시예에 대해 더 상세하게 설명하여 본 기술분야에 종사하는 기술자가 본 설명서를 읽고 실시할 수 있게 한다.

도 1은 본 고안에 따른 회로기판테스트장치의 제 1 실시예의 개략도이다. 각 작업지점 간에는 연속적인 선로(10) 또는 암(미도시)을 통해 회로기판(20)을 집어들어(또는 받아들여) 전송한다. 테스트장치는 하나의 재료공급시스템(1), 상기 재료공급시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 자동테스트시스템(2), 상기 자동테스트시스템(2)의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 잉크젯날인시스템(4), 상기 잉크젯날인시스템(4)의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 언로딩시스템(6)을 포함한다.

본 실시예의 회로기판의 테스트공정은, 복수의 회로기판(20)을 상기 재료공급시스템(1)에 쌓아 놓고, 상기 회로기판은 순서에 따라 선로(10)에 의해 각 작업지점에 운송된다. 회로기판(20)은 먼저 상기 자동테스트시스템(2)에 진입하여 압착방식으로 전기적 테스트를 받고, 테스트를 통과한 회로기판은 상기 잉크젯날인시스템(4)에 운송되어 합격품표기를 분사인쇄한다. 분사인쇄가 완료된 후 다시 상기 언로딩시스템(6)의 합격품적재구역(61)에 운송되어 저장된다. 상기 장치는 잉크젯날인시스템(4)을 포함하여, 회로기판의 자동테스트 후 회로기판을 하나의 독립적인 잉크젯날인시스템에 인공적으로 옮겨 날인을 진행하거나 인공적으로 날인하는 전통적인 방법의 불편함을 주로 개선한다.

도 2는 본 고안에 따른 회로기판의 테스트장치의 다른 실시예의 개략도이다. 상기 자동테스트시스템(2) 및 언로딩시스템(6) 사이에 하나의 스티커시스템(5)을 더 연결하여 설치하며, 자동테스트시스템(2)의 테스트를 통과하지 못한 회로기판(20)은 상기 스티커시스템(5)에 운송되어 불량품 스티커를 붙인 후, 다시 상기 언로딩시스템(6)의 불량품적재구역(62)에 운송되어 저장된다. 상기 장치의 설계원리는 자동테스트 후 합격품 및 불량품을 구분하여, 합격품은 잉크젯날인시스템(4)에 운송되어 합격품 표기를 분사인쇄하고, 테스트를 통과하지 못한 회로기판은 스티커시스템(5)에 운송되어 불량품 스티커를 붙인다. 회로기판이 자동테스트를 받은 후 회로기판을 하나의 독립적인 잉크젯날인시스템에 인공적으로 옮겨 날인하는 방법 및 별도로 인공적으로 스티커를 붙이는 전통적인 방법의 불편함을 주로 개선한다.

도 3은 본 고안에 따른 회로기판테스트장치의 또 다른 하나의 실시예의 개략도이다. 테스트장치는 하나의 재료공급시스템(1), 상기 재료공급시스템(1)의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 자동테스트시스템(2), 상기 자동테스트시스템(2)의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 플라잉프로브테스트시스템(3), 상기 플라잉프로브 테스트시스템(3)의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 잉크젯날인시스템(4), 상기 잉크젯날인시스템(4)에 연결하여 설치되는 하나의 언로딩시스템(6)을 포함한다.

본 실시예의 회로기판의 테스트공정은 복수의 회로기판(20)을 상기 재료공급시스템(1)에 쌓아놓고, 순서에 따라 상기 회로기판(20)을 각 작업지점에 운송한다. 회로기판(20)은 먼저 상기 자동테스트시스템(2)에 진입하여 압착방식으로 첫 번째 전기적인 테스트를 받고, 첫 번째 테스트를 통과하지 못한 회로기판(20)은 다시 상기 플라잉프로브 테스트시스템(3)에 운송되어 재테스트를 받는다. 첫 번째 테스트와 재테스트를 통과한 회로기판은 잉크젯날인시스템(4)에 운송되어 합격품 표기를 분사인쇄하고, 다시 상기 언로딩시스템(6)의 합격품적재구역(61)에 운송되어 저장된다. 동시에, 재테스트를 통과하지 못한 회로기판(20)에는 별도로 인공적으로 또는 독립적인 기계를 통해 불량품 스티커를 붙이고, 다시 언로딩시스템(6)의 불량품적재구역(62)에 운송되어 저장될 수 있다.

도 4는 본 고안의 회로기판테스트장치의 다른 실시예의 개략도이다. 상기 플라잉프로브 테스트시스템(3) 및 언로딩시스템(6) 사이에 하나의 스티커시스템(5)을 더 연결하여 설치하고, 재테스트를 통과하지 못한 회로기판(20)에 상기 스티커시스템(5)이 불량품 스티커를 붙이고, 그 후, 언로딩시스템(6)의 불량품적재구역(62)에 운송되어 저장됨으로써 연속적인 작업공정을 형성한다. 이로써, 위의 실시예에서 재테스트를 통과하지 못한 회로기판을 별도로 다른 하나의 장치에 옮겨 스티커를 붙이는 절차와 시간을 줄일 수 있다.

도 5는 본 고안에 따른 회로기판테스트장치의 기타 실시예의 개략도이다. 테스트장치는 하나의 재료공급시스템(1), 상기 재료공급시스템(1)의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 자동테스트시스템(2), 상기 자동테스트시스템(2)의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 플라잉프로브 테스트시스템(3), 상기 플라잉프로브 테스트시스템(3)의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 언로딩시스템(6)을 포함한다.

본 실시예의 회로기판테스트공정은, 복수의 회로기판을 상기 재료공급시스템(1)에 쌓아놓고, 순서에 따라 상기 회로기판(20)을 각 작업지점에 운송한다. 회로기판(20)은 상기 자동테스트시스템(2)에 진입하여 압착방식으로 첫 번째 전기적 테스트를 받고, 첫 번째 테스트를 통과하지 못한 회로기판(20)은 다시 상기 플라잉프로브 테스트시스템(3)에 운송되어 재테스트를 진행한다. 상기 첫 번째 테스트와 재테스트를 통과한 회로기판(20)은 상기 언로딩시스템(6)의 합격품적재구역(61)에 운송되어 저장된다. 재테스트를 통과하지 못한 회로기판(20)은 언로딩시스템(6)의 불량품적재구역(62)에 운송되어 저장된다.

도 6은 본 고안에 따른 회로기판테스트장치의 기타 실시예의 개략도이다. 테스트장치는 하나의 재료공급시스템(1), 상기 재료공급시스템(1)의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 플라잉프로브 테스트시스템(3), 상기 플라잉프로브 테스트시스템(3)의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 잉크젯날인시스템(4), 상기 잉크젯날인시스템(4)의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 언로딩시스템(6)을 포함한다.

본 실시예의 회로기판테스트공정은, 복수의 회로기판(20)을 상기 재료공급시스템(1)에 쌓아놓고, 순서에 따라 상기 회로기판(20)을 각 작업지점에 운송한다. 회로기판(20)은 상기 플라잉프로브 테스트시스템(3)에 진입하여 전기적 테스트를 받게 되는데, 본 실시예의 플라잉프로브 테스트의 목적은 하나의 자동테스트시스템(예를 들어, 도 1 내지 도 5에 도시한 자동테스트시스템(2))의 테스트를 통과하지 못한 회로기판의 베어기판(bare board)에 재테스트를 진행하는 것일 수도 있으며, 또한, 상기 자동테스트시스템이 테스트할 수 없는 부분에 대해 분할테스트를 진행하는 것일 수도 있다. 플라잉프로브 테스트를 통과한 회로기판(20)은 상기 잉크젯날인시스템(4)에 운송되어 합격품표기를 분사인쇄하고, 다시 상기 언로딩시스템(6)의 합격품적재구역(61)에 운송되어 저장된다. 동시에, 재테스트를 통과하지 못한 회로기판(20)은 별도로 인공적으로 또는 독립적인 장치를 통해 불량품 스티커를 붙이고, 다시 언로딩시스템(6)의 불량품적재구역(62)에 운송되어 저장될 수 있다.

도 7은 본 고안에 따른 회로기판 테스트장치의 다른 실시예의 개략도이다. 상기 플라잉프로브 테스트시스템(3) 및 언로딩시스템(6) 사이에 하나의 스티커시스템(5)을 더 연결하여 설치한다. 재테스트를 통과하지 못한 회로기판(20)에 상기 스티커시스템(5)이 불량품 스티커를 붙이고, 그 후, 언로딩시스템(6)의 불량품적재구역(62)에 운송되어 저장됨으로써 연속적인 작업공정을 형성한다. 이로써, 위의 실시예의 재테스트를 통과하지 못한 회로기판을 별도로 다른 장치에 옮겨 스티커를 붙이는 절차와 시간을 줄일 수 있다.

상기 실시예는 본 고안에 따른 비교적 우수한 실시예를 서술한 것이며, 이에 따라 본 고안에 대해 어떤 제한을 하려는 것이 아니다. 따라서, 본 고안의 사상에 따라 본 고안을 변경하거나 부가한 것은 모두 본 고안이 의도한 보호범위에 속한다.

1: 재료공급시스템
10: 선로
2: 자동테스트시스템
20: 회로기판
3: 플라잉프로브 테스트시스템
4: 잉크젯날인시스템
5: 스티커 시스템
6: 언로딩 시스템
61: 합격품적재구역
62: 불량품적재구역

Claims

하나의 재료공급시스템;
상기 재료공급시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 자동테스트시스템;
상기 자동테스트시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 잉크젯날인시스템;
상기 잉크젯날인시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 언로딩시스템을 포함하는 회로기판테스트장치.
제 1 항에 있어서,
상기 자동테스트시스템과 언로딩시스템 사이에 연결하여 설치되는 스티커시스템을 더 포함하되,
회로기판은 상기 자동테스트시스템의 테스트를 받은 후, 테스트를 통과한 회로기판에 상기 잉크젯날인시스템이 합격품 표기를 분사인쇄한 후, 상기 언로딩시스템의 합격품적재구역에 운송하여 저장하고, 테스트를 통과하지 못한 회로기판에 상기 스티커시스템이 불합격스티커를 붙인 후, 상기 언로딩시스템의 불량품적재구역에 운송하여 저장하는, 회로기판테스트장치.
제 1 항 또는 제 2 항에 있어서,
회로기판의 각 시스템 사이에서의 전달이 선로 또는 암을 통해 완성될 수 있는, 회로기판테스트장치.
하나의 재료공급시스템;
상기 재료공급시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 자동테스트시스템;
상기 자동테스트시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 플라잉프로브 테스트시스템;
상기 플라잉프로브 테스트시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 잉크젯날인시스템;
상기 잉크젯날인시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 언로딩시스템을 포함하는, 회로기판테스트장치.
제 4 항에 있어서,
상기 플라잉프로브 테스트시스템과 상기 언로딩시스템 사이를 연결하여 설치되는 스티커시스템을 더 포함하되,
회로기판은 상기 자동테스트시스템의 첫 번째 테스트를 받고, 첫 번째 테스트를 통과하지 못한 회로기판은 상기 플라잉프로브 테스트시스템의 재테스트를 받으며, 첫 번째 테스트와 재테스트를 통과한 회로기판에 상기 잉크젯날인시스템이 합격품표기를 분사인쇄한 후, 상기 언로딩시스템의 합격품적재구역에 운송하여 저장하며, 재테스트를 통과하지 못한 회로기판은 상기 스티커시스템이 불량품스티커를 붙인 후, 상기 언로딩시스템의 불량품적재구역에 운송하여 저장하는, 회로기판테스트장치.
하나의 재료공급시스템;
상기 재료공급시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 자동테스트시스템;
상기 자동테스트장치의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 플라잉프로브 테스트시스템;
상기 플라잉프로브 테스트시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 언로딩시스템을 포함하는, 회로기판테스트장치.
제 6 항에 있어서,
회로기판은 상기 자동테스트시스템의 첫 번째 테스트를 받은 후, 첫 번째 테스트를 통과하지 못한 회로기판은 상기 플라잉프로브 테스트시스템의 재테스트를 받고, 첫 번째 테스트와 재테스트를 통과한 회로기판은 상기 언로딩시스템의 합격품적재구격에 운송되어 저장되고, 재테스트를 통과하지 못한 회로기판은 상기 언로딩시스템의 불량품적재구역에 운송되어 저장되는, 회로기판테스트장치.
제 6 항 또는 제 7 항에 있어서,
회로기판의 각 시스템 사이에서의 전달이 선로 또는 암을 통해 완성될 수 있는, 회로기판테스트장치.
하나의 재료공급시스템;
상기 재료공급시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 플라잉프로브 테스트시스템;
상기 플라잉프로브 테스트시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 잉크젯날인시스템;
상기 잉크젯날인시스템의 다음 작업지점에 연결하여 설치되는 하나의 언로딩시스템을 포함하는, 회로기판테스트장치.
제 9 항에 있어서,
상기 플라잉프로브 테스트시스템 및 언로딩시스템 사이에 연결하여 설치되는 하나의 스티커시스템을 더 포함하되,
회로기판은 상기 플라잉프로브 테스트시스템의 테스트를 받은 후, 테스트를 통과한 회로기판은 상기 잉크젯날인시스템이 합격표기를 분사인쇄한 후, 언로딩시스템의 합격품적재구역에 운송하여 저장하고, 테스트를 통과하지 못한 회로기판은 상기 스티커시스템이 불량품 스티커를 붙인 후, 상기 언로딩시스템의 불량품적재구역에 운송하여 저장하는, 회로기판테스트장치.
제 9 항 또는 제 10 항에 있어서,
회로기판의 각 시스템 사이에서의 전달이 선로 또는 암을 통해 완성될 수 있는, 회로기판테스트장치.